JP3377086B2 - フォーカス誤差信号検出装置およびフォーカス誤差信号検出方法 - Google Patents

フォーカス誤差信号検出装置およびフォーカス誤差信号検出方法

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JP3377086B2 JP25228499A JP25228499A JP3377086B2 JP 3377086 B2 JP3377086 B2 JP 3377086B2 JP 25228499 A JP25228499 A JP 25228499A JP 25228499 A JP25228499 A JP 25228499A JP 3377086 B2 JP3377086 B2 JP 3377086B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、相変化光ディスク
装置や光磁気ディスク装置等に適用される光ヘッドのフ
ォーカス誤差信号検出装置およびフォーカス誤差信号検
出方法に関する。
【0002】
【従来の技術】光ディスク装置が光ディスクに対して情
報の記録再生を行う場合、光ディスク成型時に生じた反
り、光ディスクの自重によるわたみ、ターンテーブルの
傾き等が原因となり、レンズと光ディスク間の距離とレ
ンズの焦点深度との差、すなわちフォーカス誤差が生じ
るという問題が生じていた。レンズと光ディスク間の距
離をレンズの焦点深度内に収めるためには、フォーカス
誤差を検出する必要があるが、従来の技術では、フォー
カス誤差検出法として非点収差法やダブルナイフエッジ
法が用いられてきた
【0003】非点収差法とダブルナイフエッジ法を比較
した場合、光センサずれに対するフォーカス零クロス変
化特性の点で非点収差法が優れている。フォーカス零ク
ロスの定義を以下に説明する。非点収差法およびダブル
ナイフエッジ法双方で用いる4分割センサの各センサ出
力をA、B、C、Dとする。ここで、AとC、BとDが
それぞれ対角のセンサ出力である。図5は、ビーム中心
位置が変化した場合のA−BとC−Dの変化を示した図
である。A−BおよびC−Dの変化を示す曲線の交点に
おけるA−BおよびC−Dがいずれも0であれば、4分
割センサの中心とビーム中心位置が重なっていることを
示している。この位置からビーム中心位置または4分割
センサがずれると、A−Bが変化し、交点が0からずれ
る。この変化後のA−Bを(A−B)’として図5に破
線で示す。このとき、図5に示したずれJと片側振幅K
を用いて計算した(J/K)×100がフォーカス零ク
ロスである。なお、フォーカス零クロスの単位はパーセ
ントである。
【0004】図6は、非点収差法およびダブルナイフエ
ッジ法における、フォーカスセンサのずれに対するフォ
ーカス零クロス変化特性を示している。ダブルナイフエ
ッジ法では、フォーカスセンサ上のビーム直径が約30
μmである場合、フォーカスセンサのずれが1μmに対
してフォーカス零クロスは10%になる。これに対し、
非点収差法では、フォーカスセンサ上のビーム直径が1
00μmである場合、フォーカスセンサのずれが10μ
mに対してフォーカス零クロスは2%以下である。この
ように、非点収差法の方が光センサずれに対するフォー
カス零クロス変化特性が良好であり、これは非点収差法
が温度変化、経時変化の点でダブルナイフエッジ法より
有利であることを示している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ただし、非点収差法に
も、以下の三つの問題点がある。第一の問題点は、光デ
ィスクのランドおよびグルーブに情報を記録したとき、
または情報を再生したときの、フォーカスオフセットに
対するビットエラーレートの変化が大きい点である。図
7は、ランド、グルーブそれぞれのビットエラーレート
特性を示す。ランドおよびグルーブいずれの場合もビッ
トエラーレートが大きく変化している。
【0006】第二の問題点は、ランドおよびグルーブの
ビットエラーレートの特性が一致しない点である。例え
ば、(1、7)変調方式による記録、パーシャルレスポ
ンス方式による再生を行った場合、図7に示すように、
ランドとグルーブとではビットエラーレートが最小とな
るフォーカスオフセット点がずれ、また、グルーブの場
合よりもランドのビットエラーレート特性が劣化する。
【0007】第三の問題点は、4分割センサによってフ
ォーカス誤差信号を検出する際、ランドおよびグルーブ
からなる溝をクロスして走査すると、フォーカス誤差信
号にノイズが入ってしまう点である。
【0008】これら三つの問題点の原因は、光ディスク
で光が反射するときの回折により生じる光がフォーカス
誤差信号に影響を与えてしまったことにある。光ディス
クには図8に示すようなランドとグルーブとからなる溝
があるため、光が反射する際に回折が生じてしまう。す
なわち、図9に示すように光ディスクの反射による0次
光の他に、光ディスク回折±1次光が発生してしまう
が、従来の技術ではこの光ディスク回折±1次光による
影響を排除できなかった。
【0009】本発明は、光ディスクでの回折で生じる光
の影響を排除して、フォーカスオフセットに対するビッ
トエラーレート変化が小さく、かつランドとグルーブで
ビットエラーレート特性に差がなく、ランドおよびグル
ーブからなる溝をクロスして走査したときにフォーカス
誤差信号に入るノイズを除去するフォーカス誤差信号検
出装置およびフォーカス誤差信号検出方法を提供するこ
とを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明によるフォーカス
誤差信号検出装置は、光源から照射され光ディスクに集
束された光の光ディスクからの反射光について、入射経
路と同経路を戻る反射光の経路を入射経路から分岐させ
る偏光ビームスプリッタ部と、偏光ビームスプリッタ部
で分岐した反射光を集束する集束部と、集束部で集束し
た反射光について非点隔差を発生させる非点隔差発生部
と、光ディスクでの回折による分散で生じた光同士が重
畳するように非点隔差発生部を通過した反射光を分散す
る回折部と、回折部を通過して分散した反射光を受光し
てフォーカス誤差信号を検出する4分割センサとを備
、回折部による分散の分散比が1.5以上であること
を特徴とする。このような構成によれば、4分割センサ
が有する各センサの出力から容易にフォーカス誤差信号
を算出することができる。また、回折部による分散の分
散比が1より大きくなければならないが、特に分散比を
1.5以上とすることによって光ディスクによる回折の
影響を大きく低減することができる。
【0011】
【0012】
【0013】回折部は、分散で生じた±1次光それぞれ
のビーム中心と0次光のビーム中心とのずれを、0次光
の断面の直径の1/4以上1/2以下とするように分散
させることが好ましい。光ディスクの回折により生じた
光の発生位置のパターンは一律ではなく、0次光の中心
から直径の1/4までの範囲や、0次光の中心から直径
の1/2までの範囲等、様々なパターンで発生する。し
たがって、ビーム中心のずれを0次光の断面の直径の1
/4以上1/2以下とすることで、様々な発生パターン
に対応して光ディスクによる回折の影響をより低減する
ことができる。
【0014】非点隔差発生部は、回折部に切られた溝の
方向と非点隔差によって断面が楕円となる光の楕円の軸
方向とが一致するように配置されることが好ましい。セ
ンサ部が受光する光に像回転を生じさせず、光ディスク
での回折による分散で生じた光同士が重畳する面積をよ
り大きくすることができるので、光ディスクによる回折
の影響をより低減することができる。
【0015】例えば、非点隔差発生部は、円筒レンズま
たは斜め平板を備えた構成であってもよい。このような
構成によれば、非点隔差発生部の構成を簡易化すること
ができる。
【0016】非点隔差発生部は、凹レンズと円筒レンズ
または斜め平板とを一体化したした光学部品であっても
よい。このような構成によれば、凹レンズと円筒レンズ
または斜め平板との距離が不変となるので、容易に光軸
方向の非点隔差発生部の位置を調整することができる。
【0017】非点隔差発生部は、4分割センサがフォー
カス誤差発生時に受光する楕円光の楕円の長軸方向およ
び短軸方向と、4分割センサの二組の対角のセンサが並
ぶ方向とが一致するように配置されることが好ましい。
【0018】また、本発明によるフォーカス誤差信号検
出方法は、光源から照射され光ディスクに集束された光
の光ディスクからの反射光について、入射経路と同経路
を戻る反射光の経路を入射経路から分岐させ、分岐した
反射光を集束させ、集束した反射光について非点隔差を
発生させ、光ディスクでの回折による分散で生じた光同
士が重畳するように非点隔差を発生した反射光を分散さ
せ、分散した反射光を受光してフォーカス誤差信号を検
出することを特徴とする。光ディスクでの回折による分
散で生じた光同士を重畳させることで、光ディスクでの
回折がフォーカス誤差信号に与える影響を減少させるこ
とができる。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。図1は、本発明によるフォーカス
誤差信号検出装置の実施の一形態を示す構成図である。
光源であるレーザ1から照射された光は、コリメータレ
ンズ2により平行光となる。この平行光は、複合プリズ
ム3を介して、対物レンズ8に射出される。複合プリズ
ム3は、クサビプリズム4、偏光ビームスプリッタ5、
45゜ミラー6、1/4波長板7から構成され、対物レ
ンズ8に向けて円偏光に変換した光を射出する役割を果
たす。対物レンズ8は、入射した光を集束して光ディス
ク9に射出する。
【0020】光ディスク9で反射した光は、入射経路と
同経路を戻るが、複合プリズム3の偏光ビームスプリッ
タ5で反射して、以降は入射経路とは異なる経路を進
む。偏光ビームスプリッタ5で反射したした光は、ハー
フミラー10において透過光と反射光とに分かれる。ハ
ーフミラー10を反射した光は、集束レンズ11によっ
て集束され、凹レンズ12と円筒レンズ13とを一体化
した光学部品を通過する。光がこの光学部品を通過する
ことで非点隔差が発生する。この光学部品を通過した光
は、さらに回折格子14を通過し分散される。
【0021】4分割センサ15は、分散した光を検出し
て検出した光に応じた信号を出力する。4分割センサ1
5は、フォーカス誤差信号を(A+C)−(B+D)と
して出力し、RF(Radio Frequency )信号をA+B+C
+Dとして出力する。ただし、4分割センサ15の各セ
ンサ出力をA、B、C、Dとし、AとC、BとDがそれ
ぞれ対角のセンサ出力であるとする。
【0022】ここで、フォーカス誤差が生じる場合、4
分割センサ15は、非点隔差によって断面が縦長または
横長の楕円となる光を受光する。この楕円の長軸方向お
よび短軸方向と、4分割センサの二組の対角のセンサが
並ぶ方向とが一致するように円筒レンズ13と4分割セ
ンサ15の向きを設定する。
【0023】また、ハーフミラー10を透過した光は、
2分割センサ16に受光される。2分割センサ16は、
2つのセンサそれぞれの出力の差をトラッキング誤差信
号として出力する。
【0024】次に、動作について説明する。光ディスク
9で光が反射するとき、光ディスク9には図8に示すよ
うなランドとグルーブからなる溝があるので、入射した
光の分散により±1次光が発生する。なお、回折格子1
4においても入射した光が分散することにより±1次光
が発生するので、両者を区別するため、光ディスク9で
の反射で生じた光を「光ディスク回折±1次光」とよ
び、回折格子14を通過して生じた光を単に「±1次
光」とよぶことにする。ただし、光ディスクでの反射で
生じた光ディスク回折±1次光が回折格子14を通過す
ることにより生じた光は「光ディスク回折±1次光」と
よぶことにする。光ディスク9での反射で生じた光ディ
スク回折±1次光の発生状況を0次光の断面図として図
9に示す。光ディスク回折±1次光61、62は、光デ
ィスクに反射した0次光60のビームに収まるように発
生する。
【0025】光ディスク回折±1次光61、62は、0
次光60とともに、入射経路を戻って、偏光ビームスプ
リッタ5で反射し、さらに集束レンズ11、凹レンズ1
2、円筒レンズ13を通過して回折格子14に達する。
回折格子14は、0次光60だけでなく、光ディスク回
折±1次光61、62も分散させる。図2に、回折格子
14での分散の状況を示す。図2の上図は、0次光60
と、回折格子14での分散で生じた−1次光51および
+1次光52の断面図である。−1次光51には、回折
格子14による−1次光51の光ディスク回折−1次光
53および光ディスク回折+1次光54が発生する。同
様に、+1次光52には、回折格子14による+1次光
52の光ディスク回折−1次光55および光ディスク回
折+1次光56が発生する。これらの、光ディスク回折
±1次光53ないし56は、0次光60の光ディスク回
折±1次光61、62が回折格子14を通過することに
より発生したものである。
【0026】ここで、0次光60、−1次光51、+1
次光52を図2の下図に示すように分散させると、0次
光60の光ディスク回折−1次光61と、回折格子14
による−1次光51の光ディスク回折+1次光54とが
重畳する。また同様に、0次光60の光ディスク回折+
1次光62と、回折格子14による+1次光52の光デ
ィスク回折−1次光55とが重畳する。このように重畳
させることによって、重なった光同士が互いに打ち消し
合う。その結果、0次光内に存在した光ディスク回折±
1次光61、62がフォーカス誤差信号に与える影響を
減少させることができる。
【0027】なお、図2の下図において、0次光60の
光ディスク回折−1次光61と、回折格子14による−
1次光51の光ディスク回折+1次光54とが、完全に
重なっているように示したが、実際には0次光60の光
ディスク回折±1次光61、62は複雑な形状をしてい
るので完全には重ならない。0次光60の光ディスク回
折+1次光62と、回折格子14による+1次光52の
光ディスク回折−1次光55についても同様である。
【0028】このように回折格子14による分散で発生
する±1次光51、52と0次光60を重ねると光ディ
スク回折±1次光61、62の影響が減少するので、こ
の状態で図3に示すように4分割センサ15でフォーカ
ス誤差信号を出力すれば、ランドとグルーブのビットエ
ラーレート特性差の改善等の効果が得られる。なお、従
来の非点収差法では、レンズと光ディスク間の距離をレ
ンズの焦点深度内に収めると4分割センサには断面が楕
円ではなく円となる光が1ビームだけ入射し、(A+
C)−(B+D)の値は0となる。本発明においては、
−1次光51がAを出力するセンサに、+1次光52が
Cを出力するセンサにそれぞれ入射するので、レンズと
光ディスク間の距離をレンズの焦点深度に収まったとき
の(A+C)−(B+D)の値はオフセットを有する。
【0029】上記実施例において、0次光60の光量と
回折格子14による±1次光51、52の光量との比を
分散比という。例えば、−1次光、0次光、+1次光の
光量の比が1:3:1であるときは、分散比3と表記す
る。光ディスク回折±1次光61、62を打ち消すため
には、分散比が1を越える値でなければならない。光デ
ィスクによる回折の影響を大きく低減できる場合の分散
比は、ランドおよびグルーブによる溝の深さ、溝の幅、
溝の形状、光ヘッドの集光ビーム形状にもよるが、分散
比が1.5以上である場合に光ディスク回折±1次光6
1、62を打ち消す効果が大きいことを実験的に求め
た。この実験は、分散比を1、2、3、5、7とした場
合について行ったものであり、分散比を2、3、5、7
とした場合について光ディスク回折±1次光61、62
を打ち消す効果が大きいことを確認した。
【0030】図4は、0次光60と±1次光51、52
との重なりあいを示す説明図である。図4の上図は、0
次光60および±1次光51、52のビーム中心が直線
上に並ばない配置を示しており、斜線で示した区域が重
なった部分が、光ディスクでの回折による分散で生じた
光同士が重畳する部分である。上記実施例においては、
図2の下図に示すように、0次光60と±1次光51、
52のビーム中心は直線上に並び、図4の上図に示す配
置よりも光ディスクでの回折による分散で生じた光同士
が重畳する面積は大きくなる。
【0031】また、各ビームの中心が直線上に並んだ場
合に、図4の下図に示すように4分割センサ15が受光
する光に像回転を生じさせてしまうと、重畳面積が小さ
くなり光ディスク回折±1次光61、62を打ち消す効
果が減少する。したがって、図2の下図に示すように、
各光のビーム中心が直線上に並び、像回転が生じないよ
うに分散させることが好ましい。このように分散させる
ためには、回折格子に切られた溝の方向と非点隔差によ
って断面が楕円となる光の楕円の長軸または短軸方向と
を一致させるように凹レンズ12と円筒レンズ13とを
一体化した光学部品を配置すればよい。回折格子に切ら
れた溝と楕円の長軸または短軸の方向とがずれると、像
回転のため重畳面積は減少する。なお、図4の下図に示
すような90゜の像回転は、回折格子に切られた溝と楕
円の長軸または短軸の方向とが45゜ずれる場合に生じ
る。
【0032】また、光ディスク回折±1次光61、62
は、0次光60のビーム中心に近い位置に発生する場合
には、ビーム中心から直径の1/4の距離までの範囲に
発生する。ビーム中心から離れた位置に発生する場合に
は、ビーム中心から直径の1/2の距離までの範囲に発
生する。この発生パターンは、光ディスク上の溝の深さ
等の要因によって変化する。0次光60のビーム中心と
±1次光51、52のビーム中心の距離が0次光の直径
の1/4以上1/2以下となるようにすれば、光ディス
ク回折±1次光61、62の発生パターンに対応して、
光ディスク回折±1次光61、62と回折格子14によ
る分散で生じた光との重畳面積をより大きくすることが
できる。すなわち、光ディスク回折±1次光61、62
を打ち消す効果を大きくすることができる。
【0033】また、本実施例では、凹レンズと円筒レン
ズを一体化させた光学部品により、非点隔差を発生させ
たが、凹レンズと斜め平板を一体化させた光学部品を用
いてもよい。
【0034】本発明において、フォーカス誤差信号によ
り検出した誤差が最小になるときと、RF信号が最大と
なるときとを一致させるために、凹レンズ12と円筒レ
ンズ13の位置を光軸方向に調整することがある。この
調整時に凹レンズ12と円筒レンズ13との距離を変化
させてはならないが、一体化することによって凹レンズ
12と円筒レンズ13の距離は不変となるので、調整を
容易に行うことができる。凹レンズと斜め平板とを一体
化させた光学部品を用いた場合も同様に、位置の調整が
容易になる。
【0035】また、本発明では0次光60と回折格子1
4で発生した±1次光51、52を重畳させて光ディス
ク回折±1次光の影響を減少させたが、0次光60に回
折格子14で発生した±2次光(図面において図示せ
ず)を重畳させてもよい。
【0036】
【発明の効果】本発明によれば、光ディスクからの反射
光に生じる光ディスク回折±1次光を回折格子に通過さ
せ、光ディスク回折±1次光の回折格子による±1次光
と、光ディスク回折±1次光とを重畳させ、光ディスク
回折±1次光の影響を減少させたことにより、フォーカ
スオフセットに対するビットエラーレート変化を小さく
し、かつランドとグルーブのビットエラーレート特性の
差をなくし、ランドおよびグルーブからなる溝をクロス
して走査した場合のフォーカス誤差信号に入ったノイズ
を除去することができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明によるフォーカス誤差信号検出装置の
実施の一形態を示す構成図である。
【図2】 回折格子を通過した光の分散の状況を示す説
明図である。
【図3】 回折格子を通過して分散した光を受光した4
分割センサの状況を示す説明図である。
【図4】 0次光と±1次光との重なりあいを説明する
説明図である。
【図5】 フォーカス零クロスの定義を説明する説明図
である。
【図6】 フォーカスセンサのずれに対するフォーカス
零クロス変化特性を示す説明図である。
【図7】 フォーカスオフセットに対するビットエラー
レート特性を示す説明図である。
【図8】 光ディスク上のランドとグルーブとからなる
溝の状況を示す説明図である。
【図9】 光ディスクでの反射で生じた光ディスク回折
±1次光の発生状況を示す説明図である。
【符号の説明】
1 レーザ 2 コリメータレンズ 3 複合プリズム 4 クサビプリズム 5 偏光ビームスプリッタ 6 45゜ミラー 7 1/4波長板 8 対物レンズ 9 光ディスク 10 ハーフミラー 11 集束レンズ 12 凹レンズ 13 円筒レンズ 14 回折格子 15 4分割センサ 16 2分割センサ 51〜52 ±1次光 60 0次光 61〜62 光ディスク回折±1次光
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−157326(JP,A) 特開 昭64−89043(JP,A) 特開 平11−296875(JP,A) 特開 平9−91714(JP,A) 特開 平10−162418(JP,A) 特開 平9−245366(JP,A) 特開 昭59−207034(JP,A) 特開 平8−241526(JP,A) 特開 平6−309687(JP,A) 特開 平4−168631(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 7/09 - 7/22

Claims (9)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源から照射され光ディスクに集束され
    た光の光ディスクからの反射光によりフォーカス誤差信
    号を検出するフォーカス誤差信号検出装置であって、 入射経路と同経路を戻る反射光の経路を入射経路から分
    岐させる偏光ビームスプリッタ部と、 前記偏光ビームスプリッタ部で分岐した反射光を集束す
    る集束部と、 前記集束部で集束した反射光について非点隔差を発生さ
    せる非点隔差発生部と、 光ディスクでの回折による分散で生じた光同士が重畳す
    るように前記非点隔差発生部を通過した反射光を分散す
    る回折部と、 前記回折部を通過して分散した反射光を受光してフォー
    カス誤差信号を検出する4分割センサとを備え 回折部による分散の分散比が1.5以上である ことを特
    徴とするフォーカス誤差信号検出装置。
  2. 【請求項2】 回折部は、分散で生じた±1次光それぞ
    れのビーム中心と0次光のビーム中心とのずれを、0次
    光の断面の直径の1/4以上1/2以下とするように分
    散させることを特徴とする請求項1記載のフォーカス誤
    差信号検出装置。
  3. 【請求項3】 非点隔差発生部は、回折部に切られた溝
    の方向と非点隔差によって断面が楕円となる光の楕円の
    軸方向とが一致するように配置されることを特徴とする
    請求項1または請求項2記載のフォーカス誤差信号検出
    装置。
  4. 【請求項4】 非点隔差発生部は、円筒レンズを備えた
    ことを特徴とする請求項1ないし請求項3記載のフォー
    カス誤差信号検出装置。
  5. 【請求項5】 非点隔差発生部は、凹レンズと円筒レン
    ズとを一体化した光学部品である請求項4記載のフォー
    カス誤差信号検出装置。
  6. 【請求項6】 非点隔差発生部は、斜め平板を備えたこ
    とを特徴とする請求項1ないし請求項記載のフォーカ
    ス誤差信号検出装置。
  7. 【請求項7】 非点隔差発生部は、凹レンズと斜め平板
    とを一体化した光学部品である請求項記載のフォーカ
    ス誤差信号検出装置。
  8. 【請求項8】 非点隔差発生部は、4分割センサがフォ
    ーカス誤差発生時に受光する楕円光の楕円の長軸方向お
    よび短軸方向と、4分割センサの二組の対角のセンサが
    並ぶ方向とが一致するように配置されることを特徴とす
    る請求項1ないし請求項記載のフォーカス誤差信号
    出装置。
  9. 【請求項9】 光源から照射され光ディスクに集束され
    た光の光ディスクからの反射光について、 入射経路と同経路を戻る反射光の経路を入射経路から分
    岐させ、 分岐した反射光を集束させ、 集束した反射光について非点隔差を発生させ、 光ディスクでの回折による分散で生じた光同士が重畳す
    るように非点隔差を発生した反射光を1.5以上の分散
    比で分散させ、 分散した反射光を4分割センサで受光してフォーカス誤
    差信号を検出する ことを特徴とするフォーカス誤差信号
    検出方法。
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