JP3369430B2

JP3369430B2 - 摩擦摩耗試験機

Info

Publication number: JP3369430B2
Application number: JP07818397A
Authority: JP
Inventors: 幸博河合
Original assignee: Japan Tobacco Inc
Current assignee: Japan Tobacco Inc
Priority date: 1997-03-28
Filing date: 1997-03-28
Publication date: 2003-01-20
Anticipated expiration: 2017-03-28
Also published as: JPH10267819A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、試料の摩擦摩耗試
験をおこなう摩擦摩耗試験機に関する。さらに特定すれ
ば、本発明は摩擦摩耗試験の際の摩擦力の検出精度を向
上させたアーム形の摩擦摩耗試験機に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来から、トライボロジすなわち摩擦・
摩耗現象を測定するために摩擦摩耗試験が行われてい
る。この摩擦摩耗試験として、円板状のデイスク試料の
上にピン状のピン試料、ボール状のボール試料、リング
状のリング試料等のいわゆるピース試料を所定の荷重で
加圧し、このデイスク試料を回転させてこのデイスク試
料とピース試料との間の摩擦・摩耗現象を測定するもの
がある。

【０００３】このような試験をおこなう摩擦摩耗試験機
としては、基端部を固定保持したアームの先端部に上記
のピース試料を保持し、このアームに生じる歪みを歪み
ゲージ等により測定し、上記のピース試料に作用する摩
擦力を測定するものがある。しかし、このようなもの
は、その測定精度に限界があり、また歪みゲージの較正
等が面倒である。

【０００４】また、上記のアームの基端部を回転軸に取
り付け、この回転軸のトルクをトルク検出器により測定
し、摩擦力を測定するものがある。しかし、このような
ものは、上記の回転軸を支承する軸受機構の回動抵抗そ
の他の抵抗力による誤差が生じやすい。また、このよう
なものは、摩擦力がアームおよび回転軸を介してトルク
検出器に伝達されるため、これらのアームや回転軸の弾
性変形が生じ、たとえば短時間の間に生じる摩擦力の変
動を測定するような場合に、これらの弾性変形により摩
擦力の検出の応答性が低下する等の不具合もある。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】本発明は以上の事情に
基づいてなされたもので、摩擦力の測定精度が高く、ま
た摩擦力の測定の応答性が高いとともに較正も簡単であ
り、かつ構造も簡単で信頼性の高い摩擦摩耗試験機を提
供するものである。

【０００６】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の本発明
は、デイスク試料を回転駆動するデイスク駆動機構と、
先端部に上記のデイスク試料に摺接するピース試料を保
持し基端部が上記のデイスク試料の回転軸と平行な軸回
りに回動自在に保持された負荷アームと、この負荷アー
ムの先端部に保持された上記のピース試料に所定の負荷
荷重を作用させる負荷加圧機構と、上記の負荷アームの
先端部の側部に当接し上記のデイスク試料とピース試料
との摩擦によりこの負荷アームの先端部に作用する上記
のデイスク試料の回転周方向の力を検出する摩擦力検出
機構とを備えたものである。

【０００７】したがって、上記のデイスク試料とピース
試料との間の摩擦力は、負荷アームの先端部を介して直
接的に摩擦力検出機構に伝達される。この場合に、この
摩擦力はこの摩擦力検出機構により直接的に測定される
とともに、この摩擦力の大部分がこの摩擦力検出機構に
より支承されることになるので、この負荷アームの基端
部を回転自在に支承する軸受機構等に作用する荷重が少
なく、よってこれらの軸受機構等の抵抗の誤差が減少
し、高い精度で摩擦力を測定できる。

【０００８】また、この摩擦力は上記のように摩擦力検
出機構に直接的に伝達されるので、負荷アームの変形、
回転軸のねじり変形等による摩擦力測定の応答性が低下
することがなく、高い応答性が得られる。

【０００９】さらに、このものは摩擦力検出機構を較正
する場合に、負荷アームや回転軸の変形等を考慮する必
要がなく、較正も容易であるとともに、構造が簡単で信
頼性も高い。

【００１０】さらに、請求項１に記載の本発明は、前記
の負荷アームは、高い負荷荷重で使用される高負荷用ア
ームと、低い負荷荷重で使用される低負荷用アームの２
つの負荷アームが設けられ、これらの高負荷用アームと
低負荷用アームは、それらの先端部が上記のデイスク試
料上に位置する使用位置と、それらの先端部が上記のデ
イスク試料上から外れた位置に位置する待機位置とに選
択的に回動可能であり、また前記の負荷加圧機構は上記
の使用位置にある上記の高負荷用アームと低負荷用アー
ムの先端部にそれぞれ当接可能な高負荷用加圧機構と低
負荷用加圧機構とを備え、また前記の摩擦力検出機構は
上記の使用位置にある上記の高負荷用アームと低負荷用
アームの側部にそれぞれ当接可能な高負荷用摩擦力検出
機構と低負荷用摩擦力検出機構とを備えたものである。

【００１１】したがって、低負荷用アームは軽量に形成
できるとともにその軸受機構等も低抵抗にすることがで
き、また、低負荷用加圧機構や低負荷用摩擦力検出機構
も低負荷に対応した高い精度のものとすることができる
ので、高い精度で摩擦力を測定でき、また上記の摩擦力
の測定の応答性も高くすることができる。

【００１２】また、請求項２に記載の本発明は、前記の
低負荷用アームの基端部は、ころがり軸受により回動自
在に支承されていることを特徴とするものである。した
がって、この軸受部の回動抵抗が減少するので、摩擦力
の測定精度、測定の応答性がより高くなる。なお、この
低負荷用アームは低負荷しか作用しないので、上記のよ
うなころがり軸受でも十分に荷重を支承することができ
る。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、図を参照して本発明の一実
施形態を説明する。この実施形態のものは、デイスク試
料とピース試料との摩擦摩耗試験を行うアーム形の摩擦
摩耗試験機である。まず、図１ないし図３を参照してこ
の実施形態の摩擦摩耗試験機の概略を説明する。

【００１４】この試験機は測定部１と制御部２とから構
成されている。上記の測定部１は、フレームを備えた箱
状をなし、内部の温度や気圧を変化させ、また油循環等
の機能を備えており、室温、恒温、低温、高温、真空、
油循環等の各種の雰囲気内で摩擦摩耗試験を実施でき
る。

【００１５】また、上記の制御部２には、各種の制御装
置が設けられ、後述する摩擦摩耗試験の各機構の制御や
測定、および上記の測定部内の雰囲気の制御等をおこな
うことができる。またこの制御部２には、所定のプロセ
スの摩擦摩耗試験を自動的に実施することができるプロ
グラム機能を有している。

【００１６】そして、上記の測定部１内には、摩擦摩耗
試験をおこなう装置が設けられている。この測定部１内
には、この装置の基台となる下部基台１０と、この上方
に立設された上部基台２０とが設けられている。

【００１７】そして、この下部基台１０には、デイスク
駆動機構１１が設けられている。このデイスク駆動機構
１１には、サーボモータ、減速機等の機構が内蔵され、
またこの上端部には円板状のデイスク試料載置板１２が
水平に装着され、この上にデイスク試料が装着される。
このデイスク駆動機構１１は、前記の制御部２によって
制御され、上記のデイスク試料載置板１２上に装着され
たデイスク試料を任意の速度で回転駆動する。また、こ
のデイスク駆動機構１１の上部には、上記のデイスク試
料１２を収容する油容器１９が設けられ、油循環雰囲気
で摩擦摩耗試験を実施できるように構成されている。な
お、このデイスク駆動機構１１全体は、後述するように
上記の下部基台１０に対して水平に移動可能である。

【００１８】また、上記の下部基台１０の上には、負荷
アームとして高負荷用アーム１３および低負荷用アーム
１４とが設けられている。この高負荷用アーム１３およ
び低負荷用アーム１４の基端部は、上記のデイスク駆動
機構１１の回転軸と平行な鉛直方向の軸１５，１６に水
平方向に回動自在に支承され、またその先端部にはピン
試料等のピース試料が装着され、これらのアーム１３，
１４の先端部を上記のデイスク駆動機構１１のデイスク
試料の上まで回動させてこのピース試料をデイスク試料
の上に加圧してこのデイスク試料を回転させることによ
り、これらの試料の間の摩擦摩耗試験をおこなうもので
ある。

【００１９】なお、上記のアーム１３，１４の軸１５，
１６は、上記のデイスク駆動機構１１に対して互いに１
８０°対向した位置に配置され、これらのアーム１３，
１４が互いに干渉しないように構成されている。

【００２０】また、上記のアーム１３，１４の先端部に
は、ピース試料を保持するためのホルダ部３１，３４が
設けられ、これらホルダ部３１，３４には後述するよう
なピース試料の振動を検出する機構等が装着される。

【００２１】上記の高負荷用アーム１３は、上記のピー
ス試料にたとえば５０００Ｎまでの高負荷を加圧して摩
耗摩擦試験をおこなう際に使用されるものである。ま
た、上記の低負荷用アームは、たとえば０．５〜５０Ｎ
の低負荷をピース試料に加圧して摩擦摩耗試験をおこな
う際に使用するものである。なお、これらアーム１３，
１４は、使用する場合にはその先端部が上記のデイスク
試料の上に位置するような使用位置に回動され、また使
用しない場合にはその先端部がデイスク駆動機構１１か
ら離れて位置する待機位置に回動される。図３には、上
記の高負荷用アーム１３が使用位置に、また低負荷用ア
ーム１４が待機位置にある状態を図示してある。なお、
これらのアーム１３，１４が待機位置にある場合には、
それらの先端部はブロック状の保持ブロック２１により
保持される。なお、これらの保持ブロック２１は取外し
自在である。

【００２２】また、上記の上部基台２０には、上記のピ
ース試料に所定の負荷を加圧する負荷加圧機構が設けら
れている。図３には、上記の高負荷用アーム１３に高い
負荷を加圧する高負荷加圧機構２２を示し、たとえばベ
ロフラム機構に加圧空気を供給して上述したような範囲
の任意の負荷を上記の高負荷用アーム１３の先端部に作
用させるものである。なお、上記の低負荷用アーム１４
には、重錘により所定の負荷が加圧される。

【００２３】また、これらのアーム１３，１４および軸
１５，１６の重量を相殺するために、バランス機構１
７，１８がそれぞれ設けられ、これらの重量と釣り合っ
た重錘等により、軸１５，１６に上向荷重を作用させて
これらの重量を相殺する。

【００２４】また、上記の下部基台１０上には高負荷用
摩擦力検出機構２３および低負荷用摩擦力検出機構２４
が設けられている。これらの摩擦力検出機構２３，２４
は、アーム形のもので、上記の使用位置にある高負荷用
アーム１３または低負荷用アーム１４の先端部の側部に
デイスク試料の回転周方向から当接し、ピース試料とデ
イスク試料との間の摩擦力によってこれらアーム１３，
１４の先端部に発生する水平方向の荷重をロードセル等
により検出し、摩擦力を測定する。

【００２５】次に、上記の各機構について説明する。ま
ず、前記の高負荷用加圧機構２２は、前述したベロフラ
ム機構３５を備え、このベロフラム機構３５は制御され
た所定圧力の加圧空気が供給され、所定の加圧荷重を発
生する。この加圧荷重は、上下に摺動自在なロッド３６
を介して上記の高負荷用アーム１３の先端のホルダ部３
１の上面を上方から加圧する。なお、このロッド３６の
下端部にはローラ３７が設けられ、この高負荷用アーム
１３の先端部のデイスク試料の回転周方向の移動を拘束
しないように構成されている。なお、この高負荷用加圧
機構２２の加圧荷重は、適宜の箇所に設けられたロード
セルによって検出される。

【００２６】また、上記の高負荷用アーム１３は、アー
ム本体３０と、このアーム本体３０の先端部に設けられ
た上記のホルダ部３１と、このアーム本体３０の基端部
を上記の軸１５に回転自在に支承する軸受部３２とから
構成されている。

【００２７】そして、前記の高負荷用摩擦力検出機構２
３は、図４に示すようにアーム部材４１と摩擦力検出用
のロードセル４２を備えている。そして、上記のアーム
部材４１の先端部は、非拘束継手機構４３を介して上記
の高負荷用アーム１３のホルダ部３１の側部、たとえば
鉛直に形成された側面に当接している。

【００２８】この非拘束継手機構４３は、上記のホルダ
部３１からアーム部材４１に対して、デイスク試料の回
転周方向でかつ水平方向の分力成分、すなわち図４に示
すデイスク試料Ａとピン試料Ｂ等のピース試料Ｂとの摩
擦力に正確に対応した分力成分のみを伝達するものであ
る。

【００２９】この非拘束継手機構４３は、図４および図
５に示すように、たとえば上記のホルダ部３１側に鉛直
の軸４６によって回転自在に支承されたローラ４４と、
上記のアーム部材４１の先端部側に上記の軸４６と直交
する水平の軸４７によって回転自在に支承されたローラ
４５とを備え、これらのローラ４４，４５の周面が互い
に当接するように構成されている。

【００３０】上記のデイスク試料Ａとピン試料Ｂとの摩
擦面は図４に示すように、一般に高負荷用アーム１３の
捩れ中心とは離れた位置にあり、よってこれらの間の摩
擦力によってこのアーム１３に捩れ変形が生じる。ま
た、このアーム１３には、上記の高負荷用加圧機構２２
等からのその他の荷重も作用する。よって、摩擦摩耗試
験をおこなう際には、このアーム１３に複雑な変形や荷
重が作用し、これらが上記の高負荷用摩擦検出機構２３
のロードセルに伝達されると、誤差が生じる。

【００３１】しかし、上記の非拘束継手機構は４３は、
互いに直交する方向の軸４６，４７により回転自在に支
承された一対のローラ４４，４５の周面が互いに当接し
ているので、上記のホルダ部３１からアーム部材に所定
の方向、すなわちデイスク試料Ａの回転周方向でかつ水
平の方向の分力成分以外の荷重は、これらのローラ４
４，４５の回動により全て逃がされる。よって、上記の
ロードセル４２には、上記の方向の力しか伝達されず、
この方向の力は上記のデイスク試料Ａとピン試料Ｂの摩
擦力に正確に対応しており、よってこの摩擦力を正確に
測定することができる。

【００３２】なお、この非拘束継手機構は、図５に示す
ような構造のものには限定されず、図６および図７に例
示するような各種の構成のものが考えられる。図６に示
す非拘束継手機構４３ａは、アーム部材４１側に上記と
同様に水平方向の軸５２により回転自在に支承されたロ
ーラ５１を設けるとともに、ホルダ部材３１側には、一
対の座部材５３の間に鋼球５４を介在させたボール継手
を設けたものである。このような非拘束継手機構４３ａ
も上記の非拘束継手機構４３と同様に作用する。

【００３３】また、図７に示す非拘束継手機構４３ｂ
は、アーム部材４１側にフリーベアと称される回転ボー
ル軸受５５を設け、またホルダ部３１側には、平滑に仕
上げられた鉛直な座面を有する座面部材５８を設けたも
のである。なお、上記のフリーベア５５は、略半球状の
凹部を有する座受部材５７に鋼球５６を収容し、この鋼
球５６と座受部材５７の凹部との間には、複数の小鋼球
（図示せず）を介在させたものである。このものは、上
記の小鋼球の転動により上記の鋼球５６が任意の方向に
回動し、上記の非拘束継手機構４３と同様な作用をな
す。

【００３４】また、上記の高負荷用アーム１３のホルダ
部３１は、デイスク試料Ａにピン試料Ｂ等のピース試料
を正確に押圧するために、以下のような構造が採用され
ている。

【００３５】すなわち、上記のホルダ部３１は図４に示
すようにコ字状をなしており、その両端部には板ばね部
材６０の両端部がそれぞれ取り付けられている。この板
ばね部材６０は図８に示すように、鋼材料のブロックを
切削加工して形成され、両端部にブロック状の取付部６
１が形成され、また中央部にはブロック状の試料取付部
６２が形成され、ここにピン試料Ｂが取付けられてい
る。なお、６４はピン試料Ｂの取付螺子である。

【００３６】そして、この試料取付部６２と両端の取付
部６１の間には、それぞれ上下一対の板ばね部６３が一
体に形成されている。したがって、この板ばね部６３が
弾性変形することにより、この板ばね部材６０は板ばね
として作用する。また、上下一対の板ばね部６３が一体
に形成された箱状の構造であるため、この板ばね部材６
０は所定の剛性、たとえば捩れ変形に対して所定の剛性
を有している。

【００３７】前述したように、高負荷用アーム１３に各
種の不所望な変形が生じた場合に、この板ばね部材６０
の板ばね部６３が弾性変形することにより、これらの不
所望な変形が吸収され、ピン試料Ｂを正確な方向に、た
とえば正確に鉛直な方向からデイスク試料Ａ上に押圧す
ることができる。また、この板ばね部材６０は、所定の
方向には剛性を有しているので、このピン試料Ｂに作用
する摩擦力によって、このピン試料Ｂ自体が不所望に傾
斜したりすることが防止される。

【００３８】また、この板ばね部材６０には、上記のピ
ン試料Ｂ等のピース試料の振動を直接的に検出するため
の機構が設けられている。すなわち、この板ばね部材６
０の試料取付部６２の上部には、加速度検出器６５が設
けられている。この加速度検出器６５は、たとえば上下
方向の加速度を検出するもので、この加速度検出器６５
からの出力信号は信号線６６等を介してこの摩擦摩耗試
験機の前記の制御部２に送られ、この加速度信号をたと
えば積分することにより、この試料取付部６２に取付け
られたピン試料Ｂ等のピース試料の振動、振幅等を算出
することができる。

【００３９】このようなピン試料Ｂ等の振動の測定は、
摩擦・摩耗の挙動を解析する際などに測定されるが、上
記のものは、加速度検出器６５が試料取付部６２に直接
取付られているので、このピン試料Ｂの振動が加速度検
出器６５に伝達される経路が短く、この振動が途中の部
材の変形や内部損失、あるいは慣性質量等により減衰さ
れることが少なく、高い精度でこのピン試料Ｂの振動等
を検出することができる。

【００４０】また、この実施形態では、この試料取付部
６２がブロック状をなしているので、ピン試料Ｂの振動
が伝達される際の減衰が極めて小さく、より測定精度を
高くすることができる。また、この板ばね部材６０は、
複数の部材を接合して構成したものではなく、ブロック
状の材料を切削加工して一体に形成されたものであるか
ら、ピン試料Ｂの振動により複数の部材の接合部の間で
これら部材が別モードで振動する現象、いわゆるビビリ
が生じることがなく、より測定精度を向上させることが
できる。

【００４１】なお、前記の低負荷用アーム１４の先端部
に設けられているホルダ部３４も上記と同様の構成であ
り、またこのホルダ部３４には上記と同様の板ばね部材
が取り付けられる。また、この低負荷用アーム１４に対
応して低負荷用摩擦力検出機構２４が設けられ、この低
負荷用摩擦力検出機構２４も上記の高負荷用摩擦力検出
機構２３と同様な構成であり、かつ前記と同様の非拘束
継手機構を介して低負荷用アーム１４のホルダ部３４の
側面部に当接されている。なお、これらの機構は低負荷
用に設計されていることはもちろんである。

【００４２】図１２には、上記のような加速度検出器６
５によりピン試料Ｂの振動を検出して行う摩擦摩耗試験
の例を示す。この試験では、このピン試料Ｂとデイスク
試料Ａの間の荷重と摩擦力の関係を測定するとともに、
上記の加速度検出器６５によりこのピン試料Ｂの上下の
加速度を測定する。そして、この図１２に示すように、
ある領域でこの加速度が急激に増大した場合には、この
ピン試料Ｂに摩擦面の焼付き現象が発生して面荒れが生
じたことが判明する。

【００４３】また、図９ないし図１１には、この低負荷
用アーム１４が使用位置にある状態を示す。この低負荷
用アーム１４には、たとえば軽減孔７０等が形成される
等、低負荷用に軽量に形成されている。また、この低負
荷用アーム１４の低負荷用加圧機構は、この実施形態の
場合には重錘７１が使用され、この低負荷用アーム１４
のホルダ部３４の上には、この重錘７１を載置する機構
が設けらている。

【００４４】また、この低負荷用アーム１４の軸受部３
５は、図１１に示すようにボール軸受等のころがり軸受
が使用されており、上記の軸１６との回動抵抗が小さく
なるように構成されている。なお、この低負荷用アーム
１４には低い負荷しか作用しないので、上記のようなこ
ろがり軸受３５によってこの負荷による荷重を支承する
ことができる。

【００４５】また、前述の高負荷用アーム１３、低負荷
用アーム１４、高負荷用加圧機構２２、バランス機構１
７，１８、高負荷用摩擦力検出機構２３、低負荷用摩擦
力検出機構２４等は、上記の下部基台１０および上部基
台２０に据付け固定され、前述のデイスク駆動機構１１
が偏心機構８０によってこの下部基台１０に対して水平
方向に移動させることができるように構成されている。

【００４６】すなわち、このデイスク駆動機構１１は、
その全体が移動台８１上に取り付けられており、この移
動台８１はレール８２に沿って使用位置にあるアーム１
３，１４と平行な方向に移動可能となっている。また、
この下部基台１０上には、この移動台８１を正確に移動
させることができるマイクロメータ機構８３が設けられ
ている。また、この移動台８１は、図９および図１０に
示すクランプ機構８４により任意の位置に固定すること
ができる。

【００４７】したがって、このマイクロメータ機構８３
を操作することにより、この移動台８１とともにこのデ
イスク駆動機構１１が水平方向に移動し、アーム１３，
１４のホルダ部３１，３４に取り付けられたピン試料Ｂ
とデイスク試料Ａの回転中心の偏心量を調整することが
できる。これによって、このピン試料Ｂをデイスク試料
Ａの任意の位置に正確に接触させることができる。

【００４８】したがって、上記のアーム１３，１４等の
各機構を移動可能に構成する代わりに、このデイスク駆
動機構１１を移動可能に構成することにより、上記のよ
うに偏心量の調整が可能であり、かつ構造が簡単とな
る。

【００４９】なお、本発明は上記の実施形態には限定さ
れない。たとえば、本発明は高負荷用アームと低負荷用
アームの両方を備えたものには限定されず、一方のみを
備えた摩擦摩耗試験機に適用することもできる。

【００５０】

【発明の効果】上述の如く本発明は、デイスク試料とピ
ース試料との間の摩擦力は、負荷アームの先端部を介し
て直接的に摩擦力検出機構に伝達されるとともに、この
摩擦力の大部分がこの摩擦力検出機構により支承される
ことになるので、この負荷アームの基端部を回転自在に
支承する軸受機構等に作用する荷重が少なく、よってこ
れらの軸受機構等の抵抗の誤差が減少し、高い精度で摩
擦力を測定できる。

【００５１】また、この摩擦力は上記のように摩擦力検
出機構に直接的に伝達されるので、負荷アームの変形、
回転軸のねじり変形等による摩擦力測定の応答性が低下
することがなく、高い応答性が得られる。さらに、この
ものは摩擦力検出機構を較正する場合に、負荷アームや
回転軸の変形等を考慮する必要がなく、較正も容易であ
るとともに、構造が簡単で信頼性も高い等、その効果は
大である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施形態の摩擦摩耗試験機の全体の正
面図。

【図２】図１の測定装置の部分の正面図。

【図３】図２の３−３線矢視図。

【図４】図３の４−４矢視図。

【図５】非拘束継手機構の概略構成図。

【図６】別の形態の非拘束継手機構の概略構成図。

【図７】さらに別の形態の非拘束継手機構の概略構成
図。

【図８】板ばね部材の斜視図。

【図９】低負荷用アームが使用位置にある状態を背面か
ら見た背面図。

【図１０】図９の１０−１０線矢視図。

【図１１】低負荷用アームの拡大側面図。

【図１２】摩擦摩耗試験の例を説明する線図。

【符号の説明】

１１デイスク駆動機構１２デイスク載置台１３高負荷用アーム１４低負荷用アーム１５，１６軸２２高負荷用加圧機構２３高負荷用摩擦力検出機構２４低負荷用摩擦力検出機構３５ころがり軸受７１重錘Ａデイスク試料Ｂピン試料

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】デイスク試料を回転駆動するデイスク駆
動機構と、先端部に上記のデイスク試料に摺接するピー
ス試料を保持し基端部が上記のデイスク試料の回転軸と
平行な軸回りに回動自在に保持された負荷アームと、こ
の負荷アームの先端部に保持された上記のピース試料に
所定の負荷荷重を作用させる負荷加圧機構と、上記の負
荷アームの先端部の側部に当接し上記のデイスク試料と
ピース試料との摩擦によりこの負荷アームの先端部に作
用する上記のデイスク試料の回転周方向の力を検出する
摩擦力検出機構とを具備しており、前記の負荷アームは、高い負荷荷重で使用される高負荷
用アームと、低い負荷荷重で使用される低負荷用アーム
の２つの負荷アームが設けられ、これらの高負荷用アー
ムと低負荷用アームは、それらの先端部が上記のデイス
ク試料上に位置する使用位置と、それらの先端部が上記
のデイスク試料上から外れた位置に位置する待機位置と
に選択的に回動可能であり、また前記の負荷加圧機構は
上記の使用位置にある上記の高負荷用アームと低負荷用
アームの先端部にそれぞれ当接可能な高負荷用加圧機構
と低負荷用加圧機構とを備え、また前記の摩擦力検出機
構は上記の使用位置にある上記の高負荷用アームと低負
荷用アームの側部にそれぞれ当接可能な高負荷用摩擦力
検出機構と低負荷用摩擦力検出機構とを備えていること
を特徴とする摩擦摩耗試験機。
【請求項２】前記の低負荷用アームの基端部は、ころ
がり軸受により回動自在に支承されていることを特徴と
する請求項１の摩擦摩耗試験機。