JP3365922B2 - Ａｔｍセル転送遅延測定装置 - Google Patents
Ａｔｍセル転送遅延測定装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＡＴＭネットワー
クに組込まれたＡＴＭ交換機や伝送経路を含む各種の構
成部材の特性を測定する測定装置に係わり、特に、各構
成部材におけるＡＴＭセルの転送遅延時間を測定するＡ
ＴＭセル転送遅延測定装置に関する。 【０００２】 【従来の技術】ＡＴＭ（非同期転送モード）ネットワー
クにおいては、図１１に示すように、例えば伝送速度が
それぞれ異なる送信側の各端末１ａから出力される宛先
が付された各ＡＴＭセル２をＡＴＭ網３における送信側
のＡＴＭ交換機４ａで一つのＡＴＭ信号に時分割で組込
んで受信側のＡＴＭ交換機４ｂへ送信する。受信側のＡ
ＴＭ交換機４ｂは受信したＡＴＭ信号に含まれる各ＡＴ
Ｍセル２を宛先別に分類して受信側の各端末１ｂへ送信
する。 【０００３】この場合、送信側の各端末１ａは互いに非
同期で動作しているので、同一宛先（アドレス）のＡＴ
Ｍセル２をＡＴＭ交換機４ａへ送信すると、これらを一
つのＡＴＭ信号に組込む時点にＡＴＭセル２どうしで衝
突が発生する懸念がある。このようなＡＴＭセル２どう
しの衝突を未然に防止するために、図１２に示すよう
に、ＡＴＭ交換機４ａ内にバッファメモリ５を設けて、
入力した各ＡＴＭセル２をこのバッファメモリ５に一旦
格納した後、順番に読出して一つのＡＴＭ信号に組込む
ようにしている。 【０００４】したがって、ＡＴＭ交換機４ａにおいて
は、入力された各ＡＴＭセル２をバッファメモリ５書込
んで、さらにその後、バッファメモリ５から読出してＡ
ＴＭ信号に組込むために、各ＡＴＭセル２がこのＡＴＭ
交換機４ａへ入力してから出力されるまでに一定の転送
遅延時間Ｔadが発生する。 【０００５】この転送遅延時間ＴadはＡＴＭネットワー
クにおける伝送特性に大きく影響するので、ＡＴＭネッ
トワークを構成する各構成部材における転送遅延時間Ｔ
adを正確に求めることは重要である。 【０００６】しかし、この転送遅延時間Ｔadは、このＡ
ＴＭ交換機４ａに現在入出力されているＡＴＭセルの絶
対量や、このＡＴＭ交換機４ａに接続された端末１ａの
種類や伝送速度によって時々刻々変動する。このように
転送遅延時間Ｔadは一義的に定まらないので、ＡＴＭ交
換機４ａを評価する場合に、このＡＴＭセルの転送遅延
時間Ｔadを統計的に評価する。 【０００７】図１３はＡＴＭセルの転送遅延時間Ｔadを
測定するＡＴＭセル転送遅延測定装置６の概略構成図で
ある。タイムスタンプ発生部７は連続的に所定のタイミ
ングでタイムスタンプＴを発生して、ＡＴＭセル送信部
８へ送出する。ＡＴＭセル送信部８は、受領した現在時
刻Ｔを示すタイムスタンプを組込んだ図１４（ａ）に示
す試験用のＡＴＭセル９を順次作成する。そして、前記
ＡＴＭ交換機等の被測定系１０へ送出する。したがっ
て、ＡＴＭセル送信部８から被測定系１０へ入力される
ＡＴＭ信号１１は、図１４（ｂ）に示すように、それぞ
れタイムスタンプの値がすこしづつ異なる複数のＡＴＭ
セル９が連続して組込まれた信号となる。 【０００８】ＡＴＭ信号１１は被測定系１０内を経由し
て、出力端子から出力されてＡＴＭセル転送遅延測定装
置６内の受信セル抽出部１６へ入力される。受信セル抽
出部１６は受信したＡＴＭ信号１１から試験用のＡＴＭ
セル９だけを抽出して受信タイムスタンプ抽出部１２へ
送出する。受信タイムスタンプ抽出部１２は、受信セル
抽出部１６から入力する各タイムスタンプの時刻Ｔｂを
抽出して遅延時間算出部１３へ送出する。 【０００９】遅延時間算出部１３は各ＡＴＭセル９の時
刻Ｔｂが入力される毎に、タイムスタンプ発生部７から
現在時点で出力されているタイムスタンプの現在時刻Ｔ
ａを読取って、この現在時刻Ｔａから受信したＡＴＭセ
ル９から検出された時刻Ｔｂを減算し、各ＡＴＭセル９
の被測定系１０内を経由することに起因する転送遅延時
間Ｔadを算出する。 【００１０】Ｔad＝Ｔａ−Ｔｂ 遅延時間算出部１３は算出した各ＡＴＭセル９の転送遅
延時間Ｔadをカウンタ群１４へ送出する。カウンタ群１
４は遅延時間の測定範囲内の各遅延時間毎に、該当遅延
時間Ｔadを有するＡＴＭセル９の数を計数する多数のカ
ウンタから構成されている。そして、一つの転送遅延時
間Ｔadが入力する毎に、該当転送遅延時間Ｔadのカウン
タの計数値Ｎに１が加算される。 【００１１】そして、所定数のＡＴＭセル９の測定が終
了すると、統計処理部１５が起動して、カウンタ群１４
で得られた各転送遅延時間Ｔadにおけるセル数Ｎの統計
処理を実施して、例えば図１５に示すように、グラフッ
イク表示する。 【００１２】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図１３
に示すＡＴＭセル転送遅延測定装置６においてもまだ解
消すべき次のような課題があった。すなわち、図１５に
示すように、ＡＴＭ交換機等の被測定系１０における転
送遅延時間Ｔadの分布特性１６の統計量は平均値と標準
偏差等の分散量とで定量的に表現できる。この分散量は
被測定系１０の種類によってそんなに大きな変動はない
が、平均値は大きく変化する。したがって、被測定系１
０における転送遅延時間Ｔadの平均値と分散量とを正確
に測定するためには、図１５に示すように、転送遅延時
間Ｔadの測定範囲ＴA を分布特性１６の分散量に比較し
て格段に広い範囲に設定する必要があるのみならず、分
散量を正確に求めるためには、同一の転送遅延時間Ｔad
とみなす単位転送遅延時間の時間幅ＴS を短く設定する
必要がある。 【００１３】その結果、カウンタ群１４を構成するカウ
ンタの数が膨大な数になる問題がある、例えば、この転
送遅延時間Ｔadの単位転送遅延時間の時間幅ＴS を１μ
ｓとし、測定範囲ＴA を８ビットデータで表現可能な０
μｓ〜２５５μｓとすると、必要なカウンタの数は２５
６個となる。 【００１４】このような不都合を解消するために、測定
範囲ＴA 内に、この測定範囲ＴA 内に局部的に現れる分
布特性１６が十分含まれる時間幅Ｔ0 を有した測定窓１
７を設け、この測定窓１７内においてのみ、各ＡＴＭセ
ル９の転送遅延時間Ｔadを設定された時間幅ＴS で測定
することが提唱されている。 【００１５】そして、この測定窓１７を測定範囲ＴA 内
における転送遅延時間Ｔad＝０から前記時間幅Ｔ0 づつ
順番に移動させていって、測定窓１７内にＡＴＭセル９
の分布特性１６が現れた時点で移動を停止して、この分
布特性１６の平均値と分散量とを正確に求める。 【００１６】しかし、この測定窓１７を時間幅Ｔ0 づつ
順次移動させて各移動位置で測定を実施する場合、分布
特性１６が測定窓１７内に入るまでに、多数回の測定を
実施する必要があり、被測定系１０に対する測定作業能
率が大幅に低下する問題がある。 【００１７】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
ものであり、測定窓を遅延時間軸上で効率的に移動させ
ることによって、被測定系に対する転送遅延時間の測定
精度を低下させることなく、必要とするカウンタ数を最
小限に抑制でき、測定を効率的に実施でき、かつ製造費
を低減できるＡＴＭセル転送遅延測定装置を提供するこ
とを目的とする。 【００１８】 【課題を解決するための手段】上記課題を解消するため
に本発明のＡＴＭセル転送遅延測定装置においては、連
続的に所定のタイミングでタイムスタンプを発生するス
タンプ発生部と、発生されたタイムスタンプをそれぞれ
複数のＡＴＭセルに付与して、この複数のＡＴＭセルを
被測定系に送信するセル送信部と、被測定系から帰還し
たＡＴＭセルを受信し、このＡＴＭセルからタイムスタ
ンプを検出する受信セルタイムスタンプ抽出部と、この
受信セルタイムスタンプ抽出部が検出したタイムスタン
プと、ＡＴＭセルが受信された時点におけるタイムスタ
ンプ発生部が発生するタイムスタンプとから、ＡＴＭセ
ルの転送遅延時間を求めてその値を出力する転送遅延時
間検出部と、遅延時間軸上で移動可能に設けられた測定
窓内に転送遅延時間が存在するＡＴＭセルの数を所定時
間間隔で計数してこの測定窓内に存在するＡＴＭセルの
数の分布を検出する複数個のカウンタからなる遅延分布
検出手段と、転送遅延時間が測定窓内の転送遅延時間よ
り大きいＡＴＭセルの数を計数するオーバカウンタと、
転送遅延時間が測定窓内の転送遅延時間より小さいＡＴ
Ｍセルの数を計数するアンダカウンタと、オーバカウン
タ及びアンダカウンタの各計数値に基づいて、測定窓を
遅延時間軸上で移動させる移動制御手段とを備えてい
る。 【００１９】このように構成されたＡＴＭセル転送遅延
測定装置においては、遅延時間軸上で移動可能に測定窓
が設けられている。そして、この測定窓内において、こ
の測定窓内に転送遅延時間が存在するＡＴＭセルの数が
所定の測定精度を確保するための時間幅ＴS 毎に設定さ
れた複数個のカウンタで計数されて、ＡＴＭセルの遅延
時間分布が測定される。 【００２０】そして、この遅延時間軸上における転送遅
延時間が測定窓内の転送遅延時間より大きいＡＴＭセル
の数がオーバカウンタで一括して計数される。また、遅
延時間軸上における転送遅延時間が測定窓内の転送遅延
時間より小さいＡＴＭセルの数がアンダカウンタで一括
して計数される。 【００２１】そして、被測定系の転送遅延時間の統計的
な特性が前述した図１５に示すように遅延時間軸上に設
定された測定範囲ＴA 内の特定位置に集中する場合、そ
の分布特性が測定窓内に位置していない場合は、この測
定窓内に転送遅延時間が存在するＡＴＭセルの数は小さ
く、オーバカウンタとアンダカウンタのいずれか一方の
カウンタの計数値が大きな値となる。 【００２２】したがって、測定窓に対してＡＴＭセルの
計数値が大きな値側に被測定系の転送遅延時間の分布特
性が存在するので、遅延時間軸上における測定窓の位置
をＡＴＭセルの計数値が増大した側へ移動させる。この
測定窓の移動動作を測定窓に転送遅延時間の分布特性が
現れるまで繰返す。 【００２３】このことは、遅延時間軸上における測定窓
の位置をＡＴＭセルの計数値が小さな値側へ移動させる
必要はないので、測定窓の次に移動する範囲が絞り込ま
れるので、少ない移動回数で、測定窓に転送遅延時間の
分布特性が現れる。その結果、測定回数が減少して、Ａ
ＴＭセル転送遅延測定装置全体の測定処理能率が向上す
る。 【００２４】 【発明の実施の形態】以下本発明の各実施形態を図面を
用いて説明する。 （第１実施形態）図１は本発明のＡＴＭセル転送遅延測
定装置の概略構成を示すブロック図である。 【００２５】タイムスタンプ発生部２１は連続的に所定
のタイミングでタイムスタンプを発生してセル送信部２
２へ送出する。セル送信部２２は、受領した現在時刻Ｔ
を示すタイムスタンプを組込んだ図１４（ａ）に示す試
験用のＡＴＭセル９を順次作成する。 【００２６】具体的には、この実施形態装置において
は、図１４（ａ）に示すように、現在時刻Ｔを示すタイ
ムスタンプは８ビットで構成されている。したがって、
この現在時刻Ｔの取りうる値は［０］〜［２５５］の２
５６種類である。そして、スタンプ発生部２１は、この
２５６種類の現在時刻Ｔを１μｓの周期で出力する。そ
して、現在時刻Ｔが２５５に達すると、初期値［０］か
ら再度順次増加していく。すなわち、この試験用のＡＴ
Ｍセル９で測定可能な最大の測定範囲ＴA は２５５μｓ
である。そして、転送遅延時間Ｔadの最小の時間幅ＴS
は１μｓである。 【００２７】セル送信部２２は、作成した試験用のＡＴ
Ｍセル９をＡＴＭ交換機等の被測定系２３の一つの入力
端子へ送出する。したがって、セル送信部２２から被測
定系２３へ入力されるＡＴＭ信号１１は、図１４（ｂ）
に示すように、それぞれタイムスタンプの値がすこしづ
つ異なる複数のＡＴＭセル９が連続して組込まれた信号
となる。 【００２８】ＡＴＭ信号１１は被測定系２３内を経由し
て、一つの出力端子から出力されてＡＴＭセル転送遅延
測定装置内の受信セル抽出部２４へ入力される。ＡＴＭ
ネットワーク内に組込まれて稼働中のＡＴＭ交換機等の
被測定系２３にはこのＡＴＭセル転送遅延測定装置から
送出された試験用のＡＴＭセル９以外にも通常の正規の
ＡＴＭセルも印加される。したがって、受信セル抽出部
２４は、タイムスタンプが付加された図１４（ａ）に示
すフォーマットの試験用のＡＴＭセル９のみを抽出し
て、次の受信セルタイムスタンプ抽出部２５へ送出す
る。また、受信セル抽出部２４は試験用のＡＴＭセル９
を検出すると、検出信号を制御信号発生部２６へ送出す
る。 【００２９】受信セルタイムスタンプ抽出部２５は順次
受信されたＡＴＭセル９に付加されているタイムスタン
プの時刻を読取って、その時刻をＴb として絶対遅延時
間検出部２７へ送出する。この絶対遅延時間検出部２７
は、ＡＴＭセル９の時刻Ｔｂが入力される毎に、タイム
スタンプ発生部２１から現在時点で出力されているタイ
ムスタンプの現在時刻Ｔａを読取って、この現在時刻Ｔ
ａから受信したＡＴＭセル９から検出された時刻Ｔｂを
減算して、受信したＡＴＭセル９における転送遅延時間
Ｔadを算出する。 【００３０】Ｔad＝Ｔａ−Ｔｂ 絶対遅延時間検出部２７で順次算出された各ＡＴＭセル
９の転送遅延時間Ｔadは相対遅延時間検出部２８へ送出
される。相対遅延時間検出部２８は、絶対遅延時間検出
部２７から入力された転送遅延時間Ｔadから例えばマイ
クロコンピュータ等からなる制御部２９から入力されて
いるオフセット時間ＴOFF を差し引いて相対転送遅延時
間Ｔrdを算出する。 【００３１】Ｔrd＝Ｔad−ＴＯＦＦ ここで、前記転送遅延時間Ｔａｄ及び相対転送遅延時間
Ｔrdは［０］〜［２５５］の値を取り得る。 【００３２】相対遅延時間検出部２８から順次出力され
る相対転送遅延時間Ｔrdはアドレス変換部３０のアドレ
ス端子へ入力される。このアドレス変換部３０は、図２
に示すように、アドレス端子に入力した［０］〜［２５
５］の相対転送遅延時間Ｔrdのううち、図３に示す測定
窓１７内の遅延時間に対応する［０］〜［１５］の各値
をそのまま［０］〜［１５］の各出力アドレス値へ変換
し、［１６］〜［１２７］の各値を一つのオーバアドレ
ス値［１６］へ変換し、［１２８］〜［２５５］の各値
を一つのアンダアドレス値［１７］へ変換する。 【００３３】アドレス変換部３０で変換されたアドレス
値ＡＤＲは次のＲＡＭで構成されたデータメモリ３１の
アドレス端子へ印加される。このデータメモリ３１内に
は、［０］〜［１５］の各アドレス位置にそれぞれ測定
窓用のカウンタ３２が形成され、［１６］のアドレス位
置にオーバカウンタ３４が形成され、［１７］のアドレ
ス位置にアンダカウンタ３３が形成されている。各カウ
ンタ３２，３４，３３には各アドレス値で定まる相対転
送遅延時間Ｔrdを有するＡＴＭセル９の各計数値ＮM 、
ＮOV、ＮUNが計数される。 【００３４】そして、このデータメモリ３１のデータ端
子ＤＡＴには加算器３５が接続されている。この加算器
３５はデータ端子ＤＡＴから出力された計数値Ｎに
［１］を加算して元のデータ端子ＤＡＴへ戻す加算処理
を実行する。 【００３５】前記制御信号発生部２６は試験用のＡＴＭ
セル９の検出信号を受領すると、データメモリ１のリー
ド端子Ｒへ読出信号ＮＲＤを印加する。その結果、デー
タメモリ３１のアドレス端子ＡＤＲに印加されているア
ドレスが指定するアドレス位置のカウンタ３２，３４．
３３に記憶されているいずれかの計数値ＮM 、ＮOV、Ｎ
UNをデータ端子ＤＡＴへ読出す。データ端子ＤＡＴへ計
数値ＮM 、ＮOV、ＮUNが読出されると、前記加算器３５
でこの読出された計数値ＮM 、ＮOV、ＮUNが１だけ加算
（更新）される。そして、その次に、前記制御信号発生
部２６はデータメモリ１のライト端子Ｗへ書込信号ＮＷ
Ｔを印加する。その結果、更新された計数値ＮM 、
ＮOV、ＮUNは元のカウンタ３２，３４，３３に書込まれ
る。 【００３６】すなわち、このＡＴＭセル転送遅延測定装
置に試験用のＡＴＭセル９が入力されると、このＡＴＭ
セル９における転送遅延時間Ｔadが検出され、オフセッ
ト時間ＴOFF を減算した相対転送遅延時間Ｔrdが算出さ
れ、データメモリ３１内の合計１７個のカウンタ３２，
３４，３３のうちこの各相対転送遅延時間Ｔrdに対応し
たカウンタ３２，３４，３３の計数値ＮM 、ＮOV、ＮUN
が１だけ加算される。 【００３７】そして、予め設定された個数の試験用のＡ
ＴＭセル９に対する転送遅延時間Ｔad及びデータメモリ
３１の各カウンタ３２，３４，３３の計数値ＮM 、
ＮOV、ＮUNに対する加算処理が終了すると、前記制御部
２９が動作して、データメモリ３１の各カウンタ３２，
３４，３３の計数値ＮM 、ＮOV、ＮUNを読取る。この制
御部２９内には、相対遅延時間検出部２８に設定するオ
フセット時間ＴOFF を変更して測定窓１７を遅延時間軸
上で最適位置へ移動させる移動制御部３６と、最適位置
へ測定窓１７が移動された後における測定窓１７内のＡ
ＴＭセル９の転送遅延時間Ｔadの分布特性１６の平均値
や分散値等の統計量を算出する遅延分布検出部３７が設
けられている。 【００３８】次に、図３，図４を用いて遅延時間軸上に
設定された測定範囲ＴA と測定窓１７との関係を説明す
る。測定窓１７の時間幅Ｔ0 は、前述したように、測定
された転送遅延時間Ｔadの局部的に現れる分布特性１６
が十分含まれる時間幅に設定している。そして、測定範
囲ＴA を時間幅Ｔ0 で除算した値をＡとすると、この測
定範囲ＴA はＡ個のブロックで構成される。 【００３９】この実施形態においては、測定窓１７の時
間幅Ｔ0 は１６μｓに設定されている。したがって、測
定範囲ＴA （２５６μｓの時間幅）の分割数Ａは１６で
ある。 【００４０】また、遅延時間軸上の転送遅延時間Ｔad＝
０位置から測定窓１７の開始位置までの時間を、この測
定窓１７のオフセット時間ＴOFF と定義する。そして、
この測定窓１７内の転送遅延時間より転送遅延時間Ｔad
が大きい（長い）領域をオーバ領域とし、この測定窓１
７内の転送遅延時間より転送遅延時間Ｔadが小さい（短
い）領域をアンダ領域と定義する。そして、オーバ領域
とアンダ領域との各時間幅は等しく設定されている。し
たがって、前述したように、転送遅延時間Ｔadは［０］
〜［２５５］の値を周回するので、図３（ａ），図３
（ｂ）に示すように、オーバ領域とアンダ領域が遅延時
間軸上で２つに分割される場合もある。 【００４１】そして、測定窓１７における１６個の各カ
ウンタ３２の計数値ＮM を合計した計数値をＮMEとし、
オーバ領域に含まれる各転送遅延時間Ｔadを有するＡＴ
Ｍセル９の計数値がオーバカウンタ３４の計数値ＮOVと
なり、アンダ領域に含まれる各転送遅延時間Ｔadを有す
るＡＴＭセル９の計数値がアンダカウンタ３３の計数値
ＮUNとなる。 【００４２】そして、制御部２９の移動制御部３６は、
図５の流れ図に従って、時間幅Ｔ0を有した測定窓１７
の遅延時間軸上の移動位置を制御する。Ｓ（ステップ）
１にて、測定窓１７のオフセット時間ＴOFF を、図６
（ａ）に示すように測定範囲ＴA のほぼ中央位置に初期
設定する。 【００４３】ＴOFF ＝（Ａ／２）・Ｔ0 次に、測定回数Ｂを１に初期設定する（Ｓ２）。そし
て、この状態で、前述した一連の転送遅延時間Ｔadに対
する測定処理を実行する（Ｓ３）。 【００４４】一連の測定処理が終了すると、測定窓１７
におけるＡＴＭセル９の合計の計数値ＮMEを算出し、か
つオーバカウンタ３４及びアンダカウンタ３３の各計数
値ＮOV，ＮUNを読取る。そして、測定窓１７の合計の計
数値ＮMEが各計数値ＮOV，ＮUNより小さいと、Ｓ５にて
各計数値ＮOV，ＮUNの大小が比較される。そして、オー
バカウンタ３４の計数値ＮOVがアンダカウンタ３３の計
数値ＮUNより大きいと、図６（ａ）に示すように、ＡＴ
Ｍセル９の分布特性１６は測定窓１７より大きいオーバ
領域に存在すると判断できる。 【００４５】この場合、Ｓ６にて、測定回数Ｂに１を加
算し、測定窓１７のオフセット時間ＴOFF を、現在のオ
フセット時間ＴOFF に対して測定範囲ＴA の分割数Ａを
２Bで除算した値の時間を加算した値とする（Ｓ７）。 【００４６】ＴOFF ＝ＴOFF ＋（Ａ／２B ）・Ｔ0 そして、この変更後のオフセット時間ＴOFF を相対遅延
時間検出部２８に設定して、Ｓ３へ戻り、変更されたオ
フセット時間ＴOFF に基づいて再度一連の測定処理を実
行する。 【００４７】また、Ｓ５にて、オーバカウンタ３４の計
数値ＮOVがアンダカウンタ３３の計数値ＮUNより小さい
場合、図６（ｂ）に示すように、ＡＴＭセル９の分布特
性１６は測定窓１７より小さいアンダ領域に存在すると
判断できる。 【００４８】この場合、Ｓ８にて、測定回数Ｂに１を加
算し、測定窓１７のオフセット時間ＴOFF を、現在のオ
フセット時間ＴOFF から測定範囲ＴA の分割数Ａを２B
で除算した値の時間を減算した値とする（Ｓ９）。 【００４９】ＴOFF ＝ＴOFF −（Ａ／２B ）・Ｔ0 そして、この変更後のオフセット時間ＴOFF を相対遅延
時間検出部２８に設定して、Ｓ３へ戻り、変更されたオ
フセット時間ＴOFF に基づいて再度一連の測定処理を実
行する。 【００５０】最終的に、Ｓ４にて、測定窓１７の合計の
計数値ＴMEがオーバカウンタ３４の計数値ＮOV及びアン
ダカウンタ３３の計数値ＮUNより大きくなると、図６
（ｄ）に示すように、測定窓１７はＡＴＭセル９の分布
特性１６を含む位置に位置したと判断できる。 【００５１】図７，図８、図９は、実施形態装置の各部
における実際の動作を示すタイムチャートである。図７
は、１回目の測定処理（Ｂ＝１）であって、オフセット
時間ＴOFF が、図６（ａ）に示す２５６μｓの測定範囲
ＴA における約半分の時間１２８μｓに設定された条件
で測定された場合における各部の値を示す。この場合、
タイムスタンプが２２７まで進んだ状態において、オー
バカウンタ３４には３が計数値ＮOVとして記憶されてい
る。 【００５２】図８は、２回目の測定処理（Ｂ＝２）であ
って、オフセット時間ＴOFF が、図６（ｂ）に示すよう
に、１回目の測定における時間１２８μｓからオーバ領
域側の時間１９２μｓに設定された条件で測定された場
合における各部の値を示す。そして、タイムスタンプが
１巡回して、さらに１８６まで進んだ状態において、ア
ンダカウンタ３３には３が計数値ＮUNとして記憶されて
いる。 【００５３】図９は、４回目の測定処理（Ｂ＝４）であ
って、オフセット時間ＴOFF が、図６（ｄ）に示すよう
に、３回目の測定における時間からオーバ領域側の時間
１７６μｓに変更された条件で測定された場合における
各部の値を示す。そして、タイムスタンプがさらに１巡
回して、さらに２０３まで進んだ状態において、測定窓
１７内の９番目のカウンタ３２に２が計数値ＮM として
記憶され、１１番目のカウンタ３２に１が計数値ＮM と
して記憶されている。 【００５４】したがって、この図７〜図９のタイムチヤ
ートにおいては、４回目の測定において、測定窓１７を
ＡＴＭセル９の分布特性１６を含む位置に位置させるこ
とができた。 【００５５】このように構成されたＡＴＭセル転送遅延
測定装置においては、遅延時間軸上で移動可能に設けら
れた測定窓１７内において、転送遅延時間Ｔadがこの測
定窓１７内に存在する各転送遅延時間Ｔadに該当するＡ
ＴＭセルの各計数値ＮM が、所定の測定精度を確保する
ための時間幅ＴS （＝１μｓ）毎に設定された１６個の
カウンタ３２でそれぞれ計数される。そして、１６個の
各計数値ＮM ｂの合計の計数値ＮMEが算出される。 【００５６】そして、この遅延時間軸上における転送遅
延時間Ｔadが測定窓１７内の転送遅延時間より大きいＡ
ＴＭセル９の数ＮOVがオーバカウンタ３４で一括して計
数される。また、遅延時間軸上における転送遅延時間Ｔ
adが測定窓１７内の転送遅延時間より小さいＡＴＭセル
９の数ＮUNがアンダカウンタ３３で一括して計数され
る。 【００５７】そして、測定窓１７の遅延時間軸上の位置
を示す次のオフセット時間ＴOFF を今回の測定で検出さ
れた各計数値ＮME、ＮOV，ＮUNを用いて補正している。
その結果、図１３に示す従来装置に比較して、測定回数
が減少して、ＡＴＭセル転送遅延測定装置全体の測定処
理能率が向上する。 【００５８】例えば、実施形態で、測定窓１７の時間幅
Ｔ0 、測定範囲ＴA ＝Ｔ0 ×２n （２n ＝Ａ）、１回の
測定処理時間をｔS とすると、 従来方式の最大測定所要時間 ＝Ａ×ｔS ＝２n ×ｔ
S 実施形態方式の最大測定所要時間＝（ｎ＋１）×ｔS となる。 【００５９】具体的数値（時間幅Ｔ0 ＝１６μｓ、測定
範囲ＴA ＝２５６μｓ、分割数Ａ＝１６、ｎ＝４、１回
の測定処理時間ｔS ＝１ｓ＝１０6 μｓ）を代入する
と、 従来方式の最大測定所要時間 ＝Ａ×ｔS ＝２n ×ｔ
S ＝１６ｓ 実施形態方式の最大測定所要時間＝（ｎ＋１）×ｔS ＝
５ｓ このように、従来方式に比較して、測定処理時間が１／
３以下に低下する。 【００６０】また、図１，図２に示すように、データメ
モリ３１内には、オーバカウンタ３４とアンダカウンタ
３３と、測定窓１７に含まれる１６個の各カウンタ３２
との合計１８個のカウンタが形成されるのみである。 【００６１】したがって、測定範囲ＴA の全ての転送遅
延時間Ｔad毎に合計２５６個のカウンタを設ける場合に
比較して、装置全体を小型にかつ安価に構成できる。な
お、本発明は上述した第１実施形態に限定されるもので
はない。図１，図２に示す第１実施形態においては、オ
ーバカウンタ３４とアンダカウンタ３３とをそれぞれ１
個づつ設けたが、それぞれ複数個づつ設けてもよい。 【００６２】（第２実形態）図１０は本発明の第２実形
態に係わるＡＴＭセル転送遅延測定装置の概略構成を示
すブロック図である。図１に示す第１実形態のＡＴＭセ
ル転送遅延測定装置と同一部分には同一符号が付してあ
る。したがって、重複する部分の詳細説明を省略する。 【００６３】この第２実形態装置においては、相対遅延
時間検出部２８から出力された各ＡＴＭセル９の相対転
送遅延時間Ｔrdはデータ変換部３８の入力端子ＩＮへ入
力される。このデータ変換部３８は０番から１７番まで
の合計１８個の出力端子を有している。そして、入力端
子ＩＮへ入力された相対転送遅延時間Ｔrdが０μｓから
１５μｓの範囲の場合は、入力された相対転送遅延時間
Ｔrdの値に対応する番号の出力端子からＨレベルのカウ
ントアップ信号を出力する。 【００６４】また、入力端子ＩＮへ入力された相対転送
遅延時間Ｔrdが１６μｓから１２７μｓの範囲の場合
は、１６番の出力端子からＨレベルのカウントアップ信
号を出力する。さらに、入力端子ＩＮへ入力された相対
転送遅延時間Ｔrdが１２８μｓから２５５μｓの範囲の
場合は、１７番の出力端子からＨレベルのカウントアッ
プ信号を出力する。 【００６５】データ変換部３８の０番から１５番の各出
力端子から出力されるカウントアップ信号はそそれぞれ
対応する番号のカウンタ３２ａのクロック端子へ印加さ
れる。データ変換部３８の１６番の出力端子から出力さ
れるカウントアップ信号はオーバカウンタ３４ａのクロ
ック端子へ印加され、データ変換部３８の１７番の出力
端子から出力されるカウントアップ信号はアンダカウン
タ３３ａのクロック端子へ印加される。 【００６６】測定窓１７内に含まれる１６個の各転送遅
延時間Ｔad毎に設けられた各カウンタ３２ａはクロック
端子へカウントアップ信号が印加されると、自己の計数
値ＮM を１だけカウントアップする。 【００６７】また、転送遅延時間Ｔadが測定窓１７内の
転送遅延時間より大きい側のオーバ領域に存在するＡＴ
Ｍセル９の数ＮOVを計数するオーバカウンタ３４ａはク
ロック端子へカウントアップ信号が印加されると、自己
の計数値ＮOVを１だけカウントアップする。 【００６８】同様に、転送遅延時間Ｔadが測定窓１７内
の転送遅延時間より小さい側のアンダ領域に存在するＡ
ＴＭセル９の数ＮUNを計数するアンダカウンタ３３ａは
クロック端子へカウントアップ信号が印加されると、自
己の計数値ＮUNを１だけカウントアップする。 【００６９】各カウンタ３２ａ，３４ａ．３３ａの各計
数値ＮM ，ＮOV，ＮUNは一連の測定処理が終了すると、
制御部２９ａによって、各計数値ＮM ，ＮOV，ＮUNが読
取られる。制御部２９ａは、図１に示す第１実施形態装
置における制御部２９と同一機能を有しており、読取っ
た各計数値ＮM ，ＮOV，ＮUNに基づいて遅延時間軸上の
測定窓１７の位置をＡＴＭセル９の転送遅延時間Ｔadの
分布特性１６が含まれる位置へ移動制御する。また、制
御部２９ａは、分布特性１６が測定窓１７に含まれる状
態において、この分布特性の平均値や分散値等の統計値
を算出する処理を実施する。 【００７０】このように構成された第２実施形態のＡＴ
Ｍセル転送遅延測定装置であっても、遅延時間軸上の測
定窓１７の位置を、オーバカウンタ３４ａ及びアンダカ
ウンタ３３ａの各計数値ＮOV，ＮUNの大小関係に基づい
て最適位置へ順次移動させていくので、図１に示す第１
実施形態のＡＴＭセル転送遅延測定装置とほぼ同様の効
果を得ることか可能である。 【００７１】 【発明の効果】以上説明したように、本発明のＡＴＭセ
ル転送遅延測定装置においては、遅延時間軸上における
転送遅延時間が測定窓内の転送遅延時間より大きいＡＴ
Ｍセルの数を計数するオーバカウンタと転送遅延時間が
測定窓内の転送遅延時間より小さいＡＴＭセルの数を計
数するアンダカウンタとを設け、オーバカウンタ及びア
ンダカウンタの各計数値に基づいて、測定窓を遅延時間
軸上でＡＴＭセルの転送遅延時間の分布特性を含む位置
に移動させている。 【００７２】したがって、測定窓を遅延時間軸上で効率
的に移動させることができ、被測定系に対する転送遅延
時間の測定精度を低下させることなく、必要とするカウ
ンタ数を最小限に抑制でき、測定を効率的に実施でき、
かつ装置全体の製造費を節減できる。
クに組込まれたＡＴＭ交換機や伝送経路を含む各種の構
成部材の特性を測定する測定装置に係わり、特に、各構
成部材におけるＡＴＭセルの転送遅延時間を測定するＡ
ＴＭセル転送遅延測定装置に関する。 【０００２】 【従来の技術】ＡＴＭ（非同期転送モード）ネットワー
クにおいては、図１１に示すように、例えば伝送速度が
それぞれ異なる送信側の各端末１ａから出力される宛先
が付された各ＡＴＭセル２をＡＴＭ網３における送信側
のＡＴＭ交換機４ａで一つのＡＴＭ信号に時分割で組込
んで受信側のＡＴＭ交換機４ｂへ送信する。受信側のＡ
ＴＭ交換機４ｂは受信したＡＴＭ信号に含まれる各ＡＴ
Ｍセル２を宛先別に分類して受信側の各端末１ｂへ送信
する。 【０００３】この場合、送信側の各端末１ａは互いに非
同期で動作しているので、同一宛先（アドレス）のＡＴ
Ｍセル２をＡＴＭ交換機４ａへ送信すると、これらを一
つのＡＴＭ信号に組込む時点にＡＴＭセル２どうしで衝
突が発生する懸念がある。このようなＡＴＭセル２どう
しの衝突を未然に防止するために、図１２に示すよう
に、ＡＴＭ交換機４ａ内にバッファメモリ５を設けて、
入力した各ＡＴＭセル２をこのバッファメモリ５に一旦
格納した後、順番に読出して一つのＡＴＭ信号に組込む
ようにしている。 【０００４】したがって、ＡＴＭ交換機４ａにおいて
は、入力された各ＡＴＭセル２をバッファメモリ５書込
んで、さらにその後、バッファメモリ５から読出してＡ
ＴＭ信号に組込むために、各ＡＴＭセル２がこのＡＴＭ
交換機４ａへ入力してから出力されるまでに一定の転送
遅延時間Ｔadが発生する。 【０００５】この転送遅延時間ＴadはＡＴＭネットワー
クにおける伝送特性に大きく影響するので、ＡＴＭネッ
トワークを構成する各構成部材における転送遅延時間Ｔ
adを正確に求めることは重要である。 【０００６】しかし、この転送遅延時間Ｔadは、このＡ
ＴＭ交換機４ａに現在入出力されているＡＴＭセルの絶
対量や、このＡＴＭ交換機４ａに接続された端末１ａの
種類や伝送速度によって時々刻々変動する。このように
転送遅延時間Ｔadは一義的に定まらないので、ＡＴＭ交
換機４ａを評価する場合に、このＡＴＭセルの転送遅延
時間Ｔadを統計的に評価する。 【０００７】図１３はＡＴＭセルの転送遅延時間Ｔadを
測定するＡＴＭセル転送遅延測定装置６の概略構成図で
ある。タイムスタンプ発生部７は連続的に所定のタイミ
ングでタイムスタンプＴを発生して、ＡＴＭセル送信部
８へ送出する。ＡＴＭセル送信部８は、受領した現在時
刻Ｔを示すタイムスタンプを組込んだ図１４（ａ）に示
す試験用のＡＴＭセル９を順次作成する。そして、前記
ＡＴＭ交換機等の被測定系１０へ送出する。したがっ
て、ＡＴＭセル送信部８から被測定系１０へ入力される
ＡＴＭ信号１１は、図１４（ｂ）に示すように、それぞ
れタイムスタンプの値がすこしづつ異なる複数のＡＴＭ
セル９が連続して組込まれた信号となる。 【０００８】ＡＴＭ信号１１は被測定系１０内を経由し
て、出力端子から出力されてＡＴＭセル転送遅延測定装
置６内の受信セル抽出部１６へ入力される。受信セル抽
出部１６は受信したＡＴＭ信号１１から試験用のＡＴＭ
セル９だけを抽出して受信タイムスタンプ抽出部１２へ
送出する。受信タイムスタンプ抽出部１２は、受信セル
抽出部１６から入力する各タイムスタンプの時刻Ｔｂを
抽出して遅延時間算出部１３へ送出する。 【０００９】遅延時間算出部１３は各ＡＴＭセル９の時
刻Ｔｂが入力される毎に、タイムスタンプ発生部７から
現在時点で出力されているタイムスタンプの現在時刻Ｔ
ａを読取って、この現在時刻Ｔａから受信したＡＴＭセ
ル９から検出された時刻Ｔｂを減算し、各ＡＴＭセル９
の被測定系１０内を経由することに起因する転送遅延時
間Ｔadを算出する。 【００１０】Ｔad＝Ｔａ−Ｔｂ 遅延時間算出部１３は算出した各ＡＴＭセル９の転送遅
延時間Ｔadをカウンタ群１４へ送出する。カウンタ群１
４は遅延時間の測定範囲内の各遅延時間毎に、該当遅延
時間Ｔadを有するＡＴＭセル９の数を計数する多数のカ
ウンタから構成されている。そして、一つの転送遅延時
間Ｔadが入力する毎に、該当転送遅延時間Ｔadのカウン
タの計数値Ｎに１が加算される。 【００１１】そして、所定数のＡＴＭセル９の測定が終
了すると、統計処理部１５が起動して、カウンタ群１４
で得られた各転送遅延時間Ｔadにおけるセル数Ｎの統計
処理を実施して、例えば図１５に示すように、グラフッ
イク表示する。 【００１２】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図１３
に示すＡＴＭセル転送遅延測定装置６においてもまだ解
消すべき次のような課題があった。すなわち、図１５に
示すように、ＡＴＭ交換機等の被測定系１０における転
送遅延時間Ｔadの分布特性１６の統計量は平均値と標準
偏差等の分散量とで定量的に表現できる。この分散量は
被測定系１０の種類によってそんなに大きな変動はない
が、平均値は大きく変化する。したがって、被測定系１
０における転送遅延時間Ｔadの平均値と分散量とを正確
に測定するためには、図１５に示すように、転送遅延時
間Ｔadの測定範囲ＴA を分布特性１６の分散量に比較し
て格段に広い範囲に設定する必要があるのみならず、分
散量を正確に求めるためには、同一の転送遅延時間Ｔad
とみなす単位転送遅延時間の時間幅ＴS を短く設定する
必要がある。 【００１３】その結果、カウンタ群１４を構成するカウ
ンタの数が膨大な数になる問題がある、例えば、この転
送遅延時間Ｔadの単位転送遅延時間の時間幅ＴS を１μ
ｓとし、測定範囲ＴA を８ビットデータで表現可能な０
μｓ〜２５５μｓとすると、必要なカウンタの数は２５
６個となる。 【００１４】このような不都合を解消するために、測定
範囲ＴA 内に、この測定範囲ＴA 内に局部的に現れる分
布特性１６が十分含まれる時間幅Ｔ0 を有した測定窓１
７を設け、この測定窓１７内においてのみ、各ＡＴＭセ
ル９の転送遅延時間Ｔadを設定された時間幅ＴS で測定
することが提唱されている。 【００１５】そして、この測定窓１７を測定範囲ＴA 内
における転送遅延時間Ｔad＝０から前記時間幅Ｔ0 づつ
順番に移動させていって、測定窓１７内にＡＴＭセル９
の分布特性１６が現れた時点で移動を停止して、この分
布特性１６の平均値と分散量とを正確に求める。 【００１６】しかし、この測定窓１７を時間幅Ｔ0 づつ
順次移動させて各移動位置で測定を実施する場合、分布
特性１６が測定窓１７内に入るまでに、多数回の測定を
実施する必要があり、被測定系１０に対する測定作業能
率が大幅に低下する問題がある。 【００１７】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
ものであり、測定窓を遅延時間軸上で効率的に移動させ
ることによって、被測定系に対する転送遅延時間の測定
精度を低下させることなく、必要とするカウンタ数を最
小限に抑制でき、測定を効率的に実施でき、かつ製造費
を低減できるＡＴＭセル転送遅延測定装置を提供するこ
とを目的とする。 【００１８】 【課題を解決するための手段】上記課題を解消するため
に本発明のＡＴＭセル転送遅延測定装置においては、連
続的に所定のタイミングでタイムスタンプを発生するス
タンプ発生部と、発生されたタイムスタンプをそれぞれ
複数のＡＴＭセルに付与して、この複数のＡＴＭセルを
被測定系に送信するセル送信部と、被測定系から帰還し
たＡＴＭセルを受信し、このＡＴＭセルからタイムスタ
ンプを検出する受信セルタイムスタンプ抽出部と、この
受信セルタイムスタンプ抽出部が検出したタイムスタン
プと、ＡＴＭセルが受信された時点におけるタイムスタ
ンプ発生部が発生するタイムスタンプとから、ＡＴＭセ
ルの転送遅延時間を求めてその値を出力する転送遅延時
間検出部と、遅延時間軸上で移動可能に設けられた測定
窓内に転送遅延時間が存在するＡＴＭセルの数を所定時
間間隔で計数してこの測定窓内に存在するＡＴＭセルの
数の分布を検出する複数個のカウンタからなる遅延分布
検出手段と、転送遅延時間が測定窓内の転送遅延時間よ
り大きいＡＴＭセルの数を計数するオーバカウンタと、
転送遅延時間が測定窓内の転送遅延時間より小さいＡＴ
Ｍセルの数を計数するアンダカウンタと、オーバカウン
タ及びアンダカウンタの各計数値に基づいて、測定窓を
遅延時間軸上で移動させる移動制御手段とを備えてい
る。 【００１９】このように構成されたＡＴＭセル転送遅延
測定装置においては、遅延時間軸上で移動可能に測定窓
が設けられている。そして、この測定窓内において、こ
の測定窓内に転送遅延時間が存在するＡＴＭセルの数が
所定の測定精度を確保するための時間幅ＴS 毎に設定さ
れた複数個のカウンタで計数されて、ＡＴＭセルの遅延
時間分布が測定される。 【００２０】そして、この遅延時間軸上における転送遅
延時間が測定窓内の転送遅延時間より大きいＡＴＭセル
の数がオーバカウンタで一括して計数される。また、遅
延時間軸上における転送遅延時間が測定窓内の転送遅延
時間より小さいＡＴＭセルの数がアンダカウンタで一括
して計数される。 【００２１】そして、被測定系の転送遅延時間の統計的
な特性が前述した図１５に示すように遅延時間軸上に設
定された測定範囲ＴA 内の特定位置に集中する場合、そ
の分布特性が測定窓内に位置していない場合は、この測
定窓内に転送遅延時間が存在するＡＴＭセルの数は小さ
く、オーバカウンタとアンダカウンタのいずれか一方の
カウンタの計数値が大きな値となる。 【００２２】したがって、測定窓に対してＡＴＭセルの
計数値が大きな値側に被測定系の転送遅延時間の分布特
性が存在するので、遅延時間軸上における測定窓の位置
をＡＴＭセルの計数値が増大した側へ移動させる。この
測定窓の移動動作を測定窓に転送遅延時間の分布特性が
現れるまで繰返す。 【００２３】このことは、遅延時間軸上における測定窓
の位置をＡＴＭセルの計数値が小さな値側へ移動させる
必要はないので、測定窓の次に移動する範囲が絞り込ま
れるので、少ない移動回数で、測定窓に転送遅延時間の
分布特性が現れる。その結果、測定回数が減少して、Ａ
ＴＭセル転送遅延測定装置全体の測定処理能率が向上す
る。 【００２４】 【発明の実施の形態】以下本発明の各実施形態を図面を
用いて説明する。 （第１実施形態）図１は本発明のＡＴＭセル転送遅延測
定装置の概略構成を示すブロック図である。 【００２５】タイムスタンプ発生部２１は連続的に所定
のタイミングでタイムスタンプを発生してセル送信部２
２へ送出する。セル送信部２２は、受領した現在時刻Ｔ
を示すタイムスタンプを組込んだ図１４（ａ）に示す試
験用のＡＴＭセル９を順次作成する。 【００２６】具体的には、この実施形態装置において
は、図１４（ａ）に示すように、現在時刻Ｔを示すタイ
ムスタンプは８ビットで構成されている。したがって、
この現在時刻Ｔの取りうる値は［０］〜［２５５］の２
５６種類である。そして、スタンプ発生部２１は、この
２５６種類の現在時刻Ｔを１μｓの周期で出力する。そ
して、現在時刻Ｔが２５５に達すると、初期値［０］か
ら再度順次増加していく。すなわち、この試験用のＡＴ
Ｍセル９で測定可能な最大の測定範囲ＴA は２５５μｓ
である。そして、転送遅延時間Ｔadの最小の時間幅ＴS
は１μｓである。 【００２７】セル送信部２２は、作成した試験用のＡＴ
Ｍセル９をＡＴＭ交換機等の被測定系２３の一つの入力
端子へ送出する。したがって、セル送信部２２から被測
定系２３へ入力されるＡＴＭ信号１１は、図１４（ｂ）
に示すように、それぞれタイムスタンプの値がすこしづ
つ異なる複数のＡＴＭセル９が連続して組込まれた信号
となる。 【００２８】ＡＴＭ信号１１は被測定系２３内を経由し
て、一つの出力端子から出力されてＡＴＭセル転送遅延
測定装置内の受信セル抽出部２４へ入力される。ＡＴＭ
ネットワーク内に組込まれて稼働中のＡＴＭ交換機等の
被測定系２３にはこのＡＴＭセル転送遅延測定装置から
送出された試験用のＡＴＭセル９以外にも通常の正規の
ＡＴＭセルも印加される。したがって、受信セル抽出部
２４は、タイムスタンプが付加された図１４（ａ）に示
すフォーマットの試験用のＡＴＭセル９のみを抽出し
て、次の受信セルタイムスタンプ抽出部２５へ送出す
る。また、受信セル抽出部２４は試験用のＡＴＭセル９
を検出すると、検出信号を制御信号発生部２６へ送出す
る。 【００２９】受信セルタイムスタンプ抽出部２５は順次
受信されたＡＴＭセル９に付加されているタイムスタン
プの時刻を読取って、その時刻をＴb として絶対遅延時
間検出部２７へ送出する。この絶対遅延時間検出部２７
は、ＡＴＭセル９の時刻Ｔｂが入力される毎に、タイム
スタンプ発生部２１から現在時点で出力されているタイ
ムスタンプの現在時刻Ｔａを読取って、この現在時刻Ｔ
ａから受信したＡＴＭセル９から検出された時刻Ｔｂを
減算して、受信したＡＴＭセル９における転送遅延時間
Ｔadを算出する。 【００３０】Ｔad＝Ｔａ−Ｔｂ 絶対遅延時間検出部２７で順次算出された各ＡＴＭセル
９の転送遅延時間Ｔadは相対遅延時間検出部２８へ送出
される。相対遅延時間検出部２８は、絶対遅延時間検出
部２７から入力された転送遅延時間Ｔadから例えばマイ
クロコンピュータ等からなる制御部２９から入力されて
いるオフセット時間ＴOFF を差し引いて相対転送遅延時
間Ｔrdを算出する。 【００３１】Ｔrd＝Ｔad−ＴＯＦＦ ここで、前記転送遅延時間Ｔａｄ及び相対転送遅延時間
Ｔrdは［０］〜［２５５］の値を取り得る。 【００３２】相対遅延時間検出部２８から順次出力され
る相対転送遅延時間Ｔrdはアドレス変換部３０のアドレ
ス端子へ入力される。このアドレス変換部３０は、図２
に示すように、アドレス端子に入力した［０］〜［２５
５］の相対転送遅延時間Ｔrdのううち、図３に示す測定
窓１７内の遅延時間に対応する［０］〜［１５］の各値
をそのまま［０］〜［１５］の各出力アドレス値へ変換
し、［１６］〜［１２７］の各値を一つのオーバアドレ
ス値［１６］へ変換し、［１２８］〜［２５５］の各値
を一つのアンダアドレス値［１７］へ変換する。 【００３３】アドレス変換部３０で変換されたアドレス
値ＡＤＲは次のＲＡＭで構成されたデータメモリ３１の
アドレス端子へ印加される。このデータメモリ３１内に
は、［０］〜［１５］の各アドレス位置にそれぞれ測定
窓用のカウンタ３２が形成され、［１６］のアドレス位
置にオーバカウンタ３４が形成され、［１７］のアドレ
ス位置にアンダカウンタ３３が形成されている。各カウ
ンタ３２，３４，３３には各アドレス値で定まる相対転
送遅延時間Ｔrdを有するＡＴＭセル９の各計数値ＮM 、
ＮOV、ＮUNが計数される。 【００３４】そして、このデータメモリ３１のデータ端
子ＤＡＴには加算器３５が接続されている。この加算器
３５はデータ端子ＤＡＴから出力された計数値Ｎに
［１］を加算して元のデータ端子ＤＡＴへ戻す加算処理
を実行する。 【００３５】前記制御信号発生部２６は試験用のＡＴＭ
セル９の検出信号を受領すると、データメモリ１のリー
ド端子Ｒへ読出信号ＮＲＤを印加する。その結果、デー
タメモリ３１のアドレス端子ＡＤＲに印加されているア
ドレスが指定するアドレス位置のカウンタ３２，３４．
３３に記憶されているいずれかの計数値ＮM 、ＮOV、Ｎ
UNをデータ端子ＤＡＴへ読出す。データ端子ＤＡＴへ計
数値ＮM 、ＮOV、ＮUNが読出されると、前記加算器３５
でこの読出された計数値ＮM 、ＮOV、ＮUNが１だけ加算
（更新）される。そして、その次に、前記制御信号発生
部２６はデータメモリ１のライト端子Ｗへ書込信号ＮＷ
Ｔを印加する。その結果、更新された計数値ＮM 、
ＮOV、ＮUNは元のカウンタ３２，３４，３３に書込まれ
る。 【００３６】すなわち、このＡＴＭセル転送遅延測定装
置に試験用のＡＴＭセル９が入力されると、このＡＴＭ
セル９における転送遅延時間Ｔadが検出され、オフセッ
ト時間ＴOFF を減算した相対転送遅延時間Ｔrdが算出さ
れ、データメモリ３１内の合計１７個のカウンタ３２，
３４，３３のうちこの各相対転送遅延時間Ｔrdに対応し
たカウンタ３２，３４，３３の計数値ＮM 、ＮOV、ＮUN
が１だけ加算される。 【００３７】そして、予め設定された個数の試験用のＡ
ＴＭセル９に対する転送遅延時間Ｔad及びデータメモリ
３１の各カウンタ３２，３４，３３の計数値ＮM 、
ＮOV、ＮUNに対する加算処理が終了すると、前記制御部
２９が動作して、データメモリ３１の各カウンタ３２，
３４，３３の計数値ＮM 、ＮOV、ＮUNを読取る。この制
御部２９内には、相対遅延時間検出部２８に設定するオ
フセット時間ＴOFF を変更して測定窓１７を遅延時間軸
上で最適位置へ移動させる移動制御部３６と、最適位置
へ測定窓１７が移動された後における測定窓１７内のＡ
ＴＭセル９の転送遅延時間Ｔadの分布特性１６の平均値
や分散値等の統計量を算出する遅延分布検出部３７が設
けられている。 【００３８】次に、図３，図４を用いて遅延時間軸上に
設定された測定範囲ＴA と測定窓１７との関係を説明す
る。測定窓１７の時間幅Ｔ0 は、前述したように、測定
された転送遅延時間Ｔadの局部的に現れる分布特性１６
が十分含まれる時間幅に設定している。そして、測定範
囲ＴA を時間幅Ｔ0 で除算した値をＡとすると、この測
定範囲ＴA はＡ個のブロックで構成される。 【００３９】この実施形態においては、測定窓１７の時
間幅Ｔ0 は１６μｓに設定されている。したがって、測
定範囲ＴA （２５６μｓの時間幅）の分割数Ａは１６で
ある。 【００４０】また、遅延時間軸上の転送遅延時間Ｔad＝
０位置から測定窓１７の開始位置までの時間を、この測
定窓１７のオフセット時間ＴOFF と定義する。そして、
この測定窓１７内の転送遅延時間より転送遅延時間Ｔad
が大きい（長い）領域をオーバ領域とし、この測定窓１
７内の転送遅延時間より転送遅延時間Ｔadが小さい（短
い）領域をアンダ領域と定義する。そして、オーバ領域
とアンダ領域との各時間幅は等しく設定されている。し
たがって、前述したように、転送遅延時間Ｔadは［０］
〜［２５５］の値を周回するので、図３（ａ），図３
（ｂ）に示すように、オーバ領域とアンダ領域が遅延時
間軸上で２つに分割される場合もある。 【００４１】そして、測定窓１７における１６個の各カ
ウンタ３２の計数値ＮM を合計した計数値をＮMEとし、
オーバ領域に含まれる各転送遅延時間Ｔadを有するＡＴ
Ｍセル９の計数値がオーバカウンタ３４の計数値ＮOVと
なり、アンダ領域に含まれる各転送遅延時間Ｔadを有す
るＡＴＭセル９の計数値がアンダカウンタ３３の計数値
ＮUNとなる。 【００４２】そして、制御部２９の移動制御部３６は、
図５の流れ図に従って、時間幅Ｔ0を有した測定窓１７
の遅延時間軸上の移動位置を制御する。Ｓ（ステップ）
１にて、測定窓１７のオフセット時間ＴOFF を、図６
（ａ）に示すように測定範囲ＴA のほぼ中央位置に初期
設定する。 【００４３】ＴOFF ＝（Ａ／２）・Ｔ0 次に、測定回数Ｂを１に初期設定する（Ｓ２）。そし
て、この状態で、前述した一連の転送遅延時間Ｔadに対
する測定処理を実行する（Ｓ３）。 【００４４】一連の測定処理が終了すると、測定窓１７
におけるＡＴＭセル９の合計の計数値ＮMEを算出し、か
つオーバカウンタ３４及びアンダカウンタ３３の各計数
値ＮOV，ＮUNを読取る。そして、測定窓１７の合計の計
数値ＮMEが各計数値ＮOV，ＮUNより小さいと、Ｓ５にて
各計数値ＮOV，ＮUNの大小が比較される。そして、オー
バカウンタ３４の計数値ＮOVがアンダカウンタ３３の計
数値ＮUNより大きいと、図６（ａ）に示すように、ＡＴ
Ｍセル９の分布特性１６は測定窓１７より大きいオーバ
領域に存在すると判断できる。 【００４５】この場合、Ｓ６にて、測定回数Ｂに１を加
算し、測定窓１７のオフセット時間ＴOFF を、現在のオ
フセット時間ＴOFF に対して測定範囲ＴA の分割数Ａを
２Bで除算した値の時間を加算した値とする（Ｓ７）。 【００４６】ＴOFF ＝ＴOFF ＋（Ａ／２B ）・Ｔ0 そして、この変更後のオフセット時間ＴOFF を相対遅延
時間検出部２８に設定して、Ｓ３へ戻り、変更されたオ
フセット時間ＴOFF に基づいて再度一連の測定処理を実
行する。 【００４７】また、Ｓ５にて、オーバカウンタ３４の計
数値ＮOVがアンダカウンタ３３の計数値ＮUNより小さい
場合、図６（ｂ）に示すように、ＡＴＭセル９の分布特
性１６は測定窓１７より小さいアンダ領域に存在すると
判断できる。 【００４８】この場合、Ｓ８にて、測定回数Ｂに１を加
算し、測定窓１７のオフセット時間ＴOFF を、現在のオ
フセット時間ＴOFF から測定範囲ＴA の分割数Ａを２B
で除算した値の時間を減算した値とする（Ｓ９）。 【００４９】ＴOFF ＝ＴOFF −（Ａ／２B ）・Ｔ0 そして、この変更後のオフセット時間ＴOFF を相対遅延
時間検出部２８に設定して、Ｓ３へ戻り、変更されたオ
フセット時間ＴOFF に基づいて再度一連の測定処理を実
行する。 【００５０】最終的に、Ｓ４にて、測定窓１７の合計の
計数値ＴMEがオーバカウンタ３４の計数値ＮOV及びアン
ダカウンタ３３の計数値ＮUNより大きくなると、図６
（ｄ）に示すように、測定窓１７はＡＴＭセル９の分布
特性１６を含む位置に位置したと判断できる。 【００５１】図７，図８、図９は、実施形態装置の各部
における実際の動作を示すタイムチャートである。図７
は、１回目の測定処理（Ｂ＝１）であって、オフセット
時間ＴOFF が、図６（ａ）に示す２５６μｓの測定範囲
ＴA における約半分の時間１２８μｓに設定された条件
で測定された場合における各部の値を示す。この場合、
タイムスタンプが２２７まで進んだ状態において、オー
バカウンタ３４には３が計数値ＮOVとして記憶されてい
る。 【００５２】図８は、２回目の測定処理（Ｂ＝２）であ
って、オフセット時間ＴOFF が、図６（ｂ）に示すよう
に、１回目の測定における時間１２８μｓからオーバ領
域側の時間１９２μｓに設定された条件で測定された場
合における各部の値を示す。そして、タイムスタンプが
１巡回して、さらに１８６まで進んだ状態において、ア
ンダカウンタ３３には３が計数値ＮUNとして記憶されて
いる。 【００５３】図９は、４回目の測定処理（Ｂ＝４）であ
って、オフセット時間ＴOFF が、図６（ｄ）に示すよう
に、３回目の測定における時間からオーバ領域側の時間
１７６μｓに変更された条件で測定された場合における
各部の値を示す。そして、タイムスタンプがさらに１巡
回して、さらに２０３まで進んだ状態において、測定窓
１７内の９番目のカウンタ３２に２が計数値ＮM として
記憶され、１１番目のカウンタ３２に１が計数値ＮM と
して記憶されている。 【００５４】したがって、この図７〜図９のタイムチヤ
ートにおいては、４回目の測定において、測定窓１７を
ＡＴＭセル９の分布特性１６を含む位置に位置させるこ
とができた。 【００５５】このように構成されたＡＴＭセル転送遅延
測定装置においては、遅延時間軸上で移動可能に設けら
れた測定窓１７内において、転送遅延時間Ｔadがこの測
定窓１７内に存在する各転送遅延時間Ｔadに該当するＡ
ＴＭセルの各計数値ＮM が、所定の測定精度を確保する
ための時間幅ＴS （＝１μｓ）毎に設定された１６個の
カウンタ３２でそれぞれ計数される。そして、１６個の
各計数値ＮM ｂの合計の計数値ＮMEが算出される。 【００５６】そして、この遅延時間軸上における転送遅
延時間Ｔadが測定窓１７内の転送遅延時間より大きいＡ
ＴＭセル９の数ＮOVがオーバカウンタ３４で一括して計
数される。また、遅延時間軸上における転送遅延時間Ｔ
adが測定窓１７内の転送遅延時間より小さいＡＴＭセル
９の数ＮUNがアンダカウンタ３３で一括して計数され
る。 【００５７】そして、測定窓１７の遅延時間軸上の位置
を示す次のオフセット時間ＴOFF を今回の測定で検出さ
れた各計数値ＮME、ＮOV，ＮUNを用いて補正している。
その結果、図１３に示す従来装置に比較して、測定回数
が減少して、ＡＴＭセル転送遅延測定装置全体の測定処
理能率が向上する。 【００５８】例えば、実施形態で、測定窓１７の時間幅
Ｔ0 、測定範囲ＴA ＝Ｔ0 ×２n （２n ＝Ａ）、１回の
測定処理時間をｔS とすると、 従来方式の最大測定所要時間 ＝Ａ×ｔS ＝２n ×ｔ
S 実施形態方式の最大測定所要時間＝（ｎ＋１）×ｔS となる。 【００５９】具体的数値（時間幅Ｔ0 ＝１６μｓ、測定
範囲ＴA ＝２５６μｓ、分割数Ａ＝１６、ｎ＝４、１回
の測定処理時間ｔS ＝１ｓ＝１０6 μｓ）を代入する
と、 従来方式の最大測定所要時間 ＝Ａ×ｔS ＝２n ×ｔ
S ＝１６ｓ 実施形態方式の最大測定所要時間＝（ｎ＋１）×ｔS ＝
５ｓ このように、従来方式に比較して、測定処理時間が１／
３以下に低下する。 【００６０】また、図１，図２に示すように、データメ
モリ３１内には、オーバカウンタ３４とアンダカウンタ
３３と、測定窓１７に含まれる１６個の各カウンタ３２
との合計１８個のカウンタが形成されるのみである。 【００６１】したがって、測定範囲ＴA の全ての転送遅
延時間Ｔad毎に合計２５６個のカウンタを設ける場合に
比較して、装置全体を小型にかつ安価に構成できる。な
お、本発明は上述した第１実施形態に限定されるもので
はない。図１，図２に示す第１実施形態においては、オ
ーバカウンタ３４とアンダカウンタ３３とをそれぞれ１
個づつ設けたが、それぞれ複数個づつ設けてもよい。 【００６２】（第２実形態）図１０は本発明の第２実形
態に係わるＡＴＭセル転送遅延測定装置の概略構成を示
すブロック図である。図１に示す第１実形態のＡＴＭセ
ル転送遅延測定装置と同一部分には同一符号が付してあ
る。したがって、重複する部分の詳細説明を省略する。 【００６３】この第２実形態装置においては、相対遅延
時間検出部２８から出力された各ＡＴＭセル９の相対転
送遅延時間Ｔrdはデータ変換部３８の入力端子ＩＮへ入
力される。このデータ変換部３８は０番から１７番まで
の合計１８個の出力端子を有している。そして、入力端
子ＩＮへ入力された相対転送遅延時間Ｔrdが０μｓから
１５μｓの範囲の場合は、入力された相対転送遅延時間
Ｔrdの値に対応する番号の出力端子からＨレベルのカウ
ントアップ信号を出力する。 【００６４】また、入力端子ＩＮへ入力された相対転送
遅延時間Ｔrdが１６μｓから１２７μｓの範囲の場合
は、１６番の出力端子からＨレベルのカウントアップ信
号を出力する。さらに、入力端子ＩＮへ入力された相対
転送遅延時間Ｔrdが１２８μｓから２５５μｓの範囲の
場合は、１７番の出力端子からＨレベルのカウントアッ
プ信号を出力する。 【００６５】データ変換部３８の０番から１５番の各出
力端子から出力されるカウントアップ信号はそそれぞれ
対応する番号のカウンタ３２ａのクロック端子へ印加さ
れる。データ変換部３８の１６番の出力端子から出力さ
れるカウントアップ信号はオーバカウンタ３４ａのクロ
ック端子へ印加され、データ変換部３８の１７番の出力
端子から出力されるカウントアップ信号はアンダカウン
タ３３ａのクロック端子へ印加される。 【００６６】測定窓１７内に含まれる１６個の各転送遅
延時間Ｔad毎に設けられた各カウンタ３２ａはクロック
端子へカウントアップ信号が印加されると、自己の計数
値ＮM を１だけカウントアップする。 【００６７】また、転送遅延時間Ｔadが測定窓１７内の
転送遅延時間より大きい側のオーバ領域に存在するＡＴ
Ｍセル９の数ＮOVを計数するオーバカウンタ３４ａはク
ロック端子へカウントアップ信号が印加されると、自己
の計数値ＮOVを１だけカウントアップする。 【００６８】同様に、転送遅延時間Ｔadが測定窓１７内
の転送遅延時間より小さい側のアンダ領域に存在するＡ
ＴＭセル９の数ＮUNを計数するアンダカウンタ３３ａは
クロック端子へカウントアップ信号が印加されると、自
己の計数値ＮUNを１だけカウントアップする。 【００６９】各カウンタ３２ａ，３４ａ．３３ａの各計
数値ＮM ，ＮOV，ＮUNは一連の測定処理が終了すると、
制御部２９ａによって、各計数値ＮM ，ＮOV，ＮUNが読
取られる。制御部２９ａは、図１に示す第１実施形態装
置における制御部２９と同一機能を有しており、読取っ
た各計数値ＮM ，ＮOV，ＮUNに基づいて遅延時間軸上の
測定窓１７の位置をＡＴＭセル９の転送遅延時間Ｔadの
分布特性１６が含まれる位置へ移動制御する。また、制
御部２９ａは、分布特性１６が測定窓１７に含まれる状
態において、この分布特性の平均値や分散値等の統計値
を算出する処理を実施する。 【００７０】このように構成された第２実施形態のＡＴ
Ｍセル転送遅延測定装置であっても、遅延時間軸上の測
定窓１７の位置を、オーバカウンタ３４ａ及びアンダカ
ウンタ３３ａの各計数値ＮOV，ＮUNの大小関係に基づい
て最適位置へ順次移動させていくので、図１に示す第１
実施形態のＡＴＭセル転送遅延測定装置とほぼ同様の効
果を得ることか可能である。 【００７１】 【発明の効果】以上説明したように、本発明のＡＴＭセ
ル転送遅延測定装置においては、遅延時間軸上における
転送遅延時間が測定窓内の転送遅延時間より大きいＡＴ
Ｍセルの数を計数するオーバカウンタと転送遅延時間が
測定窓内の転送遅延時間より小さいＡＴＭセルの数を計
数するアンダカウンタとを設け、オーバカウンタ及びア
ンダカウンタの各計数値に基づいて、測定窓を遅延時間
軸上でＡＴＭセルの転送遅延時間の分布特性を含む位置
に移動させている。 【００７２】したがって、測定窓を遅延時間軸上で効率
的に移動させることができ、被測定系に対する転送遅延
時間の測定精度を低下させることなく、必要とするカウ
ンタ数を最小限に抑制でき、測定を効率的に実施でき、
かつ装置全体の製造費を節減できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の第１実施形態のＡＴＭセル転送遅延
測定装置の概略構成を示すブロック図 【図２】 同ＡＴＭセル転送遅延測定装置におけるアド
レス変換部とデータメモリの詳細構成図 【図３】 転送遅延時間測定における測定範囲と測定窓
との位置関係を説明するための図 【図４】 測定窓に含まれるＡＴＭセルの転送遅延時間
の分布特性とその拡大図を示す図 【図５】 同ＡＴＭセル転送遅延測定装置における測定
窓の設定処理を示す流れ図 【図６】 同測定窓の遅延時間軸上の各移動遷移を示す
図 【図７】 同ＡＴＭセル転送遅延測定装置における各部
の動作を示すタイムチャート 【図８】 同じく同ＡＴＭセル転送遅延測定装置におけ
る各部の動作を示すタイムチャート 【図９】 同じく同ＡＴＭセル転送遅延測定装置におけ
る各部の動作を示すタイムチャート 【図１０】 本発明の第２実施形態のＡＴＭセル転送遅
延測定装置の概略構成を示すブロック図 【図１１】 一般的なＡＴＭネットワークを示す模式図 【図１２】 同ＡＴＭネットワークに組込まれたＡＴＭ
交換機内に設けられたバッファメモリを示す図 【図１３】 従来のＡＴＭセル転送遅延測定装置の概略
構成を示すブロック図 【図１４】 試験用のＡＴＭセルのビット構成図 【図１５】 転送遅延時間の測定範囲とＡＴＭセルの転
送遅延時間の分布特性を示す図 【符号の説明】 ９…ＡＴＭセル １６…分布特性 １７…測定窓 ２１…タイムスタンプ発生部 ２２…セル送信部 ２３…被測定系 ２４…受信セル抽出部 ２５…受信セルタイムスタンプ抽出部 ２６…制御信号発生部 ２７…絶対遅延時間検出部 ２８…相対遅延時間検出部 ２９，２９ａ…制御部 ３０…アドレス変換部 ３１…データメモリ ３２，３２ａ…カウンタ ３３，３３ａ…アンダカウンタ ３４、３４ａ…オーバカウンタ ３５…加算器 ３６…移動制御部 ３７…遅延分布検出部 ３８…データ変換部
測定装置の概略構成を示すブロック図 【図２】 同ＡＴＭセル転送遅延測定装置におけるアド
レス変換部とデータメモリの詳細構成図 【図３】 転送遅延時間測定における測定範囲と測定窓
との位置関係を説明するための図 【図４】 測定窓に含まれるＡＴＭセルの転送遅延時間
の分布特性とその拡大図を示す図 【図５】 同ＡＴＭセル転送遅延測定装置における測定
窓の設定処理を示す流れ図 【図６】 同測定窓の遅延時間軸上の各移動遷移を示す
図 【図７】 同ＡＴＭセル転送遅延測定装置における各部
の動作を示すタイムチャート 【図８】 同じく同ＡＴＭセル転送遅延測定装置におけ
る各部の動作を示すタイムチャート 【図９】 同じく同ＡＴＭセル転送遅延測定装置におけ
る各部の動作を示すタイムチャート 【図１０】 本発明の第２実施形態のＡＴＭセル転送遅
延測定装置の概略構成を示すブロック図 【図１１】 一般的なＡＴＭネットワークを示す模式図 【図１２】 同ＡＴＭネットワークに組込まれたＡＴＭ
交換機内に設けられたバッファメモリを示す図 【図１３】 従来のＡＴＭセル転送遅延測定装置の概略
構成を示すブロック図 【図１４】 試験用のＡＴＭセルのビット構成図 【図１５】 転送遅延時間の測定範囲とＡＴＭセルの転
送遅延時間の分布特性を示す図 【符号の説明】 ９…ＡＴＭセル １６…分布特性 １７…測定窓 ２１…タイムスタンプ発生部 ２２…セル送信部 ２３…被測定系 ２４…受信セル抽出部 ２５…受信セルタイムスタンプ抽出部 ２６…制御信号発生部 ２７…絶対遅延時間検出部 ２８…相対遅延時間検出部 ２９，２９ａ…制御部 ３０…アドレス変換部 ３１…データメモリ ３２，３２ａ…カウンタ ３３，３３ａ…アンダカウンタ ３４、３４ａ…オーバカウンタ ３５…加算器 ３６…移動制御部 ３７…遅延分布検出部 ３８…データ変換部
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
H04L 12/56
H04L 12/26
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 【請求項１】 連続的に所定のタイミングでタイムスタ
ンプを発生するスタンプ発生部(21)と、 発生された前記タイムスタンプをそれぞれ複数のＡＴＭ
セルに付与して、該複数のＡＴＭセルを被測定系(23)に
送信するセル送信部(22)と、 前記被測定系から帰還したＡＴＭセルを受信し、該ＡＴ
Ｍセルからタイムスタンプを検出する受信セルタイムス
タンプ抽出部(25)と、 該受信セルタイムスタンプ抽出部が検出したタイムスタ
ンプと、前記ＡＴＭセルが受信された時点における前記
タイムスタンプ発生部が発生するタイムスタンプとか
ら、前記ＡＴＭセルの転送遅延時間を求めてその値を出
力する転送遅延時間検出部(27)と、遅延 時間軸上で移動可能に設けられた測定窓(17)内に前
記転送遅延時間が存在するＡＴＭセルの数を所定時間間
隔で計数して該測定窓内に存在するＡＴＭセルの数の分
布を検出する複数個のカウンタ(32,32a)からなる遅延分
布検出手段(31,37) と、 前記転送遅延時間が前記測定窓内の転送遅延時間より大
きいＡＴＭセルの数を計数するオーバカウンタ(34,34a)
と、 前記転送遅延時間が前記測定窓内の転送遅延時間より小
さいＡＴＭセルの数を計数するアンダカウンタ(33,33a)
と、 前記オーバカウンタ及び前記アンダカウンタの各計数値
に基づいて、前記測定窓を前記遅延時間軸上で移動させ
る移動制御手段(36)とを備えたＡＴＭセル転送遅延測定
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7133497A JP3365922B2 (ja) | 1997-03-25 | 1997-03-25 | Ａｔｍセル転送遅延測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7133497A JP3365922B2 (ja) | 1997-03-25 | 1997-03-25 | Ａｔｍセル転送遅延測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10271119A JPH10271119A (ja) | 1998-10-09 |
| JP3365922B2 true JP3365922B2 (ja) | 2003-01-14 |
Family
ID=13457531
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7133497A Expired - Fee Related JP3365922B2 (ja) | 1997-03-25 | 1997-03-25 | Ａｔｍセル転送遅延測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3365922B2 (ja) |
-
1997
- 1997-03-25 JP JP7133497A patent/JP3365922B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10271119A (ja) | 1998-10-09 |
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