JP3350441B2 - Electronic component inspection apparatus and method - Google Patents

Electronic component inspection apparatus and method

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JP3350441B2
JP3350441B2 JP07428398A JP7428398A JP3350441B2 JP 3350441 B2 JP3350441 B2 JP 3350441B2 JP 07428398 A JP07428398 A JP 07428398A JP 7428398 A JP7428398 A JP 7428398A JP 3350441 B2 JP3350441 B2 JP 3350441B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品の各種特
性を測定する電子部品検査装置に係り、特に、電子部品
を吸着し測定部に搬送するノズルの磨耗状態等を管理し
て測定を安定化できる電子部品検査装置及び方法に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic component inspection apparatus for measuring various characteristics of an electronic component, and more particularly, to stabilizing the measurement by managing a worn state of a nozzle which sucks the electronic component and transports it to a measuring section. The present invention relates to an electronic component inspection apparatus and method that can be implemented.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子部品(以下デバイスと略称する)の
各種電気特性は、電子部品検査装置で測定される。この
電子部品検査装置は、デバイスの供給部、測定部、回収
部、搬送部などから大略構成される。供給部のデバイス
は搬送部で1個づつ取り出し測定部に搬送される。搬送
後、測定部はデバイスの電気特性を測定する。測定後の
デバイスは、搬送部で回収部に搬送され、測定結果に応
じて所定のランク別に設けられた回収部にそれぞれ選別
回収される。このランクには良、不良選別も有する。
2. Description of the Related Art Various electrical characteristics of electronic components (hereinafter abbreviated as devices) are measured by an electronic component inspection apparatus. This electronic component inspection apparatus generally includes a device supply unit, a measurement unit, a collection unit, a transport unit, and the like. The devices of the supply unit are taken out one by one by the transport unit and transported to the measurement unit. After the transfer, the measuring unit measures the electrical characteristics of the device. The devices after the measurement are conveyed to the collection unit by the conveyance unit, and are sorted and collected by the collection units provided in predetermined ranks according to the measurement results. This rank also has good and bad sorting.

【0003】この搬送部は、ハンドの端部にデバイスを
吸着保持するための吸着ノズル(以下ノズルと略称す
る)が設けられ、エア源の吸着力に基づきデバイスをハ
ンドの端部に吸着保持して搬送する。また、測定時にお
いては、ノズルがデバイスを吸着した状態のまま、ハン
ドが測定部の測定治具(テストフィクスチャ:TF)に
所定圧力で押し付ける。これにより、デバイスのリード
が測定治具に設けられた接触端子に接触し、処理部から
の測定信号がケーブル等を介してデバイスに入出力さ
れ、各種測定が行えるようになっている。測定後におい
ても、ノズルはデバイスを吸着した状態のまま、このデ
バイスを回収部まで搬送する。
The transfer unit is provided with a suction nozzle (hereinafter abbreviated as a nozzle) for sucking and holding the device at the end of the hand, and sucks and holds the device at the end of the hand based on the suction force of an air source. Transport. Further, at the time of measurement, the hand presses the measuring jig (test fixture: TF) of the measuring unit at a predetermined pressure while the nozzle holds the device. Thereby, the leads of the device come into contact with the contact terminals provided on the measurement jig, and the measurement signal from the processing unit is input / output to / from the device via a cable or the like, so that various measurements can be performed. Even after the measurement, the nozzle conveys the device to the collection unit while keeping the device in a sucked state.

【0004】上記構成は、ハンドが供給部から回収部ま
で移動する構成の装置について説明したが、他には、図
6に示すように搬送部として回転テーブルを有する装置
もある。この装置では回転テーブル50の周面に複数の
ハンド51が設けられている。また、回転テーブル50
の周面にはデバイスをハンド51に渡す供給部52と、
ハンド51から測定後のデバイスを受け取る回収部53
が設けられている。そして、この装置のハンド51にお
いても、上記同様に端部にはノズルが設けられており、
回収部53から受け取った後のデバイスを吸着保持状態
のまま測定部54の測定治具54aに上方から押し付け
て測定器54bで各種電気特性を測定させ、測定後も吸
着状態のまま回収部53に送り出す。ここでデバイスの
受け取り及び送り出しは、回転テーブル50が図中A方
向に回転してハンド51が供給部52、回収部53に位
置したときになされる。これらいずれの装置において
も、ハンドに設けられたノズルは、デバイスを吸着状態
に保持し、かつ、昇降してデバイスのリードを測定部に
向けて所定の接触圧力(接圧)で押し付ける構成となっ
ている。
[0004] In the above-described configuration, an apparatus having a configuration in which a hand moves from a supply section to a collection section has been described. Alternatively, as shown in FIG. 6, there is also an apparatus having a rotary table as a transport section. In this device, a plurality of hands 51 are provided on the peripheral surface of the turntable 50. Also, the rotary table 50
A supply unit 52 for transferring the device to the hand 51,
Collection unit 53 that receives a device after measurement from hand 51
Is provided. And also in the hand 51 of this device, the nozzle is provided at the end portion in the same manner as described above,
The device received from the collecting unit 53 is pressed from above onto the measuring jig 54a of the measuring unit 54 in the suction holding state, and various electric characteristics are measured by the measuring device 54b. Send out. Here, the receiving and sending out of the device is performed when the rotary table 50 is rotated in the direction A in the figure and the hand 51 is located at the supply unit 52 and the collection unit 53. In any of these apparatuses, the nozzle provided in the hand holds the device in a suction state, and moves up and down to press the lead of the device toward the measuring unit at a predetermined contact pressure (contact pressure). ing.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たノズルは、鉄などで成形されたものであり、デバイス
の測定回数が増えると、経時変化により吸着面が磨耗す
る。磨耗の原因としては、前記測定部への押し付け力が
加わる構成であることや、デバイス側の吸着面の材質な
どがある。デバイスは特にセラミック製であるときノズ
ル側が磨耗しやすい。この他、測定部の測定面とノズル
の吸着面との平行度が保たれていない場合にも生じる。
However, the above-mentioned nozzle is formed of iron or the like, and as the number of times of measurement of the device increases, the suction surface wears due to aging. Causes of wear include the configuration in which a pressing force is applied to the measurement unit, the material of the suction surface on the device side, and the like. The device is prone to wear on the nozzle side, especially when the device is made of ceramic. In addition, this also occurs when the parallelism between the measurement surface of the measurement unit and the suction surface of the nozzle is not maintained.

【0006】このノズルの磨耗状態としては、全体が擦
り減る状態や、片減り、即ちノズル先端部が一方に傾斜
して擦り減る状態などがある。このようにノズルが擦り
減ると、デバイスの吸着状態が安定しなくなったり、測
定部の接触端子にデバイスを安定して押し付けることが
できなくなる(所定の接圧を得られなくなる)。例え
ば、ノズル面全体が減ればデバイス全体の接圧が低下
し、片減りでは一部のリードの接圧が低くなる。これに
より、測定部の接触端子にデバイスの全端子を良好に接
触できなくなり、測定条件を悪化させることになる。
The state of wear of the nozzle includes a state in which the whole is worn down, a state in which the nozzle is partially worn out, that is, a state in which the tip of the nozzle is inclined to one side and is worn out. If the nozzle is worn down in this way, the suction state of the device will not be stable, or the device will not be able to be stably pressed against the contact terminal of the measuring unit (a predetermined contact pressure will not be obtained). For example, if the entire nozzle surface is reduced, the contact pressure of the entire device is reduced. This makes it impossible to satisfactorily contact all the terminals of the device with the contact terminals of the measuring section, thus deteriorating the measurement conditions.

【0007】従来の装置では、ノズルの磨耗を所定時期
経過時(例えば30万回の測定時や、月1回単位)や、
摩擦状態の目視検査で、あるいは、装置の搬送ミス(歩
留りの低下時)が発生した時点で行っており、いずれも
ノズルの使用が不適切な状態となった後であっても継続
使用していることが多かった。これにより、装置の異常
発生後にノズル交換を行なうことが多くなり、自動検査
装置の稼働効率を低下させる問題があった。
[0007] In the conventional apparatus, the wear of the nozzle is measured after a predetermined period of time (for example, 300,000 measurements or once a month),
Performed by visual inspection of the frictional state or at the time of device transport error (at the time of reduced yield). I was often there. As a result, nozzle replacement is frequently performed after the occurrence of an abnormality in the apparatus, and there has been a problem that the operation efficiency of the automatic inspection apparatus is reduced.

【0008】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたものであり、デバイスを吸着保持するノズルの摩擦
状態を日常的に管理することができ、ノズルの磨耗によ
る測定検査の異常発生を防止して常時安定した測定検査
を行える電子部品検査装置及び方法を提供することを目
的としている。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and can routinely manage the frictional state of a nozzle for sucking and holding a device, thereby preventing abnormalities in measurement and inspection due to nozzle wear. It is an object of the present invention to provide an electronic component inspection apparatus and method capable of always performing stable measurement inspection.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の電子部品検査装置は、請求項1記載のよう
に、電子部品を吸着保持するノズル(N)と、電子部品
のリードに対し測定信号を入出力するための接触端子を
有する測定治具(54a)とを含む測定部とを備え、前
記電子部品の特性を測定する電子部品検査装置におい
て、前記電子部品を吸着保持するノズル(N)の吸着面
(Na)の表面状態を検出するセンサ(3)と、前記測
定治具の接触端子に対し前記電子部品のリードを所定の
接圧で接触するように前記ノズルを所定量移動可能にさ
れたノズル昇降手段(2)と、前記センサの検出状態に
基づきノズルの磨耗状態を判断し、予め定められた所定
範囲を越える磨耗である旨の判断時には異常状態を外部
出力し、所定範囲内の磨耗である旨の判断時には該磨耗
量に対応して前記ノズル昇降手段の移動量を可変して前
記接圧を一定に制御する処理手段(4)と、を具備した
ことを特徴としている。
In order to achieve the above object, an electronic component inspection apparatus according to the present invention comprises a nozzle (N) for sucking and holding an electronic component and a lead for the electronic component. A measuring unit including a measuring jig (54a) having a contact terminal for inputting and outputting a measuring signal, and a nozzle for sucking and holding the electronic component in an electronic component inspection apparatus for measuring characteristics of the electronic component. A sensor (3) for detecting the surface state of the suction surface (Na) of (N) and a predetermined amount of the nozzle so that the lead of the electronic component is brought into contact with the contact terminal of the measuring jig at a predetermined contact pressure. A nozzle elevating means (2) which is made movable and a nozzle wear state is determined based on a detection state of the sensor, and when it is determined that the wear exceeds a predetermined range, an abnormal state is externally output; Within a predetermined range During that determination is Worn is characterized by comprising a control processing unit (4) constant the contact pressure by varying the amount of movement of the nozzle elevating means so as to correspond to the amount of wear.

【0010】また、請求項2記載のように、前記処理手
段(4)は、前記ノズル(N)の磨耗量に対応した補正
値(ΔY)を演算して求め、前記ノズル昇降手段(2)
に設けられた駆動源の移動量を前記補正値で可変制御す
る構成としてもよい。
The processing means (4) calculates and calculates a correction value (ΔY) corresponding to the wear amount of the nozzle (N), and calculates the correction value (ΔY) of the nozzle (N).
May be configured to variably control the amount of movement of the drive source provided in the controller with the correction value.

【0011】また、請求項3記載のように、前記処理手
段(4)は、前記センサ(3)から出力される検出信号
を受けてノズル(N)の一端(Nb)と他端(Nc)そ
れぞれの検出信号に基づき、ノズルの傾き量及び、全体
の磨耗量を演算して求め、傾き量と全体の磨耗量それぞ
れが前記所定範囲であるか否かを判断して、各別の前記
判断処理を行なう構成としてもよい。
The processing means (4) receives the detection signal output from the sensor (3) and receives one end (Nb) and the other end (Nc) of the nozzle (N). Based on the respective detection signals, the amount of tilt of the nozzle and the total amount of wear are calculated and obtained, and it is determined whether the amount of tilt and the total amount of wear are within the predetermined range, and each of the above determinations is performed. The processing may be performed.

【0012】本発明の請求項4記載の電子部品検査装置
は、電子部品を吸着保持して測定部に搬送し特性を測定
する電子部品検査装置において、前記電子部品を供給す
る供給部(52)、電子部品の特性を測定する測定部
(54)、測定後の電子部品を回収する回収部(53)
がそれぞれ円周位置上に配置され、前記円周位置上に配
置された供給部、測定部、回収部を通過すべく回転自在
であり、前記電子部品を供給部から測定部を介し回収部
に順次搬送するための回転テーブル(50)と、前記回
転テーブルの周面に複数配置され、該回転テ−ブルが回
転して前記供給部、測定部、回収部の回動位置でそれぞ
れ昇降自在なハンド(51)と、前記各ハンドの端部に
それぞれ設けられ、前記電子部品を前記回収部で吸着保
持し前記回収部までの間で連続して吸着状態を保持する
ノズル(N)と、前記ノズルに対向する前記回転テーブ
ルの周縁上の一部に固定して配置され、ノズルの吸着面
(Na)の表面状態を検出するセンサ(3)と、前記測
定部に設けられ、前記電子部品の下降時に電子部品のリ
−ドに接触する接触端子を有し電子部品に対し測定信号
を入出力する測定治具(54a)と、前記電子部品のリ
ードを前記測定治具の接触端子に対し所定の接圧で接触
するよう前記ハンドの下降量を可変自在に駆動させるノ
ズル昇降手段(2)と、前記センサの検出状態に基づき
ノズルの磨耗状態を判断し、予め定められた所定範囲を
越える磨耗である旨の判断時には異常状態を外部出力
し、所定範囲内の磨耗である旨の判断時には、前記電子
部品を測定治具に接触させる際にノズルの磨耗量に対応
して前記ノズル昇降手段の下降量を可変して前記接圧を
一定に制御する処理手段(4)と、を具備したことを特
徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided an electronic component inspecting apparatus for sucking and holding an electronic component, transporting the electronic component to a measuring section, and measuring characteristics, and supplying the electronic component. A measuring unit (54) for measuring characteristics of the electronic component; and a collecting unit (53) for collecting the electronic component after the measurement.
Are respectively arranged on the circumferential position, and are rotatable to pass through the supply unit, the measurement unit, and the collection unit arranged on the circumference position, and the electronic component is transferred from the supply unit to the collection unit via the measurement unit. A rotary table (50) for sequentially transporting the rotary table, and a plurality of rotary tables are arranged on the peripheral surface of the rotary table. A hand (51), a nozzle (N) provided at an end of each of the hands, for sucking and holding the electronic component at the collecting unit, and continuously holding the sucked state up to the collecting unit; A sensor (3) fixedly disposed on a part of the periphery of the rotary table facing the nozzle and detecting a surface state of a suction surface (Na) of the nozzle; A contact that contacts the lead of the electronic component when descending A measuring jig (54a) having terminals and inputting / outputting a measurement signal to / from an electronic component, and a descending amount of the hand so that a lead of the electronic component comes into contact with a contact terminal of the measuring jig at a predetermined contact pressure. A nozzle elevating means (2) for variably driving the nozzle, and judging the abrasion state of the nozzle based on the detection state of the sensor, and outputting an abnormal state to the outside when it is judged that the abrasion exceeds a predetermined range. When it is determined that the wear is within a predetermined range, when the electronic component is brought into contact with the measuring jig, the contact pressure is made constant by changing the descending amount of the nozzle elevating means in accordance with the wear amount of the nozzle. And a processing means (4) for controlling.

【0013】また、請求項5記載のように、前記センサ
(3)は、前記回転テ−ブル(50)の回転方向に対し
前記電子部品が未吸着状態にある前記回収部から前記供
給部までの間に配置され、前記電子部品の連続検査時に
回転テ−ブル(50)が回転する期間中に前記複数のノ
ズル(N)それぞれの吸着面(Na)の表面状態を検出
し、前記処理手段(4)は、前記センサの検出信号に基
づき各ノズル毎に前記判断処理を制御実行する構成とし
てもよい。
According to a fifth aspect of the present invention, the sensor (3) is provided from the collection section to the supply section in which the electronic component is in a non-adsorbed state in a rotation direction of the rotary table (50). And detecting the surface condition of the suction surface (Na) of each of the plurality of nozzles (N) during a period when the rotary table (50) rotates during the continuous inspection of the electronic component, and (4) The configuration may be such that the determination process is controlled and executed for each nozzle based on the detection signal of the sensor.

【0014】また、請求項6記載のように、前記センサ
(3)は、前記回転テ−ブル(50)の回転方向に対し
前記電子部品が未吸着状態にある前記回収部から前記供
給部までの間に配置され、前記回転テ−ブル(50)の
回転により前記複数のノズル(N)それぞれの吸着面
(Na)の表面状態を検出し、前記処理手段(4)は、
前記センサの検出信号に基づき各ノズル別の磨耗状態を
判断し、予め定められた所定範囲を越える磨耗である旨
の判断時には異常状態を外部出力し、所定範囲内の磨耗
である旨の判断時には、各ノズルの磨耗量に対応する前
記ノズル昇降手段の下降量を記憶部(15)に蓄積記憶
し、対応するノズルが前記電子部品を測定治具に接触さ
せる際に該記憶部から下降量を読み出して前記接圧を一
定にする制御を実行する構成としてもよい。
According to a sixth aspect of the present invention, the sensor (3) is provided between the collecting section and the supplying section in which the electronic component is in a non-adsorbed state with respect to a rotation direction of the rotary table (50). And the surface state of the suction surface (Na) of each of the plurality of nozzles (N) is detected by the rotation of the rotary table (50).
The wear state of each nozzle is determined based on the detection signal of the sensor, and when it is determined that the wear exceeds a predetermined range, an abnormal state is output to the outside, and when it is determined that the wear is within the predetermined range, it is determined. The storage unit (15) accumulates and stores the descent amount of the nozzle elevating means corresponding to the wear amount of each nozzle, and determines the descent amount from the storage unit when the corresponding nozzle contacts the electronic component with the measuring jig. It is also possible to adopt a configuration in which control is performed to read and make the contact pressure constant.

【0015】本発明の電子部品検査方法は、請求項7記
載のように、電子部品をノズル(N)で吸着保持して測
定部(54)に搬送し、該測定部の位置にてノズルを移
動させて電子部品を測定部に接触させ特性を測定する電
子部品検査方法において、前記ノズルの吸着面(Na)
の表面状態をセンサ(3)で検出する工程と、前記電子
部品の測定時に該電子部品を前記測定部に所定の接圧で
接触させるために前記ノズルを所定量移動させる工程
と、前記センサの検出状態に基づきノズルの磨耗状態を
判断し、予め定められた所定範囲を越える磨耗である場
合には異常状態を外部出力し、所定範囲内の磨耗である
場合には、前記電子部品の測定時に該磨耗量から演算し
た補正値(ΔY)に基づきノズルの移動量を可変制御し
て前記接圧を一定に制御する工程と、を具備することを
特徴とする。
According to the electronic component inspection method of the present invention, the electronic component is sucked and held by the nozzle (N), transported to the measuring section (54), and the nozzle is moved at the position of the measuring section. In the electronic component inspection method for measuring characteristics by moving the electronic component to a measuring unit, the suction surface (Na) of the nozzle is
Detecting the surface condition of the electronic component with a sensor (3); moving the nozzle by a predetermined amount to bring the electronic component into contact with the measurement unit at a predetermined contact pressure when measuring the electronic component; The wear state of the nozzle is determined based on the detection state, and if the wear exceeds a predetermined range, an abnormal state is output to the outside.If the wear is within a predetermined range, the wear of the electronic component is measured. Variably controlling the amount of movement of the nozzle based on the correction value (ΔY) calculated from the amount of wear to control the contact pressure to be constant.

【0016】上記構成によれば、電子部品はノズルNの
吸着面Naに吸着保持されて測定部54まで移動する。
この後、ノズル昇降手段2は、ノズルNを測定治具54
aの接触端子に所定の接圧となるよう所定量移動させ
る。ノズルNの吸着面Naの表面状態はセンサ3で検出
され、処理手段4に出力される。処理手段4は、センサ
3の検出状態に基づきノズルNの磨耗状態を判断する。
そして、予め定められた所定範囲を越える磨耗である旨
の判断時には異常状態を外部出力する。また、所定範囲
内の磨耗である旨の判断時には該磨耗量に対応して演算
された補正値ΔYを用いて前記ノズル昇降手段2の移動
量を可変する。これにより、ノズルNの磨耗が進んだと
きの交換時期を容易に知ることができるとともに、装置
稼働中における測定治具54aに対する電子部品の接圧
を常時一定にできる。
According to the above configuration, the electronic component is sucked and held on the suction surface Na of the nozzle N and moves to the measuring section 54.
Thereafter, the nozzle elevating means 2 moves the nozzle N to the measuring jig 54
The contact terminal a is moved by a predetermined amount so as to have a predetermined contact pressure. The surface state of the suction surface Na of the nozzle N is detected by the sensor 3 and output to the processing means 4. The processing unit 4 determines the wear state of the nozzle N based on the detection state of the sensor 3.
When it is determined that the wear exceeds a predetermined range, an abnormal state is output to the outside. When it is determined that the wear is within a predetermined range, the movement amount of the nozzle elevating means 2 is varied using the correction value ΔY calculated in accordance with the wear amount. Accordingly, it is possible to easily know the replacement time when the wear of the nozzle N has progressed, and it is possible to always keep the contact pressure of the electronic component against the measuring jig 54a during operation of the apparatus.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】次に、本発明の電子部品検査装置
の一実施形態を説明する。本発明における電子部品検査
装置は、従来技術で説明した供給部、搬送部、回収部、
測定部を有しており、詳細な説明は省略する。また、搬
送部は回転テーブルを有する構成のものを例に説明す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, an embodiment of an electronic component inspection apparatus according to the present invention will be described. The electronic component inspection device according to the present invention includes a supply unit, a conveyance unit, a collection unit,
It has a measuring unit, and a detailed description is omitted. In addition, an example in which the transport unit has a rotary table will be described.

【0018】図1は、同装置に設けられるノズル制御手
段を示すブロック図である。このノズル制御手段は、搬
送部に設けられたハンド(ノズル)を測定治具方向に移
動(昇降)制御するノズル昇降手段2と、ノズルの吸着
面の状態を検出するセンサ3と、センサ3の検出出力に
基づきノズルの摩擦状態を判断し、摩擦状態に合わせて
ノズル昇降手段2の昇降を制御するなどの各種処理を行
なう処理手段4で大略構成されている。
FIG. 1 is a block diagram showing nozzle control means provided in the apparatus. The nozzle control means includes a nozzle elevating means 2 for controlling movement (elevation) of a hand (nozzle) provided in the transport section in a direction of a measuring jig, a sensor 3 for detecting a state of a suction surface of the nozzle, A processing unit 4 that determines various types of processing such as judging the frictional state of the nozzle based on the detection output and controlling the elevation of the nozzle elevating unit 2 in accordance with the frictional state.

【0019】ノズル昇降手段2は、固定高さ位置で回転
する回転テーブル50に対しハンド全体を昇降させる構
成であり、回転テーブル50とハンドの間に設けられた
スライド軸受と、ハンドを昇降駆動する駆動源(例えば
サーボモータやパルスモータ)で構成されている。この
駆動源は処理手段4に制御されて、ハンドの昇降量(前
記接圧)を可変する。
The nozzle raising / lowering means 2 is configured to raise / lower the entire hand with respect to the rotary table 50 which rotates at a fixed height position, and slides a bearing provided between the rotary table 50 and the hand, and drives the hand up and down. It is composed of a drive source (for example, a servo motor or a pulse motor). This driving source is controlled by the processing means 4 to vary the amount of hand elevation (the contact pressure).

【0020】センサ3は、非接触レーザ変位計で構成さ
れる。このセンサ3は、図6に示すように、ハンドの端
部(下端部)に設けられたノズルの吸着面に対向するよ
う装置側に固定設置される。このセンサ3はノズルの吸
着面に対しレーザ光(測定光)を照射し、その反射光を
位置検出素子で受光する構成である。このセンサ3は、
ノズルとセンサ3との距離に応じて位置検出素子の受光
面上での反射光の焦点位置が移動し距離に対応する検出
信号を出力する。即ち、ノズルの吸着面の凹凸は、検出
信号の変化として処理手段4に出力される。また、この
固設されたセンサ3に対し回転テーブル50が回転し各
ノズルがこのセンサ3の測定光を受けて測定される。
The sensor 3 comprises a non-contact laser displacement meter. As shown in FIG. 6, the sensor 3 is fixedly installed on the apparatus side so as to face a suction surface of a nozzle provided at an end (lower end) of the hand. The sensor 3 irradiates laser light (measurement light) to the suction surface of the nozzle, and receives reflected light from the position detection element. This sensor 3
The focal position of the reflected light on the light receiving surface of the position detecting element moves according to the distance between the nozzle and the sensor 3, and outputs a detection signal corresponding to the distance. That is, the unevenness of the suction surface of the nozzle is output to the processing means 4 as a change in the detection signal. In addition, the turntable 50 rotates with respect to the fixed sensor 3, and each nozzle receives the measurement light of the sensor 3 and measures.

【0021】処理手段4は、CPUやROM,RAM,
I/Fなどで構成され、汎用のマイコンで構成できる。
ここで、図1に記載した処理手段4の内部ブロック構成
は、いずれもCPUが実行する各処理プログラムの機能
を便宜上、分離記載したに過ぎず、図示のようなハード
ウェア構成を必要とするものではないとともに、処理プ
ログラムの実行手順の変更に対応して図示の各機能は同
様に変更される。さらに、この処理手段4は、従来技術
で説明した測定器54bのハードウェアを利用して後述
する処理プログラムを実行して機能するものであり、測
定器54bの一部機能として組み込むことができる。
The processing means 4 includes a CPU, ROM, RAM,
It is composed of an I / F or the like, and can be composed of a general-purpose microcomputer.
Here, the internal block configuration of the processing means 4 shown in FIG. 1 merely separates and describes the function of each processing program executed by the CPU for convenience, and requires a hardware configuration as shown in the figure. However, each function shown in the drawing is similarly changed in response to a change in the execution procedure of the processing program. Further, the processing means 4 functions by executing a processing program described later using the hardware of the measuring device 54b described in the related art, and can be incorporated as a part of the function of the measuring device 54b.

【0022】以下、処理手段4内部の各機能(構成)を
説明する。磨耗量演算部10は、センサ3から出力され
る検出信号を各ノズルの検出毎に所定期間取り込み、磨
耗状態を演算処理する。図2はセンサ3によるノズルN
の検出状態を示す側面図である。ノズルNは、回転テー
ブル50により図中A方向に移動する。したがって、図
2(a)に示すようにセンサ3は時期t1にてノズルの
一端Nbの変位量を検出し始め、以降、図2(b)に示
す如く他端Ncに達するまで(時期t2まで)の間、ノ
ズルNの吸着面Naの変位量を検出し検出信号を出力す
る。
Hereinafter, each function (configuration) inside the processing means 4 will be described. The wear amount calculation unit 10 captures a detection signal output from the sensor 3 for a predetermined period for each detection of each nozzle, and calculates the wear state. FIG. 2 shows the nozzle N by the sensor 3.
It is a side view which shows the detection state of. The nozzle N is moved in the direction A in the figure by the rotary table 50. Therefore, as shown in FIG. 2A, the sensor 3 starts detecting the displacement of the one end Nb of the nozzle at time t1, and thereafter, reaches the other end Nc as shown in FIG. 2B (until time t2). ), The amount of displacement of the suction surface Na of the nozzle N is detected and a detection signal is output.

【0023】図3は、ノズルNの接触面に各測定値を示
す概要図である。この図では、片減りの状態にあるノズ
ルNを示している。摩擦量演算部10は、時期t1のと
きに検出された変位量Yaと、時期t2のときに検出さ
れた変位量Ybをそれぞれ一時記憶し、これらYa,Y
bに基づき下記式(1)で吸着面の傾き量Y1を演算す
る。 Y1=|Ya−Yb| …式(1)
FIG. 3 is a schematic diagram showing measured values on the contact surface of the nozzle N. In this drawing, the nozzle N in a partially reduced state is shown. The friction amount calculation unit 10 temporarily stores the displacement amount Ya detected at the time t1 and the displacement amount Yb detected at the time t2, respectively.
Based on b, the inclination amount Y1 of the suction surface is calculated by the following equation (1). Y1 = | Ya-Yb | Equation (1)

【0024】また、下記式(2)で吸着面位置(平均位
置)Y2を演算する。 Y2=(Ya+Yb)/2 …式(2) これら傾き量Y1,吸着面位置Y2は、比較部11に出
力される。
Further, the suction surface position (average position) Y2 is calculated by the following equation (2). Y2 = (Ya + Yb) / 2 Expression (2) The tilt amount Y1 and the suction surface position Y2 are output to the comparison unit 11.

【0025】比較部11は、傾き量Y1を予め設定され
ている判定値X1と比較する(下記式(3)参照)。 傾き量Y1<判定値X1 …式(3) 判定値X1は、ノズルNの接触面で許容する傾斜角度に
相当する。この判定により、傾き量Y1が判定値X1よ
り大きい値のときには、傾きが大き過ぎるとして傾き量
異常の旨の異常信号を外部出力する。
The comparing section 11 compares the amount of inclination Y1 with a predetermined judgment value X1 (see the following equation (3)). Inclination amount Y1 <judgment value X1 Expression (3) The judgment value X1 corresponds to an inclination angle allowed on the contact surface of the nozzle N. According to this determination, when the inclination amount Y1 is larger than the determination value X1, it is determined that the inclination is too large, and an abnormal signal indicating that the inclination amount is abnormal is output to the outside.

【0026】また、比較部11は、吸着面位置Y2を予
め設定されている判定値X2と比較する(下記式(4)
参照)。 吸着面位置Y2<判定値X2 …式(4) 判定値X2は、原点位置(測定治具に設けられた接触端
子の面位置に相当)からノズルNの接触面の位置までの
間で許容する高さ(距離)に相当する。この判定によ
り、吸着面位置Y2が判定値X2より大きい値のときに
は、吸着面位置が限度を越えた旨の異常信号を外部出力
する。また、吸着面位置Y2を示す信号は、補正値演算
部13に出力される。
The comparing section 11 compares the suction surface position Y2 with a predetermined judgment value X2 (Equation (4) below).
reference). Suction surface position Y2 <judgment value X2 Expression (4) The judgment value X2 is allowed from the origin position (corresponding to the surface position of the contact terminal provided on the measuring jig) to the position of the contact surface of the nozzle N. Equivalent to height (distance). As a result of this determination, when the suction surface position Y2 is greater than the determination value X2, an abnormal signal indicating that the suction surface position has exceeded the limit is output to the outside. Further, a signal indicating the suction surface position Y2 is output to the correction value calculation unit 13.

【0027】補正値演算部13は、吸着面位置Y2を示
す信号と、初期値設定部12に設定された初期値Y0に
基づき、下記式(5)を実行しノズルNの減り量ΔYを
演算する。 ΔY=(Y2−Y0) …(5)
The correction value calculating section 13 executes the following equation (5) based on the signal indicating the suction surface position Y2 and the initial value Y0 set in the initial value setting section 12 to calculate the reduction amount ΔY of the nozzle N. I do. ΔY = (Y2-Y0) (5)

【0028】初期値設定部12に設定される初期値Y0
は、基準となる(減りのない)ノズルNaを用いたとき
における原点位置から、このノズルNaまでの間の高さ
(距離)に相当する。この初期値Y0は、予め基準とな
るノズルNxを装着したときにこのノズルN0をセンサ
3で測定して得る。そして、この測定時の値を初期値Y
0として初期値設定部12に記憶設定する。また、装置
で検査するデバイスの種類が変わったときにノズルN0
を別の種類のものに変更した場合にもこのノズルN0を
実測して初期値Y0を初期値設定部12に設定する。
Initial value Y0 set in initial value setting section 12
Is equivalent to the height (distance) from the origin position when the reference (unreduced) nozzle Na is used to the nozzle Na. The initial value Y0 is obtained by measuring the nozzle N0 with the sensor 3 when the reference nozzle Nx is mounted in advance. Then, the value at the time of this measurement is set to the initial value Y.
It is stored and set in the initial value setting unit 12 as 0. When the type of device to be inspected by the apparatus changes, the nozzle N0
Is changed to another type, the nozzle N0 is actually measured, and the initial value Y0 is set in the initial value setting unit 12.

【0029】昇降制御駆動部14は、補正値ΔYに基づ
き、ノズル昇降手段2のモータに出力する駆動信号(ノ
ズルNの下降量)をこの補正値ΔYに相当する分だけ可
変制御する。即ち、デバイスを測定治具54aに押し付
けるときの下降量をこの補正値ΔYだけ可変させる。こ
こで、モータがサーブモータである場合には、サーボ量
を可変制御する。一方、モータがパルスモータである場
合には、駆動パルスを可変制御する。この可変制御は、
実際に装置が稼働してデバイスを測定している期間中に
行われ各ノズル別に用意された補正値ΔY(詳細は後
述)により行なわれる。なお、センサ3は、図6に示す
ようにハンド51(ノズルN)がデバイスを保持してい
ない状態にある箇所(範囲B内)に配置される。
The elevation control drive section 14 variably controls a drive signal (a descending amount of the nozzle N) output to the motor of the nozzle elevating means 2 based on the correction value ΔY by an amount corresponding to the correction value ΔY. That is, the amount of downward movement when the device is pressed against the measuring jig 54a is varied by the correction value ΔY. Here, when the motor is a serve motor, the servo amount is variably controlled. On the other hand, when the motor is a pulse motor, the drive pulse is variably controlled. This variable control is
This is performed during the period when the device is actually operating and the device is being measured, and is performed using a correction value ΔY prepared for each nozzle (details will be described later). The sensor 3 is arranged at a position (within the range B) where the hand 51 (nozzle N) does not hold a device as shown in FIG.

【0030】そして、回転テーブル50には、複数のハ
ンド51(ノズルN)が設けられており、センサ3は、
各ノズルN(N1,N2,…,Nn)毎に接触面Naの
状態を検出し、各ノズルNについて補正値ΔYに基づき
下降量が可変制御される。
The rotary table 50 is provided with a plurality of hands 51 (nozzles N).
The state of the contact surface Na is detected for each nozzle N (N1, N2,..., Nn), and the descending amount is variably controlled for each nozzle N based on the correction value ΔY.

【0031】ここで、昇降制御駆動部14は、各ノズル
N別の補正値ΔYを記憶部15に記憶する構成としても
よい。図4は、記憶部15におけるデータ構造図であ
り、各ノズルN(N1,N2,…,Nn)についてそれ
ぞれの補正値ΔY(ΔY1,ΔY2,…,ΔYn)がテ
ーブル形式で格納される。そして、各ノズルNがデバイ
スを測定治具54aに押し付けるときに記憶部15から
対応するノズルNの補正値ΔYを読み出し、ノズル昇降
手段2に対し、下降量の駆動信号をこの補正値ΔYだけ
可変させて出力することができる。
Here, the elevation control drive section 14 may be configured to store the correction value ΔY for each nozzle N in the storage section 15. FIG. 4 is a data structure diagram of the storage unit 15, in which correction values ΔY (ΔY1, ΔY2,..., ΔYn) are stored in a table format for each nozzle N (N1, N2,..., Nn). Then, when each nozzle N presses the device against the measuring jig 54a, the correction value ΔY of the corresponding nozzle N is read from the storage unit 15, and the drive signal of the descent amount is changed by the correction value ΔY to the nozzle elevating means 2. And output it.

【0032】以下、上記構成による装置の動作を説明す
る。上述したように、この電子部品検査装置は、デバイ
スの測定中にノズルNの磨耗を判別する構成である。以
下の説明では、デバイスの測定動作については省略し、
本願発明の要旨とするノズルNの磨耗判別処理について
説明する。また、センサ3の設置位置は、図6に示すよ
うに、各ハンド51の移動位置の間、即ち、センサ3上
でノズルNが停止せず連続移動する位置に設けた例につ
いて説明する。
The operation of the apparatus having the above configuration will be described below. As described above, this electronic component inspection apparatus is configured to determine the wear of the nozzle N during measurement of the device. In the following description, the measurement operation of the device is omitted,
The process of determining the wear of the nozzle N as the gist of the present invention will be described. Further, an example will be described in which the sensor 3 is installed at a position between the moving positions of the hands 51, that is, at a position where the nozzle N continuously moves without stopping on the sensor 3, as shown in FIG.

【0033】図5は、ノズルNの磨耗判別処理を示すフ
ローチャートである。デバイス搬送のためにノズルNが
設けられた回転テーブル50が回転し(SP1)ノズル
Nがセンサ3部分を通過するとき、センサ3はノズルN
の一端Nbを検出する(SP2)。このとき(時期t
1)におけるノズルNの一端Naの変位量Yaは、処理
手段4の摩擦量演算部10に取込まれる(SP3)。
FIG. 5 is a flowchart showing a process for determining the wear of the nozzle N. When the rotary table 50 provided with the nozzle N for device transport rotates (SP1) and the nozzle N passes through the sensor 3, the sensor 3
Is detected (SP2). At this time (time t
The displacement Ya of the one end Na of the nozzle N in 1) is taken into the friction amount calculation unit 10 of the processing means 4 (SP3).

【0034】回転テーブル50が回転を続けると、セン
サ3はノズルNの他端Ncを検出する(SP4)。この
とき(時期t2)におけるノズルNの他端Nbの変位量
Ybは、処理手段4の摩擦量演算部10に取込まれる
(SP5)。
When the turntable 50 continues to rotate, the sensor 3 detects the other end Nc of the nozzle N (SP4). At this time (time t2), the displacement amount Yb of the other end Nb of the nozzle N is taken into the friction amount calculation unit 10 of the processing means 4 (SP5).

【0035】上記時期t1,t2における変位量Ya,
Ybの取り込みタイミングは、センサ3の変位出力の大
幅な変動を検出したときであるとしてそれぞれ得ること
ができる。なお、回転テーブル50の停止時に各ノズル
Nの一端Naがセンサ3の検出位置上に位置する構成で
あるときには、この停止時に一端Naの変位量Yaを検
出できる。また、ノズルNの他端Nbの検出は、回転テ
ーブル50が移動開始してから他端Nbがセンサ3の検
出位置上を通過するに相当する期間経過時(時期t2)
に行なう構成としてもよい。この期間はソフトウェアタ
イマなど計時手段を用いて行える。
The displacement amounts Ya,
The timing for taking in Yb can be obtained as a time when a large change in the displacement output of the sensor 3 is detected. When the rotary table 50 is stopped, the displacement amount Ya of the one end Na can be detected at the time when the one end Na of each nozzle N is positioned above the detection position of the sensor 3. The other end Nb of the nozzle N is detected when a period corresponding to the passage of the other end Nb over the detection position of the sensor 3 after the start of the movement of the rotary table 50 (timing t2).
May be performed. This period can be performed by using a timer such as a software timer.

【0036】次に、磨耗量演算部10は、変位量Ya,
Ybに基づき、上記式(1)で吸着面の傾き量Y1を演
算する。また、上記式(2)で吸着面位置(平均位置)
Y2を演算する。これら傾き量Y1,吸着面位置Y2を
比較部11に出力する(SP6)。
Next, the wear amount calculating section 10 calculates the displacement amount Ya,
Based on Yb, the inclination amount Y1 of the suction surface is calculated by the above equation (1). Further, the suction surface position (average position) is calculated by the above equation (2).
Calculate Y2. The inclination amount Y1 and the suction surface position Y2 are output to the comparison unit 11 (SP6).

【0037】比較部11は、上記式(3)で傾き量Y1
を予め設定されている判定値X1と比較する(SP
7)。傾き量Y1が判定値X1より大きい値のときには
(SP7-NO )、傾きが大き過ぎるとして傾き量異常の
旨の異常信号を外部出力する。また、上記式(4)で吸
着面位置Y2を予め設定されている判定値X2と比較す
る(SP8)。吸着面位置Y2が判定値X2より大きい
値のときには(SP8-NO )、吸着面位置が限度を越え
た旨の異常信号を外部出力する。そして、吸着面位置Y
2を示す信号は、補正値演算部13に出力される。
The comparison unit 11 calculates the inclination amount Y1 according to the above equation (3).
Is compared with a preset determination value X1 (SP
7). When the inclination amount Y1 is larger than the determination value X1 (SP7-NO), the inclination is determined to be too large, and an abnormality signal indicating that the inclination amount is abnormal is output to the outside. Further, the suction surface position Y2 is compared with a predetermined determination value X2 in the above equation (4) (SP8). If the suction surface position Y2 is larger than the determination value X2 (SP8-NO), an abnormal signal indicating that the suction surface position has exceeded the limit is output to the outside. Then, the suction surface position Y
2 is output to the correction value calculation unit 13.

【0038】次に、補正値演算部13は、上記式(5)
により、吸着面位置Y2を示す信号と、初期値設定部1
2に設定された初期値Y0に基づきノズルNの減り量Δ
Yを演算する(SP9)。そして、昇降制御駆動部14
は、補正値ΔYに基づきノズル昇降手段2に出力する駆
動信号をこの補正値ΔYに相当する分だけ可変制御する
(SP10)。
Next, the correction value calculation unit 13 calculates the above equation (5).
And the signal indicating the suction surface position Y2 and the initial value setting unit 1
The reduction amount Δ of the nozzle N based on the initial value Y0 set to 2
Y is calculated (SP9). Then, the elevation control drive unit 14
Controls the drive signal output to the nozzle elevating means 2 based on the correction value ΔY by an amount corresponding to the correction value ΔY (SP10).

【0039】これにより、ノズル昇降手段2は、デバイ
スを測定部54の測定治具54aで測定するときにノズ
ルNの下降量(モータの移動量)を補正値ΔYだけ可変
して押し付ける。例えば、ノズルNが磨耗して吸着面位
置Y2が大きくなったときには、ノズル昇降手段2は、
補正値ΔY分だけノズルN(ハンド51)の下降量をよ
り多く下降させる。これにより、測定治具54aの接触
端子に接触するデバイスのリードはノズルNが磨耗して
も一定の接圧にでき、測定信号の入出力を安定に維持で
き測定に影響を与えない。
Thus, when the device is measured by the measuring jig 54a of the measuring section 54, the nozzle elevating means 2 variably presses the downward amount of the nozzle N (the moving amount of the motor) by the correction value ΔY. For example, when the suction surface position Y2 is increased due to wear of the nozzle N, the nozzle elevating means 2
The lowering amount of the nozzle N (hand 51) is further lowered by the correction value ΔY. Thereby, even if the nozzle N is worn, the lead of the device that comes into contact with the contact terminal of the measuring jig 54a can be brought into a constant contact pressure, and the input and output of the measurement signal can be stably maintained without affecting the measurement.

【0040】そして、上記処理によれば、ノズルNの吸
着面Naが磨耗しても、この吸着面Naが所定角度範囲
内の傾斜で、かつ、全体の磨耗量が所定値以内であると
きには、このノズルNの継続使用が許可されることとな
り、ノズルNの磨耗状態を管理できるようになる。ま
た、使用が許可されたノズルNは、デバイスの吸着を安
定して行え搬送不良を防止できるとともに、また、ノズ
ルNの磨耗状態に応じてデバイス測定時におけるノズル
Nの下降量を可変制御するため、デバイスのリードを測
定治具の接触端子に一定な接圧で接触させることができ
るようになる。これにより、常時デバイスの測定を安定
して行えるようになる。
According to the above process, even if the suction surface Na of the nozzle N is worn, if the suction surface Na is inclined within a predetermined angle range and the total wear amount is within a predetermined value, The continuous use of the nozzle N is permitted, and the wear state of the nozzle N can be managed. In addition, the nozzle N permitted to be used can stably adsorb the device and prevent the conveyance failure, and also variably controls the descending amount of the nozzle N at the time of device measurement according to the worn state of the nozzle N. Thus, the leads of the device can be brought into contact with the contact terminals of the measuring jig with a constant contact pressure. Thereby, the measurement of the device can be always performed stably.

【0041】上記一連のノズル磨耗の判別処理は、ある
1つのノズルN1に対しての処理である。回転テーブル
50には、複数のハンド51が設けられ各ハンド51に
はそれぞれノズルN1〜Nnが設けられている。したが
って、回転テーブル50が回転する毎に、各ノズルN1
〜Nnに対しそれぞれ上記ノズルの磨耗判別処理が繰返
し実行されることになる。
The above-described series of nozzle wear determination processing is processing for a certain nozzle N1. A plurality of hands 51 are provided on the turntable 50, and each hand 51 is provided with a nozzle N1 to Nn. Therefore, each time the rotary table 50 rotates, each nozzle N1
To Nn, the above-described nozzle wear determination process is repeatedly executed.

【0042】ところで、この繰返し実行にあたり、昇降
制御駆動部14は、図4のデータ構造図に示すように、
テーブル形式で各ノズルN別の補正値ΔYを記憶部15
に記憶する処理を実行してもよい(SP11)。即ち、
この処理は、各ノズルNに対するセンサ3の磨耗検出を
装置稼働中連続して行わない場合に実行される。例え
ば、装置の起動開始時のみ、あるいは稼働中所定時間経
過毎に間欠的に行う場合などに実行される。
By the way, in this repetitive execution, the elevation control drive section 14 has a data structure shown in FIG.
The storage unit 15 stores the correction value ΔY for each nozzle N in a table format.
May be executed (SP11). That is,
This process is executed when the wear detection of the sensor 3 for each nozzle N is not performed continuously during the operation of the apparatus. For example, it is executed only at the start of activation of the apparatus, or when the operation is performed intermittently every predetermined time during operation.

【0043】SP11のこの処理を実行する場合には、
回転テーブル50が1回転するまでの間、昇降制御駆動
部14は、各ノズルN別の補正値ΔYを記憶部15に記
憶させる。この後、センサ3の検出を停止させてから以
降は、各ノズルN1〜Nnがデバイスを測定治具54a
に装着するときに記憶部15のテーブルを参照して、各
ノズルN1〜Nnそれぞれの補正値ΔY1,ΔYnを読
み出し、ノズル昇降手段2に対し、下降量の駆動信号を
この補正値ΔYだけ可変させて出力する。
When executing this processing of SP11,
Until the turntable 50 makes one rotation, the elevation control drive section 14 causes the storage section 15 to store the correction value ΔY for each nozzle N. Thereafter, after the detection of the sensor 3 is stopped, each of the nozzles N1 to Nn connects the device to the measuring jig 54a.
At the time of mounting, the correction values .DELTA.Y1 and .DELTA.Yn of the respective nozzles N1 to Nn are read out with reference to the table of the storage unit 15, and the lowering amount of the drive signal is varied by the nozzle raising / lowering means 2 by this correction value .DELTA.Y. Output.

【0044】上記実施の形態では、ノズルNを有するハ
ンド51が回転テーブル50に複数個設けられた構成を
例に説明したが、本願発明の上述したノズル磨耗判別に
かかる構成は、他に、X,Y軸方向に移動自在なアーム
に単一個のノズルNが設けられた構成にも適用すること
ができる。この構成においても、ノズルNの磨耗状態に
応じてノズルNの下降量を補正値ΔYで補正して下降量
を可変制御できる。
In the above-described embodiment, a configuration in which a plurality of hands 51 having nozzles N are provided on the turntable 50 is described as an example. , And a single nozzle N provided on an arm movable in the Y-axis direction. Also in this configuration, the descending amount of the nozzle N can be variably controlled by correcting the descending amount of the nozzle N with the correction value ΔY according to the worn state of the nozzle N.

【0045】また、センサ3として非接触レーザ変位計
を用いる構成について説明したが、他に、磁気センサを
用いたり、ノズルNの吸着面Naに接触する接触センサ
を用いても同様の作用効果を得ることができる。
Although the configuration using a non-contact laser displacement meter as the sensor 3 has been described, similar effects can be obtained by using a magnetic sensor or a contact sensor that comes into contact with the suction surface Na of the nozzle N. Obtainable.

【0046】[0046]

【発明の効果】本発明によれば、ノズルの吸着面の磨耗
状態がすすんだときにはこのノズルの交換時期を簡単に
知ることができ、磨耗状態を容易に管理できるようにな
る。また、使用許可されたノズルを用いた装置稼働時に
は、ノズルの磨耗量に対応して測定治具に対するノズル
の移動量が可変制御されるため、ノズルの磨耗状態が変
化しても電子部品を測定治具の接触端子に常に一定な接
圧で接触させることができるようになる。これにより、
常時デバイスの測定を安定して行えるようになる。同時
に、このノズルの磨耗状態が管理されるため、装置稼働
中におけるデバイスの吸着を安定して行え搬送不良を防
止できる。これにより、本発明の電子部品検査装置によ
れば、電子部品の測定を常時安定して行えるようにな
る。
According to the present invention, when the state of wear of the suction surface of the nozzle is advanced, it is possible to easily know the time for replacing the nozzle, and the wear state can be easily managed. In addition, when the device is operated using a nozzle that has been licensed for use, the amount of movement of the nozzle with respect to the measurement jig is variably controlled according to the amount of nozzle wear, so electronic components can be measured even if the nozzle wear state changes. The contact terminal of the jig can always be brought into contact with a constant contact pressure. This allows
The device can always be measured stably. At the same time, since the abrasion state of the nozzle is managed, the device can be stably sucked during the operation of the apparatus, so that a conveyance failure can be prevented. Thus, according to the electronic component inspection apparatus of the present invention, the measurement of the electronic component can always be stably performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の電子部品検査装置の要部構成を示すブ
ロック図。
FIG. 1 is a block diagram showing a main part configuration of an electronic component inspection apparatus of the present invention.

【図2】ノズルの磨耗検出状態を説明するための側面
図。
FIG. 2 is a side view for explaining a nozzle wear detection state.

【図3】ノズルの磨耗判断のための各部の測定値を示す
図。
FIG. 3 is a diagram showing measured values of respective parts for determining wear of a nozzle.

【図4】記憶部の記憶状態を示すデータ構造図。FIG. 4 is a data structure diagram showing a storage state of a storage unit.

【図5】本装置の磨耗判別処理を示すフローチャート。FIG. 5 is a flowchart showing a wear determination process of the apparatus.

【図6】電子部品検査装置の全体構成を示す平面図。FIG. 6 is a plan view showing the overall configuration of the electronic component inspection device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2…ノズル昇降手段、3…センサ、4…処理手段、10
…磨耗量演算部、11…比較部、12…初期値設定部、
13…補正値演算部、14…昇降制御駆動部、15…記
憶部、50…回転テーブル、51…ハンド、54…測定
部、54a…測定治具、N…ノズル、Na…吸着面。
2 ... Nozzle elevating means, 3 ... Sensor, 4 ... Processing means, 10
... wear amount calculation unit, 11 ... comparison unit, 12 ... initial value setting unit,
13: correction value calculation unit, 14: elevation control drive unit, 15: storage unit, 50: rotary table, 51: hand, 54: measurement unit, 54a: measurement jig, N: nozzle, Na: suction surface.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平9−101343(JP,A) 特開 平9−45738(JP,A) 特開 平6−201770(JP,A) 特開 平5−251524(JP,A) 特開 平3−156946(JP,A) 特開 平5−87877(JP,A) 特開 平8−54442(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 31/00 G01R 31/26 G01R 31/28 H05K 13/00 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) References JP-A-9-101343 (JP, A) JP-A-9-45738 (JP, A) JP-A-6-201770 (JP, A) JP-A-5-201770 251524 (JP, A) JP-A-3-156946 (JP, A) JP-A-5-87877 (JP, A) JP-A-8-54442 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7, DB name) G01R 31/00 G01R 31/26 G01R 31/28 H05K 13/00

Claims (7)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 電子部品を吸着保持するノズル(N)
と、電子部品のリードに対し測定信号を入出力するため
の接触端子を有する測定治具(54a)とを含む測定部
とを備え、前記電子部品の特性を測定する電子部品検査
装置において、 前記電子部品を吸着保持するノズル(N)の吸着面(N
a)の表面状態を検出するセンサ(3)と、 前記測定治具の接触端子に対し前記電子部品のリードを
所定の接圧で接触するように前記ノズルを所定量移動可
能にされたノズル昇降手段(2)と、 前記センサの検出状態に基づきノズルの磨耗状態を判断
し、予め定められた所定範囲を越える磨耗である旨の判
断時には異常状態を外部出力し、所定範囲内の磨耗であ
る旨の判断時には該磨耗量に対応して前記ノズル昇降手
段の移動量を可変して前記接圧を一定に制御する処理手
段(4)と、を具備したことを特徴とする電子部品検査
装置。
A nozzle (N) for sucking and holding an electronic component
And a measuring unit including a measuring jig (54a) having a contact terminal for inputting / outputting a measuring signal to / from a lead of the electronic component, wherein the electronic component inspection apparatus measures characteristics of the electronic component. The suction surface (N) of the nozzle (N) that holds the electronic components by suction
a sensor (3) for detecting the surface condition of a), and a nozzle elevating and lowering the nozzle by a predetermined amount so that the lead of the electronic component is brought into contact with a contact terminal of the measuring jig at a predetermined contact pressure. Means (2), a wear state of the nozzle is determined based on a detection state of the sensor, and when it is determined that the wear exceeds a predetermined range, an abnormal state is output to the outside, and the wear is within the predetermined range. An electronic component inspection apparatus comprising: processing means (4) for controlling the contact pressure to be constant by varying the amount of movement of the nozzle elevating means in accordance with the amount of wear when judging the effect.
【請求項2】 前記処理手段(4)は、前記ノズル
(N)の磨耗量に対応した補正値(ΔY)を演算して求
め、前記ノズル昇降手段(2)に設けられた駆動源の移
動量を前記補正値で可変制御する請求項1記載の電子部
品検査装置。
2. The processing means (4) calculates and calculates a correction value (ΔY) corresponding to the wear amount of the nozzle (N), and moves a driving source provided in the nozzle elevating means (2). 2. The electronic component inspection apparatus according to claim 1, wherein the amount is variably controlled by the correction value.
【請求項3】 前記処理手段(4)は、前記センサ
(3)から出力される検出信号を受けてノズル(N)の
一端(Nb)と他端(Nc)それぞれの検出信号に基づ
き、ノズルの傾き量及び、全体の磨耗量を演算して求
め、傾き量と全体の磨耗量それぞれが前記所定範囲であ
るか否かを判断して、各別の前記判断処理を行なう請求
項1記載の電子部品検査装置。
3. The processing means (4) receives a detection signal output from the sensor (3), and based on the detection signals of one end (Nb) and the other end (Nc) of the nozzle (N), 2. The tilt amount and the total wear amount are calculated and calculated, and it is determined whether each of the tilt amount and the total wear amount is within the predetermined range, and each of the determination processes is performed. Electronic component inspection equipment.
【請求項4】 電子部品を吸着保持して測定部に搬送し
特性を測定する電子部品検査装置において、 前記電子部品を供給する供給部(52)、電子部品の特
性を測定する測定部(54)、測定後の電子部品を回収
する回収部(53)がそれぞれ円周位置上に配置され、 前記円周位置上に配置された供給部、測定部、回収部を
通過すべく回転自在であり、前記電子部品を供給部から
測定部を介し回収部に順次搬送するための回転テーブル
(50)と、 前記回転テーブルの周面に複数配置され、該回転テ−ブ
ルが回転して前記供給部、測定部、回収部の回動位置で
それぞれ昇降自在なハンド(51)と、 前記各ハンドの端部にそれぞれ設けられ、前記電子部品
を前記回収部で吸着保持し前記回収部までの間で連続し
て吸着状態を保持するノズル(N)と、 前記ノズルに対向する前記回転テーブルの周縁上の一部
に固定して配置され、ノズルの吸着面(Na)の表面状
態を検出するセンサ(3)と、 前記測定部に設けられ、前記電子部品の下降時に電子部
品のリ−ドに接触する接触端子を有し電子部品に対し測
定信号を入出力する測定治具(54a)と、 前記電子部品のリードを前記測定治具の接触端子に対し
所定の接圧で接触するよう前記ハンドの下降量を可変自
在に駆動させるノズル昇降手段(2)と、 前記センサの検出状態に基づきノズルの磨耗状態を判断
し、予め定められた所定範囲を越える磨耗である旨の判
断時には異常状態を外部出力し、所定範囲内の磨耗であ
る旨の判断時には、前記電子部品を測定治具に接触させ
る際にノズルの磨耗量に対応して前記ノズル昇降手段の
下降量を可変して前記接圧を一定に制御する処理手段
(4)と、を具備したことを特徴とする電子部品検査装
置。
4. An electronic component inspection apparatus for sucking and holding an electronic component, transporting the electronic component to a measuring unit, and measuring characteristics, a supply unit (52) for supplying the electronic component, and a measuring unit (54) for measuring characteristics of the electronic component. ), A collecting section (53) for collecting the electronic component after the measurement is arranged at a circumferential position, and is rotatable to pass through a supply section, a measuring section, and a collecting section arranged at the circumferential position. A rotary table (50) for sequentially transporting the electronic components from a supply unit to a collection unit via a measuring unit; and a plurality of rotary tables arranged on a peripheral surface of the rotary table, wherein the rotary table rotates to rotate the supply unit. A hand (51) which can be moved up and down respectively at the rotating positions of the measuring unit and the collecting unit; and a hand provided at an end of each hand to suck and hold the electronic component by the collecting unit and reach the collecting unit. Nozzle that continuously holds the suction state N), a sensor (3) fixedly arranged on a part of the periphery of the rotary table facing the nozzle and detecting a surface state of a suction surface (Na) of the nozzle; A measuring jig (54a) having a contact terminal for contacting a lead of the electronic component when the electronic component is lowered and inputting and outputting a measurement signal to and from the electronic component; A nozzle elevating / lowering means (2) for variably driving the amount of descent of the hand so as to contact the contact terminal with a predetermined contact pressure; and determining a worn state of the nozzle based on a detection state of the sensor. When it is determined that the wear exceeds a predetermined range, an abnormal state is externally output, and when it is determined that the wear is within a predetermined range, the electronic component is brought into contact with a measuring jig in accordance with the amount of wear of the nozzle. The nozzle elevating means Electronic component testing apparatus lowering amount variable to be characterized by comprising a processing means (4) for controlling the contact pressure constant.
【請求項5】 前記センサ(3)は、前記回転テ−ブル
(50)の回転方向に対し前記電子部品が未吸着状態に
ある前記回収部から前記供給部までの間に配置され、前
記電子部品の連続検査時に回転テ−ブル(50)が回転
する期間中に前記複数のノズル(N)それぞれの吸着面
(Na)の表面状態を検出し、 前記処理手段(4)は、前記センサの検出信号に基づき
各ノズル毎に前記判断処理を制御実行する請求項4記載
の電子部品検査装置。
5. The sensor (3) is disposed between the collection unit and the supply unit where the electronic component is in a non-adsorbed state with respect to the rotation direction of the rotation table (50), and During the continuous inspection of parts, the surface state of the suction surface (Na) of each of the plurality of nozzles (N) is detected during the rotation of the rotary table (50). The electronic component inspection device according to claim 4, wherein the determination process is controlled and executed for each nozzle based on a detection signal.
【請求項6】 前記センサ(3)は、前記回転テ−ブル
(50)の回転方向に対し前記電子部品が未吸着状態に
ある前記回収部から前記供給部までの間に配置され、前
記回転テ−ブル(50)の回転により前記複数のノズル
(N)それぞれの吸着面(Na)の表面状態を検出し、 前記処理手段(4)は、前記センサの検出信号に基づき
各ノズル別の磨耗状態を判断し、予め定められた所定範
囲を越える磨耗である旨の判断時には異常状態を外部出
力し、所定範囲内の磨耗である旨の判断時には、各ノズ
ルの磨耗量に対応する前記ノズル昇降手段の下降量を記
憶部(15)に蓄積記憶し、対応するノズルが前記電子
部品を測定治具に接触させる際に該記憶部から下降量を
読み出して前記接圧を一定にする制御を実行する請求項
4記載の電子部品検査装置。
6. The sensor (3) is disposed between the collection unit and the supply unit where the electronic component is in a non-adsorbed state with respect to the rotation direction of the rotation table (50). The rotation of the table (50) detects the surface condition of the suction surface (Na) of each of the plurality of nozzles (N). The processing means (4) wears each nozzle based on the detection signal of the sensor. The state is determined, and when it is determined that the wear exceeds a predetermined range, an abnormal state is output to the outside, and when it is determined that the wear is within the predetermined range, the nozzle elevating and lowering corresponding to the wear amount of each nozzle is performed. The descending amount of the means is accumulated and stored in the storage unit (15), and when the corresponding nozzle contacts the electronic component with the measuring jig, the descending amount is read out from the storage unit and control is performed to make the contact pressure constant. The electronic component according to claim 4,査 apparatus.
【請求項7】 電子部品をノズル(N)で吸着保持して
測定部(54)に搬送し、該測定部の位置にてノズルを
移動させて電子部品を測定部に接触させ特性を測定する
電子部品検査方法において、 前記ノズルの吸着面(Na)の表面状態をセンサ(3)
で検出する工程と、 前記電子部品の測定時に該電子部品を前記測定部に所定
の接圧で接触させるために前記ノズルを所定量移動させ
る工程と、 前記センサの検出状態に基づきノズルの磨耗状態を判断
し、予め定められた所定範囲を越える磨耗である場合に
は異常状態を外部出力し、所定範囲内の磨耗である場合
には、前記電子部品の測定時に該磨耗量から演算した補
正値(ΔY)に基づきノズルの移動量を可変制御して前
記接圧を一定に制御する工程と、を具備することを特徴
とする電子部品検査方法。
7. The electronic component is sucked and held by a nozzle (N) and transported to a measuring section (54), and the nozzle is moved at the position of the measuring section to bring the electronic component into contact with the measuring section to measure characteristics. In the electronic component inspection method, a surface state of a suction surface (Na) of the nozzle is detected by a sensor (3).
Detecting; and moving the nozzle by a predetermined amount in order to bring the electronic component into contact with the measuring unit with a predetermined contact pressure when measuring the electronic component; and a worn state of the nozzle based on a detection state of the sensor. If the wear exceeds a predetermined range, an abnormal state is output to the outside, and if the wear is within the predetermined range, a correction value calculated from the wear amount at the time of measurement of the electronic component. Variably controlling the amount of movement of the nozzle based on (ΔY) to control the contact pressure at a constant level.
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JP2010162653A (en) * 2009-01-16 2010-07-29 Tesetsuku:Kk Handling device and electronic component inspection system
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