JP3328180B2 - Automatic placement and routing method of integrated circuit and computer-readable recording medium recording the automatic placement and routing program - Google Patents

Automatic placement and routing method of integrated circuit and computer-readable recording medium recording the automatic placement and routing program

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JP3328180B2
JP3328180B2 JP34547797A JP34547797A JP3328180B2 JP 3328180 B2 JP3328180 B2 JP 3328180B2 JP 34547797 A JP34547797 A JP 34547797A JP 34547797 A JP34547797 A JP 34547797A JP 3328180 B2 JP3328180 B2 JP 3328180B2
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勝治 城間
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、集積回路の自動配
置配線方法及びその自動配置配線プログラムを記録した
コンピュータに読取り可能な記録媒体に関し、特にサブ
コンタクト、ウエルコンタクト生成における有用な技術
を提供するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an automatic placement and routing method for an integrated circuit and a computer-readable recording medium on which the automatic placement and routing program is recorded. Things.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のCAD装置を用いての自動配置配
線方法は、例えば図5及び図6に示す通りである。ここ
で、図5は自動配置配線の処理手順を示すフローチャー
ト、図6は基本論理セルの構成図である。
2. Description of the Related Art A conventional automatic placement and routing method using a CAD apparatus is, for example, as shown in FIGS. Here, FIG. 5 is a flowchart showing the procedure of automatic placement and routing, and FIG. 6 is a configuration diagram of a basic logic cell.

【0003】この図において、自動用セルの設計11で
自動配置配線で用いる基本論理セルをマニュアルで作成
する。その際、ラッチアップ防止対策としてセル内には
必ずサブコンタクト、ウエルコンタクトを埋め込んでい
た。セルの自動配置12では、自動用セルの設計11で
作成した基本論理セルをCAD装置を用いて自動配置す
る。そして、セル間自動配線13でセルの自動配置12
で配置された基本論理セル間の配線を結線し、レイアウ
トを完成させていた。
In FIG. 1, a basic logic cell used for automatic placement and routing is manually created in an automatic cell design 11. At that time, sub-contacts and well contacts were always buried in the cells as a measure to prevent latch-up. In the automatic cell arrangement 12, the basic logic cells created in the automatic cell design 11 are automatically arranged using a CAD device. Then, the cells are automatically arranged 12 by the automatic wiring 13 between cells.
The wiring between the basic logic cells arranged in the above is connected to complete the layout.

【0004】図6は、上記基本論理セルの一例である2
NANDセルの構成図である。WAKU26内にPチャ
ンネルトランジスター部24、Nチャンネルトランジス
ター部25、入力A21、入力B22と出力23を2層
金属配線で入出力可能とし、電源ライン30上にウエル
コンタクト27、GNDライン29上にサブコンタクト
28を備えた構成となっている。
FIG. 6 shows an example of the basic logic cell 2
FIG. 3 is a configuration diagram of a NAND cell. In the WAKU 26, a P-channel transistor section 24, an N-channel transistor section 25, an input A21, an input B22 and an output 23 can be input / output by two-layer metal wiring, and a well contact 27 on a power supply line 30 and a sub-contact on a GND line 29. 28.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
従来技術の第1の問題点は、チップサイズの縮小化の妨
げになるということである。その理由は、基本論理セル
内にサブコンタクト、ウエルコンタクトを埋め込む為に
セルサイズを大きくしたセルを用いて自動配置配線を行
っているためである。第2の問題点は、必要以上に(不
要な)サブコンタクト、ウエルコンタクトが挿入されて
いることである。その理由は、自動配置配線後にサブコ
ンタクト、ウエルコンタクトを生成できないために、基
本論理セル内に予めサブコンタクト、ウエルコンタクト
を埋め込み、そのセルを用いて自動配置配線を行ってい
るためである。第3の問題点は、基本論理セルのセルサ
イズを大きくしてまでもサブコンタクト、ウエルコンタ
クトをセル内に埋め込んでいたことである。その理由
は、自動配置配線後にサブコンタクト、ウエルコンタク
トの生成する方法がなかったからである。第4の問題点
は、必要な箇所にサブコンタクト、ウエルコンタクトを
挿入できなかったことである。その理由は、サブコンタ
クト、ウエルコンタクトの有無を検出する方法がなかっ
たためである。
The first problem of the prior art is that it hinders a reduction in chip size. The reason is that automatic placement and routing is performed using cells having a large cell size in order to embed sub-contacts and well contacts in basic logic cells. A second problem is that sub-contacts and well contacts are inserted more than necessary (unnecessary). The reason is that, since sub-contacts and well contacts cannot be generated after automatic placement and routing, sub-contacts and well contacts are buried in advance in basic logic cells, and automatic placement and routing are performed using the cells. A third problem is that even if the cell size of the basic logic cell is increased, the sub-contact and the well contact are embedded in the cell. The reason is that there is no method for generating sub-contacts and well contacts after automatic placement and routing. A fourth problem is that the sub-contact and the well contact cannot be inserted at necessary places. The reason is that there is no method for detecting the presence or absence of the sub-contact and the well contact.

【0006】本発明は、上述する問題点に鑑みてなされ
たもので、集積回路のさらなる高集積化を図ることを目
的とするものである。
The present invention has been made in view of the above-described problems, and has as its object to further increase the degree of integration of an integrated circuit.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では、集積回路の自動配置配線方法に係わる
第1の手段として、基本論理セルを自動配置し、さらに
該基本論理セル間を自動配線する集積回路の自動配置配
線方法において、基本論理セルの周辺にサブコンタクト
若しくはウエルコンタクトを生成する仮想セルを予め設
け、自動配線を行った後に、配線及び基本論理セルに対
して重なりのない仮想セルに基づいてサブコンタクト若
しくはウエルコンタクトを生成し、かつ、配線及び基本
論理セルに対して重なる仮想セルを削除するという手段
を採用する。
In order to achieve the above object, according to the present invention, as a first means relating to an automatic arrangement and wiring method for an integrated circuit, basic logic cells are automatically arranged, In the method of automatically arranging and routing an integrated circuit, a virtual cell for generating a sub-contact or a well contact is provided in advance around a basic logic cell, and after automatic wiring is performed, the overlapping of the wiring and the basic logic cell is performed. A means of generating a sub-contact or a well contact based on a virtual cell which does not exist, and deleting a virtual cell overlapping a wiring and a basic logic cell is employed.

【0008】[0008]

【0009】[0009]

【0010】集積回路の自動配置配線方法に係わる第2
の手段として、基本論理セルの周辺にサブコンタクト若
しくはウエルコンタクトを生成する仮想セルを挿入する
ステップと、前記仮想セルが挿入された基本論理セルを
自動配置するステップと、該配置処理後において、基本
論理セル間を自動配線するステップと、該自動配置され
た基本論理セルと仮想セルとが重なっているか否かを判
断するステップと、該判断結果が否の場合に、配線と仮
想セルが重なっているか否かを判断するステップと、基
本論理セルあるいは配線に対して仮想セルが重なってい
ると判断した場合に、該当する仮想セルを削除するステ
ップと、基本論理セル及び配線に対して重なっていない
仮想セルに基づいてサブコンタクト若しくはウエルコン
タクトを生成するステップと、一定間隔にサブコンタク
ト若しくはウエルコンタクトが存在するか否かを判断す
るステップと、一定間隔にサブコンタクト若しくはウエ
ルコンタクトが存在しない場合には、サブコンタクト若
しくはウエルコンタクトを追加挿入するステップとを有
する手段を採用する。
The second related to the automatic placement and routing method for an integrated circuit.
Means for inserting a virtual cell for generating a sub-contact or a well contact around the basic logic cell, automatically arranging the basic logic cell into which the virtual cell has been inserted, and Automatically routing between the logic cells; determining whether the automatically arranged basic logic cell and the virtual cell overlap; and if the determination result is negative, the wiring and the virtual cell overlap. Determining whether or not the virtual cell overlaps with the basic logical cell or the wiring, and deleting the corresponding virtual cell if it is determined that the virtual cell overlaps with the basic logical cell or the wiring. Generating a sub-contact or well contact based on the virtual cell; A step of Ntakuto to determine whether there, if the sub contact or well contact is not present in regular intervals, employing a means and a step of insert additional sub contact or well contact.

【0011】一方、本発明では、自動配置配線プログラ
ムを記録したコンピュータに読取り可能な記録媒体に係
わる手段として、基本論理セルの周辺にサブコンタクト
若しくはウエルコンタクトである仮想セルを挿入するス
テップと、前記仮想セルが挿入された基本論理セルを自
動配置するステップと、該配置処理後において、基本論
理セル間を自動配線するステップと、該自動配置された
基本論理セルと仮想セルとが重なっているか否かを判断
するステップと、該判断結果が否の場合に、配線と仮想
セルが重なっているか否かを判断するステップと、基本
論理セルあるいは配線に対して仮想セルが重なっている
と判断した場合に、該当する仮想セルを削除するステッ
プと、基本論理セル及び配線に対して重なっていない仮
想セルに基づいてサブコンタクト若しくはウエルコンタ
クトを生成するステップと、一定間隔にサブコンタクト
若しくはウエルコンタクトが存在するか否かを判断する
ステップと、一定間隔にサブコンタクト若しくはウエル
コンタクトが存在しない場合には、サブコンタクト若し
くはウエルコンタクトを追加挿入するステップととを有
する手段を採用する。
On the other hand, according to the present invention, as a means relating to a computer-readable recording medium recording an automatic placement and routing program, a step of inserting a virtual cell which is a sub-contact or a well contact around a basic logic cell, Automatically arranging the basic logic cells into which the virtual cells have been inserted, automatically arranging the basic logic cells after the arranging process, and determining whether the automatically arranged basic logic cells overlap the virtual cells. Determining whether or not the wiring overlaps the virtual cell if the result of the determination is negative; and determining that the virtual cell overlaps the basic logical cell or the wiring. Removing the relevant virtual cell, based on the virtual cell not overlapping the basic logical cell and the wiring. Generating sub-contacts or well-contacts; determining whether sub-contacts or well-contacts exist at regular intervals; and sub-contacts or wells if there are no sub-contacts or well contacts at regular intervals. And a step of additionally inserting a contact.

【0012】[0012]

【作用】本発明によれば、自動配置配線を行った後に、
基本論理セルに設けた仮想セルに基づいてサブコンタク
ト若しくはウエルコンタクトを生成し、さらには、この
サブコンタクト若しくはウエルコンタクトの有無を検出
し、必要な箇所にサブコンタクト若しくはウエルコンタ
クトを挿入することで面積を縮小して集積回路の集積度
を上げる。
According to the present invention, after performing automatic placement and routing,
A sub-contact or a well contact is generated based on a virtual cell provided in the basic logic cell, and the presence or absence of the sub-contact or the well contact is detected. To increase the degree of integration of the integrated circuit.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、本発明に係わる一実施形態
について、図面を参照して説明する。図1は、本実施形
態における自動配置配線の処理手順を示すフローチャー
トである。なお、このフローチャートに示す一連の処理
は、自動配置配線プログラムの処理を示すものであり、
該自動配置配線プログラムが磁気方式あるいは光学方式
の記録媒体からコンピュータにインストールされること
により、以下に説明する集積回路の自動配置配線が実現
される。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment according to the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a flowchart illustrating a processing procedure of the automatic placement and routing according to the present embodiment. Note that the series of processes shown in this flowchart show the processes of the automatic placement and routing program,
The automatic placement and routing of an integrated circuit described below is realized by installing the automatic placement and routing program in a computer from a magnetic or optical recording medium.

【0014】この図において、自動用セルの設計A1に
おいて基本論理セルを設計する。そして、仮想セルの挿
入A2において、自動用セルの設計A1で設計した基本
論理セル内に、電源ラインの延長線上にウエルコンタク
トを配置できる領域と、セル上辺にウエルコンタクトを
配置できる領域と、GNDライン延長線上にサブコンタ
クトを配置できる領域と、セル下辺にサブコンタクトを
配置できる領域とに仮想セルを挿入する。
In FIG. 1, a basic logic cell is designed in an automatic cell design A1. Then, in the insertion A2 of the virtual cell, a region where the well contact can be arranged on the extension of the power supply line, a region where the well contact can be arranged on the upper side of the cell, and GND in the basic logic cell designed in the automatic cell design A1. The virtual cell is inserted into a region where the sub-contact can be arranged on the line extension and a region where the sub-contact can be arranged on the lower side of the cell.

【0015】セルの自動配置A3では、前記基本論理セ
ルをCAD装置を用いて自動配置する。さらに、セル間
の配線A4では、前記セルの自動配置A3で配置した基
本論理セル間の配線を結線する。そして、仮想セルと他
の基本論理セルが重なっている場合は仮想セルを削除し
(ステップA5,A6)、仮想セルと金属配線が重なっ
ている場合にも仮想セルを削除する(ステップA7,A
8)。
In automatic cell arrangement A3, the basic logic cells are automatically arranged using a CAD device. Further, in the wiring A4 between the cells, the wiring between the basic logic cells arranged in the automatic cell arrangement A3 is connected. Then, if the virtual cell and another basic logical cell overlap, the virtual cell is deleted (steps A5 and A6), and if the virtual cell and the metal wiring overlap, the virtual cell is deleted (steps A7 and A).
8).

【0016】続いて、サブコン、ウエルコンの生成A9
において、仮想セルからサブコンタクト、ウエルコンタ
クトを生成する。そして、一定間隔内にサブコンタク
ト、ウエルコンタクトがない箇所を検出し、該サブコン
タクト、ウエルコンタクトがない箇所には、サブコンタ
クト、ウエルコンタクトを生成する(ステップA10,
A11)。以上の処理によって、集積回路のレイアウト
が完了する。
Subsequently, the production of a subcon and a wellcon A9
, A sub-contact and a well contact are generated from a virtual cell. Then, a portion where there is no sub-contact or well contact is detected within a certain interval, and a sub-contact or well contact is generated in a portion where there is no sub-contact or well contact (step A10,
A11). With the above processing, the layout of the integrated circuit is completed.

【0017】次に、図2は、本実施形態における基本論
理セルの構成図である。なお、この基本論理セルは、図
6に示したものと同様に2NANDセルである。
Next, FIG. 2 is a configuration diagram of a basic logic cell in this embodiment. The basic logic cell is a 2NAND cell, similar to the one shown in FIG.

【0018】この図において、電源ライン130の延長
線上には、ウエルコンタクトを配置できる領域に仮想セ
ル121,121が配置される。また、電源ライン13
0の上辺には、ウエルコンタクトを配置できる領域に仮
想セル124が配置される。GNDライン131の延長
線上には、サブコンタクトを配置できる領域に仮想セル
122,122が配置される。GNDライン131の下
辺には、サブコンタクトを配置できる領域に仮想セル1
23,123が配置される。このような構成を採用する
ことにより、従来の2NANDセル(図6参照)に比較
して、領域Bだけ集積回路(半導体集積回路)の面積を
縮小することが可能である。
In this figure, virtual cells 121, 121 are arranged on an extension of the power supply line 130 in a region where a well contact can be arranged. In addition, the power supply line 13
On the upper side of 0, a virtual cell 124 is arranged in a region where a well contact can be arranged. On the extension of the GND line 131, the virtual cells 122 are arranged in a region where the sub contact can be arranged. On the lower side of the GND line 131, a virtual cell 1
23 and 123 are arranged. By employing such a configuration, it is possible to reduce the area of the integrated circuit (semiconductor integrated circuit) only in the region B as compared with the conventional 2NAND cell (see FIG. 6).

【0019】続いて、図3は、上記基本論理セルについ
て図1に示したセル間の配線A4の処理を終えた構成図
である。この図において、仮想セル141,146は、
上記仮想セルと配置が重なっているか否かの判断処理A
5、仮想セルと金属配線が重なっているか否かの判断処
理A7によって削除される仮想セルである。仮想セル1
43a、142a、143b、142bは、上記サブコ
ン、ウエルコンの生成A9においてサブコンタクト、ウ
エルコンタクトが生成される仮想セルである。
FIG. 3 is a block diagram of the basic logic cell after the processing of the wiring A4 between the cells shown in FIG. 1 has been completed. In this figure, virtual cells 141 and 146 are:
Processing A for judging whether the arrangement overlaps with the virtual cell
5. The virtual cell to be deleted by the processing A7 for determining whether or not the virtual cell and the metal wiring overlap. Virtual cell 1
Reference numerals 43a, 142a, 143b, and 142b are virtual cells in which sub-contacts and well-contacts are generated in the generation A9 of the sub-control and well-con.

【0020】上記サブコン、ウエルコンの生成A9まで
の処理により、図4に示すように、仮想セル143aか
らウエルコンタクト150が生成され、仮想セル142
bからサブコンタクト151が生成される。このような
本実施形態によれば、不必要なサブコンタクト、ウエル
コンタクトを挿入せず面積の縮小が可能である。
By the processing up to generation A9 of the subcontractor and the wellcon, the well contact 150 is generated from the virtual cell 143a as shown in FIG.
The sub-contact 151 is generated from b. According to this embodiment, the area can be reduced without inserting unnecessary sub-contacts and well contacts.

【0021】[0021]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
集積回路のさらなる高集積化を図ることが可能である。
例えば、99000素子のレイアウトデータで基本論理
セルの使用率が15%である場合には、面積として12
%の削減となる。
As described above, according to the present invention,
Further higher integration of the integrated circuit can be achieved.
For example, if the usage rate of the basic logic cell is 15% in the layout data of 99000 elements, the area is 12
% Reduction.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の一実施形態に係わる自動配置配線の
処理手順を示すフローチャートである。
FIG. 1 is a flowchart illustrating a processing procedure of automatic placement and routing according to an embodiment of the present invention.

【図2】 本発明の一実施形態に係わる基本論理セルの
構成図である。
FIG. 2 is a configuration diagram of a basic logic cell according to an embodiment of the present invention.

【図3】 本発明の一実施形態に係わる自動配置配線後
の第1の構成図である。
FIG. 3 is a first configuration diagram after automatic placement and routing according to an embodiment of the present invention.

【図4】 本発明の一実施形態に係わる自動配置配線後
の第2の構成図である。
FIG. 4 is a second configuration diagram after automatic placement and routing according to an embodiment of the present invention.

【図5】従来の自動配置配線の処理手順の一例を示すフ
ローチャートである。
FIG. 5 is a flowchart illustrating an example of a conventional automatic placement and routing processing procedure.

【図6】従来の基本論理セルの構成例を示す構成図であ
る。
FIG. 6 is a configuration diagram showing a configuration example of a conventional basic logic cell.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

21……2NAND入力部a 22……2NAND入力部b 23……2NAND出力部 24……Pチャンネルトランジスター部 25……Nチャンネルトランジスター部 26……WAKU 27……ウエルコンタクト 28……サブコンタクト 29……GNDライン 30……電源ライン 121……ウエルコンタクトに置き換えることのできる
仮想セル 122……サブコンタクトに置き換えることのできる仮
想セル 123……サブコンタクトに置き換えることのできる仮
想セル 124……ウエルコンタクトに置き換えることのできる
仮想セル 130……電源ライン 131……GNDライン 141……仮想セル 142a……ウエルコンタクトに置き換えることのでき
る仮想セル 142b……サブコンタクトに置き換えることのできる
仮想セル 143a……ウエルコンタクトに置き換えることのでき
る仮想セル 143b……サブコンタクトに置き換えることのできる
仮想セル 145……金属配線 146……仮想セル 150……ウエルコンタクト 151……サブコンタクト
Reference numeral 21: 2 NAND input section a 22: 2 NAND input section b 23: 2 NAND output section 24: P-channel transistor section 25: N-channel transistor section 26: WAKU 27: well contact 28: sub-contact 29: … GND line 30… Power supply line 121… Virtual cell that can be replaced with a well contact 122… Virtual cell that can be replaced with a sub contact 123… Virtual cell that can be replaced with a sub contact 124 Virtual cell 130 that can be replaced Power supply line 131 GND line 141 Virtual cell 142a Virtual cell that can be replaced with a well contact 142b Virtual cell that can be replaced with a sub contact 143a virtual cell that can be replaced with a well contact 143b virtual cell that can be replaced with a sub contact 145 metal wiring 146 virtual cell 150 well contact 151 sub contact

フロントページの続き (56)参考文献 特開 平8−339392(JP,A) 特開 平3−82140(JP,A) 特開 平3−283546(JP,A) 特開 平9−232434(JP,A) 特開 平8−222640(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/82 G06F 17/50 Continuation of the front page (56) References JP-A-8-339392 (JP, A) JP-A-3-82140 (JP, A) JP-A-3-283546 (JP, A) JP-A-9-232434 (JP) , A) JP-A-8-222640 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) H01L 21/82 G06F 17/50

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 基本論理セルを自動配置し、さらに該基
本論理セル間を自動配線する集積回路の自動配置配線方
法において、 基本論理セルの周辺にサブコンタクト若しくはウエルコ
ンタクトを生成する仮想セルを予め設け、自動配線を行
った後に、配線及び基本論理セルに対して重なりのない
仮想セルに基づいてサブコンタクト若しくはウエルコン
タクトを生成し、かつ、配線及び基本論理セルに対して
重なる仮想セルを削除することを特徴とする集積回路の
自動配置配線方法。
1. A method of automatically arranging basic logic cells and automatically arranging and wiring between the basic logic cells , wherein a virtual cell for generating a sub-contact or a well contact around the basic logic cell is defined in advance. After the provision and automatic wiring, a sub-contact or a well contact is generated based on a virtual cell having no overlap with the wiring and the basic logic cell, and the virtual cell overlapping with the wiring and the basic logic cell is deleted. A method for automatically arranging and routing an integrated circuit.
【請求項2】 基本論理セルの周辺にサブコンタクト若
しくはウエルコンタクトを生成する仮想セルを挿入する
ステップと、 前記仮想セルが挿入された基本論理セルを自動配置する
ステップと、 該配置処理後において、基本論理セル間を自動配線する
ステップと、 該自動配置された基本論理セルと仮想セルとが重なって
いるか否かを判断するステップと、 該判断結果が否の場合に、配線と仮想セルが重なってい
るか否かを判断するステップと、 基本論理セルあるいは配線に対して仮想セルが重なって
いると判断した場合に、該当する仮想セルを削除するス
テップと、 基本論理セル及び配線に対して重なっていない仮想セル
に基づいてサブコンタクト若しくはウエルコンタクトを
生成するステップと、 一定間隔にサブコンタクト若しくはウエルコンタクトが
存在するか否かを判断するステップと、 一定間隔にサブコンタクト若しくはウエルコンタクトが
存在しない場合には、サブコンタクト若しくはウエルコ
ンタクトを追加挿入するステップと、 を有することを特徴とする集積回路の自動配置配線方
法。
2. A step of inserting a virtual cell for generating a sub-contact or a well contact around a basic logical cell; a step of automatically arranging the basic logical cell into which the virtual cell is inserted; Automatically routing between basic logic cells; determining whether the automatically arranged basic logic cell and virtual cell overlap; and if the determination result is negative, the wiring and virtual cell overlap. Determining whether or not the virtual cell overlaps the basic logical cell or the wiring; and deleting the relevant virtual cell if it is determined that the virtual cell overlaps the basic logical cell or the wiring. Generating sub-contacts or well-contacts based on the virtual cells that do not exist; A step of determining whether or not a sub-contact or a well contact exists; and a step of additionally inserting a sub-contact or a well contact when there is no sub-contact or well contact at regular intervals. Automatic placement and routing method.
【請求項3】 基本論理セルの周辺にサブコンタクト若
しくはウエルコンタクトを生成する仮想セルを挿入する
ステップと、 前記仮想セルが挿入された基本論理セルを自動配置する
ステップと、 該配置処理後において、基本論理セル間を自動配線する
ステップと、 該自動配置された基本論理セルと仮想セルとが重なって
いるか否かを判断するステップと、 該判断結果が否の場合に、配線と仮想セルが重なってい
るか否かを判断するステップと、 基本論理セルあるいは配線に対して仮想セルが重なって
いると判断した場合に、該当する仮想セルを削除するス
テップと、 基本論理セル及び配線に対して重なっていない仮想セル
に基づいてサブコンタクト若しくはウエルコンタクトを
生成するステップと、 一定間隔にサブコンタクト若しくはウエルコンタクトが
存在するか否かを判断するステップと、 一定間隔にサブコンタクト若しくはウエルコンタクトが
存在しない場合には、サブコンタクト若しくはウエルコ
ンタクトを追加挿入するステップと、 を有することを特徴とする自動配置配線プログラムを記
録したコンピュータに読取り可能な記録媒体。
3. A step of inserting a virtual cell for generating a sub-contact or a well contact around a basic logical cell; a step of automatically arranging the basic logical cell into which the virtual cell has been inserted; Automatically routing between basic logic cells; determining whether the automatically arranged basic logic cell and virtual cell overlap; and if the determination result is negative, the wiring and virtual cell overlap. Determining whether or not the virtual cell overlaps the basic logical cell or the wiring; and deleting the relevant virtual cell if it is determined that the virtual cell overlaps the basic logical cell or the wiring. Generating sub-contacts or well-contacts based on the virtual cells that do not exist; Determining whether or not a sub-contact or a well-contact exists; and, if there is no sub-contact or well-contact at regular intervals, additionally inserting a sub-contact or a well contact. A computer-readable recording medium recording a wiring program.
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