JP3326318B2 - 分光分析計における多変量解析方法 - Google Patents
分光分析計における多変量解析方法Info
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- JP3326318B2 JP3326318B2 JP33595295A JP33595295A JP3326318B2 JP 3326318 B2 JP3326318 B2 JP 3326318B2 JP 33595295 A JP33595295 A JP 33595295A JP 33595295 A JP33595295 A JP 33595295A JP 3326318 B2 JP3326318 B2 JP 3326318B2
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、分光分析計にお
ける多変量解析方法に関する。
ける多変量解析方法に関する。
【０００２】
【発明の背景】ある物質中に含まれる多数の変量（例え
ば、水溶液中に含まれる複数の成分の濃度）を測定する
ための手法として多変量解析法がある。例えば、図１
は、水溶液中に含まれる複数の成分の濃度）を測定する
ため分光分析計Ｘの概要を示すもので、この図２におい
て、１は光源、２はレンズ、３は入射スリット、４は第
１凹球面鏡、５は両矢印で示される方向に適宜回動操作
される回折格子、６は第２凹球面鏡、７は出射スリッ
ト、８はフローセル、９はレンズ、１０は検出器であ
る。
ば、水溶液中に含まれる複数の成分の濃度）を測定する
ための手法として多変量解析法がある。例えば、図１
は、水溶液中に含まれる複数の成分の濃度）を測定する
ため分光分析計Ｘの概要を示すもので、この図２におい
て、１は光源、２はレンズ、３は入射スリット、４は第
１凹球面鏡、５は両矢印で示される方向に適宜回動操作
される回折格子、６は第２凹球面鏡、７は出射スリッ
ト、８はフローセル、９はレンズ、１０は検出器であ
る。
【０００３】そして、フローセル８中に取り入れた標準
液または被検液とに、所定の波長間（例えば１５００ｎ
ｍ〜１８５０ｎｍ）を反復走査させた単色光を選択的に
透過させ、検出器１０でその光強度を検出し、その検出
信号が増幅器１１、ＡＤ変換器１２を介して演算・制御
部（例えばマイクロコンピュータ）１３に入力され、吸
光度に変換され、多変量解析における主成分分析によ
り、被検液の多成分の濃度値が求められ、表示部１４に
表示される。なお、回折格子５は、インターフェイス１
５を介してマイクロコンピュータ１３からの指令によっ
て回動操作される。また、フローセル８に導入される標
準液は、校正段階でのみ用いられ、被検液は推定段階で
導入測定される。
液または被検液とに、所定の波長間（例えば１５００ｎ
ｍ〜１８５０ｎｍ）を反復走査させた単色光を選択的に
透過させ、検出器１０でその光強度を検出し、その検出
信号が増幅器１１、ＡＤ変換器１２を介して演算・制御
部（例えばマイクロコンピュータ）１３に入力され、吸
光度に変換され、多変量解析における主成分分析によ
り、被検液の多成分の濃度値が求められ、表示部１４に
表示される。なお、回折格子５は、インターフェイス１
５を介してマイクロコンピュータ１３からの指令によっ
て回動操作される。また、フローセル８に導入される標
準液は、校正段階でのみ用いられ、被検液は推定段階で
導入測定される。
【０００４】ところで、前記多変量解析法では、変量ｘ
1 ，ｘ2 ，…，ｘn を意図的に種々の値に変えた物質を
多数（ｊ個）作り、それに対してｊ個のスペクトルＳ1
（λi ），Ｓ2 （λi ），…，Ｓj （λi ）（ｉ＝１，
２，…，ｋ）を測定する。ここで言うスペクトルとは、
例えば、物質に光を照射し、装置の吸収量の度合いを光
の波長λを走査して測定する吸光度スペクトルのことで
ある。
1 ，ｘ2 ，…，ｘn を意図的に種々の値に変えた物質を
多数（ｊ個）作り、それに対してｊ個のスペクトルＳ1
（λi ），Ｓ2 （λi ），…，Ｓj （λi ）（ｉ＝１，
２，…，ｋ）を測定する。ここで言うスペクトルとは、
例えば、物質に光を照射し、装置の吸収量の度合いを光
の波長λを走査して測定する吸光度スペクトルのことで
ある。
【０００５】このスペクトル群に多変量解析法を適用す
ることにより、下記数１に示す校正行列を得る。
ることにより、下記数１に示す校正行列を得る。
【０００６】
【数１】
【０００７】ここで、ｎは変量の数であり、ｋはスペク
トルを測定するときの波長ポイント数である。
トルを測定するときの波長ポイント数である。
【０００８】前記多変量解析法には、主成分解析法など
様々な種類があり、例えば「パソコン統計解析ハンドブ
ック」（共立出版社）に詳しく解説されている。
様々な種類があり、例えば「パソコン統計解析ハンドブ
ック」（共立出版社）に詳しく解説されている。
【０００９】さて、変量が未知である物質があるとき、
その物質のスペクトルを測定することにより、下記数２
に示す関係式（１）により変量が測定できる。
その物質のスペクトルを測定することにより、下記数２
に示す関係式（１）により変量が測定できる。
【００１０】
【数２】
【００１１】ところで、光の波長λを走査するため、通
常、回折格子などの分光機能を持つ素子を回転させる方
式をとる。
常、回折格子などの分光機能を持つ素子を回転させる方
式をとる。
【００１２】そして、今、校正行列が既知である分光分
析計（以下、親機という）と、未知である分光分析計
（以下、子機という）があるとする。
析計（以下、親機という）と、未知である分光分析計
（以下、子機という）があるとする。
【００１３】波長ポイントｉにおける子機の親機に対す
る波長のずれをΔλ i とすると、 λ’i ＝λi ＋Δλi （ｉ＝１，２，…，ｋ） ……（２） となる。ここで、λi ，λ’i はそれぞれ、親機、子機
のｉポイント番目の波長である。
る波長のずれをΔλ i とすると、 λ’i ＝λi ＋Δλi （ｉ＝１，２，…，ｋ） ……（２） となる。ここで、λi ，λ’i はそれぞれ、親機、子機
のｉポイント番目の波長である。
【００１４】そして、今、親機によるスペクトルが図３
（Ａ）であるとし、このとき、子機によるスペクトルが
図３（Ｂ）であるとする。そして、この図３（Ｂ）に示
すように、子機の親機に対する波長のずれが各ポイント
において等しいとすると、 Δλ1 ＝Δλ2 ＝……＝Δλk ≡Δλ ……（３） となる。このとき、 λ’i ＝λi ＋Δλ（ｉ＝１，２，…，ｋ） ……（４） となる。
（Ａ）であるとし、このとき、子機によるスペクトルが
図３（Ｂ）であるとする。そして、この図３（Ｂ）に示
すように、子機の親機に対する波長のずれが各ポイント
において等しいとすると、 Δλ1 ＝Δλ2 ＝……＝Δλk ≡Δλ ……（３） となる。このとき、 λ’i ＝λi ＋Δλ（ｉ＝１，２，…，ｋ） ……（４） となる。
【００１５】そして、整数ステップ分のずれは、ソフト
ウェア的に補正できるので、前記Δλは、 −０．５ΔＰ≦Δλ≦＋０．５ΔＰ ……（５） の範囲に収めることができる。ここで、ΔＰは１ステッ
プ当たりの波長変化量である。
ウェア的に補正できるので、前記Δλは、 −０．５ΔＰ≦Δλ≦＋０．５ΔＰ ……（５） の範囲に収めることができる。ここで、ΔＰは１ステッ
プ当たりの波長変化量である。
【００１６】ところで、従来の多変量解析法において
は、 子機に親機の校正行列を適用する手法（従来法
１）と、 子機に子機の校正行列を適用する手法（従
来法２）とがあった。
は、 子機に親機の校正行列を適用する手法（従来法
１）と、 子機に子機の校正行列を適用する手法（従
来法２）とがあった。
【００１７】すなわち、前記従来法１は、子機のスペク
トルを下記数３のように表すとき、下記数４に示すよう
な親機の校正行列を用い、下記数５に示す関係式（６）
のように、子機のスペクトルに親機の校正行列を乗じ
て、測定変量ｘ1 ，ｘ2 ，……，ｘn を求めるようにし
たものである。
トルを下記数３のように表すとき、下記数４に示すよう
な親機の校正行列を用い、下記数５に示す関係式（６）
のように、子機のスペクトルに親機の校正行列を乗じ
て、測定変量ｘ1 ，ｘ2 ，……，ｘn を求めるようにし
たものである。
【００１８】
【数３】
【００１９】
【数４】
【００２０】
【数５】
【００２１】また、前記従来法２は、下記数６で示すよ
うな子機の校正行列を用い、下記数７に示す関係式
（７）のように、子機のスペクトルに子機の校正行列を
乗じて、測定変量ｘ1 ，ｘ2 ，……，ｘn を求めるよう
にしたものである。
うな子機の校正行列を用い、下記数７に示す関係式
（７）のように、子機のスペクトルに子機の校正行列を
乗じて、測定変量ｘ1 ，ｘ2 ，……，ｘn を求めるよう
にしたものである。
【００２２】
【数６】
【００２３】
【数７】
【００２４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来法１においては、子機と親機とにおける波長誤差が子
機における変量の測定誤差を生むといった欠点がある。
これに対して、上記従来法２によれば、変量の測定精度
は従来法１に比べると優れているが、子機の校正行列を
得るには、変量を意図的に変化させたスペクトルを全て
の子機について多数個（変量の数の数倍）取得しなけれ
ばならず、データの移し替えなど製造に時間がかかると
いった欠点がある。
来法１においては、子機と親機とにおける波長誤差が子
機における変量の測定誤差を生むといった欠点がある。
これに対して、上記従来法２によれば、変量の測定精度
は従来法１に比べると優れているが、子機の校正行列を
得るには、変量を意図的に変化させたスペクトルを全て
の子機について多数個（変量の数の数倍）取得しなけれ
ばならず、データの移し替えなど製造に時間がかかると
いった欠点がある。
【００２５】この発明は、上述の事柄に留意してなされ
たもので、親機に基づいて子機を得る場合に子機を得る
場合、変量の測定精度に優れ、データの移し替えなどに
時間がかからないようにした分光分析計における多変量
解析方法（以下、単に多変量解析方法という）を提供す
ることを目的としている。
たもので、親機に基づいて子機を得る場合に子機を得る
場合、変量の測定精度に優れ、データの移し替えなどに
時間がかからないようにした分光分析計における多変量
解析方法（以下、単に多変量解析方法という）を提供す
ることを目的としている。
【００２６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、第１の発明の多変量解析方法は、校正行列が既知で
ある分光分析計（親機）と、この親機によって得られる
スペクトルの波長とわずかにずれた波長のスペクトルが
得られ、校正行列が未知である分光分析計（子機）があ
るとき、親機において変量を意図的に変化させて測定し
たスペクトル群に対し、前記波長がずれた分だけ波長シ
フトしたスペクトル群をデータ補間によって求め、この
演算結果に多変量解析法を適用することにより求めた校
正行列を、子機で測定したスペクトルと乗算することに
より変量を得るようにした点に特徴がある。
め、第１の発明の多変量解析方法は、校正行列が既知で
ある分光分析計（親機）と、この親機によって得られる
スペクトルの波長とわずかにずれた波長のスペクトルが
得られ、校正行列が未知である分光分析計（子機）があ
るとき、親機において変量を意図的に変化させて測定し
たスペクトル群に対し、前記波長がずれた分だけ波長シ
フトしたスペクトル群をデータ補間によって求め、この
演算結果に多変量解析法を適用することにより求めた校
正行列を、子機で測定したスペクトルと乗算することに
より変量を得るようにした点に特徴がある。
【００２７】第２の発明の多変量解析方法は、校正行列
が既知である分光分析計（親機）と、この親機によって
得られるスペクトルの波長スパンとわずかに波長スパン
が異なり、校正行列が未知である分光分析計（子機）が
あるとき、親機において変量を意図的に変化させて測定
したスペクトル群を用いて、子機の波長スパンに一致す
るようなスペクトル群をデータ補間によって求め、この
演算結果に多変量解析法を適用することにより求めた校
正行列を、子機で測定したスペクトルと乗算することに
より変量を得るようにした点に特徴がある。
が既知である分光分析計（親機）と、この親機によって
得られるスペクトルの波長スパンとわずかに波長スパン
が異なり、校正行列が未知である分光分析計（子機）が
あるとき、親機において変量を意図的に変化させて測定
したスペクトル群を用いて、子機の波長スパンに一致す
るようなスペクトル群をデータ補間によって求め、この
演算結果に多変量解析法を適用することにより求めた校
正行列を、子機で測定したスペクトルと乗算することに
より変量を得るようにした点に特徴がある。
【００２８】
【作用】第１の発明の多変量解析方法においては、親機
において変量を意図的に変化させて測定したスペクトル
群に対し、前記波長がずれた分だけ波長シフトしたスペ
クトル群をデータ補間によって求め、この演算結果に多
変量解析法を適用することにより求めた校正行列を、子
機で測定したスペクトルと乗算するようにしているの
で、変量の測定精度がよくなる。
において変量を意図的に変化させて測定したスペクトル
群に対し、前記波長がずれた分だけ波長シフトしたスペ
クトル群をデータ補間によって求め、この演算結果に多
変量解析法を適用することにより求めた校正行列を、子
機で測定したスペクトルと乗算するようにしているの
で、変量の測定精度がよくなる。
【００２９】そして、この場合、校正行列を得るため、
変量を意図的に変えた多数個のスペクトルを個々の子機
において取得する必要がないので、データの移し替えな
どに時間がかからず、大幅に製造時間を短縮できる。
変量を意図的に変えた多数個のスペクトルを個々の子機
において取得する必要がないので、データの移し替えな
どに時間がかからず、大幅に製造時間を短縮できる。
【００３０】また、第２の発明の多変量解析方法におい
ては、親機において変量を意図的に変化させて測定した
スペクトル群を用いて、子機の波長スパンに一致するよ
うなスペクトル群をデータ補間によって求め、この演算
結果に多変量解析法を適用することにより求めた校正行
列を、子機で測定したスペクトルと乗算するようにして
いるので、変量の測定精度がよくなる。
ては、親機において変量を意図的に変化させて測定した
スペクトル群を用いて、子機の波長スパンに一致するよ
うなスペクトル群をデータ補間によって求め、この演算
結果に多変量解析法を適用することにより求めた校正行
列を、子機で測定したスペクトルと乗算するようにして
いるので、変量の測定精度がよくなる。
【００３１】そして、この場合、校正行列を得るため、
変量を意図的に変えた多数個のスペクトルを個々の子機
において取得する必要がないので、データの移し替えな
どに時間がかからず、大幅に製造時間を短縮できる。
変量を意図的に変えた多数個のスペクトルを個々の子機
において取得する必要がないので、データの移し替えな
どに時間がかからず、大幅に製造時間を短縮できる。
【００３２】
【発明の実施の形態】以下、この発明の詳細を、図を参
照しながら説明する。
照しながら説明する。
【００３３】まず、第１の発明について説明する。子機
の親機に対する波長のずれΔλを測定する。このため
に、例えば、水銀の輝線スペクトルの位置を測定する。
その結果、子機が親機に対して波長が平行にシフトして
いたとする。
の親機に対する波長のずれΔλを測定する。このため
に、例えば、水銀の輝線スペクトルの位置を測定する。
その結果、子機が親機に対して波長が平行にシフトして
いたとする。
【００３４】次に、親機の校正行列を取得するためのス
ペクトル群Ｓ1 （λi ），Ｓ2 （λi ），…，Ｓj （λ
i ）を得る〔図１（Ａ）参照〕。
ペクトル群Ｓ1 （λi ），Ｓ2 （λi ），…，Ｓj （λ
i ）を得る〔図１（Ａ）参照〕。
【００３５】そして、前記スペクトル群Ｓ1 （λi ），
Ｓ2 （λi ），…，Ｓj （λi ）を、例えば、スプライ
ン関数法を用いてデータ補間し、図１（Ｂ）に示すよう
なデータ補間されたスペクトル群Ｓ1 （λi ），Ｓ
2 （λi ），…，Ｓj （λi ）を得る。
Ｓ2 （λi ），…，Ｓj （λi ）を、例えば、スプライ
ン関数法を用いてデータ補間し、図１（Ｂ）に示すよう
なデータ補間されたスペクトル群Ｓ1 （λi ），Ｓ
2 （λi ），…，Ｓj （λi ）を得る。
【００３６】ここで、前記（４）式が成り立つ場合、前
記データ補間したスペクトル群Ｓ1（λi ），Ｓ2 （λ
i ），…，Ｓj （λi ）に対して、Ｓ1 （λi ＋Δ
λ），Ｓ2 （λi ＋Δλ），…，Ｓj （λi ＋Δλ）を
計算する。
記データ補間したスペクトル群Ｓ1（λi ），Ｓ2 （λ
i ），…，Ｓj （λi ）に対して、Ｓ1 （λi ＋Δ
λ），Ｓ2 （λi ＋Δλ），…，Ｓj （λi ＋Δλ）を
計算する。
【００３７】そして、上記のように、Δλだけシフト
（波長ポイントシフト）したスペクトル群Ｓ1 （λi ＋
Δλ），Ｓ2 （λi ＋Δλ），…，Ｓj （λi ＋Δλ）
〔図１（Ｃ）参照）に基づいて多変量解析法により、下
記数８に示すような校正行列を得る。
（波長ポイントシフト）したスペクトル群Ｓ1 （λi ＋
Δλ），Ｓ2 （λi ＋Δλ），…，Ｓj （λi ＋Δλ）
〔図１（Ｃ）参照）に基づいて多変量解析法により、下
記数８に示すような校正行列を得る。
【００３８】
【数８】
【００３９】上記数８に示した校正行列を子機の校正行
列として用いる。すなわち、下記数９に示す関係式
（８）のようにして、子機の測定変量を得るのである。
列として用いる。すなわち、下記数９に示す関係式
（８）のようにして、子機の測定変量を得るのである。
【００４０】
【数９】
【００４１】上述の第１の発明においては、親機におい
て変量を意図的に変化させて測定したスペクトル群に対
し、前記波長がずれた分Δλだけ波長シフトしたスペク
トル群をデータ補間によって求め、この演算結果に多変
量解析法を適用することにより求めた校正行列を、子機
で測定したスペクトルと乗算するようにしているので、
変量の測定精度がよくなる。
て変量を意図的に変化させて測定したスペクトル群に対
し、前記波長がずれた分Δλだけ波長シフトしたスペク
トル群をデータ補間によって求め、この演算結果に多変
量解析法を適用することにより求めた校正行列を、子機
で測定したスペクトルと乗算するようにしているので、
変量の測定精度がよくなる。
【００４２】そして、この場合、校正行列を得るため、
変量を意図的に変えた多数個のスペクトルを個々の子機
において取得する必要がないので、データの移し替えな
どに時間がかからず、大幅に製造時間を短縮できる。
変量を意図的に変えた多数個のスペクトルを個々の子機
において取得する必要がないので、データの移し替えな
どに時間がかからず、大幅に製造時間を短縮できる。
【００４３】なお、第１の発明においては、データ補間
を行ってから波長シフトさせているが、波長シフトさせ
てからデータ補間を行うようにしてもよい。
を行ってから波長シフトさせているが、波長シフトさせ
てからデータ補間を行うようにしてもよい。
【００４４】次に、第２の発明を説明する。この発明に
おいては、子機のスペクトルと親機のスペクトルとにお
いて波長スパンが異なる場合であり、例えば、図３の
（Ｃ）に示すように、Δλ1 ≠Δλ2 であるような場合
である。この場合、前記関係式（３），（４）は成立し
ない。
おいては、子機のスペクトルと親機のスペクトルとにお
いて波長スパンが異なる場合であり、例えば、図３の
（Ｃ）に示すように、Δλ1 ≠Δλ2 であるような場合
である。この場合、前記関係式（３），（４）は成立し
ない。
【００４５】そこで、関係式（４）式に代えて、例え
ば、 λ’i ＝λi ＋（λi −λ0 ）（ΔＰ’−ΔＰ）＋Δλ ……（１０） なる関係式を用いる。ここで、Δλは波長λ0 における
子機と親機の波長差、ΔＰ，ΔＰ’はそれぞれ親機と子
機の１ステップ当たりの波長である。
ば、 λ’i ＝λi ＋（λi −λ0 ）（ΔＰ’−ΔＰ）＋Δλ ……（１０） なる関係式を用いる。ここで、Δλは波長λ0 における
子機と親機の波長差、ΔＰ，ΔＰ’はそれぞれ親機と子
機の１ステップ当たりの波長である。
【００４６】そして、スペクトル群Ｓ1 （λ’i ），Ｓ
2 （λ’i ），…，Ｓj （λ’i ）に基づいて校正行列
を取得し、この校正行列を子機の校正行列として用いる
のである。
2 （λ’i ），…，Ｓj （λ’i ）に基づいて校正行列
を取得し、この校正行列を子機の校正行列として用いる
のである。
【００４７】この第２の発明においても、上述した第１
の発明と同様の効果が得られるので、その説明は省略す
る。
の発明と同様の効果が得られるので、その説明は省略す
る。
【００４８】
【発明の効果】以上説明したように、上記いずれの発明
においても次のような効果が得られる。 ａ 変量の測定精度がよくなり、特に、従来法１に比べ
て変量の測定精度が向上する。 ｂ 校正行列を得るため、変量を意図的に変えた多数個
のスペクトルを個々の子機において取得する必要がな
く、データの移し替えなどに時間がかからないので、従
来法２に比べて大幅に製造時間を短縮できる。 ｃ 子機または親機の分光分析計が波長がずれるという
故障を起こした場合であっても、その波長のずれ分に相
当する校正行列に置き換えを行うことにより、故障を容
易に直すことができる。
においても次のような効果が得られる。 ａ 変量の測定精度がよくなり、特に、従来法１に比べ
て変量の測定精度が向上する。 ｂ 校正行列を得るため、変量を意図的に変えた多数個
のスペクトルを個々の子機において取得する必要がな
く、データの移し替えなどに時間がかからないので、従
来法２に比べて大幅に製造時間を短縮できる。 ｃ 子機または親機の分光分析計が波長がずれるという
故障を起こした場合であっても、その波長のずれ分に相
当する校正行列に置き換えを行うことにより、故障を容
易に直すことができる。
【図１】この発明の分光分析計における多変量解析方法
を説明するための図である。
を説明するための図である。
【図２】前記多変量解析方法が適用される装置の概略構
成を示す図である。
成を示す図である。
【図３】（Ａ）は親機のスペクトルの一例を示す図、
（Ｂ）は（Ａ）に示した親機のスペクトルに対して波長
が平行にシフトしている子機のスペクトルの例を示す
図、（Ｃ）は（Ａ）に示した親機のスペクトルに対して
波長スパンが異なる子機のスペクトルの例を示す図であ
る。
（Ｂ）は（Ａ）に示した親機のスペクトルに対して波長
が平行にシフトしている子機のスペクトルの例を示す
図、（Ｃ）は（Ａ）に示した親機のスペクトルに対して
波長スパンが異なる子機のスペクトルの例を示す図であ
る。
Ｘ…分光分析計、Ｓ1 （λi ），Ｓ2 （λi ），…，Ｓ
j （λi ）…スペクトル群、Ｓ1 （λi ＋Δλ），Ｓ2
（λi ＋Δλ），…，Ｓj （λi ＋Δλ）…波長シフト
したスペクトル群。
j （λi ）…スペクトル群、Ｓ1 （λi ＋Δλ），Ｓ2
（λi ＋Δλ），…，Ｓj （λi ＋Δλ）…波長シフト
したスペクトル群。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平８−152400（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−15134（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/00 - 21/01 G01N 21/17 - 21/61 G01J 3/00 - 3/52 実用ファイル（ＰＡＴＯＬＩＳ) 特許ファイル（ＰＡＴＯＬＩＳ)
Claims (2)
- 【請求項１】 校正行列が既知である分光分析計（以
下、親機という）と、この親機によって得られるスペク
トルの波長とわずかにずれた波長のスペクトルが得ら
れ、校正行列が未知である分光分析計（以下、子機とい
う）があるとき、親機において変量を意図的に変化させ
て測定したスペクトル群に対し、前記波長がずれた分だ
け波長シフトしたスペクトル群をデータ補間によって求
め、この演算結果に多変量解析法を適用することにより
求めた校正行列を、子機で測定したスペクトルと乗算す
ることにより変量を得るようにしたことを特徴とする分
光分析計における多変量解析方法。 - 【請求項２】 校正行列が既知である分光分析計（以
下、親機という）と、この親機によって得られるスペク
トルの波長スパンとわずかに波長スパンが異なり、校正
行列が未知である分光分析計（以下、子機という）があ
るとき、親機において変量を意図的に変化させて測定し
たスペクトル群を用いて、子機の波長スパンに一致する
ようなスペクトル群をデータ補間によって求め、この演
算結果に多変量解析法を適用することにより求めた校正
行列を、子機で測定したスペクトルと乗算することによ
り変量を得るようにしたことを特徴とする分光分析計に
おける多変量解析方法。
Priority Applications (1)
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| JP33595295A JP3326318B2 (ja) | 1995-11-29 | 1995-11-29 | 分光分析計における多変量解析方法 |
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| JP33595295A JP3326318B2 (ja) | 1995-11-29 | 1995-11-29 | 分光分析計における多変量解析方法 |
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| JPH09152399A JPH09152399A (ja) | 1997-06-10 |
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1995
- 1995-11-29 JP JP33595295A patent/JP3326318B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JPH09152399A (ja) | 1997-06-10 |
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