JP3325303B2 - Switch device with protection function - Google Patents

Switch device with protection function

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JP3325303B2
JP3325303B2 JP25030892A JP25030892A JP3325303B2 JP 3325303 B2 JP3325303 B2 JP 3325303B2 JP 25030892 A JP25030892 A JP 25030892A JP 25030892 A JP25030892 A JP 25030892A JP 3325303 B2 JP3325303 B2 JP 3325303B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、電圧駆動形のパワート
ランジスタを用いたスイッチ装置に係り、特に、短絡等
による過電流を高速に検出して限流する保護機能を備え
たスイッチ装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a switch device using a voltage-driven power transistor, and more particularly to a switch device having a protection function of detecting an overcurrent due to a short circuit or the like at a high speed and limiting the current.

【0002】[0002]

【従来の技術】電圧駆動のパワートランジスタとしてI
GBT(Insulated Gate Bipolar Transiston )が広く
知られている。IGBTはオン電圧が低く、MOSゲー
ト構造で駆動電力が少なく、しかも比較的高速にスイッ
チングできることから急速に応用分野が広がっている。
オン電圧とスイッチング速度の特性は背反関係にあり、
トレードオフを改良し、より高性能な素子となるよう日
夜研究が重ねられている。
2. Description of the Related Art As a voltage-driven power transistor, I
GBT (Insulated Gate Bipolar Transiston) is widely known. Since the IGBT has a low on-voltage, a MOS gate structure, a small driving power, and a relatively high-speed switching, the application field is rapidly expanding.
The characteristics of on-voltage and switching speed are in conflict,
Research is being conducted day and night to improve the trade-off and achieve higher performance devices.

【0003】図5(a)の特性Cは、これらの研究から
予測される第3世代以降のIGBTのオン電圧特性で、
第1世代のIGBTのオン電圧特性Aと比較して示した
ものである。現在のIGBTは第2世代で特性Bに示
す。なお、コレクタ電流Ic は、それぞれIGBTの定
格電流を100として百分率で示している。
[0005] The characteristic C in FIG. 5A is the on-voltage characteristic of the third and subsequent generation IGBTs predicted from these studies.
This is shown in comparison with the on-voltage characteristic A of the first generation IGBT. Current IGBTs are shown in characteristic B in the second generation. Incidentally, the collector current I c are respectively shown as a percentage of the rated current of the IGBT 100.

【0004】これらの特性から明らかなように、負荷短
絡等でコレクタ・エミッタ間電圧VCEが上昇すると定格
電流の数倍のコレクタ電流Ic が流れ、第1世代のIG
BTでは6〜8倍、第2世代のIGBTでは10〜12倍の
過電流が流れる。
[0004] As is apparent from these characteristics, when the collector-emitter voltage V CE rises a load short circuit or the like flows several times the collector current I c of the rated current, the first generation of IG
Overcurrent flows 6 to 8 times in the BT and 10 to 12 times in the second generation IGBT.

【0005】現在研究が進められている第3世代以降の
IGBTでは、DRAMクラスのμmオーダーのパター
ンとし、その他の改良を加えることにより、特性Cのよ
うに10数倍の過電流が流れる。このように大きな過電流
になると高速に限流しゃ断するのが困難になり素子の過
電流保護が困難になるという問題がある。以下、従来の
IGBTにおける負荷短絡時の保護について述べる。
[0005] In the IGBTs of the third and subsequent generations, which are currently under study, a pattern of the order of μm of a DRAM class and other improvements are applied, so that an overcurrent of more than ten times as shown by the characteristic C flows. When such a large overcurrent occurs, there is a problem that it is difficult to cut off the current at high speed, and it becomes difficult to protect the element from overcurrent. Hereinafter, protection of a conventional IGBT when a load is short-circuited will be described.

【0006】IGBTを用いた一般的な主回路構成を図
5(b)に示す。この装置は、IGBT21〜26で成るブ
リッジ形変換器(インバータ)により直流電圧源1の直
流電圧を交流電圧に変換して電動機3を駆動するもので
ある。このような装置において負荷(電動機)側の端子
間で短絡が発生すると正側と負側のIGBTを介して短
絡電流が流れる。また、同一アームの正側と負側のIG
BTに同時にオン信号(ノイズや誤動作による信号)が
入力された場合も同様に短絡電流が流れる。
FIG. 5B shows a general main circuit configuration using an IGBT. This device drives a motor 3 by converting a DC voltage of a DC voltage source 1 into an AC voltage by a bridge type converter (inverter) including IGBTs 21 to 26. In such a device, when a short circuit occurs between terminals on the load (motor) side, a short circuit current flows through the positive and negative IGBTs. Also, the positive and negative IGs of the same arm
Similarly, when an ON signal (a signal due to noise or malfunction) is input to the BT, a short-circuit current also flows.

【0007】このような短絡状態に耐え得るIGBTの
短絡耐量は、現在のIGBTでは、素子定格電圧の80%
の電圧において10〜20μsの時間であり、 7.5〜10μs
以内に過電流を検出して限流しゃ断する短絡保護が行な
われている。
The short-circuit withstand capability of an IGBT capable of withstanding such a short-circuit state is 80% of the element rated voltage in the current IGBT.
Time of 10 to 20 μs at a voltage of 7.5 to 10 μs
Short-circuit protection that detects overcurrent within the current limit and shuts off the current is performed.

【0008】図6は、コレクタ・エミッタ間電圧VCE
定の下で短絡時に流れるコレクタ電流Ic と耐量時間
(t1 )の関係を示す短絡耐量の特性図で、その試験回
路を一緒に示したものである。この特性から明らかなよ
うにIc とt1 は、ほぼパワー一定の関係を持ち、負荷
短絡等によりコレクタ電流Ic が増大すると耐量時間t
1 が短くなり高速な保護動作を必要とする。
[0008] Figure 6 is a characteristic diagram of a short-circuit tolerance showing the relationship between collector-emitter voltage V CE certain lower flows during a short circuit the collector current I c and tolerance time (t 1), shows the test circuit with It is a thing. I c and t 1 As is apparent from this characteristic has a substantially constant power relation, the collector current I c by a load short-circuit or the like is increased tolerance time t
1 becomes short and requires high-speed protection operation.

【0009】そこで負荷短絡等による過電流を検出した
ときIGBTのゲート電圧をしぼりIGBTのトランジ
スタ作用を利用して短絡電流を制限し、見かけ上の短絡
耐量時間を長くする方法が種々提案(特願昭60-92870、
特願平3-171484など)されている。
Therefore, various methods have been proposed to reduce the gate voltage of the IGBT and to limit the short-circuit current by utilizing the transistor function of the IGBT when an overcurrent due to a load short-circuit or the like is detected, and to lengthen the apparent short-circuit withstand time (Japanese Patent Application No. H10-163191). 60-92870,
Japanese Patent Application No. 3-171484).

【0010】図7(a)に示す回路は学会(平成4年電
気学会全国大会470)で発表されたもので主IGBT
4aの電流を検出する電流センスIGBT4bを設け、
特定電流以上になるとNLU回路50によりIGBTのゲ
ート電圧を低下させ短絡電流を抑制するものである。
The circuit shown in FIG. 7 (a) is a circuit which was announced at an academic meeting (National Institute of Electrical Engineers of Japan 470) and is a main IGBT.
4a, a current sense IGBT 4b for detecting the current of 4a is provided;
When the current exceeds a specific current, the NLU circuit 50 lowers the gate voltage of the IGBT to suppress the short-circuit current.

【0011】NLU回路50は図7(d)に示すように、
電流センスIGBT4bのエミッタ電流による抵抗52の
電圧降下がMOSFET54のゲートスレッショルド電圧
以上になるとゲート抵抗51を介してMOSFET54のド
レンに電流が流れIGBTのゲート電圧を低下させるよ
うに作用する。また、NLU回路50は図7(e)に示す
回路でもよく、この回路はMOSFET54をバイポーラ
トランジスタ55に置換えたものである。
As shown in FIG. 7D, the NLU circuit 50
When the voltage drop of the resistor 52 due to the emitter current of the current sense IGBT 4b exceeds the gate threshold voltage of the MOSFET 54, a current flows through the drain of the MOSFET 54 via the gate resistor 51 and acts to reduce the gate voltage of the IGBT. Also, the NLU circuit 50 may be a circuit shown in FIG. 7E, in which the MOSFET 54 is replaced with a bipolar transistor 55.

【0012】このような回路を構成すると過電流時にI
GBTのゲート電圧を低下させIGBTのオン抵抗を増
加させ、図7(c)に示すように短絡電流を制限するこ
とができ短絡耐量時間を図7(b)のように見かけ上長
くすることができる。
When such a circuit is constructed, I
By reducing the gate voltage of the GBT and increasing the on-resistance of the IGBT, the short-circuit current can be limited as shown in FIG. 7C, and the short-circuit withstand time can be made apparently long as shown in FIG. 7B. it can.

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】従来の図7の方法では
IGBTモジュールとしての短絡耐量は増加したが、次
のような問題がある。すなわち、短絡電流を 200%程度
に制限しているので過電流検出により短絡事故を検出す
ることが困難となる。
The conventional method of FIG. 7 has increased the short-circuit withstand capability of the IGBT module, but has the following problems. That is, since the short-circuit current is limited to about 200%, it is difficult to detect a short-circuit accident by detecting overcurrent.

【0014】また、IGBTのVCEがオン信号を加えて
も高いままであることを検出するなどの別の短絡事故検
出回路等により駆動信号をオフさせる回路を追加する必
要があり回路が複雑となる。
[0014] Another short-circuit fault detection circuit must be added to the circuit to turn off the driving signals by such circuits, such as to detect that V CE of the IGBT remains high added-on signal is complex Become.

【0015】また、ゲート抵抗51の値Rg により図7
(d)のFET54のドレン電流が同一でもゲート電圧が
異なるので、Rg の大きさにより図8のように電流制限
値ICLが変化する。従って、IGBTのスイッチングを
早くするためRg を小さくすると短絡電流制限値ICL
上昇し短絡耐量時間が短くなる欠点がある。
FIG. 7 shows the value Rg of the gate resistor 51.
Since the gate voltage is different even if the drain current of the FET 54 is the same, the current limit value ICL changes according to the magnitude of Rg as shown in FIG. Therefore, short-circuit current limit value by decreasing Rg I CL increases short-circuit tolerance time for fast switching of the IGBT has drawbacks shortened.

【0016】更に、IGBTを並列接続した場合に発振
を生じる問題がある。すなわち、各IGBTモジュール
の電流制限機能の動作レベルに差異があるとき、1ケの
IGBTの電流制限機能が動作すると、制限された電流
が他のIGBTに移り、そのIGBTの電流制限機能が
動作する。これを繰返して一種の発振状態を生じIGB
Tが劣化する危険がある。
Further, there is a problem that oscillation occurs when IGBTs are connected in parallel. That is, when there is a difference in the operation level of the current limiting function of each IGBT module, when the current limiting function of one IGBT operates, the limited current is transferred to another IGBT, and the current limiting function of the IGBT operates. . By repeating this, a kind of oscillation state is generated and IGB
There is a risk that T is deteriorated.

【0017】また、図7(a)に示す回路のIGBTの
電流制限機能の動作は極めて早い特徴を有しているが、
ダイオードを逆並列接続して使用するとき次のような問
題が生じる。すなわち、図9の回路に示すように負荷の
インダクタンス3Lから放電電流iDがダイオード21D
に流れている時IGBT24をオンすると図9の波形図に
示すようにIGBT24の電流Ic は立上りの部分で負荷
電流iDの 1.5〜2倍程度のピーク電流が流れる。この
電流波形の斜線部分はダイオード21Dのリカバリー電流
で、ダイオードの耐圧が高くなるほど増加し、温度上昇
と共に増加する特性を有している。電流制限値がこのピ
ーク電流より低いとIGBTのターンオン損失が著しく
増加する。このためiDをIGBTの定格電流まで使用
すると仮定するとピーク電流は約200 %程度となり電流
制限値はマージンを見て最低250%以上に設定する必要
があり、短絡耐量時間が短くなるという問題がある。ま
た、スイッチング速度を速くするためRg を小さくする
と500 〜 600%程度の電流制限値となることもあり保護
協調がとりにくいなどの欠点が存在する。
Although the operation of the current limiting function of the IGBT of the circuit shown in FIG.
When the diodes are used in anti-parallel connection, the following problems occur. That is, as shown in the circuit of FIG.
When turning on the IGBT24 when flowing a current I c of the IGBT24 as shown in the waveform diagram of Figure 9 flows peak current 1.5 to 2 times the load current iD the rising portion. The hatched portion of this current waveform is the recovery current of the diode 21D, which increases as the withstand voltage of the diode increases, and has a characteristic that increases as the temperature rises. If the current limit value is lower than this peak current, the turn-on loss of the IGBT increases significantly. For this reason, assuming that the iD is used up to the rated current of the IGBT, the peak current is about 200%, and the current limit value needs to be set to at least 250% or more in view of the margin. . Further, if Rg is reduced in order to increase the switching speed, the current limit value may be about 500 to 600%.

【0018】本発明は、上述した技術的背景の下でなさ
れたもので、その目的とするところは、オン電圧が小さ
く大きな短絡電流となるトランジスタの過電流を高速に
検出し限流しゃ断することにより高信頼度の保護機能を
備えたスイッチ装置を提供することにある。
The present invention has been made under the above-mentioned technical background, and an object of the present invention is to detect an overcurrent of a transistor having a small on-voltage and a large short-circuit current at a high speed to cut off current limiting. And a switch device having a highly reliable protection function.

【0019】[0019]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は次のような手段を設ける。
In order to achieve the above object, the present invention provides the following means.

【0020】[0020]

【0021】(1)駆動電圧に応じて主電流を制御する
ことの可能なトランジスタと、該トランジスタに並列接
続され前記主電流に対応した検出電圧を出力する電流検
出手段を備えた装置において、前記検出電圧が設定電圧
を越える範囲で前記検出電圧に比例した制御信号を出力
するレベル検出手段と、前記設定電圧を前記トランジス
タの温度上昇に伴って低下させる短絡耐量調整手段と、
前記制御信号により前記駆動電圧を調節して前記主電流
を制限制御する電流制御手段と、前記制御信号が出力さ
れたとき異常信号を出力し、この異常信号が所定時間継
続して出力されたとき前記駆動電圧をオフ状態に制御し
て前記主電流を零にする駆動指令制御手段を設ける。
(1) Main current is controlled according to drive voltage
And a parallel connection to the transistor
And a current detector for outputting a detection voltage corresponding to the main current.
The detection voltage is equal to a set voltage.
Outputs a control signal proportional to the detection voltage in the range exceeding
Level detecting means for detecting the set voltage, and
Means for adjusting the short-circuit withstand capability that decreases with increasing temperature of the
Adjusting the drive voltage according to the control signal to adjust the main current
Current control means for limiting and controlling the
An abnormal signal is output when the alarm signal is
When the drive voltage is continuously output, the drive voltage is controlled to the off state.
Drive command control means for setting the main current to zero.

【0022】(2)駆動電圧に応じて主電流を制御する
ことの可能なトランジスタと、該トランジスタに並列接
続され前記主電流に対応した検出電圧を出力する電流検
出手段を備えた装置において、前記検出電圧が設定電圧
を越える範囲で前記検出電圧に比例した制御信号を出力
するレベル検出手段と、前記制御信号により前記駆動電
圧を調節して前記主電流を制限制御する電流制御手段
と、前記制御信号が第1の所定時間継続して出力された
とき、前記駆動電圧をゼロよりも稍高い値に向かって徐
々に低下させる電流しゃ断手段と、前記制御信号が第1
の所定時間よりも長い第2の所定時間継続して出力され
たとき、前記駆動電圧をオフ状態に制御する駆動指令制
御手段とを設ける。
(2) Main current is controlled according to drive voltage
And a parallel connection to the transistor
And a current detector for outputting a detection voltage corresponding to the main current.
The detection voltage is equal to a set voltage.
Outputs a control signal proportional to the detection voltage in the range exceeding
Level detecting means for detecting the drive electric power according to the control signal.
Current control means for regulating the main current by regulating the pressure
And the control signal is output continuously for a first predetermined time.
When the drive voltage is gradually increased toward a value slightly higher than zero.
A current interrupting means for decreasing the current and the control signal
Output for a second predetermined time longer than the predetermined time
When the drive voltage is turned off,
Control means are provided.

【0023】[0023]

【0024】[0024]

【0025】[0025]

【作用】[Action] (1)トランジスタに主電流が流れると、電流(1) When the main current flows through the transistor, the current
検出手段は主電流に比例した検出電圧を出力する。このThe detection means outputs a detection voltage proportional to the main current. this
検出電圧がレベル検出手段の設定電圧を超えるとその偏If the detection voltage exceeds the voltage set by the level detection means,
差値に比例した制御信号が出力される。このとき、前記A control signal proportional to the difference value is output. At this time,
設定電圧をトランジスタの温度が上昇すると低下するよThe set voltage decreases as the transistor temperature rises.
うに設定することにより、電流制限値が低下し、温度がSetting lowers the current limit and lowers the temperature.
上昇しても確実な過電流保護が可能となる。Even if it rises, reliable overcurrent protection can be performed.

【0026】(2)トランジスタに過電流が流れ電流制
限動作が所定時間継続したとき、レベル検出手段から制
御信号が所定時間継続して出力される。このとき、電流
しゃ断手段は駆動電圧をゼロよりも稍高い値に向かって
徐々に低下させて主電流を零にするので、サージ電圧を
抑制しながら過電流をしゃ断しトランジスタの過電圧保
護も同時に行うことが可能となる。
(2) When an overcurrent flows through the transistor and the current limiting operation continues for a predetermined time, a control signal is continuously output from the level detecting means for a predetermined time. At this time, the current cutoff means gradually reduces the drive voltage to a value slightly higher than zero to make the main current zero, so that the overcurrent is cut off while suppressing the surge voltage and the overvoltage of the transistor is reduced. Protection can be performed at the same time .

【0027】[0027]

【実施例】本発明の実施例を図1に示す。FIG. 1 shows an embodiment of the present invention.

【0028】図1(a)において、IGBT4は主電流
を制御するIGBT4aと電流検出用のセンスIGBT
4bで成り、それぞれのゲート、コレクタは並列接続さ
れ、エミッタはそれぞれ独立した端子としている。アン
ド回路11は駆動信号S0 に応じてトランジスタ12をオン
・オフする。フォトカプラ13はトランジスタ12のオン・
オフにより発光ダイオードに電流が流され絶縁されたゲ
ート電源19, 20で動作するフォトトランジスタを有し、
トランジスタ12のオン・オフに応じてコンプリメント接
続されたトランジスタ14, 15をオン・オフさせる。その
出力電圧は抵抗16及び抵抗34とコンデンサ35の直列回路
を介してコンプリメント接続されたトランジスタ17, 18
のゲートに加えられて電力増幅され、この出力電圧VG
がIGBTの駆動電圧として抵抗51を介してIGBT4
a,4bのゲートに加えられる。トランジスタ55は、セ
ンスIGBT4bのエミッタ電流I1 による抵抗52の電
圧降下がベース・エミッタ間のスレッショルド電圧を越
えたときベースに電流が流れ始め、図1(b)に示すよ
うに偏差値に比例した電流I2 がコレクタに流れる。こ
の電流I2 はコンプリメント接続されたトランジスタ1
7, 18のベース電圧から抵抗36、フォトカプラ32、ダイ
オード31を介して流れる。フォトカプラ32は電流I2
流れたとき絶縁された制御電源で動作するフォトトラン
ジスタを有し、異常信号EGを出力する。タイマー33は
常時“1”の信号LKを出力し、異常信号EGが所定時
間継続して出力されたときタイムアップして出力信号L
Kを“0”にする。
In FIG. 1A, an IGBT 4 includes an IGBT 4a for controlling a main current and a sense IGBT 4 for detecting a current.
4b, each gate and collector are connected in parallel, and each emitter is an independent terminal. AND circuit 11 turns on and off the transistor 12 in response to the drive signal S 0. The photocoupler 13 turns on the transistor 12
With a phototransistor that operates with a gate power supply 19, 20 that is insulated when a current flows through the light emitting diode when turned off,
The transistors 14 and 15 connected in a complementary manner are turned on / off in accordance with the turning on / off of the transistor 12. Its output voltage is complementarily connected to transistors 17, 18 via a series circuit of a resistor 16 and a resistor 34 and a capacitor 35.
Of the output voltage V G
Is used as the drive voltage of the IGBT via the resistor 51 and the IGBT 4
a, 4b are added to the gates. Transistor 55, current starts to flow to the base when the voltage drop across the resistor 52 due to the emitter current I 1 of the sense IGBT4b exceeds the threshold voltage between the base and emitter, in proportion to the deviation value as shown in FIG. 1 (b) current I 2 flows through the collector. This current I 2 is supplied to the complementary connected transistor 1
It flows from the base voltages 7 and 18 via the resistor 36, the photocoupler 32, and the diode 31. Photocoupler 32 has a photo-transistor operating in control power supply which is insulated when the current I 2 flows, and outputs an abnormality signal EG. The timer 33 always outputs a signal LK of "1". When the abnormal signal EG is continuously output for a predetermined time, the timer 33 times out and the output signal L
K is set to “0”.

【0029】上記構成において、駆動指令S0 が“1”
になると、アンド回路11の出力によりトランジスタ12が
オンしてフォトカプラ13を介してコンプリメント接続さ
れたトランジスタ14がオンする。これによりゲート電源
19の電圧が抵抗16及び抵抗34とコンデンサ35の直列回路
を介しコンプリメント接続されたトランジスタ17, 18の
ゲートに加えられ、電力増幅され抵抗51を介してIGB
T4a,4bのゲートに加えられIGBT4a,4bは
共にオンする。また、駆動指令S0 が“0”になると、
トランジスタ12がオフしてフォトカプラ13の出力により
トランジスタ14がオフ、トランジスタ15がオンし、トラ
ンジスタ17をオフ、トランジスタ18をオンさせIGBT
4a,4bのゲートに負のバイアス電圧を加え、IGB
T4a,4bは共にオフする。この場合、抵抗34とコン
デンサ35は進み回路として作用しゲート電圧を高速で変
化させるように作用する。
In the above configuration, the drive command S 0 is “1”.
Then, the transistor 12 is turned on by the output of the AND circuit 11, and the transistor 14 complementally connected via the photocoupler 13 is turned on. This allows gate power
The voltage of 19 is applied to the gates of the transistors 17 and 18 connected in a complementary manner through a series circuit of the resistor 16 and the resistor 34 and the capacitor 35, and the power is amplified and the IGB is
The IGBTs 4a and 4b are both turned on by being applied to the gates of T4a and 4b. When the drive command S 0 becomes “0”,
The transistor 12 is turned off, the transistor 14 is turned off by the output of the photocoupler 13, the transistor 15 is turned on, the transistor 17 is turned off, the transistor 18 is turned on, and the IGBT is turned on.
A negative bias voltage is applied to the gates of
T4a and 4b are both turned off. In this case, the resistor 34 and the capacitor 35 act as a lead circuit and act to change the gate voltage at high speed.

【0030】駆動指令S0 が“1”の状態でIGBT4
a,4bがオンしているとき、IGBT4aに過電流が
流れると、IGBT4bのエミッタ電流I1 が図1
(b)に示すa点(トランジスタ55のベース・エミッタ
間スレッショルド電圧)を越えトランジスタ55のコレク
タに電流I2 が流れる。この電流I2 による抵抗16の電
圧降下よりコンプリメント接続されたトランジスタ17,
18のゲート電圧が低下しIGBT4a,4bのゲート電
圧が低下する。
When the drive command S 0 is “1”, the IGBT 4
When a, 4b is turned on, an overcurrent flows to the IGBT 4 a, the emitter current I 1 of IGBT4b Figure 1
(B) to indicate a point to the collector of the over transistor 55 (the base-emitter threshold voltage of transistor 55) is a current I 2 flows. From the voltage drop of the resistor 16 due to the current I 2, the complementary connected transistor 17,
The gate voltage of the IGBTs 4a and 4b is reduced.

【0031】図2(a)はIGBTの特性図で、ゲート
電圧をパラメータとしてコレクタ・エミッタ間電圧VCE
とコレクタ電流Ic の関係を示した図である。この図に
示すようにIGBTはゲート電圧に応じてコレクタ電流
が変化し、通常はオン電圧を小さくするために大きなゲ
ート電圧でオンするので負荷短絡等が生じると大きな過
電流が流れる。
FIG. 2A is a characteristic diagram of the IGBT, in which the collector-emitter voltage V CE is set with the gate voltage as a parameter .
And is a diagram showing the relationship between the collector current I c. As shown in this figure, the collector current of the IGBT changes in accordance with the gate voltage, and the IGBT is normally turned on with a large gate voltage in order to reduce the ON voltage, so that a large overcurrent flows when a load short circuit or the like occurs.

【0032】しかし、本実施例では前述したように、I
GBTに過電流が流れるとIGBT4a,4bのゲート
電圧が低下してIGBT4aのオン電圧が上昇し過電流
は所定範囲内に抑制される。
However, in this embodiment, as described above,
When an overcurrent flows through the GBT, the gate voltages of the IGBTs 4a and 4b decrease, the ON voltage of the IGBT 4a increases, and the overcurrent is suppressed within a predetermined range.

【0033】図1(b)において、IGBT4aの電流
が電流制限値になるゲート電圧まで低下させる電流I2
をI2Lとし、このI2Lの電流を流すIGBT4bの電流
1をb点とすると電流制御ループにより電流I1 はb
点に保たれるように制御される。
In FIG. 1 (b), the current I 2 for reducing the current of the IGBT 4a to the gate voltage at which the current limit value is reached.
Was a I 2L, current I 1 by the current control loop when the current I 1 of IGBT4b passing a current of I 2L and b point b
It is controlled to be kept at the point.

【0034】このように電流制限動作を開始すると電流
2Lによってフォトカプラ32から異常信号EGが出力さ
れ、これによりタイマー33がタイムカウントを開始す
る。電流制限動作が所定時間継続して行われるとタイマ
ー33がカウントアップして出力信号LKを“0”とし、
アンド回路11のゲートを閉じ駆動指令S0 が“1”の状
態であってもトランジスタ12を強制的にオフにする。こ
れによりIGBT4a,4bのゲート電圧は負にバイア
スされ過電流はしゃ断される。
When the current limiting operation is started as described above, the abnormal signal EG is output from the photocoupler 32 by the current I2L , whereby the timer 33 starts time counting. When the current limiting operation is continuously performed for a predetermined time, the timer 33 counts up and sets the output signal LK to “0”,
Also driving command S 0 Close gate of the AND circuit 11 is in a state of "1" to force off the transistor 12. As a result, the gate voltages of the IGBTs 4a and 4b are negatively biased, and the overcurrent is cut off.

【0035】図2(b)は負荷が短絡された状態におい
て駆動指令S0 を“1”にした場合のタイムチャートを
示した図である。時刻t1 でS0 が“0”から“1”に
なるとゲート電圧VG が負から正に変化しIGBT4
a,4bがオンしてIGBT4aには短絡電流が流れ始
めIGBT4bのエミッタ電流I1 は急速に立上りトラ
ンジスタ55のコレクタに電流I2 が流れ電流制限動作を
開始する。この電流制限動作によりゲート電圧VG は時
刻t2 で低い値に制御され電流I1 が所定値に制御され
る。この状態が所定時間継続して時刻t3 になるとタイ
マー33の出力信号LKが“1”から“0”になりゲート
電圧VG は負に戻されIGBT4a,4bの電流は零に
なり電流I1 は零になる。
[0035] FIG. 2 (b) is a diagram load is a time chart in the case of a "1" to drive command S 0 in a state of being short-circuited. At time t 1 S 0 is "0" to "1" becomes the gate voltage V G is varied from negative to positive IGBT4
When a and 4b are turned on, a short-circuit current starts flowing in the IGBT 4a, and the emitter current I 1 of the IGBT 4b rises rapidly, and a current I 2 flows to the collector of the transistor 55 to start a current limiting operation. The gate voltage V G by the current limiting operation current I 1 is controlled to a low value at time t 2 is controlled to a predetermined value. Gate voltage V G this state becomes "0" from "1" output signal LK of timer 33 at time t 3 continuously for a predetermined time is returned to a negative IGBT 4 a, 4b of the current becomes zero current I 1 Becomes zero.

【0036】なお、電流制限動作を行うとき、抵抗34と
コンデンサ35は遅れ回路として作用し、トランジスタ55
のゲイン(ΔI2 /ΔI1 )を大きくし図1(b)のa
−b間を狭くしたときに発振を防ぎ、安定した動作を行
わせると共に、図2(b)に示すようにゲート電圧VG
の低下する時刻t2 を遅らせる作用を行う。この遅れ回
路及びゲート抵抗51とIGBT4a,4bのゲート・エ
ミッタ間の容量による遅れ回路の作用により電流I1
電流制限値に達するまでオーバーシュートする。このオ
ーバーシュートする電流I1 は、IGBTを実際の回路
に適用する際に好都合の作用を行う。すなわち、前述し
た図9の回路のダイオード21Dに流れるリカバリー電流
による増加分(斜線部)を補う作用を行う。このように
本実施例では電流制限制御系のオーバーシュートを積極
的に利用することにより電流制限値を低く設定すること
ができる。なお、IGBTと逆並列に接続するダイオー
ドのリカバリー電流が少ないときは図1の抵抗34、コン
デンサ35を省くことが可能である。
When performing the current limiting operation, the resistor 34 and the capacitor 35 act as a delay circuit, and the transistor 55
The gain (ΔI 2 / ΔI 1 ) of FIG.
When the interval between −b and −b is narrowed, oscillation is prevented, a stable operation is performed, and the gate voltage V G as shown in FIG.
Carry out the action to delay the time t 2 to drop in. This delay circuit and the gate resistor 51 and the IGBT 4 a, the current I 1 by the action of the delay circuit due to the capacitance between 4b of the gate-emitter overshoots until the current limit is reached. This overshoot current I 1 has a beneficial effect when applying the IGBT to an actual circuit. That is, the circuit compensates for the increase (shaded area) caused by the recovery current flowing through the diode 21D in the circuit of FIG. As described above, in this embodiment, the current limit value can be set low by actively utilizing the overshoot of the current limit control system. When the recovery current of the diode connected in anti-parallel with the IGBT is small, the resistor 34 and the capacitor 35 in FIG. 1 can be omitted.

【0037】また、IGBTの温度Tc と短絡耐量時間
tの間には図3(a)のような関係にあり、温度が高く
なると耐量時間が短くなる。例えばTc が 125℃の場合
は25℃の場合に比較して耐量時間はほぼ半減する。
FIG. 3A shows a relationship between the temperature Tc of the IGBT and the short-circuit withstand time t, and the higher the temperature, the shorter the withstand time. For example, when T c is 125 ° C., the withstand time is reduced by almost half compared to the case of 25 ° C.

【0038】そこでトランジスタ55のスレッショルド電
圧が温度に応じて低下する特性を利用し、IGBTの温
度に近い場所(例えばエミッタのボンディング部が望ま
しいが少し離れた絶縁パット部でもよい)にバイポーラ
トランジスタ55を配設することにより図3(b)に示す
ように短絡電流(電流制限値)をIGBTの温度上昇に
伴って低下させ、見かけ上の短絡耐量時間を延ばすこと
ができる。図3(c)はトランジスタ55としてMOSF
ETを用いた場合を示したもので温度の影響を受けず一
定の電流となる。しかし、この場合においても抵抗52を
IGBTの温度に近い場所に配設し、正の温係数のもの
を使用して図3(b)のような特性とすることが可能で
ある。
Therefore, utilizing the characteristic that the threshold voltage of the transistor 55 decreases with the temperature, the bipolar transistor 55 is placed in a place close to the temperature of the IGBT (for example, a bonding part of the emitter is desirable, but an insulating pad part slightly separated may be used). By arranging, as shown in FIG. 3B, the short-circuit current (current limit value) can be reduced as the temperature of the IGBT rises, and the apparent short-circuit withstand time can be extended. FIG. 3C shows a MOSF as the transistor 55.
This shows a case where ET is used, and the current is constant without being affected by temperature. However, even in this case, it is possible to arrange the resistor 52 at a location close to the temperature of the IGBT and use a resistor having a positive temperature coefficient to obtain the characteristic shown in FIG.

【0039】なお、IGBT4aとIGBT4bをそれ
ぞれ別のチップで構成する場合、IGBT4bのゲート
電圧は抵抗52の電圧降下の分だけ低くなり、IGBT4
aに流れる主電流とIGBT4bに流れる検出電流との
比例関係が得られない場合がある。このような場合、I
GBT4bのゲートのスレッショルド電圧を電流制限が
動作するときの抵抗52の電圧降下に見合った分だけ低く
設定して、電流制限が動作する範囲において主電流と検
出電流の比例関係が成立するようにしもよい。本発明の
第2実施例を図4に示す。図4(a)は要部構成を示し
た図で、図4(b)はその作用を説明するための波形図
である。
When the IGBT 4a and the IGBT 4b are formed of different chips, the gate voltage of the IGBT 4b is reduced by the voltage drop of the resistor 52, and the IGBT 4b is turned off.
In some cases, a proportional relationship between the main current flowing through the a and the detection current flowing through the IGBT 4b cannot be obtained. In such a case, I
The threshold voltage of the gate of the GBT 4b may be set lower by an amount corresponding to the voltage drop of the resistor 52 when the current limit operates, so that a proportional relationship between the main current and the detected current is established in a range where the current limit operates. Good. FIG. 4 shows a second embodiment of the present invention. FIG. 4A is a diagram showing a configuration of a main part, and FIG. 4B is a waveform diagram for explaining the operation.

【0040】IGBTの負荷が短絡された状態において
駆動指令が与えられ時刻t1 でゲート電圧VG が負から
正になるとIGBTに短絡電流が流れ、短絡電流に比例
した検出電流I1 が流れる。これによりトランジスタ55
のコレクタにダイオード31、ゼナーダイオード44を介し
て電流I2 が流れると抵抗16に電圧降下が生じ時刻t2
でゲート電圧VG は短絡電流を電流制限値に抑制する値
まで低下する。また、抵抗37, 38を介して電流が流れ電
流制限の動作開始と同時にトランジスタ39がオンしてタ
イムディレイ回路40のタイムカウントを開始させる。所
定時間経過後の時刻t3 でタイムディレイ回路40から制
御信号cが出力され抵抗41を介してMOSFET43のゲ
ートに正の電圧が加えられる。MOSFET43のゲート
にはコンデンサ42が備えられ、そのゲート電圧は遅れを
持って立上り時刻t4 でMOSFET43は徐々に導通を
開始し、IGBTのゲート電圧VG をゼロより稍高い値
に向かって徐々に低下させる。これによりIGBTの電
流は徐々に減少して零になりその検出電流I1 も図示の
ように徐々に減少して零となる。フォトカプラ32はMO
SFET43に流れる電流により作動して異常信号EGを
出力する。この信号EGにより駆動指令の出力を中止さ
せ時刻t5 でゲート電圧VG は負にバイアスされる。こ
の第2実施例によれば過電流が所定時間継続して流れた
後、徐々に減少させるのでサージ電圧を低い値とするこ
とができる。なおゼナーダイオード44はゲート電圧を下
げすぎないようにリミットするためのもので抵抗で代替
してもよく省略することも可能である。また、オーバー
シュート量を調節するための遅れ回路はトランジスタ55
の後段に増幅回路等を設けてその部分に追加することが
できる。
The gate voltage V G at time t 1 the drive command is given in a state in which the load is short-circuited of the IGBT becomes positive when the short-circuit current flows in the IGBT from the negative, the detected current I 1 flows in proportion to the short-circuit current. This allows transistor 55
Diode 31 to the collector of the time t 2 the voltage drop in the resistor 16 flows through current I 2 through the zener diode 44 is generated
In the gate voltage V G is reduced to suppress value circuit current to the current limit value. Further, a current flows through the resistors 37 and 38, and simultaneously with the start of the current limiting operation, the transistor 39 is turned on to start the time count of the time delay circuit 40. At time t 3 after a lapse of a predetermined time, the control signal c is output from the time delay circuit 40, and a positive voltage is applied to the gate of the MOSFET 43 via the resistor 41. Capacitor 42 to the gate of the MOSFET43 is provided, the gate voltage thereof at the rising time t 4 with a delay MOSFET43 gradually begins to conduct, gradually the gate voltage V G of the IGBT to稍高have values from zero Lower. Thus IGBT current gradually decreases and becomes zero the detected current I 1 also becomes gradually reduced to zero as shown. Photocoupler 32 is MO
It operates by the current flowing through the SFET 43 and outputs an abnormal signal EG. Gate voltage V G at time t 5 stops the output of the drive command by the signal EG is negatively biased. According to the second embodiment, since the overcurrent continuously flows for a predetermined time and then gradually decreases, the surge voltage can be set to a low value. Note that the zener diode 44 limits the gate voltage so as not to be excessively lowered, and may be replaced with a resistor or omitted. The delay circuit for adjusting the overshoot amount is a transistor 55.
An amplification circuit or the like can be provided at the subsequent stage and added to that part.

【0041】また、本発明は、IGBT4a,4bと、
トランジスタ55及び抵抗52, 56で成るレベル検出部を1
つのパッケージ内に収納したIGBTモジュールとして
構成することで主回路構成の自由度の大きい使い勝手の
良いスイッチ装置とすることができる。すなわち、この
IGBTモジュールを並列接続して使用する場合に最も
早く動作するレベル検出部の出力信号により並列接続し
た全てのIGBTのゲート電圧を抑制して過電流保護す
ることが可能になり、大容量化した場合でも容易に過電
流保護を行うことが可能となる。
The present invention also relates to IGBTs 4a and 4b,
One level detector consisting of transistor 55 and resistors 52 and 56
By configuring as an IGBT module housed in one package, an easy-to-use switch device with a large degree of freedom in the main circuit configuration can be provided. That is, when the IGBT modules are connected in parallel and used, the gate signals of all the IGBTs connected in parallel can be suppressed by the output signal of the level detection section that operates fastest, and overcurrent protection can be performed. Thus, overcurrent protection can be easily performed.

【0042】[0042]

【発明の効果】本発明の保護機能を備えたスイッチ装置
によれば、レベル検出手段の設定電圧をトランジスタの
温度が上昇すると低下するように設定することにより、
電流制限値が低下し、温度が上昇しても確実な過電流保
護を行うことができる。
According to the switch device having the protection function of the present invention, the set voltage of the level detecting means is set to the level of the transistor.
By setting it to decrease as the temperature rises,
Even if the current limit value decreases and the temperature rises, reliable overcurrent
Protection.

【0043】また、電流しゃ断手段は駆動電圧をゼロよ
りも稍高い値に向かって徐々に低下させて主電流を零に
することにより、過電流をしゃ断するときのサージ電圧
を抑制することができるので、更に信頼性の高い保護機
能を備えたスイッチ装置を提供することができる。
Further , the current cutoff means reduces the drive voltage to zero.
To a slightly higher value to reduce the main current to zero.
The surge voltage when interrupting the overcurrent.
More reliable protection device
A switch device having a function can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の保護機能を備えたスイッチ装置の第1
実施例を示す図で(a)はその構成図(b)は要部の特
性図
FIG. 1 shows a first example of a switch device having a protection function according to the present invention.
FIG. 4A is a diagram showing an embodiment, in which FIG.

【図2】上記第1実施例の作用を説明するための図で
(a)はIGBTの特性図(b)は動作波形図
FIGS. 2A and 2B are diagrams for explaining the operation of the first embodiment, wherein FIG. 2A is a characteristic diagram of an IGBT and FIG.

【図3】上記第1実施例の他の作用を説明するための図
で(a)はIGBTの特性図(b)(c)は電流波形図
3A and 3B are diagrams for explaining another operation of the first embodiment, wherein FIG. 3A is a characteristic diagram of the IGBT, and FIGS. 3B and 3C are current waveform diagrams.

【図4】本発明の第2実施例を示す図で(a)はその要
部構成図(b)は動作波形図
FIGS. 4A and 4B are diagrams showing a second embodiment of the present invention, wherein FIG. 4A is a main part configuration diagram, and FIG.

【図5】技術的背景を説明するための図で(a)はIG
BTの特性図(b)はIGBTが使用される一般的な主
回路構成図
5A and 5B are diagrams for explaining the technical background, and FIG.
The characteristic diagram (b) of the BT is a general main circuit configuration diagram in which the IGBT is used.

【図6】IGBTの過電流に対する耐量時間を示す特性
図で、その試験回路を一緒に示している。
FIG. 6 is a characteristic diagram showing a withstand time with respect to an overcurrent of the IGBT, and also shows a test circuit thereof.

【図7】従来の過電流保護機能を備えたIGBTを示す
図で(a)はその要部構成図(b)は負荷短絡耐量分布
図(c)は負荷短絡試験波形図(d)(e)は要部(N
LU)の具体的構成図
7A and 7B are diagrams showing a conventional IGBT having an overcurrent protection function, in which FIG. 7A is a main part configuration diagram, FIG. 7B is a load short-circuit tolerance distribution diagram, FIG. 7C is a load short-circuit test waveform diagram, and FIG. ) Is the main part (N
LU)

【図8】上記従来構成の問題点を説明するための特性図FIG. 8 is a characteristic diagram for explaining a problem of the conventional configuration.

【図9】IGBTを使用した主回路の動作上における問
題を説明するための主回路要部構成図と動作波形図を一
緒に示した図
FIG. 9 is a diagram showing a main circuit main part configuration diagram and an operation waveform diagram for explaining a problem in operation of a main circuit using an IGBT;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

4…IGBT、4a…主IGBT、4b…センスIGB
T、11…アンド回路、12,14,15,17,18,39,55…トランジ
スタ、13,32 …フォトカプラ、16,34,36,37,38,41,51,5
2,56…抵抗、19,20 …ゲート電源、31…ダイオード、33
…タイマー、35…コンデンサ、43…MOSFET、44…
ゼナーダイオード。
4 IGBT, 4a Main IGBT, 4b Sense IGB
T, 11 ... AND circuit, 12, 14, 15, 17, 18, 39, 55 ... Transistor, 13, 32 ... Photocoupler, 16, 34, 36, 37, 38, 41, 51, 5
2,56 ... resistance, 19, 20 ... gate power supply, 31 ... diode, 33
... Timer, 35 ... Capacitor, 43 ... MOSFET, 44 ...
Zener diode.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 秀島 誠 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株式会社東芝 多摩川工場内 (56)参考文献 特開 平3−207214(JP,A) 特開 昭63−229757(JP,A) 特開 平2−226808(JP,A) 特開 平4−96618(JP,A) 特開 平4−236122(JP,A) 特開 平3−183209(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H02H 3/08 - 3/253 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Makoto Hideshima 1, Komukai Toshiba-cho, Saiwai-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa Prefecture Inside the Tamagawa Plant, Toshiba Corporation (56) References JP-A-3-207214 (JP, A) JP-A-3-207214 JP-A-62-229757 (JP, A) JP-A-2-226808 (JP, A) JP-A-4-96618 (JP, A) JP-A-4-236122 (JP, A) JP-A-3-183209 (JP , A) (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) H02H 3/08-3/253

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 駆動電圧に応じて主電流を制御すること
の可能なトランジスタと、該トランジスタに並列接続さ
前記主電流に対応した検出電圧を出力する電流検出手
段を備えた装置において、前記検出電圧が設定電圧を越
える範囲で前記検出電圧に比例した制御信号を出力する
レベル検出手段と、前記設定電圧を前記トランジスタの
温度上昇に伴って低下させる短絡耐量調整手段と、前記
制御信号により前記駆動電圧を調節して前記主電流を制
限制御する電流制御手段と、前記制御信号が出力された
とき異常信号を出力し、この異常信号が所定時間継続し
て出力されたとき前記駆動電圧をオフ状態に制御して前
記主電流を零にする駆動指令制御手段を設けたことを特
徴とする保護機能を備えたスイッチ装置。
A transistor capable of having 1. A controls the main current in response to the drive voltage, the device having a current detecting means connected in parallel to the transistor and outputs a detection voltage corresponding to said main current, said detector Level detection means for outputting a control signal proportional to the detection voltage in a range where the voltage exceeds a set voltage; and
Short-circuit withstand voltage adjusting means for decreasing with increasing temperature, current control means for controlling the main voltage by controlling the drive voltage by the control signal, and an abnormal signal when the control signal is output And a drive command control means for controlling the drive voltage to be in an off state and making the main current zero when the abnormal signal is continuously output for a predetermined time. Switch device.
【請求項2】 駆動電圧に応じて主電流を制御すること2. The method of controlling a main current according to a drive voltage.
の可能なトランジスタと、該トランジスタに並列接続さAnd a parallel-connected transistor
れ前記主電流に対応した検出電圧を出力する電流検出手Current detection means for outputting a detection voltage corresponding to the main current.
段を備えた装置において、前記検出電圧が設定電圧を越In a device having a step, the detection voltage exceeds a set voltage.
える範囲で前記検出電圧に比例した制御信号を出力するOutput a control signal proportional to the detection voltage within the range
レベル検出手段と、前記制御信号により前記駆動電圧をLevel detection means, and the drive voltage is controlled by the control signal.
調節して前記主電流を制限制御する電流制御手段と、前Current control means for regulating and controlling the main current;
記制御信号が第1の所定時間継続して出力されたとき、When the control signal is continuously output for a first predetermined time,
前記駆動電圧をゼロよりも稍高い値に向かって徐々に低The drive voltage is gradually lowered toward a value slightly higher than zero.
下させる電流しゃ断手段と、前記制御信号が第1の所定Current interrupting means to be turned off, and the control signal
時間よりも長い第2の所定時間継続して出力されたとOutput for a second predetermined time longer than the predetermined time
き、前記駆動電圧をオフ状態に制御する駆動指令制御手A drive command control means for controlling the drive voltage to an off state.
段とを設けたことを特徴とする保護機能を備えたスイッSwitch with protection function characterized by the provision of steps
チ装置。Switch.
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