JP3318909B2 - 白亜化（チョーキング）測定方法及び測定装置 - Google Patents
白亜化（チョーキング）測定方法及び測定装置Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、塗膜が暴露される
過程、いわゆる耐候性劣化を起こす過程で、顔料が塗膜
表面に露出する白亜化（チョーキング）現象を評価する
従来の官能評価に代わり定量評価するための測定方法及
び測定装置に関するものである。
過程、いわゆる耐候性劣化を起こす過程で、顔料が塗膜
表面に露出する白亜化（チョーキング）現象を評価する
従来の官能評価に代わり定量評価するための測定方法及
び測定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、白亜化（チョーキング）の評価方
法として、ＩＳＯ（国際標準化機構）、ＡＳＴＭ（米国
試験材料協会）、ＪＩＳ（日本工業規格）等において、
目視による官能評価方法が標準化されている。
法として、ＩＳＯ（国際標準化機構）、ＡＳＴＭ（米国
試験材料協会）、ＪＩＳ（日本工業規格）等において、
目視による官能評価方法が標準化されている。
【０００３】JIS K 5400、ASTM D 659においては、予め
露光して現像したモノクロ写真用印画紙を約１５分間水
に浸した後、水中から取り出し、直ちにガーゼで表面を
軽く押さえて水滴を吸い取る。これを劣化した塗面の上
に印画紙の黒い面を塗面に接触させて置く。その上に白
亜化度試験器のゴム製ブロックを水平に載せる。荷重が
１９６．１Ｎ（２０ｋｇｆ）を示すようにハンドルを約
５秒間垂直に押し付ける。試験器及び印画紙を塗面から
取り除き、印画紙に付いた汚れ度合を５段階に級別した
標準判定写真を用いて、目視による官能評価する方法
や、Exposure Standard Manual 1962 - Federation of
Societies for Paint Technologyでの、ベルベット又は
フェルトで塗面を擦り、白亜化（チョーキング）の付着
程度を前記標準判定写真を用いて、目視による官能評価
方法がある。
露光して現像したモノクロ写真用印画紙を約１５分間水
に浸した後、水中から取り出し、直ちにガーゼで表面を
軽く押さえて水滴を吸い取る。これを劣化した塗面の上
に印画紙の黒い面を塗面に接触させて置く。その上に白
亜化度試験器のゴム製ブロックを水平に載せる。荷重が
１９６．１Ｎ（２０ｋｇｆ）を示すようにハンドルを約
５秒間垂直に押し付ける。試験器及び印画紙を塗面から
取り除き、印画紙に付いた汚れ度合を５段階に級別した
標準判定写真を用いて、目視による官能評価する方法
や、Exposure Standard Manual 1962 - Federation of
Societies for Paint Technologyでの、ベルベット又は
フェルトで塗面を擦り、白亜化（チョーキング）の付着
程度を前記標準判定写真を用いて、目視による官能評価
方法がある。
【０００４】また、上記目視によって官能評価する方法
に代わる方法として、光学装置を用いた定量評価方法が
ある。該定量評価方法は、無色透明のゼラチンフィルム
や樹脂性フィルム製の粘着性のある採取体を白亜化（チ
ョーキング）の生じた塗面に軽く貼り付け、該塗面上の
微粉末を付着させた後、剥ぎ取り得た試料をヘーズ値
（Ｈ％）で測定し、白亜化（チョーキング）の度合い定
量評価しようとするものである。
に代わる方法として、光学装置を用いた定量評価方法が
ある。該定量評価方法は、無色透明のゼラチンフィルム
や樹脂性フィルム製の粘着性のある採取体を白亜化（チ
ョーキング）の生じた塗面に軽く貼り付け、該塗面上の
微粉末を付着させた後、剥ぎ取り得た試料をヘーズ値
（Ｈ％）で測定し、白亜化（チョーキング）の度合い定
量評価しようとするものである。
【０００５】前記ヘーズ値で測定する方法は、JIS K 71
05（プラスチックの光学特性試験方法）等に規定され、
プラスチックやガラス等の曇り具合を測定評価するのに
用いられている。該ヘーズ（曇り度）値は、全光線透過
率に対する拡散光線透過率の比で、下記計算式から求め
られる。 全光線透過率（％） Ｔｔ＝（Ｔ２／Ｔ１）×１００ 拡散光透過率（％） Ｔｄ＝Ｔ４−Ｔ３（Ｔ２／Ｔ１）
／Ｔ１×１００ 平行光線透過率（％）Ｔｐ＝Ｔｔ−Ｔｄ 曇価（Haze）（％） Ｈ＝Ｔｄ／Ｔｔ×１００ 但し、Ｔ１；標準１００合わせ Ｔ２；全光線透過
量 Ｔ３；装置の拡散量 Ｔ４；装置と試験片によ
る拡散光量
05（プラスチックの光学特性試験方法）等に規定され、
プラスチックやガラス等の曇り具合を測定評価するのに
用いられている。該ヘーズ（曇り度）値は、全光線透過
率に対する拡散光線透過率の比で、下記計算式から求め
られる。 全光線透過率（％） Ｔｔ＝（Ｔ２／Ｔ１）×１００ 拡散光透過率（％） Ｔｄ＝Ｔ４−Ｔ３（Ｔ２／Ｔ１）
／Ｔ１×１００ 平行光線透過率（％）Ｔｐ＝Ｔｔ−Ｔｄ 曇価（Haze）（％） Ｈ＝Ｔｄ／Ｔｔ×１００ 但し、Ｔ１；標準１００合わせ Ｔ２；全光線透過
量 Ｔ３；装置の拡散量 Ｔ４；装置と試験片によ
る拡散光量
【０００６】上記の式から試料が透明なものは、平行光
線透過量の割合が多く、拡散光線の割合が少ないため
に、ヘーズ値の数値は小さくなり、曇り具合が増すにし
たがって、逆に平行光線透過量の割合が少なく、拡散光
線量の割合が多くなるため、ヘーズ値の数値が高くな
る。
線透過量の割合が多く、拡散光線の割合が少ないため
に、ヘーズ値の数値は小さくなり、曇り具合が増すにし
たがって、逆に平行光線透過量の割合が少なく、拡散光
線量の割合が多くなるため、ヘーズ値の数値が高くな
る。
【０００７】上記のことから、前記透明の採取体に何も
付着していない状態であれば、ヘーズ値は小さくなり、
採取した採取量が増せば、ヘーズ値が大きくなることか
ら、ヘーズ値（Ｈ％）で白亜化（チョーキング）の現象
を目視による官能評価に代わって定量評価ができる。
付着していない状態であれば、ヘーズ値は小さくなり、
採取した採取量が増せば、ヘーズ値が大きくなることか
ら、ヘーズ値（Ｈ％）で白亜化（チョーキング）の現象
を目視による官能評価に代わって定量評価ができる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】現在、白亜化（チョー
キング）の定量評価において、ゼラチンフィルムや樹脂
性フィルム製の粘着性のある採取体を用い、採取された
塗面の白亜化（チョーキング）は、従来の押し潰された
状態ではなく、微粉末の状態で採取される。該微粉末を
従来の光学系が横型のヘーズメーターで測定することに
おいて、次のような問題がある。
キング）の定量評価において、ゼラチンフィルムや樹脂
性フィルム製の粘着性のある採取体を用い、採取された
塗面の白亜化（チョーキング）は、従来の押し潰された
状態ではなく、微粉末の状態で採取される。該微粉末を
従来の光学系が横型のヘーズメーターで測定することに
おいて、次のような問題がある。
【０００９】第一に、図１で示すような従来の光学系が
横型のヘーズメーターで測定する場合、測定する試料
は、試料台に対して垂直に置き、試料押えで積分球の光
を取り入れる開口部に押し付けて、測定を行わねばなら
ない。この為、採取された微粉末の一部が、垂直に置く
過程及び積分球に押し付ける過程で落ちてしまう危険性
があり、正確な測定の障害となる。
横型のヘーズメーターで測定する場合、測定する試料
は、試料台に対して垂直に置き、試料押えで積分球の光
を取り入れる開口部に押し付けて、測定を行わねばなら
ない。この為、採取された微粉末の一部が、垂直に置く
過程及び積分球に押し付ける過程で落ちてしまう危険性
があり、正確な測定の障害となる。
【００１０】第二に、採取された状態が微粉末であるこ
とによる問題である。ヘーズ値は、前述したように全光
線透過率に対する拡散光線透過率の比から求められる。
よって、拡散光線の積分球への透過量が、直接ヘーズ値
に大きく影響を与えることになる。前述した採取方法で
採取された微粉末は、小さな粒の状態であり、該粒に光
が当ると、その光は粒の形状によってあらゆる方向に拡
散する。この拡散光が積分球内部に受光されるか、され
ないかで、測定数値に影響を与えることが考えられる。
更に、微粉末の付着面を光源側にした場合と積分球側に
向けた場合とでは、拡散の仕方が異なる。光源からの光
が、微粉末−採取体−積分球の順で通過する場合、微粉
末からの拡散光量は、光源側に多くなり、積分球の外に
漏れる可能性がある。にも関わらず、付着面の方向や測
定位置等に関して、具体的に、検討がされていない。
とによる問題である。ヘーズ値は、前述したように全光
線透過率に対する拡散光線透過率の比から求められる。
よって、拡散光線の積分球への透過量が、直接ヘーズ値
に大きく影響を与えることになる。前述した採取方法で
採取された微粉末は、小さな粒の状態であり、該粒に光
が当ると、その光は粒の形状によってあらゆる方向に拡
散する。この拡散光が積分球内部に受光されるか、され
ないかで、測定数値に影響を与えることが考えられる。
更に、微粉末の付着面を光源側にした場合と積分球側に
向けた場合とでは、拡散の仕方が異なる。光源からの光
が、微粉末−採取体−積分球の順で通過する場合、微粉
末からの拡散光量は、光源側に多くなり、積分球の外に
漏れる可能性がある。にも関わらず、付着面の方向や測
定位置等に関して、具体的に、検討がされていない。
【００１１】第三に、採取体が粘着性のあるテープ、フ
ィルムを使用することにより、保管管理の仕方によって
は、測定までの間に空気中の埃や塵が採取体に付着して
しまい、測定に支障を来す恐れがある。
ィルムを使用することにより、保管管理の仕方によって
は、測定までの間に空気中の埃や塵が採取体に付着して
しまい、測定に支障を来す恐れがある。
【００１２】本発明は、上記のことを鑑み、誰が測定し
ても塗膜における白亜化（チョーキング）現象を正確に
定量測定評価でき、同じ測定結果が得られる測定方法及
び測定装置の提供をすることを目的としている。
ても塗膜における白亜化（チョーキング）現象を正確に
定量測定評価でき、同じ測定結果が得られる測定方法及
び測定装置の提供をすることを目的としている。
【００１３】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、測定方法として、フィルム状の採取体で採取した微
粉末状の白亜化（チョーキング）が、測定時に落ちず、
採取された直後の微粉末の状態で、正確にヘーズ値の測
定ができることを主題として、現行の測定時、微粉末が
直接積分球の開口窓や試料押えに触れてしまうことを避
けるために、先ず、採取された微粉末の付着面を上面と
し、面を水平にして、前記微粉末を潰さない０．５乃至
１ｍｍの隙間が確保できるスぺーサ、更に、その上部に
厚みが０．５乃至１ｍｍの石英ガラスを配した。
に、測定方法として、フィルム状の採取体で採取した微
粉末状の白亜化（チョーキング）が、測定時に落ちず、
採取された直後の微粉末の状態で、正確にヘーズ値の測
定ができることを主題として、現行の測定時、微粉末が
直接積分球の開口窓や試料押えに触れてしまうことを避
けるために、先ず、採取された微粉末の付着面を上面と
し、面を水平にして、前記微粉末を潰さない０．５乃至
１ｍｍの隙間が確保できるスぺーサ、更に、その上部に
厚みが０．５乃至１ｍｍの石英ガラスを配した。
【００１４】このことにより、微粉末を潰すことなく、
採取した直後の状態で測定することが可能になるばかり
でなく、微粉末の付着面の上部に石英ガラスを配するこ
とで、測定に必要な光源の波長範囲３８０ｎｍ〜７８０
ｎｍの光を透過し、採取した微粉末に空気中に浮遊して
いる塵や埃の付着を防止することができ、保管管理の問
題も解消できる。
採取した直後の状態で測定することが可能になるばかり
でなく、微粉末の付着面の上部に石英ガラスを配するこ
とで、測定に必要な光源の波長範囲３８０ｎｍ〜７８０
ｎｍの光を透過し、採取した微粉末に空気中に浮遊して
いる塵や埃の付着を防止することができ、保管管理の問
題も解消できる。
【００１５】また、微粉末の付着面を積分球側とした。
つまり、光源から発せられ光源部の内壁が黒色に塗られ
た円筒に設けられた複数のレンズで平行光になり、該平
行光は、採取体を透過した後、微粉末に当たり拡散さ
れ、積分球に入る構成にした。逆に微粉末の付着面を光
源側に向けた場合、光源から光が先ず微粉末の粒に当た
ることになり、積分球側への拡散よりも光源側へ撥ね返
る拡散光が大きく、積分球に取り込まれる拡散光が少な
くなり、測定値に影響を与える。前記、光の道順を光源
−採取体−微粉末−積分球とすることで、微粉末におけ
る拡散光を積分球内部に取り込めることができる。
つまり、光源から発せられ光源部の内壁が黒色に塗られ
た円筒に設けられた複数のレンズで平行光になり、該平
行光は、採取体を透過した後、微粉末に当たり拡散さ
れ、積分球に入る構成にした。逆に微粉末の付着面を光
源側に向けた場合、光源から光が先ず微粉末の粒に当た
ることになり、積分球側への拡散よりも光源側へ撥ね返
る拡散光が大きく、積分球に取り込まれる拡散光が少な
くなり、測定値に影響を与える。前記、光の道順を光源
−採取体−微粉末−積分球とすることで、微粉末におけ
る拡散光を積分球内部に取り込めることができる。
【００１６】更に、測定位置に関して、微粉末の付着面
の位置と積分球の開口窓面の位置と同じ位置とした。図
２で示すように、仮に、石英ガラスの面を積分球の開口
窓面の位置と同じすると、前記石英ガラスの厚みと石英
ガラスと微粉末との隙間を加えた厚みが生じ分、微粉末
の付着面が積分球を断面から見た円周の枠内から漏れる
部分ができるが、図３で示すように、前記微粉末の付着
面の位置と積分球の開口窓面の位置と同じ位置とするこ
とで、微粉末の付着面が積分球を断面から見た円周の枠
内に入る。このように、測定位置を限定することで、光
源から発せられた光が採取された微粉末に当たり、拡散
する光を全て、積分球内部に取り込むことができる。
の位置と積分球の開口窓面の位置と同じ位置とした。図
２で示すように、仮に、石英ガラスの面を積分球の開口
窓面の位置と同じすると、前記石英ガラスの厚みと石英
ガラスと微粉末との隙間を加えた厚みが生じ分、微粉末
の付着面が積分球を断面から見た円周の枠内から漏れる
部分ができるが、図３で示すように、前記微粉末の付着
面の位置と積分球の開口窓面の位置と同じ位置とするこ
とで、微粉末の付着面が積分球を断面から見た円周の枠
内に入る。このように、測定位置を限定することで、光
源から発せられた光が採取された微粉末に当たり、拡散
する光を全て、積分球内部に取り込むことができる。
【００１７】上記の測定方法を実現するために、白亜化
（チョーキング）測定装置として、光学部を最下部が光
源部、中央部が測定室、最上部が光学部の配置の縦型の
光学系にした。更に、中央部の測定室には、試料を出し
入れするための開閉扉を設け、測定室の内壁を光の乱反
射を防ぐために光沢の無い黒色の塗料を塗布し、試料を
置く試料台は、中央に積分球の開口窓と同じ円周の孔を
設け、更に、前記試料台を前後に動かすためのスライド
及び上下に動かすための昇降装置を設けた。前記昇降装
置は、試料台に置かれた試料を持ち上げて、上部の積分
球の開口窓に移動し、微粉末の付着面の位置が積分球の
開口窓面の位置と同じ位置になった際に正確に停止する
ようにした。
（チョーキング）測定装置として、光学部を最下部が光
源部、中央部が測定室、最上部が光学部の配置の縦型の
光学系にした。更に、中央部の測定室には、試料を出し
入れするための開閉扉を設け、測定室の内壁を光の乱反
射を防ぐために光沢の無い黒色の塗料を塗布し、試料を
置く試料台は、中央に積分球の開口窓と同じ円周の孔を
設け、更に、前記試料台を前後に動かすためのスライド
及び上下に動かすための昇降装置を設けた。前記昇降装
置は、試料台に置かれた試料を持ち上げて、上部の積分
球の開口窓に移動し、微粉末の付着面の位置が積分球の
開口窓面の位置と同じ位置になった際に正確に停止する
ようにした。
【００１８】このことにより、先ず、採取した微粉末の
付着面を上面にしたままの状態で、測定ができるため、
微粉末が測定の際に落ちてしまう心配がなく、正確なヘ
ーズ値（Ｈ％）を測定できる測定装置を提供できた。
付着面を上面にしたままの状態で、測定ができるため、
微粉末が測定の際に落ちてしまう心配がなく、正確なヘ
ーズ値（Ｈ％）を測定できる測定装置を提供できた。
【００１９】
【発明の実施の形態】発明の実施の形態を実施例に基づ
き、図面を参照して説明する。図３には、本発明の請求
項１の測定方法を概念的に示している。フィルム状の採
取体（１）で採取した微粉末（２）の付着面を上面つま
り上向きとし、面を水平にして、前記付着した微粉末が
採取した直後の状態で測定するために、前記微粉末を潰
さないよう０．５乃至１ｍｍの隙間を確保するスぺーサ
（４）、更に、そのスぺーサの上部に採取した微粉末
（２）以外の空気中の埃や塵の付着防止を兼ねた厚みが
０．５乃至１ｍｍの石英ガラス（３）を配した構成とし
た。
き、図面を参照して説明する。図３には、本発明の請求
項１の測定方法を概念的に示している。フィルム状の採
取体（１）で採取した微粉末（２）の付着面を上面つま
り上向きとし、面を水平にして、前記付着した微粉末が
採取した直後の状態で測定するために、前記微粉末を潰
さないよう０．５乃至１ｍｍの隙間を確保するスぺーサ
（４）、更に、そのスぺーサの上部に採取した微粉末
（２）以外の空気中の埃や塵の付着防止を兼ねた厚みが
０．５乃至１ｍｍの石英ガラス（３）を配した構成とし
た。
【００２０】光源からの光は、フィルム状の採取体
（１）、微粉末（２）、石英ガラス（３）の順で通過
し、拡散された光が積分球（６）内部で採光されるよう
にし、微粉末に当たり拡散した光が光源側に拡散される
のではなく、積分球方向で拡散するようにした。
（１）、微粉末（２）、石英ガラス（３）の順で通過
し、拡散された光が積分球（６）内部で採光されるよう
にし、微粉末に当たり拡散した光が光源側に拡散される
のではなく、積分球方向で拡散するようにした。
【００２１】更に、測定位置を微粉末の付着面と積分球
の開口窓面が一致した位置とした。この位置にすること
で、微粉末の付着面が、積分球の断面の円周内に入った
位置となり、微粉末に当たり拡散した光が確実に積分球
内に取り込むことができる。
の開口窓面が一致した位置とした。この位置にすること
で、微粉末の付着面が、積分球の断面の円周内に入った
位置となり、微粉末に当たり拡散した光が確実に積分球
内に取り込むことができる。
【００２２】図４、図５は、本発明の白亜化（チョーキ
ング）測定装置の実施例の構成図で、装置は大きく分け
て光学系部と制御装置部に分けられ、光学系部（２０）
は、縦型として、下部に光源部（２２）、中央部に測定
室（２３）、上部に光学部（２４）からの構成にした。
光源部（２２）は、光源（２５）と光を平行光線に変え
るためのレンズ（２７）を有した内壁が黒色の円筒（２
６）等から成り、測定室（２３）は、内壁を光源の光の
乱反射を防ぐために、光沢の無い黒色で塗布し、部屋の
中央部に測定試料を置く試料台（５）を配し、正面に試
料を出し入れするための開閉扉を設けた。
ング）測定装置の実施例の構成図で、装置は大きく分け
て光学系部と制御装置部に分けられ、光学系部（２０）
は、縦型として、下部に光源部（２２）、中央部に測定
室（２３）、上部に光学部（２４）からの構成にした。
光源部（２２）は、光源（２５）と光を平行光線に変え
るためのレンズ（２７）を有した内壁が黒色の円筒（２
６）等から成り、測定室（２３）は、内壁を光源の光の
乱反射を防ぐために、光沢の無い黒色で塗布し、部屋の
中央部に測定試料を置く試料台（５）を配し、正面に試
料を出し入れするための開閉扉を設けた。
【００２３】光学部の内壁に白色硫酸バリウムを塗布し
た直径１５０ｍｍの積分球（６）には、光源からの光を
取り込むためのφ２１ｍｍの開口窓、光源の直射光を逃
がするためのライトトラップ（３０）に標準合わせ用の
白色標準板を設け、更に、積分球内の拡散光を受光し、
電気信号に変換するための受光器（３１）を設けた。
た直径１５０ｍｍの積分球（６）には、光源からの光を
取り込むためのφ２１ｍｍの開口窓、光源の直射光を逃
がするためのライトトラップ（３０）に標準合わせ用の
白色標準板を設け、更に、積分球内の拡散光を受光し、
電気信号に変換するための受光器（３１）を設けた。
【００２４】制御装置部（２１）では、受光器（３１）
から送られたアナログ出力を取り込み、Ａ／Ｄ変換後、
ＣＰＵへ転送し、ヘーズ値（Ｈ％）を導き出すための演
算処理を始め、光源（２５）の発光制御、ライトトラッ
プ（３０）の動作制御、昇降装置（４１）の動作制御、
測定数値の表示等を行う。
から送られたアナログ出力を取り込み、Ａ／Ｄ変換後、
ＣＰＵへ転送し、ヘーズ値（Ｈ％）を導き出すための演
算処理を始め、光源（２５）の発光制御、ライトトラッ
プ（３０）の動作制御、昇降装置（４１）の動作制御、
測定数値の表示等を行う。
【００２５】図５は、測定室内の試料台の実施例を側面
から見た断面図で、試料台（５）には前後に移動するた
めのスライド（４０）及び上下に移動するための昇降装
置（４１）を設けた。開閉扉を開き、試料台（５）の取
手（４２）をつまみ、スライド（４０）に沿って、測定
室の外部に試料台（５）を引き出し、試料（２８）の出
し入れができる。昇降装置（４１）は、制御装置で制御
され、試料台（５）が測定室の中央の位置を下限とし、
上限を試料台（５）が積分球の開口窓に接した位置した
間を上下動できるようにした。
から見た断面図で、試料台（５）には前後に移動するた
めのスライド（４０）及び上下に移動するための昇降装
置（４１）を設けた。開閉扉を開き、試料台（５）の取
手（４２）をつまみ、スライド（４０）に沿って、測定
室の外部に試料台（５）を引き出し、試料（２８）の出
し入れができる。昇降装置（４１）は、制御装置で制御
され、試料台（５）が測定室の中央の位置を下限とし、
上限を試料台（５）が積分球の開口窓に接した位置した
間を上下動できるようにした。
【００２６】
【発明の効果】本発明は、測定方法として従来の横型の
光学系における試料を試料台に対して垂直において測定
する方法と異なり、試料を水平にし、採取された微粉末
の上方に石英ガラスを配し、且つ微粉末と石英ガラスの
間にお互いに接触しない空間を確保することで、採取さ
れた粒状で測定が可能になったばかりでなく、石英ガラ
スを配したことで、採取した微粉末以外の空気中の塵や
埃の付着防止になった。
光学系における試料を試料台に対して垂直において測定
する方法と異なり、試料を水平にし、採取された微粉末
の上方に石英ガラスを配し、且つ微粉末と石英ガラスの
間にお互いに接触しない空間を確保することで、採取さ
れた粒状で測定が可能になったばかりでなく、石英ガラ
スを配したことで、採取した微粉末以外の空気中の塵や
埃の付着防止になった。
【００２７】また、微粉末の付着面を積分球側に向け、
測定位置を微粉末の付着面と積分球開口窓面が一致した
位置とすることで、微粉末からの拡散光が漏れなく積分
球内部に採光され、正確なヘーズ値を導き出せるように
なった。
測定位置を微粉末の付着面と積分球開口窓面が一致した
位置とすることで、微粉末からの拡散光が漏れなく積分
球内部に採光され、正確なヘーズ値を導き出せるように
なった。
【００２８】装置として光学系部を縦型にし、下部を光
源部、中央部を測定室、上部を光学部の構成し、中央部
の測定室に試料台を前後動させるスライド及び上下動さ
せる昇降装置を設け、昇降装置が微粉末の付着面と積分
球の開口窓面が一致した位置で停止できることで、本発
明の測定方法を実現できた。
源部、中央部を測定室、上部を光学部の構成し、中央部
の測定室に試料台を前後動させるスライド及び上下動さ
せる昇降装置を設け、昇降装置が微粉末の付着面と積分
球の開口窓面が一致した位置で停止できることで、本発
明の測定方法を実現できた。
【００２９】本発明の白亜化（チョーキング）測定方法
及び測定装置を提供できたことにより、誰が測定しても
同じ測定結果が得られるようになり、正確な白亜化（チ
ョーキング）のヘーズ値による定量評価が可能となっ
た。
及び測定装置を提供できたことにより、誰が測定しても
同じ測定結果が得られるようになり、正確な白亜化（チ
ョーキング）のヘーズ値による定量評価が可能となっ
た。
【図１】従来のヘーズメータの光学系の構成図。
【図２】石英ガラスの面を積分球の開口面に合わし測定
する場合の断面図。
する場合の断面図。
【図３】本発明の白亜化（チョーキング）測定方法の概
念図。
念図。
【図４】本発明の実施例の白亜化（チョーキング）測定
装置の構成図。
装置の構成図。
【図５】本発明の実施例の測定室内にある試料台の側面
からの縦断面図。
からの縦断面図。
１ 採取体 ２ 微粉末 ３ 石英ガラス ４ スぺーサ ５ 試料台 ６ 積分球 ２０ 光学系部 ２１ 制御装置部 ２２ 光源部 ２３ 測定室 ２４ 光学部 ２５ 光源 ２６ 円筒 ２７ レンズ ２８ 試料 ３０ ライトトラップ ３１ 受光器 ４０ スライド ４１ 昇降装置 ４２ 取手
Claims (3)
- 【請求項１】 塗膜が光に暴露される過程で白亜化（チ
ョーキング）現象を起こし、塗膜表面に露出した微粉末
を、フィルム状の採取体で採取する手法を用い、採取し
た微粉末の付着面を上面とし、該付着面の微粉末と接触
しない隙間を設け、石英ガラスを前記上面の上部に配置
し、前記微粉末が付着した面を光学部の積分球側に向
け、前記微粉末が付着した面及び光学部の積分球の開口
窓面が一致した位置を測定位置として測定した平行光線
透過率及び全光線透過率から白亜化の程度を求める白亜
化（チョーキング）測定方法。 - 【請求項２】 下部に光源と該光源の光を平行光線にす
るレンズ及び絞りを有する内面黒色の円筒からなる光源
部、中央部に試料を設置する試料台を有する測定室、該
測定室の上部に前記光源の光を取り組む開口窓、受光
器、白色標準板、及び光を吸収するライトトラップを有
する積分球を格納した光学部とから構成される光学系部
と、測定操作に関する制御及び測定値を演算処理する回
路等を有する制御装置部から構成され、請求項１記載の
白亜化（チョーキング）測定方法で、フィルム状の採取
体で採取した微粉末を透過測定できることを特徴とした
白亜化（チョーキング）測定装置。 - 【請求項３】 試料台は黒く塗布され、積分球の開口窓
と同じ円周の孔を有し、上下動、前後動が自在に出来、
前記試料台に置かれた試料が前記積分球の開口窓に接す
ると、該位置で停止、固定できることを特徴した試料台
を有する請求項２記載の白亜化（チョーキング）測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000027540A JP3318909B2 (ja) | 2000-02-04 | 2000-02-04 | 白亜化（チョーキング）測定方法及び測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000027540A JP3318909B2 (ja) | 2000-02-04 | 2000-02-04 | 白亜化（チョーキング）測定方法及び測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001221735A JP2001221735A (ja) | 2001-08-17 |
| JP3318909B2 true JP3318909B2 (ja) | 2002-08-26 |
Family
ID=18553101
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000027540A Expired - Fee Related JP3318909B2 (ja) | 2000-02-04 | 2000-02-04 | 白亜化（チョーキング）測定方法及び測定装置 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3318909B2 (ja) |
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|---|---|---|---|---|
| JP2006317270A (ja) * | 2005-05-12 | 2006-11-24 | Yokogawa Electric Corp | 濁度計 |
| IL253067B (en) * | 2017-06-21 | 2022-01-01 | Gyntools Ltd | Test devices and test fixture for use with them |
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2000
- 2000-02-04 JP JP2000027540A patent/JP3318909B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JP2001221735A (ja) | 2001-08-17 |
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