JP3317261B2 - 磁界注入プローブ装置 - Google Patents

磁界注入プローブ装置

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JP3317261B2 JP00144599A JP144599A JP3317261B2 JP 3317261 B2 JP3317261 B2 JP 3317261B2 JP 00144599 A JP00144599 A JP 00144599A JP 144599 A JP144599 A JP 144599A JP 3317261 B2 JP3317261 B2 JP 3317261B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子機器や回路基
板等に対し磁界照射試験を行うための磁界注入プローブ
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の磁界注入プローブを用いた回路基
板への磁界照射試験では、図５、図６に示すように、一
つのループプローブ１０１のみを使用して、回路基板１
０５に対し磁界を印可していた。このため、回路基板１
０５に対して、一方向の磁界しか与えることができなか
った。図において、１０２はループプローブ１０１に電
流を流すパルス発生器、１０６はＬＳＩ、１０７は他の
電子部品である。
【０００３】ところで、電子機器が外部から電磁界を受
けて誤動作するケースにおいては、３次元空間の不特定
方向から磁界が印可されて誤動作する。従って、一方向
からのみの磁界印可試験では、誤動作を起こしやすい回
路素子の特定が困難であるという欠点があった。
【０００４】一方、特開平９−１５２８４号公報には、
試験製品を囲むようにＸコイル、Ｙコイル、Ｚコイルを
セットし、互いに直交するＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向の磁界
を順に発生させることにより、Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向の
磁界による影響をテストする装置が開示されている。こ
れによれば、試験製品を１度セットするだけで、３次元
のＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向の磁界による影響をテストする
ことができる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記公報の技
術のように、Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向の磁界による影響を
それぞれにテストするだけでは、３次元空間の全方位の
テストを行ったことにはならない。
【０００６】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、磁界照射試験に際して全方位の磁界を印可できる磁
界注入プローブ装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１の発明は、試験
対象品に対して互いに直交するＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向の
磁界をそれぞれ注入し得る３個のＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸ルー
ププローブを配置すると共に、各Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸ルー
ププローブにそれぞれに位相の異なった電流を流すため
の電流供給制御装置を設けてなり、該電流供給制御装置
は、前記位相の異なった電流を流すことにより、Ｘ軸、
Ｙ軸、Ｚ軸ループプローブにより発生する磁界のベクト
ルの方向を三次元方向に回転させることを特徴とする。
【０００８】請求項２の発明は、請求項１において、前
記電流供給制御手段として、位相の異なった信号を発生
する信号源と、該信号に応じた電流を増幅・発生して各
ループプローブに供給する増幅器とを設けたことを特徴
とする。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。図１は本発明の実施形態の磁界注入
プローブ装置の構成を示し、（ａ）はプローブ部のみ取
り出してその構成を示す詳細図、（ｂ）は実施形態の磁
界注入プローブ装置の制御系を含めた全体構成を示すブ
ロック図である。
【００１０】図１（ｂ）に示すように、この実施形態の
磁界注入プローブ装置１０は、プローブ部１１と、プロ
ーブ部１１に電流を供給する電流供給制御装置１２とか
らなる。プローブ部１１は、図１（ａ）に示すように、
互いに直交するＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向の磁界をそれぞれ
注入し得るように配置された３個のＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸ル
ーププローブ１、２、３からなる。これらのＸ軸ループ
プローブ１、Ｙ軸ループプローブ２、Ｚ軸ループプロー
ブ３は、それぞれ三次元空間座標のＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸に
平行な面を持っており、それぞれのループプローブ１、
２、３に電流を流すことにより、ループ面に垂直方向の
磁界を発生する。
【００１１】図１（ｂ）に示すように、各Ｘ軸、Ｙ軸、
Ｚ軸ループプローブ１、２、３は、Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸プ
ローブ用アンプ１３Ｘ、１３Ｙ、１３Ｚにそれぞれ接続
されている。Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸プローブ用アンプ１３
Ｘ、１３Ｙ、１３Ｚは、Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸プローブ用信
号源１４Ｘ、１４Ｙ、１４Ｚの微弱信号を増幅して、各
ループプローブ１、２、３に大電流を供給するものであ
る。Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸プローブ用信号源１４Ｘ、１４
Ｙ、１４Ｚは、Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸プローブ用アンプ１３
Ｘ、１３Ｙ、１３Ｚへ、図２にＡ、Ｂ、Ｃで示すような
信号を与える。図２の信号Ａ、Ｂ、Ｃは、それぞれ位相
が異なっており、その位相差は図１（ｂ）に示すコント
ローラ１５で制御される。
【００１２】次に動作を説明する。Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸プ
ローブ用信号源１４Ｘ、１４Ｙ、１４Ｚは、図２に示す
ような同一周期の正弦波を発生し、３つの信号源１４
Ｘ、１４Ｙ、１４Ｚの発生する正弦波の位相は、図１
（ｂ）に示すコントローラ１５により、図２にＡ、Ｂ、
Ｃで示すように制御される。従って、３つの互いに直交
したＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸ループプローブ１、２、３の発生
する磁界「Ｈ」の方向は、図３（ａ）に示すように、Ｘ
軸、Ｙ軸、Ｚ軸それぞれの磁界のベクトル和で表され、
その大きさ｜Ｈ｜は、図３（ｂ）に示す式のようにな
る。つまり、｜Ｈ｜は、「Ｘの３乗」と「Ｙの３乗」と
「Ｚの３乗」の３乗根で求まる。
【００１３】また、３つのループプローブ１、２、３に
流す電流は、それぞれ位相差を有しており、磁界Ｈのベ
クトルの方向は三次元方向に回転する。そのため、プロ
ーブ部１１の周囲に発生する磁界は、図４に示すよう
に、全方位にわたって放出されることになる。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の磁界注入
プローブ装置によれば、プローブ部分の周囲全方向に磁
界を発生させることができる。このため、被測定対象の
電子機器等に、あらゆる方向からの磁界を印可すること
が可能であり、磁界の影響を受けて誤動作しやすいデバ
イスの特定と、誤動作しやすい磁界の方向を探知するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の実施形態の磁界注入プローブ装置の
構成を示し、（ａ）はプローブ部のみ取り出してその構
成を示す詳細図、（ｂ）は実施形態の磁界注入プローブ
装置の制御系を含めた全体構成を示すブロック図であ
る。
【図２】 前記プローブ部に印加する電流の位相を示す
図である。
【図３】 前記プローブ部にて発生する磁界の説明図
で、（ａ）は磁界の方向を示す図、（ｂ）は磁界の大き
さを表す式を示す図である。
【図４】 本発明の実施形態の磁界注入プローブ装置に
よる磁界の発生状態を示す図である。
【図５】 従来の磁界注入方法の説明図である。
【図６】 従来の磁界注入方法の説明図である。
【符号の説明】 １ Ｘ軸ループプローブ ２ Ｙ軸ループプローブ ３ Ｚ軸ループプローブ １０ 磁界注入プローブ装置 １１ プローブ部 １２ 電流供給制御装置 １３Ｘ，１３Ｙ，１３Ｚ アンプ １４Ｘ，１４Ｙ，１４Ｚ 信号源 １５ コントローラ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 31/30 G01R 31/28 - 31/3193 G01R 31/00

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 試験対象品に対して互いに直交するＸ
    軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向の磁界をそれぞれ注入し得る３個の
    Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸ループプローブを配置すると共に、各
    Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸ループプローブにそれぞれに位相の異
    なった電流を流すための電流供給制御装置を設けてな
    り、 該電流供給制御装置は、前記位相の異なった電流を流す
    ことにより、Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸ループプローブにより発
    生する磁界のベクトルの方向を三次元方向に回転させる
    ことを特徴とする磁界注入プローブ装置。
  2. 【請求項２】 前記電流供給制御手段として、位相の異
    なった信号を発生する信号源と、該信号に応じた電流を
    増幅・発生して各ループプローブに供給する増幅器とを
    設けたことを特徴とする請求項１記載の磁界注入プロー
    ブ装置。
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