JP3297834B2 - レーザ加工装置 - Google Patents
レーザ加工装置Info
- Publication number
- JP3297834B2 JP3297834B2 JP20789795A JP20789795A JP3297834B2 JP 3297834 B2 JP3297834 B2 JP 3297834B2 JP 20789795 A JP20789795 A JP 20789795A JP 20789795 A JP20789795 A JP 20789795A JP 3297834 B2 JP3297834 B2 JP 3297834B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser
- light
- laser beam
- output
- transmission plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Lasers (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
Description
ーザ加工の技術分野であり、とくにビーム品質のよい、
大出力のレーザ加工ができる装置に関する。
ようになっているが、ビーム品質のよい大出力のレーザ
加工装置が望まれている。
を参照しながら説明する。図3は従来のレーザ加工装置
の構成を示す模式図である。図において、10はガスレ
ーザ発振装置、11はレーザ光を帰還増幅する出力ミラ
ー、12は終段ミラー、13は内部反射鏡、14はレー
ザガスを循環するブロワ、15は電源、16はガスレー
ザ発振装置10から出力されるレーザ光、17はリター
ダ、18は集光レンズである。なお、19は被加工物で
あり、以下、ワークと称す。
スレーザ発振装置10から出力されるレーザ光16は、
出力ミラー11、終段ミラー12間で多重反射して出力
されるが、内部反射鏡13を設けた構成では、図に示し
たように、電界振動方向が直線となる直線偏光で出力さ
れることが知られている。この直線偏光の状態で集光し
てワーク19を切断するとワーク吸収率に差が発生し、
均一な切断ができないことが知られている。その対策と
してリターダ17により電界方向を円偏光に変換し、ワ
ーク吸収率を切断方向に関係せず一定とし、ワーク19
の切断や溶接を行っている。
加工であるので、レーザ出力が大きいほど好ましく、C
O2 レーザ発振器では10KW以上の出力が商品化されて
いる。
ザ加工装置では、大出力化するためには、出力ミラー1
1および終段ミラー12の耐力面からの信頼性と、ブロ
ワ14の能力などから装置の寸法が大きくなるのみなら
ず、3〜4KW以上の大出力とすればビーム品質が悪くな
り、出力を大きくしても集光性が悪く、集光エネルギー
密度は出力に比例して向上しないと言う問題があった。
出力で、かつビーム品質のよいレーザ加工装置を提供す
ることを目的とする。
は、直線偏光の第1のレーザ光を出力する第1のレーザ
発振器と、前記第1のレーザ光と偏光方向が90度異な
る直線偏光の第2のレーザ光を出力する第2のレーザ発
振器と、前記第1のレーザ光と前記第2のレーザ光とを
交差させた位置に、前記第1または第2のレーザ光のい
ずれか一方に対してブリュースタ角度で設置した透過板
とを備え、前記透過板を透過したレーザ光と反射したレ
ーザ光とが同一光線上に進行して加算され、偏光方向が
ランダムな加工用のレーザ光を生成するようにしたレー
ザ加工装置である。
きるものであり、全透過のレーザ光と全反射のレーザ光
とが加算される形態にすることにより出力が大きくなる
とともに、円偏波のレーザ光に近い加工結果をもたらす
ものである。
工装置の一実施例について図面を参照しながら説明す
る。図1は本実施例の構成を示す模式図である。なお、
従来例と同じ構成要素には同一番号を付与して詳細な説
明を省略する。図において、1と2は互いに直線偏光方
向が90度異なるガスレーザ発振器などの直線偏光のレ
ーザ発振器、3はレーザ光を伝送するビーム伝送器とし
て動作する反射鏡、4はいずれかの入射レーザ光に対し
てブリュースタ角度に設置されたZnSeの透過板であ
る。
線偏光のレーザ発振器1から出射され、反射鏡3で反射
した直線偏光のレーザ光はZnSeの透過板4を通過し、
一方、直線偏光のレーザ発振器2から出射された直線偏
光のレーザ光は、ブリュースタ角度をつけられて設置さ
れたいる側のレーザ光はZnSeの透過板4で全反射し、
透過光と同一光線上を進み、したがって2つのレーザ出
力の加算が成立する。この場合、2台の異なる直線偏光
のレーザ発振器1および2からの出力であるため、レー
ザ出力の電界変化速度が互いに異なるので、加算された
レーザ光の偏光は円偏光とならずにランダム偏光とな
り、加工方向性は発生する。しかし、3kw出力を加算し
て出力6kwとした実施例において集光エネルギーを測定
したが、ビーム品質が3kwと同一であるので、集光エネ
ルギーは2倍となり、ランダム偏光のためワーク19へ
の吸収率が円偏波より悪くても従来の5kwと同等以上の
切断、および溶接能力が得られた。また、本方式の場
合、2台のレーザ発振器を別々に使用することもでき、
必要に応じて大出力化することができるので、生産性お
よび信頼性を向上できる。
立で偏光方向が90度異なる直線偏光のレーザ光を交差
させ、一方のレーザ光に対してブリュースタ角度で配置
した透過板により全透過のレーザ光と全反射のレーザ光
として同一光線上を進行させて加算することにより、出
力が大きく、かつ偏光方向がランダムな加工用レーザ光
を得ることができ、大出力で、かつ円偏波に近い加工結
果が得られるビーム品質のよいレーザ加工装置を実現で
きる。
がら説明する。図2は参考例の構成を示す模式図であ
る。なお、実施例1と同じ構成要素には同一番号を付与
して詳細な説明を省略する。図において、5はランダム
偏光のレーザ光を出射する基準レーザ発振器、6は基準
レーザ発振器5の出力レーザ光に対してブリュースタ角
度に設置された透過板、7と8はそれぞれ前記レーザ光
を増幅する増幅器、9は増幅器7と増幅器8から出力さ
れたレーザ光の交差する箇所に設けられ、そのいずれか
一方のレーザ光に対しブリュースタ角度に設置された透
過板である。
準レーザ発振器5から出射されたランダム偏光のレーザ
光は、S/P波分離鏡としての働きを行う透過板6によ
りS波とP波とに分離され、一方は反射波として増幅器
7に、他方は透過板として反射鏡3により反射されて増
幅器8に導かれる。増幅器7および増幅器8では偏光は
変化せずにそのまま増幅されて出力される。増幅器7の
出力レーザ光は反射鏡3により反射されて増幅器8の出
力レーザ光と交差する位置に到達するが、この交差箇所
にブリュースタ角度に設置されている透過板9により一
方のレーザ光は全透過し、他方のレーザ光は全反射して
透過光と同一光線上を進み、レーザ出力の加算が成立す
る。この場合、電界変化速度はS波、P波とも、同一の
基準レーザ発振器5から出力されるために同じであり、
合成光は円偏光となる。また、大出力レーザの場合、内
部エネルギーとビーム品質が問題となるが、本参考例で
は増幅器を用いているために基準レーザ発振器5から出
力されるビーム品質が維持され、かつ大出力を安定して
発生できる。
ンダム偏光方向レーザ発振器の出力光を互いに90度角
度が異なる直線偏光に分割したのち交差させ、その交差
位置にいずれかのレーザ光に対しブリュースタ角に透過
板を設置して加算することにより、ビーム品質を変化さ
せることなく出力を加算して円偏光のレーザ光を得るの
で、良好なビーム品質で大出力を達成することが可能に
なる。
1に係わる本発明のレーザ加工装置は、直線偏光の第1
のレーザ光を出力する第1のレーザ発振器と、前記第1
のレーザ光と偏光方向が90度異なる直線偏光の第2の
レーザ光を出力する第2のレーザ発振器と、前記第1の
レーザ光と前記第2のレーザ光とを交差させた位置に、
前記第1または第2のレーザ光のいずれか一方に対して
ブリュースタ角度で設置した透過板とを備え、前記透過
板を透過したレーザ光と反射したレーザ光とが同一光線
上に進行して加算され、偏光方向がランダムな加工用の
レーザ光を生成するようにしたことにより、出力が大き
く、かつ円偏波のレーザ光に近い加工結果をもたらすビ
ーム品質のよいレーザ加工装置を実現できる。
実施例の構成を示す模式図
Claims (1)
- 【請求項1】 直線偏光の第1のレーザ光を出力する第
1のレーザ発振器と、前記第1のレーザ光と偏光方向が
90度異なる直線偏光の第2のレーザ光を出力する第2
のレーザ発振器と、前記第1のレーザ光と前記第2のレ
ーザ光とを交差させた位置に、前記第1または第2のレ
ーザ光のいずれか一方に対してブリュースタ角度で設置
した透過板とを備え、前記透過板を透過したレーザ光と
反射したレーザ光とが同一光線上に進行して加算され、
偏光方向がランダムな加工用のレーザ光を生成するよう
にしたレーザ加工装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20789795A JP3297834B2 (ja) | 1995-07-21 | 1995-07-21 | レーザ加工装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20789795A JP3297834B2 (ja) | 1995-07-21 | 1995-07-21 | レーザ加工装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0929467A JPH0929467A (ja) | 1997-02-04 |
JP3297834B2 true JP3297834B2 (ja) | 2002-07-02 |
Family
ID=16547392
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20789795A Expired - Fee Related JP3297834B2 (ja) | 1995-07-21 | 1995-07-21 | レーザ加工装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3297834B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2636478A4 (en) * | 2010-11-01 | 2017-08-16 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Cutting tool, production method for same, and production device |
CN111045039A (zh) * | 2019-12-18 | 2020-04-21 | 中国科学院国家空间科学中心 | 一种gnss反射信号布儒斯特角的测量方法及装置 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4497147B2 (ja) * | 1998-12-16 | 2010-07-07 | セイコーエプソン株式会社 | 半導体チップの製造方法、半導体装置の製造方法、回路基板の製造方法及び電子機器の製造方法 |
CN1200793C (zh) | 1999-02-25 | 2005-05-11 | 精工爱普生株式会社 | 利用激光加工被加工物的方法 |
JP4148138B2 (ja) * | 2001-11-15 | 2008-09-10 | 三菱電機株式会社 | レーザ加工装置 |
KR102679073B1 (ko) | 2018-09-11 | 2024-07-02 | 삼성디스플레이 주식회사 | 레이저 박리 장치 및 표시 장치의 제조 방법 |
JP7549981B2 (ja) * | 2020-06-26 | 2024-09-12 | 三菱重工業株式会社 | 表面加工装置および方法 |
-
1995
- 1995-07-21 JP JP20789795A patent/JP3297834B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2636478A4 (en) * | 2010-11-01 | 2017-08-16 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Cutting tool, production method for same, and production device |
CN111045039A (zh) * | 2019-12-18 | 2020-04-21 | 中国科学院国家空间科学中心 | 一种gnss反射信号布儒斯特角的测量方法及装置 |
CN111045039B (zh) * | 2019-12-18 | 2021-12-07 | 中国科学院国家空间科学中心 | 一种gnss反射信号布儒斯特角的测量方法及装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0929467A (ja) | 1997-02-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4413342A (en) | Method and apparatus for frequency doubling a laser beam | |
KR100348012B1 (ko) | 수동적으로 안정화된 내부 공동 이광 레이저 | |
US7102118B2 (en) | Beam formation unit comprising two axicon lenses, and device comprising one such beam formation unit for introducing radiation energy into a workpiece consisting of a weakly-absorbent material | |
JP2010003755A (ja) | 波長変換レーザ装置 | |
US5245618A (en) | Laser beam generating apparatus | |
JPS62222689A (ja) | Co↓2‐レ−ザ−高出力パルスを発生させるための | |
JP3297834B2 (ja) | レーザ加工装置 | |
IL100617A (en) | Ramen laser device backwards with multiple focal points | |
JP3792717B2 (ja) | レーザ増幅器 | |
US6873633B2 (en) | Solid-state laser | |
US20230253752A1 (en) | Laser oscillation amplifier comprising semiconductor laser shaping device | |
JP2712232B2 (ja) | レーザ光源 | |
CN116191187A (zh) | 一种适用于米散射激光雷达的高稳定性大能量固体激光器 | |
CN115084980A (zh) | 高功率纳秒腔外五倍频激光器 | |
CN213069367U (zh) | 防光反馈的高功率激光双光束偏振合束加工光源系统 | |
US5230004A (en) | Narrow beam oscillator and large volume amplifier utilizing same gain medium | |
JP3975671B2 (ja) | レーザ装置 | |
CN111702349A (zh) | 一种激光切割装置及切割方法 | |
CN212676602U (zh) | 一种高光束质量的激光器 | |
CN218275499U (zh) | 高功率纳秒腔外五倍频激光器 | |
US11848541B2 (en) | Spectral beam combiner with independent wavelength stabilization | |
CN216903713U (zh) | 一种提高红外皮秒激光器单脉冲能量的装置 | |
JP3325233B2 (ja) | レーザ増幅装置 | |
JP3320021B2 (ja) | レーザ増幅装置 | |
JPS5930494A (ja) | レ−ザ加工装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080419 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090419 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100419 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110419 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120419 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130419 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130419 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140419 Year of fee payment: 12 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |