JP3287441B2 - 光線路識別用光部品並びにその遠隔測定方法及び装置 - Google Patents
光線路識別用光部品並びにその遠隔測定方法及び装置Info
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- JP3287441B2 JP3287441B2 JP22045594A JP22045594A JP3287441B2 JP 3287441 B2 JP3287441 B2 JP 3287441B2 JP 22045594 A JP22045594 A JP 22045594A JP 22045594 A JP22045594 A JP 22045594A JP 3287441 B2 JP3287441 B2 JP 3287441B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光線路識別用光部品並び
にその遠隔測定方法及び装置に関するものである。
にその遠隔測定方法及び装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光線路の所定の位置（通常、先端）に設
けて該光線路を識別するための識別情報を付与する部品
として、線路方向の数１００μｍ間隔毎に反射点を設け
るか否かによって識別情報の「１」及び「０」を表すよ
うになした光線路識別用光部品（以下、単に光部品と称
す。）がある。この光部品を遠隔から測定する、いいか
えれば識別情報を遠隔から読み取る方法として、従来、
低コヒーレンス光源とマイケルソン干渉計とを用いた方
法が知られている（例えば、光学、１８〔１１〕（１９
８９）「光導波路評価用干渉型後方散乱測定系」参
照）。
けて該光線路を識別するための識別情報を付与する部品
として、線路方向の数１００μｍ間隔毎に反射点を設け
るか否かによって識別情報の「１」及び「０」を表すよ
うになした光線路識別用光部品（以下、単に光部品と称
す。）がある。この光部品を遠隔から測定する、いいか
えれば識別情報を遠隔から読み取る方法として、従来、
低コヒーレンス光源とマイケルソン干渉計とを用いた方
法が知られている（例えば、光学、１８〔１１〕（１９
８９）「光導波路評価用干渉型後方散乱測定系」参
照）。
【０００３】図２は前述した従来の遠隔測定方法を示す
もので、図中、１は低コヒーレンス光源、２はビームス
プリッタ、３は測定対象の光線路、４は参照光用の光線
路、例えば参照光ファイバ、５は光部品、６は参照光フ
ァイバ４の延長方向に変位可能な移動鏡、７は検出器で
ある。
もので、図中、１は低コヒーレンス光源、２はビームス
プリッタ、３は測定対象の光線路、４は参照光用の光線
路、例えば参照光ファイバ、５は光部品、６は参照光フ
ァイバ４の延長方向に変位可能な移動鏡、７は検出器で
ある。
【０００４】低コヒーレンス光源１より出射した信号光
はビームスプリッタ２で２分され、一方は光線路３に入
射し、また、他方は参照光ファイバ４に入射する。光線
路３を伝搬した信号光は光部品５の反射点で反射され、
識別情報用反射光として光線路３を逆方向に伝搬する。
一方、参照光ファイバ４を伝搬した信号光は移動鏡６で
反射され、参照用反射光として参照光ファイバ４を逆方
向に伝搬する。
はビームスプリッタ２で２分され、一方は光線路３に入
射し、また、他方は参照光ファイバ４に入射する。光線
路３を伝搬した信号光は光部品５の反射点で反射され、
識別情報用反射光として光線路３を逆方向に伝搬する。
一方、参照光ファイバ４を伝搬した信号光は移動鏡６で
反射され、参照用反射光として参照光ファイバ４を逆方
向に伝搬する。
【０００５】前記識別情報用反射光と参照用反射光とは
ビームスプリッタ２で合波されるが、この時、移動鏡６
の変位により変化する参照用反射光の光路長が、反射点
からの識別情報用反射光に対する光路長と一致すると、
干渉縞（フリンジ）が発生する。従って、光部品５に複
数の反射点があると、各反射点に対応して干渉フリンジ
が発生する。該干渉フリンジは検出器７にて光強度の変
化として検出される。
ビームスプリッタ２で合波されるが、この時、移動鏡６
の変位により変化する参照用反射光の光路長が、反射点
からの識別情報用反射光に対する光路長と一致すると、
干渉縞（フリンジ）が発生する。従って、光部品５に複
数の反射点があると、各反射点に対応して干渉フリンジ
が発生する。該干渉フリンジは検出器７にて光強度の変
化として検出される。
【０００６】ここで、低コヒーレンス光源１として、ス
ペクトル幅数１０ｎｍのＬＥＤを用いた時の干渉フリン
ジ幅は数１０μｍであり、この値が測定分解能（分離し
て検出可能な各反射点の最低間隔）となる。
ペクトル幅数１０ｎｍのＬＥＤを用いた時の干渉フリン
ジ幅は数１０μｍであり、この値が測定分解能（分離し
て検出可能な各反射点の最低間隔）となる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
た方法では、測定位置から光部品の設置位置までの距
離、即ち光線路の長さａに対応した参照光ファイバが必
要となり、長さの異なる光線路の測定を行うには、各光
線路に正確に対応した長さの参照光ファイバを用意し
て、測定の都度、これを交換しなければならず、実用的
でないという問題があった。
た方法では、測定位置から光部品の設置位置までの距
離、即ち光線路の長さａに対応した参照光ファイバが必
要となり、長さの異なる光線路の測定を行うには、各光
線路に正確に対応した長さの参照光ファイバを用意し
て、測定の都度、これを交換しなければならず、実用的
でないという問題があった。
【０００８】また、光線路の長さが数キロに達する場
合、光線路と参照光ファイバとの相違に基づく波長分散
や偏波分散の影響により、測定分解能が距離に比例して
劣化するため、光部品における各反射点の配設間隔を広
くしなければならず、その分、光部品が大型化してしま
うという問題があった。
合、光線路と参照光ファイバとの相違に基づく波長分散
や偏波分散の影響により、測定分解能が距離に比例して
劣化するため、光部品における各反射点の配設間隔を広
くしなければならず、その分、光部品が大型化してしま
うという問題があった。
【０００９】本発明の目的は、参照光ファイバを必要と
することなく、しかも小型となし得る光線路識別用光部
品並びにその遠隔測定方法及び装置を提供することにあ
る。
することなく、しかも小型となし得る光線路識別用光部
品並びにその遠隔測定方法及び装置を提供することにあ
る。
【００１０】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、請求項１では、光線路の所定の位置に設けて該光線
路を識別するための識別情報を付与する光線路識別用光
部品において、所定の間隔毎に反射点を設けるか否かに
よって識別情報を表す識別情報用反射部と、識別情報用
反射部との間に該識別情報用反射部の全長よりも長い距
離を隔てて設けられた反射点よりなる参照用反射部とを
備えた光線路識別用光部品を提案する。
め、請求項１では、光線路の所定の位置に設けて該光線
路を識別するための識別情報を付与する光線路識別用光
部品において、所定の間隔毎に反射点を設けるか否かに
よって識別情報を表す識別情報用反射部と、識別情報用
反射部との間に該識別情報用反射部の全長よりも長い距
離を隔てて設けられた反射点よりなる参照用反射部とを
備えた光線路識別用光部品を提案する。
【００１１】また、請求項２では、光ファイバのコアの
部分まで達するスリットにより反射点を構成した請求項
１記載の光線路識別用光部品を提案する。
部分まで達するスリットにより反射点を構成した請求項
１記載の光線路識別用光部品を提案する。
【００１２】また、請求項３では、所定の間隔毎に反射
点を設けるか否かによって識別情報を表す識別情報用反
射部と、識別情報用反射部との間に該識別情報用反射部
の全長よりも長い距離を隔てて設けられた反射点よりな
る参照用反射部とを備えた光線路識別用光部品を所定の
位置に設けた光線路に低コヒーレンスな光を入射し、前
記光線路識別用光部品からの反射光を二分し、該二分し
た一方の反射光に遅延を与えるとともに他方の反射光に
変調を加えて再び合波し、前記遅延量を前記識別情報用
反射部と参照用反射部との間の距離に相当する量を中心
として変化させながら前記合波光の光強度の変化を測定
する光線路識別用光部品の遠隔測定方法を提案する。
点を設けるか否かによって識別情報を表す識別情報用反
射部と、識別情報用反射部との間に該識別情報用反射部
の全長よりも長い距離を隔てて設けられた反射点よりな
る参照用反射部とを備えた光線路識別用光部品を所定の
位置に設けた光線路に低コヒーレンスな光を入射し、前
記光線路識別用光部品からの反射光を二分し、該二分し
た一方の反射光に遅延を与えるとともに他方の反射光に
変調を加えて再び合波し、前記遅延量を前記識別情報用
反射部と参照用反射部との間の距離に相当する量を中心
として変化させながら前記合波光の光強度の変化を測定
する光線路識別用光部品の遠隔測定方法を提案する。
【００１３】また、請求項４では、低コヒーレンスな光
を発生する光源と、光源からの光を、所定の間隔毎に反
射点を設けるか否かによって識別情報を表す識別情報用
反射部と、識別情報用反射部との間に該識別情報用反射
部の全長よりも長い距離を隔てて設けられた反射点より
なる参照用反射部とを備えた光線路識別用光部品を所定
の位置に設けた光線路に入射するとともに、該光線路か
ら出射される光を分離して出力する反射光分離部と、反
射光分離部から出力される光を二分する第１の光カプラ
と、該二分した一方の光に遅延を与える光遅延回路部
と、二分した他方の光に位相変調を加える変調回路部
と、その各々の光を再び合波する第２の光カプラとから
なるマッハツェンダ干渉計と、第２の光カプラからの出
力光の光強度を検出する検出器とを備え、前記遅延量を
前記識別情報用反射部と参照用反射部との間の距離に相
当する量を中心として変化させながら第２の光カプラか
らの出力光の光強度の変化を測定する光線路識別用光部
品の遠隔測定装置を提案する。
を発生する光源と、光源からの光を、所定の間隔毎に反
射点を設けるか否かによって識別情報を表す識別情報用
反射部と、識別情報用反射部との間に該識別情報用反射
部の全長よりも長い距離を隔てて設けられた反射点より
なる参照用反射部とを備えた光線路識別用光部品を所定
の位置に設けた光線路に入射するとともに、該光線路か
ら出射される光を分離して出力する反射光分離部と、反
射光分離部から出力される光を二分する第１の光カプラ
と、該二分した一方の光に遅延を与える光遅延回路部
と、二分した他方の光に位相変調を加える変調回路部
と、その各々の光を再び合波する第２の光カプラとから
なるマッハツェンダ干渉計と、第２の光カプラからの出
力光の光強度を検出する検出器とを備え、前記遅延量を
前記識別情報用反射部と参照用反射部との間の距離に相
当する量を中心として変化させながら第２の光カプラか
らの出力光の光強度の変化を測定する光線路識別用光部
品の遠隔測定装置を提案する。
【００１４】また、請求項５では、第２の光カプラから
出力される２つの出力光をそれぞれ電気信号に変換する
２つの光検出器と、該２つの光検出器の出力信号を加算
する差動増幅器と、差動増幅器の出力信号よりマッハツ
ェンダ干渉計における変調周波数又はその高調波成分の
信号振幅を検出するベクトルシグナルアナライザとから
なる検出器を用いた請求項４記載の光線路識別用光部品
の遠隔測定装置を提案する。
出力される２つの出力光をそれぞれ電気信号に変換する
２つの光検出器と、該２つの光検出器の出力信号を加算
する差動増幅器と、差動増幅器の出力信号よりマッハツ
ェンダ干渉計における変調周波数又はその高調波成分の
信号振幅を検出するベクトルシグナルアナライザとから
なる検出器を用いた請求項４記載の光線路識別用光部品
の遠隔測定装置を提案する。
【００１５】
【作用】請求項１の発明によれば、識別情報反射部によ
り識別情報用反射光を発生させ、また、参照用反射部に
より参照用反射光を発生させることができ、これらを干
渉させることによって識別情報を表す光強度の変化を取
り出すことができる。
り識別情報用反射光を発生させ、また、参照用反射部に
より参照用反射光を発生させることができ、これらを干
渉させることによって識別情報を表す光強度の変化を取
り出すことができる。
【００１６】また、請求項２の発明によれば、光ファイ
バに切削加工を施すのみで反射点を形成できる。
バに切削加工を施すのみで反射点を形成できる。
【００１７】また、請求項３の発明によれば、光線路に
入射された低コヒーレンスな光は光線路識別用光部品の
識別情報用反射部により反射されて識別情報用反射光を
生じるとともに参照用反射部により反射されて参照用反
射光を生じる。該識別情報用反射光及び参照用反射光を
含む反射光は二分され、一方の反射光が他方の反射光に
対して前記識別情報用反射部と参照用反射部との間の距
離に相当する量だけ遅延されて合波されることにより、
時間位置の一致した識別情報用反射光のうちの一の反射
光と参照用反射光とが干渉し、さらに遅延量が変化され
ることによって識別情報用反射光中の各反射光と参照用
反射光とが順次干渉し、識別情報用反射部における各反
射点に対応した干渉光が得られ、識別情報が取り出され
る。
入射された低コヒーレンスな光は光線路識別用光部品の
識別情報用反射部により反射されて識別情報用反射光を
生じるとともに参照用反射部により反射されて参照用反
射光を生じる。該識別情報用反射光及び参照用反射光を
含む反射光は二分され、一方の反射光が他方の反射光に
対して前記識別情報用反射部と参照用反射部との間の距
離に相当する量だけ遅延されて合波されることにより、
時間位置の一致した識別情報用反射光のうちの一の反射
光と参照用反射光とが干渉し、さらに遅延量が変化され
ることによって識別情報用反射光中の各反射光と参照用
反射光とが順次干渉し、識別情報用反射部における各反
射点に対応した干渉光が得られ、識別情報が取り出され
る。
【００１８】また、請求項４の発明によれば、光源より
発生した低コヒーレンスな光は反射光分離部を経て光線
路に入射され、これを伝搬して光線路識別用光部品に達
し、その識別情報用反射部により反射されて識別情報用
反射光として光線路を逆方向に伝搬するとともに参照用
反射部により反射されて参照用反射光として光線路を逆
方向に伝搬する。該識別情報用反射光及び参照用反射光
を含む反射光は反射光分離部により分離されてマッハツ
ェンダ干渉計に入射され、その第１の光カプラにより二
分される。二分された一方の反射光は光遅延回路部によ
り前記識別情報用反射部と参照用反射部との間の距離に
相当する量の遅延が与えられ、また、他方の反射光は変
調回路部により位相変調され、第２の光カプラにより再
び合波される。ここで、時間位置の一致した識別情報用
反射光のうちの一の反射光と参照用反射光とが干渉し、
さらに遅延量が変化されることによって識別情報用反射
光中の各反射光と参照用反射光とが順次干渉し、識別情
報用反射部における各反射点に対応した干渉光が得られ
るが、この時、第２の光カプラから出力される光の光強
度が検出器により検出され、識別情報が取り出される。
なお、識別情報用反射光は変調回路部により位相変調を
受けているため、参照用反射光との干渉成分のみが検出
され、背景光は検出されない。
発生した低コヒーレンスな光は反射光分離部を経て光線
路に入射され、これを伝搬して光線路識別用光部品に達
し、その識別情報用反射部により反射されて識別情報用
反射光として光線路を逆方向に伝搬するとともに参照用
反射部により反射されて参照用反射光として光線路を逆
方向に伝搬する。該識別情報用反射光及び参照用反射光
を含む反射光は反射光分離部により分離されてマッハツ
ェンダ干渉計に入射され、その第１の光カプラにより二
分される。二分された一方の反射光は光遅延回路部によ
り前記識別情報用反射部と参照用反射部との間の距離に
相当する量の遅延が与えられ、また、他方の反射光は変
調回路部により位相変調され、第２の光カプラにより再
び合波される。ここで、時間位置の一致した識別情報用
反射光のうちの一の反射光と参照用反射光とが干渉し、
さらに遅延量が変化されることによって識別情報用反射
光中の各反射光と参照用反射光とが順次干渉し、識別情
報用反射部における各反射点に対応した干渉光が得られ
るが、この時、第２の光カプラから出力される光の光強
度が検出器により検出され、識別情報が取り出される。
なお、識別情報用反射光は変調回路部により位相変調を
受けているため、参照用反射光との干渉成分のみが検出
され、背景光は検出されない。
【００１９】また、請求項５の発明によれば、第２の光
カプラから出力される２つの出力光、即ち干渉光は２つ
の光検出器でそれぞれ電気信号に変換され、差動増幅器
で加算されるが、この際、雑音信号が互いに打ち消し合
うことになる。
カプラから出力される２つの出力光、即ち干渉光は２つ
の光検出器でそれぞれ電気信号に変換され、差動増幅器
で加算されるが、この際、雑音信号が互いに打ち消し合
うことになる。
【００２０】
【実施例】図１は本発明の光線路識別用光部品の一実施
例を示すもので、光線路識別用光部品（以下、単に光部
品と称す。）１０は波長選択部品１１及び反射部品１２
から構成され、波長選択部品１１により通信用信号光Ａ
と測定用信号光Ｂとに分離し、通信用信号光Ａに対する
反射部品１２の影響を抑えるようになしている。
例を示すもので、光線路識別用光部品（以下、単に光部
品と称す。）１０は波長選択部品１１及び反射部品１２
から構成され、波長選択部品１１により通信用信号光Ａ
と測定用信号光Ｂとに分離し、通信用信号光Ａに対する
反射部品１２の影響を抑えるようになしている。
【００２１】反射部品１２は、図３に示すように、光フ
ァイバ１３のコア１４の部分まで切削加工によりスリッ
トを設けて識別情報用反射部１５及び参照用反射部１６
を形成してなるものである。識別情報用反射部１５は数
１００μｍの一定間隔毎に反射点を構成するスリット１
７を設けるか否かによって光線路の識別情報の「１」及
び「０」を表すようになしている。また、参照用反射部
１６は識別情報用反射部１５との間に該識別情報用反射
部１５全体の長さよりも長い距離を隔てて設けられたス
リットにより構成されている。
ァイバ１３のコア１４の部分まで切削加工によりスリッ
トを設けて識別情報用反射部１５及び参照用反射部１６
を形成してなるものである。識別情報用反射部１５は数
１００μｍの一定間隔毎に反射点を構成するスリット１
７を設けるか否かによって光線路の識別情報の「１」及
び「０」を表すようになしている。また、参照用反射部
１６は識別情報用反射部１５との間に該識別情報用反射
部１５全体の長さよりも長い距離を隔てて設けられたス
リットにより構成されている。
【００２２】図４は本発明の遠隔測定方法の測定原理を
示すもので、前述した光部品１０の識別情報用反射部１
５による識別情報用反射光Ｃと参照用反射部１６による
参照用反射光Ｄとを含む反射光Ｅを二分し、これらをそ
れぞれ別々の光路に入射して一方の反射光を他方の反射
光に対して遅延させ、合波することにより、時間位置の
一致した識別情報用反射光Ｃのうちの一の反射光と参照
用反射光Ｄとを干渉させ、さらに一方の光路の長さ、即
ち遅延量を変化させ、識別情報用反射光Ｃ中の各反射光
と参照用反射光Ｄとを順次干渉させることにより、光部
品１０の識別情報用反射部１５における各スリット１７
に対応した干渉光Ｆを得るようになしている。
示すもので、前述した光部品１０の識別情報用反射部１
５による識別情報用反射光Ｃと参照用反射部１６による
参照用反射光Ｄとを含む反射光Ｅを二分し、これらをそ
れぞれ別々の光路に入射して一方の反射光を他方の反射
光に対して遅延させ、合波することにより、時間位置の
一致した識別情報用反射光Ｃのうちの一の反射光と参照
用反射光Ｄとを干渉させ、さらに一方の光路の長さ、即
ち遅延量を変化させ、識別情報用反射光Ｃ中の各反射光
と参照用反射光Ｄとを順次干渉させることにより、光部
品１０の識別情報用反射部１５における各スリット１７
に対応した干渉光Ｆを得るようになしている。
【００２３】図５は本発明の遠隔測定方法を実施する装
置の一実施例を示すもので、図中、１０は前述した光線
路識別用光部品、２０は光源、３０は反射光分離部、４
０は測定対象の光線路、５０はマッハツェンダ干渉計、
６０は検出器である。
置の一実施例を示すもので、図中、１０は前述した光線
路識別用光部品、２０は光源、３０は反射光分離部、４
０は測定対象の光線路、５０はマッハツェンダ干渉計、
６０は検出器である。
【００２４】光源２０はコヒーレンス長が短く、適当な
広いスペクトル幅を有する光を発生する。この光はファ
イバ型光分岐部品で構成される反射光分離部３０を経
て、先端に光部品１０が設置された光線路４０に入射さ
れ、これを伝搬する。光部品１０で反射され、光線路４
０を逆方向に伝搬してきた光は前記反射光分離部３０を
介してマッハツェンダ干渉計５０に導かれる。
広いスペクトル幅を有する光を発生する。この光はファ
イバ型光分岐部品で構成される反射光分離部３０を経
て、先端に光部品１０が設置された光線路４０に入射さ
れ、これを伝搬する。光部品１０で反射され、光線路４
０を逆方向に伝搬してきた光は前記反射光分離部３０を
介してマッハツェンダ干渉計５０に導かれる。
【００２５】マッハツェンダ干渉計５０は、図６(a) に
示すように、第１の光カプラ５１と、第２の光カプラ５
２と、光遅延回路部５３と、位相変調を行う変調回路部
５４とから構成されている。前記反射光は光カプラ５１
で等しい強度比で二分され、一方は光遅延回路部５３
に、他方は変調回路部５４に導かれる。
示すように、第１の光カプラ５１と、第２の光カプラ５
２と、光遅延回路部５３と、位相変調を行う変調回路部
５４とから構成されている。前記反射光は光カプラ５１
で等しい強度比で二分され、一方は光遅延回路部５３
に、他方は変調回路部５４に導かれる。
【００２６】光遅延回路部５３は移動鏡５３ａと、移動
鏡機構部５３ｂと、光ファイバ及び移動鏡５３ａの光結
合に用いるレンズ５３ｃとから構成される。変調回路部
５４は、例えばシングルモードファイバを圧電素子５４
ａに巻き付けてなる位相変調器と、偏光子５４ｂとから
構成される。
鏡機構部５３ｂと、光ファイバ及び移動鏡５３ａの光結
合に用いるレンズ５３ｃとから構成される。変調回路部
５４は、例えばシングルモードファイバを圧電素子５４
ａに巻き付けてなる位相変調器と、偏光子５４ｂとから
構成される。
【００２７】光遅延回路部５３に導かれた反射光Ｅ１は
移動鏡５３ａにより参照用反射光Ｄが識別情報用反射光
Ｃと干渉するように光路差を与える。変調回路部５４に
導かれた反射光Ｅ２は圧電素子５４ａ及び偏光子５４ｂ
により構成される変調器により位相変調される。
移動鏡５３ａにより参照用反射光Ｄが識別情報用反射光
Ｃと干渉するように光路差を与える。変調回路部５４に
導かれた反射光Ｅ２は圧電素子５４ａ及び偏光子５４ｂ
により構成される変調器により位相変調される。
【００２８】光遅延回路部５３で遅延された光と変調回
路部５４で変調された光は光カプラ５２において合波さ
れ、移動鏡５３ａの変化とともに参照用反射光Ｄが順
次、識別情報用反射光Ｃと干渉して干渉フリンジを生じ
るとともに、等しい強度比で二分される。
路部５４で変調された光は光カプラ５２において合波さ
れ、移動鏡５３ａの変化とともに参照用反射光Ｄが順
次、識別情報用反射光Ｃと干渉して干渉フリンジを生じ
るとともに、等しい強度比で二分される。
【００２９】検出器６０は、図６(b) に示すように、２
つのフォトディテクタ６１，６２と、差動増幅器６３
と、ベクトルシグナルアナライザ６４とから構成されて
いる。前記二分された干渉光は前記フォトディテクタ６
１，６２で電気信号に変換され、差動増幅器６３で加算
され、変調回路部５４の変調周波数又はその高調波成分
の信号振幅がベクトルシグナルアナライザ６４で検出さ
れる。なお、識別情報用反射光Ｃは変調回路部５３によ
り位相変調を受けているため、参照用反射光Ｄと識別情
報用反射光Ｃの干渉成分のみが検出され、背景光は検出
されない。そのため、雑音成分を打ち消し合せて検出感
度を向上させることができる。
つのフォトディテクタ６１，６２と、差動増幅器６３
と、ベクトルシグナルアナライザ６４とから構成されて
いる。前記二分された干渉光は前記フォトディテクタ６
１，６２で電気信号に変換され、差動増幅器６３で加算
され、変調回路部５４の変調周波数又はその高調波成分
の信号振幅がベクトルシグナルアナライザ６４で検出さ
れる。なお、識別情報用反射光Ｃは変調回路部５３によ
り位相変調を受けているため、参照用反射光Ｄと識別情
報用反射光Ｃの干渉成分のみが検出され、背景光は検出
されない。そのため、雑音成分を打ち消し合せて検出感
度を向上させることができる。
【００３０】この時、移動鏡５３ａを識別情報用反射部
１５の長さの分だけ移動させ、光路長差を変化させるこ
とにより、参照用反射光Ｄと数１００μｍ間隔で構成さ
れた識別情報用反射光Ｃとの干渉波形を順次得ることが
できる。
１５の長さの分だけ移動させ、光路長差を変化させるこ
とにより、参照用反射光Ｄと数１００μｍ間隔で構成さ
れた識別情報用反射光Ｃとの干渉波形を順次得ることが
できる。
【００３１】図７は光線路識別用光部品の一具体例を示
す（但し、反射部品のみを示す。）もので、フェルール
７１で固定された光ファイバ７２に、該光ファイバ７２
のコア７３まで切断する幅１５μｍのスリット７４を、
２００μｍ間隔で識別情報「１１０１」に対応して設け
てなっている。
す（但し、反射部品のみを示す。）もので、フェルール
７１で固定された光ファイバ７２に、該光ファイバ７２
のコア７３まで切断する幅１５μｍのスリット７４を、
２００μｍ間隔で識別情報「１１０１」に対応して設け
てなっている。
【００３２】図８は前述した光部品を前記実施例の測定
方法により実際に測定した際の波形を示すものである。
図中、横軸は光路長差、縦軸は反射率、斜め軸は測定位
置から光部品の設置位置までの距離であり、ここでは距
離０、２、４、８、１０、１２、１６ｋｍの時の測定波
形を示している。
方法により実際に測定した際の波形を示すものである。
図中、横軸は光路長差、縦軸は反射率、斜め軸は測定位
置から光部品の設置位置までの距離であり、ここでは距
離０、２、４、８、１０、１２、１６ｋｍの時の測定波
形を示している。
【００３３】このように、本実施例によれば、１６ｋｍ
先に設置された光線路識別用光部品を参照用光ファイバ
を必要とすることなく測定可能であることが分かる。
先に設置された光線路識別用光部品を参照用光ファイバ
を必要とすることなく測定可能であることが分かる。
【００３４】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１の発明に
よれば、識別情報反射部により識別情報用反射光を発生
させ、また、参照用反射部により参照用反射光を発生さ
せることができ、これらを干渉させることによって識別
情報を表す光強度の変化を取り出すことができるため、
参照光ファイバを必要としない測定方法の実施が可能と
なり、また、識別情報用反射光と参照用反射光とを同一
光線路より得ることができ、測定位置から光部品の設置
位置までの距離の延長に伴う測定分解能の劣化を少なく
できるので、光部品における各反射点の配設間隔を広く
する必要がなく、超小型の光線路識別用光部品を提供で
きる。
よれば、識別情報反射部により識別情報用反射光を発生
させ、また、参照用反射部により参照用反射光を発生さ
せることができ、これらを干渉させることによって識別
情報を表す光強度の変化を取り出すことができるため、
参照光ファイバを必要としない測定方法の実施が可能と
なり、また、識別情報用反射光と参照用反射光とを同一
光線路より得ることができ、測定位置から光部品の設置
位置までの距離の延長に伴う測定分解能の劣化を少なく
できるので、光部品における各反射点の配設間隔を広く
する必要がなく、超小型の光線路識別用光部品を提供で
きる。
【００３５】また、請求項２の発明によれば、光ファイ
バに切削加工を施すのみで反射点を形成でき、製作容易
で安価な光線路識別用光部品を提供できる。
バに切削加工を施すのみで反射点を形成でき、製作容易
で安価な光線路識別用光部品を提供できる。
【００３６】また、請求項３の発明によれば、光線路を
介して光線路識別用光部品に低コヒーレンスな光を入射
することにより識別情報用反射光及び参照用反射光を含
む反射光を得て、これを二分して一方の反射光を他方の
反射光に対して遅延させて合波することにより干渉さ
せ、この遅延量を変化させることによって光線路識別用
光部品の識別情報用反射部における各反射点に対応した
干渉光を得ることができるので、参照光ファイバを必要
とすることなく識別情報を取り出すことができ、また、
識別情報用反射光と参照用反射光とを同一光線路より得
ることができ、測定位置から光部品の設置位置までの距
離の延長に伴う測定分解能の劣化を少なくできるので、
光部品における各反射点の配設間隔を広くする必要がな
く、超小型の光線路識別用光部品を提供できる。
介して光線路識別用光部品に低コヒーレンスな光を入射
することにより識別情報用反射光及び参照用反射光を含
む反射光を得て、これを二分して一方の反射光を他方の
反射光に対して遅延させて合波することにより干渉さ
せ、この遅延量を変化させることによって光線路識別用
光部品の識別情報用反射部における各反射点に対応した
干渉光を得ることができるので、参照光ファイバを必要
とすることなく識別情報を取り出すことができ、また、
識別情報用反射光と参照用反射光とを同一光線路より得
ることができ、測定位置から光部品の設置位置までの距
離の延長に伴う測定分解能の劣化を少なくできるので、
光部品における各反射点の配設間隔を広くする必要がな
く、超小型の光線路識別用光部品を提供できる。
【００３７】また、請求項４の発明によれば、識別情報
用反射光及び参照用反射光を含む反射光をマッハツェン
ダ干渉計に入射し、第１の光カプラにより二分し、一方
の反射光を光遅延回路部により遅延し、また、他方の反
射光を変調回路部により位相変調し、第２の光カプラに
より再び合波して干渉させ、該第２の光カプラから出力
される光の光強度を検出器により検出し、さらに光遅延
回路部における遅延量を変化させることによって光線路
識別用光部品の識別情報用反射部における各反射点に対
応した干渉光を得ることができるので、参照光ファイバ
を必要とすることなく識別情報を取り出すことができる
とともに、識別情報用反射光は変調回路部により位相変
調を受けているため、参照用反射光との干渉成分のみが
検出され、背景光は検出されないので、これによって検
出感度を向上させることができる。
用反射光及び参照用反射光を含む反射光をマッハツェン
ダ干渉計に入射し、第１の光カプラにより二分し、一方
の反射光を光遅延回路部により遅延し、また、他方の反
射光を変調回路部により位相変調し、第２の光カプラに
より再び合波して干渉させ、該第２の光カプラから出力
される光の光強度を検出器により検出し、さらに光遅延
回路部における遅延量を変化させることによって光線路
識別用光部品の識別情報用反射部における各反射点に対
応した干渉光を得ることができるので、参照光ファイバ
を必要とすることなく識別情報を取り出すことができる
とともに、識別情報用反射光は変調回路部により位相変
調を受けているため、参照用反射光との干渉成分のみが
検出され、背景光は検出されないので、これによって検
出感度を向上させることができる。
【００３８】また、請求項５の発明によれば、第２の光
カプラから出力される２つの出力光、即ち干渉光を２つ
の光検出器でそれぞれ電気信号に変換し、差動増幅器で
加算し、その後、ベクトルシグナルアナライザによりマ
ッハツェンダ干渉計における変調周波数又はその高調波
成分の信号振幅を検出しているため、雑音信号を互いに
打ち消し合せることができ、これによって検出感度を向
上させることができる。
カプラから出力される２つの出力光、即ち干渉光を２つ
の光検出器でそれぞれ電気信号に変換し、差動増幅器で
加算し、その後、ベクトルシグナルアナライザによりマ
ッハツェンダ干渉計における変調周波数又はその高調波
成分の信号振幅を検出しているため、雑音信号を互いに
打ち消し合せることができ、これによって検出感度を向
上させることができる。
【図１】本発明の光線路識別用光部品の一実施例を示す
構成図
構成図
【図２】従来の遠隔測定方法の一例を示す構成図
【図３】図１中の反射部品の詳細を示す構成図
【図４】本発明の遠隔測定方法の測定原理を示す図
【図５】本発明の遠隔測定方法を実施する装置の一実施
例を示す構成図
例を示す構成図
【図６】図５中のマッハツェンダ干渉計及び検出器の詳
細を示す構成図
細を示す構成図
【図７】光線路識別用光部品の一具体例を示す図
【図８】図７の光部品を本発明の遠隔測定方法により測
定した際の結果を示す図
定した際の結果を示す図
１０…光線路識別用光部品、１１…波長選択部品、１２
…反射部品、１３…光ファイバ、１４…コア、１５…識
別情報用反射部、１６…参照用反射部、１７…スリッ
ト、２０…光源、３０…反射光分離部、４０…光線路、
５０…マッハツェンダ干渉計、５１，５２…光カプラ、
５３…光遅延回路部、５４…変調回路部、６０…検出
器、６１，６２…フォトディテクタ、６３…差動増幅
器、６４…ベクトルシグナルアナライザ。
…反射部品、１３…光ファイバ、１４…コア、１５…識
別情報用反射部、１６…参照用反射部、１７…スリッ
ト、２０…光源、３０…反射光分離部、４０…光線路、
５０…マッハツェンダ干渉計、５１，５２…光カプラ、
５３…光遅延回路部、５４…変調回路部、６０…検出
器、６１，６２…フォトディテクタ、６３…差動増幅
器、６４…ベクトルシグナルアナライザ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平５−157659（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−34832（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−307121（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−288940（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−11148（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01M 11/00 G02B 6/00 G02B 6/00 336 H04B 10/08
Claims (5)
- 【請求項１】 光線路の所定の位置に設けて該光線路を
識別するための識別情報を付与する光線路識別用光部品
において、 所定の間隔毎に反射点を設けるか否かによって識別情報
を表す識別情報用反射部と、 識別情報用反射部との間に該識別情報用反射部の全長よ
りも長い距離を隔てて設けられた反射点よりなる参照用
反射部とを備えたことを特徴とする光線路識別用光部
品。 - 【請求項２】 光ファイバのコアの部分まで達するスリ
ットにより反射点を構成したことを特徴とする請求項１
記載の光線路識別用光部品。 - 【請求項３】 所定の間隔毎に反射点を設けるか否かに
よって識別情報を表す識別情報用反射部と、識別情報用
反射部との間に該識別情報用反射部の全長よりも長い距
離を隔てて設けられた反射点よりなる参照用反射部とを
備えた光線路識別用光部品を所定の位置に設けた光線路
に低コヒーレンスな光を入射し、 前記光線路識別用光部品からの反射光を二分し、 該二分した一方の反射光に遅延を与えるとともに他方の
反射光に変調を加えて再び合波し、 前記遅延量を前記識別情報用反射部と参照用反射部との
間の距離に相当する量を中心として変化させながら前記
合波光の光強度の変化を測定することを特徴とする光線
路識別用光部品の遠隔測定方法。 - 【請求項４】 低コヒーレンスな光を発生する光源と、 光源からの光を、所定の間隔毎に反射点を設けるか否か
によって識別情報を表す識別情報用反射部と、識別情報
用反射部との間に該識別情報用反射部の全長よりも長い
距離を隔てて設けられた反射点よりなる参照用反射部と
を備えた光線路識別用光部品を所定の位置に設けた光線
路に入射するとともに、該光線路から出射される光を分
離して出力する反射光分離部と、 反射光分離部から出力される光を二分する第１の光カプ
ラと、該二分した一方の光に遅延を与える光遅延回路部
と、二分した他方の光に位相変調を加える変調回路部
と、その各々の光を再び合波する第２の光カプラとから
なるマッハツェンダ干渉計と、 第２の光カプラからの出力光の光強度を検出する検出器
とを備え、 前記遅延量を前記識別情報用反射部と参照用反射部との
間の距離に相当する量を中心として変化させながら第２
の光カプラからの出力光の光強度の変化を測定すること
を特徴とする光線路識別用光部品の遠隔測定装置。 - 【請求項５】 第２の光カプラから出力される２つの出
力光をそれぞれ電気信号に変換する２つの光検出器と、
該２つの光検出器の出力信号を加算する差動増幅器と、
差動増幅器の出力信号よりマッハツェンダ干渉計におけ
る変調周波数又はその高調波成分の信号振幅を検出する
ベクトルシグナルアナライザとからなる検出器を用いた
ことを特徴とする請求項４記載の光線路識別用光部品の
遠隔測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22045594A JP3287441B2 (ja) | 1994-09-14 | 1994-09-14 | 光線路識別用光部品並びにその遠隔測定方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22045594A JP3287441B2 (ja) | 1994-09-14 | 1994-09-14 | 光線路識別用光部品並びにその遠隔測定方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0886717A JPH0886717A (ja) | 1996-04-02 |
| JP3287441B2 true JP3287441B2 (ja) | 2002-06-04 |
Family
ID=16751392
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22045594A Expired - Fee Related JP3287441B2 (ja) | 1994-09-14 | 1994-09-14 | 光線路識別用光部品並びにその遠隔測定方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3287441B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20180091674A (ko) * | 2017-02-06 | 2018-08-16 | (주)어크로스웨이브즈 | 광학적 시간 영역 반사 측정기를 이용한 광선로 원거리 노드 식별 시스템 및 그 식별용 소자 |
| KR20190095968A (ko) * | 2018-02-07 | 2019-08-19 | (주)노티스 | 광학적 시간 영역 반사 측정기를 이용한 광선로 원거리 노드 식별 시스템 및 그 식별용 소자 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5377156B2 (ja) * | 2009-08-21 | 2013-12-25 | 日本電信電話株式会社 | 光線路設備監視システム |
| JP2019152847A (ja) * | 2018-03-06 | 2019-09-12 | 日本電信電話株式会社 | 光通信配線の心線対照方法及び心線対照システム |
-
1994
- 1994-09-14 JP JP22045594A patent/JP3287441B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20180091674A (ko) * | 2017-02-06 | 2018-08-16 | (주)어크로스웨이브즈 | 광학적 시간 영역 반사 측정기를 이용한 광선로 원거리 노드 식별 시스템 및 그 식별용 소자 |
| KR102106948B1 (ko) * | 2017-02-06 | 2020-05-06 | (주)노티스 | 광학적 시간 영역 반사 측정기를 이용한 광선로 원거리 노드 식별 시스템 및 그 식별용 소자 |
| KR20190095968A (ko) * | 2018-02-07 | 2019-08-19 | (주)노티스 | 광학적 시간 영역 반사 측정기를 이용한 광선로 원거리 노드 식별 시스템 및 그 식별용 소자 |
| KR102107639B1 (ko) * | 2018-02-07 | 2020-05-08 | (주)노티스 | 광학적 시간 영역 반사 측정기를 이용한 광선로 원거리 노드 식별 시스템 및 그 식별용 소자 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0886717A (ja) | 1996-04-02 |
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