JP3282562B2 - ビタビ同期判定回路のメトリック値スレッショルドの決定法およびメトリック値スレッショルド決定装置 - Google Patents

ビタビ同期判定回路のメトリック値スレッショルドの決定法およびメトリック値スレッショルド決定装置

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JP3282562B2 JP29215197A JP29215197A JP3282562B2 JP 3282562 B2 JP3282562 B2 JP 3282562B2 JP 29215197 A JP29215197 A JP 29215197A JP 29215197 A JP29215197 A JP 29215197A JP 3282562 B2 JP3282562 B2 JP 3282562B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、デジタル衛星放送
信号等の復号において使用されるビタビ復号回路に関
し、特にビタビ同期判定回路のメトリック値スレッショ
ルドの決定法およびその装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、デイジタル通信システムにおける
誤り訂正符号化方式の1つとして、畳み込み符号化した
信号を復号するために、ビタビ復号法が多く使用されて
いる。
【0003】ビタビ同期判定回路は、ビタビ復号を行う
ビタビ復号回路内に構成されていて、復号に用いている
符号化率が、送信された信号が符号化する際に用いた符
号化率と同じ符号化率であるか否かを判定する。
【0004】図2にビタビ復号回路に含まれるビタビ同
期判定回路の構成を示す。ビタビ同期判定回路25は、
メトリック値計算部21、メトリック値スレッショルド
記憶部22、及び同期判定部24で構成される。
【0005】メトリック値計算部21への入力信号は、
ソースデータを畳み込み符号を拡張したパンクチュアー
ド符号で符号化した信号(以後単に畳み込み符号化した
信号と記す)である。そしてメトリック値計算部21
は、予め設定されたメトリック値測定時間内で、ビタビ
同期判定回路25への入力信号の所定のパスメトリック
正規化回数(以後メトリック値と記す)を計算する。
【0006】メトリック値スレッショルド設定部20
は、予め決められた複数のパンクチュアード符号化率
(以後単に各符号化率と記す)それぞれに応じた各メト
リック値のスレッショルド値(以後メトリック値スレッ
ショルドと記す)を設定する。その設定する数値の決定
法は後で説明する。そして、メトリック値スレッショル
ド設定部20は、各符号化率に応じて決定した各メトリ
ック値スレッショルドをメトリック値スレッショルド記
憶部22に記憶させる。
【0007】次に、同期判定部24によって、計算した
メトリック値とメトリック値スレッショルド記憶部22
に記憶されている複数のメトリック値スレッショルドの
何れかと比較する。比較結果に基づいてビタビ復号回路
の同期/非同期状態を判定する。すなわち、復号に用い
ている符号化率が、送信された信号が符号化するに際に
用いた符号化率と同じ符号化率であるか否か、を判定す
る。
【0008】もしも、 メトリック値 < メトリック値スレッショルド であるならば、ビタビ復号回路に於ける復号は、畳み込
み符号化された入力信号に同期していると判定して、同
期判定部24は同期信号を出力する。
【0009】もしも、 メトリック値 > メトリック値スレッショルド であるならば、ビタビ復号回路に於ける復号は、畳み込
み符号化された入力信号に同期していないと判定して、
同期判定部24は非同期信号を出力する。非同期と判定
した場合は、ビタビ同期判定回路は、メトリック値スレ
ッショルド記憶部22に記憶されている他の符号化率の
メトリック値スレッショルドを取り出し、そのメトリッ
ク値スレッショルドと、次に入力する入力信号をメトリ
ック値計算部21で計算されたメトリック値と再度比較
する。
【0010】ビタビ復号は同期していると判定するまで
この動作を繰り返す。この様にして、ビタビ同期判定回
路は、ビタビ復号は同期しているか否かを判定する。
【0011】又、メトリック値スレッショルド記憶部2
2から取り出されたメトリック値スレッショルドから、
畳み込み符号化された入力信号の符号化率を知る事が出
来る。
【0012】ここで、従来ビタビ同期判定回路25のメ
トリック値スレッショルドは、以下のメトリック値スレ
ッショルド決定装置により決定されていた。
【0013】図3に従来のビタビ同期回路のメトリック
値スレッショルド決定装置のブロック図を示す。従来の
メトリック値スレッショルド設定装置は、畳込み符号化
部13、ビタビ復号回路17、畳込み符号化部13及び
ビタビ復号回路17に符号化率を設定する符号化率設定
部31、ソースデータを出力するソースデータ出力部1
1、ビット当りのエネルギー対雑音電力密度(以下Eb
/Noと記す)を設定するEb/No設定部14、同期
している状態/同期していない状態をモニタする同期/
非同期モニタ部18、メトリック測定時間を設定するメ
トリック測定時間設定部15、メトリック値スレッショ
ルドを設定するメトリック値スレッショルド設定部2
0、及びメトリック値をモニターするメトリック値モニ
ター部19から構成される。
【0014】ビタビ同期判定回路はビタビ復号回路17
に含まれる。ビタビ復号回路17は、畳み込み符号化部
13に設定された符号化率と同じ符号化率を符号化率設
定部31により設定され、その符号化率でビタビ復号す
る。
【0015】図2のメトリック値スレッショルド記憶部
22に記憶すべき各符号化率のメトリック値スレッショ
ルドは、図3の構成のメトリック値スレッショルド決定
装置により決定されていた。
【0016】次に従来のメトリック値スレッショルドを
決定する手順を説明する。符号化率設定部31は、畳み
込み符号化部13及びビタビ復号回路17にソースデー
タの伝送に使用する符号化率の1つを設定する。ソース
データ出力部11から出力されるソースデータは、畳み
込み符号化部13において、符号化率設定部31によっ
て設定された符号化率で畳み込み符号化される。畳み込
み符号化部13の出力信号は、Eb/No設定部14に
より、所定のEb/Noを示す雑音を付加された後、ビ
タビ復号回路17に入力される。メトリック値測定時間
設定部15でメトリック値測定時間を変化させながら、
メトリック値モニタ部19でメトリック値を測定する。
そして、同期/非同期モニタ部18で同期状態/非同期
状態をモニタする。
【0017】復号が同期状態の場合はメトリック値モニ
タ部19で測定されたメトリック値Mの分布4aは、図
4のように小さな値でかつあるまとまった範囲に分布す
る。この分布状況はばらつくが、メトリック値測定時間
を長くするに従って安定する。メトリック値分布の最大
値をM1とする。
【0018】次に、ビタビ復号回路17は、畳み込み符
号化された信号の出力順序を故意に入れ換た信号を入力
されるか、又はEb/No設定部14によってEb/N
oを故意に劣化さた信号を入力される。これ等の操作を
受けた信号のビタビ復号は非同期状態となり、この非同
期状態に於いて、メトリック値モニタ部19で測定され
たメトリック値Mは図4(A)よりも大きな値となり、
分布4bは図4(B)のようになる。メトリック値分布
の最小値をM2とする。
【0019】図4(A)と図4(B)をまとめると図4
(C)のようなメトリック値分布4a、4bが得られ
る。あるメトリック値測定時間で測定された同期状態と
非同期状態のメトリック値Mが、図4(C)のように重
複することなく異なる値に分離して分布するならば、そ
のメトリック値測定時間が有効なものと判定出来る。同
期状態と非同期状態の場合のメトリック値が分離して分
布していて、その同期状態と非同期状態の中間のM1〜
M2のメトリック値を選択し、その値をメトリック値ス
レッショルドとして決定する。このような手順で使用さ
れるすべての符号化率についてそれぞれのメトリック値
スレッショルドが決定されていた。
【0020】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来は
他の符号化率のメトリック値との関係を考慮しなかった
ため、送信された信号が、ビタビ復号回路17が設定す
る符号化率と異なる符号化率で畳み込み符号化されてい
る場合、この信号をビタビ復号して発生するメトリック
値は符号化率によっては、非同期状態のメトリック値の
最小値が同期状態のメトリック値の最大値よりも小さな
値となり、同期状態のメトリック値と分離せず、重複す
る場合があり、適切なメトリック値スレッショルドを決
定することができない問題があった。
【0021】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明のビタビ同期判定回路のメトリック値スレッ
ショルドの決定法およびその装置は、同期判定部で非同
期と判定された最小の各メトリック値スレッショルド
を、前記ビタビ復号回路に設定した符号化率に対するメ
トリック値スレッショルドの上限値と決定することを特
徴としたものである。
【0022】本発明によれば、非同期状態のメトリック
値の最小値が同期状態のメトリック値の最大値よりも必
ず大きな値となり、同期状態のメトリック値と重複しな
い各符号化率の適切なメトリック値スレッショルドを決
定することができるビタビ同期判定回路のメトリック値
スレッショルドの決定法およびその装置を提供できる。
【0023】
【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、複数の符号化率で畳み込み符号化され送出された信
号を受信し復号するビタビ復号回路のメトリック値スレ
ッショルドの決定法であって送出された信号に使用され
る符号化率の1つをビタビ復号回路に設定するステップ
と、前記送出された信号が使用する符号化率の中、前記
ビタビ復号回路に設定した符号化率以外の符号化率のそ
れぞれで畳込み符号化するステップと、前記それぞれの
符号化率で畳込み符号化された信号をそれぞれビタビ復
号するステップと、前記ビタビ復号により得られる各メ
トリック値の内の最小のメトリック値を、前記ビタビ復
号回路に設定した符号化率に対するメトリック値スレッ
ショルドであると決定するステップとを有するビタビ同
期判定回路のメトリック値スレッショルドの決定法とし
たものであり、非同期状態のメトリック値の最小値が同
期状態のメトリック値の最大値よりも必ず大きな値とな
り、同期状態のメトリック値と重複しない各符号化率の
適切なメトリック値スレッショルドを決定することがで
きるという作用を有する。
【0024】請求項2に記載の発明は、複数の符号化率
で畳み込み符号化され送出された信号を受信し復号する
ビタビ復号回路のメトリック値スレッショルドの決定法
であって、送出された信号に使用される符号化率の1つ
をビタビ復号回路に設定するステップと、前記送出され
た信号が使用する符号化率の中、前記ビタビ復号回路に
設定した符号化率以外の符号化率のそれぞれで畳込み符
号化するステップと、前記それぞれの符号化率で畳込み
符号化された信号をそれぞれビタビ復号するステップ
と、メトリック値スレッショルド設定部よりメトリック
値スレッショルドを順次設定するステップと、同期判定
部に於いて同期/非同期を判定するステップと、前記同
期判定部で非同期と判定された最小の各メトリック値ス
レッショルドを、前記ビタビ復号回路に設定した符号化
率に対するメトリック値スレッショルドであると決定す
るステップを有するビタビ同期判定回路のメトリック値
スレッショルドの決定法としたものであり、非同期状態
のメトリック値の最小値が同期状態のメトリック値の最
大値よりも必ず大きな値となり、同期状態のメトリック
値と重複しない各符号化率の適切なメトリック値スレッ
ショルドを決定することができるという作用を有する。
【0025】請求項3に記載の発明は、複数の符号化率
で畳み込み符号化され送出された信号を受信し復号する
ビタビ復号回路のメトリック値スレッショルドの決定法
であって、送出された信号に使用される符号化率の1つ
をビタビ復号回路に設定するステップと、前記送出され
た信号が使用する符号化率の中、前記ビタビ復号回路に
設定した符号化率以外の符号化率のそれぞれで畳込み符
号化するステップと、前記それぞれの符号化率で畳込み
符号化された信号をそれぞれビタビ復号するステップ
と、前記ビタビ復号により得られる各メトリック値の内
の最小のメトリック値を、前記ビタビ復号回路に設定し
た符号化率に対するメトリック値スレッショルドの上限
値と決定するステップと、送出された信号に使用される
符号化率の1つをビタビ復号回路に設定するステップ
と、前記ビタビ復号回路に設定された符号化率で畳込み
符号化するステップと、前記符号化率で畳み込み符号化
された信号をビタビ復号するステップと、前記ビタビ復
号によりビタビ同期判定回路で計測するそれぞれのメト
リック値の内の最大のメトリック値を、前記ビタビ復号
回路に設定した符号化率に対する前記メトリック値スレ
ッショルドの下限値と決定するステップと、前記上限値
と前記下限値との間のメトリック値をメトリック値スレ
ッショルドと決定するステップを有するビタビ同期判定
回路のメトリック値スレッショルドの決定法としたもの
であり、非同期状態のメトリック値の最小値が同期状態
のメトリック値の最大値よりも必ず大きな値となり、同
期状態のメトリック値と重複しない各符号化率の適切な
メトリック値スレッショルドを決定することができると
いう作用を有する。
【0026】請求項4に記載の発明は、複数の符号化率
で畳み込み符号化され送出された信号を受信し復号する
ビタビ復号回路のメトリック値スレッショルドの決定法
であって、送出された信号に使用される符号化率の1つ
をビタビ復号回路に設定するステップと、前記送出され
た信号が使用する符号化率の中、前記ビタビ復号回路に
設定した符号化率以外の符号化率のそれぞれで畳込み符
号化するステップと、前記それぞれの符号化率で畳込み
符号化された信号をそれぞれビタビ復号するステップ
と、メトリック値スレッショルド設定部よりメトリック
値スレッショルドを順次設定するステップと、同期判定
部に於いて同期/非同期を判定するステップと、前記同
期判定部で非同期と判定された最小の各メトリック値ス
レッショルドを、前記ビタビ復号回路に設定した符号化
率に対するメトリック値スレッショルドの上限値と決定
するステップと、送出された信号に使用される符号化率
の1つをビタビ復号回路に設定するステップと、前記ビ
タビ復号回路に設定された符号化率で畳込み符号化する
ステップと、前記符号化率で畳み込み符号化された信号
をビタビ復号するステップと、前記ビタビ復号によりビ
タビ同期判定回路で計測するそれぞれのメトリック値の
内の最大のメトリック値を、前記ビタビ復号回路に設定
した符号化率に対する前記メトリック値スレッショルド
の下限値と決定するステップと、前記上限値と前記下限
値との間のメトリック値をメトリック値スレッショルド
と決定するステップを有するビタビ同期判定回路のメト
リック値スレッショルドの決定法としたものであり、非
同期状態のメトリック値の最小値が同期状態のメトリッ
ク値の最大値よりも必ず大きな値となり、同期状態のメ
トリック値と重複しない各符号化率の適切なメトリック
値スレッショルドを決定することができるという作用を
有する。
【0027】請求項5に記載の発明は、前記上限値と前
記下限値とを平均したメトリック値をメトリック値スレ
ッショルドと決定することを特徴とする請求項4または
5記載のビタビ同期判定回路のメトリック値スレッショ
ルドの決定法としたものであり、非同期状態のメトリッ
ク値の最小値が同期状態のメトリック値の最大値よりも
必ず大きな値となり、同期状態のメトリック値と重複し
ない各符号化率の適切なメトリック値スレッショルドを
決定することができるという作用を有する。
【0028】請求項6に記載の発明は、前記送出された
信号が使用する符号化率の中、前記ビタビ復号回路に設
定した符号化率以外の符号化率のそれぞれで畳込み符号
化するステップの次に、前記畳み込み符号化された信号
をビタビ復号可能な限界のビット当りのエネルギー対雑
音電力密度にする雑音を付加してビタビ復号回路に入力
させるステップを有する請求項2記載のビタビ同期判定
回路のメトリック値スレッショルドの決定法としたもの
であり、非同期状態のメトリック値の最小値が同期状態
のメトリック値の最大値よりも必ず大きな値となり、同
期状態のメトリック値と重複しない各符号化率の適切な
メトリック値スレッショルドを決定することができると
いう作用を有する。
【0029】請求項7に記載の発明は、前記送出された
信号が使用する符号化率の中、前記ビタビ復号回路に設
定した符号化率以外の符号化率のそれぞれで畳込み符号
化するステップの次に、前記畳み込み符号化された信号
をビタビ復号可能な限界のビット当りのエネルギー対雑
音電力密度にする雑音を付加してビタビ復号回路に入力
させるステップを有する請求項3記載のビタビ同期判定
回路のメトリック値スレッショルドの決定法としたもの
であり、非同期状態のメトリック値の最小値が同期状態
のメトリック値の最大値よりも必ず大きな値となり、同
期状態のメトリック値と重複しない各符号化率の適切な
メトリック値スレッショルドを決定することができると
いう作用を有する。
【0030】請求項8に記載の発明は、前記送出された
信号が使用する符号化率の中、前記ビタビ復号回路に設
定した符号化率以外の符号化率のそれぞれで畳込み符号
化するステップおよび前記ビタビ復号回路に設定された
符号化率で畳込み符号化するステップの次に、前記畳み
込み符号化された信号をビタビ復号可能な限界のビット
当りのエネルギー対雑音電力密度にする雑音を付加して
ビタビ復号回路に入力させるステップを有する請求項4
記載のビタビ同期判定回路のメトリック値スレッショル
ドの決定法としたものであり、非同期状態のメトリック
値の最小値が同期状態のメトリック値の最大値よりも必
ず大きな値となり、同期状態のメトリック値と重複しな
い各符号化率の適切なメトリック値スレッショルドを決
定することができるという作用を有する。
【0031】請求項9に記載の発明は、送信されたデー
タと同様のデータを送出できるソースデータ出力手段、
符号化率を設定する第2符号化率設定手段、前記ソース
データ出力手段の出力を、前記第2符号化率設定手段が
設定した符号化率で畳み込み符号化する畳込み符号化手
段、前記畳込み符号化手段の出力に、所定のビット当り
のエネルギー対雑音電力密度を付加するEb/No設定
手段、前記Eb/No設定手段の出力をビタビ復号する
ビタビ復号手段、前記ビタビ復号手段にメトリック値測
定時間を設定するメトリック値測定時間設定手段、前記
ビタビ復号手段に符号化率を設定する第1符号化率設定
手段、前記ビタビ復号手段にメトリック値スレッショル
ドを設定するメトリック値スレッショルド設定手段、前
記ビタビ復号手段の出力するメトリック値をモニタする
メトリック値モニタ手段、前記ビタビ復号手段の出力す
る同期/非同期をモニタする同期/非同期モニタ手段、
から構成されるビタビ同期判定回路のメトリック値スレ
ッショルド決定装置としたものであり、非同期状態のメ
トリック値の最小値が同期状態のメトリック値の最大値
よりも必ず大きな値となり、同期状態のメトリック値と
重複しない各符号化率の適切なメトリック値スレッショ
ルドを決定することができるという作用を有する。
【0032】請求項10に記載の発明は、前記第1符号
化率設定手段と前記第2符号化率設定手段は互いに異な
る符号化率を設定することを特徴とする請求項9記載の
メトリック値スレッショルド決定装置としたものであ
り、非同期状態のメトリック値の最小値が同期状態のメ
トリック値の最大値よりも必ず大きな値となり、同期状
態のメトリック値と重複しない各符号化率の適切なメト
リック値スレッショルドを決定することができるという
作用を有する。
【0033】請求項11に記載の発明は、前記Eb/N
o設定手段は、前記畳込み符号化手段の出力信号のEb
/No値をビタビ復号可能な限界のビタビ同期限界Eb
/Noになるように設定することを特徴とする請求項9
記載のメトリック値スレッショルド決定装置としたもの
であり、非同期状態のメトリック値の最小値が同期状態
のメトリック値の最大値よりも必ず大きな値となり、同
期状態のメトリック値と重複しない各符号化率の適切な
メトリック値スレッショルドを決定することができると
いう作用を有する。
【0034】以下、本発明の第1の実施形態について、
図を用いて説明する。 (実施の形態1)図1はビタビ復号回路17に含まれる
ビタビ同期判定回路に設定すべきメトリック値スレッシ
ョルドを決定するために使われるメトリック値スレッシ
ョルド決定装置のブロック図を示す。図3と同一参照符
号のブロックは従来例で説明したのと同じ機能を有す
る。
【0035】メトリック値スレッショルド決定装置は、
ソースデータ出力部11、第2符号化率設定部12、畳
み込み符号化部13、Eb/No設定部14、第1符号
化率設定部16、ビタビ復号回路17、メトリック値測
定時間設定部15、メトリック値モニター部19、同期
/非同期モニタ部18、及びメトリック値スレッショル
ド設定部20から構成されている。
【0036】ソースデータ出力部11から出力するソー
スデータは衛星放送が送出するデータと同様なデータで
あって、畳み込み符号化部13に出力される。畳み込み
符号化部13はソースデータを、第2符号化率設定部1
2が設定した符号化率で畳み込み符号化する。畳み込み
符号化部13の出力信号は、Eb/No設定部14によ
り、所定のEb/Noの設定値の雑音の影響を受けた
後、ビタビ復号回路17に出力される。ビタビ復号回路
17は、Eb/No設定部14の出力信号を第1符号化
率設定部16が設定した符号化率でビタビ復号する。メ
トリック値モニター部19はメトリック値測定時間設定
部15が設定するメトリック値測定時間でビタビ復号回
路が発生するメトリック値をモニターする。
【0037】次に、この構成によって各符号化率に対す
るメトリック値スレッショルドを決定する方法を説明す
る。
【0038】例として送信側は、ソースデータを畳み込
み符号化部13でa、b、c、d、及びeの5種類の符
号化率を用いて畳み込み符号化して送出し、受信側は、
これら伝送されるデジタル信号をビタビ復号回路17で
ビタビ復号する場合を説明する。
【0039】先ず、ビタビ復号回路17が符号化率aで
復号する場合に使用するメトリック値スレッショルドの
決定は、以下の手順で行われる。
【0040】第1符号化率設定部16は、ビタビ復号回
路17に符号化率aを設定する。一方、第2符号化率設
定部12は、第1符号化率設定部16が設定した符号化
率以外の符号化率、例えばbを畳み込み符号化部13に
設定する。ソースデータ出力部11から出力されるソー
スデータは、畳み込み符号化部13において第2符号化
率設定部12によって設定された符号化率bで畳み込み
符号化される。ビット当りのエネルギー対雑音電力密度
Eb/No設定部14は、畳み込み符号化部13の出力
信号のEb/Noをビタビ復号可能な限界のビタビ同期
限界Eb/Noになるように設定する。それによって、
畳み込み符号化部13の出力は、Eb/No設定部14
により、Eb/Noがビタビ復号可能な限界のビタビ同
期限界Eb/Noになる雑音符号が付加され、ビタビ復
号回路17に入力される。メトリック値測定時間設定部
15でメトリック値測定時間を、メトリック値が十分に
安定する設定値(例えば1mSec)に設定する。メトリッ
ク値モニタ部19はビタビ同期判定回路で計算されたメ
トリック値をモニタする。
【0041】符号化率bで畳み込み符号化された信号を
受信した時に符号化率aでビタビ復号した場合は、非同
期である。
【0042】図5(A)は、符号化率bで畳み込み符号
化した信号を符号化率aでビタビ復号した場合のメトリ
ック値Mの分布5abを表す。分布5abは非同期状態
のメトリック値分布を表し、分布の最小値をM2abと
する。
【0043】同様にして、次に第1符号化率設定部16
はビタビ復号回路17に符号化率aを設定したまま、第
2符号化率設定部12は第1符号化率設定部16が設定
した符号化率以外の符号化率、例えばcを畳み込み符号
化部13に設定する。この場合も非同期であり、メトリ
ック値Mの分布は図5(B)の5acのようになる。さ
らに、第1符号化率設定部16はビタビ復号回路17に
符号化率aを設定したまま、第2符号化率設定部12は
第1符号化率設定部16が設定した符号化率以外の符号
化率d及びeを順次畳み込み符号化部13に設定する。
こうして図5(B)の5ad、5aeのような非同期の
分布が得られる。このようにメトリック値モニタ部19
が計測する非同期状態のメトリック値の分布はそれぞれ
の符号化率に応じて異なった分布を示す。
【0044】非同期状態のメトリック値分布5ab、5
ac、5ad、5aeの全体の最小値を図5(B)に示
すようにM2aとする。M2aは非同期の限界を示すメ
トリック値であり、したがってメトリック値スレッショ
ルドである。このようにして符号化率b、c、d、eで
畳み込み符号化された信号を受信した時に符号化率aで
ビタビ復号した場合のメトリック値スレッショルドM2
aが得られる。ビタビ復号回路17が符号化率aで復号
する場合に使用すべきメトリック値スレッショルドM2
aはこのようにして決定される。
【0045】同様にして、ビタビ復号回路17が符号化
率b、c、d、eで復号する場合に使用するメトリック
値スレッショルドM2b、M2c、M2d、M2eを決
定することができる。すなわち符号化率a、c、d、及
びeで畳み込み符号化した信号を符号化率bを用いたビ
タビ復号回路が復号する場合、又は、符号化率a、b、
d、及びeで畳み込み符号化した信号を符号化率cを用
いたビタビ復号回路が復号する場合、又は、符号化率
a、b、c、及びeで畳み込み符号化した信号を符号化
率dを用いたビタビ復号回路が復号する場合、又は、符
号化率a、b、c、及びdで畳み込み符号化した信号を
符号化率eを用いたビタビ復号回路が復号する場合につ
いても、前記と同様の方法でメトリック値スレッショル
ドM2b、M2c、M2d、M2eを決める事が出来
る。図5(C)に符号化率a、c、d、及びeで畳み込
み符号化した信号を符号化率bを用いたビタビ復号回路
が復号する場合のメトリック値スレッショルドM2bが
得られることを示す。
【0046】このようにして求めた符号化率a、b、
c、d、eのメトリック値スレッショルドM2a、M2
b、M2c、M2d、M2eをメトリック値スレッショ
ルド設定部20によりメトリック値スレッショルド記憶
部22に記憶させる。
【0047】この様にして複数の符号化率で畳み込み符
号化して送出する信号を受信する受信機に設定するメト
リック値スレッショルドは決定される。すなわち受信す
る可能性のある全符号化率それぞれに対して、ビタビ復
号回路17は、それら個々の符号化率が設定され、その
ビタビ復号回路17が設定された符号化率以外の符号化
率で畳み込み符号化して送出する信号を受信して、メト
リック値モニタ部19でメトリック値を測定する。受信
する可能性のある全符号化率それぞれに対する各計測さ
れたメトリック値の最小値から、各メトリック値スレッ
ショルドを決定することが出来る。
【0048】(実施の形態2)第2の実施形態も、第1
の実施形態と同様なメトリック値スレッショルド決定装
置を用いてメトリック値スレッショルドを決定する。
【0049】第1の実施例ではメトリック値モニタ部1
9で得られたメトリック値の最小値よりメトリック値ス
レッショルドを決定したが、第2の実施例ではメトリッ
ク値スレッショルド設定部に順次設定されるスレッショ
ルド値により、同期/非同期モニタ部18に出力される
結果をモニタし、同期/非同期を判定することによりメ
トリック値スレッショルドを決定する。
【0050】(実施の形態1)と同じ例を説明する。第
1符号化率設定部16はビタビ復号回路17に符号化率
aを設定する。そして、第2符号化率設定部12は第1
符号化率設定部16が設定した符号化率以外の符号化
率、例えばbを畳み込み符号化部13に設定する。ソー
スデータ出力部11から出力されるソースデータは、畳
み込み符号化部13において第2符号化率設定部12に
よって設定された符号化率bで畳み込み符号化される。
Eb/No設定部14は、畳み込み符号化部13の出力
信号のEb/Noをビタビ復号可能な限界のビタビ同期
限界Eb/Noになるように設定する。それによって、
畳み込み符号化部13の出力は、Eb/No設定部14
により、Eb/Noがビタビ復号可能な限界のビタビ同
期限界Eb/Noになる雑音符号が付加され、ビタビ復
号回路17に入力される。メトリック値測定時間設定部
15でメトリック値測定時間を、メトリック値が十分に
安定する設定値に設定する。メトリック値モニタ部19
はビタビ同期判定回路で計算されたメトリック値をモニ
タする。
【0051】そして、メトリック値スレッショルド設定
部20により、メトリック値スレッショルドを最大値か
ら低い値に順次下げる。なお、このメトリック値スレッ
ショルドの変化させ方は特に決まった方法はない。例え
ば、メトリック値スレッショルドを最小値から高い値に
順次上げても良い。メトリック値スレッショルドの設定
を変える事に応じて、同期/非同期モニタ部18は、ビ
タビ復号回路17の復号の同期/非同期をモニタする。
このようにしてメトリック値スレッショルドの設定を変
える事に応じて、同期/非同期モニタ部18は、ビタビ
復号回路17の復号の同期/非同期をモニタする。
【0052】畳み込み符号化で用いた符号化率と異なる
符号化率でビタビ復号する場合、そのビタビ復号は非同
期状態にあるから、同期/非同期モニタ部18は、この
復号を非同期状態と判断しなければならない。従って、
この復号を完全に非同期であると判断出来るメトリック
値スレッショルドを決める事が出来る。このようにし
て、メトリック値モニタ部19が計測するメトリック値
の最小値から、メトリック値スレッショルドの最大値す
なわち非同期と判定する限界値を見出す事が出来る。す
なわち符号化率bで畳み込み符号化された信号を受信し
た時に符号化率aでビタビ復号した場合メトリック値ス
レッショルドを求めることができる。
【0053】同様にして、次に第1符号化率設定部16
はビタビ復号回路17に符号化率aを設定したまま、第
2符号化率設定部12は第1符号化率設定部16が設定
した符号化率以外の符号化率、例えばcを畳み込み符号
化部13に設定する。この場合も非同期であり、メトリ
ック値モニタ部19が計測するメトリック値の最小値か
ら、メトリック値スレッショルドの最大値すなわち非同
期と判定する限界値を見出す事が出来る。すなわち符号
化率cで畳み込み符号化された信号を受信した時に符号
化率aでビタビ復号した場合メトリック値スレッショル
ドを求めることができる。さらに、第1符号化率設定部
16はビタビ復号回路17に符号化率aを設定したま
ま、第2符号化率設定部12は第1符号化率設定部16
が設定した符号化率以外の符号化率d及びeを順次畳み
込み符号化部13に設定する。以上のようにして、符号
化率b、c、d、eで畳み込み符号化された信号を受信
した時に符号化率aでビタビ復号した場合メトリック値
スレッショルドを求めることができ、このメトリック値
スレッショルドの最小値が求めるメトリック値スレッシ
ョルドである。
【0054】同様に、符号化率a、c、d、及びeで畳
み込み符号化した信号を符号化率bを用いたビタビ復号
回路が復号する場合、又は、符号化率a、b、d、及び
eで畳み込み符号化した信号を符号化率cを用いたビタ
ビ復号回路が復号する場合、又は、符号化率a、b、
c、及びeで畳み込み符号化した信号を符号化率dを用
いたビタビ復号回路が復号する場合、又は、符号化率
a、b、c、及びdで畳み込み符号化した信号を符号化
率eを用いたビタビ復号回路が復号する場合について
も、前記と同様の方法でメトリック値スレッショルドを
決める事が出来る。
【0055】畳み込み符号化で用いた符号化率と異なる
符号化率でビタビ復号する場合、そのビタビ復号は非同
期状態にあるから、同期/非同期モニタ部18は、この
復号を非同期状態と判断しなければならない。従って、
この復号を完全に非同期であると判断出来るメトリック
値スレッショルドを決定することが出来る。メトリック
値モニタ部19が計測するメトリック値の最小値から、
メトリック値スレッショルド設定部20が設定すべきメ
トリック値スレッショルド(非同期と判定する限界値)
を見出す事が出来る。
【0056】(実施の形態3)第3の実施形態も、第1
の実施形態と同様なメトリック値スレッショルド決定装
置を用いてメトリック値スレッショルドを決定する。第
1符号化率設定部16によりメトリック値スレッショル
ドを求めたい符号化率をビタビ復号回路17に設定す
る。そして、第2符号化率設定部12により、第1符号
化率設定部16に設定した符号化率と同じ値の符号化率
を畳み込み符号化部13に設定する。Eb/No設定部
14は、畳み込み符号化部13の出力信号のEb/No
をビタビ復号可能な限界のビタビ同期限界Eb/Noに
なるように設定する。畳み込み符号化部13の出力は、
Eb/No設定部14により、Eb/Noがビタビ復号
可能な限界のビタビ同期限界Eb/Noになる雑音符号
が付加され、ビタビ復号回路17に入力される。メトリ
ック値測定時間設定部15で、メトリック値測定時間を
設定の値(例えば1mSec)に設定する。
【0057】そして、メトリック値スレッショルド設定
部20により、メトリック値スレッショルドを最小値か
ら高い値に順次上げる。なお、このメトリック値スレッ
ショルドの変化させ方は特に指定し方法をとらなくとも
良い。例えば、メトリック値スレッショルドを最大値か
ら低い値に順次下げても良い。
【0058】メトリック値モニタ部19はビタビ同期判
定回路で計算されたメトリック値をモニタする。メトリ
ック値スレッショルドの設定を変える事に応じて、同期
/非同期モニタ部18は、ビタビ復号回路17の復号の
同期/非同期をモニタする。畳み込み符号化で用いた符
号化率と同じ符号化率でビタビ復号する場合、そのビタ
ビ復号は同期状態にある。そこで、同期/非同期モニタ
部18が、この符号化/復号化状態を完全に非同期とは
ならないと判断出来るメトリック値スレッショルドの最
小値(同期と判定する限界値)を見出す事が出来る。
【0059】図6(A)は、畳み込み符号化部13とビ
タビ復号回路17に同一の符号化率aを与えた場合、メ
トリック値モニタ部19がビタビ復号回路17において
計測したメトリック値Mの分布であり、メトリック値の
最大値はM1aとする。このようにして見出されたM1
aは、符号化率aの場合のメトリック値スレッショルド
の下限値とする。
【0060】以上の手順で、受信する全ての符号化率に
関して同様の手順でメトリック値スレッショルドの下限
値を求める。
【0061】さらに、第1または第2の実施形態で求め
た受信の可能性のあるすべての符号化率の各メトリック
値スレッショルドを上限値とする。
【0062】以上の手順により、受信するすべての符号
化率のメトリック値スレッショルドの上限値と下限値を
求め、その上限値と下限値の間の任意の値、好ましくは
上限値と下限値の平均値をメトリック値スレッショルド
と決定する。
【0063】図6(B)に符号化率aの場合のメトリッ
ク値Mの同期状態の分布61と非同期状態の分布62、
さらにメトリック値スレッショルドの上限値M2a、下
限値M1a、平均値M3a=M2a+M1aを示す。
【0064】このように求めたすべての符号化率のメト
リック値スレッショルドをメトリック値スレッショルド
記憶部22に記憶させ、ビタビ同期判定回路を動作させ
る。
【0065】実施形態3の説明では、メトリック値スレ
ッショルド設定部に値を設定し、同期/非同期を判定す
る方法を説明したが、実施形態1のようにメトリック値
を測定し、その分布よりメトリック値スレッショルドを
見いだしてもよいことは言うまでもない。
【0066】なお本発明は、メトリック値がメトリック
値スレッショルドよりも大きい場合に非同期、小さい場
合に同期と判定するビタビ同期判定回路を前提に説明し
たが、大小関係は逆に定義しても差し支えなく、設計方
針によって自由に変更することができる。また本発明は
他に各種の変形例が可能である。したがって本発明の真
の精神および範囲内に存在する変形例は、すべて特許請
求の範囲に含まれるものである。
【0067】
【発明の効果】以上のように本発明のビタビ同期判定回
路のメトリック値スレッショルドの決定法およびその装
置によれば、入力信号に2種類以上の符号化率が存在す
る場合でも、本発明のビタビ同期判定回路は、同期/非
同期を正しく判定する事が出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のメトリック値スレッショルド決定装置
を示すブロック図
【図2】ビタビ同期判定回路を示すブロック図
【図3】従来のメトリック値スレッショルド決定装置を
示すブロック図
【図4】同期状態と非同期状態におけるメトリック値の
分布を示す図
【図5】畳み込み符号化で使用した符号化率と異なる符
号化率でビタビ復号をした場合のメトリック値の分布を
示す図
【図6】畳み込み符号化で使用した符号化率と同じ符号
化率でビタビ復号をした場合のメトリック値の分布状況
とメトリック値スレッショルドの上限値とメトリック値
スレッショルドの下限値を表す図
【符号の説明】
11 ソースデータ出力部 12 第2符号化率設定部 13 畳込み符号化部 14 Eb/No設定部 15 メトリック測定時間設定部 16 第1符号化率設定部 17 ビタビ復号回路 18 同期/非同期モニタ部 19 メトリック値モニタ部 20 メトリック値スレッショルド設定部 21 メトリック値計算部 22 メトリック値スレッショルド記憶部 24 同期判定部 25 ビタビ同期判定回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 長谷川 敬 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (72)発明者 大本 紀顕 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (56)参考文献 特開 平5−102862(JP,A) 特開 平9−135177(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H03M 13/00 H04L 7/00 H04L 1/00

Claims (11)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の符号化率で畳み込み符号化され送
    出された信号を受信し復号するビタビ復号回路のメトリ
    ック値スレッショルドの決定法であって、送出された信
    号に使用される複数の符号化率のうちの1つをビタビ復
    号回路に設定するステップと、前記送出された信号が使
    用する符号化率の中、前記ビタビ復号回路に設定した符
    号化率以外の符号化率のそれぞれで畳込み符号化するス
    テップと、前記それぞれの符号化率で畳込み符号化され
    た信号をそれぞれビタビ復号するステップと、前記ビタ
    ビ復号により得られる各メトリック値の内の最小のメト
    リック値を、前記ビタビ復号回路に設定した符号化率に
    対するメトリック値スレッショルドであると決定するス
    テップと、を有するビタビ同期判定回路のメトリック値
    スレッショルドの決定法。
  2. 【請求項2】 複数の符号化率で畳み込み符号化され送
    出された信号を受信し復号するビタビ復号回路のメトリ
    ック値スレッショルドの決定法であって、送出された信
    号に使用される複数の符号化率のうちの1つをビタビ復
    号回路に設定するステップと前記送出された信号が使用
    する符号化率の中、前記ビタビ復号回路に設定した符号
    化率以外の符号化率のそれぞれで畳込み符号化するステ
    ップと、前記それぞれの符号化率で畳込み符号化された
    信号をそれぞれビタビ復号するステップと、メトリック
    値スレッショルド設定部よりメトリック値スレッショル
    ドを順次設定するステップと、同期判定部に於いて同期
    /非同期を判定するステップと、前記同期判定部で非同
    期と判定された最小の各メトリック値スレッショルド
    を、前記ビタビ復号回路に設定した符号化率に対するメ
    トリック値スレッショルドであると決定するステップ
    と、を有するビタビ同期判定回路のメトリック値スレッ
    ショルドの決定法。
  3. 【請求項3】 複数の符号化率で畳み込み符号化され送
    出された信号を受信し復号するビタビ復号回路のメトリ
    ック値スレッショルドの決定法であって、送出された信
    号に使用される符号化率の1つをビタビ復号回路に設定
    するステップと、前記送出された信号が使用する符号化
    率の中、前記ビタビ復号回路に設定し符号化率以外の符
    号化率のそれぞれで畳込み符号化するステップと、前記
    それぞれの符号化率で畳込み符号化された信号をそれぞ
    れビタビ復号するステップと、前記ビタビ復号により得
    られる各メトリック値の内の最小のメトリック値を、前
    記ビタビ復号回路に設定した符号化率に対するメトリッ
    ク値スレッショルドの上限値と決定するステップと、送
    出された信号に使用される符号化率の1つをビタビ復号
    回路に設定するステップと、前記ビタビ復号回路に設定
    された符号化率で畳込み符号化するステップと、前記符
    号化率で畳み込み符号化された信号をビタビ復号するス
    テップと、前記ビタビ復号によりビタビ同期判定回路で
    計測するそれぞれのメトリック値の内の最大のメトリッ
    ク値を、前記ビタビ復号回路に設定した符号化率に対す
    る前記メトリック値スレッショルドの下限値と決定する
    ステップと、前記上限値と前記下限値との間のメトリッ
    ク値をメトリック値スレッショルドと決定するステッ
    プ、を有するビタビ同期判定回路のメトリック値スレッ
    ショルドの決定法。
  4. 【請求項4】 複数の符号化率で畳み込み符号化され送
    出された信号を受信し復号するビタビ復号回路のメトリ
    ック値スレッショルドの決定法であって、送出された信
    号に使用される符号化率の1つをビタビ復号回路に設定
    するステップと、前記送出された信号が使用する符号化
    率の中、前記ビタビ復号回路に設定した符号化率以外の
    符号化率のそれぞれで畳込み符号化するステップと、前
    記それぞれの符号化率で畳込み符号化された信号をそれ
    ぞれビタビ復号するステップと、メトリック値スレッシ
    ョルド設定部よりメトリック値スレッショルドを順次設
    定するステップと、同期判定部に於いて同期/非同期を
    判定するステップと、前記同期判定部で非同期と判定さ
    れた最小の各メトリック値スレッショルドを、前記ビタ
    ビ復号回路に設定した符号化率に対するメトリック値ス
    レッショルドの上限値と決定するステップと、送出され
    た信号に使用される符号化率の1つをビタビ復号回路に
    設定するステップと、前記ビタビ復号回路に設定された
    符号化率で畳込み符号化するステップと、前記符号化率
    で畳み込み符号化された信号をビタビ復号するステップ
    と、前記ビタビ復号によりビタビ同期判定回路で計測す
    るそれぞれのメトリック値の内の最大のメトリック値
    を、前記ビタビ復号回路に設定した符号化率に対する前
    記メトリック値スレッショルドの下限値と決定するステ
    ップと、前記上限値と前記下限値との間のメトリック値
    をメトリック値スレッショルドと決定するステップ、を
    有するビタビ同期判定回路のメトリック値スレッショル
    ドの決定法。
  5. 【請求項5】 前記上限値と前記下限値とを平均したメ
    トリック値をメトリック値スレッショルドと決定するこ
    とを特徴とする請求項3または請求項4のいずれかに記
    載のビタビ同期判定回路のメトリック値スレッショルド
    の決定法。
  6. 【請求項6】 前記送出された信号が使用する符号化率
    の中、前記ビタビ復号回路に設定した符号化率以外の符
    号化率のそれぞれで畳込み符号化するステップの次に、
    前記畳み込み符号化された信号をビタビ復号可能な限界
    のビット当りのエネルギー対雑音電力密度にする雑音を
    付加してビタビ復号回路に入力させるステップを有する
    請求項1記載のビタビ同期判定回路のメトリック値スレ
    ッショルドの決定法。
  7. 【請求項7】 前記送出された信号が使用する符号化率
    の中、前記ビタビ復号回路に設定した符号化率以外の符
    号化率のそれぞれで畳込み符号化するステップの次に、
    前記畳み込み符号化された信号をビタビ復号可能な限界
    のビット当りのエネルギー対雑音電力密度にする雑音を
    付加してビタビ復号回路に入力させるステップを有する
    請求項2記載のビタビ同期判定回路のメトリック値スレ
    ッショルドの決定法。
  8. 【請求項8】 前記送出された信号が使用する符号化率
    の中、前記ビタビ復号回路に設定した符号化率以外の符
    号化率のそれぞれで畳込み符号化するステップおよび前
    記ビタビ復号回路に設定された符号化率で畳込み符号化
    するステップの次に、前記畳み込み符号化された信号を
    ビタビ復号可能な限界のビット当りのエネルギー対雑音
    電力密度にする雑音を付加してビタビ復号回路に入力さ
    せるステップを有する請求項3記載のビタビ同期判定回
    路のメトリック値スレッショルドの決定法。
  9. 【請求項9】 送信されたデータと同様のデータを送出
    できるソースデータ出力手段と、符号化率を設定する第
    2符号化率設定手段と、前記ソースデータ出力手段の出
    力を前記第2符号化率設定手段が設定した符号化率で畳
    み込み符号化する畳込み符号化手段と、前記畳込み符号
    化手段の出力に所定のビット当りのエネルギー対雑音電
    力密度を付加するEb/No設定手段と、前記Eb/N
    o設定手段の出力をビタビ復号するビタビ復号手段と、
    前記ビタビ復号手段にメトリック値測定時間を設定する
    メトリック値測定時間設定手段と、前記ビタビ復号手段
    に符号化率を設定する第1符号化率設定手段と、前記ビ
    タビ復号手段にメトリック値スレッショルドを設定する
    メトリック値スレッショルド設定手段と、前記ビタビ復
    号手段の出力するメトリック値をモニタするメトリック
    値モニタ手段と、前記ビタビ復号手段の出力する同期/
    非同期をモニタする同期/非同期モニタ手段と、から構
    成されるビタビ同期判定回路のメトリック値スレッショ
    ルド決定装置。
  10. 【請求項10】 前記第1符号化率設定手段と前記第2
    符号化率設定手段は互いに異なる符号化率を設定するこ
    とを特徴とする請求項9記載のメトリック値スレッショ
    ルド決定装置。
  11. 【請求項11】 前記Eb/No設定手段は、前記畳込
    み符号化手段の出力信号のEb/No値をビタビ復号可
    能な限界のビタビ同期限界Eb/Noになるように設定
    することを特徴とする請求項9記載のメトリック値スレ
    ッショルド決定装置。
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