JP3264586B2 - Pattern synchronization circuit - Google Patents

Pattern synchronization circuit

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JP3264586B2
JP3264586B2 JP16100194A JP16100194A JP3264586B2 JP 3264586 B2 JP3264586 B2 JP 3264586B2 JP 16100194 A JP16100194 A JP 16100194A JP 16100194 A JP16100194 A JP 16100194A JP 3264586 B2 JP3264586 B2 JP 3264586B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、入力データ信号と比較
基準となる比較パターン信号とを比較照合するに先だっ
て、入力データ信号と比較パターン信号との間のビット
同期を確立するパターン同期回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pattern synchronizing circuit for establishing bit synchronization between an input data signal and a comparison pattern signal prior to comparing and collating an input data signal with a comparison pattern signal as a comparison reference. .

【0002】[0002]

【従来の技術】例えばデジタル通信網における送受信装
置や伝送路に対する各種の試験のうち伝送過程やデータ
送受信過程において発生するビット誤りを評価する誤り
試験装置は例えば図8に示すように構成されている。
2. Description of the Related Art For example, an error test apparatus for evaluating a bit error occurring in a transmission process or a data transmission / reception process among various tests on a transmission / reception device and a transmission line in a digital communication network is configured as shown in FIG. .

【0003】この誤り試験装置1においては、データ送
受信装置や伝送路等の試験対象2に対して試験信号発生
器3から規定ビット周期N0 を有した所定ビットパター
を有した試験信号aを印加する。試験信号aは試験対
象2を経由して再度誤り試験装置1内へ入力データ信号
bとして入力される。誤り試験装置1へ入力された入力
データ信号bはパターン同期回路4及びクロック再生回
路5へ入力される。
In this error test apparatus 1, a test signal a having a predetermined bit pattern having a prescribed bit period N 0 is applied from a test signal generator 3 to a test object 2 such as a data transmitting / receiving apparatus or a transmission line. I do. The test signal a is input again into the error test apparatus 1 via the test object 2 as the input data signal b. The input data signal b input to the error test apparatus 1 is input to the pattern synchronization circuit 4 and the clock recovery circuit 5.

【0004】クロック再生回路5は入力データ信号bか
らクロック信号cを再生してパターン同期回路4へ送出
する。パターン同期回路4は、誤り検出回路6及び比較
パターン発生回路7を内蔵している。比較パターン発生
回路7は試験信号aと同一の規定ビット周期N0 の所定
ビットパターンを有する比較パターン信号を出力する。
そして、パターン同期回路4は比較パターン発生回路7
から出力される比較パターン信号と入力データ信号bと
の間のビット同期を誤り検出回路6を用いて確立する。
The clock recovery circuit 5 recovers the clock signal c from the input data signal b and sends it to the pattern synchronization circuit 4. The pattern synchronization circuit 4 includes an error detection circuit 6 and a comparison pattern generation circuit 7. Comparative pattern generating circuit 7 outputs a comparison pattern signal having a predetermined bit pattern of the same specified bit cycle N 0 and the test signal a.
The pattern synchronizing circuit 4 includes a comparison pattern generating circuit 7
The bit synchronization between the comparison pattern signal output from the input data signal b and the input data signal b is established using the error detection circuit 6.

【0005】ビット同期が確立した時点で、誤り検出回
路6でもって入力データ信号bのビット誤りを比較パタ
ーン信号と比較することによって検出する。誤り信号e
は誤り率測定部8へ送出される。誤り率測定部8は誤り
信号eを用いてビット誤り率を測定する。
When the bit synchronization is established, the error detection circuit 6 detects a bit error of the input data signal b by comparing it with a comparison pattern signal. Error signal e
Is sent to the error rate measurement unit 8. The error rate measuring unit 8 measures a bit error rate using the error signal e.

【0006】図9はパターン同期回路4の詳細ブロック
図である。クロック再生回路5から入力された図10に
示すクロック信号cはクロック禁止(インヒビット)回
路9へ入力される。クロック禁止回路9は同期判定制御
回路11からクロック禁止信号hが入力されると、図1
0に示すように、入力されたクロック信号cの1つのク
ロックの通過を禁止する。よって、このクロック禁止回
路9から出力されるクロック信号c1 にはクロックの存
在しない部分が生じる。
FIG. 9 is a detailed block diagram of the pattern synchronization circuit 4. The clock signal c shown in FIG. 10 input from the clock recovery circuit 5 is input to the clock inhibition (inhibit) circuit 9. When the clock inhibition circuit 9 receives the clock inhibition signal h from the synchronization determination control circuit 11,
As shown by 0, the passage of one clock of the input clock signal c is prohibited. Therefore, the clock signal c 1 output from the clock inhibition circuit 9 has a portion where no clock exists.

【0007】クロック禁止回路9から出力されるクロッ
ク信号c1 は直列並列変換回路10内の分周器10aで
1/nに分周される。但し、nは正整数である。直列並
列変換回路10から出力された図10に示す分周クロッ
ク信号c2 は次の比較パターン発生回路7へ入力され
る。比較パターン発生回路7は、前述した規定ビット周
期N0 の所定ビットパターンを有する比較パターン信号
を発生し、並列n列の比較パターン信号gとして次の誤
り検出回路6へ送出する。
The clock signal c 1 output from the clock inhibition circuit 9 is divided by the frequency divider 10 a in the serial / parallel conversion circuit 10 to 1 / n. Here, n is a positive integer. The frequency-divided clock signal c 2 shown in FIG. 10 output from the serial-parallel conversion circuit 10 is input to the next comparison pattern generation circuit 7. The comparison pattern generation circuit 7 generates a comparison pattern signal having a predetermined bit pattern of the above-described prescribed bit period N 0 and sends it to the next error detection circuit 6 as a comparison pattern signal g of n parallel rows.

【0008】一方、試験対象2から入力された入力デー
タ信号bは直列並列変換回路10内のS/P(シリアル
/パラレル)変換器10bでn列の入力データ信号b1
に変換される。直列並列変換回路10から出力された並
列n列の入力データ信号b1は次の誤り検出回路6へ入
力される。
On the other hand, the input data signal b input from the test object 2 is converted into n columns of input data signals b 1 by an S / P (serial / parallel) converter 10 b in the serial / parallel conversion circuit 10.
Is converted to The input data signal b 1 of n parallel columns output from the serial / parallel conversion circuit 10 is input to the next error detection circuit 6.

【0009】誤り検出回路6はn列の比較パターン信号
gとn列の入力データ信号b1 とを比較して一致しない
と誤り信号eを同期判定制御回路11へ送出する。同期
判定制御回路11は、所定の割合以上の誤り信号eが入
力されると同期が外れたと判断して同期不確立信号を誤
り率測定部8へ送出する。なお、所定の割合としては、
使用しているパターン内容にもよるが、例えばクロック
105 ビット当たりの誤り数104 ビット等が採用され
ている。
The error detection circuit 6 compares the n-th comparison signal pattern g with the n-th input data signal b 1, and if they do not match, sends an error signal e to the synchronization determination control circuit 11. When an error signal e equal to or more than a predetermined ratio is input, the synchronization determination control circuit 11 determines that synchronization has been lost, and sends a synchronization non-establishment signal to the error rate measurement unit 8. In addition, as the predetermined ratio,
Depending on the pattern contents by using, e.g., an error number 104 bits, etc. per clock 105 bits is employed.

【0010】また、同期判定制御回路11は、同期不確
立状態になると、所定数の誤り信号eが入力される毎
に、クロック禁止信号hをクロック禁止回路9へ送出す
る。なお、所定数としてはクロックの動作周波数にもよ
るが、通常は100以下の数が用いられる。
When the synchronization is not established, the synchronization determination control circuit 11 sends a clock inhibition signal h to the clock inhibition circuit 9 every time a predetermined number of error signals e are input. The predetermined number depends on the operating frequency of the clock, but usually a number of 100 or less is used.

【0011】なお、同期判定制御回路11は、誤り検出
回路6からの誤り信号eの割合が所定値以下の場合、同
期が確立したと判断して同期不確立信号を同期確立信号
iに変更すると共に、前記クロック禁止動作を停止す
る。この所定値の割合としては、例えばパターン周期N
0 と同じ数だけ連続して誤りがない場合等が採用され
る。
When the ratio of the error signal e from the error detection circuit 6 is equal to or less than a predetermined value, the synchronization determination control circuit 11 determines that synchronization has been established and changes the synchronization non-establishment signal to the synchronization establishment signal i. At the same time, the clock inhibition operation is stopped. As the ratio of the predetermined value, for example, the pattern period N
A case where there is no error consecutively for the same number as 0 is adopted.

【0012】図10はパターン同期回路4の動作を示す
タイムチャートである。なお、この図10においては、
説明を簡単にするために、入力データ信号b及び比較パ
ターン信号gは、規定ビット周期N0 が4であり、ビッ
トパターンは[abcd]の繰り返しパターンであり、
かつ分周比nは2であると仮定している。
FIG. 10 is a time chart showing the operation of the pattern synchronization circuit 4. In FIG. 10,
For the sake of simplicity, the input data signal b and the comparison pattern signal g have a specified bit period N 0 of 4, and the bit pattern is a repeating pattern of [abcd],
Further, it is assumed that the frequency division ratio n is 2.

【0013】最初、並列の2列の入力データb1 のビッ
ト位相と、並列の2列の比較パターン信号gのビット位
相とは一致しないので、同期不確立であり、同期判定制
御回路11からクロック禁止信号hが送出される。その
結果、クロック信号c1 における一つのクロックが消滅
して、入力データ信号b中の前記消滅したクロックに対
応する一つのビットデータ(図10においては[b])
がS/P変換器10bにて並列信号に変換されなくて、
直列並列変換回路10から出力されるn(=2)列の入
力データ信号b1 のビット位相が1つ進む。
First, since the bit phases of the input data b 1 in two parallel rows do not match the bit phases of the comparison pattern signal g in the two parallel rows, synchronization is not established. An inhibit signal h is sent. As a result, one clock disappears in the clock signal c 1, one bit data corresponding to the extinction clock in the input data signal b (in FIG. 10 [b])
Is not converted to a parallel signal by the S / P converter 10b,
The bit phase of the input data signal b 1 in the n (= 2) column output from the serial-parallel conversion circuit 10 advances by one.

【0014】一方、たとえ一部にパルス幅の長いクロッ
クが存在する分周クロック信号c2が入力されたとし
て、比較パターン発生回路7から出力されるn列の比較
パターン信号gにおいてはビットデータが消滅すること
はないので、ビット位相は変化しない。
On the other hand, assuming that a divided clock signal c 2 partially having a clock having a long pulse width is input, bit data is not included in the comparison pattern signal g of n columns output from the comparison pattern generation circuit 7. Since it does not disappear, the bit phase does not change.

【0015】したがって、クロック禁止信号hが出力さ
れる毎に、入力データ信号b1 のビット位相は比較パタ
ーン信号gに比較して1つづつ進んでいく。このよう
に、誤り検出回路6から誤り信号eが出力される限り、
ビット位相が順次変化していく。そして、誤り検出回路
6からの誤り信号eの割合が所定値以下になると、入力
データ信号b1 は比較パターン信号gにビット同期した
と判断されて同期判定回路11は同期確立信号iを出力
する。
[0015] Thus, every time the clock inhibit signal h is outputted, the bit phase of the input data signal b 1 goes in one by one as compared to the comparison pattern signal g. Thus, as long as the error signal e is output from the error detection circuit 6,
The bit phase changes sequentially. When the ratio of the error signal e from the error detection circuit 6 becomes equal to or less than a predetermined value, it is determined that the input data signal b 1 has been bit-synchronized with the comparison pattern signal g, and the synchronization determination circuit 11 outputs a synchronization establishment signal i. .

【0016】[0016]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図9に
示すパターン同期回路4においても、まだ解消すべき次
のような問題があった。すなわち、試験装置自体の製造
生産性を向上し、かつ装置自体の小型軽量化を図るため
に、パターン同期回路4をASIC(特定用途向IC)
化することが切望されている。しかし、一般に、デジタ
ル通信網における伝送路やデータ送受信装置で取扱われ
るデジタル信号の周波数は数百MHzと非常に高くなるこ
ともあるが、直列並列変換回路10にて速度が1/nに
低下された各信号c 2 ,b 1 を取扱う比較パターン発生
回路7,誤り検出回路6及び同期判定制御回路11等は
比較的簡単に低価格でASIC化することが可能であ
る。
However, the pattern synchronization circuit 4 shown in FIG. 9 still has the following problems to be solved. That is, in order to improve the manufacturing productivity of the test apparatus itself and to reduce the size and weight of the apparatus itself, the pattern synchronization circuit 4 is replaced with an ASIC (IC for specific application).
It is eager to make it. However, in general, the frequency of a digital signal handled by a transmission line in a digital communication network or a data transmission / reception device may be as high as several hundred MHz, but the speed is reduced to 1 / n by the serial / parallel conversion circuit 10. Each signal c 2 , B 1 The comparative pattern generation circuit 7, the error detection circuit 6, the synchronization determination control circuit 11 and the like which handle the above can be easily and inexpensively formed into an ASIC.

【0017】しかし、分周される前の高速のクロック
号c,c 1 及び入力データ信号bが入力されるクロック
禁止回路9及び直列並列変換回路10をもASIC内に
組込むためには、ASIC自体を高速に耐える高価な電
子部品で構成する必要があり、ASIC自体が非常に高
価になる。
However, the high-speed clock signal before the frequency division is performed.
No. c, c 1 In order to incorporate the clock inhibition circuit 9 and the serial / parallel conversion circuit 10 to which the input data signal b is input into the ASIC, the ASIC itself needs to be composed of expensive electronic parts that can withstand high speed, and the ASIC itself is very Become expensive.

【0018】このような、事態を回避するために、クロ
ック禁止回路9を直列並列変換回路10と比較パターン
発性回路7との間に移動させることによって、このクロ
ック禁止回路9に入力されるクロック信号の速度を1/
nに低速化できる。したがって、直列並列変換回路10
以外のクロック禁止回路9,比較パターン発生回路7,
誤り検出回路6及び同期判定制御回路11を簡単に低価
格でASIC化することが可能となる。
In order to avoid such a situation, the clock input to the clock inhibition circuit 9 is shifted by moving the clock inhibition circuit 9 between the serial / parallel conversion circuit 10 and the comparison pattern generating circuit 7. Signal speed 1 /
The speed can be reduced to n. Therefore, the serial-parallel conversion circuit 10
Other than the clock inhibition circuit 9, the comparison pattern generation circuit 7,
The error detection circuit 6 and the synchronization determination control circuit 11 can be easily formed into an ASIC at low cost.

【0019】しかし、クロック禁止回路9を直列並列変
換回路10の後段に位置させると次のような問題が発生
する。同期判定制御回路11からクロック禁止信号hが
送出されると、分周クロック信号c2 の一つのクロック
が消滅する。その結果、クロック禁止信号hが出力され
る毎に、比較パターン発生回路7から出力されるn列の
比較パターン信号gと直列並列変換回路10から出力さ
れるn列の入力データ信号b1 との間のビット位相差が
nビットづつ変化していく。1ビット位相づつ変化して
いかないので、何回クロック禁止信号hを送出したとし
ても、永遠に両信号g,b1 間にビット同期が確立され
ない場合も生じる。
However, if the clock inhibit circuit 9 is located after the serial / parallel conversion circuit 10, the following problem occurs. When synchronization judgment control circuit 11 from the clock inhibit signal h is sent, one clock of the divided clock signal c 2 disappears. As a result, each time the clock inhibition signal h is output, the n-column comparison pattern signal g output from the comparison pattern generation circuit 7 and the n-column input data signal b 1 output from the serial / parallel conversion circuit 10 are output. The bit phase difference between them changes by n bits. Since no Ika change 1 bit phase at a time, even if sent many times clock inhibit signal h, resulting sometimes forever both signals g, b bit synchronization between 1 is not established.

【0020】図11,図12を用いてその具体例を説明
する。分周比n=2でビット周期N0 =8で[abcd
efgh]のビットパターンを有する入力データ信号b
の場合、n(=2)列の比較パターン信号gとn(=
2)列の入力データ信号b1 とが、偶然、図11に示す
関係であった場合は、クロック禁止信号hを繰返し送出
すると、必ず同期が確立する。
A specific example will be described with reference to FIGS. [Abcd] at division ratio n = 2 and bit period N 0 = 8
efgh] input data signal b having a bit pattern
, The comparison pattern signals g and n (=
2) an input data signal b 1 column, by chance, when was the relationship shown in FIG. 11, when sent repeatedly clock inhibit signal h, always synchronization is established.

【0021】しかし、比較パターン信号gと入力データ
信号b1 とが図12に示す関係であった場合は、何回ク
ロック禁止信号hを送出したとしても同期は確立しな
い。本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであ
り、たとえクロック禁止回路を直列並列変換回路の後段
に挿入したとしても確実に入力データ信号と比較パター
ン信号との間のビット同期を確立でき、もって、クロッ
ク禁止回路を低速で動作するASICに組込むことが可
能となり、小型軽量化及び低価格化できるパターン同期
回路を提供することを目的とする。
However, if the comparison pattern signal g and the input data signal b 1 have the relationship shown in FIG. 12, synchronization is not established no matter how many times the clock inhibit signal h is transmitted. The present invention has been made in view of such circumstances, and even if a clock inhibit circuit is inserted after a serial-to-parallel conversion circuit, it is possible to reliably establish bit synchronization between an input data signal and a comparison pattern signal. Accordingly, it is an object of the present invention to provide a pattern synchronous circuit that can incorporate a clock inhibiting circuit into an ASIC that operates at a low speed and that can be reduced in size, weight, and cost.

【0022】[0022]

【課題を解決するための手段】上記課題を解消するため
に本発明のパターン同期回路においては、入力クロック
信号を1/n(n;2以上の正整数)に分周して分周ク
ロック信号として出力すると共に、既知の周期を有する
シリアルの入力データ信号をn列の入力データ信号に変
換して出力する直列並列変換回路と、分周クロック信号
に同期して既知の周期を有するn列の比較パターン信号
を出力する比較パターン発生回路と、直列並列変換回路
と比較パターン発生回路との間に介挿され、クロック禁
止信号入力に応動して、分周クロック信号における連続
する1個以上のクロックの通過を禁止するクロック禁止
回路と、選択信号が入力される毎に、比較パターン発生
回路から出力されるn列の比較パターン信号の出力ビッ
ト位相を順次変化させていく位相選択回路と、この位相
選択回路にて選択されたビット位相を有するn列の比較
パターン信号と直列並列変換回路から出力されたn列の
入力データ信号とが不一致のとき誤り信号を出力する誤
り検出回路と、誤り検出回路から所定の割合以上の誤り
信号が出力された場合に同期不確立と判断し、誤り信号
の出力される割合が所定の割合未満になり同期確立した
と判断するまで、誤り検出回路から所定数の誤り信号が
出力される毎に、位相選択回路へ選択信号を出力すると
共に、選択信号の送出回数が所定数を越えるとクロック
禁止回路へクロック禁止信号を出力する同期判定制御回
路とを備えたものである。
In order to solve the above-mentioned problems, a pattern synchronization circuit according to the present invention divides an input clock signal into 1 / n (n; a positive integer of 2 or more) and divides the input clock signal by a divided clock signal. And a serial-to-parallel conversion circuit that converts a serial input data signal having a known cycle into an n-column input data signal and outputs the same, and an n-column having a known cycle in synchronization with the frequency-divided clock signal. A comparison pattern generation circuit that outputs a comparison pattern signal, and one or more continuous clocks in the divided clock signal that are interposed between the serial-to-parallel conversion circuit and the comparison pattern generation circuit and that respond to the input of the clock inhibition signal A clock inhibiting circuit for inhibiting the passage of a selection signal, and every time a selection signal is input, the output bit phase of the comparison pattern signal of n columns output from the comparison pattern generation circuit is sequentially changed An error signal when the n-column comparison pattern signal having the bit phase selected by the phase selection circuit and the n-column input data signal output from the serial / parallel conversion circuit do not match. It is determined that synchronization is not established when an error detection circuit that outputs and an error signal output from the error detection circuit is equal to or greater than a predetermined ratio, and is determined that synchronization is established when the output ratio of the error signal is less than the predetermined ratio. Until a predetermined number of error signals are output from the error detection circuit, a selection signal is output to the phase selection circuit, and a clock inhibition signal is output to the clock inhibition circuit when the number of transmissions of the selection signal exceeds a predetermined number. And a synchronization determination control circuit.

【0023】また、別の発明においては、上述した発明
における位相選択回路を直列並列変換回路と誤り検出回
路との間に移動させている。そして、この位相選択回路
は、同期判定制御回路からの選択信号が入力される毎
に、直列並列変換回路から出力されるn列の入力データ
信号の出力ビット位相を順次変化させていく。また、こ
の発明の誤り検出回路は、位相選択回路にて選択された
ビット位相を有するn列の入力データ信号と比較パター
ン発生回路から出力されたn列の比較パターン信号とが
一致するか否かを検出する。
Further, in another invention, the phase selection circuit in the above invention is moved between the serial / parallel conversion circuit and the error detection circuit. The phase selection circuit sequentially changes the output bit phase of the input data signal of n columns output from the serial / parallel conversion circuit every time the selection signal is input from the synchronization determination control circuit. Further, the error detection circuit according to the present invention determines whether or not the input data signal of n columns having the bit phase selected by the phase selection circuit matches the comparison pattern signal of n columns output from the comparison pattern generation circuit. Is detected.

【0024】[0024]

【作用】このように構成されたパターン同期回路におい
ては、位相選択回路を介して比較パターン発生回路から
出力されるn列の比較パターン信号と直列並列変換回路
から出力されるn列の入力データ信号との間でビット位
相の同期が確立されていない場合は、先ず、最初に同期
判定制御回路からクロック禁止回路へクロック禁止信号
が送出される。その結果、比較パターン信号と入力デー
タ信号との間のビット位相がnビット分変化する。この
nビット分変化した時点でまだビット位相が同期しない
場合は、同期判定制御回路から位相選択回路へ選択信号
が送出される。位相選択回路は比較パターン信号の出力
ビット位相を1ビット位相分変化させる。よって、比較
パターン信号と入力データ信号との間のビット位相が1
ビット位相分だけけ変化する。この状態で同期が確立し
なければ、さらに1ピットづつ位相を変化させる。n−
1又はnビット位相をずらせたが、まだ同期が確立しな
ければクロックを禁止して、以下同様に繰り返す。
In the pattern synchronizing circuit thus constructed, n columns of comparison pattern signals output from the comparison pattern generation circuit via the phase selection circuit and n columns of input data signals output from the serial / parallel conversion circuit are provided. When the synchronization of the bit phase is not established between the clock determination circuit and the synchronization determination control circuit, first, a clock inhibition signal is sent from the synchronization determination control circuit to the clock inhibition circuit. As a result, the bit phase between the comparison pattern signal and the input data signal changes by n bits. If the bit phases have not yet been synchronized at the time of the change by n bits, a selection signal is sent from the synchronization determination control circuit to the phase selection circuit. The phase selection circuit changes the output bit phase of the comparison pattern signal by one bit phase. Therefore, the bit phase between the comparison pattern signal and the input data signal is 1
It changes by the bit phase. If synchronization is not established in this state, the phase is further changed one pit at a time. n-
Although the phase is shifted by 1 or n bits, if the synchronization is not yet established, the clock is inhibited and the same operation is repeated.

【0025】このように、クロック禁止回路で比較パタ
ーン信号と入力データ信号との間のビット位相をnビッ
ト位相分一度に変化させるとともに、位相選択回路でも
ってnビット位相分一度に変化させたなかの1ビット位
相毎に位相変化させている。したがって、必ず比較パタ
ーン信号と入力データ信号との間でビット同期が確立す
る。
As described above, while the clock inhibit circuit changes the bit phase between the comparison pattern signal and the input data signal by n bit phases at a time, the phase selecting circuit changes the bit phase by n bit phases at a time. The phase is changed every bit phase. Therefore, bit synchronization is always established between the comparison pattern signal and the input data signal.

【0026】よって、クロック禁止回路を直列並列変換
回路の後段に設置することによって、このクロック禁止
回路を低速で駆動でき、このクロック禁止回路を低速の
ASICに簡単に組込むことが可能となる。
Therefore, by disposing the clock inhibiting circuit at the subsequent stage of the serial / parallel conversion circuit, the clock inhibiting circuit can be driven at a low speed, and this clock inhibiting circuit can be easily incorporated into a low-speed ASIC.

【0027】また、別の発明においては、位相選択回路
が入力データ信号の信号路に介挿されている。したがっ
て、比較パターン信号と入力データ信号との間のビット
位相が一致しなかった場合は、先ず、クロック禁止回路
が起動されて、比較パターン信号と入力データ信号との
間のビット位相がnビット位相分変化する。このnビッ
ト分変化した時点でまだビット位相が同期しない場合
は、同期半定位制御回路から位相選択回路へ選択信号が
送出される。位相選択回路は入力データ信号の出力ビッ
ト位相を1ビット位相分変化させる。
In another invention, a phase selection circuit is inserted in a signal path of an input data signal. Therefore, when the bit phase between the comparison pattern signal and the input data signal does not match, first, the clock inhibition circuit is activated, and the bit phase between the comparison pattern signal and the input data signal becomes n bit phase. Minute change. If the bit phase has not yet been synchronized at the time of the change by n bits, a selection signal is sent from the synchronous semi-localization control circuit to the phase selection circuit. The phase selection circuit changes the output bit phase of the input data signal by one bit phase.

【0028】よって、先の発明と同様に比較パターン信
号と入力データ信号との間のビット位相が1ビット位相
だけけ変化する。この状態で同期が確立しなければ、さ
らに1ピットづつ位相を変化させる。n−1又はnビッ
ト位相をずらせたが、まだ同期が確立しなければクロッ
クを禁止して、以下同様に繰り返す。したがって、この
発明においても、必ず比較パターン信号と入力データ信
号との間でビット同期が確立する。
Therefore, the bit phase between the comparison pattern signal and the input data signal changes by one bit phase as in the above invention. If synchronization is not established in this state, the phase is further changed one pit at a time. Although the phase is shifted by n-1 or n bits, if the synchronization is not yet established, the clock is inhibited and the same operation is repeated. Therefore, also in the present invention, bit synchronization is always established between the comparison pattern signal and the input data signal.

【0029】[0029]

【実施例】以下本発明の一実施例を図面を用いて説明す
る。図1は実施例のパターン同期回路の概略構成を示す
ブロック図である。図9に示す従来のパターン同期回路
4と同一部分には同一符号が付してある。したがって、
重複する部分の詳細説明は省略されている。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of the pattern synchronization circuit of the embodiment. The same parts as those of the conventional pattern synchronization circuit 4 shown in FIG. Therefore,
The detailed description of the overlapping part is omitted.

【0030】図8に示すクロック再生回路5から入力さ
れたクロック信号cは直列並列変換回路10内の分周器
10aで1/nに分周される。直列並列変換回路10か
ら出力された分周クロック信号c3 はクロック禁止(イ
ンヒビット)回路9aへ入力される。クロック禁止回路
9aは同期判定制御回路11aからクロック禁止信号h
1 が入力されると、図4に示すように、入力されたクロ
ック信号c3 の1つのクロックの通過を禁止する。
The clock signal c input from the clock recovery circuit 5 shown in FIG. 8 is divided by the frequency divider 10a in the serial / parallel conversion circuit 10 to 1 / n. Divided clock signal c 3 output from the serial-parallel conversion circuit 10 is inputted to the clock disabled (inhibit) circuit 9a. The clock inhibition circuit 9a receives the clock inhibition signal h from the synchronization determination control circuit 11a.
When 1 is input, as shown in FIG. 4, to prohibit the passage of one of the clock signal c 3 input clock.

【0031】クロック禁止回路9から出力されるクロッ
クの存在しない部分が存在するクロック信号c4 は比較
パターン発生回路7へ入力される。比較パターン発生回
路7は、図8の試験対象2から入力された入力データ信
号bと同じく規定ビット周期N0 の所定ビットパターン
を有する比較パターン信号を発生し、並列n列の比較パ
ターン信号g1 として次の位相選択回路12へ送出す
る。
The clock signal c 4 output from the clock inhibition circuit 9 and having a portion where no clock exists exists is input to the comparison pattern generation circuit 7. Comparative pattern generating circuit 7 generates a comparison pattern signal having a predetermined bit pattern of the same specified bit cycle N 0 and the input data signal b input from the test object 2 in FIG. 8, a comparison of the parallel n string pattern signal g 1 To the next phase selection circuit 12.

【0032】一方、図8の試験対象2から入力された入
力データ信号bは直列並列変換回路10内のS/P変換
器10bでn列の入力データ信号b1 に変換される。直
列並列変換回路10から出力された並列n列の入力デー
タ信号b1 は次の誤り検出回路6へ入力される。
On the other hand, the input data signal b input from the test object 2 in FIG. 8 is converted into n columns of input data signals b 1 by the S / P converter 10 b in the serial / parallel conversion circuit 10. The input data signal b 1 of n parallel columns output from the serial / parallel conversion circuit 10 is input to the next error detection circuit 6.

【0033】図5に、n=4でかつ規定ビット周期が8
(N0 =8)で、かつ入力データ信号bのビットパター
ンが[abcdefgh]である場合における4列の入
力データ信号b1 の(1)(2)(3)(4)の各列に対するパター
ン列を模式的に示す。図示するように、2クロックで1
周期のビットデータが出力する。そして、この入力デー
タ信号b! は図示するように[A][B][C][D]
の4種類の出力ビット位相が存在する。入力テータ信号
1 がこの4種類の出力ビット位相のうちどの出力ビッ
ト位相で出力されるかは、起動タイミング等に依存して
人為的に固定することはできない。
FIG. 5 shows that n = 4 and the prescribed bit period is 8
(N 0 = 8) and the pattern for each column of (1) (2) (3) (4) of the four columns of input data signal b 1 when the bit pattern of input data signal b is [abcdefgh] The columns are shown schematically. As shown in FIG.
The bit data of the cycle is output. The input data signal b ! Is [A] [B] [C] [D]
There are four types of output bit phases. Whether the input theta signal b 1 is output at which output bit phase of the four output bit phase can not be artificially fixed, depending on the start timing and the like.

【0034】位相選択回路12は、前記入力データ信号
1 の[A][B][C][D]に対応するため、同期
判定制御回路11aから選択信号jが入力される毎に、
比較パターン発生回路7から出力されるn列の比較パタ
ーン信号g1 の出力ビット位相を1ビット位相ずつ順次
変化させていく。位相選択回路12から出力されるビッ
ト位相変更後のn列の比較パターン信号g2 は誤り検出
回路6へ入力される。
The phase selection circuit 12, in order to respond to the input data signal b 1 [A] [B] [C] [D], every time the selection signal j from the synchronization judgment control circuit 11a is input,
The output bit phase of the comparison pattern signal g 1 of the n sequence output from the comparison pattern generating circuit 7 will sequentially changing one bit phase. The comparison pattern signal g 2 of n columns after the bit phase change output from the phase selection circuit 12 is input to the error detection circuit 6.

【0035】図6の上段に、前述と同様に、n=4でか
つ規定ビット周期が8(N0 =8)で、かつビットパタ
ーンが[abcdefgh]である場合における、直列
並列変換回路10から出力される入力データ信号b1
(1)(2)(3)(4)の各列のパターンを模式的に示す。図6の
下段に位相選択回路12から出力される比較パターン信
号g2 の(1)(2)(3)(4)の各列のパターンを模式的に示
す。
As shown in the upper part of FIG. 6, the serial-to-parallel conversion circuit 10 in the case where n = 4, the prescribed bit period is 8 (N 0 = 8), and the bit pattern is [abcdefgh] Of the output input data signal b 1
The pattern of each column of (1), (2), (3) and (4) is schematically shown. Figure lower in comparison pattern signal g 2 output from the phase selection circuit 12 in 6 (1) (2) (3) (4) schematically showing a pattern for each column.

【0036】誤り検出回路6はn列の比較パターン信号
2 とn列の入力データ信号b1 とを比較して一致しな
い場合に、誤り信号eを同期判定制御回路11aへ送出
する。例えば図6に示すように(1)(2)(3)(4)の各列のビ
ット配列が一致しない場合に、誤り信号eを出力する。
[0036] When the error detection circuit 6 does not match by comparing the input data signal b 1 of the comparison pattern signal g 2 and n columns of n sequence, and outputs an error signal e to the synchronization judgment control circuit 11a. For example, as shown in FIG. 6, when the bit arrangements of the columns (1), (2), (3), and (4) do not match, an error signal e is output.

【0037】同期判定制御回路11aからクロック禁止
信号h1 がクロック禁止回路9aへ入力すると、比較パ
ターン発生回路7へ入力される分周クロックc4 の1ク
ロックが消滅するので、図6の左側に示すように、比較
パターン発生回路7から(1)(2)(3)(4)の各列へ出力され
る比較パターン信号g1 が入力データ信号b1 に対して
1分周クロック分遅れる。ビット位相に換算すると、4
ビット位相分遅れる。同期判定制御回路11aから選択
信号jを位相選択回路12へ送出した場合は、図6の下
段に示されるように、切換端子(2)(3)(後述する)のよ
うに1ビット位相分遅れる。
[0037] When the synchronization judgment control circuit 11a clock inhibit signal h 1 from the inputs to the clock inhibit circuit 9a, since one clock of the divided clock c 4 input to comparator pattern generating circuit 7 is eliminated, on the left side of FIG. 6 as shown, the comparative pattern generating circuit 7 (1) (2) (3) (4) comparison pattern signal g 1 output to each column of delay divided by 1 clock the input data signal b 1. When converted to bit phase, 4
Delay by bit phase. When the selection signal j is sent from the synchronization determination control circuit 11a to the phase selection circuit 12, as shown in the lower part of FIG. 6, the signals are delayed by one bit phase as in the switching terminals (2) and (3) (described later). .

【0038】図2は位相選択回路12の具体的回路構成
図である。説明を簡単にするために、比較パターン発生
回路7から出力されるn列の比較パターン信号g1 は、
4(分周比n=4)列の並列信号であるとしている。
FIG. 2 is a specific circuit configuration diagram of the phase selection circuit 12. For simplicity, the comparison pattern signal g 1 of n columns output from the comparison pattern generation circuit 7 is
It is assumed that there are four (parallel ratio n = 4) columns of parallel signals.

【0039】1番目の入力端子131 は、1番目の選択
スイッチS1 の1番目の切換端子に接続され、かつ選択
スイッチS2 ,S3 ,S4 のそれぞれの2.3.4番目
の切換端子に接続されている。
The first input terminal 13 1 is connected to the first switching terminal of the first selection switch S 1 , and the 2.3.4th of each of the selection switches S 2 , S 3 , S 4 . Connected to the switching terminal.

【0040】2番目の入力端子132 は、2番目の選択
スイッチS2 の1番目の切換端子に接続され、かつ、選
択スイッチS3 ,S4 のそれぞれの2.3番目の切換端
子に接続されている。さらに、2番目の入力端子132
は1ビット分遅延させる遅延回路Dを介して1番目の選
択スイッチS1 の4番目の切換端子に接続されている。
The second input terminal 13 2 is connected to the second first switching terminal of the selection switch S 2, and connected to each of the 2.3-th switching terminal of the selection switch S 3, S 4 Have been. Further, the second input terminal 13 2
Is connected to the fourth switching terminal of the first selection switch S1 via a delay circuit D for delaying one bit.

【0041】同様に、3番目の入力端子133 は、3番
目の選択スイッチS3 の1番目の切換端子に接続され、
かつ、選択スイッチS4 の2番目の切換端子に接続され
ている。さらに、3番目の入力端子133 は1ビット分
遅延させる遅延回路Dを介して各選択スイッチS1 ,S
2 のそれぞれの3,4番目の切換端子に接続されてい
る。
[0041] Similarly, a third input terminal 13 3 is connected to the third of the first switching terminal of the selection switch S 3,
And is connected to the second switching terminal of the selection switch S 4. Furthermore, a third input terminal 13 3 Each selection switch S 1 via the delay circuit D delaying one bit, S
2 are connected to the third and fourth switching terminals, respectively.

【0042】同様に、4番目の入力端子134 は、4番
目の選択スイッチS4 の1番目の切換端子に接続され、
かつ、1ビット分遅延させる遅延回路Dを介して各選択
スイッチS1 ,S2 ,S3 のそれぞれの2,3,4番目
の切換端子に接続されている。
Similarly, the fourth input terminal 13 4 is connected to the first switching terminal of the fourth selection switch S 4 ,
Further, they are connected to the second, third, and fourth switching terminals of each of the selection switches S 1 , S 2 , and S 3 via a delay circuit D that delays by one bit.

【0043】各選択スイッチS1 ,S2 ,S3 ,S4
各共通端子はそれぞれ各出力端子141 ,142 ,14
3 ,144 に接続されている。また、各選択スイッチS
1 ,S2 ,S3 ,S4 は連動しており、同期判定制御回
路11aから選択信号jが入力される毎に、1番から4
番までの各切換端子を順番に切換選択していく。
The common terminals of the selection switches S 1 , S 2 , S 3 , S 4 are output terminals 14 1 , 14 2 , 14, respectively.
3, is connected to 14 4. Each selection switch S
1 , S 2 , S 3 , and S 4 are interlocked, and each time the selection signal j is input from the synchronization determination control circuit 11a, the first to fourth signals are output.
The switching terminals up to the number are sequentially switched and selected.

【0044】このような構成の位相選択回路12におい
ては、各選択スイッチS1 〜S4 が1番目の切換端子に
接続されていた場合は、各入力端子131 〜134 へ印
加される4列の比較パターン信号g1 は、そのまま、各
出力端子141 〜144 へ出力される。この場合、出力
される比較パターン信号g2 と入力比較パターン信号g
1 との間にビット位相差は生じない。
In the phase selection circuit 12 having such a configuration, when each of the selection switches S 1 to S 4 is connected to the first switching terminal, 4 is applied to each of the input terminals 13 1 to 13 4 . comparison pattern signal g 1 of the column, as it is output to the output terminals 14 1 to 14 4. In this case, the output comparison pattern signal g 2 and the input comparison pattern signal g
There is no bit phase difference with 1 .

【0045】次に、各選択スイッチS1 〜S4 が2番目
の切換端子に接続されていた場合は、1番目の出力端子
141 には1分周クロック周期前の4番目の入力端子1
4のビットデータが出力される。また、2番目の出力
端子142 には現在時点の1番目の入力端子131 のビ
ットデータが出力される。さらに、3番目の出力端子1
3 には現在時点の2番目の入力端子132 のビットデ
ータが出力される。そして、4番目の出力端子144
は現在時点の3番目の入力端子133 のビットデータが
出力される。
Next, if the selection switch S 1 to S 4 were connected to the second switching terminal, the first output terminal 14 fourth input terminal 1 of 1 divided clock cycles before the 1
3 4-bit data is output. Further, the second output terminal 14 2 is the first input terminal 13 1 of the bit data of the current time is output. Furthermore, the third output terminal 1
The 4 3 second input terminal 13 2-bit data of the present time is output. Then, the fourth output terminal 14 4 third input terminal 13 3-bit data of the current time is output.

【0046】この場合、出力される比較パターン信号g
2 と入力比較パターン信号g1 との間に1ビット分(1
列分)の位相差か生じる。さらに、各選択スイッチS1
〜S4 が3番目の切換端子に接続されていた場合は、1
番目の出力端子141 には1分周クロック周期前の3番
目の入力端子133 のビットデータが出力される。ま
た、2番目の出力端子142 には1分周クロック周期前
の4番目の入力端子134 のビットデータが出力され
る。さらに、3番目の出力端子143 には現在時点のの
1番目の入力端子131 のビットデータが出力される。
そして、4番目の出力端子144 には現在時点のの2番
目の入力端子132 のビットデータが出力される。
In this case, the output comparison pattern signal g
2 and the input comparison pattern signal g 1 for one bit (1
Phase difference). Further, each selection switch S 1
If to S 4 were connected to the third switching terminal, 1
Th to the output terminal 14 1 third input terminal 13 3-bit data of 1-divided clock cycle before is output. Further, the second output terminal 14 2 4 th input terminal 13 4-bit data of 1-divided clock cycle before is output. Furthermore, the third output terminal 14 3 1 th input terminals 13 1-bit data of the present time is output.
Then, the fourth output terminal 14 4 second input terminals 13 2-bit data of the present time is output.

【0047】この場合、出力される比較パターン信号g
2 と入力比較パターン信号g1 との間に2ビット分(2
列分)の位相差か生じる。同様に、各選択スイッチS1
〜S4 が4番目の切換端子に接続されていた場合は、出
力される比較パターン信号g2 と入力比較パターン信号
1 との間に3ビット分(3列分)の位相差か生じる。
In this case, the output comparison pattern signal g
2 and the input comparison pattern signal g 1 for two bits (2
Phase difference). Similarly, each selection switch S 1
If to S 4 were connected to the fourth switching terminal produces a phase difference of 3 bits (3 columns) or between the comparison pattern signal g 2 which are output and input comparison pattern signal g 1.

【0048】図6の下段に、n=4でかつ規定ビット周
期が8(N0 =8)で、かつビットパターンが[abc
defgh]である場合であって、かつ各選択スイッチ
1〜S4 が1番目の切換端子に接続されていた場合、
2番目の切換端子に接続されていた場合、および3番目
の切換端子に接続されていた場合における各列(1)(2)
(3)(4)の各ヒットデータの配列を示す。図示するよう
に、選択信号jで各選択スイッチS1 〜S4 の切換端子
を順次切り替えていくことによって、ビットパターン
[abcdefgh]におけるビット位相が1ビットづ
つ変化していくことが理解できる。
In the lower part of FIG. 6, n = 4, the prescribed bit period is 8 (N 0 = 8), and the bit pattern is [abc
defgh] and each of the selection switches S 1 to S 4 is connected to the first switching terminal,
Each column (1) (2) when connected to the second switching terminal and when connected to the third switching terminal
(3) The arrangement of each hit data of (4) is shown. As shown in the figure, it can be understood that the bit phase in the bit pattern [abcdefgh] changes by one bit by sequentially switching the switching terminals of the respective selection switches S 1 to S 4 with the selection signal j.

【0049】同期判定制御回路11aは、一種のマイク
ロコンピュータで構成されており、回路が起動されるる
と、図3に流れ図に従って同期確立検出処理を実行す
る。流れ図が開始され、P(プログラム・ステップ)1
にて、誤り検出回路6から誤り信号eが一定の割合以上
を示したとき同期不確立状態と判断して、クロック禁止
回路9aに対してクロック禁止信号h1 を送出する(P
2)。続いて選択信号jの出力回数kを1に初期設定す
る(P3)。この状態で、誤り検出回路6から所定数の
誤り信号eが入力されると(P4)、加算後の出力回数
kが列数n(位相選択回路12の切換端子数)を越えな
い場合には(P5)、位相選択回路12へ選択信号jを
送出する(P6)。そして、選択信号jの出力回数kに
1を加算した後(P7)。P4へ戻り、再度誤り信号e
の有無を調べる。
The synchronization determination control circuit 11a is composed of a kind of microcomputer, and when the circuit is started, executes a synchronization establishment detecting process in accordance with the flowchart shown in FIG. The flowchart is started and P (program step) 1
At, it is determined that the non-established state synchronization when an error signal e from the error detection circuit 6 showed more than a certain percentage, and sends the clock inhibit signal h 1 to the clock inhibit circuit 9a (P
2). Subsequently, the number of outputs k of the selection signal j is initialized to 1 (P3). In this state, when a predetermined number of error signals e are input from the error detection circuit 6 (P4), if the number of outputs k after addition does not exceed the number of columns n (the number of switching terminals of the phase selection circuit 12), (P5), the selection signal j is sent to the phase selection circuit 12 (P6). Then, after 1 is added to the number of outputs k of the selection signal j (P7). Returning to P4, again the error signal e
Check for the presence of

【0050】P7にて加算後の出力回数kが列数nを越
えると、P2へ戻り、クロック禁止回路9aへ再度クロ
ック禁止信号h1 を送信する。通常、同期が確立か不確
立かの判定は、図3の流れ図とは別に並列に行われる
が、図3の流れ図においてはこの部分の説明が省略され
ている。
[0050] When the output number k after addition at P7 exceeds the number of columns n, returns to P2, again transmits a clock disable signal h 1 to the clock inhibit circuit 9a. Usually, the determination as to whether synchronization is established or not is made in parallel with the flowchart of FIG. 3, but the description of this portion is omitted in the flowchart of FIG.

【0051】このように構成されたパターン同期回路の
動作を図4に示すタイムチャートを用いて説明する。な
お、このタイムチャートにおいては、説明を簡単にする
ために、入力データ信号b及び比較パターン信号g1
は、規定ビット周期N0 が4であり、ビットパターンは
[abcd]の繰り返しパターンであると仮定する。さ
らに、並列直列変換回路10の分周器10aの分周比n
は2であり、並列の各信号g1 ,b1 は2列で出力され
ると仮定している。
The operation of the thus-configured pattern synchronization circuit will be described with reference to a time chart shown in FIG. In this time chart, the input data signal b and the comparison pattern signal g 1 are shown for simplicity.
Assume that the prescribed bit period N 0 is 4, and the bit pattern is a repeating pattern of [abcd]. Further, the frequency division ratio n of the frequency divider 10a of the parallel / serial conversion circuit 10
Is 2, and it is assumed that the parallel signals g 1 and b 1 are output in two columns.

【0052】最初、並列の2列の入力データb1 のビッ
ト位相と、並列の2列の比較パターン信号g1 のビット
位相とは一致しないので、非同期であり、同期判定御回
路11aからクロック禁止信号h1 が送出される。その
結果、分周クロック信号c4における一つのクロックが
消滅して、比較パターン信号g1 が入力データ信号b1
に対して1列分(2ビット位相分)遅延されて、両信号
1 ,b1 相互間のビット位相差が変化する。
First, since the bit phases of the input data b 1 in two parallel rows do not match the bit phases of the comparison pattern signal g 1 in two parallel rows, they are asynchronous and the clock is prohibited by the synchronization determination control circuit 11 a. signal h 1 is sent. As a result, the dividing one clock in the clock signal c 4 is disappeared, input comparison pattern signal g 1 data signal b 1
Is delayed by one column (two-bit phase), and the bit phase difference between the two signals g 1 and b 1 changes.

【0053】しかし、まだ、不一致であるので、今度は
位相選択回路12に対して選択信号jを送出する。する
と、位相選択回路12から出力される比較パターン信号
2が比較パターン発生回路7から出力される元の比較
パターン信号g1 に対してビット位相が1ビット位相分
だけ変化する。変化後の比較パターン信号g2 と入力デ
ータ信号b1 とが比較される。
However, since there is still a mismatch, a selection signal j is sent to the phase selection circuit 12 this time. Then, the bit phase is changed by 1 bit phase component with respect to the original comparison pattern signal g 1 comparison pattern signal g 2 output from the phase selecting circuit 12 is outputted from the comparison pattern generating circuit 7. A comparison pattern signal g 2 after the change and the input data signal b 1 are compared.

【0054】しかし、まだ、不一致であるので、再度ク
ロック禁止信号h1 が出力される。そして、さらに不一
致であるので、選択信号jが出力される。そして、この
選択信号j出力の後に比較パターン信号g2 と入力デー
タ信号b1 とが一致し、両信号g2 ,b1 間のビット位
相が同期する。
[0054] However, still, because it is a mismatch, is output clock inhibit signal h 1 again. Then, since there is a further mismatch, the selection signal j is output. Then, a comparison pattern signal g 2 after the selection signal j output and input data signal b 1 is matched, bit phase between two signals g 2, b 1 are synchronized.

【0055】このように、クロック禁止回路9aで比較
パターン信号g1 と入力データ信号b1 との間のビット
位相をnビット分一度に変化させるとともに、位相選択
回路12でもってnビット分一度に変化させた部分の1
ビット位相毎に位相変化させている。したがって、必ず
比較パターン信号g2 と入力データ信号b1 との間で同
期が確立する。
As described above, the bit phase between the comparison pattern signal g 1 and the input data signal b 1 is changed by n bits at a time by the clock inhibition circuit 9 a, and the n bits are changed by the phase selection circuit 12 at a time. 1 of the changed part
The phase is changed for each bit phase. Accordingly, synchronization is established between the invariably comparison pattern signal g 2 and the input data signal b 1.

【0056】よって、クロック禁止回路9aを直列並列
変換回路10の後段に設置することによって、このクロ
ック禁止回路9aを低速で駆動でき、このクロック禁止
回路9aを比較パターン発生回路7,位相選択回路1
2.誤り検出回路6,同期判定制御回路11aと共に低
速のASICに簡単に組込むことが可能となる。
Therefore, by disposing the clock prohibition circuit 9a at the subsequent stage of the serial / parallel conversion circuit 10, the clock prohibition circuit 9a can be driven at a low speed, and the clock prohibition circuit 9a can be driven by the comparison pattern generation circuit 7, the phase selection circuit 1
2. It can be easily incorporated into a low-speed ASIC together with the error detection circuit 6 and the synchronization determination control circuit 11a.

【0057】図7は本発明の他の実施例に係るパターン
同期回路の概略構成を示すブロック図である。図1に示
す先の実施例回路と同一部分には同一符号が付してあ
る。したがって、重複する部分の詳細説明は省略されて
いる。
FIG. 7 is a block diagram showing a schematic configuration of a pattern synchronization circuit according to another embodiment of the present invention. The same parts as those in the circuit of the previous embodiment shown in FIG. Therefore, the detailed description of the overlapping part is omitted.

【0058】この実施例回路においては、位相選択回路
12aが直列並列変換回路10から誤り検出回路6への
n列の入力データ信号b1 の信号路に介挿されている。
この位相選択回路12aは、図1に示した位相選択回路
12と同一構成である。
[0058] In the circuit of this embodiment, the phase selecting circuit 12a is interposed in the signal path of the input data signal b 1 n columns from the serial-parallel conversion circuit 10 to the error detection circuit 6.
This phase selection circuit 12a has the same configuration as the phase selection circuit 12 shown in FIG.

【0059】そして、位相選択回路12aは、同期判定
制御回路11aから選択信号jが入力されると、n列の
入力データ信号b1 のビット位相を1ビット位相単位で
変化させる。ビット位相が変化された後のn列の入力デ
ータ信号b2 は誤り検出器6へ入力される。誤り検出器
6は比較パターン発生回路7から出力された比較パター
ン信号g1 と入力データ信号b2 とのビット位相が一致
しているか否かを検出して不一致の場合、誤り信号eを
出力する。
[0059] Then, the phase selecting circuit 12a, the selection signal j from the synchronization judgment control circuit 11a is input, changes the input data signal b 1-bit phase n columns in 1-bit phase units. The input data signal b 2 of the n-th column after the bit phase is changed is input to the error detector 6. The error detector 6 detects whether or not the bit phase of the comparison pattern signal g 1 output from the comparison pattern generation circuit 7 matches the bit phase of the input data signal b 2, and outputs an error signal e if they do not match. .

【0060】このような構成のパターン同期回路におい
ても、比較パターン信号g1 と入力データ信号b2 との
間のビット位相差は、クロック禁止回路9aによってn
ビット位相づつまとめて変化でき、かつ位相選択回路1
2aでもって1ビッ位相毎に変化できる。したがって、
必ず両信号g1 ,b2 相互間にビット位相を同期させる
事が可能であるので、図1の実施例回路とほぼ同様の効
果を奏する事が可能である。
[0060] Also in the pattern synchronizing circuit having such a configuration, the bit phase difference between the comparison pattern signal g 1 and the input data signal b 2, n by the clock inhibit circuit 9a
The bit phase can be changed at a time and the phase selection circuit 1
With 2a, it can be changed for each bit phase. Therefore,
Since it is always possible to synchronize the bit phases between the two signals g 1 and b 2 , it is possible to achieve substantially the same effect as the circuit of the embodiment of FIG.

【0061】[0061]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のパターン
同期回路においては、誤り検出回路へ入力される比較パ
ターン信号又は入力データ信号のビット位相を1ビット
ずつ変化させる位相選択回路を設けている。したがっ
て、たとえクロック禁止回路を直列並列変換回路の後段
に挿入したとしても確実に入力データ信号と比較パター
ン信号との間のビット同期を確立でき、もって、クロッ
ク禁止回路を低速で動作するASICに組込むことが可
能となり、小型軽量化及び低価格化を図ることができ
る。
As described above, in the pattern synchronization circuit of the present invention, the phase selection circuit for changing the bit phase of the comparison pattern signal or the input data signal input to the error detection circuit by one bit is provided. . Therefore, even if the clock prohibition circuit is inserted after the serial / parallel conversion circuit, the bit synchronization between the input data signal and the comparison pattern signal can be reliably established, and the clock prohibition circuit is incorporated in an ASIC that operates at a low speed. It is possible to reduce the size, weight, and cost.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の一実施例に係わるパターン同期回路
の概略構成を示すブロック図
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a pattern synchronization circuit according to an embodiment of the present invention.

【図2】 同実施例回路の位相選択回路の詳細回路図FIG. 2 is a detailed circuit diagram of a phase selection circuit of the circuit of the embodiment.

【図3】 同実施例回路における同期判定制御回路の動
作を示す流れ図
FIG. 3 is a flowchart showing the operation of a synchronization determination control circuit in the circuit of the embodiment.

【図4】 同実施例回路の動作を示すタイムチャートFIG. 4 is a time chart showing the operation of the circuit of the embodiment.

【図5】 同実施例回路における比較パターン発生回路
から出力される比較パターン信号のビットパターンを示
す図
FIG. 5 is a diagram showing a bit pattern of a comparison pattern signal output from a comparison pattern generation circuit in the circuit of the embodiment.

【図6】 同実施例回路における入力データ信号と比較
パターン信号との間のビット位相関係を示す図
FIG. 6 is a diagram showing a bit phase relationship between an input data signal and a comparison pattern signal in the circuit of the embodiment.

【図7】 本発明の他の実施例に係わるパターン同期回
路の概略構成を示すブロック図
FIG. 7 is a block diagram showing a schematic configuration of a pattern synchronization circuit according to another embodiment of the present invention.

【図8】 一般的な誤り試験装置を示す図FIG. 8 is a diagram showing a general error test apparatus.

【図9】 従来のパターン同期回路の概略構成を示すブ
ロック図
FIG. 9 is a block diagram showing a schematic configuration of a conventional pattern synchronization circuit.

【図10】 同従来回路の動作を示すタイムチャートFIG. 10 is a time chart showing the operation of the conventional circuit.

【図11】 従来回路の問題点を説明するための図FIG. 11 is a diagram illustrating a problem of a conventional circuit.

【図12】 同じく従来回路の問題点を説明するための
FIG. 12 is a diagram for explaining a problem of the conventional circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2…試験対象、5…クロック再生回路、6…誤り検出回
路、7…比較パターン発生回路、9a…クロック禁止回
路、10…直列並列変換回路、11a…同期判定制御回
路、12,12a…位相選択回路
Reference numeral 2: Test object, 5: Clock recovery circuit, 6: Error detection circuit, 7: Comparison pattern generation circuit, 9a: Clock inhibition circuit, 10: Serial / parallel conversion circuit, 11a: Synchronization determination control circuit, 12, 12a: Phase selection circuit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H04L 7/08 H04L 1/00 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H04L 7/08 H04L 1/00

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 入力クロック信号を1/n(n;2以上
の正整数)に分周して分周クロック信号として出力する
と共に、既知の周期を有するシリアルの入力データ信号
をn列の入力データ信号に変換して出力する直列並列変
換回路(10)と、 前記分周クロック信号に同期して前記既知の周期を有す
るn列の比較パターン信号を出力する比較パターン発生
回路(7) と、 前記直列並列変換回路と前記比較パターン発生回路との
間に介挿され、クロック禁止信号入力に応動して、前記
分周クロック信号における連続する1個以上のクロック
の通過を禁止するクロック禁止回路(9a)と、 選択信号が入力される毎に、前記比較パターン発生回路
から出力されるn列の比較パターン信号の出力ビット位
相を順次変化させていく位相選択回路(12)と、 この位相選択回路にて選択されたビット位相を有するn
列の比較パターン信号と前記直列並列変換回路から出力
されたn列の入力データ信号とが不一致のとき誤り信号
を出力する誤り検出回路(6)と、 この誤り検出回路から所定の割合以上の誤り信号が出力
された場合に同期不確立と判断し、前記誤り信号の出力
される割合が前記所定の割合未満になり同期確立したと
判断するまで、前記誤り検出回路から所定数の誤り信号
が出力される毎に、前記位相選択回路へ選択信号を出力
すると共に、この選択信号の送出回数が所定数を越える
と前記クロック禁止回路へクロック禁止信号を出力する
同期判定制御回路(11a) とを備えたパターン同期回路。
An input clock signal is set to 1 / n (n; 2 or more)
And a serial-parallel conversion circuit (10) that outputs a frequency-divided clock signal after dividing the frequency of the input data into a divided clock signal, and converts a serial input data signal having a known period into an input data signal of n columns and outputs the data. A comparison pattern generation circuit (7) that outputs n columns of comparison pattern signals having the known period in synchronization with the frequency-divided clock signal; and an interposition between the serial / parallel conversion circuit and the comparison pattern generation circuit. A clock prohibition circuit (9a) for prohibiting the passage of one or more continuous clocks in the divided clock signal in response to a clock prohibition signal input; and generating the comparison pattern each time a selection signal is input. A phase selection circuit (12) for sequentially changing the output bit phases of the n-column comparison pattern signals output from the circuit; and n having the bit phase selected by the phase selection circuit.
An error detection circuit (6) that outputs an error signal when the comparison pattern signal of the column and the input data signal of n columns output from the serial-parallel conversion circuit do not match; When a signal is output, it is determined that synchronization has not been established, and a predetermined number of error signals are output from the error detection circuit until it is determined that the output ratio of the error signal is less than the predetermined ratio and synchronization has been established. A synchronization determination control circuit (11a) for outputting a selection signal to the phase selection circuit each time the number of times the selection signal is transmitted exceeds a predetermined number and outputting a clock inhibition signal to the clock inhibition circuit. Pattern synchronization circuit.
【請求項2】 入力クロック信号を1/n(n;2以上
の正整数)に分周して分周クロック信号として出力する
と共に、既知の周期を有するシリアルの入力データ信号
をn列の入力データ信号に変換して出力する直列並列変
換回路(10)と、 前記分周クロック信号に同期して前記既知の周期を有す
るn列の比較パターン信号を出力する比較パターン発生
回路(7) と、 前記直列並列変換回路と前記比較パターン発生回路との
間に介挿され、クロック禁止信号入力に応動して、前記
分周クロック信号における連続する1個以上のクロック
の通過を禁止するクロック禁止回路(9a)と、 選択信号が入力される毎に、前記直列並列変換回路から
出力されるn列の入力データ信号の出力ビット位相を順
次変化させていく位相選択回路(12a) と、 この位相選択回路にて選択されたビット位相を有するn
列の入力データ信号と前記比較パターン発生回路から出
力されたn列の比較パターン信号とが不一致のとき誤り
信号を出力する誤り検出回路(6)と、 この誤り検出回路から所定の割合以上の誤り信号が出力
された場合に同期不確立と判断し、前記誤り信号の出力
される割合が前記所定の割合未満になり同期確立したと
判断するまで、前記誤り検出回路から所定数の誤り信号
が出力される毎に、前記位相選択回路へ選択信号を出力
すると共に、この選択信号の送出回数が所定数を越える
と前記クロック禁止回路へクロック禁止信号を出力する
同期判定制御回路(11a) とを備えたパターン同期回路。
2. An input clock signal is set to 1 / n (n; 2 or more).
And a serial-parallel conversion circuit (10) that outputs a frequency-divided clock signal after dividing the frequency of the input data into a divided clock signal, and converts a serial input data signal having a known period into an input data signal of n columns and outputs the data. A comparison pattern generation circuit (7) that outputs n columns of comparison pattern signals having the known period in synchronization with the frequency-divided clock signal; and an interposition between the serial / parallel conversion circuit and the comparison pattern generation circuit. A clock prohibition circuit (9a) for prohibiting the passage of one or more continuous clocks in the divided clock signal in response to the input of the clock prohibition signal; and A phase selection circuit (12a) for sequentially changing output bit phases of input data signals of n columns output from the circuit; and n having a bit phase selected by the phase selection circuit.
An error detection circuit (6) that outputs an error signal when the input data signal of the column does not match the comparison pattern signal of the n-th column output from the comparison pattern generation circuit; When a signal is output, it is determined that synchronization has not been established, and a predetermined number of error signals are output from the error detection circuit until it is determined that the output ratio of the error signal is less than the predetermined ratio and synchronization has been established. A synchronization determination control circuit (11a) for outputting a selection signal to the phase selection circuit each time the number of times the selection signal is transmitted exceeds a predetermined number and outputting a clock inhibition signal to the clock inhibition circuit. Pattern synchronization circuit.
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