JP3257220B2 - 伝達関数非接触測定装置 - Google Patents
伝達関数非接触測定装置Info
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明はマイクロストリップラ
イン、スロットライン、同軸ケーブルなどの分布定数線
路と、受動素子や能動素子と構成され、信号源を内蔵し
ない、主としてマイクロ波やミリ波の分布定数回路網の
伝達関数を測定する装置に関する。
イン、スロットライン、同軸ケーブルなどの分布定数線
路と、受動素子や能動素子と構成され、信号源を内蔵し
ない、主としてマイクロ波やミリ波の分布定数回路網の
伝達関数を測定する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図２に従来の伝達関数測定装置を示す。
観測対象である分布定数回路網１１は基板１２上に受動
素子１３や能動素子１４がマイクロストリップラインの
ような分布定数線路１５で接続され信号を入出する入力
端子１６、出力端子１７が設けられて構成されている。
入出力端子１６，１７間の伝達関数を測定するにはこれ
ら間にネットワークアナライザ１８を接続して、試験信
号を入力端子１６に供給し、出力端子１７からの信号を
取込んで、これら試験信号と出力信号とから伝達関数を
演算する。回路網１１の途中の部分の伝達関数を測定す
るには、ネットワークアナライザ１８から例えば入力端
子１６に試験信号を入力し、回路網１１の途中の個所に
接触形プローブ１９を接触させて信号を取出してネット
ワークアナライザ１８に入力して測定する。あるいは回
路網１１中の伝達関数を測定したい途中の個所が予め知
られている場合は、その個所の両端にパワースプリッタ
２１を接続し、パワースプリッタ２１に試験端子２２を
接続し、試験端子２２を通じて信号を入出力するように
回路網１１を予め構成しておき、これら試験端子２２間
又はこれらと入力端子１６、出力端子１７との間に試験
信号を入出させて伝達関数を測定する。
観測対象である分布定数回路網１１は基板１２上に受動
素子１３や能動素子１４がマイクロストリップラインの
ような分布定数線路１５で接続され信号を入出する入力
端子１６、出力端子１７が設けられて構成されている。
入出力端子１６，１７間の伝達関数を測定するにはこれ
ら間にネットワークアナライザ１８を接続して、試験信
号を入力端子１６に供給し、出力端子１７からの信号を
取込んで、これら試験信号と出力信号とから伝達関数を
演算する。回路網１１の途中の部分の伝達関数を測定す
るには、ネットワークアナライザ１８から例えば入力端
子１６に試験信号を入力し、回路網１１の途中の個所に
接触形プローブ１９を接触させて信号を取出してネット
ワークアナライザ１８に入力して測定する。あるいは回
路網１１中の伝達関数を測定したい途中の個所が予め知
られている場合は、その個所の両端にパワースプリッタ
２１を接続し、パワースプリッタ２１に試験端子２２を
接続し、試験端子２２を通じて信号を入出力するように
回路網１１を予め構成しておき、これら試験端子２２間
又はこれらと入力端子１６、出力端子１７との間に試験
信号を入出させて伝達関数を測定する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来の伝達関数測定装
置によれば、入力端子１６と出力端子１７との間の測定
は問題ないが、回路網１１の途中の部分を測定するには
前述したようにプローブ１９を接触させて行う場合は、
プローブ１９が回路網１１に影響を与え正しい測定を行
うことができない。また試験端子２２を利用する場合
は、パワースプリッタ２１が常時回路網１１内に設けら
れているため、比較的大きな損失が生じる、またパワー
スプリッタ２１が他の回路部分と結合が生じる可能性が
あり、正しい動作状態とするための製造が厄介になる。
置によれば、入力端子１６と出力端子１７との間の測定
は問題ないが、回路網１１の途中の部分を測定するには
前述したようにプローブ１９を接触させて行う場合は、
プローブ１９が回路網１１に影響を与え正しい測定を行
うことができない。また試験端子２２を利用する場合
は、パワースプリッタ２１が常時回路網１１内に設けら
れているため、比較的大きな損失が生じる、またパワー
スプリッタ２１が他の回路部分と結合が生じる可能性が
あり、正しい動作状態とするための製造が厄介になる。
【０００４】
【課題を解決するための手段】この発明によれば伝達関
数測定手段から観測対象分布定数回路網に信号を入力
し、この回路網に対して設定された観測面の各点で電波
を受信し、その各点と上記回路網との間の伝達関数がそ
れぞれ測定され、これら各点で測定された伝達関数は各
観測周波数ごとにホログラム再生演算、つまり逆フレネ
ル変換又はフーリエ変換され、観測対象回路網上の観測
点を指定して、その点における上記ホログラム再生演算
結果が周波数応答として表示される。
数測定手段から観測対象分布定数回路網に信号を入力
し、この回路網に対して設定された観測面の各点で電波
を受信し、その各点と上記回路網との間の伝達関数がそ
れぞれ測定され、これら各点で測定された伝達関数は各
観測周波数ごとにホログラム再生演算、つまり逆フレネ
ル変換又はフーリエ変換され、観測対象回路網上の観測
点を指定して、その点における上記ホログラム再生演算
結果が周波数応答として表示される。
【０００５】マイクロ波やミリ波などの回路網ではこれ
から弱いが電磁波が放射され、その電磁波が受信測定さ
れ、観測面上の受信状態がホログラム再生演算により回
路網上の位置に変換される。上記表示には観測対象分布
定数回路網の形状が表示され、かつ、１つの周波数につ
いての上記ホログラム再生演算の結果が２次元表示され
る表示と、その２次元表示の任意の位置を指定すると、
その個所の周波数特性が周波数応答として表示される。
から弱いが電磁波が放射され、その電磁波が受信測定さ
れ、観測面上の受信状態がホログラム再生演算により回
路網上の位置に変換される。上記表示には観測対象分布
定数回路網の形状が表示され、かつ、１つの周波数につ
いての上記ホログラム再生演算の結果が２次元表示され
る表示と、その２次元表示の任意の位置を指定すると、
その個所の周波数特性が周波数応答として表示される。
【０００６】この場合形状表示と２次元表示とが兼ねら
れていることが好ましい。伝達関数の測定系及び観測系
の周波数応答利得、位相などの補償が、ホログラム再生
演算結果に対して行われる。表示されるホログラム再生
演算結果が逆フーリエ変換され、その変換結果が時間領
域応答として表示される。
れていることが好ましい。伝達関数の測定系及び観測系
の周波数応答利得、位相などの補償が、ホログラム再生
演算結果に対して行われる。表示されるホログラム再生
演算結果が逆フーリエ変換され、その変換結果が時間領
域応答として表示される。
【０００７】
【実施例】図１にこの発明の実施例を示す。観測対象分
布定数回路網１１に対し、信号を供給し、その回路網１
１に対して設定（想定）された観測面３１上の各点
（ｘ，ｙ）と回路網１１との間の伝達関数Ｈ（ｘ，ｙ，
ｆi ）が伝達関数測定手段により測定される。つまり例
えばネットワークアナライザ１８から信号が回路網１１
の入力端子１６へ供給される。また観測面３１上に受信
走査手段が設けられ、受信走査手段は例えば、Ｄａｎ
Ｓｌａｔｅｒ，“Ｎｅａｒ−Ｆｉｅｌｄ Ａｎｔｅｎｎ
ａ Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｓ”，Ａｒｔｅｃｈ Ｈｏ
ｕｓｕ，１９９１に実例が示されているように、例えば
アンテナ３２が観測面３１上の直交座標で決まる各点
（ｘ，ｙ）に対して移動位置させて回路網１１から放射
される電磁波を受信して電圧としてネットワークアナラ
イザ１８に入力されて、回路網１１の入力端子１６か
ら、受信点（観測点）（ｘ，ｙ）まで伝達関数Ｈ（ｘ，
ｙ，ｆi）が測定され、観測面３１上の全ての点につい
ての伝達関数が測定される。あるいは受信走査手段とし
ては観測面３１上の各点（ｘ，ｙ）にそれぞれアンテナ
３２が配され、このアレー状アンテナの各１つについて
順次受信出力がネットワークアナライザ１８に切替え供
給される。上述において回路網１１へ供給する信号の周
波数の設定と、観測面３１上のアンテナ受信出力の取出
す点（ｘ，ｙ）の制御は計測制御部３３により行われ
る。
布定数回路網１１に対し、信号を供給し、その回路網１
１に対して設定（想定）された観測面３１上の各点
（ｘ，ｙ）と回路網１１との間の伝達関数Ｈ（ｘ，ｙ，
ｆi ）が伝達関数測定手段により測定される。つまり例
えばネットワークアナライザ１８から信号が回路網１１
の入力端子１６へ供給される。また観測面３１上に受信
走査手段が設けられ、受信走査手段は例えば、Ｄａｎ
Ｓｌａｔｅｒ，“Ｎｅａｒ−Ｆｉｅｌｄ Ａｎｔｅｎｎ
ａ Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｓ”，Ａｒｔｅｃｈ Ｈｏ
ｕｓｕ，１９９１に実例が示されているように、例えば
アンテナ３２が観測面３１上の直交座標で決まる各点
（ｘ，ｙ）に対して移動位置させて回路網１１から放射
される電磁波を受信して電圧としてネットワークアナラ
イザ１８に入力されて、回路網１１の入力端子１６か
ら、受信点（観測点）（ｘ，ｙ）まで伝達関数Ｈ（ｘ，
ｙ，ｆi）が測定され、観測面３１上の全ての点につい
ての伝達関数が測定される。あるいは受信走査手段とし
ては観測面３１上の各点（ｘ，ｙ）にそれぞれアンテナ
３２が配され、このアレー状アンテナの各１つについて
順次受信出力がネットワークアナライザ１８に切替え供
給される。上述において回路網１１へ供給する信号の周
波数の設定と、観測面３１上のアンテナ受信出力の取出
す点（ｘ，ｙ）の制御は計測制御部３３により行われ
る。
【０００８】各観測周波数ｆ1 〜ｆm ごとに測定された
伝達関数Ｈ（ｘ，ｙ，ｆ1 ）〜Ｈ（ｘ，ｙ，ｆm ）はデ
ータメモリ３４1 〜３４m にそれぞれ、計測制御部３３
によりアドレス指定されて記憶される。これら伝達関数
Ｈ（ｘ，ｙ，ｆ1 ）〜Ｈ（ｘ，ｙ，ｆm ）は各観測周波
数ｆi （ｉ＝１，２，…，ｍ）ごとにデータメモリ３４
1 〜３４m から取出されて、ホログラム再生演算器３６
にてホログラム再生演算が行われて、観測面３１上の２
次元受信状態が、回路網１１上の位置に変換される。つ
まり回路網１１から放射された電波が空間伝搬により観
測面３１上では干渉し合っていることを利用して、ホロ
グラム再生演算することにより回路網１１上における観
測したい点を抽出可能とする。
伝達関数Ｈ（ｘ，ｙ，ｆ1 ）〜Ｈ（ｘ，ｙ，ｆm ）はデ
ータメモリ３４1 〜３４m にそれぞれ、計測制御部３３
によりアドレス指定されて記憶される。これら伝達関数
Ｈ（ｘ，ｙ，ｆ1 ）〜Ｈ（ｘ，ｙ，ｆm ）は各観測周波
数ｆi （ｉ＝１，２，…，ｍ）ごとにデータメモリ３４
1 〜３４m から取出されて、ホログラム再生演算器３６
にてホログラム再生演算が行われて、観測面３１上の２
次元受信状態が、回路網１１上の位置に変換される。つ
まり回路網１１から放射された電波が空間伝搬により観
測面３１上では干渉し合っていることを利用して、ホロ
グラム再生演算することにより回路網１１上における観
測したい点を抽出可能とする。
【０００９】つまり回路網１１と観測面３１との間の距
離ＬがＬ＜Ｄ2 ／λi （Ｄ：観測面３１のサイズ、
λi ：観測波長）の場合は伝達関数Ｈ（ｘ，ｙ，ｆi ）
は次式により逆フレネル変換される。 Ｉ（Ｘ，Ｙ，ｆi ）＝Ｋ∬Ｈ（ξ，η，ｆi ）ｅｘｐ
｛ｉπ／λi Ｌ（（ξ−ｘ）2 ＋（η−ｙ）2 ）｝ｄξ
ｄη Ｋ＝−ｊλi Ｌｅｘｐ（ｊ２πＬ／λi ） λi ＝Ｃ／ｆi ，Ｃ：光速 実際的演算としては Ｐ（ｘ，ｙ，ｆi ）＝ｅｘｐ（−ｊπ（ｘ2 ＋ｙ2 ）／
λi Ｌ）として、 Ｉ（Ｘ，Ｙ，ｆi ）＝Ｆ-1〔ＦＩＨ（ｘ，ｙ，ｆi ）〕
・Ｆ〔Ｐ（ｘ，ｙ，ｆi ）〕 Ｆ〔・〕はフーリエ変換を、Ｆ-1〔・〕は逆フーリエ変
換をそれぞれ示す。
離ＬがＬ＜Ｄ2 ／λi （Ｄ：観測面３１のサイズ、
λi ：観測波長）の場合は伝達関数Ｈ（ｘ，ｙ，ｆi ）
は次式により逆フレネル変換される。 Ｉ（Ｘ，Ｙ，ｆi ）＝Ｋ∬Ｈ（ξ，η，ｆi ）ｅｘｐ
｛ｉπ／λi Ｌ（（ξ−ｘ）2 ＋（η−ｙ）2 ）｝ｄξ
ｄη Ｋ＝−ｊλi Ｌｅｘｐ（ｊ２πＬ／λi ） λi ＝Ｃ／ｆi ，Ｃ：光速 実際的演算としては Ｐ（ｘ，ｙ，ｆi ）＝ｅｘｐ（−ｊπ（ｘ2 ＋ｙ2 ）／
λi Ｌ）として、 Ｉ（Ｘ，Ｙ，ｆi ）＝Ｆ-1〔ＦＩＨ（ｘ，ｙ，ｆi ）〕
・Ｆ〔Ｐ（ｘ，ｙ，ｆi ）〕 Ｆ〔・〕はフーリエ変換を、Ｆ-1〔・〕は逆フーリエ変
換をそれぞれ示す。
【００１０】Ｌ＞Ｄ2 ／λi の場合は伝達関数Ｈ（ｘ，
ｙ，ｆi ）は次式によりフーリエ変換される。 Ｉ（u,v,ｆi ）＝∬Ｈ（x,y,ｆi ）exp ｛−ｊ２π（ux
＋vy）｝ｄｘ・ｄｙ ｕは方位、ｖは仰角 以上のようにホログラム再生演算された結果、例えば逆
フレネル変換の結果Ｉ（Ｘ，Ｙ，ｆ1 ）〜Ｉ（Ｘ，Ｙ，
ｆm ）はイメージメモリ３６1 〜３６m にそれぞれ記録
される。表示制御部３７により回路網１１上の測定点
（Ｘ，Ｙ）が指定され、その点のデータＩ（Ｘ，Ｙ，ｆ
1 ）〜Ｉ（Ｘ，Ｙ，ｆm ）がイメージメモリ３６1 〜３
６m から読出され、ｆ特補正器３８へ供給される。また
その指定位置（ｘ，ｙ）と対応する回路網１１上の位置
の放射周波数特性、つまりその位置の例えばマイクロス
トリップラインの幅、厚さなどで決まる漏れ電波の周波
数特性と対応した補償特性が表示制御部３７よりｆ特補
正器３８へ供給され、ｆ特補正器３８では、アンテナ３
２を含む観測系の周波数特性と対応した補償特性と、前
記表示制御部３７から入力された補償特性とが、入力さ
れたデータ列Ｉ（Ｘ，Ｙ，ｆ1 ）〜Ｉ（Ｘ，Ｙ，ｆm ）
に対して乗算されて補償され、その補償されたデータ列
Ｉ′（Ｘ，Ｙ，ｆ1 ）〜Ｉ′（Ｘ，Ｙ，ｆm ）が表示器
３９に周波数応答として表示される。
ｙ，ｆi ）は次式によりフーリエ変換される。 Ｉ（u,v,ｆi ）＝∬Ｈ（x,y,ｆi ）exp ｛−ｊ２π（ux
＋vy）｝ｄｘ・ｄｙ ｕは方位、ｖは仰角 以上のようにホログラム再生演算された結果、例えば逆
フレネル変換の結果Ｉ（Ｘ，Ｙ，ｆ1 ）〜Ｉ（Ｘ，Ｙ，
ｆm ）はイメージメモリ３６1 〜３６m にそれぞれ記録
される。表示制御部３７により回路網１１上の測定点
（Ｘ，Ｙ）が指定され、その点のデータＩ（Ｘ，Ｙ，ｆ
1 ）〜Ｉ（Ｘ，Ｙ，ｆm ）がイメージメモリ３６1 〜３
６m から読出され、ｆ特補正器３８へ供給される。また
その指定位置（ｘ，ｙ）と対応する回路網１１上の位置
の放射周波数特性、つまりその位置の例えばマイクロス
トリップラインの幅、厚さなどで決まる漏れ電波の周波
数特性と対応した補償特性が表示制御部３７よりｆ特補
正器３８へ供給され、ｆ特補正器３８では、アンテナ３
２を含む観測系の周波数特性と対応した補償特性と、前
記表示制御部３７から入力された補償特性とが、入力さ
れたデータ列Ｉ（Ｘ，Ｙ，ｆ1 ）〜Ｉ（Ｘ，Ｙ，ｆm ）
に対して乗算されて補償され、その補償されたデータ列
Ｉ′（Ｘ，Ｙ，ｆ1 ）〜Ｉ′（Ｘ，Ｙ，ｆm ）が表示器
３９に周波数応答として表示される。
【００１１】またｆ特補正器３８の出力は逆フーリエ変
換器４１で逆フーリエ変換され、信号波形として表示器
４２に表示される。回路網１１の物理形状が表示器４３
に表示され、その表示器４３に表示された回路網１１中
の伝達関数を知りたい測定点を例えばカーソル指示する
ことにより表示制御部３７から測定点（Ｘ，Ｙ）の指定
がされるようにすることもできる。更にイメージメモリ
３６1 〜３６m 中の１つのデータＩ（Ｘ，Ｙ，ｆi ）を
読出して、ｆ特補正器３８で特性補償をして、又はその
特性補償をすることなく、表示器４３に、回路網１１の
形状表示と並べて又は重ねて表示してもよい。回路網１
１の形状表示のためのデータは回路網１１の形状を用紙
に書き、それをビデオカメラで撮ったデータとするか、
回路網１１の形状をパソコンで作ってデータを得ると
か、その回路網１１の設計に用いたＣＡＤ（計算機支援
設計装置）のデータから得て、表示器４３に内蔵のメモ
リに記憶して用いればよい。
換器４１で逆フーリエ変換され、信号波形として表示器
４２に表示される。回路網１１の物理形状が表示器４３
に表示され、その表示器４３に表示された回路網１１中
の伝達関数を知りたい測定点を例えばカーソル指示する
ことにより表示制御部３７から測定点（Ｘ，Ｙ）の指定
がされるようにすることもできる。更にイメージメモリ
３６1 〜３６m 中の１つのデータＩ（Ｘ，Ｙ，ｆi ）を
読出して、ｆ特補正器３８で特性補償をして、又はその
特性補償をすることなく、表示器４３に、回路網１１の
形状表示と並べて又は重ねて表示してもよい。回路網１
１の形状表示のためのデータは回路網１１の形状を用紙
に書き、それをビデオカメラで撮ったデータとするか、
回路網１１の形状をパソコンで作ってデータを得ると
か、その回路網１１の設計に用いたＣＡＤ（計算機支援
設計装置）のデータから得て、表示器４３に内蔵のメモ
リに記憶して用いればよい。
【００１２】またこのようなデータではなく、透明用紙
に回路網１１の形状を描いて表示し、これを前記データ
Ｉ（Ｘ，Ｙ，ｆi ）の２次元表示に重ねて用いもよい。
伝達関数を知りたい所が予めわかっている場合は、その
点（Ｘ，Ｙ）又は（ｕ，ｖ）についてのみホログラム再
生演算を行い、回路網１１の全ての点についてホログラ
ム再生演算を行う必要はない。観測周波数の範囲で観測
系の周波数特性や回路網１１の放射特性が比較的平坦で
あればｆ特補正器３８は省略してもよい。また表示器３
９，４２，４３は１つで兼用して、並列表示又は切替え
表示としてもよい。
に回路網１１の形状を描いて表示し、これを前記データ
Ｉ（Ｘ，Ｙ，ｆi ）の２次元表示に重ねて用いもよい。
伝達関数を知りたい所が予めわかっている場合は、その
点（Ｘ，Ｙ）又は（ｕ，ｖ）についてのみホログラム再
生演算を行い、回路網１１の全ての点についてホログラ
ム再生演算を行う必要はない。観測周波数の範囲で観測
系の周波数特性や回路網１１の放射特性が比較的平坦で
あればｆ特補正器３８は省略してもよい。また表示器３
９，４２，４３は１つで兼用して、並列表示又は切替え
表示としてもよい。
【００１３】
【発明の効果】以上述べたようにこの発明によれば、回
路網１１から離れた観測面３１上の各点と回路網１１の
入力端子との間の伝達関数を求め、この観測面３１上の
測定結果を、ホログラム再生演算により回路網１１上に
等価的に移動させることにより、回路網１１の各部の伝
達特性を非接触で測定することができ、正しい測定結果
が得られる。また試験端子を設けるものでないからパワ
ースプリッタによる常時の損失もなく、不要結合が生じ
るおそれもなく、回路網１１の製造が容易となる。
路網１１から離れた観測面３１上の各点と回路網１１の
入力端子との間の伝達関数を求め、この観測面３１上の
測定結果を、ホログラム再生演算により回路網１１上に
等価的に移動させることにより、回路網１１の各部の伝
達特性を非接触で測定することができ、正しい測定結果
が得られる。また試験端子を設けるものでないからパワ
ースプリッタによる常時の損失もなく、不要結合が生じ
るおそれもなく、回路網１１の製造が容易となる。
【００１４】ホログラム再生演算した結果を２次元表示
し、かつ回路網１１の形状を表示すると、前者の表示で
異常個所を知り、その位置を後者の表示で簡単に指示し
て、その個所の伝達特性を知ることができる。また例え
ば半田付けに基づく異常放射が生じている個所を２次元
表示で直ちに知り、その個所の伝達特性を知ることがで
きる。
し、かつ回路網１１の形状を表示すると、前者の表示で
異常個所を知り、その位置を後者の表示で簡単に指示し
て、その個所の伝達特性を知ることができる。また例え
ば半田付けに基づく異常放射が生じている個所を２次元
表示で直ちに知り、その個所の伝達特性を知ることがで
きる。
【００１５】ｆ特補正器３８を用いると、回路網１１の
放射特性や観測系の周波数特性に影響されることなく、
伝達特性を正しく測定することができる。回路網１１が
比較的大きい機器内に組込まれている場合はホログラム
再生演算としてフーリエ変換を用いることにより、同様
に非接触で伝達関数を測定することができる。
放射特性や観測系の周波数特性に影響されることなく、
伝達特性を正しく測定することができる。回路網１１が
比較的大きい機器内に組込まれている場合はホログラム
再生演算としてフーリエ変換を用いることにより、同様
に非接触で伝達関数を測定することができる。
【図１】この発明の実施例を示すブロック図。
【図２】従来の伝達関数測定装置を示すブロック図。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 27/28 G01R 27/32 G01R 31/302 G01R 19/28
Claims (7)
- 【請求項１】 観測対象分布定数回路網に信号を入力
し、上記観測対象分布定数回路網に対して設定された観
測面の各点で電波を受信走査手段で受信し、その各点と
上記観測対象分布定数回路網との間の伝達関数を測定す
る伝達関数測定手段と、 上記各点で測定された伝達関数を観測周波数ごとに逆フ
レネル変換又はフーリエ変換する手段と、 上記観測対象分布定数回路網上の観測点を指定してその
点の上記逆フレネル又はフーリエ変換結果を、周波数応
答として表示する表示手段と、 を具備する伝達関数非接触測定装置。 - 【請求項２】 上記表示手段は上記観測対象分布定数回
路網の形状を表示すると共に、１つの周波数についての
上記逆フレネル変換又はフーリエ変換された結果を２次
元表示する手段と、 上記２次元表示の任意の位置を指定すると、その個所の
周波数特性を上記周波数応答として表示する手段とより
なることを特徴とする請求項１記載の伝達関数非接触測
定装置。 - 【請求項３】 上記形状表示と、上記２次元表示とが重
ねられていることを特徴とする請求項２記載の伝達関数
非接触測定装置。 - 【請求項４】 上記伝達関数測定手段の測定系及び観測
系の周波数応答の利得、位相などの補償を、上記逆フレ
ネル変換又はフーリエ変換結果に対して行う手段を有す
ることを特徴とする請求項１乃至３の何れかに記載の伝
達関数非接触測定装置。 - 【請求項５】 上記表示される周波数応答を逆フーリエ
変換し、その結果を時間領域応答として表示する手段を
含むことを特徴とする請求項１乃至４の何れかに記載の
伝達関数非接触測定装置。 - 【請求項６】 上記受信走査手段は上記観測面上にほぼ
一様に複数のアンテナがアレイ状に配され、これらアン
テナの出力を順次取出す手段であることを特徴とする請
求項１乃至５の何れかに記載の伝達関数非接触測定装
置。 - 【請求項７】 上記受信走査手段は上記観測面上の予め
決めた一様に分布する各位置にアンテナを移動させ、そ
の各位置ごとにそのアンテナの出力を取出す手段である
ことを特徴とする請求項１乃至５の何れかに記載の伝達
関数非接触測定装置。
Priority Applications (12)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00157494A JP3257220B2 (ja) | 1994-01-12 | 1994-01-12 | 伝達関数非接触測定装置 |
| DE69528479T DE69528479T2 (de) | 1994-01-12 | 1995-01-12 | Anzeigevorrichtung |
| EP99203844A EP0977050B1 (en) | 1994-01-12 | 1995-01-12 | Display apparatus |
| DE69517453T DE69517453T2 (de) | 1994-01-12 | 1995-01-12 | Berührungslose-Beobachtungsvorrichtung von Wellensignalen |
| US08/371,885 US5656932A (en) | 1994-01-12 | 1995-01-12 | Non-contact type wave signal observation apparatus |
| DE69528481T DE69528481T2 (de) | 1994-01-12 | 1995-01-12 | Kontaktlose Wellensignalbeobachtungsvorrichtung |
| EP99203843A EP0977053B1 (en) | 1994-01-12 | 1995-01-12 | Non-contact type wave signal observation apparatus |
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