JP3246048B2 - Chip component taping apparatus and method - Google Patents

Chip component taping apparatus and method

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JP3246048B2
JP3246048B2 JP06496193A JP6496193A JP3246048B2 JP 3246048 B2 JP3246048 B2 JP 3246048B2 JP 06496193 A JP06496193 A JP 06496193A JP 6496193 A JP6496193 A JP 6496193A JP 3246048 B2 JP3246048 B2 JP 3246048B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はチップ部品の電気特性や
外観形状を検査し、その良品のみをテーピングするチッ
プ部品のテーピング装置およびその方法に関するもので
ある。
The present invention relates to testing the electrical characteristics and external appearance of the chip parts, taping the good only chips
TECHNICAL FIELD The present invention relates to an apparatus and a method for taping tape parts .

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のチップ部品の検査ならびにテーピ
ング装置について図6を用いて説明する。
2. Description of the Related Art A conventional chip component inspection and taping apparatus will be described with reference to FIG.

【0003】図6は従来のチップ部品の検査ならびにテ
ーピング装置の構成を示す斜視図であり、同図において
14はチップ部品、15はチップ部品14を供給するパ
ーツフィーダ、16はターンテーブル、17はこのター
ンテーブル16の周縁下面に吊り下げ状態で複数個取付
けられたチャック、18はチップ部品14の電気特性や
外観形状の検査を行う検査ユニット、19は検査が終わ
ったチップ部品14をテーピングするテーピング用テー
プである。
FIG. 6 is a perspective view showing the structure of a conventional chip component inspection and taping apparatus. In FIG. 6, 14 is a chip component, 15 is a parts feeder for supplying the chip component 14, 16 is a turntable, and 17 is a turntable. A plurality of chucks attached to the lower surface of the turntable 16 in a suspended state, 18 is an inspection unit for inspecting the electrical characteristics and appearance of the chip component 14, and 19 is a taping for taping the inspected chip component 14. Tape.

【0004】このように構成された従来のチップ部品の
検査ならびにテーピング装置は、パーツフィーダ15か
ら順次供給されるチップ部品14を個々にチャック17
で保持してターンテーブル16の回転により移送し、検
査ユニット18で検査を行って後、ターンテーブル16
を回転してボトムテープを貼付けたテーピング用テープ
19に形成された収納部19aにチップ部品14を挿入
してテーピングを行うように構成されたものであった。
The conventional chip component inspection and taping apparatus configured as described above separates the chip components 14 sequentially supplied from the parts feeder 15 into chucks 17.
And then transported by rotation of the turntable 16 and inspected by the inspection unit 18.
Is rotated to insert the chip component 14 into the accommodating portion 19a formed on the taping tape 19 to which the bottom tape is stuck, thereby performing taping.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の構成では、パーツフィーダ15から順次供給されるチ
ップ部品14をテーピングする前に一旦チャック17な
どの別部品でつかみ直して検査をする構成であるため、
チップ部品14が微細化するとチャック17による保持
状態が不安定になり検査に支障をきたしたり、また、装
置も複雑になって高価になると言う課題があった。
However, in the above-mentioned conventional configuration, the chip components 14 sequentially supplied from the parts feeder 15 are inspected by tapping again with another component such as the chuck 17 before taping. ,
When the chip component 14 is miniaturized, the holding state by the chuck 17 becomes unstable, which hinders the inspection, and the apparatus becomes complicated and expensive.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明によるチップ部品のテーピング装置およびその
方法は、チップ部品を個々に収納するキャリアテープを
供給する供給部と、この供給部から供給されるキャリア
テープの収納部にチップ部品を収納する挿入部と、この
キャリアテープに収納されたチップ部品を検査する検査
部と、この検査部で不良と判断したチップ部品を排出す
る取り出し部と、上記供給部から供給されるキャリアテ
ープを取り出し部導く第1の搬送部と、あらかじめこ
のキャリアテープの始端部側を空状態でたるませ、か
つ、たるませる部分の直前の周回前の位置とほぼ同位置
に戻るように周回させるバッファー部と、ほぼ同位置に
戻した周回後の上記キャリアテープに、上記第1の搬送
部で搬送されたキャリアテープの検査済のチップ部品を
移し替える移し替え部と、この移し替えを終えた上記
ャリアテープを搬送する第2の搬送部と、上記キャリア
テープに収納されたチップ部品の封口を行うために上記
第2の搬送部の途中に設けられたテーピング部と、テー
ピングを終えた上記キャリアテープを巻取る巻取り部か
らなる構成としたものである。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above-mentioned problems, a taping device for chip parts according to the present invention and a device therefor are provided.
The method comprises the steps of supplying a carrier tape for individually storing chip components, an insertion portion for storing chip components in a storage portion of the carrier tape supplied from the supply portion, and a chip component stored in the carrier tape. an inspection unit for inspecting, and retrieval unit for discharging the determined chip component to be defective in the inspection unit, a first conveying section which guides the portion removed carrier tape supplied from the supply unit, Arakajimeko
Slack the start end of the carrier tape
Approximately the same position as before the lap, just before the sag
At the same position as the buffer section that circulates back to
The first transporting is performed on the carrier tape after the return rotation.
A sorting unit for transferring <br/> the inspected chip parts conveyed carrier tape section and a second conveying unit that conveys the key <br/> Yariatepu the completion of this sorting, the carrier is obtained by a taping unit provided in the middle of the second transport unit in order to perform the sealing of the chip components stored in a tape, the arrangement comprising a winder for winding the key Yariatepu finishing the taping .

【0007】[0007]

【作用】この構成により、チップ部品の搬送を行うため
にキァリアテープを使用し、このキャリアテープの収納
部に収納された状態でチップ部品の検査を行い、不良品
を排出後、良品のみを同じキャリアテープの別の収納部
に移し替えることが可能となる。
With this configuration, a carrier tape is used to carry the chip parts, the chip parts are inspected in a state where the carrier parts are stored in the storage part of the carrier tape. It becomes possible to transfer to another storage part of the carrier tape.

【0008】その結果、テーピング材料であるキャリア
テープをチップ部品の搬送に使い、チャックまたはディ
スクなどの別部品に保持させること無く、かつ歯抜けの
無いように良品のチップ部品のみテーピングすることが
可能となり、シンプルでワークハンドリングに無駄の無
い構成で安定したチップ部品の検査ならびにテーピング
を行うことができる。
As a result, it is possible to use the carrier tape, which is a taping material, for transporting chip components, and to tap only non-defective chip components without holding them on a separate component such as a chuck or a disk, and without missing teeth. As a result, stable inspection and taping of chip components can be performed with a simple configuration that does not waste work handling.

【0009】[0009]

【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
しながら説明する。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0010】図1は本発明によるチップ部品の検査なら
びにテーピング装置の全体構成を示す斜視図、図2は同
装置の要部を簡略化して示した要部正面図である。図
1、図2において1はキャリアテープ2を供給する供給
リール、2はこの供給リール1に巻装されたキャリアテ
ープ、3はキャリアテープ2の収納部にチップ部品を収
納する挿入部、4は挿入部3にチップ部品を供給するパ
ーツフィーダ、5はチップ部品の電気特性を検査する電
気検査部、6は同外観の検査をする外観検査部、7は検
査による不良品を排出する取り出し部、8は上記供給リ
ール1から供給されるキャリアテープ2を取り出し部7
まで搬送する第1の搬送部、9は良品のチップ部品を同
じキャリアテープ2に移し替える移し替え部、9aはこ
の移し替え部9に設けられたキャリアテープ2を周回さ
せるためにひねりを加えながらたるませるためのバッフ
ァー部、10は移し替えを終えたキャリアテープ2を搬
送する第2の搬送部、11はキャリアテープ2に収納さ
れたチップ部品の封口を行うためにボトムシールテープ
を供給する供給リール、12は同トップシールテープを
供給する供給リール、13aと13bはキャリアテープ
2にボトムシールテープとトップシールテープを用いて
それぞれテーピングするテーピング部、14はチップ部
品である。
FIG. 1 is a perspective view showing the entire structure of a chip component inspection and taping apparatus according to the present invention, and FIG. 2 is a simplified front view of the main part of the apparatus. 1 and 2, reference numeral 1 denotes a supply reel for supplying a carrier tape 2, reference numeral 2 denotes a carrier tape wound around the supply reel 1, reference numeral 3 denotes an insertion portion for storing chip components in a storage portion of the carrier tape 2, and reference numeral 4 denotes A parts feeder for supplying chip parts to the insertion part 3, an electric inspection part for inspecting electric characteristics of the chip parts, an appearance inspection part for inspecting the same appearance, a take-out part for discharging defective products by the inspection, 8 is a take-out unit for taking out the carrier tape 2 supplied from the supply reel 1
A transfer section 9 for transferring non-defective chip components to the same carrier tape 2; and 9a, while applying a twist to make the carrier tape 2 provided in the transfer section 9 circulate. A buffer section for slackening, a second transport section for transporting the carrier tape 2 after transfer, and a supply section 11 for supplying a bottom seal tape for sealing the chip components stored in the carrier tape 2. Reel, 12 is a supply reel for supplying the top seal tape, 13a and 13b are taping sections for taping the carrier tape 2 using a bottom seal tape and a top seal tape, and 14 is a chip component.

【0011】以上のように構成された本発明のチップ部
品の検査ならびにテーピング装置について以下にその動
作を説明する。
The operation of the chip component inspection and taping apparatus of the present invention configured as described above will be described below.

【0012】図2において、まず供給リール1より供給
されるキャリアテープ2の収納部に挿入部3によりチッ
プ部品14を挿入し、次にこのチップ部品14を電気検
査部5で電気特性の検査と、外観検査部6で外観形状の
検査を行う。次に、この電気特性と外観形状の検査を終
えて不良と判断したチップ部品14を取り出し部7で取
り出す。これにより、次工程である移し替え部9へは良
品のチップ部品14のみが歯抜け状態で供給されること
になる。
In FIG. 2, first, a chip component 14 is inserted into the accommodating portion of the carrier tape 2 supplied from the supply reel 1 by the insertion section 3, and then the chip component 14 is inspected by the electrical inspection section 5 for electrical characteristics. The appearance inspection unit 6 inspects the appearance shape. Next, after the inspection of the electrical characteristics and the external shape has been completed, the chip component 14 determined to be defective is taken out by the take-out unit 7. As a result, only the non-defective chip components 14 are supplied to the transfer unit 9 which is the next step in a state where the chip parts are missing.

【0013】次に移し替え部9では上記不良品を取り出
して排出し、良品のチップ部品14が歯抜け状態で収納
されて送られてくるキャリアテープ2を、チップ部品1
4が歯抜けなく整列状態で収納された状態にするため、
あらかじめチップ部品14を収納していない空状態のキ
ャリアテープ2を一定量送ってバッファー部9aでたる
ませて周回させて第1の搬送部8により搬送されたキャ
リアテープ2の下側に導いた後に第2の搬送部10でこ
の周回後のキャリアテープ2を搬送するようにしてい
る。
Next, the transfer unit 9 takes out and discharges the defective product, and transfers the carrier tape 2, which is stored and sent in a non-defective chip component 14, to the chip component 1.
In order for 4 to be housed in an aligned state without tooth loss,
After a predetermined amount of the empty carrier tape 2 containing no chip parts 14 is fed in advance, slacked and circulated around the buffer unit 9a, and guided to the lower side of the carrier tape 2 transported by the first transport unit 8. The carrier tape 2 after this rotation is transported by the second transport unit 10.

【0014】従って、第1の搬送部8により搬送された
キャリアテープ2の下に周回後のキャリアテープ2が重
なった状態は図3(a),(b)に示す状態となり、上
側のキャリアテープ2で良品のチップ部品14が送られ
てきたときは周回後の下側のキャリアテープ2にチップ
部品14を落とし込んで移し替え、また同上側のキャリ
アテープ2が歯抜けの状態で送られてきたときは第2の
搬送部10の動作を停止させ、上側のキャリアテープ2
に良品のチップ部品14が送られてくるまで待ってから
上記のように移し替えを行い、下側のキャリアテープ2
が歯抜けにならないようにしている。
Accordingly, the state in which the carrier tape 2 after being circulated overlaps the carrier tape 2 conveyed by the first conveyance section 8 is as shown in FIGS. 3A and 3B, and the upper carrier tape 2 2, when the non-defective chip component 14 is sent, the chip component 14 is dropped and transferred to the lower carrier tape 2 after circling, and the upper carrier tape 2 is sent with a toothless state. At this time, the operation of the second transport unit 10 is stopped, and the upper carrier tape 2
Wait until a good chip component 14 is sent to the lower carrier tape 2
Is trying not to lose teeth.

【0015】このようにして良品のチップ部品14を歯
抜けなく移し替えた下側のキャリアテープ2は、第2の
搬送部10に設けられたボトムシールテープのテーピン
グ部13aとトップシールテープのテーピング部13b
により図5(a)に示すようにキャリアテープ2の上下
両方向から各々テープを貼付けてテーピングを行って後
に巻取りリール(図示せず)に巻取られるものである。
The lower carrier tape 2 to which the non-defective chip component 14 has been transferred without missing the teeth is provided with a bottom seal tape taping section 13a provided in the second transport section 10 and a top seal tape taping section. Part 13b
As shown in FIG. 5 (a), the carrier tape 2 is taped from both upper and lower directions to perform taping, and then wound around a take-up reel (not shown).

【0016】なお、上記第1の搬送部8から移し替え部
9を経て第2の搬送部10を搬送されるキャリアテープ
2はボトムシールテープが貼付けられていない状態であ
るが、上記搬送経路にはキャリアテープ2を案内するガ
イド(図示せず)が設けられているため、このキャリア
テープ2に収納されるチップ部品14は落下することな
く収納された状態で搬送される。また、このキャリアテ
ープ2にチップ部品14を収納したり、移し替えたりす
る必要がある場所には、必要に応じて開閉するシャッタ
ー(図示せず)が設けられている。
The carrier tape 2 transported from the first transport section 8 to the second transport section 10 via the transfer section 9 is in a state in which the bottom seal tape is not attached, Since a guide (not shown) for guiding the carrier tape 2 is provided, the chip components 14 stored in the carrier tape 2 are conveyed in a stored state without falling. Further, a shutter (not shown) that opens and closes as necessary is provided in a place where the chip parts 14 need to be stored or transferred in the carrier tape 2.

【0017】また、この時、上記バッファー部9aはチ
ップ部品14が収納されていない状態であり、不良の数
だけバッファー量が増えて行くためにその長さを考慮し
たスペースを確保し、生産ロットの区切りで、テーピン
グ完成品巻取りリール(図示せず)の端末処理の間に巻
戻しまたは先送りを行い調整するものである。
At this time, the buffer section 9a is in a state in which the chip component 14 is not stored. In order to increase the buffer amount by the number of defects, a space considering the length of the buffer part 9a is secured. The rewinding or advancement is performed during the terminal processing of the completed taping take-up reel (not shown).

【0018】また、上記実施例ではチップ部品14を搬
送、収納するキャリアテープ2は紙テープタイプのもの
を用いて説明したが、本発明はキャリアテープ2がエン
ボスタイプのものであっても適用できるものであり、以
下にエンボスタイプのキャリアテープ2aを用いた場合
について説明する。
In the above embodiment, the carrier tape 2 for transporting and storing the chip parts 14 is described as a paper tape type. However, the present invention can be applied even if the carrier tape 2 is an emboss type. Hereinafter, the case where the embossed type carrier tape 2a is used will be described.

【0019】図4は本発明の同装置の移し替え部9にお
けるエンボスタイプのキャリアテープ2aの状態を示す
ものであり、同図において矢印Aは第1の搬送部8によ
る搬送方向を示し、このようにして搬送されたキャリア
テープ2aは同矢印Bで示すようにバッファー部9a
(図示せず)へと送られて周回した後、周回前のキャリ
アテープ2aと並行する位置に導かれ、続いて同矢印C
で示すように第2の搬送部10で巻取りリール(図示せ
ず)へと送られる。
FIG. 4 shows the state of the embossed type carrier tape 2a in the transfer section 9 of the apparatus of the present invention. In FIG. 4, the arrow A indicates the direction of conveyance by the first conveyance section 8, and The carrier tape 2a conveyed as described above is transferred to the buffer section 9a as indicated by the arrow B in FIG.
(Not shown), and is guided to a position parallel to the carrier tape 2a before the rotation.
Is sent to a take-up reel (not shown) in the second transport section 10 as shown by.

【0020】ここで上記移し替え部9では、第1の搬送
部8で送られてきたキャリアテープ2aに収納されたチ
ップ部品14を一旦取り上げ、周回後のキャリアテープ
2aに移し替えるという作業を行うものであり、このよ
うに移し替え部9で移し替えを終えて良品のチップ部品
14が歯抜けの無い状態となったキャリアテープ2a
は、第2の搬送部10に設けられたトップシールテープ
のテーピング部13bにより図5(b)に示すようにキ
ャリアテープ2aの上方向からテープを貼付けてテーピ
ングを行って後に巻取りリール(図示せず)に巻取られ
るものである。
Here, the transfer section 9 performs an operation of once picking up the chip components 14 stored in the carrier tape 2a sent by the first transport section 8, and transferring the chip parts 14 to the carrier tape 2a after the circulation. The carrier tape 2a in which the transfer is completed by the transfer unit 9 and the non-defective chip component 14 is in a state without missing teeth.
As shown in FIG. 5B, a tape is applied from above to the carrier tape 2a by a taping section 13b of a top seal tape provided in the second transport section 10 to perform taping. (Not shown).

【0021】また、上記エンボスタイプのキャリアテー
プ2aを用いた場合でもバッファー部9aの動作は上述
の紙テープタイプのキャリアテープ2を用いた場合と同
様である。
The operation of the buffer section 9a when the embossed carrier tape 2a is used is the same as that when the paper tape type carrier tape 2 is used.

【0022】[0022]

【発明の効果】以上のように本発明によるチップ部品の
テーピング装置およびその方法はチップ部品をテーピン
グする材料であるキャリアテープにバッファー部を設け
たので、このキャリアテープをチップ部品の搬送に用
い、かつこのキャリアテープ内で検査を行うことが可能
となり、従来のようにチャックやディスクでチップ部品
を保持し直すことが無くなるばかりでなく、簡単な機構
で安価なチップ部品の整列を行うテーピング装置を実現
し、かつ安定したチップ部品の検査と搬送が可能とな
る。
As described above, the chip component according to the present invention is
In a taping apparatus and method , a buffer portion is provided on a carrier tape which is a material for taping a chip component.
Therefore, it is possible to use this carrier tape for transporting chip components and perform inspections within this carrier tape, which not only eliminates the need to re-hold chip components with chucks and disks as in the past, but also makes it easier. A taping device for arranging inexpensive chip components with a simple mechanism can be realized, and stable inspection and transport of chip components can be achieved.

【0023】また、キャリアテープに紙テープタイプの
ものを使用した場合、チップ部品の移し替え作業は積層
したキャリアテープの厚み方向動作で可能となるために
移動ストロークが少なくてすみ、生産効率の向上が可能
となる。
When a paper tape type carrier tape is used as the carrier tape, the chip components can be transferred by operating the laminated carrier tape in the thickness direction, so that the moving stroke can be reduced and the production efficiency can be improved. It becomes possible.

【0024】また、キャリアテープにエンボスタイプの
ものを使用した場合でも同様の効果を得ることができ
る。
The same effect can be obtained even when an emboss type carrier tape is used.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例によるチップ部品のテーピン
グ装置の全体構成を示す斜視図
FIG. 1 is a view illustrating a tape component of a chip component according to an embodiment of the present invention ;
Perspective view showing an overall configuration of a grayed device

【図2】同実施例による同装置の要部正面図FIG. 2 is a front view of a main part of the apparatus according to the embodiment.

【図3】(a)紙テープタイプのキャリアテープの移し
替え動作を示す要部斜視図 (b)同正面断面図
FIG. 3A is a perspective view of a main part showing a transfer operation of a paper tape type carrier tape, and FIG.

【図4】エンボスタイプのキャリアテープの移し替え動
作を示す要部斜視図
FIG. 4 is an essential part perspective view showing the transfer operation of an embossed type carrier tape.

【図5】(a)紙テープタイプのキャリアテープのテー
ピング動作を示す要部斜視図 (b)エンボスタイプのキャリアテープのテーピング動
作を示す要部斜視図
5A is a perspective view of a main part showing a taping operation of a paper tape type carrier tape. FIG. 5B is a perspective view of a main part showing a taping operation of an emboss type carrier tape.

【図6】従来のチップ部品のテーピング装置の構成を示
す斜視図
FIG. 6 is a perspective view showing a configuration of a conventional chip component taping apparatus .

【符号の説明】 1 供給リール 2 キャリアテープ 3 挿入部 4 パーツフィーダ 5 電気検査部 6 外観検査部 7 取り出し部 8 第1の搬送部 9 移し替え部 9a バッファー部 10 第2の搬送部 11,12 供給リール 13a,13b テーピング部 14 チップ部品[Description of Signs] 1 supply reel 2 carrier tape 3 insertion unit 4 parts feeder 5 electrical inspection unit 6 appearance inspection unit 7 take-out unit 8 first transport unit 9 transfer unit 9a buffer unit 10 second transport unit 11, 12 Supply reel 13a, 13b Taping unit 14 Chip component

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−16909(JP,A) 特開 平6−278711(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B65B 15/04 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) References JP-A-5-16909 (JP, A) JP-A-6-278711 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) B65B 15/04

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】チップ部品を個々に収納するキャリアテー
プを供給する供給部と、この供給部から供給されるキャ
リアテープの収納部にチップ部品を収納する挿入部と、
このキャリアテープに収納されたチップ部品を検査する
検査部と、この検査部で不良と判断したチップ部品を排
出する取り出し部と、上記供給部から供給されるキャリ
アテープを取り出し部導く第1の搬送部と、あらかじ
めこのキャリアテープの始端部側を空状態でたるませ、
かつ、たるませる部分の直前の周回前の位置とほぼ同位
置に戻るように周回させるバッファー部と、ほぼ同位置
に戻した周回後の上記キャリアテープに、上記第1の搬
送部で搬送されたキャリアテープの検査済のチップ部品
移し替える移し替え部と、この移し替えを終えた上記
キャリアテープを搬送する第2の搬送部と、上記キャリ
アテープに収納されたチップ部品の封口を行うために上
記第2の搬送部の途中に設けられたテーピング部と、テ
ーピングを終えた上記キャリアテープを巻取る巻取り部
からなるチップ部品のテーピング装置。
1. A supply unit for supplying a carrier tape for individually storing chip components, an insertion unit for storing chip components in a storage unit for the carrier tape supplied from the supply unit,
An inspection unit for inspecting the chip components housed in the carrier tape, a removal unit for discharging the chip components determined to be defective by the inspection unit, and a first unit for guiding the carrier tape supplied from the supply unit to the removal unit and a transport unit, beforehand
Lag the start end side of the carrier tape empty.
And almost the same position as before the lap, just before the sagging part
Almost the same position as the buffer section that rotates back to the position
The first transport is carried on the carrier tape after the return to the
Inspection of the chip parts of the carrier tape transported by the sending unit
And a sorting unit for transferring, in order to perform a second conveying unit that conveys the <br/> carrier tape having been subjected to the sorting, the sealing of the chip components stored in the carry <br/> Atepu the a taping unit provided in the middle of the second transport unit, the chip component taping apparatus comprising a winding unit for winding the carrier tape after the taping.
【請求項2】複数のチップ部品が歯抜け状態で収納され2. A plurality of chip parts are stored in a toothless state.
たキャリアテープを搬送する工程と、上記チップ部品をTransporting the carrier tape, and removing the chip components
収納していない空状態を有する上記キャリアテープの始Beginning of the above carrier tape with empty status not stored
端部側をたるませ、そのたるませる部分の直前の位置にSag the end and place it just before the slack
上記キャリアテープの始端部側を周回させ、複数の上記Around the starting end side of the carrier tape, a plurality of the
チップ部品が歯抜け状態で収納された上記キャリアテーThe above carrier table in which chip components are stored in a toothless state
プと並行させるバッファー部を有し、複数の上記チップA buffer section that is parallel to the
部品が歯抜け状態で収納された上記キャリアテープの上On the above carrier tape where parts are stored in a toothless state
記チップ部品を、空状態を有する上記キャリアテープにThe above-mentioned chip component is applied to the above-mentioned carrier tape having an empty state.
順次連続すべく整列するよう移し替えてテーピングするTransfer and tap so that they are aligned sequentially
工程とを有するチップ部品のテーピング方法。And a taping method for a chip component.
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