JP3231190B2 - Waveguide type optical device - Google Patents

Waveguide type optical device

Info

Publication number
JP3231190B2
JP3231190B2 JP18738794A JP18738794A JP3231190B2 JP 3231190 B2 JP3231190 B2 JP 3231190B2 JP 18738794 A JP18738794 A JP 18738794A JP 18738794 A JP18738794 A JP 18738794A JP 3231190 B2 JP3231190 B2 JP 3231190B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
waveguide
electrode
conductive film
electrodes
type optical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP18738794A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0854589A (en
Inventor
裕俊 永田
潤一郎 市川
秀紀 本田
孝 神力
敏弘 坂本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Osaka Cement Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Osaka Cement Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Osaka Cement Co Ltd filed Critical Sumitomo Osaka Cement Co Ltd
Priority to JP18738794A priority Critical patent/JP3231190B2/en
Priority to CA002133300A priority patent/CA2133300C/en
Priority to US08/315,981 priority patent/US5526448A/en
Priority to EP94307165A priority patent/EP0652457B1/en
Publication of JPH0854589A publication Critical patent/JPH0854589A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3231190B2 publication Critical patent/JP3231190B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、導波路型光素子に関す
る。更に詳しく述べるならば、本発明は、ニオブ酸リチ
ウムを基材として用いた光導波路を有し、高温および/
又は高湿雰囲気においても、電極間の異常短絡現像を抑
制し得る導波路型光素子に関するものである。本発明の
導波路型光素子は光通信システムのキーデバイスの一つ
として有用なものであり、特に光変調器素子として有用
なものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a waveguide type optical device. More specifically, the present invention has an optical waveguide using lithium niobate as a base material,
Also, the present invention relates to a waveguide type optical element capable of suppressing abnormal short circuit development between electrodes even in a high humidity atmosphere. The waveguide type optical device of the present invention is useful as one of the key devices of an optical communication system, and is particularly useful as an optical modulator device.

【0002】[0002]

【従来の技術】電気光学効果を有する光素子、例えばニ
オブ酸リチウムを基材として用いる導波路型光素子は、
例えば高速光通信システム用外部変調器の素子として有
用なものであるが、その実用化にあたっては、ニオブ酸
リチウム結晶が焦電効果を有するため、それに起因する
温度ドリフトの発生が解決すべき問題になっている。
2. Description of the Related Art An optical element having an electro-optical effect, for example, a waveguide type optical element using lithium niobate as a base material,
For example, it is useful as an element of an external modulator for a high-speed optical communication system.However, in practical use, since lithium niobate crystal has a pyroelectric effect, the occurrence of temperature drift due to it has to be solved. Has become.

【0003】温度ドリフトは、基板の焦電効果により基
板表面に誘起された電荷が、局所電界を発生させ、この
ため、この電荷が基板表面部に形成されている光導波路
を横切って電極に到達し、それにより光導波路の屈折率
が変動するという現象によるものである(P.Skeath, C.
H.Bulmer, S.C.Hiser, and W.K.Burus, Appl.Phys.Let
t., Vol.49(1986), 1221,およびC.H.Bulmer and W.K.Bu
rns, Appl.Phys.Lett.,Vol.48(1986), 1036)。
[0003] The temperature drift is caused by the electric charge induced on the substrate surface by the pyroelectric effect of the substrate, which generates a local electric field. Therefore, this electric charge crosses the optical waveguide formed on the substrate surface and reaches the electrode. This causes the refractive index of the optical waveguide to fluctuate (P. Skeath, C.
H.Bulmer, SCHiser, and WKBurus, Appl.Phys.Let
t., Vol. 49 (1986), 1221, and CHBulmer and WKBu
rns, Appl. Phys. Lett., Vol. 48 (1986), 1036).

【0004】この温度ドリフトを抑制する手段として、
特公平4−22485号および特公平5−78016号
には電極間に露出している基板、又は誘導体層の表面を
覆いつくすように導電性膜体を形成することが開示され
ている。
As means for suppressing this temperature drift,
Japanese Patent Publication Nos. 4-22485 and 5-78016 disclose that a conductive film is formed so as to cover the surface of a substrate or a dielectric layer exposed between electrodes.

【0005】図1(a)において、ニオブ酸リチウム単
結晶からなる基板1の表面部分に光導波路2a,2bが
形成されており、この基板1および光導波路2a,2b
上に誘電体層3が形成されている。この誘電体層3は、
多くの場合酸化シリコンにより形成される。この誘電体
層3の上に、例えばシリコンからなる導電性膜層4が形
成されている。光導波路2aの上には、誘電体層3およ
び導電性膜層4を介して、信号電極5aが配置され、他
の光導波路2bの上には、誘電体層3および導電性膜層
4を介してグランド電極5bが配置され、信号電極5a
をはさんで、グランド電極5bの反対側には、信号電極
5aから離間した他のグランド電極5cが、導電性膜層
4上に配置されている。電極は多くの場合、金により形
成される。
In FIG. 1A, optical waveguides 2a and 2b are formed on the surface of a substrate 1 made of lithium niobate single crystal, and the substrate 1 and the optical waveguides 2a and 2b are formed.
A dielectric layer 3 is formed thereon. This dielectric layer 3
In many cases, it is formed by silicon oxide. On the dielectric layer 3, a conductive film layer 4 made of, for example, silicon is formed. The signal electrode 5a is arranged on the optical waveguide 2a via the dielectric layer 3 and the conductive film layer 4, and the dielectric layer 3 and the conductive film layer 4 are formed on the other optical waveguide 2b. A ground electrode 5b is arranged via the signal electrode 5a.
On the other side of the ground electrode 5b, another ground electrode 5c separated from the signal electrode 5a is disposed on the conductive film layer 4. The electrodes are often formed of gold.

【0006】電極5a,5b,5cと、導電性膜層4と
の間に電極の付着力を増強するためにチタンなどからな
る薄い中間層を介在させてもよい。一般にシリコン(非
品質)からなる導電性膜層は、スパッタリング法、CV
D法などの従来方法により、容易に形成することがで
き、またその下地をなす誘電体(酸化シリコン)層との
付着力も良好であり、かつ化学的にも安定である。
A thin intermediate layer made of titanium or the like may be interposed between the electrodes 5a, 5b, 5c and the conductive film layer 4 in order to enhance the adhesion of the electrodes. In general, a conductive film layer made of silicon (non-quality) is formed by sputtering, CV
It can be easily formed by a conventional method such as Method D, has good adhesion to the underlying dielectric (silicon oxide) layer, and is chemically stable.

【0007】図1(b)に示された従来の導波路型光素
子は、図1(c)に示されたものと、ほゞ同様の構成を
有しているが、電極5a,5b,5cが直接誘電体層3
上に配置され、これらの電極の間の誘電体層表面が導電
性膜層4a,4bにより被覆されている。
The conventional waveguide type optical element shown in FIG. 1 (b) has almost the same configuration as that shown in FIG. 1 (c), except that the electrodes 5a, 5b, 5c is the direct dielectric layer 3
The surface of the dielectric layer between these electrodes is covered with conductive film layers 4a and 4b.

【0008】図1aおよび図1bに示された従来の導波
路型光素子において導電性膜層4,4a,4bは、焦電
効果により生成して電荷を均一に分散させ、局所電界の
発生を抑制し、従って温度ドリフトを抑制する効果を有
する。
In the conventional waveguide type optical device shown in FIGS. 1A and 1B, the conductive film layers 4, 4a and 4b are generated by the pyroelectric effect to uniformly disperse the electric charge and generate a local electric field. This has the effect of suppressing temperature drift, and hence temperature drift.

【0009】図1(a)および図1(b)の光素子の平
面図を図2に示す。電極5a,5b,5cは信号出力手
段(図示されていない)に連結され、光導波路2a,2
bは、その入射端および出射端において、それぞれ光入
射手段および出射手段(図示されていない)に連結され
る。
FIG. 2 is a plan view of the optical device shown in FIGS. 1 (a) and 1 (b). The electrodes 5a, 5b, 5c are connected to signal output means (not shown), and the optical waveguides 2a, 2
b is connected at its input end and output end to light input means and output means (not shown), respectively.

【0010】導波路型光素子の温度ドリフト性は、図1
および2に示された従来手段により著るしく改善され、
実用に供し得るものとなっている。しかしながら、当該
光素子の使用環境により、例えば高温、および/又は高
湿環境においては、導電性膜層と、電極とが反応して反
応生成物質を生成し、この生成物質により隣接する電極
が互に短絡するという事故が発生する。例えば、KΩ〜
MΩのオーダーの抵抗値が、数百Ωのオーダー以下にな
ってしまう。
FIG. 1 shows the temperature drift property of a waveguide type optical device.
Markedly improved by the conventional means shown in
It can be put to practical use. However, depending on the environment in which the optical element is used, for example, in a high-temperature and / or high-humidity environment, the conductive film layer and the electrode react with each other to generate a reaction product, and the generated material causes adjacent electrodes to exchange. An accident of short circuit occurs. For example, KΩ ~
The resistance value on the order of MΩ falls below the order of several hundred Ω.

【0011】いま、導電性膜層がシリコンからなり、電
極が金からなる導波路型光素子を例にとって上記現象を
説明する。すなわち、このような導電性膜層および電極
形成材料の組み合わせを有する光変調器素子を、これに
直流バイアス電圧を印加した状態で高湿度雰囲気中で動
作させると、金とシリコンが水を介して電気化学的に反
応し、電極間に反応生成物が析出する。
Now, the above phenomenon will be described by taking a waveguide type optical element in which the conductive film layer is made of silicon and the electrode is made of gold as an example. That is, when an optical modulator element having such a combination of the conductive film layer and the electrode forming material is operated in a high humidity atmosphere with a DC bias voltage applied thereto, gold and silicon are interposed through water. It reacts electrochemically and a reaction product precipitates between the electrodes.

【0012】図3には、図1(a)および2に示したも
のと同様の構成を有する光変調器素子を封入したケース
(リークの全くないもの…正常サンプル、わずかなリー
クのあるもの…異常サンプル)を、温度:80℃、湿
度:95%RHの条件下に、直流バイアス電圧5Vを連続
印加しながら保持した場合の、時間と、信号電極グラン
ド電極間電気抵抗値との関係が示されている。このシリ
コン導電性膜は約100nmの厚さを有し、電極長は40
mmであった。電気抵抗値は、保持時間0、100時間、
200時間後、25℃、40%RH以下の雰囲気内におい
て測定された。
FIG. 3 shows a case in which an optical modulator element having the same structure as that shown in FIGS. 1A and 2 is enclosed (a case without any leakage ... a normal sample, a case with a slight leakage ... The relationship between the time and the electric resistance between the signal electrode and the ground electrode when the abnormal sample was held while continuously applying a DC bias voltage of 5 V under the conditions of temperature: 80 ° C. and humidity: 95% RH. Have been. This silicon conductive film has a thickness of about 100 nm and an electrode length of 40 nm.
mm. The electric resistance value is a holding time of 0, 100 hours,
After 200 hours, the measurement was performed in an atmosphere at 25 ° C. and 40% RH or less.

【0013】図3から、光素子が高温、高湿度にさらさ
れると、電極間抵抗が著るしく低下することが理解でき
る。また、図4には、図3と同一条件下において高温、
高湿度にさらされた光素子の光帯域が、その保持時間と
ともに低下することが示されている。すなわち、ケース
に封止された光素子であっても、ケースの気密封止が不
完全な場合、或は、何かの事故によりリークが発生した
場合、図3,4に示されているように光素子の特性劣化
が急速に進行する。これは光素子の信頼性を著るしく低
下させることになる。
From FIG. 3, it can be understood that when the optical element is exposed to high temperature and high humidity, the resistance between the electrodes is significantly reduced. FIG. 4 shows a high temperature under the same conditions as FIG.
It has been shown that the optical band of an optical element exposed to high humidity decreases with its holding time. That is, even if the optical element is sealed in the case, if the hermetic sealing of the case is incomplete, or if a leak occurs due to some accident, as shown in FIGS. The deterioration of the characteristics of the optical element progresses rapidly. This significantly reduces the reliability of the optical device.

【0014】電極間抵抗が、低下した前記異常サンプル
を分析してみると離間距離数十μmの電極間のシリコン
層表面に、異物が樹枝状に生長していることが認められ
る。しかし正常サンプルにおいては、このような生成物
の生長は全く認められなかった。
Analyzing the abnormal sample in which the interelectrode resistance has been reduced, it is recognized that foreign matter has grown in a dendritic manner on the surface of the silicon layer between the electrodes having a separation distance of several tens of μm. However, no growth of such a product was observed in normal samples.

【0015】図5には、前記異常サンプルにおける電極
間析出物の表面、および金電極表面のオージエ電子分光
分析の結果が、対比して示されている。図5において、
金電極表面では、金(Au)および表面汚染物質として
のカーボン(C)のみが検出されたが、電極間析出物表
面では、金(Au)およびカーボン(C)以外に酸素
(O)およびシリコン(Si)が検出された。この析出
物は非晶質であり、物質の同定は困難であったが、電気
化学反応により生成したAuSiおよび/又はその酸化
物および水和物を含むものと推定される。
FIG. 5 shows the results of an Auger electron spectroscopic analysis of the surface of the interelectrode precipitate in the abnormal sample and the surface of the gold electrode. In FIG.
On the surface of the gold electrode, only gold (Au) and carbon (C) as a surface contaminant were detected. On the surface of the interelectrode precipitate, oxygen (O) and silicon other than gold (Au) and carbon (C) were detected. (Si) was detected. Although this precipitate was amorphous and its substance was difficult to identify, it is presumed to contain AuSi generated by the electrochemical reaction and / or its oxide and hydrate.

【0016】光素子は長期間(例えば20年間以上)に
わたって実用されるので、このような長期間の動作中
に、前記のような反応生成析出物が電極間に生成し、光
素子の特性を低下させることを完全に防止する必要があ
る。
Since the optical element is used for a long period of time (for example, 20 years or more), during such a long-term operation, the above-mentioned reaction product precipitates are formed between the electrodes, and the characteristics of the optical element are reduced. It is necessary to completely prevent lowering.

【0017】[0017]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、導波路型光
素子を、高温・高湿度に曝露されることがあっても、電
極間に析出物が生成することがなく、従って特性低下の
ない、又は少ない導波路型光素子を提供しようとするも
のである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a waveguide type optical device which is free from deposits between electrodes even when it is exposed to high temperature and high humidity. It is an object of the present invention to provide a waveguide type optical element having no or few waveguides.

【0018】[0018]

【課題を解決するための手段】本発明に係る導波路型光
素子は、電気光学効果を有する基板と、この基板の表面
部に形成された光導波路と、この基板および導波路面上
に形成された誘電体層と、前記誘電体の上に設けられた
複数個の電極と、前記誘電体層上に形成され、かつ前記
電極の間に配置されている導電性膜層とを有し、すべて
の前記電極と、それに隣り合うすべての前記導電性膜層
との間に、それらを電気的に離間する分断部が形成され
ていることを特徴とするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION A waveguide type optical device according to the present invention comprises a substrate having an electro-optical effect, an optical waveguide formed on a surface of the substrate, and a substrate formed on the substrate and the waveguide surface. Dielectric layer, a plurality of electrodes provided on the dielectric, and a conductive film layer formed on the dielectric layer, and disposed between the electrodes, A dividing portion is formed between all the electrodes and all the conductive film layers adjacent to the electrodes, so as to electrically separate them.

【0019】本発明の導波路型光素子において前記電極
と、前記誘電体層との間にも導電性膜層が形成されてい
てもよい。
In the waveguide type optical device of the present invention, a conductive film layer may be formed between the electrode and the dielectric layer.

【0020】本発明の導波路型光素子において、前記電
極が、直接前記誘電体層上に、形成されていてもよい。
In the waveguide type optical device according to the present invention, the electrode may be formed directly on the dielectric layer.

【0021】本発明の導波路型光素子において、前記基
板が、ニオブ酸リチウムからなることが好ましい。
In the waveguide type optical device according to the present invention, it is preferable that the substrate is made of lithium niobate.

【0022】本発明の導波路型光素子において、前記電
極が金により形成され、かつ前記導電性膜層がシリコン
により形成されていることが好ましい。
In the waveguide type optical device according to the present invention, it is preferable that the electrode is formed of gold and the conductive film layer is formed of silicon.

【0023】[0023]

【0024】[0024]

【0025】本発明の導波路型光素子において、前記分
断部が、少なくとも1対の互に隣接する電極の間に配置
された前記導電性膜層中に形成されていてもよい。ま
た、前記分断部の少なくとも1部が、前記導波路の方向
に沿って伸びていてもよい。
In the waveguide type optical device according to the present invention, the dividing portion may be formed in the conductive film layer disposed between at least one pair of mutually adjacent electrodes. Further, at least a part of the dividing portion may extend along a direction of the waveguide.

【0026】[0026]

【作用】本発明の導波路型光素子において基板は、一般
にニオブ酸リチウムの単結晶により形成され、光導波路
は、一般にこの基板表面の所定部分に、例えばチタン、
水素などを拡散させることによって形成される。また一
般に、電極は、一般に金により形成され、誘電体層は酸
化シリコンにより形成され、導電性膜層はシリコンによ
り形成される。
In the waveguide type optical device of the present invention, the substrate is generally formed of a single crystal of lithium niobate, and the optical waveguide is generally formed on a predetermined portion of the substrate surface by, for example, titanium,
It is formed by diffusing hydrogen or the like. In general, the electrode is generally formed of gold, the dielectric layer is formed of silicon oxide, and the conductive film layer is formed of silicon.

【0027】図6(a)に示された本発明の導波路型光
素子において、基板1および導波路2a,2bの表面上
に誘電体層3が形成され、この誘電体層3に直接に、
(又は導電性膜層を介して)電極5a,5b,5cが形
成され、この電極の間の誘電体層部分上に導電性膜層4
a,4bが形成されている。導波路2aの上に信号電極
(ホット電極)5aが配置され、他の導波路2bの上
に、グランド電極5bが配置され、信号電極5aをはさ
んで、前記グランド電極5bの反対側にもグランド電極
5cが配置されている。これらの電極は、信号出力手段
(図示されていない)に連結され、導波路に信号電圧を
印加して、この導波路を伝播する光を変調することがで
きる。
In the waveguide type optical device of the present invention shown in FIG. 6A, a dielectric layer 3 is formed on the surfaces of the substrate 1 and the waveguides 2a and 2b. ,
Electrodes 5a, 5b, 5c are formed (or via a conductive film layer), and a conductive film layer 4 is formed on a portion of the dielectric layer between the electrodes.
a, 4b are formed. A signal electrode (hot electrode) 5a is arranged on the waveguide 2a, and a ground electrode 5b is arranged on the other waveguide 2b. The signal electrode (hot electrode) 5a is arranged on the opposite side of the ground electrode 5b across the signal electrode 5a. The ground electrode 5c is provided. These electrodes are connected to signal output means (not shown) and can apply a signal voltage to the waveguide to modulate light propagating through the waveguide.

【0028】[0028]

【0029】[0029]

【0030】[0030]

【0031】[0031]

【0032】[0032]

【0033】図6(a),(b)に示されている光素子
において、電極5bおよび電極5aの間に配置された導
電性膜層4aは、両電極5bおよび5aのいずれからも
離間して電気的に分断されており、また、導波路の方向
Aに沿って伸び、例えば、図示のように四辺形状に形成
されている。その結果、導電性膜層4aと、電極5bと
の間に分断部6aが形成され、また電極5aとの間に分
断部6dが形成されている。また、電極5aおよび電極
5cの間に配置された導電性膜層4bは、前記両電極5
a,5cのいずれからも、分断部6b、および6cを介
して離間しており、また導波路の方向Aに沿って伸び、
例えば図示のように四辺形状に形成されている。すなわ
ち図11(a),(b)の光素子においては、すべての
電極は、導電性膜層と接続していない。換言すれば、す
べての導電性膜層は、電極から離間していて、互いに短
絡することはない。このため、電極および導電性膜層が
高温において湿分に接触して、電極とそれに接続してい
る導電性膜層との間に電気化学反応生成物が生成析出し
ても、当該電極と、それと隣接する電極とがこの析出物
によって互に短絡することはない。また電極と電極との
間に配置された導電性膜層が、その中間部分に形成され
た溝状分断部により2部分に分割されていてもよい。
In the optical device shown in FIGS. 6A and 6B, the conductive film layer 4a disposed between the electrode 5b and the electrode 5a is separated from both of the electrodes 5b and 5a. It is electrically separated and extends along the direction A of the waveguide, and is formed in, for example, a quadrilateral shape as shown in the figure. As a result, a dividing portion 6a is formed between the conductive film layer 4a and the electrode 5b, and a dividing portion 6d is formed between the conductive film layer 4a and the electrode 5a. Further, the conductive film layer 4b disposed between the electrode 5a and the electrode 5c is
a, 5c, are separated from each other via the dividing portions 6b and 6c, and extend along the direction A of the waveguide;
For example, it is formed in a quadrilateral shape as shown. That is, in the optical elements of FIGS. 11A and 11B, all the electrodes are not connected to the conductive film layer. In other words, all the conductive film layers are separated from the electrodes and do not short-circuit with each other. For this reason, even if the electrode and the conductive film layer come into contact with moisture at a high temperature and an electrochemical reaction product is generated and deposited between the electrode and the conductive film layer connected to the electrode, The deposit and the adjacent electrode do not short-circuit each other. Further, the conductive film layer disposed between the electrodes may be divided into two parts by a groove-shaped dividing part formed in an intermediate part thereof.

【0034】図7に示された光素子は、図6(a),
(b)の光素子と同様の構成を有しているが、誘電体層
3の露出部が少なく、温度ドリフトが抑制されるように
なっている。すなわち、このようにすると導電性膜層と
電極とを接触させることなく、素子端に達した導電性膜
層端部を接地させることにより、導電性膜層の下(誘電
体層)に発生した電荷を除去し、そのフローティングを
防止することができるから、温度ドリフトの発生を抑制
効果を高めることができる。
The optical device shown in FIG. 7 is similar to the optical device shown in FIG.
It has a configuration similar to that of the optical element of (b), except that the exposed portion of the dielectric layer 3 is small and the temperature drift is suppressed. That is, in this case, the conductive film layer was formed below the conductive film layer (dielectric layer) by grounding the conductive film layer end that reached the element end without contacting the conductive film layer and the electrode. Since the charge can be removed and the floating can be prevented, the effect of suppressing the occurrence of the temperature drift can be enhanced.

【0035】本発明の光素子において、導電性膜層を、
2分割するように形成された分断部が、導波路の方向A
に沿って、一直線状に伸びていてもよい。このようにす
ると電極の、導波路の方向Aに平行な部分の間の、電気
化学的反応生成析出物による直接短絡を防止することが
できる。また、誘電体層の露出面積が小さいので、温度
ドリフトの発生防止効果を高めることができる。
In the optical device of the present invention, the conductive film layer
The dividing portion formed so as to be divided into two is formed in the direction A of the waveguide.
, May extend in a straight line. In this way, it is possible to prevent a direct short circuit between the portions of the electrode parallel to the direction A of the waveguide due to the electrochemical reaction product precipitate. Further, since the exposed area of the dielectric layer is small, the effect of preventing the occurrence of temperature drift can be enhanced.

【0036】[0036]

【0037】本発明の光素子において、分断部の効果に
より、電極材料、特に金と、膜体材料、特にシリコンの
(電気化学)反応生成物の成長が、分断され、隣接する
電極同志が電気的につながること、つまり短絡を抑制で
きる。しかし、反応が激しく進むと、反応による電極の
腐食が顕著となり、電極特性、例えば帯域が変動する可
能性があるため、本発明の構成を有する光素子であって
も、使用環境に応じて、十分な封止性能を有するケース
に収納されていることが望ましい。
In the optical device of the present invention, the growth of the (electrochemical) reaction product of the electrode material, particularly gold, and the film material, particularly silicon, is divided by the effect of the dividing portion, and the adjacent electrodes are electrically connected. Connection, that is, a short circuit can be suppressed. However, if the reaction progresses violently, the corrosion of the electrode due to the reaction becomes remarkable, and the electrode characteristics, for example, the band may fluctuate, so that the optical device having the configuration of the present invention, depending on the use environment, It is desirable that the case is housed in a case having sufficient sealing performance.

【0038】[0038]

【発明の効果】本発明により、電気光学効果を利用した
電気光学素子の、電極特性の安定化、高信頼化を図るこ
とができる。
According to the present invention, it is possible to stabilize the electrode characteristics and increase the reliability of the electro-optical element utilizing the electro-optical effect.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1(a)は従来の導波路型光素子の一例の構
成を示す断面説明図。図1(b)は、従来の導波路型光
素子の他の例の構成を示す断面説明図。
FIG. 1A is a cross-sectional explanatory view showing a configuration of an example of a conventional waveguide type optical element. FIG. 1B is an explanatory sectional view showing the configuration of another example of the conventional waveguide type optical element.

【図2】図2は、図1(a)又は(b)の光素子の平面
図。
FIG. 2 is a plan view of the optical device of FIG. 1 (a) or (b).

【図3】図3は、従来の導波路型光素子の、高温、高湿
条件下における電圧印加時間と、電極間電気抵抗との関
係の一例を示すグラフ。
FIG. 3 is a graph showing an example of a relationship between a voltage application time and a resistance between electrodes of a conventional waveguide optical element under high temperature and high humidity conditions.

【図4】図4は、図3と同様の光素子の、同様の条件下
における電圧印加時間と光帯域との関係の一例を示すグ
ラフ。
FIG. 4 is a graph showing an example of a relationship between a voltage application time and an optical band of an optical device similar to that of FIG. 3 under similar conditions.

【図5】図5は、電極表面、および電極間に生成した析
出物表面の、元素分析結果を示すグラフ。
FIG. 5 is a graph showing the results of elemental analysis of the surface of the electrode and the surface of the precipitate formed between the electrodes.

【図6】図6(a)は、本発明の導波路型光素子の一例
の構成を示す平面説明図。図6(b)は、図6(a)の
光素子の断面説明図。
FIG. 6A is an explanatory plan view showing a configuration of an example of a waveguide type optical element of the present invention. FIG. 6B is an explanatory cross-sectional view of the optical device of FIG.

【図7】図7は、本発明の光素子の他の一例の構成を示
す平面説明図。
FIG. 7 is an explanatory plan view showing the configuration of another example of the optical element of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…基板 2a,2b…光導波路 3…誘電体層 4,4a,4b…導電性膜層 5a,5b,5c…電極 6a,6b,6c,6d…分断部 A…導波路の方向 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Substrate 2a, 2b ... Optical waveguide 3 ... Dielectric layer 4, 4a, 4b ... Conductive film layer 5a, 5b, 5c ... Electrode 6a, 6b, 6c, 6d ... Dividing part A ... Waveguide direction

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 神力 孝 千葉県船橋市豊富町585番地 住友セメ ント株式会社 光電子事業部内 (72)発明者 坂本 敏弘 千葉県船橋市豊富町585番地 住友セメ ント株式会社 中央研究所内 (56)参考文献 特開 平3−253815(JP,A) 特開 平5−264936(JP,A) 特開 昭62−73207(JP,A) 特開 平2−15245(JP,A) 特開 平4−19714(JP,A) 特開 平5−224164(JP,A) 欧州特許出願公開553568(EP,A 1) 欧州特許出願公開315350(EP,A 1) 欧州特許出願公開444959(EP,A 1) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02F 1/00 - 1/035 G02F 1/29 - 1/313 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Takashi Shinki 585 Tomicho, Funabashi-shi, Chiba Sumitomo Cement Co., Ltd. Optoelectronics Division (72) Inventor Toshihiro Sakamoto 585 Tomihiro-cho, Funabashi-shi, Chiba Sumitomo Cement Co., Ltd. (56) References JP-A-3-253815 (JP, A) JP-A-5-264936 (JP, A) JP-A-62-273207 (JP, A) JP-A-2-15245 (JP, A A) JP-A-4-19714 (JP, A) JP-A-5-224164 (JP, A) European Patent Application Publication 553568 (EP, A1) European Patent Application Publication 315350 (EP, A1) European Patent Application Publication 444959 (EP, A1) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G02F 1/00-1/035 G02F 1/29-1/313

Claims (7)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 電気光学効果を有する基板と、この基板
の表面部に形成された光導波路と、この基板および導波
路面上に形成された誘電体層と、前記誘電体の上に設け
られた複数個の電極と、前記誘電体層上に形成され、か
つ前記電極の間に配置されている導電性膜層とを有し、 すべての前記電極と、それに隣り合うすべての前記導電
性膜層との間に、それらを電気的に離間する分断部が形
成されていることを特徴とする導波路型光素子。
1. A substrate having an electro-optical effect, an optical waveguide formed on a surface of the substrate, a dielectric layer formed on the substrate and the waveguide surface, and provided on the dielectric. A plurality of electrodes, and a conductive film layer formed on the dielectric layer and disposed between the electrodes, wherein all the electrodes and all the conductive films adjacent thereto are provided. A waveguide type optical element, wherein a division part for electrically separating them from each other is formed between the layers.
【請求項2】 前記電極と、前記誘電体層との間にも導
電性膜層が形成されている、請求項1に記載の導波路型
光素子。
2. The waveguide type optical device according to claim 1, wherein a conductive film layer is also formed between said electrode and said dielectric layer.
【請求項3】 前記電極が、直接前記誘電体層上に形成
されている、請求項1に記載の導波路型光素子。
3. The waveguide type optical device according to claim 1, wherein said electrode is formed directly on said dielectric layer.
【請求項4】 前記基板が、ニオブ酸リチウムからな
る、請求項1に記載の導波路型光素子。
4. The optical waveguide device according to claim 1, wherein said substrate is made of lithium niobate.
【請求項5】 前記電極が金により形成され、かつ前記
導電性膜層が、シリコンにより形成されている、請求項
1に記載の導波路型光素子。
5. The waveguide type optical device according to claim 1, wherein said electrode is formed of gold, and said conductive film layer is formed of silicon.
【請求項6】 前記分断部が、少なくとも1対の互に隣
接する電極の間に配置された前記導電性膜層中に形成さ
れている、請求項1〜5のいずれか一項に記載の導波路
型光素子。
6. The method according to claim 1, wherein the dividing portion is formed in the conductive film layer disposed between at least one pair of mutually adjacent electrodes. Waveguide type optical element.
【請求項7】 前記分断部の少なくとも一部が、前記導
波路の方向に沿って伸びている、請求項1〜6のいずれ
か一項に記載の導波路型光素子。
7. The waveguide-type optical device according to claim 1, wherein at least a part of the dividing portion extends along a direction of the waveguide.
JP18738794A 1993-11-01 1994-08-09 Waveguide type optical device Expired - Lifetime JP3231190B2 (en)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18738794A JP3231190B2 (en) 1994-08-09 1994-08-09 Waveguide type optical device
CA002133300A CA2133300C (en) 1993-11-01 1994-09-29 Optical waveguide device
US08/315,981 US5526448A (en) 1993-11-01 1994-09-30 Optical waveguide modulator having a reduced D.C. drift
EP94307165A EP0652457B1 (en) 1993-11-01 1994-09-30 Optical waveguide device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18738794A JP3231190B2 (en) 1994-08-09 1994-08-09 Waveguide type optical device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0854589A JPH0854589A (en) 1996-02-27
JP3231190B2 true JP3231190B2 (en) 2001-11-19

Family

ID=16205134

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18738794A Expired - Lifetime JP3231190B2 (en) 1993-11-01 1994-08-09 Waveguide type optical device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3231190B2 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9748009B2 (en) 2011-08-19 2017-08-29 Holtec International Container and system for handling damaged nuclear fuel, and method of making the same
US11515054B2 (en) 2011-08-19 2022-11-29 Holtec International Method of retrofitting a spent nuclear fuel storage system

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2873203B2 (en) * 1996-06-14 1999-03-24 住友大阪セメント株式会社 Waveguide type optical device
JP2005331885A (en) 2004-05-21 2005-12-02 Fujitsu Ltd Acoustooptic device and method for manufacturing acoustooptic device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9748009B2 (en) 2011-08-19 2017-08-29 Holtec International Container and system for handling damaged nuclear fuel, and method of making the same
US10692617B2 (en) 2011-08-19 2020-06-23 Holtec International Container and system for handling damaged nuclear fuel, and method of making the same
US11515054B2 (en) 2011-08-19 2022-11-29 Holtec International Method of retrofitting a spent nuclear fuel storage system

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0854589A (en) 1996-02-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7529433B2 (en) Humidity tolerant electro-optic device
EP0652457B1 (en) Optical waveguide device
US5153930A (en) Device employing a substrate of a material that exhibits the pyroelectric effect
US8774565B2 (en) Electro-optic device
US5473711A (en) Dielectric optical waveguide device
JP5072232B2 (en) Bias point DC voltage drift and thermal shift suppression type electro-optic waveguide device and method of manufacturing the same
JP2000111937A (en) Electrooptic element and its production
EP0260416B1 (en) Planar waveguide device
KR100675088B1 (en) Liquid crystal display and method for fabricating the same
JP3231190B2 (en) Waveguide type optical device
US9291838B2 (en) Optical waveguide element
US6654512B2 (en) Buffer layer structures for stabilization of a lithium niobate device
JP2005515485A6 (en) Buffer layer structure for stabilizing lithium niobate devices
JPH07120631A (en) Optical waveguide type part
JP3153110B2 (en) Method of manufacturing waveguide type low DC drift optical modulator
JP2963989B1 (en) Light modulator
CA2377949C (en) Electro-optic element
JP3228823B2 (en) Waveguide type optical element and method of manufacturing the same
JP3021888B2 (en) Optical waveguide functional element and method of manufacturing the same
JP2812652B2 (en) Manufacturing method of waveguide type optical element
US20050047720A1 (en) Buffer layer structures for stabilization of a lithium niobate device
JPS59181318A (en) Manufacture of optical waveguide
JPH0829745A (en) Optical waveguide device
Nagata et al. Process control for a SiO2 buffer layer of LiNbO3 modulators to obtain reduced dc drift performance
KR19990052396A (en) Liquid crystal display device and manufacturing method thereof

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080914

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090914

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090914

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100914

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110914

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120914

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130914

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140914

Year of fee payment: 13

EXPY Cancellation because of completion of term