JP3230929B2 - 耐荷電粒子線用カーボンスリットプレート - Google Patents
耐荷電粒子線用カーボンスリットプレートInfo
- Publication number
- JP3230929B2 JP3230929B2 JP17899794A JP17899794A JP3230929B2 JP 3230929 B2 JP3230929 B2 JP 3230929B2 JP 17899794 A JP17899794 A JP 17899794A JP 17899794 A JP17899794 A JP 17899794A JP 3230929 B2 JP3230929 B2 JP 3230929B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- carbon
- slit plate
- charged particle
- slit
- particle beam
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Description
ンスリットプレートに関し、イオン注入でイオンの衝突
を受けてもパーティクルが実質的に発生しないようにし
たカーボンスリットプレートに関する。
源から発生したイオンが加速され、さらに偏向分析電磁
石で通常15°以上の所定角度に偏向され必要なイオン
種だけに選別され、その後ターゲットのシリコンウエハ
などに照射される。
列されたプレートのスリットを貫通することによって、
質量分析が行われ所定のイオンビームだけが選択され
る。このイオンビームはその後対物スリットによって数
十μに絞られ、さらに2連又は3連の電磁石レンズに入
って収束され更に加速されて試料チャンバー内のターゲ
ット上にスポットを結ぶように構成されている。
質量分析系で用いられるスリットは、等方性黒鉛や熱分
解黒鉛のプレートが使用されていた。しかしながら、こ
れらのスリットプレートは加速された荷電粒子が衝突す
ると、等方性黒鉛材は損傷を受け、また熱分解黒鉛は部
分的に剥離してスリットプレートの構成粒子が脱落しパ
ーティクルの生じることがあった。ここにパーティクル
が発生すると、このパーティクルがイオン注入に際して
ウエハ表面に付着し不良品を発生させる原因となってい
た。
入装置の質量分析系に用いられるスリットプレートの耐
熱衝撃性を上げて、スリットプレートにイオンが衝突し
てスリットプレートの表面(深さ1μ以下)でそのエネ
ルギーが吸収され発熱が起っても、組織の損傷がなくパ
ーティクルの発生が抑制出来てウエハが不良品とならな
いようにした、耐荷電粒子線用カーボンスリットプレー
トを得ようとしたものである。
装置の質量分析系で所定のイオンビームを選択するため
に配列されるカーボンスリットプレートで、カーボンフ
ァイバーの含有率が45重量%以上の炭素繊維強化炭素
材でかつ熱衝撃抵抗R´が200kw/m 以上であること
を特徴とする耐荷電粒子線用カーボンスリットプレート
である。以下にこの発明を図に示した実施例によってさ
らに説明する。
スリットプレートを用いたイオン注入装置の構成配置の
一例を示したものである。図2において1はイオン源
で、これよりイオンビーム2が引き出され加速管3で加
速されて分析系で所定のイオンだけに選択される。
ように扇形の均一の磁界を作り、こここで通常15°以
上、図2ではほぼ90°の角度に振られ、これによって
イオン源から引き出された各種のイオンから所定のイオ
ンだけが選別される。
とで磁界の強さを調節した中をイオンビーム2が図に示
すように90°に曲げられると所定の質量をもったイオ
ンビームだけが多数のカーボンスリットプレート6,6
…を通り抜けるが、所望のイオンの質量より小さい質量
のイオン、或いは大きい質量のイオンは、スリットプレ
ート6のスリット7を通過することが出来ず、スリット
プレート6,6の周囲のカーボンプレートに衝突して消
失することになる。
スリットプレートに衝突し消失するが、このために従来
はスリットプレートが損傷を受けるとともに、プレート
から部分的にカーボン粒子が剥離し、これがパーティク
ルとなってスリットを通り抜けてウエハ表面に付着する
ことがあった。
ンスリットプレートとして熱衝撃抵抗R´が200kw/
m 以上のものを用いるものである。図1は、本願発明の
カーボンスリットプレートの斜視図である。カーボンス
リットプレートの熱衝撃抵抗R´が200kw/m 未満で
はイオンビームの衝撃に十分に耐えることが出来ない。
R´は次の式で求めることが出来る。
は、さらに対物スリット8でさらに数十μに絞られ、そ
の先3〜5mのドリフト空間を経て電磁石レンズ9に入
って集束され、さらに可変スリット10を経て試料チャ
ンバー内のターゲットのシリコンウエハなどの試料11
に照射される。
カーボンファイバーの含有率45重量%以上である炭素
繊維強化炭素材であることが好まし。カーボン繊維の含
有量が45重量%未満であると耐熱衝撃性が劣りパーテ
ィクルの発生を十分に防ぐことが出来ない。
ート(エクセルー400、(株)アクロス社商品名)を
質量分析系のスリットプレートに用いて、下記の条件で
ひ素イオンの注入を8インチのウエハに行った。
熱分解黒鉛のカーボンスリットプレートを用いて同様に
ひ素イオンの注入を8インチのウエハに行った。条件加
速電圧300KV、イオン電流60mA、ドーズ量10
16その結果、本願発明のカーボンスリットプレートを用
いた場合及び比較例のウエハ上のパーティクルは、表1
に示す通りであった。
質量分析系で用いるカーボンスリットプレートを熱衝撃
抵抗の大きい部材にしたので、イオン注入に際してパー
ティクルの発生が大幅に減少することが出来るようにな
ってウエハ処理で不良率の発生を大幅に低減することが
出来るようになった。
トの斜視図。
イオン注入器の構成の概要を示す説明図。 1…イオン源、2…イオンビーム、4…分析磁器、6…
カーボンスリットプレート、7…スリット、8…対物レ
ンズ、9…電磁石レンズ、10…可変スリット、11…
ターゲット。
Claims (1)
- 【請求項1】 イオン注入装置の質量分析系で所定のイ
オンビームを選択するために配列されるカーボンスリッ
トプレートで、カーボンファイバーの含有率が45重量
%以上の炭素繊維強化炭素材でかつ熱衝撃抵抗R´が2
00kw/m 以上であることを特徴とする耐荷電粒子線用
カーボンスリットプレート。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17899794A JP3230929B2 (ja) | 1994-07-29 | 1994-07-29 | 耐荷電粒子線用カーボンスリットプレート |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17899794A JP3230929B2 (ja) | 1994-07-29 | 1994-07-29 | 耐荷電粒子線用カーボンスリットプレート |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0845467A JPH0845467A (ja) | 1996-02-16 |
JP3230929B2 true JP3230929B2 (ja) | 2001-11-19 |
Family
ID=16058314
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17899794A Expired - Fee Related JP3230929B2 (ja) | 1994-07-29 | 1994-07-29 | 耐荷電粒子線用カーボンスリットプレート |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3230929B2 (ja) |
-
1994
- 1994-07-29 JP JP17899794A patent/JP3230929B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0845467A (ja) | 1996-02-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4521850B2 (ja) | イオン注入器用の加速および分析アーキテクチャー | |
TWI404106B (zh) | 離子植入系統、用於減少離子植入系統中的污染之裝置以及用於控制離子植入系統中的污染之方法 | |
US6635880B1 (en) | High transmission, low energy beamline architecture for ion implanter | |
US6924493B1 (en) | Ion beam lithography system | |
EP0223823B1 (en) | Apparatus for scanning a high current ion beam with a constant angle of incidence | |
US5757018A (en) | Zero deflection magnetically-suppressed Faraday for ion implanters | |
JPS5843861B2 (ja) | イオン・ビ−ム衝撃装置 | |
WO1988009051A1 (en) | Integrated charge neutralization and imaging system | |
EP2478546B1 (en) | Distributed ion source acceleration column | |
Lencová | Electrostatic lenses | |
US7223984B2 (en) | Helium ion generation method and apparatus | |
JPS62108438A (ja) | 空間電荷レンズを使用した高電流質量分光計 | |
JP3230929B2 (ja) | 耐荷電粒子線用カーボンスリットプレート | |
JP2644958B2 (ja) | イオン源装置およびそのイオン源装置を備えたイオン打ち込み装置 | |
EP0278736A2 (en) | Secondary ion mass spectrometer | |
Rauscher | Development of an advanced low energy focused ion beam system based on immersion optics | |
EP0066175B1 (en) | Ion implanter | |
JPH0473847A (ja) | 電子照射装置 | |
Matteson et al. | An ultra-clean microprobe ion source for atomic mass spectrometry | |
EP4376047A2 (en) | Particle beam system | |
EP0190251B1 (en) | Method and apparatus for the micro-analysis or imaging of samples | |
JPH07312190A (ja) | 電界電離型イオン源 | |
Ishizuka et al. | Emittance measurement of high-brightness microbeams | |
JP3247159B2 (ja) | 電子線加熱蒸着装置 | |
JP3105931B2 (ja) | 電子ビーム照射装置及び電子ビーム照射方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080914 Year of fee payment: 7 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080914 Year of fee payment: 7 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090914 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090914 Year of fee payment: 8 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090914 Year of fee payment: 8 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100914 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100914 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110914 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110914 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120914 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130914 Year of fee payment: 12 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |