JP3225283B2 - Surface treatment equipment - Google Patents

Surface treatment equipment

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JP3225283B2
JP3225283B2 JP35402393A JP35402393A JP3225283B2 JP 3225283 B2 JP3225283 B2 JP 3225283B2 JP 35402393 A JP35402393 A JP 35402393A JP 35402393 A JP35402393 A JP 35402393A JP 3225283 B2 JP3225283 B2 JP 3225283B2
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徳芳 佐藤
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徳芳 佐藤
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は表面処理装置に関し、特
に、直流、高周波、マイクロ波等による放電で発生した
プラズマを利用して基板の表面処理を行うもので、半導
体デバイス製作工程で例えばドライエッチング装置やプ
ラズマCVD装置として利用される表面処理装置に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a surface treatment apparatus, and more particularly to a surface treatment apparatus for performing surface treatment of a substrate by using plasma generated by a discharge caused by direct current, high frequency, microwave, or the like. The present invention relates to a surface treatment device used as an etching device or a plasma CVD device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の表面処理装置の一例として、半導
体デバイス製作工程の1つであるドライエッチング工程
に利用される高周波放電反応装置について説明する。半
導体デバイス製作に不可欠である配線パターン形成行程
では、ドライエッチング技術が用いられる。ドライエッ
チング技術では、ハロゲンを含むガスを主成分とした混
合ガスを放電によってプラズマ化し、これによって発生
した各種活性種(例えば原子状塩素、原子状フッ素、フ
ッ素炭素化合物等)を基板表面の薄膜と反応させ、配線
として不要な薄膜部分を除去する。混合ガスをプラズマ
化させる最も一般的な方法は、内部が減圧された真空容
器中に2枚の平板状電極を対向して設け、一方の電極に
高周波電力を供給しかつ他方の電極を接地電位に保持す
ることによって、高周波電力のエネルギで放電を起こ
し、2つの電極間にプラズマを発生させる方法である。
この方法を利用した装置は平行平板型放電反応装置と呼
ばれ、広い分野で利用されている。
2. Description of the Related Art As an example of a conventional surface treatment apparatus, a high-frequency discharge reaction apparatus used in a dry etching step which is one of semiconductor device manufacturing steps will be described. In a wiring pattern forming process that is indispensable for semiconductor device fabrication, a dry etching technique is used. In dry etching technology, a gas mixture containing a gas containing halogen as a main component is turned into plasma by electric discharge, and various active species (eg, atomic chlorine, atomic fluorine, fluorine-carbon compound, etc.) generated by the plasma are converted into a thin film on the substrate surface. The reaction is carried out to remove unnecessary thin film portions as wiring. The most common method for converting a mixed gas into a plasma is to provide two flat electrodes in a vacuum vessel having a reduced pressure, supply high-frequency power to one electrode, and connect the other electrode to ground potential. In this method, a discharge is caused by the energy of the high-frequency power and plasma is generated between the two electrodes.
An apparatus using this method is called a parallel plate type discharge reaction apparatus and is used in a wide range of fields.

【0003】この平行平板型放電反応装置の改良型とし
て、真空容器内で磁界を作る磁界発生手段を付加するこ
とによって、プラズマの生成効率を高めたマグネトロン
型放電反応装置が知られている。
As an improved type of the parallel plate type discharge reactor, there is known a magnetron type discharge reactor in which the efficiency of plasma generation is increased by adding a magnetic field generating means for generating a magnetic field in a vacuum vessel.

【0004】図7にドライエッチング装置に使用される
平行平板型放電反応装置の従来の代表的構成例を示し、
これを概説する。71は真空容器、72は基板保持機構
を兼ねた放電を発生させるための電極、73は電極72
に対向する電極、74は処理される基板である。電極7
3は接地電位に保持される。75は真空容器71の内部
を所要の減圧状態にする排気機構、76は真空容器71
の内部に反応ガスを供給するためのガス導入管である。
電極72には高周波電力が供給され、そのための機構と
してRF電源77、整合回路78が付設される。電極7
2には真空封止を兼ねた絶縁物79が付設される。
FIG. 7 shows an example of a conventional typical configuration of a parallel plate type discharge reactor used in a dry etching apparatus.
This will be outlined. Reference numeral 71 denotes a vacuum vessel, 72 denotes an electrode for generating discharge serving also as a substrate holding mechanism, and 73 denotes an electrode 72.
The electrode 74 facing the substrate is a substrate to be processed. Electrode 7
3 is kept at the ground potential. 75 is an exhaust mechanism for bringing the inside of the vacuum vessel 71 into a required reduced pressure state, 76 is a vacuum vessel 71
This is a gas introduction pipe for supplying a reaction gas into the inside of the tube.
An RF power is supplied to the electrode 72, and an RF power supply 77 and a matching circuit 78 are additionally provided as a mechanism for that. Electrode 7
2 is provided with an insulator 79 also serving as a vacuum seal.

【0005】図8にはドライエッチング装置として使用
される従来のマグネトロン型放電反応装置の構成を示
す。磁界を併用したドライエッチング装置は、多くの種
類のものが開発されているが、ここではいわゆる回転磁
界型装置の例を示した。図8において、図7で示した要
素と同一のものは同一の符号を付している。すなわち、
71は真空容器、72は基板保持機構を兼ねた電極、7
3は対向電極、74は基板、75は排気機構、76はガ
ス導入管、77はRF電源、78は整合回路、79は絶
縁物である。さらに、真空容器71の外側周囲にリング
状の形態を有し、内部に特別な磁極配置構造を有する電
磁石装置80が設置される。この特別な磁極配置構造を
有する電磁石装置80によれば、被処理基板74の被処
理面に対して平行な方向に磁界ベクトル(磁束密度B)
81を発生させることができる(文献:Journal of Nuc
lear Materials 200 (1993) pp291-295 )。また磁界ベ
クトル81の方向を基板74の処理面上で回転させるこ
とも一般に行われている。
FIG. 8 shows a configuration of a conventional magnetron discharge reactor used as a dry etching apparatus. Many types of dry etching apparatuses using a magnetic field have been developed. Here, an example of a so-called rotating magnetic field type apparatus is shown. 8, the same elements as those shown in FIG. 7 are denoted by the same reference numerals. That is,
71 is a vacuum vessel, 72 is an electrode also serving as a substrate holding mechanism, 7
3 is a counter electrode, 74 is a substrate, 75 is an exhaust mechanism, 76 is a gas introduction tube, 77 is an RF power supply, 78 is a matching circuit, and 79 is an insulator. Further, an electromagnet device 80 having a ring shape around the outside of the vacuum vessel 71 and having a special magnetic pole arrangement structure is installed inside. According to the electromagnet device 80 having this special magnetic pole arrangement structure, the magnetic field vector (magnetic flux density B) is set in a direction parallel to the surface of the substrate 74 to be processed.
81 (Reference: Journal of Nuc
lear Materials 200 (1993) pp291-295). It is also common to rotate the direction of the magnetic field vector 81 on the processing surface of the substrate 74.

【0006】上記2つのタイプの放電反応装置のそれぞ
れは、従来から、被処理基板の表面をエッチング処理す
るドライエッチング装置として広く使用され、線幅1μ
m程度の微細加工を行うエッチングに関しては十分な性
能を有し、多くの半導体工場において使用実績がある。
Conventionally, each of the above two types of discharge reaction apparatuses has been widely used as a dry etching apparatus for etching the surface of a substrate to be processed, and has a line width of 1 μm.
It has a sufficient performance with respect to etching for fine processing of about m, and has been used in many semiconductor factories.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】前述の従来のドライエ
ッチング装置は、次のような問題を有する。
The above-mentioned conventional dry etching apparatus has the following problems.

【0008】半導体デバイス製作工程の微細加工におい
てドライエッチングを利用する最も大きな理由は、異方
性エッチング、すなわち垂直断面を有するエッチングが
可能な点にある。しかしながら、1μm以下の微細な構
造に関してドライエッチングにより垂直断面を得るに
は、プラズマ中のイオンを被処理基板に対して垂直に入
射させなければならない。当該イオンの直進性を良くす
るための最も簡単な手法は、放電圧力を低くすることで
ある。
The most important reason for utilizing dry etching in microfabrication in a semiconductor device manufacturing process is that anisotropic etching, that is, etching having a vertical cross section, is possible. However, in order to obtain a vertical cross section of a fine structure of 1 μm or less by dry etching, ions in the plasma must be perpendicularly incident on the substrate to be processed. The simplest method for improving the straightness of the ions is to lower the discharge pressure.

【0009】しかしながら、図7の平行平板型放電反応
装置では、放電圧力を低くしすぎるとプラズマ密度が低
下し、十分な処理速度が得られない。また放電圧力を低
くすれば、放電そのものを維持できなくなる。従って、
放電圧力を下げるには限界がある。さらに、放電圧力を
下げることにより、陰極(電極74)上の自己バイアス
電圧が大きくなり、これによって被処理基板74に対す
るイオンの入射エネルギが大きくなりすぎ、被処理基板
の表面に損傷を与える危険性が高まる。
However, in the parallel plate type discharge reactor shown in FIG. 7, if the discharge pressure is too low, the plasma density decreases, and a sufficient processing speed cannot be obtained. If the discharge pressure is reduced, the discharge itself cannot be maintained. Therefore,
There is a limit to reducing the discharge pressure. Further, by lowering the discharge pressure, the self-bias voltage on the cathode (electrode 74) becomes large, whereby the ion incident energy on the substrate 74 becomes too large, and there is a danger that the surface of the substrate is damaged. Increase.

【0010】プラズマイオンの入射エネルギを小さくし
基板表面の損傷を防止するという観点で、図8に示した
マグネトロン型放電反応装置の応用も広く試みられてい
る。マグネトロン形放電反応装置では、プラズマの生成
を外部磁界を併用して行うこので、陰極上の自己バイア
ス電圧を大きくすることなく放電電圧を小さくすること
(1〜10mTorr )ができ、その結果として、基板に対
するイオンの照射エネルギを小さくすることできる。そ
の上に、平行平板型放電反応装置と比較して低い放電圧
力においても放電が可能であるという利点を有する。
From the viewpoint of reducing the incident energy of plasma ions and preventing damage to the substrate surface, application of the magnetron discharge reactor shown in FIG. 8 has been widely attempted. In the magnetron type discharge reactor, the plasma is generated by using an external magnetic field in combination, so that the discharge voltage can be reduced (1 to 10 mTorr) without increasing the self-bias voltage on the cathode, and as a result, The irradiation energy of ions to the substrate can be reduced. In addition, there is an advantage that discharge can be performed even at a lower discharge pressure as compared with a parallel plate type discharge reactor.

【0010】しかしマグネトロン放電反応装置では、生
成されるプラズマが、作られる磁界の分布状態に依存し
て偏在するので、プラズマの均一性が悪いという問題を
有していた。
However, the magnetron discharge reactor has a problem in that the generated plasma is unevenly distributed depending on the distribution state of the generated magnetic field, and thus the uniformity of the plasma is poor.

【0011】本発明の目的は、上記の問題に鑑み、簡単
な構造を有し、低圧力でプラズマを発生することがで
き、被処理基板に対するイオンの照射エネルギを小さく
することができる表面処理装置を提供することにある。
In view of the above problems, an object of the present invention is to provide a surface treatment apparatus which has a simple structure, can generate plasma at a low pressure, and can reduce the irradiation energy of ions on a substrate to be processed. Is to provide.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明に係る表面処理装
置は、周面部を有する真空容器と、この真空容器内を減
圧状態にする排気機構と、真空容器内に放電用ガスを導
入するガス導入機構と、ガスを放電させプラズマを発生
させるため筒形の放電用電極と、この放電用電極にプラ
ズマ発生用電力を供給する電供給機構と、放電用電極
の周囲に設置される磁気回路と、真空容器内に設置され
る少なくとも1つの基板保持機構を備え、筒形放電用電
極は電力供給機構から高周波電力を供給されかつ真空容
器は接地電位に保持されて他方の電極部として利用さ
れ、筒形放電用電極と真空容器の周面部とは同軸的な位
置関係に配置され、かつ、筒形放電用電極は、真空容器
の周面部の径と同じ大きさの径であって周面部の一部と
して用いられ、または、真空容器の周面部の径よりも小
さい径であって周面部の内部に設置され、磁気回路は放
電用電極と真空容器の周面部に対し同軸位置であって間
隔をおいて並べられた複数のリング状永久磁石からな
り、各々のリング状永久磁石は隣合う磁極の極性が互い
に逆になるように径方向に着磁され、複数のリング状永
久磁石のうち少なくとも隣合う2個の永久磁石が放電用
電極の周囲に配置され、かつその他の永久磁石が基板支
持機構の前面空間に対応させて真空容器の周面部の周囲
に配置され、放電用電極の周囲に配置されたリング状永
久磁石が放電用電極の内部にて放電用電極の内面に沿っ
てプラズマの電子を閉じ込めて当該プラズマを生成する
ための磁力線を生成し、真空容器の周面部に配置された
リング状永久磁石が周面部に沿ってプラズマ中の荷電粒
子の内壁面衝突を防ぐための磁力線を生成し、基板保持
機構の被処理基板を設置する面が、磁気回路の端部の近
傍にて放電用電極の中心軸に対し垂直に配置される。
According to the present invention, there is provided a surface treatment apparatus comprising: a vacuum vessel having a peripheral portion; an exhaust mechanism for reducing the pressure in the vacuum vessel; and a gas for introducing a discharge gas into the vacuum vessel. and introducing mechanism, a discharge electrode of the tubular for generating plasma discharges the gas, the power supply mechanism for supplying electric power for plasma generation to the discharge electrode, a magnetic circuit which is installed around the discharge electrode If, comprising at least one substrate holding mechanism are placed in a vacuum vessel, the tubular discharge collector
The poles are supplied with high-frequency power from the power supply mechanism and
Is maintained at ground potential and used as the other electrode.
The cylindrical discharge electrode and the peripheral surface of the vacuum vessel are coaxial.
The electrodes for cylindrical discharge are arranged in a vacuum vessel
Of the same size as the diameter of the peripheral surface of
Or smaller than the diameter of the peripheral surface of the vacuum vessel.
The magnetic circuit has a small diameter and is installed inside the peripheral surface, and the magnetic circuit is composed of a plurality of ring-shaped permanent magnets arranged coaxially and spaced apart from the discharge electrode and the peripheral surface of the vacuum vessel . The ring-shaped permanent magnets are radially magnetized so that the polarities of adjacent magnetic poles are opposite to each other, and at least two adjacent permanent magnets of the plurality of ring-shaped permanent magnets are arranged around the discharge electrode, In addition, other permanent magnets are arranged around the peripheral surface of the vacuum vessel corresponding to the front space of the substrate support mechanism, and a ring-shaped permanent magnet is arranged around the discharge electrode.
Huge magnet inside the discharge electrode and along the inner surface of the discharge electrode
To generate plasma by confining plasma electrons
Generated on the peripheral surface of the vacuum vessel
Charged particles in the plasma along the peripheral surface of the ring-shaped permanent magnet
The surface of the substrate holding mechanism on which the substrate to be processed is generated is arranged perpendicular to the center axis of the discharge electrode near the end of the magnetic circuit, for generating lines of magnetic force for preventing collision of the inner wall surface of the child .

【0013】前記の構成において、好ましくは、放電用
電極が、その両側にて、真空容器の周面部との間でリン
グ状絶縁物を介設することによって真空封止を維持しつ
つ真空容器の周面部の一部として設けられ、両側の周面
部がそれぞれ接地される
[0013] In the above configuration, preferably, the discharge electrode is provided with a phosphor between both sides thereof and a peripheral surface of the vacuum vessel.
While maintaining the vacuum seal by interposed a grayed-like insulator is provided as a part of the peripheral surface of the vacuum vessel, on both sides of the peripheral surface
Each part is grounded .

【0014】前記の各構成において、好ましくは、放電
用電極は、真空容器の内部に、真空容器の周面部との間
で隙間をあけて真空容器に対して同軸的に配置され、か
つ両端が開放された筒形の形状を有し、放電用電極の周
囲に配置されるリング状永久磁石は真空容器の周面部の
外側に配置される。
In each of the above structures, preferably, the discharge electrode is coaxially arranged inside the vacuum vessel with a gap between the discharge electrode and the peripheral surface of the vacuum vessel, and both ends are provided. It has a opened tubular shape, circumference of the discharge electrode
The ring-shaped permanent magnet placed in the surrounding area
It is located outside.

【0015】前記の構成において、好ましくは、真空容
器と放電用電極との間に放電用電極を取り囲む他の筒形
電極が同軸的に配置され、筒形電極の軸方向の長さは放
電用電極の軸方向の長さよりも長く、筒形電極は浮遊電
位に保持され、また磁気回路の各リング状永久磁石は
真空容器の周面部の周囲の代わりに、筒形電極の周囲に
配置される。なお筒形電極には、浮遊電位に保持する代
りに、バイアス電圧を印加できる構造を設けるようにす
ることもできる。
In the above configuration, preferably, another cylindrical electrode surrounding the discharge electrode is coaxially arranged between the vacuum vessel and the discharge electrode, and the length of the cylindrical electrode in the axial direction is preferably smaller than that of the discharge electrode. It is longer than the axial length of the electrode, the cylindrical electrode is held at a floating potential, and each ring-shaped permanent magnet of the magnetic circuit is
It is arranged around the cylindrical electrode instead of around the peripheral surface of the vacuum vessel . Note that the cylindrical electrode may be provided with a structure to which a bias voltage can be applied instead of holding the floating electrode.

【0016】前記の構成において、好ましくは、放電用
電極の周囲に相当する箇所に配置されるリング状永久磁
石を、放電用電極と筒形電極の間の空間を利用して配置
した。
In the above configuration, preferably, the ring-shaped permanent magnet disposed at a position corresponding to the periphery of the discharge electrode is disposed by utilizing a space between the discharge electrode and the cylindrical electrode.

【0017】前記の構成において、好ましくは、放電用
電極を軸方向の長さが等しくかつ径の異なる2つの部分
からなる筒形部材で形成し、リング状永久磁石を2つ以
上用いて構成する他の磁気回路を放電用電極の径の小さ
い部分の周囲に配置したことを特徴とする。
In the above configuration, preferably, the discharge electrode is formed of a cylindrical member composed of two portions having the same axial length and different diameters, and is configured using two or more ring-shaped permanent magnets. Another magnetic circuit is arranged around a small diameter portion of the discharge electrode.

【0018】前記の構成において、好ましくは、放電用
電極は、径の異なる前記部分を交互に並べて蛇腹形状に
形成されている。
In the above configuration, preferably, the discharge electrode is formed in a bellows shape by alternately arranging the portions having different diameters.

【0019】前記の構成において、放電用電極を内部電
極と外部電極からなる内外二重構造とし、内部電極と外
部電極との間にリング状永久磁石を配置した。
In the above configuration, the discharge electrode has an inner / outer dual structure including an internal electrode and an external electrode, and a ring-shaped permanent magnet is disposed between the internal electrode and the external electrode.

【0020】前記の構成において、外部電極と筒形電極
との間には放電が発生する十分な隙間が形成される。
In the above configuration, a sufficient gap for generating a discharge is formed between the external electrode and the cylindrical electrode.

【0021】前記の構成において、放電用電極に配置さ
れたリング状永久磁石と、筒形電極における放電用電極
に対応する箇所に配置されたリング状永久磁石との対向
部分の磁極が同極性である。
In the above configuration, the magnetic poles at the opposite portions of the ring-shaped permanent magnet disposed on the discharge electrode and the ring-shaped permanent magnet disposed at a position corresponding to the discharge electrode in the cylindrical electrode have the same polarity. is there.

【0022】[0022]

【作用】本発明では、低圧力において均一性の良好な高
密度プラズマを発生できる表面処理装置を提案するもの
で、従来からプラズマ閉じ込めに利用されていた磁界を
同時にプラズマ生成にも利用することによって、均一性
の良好な高密度プラズマを容易に発生させ得る。また磁
力線をプラズマの生成および閉じ込めに同時に利用する
ための構成として、高周波放電機構の応用が望ましい。
According to the present invention, a surface treatment apparatus capable of generating high-density plasma with good uniformity at low pressure is proposed. By utilizing a magnetic field conventionally used for confining plasma for plasma generation at the same time. And high-density plasma with good uniformity can be easily generated. Further, as a configuration for simultaneously utilizing the lines of magnetic force for generating and confining plasma, it is desirable to apply a high-frequency discharge mechanism.

【0023】表面処理装置においては、プラズマ生成の
ための放電を発生させるための高周波電力を供給する電
極の構造を従来の平板状から筒状へ変更し、この放電用
電極の外周囲にリング状永久磁石が配置される。これに
よってプラズマは筒状放電用電極の内部に発生し、真空
容器の内部に拡散する。またこのプラズマは、リング状
永久磁石による磁界によって従来よりも高密度化され
る。さらに、この高密度のプラズマは真空容器内に拡散
し、かつ放電空間以外に配置されたリング状永久磁石に
よる磁力線によって真空容器内の空間に均一性よく閉じ
込められる。
In the surface treatment apparatus, the structure of an electrode for supplying high-frequency power for generating a discharge for generating plasma is changed from a conventional flat plate to a cylindrical one, and a ring-shaped electrode is formed around the outer periphery of the discharge electrode. A permanent magnet is arranged. As a result, plasma is generated inside the cylindrical discharge electrode and diffuses inside the vacuum vessel. Further, the density of the plasma is increased by the magnetic field generated by the ring-shaped permanent magnet as compared with the related art. Further, the high-density plasma diffuses into the vacuum vessel and is uniformly confined in the space inside the vacuum vessel by the lines of magnetic force of the ring-shaped permanent magnets arranged outside the discharge space.

【0024】上記ごとくプラズマの閉じ込めに利用され
ていた磁力線をプラズマの発生にも利用し、低圧力で高
密度のプラズマを効率よく発生させ、かつプラズマの均
一性を高める。
As described above, the lines of magnetic force used for confining the plasma are also used for the generation of the plasma, thereby efficiently generating a high-density plasma at a low pressure and improving the uniformity of the plasma.

【0025】[0025]

【実施例】以下に、本発明の実施例を添付図面に基づい
て説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

【0026】図1は本発明に係る表面処理装置の第1実
施例の構成を示す縦断面図である。図1において、1は
全体としての真空容器であり、真空容器1の中央部には
筒形(例えば円筒形)の放電用電極2が設けられる。放
電用電極2は、その両側に配置された2つのリング状絶
縁物3によって真空容器1の両側部分(金属製)1A,
1Bから絶縁されている。真空容器1は、上記筒形の放
電用電極2と両側部分1A,1Bとによって気密な密封
容器として形成されており、端面部1a,1bを除く部
分は、例えば円筒のごとき筒形形状を有する。この筒形
形状を有する部分を、ここでは「周面部」という。また
リング状の絶縁物3は、真空容器1の両側部分1A,1
Bのそれぞれと放電用電極2との間を真空封止する構造
を有する。真空容器1の内部空間は、表面処理を行うと
きに所要の真空状態(減圧状態)に保持され、導入され
た放電用ガスを放電させて必要なプラズマが生成され
る。また真空容器1の両側部分1A,1Bは接地電位に
保持される。
FIG. 1 is a longitudinal sectional view showing the structure of a first embodiment of the surface treatment apparatus according to the present invention. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a vacuum vessel as a whole, and a cylindrical (for example, cylindrical) discharge electrode 2 is provided at the center of the vacuum vessel 1. The discharge electrode 2 is made up of two ring-shaped insulators 3 arranged on both sides thereof, and is formed on both sides (made of metal) 1A,
1B. The vacuum container 1 is formed as a hermetically sealed container by the cylindrical discharge electrode 2 and both side portions 1A and 1B, and the portion excluding the end surfaces 1a and 1b has a cylindrical shape such as a cylinder. . The portion having this cylindrical shape is referred to herein as a “peripheral surface portion”. The ring-shaped insulator 3 is provided on both sides 1A and 1A of the vacuum vessel 1.
It has a structure for vacuum sealing between each of the electrodes B and the discharge electrode 2. The internal space of the vacuum vessel 1 is maintained in a required vacuum state (decompressed state) when performing the surface treatment, and discharges the introduced discharge gas to generate a necessary plasma. Both sides 1A and 1B of the vacuum vessel 1 are kept at the ground potential.

【0027】真空容器1内には、例えば2つの基板保持
機構5が、その基板保持面を対向して設置される。基板
保持機構5は真空容器1の両側の端面部1a,1bに取
り付けられる。2つの基板保持機構5のそれぞれの上に
搭載された被処理基板6に対して表面処理が行われる。
In the vacuum vessel 1, for example, two substrate holding mechanisms 5 are installed with their substrate holding surfaces facing each other. The substrate holding mechanism 5 is attached to the end surfaces 1a and 1b on both sides of the vacuum vessel 1. Surface treatment is performed on the substrate to be processed 6 mounted on each of the two substrate holding mechanisms 5.

【0028】真空容器1における放電用電極2を含む円
筒形の周面部の外側周囲にはリング状永久磁石からなる
磁気回路4が設置される。磁気回路4は、適当な間隔で
並べて設置された複数のリング状永久磁石401,40
2で構成される。リング状永久磁石401,402は、
放電用電極2を含む周面部に対し同軸的な位置に配置さ
れる。少なくとも2つの永久磁石401は真空容器1の
両側部分1A,1Bの周囲に配置され、少なくとも2つ
の永久磁石402は放電用電極2の周囲に配置される。
真空容器1の両側部分1A,1Bはそれぞれ内部に各基
板保持機構5の基板6の前面空間を有し、リング状永久
磁石401は、その前面空間を囲むように設置される。
複数の永久磁石401,402による磁気回路4の構成
では、図1に示すように、リング状永久磁石は、径方向
の着磁され、かつ磁極の配置が隣合う永久磁石で互いに
逆になるように着磁されている。
A magnetic circuit 4 composed of a ring-shaped permanent magnet is installed around the outer periphery of the cylindrical peripheral surface including the discharge electrode 2 in the vacuum vessel 1. The magnetic circuit 4 includes a plurality of ring-shaped permanent magnets 401 and 40 arranged at appropriate intervals.
It consists of two. The ring-shaped permanent magnets 401 and 402
It is arranged at a coaxial position with respect to the peripheral surface portion including the discharge electrode 2. At least two permanent magnets 401 are arranged around both sides 1A, 1B of the vacuum vessel 1, and at least two permanent magnets 402 are arranged around the discharge electrode 2.
Both sides 1A and 1B of the vacuum vessel 1 each have a front space of the substrate 6 of each substrate holding mechanism 5 therein, and the ring-shaped permanent magnet 401 is installed so as to surround the front space.
In the configuration of the magnetic circuit 4 including the plurality of permanent magnets 401 and 402, as shown in FIG. 1, the ring-shaped permanent magnets are magnetized in the radial direction, and the arrangement of the magnetic poles is reversed between adjacent permanent magnets. It is magnetized.

【0029】上記基板保持機構5の被処理基板6を設置
する面は、磁気回路4の端部の近傍にて放電用電極2の
中心軸に対し垂直に配置される。
The surface of the substrate holding mechanism 5 on which the substrate to be processed 6 is placed is disposed near the end of the magnetic circuit 4 and perpendicular to the center axis of the discharge electrode 2.

【0030】真空容器1の端面部1aには排気機構7が
設けられ、その内部空間に存在するガスを排気する。ま
た真空容器1にはガス導入管8とガス導入機構(図示せ
ず)によって所定流量の所定ガスが導入される。排気機
構7の排気速度とガス導入機構によるガス導入流量を調
整することによって、真空容器1内の圧力を所定の値に
設定することができる。
An exhaust mechanism 7 is provided on the end surface 1a of the vacuum vessel 1 to exhaust gas existing in its internal space. A predetermined flow rate of a predetermined gas is introduced into the vacuum vessel 1 by a gas introduction pipe 8 and a gas introduction mechanism (not shown). The pressure in the vacuum vessel 1 can be set to a predetermined value by adjusting the exhaust speed of the exhaust mechanism 7 and the gas introduction flow rate by the gas introduction mechanism.

【0031】放電用電極2には電力供給機構が付設さ
れ、必要な電力が供給される。電力供給機構は、高周波
(RF)電源10と整合回路11を含んで構成され、高
周波電源10により発生した高周波電力を整合回路11
で調整して給電線12で電極2に供給する。
A power supply mechanism is attached to the discharge electrode 2 to supply necessary power. The power supply mechanism includes a high-frequency (RF) power supply 10 and a matching circuit 11, and supplies the high-frequency power generated by the high-frequency power supply 10 to the matching circuit 11.
And supply it to the electrode 2 via the feed line 12.

【0032】なお電力供給機構は広義に理解し、直流、
高周波およびマイクロ波による電力供給機構を含むもの
とする。ただし本実施例では、高周波、特に工業用周波
数に指定されている13.56MHzの応用例に関して
説明する。
The power supply mechanism is understood in a broad sense,
It includes a high-frequency and microwave power supply mechanism. However, in this embodiment, an application example of 13.56 MHz specified as a high frequency, particularly an industrial frequency will be described.

【0033】図1および図2を参照して、上記構成に基
づく表面処理装置の基本的な動作について説明する。図
2は、磁気回路4による磁界の形状およびその影響によ
るプラズマの生成状態を示す図であり、この図では真空
容器1を簡略化して示し、絶縁物3や基板保持機構5を
省略している。
With reference to FIGS. 1 and 2, the basic operation of the surface treatment apparatus based on the above configuration will be described. FIG. 2 is a diagram showing the shape of the magnetic field by the magnetic circuit 4 and the state of plasma generation due to the influence thereof. In this figure, the vacuum vessel 1 is shown in a simplified manner, and the insulator 3 and the substrate holding mechanism 5 are omitted. .

【0034】最初に排気機構7によって真空容器1の内
部を排気して所要の減圧状態にし、その後にガス導入管
6およびガス導入機構によって所定ガスを所定圧力にな
るように真空容器1内に導入する。この所定の圧力は、
ガス種、磁界強度等によってそれぞれの最適値になるよ
うに設定される。
First, the inside of the vacuum vessel 1 is evacuated by the exhaust mechanism 7 to a required reduced pressure state. Thereafter, a predetermined gas is introduced into the vacuum vessel 1 by the gas introduction pipe 6 and the gas introduction mechanism so as to have a predetermined pressure. I do. This predetermined pressure is
The optimum values are set according to the gas type, the magnetic field strength, and the like.

【0035】次に高周波電源10によって発生された高
周波電力を整合回路11を通して放電用電極2に供給す
る。その結果、円筒形の放電用電極2の内側空間に高周
波による放電が発生し、プラズマが生成される。このと
きのプラズマの発生状態は、磁気回路4の構成に依存し
て決まる。
Next, the high-frequency power generated by the high-frequency power supply 10 is supplied to the discharge electrode 2 through the matching circuit 11. As a result, high-frequency discharge is generated in the space inside the cylindrical discharge electrode 2, and plasma is generated. The state of plasma generation at this time is determined depending on the configuration of the magnetic circuit 4.

【0036】図1および図2に示すように、本実施例で
は、磁気回路4を構成するリング状永久磁石を、その作
用の特性によって2つの群(永久磁石401と永久磁石
402)に分けて設けている。永久磁石401による作
用は、永久磁石401により作られる磁力線501が真
空容器1の両側部分1A,1Bの容器壁のみを横切るこ
とである。永久磁石402による作用は、永久磁石40
2によって作られる磁力線502が放電用電極2を横切
り、その内部空間に広がることである。永久磁石401
および永久磁石402の境界部に発生する磁力線503
は、真空容器1の両側部分1A,1Bの容器壁と放電用
電極2の双方を横切る。
As shown in FIGS. 1 and 2, in this embodiment, the ring-shaped permanent magnets constituting the magnetic circuit 4 are divided into two groups (a permanent magnet 401 and a permanent magnet 402) according to their operation characteristics. Provided. The effect of the permanent magnet 401 is that the lines of magnetic force 501 generated by the permanent magnet 401 cross only the container walls of both sides 1A and 1B of the vacuum container 1. The action of the permanent magnet 402 is
2 is that the magnetic field line 502 formed by the second electrode 2 crosses the discharge electrode 2 and spreads in its internal space. Permanent magnet 401
And the magnetic field lines 503 generated at the boundary of the permanent magnet 402
Crosses both the vessel walls of both sides 1A and 1B of the vacuum vessel 1 and the discharge electrode 2.

【0037】上記作用を生じる磁気回路4を備えた表面
処理用真空容器1において、放電用電極2を用いてその
内部空間に生成されたプラズマは、次のような特徴を有
する。プラズマを発生させるために放電用電極2に高周
波電力を供給した場合、電極2の表面には高周波電圧に
よる電界(平均値としての電界)が存在し、これによっ
て加速された電子が真空容器1内に導入された気体分子
(原子)に衝突し、これをイオン化することにより特に
高密度のプラズマが局所的に生成され、真空容器1内に
拡散されながら維持される。プラズマが発生したとき、
プラズマ中の電子の運動は磁気回路4で作られる磁界に
よって決定される。本実施例では、磁界502との相互
作用に基づき図2に示される箇所に特に高密度のプラズ
マ505が生成される。本実施例におけるプラズマの生
成・維持機構は従来のマグネトロン形放電反応装置と基
本的に同一である。しかし、さらに詳しく述べると、本
実施例のプラズマの生成・維持機構では、プラズマ発生
用の放電用電極2およびその外周囲に設置されたリング
状永久磁石402の構成によって次のような特徴を有す
る。
In the surface treatment vacuum vessel 1 provided with the magnetic circuit 4 that produces the above-mentioned action, the plasma generated in the internal space using the discharge electrode 2 has the following characteristics. When high-frequency power is supplied to the discharge electrode 2 to generate plasma, an electric field (an electric field as an average value) due to a high-frequency voltage exists on the surface of the electrode 2, and electrons accelerated by the electric field are generated in the vacuum vessel 1. By colliding with the gas molecules (atoms) introduced into the gas and ionizing the gas molecules, particularly high-density plasma is locally generated and is diffused and maintained in the vacuum vessel 1. When plasma is generated,
The motion of the electrons in the plasma is determined by the magnetic field created by the magnetic circuit 4. In the present embodiment, a particularly high-density plasma 505 is generated at the location shown in FIG. 2 based on the interaction with the magnetic field 502. The mechanism for generating and maintaining plasma in this embodiment is basically the same as that of a conventional magnetron discharge reactor. However, to describe in more detail, the plasma generation / maintenance mechanism of the present embodiment has the following features due to the configuration of the discharge electrode 2 for plasma generation and the ring-shaped permanent magnet 402 installed around the electrode 2. .

【0038】円筒形をした放電用電極2の内側表面とそ
の内部空間に生成されるプラズマとの間には電圧降下部
(電位差)があり、そこには直流電界(静電界)が存在
する。プラズマ中の電子の運動方向は、この電界と、永
久磁石402により発生した磁界502のうち当該電界
と直交する成分とによって決定される。具体的には、電
子は電界のベクトルと磁界のベクトルの外積の方向(径
方向内方)に移動し、電界と磁界の作用に基づいて放電
用電極2の内壁に沿って周方向に運動し、その移動経路
は閉じている。このようにプラズマ発生領域における電
子の移動経路が閉じていることにより、プラズマ発生領
域における電子の散逸が抑制され、局所的に高密度のプ
ラズマを容易に発生させかつ維持することができる。本
実施例の構成によって発生した高密度プラズマの特徴
は、図2の505に示されるように、放電用電極2の内
側表面に近接してリング状の領域を形成し、かつ高密度
のプラズマが生成されることにある。リング状領域でプ
ラズマを発生させるには、前述のごとく、円筒形状の放
電用電極2の周囲に複数のリング状永久磁石402が磁
極の配置を交互に異ならせて配置され、それらによって
作られる磁力線502が放電用電極2の内側表面に交差
し当該表面を横切ることが必要である。
There is a voltage drop (potential difference) between the inner surface of the cylindrical discharge electrode 2 and the plasma generated in the internal space, and a DC electric field (electrostatic field) exists therein. The direction of movement of the electrons in the plasma is determined by this electric field and the component of the magnetic field 502 generated by the permanent magnet 402 that is orthogonal to the electric field. Specifically, the electrons move in the direction of the outer product of the electric field vector and the magnetic field vector (inward in the radial direction), and move in the circumferential direction along the inner wall of the discharge electrode 2 based on the action of the electric field and the magnetic field. , Its movement path is closed. By closing the movement path of the electrons in the plasma generation region as described above, the dissipation of the electrons in the plasma generation region is suppressed, and the local high-density plasma can be easily generated and maintained. The feature of the high-density plasma generated by the configuration of the present embodiment is that, as shown by 505 in FIG. 2, a ring-shaped region is formed close to the inner surface of the discharge electrode 2 and the high-density plasma is Is to be generated. In order to generate plasma in the ring-shaped region, as described above, a plurality of ring-shaped permanent magnets 402 are alternately arranged around the cylindrical discharge electrode 2 with the magnetic poles arranged alternately, and the magnetic force lines formed by these are arranged. It is necessary that 502 crosses and crosses the inner surface of the discharge electrode 2.

【0039】上記のようにして放電用電極2の内側空間
に発生したプラズマにおいて、その中に存在するイオン
および活性化されたガス分子または原子は、真空容器1
の内部全体に拡散し、被処理基板6の表面に形成された
薄膜と反応してこれを除去する。このとき、永久磁石4
01により発生する磁界501は、プラズマ中の荷電粒
子の真空容器1の両側部分1A,1Bの内壁面との衝突
による損失を減少させ、プラズマの密度を高く保ち、か
つ被処理基板6の表面近傍におけるプラズマ密度の均一
性を良好にする作用を有する。
In the plasma generated in the space inside the discharge electrode 2 as described above, ions and activated gas molecules or atoms existing therein are removed from the vacuum vessel 1.
, And reacts with the thin film formed on the surface of the substrate 6 to be removed. At this time, the permanent magnet 4
01 reduces the loss of charged particles in the plasma due to collision with the inner wall surfaces of both sides 1A and 1B of the vacuum vessel 1, keeps the density of the plasma high, and the vicinity of the surface of the substrate 6 to be processed. Has the function of improving the uniformity of the plasma density at

【0040】上記実施例においては真空容器両側部分1
A,1Bと放電用電極2とを一体化して真空容器1を構
成しているため、真空容器1内に放電用電極を配置する
ことが不要となる。また磁気回路4を大気中に設置でき
るため、磁気回路4を冷却するための構造を設けること
が容易であり、保守管理が簡単である等の構造上の利点
を有する。
In the above embodiment, both sides 1 of the vacuum vessel are used.
Since the vacuum vessel 1 is formed by integrating the electrodes A and 1B and the discharge electrode 2, it is not necessary to dispose the discharge electrode in the vacuum vessel 1. Further, since the magnetic circuit 4 can be installed in the atmosphere, it is easy to provide a structure for cooling the magnetic circuit 4 and has structural advantages such as easy maintenance and management.

【0041】上記実施例で明らかなように、本発明の特
徴は、磁界502を用いてリング状形態の領域に存在す
る高密度プラズマ505を発生させ、この高密度プラズ
マ505で発生するイオンおよび活性化されたガス分子
または原子を、さらに別の磁界501によって効率よく
かつ均一に拡散させ、これによって被処理基板6の表面
処理を可能にした点にある。
As is apparent from the above embodiment, the feature of the present invention is that a high-density plasma 505 existing in a ring-shaped region is generated by using a magnetic field 502, and ions and activity generated by the high-density plasma 505 are generated. The gas molecules or atoms that have been converted are efficiently and uniformly diffused by another magnetic field 501, thereby enabling the surface treatment of the substrate 6 to be processed.

【0042】次に、図3を参照して本発明の第2の実施
例を説明する。図2において、図1で説明した要素と実
質的に同一の要素には同一の符号を付している。本実施
例の特徴は、放電用電極を真空容器とは別に用意し、こ
の円筒形の放電用電極を、真空容器1の内部であって、
同軸的位置にかつ軸方向の中央位置に設置した点にあ
る。2は円筒形の放電用電極であり、真空容器1の径よ
りも小さい径で作られている。電極2を支持する部材の
図示は省略される。放電用電極2は、真空封止部材を兼
ねた小型のパイプ状絶縁物13を通して配線される給電
線12によって高周波電力を供給され、この高周波電力
でプラズマを生成する。真空容器1と放電用電極2との
間の隙間14は、その間に放電が入り込まない程度に小
さい間隔にする必要がある。この間隔の寸法は、放電を
行うガスの種類および圧力によって異なるが、一般に数
ミリ(mm)程度が望ましい。また真空容器1は接地電位
に保持される。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In FIG. 2, substantially the same elements as those described in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals. The feature of the present embodiment is that a discharge electrode is prepared separately from the vacuum vessel, and this cylindrical discharge electrode is provided inside the vacuum vessel 1,
It is located at the coaxial position and at the axial center position. Reference numeral 2 denotes a cylindrical discharge electrode, which is made smaller in diameter than the vacuum vessel 1. Illustration of the member supporting the electrode 2 is omitted. The discharge electrode 2 is supplied with high-frequency power by a power supply line 12 wired through a small pipe-shaped insulator 13 also serving as a vacuum sealing member, and generates plasma with the high-frequency power. The gap 14 between the vacuum vessel 1 and the discharge electrode 2 needs to be small enough to prevent discharge from entering between them. The size of this interval varies depending on the type and pressure of the gas to be discharged, but is generally desirably about several millimeters (mm). Further, the vacuum vessel 1 is maintained at the ground potential.

【0043】本実施例においては、第1の実施例におい
て必要とされたリング状絶縁物3、および電極2と真空
容器両側部分1A,1Bとの接続部の構造が不要とな
り、この点で装置構成が簡略化されるという利点を有す
る。また放電用電極2と真空容器1とが別部材として作
られるため、周面部の径が大きい真空容器1を容易に作
ることができる。その他の装置構成および永久磁石40
1,402の着磁方向については、第1の実施例と全く
同じである。また本実施例においても、プラズマの生成
・維持のための機構は、第1の実施例において説明した
ものと全く同じである。
In this embodiment, the structure of the ring-shaped insulator 3 and the connection between the electrode 2 and both sides 1A and 1B of the vacuum vessel, which is required in the first embodiment, becomes unnecessary. This has the advantage that the configuration is simplified. Further, since the discharge electrode 2 and the vacuum vessel 1 are made as separate members, the vacuum vessel 1 having a large peripheral surface portion can be easily made. Other device configuration and permanent magnet 40
The magnetization directions of 1,402 are exactly the same as in the first embodiment. Also in this embodiment, the mechanism for generating and maintaining the plasma is exactly the same as that described in the first embodiment.

【0044】前述の第1および第2の実施例では、真空
容器1の内表面が、プラズマ中のイオンによりスパッタ
され易いという特性を有する。特に、基板保持機構5に
直流あるいは交流のバイアスを与えて被処理基板6の表
面を処理する場合、真空容器1の内壁がスパッタされた
り、放電が不安定になる等の不具合が生じる。この原因
は、上記の各実施例においては、接地電位にある真空容
器を電極として利用しているためである。すなわち、プ
ラズマ電位が基板保持機構5のバイアスに従って変化
し、プラズマ電位と接地電位との間の電位差、すなわち
真空容器1の内壁面にできるシース内の直流電界が大き
くなり、これによるイオンの加速に起因するスパッタリ
ングが起きやすいためである。さらに、前記した電位差
が非常に大きくなると、局所的なアーク放電が発生し、
プラズマの状態が不安定になる場合もある。かかる不具
合を解消するために、以下の実施例が提案される。
In the first and second embodiments described above, the inner surface of the vacuum vessel 1 has a characteristic that it is easily sputtered by ions in the plasma. In particular, when applying a DC or AC bias to the substrate holding mechanism 5 to process the surface of the substrate 6 to be processed, problems such as spattering of the inner wall of the vacuum vessel 1 and unstable discharge occur. This is because in each of the above-described embodiments, a vacuum vessel at a ground potential is used as an electrode. That is, the plasma potential changes in accordance with the bias of the substrate holding mechanism 5, and the potential difference between the plasma potential and the ground potential, that is, the DC electric field in the sheath formed on the inner wall surface of the vacuum vessel 1 increases, thereby accelerating ions. This is because the resulting sputtering is likely to occur. Further, when the potential difference becomes extremely large, a local arc discharge occurs,
The state of the plasma may become unstable. In order to solve such a problem, the following embodiment is proposed.

【0045】図4を参照して本発明の第3の実施例を説
明する。この実施例の特徴は、前述の第2の実施例の構
成において、放電用電極2と真空容器1の間に第2の円
筒状電極9(以下、円筒状電極9と記す)を設置した点
にある。円筒状電極9は、陽極であり、その軸方向の長
さが放電用電極2よりも長くなるように形成される。ま
た好ましくは、円筒状電極9は絶縁物(図示せず)を介
して真空容器1に固定され、電気的に浮遊させる。また
必要に応じて、円筒状電極9にバイアス電源19を含む
バイアス印加用構造を設け、バイアス電源19によって
任意のバイアス(接地電位も含む)を与えてもよい。電
圧円筒状電極9と真空容器1の間には磁気回路4を設置
する。磁気回路4の構造は、第1および第2の実施例の
場合と同じである。
A third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. The feature of this embodiment is that a second cylindrical electrode 9 (hereinafter referred to as a cylindrical electrode 9) is provided between the discharge electrode 2 and the vacuum vessel 1 in the configuration of the second embodiment. It is in. The cylindrical electrode 9 is an anode, and is formed such that its axial length is longer than that of the discharge electrode 2. Further, preferably, the cylindrical electrode 9 is fixed to the vacuum vessel 1 via an insulator (not shown) and is electrically floated. If necessary, a bias application structure including a bias power supply 19 may be provided on the cylindrical electrode 9, and an arbitrary bias (including a ground potential) may be applied by the bias power supply 19. The magnetic circuit 4 is provided between the voltage cylindrical electrode 9 and the vacuum vessel 1. The structure of the magnetic circuit 4 is the same as in the first and second embodiments.

【0046】放電用電極2には、第2の実施例と同様な
絶縁物13と、円筒状電極9に設けられた真空封止部材
を兼ねた小型の同様な絶縁体16を通して配線される給
電線12で高周波電力を供給され、この高周波電力でプ
ラズマを発生させる。絶縁体16は、絶縁体13を延長
して同一物として設けることもできる。本実施例におけ
るプラズマの生成・維持のための機構は、前述の各実施
例で説明した機構と同じである。放電用電極2と円筒状
電極9との間の隙間15は、その間に放電が入り込まな
い程度に小さくし、寸法的には前記隙間14とほぼ同じ
である。また円筒状電極9と真空容器1の間には、磁気
回路4が設置するのに十分な隙間が形成される。なお真
空容器1と円筒状電極9との間に磁気回路4を設置する
のに十分な隙間を設ける余裕のない場合は、磁気回路4
を真空容器1の外側に設置することもできる。
The discharge electrode 2 is wired through an insulator 13 similar to that of the second embodiment and a small similar insulator 16 serving also as a vacuum sealing member provided on the cylindrical electrode 9. High-frequency power is supplied by the electric wire 12, and plasma is generated by the high-frequency power. The insulator 16 can also be provided as the same thing by extending the insulator 13. The mechanism for generating and maintaining plasma in this embodiment is the same as the mechanism described in each of the above embodiments. The gap 15 between the discharge electrode 2 and the cylindrical electrode 9 is so small that the discharge does not enter between them, and is almost the same in dimension as the gap 14. In addition, a gap is formed between the cylindrical electrode 9 and the vacuum vessel 1 that is sufficient for the magnetic circuit 4 to be installed. If there is not enough space to provide the magnetic circuit 4 between the vacuum vessel 1 and the cylindrical electrode 9, the magnetic circuit 4
Can be installed outside the vacuum vessel 1.

【0047】第3の実施例によれば、円筒状電極9を電
気的に浮遊させることによって、基板保持機構5に対し
直流あるいは交流のバイアスを与えた場合にも、円筒状
電極9の電位がプラズマ電位に従って変化するため、プ
ラズマ電位との電位差が小さく保たれることになり、第
2の実施例での不具合が解消される。また基板保持機構
5が、その構造上バイアス電圧をかけにくい場合には、
円筒状電極9にバイアスを与えることによって被処理基
板6に入射するイオンのエネルギを制御することができ
る。さらに高周波による放電では、被処理基板6近傍の
プラズマの空間電位が高周波により振動し、被処理基板
6に入射するイオンのエネルギ幅が広がり、微細加工プ
ロセスに悪影響を及ぼすことがある。このときは、第3
図におけるバイアス電源の代わりに真空容器1と円筒状
電極9とをコンデンサを介して接続し、これにより円筒
状電極9の電位に関する高周波による振動を消し、プラ
ズマの空間電位の振動を抑制することができる。コンデ
ンサの容量は放電に用いる周波数の高周波に対し充分に
低いインピーダンスを持つものであればよい。
According to the third embodiment, the electric potential of the cylindrical electrode 9 is maintained even when a DC or AC bias is applied to the substrate holding mechanism 5 by electrically floating the cylindrical electrode 9. Since the potential changes according to the plasma potential, the potential difference from the plasma potential is kept small, and the problem in the second embodiment is eliminated. If the substrate holding mechanism 5 is difficult to apply a bias voltage due to its structure,
By applying a bias to the cylindrical electrode 9, the energy of ions incident on the substrate 6 to be processed can be controlled. Further, in the discharge at a high frequency, the spatial potential of the plasma in the vicinity of the processing target substrate 6 oscillates by the high frequency, and the energy width of ions incident on the processing target substrate 6 is widened, which may adversely affect the fine processing process. In this case, the third
Instead of the bias power supply in the figure, the vacuum vessel 1 and the cylindrical electrode 9 are connected via a capacitor, thereby eliminating high-frequency vibration of the potential of the cylindrical electrode 9 and suppressing vibration of the plasma spatial potential. it can. The capacity of the capacitor may be any that has a sufficiently low impedance with respect to the high frequency of the frequency used for discharging.

【0048】次に、図5を参照して本発明の第4の実施
例を説明する。本実施例では、前述の第3の実施例の構
成において、放電用電極2において、径の大きい部分
(大径部)201と径の小さい部分(小径部)202を
複数交互に連続して設けた構造を有する。放電用電極2
は、小径部と大径部が軸方向に繰返して形成される蛇腹
形状に類似した形状を有する。また磁気回路4のうちプ
ラズマ生成を行うための永久磁石402は、放電用電極
2の径の小さい部分202と円筒状電極9の間の空間に
設置される。放電用電極2の径の大きい部分201と円
筒状電極9との間の隙間17は、その間に放電が入り込
まない程度に小さくする必要があり、その寸法は隙間1
4とほぼ同じである。また永久磁石402と円筒状電極
9との間も同程度の隙間を設けることが望ましいが、永
久磁石402の材質が、例えばフェライト等の絶縁物で
ある場合には必ずしも隙間を必要としない。その他の装
置構成および永久磁石の着磁方向は、第3の実施例の場
合と全く同じである。
Next, a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In the present embodiment, in the configuration of the third embodiment described above, a large-diameter portion (large-diameter portion) 201 and a small-diameter portion (small-diameter portion) 202 are provided alternately and continuously in the discharge electrode 2. It has a structure. Discharge electrode 2
Has a shape similar to a bellows shape in which a small diameter portion and a large diameter portion are repeatedly formed in the axial direction. A permanent magnet 402 for generating plasma in the magnetic circuit 4 is provided in a space between the small-diameter portion 202 of the discharge electrode 2 and the cylindrical electrode 9. The gap 17 between the large-diameter portion 201 of the discharge electrode 2 and the cylindrical electrode 9 needs to be small enough to prevent discharge from entering between them.
It is almost the same as 4. It is desirable to provide a similar gap between the permanent magnet 402 and the cylindrical electrode 9. However, when the material of the permanent magnet 402 is an insulator such as ferrite, the gap is not necessarily required. The other device configuration and the magnetization direction of the permanent magnet are exactly the same as those in the third embodiment.

【0049】プラズマは、放電用電極2の径の大きい部
分201の内側空間に発生する。本実施例によるプラズ
マの生成では、第1の実施例で説明したマグネトロン放
電による高密度プラズマの発生およびその維持と、いわ
ゆるホローカソード効果(近接して設置された陰極の間
を電子が往復運動することによって高密度プラズマを発
生させる作用)によるプラズマ生成・維持機構を併用す
ることによって、さらにプラズマの高密度化を実現して
いる。
The plasma is generated in the space inside the large-diameter portion 201 of the discharge electrode 2. In the plasma generation according to the present embodiment, the high-density plasma is generated and maintained by the magnetron discharge described in the first embodiment, and the so-called hollow cathode effect (electrons reciprocate between cathodes installed in close proximity). By using a plasma generation / maintenance mechanism based on the action of generating high-density plasma, plasma density can be further increased.

【0050】図6を参照して本発明の第5の実施例を説
明する。本実施例の特徴は、放電用電極2およびプラズ
マ発生用の磁気回路を構成する円筒状永久磁石402の
構造にある。本実施例では、放電用電極2は、軸方向の
長さが等しくかつ径が小さい部分(以下内部電極とい
う)203と大きい部分(以下外部電極という)204
とを内外に重ねて配置し、かつ電気的に接続して構成さ
れている。外部電極204と放電用電極2との間の隙間
18は、前述の各実施例においてはその間に放電が入り
込まない程度に小さくする必要があったが、本実施例に
おいてはこの隙間18をプラズマ発生用空間として利用
するため、ある程度大きな隙間として形成する。この隙
間18の寸法は、放電するガスの圧力によって異なる
が、一般的に数センチ(cm)程度が望ましい。
A fifth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. The feature of this embodiment lies in the structure of the cylindrical permanent magnet 402 constituting the discharge electrode 2 and the magnetic circuit for plasma generation. In this embodiment, the discharge electrode 2 has a portion 203 having the same axial length and a small diameter (hereinafter referred to as an internal electrode) and a portion having a large diameter (hereinafter referred to as an external electrode) 204.
Are arranged inside and outside of each other and electrically connected. The gap 18 between the external electrode 204 and the discharge electrode 2 had to be small enough to prevent discharge from entering between them in each of the above-described embodiments. In order to use it as a working space, it is formed as a large gap to some extent. The size of the gap 18 varies depending on the pressure of the gas to be discharged, but is generally desirably about several centimeters (cm).

【0051】またプラズマを発生させるためのリング状
永久磁石403を、放電用電極2の内部電極203と外
部電極204との間の空間に2個以上配置する。リング
状の永久磁石403の着磁方向は、永久磁石401の場
合と同様に行われる。また永久磁石403の位置は、そ
の外側磁極がリング状永久磁石402の内側磁極と向い
合うように配置し、さらに磁極の向きは、リング状永久
磁石402とリング状永久磁石403の向い合う磁極が
同じ極になるように設置する。その他の装置構成および
その他の永久磁石401,402の着磁方向は、第1の
実施例と全く同じである。
Further, two or more ring-shaped permanent magnets 403 for generating plasma are arranged in a space between the internal electrode 203 and the external electrode 204 of the discharge electrode 2. The magnetization direction of the ring-shaped permanent magnet 403 is performed in the same manner as in the case of the permanent magnet 401. Further, the position of the permanent magnet 403 is arranged such that its outer magnetic pole faces the inner magnetic pole of the ring-shaped permanent magnet 402, and the direction of the magnetic pole is such that the magnetic poles of the ring-shaped permanent magnet 402 and the ring-shaped permanent magnet 403 face each other. Install so that they have the same pole. The other device configurations and the magnetization directions of the other permanent magnets 401 and 402 are exactly the same as in the first embodiment.

【0052】また円筒状電極9は本実施例においても浮
遊電位とし、電極9に関する基本的な動作原理は第4の
実施例の場合と同じである。
The cylindrical electrode 9 has a floating potential also in this embodiment, and the basic operation principle of the electrode 9 is the same as that of the fourth embodiment.

【0053】本実施例においては、プラズマは、放電用
電極2の内部電極203の内側空間と、放電用電極2の
外部電極204と円筒状電極9との間の隙間18の2箇
所において発生する。内部電極203の内側空間に発生
するプラズマの生成・維持のための機構は、第1の実施
例において説明した機構と全く同じである。また隙間1
8におけるプラズマの生成については、第2の実施例で
説明したマグネトロン放電とホローカソード効果の併用
によるプラズマ生成・維持の機構によって、さらなるプ
ラズマの高密度化の実現を可能とした構造を有する。
In this embodiment, the plasma is generated in two places: a space inside the internal electrode 203 of the discharge electrode 2 and a gap 18 between the external electrode 204 of the discharge electrode 2 and the cylindrical electrode 9. . The mechanism for generating and maintaining plasma generated in the space inside the internal electrode 203 is exactly the same as the mechanism described in the first embodiment. Gap 1
Regarding the generation of plasma in FIG. 8, the plasma generation / maintenance mechanism using the magnetron discharge and the hollow cathode effect described in the second embodiment has a structure capable of realizing a higher density of plasma.

【0054】前記の各実施例では、真空容器内において
対称的な位置関係で2つの基板保持機構を備えるように
したが、1つの基板保持機構を設けるだけでもよい。
In each of the above embodiments, two substrate holding mechanisms are provided in a symmetrical positional relationship in the vacuum vessel. However, only one substrate holding mechanism may be provided.

【0055】[0055]

【発明の効果】以上の説明で明らかなように本発明によ
れば、高周波等を利用したマグネトロン放電による表面
処理装置において、従来プラズマの損失防止用に用いら
れていた磁力線の一部をマグネトロン放電によるプラズ
マ生成にも利用できるように放電用電極の形状に工夫を
したため、効率よく高密度プラズマを発生させ、かつ被
処理基板に表面処理の均一性を良好に保つことができ
る。本発明は、各種の高速かつ均一な大面積処理を要求
されるプラズマ処理装置であるドライエッチング装置、
CVD装置等に適用すると、その効果が顕著になる。
As is apparent from the above description, according to the present invention, in a surface treatment apparatus using a magnetron discharge utilizing a high frequency or the like, a part of the lines of magnetic force conventionally used for preventing plasma loss is reduced by the magnetron discharge. Since the shape of the discharge electrode has been devised so that it can be used for plasma generation by, a high-density plasma can be generated efficiently and the uniformity of surface treatment can be maintained on the substrate to be processed. The present invention is a dry etching apparatus that is a plasma processing apparatus that requires various high-speed and uniform large-area processing,
When applied to a CVD apparatus or the like, the effect becomes remarkable.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る表面処理装置の第1の実施例の構
成を示す縦断面図である。
FIG. 1 is a longitudinal sectional view showing a configuration of a first embodiment of a surface treatment apparatus according to the present invention.

【図2】図1中の要部を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a main part in FIG. 1;

【図3】本発明の第2の実施例を示す縦断面図である。FIG. 3 is a longitudinal sectional view showing a second embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第3の実施例を示す縦断面図である。FIG. 4 is a longitudinal sectional view showing a third embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第4の実施例を示す縦断面図である。FIG. 5 is a longitudinal sectional view showing a fourth embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第5の実施例を示す縦断面図である。FIG. 6 is a longitudinal sectional view showing a fifth embodiment of the present invention.

【図7】従来の平行平板型表面処理装置の例を示す断面
図である。
FIG. 7 is a sectional view showing an example of a conventional parallel plate type surface treatment apparatus.

【図8】従来のマグネトロン型表面処理装置の例を示す
断面図である。
FIG. 8 is a sectional view showing an example of a conventional magnetron type surface treatment apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 真空容器 1A,1B 真空容器両側部分 2 放電用電極 3 絶縁物 4 磁気回路 5 基板保持機構 6 被処理基板 7 排気機構 8 ガス導入機構 401,402 リング状永久磁石 501,502,502 磁界(磁力線) DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Vacuum container 1A, 1B Both sides of a vacuum container 2 Discharge electrode 3 Insulator 4 Magnetic circuit 5 Substrate holding mechanism 6 Substrate to be processed 7 Evacuation mechanism 8 Gas introduction mechanism 401,402 Ring-shaped permanent magnet 501,502,502 Magnetic field (magnetic field lines) )

フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−315096(JP,A) 特開 平5−129094(JP,A) 特開 平2−222532(JP,A) 特開 昭62−203328(JP,A) 特開 昭62−147733(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/3065 C23C 16/509 C23F 4/00 H01L 21/205 Continuation of front page (56) References JP-A-5-315096 (JP, A) JP-A-5-129094 (JP, A) JP-A-2-222532 (JP, A) JP-A-62-203328 (JP) , A) JP-A-62-147733 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) H01L 21/3065 C23C 16/509 C23F 4/00 H01L 21/205

Claims (10)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 周面部を有する金属製真空容器と、この
真空容器内を減圧状態にする排気機構と、前記真空容器
内に放電用ガスを導入するガス導入機構と、前記ガスを
放電させプラズマを発生させるため筒形放電用電極と、
この筒形放電用電極にプラズマ発生用電力を供給する電
供給機構と、前記筒形放電用電極の周囲に設置される
磁気回路と、前記真空容器内に設置される少なくとも1
つの基板保持機構を備える表面処理装置において、前記筒形放電用電極は前記電力供給機構から高周波電力
を供給されかつ前記真空容器は接地電位に保持されて他
方の電極部として利用され、 前記筒形放電用電極と前記真空容器の前記周面部とは同
軸的な位置関係に配置され、かつ、前記筒形放電用電極
は、前記真空容器の前記周面部の径と同じ大きさの径で
あって前記周面部の一部として用いられ、または、前記
真空容器の前記周面部の径よりも小さい径であって前記
周面部の内部に設置され、 前記磁気回路は前記筒形放電用電極と前記真空容器の前
記周面部に対し同軸位置であって間隔をおいて並べられ
た複数のリング状永久磁石からなり、各々の前記リング
状永久磁石は隣合う磁極の極性が互いに逆になるように
径方向に着磁され、 前記複数のリング状永久磁石のう
ち少なくとも隣合う2個の前記リング状永久磁石が前記
筒形放電用電極の周囲に配置され、かつその他の前記
ング状永久磁石が前記基板支持機構の前面空間に対応さ
せて前記真空容器の前記周面部の周囲に配置され、前記筒形放電用電極の周囲に配置された前記リング状永
久磁石が前記筒形放電用電極の内部にて前記筒形放電用
電極の内面に沿ってプラズマの電子を閉じ込めて当該プ
ラズマを生成するための磁力線を生成し、前記真空容器
の前記周面部に配置された前記リング状永久磁石が前記
周面部に沿って前記プラズマ中の荷電粒子の内壁面衝突
を防ぐための磁力線を生成し、 前記基板保持機構の被処理基板を設置する面が、前記磁
気回路の端部の近傍にて前記筒形放電用電極の中心軸に
対し垂直に配置される、 ことを特徴とする表面処理装置。
1. A vacuum vessel made of metal having a peripheral surface portion, an exhaust mechanism for reducing the pressure in the vacuum vessel, a gas introduction mechanism for introducing a discharge gas into the vacuum vessel, and a plasma for discharging the gas. a cylindrical Katachiho conductive electrodes for generating,
A power supply for supplying power for plasma generation to this cylindrical discharge electrode
A power supply mechanism, a magnetic circuit provided around the cylindrical discharge electrode, and at least one magnetic circuit provided in the vacuum vessel.
In the surface treatment apparatus having two substrate holding mechanisms, the cylindrical discharge electrode is supplied with the high frequency power from the power supply mechanism.
And the vacuum vessel is held at ground potential and
The cylindrical discharge electrode and the peripheral surface of the vacuum vessel are the same.
An axially arranged positional relationship, and said cylindrical discharge electrode
Is a diameter of the same size as the diameter of the peripheral surface portion of the vacuum vessel
And used as a part of the peripheral surface, or
A diameter smaller than the diameter of the peripheral surface of the vacuum vessel,
The magnetic circuit is installed inside the peripheral portion, and the magnetic circuit is in front of the cylindrical discharge electrode and the vacuum vessel.
It is composed of a plurality of ring-shaped permanent magnets arranged coaxially and spaced apart from each other on the circumferential surface , and each of the ring-shaped permanent magnets is attached in the radial direction so that the polarities of adjacent magnetic poles are opposite to each other. At least two adjacent ring-shaped permanent magnets of the plurality of ring-shaped permanent magnets are magnetized.
Disposed around the cylindrical discharge electrode, and the other of the Li
Ring-shaped permanent magnets correspond to the front space of the substrate support mechanism.
The ring-shaped permanent magnet is disposed around the peripheral surface of the vacuum vessel, and is disposed around the cylindrical discharge electrode.
A magnet for the cylindrical discharge inside the cylindrical discharge electrode
The plasma electrons are confined along the inner surface of the
Generating magnetic field lines for generating plasma, the vacuum vessel
The ring-shaped permanent magnet arranged on the peripheral surface portion of the
Internal wall collision of charged particles in the plasma along the peripheral surface
Generate a line of magnetic force to prevent, the surface on which the substrate to be processed of the substrate holding mechanism is installed, is disposed perpendicular to the center axis of the cylindrical discharge electrode near the end of the magnetic circuit, A surface treatment apparatus characterized by the above-mentioned.
【請求項2】 請求項1記載の表面処理装置において、
前記筒形放電用電極が、その両側にて、前記真空容器の
前記周面部との間でリング状絶縁物を介設することによ
って真空封止を維持しつつ前記真空容器の前記周面部の
一部として設けられ、両側の前記周面部がそれぞれ接地
されていることを特徴とする表面処理装置。
2. The surface treatment apparatus according to claim 1, wherein
The cylindrical discharge electrode, on both sides, of the vacuum vessel
Wherein provided as a part of the peripheral surface of the vacuum vessel while maintaining a vacuum seal by interposed a ring-shaped insulator between the peripheral surface, the peripheral surface of both sides grounded
Surface treatment apparatus characterized by being.
【請求項3】 請求項1記載の表面処理装置において、
前記筒形放電用電極は、前記真空容器の内部に、前記真
空容器の前記周面部との間で隙間をあけて前記真空容器
に対して同軸的に配置され、かつ両端が開放された筒形
の形状を有し、前記筒形放電用電極の周囲に配置される
前記リング状永久磁石は前記真空容器の前記周面部の外
側に配置されることを特徴とする表面処理装置。
3. The surface treatment apparatus according to claim 1, wherein
The cylindrical discharge electrode is inside the vacuum container, the coaxially disposed with respect to the vacuum vessel with a gap between the peripheral surface of the vacuum container, and cylindrical with both ends open shape have a of, are disposed around the cylindrical discharge electrode
The ring-shaped permanent magnet is located outside the peripheral surface of the vacuum vessel.
A surface treatment apparatus, which is disposed on a side .
【請求項4】 請求項3記載の表面処理装置において、
前記真空容器と前記筒形放電用電極との間に前記筒形
電用電極を取り囲む他の筒形電極が同軸的に配置され、
前記筒形電極の軸方向の長さは前記筒形放電用電極の軸
方向の長さよりも長く、前記筒形電極は浮遊電位に保持
され、また前記磁気回路の各リング状永久磁石は、前記
真空容器の前記周面部の周囲の代わりに、前記筒形電極
の周囲に配置されることを特徴とする表面処理装置。
4. The surface treatment apparatus according to claim 3, wherein
The vacuum container and other tubular electrode surrounding said cylindrical discharge <br/> conductive electrode between the cylindrical discharge electrode is disposed coaxially,
The axial length of the cylindrical electrode is longer than the axial length of the cylindrical discharge electrode, the cylindrical electrode is held at a floating potential, and each ring-shaped permanent magnet of the magnetic circuit is
A surface treatment apparatus characterized by being arranged around the cylindrical electrode instead of around the peripheral surface of the vacuum vessel .
【請求項5】 請求項4記載の表面処理装置において、
前記筒形放電用電極の周囲に相当する箇所に配置される
前記リング状永久磁石を、前記筒形放電用電極と前記筒
形電極の間の空間を利用して配置したことを特徴とする
表面処理装置。
5. The surface treatment apparatus according to claim 4, wherein
Surface, characterized in that said ring-shaped permanent magnets arranged at a position corresponding to the periphery of the cylindrical discharge electrode was disposed by utilizing the space between the cylindrical electrode and the cylindrical discharge electrode Processing equipment.
【請求項6】 請求項4または5記載の表面処理装置に
おいて、前記筒形放電用電極を軸方向の長さが等しくか
つ径の異なる2つの部分からなる筒形部材で形成し、
リング状永久磁石を2つ以上用いて構成する他の磁気
回路を前記筒形放電用電極の径の小さい部分の周囲に配
置したことを特徴とする表面処理装置。
6. A surface treatment apparatus according to claim 4 or 5, wherein, to form said cylindrical discharge electrode in cylindrical member consisting of two parts having different equal and diameters of the axial length, before
Surface treatment apparatus, wherein a further magnetic circuit constituting a serial ring-shaped permanent magnet with two or more arranged around the small portion of the diameter of the cylindrical discharge electrode.
【請求項7】 請求項6記載の表面処理装置において、
前記筒形放電用電極は、径の異なる前記部分を交互に並
べて蛇腹形状に形成されていることを特徴とする表面処
理装置。
7. The surface treatment apparatus according to claim 6, wherein
The surface treatment apparatus, wherein the cylindrical discharge electrode is formed in a bellows shape by alternately arranging the portions having different diameters.
【請求項8】 請求項4または5記載の表面処理装置に
おいて、前記筒形放電用電極を内部電極と外部電極から
なる内外二重構造とし、前記内部電極と前記外部電極と
の間に前記リング状永久磁石を配置したことを特徴とす
る表面処理装置。
8. The surface treatment apparatus according to claim 4 or 5, wherein the inner and outer double structure formed of the cylindrical discharge electrode from the internal electrodes and the external electrodes, the ring between the inner electrode and the outer electrode Surface treatment device characterized by disposing permanent magnets.
【請求項9】 請求項8記載の表面処理装置において、
前記外部電極と前記筒形電極との間には放電が発生する
十分な隙間が形成されることを特徴とする表面処理装
置。
9. The surface treatment apparatus according to claim 8, wherein
A surface treatment apparatus, wherein a sufficient gap where discharge occurs is formed between the external electrode and the cylindrical electrode.
【請求項10】 請求項8または9記載の表面処理装置
において、前記筒形放電用電極に配置された前記リング
状永久磁石と、前記筒形電極における前記筒形放電用電
極に対応する箇所に配置された前記リング状永久磁石と
の対向部分の磁極が同極であることを特徴とする表面処
理装置。
10. A surface treatment apparatus according to claim 8 or 9, wherein said ring-shaped permanent magnets arranged on the cylindrical discharge electrode, the portion corresponding to the cylindrical discharge electrode in the cylindrical electrode A surface treatment apparatus, wherein a magnetic pole at a portion facing the arranged ring-shaped permanent magnet has the same polarity.
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