JP3224885B2 - 集積回路装置及びその設計方法 - Google Patents
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Description
を実現する集積回路装置に関し、特にゲートアレイ設計
方式により得られる集積回路装置及びその設計方法に関
する。
性能・機能の高い装置を短期に開発する要求はますます
加速されている。このような電子回路装置の短期開発の
鍵となる集積回路装置も、短期間で高性能・高機能なも
のを開発する必要がある。集積回路装置のうち、演算回
路・レジスタ回路・ロジック回路等の各種機能回路の組
合せにより高機能の演算を実現する回路(以下「ビット
スライス回路」と記す)の開発に際しては、動作速度等
高性能化の観点からカスタム設計あるいはセルベース設
計方式による実現が行われていた。
能なビットスライス回路に対しても、最近更なる開発期
間短縮の要求が出てきた。カスタム設計あるいはセルベ
ース設計方式によっては、かかる期間短縮の要求に応え
ることは容易ではない。
されたものであり、ビットスライス回路の集積度、動作
速度、速度均一性を損なうことなく、その開発期間を短
縮しうるビットスライス回路及びその設計方法を提供す
ることを目的とする。
路装置は、複数のビットスライスセルを備える。そして
ビットスライスセルの各々は、所定の機能を実現するた
めの機能回路を少なくとも一つ有する。そして機能回路
はその属するビットスライスセルの各々において、少な
くとも一つの行に並んで配置され、互いに配線される。
ビットスライスセルの少なくとも一つにおいて、機能回
路は複数の行に並んで配置されることができる。
おいて、機能回路は一つの行に並んで配置される。
能回路が機能回路ブロックを形成し、機能回路ブロック
毎に、機能回路が一つの列に並んで配置される。
れぞれ必要なクロックドライバを更に備え、ビットスラ
イスセルが配置される第1の領域と、第1の領域以外の
第2の領域と、に区分され、第2の領域にクロックドラ
イバを配置することができる。
トスライスセルが配置される第1の領域と、第1の領域
とは異なる第2の領域と、に区分される。そして接続配
線と、接続配線によって機能回路と接続され、接続配線
の総長が最短となるように第2の領域に配置された記憶
回路と、を更に備える。
の第1の態様は、(a)所定の処理を行う集積回路につ
いての論理設計を行って、論理設計回路を求める工程
と、(b)論理設計回路を所定の処理の処理単位毎に分
割し、各々が所定の機能を実現するための機能回路を少
なくとも一つ有する、複数のビットスライスセルを求め
る工程と、(c)所定の領域を特定する工程と、(d)
所定の領域において、ビットスライスセルを概並行に配
置する工程と、(e)機能回路の間の配線を決定する工
程と、を備える。
の第2の態様は、(a)所定の処理を行う集積回路につ
いての論理設計を行って、論理設計回路を求める工程
と、(b)論理設計回路を分割し、各々が同種の機能を
実現するための機能回路を少なくとも一つ有する、複数
の機能回路ブロックを求める工程と、(c)所定の領域
を特定する工程と、(d)所定の領域を、所定の処理の
処理単位に分割してビット領域を求める工程と、(e)
ビット領域の複数に跨がって機能回路ブロックを配置す
る工程と、(f)機能回路の間の配線を決定する工程
と、を備える。
能回路ブロックを所定の処理の処理単位に分割する工程
を備える。そして工程(e)は、(e−1)処理単位に
従って、ビット領域の各々に機能回路を配置する工程を
備える。
の第3の態様は、(a)所定の処理を行う集積回路につ
いての論理設計を行って、論理設計回路を求める工程
と、(b)論理設計回路を分割し、各々が所定の機能を
実現するための機能回路に分割する工程と、(c)所定
の領域を特定する工程と、(d)所定の領域を、所定の
処理の処理単位に分割してビット領域を求める工程と、
(e)ビット領域に機能回路を配置する工程と、(f)
機能回路の間の配線を決定する工程と、を備える。
の第4の態様は、(a)所定の範囲を特定する工程と、
(b)所定の範囲の縁において接続端子を配置する工程
と、(c)所定の範囲において、各々が所定の機能を実
現するための機能回路を少なくとも一つ有する、複数の
ビットスライスセルを概並行に配置する工程と、(d)
ビットスライスセルの各々において、機能回路を配置す
る工程と、(e)機能回路の間の配線を決定する工程
と、を備える。
トスライスセルの各々において処理に供されるデータが
伝搬する。
法においては、データが処理単位毎に伝搬する伝搬経路
が概平行に配置される。
予めこの発明の基本的な思想について説明する。ビット
スライス回路の早期開発実現のためには、ゲートアレイ
設計方式による実現が考えられる。しかしその際、ビッ
トスライス回路を構成する各論理回路は集積回路装置上
に分散されるように配置され、その結果大きな負荷容量
が付加される配線が実現されてしまうことがある。即ち
単にゲートアレイ設計方式を適用するだけでは、集積度
向上・動作速度向上・速度均一化等の高性能化を常に実
現するのが困難な場合がある。
適用してビットスライス回路を開発する際の開発フロー
を例示する。従来のゲートアレイ設計方式を単にビット
スライス回路の開発に適用すれば、論理設計(ステップ
S71)の終了後、直ちに配置配線の工程(ステップS
72)が行われる。そして初期の仕様で指定された性能
が満たされるまで配置配線の工程が繰り返して行われ
る。このようなフローでは、初期の回路仕様が満たされ
るまで配置配線が繰り返されるために開発期間が長期化
してしまう。
られるビットスライス回路を例示する。集積回路装置1
の内部にビットスライス回路6が配置されており、ビッ
トスライス回路6は演算回路2a〜2c、レジスタ回路
3a〜3c,4a〜4c、ロジック回路5a〜5cを備
えている。これら各種の機能回路は、それぞれ機能回路
ブロック7a,7b,7c,7dに属している。
れるデータの伝搬経路は、3a−2a−5a−4a、3
b−2b−5b−4b、3c−2c−5c−4cの3種
あり、これらはそれぞれ演算の各ビットに対応する。図
42ではビットスライス回路6は3ビット分の伝搬経路
を有していることになり、3ビットのビットスライス回
路である(同様にデータの伝搬経路がn系統ある回路構
成の場合には、nビットのビットスライス回路というこ
とになる。)。
うちの一つのビット(ビットスライス回路における処理
の単位)は、レジスタ回路3aで保持され、図示しない
クロック信号により演算回路2aに転送される。そこで
演算を施されたデータは、次にレジスタ4aに保持さ
れ、クロック信号によりロジック回路5aに転送され
る。ここでデータは論理処理され、ビットスライス回路
6から出力される。ビットスライス回路6に入力したデ
ータのうちの他のビットは、上述の伝搬経路に沿って、
同様の処理を受けてビットスライス回路6から出力され
る。
て得られるビットスライス回路6は以上のように構成さ
れ、ビットスライス回路6を構成する各機能回路は集積
回路装置1上で分散されるように配置される場合があ
る。この結果それらの機能回路間の配線長は増大し、集
積度の低下や遅延時間の増大をもたらすおそれがある。
御信号を保持する記憶回路8が混載されるコア回路10
を得るのに、従来のゲートアレイ設計方式を単に適用し
た場合の集積回路装置1を例示する。ビットスライス回
路6の入力端子11a〜11iはそれぞれ記憶回路8の
出力端子8a〜8iに接続され、記憶回路8に保持され
た制御信号を入力する。ビットスライス回路6内部での
演算の実行は、この制御信号によって制御される。コア
回路10においても、記憶回路8とビットスライス回路
6は分散されるように配置される場合があり、入力端子
11a〜11iと出力端子8a〜8iとを接続する配線
長は増大し、集積度の低下や遅延時間の増大をもたらす
おそれがある。
に行うためにゲートアレイ設計方式を適用しつつ、集積
度や遅延時間を劣化させないことが必要となる。このた
め、この発明における配置配線は、機能回路の配置され
る位置を考慮して決定される。
回路は、機能回路を伝搬経路毎(即ち処理単位毎)にま
とめたビットスライスセルを単位として配置され、ビッ
トスライスセルの内部で集積度や速度の最適化を図った
うえで、ビットスライス回路を構成することを基本的思
想とするものである。
施例: (B−1)第1実施例:図1はこの発明の第1実施例に
かかるビットスライス回路を示すブロック図である。各
機能回路は伝搬経路ごとに一つの行に沿って配置され、
ビットスライスセルを構成している。例えば、レジスタ
回路3a、演算回路2a、レジスタ回路4a、ロジック
回路5aは、これらをこの順に結ぶ伝搬経路に対応する
ビットスライスセル12aを構成している。同様にし
て、演算回路2b、レジスタ回路3b,4b、ロジック
回路5bはビットスライスセル12bを、演算回路2
c、レジスタ回路3c,4c、ロジック回路5cはビッ
トスライスセル12cを、それぞれ構成している。ビッ
トスライスセル12a〜12cは一つの方向に並んで配
置されている。
しか記載していないが、所望とする機能を達成するため
に、更に多くのビットスライスセルを備える構成に拡張
することが可能である。
ットスライスセルを単位として構成し、各ビットスライ
スセル毎に機能回路を並べて集積度を向上させ、動作速
度を均一化させることができる。よって、配置配線を実
施することによりビットスライス回路全体でも集積度を
向上させ、動作速度を均一化させることができる。よっ
てゲートアレイ設計方式を適用して開発しても、これら
の性能を損なうことなく、短期にビットスライス回路を
開発することが可能となる。
路をどのビットの演算に供させるか、即ちどのビットス
ライスセルへ配置するかを特定できない場合がある。こ
のような場合に該当する機能回路をも、ビットスライス
セルを単位としてビットスライス回路を構成した後でい
ずれかのビットスライスセルへ配置することで、この実
施例を適用することができる。
第2実施例にかかるビットスライス回路を示すブロック
図である。第1実施例と同様にして各機能回路は伝搬経
路ごとに一つの行に沿って配置され、ビットスライスセ
ル12a〜12cを構成している。各ビットスライスセ
ル12a〜12c内部の機能回路の配置配線位置は、こ
れらのビットスライスセルに跨がって統一されている。
理という同種の機能を有する演算回路2a〜2cから構
成されるが、ビットスライスセル12a〜12cにほぼ
直交して配置されている。このため、異なるビットスラ
イスセルに跨る演算回路2a〜2c間の配線は概ね一直
線状となる。同様にして、データ保持という同種の機能
を有するレジスタ回路3a〜3cから構成される機能回
路ブロック7b、レジスタ回路4a〜4cから構成され
る機能回路ブロック7c、データの論理処理という同種
の機能を有するロジック回路5a〜5cから構成される
機能回路ブロック7dも、ビットスライスセル12a〜
12cにほぼ直交して配置されている。
回路の配置配線位置の均一化を図って構成されたビット
スライス回路では、同種の機能を有する機能回路間の配
線、即ち機能回路ブロック毎の配線がほぼ直線状となっ
て簡略化され、機能回路ブロックの集積度を向上させる
ことができる。よってビットスライス回路の集積度も向
上させることができる。
の第3実施例を示すブロック図である。ビットスライス
回路6の動作に必要とされるクロック信号に用いるクロ
ックドライバ14a〜14eが、ビットスライス回路6
の外の周辺に設けられる。
eをビットスライス回路6の外に設けることにより、ビ
ットスライス回路6の内部領域の集積度は向上する。ビ
ットスライス回路6の外の周辺であるならば、破線で示
すようにクロックドライバ14a〜14eをビットスラ
イス回路6の下側に設けることもできる。
2a〜12dで用いるクロック信号にそれぞれ必要なク
ロックドライバ15a〜15dにこの実施例を適用する
ことができる。この場合には、各ビットスライスセル内
部の集積度が向上する。
〜7dで用いるクロック信号にそれぞれ必要なクロック
ドライバ13a〜13dにこの実施例を適用することが
できる。この場合には、各機能回路ブロック内部の集積
度が向上する。
ス回路の集積度を向上させることができる。
例では、ビットスライス回路6において、横方向の一つ
の行にビットスライスセルを一つ配置した場合について
説明した。しかし、ビットスライスセルは、横方向2行
にわたってビットスライスセル1つを分割して配置する
こともできる。
トスライス回路のビットスライスセルを示す概念図であ
る。分割前のビットスライスセル12は横方向の一つの
行に配置されている。これを適宜分割して半分のビット
スライスセル121,122とし、これらを縦方向に並
べて、2つの行に1ビット分のビットスライスセルを配
置することによって、ビットスライス回路領域の形状に
自由度をもたせることができる。
の形状も自由度を持つことになる。よって、集積回路1
を設計する際に、ビットスライス回路6を配置すべき領
域以外に配置される回路との整合性がよくなり、回路の
冗長性が減少し、集積度を向上させることができる。
動配線の敷設について:第1乃至第4実施例ではビット
スライス回路6に設けられる機能回路2a〜2c,3a
〜3c,4a〜4c,5a〜5cの駆動に必要な駆動配
線の敷設については、以下の態様を適用することができ
る。
動に必要な電力を供給する電源配線16である場合の電
源配線の敷設の態様を示す概念図である。
スライス回路6を配置する領域の外の周辺にリング状に
敷設されることができる。このように構成することによ
り、ビットスライス回路6内部の集積度は向上し、かつ
安定した電力の供給が行われ、ビットスライス回路6の
安定な動作及びそれに伴う動作速度向上が達成される。
源を供給するに際しては、ビットスライス回路6内に電
源配線16と接続された電源幹線を敷設することもでき
る。
アレイのマスタで指定されている電源配線位置19に合
わせて敷設した場合を、また図9は、電源幹線18a〜
18cをゲートアレイのマスタで指定されている電源配
線位置19に合わせずに敷設した場合を、それぞれ示
す。このように、ビットスライス回路6内の機能回路の
駆動に必要な電力を供給する電源幹線18a〜18c
を、ゲートアレイのマスタで指定されている電源配線位
置19にかかわらずに敷設することにより、ビットスラ
イス回路6内部領域の集積度を損なわずに安定した電力
の供給を行うことができる。よって、ビットスライス回
路6の安定な動作及びそれに伴う動作速度向上を達成す
ることができる。
の駆動に必要なクロックを供給するクロック配線17で
ある場合のクロック配線の敷設の態様を示す概念図であ
る。
ビットスライス回路6を配置する領域の外の周辺にリン
グ状に敷設されることができる。このように構成するこ
とにより、ビットスライス回路6内部の集積度は向上
し、かつ安定したクロックの供給が行われ、ビットスラ
イス回路6の安定な動作及びそれに伴う動作速度向上が
達成される。
ロックを供給するに際しては、ビットスライス回路6内
にクロック配線17と接続されたクロック幹線を敷設す
ることもできる。
ゲートアレイのマスタで指定されているクロック配線位
置21に合わせて敷設した場合を、また図12は、クロ
ック幹線20a〜20cを、ゲートアレイのマスタで指
定されているクロック配線位置21に合わせずに敷設し
た場合を、それぞれ示す。このように、ビットスライス
回路6内の機能回路の駆動に必要なクロックを供給する
クロック幹線20a〜20cをゲートアレイのマスタで
指定されているクロック配線位置21にかかわらずに敷
設することにより、ビットスライス回路6内部領域の集
積度を損なわずに安定したクロックの供給を行うことが
できる。よって、ビットスライス回路6の安定な動作及
びそれに伴う動作速度向上を達成することができる。
は、この発明の第5実施例であるコア回路10の構成を
例示するブロック図である。コア回路10は、記憶回路
たるROM28とビットスライス回路6とから構成され
ており、集積回路装置1内に設けられている。
うな構成をとり、配線を簡略化してビットスライス回路
6内部の高速化を図っても、これと接続されるROM2
8との間の配線が長い場合には、その効果は減殺され
る。このため、第5実施例では、両者を接続する配線が
最も短くなるように、ROM28とビットスライス回路
6とを集積回路装置1において配置する。
a〜9iからなる端子群91を、ビットスライス回路6
は入力端子11a〜11iからなる端子群111を、そ
れぞれ備えている。出力端子9a〜9iと入力端子11
a〜11iとは、それぞれ互いに配線群31によって接
続されている。
線群31の備える配線の総長が最も短くなるように配置
される。このため、ビットスライス回路6の高速動作は
ROM28との接続によって著しく減殺されることはな
い。即ち遅延時間の短縮が可能となる。また、コア回路
10の集積度を向上させることもできる。
6の上部に並べて配置する場合を図示したが、配線群3
1の備える配線の総長が最短となるならば下部に並べて
配置することも可能である。
8が出力端子9a〜9iの一つの方向への配列で構成さ
れた端子群92を備え、ビットスライス回路6が入力端
子11a〜11iの一つの方向への配列で構成された端
子群112を備える場合には、端子群92,112を互
いに向かい合わせる態様で配置する。これにより、両者
を接続する配線群32の備える配線の総長をより一層短
くし、ビットスライス回路6における高速動作を効果的
に集積回路装置1の高速化に寄与させることができる。
れる入力端子及び出力端子が向かい合わせとなるように
ROM28とビットスライス回路6を配置すれば、両者
を接続する配線群33の備える配線の総長は一層短くな
り、好ましい。
電源配線の敷設についても、(B−5)で示された態様
を適用することができる。
供給する電源配線24の敷設の態様を示す概念図であ
る。
M28を配置する領域の外の周辺にリング状に敷設され
ることができる。このように構成することにより、RO
M28内部の集積度は向上し、かつ安定した電力の供給
が行われ、ROM28の安定な動作及びそれに伴う動作
速度向上が達成される。
るに際しては、ROM28内に電源配線24と接続され
た電源幹線を敷設することもできる。
ートアレイのマスタで指定されている電源配線位置19
に合わせて敷設した場合を、また図18は、電源幹線2
5a〜25cをゲートアレイのマスタで指定されている
電源配線位置19に合わせずに敷設した場合を、それぞ
れ示す。このように、ROM28内の機能回路の駆動に
必要な電力を供給する電源幹線25a〜25cをゲート
アレイのマスタで指定されている電源配線位置19にか
かわらずに敷設することにより、ROM28内部領域の
集積度を損なわずに安定した電力の供給を行うことがで
きる。よって、ROM28の安定な動作及びそれに伴う
動作速度向上を達成することができる。
LAを用いる構成も可能である。
るPLA29とビットスライス回路6とでコア回路10
を構成している。
9は出力端子9j〜9rからなる端子群93を、ビット
スライス回路6は入力端子11a〜11iからなる端子
群111を、それぞれ備えている。出力端子9j〜9r
と入力端子11a〜11iとは、それぞれ互いに配線群
31によって接続されている。
線群31の備える配線の総長が最も短くなるように配置
される。このため、ビットスライス回路6の高速動作は
PLA29との接続によって著しく減殺されることはな
い。また、PLA29は、ビットスライス回路6の上部
に並べて配置する場合を図示したが、配線群31の備え
る配線の総長が最短となるならば下部に並べて配置する
ことも可能である。
9が出力端子9j〜9rの一つの方向への配列で構成さ
れた端子群94を備え、ビットスライス回路6が入力端
子11a〜11iの一つの方向への配列で構成された端
子群112を備える場合には、図14と対応して端子群
94,112を互いに向かい合わせる態様で配置する。
これにより、両者を接続する配線群32の備える配線の
総長をより一層短くする。更に、図21に示されるよう
に、互いに接続される入力端子及び出力端子が向かい合
わせとなるようにPLA29とビットスライス回路6を
配置すれば、図15を用いて説明したのと同様に、両者
を接続する配線群33の備える配線の総長は一層短くな
り、好ましい。
電源配線の敷設についても、(B−5)で示された態様
を適用することができる。
供給する電源配線26の敷設の態様を示す概念図であ
り、図7乃至図9、または図16乃至図18に対応して
いる。
A29を配置する領域の外の周辺にリング状に敷設され
ることができる。また、図23及び図24に示すよう
に、PLA29内に、電源配線26と接続された電源幹
線27a〜27cを敷設することもできる。
トアレイのマスタで指定されている電源配線位置19に
合わせて敷設した場合を、また図24は、電源幹線27
a〜27cをゲートアレイのマスタで指定されている電
源配線位置19に合わせずに敷設した場合を、それぞれ
示す。このように敷設することにより、PLA29内部
領域の集積度を損なわずに安定した電力の供給を行うこ
とができる。よって、PLA29の安定な動作及びそれ
に伴う動作速度向上を達成することができる。
る実施例:以下では、第1乃至第5実施例で説明された
ビットスライス回路をCADにおいて設計する方法につ
いて説明する。
明の第6実施例にかかるビットスライス回路の設計方法
を示すフローチャートである。また、図26乃至図27
は、第6実施例にかかるビットスライス回路の設計方法
を説明する概念図である。
得るのにビットスライス回路に要求される論理の設計を
行う。次にステップS12により、設計されたビットス
ライス回路全体をビットスライスセルへ分割する。図2
6は論理設計上でのビットスライス回路100を示す。
論理設計上でのビットスライス回路100は、ビットス
ライスセル12a,12b,12cに分割され、その各
々は、種々の機能回路を備えている。
ライス回路を構成すべき領域60において、論理設計上
でのビットスライス回路100をどのように配置するか
をビットスライスセルに関して決定する。図27はビッ
トスライス回路を構成すべき領域60において、ビット
スライスセル12a,12b,12cのそれぞれが固定
されるべき領域12A,12B,12Cを示す。
ライスセル12a,12b,12cのそれぞれにおいて
機能回路ブロックが配置され、また全体にわたって配線
位置が決定されることにより、図1乃至図2に示された
第1または第2実施例のビットスライス回路6を設計す
ることができる。即ち第6実施例では、ゲートアレイ設
計方式によって第1または第2実施例のビットスライス
回路を設計することができ、開発期間が短縮される。し
かもビットスライスセルを並べて配置し、ビットスライ
ス回路のビット毎に機能回路が配置されているので、集
積度、動作速度、速度均一性を損なうこともない。
明の第7実施例にかかるビットスライス回路の設計方法
を示すフローチャートである。また、図29乃至図30
は、第7実施例にかかるビットスライス回路の設計方法
を説明する概念図である。
により、所望の機能を得るのにビットスライス回路に要
求される論理の設計を行う。次にステップS22によ
り、最初のビットスライスセルの配置配線を決定する。
図29はビットスライスセル12aの配置配線が終了し
た段階を示す概念図である。
トスライスセルの配置配線を決定する。この際、ステッ
プS22においてなされたビットスライスセル12aの
配置配線の情報を用いて、配置配線の決定がなされる。
図30はビットスライスセル12bの配置配線が決定さ
れた段階を示す概念図である。ビットスライスセル12
aにおける各種の機能回路3a,2a,4a,5aの配
置に揃えて、機能回路3b,2b,4b,5bが配置さ
れている。このようにして、その後ビットスライスセル
12cについてもビットスライスセル12aにおける各
種の機能回路3a,2a,4a,5aの配置に揃えて機
能回路3c,2c,4c,5cを配置することができ
る。
ライス回路全体での配線を決定することにより、第2実
施例において示されたビットスライス回路6を設計する
ことができる。換言すると、第7実施例では、ゲートア
レイ設計方式によって第2実施例のビットスライス回路
を設計することができ、開発期間を短縮することができ
る。また、第6実施例と同様に、ビットスライス回路の
ビット毎に機能回路が配置されているので、集積度、動
作速度、速度均一性を損なうこともない。
明の第8実施例にかかるビットスライス回路の設計方法
を示すフローチャートである。また、図32乃至図34
は、第8実施例にかかるビットスライス回路の設計方法
を説明する概念図である。
により、所望の機能を得るのにビットスライス回路に要
求される論理の設計を行う。図32は論理設計上でのビ
ットスライス回路100を示す。論理設計上でのビット
スライス回路100は、機能回路ブロック7a,7b,
7c,7dに分割され、その各々は、同種の機能回路を
備えている。
ス回路を構成すべき領域60において、論理設計上での
ビットスライス回路100をどのように配置するかをビ
ットスライスセルに関して決定する。図33はビットス
ライス回路を構成すべき領域60において、ビットスラ
イスセル12a,12b,12cのそれぞれが固定され
るべき領域12A,12B,12Cを示す。
ス回路の配置配線を、機能回路ブロック毎に決定する。
図34は、ビットスライス回路を構成すべき領域60に
おいて、機能回路ブロック7a,7b,7c,7dのそ
れぞれが配置されるべき領域7A,7B,7C,7Dを
示した概念図である。図34においては、機能回路ブロ
ック7bが領域7Bに配置されたところを示している。
dが配置され、ステップS34によってビットスライス
回路全体の配線が決定されて、ビットスライス回路6の
設計が終了する。
7Dの形状によって、第1または第2実施例において示
されたビットスライス回路6をゲートアレイ設計方式に
よって得ることができ、第6実施例と同様の効果を得る
ことができる。
明の第9実施例にかかるビットスライス回路の設計方法
を示すフローチャートである。また、図36乃至図37
は、第9実施例にかかるビットスライス回路の設計方法
を説明する概念図である。
により、所望の機能を得るのにビットスライス回路に要
求される論理の設計を行う。図36は論理設計上でのビ
ットスライス回路100を示す。論理設計上でのビット
スライス回路100は、機能回路ブロック7a,7b,
7c,7dに分割され、その各々は、同種の機能回路を
備えている。次にステップS42により、機能回路ブロ
ックを、その構成している各機能回路毎に分割する。こ
の分割は、ビットスライスセルに対応するものである。
図36では、機能回路ブロック7bがレジスタ回路3
a,3b,3cに分割されている状態を示している。
ス回路を構成すべき領域60において、論理設計上での
ビットスライス回路100をどのように配置するかをビ
ットスライスセルに関して固定する。図37はビットス
ライス回路を構成すべき領域60において、ビットスラ
イスセル12a,12b,12cのそれぞれが固定され
るべき領域12A,12B,12Cを示す。
2で分割された各機能回路を領域12A,12B,12
Cに配置することにより、ビットスライス回路全体の配
置配線を決定する。図37には、レジスタ回路3a,3
b,3cを配置した状態を示してある。レジスタ回路3
a,3b,3cは、機能回路ブロック7bが配置される
べき領域7Bに配置されている。同様にして、機能回路
ブロック7a,7c,7dのそれぞれを構成する各機能
回路は、各々領域7A,7C,7Dに配置されるが、そ
の配置は各機能回路ブロック毎に行われる。
7Dの形状によって、第1または第2実施例において示
されたビットスライス回路6をゲートアレイ設計方式に
よって設計することができ、第6実施例と同様の効果を
得ることができる。
発明の第10実施例にかかるビットスライス回路の設計
方法を示すフローチャートである。また、図39は、第
10実施例にかかるビットスライス回路の設計方法を説
明する概念図である。
により、所望の機能を得るのにビットスライス回路に要
求される論理の設計を行う。そしてステップS52によ
り、論理設計上でのビットスライス回路の全体を各機能
回路へと分割する。図36は論理設計上でのビットスラ
イス回路100を各機能回路毎に分割した状態を示す。
論理設計上でのビットスライス回路100は、機能回路
ブロック7a,7b,7c,7dによって分割され、さ
らに機能回路ブロックはビット毎に、即ちビットセル1
2a,12b,12cごとに分割される。
域に配置し、配線を決定することによって、ビットスラ
イス回路全体の配置配線を決定する。この結果、第10
実施例では第1または第2実施例において示されたビッ
トスライス回路6をゲートアレイ設計方式によって設計
することができ、第6実施例と同様の効果を得ることが
できる。
発明の第11実施例にかかるビットスライス回路の設計
方法を示すフローチャートである。
により、所望の機能を得るのにビットスライス回路に要
求される論理の設計を行う。その後ビットスライス回路
の配置に先立ち、ステップS62においてビットスライ
ス回路に用いる入出力端子の配置を行う。この後、ステ
ップS63によってビットスライス回路の配置配線を決
定する。このようなフローを用いることにより、配置さ
れた入出力端子の位置を考慮して各機能回路の配置を行
うことができるので、第5実施例において、図14、図
15、図20、図21で示されたような構成のビットス
ライス回路6を設計することができる。
る集積回路装置によれば、機能回路間の配線長が不必要
に長くなることがなく、集積度の低下や遅延時間の増大
を回避することができる。
計方法によれば、ゲートアレイ設計方式を適用し、かつ
処理単位毎に機能回路を配置するので、この発明にかか
る集積回路装置を、短期に設計することができる。
ある。
ある。
ある。
ある。
ある。
ある。
線を説明する概念図である。
線を説明する概念図である。
線を説明する概念図である。
ック配線を説明する概念図である。
ック配線を説明する概念図である。
ック配線を説明する概念図である。
である。
である。
である。
明する概念図である。
明する概念図である。
明する概念図である。
である。
である。
である。
明する概念図である。
明する概念図である。
明する概念図である。
ートである。
る。
る。
ートである。
る。
る。
ートである。
る。
る。
る。
ートである。
る。
る。
ャートである。
ある。
ャートである。
ートである。
である。
である。
域 13a〜13d,14a〜14e,15a〜15d ク
ロックドライバ 28 ROM 29 PLA 31,32,33 接続配線
Claims (8)
- 【請求項1】 複数のビットスライスセルを備え、 前記ビットスライスセルの各々は、所定の機能を実現す
るための機能回路を少なくとも一つ有し、 前記機能回路はその属する前記ビットスライスセルの各
々において一つの行に並んで配置され、互いに配線さ
れ、 同種の機能を実現する前記機能回路は機能ブロックを形
成し、 前記機能ブロック毎に、前記機能回路が一つの列に並ん
で配置され る集積回路装置。 - 【請求項2】 前記ビットスライスセルで用いるクロッ
ク信号にそれぞれ必要なクロックドライバを更に備え、 前記ビットスライスセルが配置される第1の領域と、前
記クロックドライバが配置される第2の領域と、に区分
される 請求項1記載の集積回路装置。 - 【請求項3】 前記集積回路装置は前記ビットスライス
セルが配置される第1の領域と、前記第1の領域とは異
なる第2の領域と、に区分され、 接続配線と、 前記接続配線によって前記機能回路と接続され、前記接
続配線の総長が最短となるように前記第2の領域に配置
された記憶回路と、 を更に備える 請求項1記載の集積回路装置。 - 【請求項4】 (a)所定の処理を行う集積回路につい
ての論理設計を行って、論理設計回路を求める工程と、 (b)前記論理設計回路を前記所定の処理の処理単位毎
に分割し、各々が所定の機能を実現するための機能回路
を少なくとも一つ有する、複数のビットスライスセルを
求める工程と、 (c)所定の領域を特定する工程と、 (d)前記所定の領域において、前記ビットスライスセ
ルを概並行に配置する工程と、 (e)前記機能回路の間の配線を決定する工程と、 を備える、集積回路装置の設計方法。 - 【請求項5】 (a)所定の処理を行う集積回路につい
ての論理設計を行って、論理設計回路を求める工程と、 (b)前記論理設計回路を分割し、各々が同種の機能を
実現するための機能回路を少なくとも一つ有する、複数
の機能回路ブロックを求める工程と、 (c)所定の領域を特定する工程と、 (d)前記所定の領域を、前記所定の処理の処理単位に
分割してビット領域を求める工程と、 (e)前記ビット領域の複数に跨がって前記機能回路ブ
ロックを配置する工程と、 (f)前記機能回路の間の配線を決定する工程と、 を備える、集積回路装置の設計方法。 - 【請求項6】 前記工程(b)は、 (b−1)前記機能回路ブロックを前記所定の処理の処
理単位に分割する工程 を備え、 前記工程(e)は、 (e−1)前記処理単位に従って、前記ビット領域の各
々に前記機能回路を配置する工程を備える、請求項5記
載の集積回路装置の設計方法。 - 【請求項7】 (a)所定の処理を行う集積回路につい
ての論理設計を行って、論理設計回路を求める工程と、 (b)前記論理設計回路を分割し、各々が所定の機能を
実現するための機能回路に分割する工程と、 (c)所定の領域を特定する工程と、 (d)前記所定の領域を、前記所定の処理の処理単位に
分割してビット領域を求める工程と、 (e)前記ビット領域に前記機能回路を配置する工程
と、 (f)前記機能回路の間の配線を決定する工程と、 を備える、 集積回路装置の設計方法。 - 【請求項8】 (a)所定の範囲を特定する工程と、 (b)前記所定の範囲の縁において接続端子を配置する
工程と、 (c)前記所定の範囲において、各々が所定の機能を実
現するための機能回路を少なくとも一つ有する、複数の
ビットスライスセルを概並行に配置する工程と、 (d)前記ビットスライスセルの各々において、前記機
能回路を配置する工程と、 (e)前記機能回路の間の配線を決定する工程と、 を備える、 集積回路装置の設計方法。
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