JP3223542B2 - Positioning method, exposure method, positioning apparatus, and exposure apparatus having the same - Google Patents

Positioning method, exposure method, positioning apparatus, and exposure apparatus having the same

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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体製造用露光装置
に関し、特に、試料台の位置制御を改良するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an exposure apparatus for manufacturing semiconductors, and more particularly to an improvement in position control of a sample stage.

【0002】[0002]

【従来の技術】投影レンズによりレチクル上の原画パタ
ーンを試料台(以下、X−Yステージまたはステージと
呼ぶ)のウエハ上に投影し、X−Yステージを露光位置
に移動させながら、ウエハ上に半導体チップを順次露光
する露光装置が知られている。図4は、この種の露光装
置のX−Yステージの駆動制御部を示すブロック図であ
る。ここでは、可動体としてのステージ1がガイド2上
を1次元に移動可能であるとする。ステージ1には、モ
ータ3によって回転駆動される送りねじ4と螺合する不
図示のナットが固定され、モータ3の正転,逆転によっ
てステージ1は往復移動する。このステージ1の移動量
または移動位置は、レーザ干渉計やエンコーダなどの測
長器5によって逐次検出される。位置制御器6は、ステ
ージ1の目標停止位置の指令値と測長器5からの位置情
報(ステージ1の現在位置)との差、すなわち位置ずれ
量を演算する機能を有し、電力増幅器を介して位置フィ
ードバック制御を行う。
2. Description of the Related Art An original image pattern on a reticle is projected onto a wafer on a sample stage (hereinafter referred to as an XY stage or stage) by a projection lens, and the XY stage is moved to an exposure position while being projected onto the wafer. 2. Related Art An exposure apparatus that sequentially exposes semiconductor chips is known. FIG. 4 is a block diagram showing a drive control unit of an XY stage of this type of exposure apparatus. Here, it is assumed that the stage 1 as a movable body can move one-dimensionally on the guide 2. A nut (not shown) screwed with a feed screw 4 rotationally driven by a motor 3 is fixed to the stage 1, and the stage 1 reciprocates as the motor 3 rotates forward and backward. The moving amount or moving position of the stage 1 is sequentially detected by a length measuring device 5 such as a laser interferometer or an encoder. The position controller 6 has a function of calculating a difference between a command value of a target stop position of the stage 1 and position information (current position of the stage 1) from the length measuring device 5, that is, a position shift amount. The position feedback control is performed through the control.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の露光装置では、所定の位置制御精度を得るた
め、予め位置制御器のループゲイン(制御ゲイン)が高
く設定されているので、ステージとガイドとの間の摩擦
や、送りねじとナットとの間の剛性などの機械的な条件
が変化すると、フィードバック制御系が不安定になるこ
とがある。このような制御不安定を避けるため、機械条
件の変動を予め想定して位置制御器の制御ゲインを低く
設定しておくことが考えられるが、そうすると位置制御
精度が悪くなったり、位置決めに要する時間が長くなる
という問題がある。
However, in the conventional exposure apparatus described above, the loop gain (control gain) of the position controller is previously set high in order to obtain a predetermined position control accuracy. If mechanical conditions such as friction between the feed screw and the rigidity between the feed screw and the nut change, the feedback control system may become unstable. In order to avoid such control instability, it is conceivable to set the control gain of the position controller low by assuming fluctuations in machine conditions in advance, but doing so will degrade position control accuracy or the time required for positioning. There is a problem that becomes longer.

【0004】本発明の目的は、必要に応じて位置制御系
の最適なループゲインを設定し、機械条件の変動があっ
てもステージを短時間で目標位置に正確に位置決め可能
な露光装置の位置決め制御装置を提供することにある。
An object of the present invention is to set an optimum loop gain of a position control system as required, and to position an exposure apparatus capable of accurately positioning a stage at a target position in a short time even when there are fluctuations in machine conditions. It is to provide a control device.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】一実施例の構成を示す図
1に対応づけて本発明を説明すると、請求項1の発明
は、マスクのパターンを感光基板に転写する露光装置に
設けられ、感光基板を保持して移動可能な試料台1と、
この試料台1を移動させる駆動手段3と、試料台1の位
置を検出する検出手段5と、試料台1の位置決め目標位
置と検出手段5の検出位置との位置ずれ量に基づいて駆
動手段3をフィードバック制御する位置制御手段6とを
備えた露光装置の位置決め制御装置に適用される。そし
て、所定時間ごとの位置ずれ量の平均値または中央値を
算出する第1の算出手段8と、所定時間ごとの位置ずれ
量の最小値と最大値との差を算出する第2の算出手段9
と、算出された平均値または中央値と差とに基づいて駆
動手段3を制御するための位置ずれ量に応じた信号のル
ープゲインを設定するゲイン設定手段11とを備え、こ
れにより、上記目的を達成する。また、請求項2の露光
装置の位置決め制御装置のゲイン設定手段11Aは、感
光基板の感光特性に対応してループゲインを変更する。
The present invention will be described with reference to FIG. 1 showing the configuration of one embodiment. The invention of claim 1 is provided in an exposure apparatus for transferring a pattern of a mask onto a photosensitive substrate, A sample stage 1 that can move while holding a photosensitive substrate;
Driving means 3 for moving the sample table 1, detecting means 5 for detecting the position of the sample table 1, and driving means 3 based on the amount of displacement between the target position for positioning the sample table 1 and the detected position of the detecting means 5. Is applied to a positioning control device of an exposure apparatus including a position control means 6 for feedback-controlling the position. Then, a first calculating means 8 for calculating an average value or a median of the positional deviation amounts for each predetermined time, and a second calculating means for calculating the difference between the minimum value and the maximum value of the positional deviation amounts for each predetermined time 9
And a gain setting means 11 for setting a loop gain of a signal according to the amount of displacement for controlling the driving means 3 based on the calculated average value or median value and the difference. To achieve. Further, the gain setting means 11A of the positioning control device of the exposure apparatus changes the loop gain according to the photosensitive characteristic of the photosensitive substrate.

【0006】[0006]

【作用】請求項1では、ゲイン設定手段11が、算出さ
れた平均値または中央値と差とに基づいて駆動手段3を
制御するための位置ずれ量に応じた信号のループゲイン
を設定し、位置制御手段6が、試料台1の位置決め目標
位置と検出手段5の検出位置との位置ずれ量に基づいて
駆動手段3をフィードバック制御する。
According to the first aspect, the gain setting means 11 sets a loop gain of a signal according to a positional deviation amount for controlling the driving means 3 based on the calculated average value or median value and the difference, The position control unit 6 performs feedback control of the driving unit 3 based on the amount of displacement between the positioning target position of the sample stage 1 and the detection position of the detection unit 5.

【0007】なお、本発明の構成を説明する上記課題を
解決するための手段および作用の項では、本発明を分り
やすくするために実施例の図を用いたが、これにより本
発明が実施例に限定されるものではない。
[0007] In the means and means for solving the above-mentioned problems which explain the configuration of the present invention, the drawings of the embodiments are used to facilitate understanding of the present invention. However, the present invention is not limited to this.

【0008】[0008]

【実施例】図1は、一実施例の構成を示すブロック図で
ある。なお、図4に示す従来装置と同じ機能,作用の部
材に対しては同符号を付してあり、ここでは相違点を中
心に説明する。なお図1では、レチクルRのパターンの
像を投影光学系PLを介してステージ1に載置されたウ
エハWに転写するように構成されている。8は平均値算
出部であり、上述した位置決めすべき目標位置、例えば
露光位置(すなわち投影光学系PLの光軸AXの位置)
またはアライメント位置などの指令値と測長器5にて検
出されるステージ1の現在位置との差である位置ずれ量
の所定時間ごとの平均値(または中央値でもよい)を算
出する。9はP−P値(最小値と最大値との差)算出部
であり、位置ずれ量の所定時間ごとのP−P値を算出す
る。10はタイマーであり、所定時間ごとに平均値算出
部8およびP−P値算出部9へタイミング信号を供給す
る。なお、このタイミング信号の発生時間間隔は、露光
時間に比べて十分に短い時間に設定する。平均値算出部
8およびP−P値算出部9は、このタイミング信号を受
信すると、前回のタイミング信号受信時から今回の受信
時までの位置ずれ量の平均値およびP−P値を算出す
る。11はゲイン調整部であり、平均値算出部8および
P−P値算出部9で算出された位置ずれ量の平均値およ
びP−P値に基づいて、位置制御器6の制御ゲインKを
設定する。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of one embodiment. Members having the same functions and functions as those of the conventional device shown in FIG. 4 are denoted by the same reference numerals, and the description here will focus on the differences. In FIG. 1, the configuration is such that the image of the pattern of the reticle R is transferred to the wafer W mounted on the stage 1 via the projection optical system PL. Reference numeral 8 denotes an average value calculation unit, which is the target position to be positioned, for example, the exposure position (that is, the position of the optical axis AX of the projection optical system PL).
Alternatively, an average value (or a median value) of the positional deviation amount, which is a difference between a command value such as an alignment position and the current position of the stage 1 detected by the length measuring device 5 every predetermined time, is calculated. Reference numeral 9 denotes a PP value (difference between the minimum value and the maximum value), which calculates the PP value of the positional deviation amount at predetermined time intervals. Reference numeral 10 denotes a timer, which supplies a timing signal to the average value calculation unit 8 and the PP value calculation unit 9 at predetermined time intervals. Note that the timing signal generation time interval is set to a time sufficiently shorter than the exposure time. Upon receiving this timing signal, the average value calculating section 8 and the PP value calculating section 9 calculate the average value and the PP value of the positional deviation amounts from the time of receiving the previous timing signal to the time of receiving this timing signal. Reference numeral 11 denotes a gain adjustment unit that sets a control gain K of the position controller 6 based on the average value of the positional deviation amounts and the PP value calculated by the average value calculation unit 8 and the PP value calculation unit 9. I do.

【0009】次に、ゲイン調整部11の制御ゲインの決
定方法について説明する。図2は、位置制御器6から電
力増幅器7へ出力される指令電圧vを示すタイムチャー
トである。電力増幅器7は、この指令電圧vに従ってモ
ータ3へ駆動電圧を印加し、モータ3を加速,定速走
行,減速させる。モータ3の減速が終了した時点(図中
の台形波形の終端)から位置制御が行なわれ、位置ずれ
量に応じた指令電圧vが出力される。図2(a)は、位
置制御系の制御ゲインKが適切な場合を示し、指令電圧
vが速やかに収束して位置決めを完了している。図2
(b)は、制御ゲインKが過大な場合を示し、位置フィ
ードバック制御時の指令電圧vが振動している。この結
果、モータ3が振動する。図2(c)は、制御ゲインK
が低すぎる場合を示し、定常偏差が発生している。
Next, a method of determining the control gain of the gain adjusting section 11 will be described. FIG. 2 is a time chart showing the command voltage v output from the position controller 6 to the power amplifier 7. The power amplifier 7 applies a drive voltage to the motor 3 according to the command voltage v, and accelerates, runs at a constant speed, and decelerates the motor 3. Position control is performed from the time when the deceleration of the motor 3 is completed (the end of the trapezoidal waveform in the figure), and a command voltage v corresponding to the amount of displacement is output. FIG. 2A shows a case where the control gain K of the position control system is appropriate. The command voltage v converges quickly and positioning is completed. FIG.
(B) shows a case where the control gain K is excessive, and the command voltage v during the position feedback control is oscillating. As a result, the motor 3 vibrates. FIG. 2C shows the control gain K
Is too low, and a steady-state error has occurred.

【0010】図3は、位置制御中の位置ずれ量(a)、
位置ずれ量の平均値の絶対値(b)、位置ずれ量のP−
P値(c)およびタイミング信号(d)を示すタイムチ
ャートである。図から明らかなように、位置ずれ量が振
動しているときには、その平均値の絶対値が小さく、P
−P値が大きい。逆に、位置ずれ量に定常偏差があると
きには、その平均値の絶対値が大きく、P−P値が小さ
い。位置ずれ量の振動は、例えば機械的な条件の変動に
よって位置制御系が不安定な場合に発生しやすい。従っ
てこの場合は、位置制御系の制御ゲインKを低下させ、
制御系を安定化する。一方、位置ずれ量の定常偏差は、
位置制御系の制御ゲイン不足で発生しやすい。従ってこ
の場合は、位置制御系の制御ゲインKを増加し、位置制
御精度を高くする。
FIG. 3 shows the amount of positional deviation (a) during position control,
Absolute value (b) of the average value of the displacement amount, P−
6 is a time chart showing a P value (c) and a timing signal (d). As is apparent from the figure, when the displacement amount is oscillating, the absolute value of the average value is small and P
-P value is large. Conversely, when there is a steady-state deviation in the displacement amount, the absolute value of the average value is large and the PP value is small. The vibration of the displacement amount is likely to occur when the position control system is unstable due to, for example, a change in mechanical conditions. Therefore, in this case, the control gain K of the position control system is reduced,
Stabilize the control system. On the other hand, the steady-state deviation of the displacement amount is
This is likely to occur due to insufficient control gain of the position control system. Therefore, in this case, the control gain K of the position control system is increased, and the position control accuracy is increased.

【0011】そこで、平均値に対して基準量Aを設定
し、P−P値に対して基準量Bを設定する。これらの基
準量A,Bは、例えば使用する感光材の感光特性に基づ
いて決定すればよい。そして、平均値の絶対値とその基
準量Aとの比をm(=|平均値|/A)とし、P−P値
とその基準量Bとの比をn(=(P−P値)/B)とし
たとき、mがnよりも小さければ、ゲイン調整部11に
よって制御ゲインKを低下させ、逆に、mがnよりも大
きければ、制御ゲインKを増加させる。つまり、タイマ
ー10からタイミング信号が発生されるごとに、P−P
値が相対的に平均値よりも大きいときは、制御ゲインK
を低下させ、逆に平均値がP−P値よりも大きいとき
は、制御ゲインKを増加させる。この結果、制御ゲイン
Kは最適値に収束する。
Therefore, a reference amount A is set for the average value, and a reference amount B is set for the PP value. These reference amounts A and B may be determined based on, for example, the photosensitive characteristics of the photosensitive material used. The ratio between the absolute value of the average value and the reference amount A is m (= | average value / A), and the ratio between the PP value and the reference amount B is n (= (PP value). / B), if m is smaller than n, the control gain K is reduced by the gain adjustment unit 11, and conversely, if m is larger than n, the control gain K is increased. That is, every time the timing signal is generated from the timer 10, PP
When the value is relatively larger than the average value, the control gain K
When the average value is larger than the PP value, the control gain K is increased. As a result, the control gain K converges to the optimum value.

【0012】このように、位置ずれ量の変化具合に応じ
て常に最適な制御ゲインが設定されるので、機械条件の
変動に対して位置制御系が安定化し、短い位置決め時間
で高い位置精度が得られる。また、使用時に自動的に最
適な制御ゲインが設定されるので、露光装置の工場出荷
時のゲイン調整が省略または簡略化される。
As described above, since the optimal control gain is always set according to the degree of change in the amount of displacement, the position control system is stabilized against fluctuations in machine conditions, and high position accuracy can be obtained in a short positioning time. Can be Further, since the optimal control gain is automatically set at the time of use, the gain adjustment at the time of shipment of the exposure apparatus is omitted or simplified.

【0013】さらに、設定された制御ゲインを感光材料
の感光特性に応じて補正すれば、露光条件に最適な位置
フィードバック制御を行なうことができる。例えば、像
のシャープさに対してゆるく、位置ずれに対して厳しい
露光の場合は、制御ゲインを高め設定し、振動ぎみであ
っても位置ずれ量を小さくする。逆に、像のシャープさ
を優先させたい場合には、制御ゲインを低く設定し、露
光中の振動をできるだけ少なくする。
Further, if the set control gain is corrected in accordance with the photosensitive characteristics of the photosensitive material, position feedback control optimal for exposure conditions can be performed. For example, in the case of an exposure that is loose with respect to the sharpness of the image and severe with respect to the positional deviation, the control gain is set to be high, and the amount of the positional deviation is reduced even in the case of slight vibration. Conversely, when priority is given to the sharpness of the image, the control gain is set low, and the vibration during exposure is reduced as much as possible.

【0014】なお、本発明は、例えばリニアモータでエ
アーガイド上のステージを駆動する場合など、どのよう
な駆動モータおよびステージ駆動機構に対しても応用す
ることができる。また、本実施例では位置制御器6の出
力を直接電力増幅器7に導いたが、この間に速度制御器
(速度制御器の構成は任意でよい)がある場合でも本発
明を適用して全く同様の効果を得ることができる。
The present invention can be applied to any drive motor and stage drive mechanism, for example, when a stage on an air guide is driven by a linear motor. In this embodiment, the output of the position controller 6 is directly led to the power amplifier 7. However, even in the case where a speed controller (the configuration of the speed controller is arbitrary), the present invention is applied in the same manner. The effect of can be obtained.

【0015】以上の実施例の構成において、モータ3が
駆動手段を、測長器5が検出手段を、位置制御器6が位
置制御手段を、平均値算出部8が第1の算出手段を、P
−P値算出部9が第2の算出手段を、ゲイン調整部11
がゲイン設定手段をそれぞれ構成する。
In the configuration of the above embodiment, the motor 3 is a driving means, the length measuring device 5 is a detecting means, the position controller 6 is a position controlling means, the average value calculating section 8 is a first calculating means, P
The P value calculation unit 9 sets the second calculation unit to the gain adjustment unit 11
Constitute gain setting means.

【0016】[0016]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、位
置ずれ量の所定時間ごとの平均値または中央値と、最小
値と最大値との差とに基づいて位置ずれ量に応じた信号
のループゲインを設定し、位置決め目標位置と検出位置
との位置ずれ量に基づいてフィードバック制御を行なう
ようにしたので、常に最適なループゲインが設定され、
機械条件の変動に対して位置制御系が安定化し、短い位
置決め時間で高い位置精度が得られる。また、使用時に
自動的に最適なループゲインが選択されるので、露光装
置の工場出荷時のゲイン調整が省略または簡略化され
る。さらに、設定されたループゲインを感光基板の感光
特性に応じて変更するようにしたので、露光条件に最適
な試料台の位置フィードバック制御を行なうことができ
る。
As described above, according to the present invention, a signal corresponding to the amount of displacement based on the difference between the minimum value and the maximum value and the average value or median value of the displacement amount at predetermined time intervals. Since the feedback control is performed based on the amount of displacement between the positioning target position and the detection position, the optimal loop gain is always set,
The position control system is stabilized against fluctuations in machine conditions, and high position accuracy can be obtained in a short positioning time. Further, since the optimum loop gain is automatically selected at the time of use, the gain adjustment at the time of shipment of the exposure apparatus is omitted or simplified. Further, since the set loop gain is changed in accordance with the photosensitive characteristics of the photosensitive substrate, position feedback control of the sample stage optimal for exposure conditions can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】一実施例の構成を示すブロック図。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an embodiment.

【図2】位置制御器から出力される指令電圧を示すタイ
ムチャート。
FIG. 2 is a time chart showing a command voltage output from a position controller.

【図3】位置制御中の位置ずれ量,位置ずれ量の平均
値,位置ずれ量のP−P値およびタイミング信号を示す
タイムチャート。
FIG. 3 is a time chart showing a positional deviation amount during position control, an average value of the positional deviation amount, a PP value of the positional deviation amount, and a timing signal.

【図4】従来の露光装置を示すブロック図。FIG. 4 is a block diagram showing a conventional exposure apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ステージ 2 ガイド 3 モータ 5 測長器 6 位置制御器 7 電力増幅器 8 平均値算出部 9 P−P値算出部 10 タイマー 11 ゲイン調整部 Reference Signs List 1 stage 2 guide 3 motor 5 length measuring device 6 position controller 7 power amplifier 8 average value calculation unit 9 PP value calculation unit 10 timer 11 gain adjustment unit

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】マスクのパターンを感光基板に転写する露
光装置に設けられ、前記感光基板を保持して移動可能な
試料台と、 この試料台を移動させる駆動手段と、 前記試料台の位置を検出する検出手段と、 前記試料台の位置決め目標位置と前記検出手段の前記検
出位置との位置ずれ量に基づいて前記駆動手段をフィー
ドバック制御する位置制御手段とを備えた露光装置の位
置決め制御装置において、 所定時間ごとの前記位置ずれ量の平均値または中央値を
算出する第1の算出手段と、 所定時間ごとの前記位置ずれ量の最小値と最大値との差
を算出する第2の算出手段と、 算出された前記平均値または前記中央値と前記差とに基
づいて前記駆動手段を制御するための前記位置ずれ量に
応じた信号のループゲインを設定するゲイン設定手段と
を備えることを特徴とする露光装置の位置決め制御装
置。
An exposure device for transferring a pattern of a mask onto a photosensitive substrate, the sample stage being movable while holding the photosensitive substrate; a driving unit for moving the sample stage; and a position of the sample stage. A positioning control unit for an exposure apparatus, comprising: a detection unit for detecting; and a position control unit for performing feedback control of the driving unit based on a positional deviation amount between a positioning target position of the sample stage and the detection position of the detection unit. A first calculating means for calculating an average value or a median value of the positional deviation amounts at predetermined time intervals; and a second calculating means for calculating a difference between a minimum value and a maximum value of the positional deviation amounts at predetermined time intervals. And gain setting means for setting a loop gain of a signal corresponding to the displacement amount for controlling the driving means based on the calculated average value or the median value and the difference. Positioning control device of the exposure apparatus characterized by obtaining.
【請求項2】請求項1に記載の露光装置の位置決め制御
装置において、 前記ゲイン設定手段は、前記感光基板の感光特性に対応
して前記ループゲインを変更することを特徴とする露光
装置の位置決め制御装置。
2. A positioning control device for an exposure apparatus according to claim 1, wherein said gain setting means changes said loop gain in accordance with a photosensitive characteristic of said photosensitive substrate. Control device.
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