JP3218484U - 弾力のあるプローブ装置 - Google Patents
弾力のあるプローブ装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3218484U JP3218484U JP2018003022U JP2018003022U JP3218484U JP 3218484 U JP3218484 U JP 3218484U JP 2018003022 U JP2018003022 U JP 2018003022U JP 2018003022 U JP2018003022 U JP 2018003022U JP 3218484 U JP3218484 U JP 3218484U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- insulating substrate
- module
- triangular
- modules
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
【課題】トルクが均一で、ズレ又は変形が発生せず、プローブの先端とテスト対象との接点の位置合わせが精確であり、全体の共平面性に優れ、弾力のあるプローブ装置を提供する。
【解決手段】信号の出入力用接点11を有する絶縁基板10と、絶縁基板と垂直になるように接点に接着され、複数の三角形モジュールと円形モジュールが互いに重なり所望の高度まで上方へ積層されてなるプローブ12を複数有するプローブグループとを含み、三角形モジュールが異なる角度で積層されることによってプローブに弾力を有させる。
【選択図】図2
【解決手段】信号の出入力用接点11を有する絶縁基板10と、絶縁基板と垂直になるように接点に接着され、複数の三角形モジュールと円形モジュールが互いに重なり所望の高度まで上方へ積層されてなるプローブ12を複数有するプローブグループとを含み、三角形モジュールが異なる角度で積層されることによってプローブに弾力を有させる。
【選択図】図2
Description
本考案は、弾力のあるプローブ装置に関し、特に半導体ウェハーの精密測定に有用であり、プローブヘッドを半導体ウェハーテストポイントに均一かつ正確に接触させて半導体ウェハーテストを効率よく且つ精確的に行えるプローブ装置に関する。
近年、半導体産業が速やかに発展することに伴い、そのプロセス技術も急激に進んでおり、現在、トランジスタチャンネル(Channel Length)は、既に7nmプロセスまで発展してきて、集積回路(IC)の体積も小さくなり、ピン数も多くなる。微細且つ高密度の半導体ウェハーのハンダパッド或いはバンプからチップの信号を導き出して半導体ウェハーに対する精確なテストを行うために、テスト対象となる半導体ウェハーのハンダパッド或いはバンプと直接に接触してテストの効率を向上する精確なプローブ装置が必要される。
図1に示すように、プローブカード10aと、前記プローブカード10aに敷設される線路に据え付けるプローブグループ11aと、前記プローブグループ11aの前端に直接に接触される半導体ウェハーのハンダパッド或いはバンプ12aとを含み、チップの信号をプローブカード10aに導き出すことによるテストを行う半導体ウェハーテスト用プローブ装置が既に知られている。
図1に示すように、プローブカード10aと、前記プローブカード10aに敷設される線路に据え付けるプローブグループ11aと、前記プローブグループ11aの前端に直接に接触される半導体ウェハーのハンダパッド或いはバンプ12aとを含み、チップの信号をプローブカード10aに導き出すことによるテストを行う半導体ウェハーテスト用プローブ装置が既に知られている。
公知の半導体ウェハーテスト用プローブ装置は、人工的に十数本から百数本のプローブをテスト対象となる半導体ウェハーのハンダパッド或いはバンプの位置に応じてプローブカードに据え付けることにより、プローブを半導体ウェハーのハンダパッド或いはバンプと直接に接触させてチップの信号を導き出してテストを行う。このようなプローブ装置は、人工的な方式で作成されるので、プローブの体積が大きく、チップの微細化と高ピン数化の要求を満足できない。また、プローブに弾力を有させるために、プローブは高剛性の金属、例えばタングステン、ニッケル等で作成されているが、このような金属の誘電性がよくないから、テストの誤差が発生し、或は半導体ウェハーのハンダパッド或いはバンプが傷つく恐れがある。
本考案は、弾力のあるプローブ装置を提供するものであり、スルーホールである接点を有する絶縁基板と、数十から数万本のプローブを有するプローブグループとを含み、前記接点が、テスト対象となる半導体ウェハーのハンダパッド或いはバンプの位置に対応して配列されており、前記プローブグループは、絶縁基板と垂直になるように絶縁基板の接点に接着され、前記プローブは、三角形モジュールと円形モジュールで望ましい高度まで上方へ積層することによって構成され、このうち、三角形モジュールは異なる角度で垂直に積層され、これにより、弾力のあるプローブ装置が形成される。
本考案に係る弾力のあるプローブ装置において、銅、ニッケル、金、パラジウム、スズ等の様々な複合系導電性材料で電解メッキをしてなるプローブを使用するので、前記プローブは高い導電性、高い剛性及び及び高い耐摩耗性を兼備し、また、前記プローブがテスト対象と垂直になるので、プローブヘッドがテスト対象との接点は最大の接触面積を有し、これにより、接点における抵抗と熱度値を有効に低下し、更に、前記プローブは三角形モジュールと円形モジュールが異なる角度で垂直に積層して構成されるので、弾力を有するプローブが形成される。このような構造を有するプローブが圧力を受けると、トルクが均一であり、ズレ又は変形などが発生されず、プローブの先端とテスト対象との接点の位置合わせが精確であり、全体の共平面性に優れ、また、リソグラフィーと電解メッキによってプローブを作成することによって体積を微細化させるので、より微細の接点を得られる。
以下は、図2から図4を参照して説明する。本考案が提供する弾力のあるプローブ装置は、スルーホールである接点11を複数有する絶縁基板10を含み、前記接点11はテスト対象となる半導体ウェハーのハンダパッド或いはバンプの位置に応じて配列され、それぞれの接点11にはプローブ12が接着され、前記プローブ12は絶縁基板10と垂直になり、前記プローブ12は三角形モジュールと円形モジュールが積層されてなり、このうち、最下層はリソグラフィーと電解メッキによって接点11上に形成される円形モジュール13であり、そして、三角形モジュール14がリソグラフィーと電解メッキによって円形モジュール13上に積層されて形成され、円形モジュール15がリソグラフィーと電解メッキによって三角形モジュール14上に積層されて形成され、三角形モジュール16がリソグラフィーと電解メッキによって円形モジュール15上に積層されて形成され、また、前記三角形モジュール16は、三角形モジュール14と60度の角度差を有し、このように繰り返してプローブ12の必要の高度まで積層する後、中実円の形状のモジュール17がプローブ12の最上層として積層されてプローブ12の先端の接点になり、上記の工程により弾力のあるプローブ装置が形成される。
10a プローブカード
11a プローブ
12a 半導体ウェハーのハンダパッド或いはバンプ
10 絶縁基板
11 接点
12 プローブ
13 円形モジュール
14 三角形モジュール
15 円形モジュール
16 三角形モジュール
17 中実円の形状のモジュール
11a プローブ
12a 半導体ウェハーのハンダパッド或いはバンプ
10 絶縁基板
11 接点
12 プローブ
13 円形モジュール
14 三角形モジュール
15 円形モジュール
16 三角形モジュール
17 中実円の形状のモジュール
Claims (3)
- 信号の出入力用接点を有する絶縁基板と,前記絶縁基板に接着され、複数の三角形モジュールと円形モジュールで形成されるプローブを複数有するプローブグループとを含むことを特徴する弾力のあるプローブ装置。
- 前記プローブは、三角形モジュールと円形モジュールが互いに重なる方法で絶縁基板と垂直になる方向に下から上に積層され、その最下層が絶縁基板における信号出入力用接点に接続されるようにプローブの主体が形成される請求項1に記載の弾力のあるプローブ装置。
- 前記プローブにおける三角形モジュールのそれぞれは異なる角度で互いに積層され、隣接する三角形モジュールの間で60度の角度差を有することによってプローブに弾力を有させる請求項1に記載の弾力のあるプローブ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018003022U JP3218484U (ja) | 2018-08-06 | 2018-08-06 | 弾力のあるプローブ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018003022U JP3218484U (ja) | 2018-08-06 | 2018-08-06 | 弾力のあるプローブ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP3218484U true JP3218484U (ja) | 2018-10-18 |
Family
ID=63855056
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018003022U Expired - Fee Related JP3218484U (ja) | 2018-08-06 | 2018-08-06 | 弾力のあるプローブ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3218484U (ja) |
-
2018
- 2018-08-06 JP JP2018003022U patent/JP3218484U/ja not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10514392B2 (en) | Probe card, test apparatus including the probe card, and related methods of manufacturing | |
US11193953B2 (en) | 3D chip testing through micro-C4 interface | |
US11585831B2 (en) | Test probing structure | |
JP4391717B2 (ja) | コンタクタ及びその製造方法並びにコンタクト方法 | |
TWI596346B (zh) | 垂直式探針卡之探針裝置 | |
CN101625375B (zh) | 探针卡及其组装方法 | |
US7049837B2 (en) | Probe sheet, probe card, semiconductor test equipment and semiconductor device fabrication method | |
US7064566B2 (en) | Probe card assembly and kit | |
KR100733945B1 (ko) | 실리콘 핑거 접촉기를 갖는 접촉 구조체 및 그 제조 방법 | |
US7217139B2 (en) | Interconnect assembly for a probe card | |
JP2013238578A (ja) | プローブカード用空間変換器及びその製造方法 | |
JP4343256B1 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
US7259581B2 (en) | Method for testing semiconductor components | |
KR101365188B1 (ko) | 다중-사이트 프로브 | |
TW201400819A (zh) | 探針結構與薄膜式探針的製造方法 | |
CN110531125B (zh) | 空间转换器、探针卡及其制造方法 | |
JP2000121673A (ja) | コンタクタ | |
JP2004503784A (ja) | コネクタ装置 | |
JP3218484U (ja) | 弾力のあるプローブ装置 | |
US20200049761A1 (en) | Spring probe with geometric stacking method | |
US20150022229A1 (en) | Probe card and method of manufacturing the same | |
TWM572991U (zh) | 具有彈性之探針裝置 | |
JP4492976B2 (ja) | 半導体装置 | |
TWM566332U (zh) | 堆疊式彈簧探針 | |
US20190170815A1 (en) | Elemental mercury-containing probe card |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 3218484 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |