JP3212367B2 - 太陽光吸収率及びふく射率測定装置 - Google Patents
太陽光吸収率及びふく射率測定装置Info
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- JP3212367B2 JP3212367B2 JP18451892A JP18451892A JP3212367B2 JP 3212367 B2 JP3212367 B2 JP 3212367B2 JP 18451892 A JP18451892 A JP 18451892A JP 18451892 A JP18451892 A JP 18451892A JP 3212367 B2 JP3212367 B2 JP 3212367B2
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- low
- solar
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、宇宙機器，太陽熱集光
器等の構成材料の重要な物性値である太陽光吸収率及び
ふく射率の測定装置に関する。
器等の構成材料の重要な物性値である太陽光吸収率及び
ふく射率の測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、宇宙機器，太陽熱集光器等の構成
材料の重要な物性値である太陽光吸収率及びふく射率の
測定装置としては、図３縦断面図に示すものがあり、太
陽光吸収率及びふく射率を測定する測定試料１を封入す
るとともに開口部３′を有する低温囲壁２と、上記低温
囲壁２を囲閉し適宜の真空手段に連結された真空チャン
バ４と、上記開口部３′の対向位置において上記真空チ
ャンバ４に設けられ擬似太陽光６を受ける石英ガラス窓
５とから構成されている。なお測定試料１にはヒーター
を装着しており、加熱量を変化することにより温度を変
えることができる。
材料の重要な物性値である太陽光吸収率及びふく射率の
測定装置としては、図３縦断面図に示すものがあり、太
陽光吸収率及びふく射率を測定する測定試料１を封入す
るとともに開口部３′を有する低温囲壁２と、上記低温
囲壁２を囲閉し適宜の真空手段に連結された真空チャン
バ４と、上記開口部３′の対向位置において上記真空チ
ャンバ４に設けられ擬似太陽光６を受ける石英ガラス窓
５とから構成されている。なお測定試料１にはヒーター
を装着しており、加熱量を変化することにより温度を変
えることができる。
【０００３】このような装置において、加熱量を変化し
測定試料１の平衡温度を複数回測定することにより、太
陽光吸収率：αs とふく射率：εh は、開口部３′が小
さい場合に次式で表される。 αs ＝２Ａσ／Δ（Ｐ1 Ｔs2 4 −Ｐ2 Ｔs1 4 ） ・・・・(1) εh ＝ＡＳ／Δ（Ｐ1 −Ｐ2 ） ・・・・(2) Δ≡−２Ａ2 Ｓσ（Ｔs2 4 −Ｔs1 4 ） ・・・・(3） ここにＰ1 ，Ｐ2 は測定試料１の加熱量、Ｔs1，Ｔs2は
そのときの測定試料温度、Ａは測定試料１の片面の面
積、Ｓは擬似太陽光強度、σはボルツマン定数である。
ところが一般に開口部３′の大きさは無視できず、式
(1),(2）の代わりに次式を用いる必要がある。 αs ＝1/S[ＡＦεh σ( ＴS11 4−Ｔc 4)＋Ａs εh σ｛(1−Ｆ)(ＴS11 4− Ｔc 4)＋（ＴS21 4−Ｔc 4)｝−Ｐ1 〕 ・・・・(4) εh ＝（Ｐ1 −Ｐ2 ）／〔Ａσ｛（ＴS11 4−ＴS12 4）＋（ＴS21 4−ＴS22 4） ｝〕 ・・・・(5) ここにＴS11 , ＴS12 はＰ1 ，Ｐ2 における開口部３′
側の測定試料温度、ＴS21 , ＴS22 は開口部３′と反対
側の測定試料温度、Ｔc は開口部３′の温度、Ｆは測定
試料１と開口部３′の形態係数である。
測定試料１の平衡温度を複数回測定することにより、太
陽光吸収率：αs とふく射率：εh は、開口部３′が小
さい場合に次式で表される。 αs ＝２Ａσ／Δ（Ｐ1 Ｔs2 4 −Ｐ2 Ｔs1 4 ） ・・・・(1) εh ＝ＡＳ／Δ（Ｐ1 −Ｐ2 ） ・・・・(2) Δ≡−２Ａ2 Ｓσ（Ｔs2 4 −Ｔs1 4 ） ・・・・(3） ここにＰ1 ，Ｐ2 は測定試料１の加熱量、Ｔs1，Ｔs2は
そのときの測定試料温度、Ａは測定試料１の片面の面
積、Ｓは擬似太陽光強度、σはボルツマン定数である。
ところが一般に開口部３′の大きさは無視できず、式
(1),(2）の代わりに次式を用いる必要がある。 αs ＝1/S[ＡＦεh σ( ＴS11 4−Ｔc 4)＋Ａs εh σ｛(1−Ｆ)(ＴS11 4− Ｔc 4)＋（ＴS21 4−Ｔc 4)｝−Ｐ1 〕 ・・・・(4) εh ＝（Ｐ1 −Ｐ2 ）／〔Ａσ｛（ＴS11 4−ＴS12 4）＋（ＴS21 4−ＴS22 4） ｝〕 ・・・・(5) ここにＴS11 , ＴS12 はＰ1 ，Ｐ2 における開口部３′
側の測定試料温度、ＴS21 , ＴS22 は開口部３′と反対
側の測定試料温度、Ｔc は開口部３′の温度、Ｆは測定
試料１と開口部３′の形態係数である。
【０００４】しかしながら、このような装置では開口部
３′があるためふく射率εh と太陽光吸収率αs を求め
るための式が複雑で、測定項目も多く従って測定誤差が
大きくなる。
３′があるためふく射率εh と太陽光吸収率αs を求め
るための式が複雑で、測定項目も多く従って測定誤差が
大きくなる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、このような
事情に鑑みて提案されたもので、測定試料の太陽光吸収
率及びふく射率が精度良く測定できる太陽光吸収率及び
ふく射率測定装置を提供することを目的とする。
事情に鑑みて提案されたもので、測定試料の太陽光吸収
率及びふく射率が精度良く測定できる太陽光吸収率及び
ふく射率測定装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】そのために本発明は、太
陽光吸収率及びふく射率を測定する測定試料を封入する
とともに紫外線を透過し赤外線を反射する金箔などの金
属箔からなる選択透過窓を有する低温囲壁と、上記低温
囲壁を囲閉し適宜の真空手段に連結された真空チャンバ
と、上記選択透過窓の対向位置において上記真空チャン
バに設けられた石英ガラス窓とを具えたことを特徴とす
る。
陽光吸収率及びふく射率を測定する測定試料を封入する
とともに紫外線を透過し赤外線を反射する金箔などの金
属箔からなる選択透過窓を有する低温囲壁と、上記低温
囲壁を囲閉し適宜の真空手段に連結された真空チャンバ
と、上記選択透過窓の対向位置において上記真空チャン
バに設けられた石英ガラス窓とを具えたことを特徴とす
る。
【０００７】
【作用】本発明太陽光吸収率及びふく射率測定装置にお
いては、赤外域に対して不透明な選択透過窓を開口部に
設置することにより、測定試料からのふく射は石英ガラ
ス窓への成分はなくなり冷却壁のみになる。
いては、赤外域に対して不透明な選択透過窓を開口部に
設置することにより、測定試料からのふく射は石英ガラ
ス窓への成分はなくなり冷却壁のみになる。
【０００８】
【実施例】本発明太陽光吸収率及びふく射率測定装置の
一実施例を図面について説明すると、図１は本装置の縦
断面図、図２は上図における選択透過窓の特性を示す図
表である。
一実施例を図面について説明すると、図１は本装置の縦
断面図、図２は上図における選択透過窓の特性を示す図
表である。
【０００９】図１において、太陽光吸収率及びふく射率
を測定する測定試料１を封入する低温囲壁２の上端開口
部３′には、図２に示すように、紫外線を透過し赤外線
を反射する特性を有する金属箔である例えば金箔等の物
質からなる選択透過窓３が取付けられている。この低温
囲壁２の外周にはそれを全周的に囲閉するとともに適宜
の真空手段に連結された真空チャンバ４が設置されてお
り、更にこの真空チャンバ４の上端には上記選択透過窓
３の上方に石英ガラス窓５が設置され、擬似太陽光６を
受け入れるようになっている。
を測定する測定試料１を封入する低温囲壁２の上端開口
部３′には、図２に示すように、紫外線を透過し赤外線
を反射する特性を有する金属箔である例えば金箔等の物
質からなる選択透過窓３が取付けられている。この低温
囲壁２の外周にはそれを全周的に囲閉するとともに適宜
の真空手段に連結された真空チャンバ４が設置されてお
り、更にこの真空チャンバ４の上端には上記選択透過窓
３の上方に石英ガラス窓５が設置され、擬似太陽光６を
受け入れるようになっている。
【００１０】このような装置において、低温囲壁２の開
口部３′に、紫外線を透過し赤外線を反射する選択透過
窓３が設置されているので、測定試料１はふく射すなわ
ち赤外域に関して冷却壁で囲まれた閉空間に存在するこ
とになる。従って太陽光吸収率及びふく射率を求めると
きは、前述の式(4),(5) を用いる必要がなく、式(1),
(2) でよい。かくしてこのような装置によれば、選択透
過窓３を設置することによって、測定試料１の太陽光吸
収率及びふく射率が精度良く測定できる。
口部３′に、紫外線を透過し赤外線を反射する選択透過
窓３が設置されているので、測定試料１はふく射すなわ
ち赤外域に関して冷却壁で囲まれた閉空間に存在するこ
とになる。従って太陽光吸収率及びふく射率を求めると
きは、前述の式(4),(5) を用いる必要がなく、式(1),
(2) でよい。かくしてこのような装置によれば、選択透
過窓３を設置することによって、測定試料１の太陽光吸
収率及びふく射率が精度良く測定できる。
【００１１】
【発明の効果】要するに本発明によれば、太陽光吸収率
及びふく射率を測定する測定試料を封入するとともに紫
外線を透過し赤外線を反射する金箔などの金属箔からな
る選択透過窓を有する低温囲壁と、上記低温囲壁を囲閉
し適宜の真空手段に連結された真空チャンバと、上記選
択透過窓の対向位置において上記真空チャンバに設けら
れた石英ガラス窓とを具えたことにより、測定試料の太
陽光吸収率及びふく射率を精度良く測定できる太陽光吸
収率及びふく射率測定装置を得るから、本発明は産業上
極めて有益なものである。すなわち、太陽光吸収率及び
ふく射率を測定する測定試料を封入する低温囲壁の開口
に、紫外線を透過し赤外線を反射する金箔などの金属箔
からなる選択透過窓が設けられているので、測定試料か
らのふく射は選択透過窓により反射され、低温囲壁の外
には漏れず、低温囲壁内に封じこめられている。したが
って、太陽光吸収率及びふく射率を測定する際に、低温
囲壁の開口の大きさの影響がなくなるので、開口部の形
態係数を考慮する必要がなくなる。その結果、測定試料
の太陽光吸収率及びふく射率を精度良く、かつ、効率よ
く測定できる。
及びふく射率を測定する測定試料を封入するとともに紫
外線を透過し赤外線を反射する金箔などの金属箔からな
る選択透過窓を有する低温囲壁と、上記低温囲壁を囲閉
し適宜の真空手段に連結された真空チャンバと、上記選
択透過窓の対向位置において上記真空チャンバに設けら
れた石英ガラス窓とを具えたことにより、測定試料の太
陽光吸収率及びふく射率を精度良く測定できる太陽光吸
収率及びふく射率測定装置を得るから、本発明は産業上
極めて有益なものである。すなわち、太陽光吸収率及び
ふく射率を測定する測定試料を封入する低温囲壁の開口
に、紫外線を透過し赤外線を反射する金箔などの金属箔
からなる選択透過窓が設けられているので、測定試料か
らのふく射は選択透過窓により反射され、低温囲壁の外
には漏れず、低温囲壁内に封じこめられている。したが
って、太陽光吸収率及びふく射率を測定する際に、低温
囲壁の開口の大きさの影響がなくなるので、開口部の形
態係数を考慮する必要がなくなる。その結果、測定試料
の太陽光吸収率及びふく射率を精度良く、かつ、効率よ
く測定できる。
【図１】本発明太陽光吸収率及びふく射率測定装置の一
実施例の縦断面図である。
実施例の縦断面図である。
【図２】上図における選択透過窓の特性を示す図表であ
る。
る。
【図３】従来装置の縦断面図である。
１ 測定試料 ２ 低温囲壁 ３ 選択透過窓 ３′ 開口部 ４ 真空チャンバ ５ 石英ガラス窓 ６ 擬似太陽光
Claims (1)
- 【請求項１】 太陽光吸収率及びふく射率を測定する測
定試料を封入するとともに紫外線を透過し赤外線を反射
する金箔などの金属箔からなる選択透過窓を有する低温
囲壁と、上記低温囲壁を囲閉し適宜の真空手段に連結さ
れた真空チャンバと、上記選択透過窓の対向位置におい
て上記真空チャンバに設けられた石英ガラス窓とを具え
たことを特徴とする太陽光吸収率及びふく射率測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18451892A JP3212367B2 (ja) | 1992-06-18 | 1992-06-18 | 太陽光吸収率及びふく射率測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18451892A JP3212367B2 (ja) | 1992-06-18 | 1992-06-18 | 太陽光吸収率及びふく射率測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH063194A JPH063194A (ja) | 1994-01-11 |
| JP3212367B2 true JP3212367B2 (ja) | 2001-09-25 |
Family
ID=16154603
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18451892A Expired - Fee Related JP3212367B2 (ja) | 1992-06-18 | 1992-06-18 | 太陽光吸収率及びふく射率測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3212367B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100813994B1 (ko) * | 2006-11-06 | 2008-03-17 | 재단법인 한국조명기술연구소 | 태양광 집광 채광기의 집광 효율 측정장치 |
| JP5256869B2 (ja) * | 2008-06-11 | 2013-08-07 | 株式会社Ｉｈｉ | 放射率計測装置 |
| KR101113046B1 (ko) * | 2009-12-03 | 2012-02-27 | 한국표준과학연구원 | 고온 반투명 또는 투명시료의 복사율, 투과율, 반사율 특성 동시 측정 방법 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5819520A (ja) * | 1981-07-27 | 1983-02-04 | Toshiba Corp | 太陽光吸収率放射率測定装置 |
| JPS5819521A (ja) * | 1981-07-27 | 1983-02-04 | Toshiba Corp | 太陽光吸収率放射率測定装置 |
| JPH0320758Y2 (ja) * | 1985-12-04 | 1991-05-07 |
-
1992
- 1992-06-18 JP JP18451892A patent/JP3212367B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH063194A (ja) | 1994-01-11 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20010620 |
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