JP3206760B2 - K cell for vacuum evaporation - Google Patents

K cell for vacuum evaporation

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JP3206760B2
JP3206760B2 JP22642391A JP22642391A JP3206760B2 JP 3206760 B2 JP3206760 B2 JP 3206760B2 JP 22642391 A JP22642391 A JP 22642391A JP 22642391 A JP22642391 A JP 22642391A JP 3206760 B2 JP3206760 B2 JP 3206760B2
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山下  明
透 丸野
容子 丸尾
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明の真空蒸着用kセルは、化
学物質の蒸着作業において、真空中で化学物質を加熱し
て蒸発または昇華させるために使用されるものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION The k-cell for vacuum deposition of the present invention is used for heating or evaporating or sublimating a chemical substance in a vacuum in a chemical substance deposition operation.

【0002】[0002]

【従来の技術】化学物質の蒸着作業において、化学物質
を加熱して蒸発または昇華させるために各種のkセルが
提案されている。代表的な構造を図1に示す。従来のk
セルは、600℃以上の高温で無機化合物の蒸着を行う
目的で設計されているため、るつぼにはアルミナやPB
Nが使用されている。また、ヒーターは高温使用に適す
る構造とするため、タンタル等を材料とする巻線ヒータ
ーが使用されている。この種のkセルでは、高温使用時
の温度制御性が良くなるようにヒーターの巻線抵抗や巻
線間隔が設計されているため、400℃以下の低温領域
で使用しようとすると通電電流が小さくなって温度制御
性が劣る。このため、低沸点・低昇華点の化学物質の蒸
着作業にはむかないという欠点がある。また、低温使用
時には、ヒーター巻線間隔に応じた温度勾配や、ヒータ
ーの巻むらが原因の温度勾配ができやすいという欠点が
ある。
2. Description of the Related Art Various kinds of k-cells have been proposed for heating and evaporating or sublimating chemical substances in a chemical substance deposition operation. FIG. 1 shows a typical structure. Conventional k
Since the cell is designed to deposit inorganic compounds at a high temperature of 600 ° C. or higher, the crucible contains alumina or PB.
N is used. In addition, a wire heater made of tantalum or the like is used for the heater to have a structure suitable for high-temperature use. In this kind of k-cell, the winding resistance and the winding interval of the heater are designed to improve the temperature controllability at the time of high temperature use. Inferior in temperature controllability. For this reason, there is a drawback that it is not suitable for the vapor deposition operation of a chemical substance having a low boiling point and low sublimation point. Further, when used at a low temperature, there is a disadvantage that a temperature gradient corresponding to the heater winding interval or a temperature gradient due to uneven winding of the heater is easily generated.

【0003】近年の有機非線形光学材料の研究開発の進
展にともない、有機化合物を蒸着して薄膜化する機会が
多くなってきた。有機化合物は、無機化合物に比べて蒸
気圧が高い、昇華温度や蒸発温度が低い等の特徴を有す
るため、比較的低温領域(100〜400℃)で蒸着作
業を行っている。例えば、大きな3次非線形光学定数が
報告されているバナジルフタロシアニン(VOPc)は
最も高温で蒸着作業を行う有機化合物の一つであるが
〔和田、有機エレクトロニクス材料研究会第35回研究
会講演要旨集22−29(1989)〕、その蒸着温度
は400℃程度である。このため、従来の無機化合物用
kセルを有機化合物の蒸着に適用すると、温度制御性に
劣るため蒸着速度が安定しない、突沸しやすい、一度蒸
発した蒸着物質がkセルの出口付近の低温部に再結晶し
て付着しやすい等の問題が発生することが多かった。
[0003] With the progress of research and development of organic nonlinear optical materials in recent years, there have been more opportunities to deposit organic compounds to form thin films. Organic compounds have characteristics such as a higher vapor pressure, a lower sublimation temperature and a lower evaporation temperature than inorganic compounds. Therefore, vapor deposition is performed in a relatively low temperature range (100 to 400 ° C.). For example, vanadyl phthalocyanine (VOPc), for which a large third-order nonlinear optical constant has been reported, is one of the organic compounds that perform vapor deposition at the highest temperature [Wada, Proc. 22-29 (1989)], and the deposition temperature is about 400 ° C. For this reason, when a conventional k-cell for inorganic compounds is applied to the deposition of an organic compound, the evaporation rate is not stable due to poor temperature controllability, it is likely to be bumpy, and the evaporated material once evaporated is in a low-temperature portion near the outlet of the k-cell. Problems such as recrystallization and easy adhesion often occurred.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】蒸着中にkセル内の蒸
着試料の飛散状態や残量を観察できれば蒸着の作業効率
が大幅に改善されるが、従来のkセルは不透明で使用中
に内部の状態を観察できないため、kセル内部の状態は
温度変化や真空度の変化から推定するほかない。蒸着物
質の残存量やkセル付近の付着状況をモニターできる透
明kセルがあれば蒸着作業の効率が大きく改善される。
If the scattering state and the remaining amount of the vapor deposition sample in the k cell can be observed during the vapor deposition, the efficiency of the vapor deposition operation can be greatly improved. Cannot be observed, the state inside the k-cell can only be estimated from a change in temperature or a degree of vacuum. If there is a transparent k-cell capable of monitoring the remaining amount of the deposition material and the adhesion state in the vicinity of the k-cell, the efficiency of the deposition operation is greatly improved.

【0005】本発明の目的は、上記欠点を解決できるk
セル、すなわち、温度勾配が小さく、低温領域での制御
性に優れ、かつ、蒸着中のkセル内の状態が直接観察で
きる真空蒸着用kセルを提供することである。
It is an object of the present invention to solve the above-mentioned drawbacks.
It is an object of the present invention to provide a cell, that is, a k-cell for vacuum deposition in which a temperature gradient is small, controllability in a low-temperature region is excellent, and a state in the k-cell during deposition can be directly observed.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明では、前記目的を
達成するために、真空蒸着用kセルを透明るつぼと該透
明るつぼの側面上又は該側面に近接して設置された透明
面型ヒーターで構成した。また、透明るつぼを透明ヒ
ーター支持体として使用し、新たな透明るつぼを透明ヒ
ーター支持体の内側に密着させて挿入した構成をとるこ
ともできる。
According to the present invention, in order to achieve the above object, a k-cell for vacuum deposition is provided with a transparent crucible and a transparent crucible.
Transparent placed on or close to the side of bright pot
It was composed of a surface-type heater. Also, place the transparent crucible in the transparent
A new transparent crucible to use as a transparent support.
Configuration that is closely attached to the inside of the
Can also be.

【0007】[0007]

【作用】従来のヒーター巻線方式の場合に問題であった
温度勾配は、ヒーターの巻線間隔や巻線むらに基づく加
熱むらが原因で生ずる。この温度勾配を小さくする方法
としては、面型のヒーターを使用することが有効であ
る。そこで、本発明の真空蒸着用kセルでは真空蒸着
法,スパッタ法,スプレー法,ゾルーゲル法,イオンプ
レーティング法,活性反応法等で作成した透明導電膜製
の透明ヒーターを透明坩堝と組み合わせて使用する。な
お、透明面型ヒーターは透明るつぼに密着させてもよい
し、別に作ってもよい。ヒーターと透明るつぼを別々に
作製する場合には、透明なヒーター支持体の中に透明坩
堝を挿入することにより行う。るつぼの側面に形成した
透明導電膜をヒーターとして使用した場合、面型のヒー
ターなのでkセル内の蒸着物質の加熱は均一に行われる
ことになり、温度勾配を小さくすることが可能となる。
また、低温領域での制御性が良好なkセルを得るためヒ
ーター抵抗値を調節する場合にも、面ヒーターの厚さを
増減することで容易に対処できる。さらに、本発明のk
セルは、つぼとヒーターが共に透明な材料であるた
め、蒸着中のkセル内の状態を直接観察することができ
るという利点を有する。本発明に使用する透明導電膜の
材料としては、酸化インジウム(In2 3 ),スズ
(Sn)をドープした酸化インジウム(ITO),フッ
素をドープした酸化インジウム,酸化スズ(Sn
2 ),フッ素をドープした酸化スズ(SnO2),ア
ンチモン(Sb)をドープした酸化スズ(SnO2 ),
CdSnO4 (CTO)等があげられる。また、透明な
kセル坩堝の材料としては、フリントガラス,クラウン
ガラス等の光学用ガラス材料の他、石英,サファイア,
硬質ガラス,フッ化カルシウム等を使用することができ
る。なお、必要に応じて透明ヒーターを螺旋にパター
ニングして抵抗値を大きくとることも可能であるが、面
型ヒーターでなくなるため温度制御性が低下することは
言うまでもない。
The temperature gradient, which has been a problem in the conventional heater winding system, is caused by uneven heating due to the interval between the windings of the heater and uneven winding. As a method of reducing the temperature gradient, it is effective to use a plane heater. Therefore, in the k-cell for vacuum evaporation of the present invention, a transparent heater made of a transparent conductive film prepared by a vacuum evaporation method, a sputtering method, a spray method, a sol-gel method, an ion plating method, an active reaction method or the like is used in combination with a transparent crucible. I do. In addition, the transparent surface type heater may be in close contact with the transparent crucible or may be made separately. When a heater and a transparent crucible are separately manufactured, the transparent crucible is inserted into a transparent heater support. When the transparent conductive film formed on the side surface of the crucible is used as a heater, since the heater is a planar heater, the deposition material in the k cell is uniformly heated, and the temperature gradient can be reduced.
Further, when the heater resistance value is adjusted in order to obtain a k-cell having good controllability in a low-temperature region, it can be easily dealt with by increasing or decreasing the thickness of the surface heater. Furthermore, the k of the present invention
Cells, Ru for pot and the heater are both transparent material has the advantage that it is possible to observe the state of the k cell during deposition directly. Examples of the material of the transparent conductive film used in the present invention include indium oxide (In 2 O 3 ), indium oxide (ITO) doped with tin (Sn), indium oxide doped with fluorine, and tin oxide (Sn oxide).
O 2), fluorine-doped tin oxide (SnO 2), antimony (Sb) doped tin oxide (SnO 2),
CdSnO 4 (CTO) and the like. As the material of the transparent k-cell crucible, in addition to optical glass materials such as flint glass and crown glass, quartz, sapphire,
Hard glass, calcium fluoride, or the like can be used. Although it is possible to increase the resistance value by patterning a transparent heater spirally necessary, the temperature controllability for no longer planar heaters of course decrease.

【0008】[0008]

【実施例】以下に本発明の実施例を図面により詳細に説
明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0009】(実施例1) 図2は本発明の蒸着用kセルを一部縦断面視した図であ
る。透明坩堝9は石英製で内容量が10ccである。透
面型ヒーター10は、ITOを透明坩堝9の外壁面に
スパッタ法で蒸着して作製した。透明面型ヒーター10
の上端,下端に各1個の電極11,12を設け、電極か
ら各1本のリード線13,14を取り出している。図2
に示したkセルに銅フタロシアニンを1g充填し、10
-9torrの真空条件下に置いた。透明面型ヒーターの二つ
の電極間に電流を流して銅フタロシアニン(CuPc)
を蒸発させた場合のkセルの温度を、熱電対8を用いて
測定した。また、kセル先端から20cmの位置に設置し
た25℃の水晶式膜厚計上に付着したCuPcの膜厚に
ついても測定した。両測定値の経時変化を図3に示す。
kセルの温度を段階的に270,290,310,33
0℃に設定した場合、270℃以上での各20℃の設定
温度上昇に対して、kセル温度は約10分で安定な状態
に達している。また、設定値に達した後は、温度変化が
±0.05℃の範囲に入っている。膜厚も設定温度到達
後は一定速度で増加しており、蒸着物質が均一に加熱さ
れていることがわかる。さらに、本kセルは加熱中も透
明な状態を保っており、CuPcの残存量等の内部の状
態を直接観察しながら実験を行うことができた。これに
対して、従来の巻線ヒーター型kセルを用いて行った同
様の試験結果(図4)では、設定温度に達して安定する
までの時間が約25分と長く、その後も±0.3℃程度
の温度のゆらぎを示している。さらに、設定温度を一定
に保った場合にも蒸着膜厚の増加量が徐々に小さくなっ
ていることから、kセル内に温度勾配があって蒸着速度
が経時的に変化することが推察された。以上述べたよう
に、石英製透明坩堝上にスパッタ法で蒸着したITO膜
を透明面型ヒーターとして使用したkセルは、温度勾配
が小さく、330℃付近の低温領域での制御性に優れる
こと、及び、蒸着中のkセル内の状態が直接観察可能で
あることがわかった。
Embodiment 1 FIG. 2 is a partial vertical cross-sectional view of a vapor deposition k-cell of the present invention. The transparent crucible 9 is made of quartz and has an internal capacity of 10 cc. The transparent surface type heater 10 was produced by depositing ITO on the outer wall surface of the transparent crucible 9 by a sputtering method. Transparent surface heater 10
One electrode 11 and 12 are provided at the upper end and the lower end, respectively, and one lead wire 13 and 14 is taken out from the electrode. FIG.
1 g of copper phthalocyanine was filled in the k-cell shown in FIG.
Placed under -9 torr vacuum. Copper phthalocyanine (CuPc) by passing a current between two electrodes of a transparent surface heater
The temperature of the k-cell when was evaporated was measured using a thermocouple 8. Further, the film thickness of CuPc adhered to a 25 ° C. quartz film thickness meter installed at a position 20 cm from the tip of the k-cell was also measured. FIG. 3 shows the change over time of both measured values.
The temperature of the k cell is gradually increased by 270, 290, 310, and 33.
When the temperature is set to 0 ° C., the k-cell temperature reaches a stable state in about 10 minutes for a set temperature increase of 20 ° C. or more at 270 ° C. or more. After reaching the set value, the temperature change falls within the range of ± 0.05 ° C. The film thickness also increases at a constant rate after reaching the set temperature, which indicates that the deposition material is heated uniformly. Furthermore, the k-cell maintained a transparent state even during heating, and the experiment could be performed while directly observing the internal state such as the remaining amount of CuPc. On the other hand, in a similar test result (FIG. 4) performed using a conventional wound heater type k cell, the time until the temperature reaches the set temperature and stabilizes is as long as about 25 minutes, and thereafter, ± 0. A temperature fluctuation of about 3 ° C. is shown. Further, even when the set temperature was kept constant, the increase in the thickness of the vapor-deposited film gradually decreased, so that it was presumed that there was a temperature gradient in the k-cell and the vapor-deposition rate changed over time. . As described above, a k-cell using an ITO film deposited on a quartz transparent crucible by a sputtering method as a transparent surface type heater has a small temperature gradient and excellent controllability in a low-temperature region around 330 ° C. Further, it was found that the state in the k cell during the vapor deposition can be directly observed.

【0010】(実施例2) 実施例1において、図1の透明坩堝9をサファイア製,
透明面型ヒーター10をアンチモン(Sb)をドープし
た酸化スズ(SnO2 )に変更して透明kセルを作製し
た。このkセルに無水ピロメリット酸(PMDA)を
0.5g充填し、10-7torrの真空条件下に置いた。透
面型ヒーターの二つの電極間に電流を流してPMDA
を蒸発させた場合のkセルの温度を、熱電対により測定
した。また、kセルの先端から20cmの位置に設置した
25℃の水晶式膜厚計上に付着したPMDAの膜厚につ
いても測定した。両測定値の経時変化を図5に示す。k
セルの温度を段階的に75,80,85,90℃に設定
した場合、75℃以上での各5℃の設定温度上昇に対し
て、kセル温度は約5分で安定な状態に達している。ま
た、設定値に達した後は、温度変化が±0.05℃の範
囲に入っている。膜厚も設定温度到達後は一定速度で増
加しており、蒸着物質が均一に加熱されていることがわ
かる。さらに、本kセルは加熱中も透明な状態を保って
おり、PMDAの残存量等の内部の状態を直接観察しな
がら実験を行うことができた。これに対して、従来の巻
線ヒーター型kセルを用いて行った同様の試験結果で
は、本試験の温度領域で設定温度に対する熱電対の指示
温度の変動を±2℃以下に保つことは困難であった。さ
らに、蒸着速度の時間変化がはげしいことから、kセル
内の温度勾配が大きいことが推察された。なお、従来の
kセルでは、本実験の温度領域で蒸着速度を制御するこ
とはできなかった。以上述べたように、サファイア製透
明坩堝上に作製したアンチモンドープ酸化スズ膜を透明
面型ヒーターとして使用したkセルは、75℃付近の低
温領域での制御性に優れること、及び、蒸着中のkセル
内の状態が直接観察可能であることがわかった。
(Example 2) In Example 1, the transparent crucible 9 of FIG.
A transparent k-cell was manufactured by changing the transparent surface type heater 10 to tin oxide (SnO 2 ) doped with antimony (Sb). The k-cell was filled with 0.5 g of pyromellitic anhydride (PMDA) and placed under a vacuum of 10 -7 torr. PMDA by passing current between two electrodes of a transparent surface type heater
The temperature of the k-cell when was evaporated was measured with a thermocouple. Further, the thickness of PMDA attached to a quartz film thickness meter at 25 ° C., which was set at a position 20 cm from the tip of the k cell, was also measured. FIG. 5 shows the change over time of both measured values. k
When the cell temperature is set to 75, 80, 85, 90 ° C. stepwise, the k-cell temperature reaches a stable state in about 5 minutes for each set temperature increase of 5 ° C. above 75 ° C. I have. After reaching the set value, the temperature change falls within the range of ± 0.05 ° C. The film thickness also increases at a constant rate after reaching the set temperature, which indicates that the deposition material is heated uniformly. Further, the k-cell maintained a transparent state even during heating, and the experiment could be performed while directly observing the internal state such as the residual amount of PMDA. On the other hand, in a similar test result performed using a conventional wound heater type k cell, it is difficult to keep the variation of the indicated temperature of the thermocouple with respect to the set temperature within ± 2 ° C. in the temperature range of the present test. Met. Furthermore, since the time change of the deposition rate was rapid, it was presumed that the temperature gradient in the k cell was large. It should be noted that the conventional k cell could not control the deposition rate in the temperature range of this experiment. As described above, the antimony-doped tin oxide film fabricated on the transparent sapphire crucible was
It was found that the k-cell used as the surface heater had excellent controllability in a low-temperature region around 75 ° C., and that the state in the k-cell during vapor deposition could be directly observed.

【0011】(実施例3) 図6は本発明の蒸着用kセルの一部縦断面図である。実
施例1,2との構造上の相違は、実施例1における図2
の透明坩堝9を本実施例では透明ヒーター支持体15と
して使用し、新たに石英製の透明坩堝16を透明ヒータ
ー支持体15の内側に密着させて挿入したことにある。
すなわち、内側から透明坩堝16,透明ヒーター支持体
15,透明面型ヒーター10が順次密着して配置されて
いる。これにより、蒸着物質を変更する場合には透明坩
堝16のみを交換すれば良いことになり、実施例1に比
べて作業性が向上する。本実施例では、透明ヒーター支
持体15として硬質ガラスを使用し、その側面にアンチ
モンをドープした酸化スズを真空蒸着後500℃で焼成
して透明面型ヒーター10を形成した。透明るつぼ16
は石英製で内容量が10ccである。図5に特性図を示
したkセルにテトラメチルテトラセレナフルバレン(T
MTSF)を0.2g充填し、10-8torrの真空条件下
に置いた。透明ヒーターの二つの電極間に電流を流して
TMTSFを蒸発させた場合のkセルの温度を、熱電対
8を用いて測定した。また、kセル先端から20cmの位
置に設置した25℃の水晶式膜厚計上に付着したTMT
SFの膜厚についても測定した。両測定値の経時変化を
図7に示す。kセルの温度を段階的に215,225,
235,245℃に設定した場合、215℃以上での各
10℃の設定温度上昇に対して、kセル温度は約10分
で安定な状態に達している。また、設定値に達した後
は、温度変化が±0.05℃の範囲に入っている。膜厚
も設定温度到達後は一定速度で増加しており、蒸着物質
が均一に加熱されていることがわかる。さらに、本kセ
ルは加熱中も透明な状態を保っており、TMTSFの残
存量等の内部の状態を直接観察しながら実験を行うこと
ができた。これに対して、従来の巻線ヒーター型kセル
を用いて行った同様の試験結果では、実施例1における
従来セルの試験結果と同様に、設定温度に達して安定す
るまでの時間が約25分と長く、その後も±0.3℃程
度の温度のゆらぎを示している。さらに、設定温度を一
定に保った場合にも蒸着膜厚の増加量が徐々に小さくな
ってくることから、kセル内に温度勾配があって蒸着速
度が経時的に変化することが推察された。以上述べたよ
うに、図6に示した構造のkセルは、温度勾配が小さ
く、230℃付近の低温領域での制御性に優れること、
及び、蒸着中のkセル内の状態が直接観察可能であるこ
とがわかった。
(Embodiment 3) FIG. 6 is a partial vertical sectional view of a k-cell for vapor deposition of the present invention. The difference in structure from the first and second embodiments is the same as FIG.
In this embodiment, the transparent crucible 9 is used as the transparent heater support 15, and a transparent crucible 16 made of quartz is newly inserted in close contact with the inside of the transparent heater support 15.
That is, from the inside, the transparent crucible 16 and the transparent heater support
15, the transparent surface type heaters 10 are sequentially arranged in close contact with each other.
I have. Accordingly, when changing the evaporation material, only the transparent crucible 16 needs to be replaced, and the workability is improved as compared with the first embodiment. In this embodiment, hard glass was used as the transparent heater support 15, and tin oxide doped with antimony was vacuum-deposited on the side surfaces thereof and then fired at 500 ° C. to form the transparent surface heater 10. Transparent crucible 16
Is made of quartz and has an internal capacity of 10 cc. FIG. 5 shows the characteristic diagram of the k-cell in tetramethyltetraselenafulvalene (T
MTSF) and placed under vacuum at 10 -8 torr. The temperature of the k-cell when TMTSF was evaporated by passing a current between the two electrodes of the transparent heater was measured using a thermocouple 8. In addition, TMT attached to a quartz film thickness meter at 25 ° C. installed at a position 20 cm from the tip of the k-cell.
The film thickness of SF was also measured. FIG. 7 shows the change over time of both measured values. The temperature of the k cell is gradually increased by 215, 225,
When the temperature is set to 235 ° C and 245 ° C, the temperature of the k-cell reaches a stable state in about 10 minutes for each set temperature increase of 215 ° C or more at 10 ° C. After reaching the set value, the temperature change falls within the range of ± 0.05 ° C. The film thickness also increases at a constant rate after reaching the set temperature, which indicates that the deposition material is heated uniformly. Further, the k-cell maintained a transparent state even during heating, and the experiment could be performed while directly observing the internal state such as the remaining amount of TMTSF. On the other hand, in a similar test result performed using a conventional wound heater type k cell, as in the case of the conventional cell in Example 1, the time required to reach the set temperature and stabilize was about 25%. Minutes, and the temperature fluctuates by about ± 0.3 ° C. after that. Furthermore, even when the set temperature was kept constant, the increase in the thickness of the deposited film gradually decreased, so that it was inferred that there was a temperature gradient in the k cell and the deposition rate changed over time. . As described above, the k-cell having the structure shown in FIG. 6 has a small temperature gradient and excellent controllability in a low-temperature region around 230 ° C.
Further, it was found that the state in the k-cell during the vapor deposition can be directly observed.

【0012】[0012]

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明のk
セルを使用して有機化合物を蒸着した場合、kセル内の
温度勾配が小さく、かつ、75〜330℃の低温域での
温度制御性が良いので蒸着速度を一定に保つことができ
る。また、蒸着中にkセル内部を観察できるため、蒸着
試料の飛散状態や残留量を確認しながら蒸着作業が行え
る。このため、kセルの温度や真空度の変化からkセル
内部の状態を推察するしかなかった従来の方法に比べ
て、早期に異常の発見が可能となることは明かである。
さらに、試料の追加時期を適切に決められるという利点
も有している。
As described in detail above, the k of the present invention
When an organic compound is deposited using a cell, the temperature gradient in the k cell is small and the temperature controllability in a low temperature range of 75 to 330 ° C. is good, so that the deposition rate can be kept constant. Further, since the inside of the k cell can be observed during the vapor deposition, the vapor deposition operation can be performed while checking the scattering state and the residual amount of the vapor deposition sample. Therefore, it is clear that an abnormality can be found earlier than in the conventional method in which the state inside the k-cell can only be inferred from changes in the temperature and the degree of vacuum of the k-cell.
Further, there is an advantage that the time for adding a sample can be appropriately determined.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】従来の巻線ヒーター型kセルの構造図を示す。FIG. 1 shows a structural diagram of a conventional wound heater type k cell.

【図2】本発明の一つの実施例による蒸着用kセルの一
部縦断面図である。
FIG. 2 is a partial longitudinal sectional view of a k-cell for vapor deposition according to one embodiment of the present invention.

【図3】本発明によるkセルの温度と蒸着膜厚の時間変
化を示す特性図である。
FIG. 3 is a characteristic diagram showing a time change of a temperature of a k-cell and a deposition film thickness according to the present invention.

【図4】従来のkセルの温度と蒸着膜厚の時間変化を示
す特性図である。
FIG. 4 is a characteristic diagram showing a temporal change of a temperature and a deposition film thickness of a conventional k cell.

【図5】本発明によるkセルの温度と蒸着膜厚の時間変
化を示す特性図である。
FIG. 5 is a characteristic diagram showing a time change of a temperature of a k-cell and a deposition film thickness according to the present invention.

【図6】本発明の他の実施例による蒸着用kセルの一部
縦断面図である。
FIG. 6 is a partial vertical sectional view of a k-cell for vapor deposition according to another embodiment of the present invention.

【図7】図5の特性図によるkセルの温度と蒸着膜厚の
時間変化を示す特性図である。
FIG. 7 is a characteristic diagram showing a time change of the temperature of the k-cell and the thickness of the deposited film in the characteristic diagram of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 るつぼ 2 蓋 3 ヒーター線 4 サポータ 5,9 絶縁碍子 6 金属製の蓋 7 おさえ 8 熱電対 9 透明るつぼ 10 透明面型ヒーター 11 上部電極 12 下部電極 13,14 電極用リード線 15 透明ヒーター支持体 16 透明坩堝DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Crucible 2 Lid 3 Heater wire 4 Supporter 5, 9 Insulator 6 Metal lid 7 Holder 8 Thermocouple 9 Transparent crucible 10 Transparent surface heater 11 Upper electrode 12 Lower electrode 13, 14 Electrode lead wire 15 Transparent heater support 16 Transparent crucible

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 林 孝好 東京都千代田区内幸町一丁目1番6号 日本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 平4−160147(JP,A) 特開 平4−372933(JP,A) 実開 平2−10456(JP,U) 実開 平4−40762(JP,U) 実開 平4−53051(JP,U) 実開 平4−44360(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) C23C 14/00 - 14/58 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (72) Takayoshi Hayashi Inventor Nippon Telegraph and Telephone Corporation, 1-6-1 Uchisaiwaicho, Chiyoda-ku, Tokyo (56) References JP-A-4-160147 (JP, A) JP-A-Hei 4-372933 (JP, A) Japanese Utility Model 2-10456 (JP, U) Japanese Utility Model 4-40762 (JP, U) Japanese Utility Model 4-53051 (JP, U) Japanese Utility Model 4-44360 (JP, U) U) (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) C23C 14/00-14/58

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 透明るつぼと該透明るつぼの面上又は
面に近接して設置された透明面型ヒーターとを備え
た真空蒸着用kセル。
1. A transparent crucible and translucent brightness k cells for vacuum vapor deposition and a transparent surface type heater that is installed close to the side surface or on the side surface of the pot.
【請求項2】 透明るつぼと、該透明るつぼの外壁に密
着する透明ヒーター支持体と、該透明ヒーター支持体の
外壁面に沿って設置された透明面型ヒーターとを備えた
真空蒸着用kセル。
2. A transparent crucible and an outer wall of the transparent crucible.
A transparent heater support to be attached,
With a transparent heater installed along the outer wall
K cell for vacuum evaporation.
【請求項3】 前記透明面型ヒーターが、酸化インジウ
ムまたは酸化スズを主成分とする透明導電膜であること
を特徴とする請求項1又は2に記載の真空蒸着用kセ
ル。
Wherein the transparent surface type heater, k cells for vacuum deposition according to claim 1 or 2, characterized in that a transparent conductive film composed mainly of indium oxide or tin oxide.
【請求項4】 前記透明面型ヒーターが酸化インジウム
または酸化スズを主成分とする透明導電膜であり、前記
透明るつぼが石英製、硬質ガラス製、またはサファイア
製であることを特徴とする請求項1又は2に記載の真空
蒸着用kセル。
4. The transparent surface type heater is a transparent conductive film containing indium oxide or tin oxide as a main component, and the transparent crucible is made of quartz, hard glass, or sapphire. 3. The k-cell for vacuum deposition according to 1 or 2 .
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