JP3190941B2 - Semiconductor integrated circuit device for insulated switching power supply device - Google Patents

Semiconductor integrated circuit device for insulated switching power supply device

Info

Publication number
JP3190941B2
JP3190941B2 JP23127694A JP23127694A JP3190941B2 JP 3190941 B2 JP3190941 B2 JP 3190941B2 JP 23127694 A JP23127694 A JP 23127694A JP 23127694 A JP23127694 A JP 23127694A JP 3190941 B2 JP3190941 B2 JP 3190941B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
power supply
package
control circuit
switching power
power
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP23127694A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0897351A (en
Inventor
雄司 山西
Original Assignee
松下電子工業株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 松下電子工業株式会社 filed Critical 松下電子工業株式会社
Priority to JP23127694A priority Critical patent/JP3190941B2/en
Publication of JPH0897351A publication Critical patent/JPH0897351A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3190941B2 publication Critical patent/JP3190941B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49171Fan-out arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1306Field-effect transistor [FET]
    • H01L2924/13091Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor [MOSFET]

Landscapes

  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
  • Dc-Dc Converters (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は絶縁型スイッチング電
源装置用半導体集積回路装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor integrated circuit device for an insulated switching power supply.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年電子機器の小型化が求められる中
で、電源装置もスイッチング電源化、そしてそのスイッ
チング周波数を高めることによって、小型化が進んでい
る。これに伴って、電源装置に使用される半導体装置も
高集積化が進みつつある。この例としては、MOSFE
T(例えば、Nチャネル型MOSFET)やバイポーラ
トランジスタ(例えばNPN型バイポーラトランジス
タ)等の電力用スイッチング素子と、その制御回路とを
一つのパッケージに搭載した絶縁型スイッチング電源装
置用半導体集積回路装置が開発されてきている。
2. Description of the Related Art In recent years, downsizing of electronic equipment has been demanded, and power supplies have been downsized by using switching power supplies and increasing the switching frequency. Along with this, semiconductor devices used for power supply devices are also becoming highly integrated. An example of this is MOSFE
Developed a semiconductor integrated circuit device for an insulated switching power supply device in which a power switching element such as a T (for example, an N-channel MOSFET) or a bipolar transistor (for example, an NPN bipolar transistor) and its control circuit are mounted in one package. Have been.

【0003】また、この搭載の仕方も、電力用スイッチ
ング素子チップとその制御回路チップとを別チップで搭
載したものから、さらにパッケージの小型化を図るた
め、電力用スイッチング素子部とその制御回路部とを同
一チップに搭載したものへと進化してきている。その一
例としては、Proceeding of 1992 International Sympo
sium on Powersemiconductor Devices & ICs, Tokyo p
p.322-327 "A 1200V BiCMOS TECHNOLOGYAND ITS APPLIC
ATION" by Vladimir Rumennik Power Integrations,In
c. に発表されたものがあげられる。これは、電力用M
OSFETとその制御回路および保護回路を1チップに
搭載した、いわゆるスイッチング電源用インテリジェン
ト電力用MOSFETである。
[0003] In addition, the mounting method of the power switching element chip and its control circuit chip is different from that in which the power switching element chip and its control circuit chip are mounted on separate chips. Has been evolving to be mounted on the same chip. One example is the Proceeding of 1992 International Sympo
sium on Powersemiconductor Devices & ICs, Tokyo p
p.322-327 "A 1200V BiCMOS TECHNOLOGYAND ITS APPLIC
ATION "by Vladimir Rumennik Power Integrations, In
c. This is the power M
This is a so-called intelligent power MOSFET for a switching power supply in which an OSFET and its control circuit and protection circuit are mounted on one chip.

【0004】図3に上記スイッチング電源用インテリジ
ェント電力用MOSFETを用いた絶縁型スイッチング
電源装置の概略回路図を示す。図3において、43bは
絶縁型スイッチング電源装置用半導体集積回路装置、7
bは交流電源、8bはダイオードブリッジ、9bは平滑
用コンデンサ、10bはダイオードおよび平滑用コンデ
ンサからなる二次側整流平滑回路、12bは絶縁用のト
ランス、25bはNチャネルMOSFETからなる電力
用スイッチング素子、42bは電力用スイッチング素子
25bを制御する制御回路、38bは寄生インダクタン
ス成分、35bは低圧側の配線、36bは制御回路42
bのグラウンド、41bは寄生インダクタンス成分、4
4bは電源入力配線、45bは一次側出力配線、37b
はソースリード端子である。
FIG. 3 is a schematic circuit diagram of an insulated switching power supply using the intelligent power MOSFET for switching power supply. In FIG. 3, reference numeral 43b denotes a semiconductor integrated circuit device for an insulated switching power supply device;
b is an AC power supply, 8b is a diode bridge, 9b is a smoothing capacitor, 10b is a secondary-side rectifying and smoothing circuit including a diode and a smoothing capacitor, 12b is a transformer for insulation, and 25b is a power switching element including an N-channel MOSFET. , 42b are control circuits for controlling the power switching element 25b, 38b is a parasitic inductance component, 35b is a low-voltage side wiring, and 36b is a control circuit 42.
b, a parasitic inductance component 41b,
4b is a power input wiring, 45b is a primary output wiring, 37b
Is a source lead terminal.

【0005】この絶縁型スイッチング電源装置は、交流
電源7bの交流電圧をダイオードブリッジ8bおよび平
滑用コンデンサ9bで整流および平滑して直流電圧と
し、この直流電圧によってトランス12bの一次側に流
れる電流を電力用スイッチング素子25bによって断続
することにより、トランス12bの二次側に交流電圧を
誘起させ、この交流電圧を二次側整流平滑回路10bで
整流・平滑して直流電圧としている。電力用スイッチン
グ素子25bは制御回路42bによって制御される。
In this insulated switching power supply device, an AC voltage of an AC power supply 7b is rectified and smoothed by a diode bridge 8b and a smoothing capacitor 9b to obtain a DC voltage. The AC voltage is induced on the secondary side of the transformer 12b by intermittent switching by the switching element 25b, and the AC voltage is rectified and smoothed by the secondary side rectifying and smoothing circuit 10b to be a DC voltage. The power switching element 25b is controlled by the control circuit 42b.

【0006】上記の絶縁型スイッチング電源装置用半導
体集積回路装置43bは、絶縁型スイッチング電源装置
の中のプリント基板に搭載するとき、絶縁型スイッチン
グ電源装置をできるだけ小さくするためには、上記プリ
ント基板の配線パターンの設計に工夫を要する。ただ
し、このパターン配線の設計においては、高電圧がかか
る配線、例えば図3における、交流電源7bの電圧が整
流・平滑された直流電圧が供給される電源入力配線44
bおよびトランス12bから電力用スイッチング素子2
5bへと一次側出力電流が流れる一次側出力配線45b
と、低電圧のかかる配線、例えば一次側の低電圧の配線
35bあるいは二次側の配線との間隔を法規を遵守した
距離とする必要があったり、また大きな電流が流れるラ
インにおいては、その寄生のインダクタンス成分によっ
てノイズが発生することをできるだけ小さくするため、
なるべくその幅を広くする必要があったり、また上記高
電圧のかかる配線と低電圧のかかる配線とをプリント基
板の表裏に作ってプリント基板の寄生容量の影響で低電
圧側配線に高電圧側の信号がのることを防ぐため、この
ような配線を避けたりする必要がある。
When the above-mentioned semiconductor integrated circuit device 43b for an insulated switching power supply is mounted on a printed circuit board in an insulated switching power supply, the size of the insulated switching power supply must be minimized. It requires some ingenuity in designing the wiring pattern. However, in the design of the pattern wiring, a wiring to which a high voltage is applied, for example, a power input wiring 44 to which a DC voltage obtained by rectifying and smoothing the voltage of the AC power supply 7b in FIG.
b and power switching element 2 from transformer 12b
Primary output wiring 45b through which primary output current flows to 5b
In addition, it is necessary to make the distance between the low-voltage wiring, for example, the low-voltage wiring 35b on the primary side and the wiring on the secondary side a distance in compliance with the regulations, or in a line where a large current flows, the To minimize the occurrence of noise due to the inductance component of
It is necessary to increase the width as much as possible, or make the high-voltage wiring and the low-voltage wiring on the front and back of the printed circuit board, and apply the high-voltage side wiring to the low-voltage wiring due to the parasitic capacitance of the printed circuit board. It is necessary to avoid such wiring in order to prevent signals from being carried.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】前項で示した、図3に
おいて、絶縁型スイッチング電源装置の一次側に設けら
れる絶縁型スイッチング電源装置用半導体集積回路装置
43bにおいて、最も大きな電流が流れる部分は、電力
用スイッチング素子25bであるMOSFETのドレイ
ンからソースへの経路である。ここで、電力用スイッチ
ング素子25bのソースのワイヤは、寄生のインダクタ
ンス成分38bを有する。また、上記絶縁型スイッチン
グ電源装置用半導体集積回路装置43bのソースリード
端子37bについても、寄生のインダクタンス成分41
bが存在する。
In the semiconductor integrated circuit device 43b for the insulated switching power supply device provided on the primary side of the insulated switching power supply device shown in FIG. This is a path from the drain to the source of the MOSFET that is the power switching element 25b. Here, the source wire of the power switching element 25b has a parasitic inductance component 38b. The source lead terminal 37b of the semiconductor integrated circuit device 43b for the insulated switching power supply device also has a parasitic inductance component 41.
b exists.

【0008】電力用スイッチング素子25bには、図4
(a)に示すような電流39bが流れ、この流れ始めお
よび流れ終わりの時に、上記の寄生インダクタンス成分
38b,41bによって図4(b)に示すような電圧4
0bが発生する。このことで過渡的に、上記の絶縁型ス
イッチング電源装置用半導体集積回路装置43bの内部
のグラウンド部において、電位が異なってしまう。つま
り、電力用スイッチング素子25bのグラウンド部(ソ
ース)と制御回路42bのグラウンド36bが、電力用
スイッチング素子25bのグラウンドラインの寄生イン
ダクタンス成分38b,41bによって発生した電圧に
よって違う電位となってしまう。
The power switching element 25b has a structure shown in FIG.
A current 39b flows as shown in FIG. 4A, and at the beginning and end of the flow, the parasitic inductance components 38b and 41b cause the voltage 4b as shown in FIG.
0b is generated. As a result, the potential is transiently different in the ground portion inside the semiconductor integrated circuit device 43b for the insulated switching power supply device. That is, the ground portion (source) of the power switching element 25b and the ground 36b of the control circuit 42b have different potentials depending on the voltages generated by the parasitic inductance components 38b and 41b of the ground line of the power switching element 25b.

【0009】すると、電力用スイッチング素子25bの
グラウンドラインから制御回路42bのグラウンド36
bに対して、過渡的な電流が流れて、制御回路42bの
動作に影響を与え、これがひどい場合には、誤動作を起
こすことになる。このような影響は、大電流を扱う集積
回路装置に共通して起こる問題であるが、この集積回路
装置が電源用となると、高耐圧の電力用スイッチング素
子を内蔵する集積回路装置の場合、電力用スイッチング
素子を作り込む半導体基板の比抵抗が高く、この過渡的
な電流により発生する電圧が大きくなるため、影響を受
けやすくなる。
Then, the ground 36 of the control circuit 42b is connected to the ground line of the power switching element 25b.
A transient current flows with respect to b, affecting the operation of the control circuit 42b. If this is severe, a malfunction will occur. Such an effect is a problem commonly occurring in an integrated circuit device that handles a large current.However, when the integrated circuit device is used for a power supply, in the case of an integrated circuit device having a built-in high-voltage power switching element, the power The specific resistance of the semiconductor substrate on which the switching element is formed is high, and the voltage generated by this transient current becomes large, so that the semiconductor substrate is easily affected.

【0010】したがって、この発明の目的は、電力用ス
イッチング素子を通してグラウンドに流れる過渡的な電
流による制御回路の誤動作を防止することができる絶縁
型スイッチング電源装置用半導体集積回路装置を提供す
ることである。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a semiconductor integrated circuit device for an insulated switching power supply device which can prevent a malfunction of a control circuit due to a transient current flowing to the ground through a power switching element. .

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の絶縁型ス
イッチング電源装置用半導体集積回路装置は、絶縁型ス
イッチング電源装置の一部である電力用スイッチング素
子と、この電力用スイッチング素子を制御する制御回路
とを一つのパッケージ内に搭載し、電力用スイッチング
素子のグラウンド電極をパッケージ内で2本以上の第1
パッケージリードに電気的に接続し、制御回路のグラウ
ンド電極をパッケージ内で第1パッケージリードとは異
なる第2パッケージリードに電気的に接続し、第1パッ
ケージリードの一部と第2パッケージリードとをパッケ
ージ外で例えばプリント基板を利用して電気的に接続
し、第1パッケージリードの残りを絶縁型スイッチング
電源装置のグラウンドラインに電気的に接続している。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a semiconductor integrated circuit device for an insulated switching power supply, which controls a power switching element which is a part of the insulated switching power supply, and the power switching element. The control circuit and the control circuit are mounted in one package, and the ground electrode of the power switching element is connected to two or more first electrodes in the package.
The first package lead is electrically connected to the package lead, and the ground electrode of the control circuit is electrically connected to a second package lead different from the first package lead in the package, and a part of the first package lead and the second package lead are connected. Electrical connection is made outside the package using, for example, a printed circuit board, and the rest of the first package lead is electrically connected to the ground line of the insulated switching power supply.

【0012】請求項2記載の絶縁型スイッチング電源装
置用半導体集積回路装置は、請求項1における絶縁型ス
イッチング電源装置がフライバック型である。請求項3
記載の絶縁型スイッチング電源装置用半導体集積回路装
置は、請求項1における絶縁型スイッチング電源装置が
フィードフォワード型である。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a semiconductor integrated circuit device for an isolated switching power supply, wherein the isolated switching power supply according to the first aspect is a flyback type. Claim 3
According to the semiconductor integrated circuit device for an insulated switching power supply device described above, the insulated switching power supply device in claim 1 is of a feedforward type.

【0013】[0013]

【作用】この発明によれば、一つのパッケージに搭載し
た電力用スイッチング素子およびその制御回路のうち、
電力用スイッチング素子のグラウンド電極がパッケージ
内で2本以上の第1パッケージリードにワイヤを介して
電気的に接続される。また、制御回路のグラウンド電極
は、パッケージ内で第1パッケージリードとは異なる第
2パッケージリードにワイヤを介して電気的に接続され
る。そして、第1パッケージリードの一部と第2パッケ
ージリードとがパッケージ外で電気的に接続される。こ
の結果、制御回路のグラウンド電極と電力用スイッチン
グ素子のグラウンド電極との間の接続ラインには、制御
回路の電流のみ流れるが、この電流はきわめて少ない電
流であり、またほとんど定常的な電流であるため、制御
回路のグラウンド電極と電力用スイッチング素子のグラ
ウンド電極との間の接続ラインの寄生インダクタンス成
分による電圧発生はほとんどない。したがって、この制
御回路のグラウンド電極と電力用スイッチング素子のグ
ラウンド電極との間の接続ラインの電位および制御回路
のグラウンド電極の電位は、電力用スイッチング素子の
グラウンド電極とほぼ同電位となる。
According to the present invention, of the power switching element mounted on one package and the control circuit thereof,
A ground electrode of the power switching element is electrically connected to two or more first package leads via a wire in the package. The ground electrode of the control circuit is electrically connected to a second package lead different from the first package lead in the package via a wire. Then, a part of the first package lead and the second package lead are electrically connected outside the package. As a result, only the current of the control circuit flows through the connection line between the ground electrode of the control circuit and the ground electrode of the power switching element, but this current is an extremely small current and an almost steady current. Therefore, there is almost no voltage generation due to the parasitic inductance component of the connection line between the ground electrode of the control circuit and the ground electrode of the power switching element. Therefore, the potential of the connection line between the ground electrode of the control circuit and the ground electrode of the power switching element and the potential of the ground electrode of the control circuit are substantially the same as the ground electrode of the power switching element.

【0014】一方、第1パッケージリードの残りの全て
が絶縁型スイッチング電源装置のグラウンドラインに電
気的に接続される。この結果、電力用スイッチング素子
のグラウンド電極と絶縁型スイッチング電源装置のグラ
ウンドラインとを結ぶ接続ラインには、電力用スイッチ
ング素子に流れる出力電流が流れる。したがって、電力
用スイッチング素子のグラウンド電極と絶縁型スイッチ
ング電源装置のグラウンドラインとを結ぶ接続ラインに
は、寄生インダクタンス成分が存在するため、電力用ス
イッチング素子がスイッチングする際に、寄生インダク
タンス成分による電圧が発生する。しかし、電力用スイ
ッチング素子のグラウンド電極を基準に見ると、制御回
路のグラウンド電極は寄生インダクタンス成分に生じる
電圧の影響を受けない。つまり、電力用スイッチング素
子のスイッチングにより、電力用スイッチング素子のグ
ラウンド電極は、絶縁型スイッチング電源装置のグラウ
ンドラインから見れば変動しているが、制御回路のグラ
ウンド電極の電位は、電力用スイッチング素子のグラウ
ンド電極と連動して変化するため、制御回路のグラウン
ド電極と電力用スイッチング素子のグラウンド電極との
間に電流が流れることはなく、絶縁型スイッチング電源
装置の一次側回路としては、電力用スイッチング素子の
グラウンド電極の電位を基準にして正常に動作すること
になる。したがって、制御回路は、上記した寄生インダ
クタンス成分の影響を受けることなく、誤動作は起こら
ない。
On the other hand, all of the remaining first package leads are electrically connected to the ground line of the insulated switching power supply. As a result, an output current flowing through the power switching element flows through a connection line connecting the ground electrode of the power switching element and the ground line of the insulated switching power supply device. Therefore, since a parasitic inductance component exists in the connection line connecting the ground electrode of the power switching element and the ground line of the insulated switching power supply, when the power switching element switches, the voltage due to the parasitic inductance component is reduced. appear. However, with reference to the ground electrode of the power switching element, the ground electrode of the control circuit is not affected by the voltage generated in the parasitic inductance component. That is, due to the switching of the power switching element, the ground electrode of the power switching element fluctuates when viewed from the ground line of the insulated switching power supply device, but the potential of the ground electrode of the control circuit changes the potential of the power switching element. Since the voltage changes in conjunction with the ground electrode, no current flows between the ground electrode of the control circuit and the ground electrode of the power switching element. Normal operation is performed with reference to the potential of the ground electrode. Therefore, the control circuit is not affected by the parasitic inductance component described above, and does not malfunction.

【0015】[0015]

【実施例】以下、この発明の一実施例の絶縁型スイッチ
ング電源装置用半導体集積回路装置を含む絶縁型スイッ
チング電源装置について、図1および図2を参照して説
明する。図1は、この発明の一実施例における絶縁型ス
イッチング電源装置の概略図であり、そこに使用してい
る絶縁型スイッチング電源装置用半導体集積回路装置を
含めて、その電極およびパッケージリードの接続方法を
示した。また、図2は、絶縁型スイッチング電源装置用
半導体集積回路装置について詳しく示した図である。こ
こでは、この両図によって、この発明の実施例を説明す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An insulation type switching power supply including a semiconductor integrated circuit device for an insulation type switching power supply according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. FIG. 1 is a schematic view of an insulated switching power supply device according to an embodiment of the present invention, including a method of connecting electrodes and package leads thereof, including a semiconductor integrated circuit device for an insulated switching power supply device used therein. showed that. FIG. 2 is a diagram showing a semiconductor integrated circuit device for an insulated switching power supply in detail. Here, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

【0016】先ず、図1について説明する。図1は絶縁
型スイッチング電源装置であり、交流電源7をダイオー
ドブリッジ8と平滑用コンデンサ9で整流・平滑した電
圧から、直接起動できる絶縁型スイッチング電源装置用
半導体集積回路装置5を具備している。この絶縁型スイ
ッチング電源装置用半導体集積回路装置5は、出力の電
力用スイッチング素子である電力用MOSFET1とそ
の制御回路2とを1チップ内に有するもので、このチッ
プを24ピンの表面実装型のフラット型のパッケージ5
Aに納めたものである。このパッケージ5Aの内部にお
いては、電力用MOSFET1のソース電極3から、3
本のパッケージリード12,21に金ワイヤが打たれ、
ドレイン電極4から、2本のパッケージリードに金ワイ
ヤが打たれている。制御回路2については、制御回路2
の各部分のボンディングパッドより、それぞれ1本ずつ
の金ワイヤがそれぞれ別のパッケージリードに接続され
ている。
First, FIG. 1 will be described. FIG. 1 shows an insulated switching power supply, which includes an insulated switching power supply semiconductor integrated circuit device 5 that can be directly started from a voltage obtained by rectifying and smoothing an AC power supply 7 with a diode bridge 8 and a smoothing capacitor 9. . The semiconductor integrated circuit device 5 for an insulated switching power supply device has a power MOSFET 1 serving as an output power switching element and a control circuit 2 in a single chip. Flat package 5
A. Inside the package 5A, the source electrodes 3 to 3 of the power MOSFET 1
Gold wires were struck on the package leads 12 and 21,
Gold wires are struck from the drain electrode 4 to two package leads. As for the control circuit 2, the control circuit 2
Each gold wire is connected to a different package lead from the bonding pad of each part.

【0017】制御回路2のパッケージリードについて
は、制御回路2の動作上必要な外付け部品、例えば、回
路内部の基準定電流を決定する基準抵抗20、発振器の
発振周波数を決定する容量19、内部制御回路の電源と
なる安定化電源用のコンデンサ18、二次側が過負荷に
なった時に電力用MOSFET1が間欠発振をする際そ
の間欠発振の周期を決定するコンデンサ17、さらには
二次側の負荷状況に対応して電力用MOSFET1のオ
ンデューティ制御を行うフォトカプラ14等が接続され
ている。
The package leads of the control circuit 2 include external components necessary for the operation of the control circuit 2, such as a reference resistor 20 for determining a reference constant current in the circuit, a capacitor 19 for determining the oscillation frequency of the oscillator, and an internal component. A capacitor 18 for a stabilized power supply serving as a power supply for the control circuit, a capacitor 17 for determining a period of the intermittent oscillation when the power MOSFET 1 performs an intermittent oscillation when the secondary side is overloaded, and a load on the secondary side A photocoupler 14 for controlling the on-duty of the power MOSFET 1 according to the situation is connected.

【0018】そして、制御回路5のグラウンドのパッケ
ージリード16は、電力用MOSFET1のソースの3
本のうちの1本のパッケージリード21と半導体装置外
の配線パターンで接続されている。また、その他の電力
用MOSFET1のソースのパッケージリード12につ
いては、制御回路2のグラウンドのパッケージリード1
6には配線パターンでは接続せず、絶縁型スイッチング
電源装置のグラウンドに直接接続されている。
The ground package lead 16 of the control circuit 5 is connected to the source 3 of the power MOSFET 1.
One of the package leads 21 is connected to a wiring pattern outside the semiconductor device. The other package lead 12 of the power MOSFET 1 is connected to the ground package lead 1 of the control circuit 2.
6 is not connected by a wiring pattern, but is directly connected to the ground of the insulated switching power supply.

【0019】36はトランス、10は二次側整流平滑回
路、11は補助巻線整流平滑回路である。34は二次側
過昇電圧検出回路で、ホトカプラの送信器を内蔵してお
り、6は上記ホトカプラの受信器である。15はオンデ
ューティ制御回路で、分圧抵抗13d,13eおよびオ
ンデューティ制御用オペアンプ13等で構成している。
Reference numeral 36 denotes a transformer, 10 denotes a secondary side rectifying / smoothing circuit, and 11 denotes an auxiliary winding rectifying / smoothing circuit. Numeral 34 is a secondary side overvoltage detecting circuit, which has a built-in photocoupler transmitter, and 6 is a photocoupler receiver. Reference numeral 15 denotes an on-duty control circuit, which includes voltage dividing resistors 13d and 13e, an on-duty control operational amplifier 13, and the like.

【0020】以上のような構成の絶縁型スイッチング電
源装置用半導体集積回路装置では、一つのパッケージ5
Aに搭載した電力用MOSFET1およびその制御回路
2のうち、電力用MOSFET1のソース電極(グラウ
ンド電極)3がパッケージ5A内で2本以上の第1パッ
ケージリード12,21にワイヤを介して電気的に接続
される。また、制御回路2のグラウンド電極は、パッケ
ージ5A内で第1パッケージリードとは異なる第2パッ
ケージリード16にワイヤを介して電気的に接続され
る。そして、第1パッケージリードの一部21と第2パ
ッケージリード16とがパッケージ5A外で電気的に接
続される。この結果、制御回路2のグラウンド電極と電
力用MOSFET1のソース電極3との間の接続ライン
には、制御回路2の電流のみ流れるが、この電流はきわ
めて少ない電流であり、またほとんど定常的な電流であ
るため、制御回路2のグラウンド電極と電力用MOSF
ET1のソース電極3との間の接続ラインの寄生インダ
クタンス成分による電圧発生はほとんどない。したがっ
て、この制御回路2のグラウンド電極と電力用MOSF
ET1のソース電極3との間の接続ラインの電位および
制御回路2のグラウンド電極の電位は、電力用MOSF
ET1のソース電極3とほぼ同電位となる。
In the semiconductor integrated circuit device for an insulated switching power supply having the above configuration, one package 5
A of the power MOSFET 1 and its control circuit 2 mounted on the power MOSFET A, the source electrode (ground electrode) 3 of the power MOSFET 1 is electrically connected to two or more first package leads 12 and 21 via wires in the package 5A. Connected. The ground electrode of the control circuit 2 is electrically connected to a second package lead 16 different from the first package lead via a wire in the package 5A. Then, a part 21 of the first package lead and the second package lead 16 are electrically connected outside the package 5A. As a result, only the current of the control circuit 2 flows through the connection line between the ground electrode of the control circuit 2 and the source electrode 3 of the power MOSFET 1, but this current is an extremely small current, and the current is almost constant. Therefore, the ground electrode of the control circuit 2 and the power MOSF
There is almost no voltage generation due to the parasitic inductance component of the connection line between the ET1 and the source electrode 3. Therefore, the ground electrode of the control circuit 2 and the power MOSF
The potential of the connection line with the source electrode 3 of the ET1 and the potential of the ground electrode of the control circuit 2 are
It has substantially the same potential as the source electrode 3 of ET1.

【0021】一方、第1パッケージリードの残りの全て
12が絶縁型スイッチング電源装置のグラウンドライン
に電気的に接続される。この結果、電力用MOSFET
1のソース電極3と絶縁型スイッチング電源装置のグラ
ウンドラインとを結ぶ接続ラインには、電力用MOSF
ET1に流れる出力電流が流れる。したがって、電力用
MOSFET1のソース電極3と絶縁型スイッチング電
源装置のグラウンドラインとを結ぶ接続ラインには、寄
生インダクタンス成分が存在するため、電力用MOSF
ET1がスイッチングする際に、寄生インダクタンス成
分による電圧が発生する。しかし、電力用MOSFET
1のソース電極3を基準に見ると、制御回路2のグラウ
ンド電極は寄生インダクタンス成分に生じる電圧の影響
を受けない。つまり、電力用MOSFET1のスイッチ
ングにより、電力用MOSFET1のソース電極3は、
絶縁型スイッチング電源装置のグラウンドラインから見
れば変動しているが、制御回路2のグラウンド電極の電
位は、電力用MOSFET1のソース電極3と連動して
変化するため、制御回路2のグラウンド電極と電力用M
OSFET1のソース電極との間に電流が流れることは
なく、絶縁型スイッチング電源装置の一次側回路として
は、電力用MOSFET1のソース電極3の電位を基準
にして正常に動作することになる。したがって、制御回
路2は、上記した寄生インダクタンス成分の影響を受け
ることなく、誤動作は起こらない。なお、基本的な動作
は従来例と同じである。
On the other hand, all the remaining 12 of the first package leads are electrically connected to the ground line of the insulated switching power supply. As a result, the power MOSFET
A power MOSF is connected to a connection line connecting the source electrode 3 and the ground line of the insulated switching power supply.
The output current flowing to ET1 flows. Therefore, since a parasitic inductance component exists in the connection line connecting the source electrode 3 of the power MOSFET 1 and the ground line of the insulated switching power supply, the power MOSFET
When the ET1 switches, a voltage is generated due to the parasitic inductance component. However, power MOSFET
With reference to one source electrode 3, the ground electrode of the control circuit 2 is not affected by the voltage generated in the parasitic inductance component. That is, by the switching of the power MOSFET 1, the source electrode 3 of the power MOSFET 1
Although the voltage fluctuates when viewed from the ground line of the insulated switching power supply, the potential of the ground electrode of the control circuit 2 changes in conjunction with the source electrode 3 of the power MOSFET 1. For M
No current flows between the source electrode of the OSFET 1 and the primary circuit of the isolated switching power supply device operates normally with reference to the potential of the source electrode 3 of the power MOSFET 1. Therefore, the control circuit 2 is not affected by the parasitic inductance component described above, and does not malfunction. The basic operation is the same as the conventional example.

【0022】つぎに図2について説明する。図2に示し
た絶縁型スイッチング電源装置用半導体集積回路装置5
は、交流電源7をダイオードブリッジ8および平滑用コ
ンデンサ9で整流・平滑した一次側の高電圧およびトラ
ンス36の補助巻線電圧を補助巻線整流平滑回路11を
介して印加できるようになっていて、交流電源7の起動
時には、前者から回路の電流が供給され、これによって
補助巻線の電圧が発生すると、ここから電流供給が行な
われ、前者からの供給電流は遮断される。
Next, FIG. 2 will be described. Semiconductor integrated circuit device 5 for an insulation type switching power supply device shown in FIG.
The high voltage on the primary side obtained by rectifying and smoothing the AC power supply 7 with the diode bridge 8 and the smoothing capacitor 9 and the auxiliary winding voltage of the transformer 36 can be applied through the auxiliary winding rectifying and smoothing circuit 11. When the AC power supply 7 is started, the current of the circuit is supplied from the former, and when the voltage of the auxiliary winding is generated by this, the current is supplied from here and the supply current from the former is cut off.

【0023】絶縁型スイッチング電源装置用半導体集積
回路装置5には、上記両整流平滑回路部分(8,9,1
1)から集積回路内部の制御回路用の電源となる安定化
電源電圧をつくり出すプリレギュレータ回路26、内部
回路で使用する基準電圧1.25Vをつくり出すバンド
ギャップ回路27、一次側の入力電圧が規定値よりも過
小・過大な場合にそれを検出して電力用MOSFET1
の発振動作を停止させる保護回路32、チップの温度が
150℃以上になると電力用MOSFET1の動作を停
止させる過熱保護回路33、電力用MOSFET1の発
振周波数を決定する発振器28、二次側が過負荷状態に
なったときに電力用MOSFET1が通常発振の期間と
停止した期間が繰り返す間欠発振動作するようにするタ
イマ回路30、二次側の電圧が規定値よりも高くなりす
ぎた際電力用MOSFET1の動作を停止させる過昇電
圧保護回路35、電力用MOSFET1のオンデューテ
ィを制御するオンデューティ制御回路29、電力用MO
SFET1に流れる電流に対する過電流保護回路22、
上記保護および制御を統括して電力用MOSFET1を
駆動するロジック回路24、そして、電力用MOSFE
T1が図2に示した絶縁型スイッチング電源装置用半導
体集積回路装置5には内蔵されている。31は安定化電
源ラインである。
In the semiconductor integrated circuit device 5 for an insulation type switching power supply device, the two rectifying and smoothing circuit portions (8, 9, 1) are provided.
The pre-regulator circuit 26 for generating a stabilized power supply voltage serving as a power supply for a control circuit inside the integrated circuit from 1), a band gap circuit 27 for generating a reference voltage of 1.25 V used in the internal circuit, and the input voltage on the primary side is a specified value. If it is too small or too large, it is detected and the power MOSFET 1
32, an overheat protection circuit 33 that stops the operation of the power MOSFET 1 when the temperature of the chip becomes 150 ° C. or higher, an oscillator 28 that determines the oscillation frequency of the power MOSFET 1, and an overload state on the secondary side. The timer circuit 30 makes the power MOSFET 1 perform an intermittent oscillation operation in which the period of the normal oscillation and the period in which the power MOSFET 1 is stopped are repeated, and the operation of the power MOSFET 1 when the voltage on the secondary side becomes higher than a specified value. Overvoltage protection circuit 35 for stopping power supply, on-duty control circuit 29 for controlling on-duty of power MOSFET 1, power MO
An overcurrent protection circuit 22 for a current flowing through the SFET 1;
A logic circuit 24 that drives the power MOSFET 1 by integrating the protection and control, and a power MOSFET
T1 is built in the semiconductor integrated circuit device 5 for the insulated switching power supply device shown in FIG. 31 is a stabilized power supply line.

【0024】なお、図2において、15はオンデューテ
ィ制御回路、34は二次側過昇電圧検出回路、6は二次
側過昇電圧検出回路34の出力信号を受けるホトカプラ
受光部、14はオンデューティ制御回路15の出力信号
を受けるホトカプラ受光部である。10は二次側整流平
滑回路、13はオンデューティ制御用オペアンプであ
る。
In FIG. 2, 15 is an on-duty control circuit, 34 is a secondary side overvoltage detection circuit, 6 is a photocoupler light receiving section for receiving an output signal of the secondary side overvoltage detection circuit 34, and 14 is an on-state. It is a photocoupler light receiving unit that receives an output signal of the duty control circuit 15. Reference numeral 10 denotes a secondary-side rectifying / smoothing circuit, and reference numeral 13 denotes an on-duty control operational amplifier.

【0025】なお、上記実施例では、電力用スイッチン
グ素子としてMOSFETを用いたものを示したが、こ
れに限らず、バイポーラトランジスタを用いたものを実
施例としてあげることができる。また、電力用スイッチ
ング素子とその制御回路は別チップで形成してもよい。
また、絶縁型スイッチング電源装置の回路型式として
は、フィードフォーワード型であっても、フライバック
型であってもよい。
In the above-described embodiment, an example using a MOSFET as a power switching element has been described. However, the present invention is not limited to this, and an example using a bipolar transistor can be given as an example. Further, the power switching element and its control circuit may be formed on separate chips.
The circuit type of the insulated switching power supply device may be a feedforward type or a flyback type.

【0026】[0026]

【発明の効果】この発明の絶縁型スイッチング電源装置
用半導体集積回路装置によれば、電力用スイッチング素
子のグラウンド電極をパッケージ内で2本以上の第1パ
ッケージリードに電気的に接続し、制御回路のグラウン
ド電極をパッケージ内で第1パッケージリードとは異な
る第2パッケージリードに電気的に接続し、第1パッケ
ージリードの一部と第2パッケージリードとをパッケー
ジ外で電気的に接続し、第1パッケージリードの残りを
絶縁型スイッチング電源装置のグラウンドラインに電気
的に接続したので、電力用スイッチング素子のグラウン
ド電極に流れる電流の影響で、電力用スイッチング素子
のグラウンド電位がふられても、制御回路のグラウンド
電極と電力用スイッチング素子のグラウンド電極とを同
じ電位にすることができ、制御回路のグラウンド電極と
電力用スイッチング素子のグラウンド電極との間で電流
が流れることがないようにでき、したがって制御回路が
誤動作することを防ぐことができ、絶縁型スイッチング
電源装置の動作を安定させることができる。
According to the semiconductor integrated circuit device for an insulated switching power supply device of the present invention, the ground electrode of the power switching element is electrically connected to two or more first package leads in the package, and the control circuit Electrically connecting a ground electrode of the first package lead inside the package to a second package lead different from the first package lead, electrically connecting a part of the first package lead and the second package lead outside the package, Since the rest of the package leads were electrically connected to the ground line of the insulated switching power supply, even if the ground potential of the power switching element was affected by the current flowing through the ground electrode of the power switching element, the control circuit The ground potential of the power switching element and the ground electrode of It is possible to prevent a current from flowing between the ground electrode of the control circuit and the ground electrode of the power switching element, thereby preventing the control circuit from malfunctioning and reducing the operation of the isolated switching power supply. Can be stabilized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】絶縁型スイッチング電源装置用半導体集積回路
装置を組み込んだ絶縁型スイッチング電源装置の概略図
である。
FIG. 1 is a schematic diagram of an insulated switching power supply device incorporating a semiconductor integrated circuit device for the insulated switching power supply device.

【図2】絶縁型スイッチング電源装置用半導体集積回路
装置の具体構成を示す概略図である。
FIG. 2 is a schematic diagram showing a specific configuration of a semiconductor integrated circuit device for an insulated switching power supply device.

【図3】絶縁型スイッチング電源装置の従来例を示す概
略図である。
FIG. 3 is a schematic diagram showing a conventional example of an insulated switching power supply device.

【図4】電力用スイッチング素子のグラウンド電極に流
れる電流およびそれによって生じるグラウンド部の電圧
の波形を示す波形図である。
FIG. 4 is a waveform diagram illustrating a current flowing through a ground electrode of a power switching element and a waveform of a voltage of a ground portion generated by the current.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 電力用MOSFET 2 制御回路 3 ソース電極 4 ドレイン電極 5 絶縁型スイッチング電源装置用半導体集積回路
装置 5A パッケージ 6 二次側過昇電圧検出用フォトカプラ 7 交流電源 8 ダイオードブリッジ 9 平滑用コンデンサ 10 二次側整流平滑回路 11 補助巻線整流平滑回路 12 パッケージリード 13 オンデューティ制御用オペアンプ 14 オンデューティ制御用ホトカプラ 15 オンデューティ制御回路 16 パッケージリード 17 コンデンサ 18 コンデンサ 19 コンデンサ 20 基準抵抗 21 パッケージリード 22 過電流保護回路 24 ロジック回路 26 プリレギュレータ回路 27 バンドギャップ回路 28 発振器 29 オンデューティ制御回路 30 タイマ回路 31 安定化電源ライン 32 過小・過大電圧保護回路 33 過熱保護回路 34 二次側過昇電圧検出回路 35 二次側過昇電圧保護回路 36 トランス
Reference Signs List 1 power MOSFET 2 control circuit 3 source electrode 4 drain electrode 5 semiconductor integrated circuit device for insulated switching power supply device 5A package 6 photocoupler for detecting secondary overvoltage rise 7 AC power supply 8 diode bridge 9 smoothing capacitor 10 secondary Side rectification / smoothing circuit 11 Auxiliary winding rectification / smoothing circuit 12 Package lead 13 On-duty control operational amplifier 14 On-duty control photocoupler 15 On-duty control circuit 16 Package lead 17 Capacitor 18 Capacitor 19 Capacitor 20 Reference resistor 21 Package lead 22 Overcurrent protection Circuit 24 Logic circuit 26 Pre-regulator circuit 27 Band gap circuit 28 Oscillator 29 On-duty control circuit 30 Timer circuit 31 Stabilized power supply line 32 Under- and over-voltage protection Circuit 33 Overheat protection circuit 34 Secondary side overvoltage protection circuit 35 Secondary side overvoltage protection circuit 36 Transformer

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 絶縁型スイッチング電源装置の一部であ
る電力用スイッチング素子と、この電力用スイッチング
素子を制御する制御回路とを一つのパッケージ内に搭載
し、前記電力用スイッチング素子のグラウンド電極を前
記パッケージ内で2本以上の第1パッケージリードに電
気的に接続し、前記制御回路のグラウンド電極を前記パ
ッケージ内で前記第1パッケージリードとは異なる第2
パッケージリードに電気的に接続し、前記第1パッケー
ジリードの一部と前記第2パッケージリードとを前記パ
ッケージ外で電気的に接続し、前記第1パッケージリー
ドの残りを前記絶縁型スイッチング電源装置のグラウン
ドラインに電気的に接続したことを特徴とする絶縁型ス
イッチング電源装置用半導体集積回路装置。
1. A power switching element, which is a part of an insulated switching power supply device, and a control circuit for controlling the power switching element are mounted in one package, and a ground electrode of the power switching element is connected to a power supply. The package is electrically connected to two or more first package leads in the package, and a ground electrode of the control circuit is connected to a second electrode different from the first package lead in the package.
Electrically connecting to a package lead, electrically connecting a part of the first package lead and the second package lead outside the package, and connecting the rest of the first package lead to the insulation type switching power supply. A semiconductor integrated circuit device for an insulated switching power supply device electrically connected to a ground line.
【請求項2】 絶縁型スイッチング電源装置がフライバ
ック型である請求項1記載の絶縁型スイッチング電源装
置用半導体集積回路装置。
2. The semiconductor integrated circuit device for an insulated switching power supply according to claim 1, wherein the insulated switching power supply is a flyback type.
【請求項3】 絶縁型スイッチング電源装置がフィード
フォワード型である請求項1記載の絶縁型スイッチング
電源装置用半導体集積回路装置。
3. The semiconductor integrated circuit device for an insulated switching power supply according to claim 1, wherein the insulated switching power supply is a feedforward type.
JP23127694A 1994-09-27 1994-09-27 Semiconductor integrated circuit device for insulated switching power supply device Expired - Fee Related JP3190941B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23127694A JP3190941B2 (en) 1994-09-27 1994-09-27 Semiconductor integrated circuit device for insulated switching power supply device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23127694A JP3190941B2 (en) 1994-09-27 1994-09-27 Semiconductor integrated circuit device for insulated switching power supply device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0897351A JPH0897351A (en) 1996-04-12
JP3190941B2 true JP3190941B2 (en) 2001-07-23

Family

ID=16921071

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23127694A Expired - Fee Related JP3190941B2 (en) 1994-09-27 1994-09-27 Semiconductor integrated circuit device for insulated switching power supply device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3190941B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6277491B1 (en) 1997-01-20 2001-08-21 Sekisui Kaseihin Kogyo Kabushikikaisha Expandable thermoplastic resin beads and molded foam made from the same

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5859768A (en) * 1997-06-04 1999-01-12 Motorola, Inc. Power conversion integrated circuit and method for programming
JP4739059B2 (en) 2006-02-23 2011-08-03 ルネサスエレクトロニクス株式会社 Semiconductor device for DC / DC converter
CN111295746B (en) * 2017-11-02 2023-08-11 罗姆股份有限公司 Semiconductor device with a semiconductor device having a plurality of semiconductor chips

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6277491B1 (en) 1997-01-20 2001-08-21 Sekisui Kaseihin Kogyo Kabushikikaisha Expandable thermoplastic resin beads and molded foam made from the same

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0897351A (en) 1996-04-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101090037B1 (en) Three-terminal, low voltage pulse width modulation controller ic
JP2901434B2 (en) DC stabilized power supply
US20090196081A1 (en) System and method for providing switching to power regulators
JPH04150767A (en) Switching power supply circuit
KR20010036172A (en) Pulsewidth modulation signal generator and switching mode power supply using pulsewidth modulation signal generator
JPH06178538A (en) Three-terminal switching-mode power- supply integrated circuit
JP3190941B2 (en) Semiconductor integrated circuit device for insulated switching power supply device
TWI649953B (en) Switching power supply control system
US10389255B2 (en) Insulated synchronous rectification DC/DC converter
US6141233A (en) Rectifier circuit device and DC/Dc converter provided with the circuit device
JPH08294275A (en) Switching power unit
JPH10108457A (en) Control circuit for switching power supply
US12027972B2 (en) Power supply control semiconductor device and power supply device
US20230268828A1 (en) Power supply control semiconductor device and power supply device
JP2693016B2 (en) Hybrid integrated circuit device
JP3381617B2 (en) Switching power supply controlling semiconductor device and switching power supply having the same
JPH0681500B2 (en) Switching circuit
JPH10243650A (en) Device for power unit and switching power unit
KR0126331Y1 (en) Noise protecting circuit of the multi-output switching source applied apparatus
JP2693018B2 (en) Hybrid integrated circuit device
JPH05276000A (en) Driving circuit for power device
JP2001218355A (en) Electronic circuit breaker
JP2846792B2 (en) Hybrid integrated circuit device
JP3471746B2 (en) Switching power supply
JP2002017084A (en) Switching power supply

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees