JP3165991B2 - Placement / wiring design method and wiring quality evaluation device - Google Patents

Placement / wiring design method and wiring quality evaluation device

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JP3165991B2
JP3165991B2 JP05092895A JP5092895A JP3165991B2 JP 3165991 B2 JP3165991 B2 JP 3165991B2 JP 05092895 A JP05092895 A JP 05092895A JP 5092895 A JP5092895 A JP 5092895A JP 3165991 B2 JP3165991 B2 JP 3165991B2
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英次 吉永
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はプリント配線基板上に搭
載されるべき複数の電子部品を配置設計し、プリント配
線基板上に複数の電子部品を接続するための配線パター
ンを配線設計する配置・配線設計方法に関し、特に、配
置設計によりプリント配線基板上に搭載される複数の電
子部品を配置した際に、その配置によって規定される配
線の良否を評価するために必要な良否評価用情報を出力
する配線良否評価装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention arranges and designs a plurality of electronic components to be mounted on a printed wiring board, and arranges and designs a wiring pattern for connecting the plurality of electronic components on the printed wiring board. Regarding the wiring design method, in particular, when a plurality of electronic components mounted on a printed wiring board are arranged by layout design, quality evaluation information necessary for evaluating the quality of wiring defined by the layout is output. The present invention relates to a wiring quality evaluation device.

【0002】[0002]

【従来の技術】周知のように、所定の機能を実現する電
子機器は複数の電子部品で構成される。複数の電子部品
はプリント配線基板上に実装(搭載)される。複数の電
子部品はプリント配線基板上に配線された配線パターン
により互いに接続される。
2. Description of the Related Art As is well known, an electronic device for realizing a predetermined function includes a plurality of electronic components. A plurality of electronic components are mounted (mounted) on a printed wiring board. The plurality of electronic components are connected to each other by a wiring pattern wired on a printed wiring board.

【0003】したがって、電子機器を製造するには、プ
リント配線基板上の複数の電子部品の配置を決定し、プ
リント配線基板上に配線パターンを形成しなければなら
ない。そのためには、まず、プリント配線基板上に搭載
される複数の電子部品を配置設計し、プリント配線基板
上に配線パターンを配線設計する必要がある。周知のよ
うに、このような設計は電子計算機を利用した設計(C
AD)技術によって行われる。ここで、配置設計と配線
設計とは、互いに関連があるので、配置・配線設計とし
て一度に行う必要がある。すなわち、例えば、配置設計
により得られた配置が所定の回路制約条件の下で最適で
あるとしても、そのような配置の下では配線が困難な場
合があり得る。このような場合、再配置設計が行われ
る。これは、配置設計により得られた配置と配線設計に
より得られた配線との両方とも良好であると判断される
まで繰り返される。
Therefore, in order to manufacture an electronic device, it is necessary to determine the arrangement of a plurality of electronic components on a printed wiring board and form a wiring pattern on the printed wiring board. For that purpose, first, it is necessary to arrange and design a plurality of electronic components mounted on the printed wiring board, and to design a wiring pattern on the printed wiring board. As is well known, such a design is a design using a computer (C
AD) technology. Here, since the layout design and the wiring design are related to each other, it is necessary to perform the layout and wiring design at once. That is, for example, even if the layout obtained by the layout design is optimal under predetermined circuit constraints, wiring may be difficult under such a layout. In such a case, relocation design is performed. This is repeated until it is determined that both the layout obtained by the layout design and the wiring obtained by the wiring design are good.

【0004】従来から種々の配置設計法が提案されてい
る。例えば、特開平4−340800号公報(以下、先
行技術1と呼ぶ)には「プリント配線基板搭載用面実装
部品の最適配置方法」が開示されている。この先行技術
1によれば、プリント配線基板に2方向リード面実装部
品を搭載したとき、プリント配線パターンが隣り合うリ
フローパッドの間に1本以上通る場合、リフローパッド
の長手方向が部品搭載面側プリント配線パターンと平行
になるように配置する。また隣接して搭載する2方向リ
ード面実装部品は、2方向リード面実装部品のリフロー
パッドの短手方向が平行になるように配置する。これに
より、部品のピン間を導体接続するために設けていたパ
ッド付きホールの使用を軽減でき、高密度の配線が実現
できる。
Conventionally, various arrangement design methods have been proposed. For example, Japanese Patent Laying-Open No. 4-340800 (hereinafter referred to as Prior Art 1) discloses an "optimal arrangement method of a surface mount component for mounting a printed wiring board". According to the prior art 1, when a two-way lead surface mount component is mounted on a printed wiring board and one or more printed wiring patterns pass between adjacent reflow pads, the longitudinal direction of the reflow pad is set to the component mounting surface side. Arrange them so as to be parallel to the printed wiring pattern. The two-way lead surface-mounted components to be mounted adjacent to each other are arranged such that the short sides of the reflow pads of the two-way lead surface-mounted components are parallel. As a result, the use of the holes with pads provided for connecting the pins of the component with the conductor can be reduced, and high-density wiring can be realized.

【0005】他の配置設計方法が特開平4−28607
7号公報(以下、先行技術2と呼ぶ)に「プリント配線
板の部品自動配置設計方式」として開示されている。こ
の先行技術2に開示された配線設計方式は、回路ブロッ
ク化手段、接続情報区分手段、回路ブロック間接続情報
判定手段、回路ブロック配置設計手段、および回路ブロ
ック内部品配置設計手段を備えている。回路ブロック化
手段はプリント配線基板上の回路機能ごとに部品を回路
ブロックにグループ化する。接続情報区分手段はグルー
プ化された各回路ブロック内のすべての部品につき、回
路ブロック内で閉鎖させる接続情報と回路ブロック間で
接続させる接続情報とに分ける。回路ブロック間接続情
報判定手段は回路ブロック間の接続情報の強弱を判定す
る。回路ブロック配置設計手段は各部品の外形寸法の総
和から各回路ブロックが占有するエリアを決める。回路
ブロック内部品配置設計手段は回路ブロック間の接続方
法と信号の流れとから各回路ブロックの配置設計を行っ
た後、回路ブロック内の配置設計を行う。これにより信
号の流れにそった部品の最適配置設計を行うことができ
る。
[0005] Another arrangement design method is disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 4-28607.
Japanese Patent Application Publication No. 7 (hereinafter referred to as Prior Art 2) discloses a “parts automatic layout design method for printed wiring boards”. The wiring design method disclosed in the prior art 2 includes circuit block forming means, connection information classifying means, circuit block connection information determining means, circuit block layout designing means, and circuit block component layout designing means. The circuit blocking means groups components into circuit blocks for each circuit function on the printed wiring board. The connection information classifying means divides all the components in each grouped circuit block into connection information to be closed in the circuit block and connection information to be connected between the circuit blocks. The circuit block connection information determination means determines the strength of connection information between circuit blocks. The circuit block layout design means determines the area occupied by each circuit block from the sum of the external dimensions of each component. The circuit block component layout design means designs the layout of each circuit block based on the connection method between the circuit blocks and the signal flow, and then designs the layout within the circuit block. As a result, it is possible to design the optimal arrangement of components along the signal flow.

【0006】さらに、特開平4−36872号公報(以
下、先行技術3と呼ぶ)には「電子部品実装工程設計支
援システム」が開示されている。この先行技術3によれ
ば、プリント配線基板、電子部品の諸元および仮配置デ
ータに関する蓄積データは、オンラインにより解析部に
データ転送させる。CRT上で電子部品をプリント配線
基板上に仮配置し、所望の信頼性を得るまでシミュレー
ションを繰り返す。シミュレーション完了後得られた最
適配置データをプリント配線基板用パターンを設計する
設計部および製造部へ転送して基板を製造する。これに
よりシミュレーションの工程がインライン化され高信頼
度の製品を短期間に得ることができる。また試作段階が
不要で開発コストも削減できる。ここで、設計部におい
てプリント配線基板の配線パターンを作成する際、プリ
ント配線基板の製造上非常な困難を伴う場合あるいは電
気的特性が所望の値を満足できない場合に、再度解析部
にフィードバックされてモデルを修正しシミュレーショ
ンを行い配線可能な最適配置まで繰り返される。
Further, Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-36872 (hereinafter referred to as Prior Art 3) discloses an "electronic component mounting process design support system". According to the prior art 3, the stored data relating to the specifications of the printed wiring board, the electronic components, and the provisional arrangement data is transferred to the analysis unit online. The electronic components are temporarily placed on the printed wiring board on the CRT, and the simulation is repeated until the desired reliability is obtained. The board is manufactured by transferring the optimal arrangement data obtained after the completion of the simulation to a designing unit and a manufacturing unit that design a pattern for a printed wiring board. As a result, the simulation process is inlined, and a highly reliable product can be obtained in a short time. In addition, there is no need for a prototype stage, and development costs can be reduced. Here, when a wiring pattern of the printed wiring board is created in the design unit, when it is extremely difficult to manufacture the printed wiring board or when the electrical characteristics cannot satisfy a desired value, the feedback is sent back to the analysis unit again. The model is corrected and simulated, and the process is repeated until the optimal layout is possible.

【0007】上述したように、上記先行技術1および2
は配置設計法のみを開示している。上記先行技術3で
は、まず配置設計を行った後に配線設計を行って、配線
設計による配線が困難な場合に配置設計をやり直してい
る。換言すれば、配置設計と配線設計とを独立に行って
いる。
As described above, the above prior arts 1 and 2
Discloses only the layout design method. In the above-described prior art 3, the layout design is performed first, and then the wiring design is performed. When the wiring by the wiring design is difficult, the layout design is performed again. In other words, the layout design and the wiring design are performed independently.

【0008】また、表面実装部品の高密度化に伴い、配
置の自動化が困難になってきている。この場合、人手に
よって配置設計が行われる。
[0008] Further, with the increase in the density of surface mount components, it has become difficult to automate placement. In this case, the layout design is performed manually.

【0009】図7を参照すると、従来の配置・配線設計
方法は、まず配置設計を行う(ステップS´1)。この
配置設計は人手で行っても良いし、CAD技術を使用し
ても良い。配置設計後、自動配線処理を行う(ステップ
S´2)。自動配線実行結果によって、配線の良否の評
価を行う(ステップS´3)。ここで評価が否(NG)
と判断された場合、ステップS´1に戻って配置変更を
行う。また、ステップS´3で評価が良(OK)と判断
された場合、配線パターンの修正を行う(ステップS´
4)。
Referring to FIG. 7, in the conventional placement / wiring design method, first, placement is designed (step S'1). This layout design may be performed manually or using CAD technology. After the layout design, an automatic wiring process is performed (step S'2). Based on the result of the automatic wiring execution, the quality of the wiring is evaluated (step S′3). Here evaluation is not good (NG)
If it is determined that it is, the process returns to step S′1 to change the arrangement. If the evaluation is determined to be good (OK) in step S′3, the wiring pattern is corrected (step S ′).
4).

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
の配置・配線設計方法では、配線の良否の評価を自動配
線実行結果によって行っていた。この方法では自動配線
処理(ステップS´2)に長時間を要するので、次のよ
うな問題があった。パターン設計のターンアラウンド
時間(TAT)が増大する。パターン設計の後戻り工
数が増大する。
As described above, in the conventional placement / wiring design method, the quality of the wiring is evaluated based on the result of the automatic wiring execution. This method requires a long time for the automatic wiring process (step S'2), and thus has the following problem. The turnaround time (TAT) of the pattern design increases. The number of steps for returning to the pattern design increases.

【0011】本発明の目的は、パターン設計のTATを
減少させることができる配置・配線設計方法を提供する
ことにある。
An object of the present invention is to provide an arrangement / wiring design method capable of reducing the TAT of pattern design.

【0012】本発明の他の目的は、パターン設計の後戻
り工数を削減できる配置・配線設計方法を提供すること
にある。
Another object of the present invention is to provide an arrangement / wiring design method which can reduce the number of steps required for pattern design.

【0013】本発明のもっと他の目的は、配線設計を行
う前に配線の良否を評価するために必要な良否評価用情
報を出力する配線良否評価装置を提供することにある。
Still another object of the present invention is to provide a wiring quality evaluation apparatus for outputting quality evaluation information necessary for evaluating the quality of wiring before designing wiring.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】本発明の第1の態様によ
る配置・配線設計方法は、プリント配線基板上に搭載さ
れるべき複数の電子部品を配置設計し、前記プリント配
線基板上に前記複数の電子部品を接続するための配線パ
ターンを配線設計する配置・配線設計方法であって、前
記プリント配線基板上の位置を互いに直交するX軸およ
びY軸の座標で表わし、任意の座標上に前記複数の電子
部品を配置設計するステップと、前記プリント配線基板
上に、前記X軸、前記Y軸に平行なカットラインを設
け、該カットラインを横切るピンペア数と前記カットラ
イン上のチャネル容量とにより前記カットライン上にお
ける予測チャネル使用率を求め、該予測チャネル使用率
をX軸方向および/またはY軸方向で予測チャネル使用
分布図として出力するステップと、前記予測チャネル使
用分布図に基づいて前記配線の良否を判定するステップ
と、上記判定ステップにおいて否と判定されたとき、前
記複数の電子部品を再配置させるために上記配置設計ス
テップに戻るステップと、上記判定ステップにおいて良
と判定されたとき、前記プリント配線基板に配線パター
ンを配線設計するステップとを含む。本発明の第2の態
様による配置・配線設計方法は、プリント配線基板上に
搭載されるべき複数の電子部品を配置設計し、前記プリ
ント配線基板上に前記複数の電子部品を接続するための
配線パターンを配線設計する配置・配線設計方法であっ
て、前記プリント配線基板上の位置を互いに直交するX
軸およびY軸の座標で表わし、任意の座標上に前記複数
の電子部品を配置設計するステップと、前記電子部品を
規定する部品情報と上記配置設計ステップで得られた部
品配置情報および部品間接続情報とに基づいて、前記部
品間接続情報で表される全部品のX成分長とY成分長の
合計で表される予測総配線長と、該予測総配線長を前記
プリント配線基板の総配線可能長で除算して得られる予
測総チャネル使用率とを算出するステップと、前記予測
総配線長と前記予測総チャネル使用率とに基づいて前記
配線の良否を判定するステップと、上記判定ステップに
おいて否と判定されたとき、前記複数の電子部品を再配
置させるために上記配置設計ステップに戻るステップ
と、上記判定ステップにおいて良と判定されたとき、前
記プリント配線基板に 配線パターンを配線設計するステ
ップとを含む。 本発明の第3の態様による配置・配線設
計方法は、プリント配線基板上に搭載されるべき複数の
電子部品を配置設計し、前記プリント配線基板上に前記
複数の電子部品を接続するための配線パターンを配線設
計する配置・配線設計方法であって、前記プリント配線
基板上の位置を互いに直交するX軸およびY軸の座標で
表わし、任意の座標上に前記複数の電子部品を配置設計
するステップと、前記プリント配線基板上に、前記X
軸、前記Y軸に平行なカットラインを設け、該カットラ
インを横切るピンペア数と前記カットライン上のチャネ
ル容量とにより前記カットライン上における予測チャネ
ル使用率を求め、該予測チャネル使用率をX軸方向およ
び/またはY軸方向で予測チャネル使用分布図として出
力するステップと、前記電子部品を規定する部品情報と
上記配置設計ステップで得られた部品配置情報および部
品間接続情報とに基づいて、前記部品間接続情報で表さ
れる全部品のX成分長とY成分長の合計で表される予測
総配線長と、該予測総配線長を前記プリント配線基板の
総配線可能長で除算して得られる予測総チャネル使用率
とを算出するステップと、前記予測チャネル使用分布図
と前記予測総配線長と前記予測総チャネル使用率と基づ
いて前記配線の良否を判定するステップと、上記判定ス
テップにおいて否と判定されたとき、前記複数の電子部
品を再配置させるために上記配置設計ステップに戻るス
テップと、上記判定ステップにおいて良と判定されたと
き、前記プリント配線基板に配線パターンを配線設計す
るステップとを含む。
According to a first aspect of the present invention , there is provided an arrangement / wiring design method in which a plurality of electronic components to be mounted on a printed wiring board are arranged and designed, and the printing is performed. An arrangement / wiring design method for designing a wiring pattern for connecting the plurality of electronic components on a wiring board, the method comprising:
Arranging and designing the plurality of electronic components on arbitrary coordinates , the printed wiring board
A cut line parallel to the X axis and the Y axis is set
The number of pin pairs crossing the cut line and the cut line
On the cut line due to the channel capacity on the
The predicted channel usage rate, and
Use prediction channel in X and / or Y axis
A step you output as a distribution diagram, the predicted channel used
Determining the acceptability of the wiring based on the distribution map; and, when the determination is negative in the determining step, returning to the layout design step to rearrange the plurality of electronic components; And determining the wiring pattern on the printed wiring board when it is determined to be good. Second aspect of the present invention
Layout and wiring design methods on printed wiring boards
Arrange and design multiple electronic components to be mounted, and
For connecting the plurality of electronic components on a printed circuit board.
This is an arrangement / wiring design method for designing wiring patterns.
And the positions on the printed wiring board are orthogonal to each other by X
Axis and Y-axis coordinates.
Arranging and designing the electronic component,
Specified part information and parts obtained in the above layout design step
Based on the product arrangement information and the connection information between parts,
The X component length and Y component length of all parts represented by the
The predicted total wiring length represented by the sum and the predicted total wiring length
Estimated by dividing by the total routable length of the printed wiring board
Calculating a gross channel utilization rate; and
Based on the total wiring length and the estimated total channel utilization,
The step of determining the quality of the wiring and the step of determining
The electronic components are redistributed when it is determined that
Step to return to the above layout design step to place
And when it is determined to be good in the above determination step,
Steps for designing wiring patterns on printed wiring boards
And the top. Placement / wiring arrangement according to the third aspect of the present invention
Metering method can be implemented on multiple printed circuit boards.
Arrange and design the electronic components and place them on the printed circuit board.
Wiring patterns for connecting multiple electronic components
A layout and wiring design method for measuring
The position on the substrate is represented by the X-axis and Y-axis coordinates orthogonal to each other.
And design the multiple electronic components on arbitrary coordinates
And X on the printed circuit board.
Axis, and a cut line parallel to the Y axis is provided.
The number of pin pairs that cross the in
Channel on the cut line
The estimated channel usage rate in the X-axis direction and
And / or Y-axis as predicted channel usage distribution map
And electronic component information defining the electronic component.
Component placement information and parts obtained in the above placement design step
Based on the connection information between parts, the
Predicted by the sum of the X and Y component lengths of all components
The total wiring length and the estimated total wiring length
Estimated total channel utilization obtained by dividing by the total routable length
Calculating the predicted channel use distribution map
And the estimated total wiring length and the estimated total channel usage rate.
And determining whether the wiring is good or bad.
When it is determined to be no in the step, the plurality of electronic units
Return to the above layout design step to relocate the product.
Tep and that it was determined to be good in the above determination step
Wiring design on the printed wiring board
Steps.

【0015】また、本発明の第4の態様によれば、配置
設計により得られた、互いに直交するX軸およびY軸の
座標で表わされる位置を持つプリント配線基板上に搭載
される複数の電子部品の配置によって規定される配線の
良否を評価するために必要な良否評価用情報を出力する
配線良否評価装置であって、前記電子部品を表す部品情
報と前記配置設計から得られる部品配置情報および部品
間接続情報とに基づいて、前記良否評価用情報を出力す
る配線良否評価装置において、前記プリント配線基板上
に、前記X軸、前記Y軸に平行なカットラインを設け、
該カットラインを横切るピンペア数と前記カットライン
上のチャネル容量とにより前記カットライン上における
予測チャネル使用率を求め、該予測チャネル使用率をX
軸方向および/またはY軸方向で予測チャネル使用分布
図として出力するチャネル使用分布予測部を有し、前記
良否評価用情報として前記予測チャネル使用分布図を出
力することを特徴とする配線良否評価装置が得られる。
本発明の第5の態様によれば、配置設計により得られ
た、互いに直交するX軸およびY軸の座標で表わされる
位置を持つプリント配線基板上に搭載される複数の電子
部品の配置によって規定される配線の良否を評価するた
めに必要な良否評価用情報を出力する配線良否評価装置
であって、前記電子部品を表す部品情報と前記配置設計
から得られる部品配置情報および部品間接続情報とに基
づいて、前記良否評価用情報を出力する配線良否評価装
置において、前記部品間接続情報で示される全部品間接
続のX成分長とY成分長の合計で表される予測総配線長
を求める総配線長予測部と、前記予測総配線長を前記プ
リント配線基板の総配線可能長で除算して得られる予測
総チャネル使用率を求める総チャネル使用率予測部とを
有し、前記良否評価用情報として前記予測総配線長と前
記予測総チャネル使用率とを出力することを特徴とする
配線良否評価装置が得られる。 本発明の第6の態様によ
れば、配置設計により得られた、互いに直交するX軸お
よびY軸の座標で表わされる位置を持つプリント配線基
板上に搭載される複数の電子部品の配置によって規定さ
れる配線の良否を評価するために必要な良否評価用情報
を出力する配線良否評価装置であって、前記電子部品を
表す部品情報と前記配置設計から得られる部品配置情報
および部品間接続情報とに基づいて、前 記良否評価用情
報を出力する配線良否評価装置において、前記プリント
配線基板上に、前記X軸、前記Y軸に平行なカットライ
ンを設け、該カットラインを横切るピンペア数と前記カ
ットライン上のチャネル容量とにより前記カットライン
上における予測チャネル使用率を求め、該予測チャネル
使用率をX軸方向および/またはY軸方向で予測チャネ
ル使用分布図として出力するチャネル使用分布予測部
と、前記部品間接続情報で示される全部品間接続のX成
分長とY成分長の合計で表される予測総配線長を求める
総配線長予測部と、前記予測総配線長を前記プリント配
線基板の総配線可能長で除算して得られる予測総チャネ
ル使用率を求める総チャネル使用率予測部とを有し、前
記良否評価用情報として前記予測チャネル使用分布図と
前記予測総配線長と前記予測総チャネル使用率とを出力
することを特徴とする配線良否評価装置が得られる。
Further, according to the fourth aspect of the present invention , the X-axis and the Y-axis orthogonal to each other obtained by the layout design .
A wiring quality evaluation device that outputs quality evaluation information necessary for evaluating the quality of wiring defined by the arrangement of a plurality of electronic components mounted on a printed wiring board having a position represented by coordinates , A wiring quality evaluation device that outputs the quality evaluation information based on component information representing the electronic component and component placement information and inter-component connection information obtained from the layout design ;
A cut line parallel to the X axis and the Y axis is provided;
The number of pin pairs crossing the cut line and the cut line
On the cut line due to the above channel capacity
A predicted channel usage rate is obtained, and the predicted channel usage rate is X
Predicted channel usage distribution in the axial and / or Y-axis directions
Having a channel usage distribution prediction unit for outputting as a diagram,
The predicted channel usage distribution chart is output as pass / fail evaluation information.
Thus, an apparatus for evaluating the quality of wiring can be obtained.
According to a fifth aspect of the present invention, an arrangement
Represented by X-axis and Y-axis coordinates orthogonal to each other.
Multiple electrons mounted on a printed wiring board with positions
Evaluate the quality of wiring specified by component placement.
Quality evaluation device that outputs the quality evaluation information necessary for
Wherein component information representing the electronic component and the layout design
Based on component placement information and component connection information
A wiring quality evaluation device for outputting the quality evaluation information.
In all the parts indirectly indicated by the connection information between parts
Estimated total wiring length represented by the sum of the X component length and the Y component length
A total wiring length prediction unit for obtaining the estimated total wiring length,
Prediction obtained by dividing by the total routable length of the printed wiring board
A total channel utilization prediction unit for calculating the total channel utilization
Having the predicted total wiring length and the previous as the quality evaluation information.
And outputting the estimated total channel usage rate.
A wiring quality evaluation device is obtained. According to a sixth aspect of the present invention,
Then, the X-axis and the orthogonal
And printed wiring board having a position represented by Y-axis coordinates
Specified by the arrangement of multiple electronic components mounted on the board
Pass / fail evaluation information required to evaluate pass / fail of wiring
A wiring quality evaluation device that outputs
Component information to represent and component placement information obtained from the layout design
And on the basis of the inter-part connection information, before Symbol quality evaluation information
In the wiring quality evaluation device that outputs a report,
A cut line parallel to the X axis and the Y axis is placed on a wiring board.
The number of pin pairs crossing the cut line and the
The cut line depends on the channel capacity on the cut line.
Determining the predicted channel usage rate above,
Predict usage rate in X-axis and / or Y-axis direction
Channel usage distribution predictor that outputs as a usage distribution map
And the X component of the connection between all components indicated by the connection information between components.
Obtain the estimated total wiring length represented by the sum of the division length and the Y component length
A total wiring length prediction unit, and the printed wiring length
Estimated total channel obtained by dividing by the total routable length of the printed circuit board
And a total channel usage rate prediction unit for determining
The predicted channel use distribution diagram as the quality evaluation information
Output the predicted total wiring length and the predicted total channel usage rate
A wiring quality evaluation device is obtained.

【0016】さらに、本発明の第7の態様によれば、配
置設計により得られた、互いに直交するX軸およびY軸
の座標で表わされる位置を持つプリント配線基板上に搭
載される複数の電子部品の配置によって規定される配線
の良否を評価するために必要な良否評価用情報を出力す
る配線良否評価装置であって、前記プリント配線基板を
表す基板情報と前記配置設計から得られる部品配置情
報、部品間接続情報および部品ピン情報とに基づいて、
前記良否評価用情報を出力する配線良否評価装置におい
て、前記プリント配線基板上にカットラインを設け、該
カットライン上でのパターンの分布を予測するパターン
分布予測部と、前記カットライン上を横切るピンペア数
と前記カットライン上の配線許容本数により前記カット
ライン上でのチャネル使用率を予測し、該予測チャネル
使用率をX軸方向および/またはY軸方向で予測チャネ
ル使用分布図として出力するチャネル使用分布予測部と
を有し、前記良否評価用情報として前記予測チャネル使
用分布図を出力することを特徴とする配線良否評価装置
が得られる。本発明の第8の態様によれば、配置設計に
より得られた、互いに直交するX軸およびY軸の座標で
表わされる位置を持つプリント配線基板上に搭載される
複数の電子部品の配置によって規定される配線の良否を
評価するために必要な良否評価用情報を出力する配線良
否評価装置であって、前記プリント配線基板を表す基板
情報と前記配置設計から得られる部品配置情報、部品間
接続情報および部品ピン情報とに基づいて、前記良否評
価用情報を出力する配線良否評価装置において、基板原
点に対するピンの座標値を解析し、ピンペアのつながり
を解析するピン座標解析処理部と、ピン座標値よりピン
ペアのX成分長、Y成分長を算出し、全ピンペアのX成
分長、Y成分長の総和を総配線長として予測する総配線
長予測部と、前記プリント配線基板内の配線禁止部を除
いた配線可能領域を示す全チャネル容量を解析する全チ
ャネル容量解析部と、前記予測総配線長と前記全チャネ
ル容量とにより、前記プリント配線基板の全体でのチャ
ネル使用率を予測する総チャネル使用率予測部とを有
し、前記良否評価用情報として予測総配線長と予測総チ
ャネル使用率とを出力することを特徴とする配線良否評
価装置が得られる。 本発明の第9の態様によれば、配置
設計により得られた、互いに直交するX軸 およびY軸の
座標で表わされる位置を持つプリント配線基板上に搭載
される複数の電子部品の配置によって規定される配線の
良否を評価するために必要な良否評価用情報を出力する
配線良否評価装置であって、前記プリント配線基板を表
す基板情報と前記配置設計から得られる部品配置情報、
部品間接続情報および部品ピン情報とに基づいて、前記
良否評価用情報を出力する配線良否評価装置において、
基板原点に対するピンの座標値を解析し、ピンペアのつ
ながりを解析するピン座標解析処理部と、ピン座標値よ
りピンペアのX成分長、Y成分長を算出し、全ピンペア
のX成分長、Y成分長の総和を総配線長として予測する
総配線長予測部と、前記プリント配線基板上にカットラ
インを設け、該カットライン上でのパターンの分布を予
測するパターン分布予測部と、前記カットライン上を横
切るピンペア数と前記カットライン上の配線許容本数に
より前記カットライン上でのチャネル使用率を予測し、
該予測チャネル使用率をX軸方向および/またはY軸方
向で予測チャネル使用分布図として出力するチャネル使
用分布予測部と、前記プリント配線基板内の配線禁止部
を除いた配線可能領域を示す全チャネル容量を解析する
全チャネル容量解析部と、前記予測総配線長と前記全チ
ャネル容量とにより、前記プリント配線基板の全体での
チャネル使用率を予測する総チャネル使用率予測部とを
有し、前記良否評価用情報として前記予測チャネル使用
分布図と予測総配線長と予測総チャネル使用率とを出力
することを特徴とする配線良否評価装置が得られる。
Further, according to the seventh aspect of the present invention , the X-axis and the Y-axis orthogonal to each other obtained by the layout design.
A wiring quality evaluation device that outputs quality evaluation information necessary for evaluating the quality of wiring defined by the arrangement of a plurality of electronic components mounted on a printed wiring board having a position represented by coordinates Based on board information representing the printed wiring board and component placement information obtained from the layout design, component connection information and component pin information,
Wiring acceptability evaluation device smell to output the acceptability evaluation information
Providing a cut line on the printed wiring board,
Pattern that predicts the distribution of the pattern on the cut line
Distribution prediction unit and the number of pin pairs crossing the cut line
And the cut according to the allowable number of wires on the cut line
Predict channel utilization on the line and calculate the predicted channel
Predict usage rate in X-axis and / or Y-axis direction
Channel usage distribution predictor that outputs as a
Using the prediction channel as the quality evaluation information.
A wiring quality evaluation apparatus characterized by outputting a distribution map for use . According to the eighth aspect of the present invention, the layout design
In the X-axis and Y-axis coordinates obtained from
Mounted on a printed wiring board with the indicated position
The quality of wiring specified by the arrangement of multiple electronic components
Wiring quality that outputs quality evaluation information required for evaluation
A rejection evaluation device, wherein the substrate represents the printed wiring board
Information and component layout information obtained from the layout design, between components
Based on the connection information and the component pin information,
In a wiring quality evaluation device that outputs value information,
Analyze the coordinate value of the pin with respect to the point and connect the pin pairs
And a pin coordinate analysis unit that analyzes the
Calculate the X component length and Y component length of the pair, and calculate the X component length of all pin pairs.
Total wiring that predicts the sum of the division length and Y component length as the total wiring length
Length prediction part and the wiring prohibition part in the printed wiring board are excluded.
To analyze the total channel capacity indicating the routed area
A channel capacity analysis unit, the estimated total wiring length and the all channels
The overall capacitance of the printed wiring board
And a total channel utilization prediction unit that predicts the
The estimated total wiring length and the estimated total
Evaluation of wiring quality characterized by outputting channel usage rate
A charging device is obtained. According to a ninth aspect of the present invention, an arrangement
X-axis and Y-axis orthogonal to each other obtained by design
Mounted on a printed wiring board that has a position represented by coordinates
Wiring specified by the arrangement of multiple electronic components
Outputs information for quality evaluation required to evaluate quality
A wiring quality evaluation device, wherein the printed wiring board is displayed.
Board information and component layout information obtained from the layout design,
Based on the inter-part connection information and the part pin information,
In a wiring quality evaluation device that outputs quality evaluation information,
Analyze the coordinate value of the pin with respect to the origin of the board, and
A pin coordinate analysis processor that analyzes the flow
Calculate the X component length and Y component length of the
Is estimated as the total wiring length
A total wiring length prediction unit and a cut line on the printed wiring board.
And the distribution of the pattern on the cut line is predicted.
The pattern distribution prediction unit to measure
The number of pin pairs to cut and the allowable number of wires on the cut line
Predict the channel usage rate on the cut line,
The predicted channel usage rate in the X-axis direction and / or the Y-axis direction
Channel usage that is output as a predicted channel usage distribution chart
Distribution prediction unit, and a wiring prohibition unit in the printed wiring board
Analyzes the total channel capacity indicating the routable area except for
An all channel capacity analysis unit, the estimated total wiring length and the
Channel capacity, the overall printed circuit board
A total channel utilization prediction unit for predicting channel utilization
Using the predicted channel as the pass / fail evaluation information
Output distribution map, estimated total wiring length, and estimated total channel utilization
A wiring quality evaluation device is obtained.

【0017】[0017]

【作用】配線設計前に配線の良否を評価する。[Effect] Before the wiring design, the quality of the wiring is evaluated.

【0018】[0018]

【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0019】図1に本発明の一実施例による配置・配線
設計方法を示す。図示の配置・配線設計方法では、まず
配置設計を行う(ステップS1)。このステップS1は
配置設計ステップと呼ばれる。この配置設計は人手で行
っても良いし、CAD技術を使用しても良い。配置設計
後、後で詳述するような、本発明に係る配線良否評価を
行う(ステップS2)。すなわち、このステップS2で
は、上記ステップS1で得られた配置によって規定され
る配線の良否を評価するために必要な良否評価用情報を
求める。引き続いて、この良否評価用情報に基づいて配
線の良否を判定する(ステップS3)。ここで判定が否
(NG)と判断された場合、ステップS1に戻って配置
変更を行う。また、ステップS3で判定が良(OK)と
判断された場合に、自動配線処理を行い(ステップS
4)、その後、配線パターンの修正を行う(ステップS
5)。
FIG. 1 shows a layout and wiring design method according to an embodiment of the present invention. In the illustrated layout / wiring design method, layout design is first performed (step S1). This step S1 is called an arrangement design step. This layout design may be performed manually or using CAD technology. After the layout design, the quality of the wiring according to the present invention is evaluated as described later in detail (step S2). That is, in step S2, quality evaluation information necessary for evaluating the quality of the wiring specified by the arrangement obtained in step S1 is obtained. Subsequently, the quality of the wiring is determined based on the quality evaluation information (step S3). If the determination is negative (NG), the process returns to step S1 to change the layout. If the determination is good (OK) in step S3, automatic wiring processing is performed (step S3).
4) Then, the wiring pattern is corrected (Step S)
5).

【0020】このように、自動配線処理(ステップS
4)において配線設計を行う前に、配線の良否を評価す
るので、パターン設計のTATを減少させることがで
き、パターン設計の後戻り工数を削減できる。
As described above, the automatic wiring process (step S
Since the quality of the wiring is evaluated before performing the wiring design in 4), the TAT of the pattern design can be reduced, and the number of steps for returning the pattern design can be reduced.

【0021】図2を参照して、ステップS2での配線良
否評価を行う配線良否評価装置について説明する。図示
の配線良否評価装置10は、電子部品を規定する部品情
報を格納する第1のファイル20と、上記ステップS1
で得られた部品配置を示す部品配置情報およびそれら部
品間の接続関係(ピンペア)を示す部品間接続情報(ピ
ンペア情報)を格納する第2のファイル30と、出力結
果を出力するための出力装置40とに接続されている。
出力装置40は、例えば、プリンタなどの印字装置やC
RTなどの表示装置である。
With reference to FIG. 2, a description will be given of a wiring quality evaluation apparatus for performing wiring quality evaluation in step S2. The illustrated wiring quality evaluation device 10 includes a first file 20 for storing component information that specifies an electronic component,
A second file 30 storing the component arrangement information indicating the component arrangement obtained in step 2 and the inter-component connection information (pin pair information) indicating the connection relationship (pin pair) between the components, and an output device for outputting the output result 40.
The output device 40 is, for example, a printing device such as a printer or C
A display device such as an RT.

【0022】配線良否評価装置10は、第1のファイル
20から部品情報を、第2のファイル30から部品配置
情報および部品間接続情報をそれぞれ入力する。配線良
否評価装置10は、後で詳述するように、部品情報と部
品配置情報および部品間接続情報とに基づいて、上記配
置設計ステップで得られた配置によって規定される配線
の良否を評価するために必要な良否評価用情報を求め
る。配線良否評価装置10は、求めた良否評価用情報を
出力結果として出力装置40へ出力する。この例では、
良否評価用情報として予測チャネル使用分布図を出力し
ている。
The wiring quality evaluation device 10 inputs component information from the first file 20 and component placement information and inter-component connection information from the second file 30, respectively. The wiring quality evaluation device 10 evaluates the quality of the wiring defined by the layout obtained in the layout design step based on the component information, the component layout information, and the inter-component connection information, as will be described in detail later. For quality evaluation necessary for the evaluation. The wiring quality evaluation device 10 outputs the obtained quality evaluation information to the output device 40 as an output result. In this example,
A predicted channel use distribution chart is output as pass / fail evaluation information.

【0023】次に、図3を参照して、配線良否評価装置
10についてさらに詳細に説明する。但し、本例では、
第2のファイル30には、部品配置情報およびピンペア
情報の他に基板情報をも格納されている。ここで、基板
情報は、基板サイズや配線禁止領域データを含む。部品
配置情報は基板原点に対する部品原点座標値を示す。
Next, the wiring quality evaluation apparatus 10 will be described in more detail with reference to FIG. However, in this example,
The second file 30 stores board information in addition to the component arrangement information and the pin pair information. Here, the board information includes board size and wiring prohibited area data. The component arrangement information indicates a component origin coordinate value with respect to the substrate origin.

【0024】図示の配線良否評価装置10は、第1のフ
ァイル入力部11と、第2のファイル入力部12と、チ
ャネル使用分布予測部13と、総配線長予測部14と、
総チャネル使用率予測部15とを有する。
The illustrated wiring quality evaluation device 10 includes a first file input unit 11, a second file input unit 12, a channel usage distribution prediction unit 13, a total wiring length prediction unit 14,
And a total channel usage rate prediction unit 15.

【0025】第1のファイル入力部11は第1のファイ
ル20から部品情報を入力する。第2のファイル入力部
12は第2のファイル30から部品配置情報、ピンペア
情報、および基板情報を入力する。プリント配線基板の
位置は互いに直交するX軸およびY軸の座標で表わされ
る。チャネル使用分布予測部13は、後述するように、
X軸方向および/またはY軸方向の予測チャネル使用率
を表す予測チャネル使用分布図を求める。総配線長予測
部14は、後述するように、上記ピンペア情報で示され
る全部品間接続の予測総配線長を求める。この予測総配
線長はX成分長とY成分長の合計で表される。総チャネ
ル使用率予測部15は、後述するように、上記予測総配
線長をプリント配線基板の総配線可能長で除算して得ら
れる予測総チャネル使用率を求める。配線良否評価装置
10は、良否評価用情報として、予測チャネル使用分
布図、予測総配線長、および予測総チャネル使用率
を出力装置40へ出力する。
The first file input unit 11 inputs component information from the first file 20. The second file input unit 12 inputs component arrangement information, pin pair information, and board information from the second file 30. The position of the printed wiring board is represented by X-axis and Y-axis coordinates orthogonal to each other. The channel use distribution prediction unit 13 performs
A predicted channel use distribution map representing predicted channel use rates in the X-axis direction and / or the Y-axis direction is obtained. The total wiring length prediction unit 14 calculates a predicted total wiring length of the connection between all components indicated by the pin pair information, as described later. This estimated total wiring length is represented by the sum of the X component length and the Y component length. As will be described later, the total channel usage rate prediction unit 15 obtains a predicted total channel usage rate obtained by dividing the predicted total wiring length by the total routable length of the printed wiring board. The wiring pass / fail evaluation device 10 outputs a predicted channel use distribution map, a predicted total wire length, and a predicted total channel use rate to the output device 40 as pass / fail evaluation information.

【0026】次に、チャネル使用分布予測部13におけ
る予測チャネル使用分布図の求め方について説明する。
予測チャネル使用分布図とは、後述するカットライン手
法を用いて、図4に示すような、各カットラインでのチ
ャネル使用率の分布をグラフ化したものである。図4は
Y軸方向のチャネル使用率の分布を示している。
Next, a method of obtaining a predicted channel use distribution map in the channel use distribution predicting section 13 will be described.
The predicted channel use distribution diagram is a graph of the distribution of the channel use rate at each cut line as shown in FIG. 4, using a cut line method described later. FIG. 4 shows the distribution of the channel usage rate in the Y-axis direction.

【0027】図5を参照して、カットライン手法につい
て説明する。プリント配線基板上に、X軸、Y軸に平行
なカットラインを等間隔で設定し、各カットラインを横
切るピンペア数をカウントする。予測チャネル使用分布
の分布チャネル使用率を下記の数式1により計算する。
Referring to FIG. 5, the cut line method will be described. Cut lines parallel to the X-axis and Y-axis are set at equal intervals on the printed wiring board, and the number of pin pairs crossing each cut line is counted. The distribution channel usage rate of the predicted channel usage distribution is calculated by the following Equation 1.

【0028】[0028]

【数1】 ここで、α:カットライン上のチャネル使用率、p:カ
ットラインを横切るピンペア数、c:カットライン上の
チャネル容量(配線許容本数)である。このチャネル使
用率をX軸、Y軸方向に全カットラインに対して調査を
行い、グラフ化したものが予測チャネル使用分布図(図
4参照)である。図4に示す例では中央部でチャネル使
用率の混雑が見られ、あまり良い配線パターンとはいえ
ない。配線パターンとしては、チャネル使用分布が平均
化されたのが望ましい。
(Equation 1) Here, α is the channel usage rate on the cut line, p is the number of pin pairs crossing the cut line, and c is the channel capacity (allowable number of wires) on the cut line. This channel usage rate is investigated for all cut lines in the X-axis and Y-axis directions, and a graph is shown as a predicted channel usage distribution diagram (see FIG. 4). In the example shown in FIG. 4, congestion of the channel usage rate is observed at the center, and it cannot be said that the wiring pattern is very good. As the wiring pattern, it is desirable that the channel use distribution is averaged.

【0029】次に、総配線長予測部14における予測総
配線長の求め方について説明する。予測総配線長とは、
全ピンペア数の総配線長であり、X成分長、Y成分長の
合計で求める。
Next, how to calculate the estimated total wiring length in the total wiring length prediction unit 14 will be described. What is the estimated total wiring length?
This is the total wiring length of all pin pairs, and is determined by the sum of the X component length and the Y component length.

【0030】(Xai,Yai),(Xbi,Ybi)をピンペ
アiの始点、終点座標とした場合、予測総配線長は下記
の数式2の計算式で求められる。
When (X ai , Y ai ) and (X bi , Y bi ) are the start point and end point coordinates of the pin pair i, the estimated total wiring length is obtained by the following equation (2).

【0031】[0031]

【数2】 ここで、L:予測総配線長、|Xai−Xbi|:ピンペア
iのX成分長、|Yai−Ybi|:ピンペアiのY成分長
である。一般に、総配線長は短い程、良い配線パターン
といえる。
(Equation 2) Here, L: estimated total wiring length, | X ai −X bi |: X component length of pin pair i, | Y ai −Y bi |: Y component length of pin pair i. Generally, the shorter the total wiring length, the better the wiring pattern.

【0032】次に、総チャネル使用率予測部15におけ
る予測総チャネル使用率の求め方について説明する。予
測総チャネル使用率は、そのプリント配線基板の総配線
可能長と上記数式2で求めた予測総配線長とにより、下
記の数式3で求められる。
Next, how to calculate the predicted total channel utilization rate in the total channel utilization prediction section 15 will be described. The estimated total channel use rate is obtained by the following equation 3 based on the total possible wiring length of the printed wiring board and the estimated total wiring length obtained by the above equation 2.

【0033】[0033]

【数3】 ここで、β:予測総チャネル使用率、L:予測総配線
長、L0 :基板内総配線可能長(基板内チャネル容量)
である。予測総チャネル使用率が小さい方が良い配線パ
ターンといえる。
(Equation 3) Here, β: predicted total channel usage rate, L: predicted total wiring length, L 0 : total wiring available length in the board (channel capacity in the board)
It is. It can be said that a smaller predicted total channel use rate is a better wiring pattern.

【0034】以下に、配線良否評価装置10が出力する
予測総チャネル使用率と配線パターン設計後の実総チャ
ネル使用率とを比較し、配線良否評価装置10の予測精
度を評価した。結果を下記の表1に示す。
In the following, the predicted total channel usage rate output from the wiring quality evaluation device 10 is compared with the actual total channel usage rate after the wiring pattern is designed, and the prediction accuracy of the wiring quality evaluation device 10 is evaluated. The results are shown in Table 1 below.

【0035】[0035]

【表1】 表1より、多少の誤差はあるがほぼ近い値が得られ、配
線良否評価装置10の有効性を確認できた。すなわち、
配線良否評価装置10は、配線設計前に配線の良否を評
価することができるようになった。その結果、配線パタ
ーンの分布(チャネル使用分布)を平均化するできるよ
うな配置変更が可能となり、自動配線処理(ステップS
4)における未配本数を低減できる。更に、長時間の自
動配線処理後の後戻り工数を削減でき、配線設計工数を
従来比で約60%削減することができる。
[Table 1] Table 1 shows that although there are some errors, values that are almost close are obtained, and the effectiveness of the wiring quality evaluation device 10 can be confirmed. That is,
The wiring quality evaluation apparatus 10 can evaluate the quality of wiring before designing wiring. As a result, the arrangement can be changed so that the distribution of the wiring pattern (channel use distribution) can be averaged.
The number of undelivered lines in 4) can be reduced. Further, it is possible to reduce the number of steps for returning after the long-time automatic wiring process, and it is possible to reduce the number of wiring design steps by about 60% as compared with the related art.

【0036】図6を参照して、本発明の第2の実施例に
よる配線良否評価装置10aについて説明する。配線良
否評価装置10aは、データ入力処理部12aと、ピン
座標解析部16と、総配線長予測部14と、パターン分
布予測部17と、チャネル使用分布予測部13と、全チ
ャネル容量解析部18と、総チャネル使用率予測部15
とを有する。ここで、チャネル使用分布予測部13、総
配線長予測部14、および総チャネル使用率予測部15
は、図3に示したものと同一なので、それらの説明を省
略する。
Referring to FIG. 6, a description will be given of a wiring quality evaluation apparatus 10a according to a second embodiment of the present invention. The wiring quality evaluation device 10a includes a data input processing unit 12a, a pin coordinate analysis unit 16, a total wiring length prediction unit 14, a pattern distribution prediction unit 17, a channel use distribution prediction unit 13, a total channel capacity analysis unit 18 And the total channel utilization prediction unit 15
And Here, the channel usage distribution prediction unit 13, the total wiring length prediction unit 14, and the total channel usage rate prediction unit 15
Are the same as those shown in FIG. 3, and their description is omitted.

【0037】データ入力処理部12aは、基板情報(基
板サイズ,配線禁止領域データ)、部品配置情報(基板
原点に対する部品原点座標値)、部品間接続情報(ピン
ペア)、部品ピン情報(部品原点に対するピン座標値)
を入力し、テーブルに登録する。ピン座標解析部16
は、基板原点に対するピンの座標値を解析し、ピンペア
のつながりを解析する。パターン分布予測部17はプリ
ント配線基板上にカットラインを設け、そのカットライ
ン上でのパターンの分布を予測する。全チャネル容量解
析部18はプリント配線基板内の配線禁止部を除いた配
線可能領域(配線可能長)を解析する。
The data input processing unit 12a includes board information (board size, wiring prohibited area data), component placement information (component origin coordinate value with respect to the board origin), inter-component connection information (pin pair), component pin information (with respect to the component origin). Pin coordinates)
And register it in the table. Pin coordinate analysis unit 16
Analyzes the coordinate values of the pins with respect to the substrate origin, and analyzes the connection of the pin pairs. The pattern distribution prediction unit 17 provides a cut line on the printed wiring board, and predicts the pattern distribution on the cut line. The all-channel capacitance analyzing unit 18 analyzes a routable area (routable length) in the printed wiring board excluding a wiring prohibition unit.

【0038】配線良否評価装置10aは、出力装置4
に、配線評価結果(良否評価用情報)として、予測チャ
ネル使用分布図、予測総配線長、および予測総チャネル
使用率を出力する。
The wiring quality evaluation device 10a includes the output device 4
In addition, as a wiring evaluation result (information for quality evaluation), a predicted channel use distribution map, a predicted total wiring length, and a predicted total channel
Output usage rate.

【0039】尚、本発明は上述した実施例に限定され
ず、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の変更/変
形が可能であるのは勿論である。例えば、良否評価用情
報としては、予測チャネル使用分布図予測総配線長
よび予測総チャネル使用率のうちのいずれか一方または
両方を出力するようにしても良い。
It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and it is needless to say that various changes / modifications can be made without departing from the gist of the present invention. For example, the pass / fail evaluation information may include a predicted channel use distribution map or a predicted total wiring length and the like .
And / or estimated total channel utilization or
You may make it output both .

【0040】[0040]

【発明の効果】以上説明したように本発明では、配線設
計前に配線の良否を評価することができるので、配線パ
ターンの分布(チャネル使用分布)を平均化するできる
ような配置変更が可能となる。また、自動配線処理にお
ける未配本数を低減できる。更に、長時間の自動配線処
理後の後戻り工数を削減でき、従来に比べて配線設計工
数を削減できる。
As described above, according to the present invention, the quality of the wiring can be evaluated before the wiring is designed, so that the arrangement can be changed so that the distribution of the wiring pattern (channel use distribution) can be averaged. Become. Further, the number of unassigned lines in the automatic wiring process can be reduced. Further, the number of steps for returning after the long-time automatic wiring processing can be reduced, and the number of wiring design steps can be reduced as compared with the related art.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例による配置・配線設計方法を
示すフローチャートである。
FIG. 1 is a flowchart illustrating a placement / wiring design method according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示した配線良否評価を行う配線良否評価
装置を示すブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a wiring quality evaluation device that performs the wiring quality evaluation shown in FIG. 1;

【図3】本発明の第1の実施例による配線良否評価装置
を示すブロック図である。
FIG. 3 is a block diagram showing a wiring quality evaluation apparatus according to the first embodiment of the present invention.

【図4】図3のチャネル使用分布予測部で予測されたチ
ャネル使用分布の一例を示す図である。
FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a channel usage distribution predicted by a channel usage distribution prediction unit in FIG. 3;

【図5】図3のチャネル使用分布予測部で行われるカッ
トライン手法を説明するための図である。
FIG. 5 is a diagram for explaining a cutline method performed by a channel use distribution prediction unit in FIG. 3;

【図6】本発明の第2の実施例による配線良否評価装置
を示すブロック図である。
FIG. 6 is a block diagram showing a wiring quality evaluation apparatus according to a second embodiment of the present invention.

【図7】従来の配置・配線設計方法を示すフローチャー
トである。
FIG. 7 is a flowchart showing a conventional placement / wiring design method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10,10a 配線良否評価装置 11 第1のファイル入力部 12 第2のファイル入力部 12a データ入力処理部 13 チャネル使用分布予測部 14 総配線長予測部 15 総チャネル使用率予測部 16 ピン座標解析部 17 パターン分布予測部 18 全チャネル容量解析部 20,30 ファイル 40 出力装置 10, 10a Wiring quality evaluation device 11 First file input unit 12 Second file input unit 12a Data input processing unit 13 Channel usage distribution prediction unit 14 Total wiring length prediction unit 15 Total channel usage rate prediction unit 16 Pin coordinate analysis unit 17 Pattern distribution prediction unit 18 All channel capacity analysis unit 20, 30 File 40 Output device

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H05K 13/00 H05K 13/00 Z (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G06F 17/50 H05K 13/00 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 identification code FI H05K 13/00 H05K 13/00 Z (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) G06F 17/50 H05K 13 / 00

Claims (9)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 プリント配線基板上に搭載されるべき複
数の電子部品を配置設計し、前記プリント配線基板上に
前記複数の電子部品を接続するための配線パターンを配
線設計する配置・配線設計方法であって、 前記プリント配線基板上の位置を互いに直交するX軸お
よびY軸の座標で表わし、任意の座標上に前記複数の電
子部品を配置設計するステップと、前記プリント配線基板上に、前記X軸、前記Y軸に平行
なカットラインを設け、該カットラインを横切るピンペ
ア数と前記カットライン上のチャネル容量とにより前記
カットライン上における予測チャネル使用率を求め、該
予測チャネル使用率をX軸方向および/またはY軸方向
で予測チャネル使用分布図として出力す るステップと、 前記予測チャネル使用分布図に基づいて前記配線の良否
を判定するステップと、 上記判定ステップにおいて否と判定されたとき、前記複
数の電子部品を再配置させるために上記配置設計ステッ
プに戻るステップと、 上記判定ステップにおいて良と判定されたとき、前記プ
リント配線基板に配線パターンを配線設計するステップ
とを含む配置・配線設計方法。
An arrangement / wiring design method for arranging and designing a plurality of electronic components to be mounted on a printed wiring board, and designing a wiring pattern for connecting the plurality of electronic components on the printed wiring board. Wherein the X-axis and the X-axis orthogonal to each other
And designing the plurality of electronic components on arbitrary coordinates in parallel with the X-axis and the Y-axis on the printed wiring board.
Piercing the cut line
The number of channels and the channel capacity on the cut line.
Obtain the predicted channel usage rate on the cut line,
Predicted channel utilization in X and / or Y direction
In a step you output as the predicted channel use distribution map, and determining the quality of the wiring, based on the predicted channel using distribution diagram, when it is determined that not in the determination step, the plurality of electronic components re A placement and wiring design method, comprising: a step of returning to the placement design step for placement, and a step of designing a wiring pattern on the printed wiring board when the determination is good in the determination step.
【請求項2】 プリント配線基板上に搭載されるべき複
数の電子部品を配置設計し、前記プリント配線基板上に
前記複数の電子部品を接続するための配線パターンを配
線設計する配置・配線設計方法であって、 前記プリント配線基板上の位置を互いに直交するX軸お
よびY軸の座標で表わし、任意の座標上に前記複数の電
子部品を配置設計するステップと、 前記電子部品を規定する部品情報と上記配置設計ステッ
プで得られた部品配置情報および部品間接続情報とに基
づいて、前記部品間接続情報で表される全部品のX成分
長とY成分長の合計で表される予測総配線長と、該予測
総配線長を前記プリント配線基板の総配線可能長で除算
して得られる予測総チャネル使用率とを算出するステッ
プと、 前記予測総配線長と前記予測総チャネル使用率とに基づ
いて前記配線の良否を判定するステップと、 上記判定ステップにおいて否と判定されたとき、前記複
数の電子部品を再配置させるために上記配置設計ステッ
プに戻るステップと、 上記判定ステップにおいて良と判定されたとき、前記プ
リント配線基板に配線パターンを配線設計するステップ
とを含む配置・配線設計方法。
2. A semiconductor device to be mounted on a printed wiring board.
Place and design a number of electronic components and place them on the printed circuit board
A wiring pattern for connecting the plurality of electronic components is arranged.
An arrangement / wiring design method for designing a line, the method comprising:
And the coordinates of the Y-axis.
The step of arranging and designing the child parts, the part information defining the electronic parts, and the arrangement design step.
Based on the component placement information and
X component of all parts represented by the connection information between parts
Predicted total wiring length represented by the sum of the length and the Y component length,
Divide the total wiring length by the total wiring length of the printed wiring board
To calculate the estimated total channel utilization
And the estimated total wiring length and the estimated total channel utilization.
Determining the quality of the wiring have, when it is determined that not in the determination step, the double
In order to relocate a number of electronic components,
Returning to the step, and when it is determined to be good in the determination step, the step
Steps to design wiring pattern on lint wiring board
And placement and wiring design methods including
【請求項3】 プリント配線基板上に搭載されるべき複
数の電子部品を配置設計し、前記プリント配線基板上に
前記複数の電子部品を接続するための配線パターンを配
線設計する配置・配線設計方法であって、 前記プリント配線基板上の位置を互いに直交するX軸お
よびY軸の座標で表わし、任意の座標上に前記複数の電
子部品を配置設計するステップと、 前記プリント配線基板上に、前記X軸、前記Y軸に平行
なカットラインを設け、該カットラインを横切るピンペ
ア数と前記カットライン上のチャネル容量とにより前記
カットライン上における予測チャネル使用率を求め、該
予測チャネル使用率をX軸方向および/またはY軸方向
で予測チャネル使用分布図として出力するステップと、 前記電子部品を規定する部品情報と上記配置設計ステッ
プで得られた部品配置情報および部品間接続情報とに基
づいて、前記部品間接続情報で表される全部品のX成分
長とY成分長の合計で表される予測総配線長と、該予測
総配線長を前記プリント配線基板の総配線可能長で除算
して得られる予測総チャネル使用率とを算出するステッ
プと、 前記予測チャネル使用分布図と前記予測総配線長と前記
予測総チャネル使用率と基づいて前記配線の良否を判定
するステップと、 上記判定ステップにおいて否と判定されたとき、前記複
数の電子部品を再配置させるために上記配置設計ステッ
プに戻るステップと、 上記判定ステップにおいて良と判定されたとき、前記プ
リント配線基板に配線パターンを配線設計するステップ
とを含む配置・配線設計方法。
3. A semiconductor device to be mounted on a printed circuit board.
Place and design a number of electronic components and place them on the printed circuit board
A wiring pattern for connecting the plurality of electronic components is arranged.
An arrangement / wiring design method for designing a line, the method comprising:
And the coordinates of the Y-axis.
Arranging and designing child components; and arranging on the printed wiring board parallel to the X axis and the Y axis.
Piercing the cut line
The number of channels and the channel capacity on the cut line.
Obtain the predicted channel usage rate on the cut line,
Predicted channel utilization in X and / or Y direction
Outputting as a predicted channel use distribution map, component information specifying the electronic component, and the layout design step.
Based on the component placement information and
X component of all parts represented by the connection information between parts
Predicted total wiring length represented by the sum of the length and the Y component length,
Divide the total wiring length by the total wiring length of the printed wiring board
To calculate the estimated total channel utilization
, The predicted channel use distribution map, the predicted total wiring length, and the
Judge the quality of the wiring based on the estimated total channel utilization
A step of, when it is determined that not in the determination step, the double
In order to relocate a number of electronic components,
Returning to the step, and when it is determined to be good in the determination step, the step
Steps to design wiring pattern on lint wiring board
And placement and wiring design methods including
【請求項4】 配置設計により得られた、互いに直交す
るX軸およびY軸の座標で表わされる位置を持つプリン
ト配線基板上に搭載される複数の電子部品の配置によっ
て規定される配線の良否を評価するために必要な良否評
価用情報を出力する配線良否評価装置であって、前記電
子部品を表す部品情報と前記配置設計から得られる部品
配置情報および部品間接続情報とに基づいて、前記良否
評価用情報を出力する配線良否評価装置において、 前記プリント配線基板上に、前記X軸、前記Y軸に平行
なカットラインを設け、該カットラインを横切るピンペ
ア数と前記カットライン上のチャネル容量とにより前記
カットライン上における予測チャネル使用率を求め、該
予測チャネル使用率をX軸方向および/またはY軸方向
で予測チャネル使用分布図として出力するチャネル使用
分布予測部を有し、前記良否評価用情報として前記予測
チャネル使用分布図を出力することを特徴とする配線良
否評価装置
4. An orthogonal arrangement obtained by an arrangement design .
For quality evaluation necessary for evaluating the quality of wiring defined by the arrangement of a plurality of electronic components mounted on a printed wiring board having a position represented by the X-axis and Y-axis coordinates A wiring quality evaluation device for outputting information, the wiring quality evaluation device outputting the quality evaluation information based on component information representing the electronic components and component placement information and inter-component connection information obtained from the layout design. In the apparatus , on the printed wiring board, parallel to the X axis and the Y axis.
Piercing the cut line
The number of channels and the channel capacity on the cut line.
Obtain the predicted channel usage rate on the cut line,
Predicted channel utilization in X and / or Y direction
Use channel output as predicted channel use distribution map
A distribution prediction unit, wherein the prediction is performed as the quality evaluation information.
A good wiring characterized by outputting a channel usage distribution map
Negative evaluation device .
【請求項5】 配置設計により得られた、互いに直交す
るX軸およびY軸の座標で表わされる位置を持つプリン
ト配線基板上に搭載される複数の電子部品の配置によっ
て規定される配線の良否を評価するために必要な良否評
価用情報を出力する配線良否評価装置であって、前記電
子部品を表す部品情報と前記配置設計から得られる部品
配置情報および部品間接続情報とに基づいて、前記良否
評価用情報を出力する配線良否評価装置において、 前記部品間接続情報で示される全部品間接続のX成分長
とY成分長の合計で表される予測総配線長を求める総配
線長予測部と、 前記予測総配線長を前記プリント配線基板の総配線可能
長で除算して得られる予測総チャネル使用率を求める総
チャネル使用率予測部とを有し、 前記良否評価用情報として前記予測総配線長と前記予測
総チャネル使用率とを出力することを特徴とする配線良
否評価装置。
5. The method according to claim 1 , wherein the orthogonal directions are obtained by an arrangement design.
Having a position represented by X-axis and Y-axis coordinates
Depending on the arrangement of multiple electronic components mounted on the printed circuit board,
Quality evaluation required to evaluate the quality of wiring specified in
A wiring quality evaluation device for outputting value information, comprising:
Component information representing child components and components obtained from the layout design
Based on the placement information and the connection information between parts,
In the wiring quality evaluation device that outputs evaluation information, the X component length of all inter-component connections indicated by the inter-component connection information
To calculate the estimated total wiring length represented by the sum of
A wire length predicting unit, and the total wiring length of the printed wiring board can be calculated based on the predicted total wiring length.
Total to get the estimated total channel utilization obtained by dividing by length
A channel utilization rate predicting unit, wherein the predicted total wiring length and the predicted
Wiring quality characterized by outputting total channel utilization
Negative evaluation device.
【請求項6】 配置設計により得られた、互いに直交す
るX軸およびY軸の座標で表わされる位置を持つプリン
ト配線基板上に搭載される複数の電子部品の配置によっ
て規定される配線の良否を評価するために必要な良否評
価用情報を出力する配線良否評価装置であって、前記電
子部品を表す部品情報と前記配置設計から得られる部品
配置情報および部品間接続情報とに基づいて、前記良否
評価用情報を出力する配線良否評価装置において、 前記プリント配線基板上に、前記X軸、前記Y軸に平行
なカットラインを設け、該カットラインを横切るピンペ
ア数と前記カットライン上のチャネル容量とにより前記
カットライン上における予測チャネル使用率を求め、該
予測チャネル使 用率をX軸方向および/またはY軸方向
で予測チャネル使用分布図として出力するチャネル使用
分布予測部と、 前記部品間接続情報で示される全部品間接続のX成分長
とY成分長の合計で表される予測総配線長を求める総配
線長予測部と、 前記予測総配線長を前記プリント配線基板の総配線可能
長で除算して得られる予測総チャネル使用率を求める総
チャネル使用率予測部とを有し、 前記良否評価用情報として前記予測チャネル使用分布図
と前記予測総配線長と前記予測総チャネル使用率とを出
力することを特徴とする配線良否評価装置。
6. An orthogonal arrangement obtained by the layout design.
Having a position represented by X-axis and Y-axis coordinates
Depending on the arrangement of multiple electronic components mounted on the printed circuit board,
Quality evaluation required to evaluate the quality of wiring specified in
A wiring quality evaluation device for outputting value information, comprising:
Component information representing child components and components obtained from the layout design
Based on the placement information and the connection information between parts,
In a wiring quality evaluation device that outputs evaluation information, a wiring quality evaluation device is provided on the printed wiring board, the X-axis being parallel to the Y-axis.
Piercing the cut line
The number of channels and the channel capacity on the cut line.
Obtain the predicted channel usage rate on the cut line,
X-axis direction and / or Y-axis direction prediction channel utilization
Use channel output as predicted channel use distribution map
Distribution prediction unit and X component length of all inter-component connections indicated by the inter-component connection information
To calculate the estimated total wiring length represented by the sum of
A wire length predicting unit, and the total wiring length of the printed wiring board can be calculated based on the predicted total wiring length.
Total to get the estimated total channel utilization obtained by dividing by length
A channel usage rate prediction unit, wherein the predicted channel usage distribution map is used as the pass / fail evaluation information.
And the predicted total wiring length and the predicted total channel utilization.
Wiring quality evaluation device characterized by applying force.
【請求項7】 配置設計により得られた、互いに直交す
るX軸およびY軸の座標で表わされる位置を持つプリン
ト配線基板上に搭載される複数の電子部品の配置によっ
て規定される配線の良否を評価するために必要な良否評
価用情報を出力する配線良否評価装置であって、前記プ
リント配線基板を表す基板情報と前記配置設計から得ら
れる部品配置情報、部品間接続情報および部品ピン情報
とに基づいて、前記良否評価用情報を出力する配線良否
評価装置において、 前記プリント配線基板上にカットラインを設け、該カッ
トライン上でのパターンの分布を予測するパターン分布
予測部と、 前記カットライン上を横切るピンペア数と前記カットラ
イン上の配線許容本数により前記カットライン上でのチ
ャネル使用率を予測し、該予測チャネル使用率をX軸方
向および/またはY軸方向で予測チャネル使用分布図と
して出力するチャネル使用分布予測部とを有し、 前記良否評価用情報として前記予測チャネル使用分布図
を出力することを特徴とする配線良否評価装置
7. An orthogonal pattern obtained by the layout design .
For quality evaluation necessary for evaluating the quality of wiring defined by the arrangement of a plurality of electronic components mounted on a printed wiring board having a position represented by the X-axis and Y-axis coordinates A wiring quality evaluation device that outputs information, based on board information representing the printed wiring board and component placement information obtained from the layout design, component connection information and component pin information, the quality evaluation information. In the output wiring quality evaluation apparatus , a cut line is provided on the printed wiring board, and the cut line is provided.
Pattern distribution that predicts the pattern distribution on the line
A prediction unit, and the number of pin pairs crossing the cut line and the cut line.
Check the cut line according to the allowable wiring
The channel usage rate and the predicted channel usage rate in the X-axis direction.
And / or Y-axis predicted channel usage distribution map and
And a channel use distribution prediction unit that outputs the predicted channel use distribution map as the pass / fail evaluation information.
And a wiring quality evaluation device .
【請求項8】 配置設計により得られた、互いに直交す
るX軸およびY軸の座標で表わされる位置を持つプリン
ト配線基板上に搭載される複数の電子部品の配置によっ
て規定される配線の良否を評価するために必要な良否評
価用情報を出力する配線良否評価装置であって、前記プ
リント配線基板を表す基板情報と前記配置設計から得ら
れる部品配置情報、部品間接続情報および部品ピン情報
とに基づいて、前記良否評価用情報を出力する配線良否
評価装置において、 基板原点に対するピンの座標値を解析し、ピンペアのつ
ながりを解析するピン 座標解析処理部と、 ピン座標値よりピンペアのX成分長、Y成分長を算出
し、全ピンペアのX成分長、Y成分長の総和を総配線長
として予測する総配線長予測部と、 前記プリント配線基板内の配線禁止部を除いた配線可能
領域を示す全チャネル容量を解析する全チャネル容量解
析部と、 前記予測総配線長と前記全チャネル容量とにより、前記
プリント配線基板の全体でのチャネル使用率を予測する
総チャネル使用率予測部とを有し、 前記良否評価用情報として予測総配線長と予測総チャネ
ル使用率とを出力することを特徴とする配線良否評価装
置。
8. An image which is orthogonal to each other and obtained by the layout design.
Having a position represented by X-axis and Y-axis coordinates
Depending on the arrangement of multiple electronic components mounted on the printed circuit board,
Quality evaluation required to evaluate the quality of wiring specified in
A wiring quality evaluation device for outputting value information, comprising:
Obtained from the board information indicating the lint wiring board and the layout design
Component placement information, connection information between components, and component pin information
Wiring quality for outputting the quality evaluation information based on
The evaluation device analyzes the coordinate values of the pins with respect to the origin of the board , and
A pin coordinate analysis processing unit that analyzes the distance and calculates the X component length and Y component length of the pin pair from the pin coordinate values
The sum of the X component length and Y component length of all pin pairs is calculated as the total wiring length.
The total wiring length prediction unit that predicts as a wiring and the wiring excluding the wiring prohibition unit in the printed wiring board are possible.
All channel capacity solution to analyze all channel capacity showing region
Analysis section, the estimated total wiring length and the total channel capacity,
Estimate overall channel utilization of printed circuit boards
A total channel usage rate prediction unit, and the predicted total wiring length and the predicted total channel as the pass / fail evaluation information.
Wiring quality evaluation device characterized by outputting
Place.
【請求項9】 配置設計により得られた、互いに直交す
るX軸およびY軸の座標で表わされる位置を持つプリン
ト配線基板上に搭載される複数の電子部品の配置によっ
て規定される配線の良否を評価するために必要な良否評
価用情報を出力する配線良否評価装置であって、前記プ
リント配線基板を表す基板情報と前記配置設計から得ら
れる部品配置情報、部品間接続情報および部品ピン情報
とに基づいて、前記良否評価用情報を出力する配線良否
評価装置において、 基板原点に対するピンの座標値を解析し、ピンペアのつ
ながりを解析するピン座標解析処理部と、 ピン座標値よりピンペアのX成分長、Y成分長を算出
し、全ピンペアのX成分長、Y成分長の総和を総配線長
として予測する総配線長予測部と、 前記プリント配線基板上にカットラインを設け、該カッ
トライン上でのパターンの分布を予測するパターン分布
予測部と、 前記カットライン上を横切るピンペア数と前記カットラ
イン上の配線許容本数により前記カットライン上でのチ
ャネル使用率を予測し、該予測チャネル使用率をX軸方
向および/またはY軸方向で予測チャネル使用分布図と
して出力するチャネル使用分布予測部と、 前記プリント配線基板内の配線禁止部を除いた配線可能
領域を示す全チャネル容量を解析する全チャネル容量解
析部と、 前記予測総配線長と前記全チャネル容量とにより、前記
プリント配線基板の全体でのチャネル使用率を予測する
総チャネル使用率予測部とを有し、 前記良否評価用情報として前記予測チャネル使用分布図
と予測総配線長と予測総チャネル使用率とを出力するこ
とを特徴とする配線良否評価装置。
9. A method according to claim 9 , wherein the orthogonal directions are obtained by an arrangement design.
Having a position represented by X-axis and Y-axis coordinates
Depending on the arrangement of multiple electronic components mounted on the printed circuit board,
Quality evaluation required to evaluate the quality of wiring specified in
A wiring quality evaluation device for outputting value information, comprising:
Obtained from the board information indicating the lint wiring board and the layout design
Component placement information, connection information between components, and component pin information
Wiring quality for outputting the quality evaluation information based on
The evaluation device analyzes the coordinate values of the pins with respect to the origin of the board , and
A pin coordinate analysis processing unit that analyzes the distance and calculates the X component length and Y component length of the pin pair from the pin coordinate values
The sum of the X component length and Y component length of all pin pairs is calculated as the total wiring length.
A total line length predicting unit for predicting the cut length , and a cut line provided on the printed wiring board;
Pattern distribution that predicts the pattern distribution on the line
A prediction unit, and the number of pin pairs crossing the cut line and the cut line.
Check the cut line according to the allowable wiring
The channel usage rate and the predicted channel usage rate in the X-axis direction.
And / or Y-axis predicted channel usage distribution map and
Channel usage distribution prediction unit to output and output, and wiring is possible except for the wiring prohibition unit in the printed wiring board
All channel capacity solution to analyze all channel capacity showing area
Analysis section, the estimated total wiring length and the total channel capacity,
Estimate overall channel utilization of printed circuit boards
A total channel use rate prediction unit, and the predicted channel use distribution map as the quality evaluation information.
And the estimated total wiring length and the estimated total channel utilization.
And a wiring quality evaluation device.
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