JP3156452B2 - Clean air supply device and supply method - Google Patents
Clean air supply device and supply methodInfo
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明はクリーンルームに清浄な
空気を供給する装置構成とクリーンエアー供給方法に関
する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for supplying clean air to a clean room and a method for supplying clean air.
【0002】大量の情報を迅速に処理する必要から、情
報処理装置の主体を構成する半導体集積回路は大容量化
が進んでLSIやVLSIが実用化されているが、更に
大容量化が進んでULSIの開発が進められている。こ
ゝで、大容量化は主として単位素子の小形化により行な
われていることから導体線路や電極などのパターン幅は
大幅に縮小してきており、例えば64MビットD−RAM
の最小線幅は0.3 μmと微細化しており、今後更に縮小
する傾向にある。Since it is necessary to rapidly process a large amount of information, the capacity of a semiconductor integrated circuit constituting the main body of an information processing device has been increased, and LSIs and VLSIs have been put into practical use. ULSI is under development. Here, since the increase in capacity is mainly performed by downsizing unit elements, the pattern width of conductor lines, electrodes, and the like has been greatly reduced. For example, a 64 Mbit D-RAM
The minimum line width has been reduced to 0.3 μm, and will tend to shrink in the future.
【0003】さて、半導体集積回路はシリコン(Si) な
どの単体半導体或いはガリウム・砒素(GaAs)などの化合
物半導体よりなる基板(ウエハ) に薄膜形成技術,写真
蝕刻技術(フォトリソグラフィ),不純物元素注入技術
などを使用して製造されているが、パターンが微細とな
り、また回路素子の特性が外部環境に敏感に影響するこ
とから、主要な作業は清浄な空気が供給され、一定の温
度と湿度に保持されているクリーンルーム内で行なわれ
ている。A semiconductor integrated circuit is formed on a substrate (wafer) made of a single semiconductor such as silicon (Si) or a compound semiconductor such as gallium arsenide (GaAs) by thin film forming technology, photolithography technology (photolithography), impurity element implantation. Although it is manufactured using technology, the main work is to supply clean air and maintain a constant temperature and humidity because the pattern is fine and the characteristics of circuit elements are sensitive to the external environment. It takes place in a clean room that is kept.
【0004】[0004]
【従来の技術】半導体素子の製造が行なわれているクリ
ーンルームの清浄度はクラス10以下(粒径0.3 μm の塵
埃が1立方フィート中に10個以内) で管理されている所
が多く、空気はフィルタを通して塵埃を除去した後、一
定の温度と湿度を保ってクリーンルームに供給されてい
る。2. Description of the Related Art In many cases, cleanliness of a clean room in which semiconductor devices are manufactured is controlled to a class of 10 or less (with dust having a particle diameter of 0.3 μm within 10 cubic feet). After removing the dust through the filter, it is supplied to the clean room at a constant temperature and humidity.
【0005】然し、最小線幅がサブハーフミクロン(Su
b-halfmicron) のような微細なパターンを形成している
工程においては、高い製造歩留りを確保するためにパタ
ーン・ルールの1/10以上の塵埃の存在は許されない。す
なわち、0.3 μm 幅の配線パターンを形成する場合に許
される粒子の大きさは0.03μm (300Å) 以下である。そ
のため、各種のフィルタを用いて微粒子の除去が行なわ
れている。然し、フィルタの捕集口径が小さくなるのに
比例して圧力損失が増すことから、空調用フアンの負荷
が大きくなっており、また、フィルタの交換頻度も増加
している。However, when the minimum line width is a sub-half micron (Su
In the process of forming a fine pattern such as b-halfmicron), the presence of dust having more than 1/10 of the pattern rule is not allowed in order to secure a high production yield. That is, the size of particles allowed when forming a wiring pattern having a width of 0.3 μm is 0.03 μm (300 mm) or less. Therefore, fine particles are removed using various filters. However, since the pressure loss increases in proportion to a decrease in the filter diameter of the filter, the load on the air conditioning fan increases, and the frequency of replacement of the filter also increases.
【0006】なお、クリーンルーム内で有害ガスの発生
を伴うような作業をしている場合は、そのまゝ全部の空
気をクリーンルーム外に排気しているのが一般である
が、多くの場合は経済的な見地からクリーンルームから
の排気の一部をフィルタを通して濾過した後、外部から
新鮮な空気を加えて再使用する場合が多い。[0006] When a work involving generation of harmful gas is performed in a clean room, it is general that all air is exhausted to the outside of the clean room. From a practical point of view, after a part of exhaust gas from the clean room is filtered through a filter, fresh air is often added from the outside and reused.
【0007】こゝで、クリーンルーム内で行なわれてい
る各種の作業の内、写真蝕刻技術や気相成長による薄膜
形成技術(略称CVD)には各種の化学薬品を使用して
いるが、この化学薬品の蒸気や反応生成物の蒸気が排気
ダクトから完全に排気されず、一部がフィルタを通った
後、再びクリーンルームに循環している場合があり、問
題を生じている。これに対しては活性炭などの吸着剤を
使用して吸着する処理が行なわれているが、充分な効果
を上げていない。Here, of the various operations performed in the clean room, various chemicals are used in the photolithography technology and the thin film forming technology (abbreviation: CVD) by vapor phase growth. In some cases, the vapor of the chemical or the vapor of the reaction product is not completely exhausted from the exhaust duct, and a part of the vapor passes through the filter and then recirculates to the clean room. In order to cope with this, an adsorption treatment using an adsorbent such as activated carbon is performed, but the effect is not sufficiently improved.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】パターンが微細化する
に従ってフィルタの捕集口径(目)が細かくなり、空調
用ファンの負荷が増大してきている。また、循環するク
リーンエアーの中に有害なガスや反応生成物の蒸気が含
まれている場合があり、活性炭などの吸着材によっても
完全には除去されていないのが問題で、これらの解決が
課題である。As the pattern becomes finer, the diameter of the collecting aperture (eye) of the filter becomes finer, and the load on the air-conditioning fan increases. In addition, harmful gases and vapors of reaction products may be contained in the circulating clean air, and the problem is that they are not completely removed even by adsorbents such as activated carbon. It is an issue.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】上記の課題はクリーンル
ーム内に清浄な空気を供給する装置が、外部より供給し
た空気流に複数のノズルから純水を噴霧してミスト
(霧,Mist)を作る手段と、このミストに複数のノズルよ
り液体空気を噴霧してミスト中に存在する水分を凍結さ
せる手段と、ミストをエリミネータを通して凍結した微
細粒の氷を除去する手段と、液体窒素が流れる冷却用配
管と加温した窒素ガスが流れる再生用配管とが微細間隔
を隔てゝ交互に複数個配列しており、随時配管中を流れ
る媒体を切り換え得る配管列に空気流を供給して残留す
る水分を除去する手段と、この空気流を所定の温湿度に
調整して後、クリーンルームに供給する手段と、を含む
クリーンエアー供給装置の使用により解決することがで
きる。An object of the present invention is to provide a device for supplying clean air into a clean room by spraying pure water from a plurality of nozzles onto an air flow supplied from the outside to form a mist (mist). Means, a means for spraying liquid air from a plurality of nozzles to the mist to freeze moisture present in the mist, a means for removing the fine-grain ice frozen from the mist through an eliminator, and a cooling means for flowing liquid nitrogen. A plurality of pipes and regeneration pipes through which the heated nitrogen gas flows are arranged alternately at a fine interval. An air flow is supplied to a pipe row which can switch a medium flowing in the pipes at any time, and residual moisture is removed. The problem can be solved by using a clean air supply device including a means for removing and a means for adjusting the air flow to a predetermined temperature and humidity and then supplying the air to the clean room.
【0010】[0010]
【作用】クリーンルームに供給する清浄な空気の作り方
として、従来はフィルタの網の目(Mesh) を細かくする
と云う物理的な方法で塵埃を除き、また、混入してくる
蒸気圧の高い薬品や有害ガスについては吸着剤で除去す
る方法が使用されているのに対し、本発明は純水からな
るミストを加えて空気中に含まれている微細な塵埃を吸
着させると共に、蒸気圧の高い水溶性のガスを溶解させ
た後、このミストを凍結させ、微細な氷を除去する方法
をとることにより清浄な乾燥空気を得るものである。[Function] As a method of producing clean air to be supplied to a clean room, conventionally, dust is removed by a physical method of making a mesh of a filter fine, and chemicals with a high vapor pressure and harmful substances that are mixed in are removed. While the method of removing gas with an adsorbent is used, the present invention adds a mist composed of pure water to adsorb fine dust contained in the air, After dissolving the above gas, this mist is frozen and a method of removing fine ice is taken to obtain clean dry air.
【0011】すなわち、従来は空気中に含まれている微
細な塵埃や作業中の摩擦などで生ずるパーティクル(Pa
rticle)の除去のみが問題になっていたが、最近ではこ
れと共に工場環境中に含まれるガスや製造工程から混入
してくるガスの除去が問題となっている。That is, particles (Pa) conventionally produced by fine dust contained in the air or friction during work.
rticle) has only become a problem, but recently there has also been a problem with the removal of gases contained in the factory environment and gases entering from the manufacturing process.
【0012】すなわち、CVD工程においては二酸化硅
素(SiO2)や窒化硅素(Si3N4)の薄膜を形成するのにモ
ノシラン(SiH4)が一般的に使用されており、また、半導
体層の形成にアルシン(AsH3)やジボラン(B2H6)などが使
用されている。また、MOCVD工程においてはヘキサ
メチルジシラザン(略称HMDS),ターシャリブチルア
ルシン( 略称TBA),ターシャリブチルフォスフイン
( 略称TBP)などが一般に使用されている。That is, in the CVD process, monosilane (SiH 4 ) is generally used to form a silicon dioxide (SiO 2 ) or silicon nitride (Si 3 N 4 ) thin film, and a semiconductor layer is formed. Arsine (AsH 3 ), diborane (B 2 H 6 ), etc. are used for formation. In the MOCVD process, hexamethyldisilazane (abbreviated as HMDS), tertiary butyl arsine (abbreviated as TBA), tertiary butyl phosphine
(Abbreviation TBP) is generally used.
【0013】また、弗酸(HF) はSiO2に対するエッチン
グ剤として頻繁に使用されているが、このHF蒸気は空気
に混入してフィルタを構成するガラスフィルタに当たる
と、その硼酸(B2O3)成分と反応して弗化硼素(BF3) を生
じてクリーンルーム内に放出される危険性が指摘されて
おり、また、大気中には微量ながらアンモニア(NH3)や
硫化水素(H2S)などの有害ガスが含まれている。これら
のことから、半導体集積回路を高い収率で得るためには
塵埃などのパーティクルと共に有害ガスの除去が必要と
なっている。Further, hydrofluoric acid (HF) is frequently used as an etching agent for SiO 2 , and when this HF vapor is mixed with air and hits a glass filter constituting a filter, the boric acid (B 2 O 3) ) Reacts with the component to form boron fluoride (BF 3 ) and release it into the clean room. In addition, ammonia (NH 3 ) and hydrogen sulfide (H 2 S ) And other harmful gases. For these reasons, in order to obtain a semiconductor integrated circuit with a high yield, it is necessary to remove harmful gases together with particles such as dust.
【0014】発明者はこの解決法として塵埃は湿気によ
り捕獲され易く、また、集積回路の製造工程で有害なガ
スやCVD反応に使用されるガスは何れも水に溶け易い
ことに着目した。As a solution to this problem, the inventor has noted that dust is easily trapped by moisture, and that any harmful gas in the integrated circuit manufacturing process or any gas used in the CVD reaction is easily dissolved in water.
【0015】本発明に係るクリーンエアー供給装置は次
の処理工程より成り立っている。 第1段階で送風機(ファン,Fan)によりクリーンル
ームに送られてきた空気に対して純水の噴霧を行なって
ミストを作り、塵埃などのパーティクルを吸着すると同
時に水溶性のガスを溶解させる。 第2段階で液体空気を噴霧してミストを氷結させ、
エリミネータ(Eliminator)で殆どの氷を取り除く。 第3の段階で液体窒素(N2) が流れている複数のパ
イプの間を通過させ、第2段階で取り除けなかったミス
トをパイプ上に凝縮させて除去し、乾燥空気とする。The clean air supply device according to the present invention comprises the following processing steps. In the first stage, pure air is sprayed on the air sent to the clean room by a blower (Fan) to form a mist, which adsorbs particles such as dust and simultaneously dissolves a water-soluble gas. In the second stage, the mist is frozen by spraying liquid air,
Eliminate most of the ice with the Eliminator. In the third step, mist that has not been removed in the second step is passed through a plurality of pipes through which liquid nitrogen (N 2 ) flows, and is condensed and removed on the pipes to form dry air.
【0016】こゝで、第2段階において液体空気を噴霧
すると、液体空気の沸点はー194.2℃であることから第
1段階で形成したミストは容易に氷結してエリミネータ
に付着して目詰まりを生ずる。これを防ぐためエリミネ
ータとしてはヒータを内蔵してあるものを使用して付着
した氷は液化するようにし、また、エリミネータの下に
はヒータを内蔵する排水皿(Drain-pan) を設けておき、
滴下してきた水を排水することが必要である。Here, when the liquid air is sprayed in the second stage, the mist formed in the first stage is easily frozen and adheres to the eliminator to prevent clogging since the boiling point of the liquid air is -194.2 ° C. Occurs. To prevent this, use an eliminator with a built-in heater so that the attached ice is liquefied, and a drain-pan with a built-in heater is provided under the eliminator.
It is necessary to drain the dropped water.
【0017】また、第3の段階で液体N2の流れているパ
イプの上には第2の段階で取りきれなかったミストが氷
結するので、これを除去する必要があり、そのため、二
組のパイプ列を準備し、必要に応じて液体N2の流れるパ
イプを変えるようにしておくと氷の成長により空気の流
路が閉塞するのを防ぐことができる。次に、このように
して形成した高純の乾燥空気を温湿度調節器を通して必
要とする温度と湿度とを与えて後、クリーンルームに供
給するものである。Further, since the mist that cannot be removed in the second stage freezes on the pipe through which the liquid N 2 flows in the third stage, it is necessary to remove the mist. prepare the pipe column, the air flow path by the to keep the ice growth alter the pipe of the flow of the liquid N 2 can be prevented from clogging, if necessary. Next, the high-purity dry air thus formed is supplied with the required temperature and humidity through a temperature and humidity controller, and then supplied to a clean room.
【0018】[0018]
【実施例】図1はクリーンエアー供給装置の構成図であ
って、第1の送風機1により取り込んだ空気はフィルタ
2により塵埃を除き、クリーンエアー供給装置3に送入
した。こゝで、クリーンエアー供給装置3は純水噴霧部
4,第1段冷却部5,第2段冷却部9の三つの領域から
成り立っており、空気は順次に各領域を通過するよう構
成されている。FIG. 1 is a block diagram of a clean air supply device. The air taken in by a first blower 1 is fed to a clean air supply device 3 after dust is removed by a filter 2. Here, the clean air supply device 3 is composed of three regions of a pure water spraying unit 4, a first stage cooling unit 5, and a second stage cooling unit 9, and the air is configured to sequentially pass through each region. ing.
【0019】こゝで、純水噴霧部4は流入した空気にパ
イプより純水を噴霧するよう構成されており、この領域
で発生するミストにより塵埃は吸着され、また、水溶性
のガスは溶解する。次に、第1段冷却部は液体空気の噴
霧部6とエリミネータ7と液化した水を溜めて排水する
排水皿(Drain-pan)8とから構成されており、液体空気
の噴霧部6から噴霧する液体空気によってミストは直ち
に凍結して微細な霧氷となり浮遊した後、エリミネータ
7に析出する。Here, the pure water spraying section 4 is configured to spray pure water from the pipe to the inflowing air, dust is adsorbed by mist generated in this area, and water-soluble gas is dissolved. I do. Next, the first-stage cooling unit includes a liquid-air spraying unit 6, an eliminator 7, and a drain-pan 8 for storing and draining liquefied water. The mist is immediately frozen by the generated liquid air, becomes fine rime ice, floats, and then deposits on the eliminator 7.
【0020】こゝで、エリミネータ7はヒータを埋め込
んだ銅(Cu) 製の網で形成してあり、加熱により液化し
た水は排水皿8で受け、そのまゝ装置外に排出される。
次に、第2段冷却部9は冷却用配管11と再生用配管12と
が交互に複数個配列して随時に切り換え得るよう構成さ
れており、この下に排水皿13を置く、そして、当初冷却
用配管11には液体N2を、また、再生用配管12には40℃に
加熱したN2ガスを流しておき、第1段冷却部5のエリミ
ネータ7で捕獲できなかった霧氷を冷却用配管11で捕獲
するが、この配管11の表面に氷が蓄積して空気流路が狭
まるとパイプの切り換えを行い、再生用配管12に液体N2
を流し、冷却用配管11にN2ガスを流すことにより液化さ
せ、排水皿13で受けて装置外に除く。Here, the eliminator 7 is formed of a copper (Cu) net in which a heater is embedded, and the water liquefied by the heating is received by the drainage tray 8 and then discharged outside the apparatus.
Next, the second-stage cooling unit 9 is configured such that a plurality of cooling pipes 11 and regeneration pipes 12 are alternately arranged and can be switched at any time, and a drainage tray 13 is placed below this, and Liquid N 2 is supplied to the cooling pipe 11, and N 2 gas heated to 40 ° C. is supplied to the regenerating pipe 12 to cool the rime ice that could not be captured by the eliminator 7 of the first cooling unit 5. The water is captured by the pipe 11, but when ice accumulates on the surface of the pipe 11 and the air flow path narrows, the pipe is switched, and the liquid N 2 is supplied to the regeneration pipe 12.
And liquefied by flowing N 2 gas through the cooling pipe 11, and received by the drainage tray 13 to remove it outside the apparatus.
【0021】このような方法をとることにより純粋な乾
燥空気を得ることができたが、この空気は次に温湿度調
節器15に送り、この例の場合は24℃, 40%RHにし、高性
能フィルタ(HEPAフィルタ)18を通してクリーンル
ーム16に供給する。なお、クリーンルーム16から排出さ
れた空気の一部は第2の送風機17で加圧し、クリーンエ
アー供給装置3へ再循環させる。Although pure dry air could be obtained by such a method, this air was then sent to a temperature / humidity controller 15, which in this example was at 24 ° C. and 40% RH, The clean room 16 is supplied through a performance filter (HEPA filter) 18. A part of the air discharged from the clean room 16 is pressurized by the second blower 17 and recirculated to the clean air supply device 3.
【0022】[0022]
【発明の効果】本発明の実施により塵埃と有害ガスとを
同時に除くことが可能となった。また、半導体集積回路
の品質を向上することができ、捕集口径の小さなフィル
タを使用する場合に較べて送風機の圧力損失が減るため
省電力化でき、また、フィルタの交換回数を減らすこと
ができた。According to the present invention, dust and harmful gas can be removed at the same time. In addition, the quality of the semiconductor integrated circuit can be improved, the pressure loss of the blower can be reduced as compared with the case of using a filter with a small collecting aperture, so that power can be saved, and the number of filter replacements can be reduced. Was.
【図1】 本発明に係るクリーンエアー供給装置の構成
図である。FIG. 1 is a configuration diagram of a clean air supply device according to the present invention.
3 クリーンエアー供給装置 4 純水噴霧部 5 第1段冷却部 6 液体空気の噴霧部 7 エリミネータ 8,13 排水皿 9 第2段冷却部 11 冷却用配管 12 再生用配管 16 クリーンルーム 3 Clean air supply unit 4 Pure water spray unit 5 First stage cooling unit 6 Liquid air spray unit 7 Eliminator 8, 13 Drain tray 9 Second stage cooling unit 11 Cooling pipe 12 Regeneration pipe 16 Clean room
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) F24F 3/16 B01D 50/00 502 B01D 51/02 F24F 7/06 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) F24F 3/16 B01D 50/00 502 B01D 51/02 F24F 7/06
Claims (2)
る装置が、外部より供給した空気流に複数のノズルから
純水を噴霧してミストを作る手段と、該ミストに複数の
ノズルより液体空気を噴霧して前記ミスト中に存在する
水分を凍結させる手段と、該ミストをエリミネータを通
して凍結した微細粒の氷を除去する手段と、液体窒素が
流れる冷却用配管と加温した窒素ガスが流れる再生用配
管とが微細間隔を隔てゝ交互に複数個配列しており、随
時配管中を流れる媒体を切り換え得る配管列に前記空気
流を供給して残留する水分を除去する手段と、該空気流
を所定の温湿度に調整してクリーンルームに供給する手
段と、を含むことを特徴とするクリーンエアー供給装
置。An apparatus for supplying clean air into a clean room comprises: means for spraying pure water from a plurality of nozzles into an air flow supplied from the outside to form a mist; and supplying liquid air to the mist from the plurality of nozzles. Means for spraying to freeze the water present in the mist, means for removing the fine-grain ice frozen from the mist through an eliminator, a cooling pipe through which liquid nitrogen flows, and a regeneration pipe through which heated nitrogen gas flows. A plurality of pipes are alternately arranged at a fine interval; a means for supplying the air flow to a pipe row capable of switching a medium flowing in the pipe at any time to remove residual moisture; And a means for adjusting the temperature and humidity of the air to be supplied to a clean room.
気流に純水を噴霧してミストを作り、次いで該ミストに
液体空気を噴霧して凍結させ、次いで、微細な氷を含む
空気流をエリミネータおよび冷却配管の間隙中を通過さ
せることにより氷を除去して乾燥空気とし、次いで、該
乾燥空気に温湿度調節を行なってクリーンルームに供給
することを特徴とするクリーンエアー供給方法。2. A mist is formed by spraying pure water onto an air flow introduced into the clean room from the outside, and then the liquid mist is sprayed onto the mist to freeze the mist. A method of supplying clean air, comprising removing ice by passing through a gap between pipes to form dry air, and then adjusting the temperature and humidity of the dry air to supply the dry air to a clean room.
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JP18053593A JP3156452B2 (en) | 1993-07-22 | 1993-07-22 | Clean air supply device and supply method |
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JPH0735368A JPH0735368A (en) | 1995-02-07 |
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ID=16084969
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JP18053593A Expired - Lifetime JP3156452B2 (en) | 1993-07-22 | 1993-07-22 | Clean air supply device and supply method |
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