JP3155782B2 - Original plate for shadow mask - Google Patents

Original plate for shadow mask

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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、カラー受像管のシャド
ウマスクを製造する際に用いる金属原板に関する。
The present invention relates to relates to a metal original plate used for producing the shadow mask of the color picture tube.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、カラー受像管の蛍光面の直前に
は、所定の設計基準に基づいてマトリックス状に穿設さ
れた、多数の開孔を有するシャドウマスクが配設されて
いる。そして、カラー受像管に対する高精細度化の要求
に伴い、このようなシャドウマスクにおいても高精密化
が要求され、その要求は年々厳しさを増している。
2. Description of the Related Art In general, a shadow mask having a large number of apertures, which is formed in a matrix according to a predetermined design standard, is provided immediately before a phosphor screen of a color picture tube. With the demand for higher definition of the color picture tube, higher precision is also required for such a shadow mask, and the demand is increasing year by year.

【0003】通常、後方の電子銃から射出された電子ビ
ームは、シャドウマスクの開孔を透過して蛍光面におけ
る所定位置の蛍光ドットを照射し、そこにカラー画像を
現出させるが、このとき射出された電子ビームの全てが
開孔を通過するわけではなく、開孔を通過する電子ビー
ムは全体の約 1/3以下であり、残りの電子ビームはシャ
ドウマスクを直撃してこれを加熱する。その結果、シャ
ドウマスクは熱膨脹して開孔の位置が設計基準からずれ
て変位するため、蛍光面における色ずれ現象を招くこと
がある。そのため最近では、低熱膨脹特性を備えた Ni-
Fe系合金、例えば36wt%Ni-Fe合金(アンバー合金)でシ
ャドウマスク自体を構成し、色ずれ現象を防止すること
が試みられている。
Normally, an electron beam emitted from a rear electron gun passes through an opening in a shadow mask and irradiates a fluorescent dot at a predetermined position on a fluorescent screen to cause a color image to appear there. Not all of the emitted electron beam passes through the aperture, and the electron beam passing through the aperture is less than about 1/3 of the whole, and the remaining electron beam hits the shadow mask and heats it . As a result, the shadow mask thermally expands and the position of the opening is displaced from the design standard, which may cause a color shift phenomenon on the phosphor screen. Therefore, recently, Ni-
Attempts have been made to configure the shadow mask itself with an Fe-based alloy, for example, a 36 wt% Ni-Fe alloy (amber alloy) to prevent the color shift phenomenon.

【0004】ところで、このような Ni-Fe系合金からシ
ャドウマスクを製造する場合、まず所定の合金組成に調
整され溶解鋳造された素材塊に、常法により鍛造、圧
延、焼鈍等の各処理を施して所定の厚さにし、かつ必要
な幅寸法にスリットして原板とする。次いで、この原板
の開孔位置をエッチングして、所定形状の電子ビーム透
過孔をマトリックス状に穿設する。エッチング方法とし
ては、まず原板にフォトレジストを塗布、乾燥し、レジ
スト膜を形成した後、シャドウマスクのパターンを焼き
付けたワーキングネガ(ネガ)を、レジスト膜を設けた
板上に配置し、真空引きにより密着させる。次いで、水
銀ランプ等により光(UV光)を照射してレジストを感
光させた後、現像、乾燥、焼き付けを順に行ってから、
エッチング液で腐食して穿孔する方法が採られている。
さらに、こうしてエッチングが終了したシャドウマスク
においては、プレス成形性を向上させるために、焼鈍が
行われている。
[0004] When a shadow mask is manufactured from such a Ni-Fe-based alloy, first, a material block adjusted to a predetermined alloy composition and melt-cast is subjected to various processes such as forging, rolling, and annealing by a conventional method. To a predetermined thickness, and slit to a required width to obtain an original plate. Next, the opening positions of the original plate are etched to form electron beam transmitting holes of a predetermined shape in a matrix. As an etching method, first, a photoresist is applied to an original plate, dried, a resist film is formed, a working negative (negative) on which a pattern of a shadow mask is baked is placed on a plate provided with the resist film, and vacuum is drawn. To adhere. Next, after irradiating light (UV light) with a mercury lamp or the like to expose the resist, development, drying, and baking are sequentially performed.
A method of corroding and drilling with an etchant has been adopted.
Furthermore, in the shadow mask that has been etched in this way, annealing is performed to improve press formability.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
Ni-Fe系合金等からなるシャドウマスク用原板では、エ
ッチングにより形成された開孔(電子ビーム透過孔)の
径や形状にばらつきが発生し易く、開孔部に光を透過さ
せた際にむらが生じるといった難点があった。そのた
め、近年のカラー受像管における高精細度化の要求に充
分に応えることができないという問題があった。
SUMMARY OF THE INVENTION However, the conventional
In a shadow mask original plate made of a Ni-Fe alloy or the like, the diameter and shape of the openings (electron beam transmission holes) formed by etching are likely to vary, and unevenness may occur when light is transmitted through the openings. However, there was a drawback in that For this reason, there has been a problem that it is not possible to sufficiently meet the recent demand for higher definition in a color picture tube.

【0006】また、一般にエッチング後の焼鈍は、原板
を複数枚重ねて行っているが、この焼鈍の際に原板に焼
き付きが生じ易いという問題もあった。
In general, annealing after etching is performed by stacking a plurality of original sheets, but there is a problem that the original sheets are liable to burn during this annealing.

【0007】本発明は、このような従来の課題に対処す
るためになされたもので、本発明の目的は、エッチング
加工により開孔マトリックスを形成した際に、孔径や孔
形状にばらつきが発生することを防止でき、かつエッチ
ング後の焼鈍工程においても焼き付きを生じない高品位
のシャドウマスク用原板を提供することにある
[0007] The present invention has been made in order to cope with such a conventional problem, purpose of the present invention, when forming an opening matrix by etching, variations occur pore size and pore geometry it can be prevented that, and to provide a high quality of the original sheet for a shadow mask that does not occur seizure in annealing step after the etching.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段と作用】本発明者らは、上
記したエッチングむらの原因について検討を重ねた結
果、原板の表面状態が大きく影響し、その表面状態が不
適当な場合に、原板上に塗布形成されるレジスト膜の密
着性が不充分となり、エッチング時のレジスト膜の剥離
およびこれによるサイドエッチングが生じ、孔径や孔形
状にばらつきが生じることを見出だした。また、原板の
表面状態が不適当な場合には、原板の表面状態がその上
のレジスト膜にまで影響するため、ネガを密着させるた
めに行っている真空引きが不充分となり、ネガと原板と
の間に空隙が生じ、かつ、エッチング後の焼鈍工程で原
板を複数枚重ねて行っているため焼き付きが生じ、これ
が開孔精度を低下させる原因となっているという知見を
得た。
The inventors of the present invention have repeatedly studied the causes of the above-mentioned uneven etching, and as a result, when the surface condition of the original plate is greatly affected and the surface condition is inappropriate, the original plate is It has been found that the adhesiveness of the resist film formed thereon is insufficient, the resist film is peeled off at the time of etching, and side etching is caused by this, resulting in variations in the hole diameter and hole shape. In addition, when the surface condition of the original plate is inappropriate, the surface condition of the original plate affects the resist film thereon, so that the evacuation performed for bringing the negative into close contact becomes insufficient, and Gaps are formed between them, and
It has been found that image sticking occurs due to the fact that a plurality of plates are stacked, which is a cause of lowering the hole opening accuracy.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明のシャドウマスク
用原板は、上記した知見に基づいてなされたものであ
り、電子ビーム透過孔が形成され、シャドウマスクを製
造する際に用いられる金属原板において、その表面は、
中心線平均粗さRa が0.3μmを超えて1μm以下、
表面粗さの凹凸の平均間隔Sm が70μm未満、かつ表
面粗さの凸部の平均傾斜角Δqが2度以上10度以下で
あることを特徴とするものである。また、本発明のシャ
ドウマスク用原板は、電子ビーム透過孔が形成され、シ
ャドウマスクを製造する際に用いられる金属原板におい
て、その表面は、中心線平均粗さRa が0.3μmを超
えて1μm以下、表面粗さの凹凸の平均間隔Sm が10
0μm以下、表面粗さの凸部の平均傾斜角Δqが2度以
上10度以下、かつ表面粗さの相対性スキューネス(R
sk)の値が正であることを特徴とするものである。
The original plate for a shadow mask according to the present invention has been made based on the above-mentioned findings, and has an electron beam transmitting hole formed therein and a metal original plate used when manufacturing a shadow mask. , Its surface is
The center line average roughness Ra is more than 0.3 μm and 1 μm or less,
The average roughness Sm of the unevenness of the surface roughness is less than 70 μm, and the average inclination angle Δq of the convex portion of the surface roughness is 2 degrees or more and 10 degrees or less. In addition, the chassis of the present invention
The original plate for the dough mask is formed with electron beam transmission holes,
Smell of metal plate used in manufacturing the mask
The surface has a center line average roughness Ra exceeding 0.3 μm.
Is less than 1 μm, and the average distance Sm between the irregularities of the surface roughness is 10
0 μm or less, average inclination angle Δq of convex portion with surface roughness is 2 degrees or more
10 degrees or less and relative skewness of surface roughness (R
sk) is a positive value.

【0010】[0010]

【0011】本発明のシャドウマスク用原板を構成する
素材は、特に限定されるものではなく、各種合金を適用
することが可能であり、例えば Ni-Fe系合金、Ni-Cr-Fe
系合金、Ni-Co-Fe系合金、 Ni-Co-Cr-Fe系合金等が例示
される。
The material constituting the original plate for the shadow mask of the present invention is not particularly limited, and various alloys can be applied. For example, Ni-Fe alloys, Ni-Cr-Fe
Alloys, Ni-Co-Fe alloys, Ni-Co-Cr-Fe alloys, and the like.

【0012】本発明においては、このような合金からな
る原板の表面粗さを、JIS B 0601による中心線平均粗さ
Ra 、凹凸の平均間隔Sm (基準長さ内での断面曲線の
平均線上に突出した凸部の間隔の平均値)、および凸部
の平均傾斜角△q(粗さ曲線の二乗平均傾斜角)という
3つのパラメータで規定している。
In the present invention, the surface roughness of an original plate made of such an alloy is determined by measuring the center line average roughness Ra and the average interval Sm of irregularities according to JIS B 0601 (the average line of the cross-sectional curve within the reference length). The average value of the interval between the protruding projections) and the average inclination angle of the projections △ q (the root mean square inclination angle of the roughness curve)
It is specified by three parameters.

【0013】そして、中心線平均粗さRa を 0.3μm を
超えて 1μm 以下と限定したのは、以下に示す理由によ
る。すなわち、Ra が 0.3μm 以下では、原板に対する
レジスト膜の密着性が弱すぎるため、サイドエッチング
が進み過ぎて、孔径および孔形状に乱れが生じ、逆にR
a が 1μm を超えた場合には、レジスト膜の密着性が強
すぎるため、現像後、穿孔されるべき部分にもレジスト
が残存することがあるためである。
The reason why the center line average roughness Ra is limited to more than 0.3 μm and 1 μm or less is as follows. That is, when Ra is 0.3 μm or less, the adhesion of the resist film to the original plate is too weak, so that the side etching proceeds excessively, and the hole diameter and the hole shape are disturbed.
If a exceeds 1 μm, the adhesion of the resist film is too strong, so that the resist may remain in the portion to be perforated after development.

【0014】また、凹凸の平均間隔Sm を100μm以
下に限定したのは、粗さのピッチがあまり大きくて、S
m が100μmを超えた場合には、局部的にレジスト膜
の密着性が弱くなり、その部分でサイドエッチングが過
度に進むため、孔形状が乱れるためである。Sm が適度
に小さい場合には、レジスト膜の密着性が孔のどの部分
でも均一となり、孔形状に乱れが生じない。このような
凹凸の平均間隔Sm を70μm未満とすることで、さら
にむらが少ない良好なシャドウマスクを作製することが
できる。特に、高温でエッチングする場合や孔径が小さ
い高精度マスクを製造する場合には、Sm を50μm以
下とすることが望ましい。
The reason why the average interval Sm of the unevenness is limited to 100 μm or less is that the pitch of the roughness is so large that
If m exceeds 100 μm, the adhesiveness of the resist film is locally weakened, and the side etching proceeds excessively at that portion, so that the hole shape is disturbed. When Sm is appropriately small, the adhesiveness of the resist film becomes uniform at any part of the hole, and the shape of the hole is not disturbed. like this
By setting the average interval Sm of the unevenness to less than 70 μm,
Producing a good shadow mask with less unevenness
it can. In particular, when etching at a high temperature or when manufacturing a high-precision mask having a small hole diameter, Sm is desirably 50 μm or less.

【0015】さらに、凸部の傾斜角Δqを2度〜10度
の範囲としたのは、Δqが2度未満では、レジスト膜の
密着性が弱すぎるため、サイドエッチングが進み過ぎて
孔径および孔形状の乱れが生じ、逆にΔqが10度を超
えた場合には、レジスト膜の密着性が強すぎるため、現
像後、穿孔されるべき部分にもレジストが残存すること
があるためであるまた、本発明のシャドウマスク用原
板においては、エッチング後の焼鈍工程における焼き付
きをより効果的に防止するために、表面粗さを示すその
他のパラメータである相対性(スキューネスRsk)の値
が、正であることが好ましい。
Furthermore, the reason why the inclination angle Δq of the projection is in the range of 2 to 10 degrees is that if Δq is less than 2 degrees, the adhesion of the resist film is too weak, so that the side etching proceeds too much and the hole diameter and hole If the shape is disturbed and Δq exceeds 10 degrees, on the other hand, the adhesiveness of the resist film is too strong, so that the resist may remain in a portion to be perforated after development . Further, in the original plate for a shadow mask of the present invention, in order to more effectively prevent image sticking in the annealing step after etching, the value of relativeness (skewness Rsk), which is another parameter indicating surface roughness, is positive. It is preferred that

【0016】本発明のシャドウマスク用原板は、例えば
次のようにして製造することができる。すなわち、まず
所望する組成のとなるように、Ni、Fe等の各成分金属を
所定量配合してこれを溶解し、合金塊を鋳造する。次い
で、得られた合金塊に鍛造、圧延、焼鈍等の各処理を施
して所定の厚さ(通常 0.1mm〜 0.3mm)の原板とする
が、最終圧延工程で、以下に示すようなダル加工を施
す。すなわち、ロール表面が任意の表面状態とされた圧
延ロールを使用して仕上げを行い、原板表面にロール表
面の凹凸を転写する。これによって、Ra やSm を本発
明の範囲内とした上で、△qやRskを適正な値とするこ
とができる。
The original plate for a shadow mask of the present invention can be manufactured, for example, as follows. That is, first, a predetermined amount of each component metal such as Ni and Fe is blended and melted so that a desired composition is obtained, and an alloy lump is cast. Then, the obtained alloy ingot is subjected to various processes such as forging, rolling, annealing, etc., to obtain an original plate having a predetermined thickness (usually 0.1 mm to 0.3 mm). Is applied. That is, finishing is performed using a rolling roll having an arbitrary surface state, and the unevenness of the roll surface is transferred to the original plate surface. With this, Ra and Sm can be set within the range of the present invention, and △ q and Rsk can be set to appropriate values.

【0017】[0017]

【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。Embodiments of the present invention will be described below.

【0018】実施例1〜5 まず、所定の成分からなる36wt%Ni-Fe合金いわゆるアン
バー合金を溶解し、鋳造した後、熱間圧延、冷間圧延、
焼鈍等を順に行い、厚さ0.25mmの原板とし、最終圧延工
程でダル仕上げ加工を行って、それぞれ表面粗さを表1
に示すように調整した。
Examples 1 to 5 First, a 36 wt% Ni-Fe alloy, a so-called invar alloy, composed of a predetermined component was melted and cast, and then hot-rolled, cold-rolled,
Annealing etc. were performed in order to obtain a 0.25 mm thick original sheet, and dull finishing was performed in the final rolling process.
Was adjusted as shown in FIG.

【0019】また、本発明との比較として、最終のダル
仕上げ加工を省く以外は同様にして、シャドウマスク用
原板を作製した。これらの表面粗さを併せて表1に示
す。
Further, as a comparison with the present invention, except omitting the final dull finishing in the same manner, to prepare the original plate for Shah Douma disk. Table 1 also shows these surface roughnesses.

【0020】次に、得られた各シャドウマスク用原板の
表面の脱脂を行った後、両面に感光液を塗布してそれぞ
れレジスト膜を形成した。次いで、両面のレジスト膜上
に大小の孔パターンを有するネガを配置し、真空引きに
より密着させた後、ネガの後方から超高圧水銀ランプで
露光することによりレジストを感光させた。その後、現
像、乾燥、焼き付け硬化を経て、塩化第二鉄溶液を使用
してエッチングを行って、電子ビーム透過孔を形成し
た。
Next, after degreasing of the resulting respective Shah Douma disk original plate surface, thereby forming a respective resist film by applying a photosensitive solution on both sides. Next, a negative having a large and small hole pattern was placed on the resist film on both sides, and the resist was exposed to light by applying an ultra-high pressure mercury lamp from behind the negative after evacuation and close contact. Thereafter, after development, drying and baking hardening, etching was performed using a ferric chloride solution to form electron beam transmitting holes.

【0021】このようにして製造されたシャドウマスク
を、暗室内で透過光により観察し、むら品位を評価し
た。その結果を表1に示す。なお、むら品位は、むらが
全くなく特に品位が良好なものをA、むらがほとんどな
く品位が良好なものをB、むらが少しあるが実用上問題
がないものをC、むらがあり実用できないものをDと表
した。
The thus manufactured shadow mask was observed in a dark room with transmitted light to evaluate unevenness. Table 1 shows the results. In addition, the quality of the unevenness is as follows: A having no unevenness and having particularly good quality; B having little unevenness and having good quality; C having little unevenness but having no practical problem; Those were designated as D.

【0022】[0022]

【表1】 [Table 1]

【0023】表1から明らかなように、各実施例による
シャドウマスク用原板は、表面粗さRa 、表面粗さの凹
凸の平均間隔Sm 、および凸部の平均傾斜角Δqの全て
が適切な範囲にあるため、むらがなく良好なシャドウマ
スクが得られている。また、エッチング後の焼鈍工程で
も焼き付きが発生することがなかった。なお、スキュー
ネスRskについては、実施例全てにおいて正であった。
As can be seen from Table 1, the original plate for the shadow mask according to each of the embodiments has the surface roughness Ra, the average interval Sm of the unevenness of the surface roughness, and the average inclination angle Δq of the projections all within an appropriate range. , A good shadow mask without unevenness is obtained. Also, no seizure occurred in the annealing step after the etching. The skew
Ness Rsk was positive in all the examples.

【0024】これに対して比較例の各原板は、Ra 、S
m 、△qの中で、少なくとも 1つのパラメータが本発明
の範囲を外れているため、得られるシャドウマスクはむ
らが強く実用に供し得ないものであった。
On the other hand, each original plate of the comparative example has Ra, S
Since at least one parameter out of m and Δq is out of the range of the present invention, the obtained shadow mask was so uneven that it could not be put to practical use.

【0025】[0025]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のシャドウ
マスク用原板によれば、適度な表面粗さを有しているの
で、孔径や孔形状のばらつきが小さくなり、よってむら
のない高品位のシャドウマスクを得ることができる。し
たがって、設計基準に適合し、性能の優れたシャドウマ
スクが得られ、近年のカラー受像管の高精細度化の要求
を充分に満足させることができると共に、エッチング後
の焼鈍工程で焼き付きが生じることもないので、工業的
な価値は極めて大きい。
As described above, according to the master plate for a shadow mask of the present invention, since it has an appropriate surface roughness, variations in hole diameter and hole shape are reduced, and therefore, high quality without unevenness is obtained. Shadow mask can be obtained. Therefore, it is possible to obtain a shadow mask having excellent performance that conforms to the design standards, sufficiently satisfy the recent demand for higher definition of a color picture tube, and cause burn-in in an annealing process after etching. Since there is no such value, the industrial value is extremely large.

【0026】[0026]

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭62−253784(JP,A) 特開 平4−103744(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01J 9/14 H01J 29/07 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) References JP-A-62-253784 (JP, A) JP-A-4-103744 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) H01J 9/14 H01J 29/07

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 電子ビーム透過孔が形成され、シャドウ
マスクを製造する際に用いられる金属原板において、 その表面は、中心線平均粗さRa が0.3μmを超えて
1μm以下、表面粗さの凹凸の平均間隔Sm が70μm
未満、かつ表面粗さの凸部の平均傾斜角Δqが2度以上
10度以下であることを特徴とするシャドウマスク用原
板。
1. A metal original plate having an electron beam transmitting hole formed therein and used for manufacturing a shadow mask, the surface of which has a center line average roughness Ra of more than 0.3 μm and 1 μm or less, and a surface roughness of The average spacing Sm of the irregularities is 70 μm
An original plate for a shadow mask, wherein the average inclination angle Δq of the projections having a surface roughness of less than 2 degrees and not more than 10 degrees.
【請求項2】 電子ビーム透過孔が形成され、シャドウ
マスクを製造する際に用いられる金属原板において、 その表面は、中心線平均粗さRa が0.3μmを超えて
1μm以下、表面粗さの凹凸の平均間隔Sm が100μ
m以下、表面粗さの凸部の平均傾斜角Δqが2度以上1
0度以下、かつ表面粗さの相対性スキューネス(Rsk)
の値が正であることを特徴とするシャドウマスク用原
板。
2. A metal plate having an electron beam transmitting hole formed therein and used for manufacturing a shadow mask, the surface of which has a center line average roughness Ra of more than 0.3 μm and 1 μm or less, and a surface roughness of The average spacing Sm of the irregularities is 100μ
m or less, and the average inclination angle Δq of the convex portion of the surface roughness is 2 degrees or more and 1 or more.
0 degrees or less and relative skewness of surface roughness (Rsk)
An original plate for a shadow mask, characterized in that the value of is positive.
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