JP3148809B2 - Module synthesis equipment - Google Patents

Module synthesis equipment

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JP3148809B2
JP3148809B2 JP13109799A JP13109799A JP3148809B2 JP 3148809 B2 JP3148809 B2 JP 3148809B2 JP 13109799 A JP13109799 A JP 13109799A JP 13109799 A JP13109799 A JP 13109799A JP 3148809 B2 JP3148809 B2 JP 3148809B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、CMOSのLSI
等の回路に使用されるデータパス回路のレイアウトモジ
ュールを合成する技術に関する。
The present invention relates to a CMOS LSI.
The present invention relates to a technique for synthesizing a layout module of a data path circuit used for such a circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のモジュール合成装置としては、デ
ザインルールがパラメタライズされたセルを、垂直方向
をビットに合わせるとともに水平方向を機能に合わせて
配置し、各セルのピン配置の位置合わせおよび上層配線
を行うものがあった。またセルのドライブ能力をセル単
位で最適化する機能を有するものもあった。
2. Description of the Related Art As a conventional module synthesizing apparatus, cells whose design rules are parameterized are arranged in accordance with bits in the vertical direction and in accordance with functions in the horizontal direction. There was something to do wiring. Some have a function of optimizing the driving capability of the cell on a cell-by-cell basis.

【0003】また、レイアウトモジュール内の各ファン
クションに相当する回路の候補を複数個備えており、こ
の中から自動的に最適なものを選択する機能を有するも
のがあった。
In addition, some layout modules have a plurality of circuit candidates corresponding to each function, and some have a function of automatically selecting an optimum one from among them.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところが、従来のモジ
ュール合成装置には以下のような問題があった。
However, the conventional module synthesizing apparatus has the following problems.

【0005】近年、LSIの集積度やクロック周波数は
上昇の一途を辿り、2003年には、LSIの面積1c
2 あたりのトランジスタ個数は1800万に達し、ク
ロック周波数は500MHzにもなるとの予測もある
(SRC,"National Technology Roadmap for Semiconduct
or",1997)。
[0005] In recent years, the degree of integration and clock frequency of LSIs have been steadily increasing.
transistor number per m 2 reached 18 million, the clock frequency is also predicted that it becomes 500MHz (SRC, "National Technology Roadmap for Semiconduct
or ", 1997).

【0006】このような背景から、LSIの製造におい
てはディープサブミクロン時代の到来を迎えており、こ
れによりLSI設計は益々複雑になっている。例えば、
配線間隔が0.1μm程度ときわめて微小になったた
め、遅延や消費電力がゲート容量よりも配線負荷の方に
より大きく依存するようになったので、LSIの遅延、
消費電力やクロックスキューをその設計の上流側(機能
レベル、RTLレベル)で評価することはきわめて困難
になってきた。また、配線間隔が微小になったことによ
り、配線遅延を推定するための配線モデルに配線間の結
合容量の影響を反映させる必要が生じてきたが、この配
線間の結合容量を設計の上流側で推定することはほとん
ど不可能である。
[0006] Against this background, in the manufacture of LSIs, the era of the deep sub-micron has arrived, and as a result, LSI designs have become more and more complicated. For example,
Since the wiring interval is extremely small, about 0.1 μm, the delay and the power consumption depend more on the wiring load than on the gate capacitance.
It has become extremely difficult to evaluate power consumption and clock skew on the upstream side (functional level, RTL level) of the design. Also, as the wiring interval becomes smaller, it becomes necessary to reflect the influence of the coupling capacitance between the wirings on a wiring model for estimating the wiring delay. It is almost impossible to estimate with

【0007】このため、設計の下流側(論理レベル、ト
ランジスタレベル)において、上流側の設計結果を修正
する機能が非常に重要になる。すなわち、設計の上流側
の評価機能と設計の下流側の修正機能とをうまく連携さ
せることによって、LSI設計における手戻りを削減す
ることができ、ひいては設計コストを削減するととも
に、より質の高いLSI設計を実現することができる。
For this reason, on the downstream side (logic level, transistor level) of the design, the function of correcting the design result on the upstream side becomes very important. That is, by making the evaluation function on the upstream side of the design and the correction function on the downstream side of the design cooperate well, it is possible to reduce rework in the LSI design, thereby reducing the design cost and improving the quality of the LSI. The design can be realized.

【0008】設計の上流側と下流側とをうまく連携させ
るためには、上流側が必要とするモジュールの性能や面
積に関する精度の良い情報を、設計の下流側から短時間
で与える必要がある。すなわち、上流設計の合成ツール
がモジュールのアロケーションやバインディングを最適
化する際に設計空間を探索できるようにするためには、
下流側のモジュール合成装置には、複数の条件に対して
合成結果を即座に推定できるような機能が求められる。
ところが従来のモジュール合成装置はこのような機能を
有しておらず、1個の条件についてレイアウトモジュー
ルを合成するのみであった。このため、複数の条件につ
いてモジュールの性能や面積を推定しようとすると、そ
の都度実際にモジュールを合成するしかなく、このため
多大な処理時間を要するという問題があった。
In order to make the upstream and downstream sides of the design cooperate well, it is necessary to provide accurate information on the performance and area of the module required by the upstream side from the downstream side of the design in a short time. In other words, in order for the synthesis tool of the upstream design to search the design space when optimizing the allocation and binding of the module,
The module synthesis device on the downstream side is required to have a function that can immediately estimate a synthesis result for a plurality of conditions.
However, the conventional module synthesizing apparatus does not have such a function, and only synthesizes layout modules under one condition. For this reason, when trying to estimate the performance and area of a module under a plurality of conditions, there is no other way than to actually synthesize the module each time, and there is a problem that a great deal of processing time is required.

【0009】また、従来のモジュール合成装置では、セ
ル形状の自由度がほとんどなかったので、例えばドライ
ブ能力の最適なセルを選択したときなどに、セル間にデ
ッドエリアが生じやすかった。すなわち、レイアウトモ
ジュールの形状を精度よく最適化することができないと
いう問題があった。
Further, in the conventional module synthesizing apparatus, since there is almost no freedom in cell shape, a dead area is likely to be generated between cells when, for example, a cell having an optimum drive capacity is selected. That is, there is a problem that the shape of the layout module cannot be optimized with high accuracy.

【0010】本発明は、かかる点に鑑みてなされたもの
であり、データパス回路のモジュール合成装置として、
遅延性能に優れたモジュールが合成できるように、ユー
ザの利便性を向上させることを課題とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and has been described as a module synthesizing device for a data path circuit.
It is an object to improve user convenience so that a module having excellent delay performance can be synthesized.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、請求項1の発明が講じた解決手段は、データパス
回路のレイアウトモジュールを合成するモジュール合成
装置として、データパスダイアグラムの各ファンクショ
ンの遅延を推定するファンクション特性推定部と、前記
ファンクション特性推定部によって推定された各ファン
クションの遅延を表示するファンクション特性表示部
と、前記データパスダイアグラムを表示するとともに、
このデータパスダイアグラムにおけるレジスタの配置
を、当該モジュール合成装置の外部から与えられた指示
に従って修正するデータパスダイアグラム表示修正部と
を備えているものである。
Means for Solving the Problems In order to solve the above-mentioned problems, a solution taken by the invention of claim 1 is a module synthesizing apparatus for synthesizing a layout module of a data path circuit. A function characteristic estimating unit for estimating the delay of the function, a function characteristic display unit for displaying the delay of each function estimated by the function characteristic estimating unit, and displaying the data path diagram,
The data path diagram includes a data path diagram display correction unit that corrects the arrangement of registers in the data path diagram according to an instruction given from outside the module synthesizing apparatus.

【0012】請求項1の発明によると、ユーザはファン
クション特性表示部によって表示されたファンクション
の遅延を見ながら、インタラクティブに、データパスダ
イアグラムにおけるレジスタ配置をデータパスダイアグ
ラム表示修正部によって修正することができる。このた
め、タイムスロット間の処理時間のアンバランスを容易
に解消することができるので、従来よりも遅延性能に優
れたモジュールを合成することができる。
According to the first aspect of the present invention, the user can interactively correct the register arrangement in the data path diagram by the data path diagram display correction unit while watching the delay of the function displayed by the function characteristic display unit. . For this reason, the processing time imbalance between the time slots can be easily eliminated, and a module having better delay performance than the conventional one can be synthesized.

【0013】そして、請求項2の発明では、前記請求項
1のモジュール合成装置におけるファンクション特性表
示部は、各ファンクションの遅延をタイムスロット毎に
まとめて表示するとともに、各ファンクションの遅延を
タイムスロット毎に和したものをタイムスロットの処理
時間として表示するものとする。
According to the second aspect of the present invention, the function characteristic display section in the module synthesizing apparatus according to the first aspect displays the delay of each function collectively for each time slot, and displays the delay of each function for each time slot. Is displayed as the processing time of the time slot.

【0014】請求項2の発明によると、各タイムスロッ
トの処理時間が表示されるので、ユーザはタイムスロッ
ト間の処理時間のアンバランスを解消するためのレジス
タの配置変更を容易に行うことができる。
According to the second aspect of the present invention, since the processing time of each time slot is displayed, the user can easily change the arrangement of the registers for eliminating the imbalance in the processing time between the time slots. .

【0015】さらに、請求項3の発明では、前記請求項
2のモジュール合成装置におけるファンクション特性表
示部は、処理時間が最大となるタイムスロットをクロッ
ク周期を決定するタイムスロットとして表示するものと
する。
Further, in the invention according to claim 3, the function characteristic display section in the module synthesizing device according to claim 2 displays a time slot in which the processing time is maximum as a time slot for determining a clock cycle.

【0016】請求項3の発明によると、データパス回路
のクロック周期を決定する,処理時間が最大となるタイ
ムスロットが表示されるので、ユーザはタイムスロット
間の処理時間のアンバランスを解消するためのレジスタ
の配置変更をさらに容易に行うことができる。
According to the third aspect of the present invention, the time slot that determines the clock cycle of the data path circuit and has the longest processing time is displayed, so that the user can eliminate the imbalance in the processing time between the time slots. Can be more easily changed.

【0017】また、請求項4の発明では、前記請求項1
のモジュール合成装置におけるファンクション特性推定
部は、各ファンクションの固有遅延および出力段ドライ
ブ能力を求める手段と、前記各ファンクションのコント
ロールに要する信号の遅延時間を推定する手段と、前記
各ファンクション間の仮想配線を推定する手段と、一の
ファンクションの遅延を、前記一のファンクションの固
有遅延と、前記一のファンクションのコントロールに要
する信号の遅延時間と、各ファンクション間の仮想配線
のうち前記一のファンクションの出力段が駆動する配線
を前記一のファンクションの出力段ドライブ能力で駆動
したときの配線遅延とを和することによって求める手段
とを備えているものとする。
According to the fourth aspect of the present invention, in the first aspect,
The function characteristic estimating unit in the module synthesizing device includes means for determining a specific delay and output stage drive capability of each function, means for estimating a delay time of a signal required for control of each function, and virtual wiring between the functions. Means for estimating the delay of one function, the intrinsic delay of the one function, the delay time of a signal required for controlling the one function, and the output of the one function among virtual wirings between the functions. Means for obtaining the sum by adding the wiring delay when the wiring driven by the stage is driven by the output stage drive capability of the one function.

【0018】請求項4の発明によると、ファンクション
の遅延を、コントロールに要するキャリー等の信号の遅
延時間も考慮して求めるので、各ファンクションの遅延
がより精度良く推定される。
According to the fourth aspect of the present invention, the delay of a function is determined in consideration of the delay time of a signal such as a carry required for control, so that the delay of each function can be estimated more accurately.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態につい
て、図面を参照して説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0020】図1は本実施形態に係るモジュール合成装
置の構成を示すブロック図である。図1に示す本実施形
態に係るモジュール合成装置は、データパスダイアグラ
ム1を論理回路情報2に変換する機能レベル処理部1
1、機能レベル処理部11からまたは外部から入力され
た論理回路情報2を基にしてデータパス回路においてセ
ルを特定する論理レベル処理部12、セルが特定された
論理回路情報を基にしてデータパス回路のレイアウトモ
ジュール3を合成する合成処理部13、ファンクション
やセル等の特性を表示する特性表示部20、ファンクシ
ョンやセル等の特性を推定する特性推定部30、合成さ
れるレイアウトモジュールが最適なものになるよう各種
の処理を行う最適化処理部35、およびライブラリ50
を備えている。また本実施形態に係るモジュール合成装
置は、モニタ61と、キーボード、マウスなどの入力手
段62とをさらに備えている。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the module synthesizing apparatus according to the present embodiment. The module synthesizing apparatus according to the present embodiment shown in FIG. 1 has a function level processing unit 1 for converting a data path diagram 1 into logic circuit information 2.
1. A logic level processing unit 12 for specifying a cell in a data path circuit based on the logic circuit information 2 input from the function level processing unit 11 or from outside, and a data path based on the logic circuit information for which the cell is specified. A synthesis processing unit 13 for synthesizing the layout module 3 of the circuit, a characteristic display unit 20 for displaying characteristics of functions and cells, a characteristic estimating unit 30 for estimating characteristics of functions and cells, and an optimal layout module to be synthesized Optimization processing unit 35 that performs various kinds of processing so that
It has. Further, the module synthesizing apparatus according to the present embodiment further includes a monitor 61 and input means 62 such as a keyboard and a mouse.

【0021】機能レベル処理部11はデータパスダイア
グラム表示修正部11aを有しており、このデータパス
ダイアグラム表示修正部11aは、データパスダイアグ
ラム1をモニタ61に表示するとともに、表示したデー
タパスダイアグラム1におけるレジスタの配置を、外部
から入力手段62を介して与えられた指示に従って修正
(レジスタの移動、挿入または削除)する。論理レベル
処理部12は、論理回路図情報2をモニタ61に表示す
るとともにこの論理回路図情報2における各セルの範囲
を外部から入力手段62を介して与えられた指示に従っ
て修正する論理回路図表示修正部12aを備えている。
合成処理部13はレイアウト表示修正部13aを有して
おり、このレイアウト表示修正部13aは、外部から入
力手段62を介して入力されたモジュールのフロアプラ
ンをモニタ61に表示するとともに、表示したフロアプ
ランを、外部から入力手段62を介して与えられた指示
に従って修正する。
The function level processing section 11 has a data path diagram display correction section 11a. The data path diagram display correction section 11a displays the data path diagram 1 on the monitor 61, and displays the displayed data path diagram 1 Is modified (moving, inserting or deleting a register) in accordance with an instruction externally provided via the input means 62. The logic level processing unit 12 displays the logic circuit diagram information 2 on the monitor 61 and corrects the range of each cell in the logic circuit diagram information 2 according to an instruction given from the outside via the input means 62. A correction unit 12a is provided.
The synthesis processing unit 13 has a layout display correction unit 13a. The layout display correction unit 13a displays on the monitor 61 the floor plan of the module input from the outside via the input unit 62, and displays the displayed floor. The plan is modified according to an instruction given from the outside via the input means 62.

【0022】特性表示部20は、データパスダイアグラ
ム1の各ファンクションの遅延時間その他の特性をライ
ブラリ50から読み出して表示するファンクション特性
表示部21を備えている。特性推定部30は、データパ
スダイアグラム1の各ファンクションの遅延時間その他
の特性を推定するファンクション特性推定部31、およ
びセルの面積等の特性を推定するセル特性推定部32を
備えている。
The characteristic display section 20 includes a function characteristic display section 21 for reading out the delay time and other characteristics of each function of the data path diagram 1 from the library 50 and displaying them. The characteristic estimating unit 30 includes a function characteristic estimating unit 31 for estimating delay time and other characteristics of each function of the data path diagram 1 and a cell characteristic estimating unit 32 for estimating characteristics such as cell area.

【0023】最適化処理部35は回路クラスタリング処
理部36、ゲートレベルドライブ能力最適化部37、ト
ランジスタレベルドライブ能力最適化部38、およびモ
ジュール内部配線処理部39を備えている。またライブ
ラリ50は、論理回路ライブラリ51、トランジスタ回
路ライブラリ52、およびテクノロジライブラリ53を
備えている。
The optimization processing section 35 includes a circuit clustering processing section 36, a gate level drive capacity optimization section 37, a transistor level drive capacity optimization section 38, and a module internal wiring processing section 39. The library 50 includes a logic circuit library 51, a transistor circuit library 52, and a technology library 53.

【0024】また本実施形態に係るモジュール合成装置
は、モジュールの合成結果であるレイアウトモジュール
3とともに、遅延によってパラメタライズされた、レイ
アウトモジュールの形状関数4をモジュール推定データ
として出力する。または、レイアウトモジュール3およ
び形状関数4のうちのいずれか一方を、モジュール推定
データとして出力する。
The module synthesizing apparatus according to the present embodiment outputs the layout module 3 which is a result of synthesizing the module, and the shape function 4 of the layout module parameterized by delay as module estimation data. Alternatively, one of the layout module 3 and the shape function 4 is output as module estimation data.

【0025】図2はデータパスダイアグラム表示修正部
11aがモニタ61に表示するデータパスダイアグラム
1の一例である。図2において、I1〜I4は入力端
子、F1〜F4はファンクション、E1〜E9はデータ
の流れ、R1〜R6はレジスタ、O1は出力端子であ
る。なお、本実施形態に係るモジュール合成装置が扱う
データパスダイアグラム1は、レジスタの配置の修正と
モジュールバインディング(前記ファンクションに割り
当てる実際の回路の選択)を変更することを許容する。
一方、リソースシェアリングは認めない。
FIG. 2 shows an example of the data path diagram 1 displayed on the monitor 61 by the data path diagram display correcting section 11a. 2, I1 to I4 are input terminals, F1 to F4 are functions, E1 to E9 are data flows, R1 to R6 are registers, and O1 is an output terminal. The data path diagram 1 handled by the module synthesizing apparatus according to the present embodiment allows modification of register arrangement and change of module binding (selection of an actual circuit assigned to the function).
On the other hand, resource sharing is not allowed.

【0026】本実施形態に係るモジュール合成装置によ
ると、ユーザは、インタラクティブ操作によって、デー
タパスダイアグラム1におけるレジスタの配置を修正す
ることができる。
According to the module synthesizing apparatus according to the present embodiment, the user can modify the arrangement of registers in the data path diagram 1 by an interactive operation.

【0027】各ファンクションの遅延時間およびレジス
タの挿入位置は、LSIのクロック周期に影響を与え
る。通常は上流の設計工程においてリソースシェアリン
グおよびモジュールバインディングが行われるとともに
データパスダイアグラムにおけるレジスタの挿入位置が
決められ、モジュール合成装置は、上流の設計工程にお
いてこれらの条件が与えられたデータパスダイアグラム
についてレイアウトモジュールを合成する。しかし、プ
ロセステクノロジが変化した場合には、上流の設計工程
における情報を最大限に利用して、レイアウトモジュー
ルを再利用、再最適化することが求められる。このよう
な場合には、モジュール合成において、上流の設計工程
で決定された動作仕様を変えない範囲でレジスタの移動
を許容することが好ましい。本実施形態に係るモジュー
ル合成装置を用いれば、パイプライン処理に関するレジ
スタの挿入位置をインタラクティブに指定することがで
きるので、レイアウトモジュールの再利用、再最適化を
行うことができる。
The delay time of each function and the insertion position of the register affect the clock cycle of the LSI. Normally, resource sharing and module binding are performed in the upstream design process, and the register insertion position in the data path diagram is determined, and the module synthesizer performs the data path diagram given these conditions in the upstream design process. Synthesize the layout module. However, when the process technology changes, it is necessary to reuse and re-optimize the layout module by making maximum use of information in the upstream design process. In such a case, in module synthesis, it is preferable to allow the register to be moved within a range that does not change the operation specification determined in the upstream design process. By using the module synthesizing apparatus according to the present embodiment, it is possible to interactively designate the insertion position of the register related to the pipeline processing, so that the layout module can be reused and re-optimized.

【0028】すなわち、本実施形態に係るモジュール合
成装置の特徴の1つは、モジュール合成において、デー
タパスダイアグラムにおけるレジスタの配置を、インタ
ラクティブ操作によって修正可能にする機能を有するこ
とである。
That is, one of the features of the module synthesizing apparatus according to the present embodiment is that the module synthesizing apparatus has a function of making it possible to modify the arrangement of registers in a data path diagram by an interactive operation in module synthesizing.

【0029】図3は図2に示すデータパスダイアグラム
1に対応した、ファンクション特性表示部21がモニタ
61に表示する画面の一例である。図3に示すように、
ファンクション特性表示部21の表示画面では、各ファ
ンクションの遅延等の特性がタイムスロット毎にまとめ
て表示される。
FIG. 3 is an example of a screen displayed on the monitor 61 by the function characteristic display section 21 corresponding to the data path diagram 1 shown in FIG. As shown in FIG.
On the display screen of the function characteristic display unit 21, characteristics such as delay of each function are collectively displayed for each time slot.

【0030】各ファンクションの遅延はファンクション
特性推定部31によって求められる。ファンクション特
性推定部31によって求められた各ファンクションの遅
延は論理回路ライブラリ51に格納され、また面積、消
費電力についても同様に論理回路ライブラリ51に格納
される。ファンクション特性表示部21は論理回路ライ
ブラリ51から各ファンクションの遅延、面積、消費電
力を読み出して、図3に示すようにモニタ61に表示す
る。
The delay of each function is obtained by the function characteristic estimating unit 31. The delay of each function obtained by the function characteristic estimation unit 31 is stored in the logic circuit library 51, and the area and power consumption are also stored in the logic circuit library 51. The function characteristic display unit 21 reads the delay, area, and power consumption of each function from the logic circuit library 51 and displays them on the monitor 61 as shown in FIG.

【0031】図2に示すデータパスダイアグラムでは、
タイムスロット1において、ファンクションF2(加
算)とF3(乗算)とが順次行なわれる。この場合、フ
ァンクションF2の遅延(10)とファンクションF3
の遅延(40)との和(50)がタイムスロット1の処
理時間になる。ファンクション特性表示部21の表示画
面では、各ファンクションの遅延とともに各タイムスロ
ットの処理時間を表示するために、例えば図3に示すよ
うに、各ファンクションの遅延は黒い帯で表示され、各
タイムスロットの処理時間はハッチのかかった帯で表示
される。
In the data path diagram shown in FIG.
In time slot 1, functions F2 (addition) and F3 (multiplication) are sequentially performed. In this case, the delay (10) of the function F2 and the function F3
(50) with the delay (40) is the processing time of time slot 1. On the display screen of the function characteristic display section 21, in order to display the processing time of each time slot together with the delay of each function, for example, as shown in FIG. 3, the delay of each function is displayed in a black band, and the time slot of each time slot is displayed. The processing time is indicated by a hatched band.

【0032】各タイムスロットの演算はそれぞれ、1ク
ロック周期内で処理される必要がある。したがって、ク
ロック周期を決める要因となるのは、タイムスロット1
個あたりの最大処理時間であり、図3ではタイムスロッ
ト1の処理時間(50)がこれに相当する。すなわちタ
イムスロット1に割り当てられたファンクションの処理
速度を上げることによってクロック周期を短縮すること
ができる。このことをユーザに示すために、例えば図3
に示すように、処理時間が最大となるタイムスロットに
“*”を表示する。
The operation of each time slot needs to be processed within one clock cycle. Therefore, the factor that determines the clock cycle is time slot 1
This is the maximum processing time per unit. In FIG. 3, the processing time (50) of time slot 1 corresponds to this. That is, the clock cycle can be shortened by increasing the processing speed of the function assigned to the time slot 1. To show this to the user, for example, FIG.
As shown in (1), "*" is displayed in the time slot where the processing time is the maximum.

【0033】また、処理時間が最大になるタイムスロッ
ト以外のタイムスロットに割り当てられたファンクショ
ンは、そのタイムスロットの処理時間がタイムスロット
1個あたりの最大処理時間に達するまでは、遅延のより
大きいものに置き換えることが可能である。このことを
示すために、例えば図3に示すように、各タイムスロッ
トにおいて、タイムスロット1個当たりの最大処理時間
すなわちクロック周期を白枠で表示する。この白枠の中
の黒い帯以外の部分によって表現される遅延の余裕を、
スラックと呼ぶ。
The functions assigned to the time slots other than the time slot in which the processing time is maximized have a larger delay until the processing time of the time slot reaches the maximum processing time per one time slot. Can be replaced by In order to indicate this, for example, as shown in FIG. 3, in each time slot, a maximum processing time per one time slot, that is, a clock cycle is displayed by a white frame. The delay margin represented by the parts other than the black band in this white frame,
Called slack.

【0034】従来のモジュール合成装置は、データパス
ダイアグラムにおけるレジスタの配置を修正する機能を
有さなかったので、タイムスロット間に処理時間のアン
バランスがあってもこれを解消することができず、この
ため、遅延性能の優れたモジュールを合成することがで
きなかった。またパイプライン処理のためのレジスタの
挿入位置は固定されており、モジュールの性能が改善さ
れるようレジスタの位置を修正することもできなかっ
た。また、ユーザが各ファンクションの特性を把握して
モジュールの性能の最適化を行うことが困難であった。
すなわち、従来のモジュール合成装置は、各ファンクシ
ョンの特性やモジュール性能の面でクリティカルとなる
部分等を表示する機能を持たず、合成結果についての特
性情報しか得られなかったので、モジュールの性能の最
適化を行うのに人手による繁雑な作業が要求され、モジ
ュール開発に時間がかかった。
Since the conventional module synthesizing apparatus does not have a function of correcting the register arrangement in the data path diagram, even if there is an imbalance in the processing time between the time slots, it cannot be solved. For this reason, a module having excellent delay performance could not be synthesized. Further, the register insertion position for pipeline processing is fixed, and the register position cannot be modified so as to improve the performance of the module. It is also difficult for the user to grasp the characteristics of each function and optimize the performance of the module.
That is, the conventional module synthesizing apparatus does not have a function of displaying a characteristic of each function or a portion which is critical in terms of module performance, and can obtain only characteristic information on a synthesis result. Complicated work required complicated work, and it took time for module development.

【0035】ところが本実施形態に係るモジュール合成
装置では、ユーザは、図3に示すようなファンクション
特性表示部21による表示画面を見て、データパスダイ
アグラムにおけるレジスタの配置を修正することができ
る。このため、タイムスロット間の処理時間のアンバラ
ンスを解消することができるので、従来よりも遅延性能
に優れたモジュールを合成することができる。
However, in the module synthesizing apparatus according to the present embodiment, the user can correct the register arrangement in the data path diagram by looking at the display screen of the function characteristic display section 21 as shown in FIG. For this reason, the processing time imbalance between the time slots can be eliminated, and a module having better delay performance than the conventional one can be synthesized.

【0036】図4は論理回路図表示修正部12aがモニ
タ61に表示する,データパス回路を表す論理回路の一
例である。図4において、101はレジスタ、102は
セル、103はレジスタ列である。セル102は、1つ
または複数の論理回路をグループ化することによって得
られる。
FIG. 4 shows an example of a logic circuit representing a data path circuit displayed on the monitor 61 by the logic circuit diagram display correction section 12a. In FIG. 4, 101 is a register, 102 is a cell, and 103 is a register string. Cell 102 is obtained by grouping one or more logic circuits.

【0037】本明細書において、セルとは1まとまりの
機能を有する回路の集合を表現する概念である。セルの
具体的な実現は設計フェーズによって異なる。すなわ
ち、設計の初期においてはセルは機能情報によって表さ
れ、論理設計が終了すればセルは論理回路の集合によっ
て表され、回路設計が終了すればセルはトランジスタレ
ベルの回路によって表され、レイアウト設計が完了すれ
ばセルはレイアウト図によって表される。セルのことを
ファンクションセルまたは機能セルということもある。
演算を行うためのセルを演算セル、データの記憶を行う
ためのセルを記憶セルという。
In this specification, a cell is a concept representing a set of circuits having a group of functions. The specific implementation of the cell depends on the design phase. That is, at the beginning of the design, the cell is represented by functional information, when the logic design is completed, the cell is represented by a set of logic circuits, when the circuit design is completed, the cell is represented by a transistor-level circuit, and the layout design is completed. Upon completion, the cell is represented by the layout diagram. The cell may be called a function cell or a function cell.
A cell for performing an operation is called an operation cell, and a cell for storing data is called a storage cell.

【0038】上流設計においてはセルはファンクション
に対応するので、機能レベル処理部11はデータパスダ
イアグラム1に従い、データの流れに沿って演算セル列
と記憶セル列(レジスタセル列)とを配置し、論理回路
ライブラリ51から各ファンクションに対応した論理回
路を読み出し割り当てることによって、データパスダイ
アグラム1を論理回路情報2に変換する。論理回路図表
示修正部12aは、論理レベル処理部12に入力された
論理回路情報2を論理回路図の形でモニタ61に画面表
示するとともに、この論理回路図における各セルの範囲
を、外部から入力手段62を介して与えられた指示に従
って修正する。
In the upstream design, since cells correspond to functions, the function level processing unit 11 arranges operation cell columns and storage cell columns (register cell columns) along the data flow according to the data path diagram 1. The data path diagram 1 is converted into logic circuit information 2 by reading and assigning logic circuits corresponding to each function from the logic circuit library 51. The logic circuit diagram display correction unit 12a displays the logic circuit information 2 input to the logic level processing unit 12 on a monitor 61 in the form of a logic circuit diagram on a screen, and also displays the range of each cell in the logic circuit diagram from the outside. The correction is made according to the instruction given via the input means 62.

【0039】したがって、本実施形態に係るモジュール
合成装置では、ユーザのインタラクティブ操作によっ
て、セルに含まれる論理回路の集合の変更を行ったり、
セル列配置の入れ替えを行うことが可能である。
Therefore, in the module synthesizing apparatus according to the present embodiment, the set of logic circuits included in the cell is changed by the user's interactive operation,
It is possible to change the arrangement of cell columns.

【0040】図5はレイアウト表示修正部13aがモニ
タ61の画面に表示する,レイアウトモジュールのフロ
アプランの一例である。図5において、111はレジス
タセル列、112は演算セル列である。合成処理部13
は、論理レベル処理部12によって決定された図4に示
すようなセルの接続情報に従って、外部から入力手段6
2を介して与えられた指示に従って、レイアウトモジュ
ールのフロアプランを作成する。なお、ユーザの指定ま
たは自動最適化処理によって、レイアウトモジュールの
フロアプランとしてセルの2段積み等を選択することが
可能である。
FIG. 5 shows an example of a layout module floor plan displayed on the screen of the monitor 61 by the layout display correcting section 13a. In FIG. 5, reference numeral 111 denotes a register cell row, and 112 denotes an operation cell row. Combination processing unit 13
Is externally input means 6 in accordance with the cell connection information as shown in FIG.
2 creates a floor plan of the layout module in accordance with the instruction given through Step 2. Note that it is possible to select a two-tiered stack of cells or the like as the floor plan of the layout module by user's designation or automatic optimization processing.

【0041】また、ライブラリ50のデータも特性表示
部20によって画面表示される。
The data of the library 50 is also displayed on the screen by the characteristic display unit 20.

【0042】図6は論理回路ライブラリ51のデータの
画面表示例であり、加算器に対する面積、遅延および消
費電力のデータを示す図である。論理回路ライブラリ5
1には加算器のような各ファンクションのデータが面
積、遅延および消費電力をパラメタライズした形で格納
されている。これらのデータはファンクション特性推定
部31によって計算される。図6において、ハッチのか
かった部分は、現在このファンクション(加算器)に対
して選択されている回路を示している。ユーザは、例え
ば、図3に示すようなファンクション特性を見て遅延を
改善すべきファンクションを見つけ、図6に示すような
表示からこのファンクションに対する最適な回路を選択
することによって、インタラクティブに、最適化を行う
ことができる。
FIG. 6 is an example of a screen display of the data of the logic circuit library 51, and is a diagram showing data of the area, delay, and power consumption for the adder. Logic circuit library 5
In 1, data of each function such as an adder is stored in a form in which the area, delay, and power consumption are parameterized. These data are calculated by the function characteristic estimating unit 31. In FIG. 6, a hatched portion indicates a circuit currently selected for this function (adder). The user interactively optimizes by, for example, finding a function whose delay is to be improved by looking at the function characteristics shown in FIG. 3 and selecting an optimum circuit for this function from the display shown in FIG. It can be performed.

【0043】図7はトランジスタ回路ライブラリ52の
データの画面表示例であり、インバータに対するトラン
ジスタ回路を示す図である。トランジスタ回路ライブラ
リ52には各論理回路に対応したトランジスタ回路のデ
ータが格納されている。図7において、ハッチのかかっ
た部分は、現在この論理回路(インバータ)に対して選
択されているトランジスタ回路を示している。
FIG. 7 is an example of a screen display of data of the transistor circuit library 52, and is a diagram showing a transistor circuit for an inverter. The transistor circuit library 52 stores the data of the transistor circuit corresponding to each logic circuit. In FIG. 7, a hatched portion indicates a transistor circuit currently selected for this logic circuit (inverter).

【0044】またテクノロジライブラリ53には、現在
使用しているテクノロジのデザインルール、制約条件、
回路パラメータ等が格納されており、主として最適化処
理部35によって参照される。
The technology library 53 includes design rules, constraints, and the like of the technology currently used.
Circuit parameters and the like are stored, and are mainly referred to by the optimization processing unit 35.

【0045】セル特性推定部32は、トランジスタレベ
ルの回路構成が与えられたセルについて、遅延によって
パラメタライズされた形状関数を求める。図8は遅延に
よってパラメタライズされたセルの形状関数の一例を示
すグラフである。図8に示すように、遅延によってパラ
メタライズされたセルの形状関数とは、複数の遅延要求
に対してそれぞれ求められたセルの形状関数の集合であ
り、それぞれの形状関数は、一の遅延要求を満足するセ
ルの高さ(Y)と幅(X)との関係を表しており、セル
形状の自由度を表現している。この遅延によってパラメ
タライズされたセルの形状関数は、合成処理部13によ
ってモジュールを合成する際に、モジュール内のセル間
のデッドエリアを最小化し、モジュールの集積度を向上
させるために用いられる。
The cell characteristic estimating unit 32 obtains a shape function parameterized by delay for a cell having a transistor-level circuit configuration. FIG. 8 is a graph showing an example of the cell shape function parameterized by the delay. As shown in FIG. 8, the cell shape function parameterized by the delay is a set of cell shape functions obtained respectively for a plurality of delay requests, and each shape function is one delay request. And the relationship between the height (Y) and the width (X) of the cell satisfying the following condition, and expresses the degree of freedom of the cell shape. The cell shape function parameterized by the delay is used to minimize the dead area between cells in the module and improve the degree of integration of the module when the module is synthesized by the synthesis processing unit 13.

【0046】セルについてのトランジスタレベルの回路
構成が与えられたとき、セル特性推定部32は、セルに
ついて複数の遅延要求を設定し、以下に示す<セルの形
状関数推定処理>を各遅延要求に対して行うことによっ
て、図8に示すような遅延によってパラメタライズされ
たセルの形状関数を求める。なお、セル高さの上限およ
び下限は与えられるものとする。<セルの形状関数推定
処理>(ステップE1)セルに対して、一の遅延要求を
設定する。(ステップE2)各トランジスタのゲート幅
を最適化する(例えば、Fishburn et. al,"TILOS: A Po
synomial Programming Approach to Transistor Sizin
g", ICCAD85, pp.326- 328, 1985.に開示されたトラン
ジスタサイズ最適化方法を用いればよい)。(ステップ
E3)セルを構成するトランジスタのうち、直列接続さ
れたトランジスタを拡散共有するものとしてグループ化
する。
When a transistor-level circuit configuration for a cell is given, the cell characteristic estimating unit 32 sets a plurality of delay requests for the cell, and performs the following <cell shape function estimation processing> for each delay request. By doing so, the cell shape function parameterized by the delay as shown in FIG. 8 is obtained. Note that an upper limit and a lower limit of the cell height are given. <Cell Shape Function Estimation Process> (Step E1) One delay request is set for the cell. (Step E2) Optimize the gate width of each transistor (eg, Fishburn et. Al, "TILOS: A Po
synomial Programming Approach to Transistor Sizin
g ", ICCAD85, pp. 326-328, 1985.) (Step E3) Among the transistors constituting the cell, those in which the transistors connected in series are diffused and shared As a group.

【0047】図9はセルを構成するトランジスタ回路の
一例を示す図である。図9において、VDDは電源、G
NDはグランド、TPA〜TPDはP型トランジスタ、
TNA〜TNDはN型トランジスタである。P型トラン
ジスタTPAとTPB、および、P型トランジスタTP
CとTPDとは、それぞれ直列接続されている。直列接
続されているトランジスタは拡散共有するものとしてグ
ループ化し、これにより、トランジスタグループG1〜
G6を定める。(ステップE4)セルの構造定義に従っ
てセルの高さの取り得る候補を求める。
FIG. 9 is a diagram showing an example of a transistor circuit constituting a cell. In FIG. 9, VDD is a power supply, G
ND is ground, TPA to TPD are P-type transistors,
TNA to TND are N-type transistors. P-type transistors TPA and TPB and P-type transistor TP
C and TPD are respectively connected in series. The transistors connected in series are grouped as being shared by diffusion, whereby the transistor groups G1 to G1 are connected.
G6 is determined. (Step E4) According to the structure definition of the cell, possible candidates for the cell height are obtained.

【0048】ここではセルが、Pチャネル領域とNチャ
ネル領域とが縦積みされたCMOSのセルであるものと
し、Pチャネル領域およびNチャネル領域の高さの上限
と下限が与えられているものとする。各トランジスタグ
ループのうち、当該トランジスタグループが属するチャ
ネル領域の高さの下限値よりもゲート幅が大きなものに
ついて折り返しを行うものとし、折り返しを行った場合
の形状関数を求める。
Here, it is assumed that the cell is a CMOS cell in which a P-channel region and an N-channel region are vertically stacked, and the upper and lower limits of the heights of the P-channel region and the N-channel region are given. I do. In each transistor group, a transistor whose gate width is larger than the lower limit of the height of the channel region to which the transistor group belongs is folded, and a shape function in the case of the folding is obtained.

【0049】図9に示すトランジスタ回路において、P
チャネル領域のトランジスタグループG1のゲート幅が
12であり、かつPチャネル領域の高さが4から8の間
に制限されているものと仮定する。
In the transistor circuit shown in FIG.
Assume that the gate width of the transistor group G1 in the channel region is 12 and the height of the P channel region is limited to between 4 and 8.

【0050】図10はトランジスタグループG1の,折
り返しの形態を変えたときの形状の変化を示す図であ
る。図10(a)〜(e)に示すように、トランジスタ
グループG1を囲む矩形は折り返し段数を変えることに
よって形状が変化する。例えば、折り返しのない(a)
では幅が6、高さが12、1段折り返しの(b)、
(c)ではそれぞれ幅が10、高さが8および幅が1
0、高さが6、2段折り返しの(d),(e)ではそれ
ぞれ幅が14、高さが5および幅が14、高さが4であ
る。
FIG. 10 is a diagram showing a change in the shape of the transistor group G1 when the folded form is changed. As shown in FIGS. 10A to 10E, the shape of the rectangle surrounding the transistor group G1 changes by changing the number of folding steps. For example, without folding (a)
Then, the width is 6, the height is 12, and the one-stage folded (b),
In (c), the width is 10, the height is 8 and the width is 1 respectively.
In (d) and (e), which are 0, the height is 6, and the two-stage folding is performed, the width is 14;

【0051】この結果、トランジスタグループG1の形
状関数は図11に示すようなグラフになる。図11にお
いて、グラフ上の点120a〜120eは、図10
(a)〜(e)のレイアウトにそれぞれ対応する。前述
のPチャネル領域の高さ制限により、ハッチのかかって
いない部分の形状関数のみが実際にレイアウト可能なも
のになる。他のトランジスタグループについても同様
に、形状関数を求めることができる。
As a result, the shape function of the transistor group G1 becomes a graph as shown in FIG. In FIG. 11, points 120a to 120e on the graph correspond to those in FIG.
The layouts correspond to the layouts (a) to (e), respectively. Due to the height limitation of the P-channel region, only the shape function of the unhatched portion can be actually laid out. The shape function can be similarly obtained for the other transistor groups.

【0052】このようにして求めた各トランジスタグル
ープの形状関数によって、Pチャネル領域およびNチャ
ネル領域の高さを与えたときに取り得るトランジスタの
面積を知ることができる。トランジスタ面積の効率が最
も良いのは、各形状関数においてトランジスタの幅が変
化するポイントであるため、そのようなポイントをPチ
ャネル領域およびNチャネル領域の高さの候補として全
てリストアップする。
From the shape function of each transistor group obtained as described above, the area of a transistor that can be obtained when the heights of the P-channel region and the N-channel region are given can be known. Since the efficiency of the transistor area is highest at the point where the width of the transistor changes in each shape function, such points are listed as candidates for the heights of the P-channel region and the N-channel region.

【0053】Pチャネル領域のトランジスタグループと
Nチャネル領域のトランジスタグループとはセル内で上
下に縦積みされるので、その間にPN分離領域および配
線のための間隔Ddを確保する必要がある。このため、
間隔Ddを配線ネットから統計的に与えられるテーブル
を準備し、このテーブルによって与えられる間隔Ddを
Pチャネル領域およびNチャネル領域の高さの候補に加
えることによって、セル高さ候補を求める。(ステップ
E5)各セル高さ候補について、それぞれ、トランジス
タ面積と各ネットのファンアウト数に基づく予想配線長
に基づく配線面積とを加え、さらに出力ネット、電源ネ
ットおよびグランドネットの個数分だけ拡散共有が行わ
れると仮定して、これらのネットについての拡散共有に
よる面積削減分を減ずることによって、セル面積を推定
する。その後、推定したセル面積を当該セル高さ候補で
除することによって得られた値を、当該セル高さ候補に
対応するセル幅とする。ここで、ファンアウト数と配線
長との関係はテーブルによってあらかじめ与えられるも
のとする。(ステップE6)ステップE5で得られた、
各セル高さ候補とこれに対応するセル幅との組み合わせ
を基にして、ステップE1において設定した一の遅延要
求についての、セルの形状関数を求める。
Since the transistor group in the P-channel region and the transistor group in the N-channel region are vertically stacked in the cell, it is necessary to secure an interval Dd for the PN isolation region and the wiring therebetween. For this reason,
A table in which the interval Dd is statistically given from the wiring net is prepared, and the interval Dd given by this table is added to the height candidates of the P-channel region and the N-channel region, thereby obtaining cell height candidates. (Step E5) For each cell height candidate, add the transistor area and the wiring area based on the expected wiring length based on the number of fanouts of each net, and further diffuse and share by the number of output nets, power supply nets, and ground nets. Is performed, the cell area is estimated by reducing the area reduction due to the diffusion sharing of these nets. Thereafter, a value obtained by dividing the estimated cell area by the cell height candidate is set as a cell width corresponding to the cell height candidate. Here, the relationship between the number of fan-outs and the wiring length is given in advance by a table. (Step E6) Obtained in Step E5,
Based on the combination of each cell height candidate and the corresponding cell width, a cell shape function for one delay request set in step E1 is obtained.

【0054】従来のモジュール合成装置では、セル形状
の自由度があまりなかったので、例えばドライブ能力の
最適なセルを選択したとき等にセル間にデッドエリアが
生じやすいという問題があった。すなわち、所望のセル
形状を実現する機能やセル形状の取り得る候補を短時間
で推定する機能はなく、セル形状は予め準備されたもの
の中から選択するしかなかったので、セル間にデッドエ
リアが生じやすく、したがってレイアウトモジュール形
状を精度よく最適化することができないという問題があ
った。
In the conventional module synthesizing apparatus, since there is not much freedom in cell shape, there is a problem that a dead area is easily generated between cells when, for example, a cell having an optimum driving capacity is selected. That is, there is no function for realizing a desired cell shape or a function for estimating possible cell shape candidates in a short time, and the cell shape has to be selected from those prepared in advance. There is a problem that the layout module shape is likely to be generated, and therefore the layout module shape cannot be optimized with high accuracy.

【0055】これに対して、本実施形態に係るモジュー
ル合成装置では、セルについて形状関数が求められるの
で、レイアウトモジュールの形状を精度よく最適化する
ことができる。
On the other hand, in the module synthesizing apparatus according to this embodiment, since the shape function is obtained for the cell, the shape of the layout module can be optimized with high accuracy.

【0056】ファンクション特性推定部31は、ファン
クションの遅延を以下のようにして求める。まず、論理
回路ライブラリ51からファンクションの固有遅延およ
び出力段のドライブ能力を読み出すとともに、合成処理
部13からファンクション間の仮想配線を読み出す。こ
こで、図12に示すような配線のネットに係る端子11
3を全て含む矩形114の半周を仮想配線の長さとす
る。さらに、同じ機能を実現しかつ相異なるビットに対
するセル同士の距離に基づき、このファンクション内部
のキャリー等のコントロール配線長を推定する。次に、
ファンクション間のデータを流すための仮想配線を前記
ファンクションの出力段ドライブ能力で駆動した場合の
配線遅延を計算する。最後に、このファンクションの固
有遅延と、このファンクションをコントロールする信号
の遅延時間と、計算した配線遅延との和を、当該ファン
クションの遅延として求める。
The function characteristic estimating unit 31 calculates the function delay as follows. First, the inherent delay of the function and the drive capability of the output stage are read from the logic circuit library 51, and the virtual wiring between the functions is read from the synthesis processing unit 13. Here, the terminal 11 relating to the wiring net as shown in FIG.
A half circumference of the rectangle 114 including all three is the length of the virtual wiring. Further, based on the distance between cells for the same function and different bits, a control wiring length such as a carry inside the function is estimated. next,
A wiring delay is calculated when virtual wiring for flowing data between functions is driven by the output stage drive capability of the function. Finally, the sum of the intrinsic delay of this function, the delay time of a signal that controls this function, and the calculated wiring delay is determined as the delay of this function.

【0057】また、ファンクション特性推定部31は、
ファンクションの消費電力を以下のようにして求める。
The function characteristic estimating unit 31
The power consumption of the function is obtained as follows.

【0058】論理回路ライブラリ51には、各ファンク
ションに対して入力信号の変化回数から出力信号の変化
回数を求める伝搬式が格納されている。チップ全体の使
用条件において電力を評価するためのテストパターンよ
り求めた、このモジュールのデータ信号およびコントロ
ール信号の変化回数を与える。前記のようなテストパタ
ーンが存在しない場合は、例えば特開平8−6980号
公報に開示された方法によって、このモジュールのデー
タ信号の変化回数を統計的方法によって与えることも可
能である。ファンクション特性推定部31は、このモジ
ュールのデータ信号およびコントロール信号の変化回数
を入力する手段を備えており、このモジュールの使用条
件をデータベースに蓄え、これに基づき各ファンクショ
ンの消費電力の評価を可能とする。
The logic circuit library 51 stores a propagation equation for calculating the number of changes in the output signal from the number of changes in the input signal for each function. The number of changes of the data signal and the control signal of this module, which is obtained from a test pattern for evaluating power under the use condition of the entire chip, is given. If there is no test pattern as described above, the number of changes in the data signal of this module can be given by a statistical method, for example, by the method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 8-6980. The function characteristic estimating unit 31 has means for inputting the number of changes of the data signal and the control signal of the module, stores the use condition of the module in a database, and can evaluate the power consumption of each function based on this. I do.

【0059】ファンクション特性推定部31は、まず外
部システムから、チップ全体の使用条件におけるモジュ
ールのデータ信号およびコントロール信号の変化回数を
入力する。次に、データパス回路の入力側から順次、各
ファンクションに対して定義された前記伝搬式を用い
て、出力信号の変化回数を求める処理を繰り返し行う。
次に、各信号線の負荷と信号の変化回数より各ファンク
ションの消費電力を計算する。計算した各ファンクショ
ンの消費電力は論理回路ライブラリ51に格納される。
なお、ファンクションの動作記述から前記伝搬式を求め
る方法としては、例えば特開平8−6980号公報に開
示された方法を用いればよい。
First, the function characteristic estimating unit 31 inputs, from an external system, the number of changes of the data signal and the control signal of the module under the use condition of the whole chip. Next, the process of obtaining the number of changes of the output signal is repeatedly performed sequentially from the input side of the data path circuit using the propagation formula defined for each function.
Next, the power consumption of each function is calculated from the load of each signal line and the number of signal changes. The calculated power consumption of each function is stored in the logic circuit library 51.
As a method for obtaining the propagation equation from the operation description of the function, for example, a method disclosed in JP-A-8-6980 may be used.

【0060】次に、最適化処理部35について説明す
る。
Next, the optimization processing unit 35 will be described.

【0061】回路クラスタリング処理部36は、図13
に示すような論理回路図において、回路要素をグループ
化することによって、セルを特定するものである。回路
クラスタリング処理部36による回路クラスタリング処
理方法を図13を用いて説明する。
The circuit clustering processing unit 36
In the logic circuit diagram as shown in FIG. 1, a cell is specified by grouping circuit elements. A circuit clustering processing method by the circuit clustering processing unit 36 will be described with reference to FIG.

【0062】図13(a)は1ビットのネットリストに
含まれる回路を示す図、図13(b)は図13(a)に
ついてセルに対する回路要素の割り当てを行った例を示
す図であり、131A〜131Fは回路要素、132A
〜132Cは作成しようとしているセル、133A〜1
33Fは配線である。図13(b)において、回路要素
131A〜131Fにはそれぞれ面積推定値が記されて
おり、セル132A〜132Cにはそれぞれ面積の制限
値が上に付されている。
FIG. 13A is a diagram showing a circuit included in a 1-bit netlist, and FIG. 13B is a diagram showing an example in which circuit elements are assigned to cells in FIG. 13A. 131A to 131F are circuit elements, 132A
132C is the cell to be created, 133A-1
33F is a wiring. In FIG. 13B, the estimated area values are described for the circuit elements 131A to 131F, respectively, and the limit values of the areas are respectively attached to the cells 132A to 132C.

【0063】まず遅延のクリティカルパス上の配線を見
つけ、この配線に重み付けを行う。次に外部からの指定
によりセル面積の上限値を与える。拡散共有するときの
各セルに含まれる回路要素の面積の総和が前記上限値以
下であり、且つ、重みつけした配線のカット数が最小と
なるように、各セルに含まれる回路要素の入れ替えを繰
り返すことによって、各セルに含まれる回路要素の集合
を決定する。ここで、各セルに含まれる回路要素の面積
の総和は、前述のセル特性推定部32によって計算す
る。
First, a wiring on the delay critical path is found, and this wiring is weighted. Next, an upper limit of the cell area is given by an external designation. The replacement of the circuit elements included in each cell is performed so that the total area of the circuit elements included in each cell when the diffusion sharing is performed is equal to or less than the upper limit value, and the number of cuts of the weighted wiring is minimized. By repeating, a set of circuit elements included in each cell is determined. Here, the sum of the areas of the circuit elements included in each cell is calculated by the above-described cell characteristic estimating unit 32.

【0064】最後に他のビットのネットリストに含まれ
る各回路要素に対して、最初に処理したビットのネット
リストに含まれる回路要素との対応に基づいて、セルと
してのグループ化を決定する。
Finally, for each circuit element included in the netlist of other bits, grouping as a cell is determined based on the correspondence with the circuit element included in the netlist of the bit processed first.

【0065】ゲートレベルドライブ能力最適化部37
は、特性表示部20が表示するデータにおいて、スラッ
クが存在するファンクションまたはセルに対して、より
出力段ドライブ能力が低く、かつ、面積の小さい回路に
置き換えることを繰り返すことによって、各セルの出力
段ドライブ能力を最適化する。
Gate level drive capacity optimization unit 37
In the data displayed by the characteristic display unit 20, a function or cell in which slack is present is repeatedly replaced with a circuit having a lower output stage drive capability and a smaller area, thereby reducing the output stage of each cell. Optimize drive capacity.

【0066】トランジスタレベルドライブ能力最適化部
38は、各セルの出力段のトランジスタサイズが与えら
れた場合に、このセルの遅延時間を与えたときに面積が
最小となるようにセル内の各トランジスタのサイズを最
適化する。例えば、Fishburnet. al,"TILOS: A Posynom
ial Programing Approach to Transistor Sizing",ICCA
D85, pp.326- 328, 1985. に開示されたトランジスタサ
イズ最適化方法によって実現される。
When the transistor size of the output stage of each cell is given, the transistor level drivability optimizing unit 38 controls each transistor in the cell so that the area becomes minimum when the delay time of this cell is given. Optimize the size of For example, Fishburnet. Al, "TILOS: A Posynom
ial Programming Approach to Transistor Sizing ", ICCA
D85, pp. 326-328, 1985.

【0067】モジュール内部配線処理部39はセル間の
配線を行うものであり、例えば、J.Cong,B.Preas,and
C.L.Lin,"General models and algorithms for over-th
e-cell routing in standard cell design",Proc.of DA
C,pp.709-715,June 1990に開示された方法が用いられ
る。
The module internal wiring processing section 39 performs wiring between cells. For example, J. Cong, B. Preas, and
CLLin, "General models and algorithms for over-th
e-cell routing in standard cell design ", Proc.of DA
C, pp. 709-715, June 1990.

【0068】合成処理部13は、モジュールの合成結果
であるレイアウトモジュール3と、遅延によってパラメ
タライズされたモジュールの形状関数4とを、モジュー
ル推定データとして出力する。図14は遅延によってパ
ラメタライズされたモジュールの形状関数4の一例を表
すグラフである。
The synthesis processing unit 13 outputs, as module estimation data, the layout module 3 which is the synthesis result of the module, and the module shape function 4 parameterized by the delay. FIG. 14 is a graph showing an example of the module shape function 4 parameterized by the delay.

【0069】図1に示すモジュール合成装置によるモジ
ュール合成処理について説明する。図15は図1に示す
モジュール合成装置によるモジュール合成処理の流れを
示すフローチャートである。
The module synthesizing process by the module synthesizing apparatus shown in FIG. 1 will be described. FIG. 15 is a flowchart showing the flow of module synthesis processing by the module synthesis device shown in FIG.

【0070】まずステップST1において、機能レベル
処理部11にデータパスダイアグラム1を入力し、ファ
ンクション特性表示部21によって画面表示された各フ
ァンクションの遅延等の特性を見てユーザがデータパス
ダイアグラム表示修正部11aに指示を与えることによ
って、または遅延最適化の評価指標の下で機能レベル処
理部11によって自動的に、データパスダイアグラム1
においてレジスタ配置の修正を行う。
First, in step ST 1, the data path diagram 1 is input to the function level processing section 11, and the user views the characteristics such as delay of each function displayed on the screen by the function characteristic display section 21 so that the user can modify the data path diagram display correction section. 11a, or automatically by the function level processing unit 11 under the evaluation index of delay optimization,
In, the register arrangement is corrected.

【0071】次にステップST2において、ステップS
T1で入力しかつレジスタ配置を修正されたデータパス
ダイアグラムについて、機能レベル処理部11によっ
て、各ファンクションに、対応する論理回路を論理回路
ライブラリ51から読み出して割り当てることによって
論理回路情報2を生成し、論理レベル処理部12に入力
する。ここでの論理回路情報2は回路の論理のみを表現
するものであり、論理に相当するトランジスタ回路まで
は表現していない。なお論理回路情報2は、外部から直
接スケマエディタなどの入力手段62を介して入力して
もよい。すなわち、本実施形態のモジュール合成装置で
は、抽象的なレベルで表現したデータパスダイアグラム
1または論理レベルで表現した論理回路情報2のいずれ
の入力も可能である。
Next, in step ST2, step S
With respect to the data path diagram input at T1 and the register arrangement of which has been corrected, the function level processing unit 11 reads a logic circuit corresponding to each function from the logic circuit library 51 and assigns the logic circuit information 2, thereby generating logic circuit information 2. Input to the logic level processing unit 12. The logic circuit information 2 here expresses only the logic of the circuit, and does not express the transistor circuit corresponding to the logic. The logic circuit information 2 may be directly input from the outside via input means 62 such as a schema editor. That is, in the module synthesizing apparatus of the present embodiment, any input of the data path diagram 1 expressed at the abstract level or the logic circuit information 2 expressed at the logical level is possible.

【0072】次にステップST3において、ステップS
T2で入力した論理回路をブロック上に概略配置する。
Next, in step ST3, step S
The logic circuit input at T2 is roughly arranged on the block.

【0073】次にステップST4において、ステップS
T3による概略配置に基づき、論理回路間の仮想配線長
を求める。
Next, in step ST4, step S
The virtual wiring length between the logic circuits is obtained based on the schematic arrangement by T3.

【0074】次にステップST5において、各論理回路
に、対応するトランジスタ回路をトランジスタ回路ライ
ブラリ52から読み出して割り当てる。トランジスタ回
路ライブラリ部52には各論理回路に対してトランジス
タ回路の候補がいくつか準備されており、この中からフ
ァンアウト数や遅延時間の期待値に応じて最適な候補を
選択することによって、論理回路のトランジスタ回路へ
の割り当ては行われる。
Next, in step ST5, a corresponding transistor circuit is read from the transistor circuit library 52 and assigned to each logic circuit. In the transistor circuit library section 52, several transistor circuit candidates are prepared for each logic circuit, and by selecting an optimal candidate from these according to the expected value of the fan-out number and the delay time, the logic circuit is selected. Assignment of circuits to transistor circuits is performed.

【0075】次にステップST6において、ゲートレベ
ルドライブ能力最適化部35によって、論理回路間の仮
想配線長、および遅延目的、遅延制約に基づき各論理回
路の出力段ゲートのドライブ能力の最適化を行う。
Next, in step ST6, the gate level drive capacity optimization unit 35 optimizes the drive capacity of the output stage gate of each logic circuit based on the virtual wiring length between the logic circuits, the purpose of delay, and the delay constraint. .

【0076】次にステップST7において、回路のクラ
スタリングを行う。ここでは、ユーザが論理回路図表示
修正部12aに指示を与えることによってまたは回路ク
ラスタリング処理部35による自動処理によって回路を
グループ化し、これによりセルを特定する。
Next, in step ST7, circuit clustering is performed. Here, the circuit is grouped by a user giving an instruction to the logic circuit diagram display correcting unit 12a or by automatic processing by the circuit clustering processing unit 35, and thereby the cell is specified.

【0077】次にステップST8において、ステップS
T7で求めた各セルに対して、トランジスタレベルドラ
イブ能力最適化部38によって、セル内部遅延の最小化
および面積最小化を目的として、セル内部ドライブ能力
最適化およびセルのレイアウト合成を行う。
Next, in step ST8, step S
For each cell obtained at T7, the transistor level drive capacity optimizing unit 38 performs the cell internal drive capacity optimization and cell layout synthesis for the purpose of minimizing the cell internal delay and the area.

【0078】次にステップST9において、モジュール
内部配線処理部39によってセル間の配線を行う。
Next, in step ST9, wiring between cells is performed by the module internal wiring processing unit 39.

【0079】最後にステップST10において、モジュ
ール推定データを生成する。
Finally, in step ST10, module estimation data is generated.

【0080】ステップST10について詳細に説明す
る。ここでは、セルをスライシング構造に並べる場合に
限定し、モジュールのフロアプランは外部から合成処理
部13に与えられているものとする。
Step ST10 will be described in detail. Here, it is limited to the case where cells are arranged in a slicing structure, and it is assumed that the floor plan of the module is externally given to the synthesis processing unit 13.

【0081】まず、クロック周期を外部から設定する。
次に設定されたクロック周期の間にレジスタ間のデータ
転送が行えるよう、各レジスタ間の各セルに対して、出
力段ドライブ能力およびセル内の遅延要求を与える。与
えられた各セルの出力段ドライブ能力およびセル内遅延
要求に基づき、セル特性推定部32によって、各セルの
遅延によってパラメタライズされた形状関数を求める。
First, the clock cycle is externally set.
Next, an output stage drive capability and a delay request in the cell are given to each cell between the registers so that data transfer between the registers can be performed during the set clock cycle. Based on the given output stage drive capability of each cell and the required intra-cell delay, the cell characteristic estimator 32 obtains a shape function parameterized by the delay of each cell.

【0082】次に、モジュールについて複数の遅延要求
を設定し、以下に示す<モジュールの形状関数推定処理
>を各遅延要求に対して行うことによって、モジュール
の形状関数をそれぞれ求める。 <モジュールの形状関数推定処理> (ステップF1)設定された遅延要求を満足し、かつ、
モジュール面積が最小になるように各セルの遅延要求を
決める。この処理については後述する。 (ステップF2)モジュールを構成する各セルについ
て、ステップF1で決めた遅延要求から、セル特性推定
部32によってすでに求められている,遅延によってパ
ラメタライズされた形状関数を参照して、一の形状関数
を決める。 (ステップF3)ステップF2で決めた各セルの形状関
数と、モジュールのフロアプランとから、モジュールの
形状関数を求める。
Next, a plurality of delay requests are set for the module, and the following <module shape function estimation processing> is performed for each delay request, thereby obtaining the module shape function. <Module Shape Function Estimation Processing> (Step F1) The set delay requirement is satisfied, and
The delay requirement of each cell is determined so as to minimize the module area. This processing will be described later. (Step F2) For each cell constituting the module, refer to the delay function determined in Step F1 and the delay-parameterized shape function already obtained by the cell characteristic estimating unit 32 to obtain one shape function. Decide. (Step F3) The shape function of the module is obtained from the shape function of each cell determined in step F2 and the floor plan of the module.

【0083】図16を参照してステップF3の処理につ
いて説明する(L.Stockmayer,"Optimal Orientations o
f Cells in Slicing Floorplan Designs",Information
andControl,Vol.59,pp.91-101,1983に開示)。図16に
おいて、(a)はセルAの形状関数、(b)はセルBの
形状関数、(c)は垂直方向に隣接したセルA,Bを囲
む矩形の形状関数をそれぞれ示している。(c)に示す
形状関数は、(a)に示す形状関数と(b)に示す形状
関数とをY方向に加えたものである。すなわち、垂直方
向に隣接したセルを囲む矩形の形状関数は、各セルの形
状関数をY方向に加えることによって、求めることがで
きる。同様に、水平方向に隣接したセルを囲む矩形の形
状関数は、各セルの形状関数をX方向に加えることによ
って、求めることができる。したがって、スライシング
構造で表現されたセルの隣接関係に基づいて、X、Y方
向それぞれに各セルの形状関数を加えることによって、
モジュール全体の形状関数を求めることができる。そし
て、求めたモジュール全体の形状関数にセル間配線に相
当する面積を加えることによって、モジュールの形状関
数を求める。
The processing in step F3 will be described with reference to FIG. 16 (L. Stockmayer, "Optimal Orientations
f Cells in Slicing Floorplan Designs ", Information
and Control, Vol. 59, pp. 91-101, 1983). 16A shows a shape function of the cell A, FIG. 16B shows a shape function of the cell B, and FIG. 16C shows a rectangular shape function surrounding the vertically adjacent cells A and B, respectively. The shape function shown in (c) is obtained by adding the shape function shown in (a) and the shape function shown in (b) in the Y direction. That is, a rectangular shape function surrounding cells adjacent in the vertical direction can be obtained by adding the shape function of each cell in the Y direction. Similarly, a rectangular shape function surrounding cells adjacent in the horizontal direction can be obtained by adding the shape function of each cell in the X direction. Therefore, by adding the shape function of each cell in each of the X and Y directions based on the adjacency relation of the cells represented by the slicing structure,
The shape function of the whole module can be obtained. Then, a shape function of the module is obtained by adding an area corresponding to the inter-cell wiring to the obtained shape function of the entire module.

【0084】ステップF1の処理について詳細に説明す
る。ステップF1において、各セルの遅延要求を決める
ための目的関数を、次の式(1)のように定める。
The processing in step F1 will be described in detail. In step F1, an objective function for determining a delay requirement of each cell is determined as in the following equation (1).

【0085】 目的関数=(モジュール面積)*p …(1) なお、pはペナルティ定数であり、モジュールが遅延要
求を満足するときは1とし、満足しないときは2とす
る。
Objective function = (module area) * p (1) Here, p is a penalty constant, and is 1 when the module satisfies the delay requirement, and 2 when the module does not satisfy the delay requirement.

【0086】そして、式(1)に示す目的関数の値が最
小になるように、逐次改善法などによって各セルの遅延
要求を求める。具体的には、まず各セルの遅延として初
期値を与え、目的関数を求めつつ、各セルの遅延を変化
させていき(このときの変化量は、セル特性推定部32
によってすでに求めた,遅延によってパラメタライズさ
れたセルの形状関数に応じて決めればよい)、目的関数
が最小になるときの各セルの遅延を、遅延要求として決
定する。
Then, the delay requirement of each cell is obtained by a successive improvement method or the like so that the value of the objective function shown in the equation (1) is minimized. Specifically, first, an initial value is given as the delay of each cell, and the delay of each cell is changed while obtaining the objective function.
This may be determined according to the cell shape function parameterized by the delay, which has already been determined by the above), and the delay of each cell when the objective function is minimized is determined as a delay request.

【0087】式(1)の目的関数におけるモジュール面
積は、モジュールの形状関数における最小面積で与える
ものとする。また、ここでのモジュールの形状関数は、
前記ステップF3と同様に、セル遅延から決まる各セル
の形状関数とモジュールのフロアプランとから求める。
The module area in the objective function of the equation (1) is given by the minimum area in the module shape function. Also, the shape function of the module here is
Similar to the step F3, it is obtained from the shape function of each cell determined from the cell delay and the floor plan of the module.

【0088】また、モジュールが遅延要求を満足するか
否かは、モジュールの遅延を推定し、このモジュールの
遅延と遅延要求とを比較することによって判断する。
Whether the module satisfies the delay requirement is determined by estimating the module delay and comparing the module delay with the delay requirement.

【0089】モジュールの遅延は、このモジュールの入
力端子から出力端子までの各パスの遅延すなわちパス遅
延の最大値または平均値のいずれかによって定義する。
パス遅延は、このパスを構成する各セルの遅延と、モジ
ュールの形状関数およびフロアプランから推定した配線
負荷を基に推定した配線遅延との和によって求められ
る。
The delay of a module is defined by the delay of each path from the input terminal to the output terminal of this module, that is, either the maximum value or the average value of the path delay.
The path delay is obtained by the sum of the delay of each cell constituting the path and the wiring delay estimated based on the wiring function estimated from the shape function of the module and the floor plan.

【0090】本実施形態に係るモジュール合成手順につ
いて補足説明を行う。
A supplementary description will be given of the module synthesizing procedure according to the present embodiment.

【0091】図2に示すようなデータパスダイアグラム
は、レジスタの挿入位置や配線の挿入位置が確定する前
のファンクションを通して流れるデータのフローを表現
するものであり、パイプライン等のスケジューリング
は、レジスタの挿入位置を決定することによってレジス
タ間パスを定義し、レジスタ間パスの演算の処理順序を
与える問題と定義できる。
The data path diagram as shown in FIG. 2 expresses the flow of data flowing through a function before the insertion position of the register or the insertion position of the wiring is determined. By determining the insertion position, an inter-register path is defined, which can be defined as a problem that gives the processing order of the operation of the inter-register path.

【0092】データパスダイアグラムのレベルにおける
モジュールの最適化は、(1)レジスタの挿入位置の最
適化、(2)レジスタ間の回路のタイミングの最適化、
(3)レジスタ間の回路の内部遅延の最適化によって実
現される。
The optimization of the module at the level of the data path diagram includes (1) optimization of the insertion position of the register, (2) optimization of the circuit timing between the registers,
(3) It is realized by optimizing the internal delay of the circuit between the registers.

【0093】(1)については、本実施形態に係るモジ
ュール合成装置は、データパスダイアグラムを表示する
機能とレジスタの挿入位置を外部からの指示により修正
する機能とを有するデータパスダイアグラム表示修正部
11aを備えており、ユーザがパイプライン処理のため
のレジスタ挿入位置を指示することによって、スケジュ
ーリング情報をモジュール合成に反映させることができ
る。
Regarding (1), the module synthesizing apparatus according to this embodiment has a function of displaying a data path diagram and a function of correcting the insertion position of a register according to an external instruction. The scheduling information can be reflected in module synthesis by the user instructing the register insertion position for pipeline processing.

【0094】(2)については、回路全体においてクリ
ティカルパスとなるレジスタ間を見つけ出し、このクリ
ティカルパスに係る回路のドライブ能力を一律に増大さ
せることを繰り返すことによって、実現可能である。各
ファンクションに相当する論理回路は、論理回路ライブ
ラリ51を参照することによって得られる。
The method (2) can be realized by finding between registers serving as critical paths in the entire circuit and repeatedly increasing the drive capability of the circuit related to the critical path uniformly. The logic circuit corresponding to each function is obtained by referring to the logic circuit library 51.

【0095】(3)については、各ファンクションに相
当するトランジスタ回路を生成し、生成したトランジス
タ回路の各トランジスタのゲート幅を設定変更すること
によって、面積と遅延時間を最適化することができる。
本実施形態では、論理回路ライブラリ51が面積と遅延
時間をパラメータとしたインスタンス情報を有してお
り、このパラメータを最適化することによってレジスタ
間の回路の内部遅延を所望の値に設定する。論理回路ラ
イブラリ51が有するインスタンス情報は、セル特性推
定部32によって生成される。
Regarding (3), the area and the delay time can be optimized by generating a transistor circuit corresponding to each function and changing the setting of the gate width of each transistor of the generated transistor circuit.
In the present embodiment, the logic circuit library 51 has instance information using the area and the delay time as parameters, and by optimizing these parameters, sets the internal delay of the circuit between the registers to a desired value. The instance information included in the logic circuit library 51 is generated by the cell characteristic estimating unit 32.

【0096】[0096]

【発明の効果】以上のように本発明によると、ユーザ
が、データパスダイアグラムにおけるタイムスロット間
の処理時間のアンバランスを容易に解消することができ
るので、従来よりも遅延性能に優れたモジュールを合成
することができる。
As described above, according to the present invention, the user can easily cancel the imbalance of the processing time between the time slots in the data path diagram. Can be synthesized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態に係るモジュール合成装置
の構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a module synthesizing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】データパスダイアグラムの一例であり、データ
パスダイアグラム表示修正部11aが表示する画面の一
例である。
FIG. 2 is an example of a data path diagram, and is an example of a screen displayed by a data path diagram display correction unit 11a.

【図3】図2に示すデータパスダイアグラムに対応し
た、ファンクション特性表示部21が表示する画面の一
例である。
FIG. 3 is an example of a screen displayed by a function characteristic display unit 21 corresponding to the data path diagram shown in FIG.

【図4】データパス回路を論理レベルで表現する論理回
路図の一例であり、論理回路図表示修正部12aが表示
する画面の一例である。
FIG. 4 is an example of a logic circuit diagram expressing a data path circuit at a logic level, and is an example of a screen displayed by a logic circuit diagram display correction unit 12a.

【図5】レイアウト表示修正部13が表示する画面の一
例である。
FIG. 5 is an example of a screen displayed by a layout display correction unit 13;

【図6】論理回路ライブラリ51のデータの画面表示例
であり、加算器に対する面積、遅延および消費電力のデ
ータを示す図である。
FIG. 6 is a screen display example of data of a logic circuit library 51, and is a diagram illustrating data of an area, a delay, and power consumption for an adder.

【図7】トランジスタ回路ライブラリ52のデータの画
面表示例であり、インバータに対するトランジスタ回路
を示す図である。
FIG. 7 is a screen display example of data of a transistor circuit library 52, and is a diagram showing a transistor circuit for an inverter.

【図8】セル特性推定部32によって求められたセルの
形状関数の一例を示すグラフである。
FIG. 8 is a graph showing an example of a cell shape function obtained by a cell characteristic estimating unit 32;

【図9】セルを構成するトランジスタ回路の一例を示す
図である。
FIG. 9 is a diagram illustrating an example of a transistor circuit forming a cell.

【図10】(a)〜(e)は折り返しの形態を変えたと
きの図9に示すトランジスタグループG1の形状の変化
を示す図である。
10 (a) to 10 (e) are diagrams showing a change in the shape of the transistor group G1 shown in FIG. 9 when the folded form is changed.

【図11】図9に示すトランジスタグループG1の形状
関数を示すグラフである。
11 is a graph showing a shape function of the transistor group G1 shown in FIG.

【図12】仮想配線の長さを説明するための図である。FIG. 12 is a diagram for explaining the length of a virtual wiring.

【図13】回路クラスタリング処理方法を説明するため
の図であり、(a)は1ビットのネットリストに含まれ
る回路を示す図、(b)は(a)についてセルに対する
回路要素の割り当てを行った例を示す図である。
13A and 13B are diagrams for explaining a circuit clustering processing method, in which FIG. 13A illustrates a circuit included in a 1-bit netlist, and FIG. 13B illustrates the assignment of circuit elements to cells in FIG. FIG.

【図14】モジュール推定データすなわちレイアウトモ
ジュールの高さと幅との関係を表す形状関数の一例を表
すグラフである。
FIG. 14 is a graph illustrating an example of a shape function indicating module estimation data, that is, a relationship between a height and a width of a layout module.

【図15】本実施形態に係るモジュール合成処理の流れ
を示すフローチャートである。
FIG. 15 is a flowchart illustrating a flow of a module synthesis process according to the embodiment.

【図16】モジュールの形状関数を求める方法を示す図
であり、(a)はセルAの形状関数を示す図、(b)は
セルBの形状関数を示す図、(c)は垂直方向に隣接し
たセルA,Bを囲む矩形の形状関数を示す図である。
16A and 16B are diagrams showing a method of obtaining a shape function of a module, FIG. 16A is a diagram showing a shape function of a cell A, FIG. 16B is a diagram showing a shape function of a cell B, and FIG. FIG. 3 is a diagram showing a rectangular shape function surrounding adjacent cells A and B.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 データパスダイアグラム 2 論理回路情報 3 レイアウトモジュール 4 形状関数 11 機能レベル処理部 11a データパスダイアグラム表示修正部 12 論理レベル処理部 12a 論理回路図表示修正部 13 合成処理部 21 ファンクション特性表示部 31 ファンクション特性推定部 32 セル特性推定部 F1〜F4 ファンクション R1〜R6 レジスタ 102 セル G1〜G6 トランジスタグループ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Data path diagram 2 Logic circuit information 3 Layout module 4 Shape function 11 Function level processing part 11a Data path diagram display correction part 12 Logic level processing part 12a Logic circuit diagram display correction part 13 Synthesis processing part 21 Function characteristic display part 31 Function characteristic Estimation unit 32 Cell characteristics estimation unit F1 to F4 Function R1 to R6 Register 102 Cell G1 to G6 Transistor group

フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G06F 17/50 H01L 21/82 Continuation of the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G06F 17/50 H01L 21/82

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 データパス回路のレイアウトモジュール
を合成するモジュール合成装置であって、 データパスダイアグラムの各ファンクションの遅延を推
定するファンクション特性推定部と、 前記ファンクション特性推定部によって推定された各フ
ァンクションの遅延を表示するファンクション特性表示
部と、 前記データパスダイアグラムを表示するとともに、この
データパスダイアグラムにおけるレジスタの配置を、当
該モジュール合成装置の外部から与えられた指示に従っ
て修正するデータパスダイアグラム表示修正部とを備え
ていることを特徴とするモジュール合成装置。
1. A module synthesizing apparatus for synthesizing a layout module of a data path circuit, comprising: a function characteristic estimating unit for estimating a delay of each function of a data path diagram; A function characteristic display section for displaying a delay, and a data path diagram display correction section for displaying the data path diagram and correcting the arrangement of registers in the data path diagram according to an instruction given from outside the module synthesizing apparatus. A module synthesizing apparatus, comprising:
【請求項2】 請求項1記載のモジュール合成装置にお
いて、 前記ファンクション特性表示部は、 各ファンクションの遅延をタイムスロット毎にまとめて
表示するとともに、各ファンクションの遅延をタイムス
ロット毎に和したものをタイムスロットの処理時間とし
て表示するものであることを特徴とするモジュール合成
装置。
2. The module synthesizing device according to claim 1, wherein the function characteristic display unit collectively displays delays of each function for each time slot, and displays a sum of delays of each function for each time slot. A module synthesizing device for displaying as a processing time of a time slot.
【請求項3】 請求項2記載のモジュール合成装置にお
いて、 前記ファンクション特性表示部は、 処理時間が最大となるタイムスロットを、クロック周期
を決定するタイムスロットとして表示するものであるこ
とを特徴とするモジュール合成装置。
3. The module synthesizing device according to claim 2, wherein the function characteristic display unit displays a time slot in which a processing time is maximum as a time slot for determining a clock cycle. Module synthesis device.
【請求項4】 請求項1記載のモジュール合成装置にお
いて、 前記ファンクション特性推定部は、 各ファンクションの固有遅延および出力段ドライブ能力
を求める手段と、 前記各ファンクションのコントロールに要する信号の遅
延時間を推定する手段と、 前記各ファンクション間の仮想配線を推定する手段と、 一のファンクションの遅延を、前記一のファンクション
の固有遅延と、前記一のファンクションのコントロール
に要する信号の遅延時間と、各ファンクション間の仮想
配線のうち前記一のファンクションの出力段が駆動する
配線を前記一のファンクションの出力段ドライブ能力で
駆動したときの配線遅延とを和することによって求める
手段とを備えていることを特徴とするモジュール合成装
置。
4. The module synthesizing apparatus according to claim 1, wherein the function characteristic estimating unit estimates a characteristic delay and an output stage drive capability of each function, and estimates a delay time of a signal required for control of each function. Means for estimating virtual wiring between the functions; delay of one function; inherent delay of the one function; delay time of a signal required for control of the one function; Means for determining a wiring driven by the output stage of the one function of the virtual wiring by summing a wiring delay when the wiring is driven by the output stage drive capability of the one function. Module synthesis device to do.
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