JP3142479B2 - 光素子 - Google Patents
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Description
T(electromagneticallyindu
ced transparency)に立脚した光素子
に関する。
有の性質と考えられていた光学的性質に関して、非線形
光学過程を一切利用せず、量子力学的なコヒーレンスだ
けを用いてそれを変調する研究が活発化している。
おいても物質中を光が吸収されずに透過してしまう“E
IT”(K.−J.Boller et al.,Ph
ys.Rev.Lett.66,2593(199
1))、反転分布無しでもレーザー発振が可能なため、
特に反転分布を形成することが困難な紫外線〜X線領域
にかけての短波長レーザーの実現に期待がかかる“la
sing withoutinversion”(略し
てLWI;S.E.Harris,Phys.Rev.
Lett.62.1033(1989))、物質の屈折
率を非常に大きくすることが可能な“enhancem
ent of index of refractio
n”(M.O.Scully.Phys.Rev.Le
tt.67,1855(1991))、励起光を照射し
ているにも拘らずある特定準位に電子を閉じ込めてしま
う“population trapping”(E.
Arimondo et.al.,Lett.Nuov
o Cimento 17,333(1976)などの
研究が活発化している。これら研究に伴い、この種の量
子コヒーレンスを応用した光変調素子やLWIレーザー
など各種光素子の研究開発も積極的に進められている。
質の変調現象の中でも、特にEITは上述した現象の全
ての基礎であり、例えばLWIレーザーなどではそれを
実現する上で必要不可欠な基本技術と考えられている。
2本照射した際に見出だされた現象で、1976年の発
見以来様々な原子ガスで同様な現象が確認されている。
例えば、H.R.Gray et al.,Opt.L
ett.3,218(1978);M.Kaivola
et al.,Opt Commun.49,418
(1984);A.Aspect et al.,Ph
ys.Rev.Lett.61,826(1988);
S.Adachi et al.,Opt Commu
n.81,364(1991);A.M.Akulsi
n et.al.,Opt Commun.84,13
9(1991);Y.−Q.Li etal.,Phy
s.Rev.A51,R1754(1995);A.K
asapi et al.,Phys.Rev.Let
t.74,2447(1995)に報告されている。
population trappingと呼ばれてい
た。EITはスペクトルに着目した場合、popula
tion trappingは電子分布に着目した場合
の名称で、もともとは同じ現象をさしていた((G.A
lzetta et al.,Nuovo Cimen
to B36,5(1976))。
光を模式的に示したものである。この図1を用いてEI
Tの基本原理を説明する。
本のコヒーレント光(第1の光、第2の光)とから構成
される。準位と光の組み合わせに関係して、図1に示す
ように、3種の励起型が存在する。
の準位1を共通準位として第1、第2の光で励起するΛ
型励起と、図1(b)に示すように基底準位3が共通準
位となるV型励起と、図1(c)に示すように真ん中の
準位2が共通準位となるΞ型励起である。
(光1)の光子エネルギーω1 が準位1・2間のエネル
ギーω12に一致する条件;Δω1 =ω1 −ω12=0にお
いて、第2の光(光2)の光子エネルギーω2 を変化さ
せながらその光吸収スペクトルを調べた場合を考える。
の光吸収スペクトルを示す。なお、横軸のΔω2 は第2
の光の光子エネルギーω2 と準位1・3間のエネルギー
との差;Δω2 =ω2 −ω13で整理し直している。
ピークを示すはずのスペクトルには、Δω2 =0(=Δ
ω1 )で吸収の孔、すなわち透明領域が生ずる。この時
の孔の幅Ωは、第1の光、第2の光のラビ周波数をそれ
ぞれΩ12,Ω13とすると、Ω〜(Ω12 2 +Ω13 2 )1/2
となる。
って、ラビ周波数Ω12,Ω13は、それぞれ、2πμ12E
12/h、2πμ13E13/hで定義される。
モーメント、μ13は準位1・3間の電気双極子モーメン
ト、E12は第1の光の電場強度、E13は第2の光の電場
強度、hはプランク定数を表している。
光の光子エネルギーを固定した場合の第2の光の光吸収
スペクトルを示す。図2(b)から、Δω1 =Δω2 と
なる吸収の裾の領域には、やはり第2の光が吸収されな
い透明領域が形成されることが分かる。この場合の孔の
幅Ωも、Ω〜(Ω12 2 +Ω13 2 )1/2 となる。
第2の光が入射すると、Δω1 =Δω2 を満たす波長で
は、本来強い吸収を示す領域であっても光が吸収されな
くなるEITが起きる。
は準位3から準位1への光学遷移と準位2から準位1へ
の遷移が干渉効果により互いに打ち消し合うことによ
る。起源に関するより詳細な説明は、量子力学、特に密
度行列を解析することで行うことができ、実際に吸収が
無くなることが示されている。
あるが、V型励起では第1の光(光1)、第2の光(光
2)がΔω1 =Δω2 を満たすとき、また、Ξ励起では
Δω1 =−Δω2 を満たすときに光吸収は弱まり吸収ス
ペクトルは2本のピークに分裂することが、原子ガスを
用いた実験と理論計算の両面から確認されている。
厳密にゼロになるのはΛ型励起の場合だけであるが、V
型励起、Ξ型励起においても2本の光を用いることで光
吸収を限りなくゼロに近い値まで低減できることが示さ
れている。
理について説明する。
Λ型、V型、Ξ型励起の3つのスキームがあるが、ここ
ではΛ型励起の場合に注目する。
位と入射光を模式的に示したものである。
底状態から励起状態へ電子をインコヒーレントにポンピ
ングするインコヒーレント光である。
2が条件;Δω1 =Δω2 を満たし、準位3から準位1
への吸収スペクトルに透明領域が形成されている状況を
考える。
含むようなインコヒーレントな光3を照射した場合、こ
の光3は系により吸収される。これは、直感的にはイン
コヒーレント光に対してはEITによる干渉効果が働か
ず、準位3から準位1は透明にならないためである。光
3により準位3から準位1に励起された電子は、誘導放
射によりコヒーレント光として再び準位3に落ちる。
インコヒーレント光は吸収されて発光するコヒーレント
光は吸収されないという吸収と発光の非対称性のため
に、インコヒーレントな光3によりコヒーレントな光2
が増幅される訳である。
2のポピュレーションの和が、基底状態である準位3の
ポピュレーションより小さい場合でも起きることから、
新しいレーザー発振の原理として注目されている。
るためには、基底状態である準位3から励起状態である
準位1もしくは準位2、またはその両方に電子をインコ
ヒーレントにポンピングする手段が必須となる。
存在する新たな準位4を用い、この準位4を経由して準
位2に電子をポンピングするスキームを示し、この場合
も反転分布無しで光2を増幅することができる。
インコヒーレント光どちらを用いても良い。また、光以
外のポンピング手段として、図63(c)に示すように
電子線を用いることも可能で、この場合も反転分布無し
で光2を増幅することができる。
示すようにEIT媒質101を二つのミラー102で挟
んだ構造の共発振器を形成し、コヒーレント光として光
1のみを照射し、さらに基底状態から励起状態へ電子を
光3によりインコヒーレントにポンピングすれば良い。
子エネルギーをω1 、準位2・3間の準位エネルギーを
ω23とすると、光子エネルギー(ω1 +ω23)を中心に
その近辺ではレーザー発振の利得が生じるため、コヒー
レント光が発生する。反転分布無しでもレーザー発振が
起きる物理的起源に関するより詳細な説明は、EITの
場合と同様、密度行列を解析することで示すことができ
る。
あるが、V型、Ξ型励起の場合についても、EITによ
る吸収の孔があいた透明領域においてレーザー発振の利
得が生じ、やはりLWIが可能であることが、密度行列
の計算結果から示されている。
に応用すれば、2本の光のうちの一方をゲートに用いて
他方を光の出力強度を制御することにより、原理的に強
い光を必要とする既存の非線形光学を利用した光変調素
子に代わり、微弱な光でも十分に動作可能な光変調素子
や、反転分布無しでもレーザー発振が可能なLWIレー
ザの実現に道が開け、さらには光学遷移の変調現象と磁
性・電気伝導性・強誘電性など固体の持つ様々な物性と
を組み合わせることで従来の電子素子とは異なる新しい
タイプの機能素子の創作も期待できる。
以下のような困難があった。すなわち、EITは特定準
位間の光学遷移の干渉を利用するため、固体でのEIT
を実現するのにバンドを形成するような準位を用いるこ
とは困難である。
位が比較的離散的な半導体超格子、不純物、欠陥などを
利用して、EITの実現を目指した研究が活発に行われ
始めた(例えば、A.Imamoglu et a
l.,Opt.Lett.19,1744(199
4);P.J.Harshman et al.,IE
EEJ.Quantum Electronics 3
0,2297(1994);D.Huang et a
l.,J.Opt.Soc.Am.B11,2297
(1994);Y.Zhu et.al.,Phys.
Rev.A49,4016(1994))。
原子ガスで見られたような顕著なEIT特性は得られて
いない。その原因は、半導体超格子の場合には現状の素
子作製技術では超格子構造を均一に作ることができずエ
ネルギー準位に大きなバラつきがあること、また、不純
物や欠陥の場合にはその周囲の結晶場に分布があるため
やはりエネルギー準位には大きなバラつきが生じてしま
うことによる。
来して、EITを起こすための条件であるΔω1 =Δω
2 (Λ型励起とV型励起の場合)、またはΔω1 =−Δ
ω2(Ξ型励起の場合)を同時に満足する超格子や不純
物、欠陥の数は少なくなり、光学遷移のEIT特性も原
子ガスと比較して小さくなる。
のエネルギー準位の不均一さを原子ガスの準位と同程度
のレベルにまで減らして整えることは難しく、これまで
のところ、光変調素子やLWIレーザーなど量子コヒー
レンスに基づく光素子に必要不可欠な、EITに由来す
る大きな光変調特性は固体においては得られていなかっ
た。
の技術では、原子ガスで見られた量子コヒーレンスに基
づくEITをそのまま固体のエネルギー準位に適用した
場合、固体中の準位のランダムなバラつきに起因して十
分なEIT特性は得られていなかった。
ので、その目的とするところは、固体におけるEITに
立脚した実用可能な光素子を提供することにある。
子(請求項1)は、不純物を含む固体と、不純物のエネ
ルギー準位の中から三つ準位を選び上から順に第1の準
位、第2の準位および第3の準位としたときに、第1の
準位と第2の準位との間のエネルギー差に対応する波長
を有する第1の光、ならびに第1の準位と第3の準位と
の間のエネルギー差に対応する波長を有する第2の光を
前記固体中で共存させる励起手段とを備えており、前記
固体中の不純物の総数をN個として個々の不純物の第1
の準位と第2の準位との間の準位間エネルギー、第1の
準位と第3の準位との間の準位間エネルギーおよび第2
の準位と第3の準位との間の準位間エネルギーをそれぞ
れω12(i)、ω13(i)およびω23(i)(i=1〜
N)とし、N個全ての不純物についての前記ω
12(i)、ω13(i)およびω23(i)の平均値をそれ
ぞれ<ω12>、<ω13>および<ω23>とし、N個全て
の不純物についての前記ω12(i)、ω13(i)および
ω23(i)の標準偏差をそれぞれσ12={(1/N)Σ
[ω12(i)−<ω12>]2 }1/2 、σ13={(1/
N)Σ[ω13(i)−<ω13>]2 }1/2 およびσ23=
{(1/N)Σ[ω23(i)−<ω23>]2 }1/2 とし
た場合に、σ23≦σ12、且つσ23≦σ13を満足すること
を特徴とする。
2)は、不純物を含む固体と、不純物のエネルギー準位
の中から三つ準位を選び上から順に第1の準位、第2の
準位および第3の準位としたときに、第2の準位と第3
の準位との間のエネルギー差に対応する波長を有する第
1の光、ならびに第1の準位と第3の準位との間のエネ
ルギー差に対応する波長を有する第2の光を前記固体中
で共存させる励起手段とを備えており、前記固体中に不
純物の総数をN個として個々の不純物の第1の準位と第
2の準位との間の準位間エネルギー、第1の準位と第3
の準位との間の準位間エネルギーおよび第2の準位と第
3の準位との間の準位間エネルギーをそれぞれω
12(i)、ω13(i)およびω23(i)(i=1〜N)
とし、N個全ての不純物についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の平均値をそれぞれ<ω
12>、<ω13>および<ω23>とし、N個全ての不純物
についての前記ω12(i)、ω13(i)およびω
23(i)の標準偏差をそれぞれσ12={(1/N)Σ
[ω12(i)−<ω12>]2 }1/2 、σ13={(1/
N)Σ[ω13(i)−<ω13>]2 }1/2 およびσ23=
{(1/N)Σ[ω23(i)−<ω23>]2}1/2 とし
た場合に、σ12≦σ13、且つσ12≦σ23を満足すること
を特徴とする。
3)は、不純物を含む固体と、不純物のエネルギー準位
の中から三つ準位を選び上から順に第1の準位、第2の
準位および第3の準位としたときに、第1の準位と第2
の準位との間のエネルギー差に対応する波長を有する第
1の光、ならびに第2の準位と第3の準位との間のエネ
ルギー差に対応する波長を有する第2の光を前記固体中
で共存させる励起手段とを備えており、前記固体中の不
純物の総数をN個として個々の不純物の第1の準位と第
2の準位との間の準位間エネルギー、第1の準位と第3
の準位との間の準位間エネルギーおよび第2の準位と第
3の準位との間の準位間エネルギーをそれぞれω
12(i)、ω13(i)およびω23(i)(i=1〜N)
とし、N個全ての不純物についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の平均値をそれぞれ<ω
12>、<ω13>および<ω23>とし、N個全ての不純物
についての前記ω12(i)、ω13(i)およびω
23(i)の標準偏差をそれぞれσ12={(1/N)Σ
[ω12(i)−<ω12>]2 }1/2 、σ13={(1/
N)Σ[ω13(i)−<ω13>]2 }1/2 およびσ23=
{(1/N)Σ[ω23(i)−<ω23>]2}1/2 とし
た場合に、σ13≦σ12、且つσ13≦σ23を満足すること
を特徴とする。
4)は、上記光素子(請求項1)において、前記不純物
が、d電子軌道にn個(n=2〜6)の電子を持つ遷移
金属イオンであり、かつこの遷移金属イオンが配位子に
よって作られた立方対称な結晶場中に置かれた場合に、
前記第2の準位および前記第3の準位がともにt2g軌道
にn個の電子が収容されてなる電子配置をとることを特
徴とする。
5)は、上記光素子(請求項1)において、前記不純物
が、d電子軌道にn個(n=7,8)の電子を持つ遷移
金属イオンであり、かつこの遷移金属イオンが配位子に
よって作られた立方対称な結晶場中に置かれた場合に、
前記第2の準位および前記第3の準位がともにt2g軌道
に6個の電子が収容され、eg 軌道にn−6個の電子が
収容されてなる電子配置をとることを特徴とする。
6)は、上記光素子(請求項2)において、前記不純物
が、d電子軌道にn個(n=2〜6)の電子を持つ遷移
金属イオンであり、かつこの遷移金属イオンが配位子に
よって作られた立方対称な結晶場中に置かれた場合に、
前記第1の準位および前記第2の準位がともにt2g軌道
にn−1個の電子が収容され、eg 軌道に1個の電子が
収容されてなる電子配置をとることを特徴とする。
7)は、上記光素子(請求項2)において、前記不純物
が、d電子軌道にn個(n=7,8)の電子を持つ遷移
金属イオンであり、かつこの遷移金属イオンが配位子に
よって作られた立方対称な結晶場中に置かれた場合に、
前記第1の準位および前記第2の準位がともにt2g軌道
85個の電子が収容され、eg 軌道にn−5個の電子が
収容されてなる電子配置をとることを特徴とする。
8)は、上記光素子(請求項3)において、前記不純物
が、d電子軌道にn個(n=2〜6)の電子を持つ遷移
金属イオンであり、かつこの遷移金属イオンが配位子に
よって作られた立方対称な結晶場中に置かれた場合に、
前記第1の準位および前記第3の準位がともにt2g軌道
にn個の電子が収容されてなる電子配置をとることを特
徴とする。
9)は、上記光素子(請求項3)において、前記不純物
が、d電子軌道にn個(n=7,8)の電子を持つ遷移
金属イオンであり、かつこの遷移金属イオンが配位子に
よって作られた立方対称な結晶場中に置かれた場合に、
前記第1の準位および前記第3の準位がともにt2g軌道
に6個の電子が収容され、eg 軌道にn−6個の電子が
収容されてなる電子配置をとることを特徴とする。
0)は、上記光素子(請求項1)において、前記不純物
が、f電子軌道にn個(n=1〜13)の電子を持つ希
土類イオンであり、前記第1の準位がf電子軌道にn−
1個の電子が収容され、d電子軌道に1個の電子が収容
されてなる電子配置をとり、前記第2の準位および前記
第3の準位がともにf電子軌道にn個の電子が収容され
てなる電子配置をとることを特徴とする。
1)は、上記光素子(請求項2)において、前記不純物
が、f電子軌道にn個(n=1〜13)の電子を持つ希
土類イオンであり、前記第1の準位および前記第2の準
位がともにf電子軌道にn−1個の電子が収容され、d
電子軌道に1個の電子が収容されてなる電子配置をと
り、前記第3の準位がf電子軌道にn個の電子が収容さ
れてなる電子配置をとることを特徴とする。
2)は、不純物を含む固体と、不純物のエネルギー準位
の中から三つ準位を選び上から順に第1の準位、第2の
準位および第3の準位としたときに、第1の準位と第2
の準位との間のエネルギー差に対応する波長を有する第
1の光を前記固体に照射する光照射手段とを備えてお
り、前記固体中の不純物の総数をN個として個々の不純
物の第1の準位と第2の準位との間の準位間エネルギ
ー、第1の準位と第3の準位との間の準位間エネルギー
および第2の準位と第3の準位との間の準位間エネルギ
ーをそれぞれω12(i)、ω13(i)およびω23(i)
(i=1〜N)とし、N個全ての不純物についての前記
ω12(i)、ω13(i)およびω23(i)の平均値をそ
れぞれ<ω12>、<ω13>および<ω23>とし、N個全
ての不純物についての前記ω12(i)、ω13(i)およ
びω23(i)の標準偏差をそれぞれσ12={(1/N)
Σ[ω12(i)−<ω12>]2 }1/2 、σ13={(1/
N)Σ[ω13(i)−<ω13>]2 }1/2 およびσ23=
{(1/N)Σ[ω23(i)−<ω23>]2 }1/2 とし
た場合に、σ23≦σ12、且つσ23≦σ13を満足する光素
子であって、前記固体はレーザ媒質として使用され、前
記第1の光を前記固体に照射するとともに、ポンピング
手段により、前記三つの準位のうち前記第1の光により
結ばれた二つの準位の少なくとも一方に電子を励起する
ことにより、レーザ発振を行なうことを特徴とする。
3)は、不純物を含む固体と、不純物のエネルギー準位
の中から三つ準位を選び上から順に第1の準位、第2の
準位および第3の準位としたときに、第2の準位と第3
の準位との間のエネルギー差に対応する波長を有する第
1の光を前記固体に照射する光照射手段とを備えてお
り、前記固体中の不純物の総数をN個として個々の不純
物の第1の準位と第2の準位との間の準位間エネルギ
ー、第1の準位と第3の準位との間の準位間エネルギー
および第2の準位と第3の準位との間の準位間エネルギ
ーをそれぞれω12(i)、ω13(i)およびω23(i=
1〜N)とし、N個全ての不純物についての前記ω
12(i)、ω13(i)およびω23(i)の平均値をそれ
ぞれ<ω12>、<ω13>および<ω23>とし、N個全て
の不純物についての前記ω12(i)、ω13(i)および
ω23(i)の標準偏差をそれぞれσ12={(1/N)Σ
[ω12(i)−<ω12>]2 }1/2 、σ13={(1/
N)Σ[ω13(i)−<ω13>]2 }1/2 およびσ23=
{(1/N)Σ[ω23(i)−<ω23>]2 }1/2 とし
た場合に、σ12≦σ13、且つσ12≦σ23を満足する光素
子であって、前記固体はレーザ媒質として使用され、前
記第1の光を前記固体に照射するとともに、ポンピング
手段により、前記三つの準位のうち前記第1の光により
結ばれた二つの準位の少なくとも一方から、前記第1の
準位に電子を励起することにより、レーザー発振を行な
うことを特徴とする。
4)は、上記光素子(請求項12)において、前記固体
中に含まれる不純物が、f電子軌道にn個(n=1〜1
3)の電子を持つ希土類イオンであり、前記第1の準位
がf電子軌道にn−1個の電子が収容され、d電子軌道
に1個の電子が収容されてなる電子配置をとり、前記第
2の準位および前記第3の準位がともにf電子軌道にn
個の電子が収容されてなる電子配置をとり、前記ポンピ
ング手段は、電子線および電磁波の少なくとも一つを前
記固体に照射する手段からなることを特徴とする。
5)は、上記光素子(請求項13)において、前記固体
中に含まれる不純物が、f電子軌道にn個(n=1〜1
3)の電子を持つ希土類イオンであり、前記第1の準位
および前記第2の準位がともにf電子軌道にn−1個の
電子が収容され、d電子軌道に1個の電子が収容されて
なる電子配置をとり、前記第3の準位がf電子軌道にn
個の電子が収容されてなる電子配置をとり、前記ポンピ
ング手段は電子線および電磁波の少なくとも一つを前記
固体に照射する手段からなることを特徴とする。
ルギーの分布は各エネルギー準位の対称性から予測する
ことが可能である。一般には、対称性が等しいかまたは
類似した準位間ではエネルギーの分散が小さくなり、さ
らに光学遷移も禁制となる場合が多いことが知られてい
る。これに対して、対称性が異なる準位間ではそれが等
しい準位間と比較してエネルギーの分散が大きくなり、
光学遷移も許容となる場合が多くなる。
素子では、第2の準位、第3の準位の対称性が同じかま
たは類似し、第1の準位のそれが異なる材料系を選択
し、本発明(請求項2)に係る光素子では、第1の準
位、第2の準位の対称性が同じかまたは類似し、第3の
準位のそれが異なる材料系を選択し、そして本発明(請
求項3)に係る光素子では、第1の準位、第3の準位の
対称性が同じかまたは類似し、第2の準位のそれが異な
る材料系を選択することにより、先の条件式を実現する
ことが可能となる。
は、不純物としてTi,V,Cr,Mn,Fe,Co,
Ni,Cuなどの第1次遷移金属元素、Zr,Nb,M
o,Tc,Ru,Rh,Pd,Agなどの第2次遷移金
属元素、Hf,Ta,W,Re,Os,Ir,Pt,A
uなどの第3次遷移金属元素、Ce,Pr,Nd,S
m,Eu,Gd,Tb,Dy,Ho,Er,Tm,Yb
などのランタノイド系希土類元素、そしてTh,Pa,
Uなどのアクチノイド系希土類元素を少なくとも一種類
以上は含む、LiF,NaF,KF,RbF,CsF,
MgF2 ,CaF2 ,SrF2 ,BaF2 ,MnF2 ,
ZnF2 ,CdF2 ,AlF3 ,YF3 ,LaF3 ,C
eF3 ,PrF3 ,NdF3 ,SmF3 ,EuF3 ,G
dF3 ,TbF3 ,DyF3 ,HoF3 ,ErF3 ,T
mF3 ,YbF3 ,LuF3 ,LiBaF3 ,KMgF
3 ,KMnF3 ,KZnF3 ,KNiF3 ,RbNiF
3 ,ZrF4 ,LiYF4 ,NaYF4 ,KYF4 ,L
iLaF4 ,LiGdF4 ,LiLuF4 ,BaAlF
5 ,SrAlF5 ,K3 YF6 ,K3 CoF6 ,Cs3
NdF7 ,Cs3 GdF7 ,LiCl,NaCl,KC
l,RbCl,CsCl,YCl3 ,LaCl3 ,Ce
Cl3 ,PrCl3 ,NdCl3 ,SmCl3,EuC
l3 ,GdCl3 ,TbCl3 ,DyCl3 ,HoCl
3 ,ErCl3,TmCl3 ,YbCl3 ,LuC
l3 ,CsMgCl3 ,CsCdCl3 ,LiBr,N
aBr,KBr,RbBr,CsBr,YBr3 ,La
Br3 ,CeBr3 ,PrBr3 ,NdBr3 ,SmB
r3 ,EuBr3 ,GdBr3 ,TbBr3 ,DyBr
3 ,HoBr3 ,ErBr3 ,TmBr3 ,YbB
r3 ,LuBr3 ,CsMgBr3 ,LiI,NaI,
KI,RbI,CsI,CuCl,CuBr,CuI,
AgF,AgCl,AgBr,AgI,YOCl,La
OCl,LaOBr,TlCl,TlBr,TlI,I
nBr,InI,Li2 O,BeO,N2 O5 ,Na2
O,P2 O3 ,S2 O3 ,K2 O,CaO,Cr
2 O3 ,MnO2 ,CoO,NiO,SrO,Zr
O2 ,Nb2 O5 ,MoO3 ,AgO,Sb2 O3 ,T
eO2 ,BaO,WO3 ,Re2 O7 ,PbO,PuO
2,Y2 O3 ,La2 O3 ,Ce2 O3 ,Pr2 O3 ,
Nd2 O3 ,Sm2 O3 ,Eu2 O3 ,Gd2 O3 ,T
b2 O3 ,Dy2 O3 ,Ho2 O3 ,Er2 O3 ,Tm
2 O3 ,Yb2 O3 ,Lu2 O3 ,ThO2 ,UO2 ,
UO3 ,Ba2 GdNbO5 ,SrGdGa3 O7 ,S
c2 Gd3 Ga3 O12,NaLuO12,LiIO3 ,L
iNbO3 ,LiTaO3 ,Ba2 NaNb5 O15,Y
2 O2 S,La2 O2 S,Ce2 O2 S,Pr2 O
2 S,Nd2 O2 S,Sm2 O2 S,Eu2 O2 S,G
d2 O2 S,Tb2 O2 S,Dy2 O2 S,Ho2 O2
S,Er2O2 S,Tm2 O2 S,Yb2 O2 S,Lu
2 O2 S,Y2 S3 ,La2 S3 ,Ce2 S3 ,Pr2
S3 ,Nd2 S3 ,Sm2 S3 ,Eu2 S3 ,Gd2 S
3 ,Tb2 S3 ,Dy2 S3 ,Ho2 S3 ,Er
2 S3 ,Tm2 S3 ,Yb2 S3 ,Lu2 S3 ,B2 O
3 ,GaBO3 ,InBO3 ,TlBO3 ,ScB
O3 ,YBO3 ,LaBO3 ,CeBO3 ,PrB
O3 ,NdBO3 ,SmBO3 ,EuBO3 ,GdBO
3 ,TbBO3 ,DyBO3 ,HoBO3 ,ErB
O3 ,TmBO3 ,YbBO3 ,LuBO3 ,CaYB
O4 ,BaB2 O4 ,Cd2 B2 O5 ,LiB3 O5 ,
CsB3 O5 ,SrB4 O7 ,Al3 TbB4 O12,Z
nO,ZnGa2 O4 ,MgO,MgGa2 O4 ,Mg
2 TiO4 ,Mg4 Ta2 O9 ,TiO2 ,CaTiO
3 ,SrTiO3 ,BaTiO3 ,PbTiO3 ,KT
iPO5 ,Al2 O3 ,LiAlO2 ,YAlO3 ,B
eAl2 O4 ,MgAl2 O4 ,ZnAl2 O4 ,Li
Al5 O8 ,Y4 Al2 O9 ,YAl3 B4 O12,Y3
Al5 O12,La3 Al5 O12,Ce3 Al5 O12,P
r3 Al5 O12,Nd3 Al5 O12,Sm3 Al
5 O12,Eu3 Al5 O12,Gd3 Al5 O12,Tb3
Al5 O12,Dy3 Al5 O12,Ho3 Al5 O12,E
r3 Al5 O12,Tm3 Al5 O12,Yb3 Al
5 O12,Lu3 Al5 O12,LaAl11O18,CeMg
Al11O19,TbMgAl11O19,BaAl12O19,B
aMg2 Al16O27,Fe2 O3 ,Y3 Fe5 O12,L
a3 Fe5 O12,Ce3 Fe5 O12,Pr3 Fe
5 O12,Nd3 Fe5 O12,Sm3 Fe5 O12,Eu3
Fe5 O12,Gd3 Fe5 O12,Tb3 Fe5 O12,D
y3 Fe5 O12,Ho3 Fe5 O12,Er3 Fe
5 O12,Tm3 Fe5 O12,Yb3 Fe5 O12,Lu3
Fe5 O12,Y3 Ga5 O12,La3 Ga5 O12,Ce
3 Ga5 O12,Pr3 Ga5 O12,Nd3 Ga5 O12,
Sm3 Ga5 O12,Eu3 Ga5 O12,Gd3 Ga5 O
12,Tb3 Ga5 O12,Dy3 Ga5 O12,Ho3 Ga
5 O12,Er3 Ga5 O12,Tm3 Ga5 O12,Yb3
Ga5 O12,Lu3 Ga5 O12,Y3 Sc2 Ga
5 O12,CaPO3 ,ScPO4 ,YPO4 ,LaPO
4 ,CePO4 ,PrPO4 ,NbPO4 ,SmP
O4 ,EuPO4 ,GdPO4 ,TmPO4 ,DyPO
4 ,HoPO4 ,ErPO4 ,TmPO4 ,YbP
O4 ,LuPO4 ,Ca2 PO4 Cl,Mg3 (P
O4 )2 ,Ca3 (PO4 )2 ,Sr3 (PO4 )2 ,
Ba3 (PO4 )2 ,Zn3 (PO4 )2 ,Cd3 (P
O4 )2 ,Mg5 (PO4 )3 F,Mg5 (PO4 )3
Cl,Ca5 (PO4 )3 F,Ca5 (PO4 )3 C
l,Sr5 (PO4 )3 F,Sr5 (PO4 )3 Cl,
Ba5 (PO4 )3 F,Ba5 (PO4 )3 Cl,Sr
2 P2 O7 ,NdP5 O14,SiO2 ,BeSiO3,
MgSiO3 ,CaSiO3 ,SrSiO3 ,BaSi
O3 ,ZnSiO3 ,CdSiO3 ,Zn2 SiO4 ,
NaYSiO4 ,Y2 SiO5 ,La2 SiO5 ,Lu
2 SiO5 ,BeSi2 O5 ,MgSi2 O5 ,CaS
i2 O5 ,SrSi2 O5 ,BaSi2 O5 ,Sc2 S
i2 O7 ,Be2 SrSi2 O7 ,Ca2 MgSi2 O
7 ,Si3 N4 ,GeO2 ,Zn2 GeO4 ,Cs2 U
O2 F4,Cs2 UO2 Cl4 ,Cs2 UO2 Br4 ,
Cs3 UO2 F5 ,Cs3 UO2Cl5 ,Cs3 UO2
Br5 ,MgWO4 ,CaWO4 ,SrWO4 ,BaW
O4 ,AlWO4 ,CdWO4 ,PbWO4 ,Y2 WO
6 ,MgMoO4 ,CaMoO4 ,SrMoO4 ,Ba
MoO4 ,Li2 MoO4 ,Y2 Mo3 O12,La2 M
o3 O12,Ce2 Mo3 O12,Pr2 Mo3 O12,Nd
2 Mo3 O12,Sm2 Mo3 O12,Eu2 Mo3 O12,
Gd2 Mo3 O12,Tb2 Mo3 O12,Dy2 Mo3 O
12,Ho2 Mo3 O12,Er2 Mo3 O12,Tm2 Mo
3 O12,Yb2 Mo3 O12,Lu2 Mo3 O12,NaC
aVO4 ,ScVO4 ,YVO4 ,Mg3 (V
O4 )2 ,Ca3 (VO4 )2 ,Sr3 (VO4 )2 ,
Ba3 (VO4)2 ,Zn3 (VO4 )2 ,Cd3 (V
O4 )2 ,Mg5 (VO4 )3 F,Mg5 (VO4 )3
Cl,Ca5 (VO4 )3 F,Ca5 (VO4 )3 C
l,Sr5(VO4 )3 F,Sr5 (VO4 )3 Cl,
Ba5 (VO4 )3 F,Ba5 (VO4 )3 Cl,Ca
S,SrS,BaS,CaSe,SrSe,BaSe
や、その他フッ化物・ハロゲン化物・臭化物・ヨウ化物
・ハロゲン化銅・ハロゲン化銀・酸ハロゲン化物・タリ
ウム化合物・インジウム化合物・ホウ酸塩・亜鉛酸化物
・マグネシウム酸化物・チタニウム酸化物・アルミン酸
塩・ガーネット・ケイ酸塩・ゲルマニウム酸塩・イット
リウム化合物・ランタン化合物・セリウム化合物・プラ
セオジウム化合物・ネオジウム化合物・サマリウム化合
物・ユーロピウム化合物・ガドリニウム化合物・テルビ
ウム化合物・ジスプロシウム化合物・ホルミウム化合物
・エルビウム化合物・ツリウム化合物・イッテルビウム
化合物・ルテチウム化合物・ウラン化合物・リン酸塩・
シェーレ化合物・硫化物・セレン化合物などの絶縁性無
機材料を用いることができる。
類元素を不純物として少なくとも一種類以上含む、ダイ
アモンド,Si,SiC,SiGe,Ge,GaAs,
GaP,GaN,GaSb,AlAs,AlP,Al
N,AlSb,InAs,InP,InSb,HgS,
HgSe,HgTe,BAs,BP,BN,ZnS,Z
nSe,ZnTe,CdS,CdSe,CdTe,Cu
2 O,SnO2 ,In2O3 などの半導体あるいは半絶
縁性材料を用いることもできる。なお、上記材料中にお
いて遷移金属元素や希土類元素は通常イオンの状態で存
在するが、その価数は特に限定されない。
移としては、第1次遷移金属イオンを励起する場合には
このイオンの3d準位が関与するd→d遷移、第2次遷
移金属イオンを励起する場合には4d準位が関与するd
→d遷移、第3次遷移金属イオンを励起する場合には5
d準位が関与するd→d遷移、ランタノイド系希土類イ
オンを励起する場合には4f,5d準位が関与するf→
f遷移やf→d遷移、アクチノイド系希土類イオンを励
起する場合には5f準位が関与するf→f遷移がそれぞ
れ用いられる。さらに、光源にはコヒーレント光、すな
わちレーザー光が用いられる。上述の電子遷移と周波数
が合えばレーザーの種類は特に限定されないが、小型素
子の形成に有利な半導体レーザーを用いることが望まし
い。
を実現し得る固体について、素子単位をアレイ化などし
て機能素子とする場合においては、各素子単位毎に本発
明(請求項1〜請求項3)の条件式が満足されれば良
い。
の骨子は、光素子を構成する固体として、固体に外場
(電場、磁場、圧力)を与えながら、固体中の3準位の
うち2つの電子遷移をΛ型またはV型に光励起する際、
光で結ばれない2準位が外場の無いときには縮退してい
るものを用いることにある。
項16)は、不純物を含む固体と、この固体に電場、磁
場および圧力の少なくとも1つの外場を与える手段と、
前記固体に前記外場を与えた状態で、前記不純物のエネ
ルギー準位の中から三つ準位を選び上から順に第1の準
位、第2の準位および第3の準位としたときに、第1の
準位と第2の準位との間のエネルギー差に対応する波長
を有する第1の光、ならびに第1の準位と第3の準位と
の間のエネルギー差に対応する波長を有する第2の光を
前記固体中で共存させる励起手段とを備えており、前記
外場がゼロの場合には、前記固体における前記第2の準
位と前記第3の準位とが縮退していることを特徴とす
る。
項17)は、不純物を含む固体と、この固体に電場、磁
場および圧力の少なくとも1つの外場を与える手段と、
前記固体に前記外場を与えた状態で、前記不純物のエネ
ルギー準位の中から三つ準位を選び上から順に第1の準
位、第2の準位および第3の準位としたときに、第2の
準位と第3の準位との間のエネルギー差に対応する波長
を有する第1の光、ならびに第1の準位と第3の準位と
の間のエネルギー差に対応する波長を有する第2の光を
前記固体中で共存させる励起手段とを備えており、前記
外場がゼロの場合には、前記固体中における前記第1の
準位と前記第2の準位とが縮退していることを特徴とす
る。
8)は、量子井戸、量子細線および量子箱の少なくとも
一つの量子構造を有する固体と、この固体に電場、磁場
および圧力の少なくとも1つの外場を与える手段と、前
記固体に前記外場を与えた状態で、前記固体のエネルギ
ー準位の中から三つ準位を選び上から順に第1の準位、
第2の準位および第3の準位としたときに、第1の準位
と第2の準位との間のエネルギー差に対応する波長を有
する第1の光、ならびに第1の準位と第3の準位との間
のエネルギー差に対応する波長を有する第2の光を前記
固体中で共存させる励起手段とを備えており、前記外場
がゼロの場合には、前記固体における前記第2の準位と
前記第3の準位とが縮退していることを特徴とする。
9)は、量子井戸、量子細線および量子箱の少なくとも
一つの量子構造を有する固体と、この固体に電場、磁場
および圧力の少なくとも1つの外場を与える手段と、前
記固体に前記外場を与えた状態で、前記固体のエネルギ
ー準位の中から三つ準位を選び上から順に第1の準位、
第2の準位および第3の準位としたときに、第2の準位
と第3の準位との間のエネルギー差に対応する波長を有
する第1の光、ならびに第1の準位と第3の準位との間
のエネルギー差に対応する波長を有する第2の光を前記
固体中で共存させる励起手段とを備えており、前記外場
がゼロの場合には、前記固体における前記第1の準位と
前記第2の準位とが縮退していることを特徴とする。
0)は、上記光素子(請求項16、請求項18)におい
て、前記第1の光のエネルギーをω1 とし、前記第2の
光のエネルギーをω2 とし、前記第2の準位と前記第3
の準位との間のエネルギー差をω23としたときに、ω23
=ω2 −ω1 の条件式を満たすように前記外場の大きさ
が設定されることを特徴とする。
1)は、上記光素子(請求項17、請求項19)におい
て、前記第1の光のエネルギーをω1 とし、前記第2の
光のエネルギーをω2 とし、前記第1の準位と前記第2
の準位との間のエネルギー差をω12としたときに、ω12
=ω2 −ω1 の条件式を満たすように前記外場の大きさ
が設定されることを特徴とする。
21)において、外場としての電場を与える手段は、例
えば、固体を挟む2つの電極と、これら電極の間に電圧
を印加する電源とにより構成される。
に用いられる光素子の材料には、p.25〜p.28に
列挙したものと同じ材料があげられる。
は、半導体素子作製技術が向上し、エネルギー準位の不
均一さが原子ガスのそれと同程度のレベルにまで低減し
た場合に、量子井戸や、量子細線や、量子箱といった量
子構造を用いるというものである。
2)は、量子井戸、量子細線および量子箱の少なくとも
一つの量子構造を有する固体と、前記量子構造の伝導帯
に形成されたエネルギー準位の中から選んだ一つの準位
を第1の準位、前記量子構造の価電子帯に形成されたエ
ネルギー準位の中から二つ準位を選び上から順に第2の
準位および第3の準位としたときに、第1の準位と第2
の準位との間のエネルギー差に対応する波長を有する第
1の光、ならびに第1の準位と第3の準位との間のエネ
ルギー差に対応する波長を有する第2の光を前記固体中
で共存させる励起手段とを備えており、前記固体中の量
子構造の総数をN個として個々の量子構造の第1の準位
と第2の準位との間の準位間エネルギー、第1の準位と
第3の準位との間の準位間エネルギーおよび第2の準位
と第3の準位との間の準位間エネルギーをそれぞれω12
(i)、ω13(i)およびω23(i)(i=1〜N)と
し、N個全ての量子構造についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の平均値をそれぞれ<ω
12>、<ω13>および<ω23>とし、N個全ての量子構
造についての前記ω12(i)、ω13(i)およびω
23(i)の標準偏差をそれぞれσ12={(1/N)Σ
[ω12(i)−<ω12>]2 }1/2 、σ13={(1/
N)Σ[ω13(i)−<ω13>]2 }1/2 およびσ23=
{(1/N)Σ[ω23(i)−<ω23>]2 }1/2 とし
た場合に、σ23≦σ12、且つσ23≦σ13を満足すること
を特徴とする。
3)は、量子井戸、量子細線および量子箱の少なくとも
一つの量子構造を有する固体と、前記量子構造の伝導帯
に形成されたエネルギー準位の中から二つ準位を選び上
から順に第1の準位および第2の準位、前記量子構造の
価電子帯に形成されたエネルギー準位の中から選んだ1
つの準位を第3の準位としたときに、第2の準位と第3
の準位との間のエネルギー差に対応する波長を有する第
1の光、ならびに第1の準位と第3の準位との間のエネ
ルギー差に対応する波長を有する第2の光を前記固体中
で共存させる励起手段とを備えており、前記固体中の量
子構造の総数をN個として個々の量子構造の第1の準位
と第2の準位との間の準位間エネルギー、第1の準位と
第3の準位との間の準位間エネルギーおよび第2の準位
と第3の準位との間の準位間エネルギーをそれぞれω12
(i)、ω13(i)およびω23(i)(i=1〜N)と
し、N個全ての量子構造についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の平均値をそれぞれ<ω
12>、<ω13>および<ω23>とし、N個全ての量子構
造についての前記ω12(i)、ω13(i)およびω
23(i)の標準偏差をそれぞれσ12={(1/N)Σ
[ω12(i)−<ω12>]2 }1/2 、σ13={(1/
N)Σ[ω13(i)−<ω13>]2 }1/2 およびσ23=
{(1/N)Σ[ω23(i)−<ω23>]2 }1/2 とし
た場合に、σ12≦σ13、且つσ12≦σ23を満足すること
を特徴とする。
4)は、量子井戸、量子細線および量子箱の少なくとも
一つの量子構造を有する固体と、前記量子構造の材料が
半導体の場合は、前記量子構造の伝導帯に形成されたエ
ネルギー準位の中から三つ準位を選び上から順に第1の
準位、第2の準位および第3の準位とし、前記量子構造
の材料が金属の場合は、前記量子構造のフェルミ準位よ
りも高エネルギーのエネルギー準位の中から二つ準位を
選び上から順に第1の準位および第2の準位、かつ前記
量子構造のフェルミ準位よりも低エネルギーのエネルギ
ー準位の中から選んだ1つの準位を第3の準位としたと
きに、第1の準位と第2の準位との間のエネルギー差に
対応する波長を有する第1の光、ならびに第1の準位と
第3の準位との間のエネルギー差に対応する波長を有す
る第2の光を前記固体中で共存させる励起手段とを備え
ており、前記固体中の量子構造の総数をN個として個々
の量子構造の第1の準位と第2の準位との間の準位間エ
ネルギー、第1の準位と第3の準位との間の準位間エネ
ルギーおよび第2の準位と第3の準位との間の準位間エ
ネルギーをそれぞれω12(i)、ω13(i)およびω23
(i)(i=1〜N)とし、N個全ての量子構造につい
ての前記ω12(i)、ω13(i)およびω23(i)の平
均値をそれぞれ<ω12>、<ω13>および<ω23>と
し、N個全ての量子構造についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の標準偏差をそれぞれσ12=
{(1/N)Σ[ω12(i)−<ω12>]2 }1/2 、σ
13={(1/N)Σ[ω13(i)−<ω13>]2 }1/2
およびσ23={(1/N)Σ[ω23(i)−<ω23>]
2 }1/2 とした場合に、σ23≦σ12、且つσ23≦σ13を
満足することを特徴とする。
5)は、量子井戸、量子細線および量子箱の少なくとも
一つの量子構造を有する固体と、前記量子構造の材料が
半導体の場合は、前記量子構造の価電子帯に形成された
エネルギー準位の中から三つ準位を選び上から順に第1
の準位、第2の準位および第3の準位とし、前記量子構
造の材料が金属の場合は、前記量子構造のフェルミ準位
よりも高エネルギーのエネルギー準位の中から選んだ1
つの準位を第1の準位、かつ前記量子井戸のフェルミ準
位よりも低エネルギーのエネルギー準位の中から二つ準
位を選び上から順に第2の準位および第3の準位とした
ときに、第2の準位と第3の準位との間のエネルギー差
に対応する波長を有する第1の光、ならびに第1の準位
と第3の準位との間のエネルギー差に対応する波長を有
する第2の光を前記固体中で共存させる励起手段とを備
えており、前記固体中の量子構造の総数をN個として個
々の量子構造の第1の準位と第2の準位との間の準位間
エネルギー、第1の準位と第3の準位との間の準位間エ
ネルギーおよび第2の準位と第3の準位との間の準位間
エネルギーをそれぞれω12(i)、ω13(i)およびω
23(i)(i=1〜N)とし、N個全ての量子構造につ
いての前記ω12(i)、ω13(i)およびω23(i)の
平均値をそれぞれ<ω12>、<ω13>および<ω23>と
し、N個全ての量子構造についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の標準偏差をそれぞれσ12=
{(1/N)Σ[ω12(i)−<ω12>]2 }1/2 、σ
13={(1/N)Σ[ω13(i)−<ω13>]2 }1/2
およびσ23={(1/N)Σ[ω23(i)−<ω23>]
2 }1/2 とした場合に、σ12≦σ13、且つσ12≦σ23を
満足することを特徴とする。
量子箱には半導体または金属、量子構造の量子障壁には
半導体または絶縁体を用い、量子障壁にドナー性不純物
あるいはアクセプタ性不純物を選択的にドーピングする
ことにより、量子構造に電子あるいは正孔を注入するこ
とが好ましい。なお、光照射や電流注入などの手段によ
り量子構造に電子あるいは正孔を注入しても良い。
5)における量子井戸、量子細線、量子箱に関しては、
B,C,N,O,Mg,Al,Si,P,S,Mn,Z
n,Ga,Ge,As,Se,Cd,In,Sn,S
b,TeおよびHgの少なくとも一種類以上の元素から
なる半導体材料、またはAl,Ti,V,Cr,Mn,
Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Zr,Nb,Mo,R
u,Rh,Pd,Cd,Ag,Hf,Ta,W,Re,
Os,Ir,Pt,Auやこれらの合金などの金属材料
を用いることができる。
g,Al,Si,P,S,Mn,Zn,Ga,Ge,A
s,Se,Cd,In,Sn,Sb,TeおよびHgの
少なくとも一種類以上の元素からなる半導体材料、また
はLiF,NaF,KF,RbF,CsF,MgF2 ,
CaF2 ,SrF2 ,BaF2 ,MnF2 ,ZnF2,
CdF2 ,AlF3 ,YF3 ,LaF3 ,CeF3 ,P
rF3 ,NdF3 ,SmF3 ,EuF3 ,GdF3 ,T
bF3 ,DyF3 ,HoF3 ,ErF3 ,TmF3 ,Y
bF3 ,LuF3 ,LiBaF3 ,KMgF3 ,KMn
F3 ,KZnF3 ,KNiF3 ,RbNiF3 ,ZrF
4 ,LiYF4 ,NaYF4 ,KYF4,LiLa
F4 ,LiGdF4 ,LiLuF4 ,BaAlF5 ,S
rAlF5 ,K3 YF6 ,K3 CoF6 ,Cs3 NdF
7 ,Cs3 GdF7 ,LiCl,NaCl,KCl,R
bCl,CsCl,YCl3 ,LaCl3 ,CeC
l3 ,PrCl3 ,NdCl3 ,SmCl3 ,EuCl
3 ,GdCl3 ,TbCl3 ,DyCl3 ,HoC
l3 ,ErCl3 ,TmCl3 ,YbCl3 ,LuCl
3 ,CsMgCl3 ,CsCdCl3 ,LiBr,Na
Br,KBr,RbBr,CsBr,YBr3 ,LaB
r3 ,CeBr3 ,PrBr3 ,NdBr3 ,SmBr
3,EuBr3 ,GdBr3 ,TbBr3 ,DyB
r3 ,HoBr3 ,ErBr3,TmBr3 ,YbBr
3 ,LuBr3 ,CsMgBr3 ,LiI,NaI,K
I,RbI,CsI,CuCl,CuBr,CuI,A
gF,AgCl,AgBr,AgI,YOCl,LaO
Cl,LaOBr,TlCl,TlBr,TlI,In
Br,InI,Li2 O,BeO,N2 O5 ,Na
2 O,P2 O3 ,S2O3 ,K2 O,CaO,Cr2 O
3 ,MnO2 ,CoO,NiO,SrO,ZrO2 ,N
b2 ,O5 ,MoO3 ,AgO,Sb2 ,O3 ,TeO
2 ,BaO,WO3 ,Re2 O7 ,PbO,PuO2 ,
Y2 O3 ,La2 O3 ,Ce2 O3 ,Pr2 O3 ,Nd
2 O3 ,Sm2 O3 ,Eu2 O3 ,Gd2 O3 ,Tb2
O3 ,Dy2 O3 ,Ho2 O3 ,Er2 O3 ,Tm2 O
3 ,Yb2 O3 ,Lu2 O3 ,ThO2 ,UO2 ,UO
3 ,Ba2 GdNbO5 ,SrGdGa3 O7 ,Sc2
Gd3 Ga3 O12,NaLuO12,LiIO3 ,LiN
bO3 ,LiTaO3 ,Ba2 NaNb5 O15,Y2 O
2 S,La2 O2 S,Ce2 O2 S,Pr2 O2 S,N
d2 O2 S,Sm2 O2 S,Eu2 O2 S,Gd2 O2
S,Tb2 O2 S,Dy2 O2 S,Ho2 O2 S,Er
2 O2 S,Tm2 O2 S,Yb2 O2 S,Lu2 O
2 S,Y2 S3 ,La2 S3 ,Ce2 S3 ,Pr
2 S3 ,Nd2 S3 ,Sm2 S3 ,Eu2 S3 ,Gd2
S3 ,Tb2 S3 ,Dy2 S3 ,Ho2 S3 ,Er2 S
3 ,Tm2 S3 ,Yb2 S3 ,Lu2 S3 ,B2 O3 ,
GaBO3 ,InBO3 ,TlBO3 ,ScBO3 ,Y
BO3 ,LaBO3 ,CeBO3 ,PrBO3 ,NdB
O3 ,SmBO3 ,EuBO3 ,GdBO3 ,TbBO
3 ,DyBO3 ,HoBO3 ,ErBO3 ,TmB
O3 ,YbBO3 ,LuBO3 ,CaYBO4 ,BaB
2 O4 ,Cd2 B2 O5 ,LiB3 O5 ,CsB
3 O5 ,SrB4 O7 ,Al3 TbB4 O12,ZnO,
ZnGa2 O4 ,MgO,MgGa2 O4 ,Mg2 Ti
O4 ,Mg4 Ta2 O9 ,TiO2 ,CaTiO3 ,S
rTiO3 ,BaTiO3 ,PbTiO3 ,KTiPO
5 ,Al2 O3 ,LiAlO2 ,YAlO3 ,BeAl
2 O4 ,MgAl2 O4 ,ZnAl2 O4 ,LiAl5
O8 ,Y4 Al2 O9 ,YAl3 B4 O12,Y3 Al5
O12,La3 Al5 O12,Ce3 Al5 O12,Pr3 A
l5 O12,Nd3 Al5 O12,Sm3 Al5 O12,Eu
3 Al5 O12,Gd3 Al5 O12,Tb3 Al5 O12,
Dy3 Al5 O12,Ho3 Al5 O12,Er3 Al5 O
12,Tm3 Al5 O12,Yb3 Al5 O12,Lu3 Al
5 O12,LaAl11O18,CeMgAl11O19,TbM
gAl11O19,BaAl12O19,BaMg2 Al
16O27,Fe2 O3 ,Y3 Fe5 O12,La3 Fe5 O
12,Ce3 Fe5 O12,Pr3 Fe5 O12,Nd3 Fe
5 O12,Sm3 Fe5 O12,Eu3 Fe5 O12,Gd3
Fe5 O12,Tb3 Fe5 O12,Dy3 Fe5 O12,H
o3 Fe5 O12,Er3 Fe5 O12,Tm3 Fe
5 O12,Yb3 Fe5 O12,Lu3 Fe5 O12,Y3 G
a5 O12,La3 Ga5 O12,Ce3Ga5 O12,Pr
3 Ga5 O12,Nd3 Ga5 O12,Sm3 Ga5 O12,
Eu3Ga5 O12,Gd3 Ga5 O12,Tb3 Ga5 O
12,Dy3 Ga5 O12,Ho3Ga5 O12,Er3 Ga
5 O12,Tm3 Ga5 O12,Yb3 Ga5 O12,Lu3
Ga5 O12,Y3 Sc2 Ga5 O12,CaPO3 ,Sc
PO4 ,YPO4 ,LaPO4 ,CePO4 ,PrPO
4 ,NdPO4 ,SmPO4 ,EuPO4 ,GdP
O4 ,TbPO4 ,DyPO4 ,HoPO4 ,ErPO
4 ,TmPO4 ,YbPO4 ,LuPO4 ,Ca2 PO
4 Cl,Mg3 (PO4 )2 ,Ca3 (PO4)2 ,S
r3 (PO4 )2 ,Ba3 (PO4 )2 ,Zn3 (PO
4 )2 ,Cd3(PO4 )2 ,Mg5 (PO4 )3 F,
Mg5 (PO4 )3 Cl,Ca5 (PO4 )3 F,Ca
5 (PO4 )3 Cl,Sr5 (PO4 )3 F,Sr
5 (PO4 )3 Cl,Ba5 (PO4 )3 F,Ba
5 (PO4 )3 Cl,Sr2 P2 O7 ,NdP5 O14,
SiO2 ,BeSiO3 ,MgSiO3 ,CaSi
O3 ,SrSiO3 ,BaSiO3 ,ZnSiO3 ,C
dSiO3 ,Zn2 SiO4 ,NaYSiO4 ,Y2 S
iO5 ,La2 SiO5 ,Lu2 SiO5 ,BeSi2
O5 ,MgSi2 O5 ,CaSi2 O5 ,SrSi2 O
5 ,BaSi2 O5 ,Sc2 Si2 O7 ,Be2 SrS
i2 O7 ,Ca2 MgSi2 O7 ,Si3 N4 ,GeO
2,Zn2 GeO4 ,Cs2 UO2 F4 ,Cs2 UO2
Cl4 ,Cs2 UO2 Br4 ,Cs3 UO2 F5 ,Cs
3 UO2 Cl5 ,Cs3 UO2 Br5 ,MgWO4,C
aWO4 ,SrWO4 ,BaWO4 ,AlWO4 ,Cd
WO4 ,PbWO4,Y2 WO6 ,MgMoO4 ,Ca
MoO4 ,SrMoO4 ,BaMoO4 ,Li2 MoO
4 ,Y2 Mo3 O12,La2 Mo3 O12,Ce2 Mo3
O12,Pr2Mo3 O12,Nd2 Mo3 O12,Sm2 M
o3 O12,Eu2 Mo3 O12,Gd2Mo3 O12,Tb
2 Mo3 O12,Dy2 Mo3 O12,Ho2 Mo3 O12,
Er2Mo3 O12,Tm2 Mo3 O12,Yb2 Mo3 O
12,Lu2 Mo3 O12,NaCaVO4 ,ScVO4 ,
YVO4 ,Mg3 (VO4 )2 ,Ca3 (VO4 )2 ,
Sr3 (VO4 )2 ,Ba3 (VO4 )2 ,Zn3 (V
O4 )2 ,Cd3 (VO4 )2 ,Mg5 (VO4 )
3 F,Mg5 (VO4 )3 Cl,Ca5 (VO4 )
3F,Ca5 (VO4 )3 Cl,Sr5 (VO4 )
3 F,Sr5 (VO4 )3 Cl,Ba5 (VO4 )
3 F,Ba5 (VO4 )3 Cl,CaS,SrS,Ba
S,CaSe,SrSe,BaSe、あるいはフッ化物
・ハロゲン化物・臭化物・ヨウ化物・ハロゲン化銅・ハ
ロゲン化銀・酸ハロゲン化物・タリウム化合物・インジ
ウム化合物・ホウ酸塩・亜鉛酸化物・マグネシウム酸化
物・チタニウム酸化物・アルミン酸塩・ガーネット・ケ
イ酸塩・ゲルマニウム酸塩・イットリウム化合物・ラン
タン化合物・セリウム化合物・プラセオジウム化合物・
ネオジウム化合物・サマリウム化合物・ユーロピウム化
合物・ガドリニウム化合物・テルビウム化合物・ジスプ
ロシウム化合物・ホルミウム化合物・エルビウム化合物
・ツリウム化合物・イッテルビウム化合物・ルテチウム
化合物・ウラン化合物・リン酸塩・シェーレ化合物・硫
化物・セレン化物などの絶縁性無機材料を用いることが
できる。
第1、第2の光は、コヒーレント光、すなわちレーザー
光が好ましい。レーザーの種類については、用いたい電
子遷移と波長が合えば特に限定されないが、小型素子の
形成に有利な半導体レーザーを用いることが望ましい。
中のエネルギー準位に大きなバラつきが有る場合、つま
り、光励起を行う準位間のエネルギーに大きな分散(標
準偏差)が有る場合でも、請求項1〜請求項3、請求項
22〜請求項25の標準偏差に係る条件式を満足すれ
ば、量子コヒーレンスを背景としたEITに基づく大き
な光変調特性が得られることが明らかになった。したが
って、本発明(請求項1〜請求項15、請求項22〜請
求項25)によれば、固体におけるEITに立脚した実
用可能な光素子を提供できるようになる。
のエネルギー準位に大きなバラつきが有る場合でも、光
素子を構成する固体として特定のものを使用することに
より、つまり、本発明の固体を使用することにより、量
子コヒーレンスを背景としたEITに基づく大きな光変
調特性が得られることが明らかになった。したがって、
本発明(請求項16〜請求項21)によれば、固体にお
けるEITに立脚した実用可能な光素子を提供できるよ
うになる。
る。
においてEITを実現するにはバンドを形成するような
準位を用いることは困難である。すなわち、固体におい
てEITを実現するには、原子ガスの場合と同様に離散
的なエネルギー準位を持つ系を選ぶ必要が有る。
構成が単純で3準位系を設定することが可能であるこ
と、また光励起過程の中で電子が3準位の外に逃げ出さ
ない閉じた系であることなどが挙げられる。
体の候補としては、結晶中に分散された希土類元素や遷
移金属元素などの不純物原子系や、上述した半導体超格
子などの量し井戸に加え同じく半導体の量子細線,量子
箱が考えられる。
エネルギー準位を持つ系の選択、単純な準位構成で3準
位系の設定が可能なこと、電子が3準位の外に逃げ出さ
ない閉じた系であること)を持つ固体は、一種の擬原子
の集まりと見なすことができる。しかし、この擬原子系
の候補である半導体超格子などの量子構造や、結晶中の
不純物、欠陥などでは、現在のところ原子ガスで見られ
たような顕著な光学遷移の変調には成功していない。
純物、欠陥などのエネルギー準位が原子ガスと比較して
大きく、しかもランダムにバラついているため、EIT
を引き起こす鍵である条件;Δω1 =Δω2 (Λ型励起
とV型励起の場合)またはΔω1 =−Δω2 (Ξ型励起
の場合)を満足する準位数が著しく少なくなっているこ
とに起因する。
は、先に挙げた適用条件の他に、さらにエネルギー準位
の均一さに関する条件が付け加わることが理解される。
原子系の固体について、光吸収スペクトルを模式的に表
したものである。
固体を選択しても、光吸収スペクトルの線幅は原子ガス
と比較してかなり広くなる。この広いスペクトル線幅
は、多くの場合不均一広がりに由来する。
エネルギー準位が個々の擬原子で少しずつずれている
が、それが完全に分解できる程には離れていないため、
多数の擬原子のスペクトルが重なり1本の広がったスペ
クトル線として見える場合を指す。
の歪みなどにより結晶内の個々の擬原子が受ける結晶場
の大きさがバラつくため、擬原子全体で見た場合に準位
間エネルギーが分散していることに起因する。先に挙げ
た全ての擬原子系に関しても、程度の差こそあれ準位間
エネルギーのバラつきは存在する。
ネルギーが大きく、かつランダムに分散した3準位系を
選び出し、図2(a)に示した原子ガスと同様、2本の
レーザー光を照射したときの光吸収スペクトルを模式的
に表したものである。
1本の光で見た場合とあまり大差なく、光学遷移はほと
んど変調されないことが分かる。これより、不均一広が
り、すなわち準位間エネルギーの分布を十分に考慮した
上で光励起を行う準位を選ばなければ、どの擬原子系に
おいてもEITを実現することはできない。
の変調特性が、擬原子系の準位間エネルギーの分布特
性、特に準位間エネルギーの標準偏差に依存してどの様
に変化するかを、Λ型励起、V型励起およびΞ型励起の
それぞれの場合について示す。なお、ここでは不均一広
がりを表す典型的な量として準位間エネルギーの標準偏
差を用いることにする。また、以下の説明では、準位1
(第1の準位)>準位2(第2の準位)>準位3(第3
の準位)の順にエネルギーが高いとする。
16、請求項18などの場合) まず、2個の擬原子i,jについて考える。準位1・準
位2間、準位1・準位3間に光子エネルギーω1 ,ω2
という2本のレーザー光を照射する状態を想定する。こ
こで、光子エネルギーω1 ,ω2 と準位間エネルギーω
12,ω13との差をそれぞれΔω1 =ω1 −ω12,Δω2
=ω2 −ω13とすると、この2個の擬原子が同時にΔω
1 =Δω2 を満たす条件は、 ω1 −ω12(i)=ω2 −ω13(i) (1a) ω1 −ω12(j)=ω2 −ω13(j) (1b) となる。
の準位間エネルギーω23は、ω23=ω13−ω12と表され
るため、(1)式は次のように書き直すことができる。
せて完全な光吸収ゼロの状態を引き起こすためには、一
番上の準位1のエネルギー準位には依存せず、準位2,
準位3の下2つの準位間エネルギーω23が2個の擬原子
で等しいことが条件となる。
=|ω12(i)−ω12(j)|,Δω13=|ω13(i)
−ω13(j)|,Δω23=|ω23(i)−ω23(j)|
とすると、(2)式を満たすΔω12,Δω13,Δω23の
条件としては、 Δω23=0 (3) が得られる。
めの厳密な条件である。しかし、上式のような完全な条
件ではないΔω23≠0の場合でも、光吸収ゼロの状態を
作り出すことができる。
数Ω12,Ω13で決まる量Ω〜(Ω12 2 +Ω13 2 )1/2 と
同程度であれば、吸収スペクトルにはやはり幅Ωの透明
領域が形成される。
型励起した場合、Δω23が次の条件式、 Δω23〜Ω (4) を満足することが、光透過特性の向上に著しく寄与す
る。
実現するための条件を考える。N個の擬原子が同時にΔ
ω1 =Δω2 を満たす条件は、厳密には、 ω23(1)=ω23(2)=ω23(3)=…=ω23(N) (5) である。
引き起こすためには、一番上の準位1のエネルギー準位
には依存せず、準位2,準位3の下2つの準位間エネル
ギーω23がN個の擬原子で等しいことが条件となる。
式が厳密に成立していなくとも、以下のような条件が成
り立てば光吸収ゼロの状態を作り出すことができる。
ネルギーの平均値を<ω12>,<ω13>,<ω23>とし
て、各準位間エネルギーの標準偏差、 σ12={(1/N)Σ[ω12(k)−<ω12>]2 }1/2 (6a) σ13={(1/N)Σ[ω13(k)−<ω13>]2 }1/2 (6b) σ23={(1/N)Σ[ω23(k)−<ω23>]2 }1/2 (6c) を導入する。
は、Ωがスペクトル上で光吸収がゼロになるエネルギー
幅、σ12,σ13が各々の遷移のスペクトル線幅に対応す
ることから、Ω≦σ12,Ω≦σ13がそれぞれ成立する。
擬原子が同時にΔω1 =Δω2 を満足する条件は、次の
式で与えられる。
めの条件を模式的に示したものである。なお、図の縦軸
はω1 、横軸はω2 で、図中の点は各擬原子の準位1・
準位2間、準位1・準位3間のエネルギー差ω12,ω13
を表す。
の分散が小さく、準位間エネルギーω12,ω13が
(ω1 ,ω2 )平面上で45度ラインに沿って分布する
場合、2本のレーザー光により擬原子全体で同時に光吸
収ゼロの状態を実現することができる。
ば、準位1・準位2間、準位1・準位3間にどの様に大
きなエネルギー分散が有る場合でも、光を完全に透過さ
せることができる。
エネルギーω1 ,ω2 の絶対値には依存しないため、光
吸収ゼロの状態をあらゆる光子エネルギーω1 ,ω2 で
引き起こすことができる。
布がある場合でも、(ω1 ,ω2 )平面上で準位間エネ
ルギーω12,ω13が45度ラインに分布している領域が
一部でも存在すれば、その領域のエネルギーω12,ω13
と等しい光子エネルギーω1,ω2 の光に対しては、や
はり光吸収ゼロの状態を作り出すことが可能となる。
も、(7)式のσ23≦σ12,σ23≦σ13を満足すること
が、光シグナルの変調特性向上に著しく寄与することが
理解される。
17、請求項19などの場合) V型励起は、Λ型励起とは異なりΔω1 =Δω2 を満足
しても光吸収は厳密にはゼロとはならず、ゼロに限りな
く近い値を示す点が特徴である。
原子m,nについて、準位2・準位3間、準位1・準位
3間に光子エネルギーω1 ,ω2 という2本のレーザー
光を照射する状態から考える。
ギーω23,ω13との差をそれぞれΔω1 =ω1 −ω23,
Δω2 =ω2 −ω13とすると、2個の擬原子が同時にΔ
ω1=Δω2 を満たす条件は、 ω1 −ω23(m)=ω2 −ω13(m) (8a) ω1 −ω23(n)=ω2 −ω13(n) (8b) となる。
エネルギーω12は、ω12=ω13−ω23と表されるため、
(8)式は次のように書き直すことができる。
を実現するには、準位1・準位2間の準位間エネルギー
の分布が小さい系を選択することが不可欠である。
させて光吸収をゼロの状態に近づけるには、準位間エネ
ルギーω23,ω13には依らず、上2つの準位間エネルギ
ーω12が2個の擬原子で等しいことが条件となる。
り、N個の擬原子が同時に吸収ゼロとなる条件として、 σ12≦σ13 (10a) σ12≦σ23 (10b) が得られる。
擬原子が同時に光吸収ゼロに近づくための、擬原子のエ
ネルギー分布を模式的に示したものである。なお、図の
縦軸はω1 、横軸はω2 で、図中の点は各擬原子の準位
2・3間、準位1・3間のエネルギー差ω23,ω13を表
す。
の分散が小さく、準位間エネルギーω23,ω13が
(ω1 ,ω2 )平面上で45度ラインに沿って分布する
場合、2本のレーザー光により擬原子全体で同時にほぼ
光吸収ゼロの状態を実現することができる。
散がある場合でも、(ω1 ,ω2 )平面上で準位間エネ
ルギーω23,ω13が45度ラインに分布している領域が
一部でも存在すれば、その領域のエネルギーω23,ω13
と等しいω1 ,ω2 の光に対しては、やはり光がほぼ完
全に透過する状態を作り出すことができる。このように
固体においてV型励起でEITを実現するには、準位1
・準位2間の準位間エネルギーの分布が小さい系を選択
することが不可欠となる。
1 =−Δω2 を満足するときに光吸収がゼロに限りなく
近い値を示す点である。
個の擬原子p,qについて、準位1・準位2間、準位2
・準位3間に光子エネルギーω1 ,ω2 という2本のレ
ーザー光を照射する状態から考える。
ギーω12,ω23との差をそれぞれΔω1 =ω1 −ω12,
Δω2 =ω2 −ω23とすると、2個の擬原子が同時にΔ
ω1=−Δω2 を満たす条件は、 ω1 −ω12(p)=−ω2 +ω23(p) (11a) ω1 −ω12(q)=−ω2 +ω23(q) (11b) となる。
エネルギーω13は、ω13=ω12+ω23と表されるため、
(14)式は次のように書き直すことができる。
足させて光吸収をゼロの状態に近づけるには、準位間エ
ネルギーω12,ω23には依らず、一番上と一番下の準位
間エネルギーω13が2個の擬原子で等しいことが条件と
なる。
個の擬原子が同時に光吸収ゼロとなる条件として、 σ13≦σ12 (13a) σ13≦σ23 (13b) が得られる。
擬原子が同時に光吸収ゼロに近づくための、擬原子のエ
ネルギー分布を模式的に示したものである。なお、図の
縦軸はω1 、横軸はω2 で、図中の点は各擬原子の準位
1・2間、準位2・3間のエネルギー差ω12,ω23を表
す。
の分散が小さく、準位間エネルギーω12,ω23が
(ω1 ,ω2 )平面上で45度ラインの垂直方向に分布
する場合、2本のレーザー光により擬原子全体で同時に
ほぼ光吸収ゼロの状態を実現することができる。
散がある場合でも、(ω1 ,ω2 )平面上で準位間エネ
ルギーω12,ω23が45度ラインと垂直に分布する領域
が一部でも存在すれば、その領域のエネルギーω12,ω
23と等しいω1 ,ω2 の光に対しては、やはり光がほぼ
完全に透過する状態を作り出すことが可能となる。この
ように固体においてΞ型励起でEITを実現するには、
準位1・準位3間の準位間エネルギーの分布が小さくな
る系を選択することが不可欠である。
場合について、擬原子系のEIT特性が準位間エネルギ
ーの標準偏差に依存してどの様に変化するか、特にある
特定のエネルギー分布を持つ場合には不均一広がりの有
無によらず完全EITが発現することを述べた。
のような特定のエネルギー分布を持った材料系を選び出
す方法、あるいはこのような分布を持った材料系を作り
出す方法が重要となる。
物原子系を用いて特定のエネルギー分布を持った系を選
び出す方法(請求項1〜15)、量子構造を用いて特定
の分布を持った系を選び出す方法(請求項22〜2
5)、そして電場や磁場や圧力などの外場を用いて特定
の分布を持った系を作り出す方法(請求項16〜21)
について説明する。
は、Λ型励起では準位2・3間の準位間エネルギー分布
が小さい系、V型では準位1・2間の分布が小さい系、
Ξ型では準位1・3間の分布が小さい系を選択すること
が不可欠である。
の計算で知られる遷移金属イオンのd→d遷移に注目す
る。
結晶場の大きさを変えた時にエネルギー準位がほとんど
変化しないものと、それが大きく変化するものとに大別
される。
ペクトルにおける不均一広がりが大きく、逆に変化が小
さい準位では不均一広がりも小さくなることが知られて
いる。これは、d→d遷移では不均一広がりが結晶場の
揺らぎに由来することを表している。
→f,f→d遷移についても、結晶場に対する準位エネ
ルギーの変化に関して同様な解析が行われている。
準位間エネルギーの分布に関する情報を得ることができ
る遷移金属イオンや希土類イオンを含む固体材料を用い
ることにより、初めてΛ型、V型、Ξ型それぞれの励起
タイプに最も相応しい3つの準位を設定することが可能
となる。
物として特にd電子の数が2〜8の遷移金属イオンに注
目し、Λ型励起の場合(請求項4,5)には第2の準位
と第3の準位の電子位置、V型励起の場合(請求項6,
7)には第1の準位と第2の準位の電子配置、そしてΞ
型励起の場合(請求項8,9)には第1の準位と第3の
準位の電子配置が等しいことを規定している。電子配置
の選び方に依存して準位間エネルギーの分布は大きく異
なる。この理由は以下に述べる通りである。
的に囲まれたd電子を1個持つ遷移金属イオン、つま
り、立方対称の結晶場中におかれた遷移金属イオンを模
式的に示す。
だけが働く場合において、電子スピンまで考慮するとd
電子のエネルギー準位は10重に縮退している。一方、
結晶場がある場合には、図16に示すように、10重に
縮退したエネルギー準位は、6重に縮退したT2g準位と
4重に縮退したEg 準位とに分裂する。すなわち、d電
子を1個持つ遷移金属イオンは、立方対称の結晶場にお
かれると、縮退が部分的に解けて、基底状態のT2g準位
と励起状態のEg 準位とに分裂する。
0Dqで表される。ここで、Dは35e/(4a)5 、
qはq=(2e/105)<r>4 で定義される結晶場
特有の量を意味しており、また、eは素電荷、aは遷移
金属イオンと配位子の距離、<r>4 は下式で表される
d動径関数、Rd (r)でのr4 の平均値を意味してい
る。また、図16中の記号T2g,Eg は準位対称性を表
す既約表現である。
すると、T2g準位は6重縮退であるため波動関数は6
個、またEg 準位は4重縮退であるため波動関数は4個
存在する。一般に、T2g準位の固有状態である6個の波
動関数を合わせてt2g軌道、またEg 準位の固有状態で
ある4個の波動関数を合わせてeg 軌道と呼ぶ。
オンのエネルギー準位の大きさは、先の1電子の場合の
t2g軌道、eg 軌道を用いると、これら軌道にn個の電
子をどう振り分けて配置するかに大きく依存する。
も収容する電子配置(t2g)2 と、t2g軌道、eg 軌道
にそれぞれ1個ずつ電子を収容する電子配置(t2g)
(eg)を考える。
t2g軌道の中から2個の電子が占める軌道を2つ選ぶや
り方の数 6C2 =15だけ状態がある。ここで、二つの
電子間に働くクーロン相互作用を考えると、電子配置
(t2g)2 は図17に示すように四つの準位に分裂す
る。なお、図17において、A1g、T2g、Eg 、T1gは
準位対称性を表す既約表現である。
きさが結晶場分裂に特有な量10Dqには依存せず、電
子間のクーロン相互作用だけで決まることにある。した
がって、四つの準位間の準位間エネルギーは、基本的に
は結晶場の大きさ10Dqが変化しても変わらない。
図18に示すように、四つの準位に分裂する。なお、図
18において、T1g、T2gは準位対称性を表す既約表現
である。この分裂の大きさもやはり10Dqには依存せ
ず、電子間のクーロン相互だけで決まる。したがって、
電子配置(t2g)2 の場合と同様に、四つの準位間の準
位間エネルギーは、基本的には結晶場の大きさ10Dq
が変化しても変わらない。
(t2g)(eg )への遷移を考えると、この遷移は1個
の電子をt2g軌道からeg 軌道に持ち上げる1電子遷移
であるため、同じスピン多重度を持つ準位間では光によ
り(t2g)2 →(t2g)(eg )遷移を引き起こすこと
ができる(スピン許容遷移)。
2g)2 の3 T1g準位(スピン多重度=3)から、電子配
置(t2g)(eg )の3 T1g準位、3 T2g準位(ともに
スピン多重度=3)への光吸収は起こる。
2g・eg 軌道間の遷移であり、準位間エネルギーは結晶
場の大きさ10Dqに強く依存する。このため、結晶内
に歪みなどがある場合には場所(サイト)ごとに10D
qが揺らぎ、準位間エネルギーは遷移金属イオンごとに
大きく異なることが予測される。
(t2g)(eg )遷移の光吸収を見ると、線幅の広いス
ペクトルが得られることが多い。このことから、一般に
(t2g)2→(t2g)(eg )遷移は光学的に許容で、
しかも準位間エネルギー分布は大きいことが知られてい
る。
(t2g)2 の3 T1g準位から同じ電子配置(t2g)2 に
属する1 A1g準位、1 Eg 準位、1 E2g準位(ともにス
ピン多重度=1)への遷移を考えると、この遷移ではス
ピン反転だけが起こることが分かる。このような遷移は
光学的に禁止される(スピン禁制遷移)。また、上述し
たように、同じ電子配置の準位間では準位間エネルギー
の大きさ10Dqには依存せず、電子間のクーロン相互
作用だけで決まる。これらの点から、一般に同じ電子配
置を持つ準位間の遷移は光学的に禁制で、しかも準位間
エネルギー分布は小さいことが知られている。
項4,6,8)で規定されている通り、Λ型励起におい
ては第2の準位の電子配置と第3の準位の電子配置とが
等しく(t2g)2 で、第1の準位の電子配置が第2およ
び第3の電子配置と異なり、(t2g)(eg )である材
料系、V型励起においては第1の準位の電子配置と第2
の電子配置とが等しく(t2g)(eg )で、第3の準位
の電子配置が第1および第2の電子配置と異なり、(t
2g)2 である材料系、そしてΞ型励起では第1の準位の
電子配置と第3の電子配置とが等しく(t2g)2 で、第
2の準位の電子配置が第1および第3の電子配置と異な
り、(t2g)(eg )である材料系を選択することによ
り、基底状態にある材料系についてはそのまま本発明
(請求項1〜請求項3)の条件式を実現することができ
る。
合と同様に、本発明(請求項4〜9)で規定されている
通り、Λ型励起においては第2の準位の電子配置と第3
の準位の電子配置とが等しく第1の準位の電子配置が第
2および第3の電子配置と異なる材料系、V型励起にお
いては第1の準位の電子配置と第2の電子配置とが等し
く第3の準位の電子配置が第1および第2の電子配置と
異なる材料系、そしてΞ型励起では第1の準位の電子配
置と第3の電子配置とが等しく第2の準位の電子配置が
第1および第3の電子配置と異なる材料系を選択するこ
とにより、本発明(請求項1〜請求項3)の条件式を実
現することができる。
では、不純物として特にf電子の数nがn=1〜13の
希土類イオンに注目し、Λ型励起の場合には準位2と準
位3は等しい電子配置 (f)n をとり、準位1 はそれと異
なる電子配置 (f)n-1 (d) をとること、V型励起の場合
には準位1と準位2が等しい電子配置 (f)n (d) をと
り、準位3がそれと異なる電子配置 (f)n をとることを
それぞれを規定した。
を織り交ぜて3準位を選ぶ場合、その選び方に依存して
準位間エネルギーの分布は大きく変化するが、これは以
下に述べるような理由による。
移、 (f)n-1 (d) → (f)n-1 (d) 、先 (d)n → (d)n
遷移は結晶場に対する対称性が異なる準位間では一般に
許容遷移となり、しかも準位間エネルギー分布は大きい
が、対称性が等しいかまたは類似した準位間では禁制遷
移となり、準位間エネルギー分布は小さいことが知られ
ている。
一般に許容遷移であり、さらに遷移金属イオンと同様に
d電子軌道が関与するため、結晶場の揺らぎを反映して
準位間エネルギー分布は大きいことが知られている。
励起に関する振動子強度と、 (f)n→ (f)n 遷移の中で
も、特に光学許容となる準位対称性の異なった2準位間
での振動子強度とを比較すると、一般には、 (f)n →
(f)n-1 (d) 遷移のほうが何桁も大きくなる。
n-1 (d) を織る交ぜて3準位を選ぶ場合には、特に電子
配置 (f)n の準位対称性を考慮しなくても、 (f)n →
(f)n遷移は (f)n → (f)n-1 (d) 遷移と比較して、十分
に光学禁制で準位間エネルギー分布も小さい。
に電子配置 (f)n の中から2準位、準位1 に電子配 (f)
n-1 (d) から一つ準位を選び、V型励起では準位1,2
に電子配置 (f)n-1 (d) の中から2準位、準位3に電子
配置 (f)n から一つ準位を選ぶことにより、やはり本発
明(請求項1,2)の条件式を実現することが可能にな
る。
形成されるエネルギー準位は、一般には、そのサイズ,
形状,ポテンシャルの深さ等に依存して大きく変化す
る。
子が取り得るエネルギー準位の大きさを示し、これを基
にN個の量子井戸における各エネルギー準位の分布、準
位間エネルギーの不均一広がりの大きさを示していく。
0に示すような無限大のポテンシャル障壁に挟まれた1
次元量子井戸を対象としたが、これ以外の量子構造、例
えば有限のポテンシャルに挟まれた1次元量子井戸や量
子細線,量子箱等についても議論の本質は変わらない。
状態は、シュレディンガー方程式を用いて求めることが
できる。量子井戸中に現れるエネルギー準位は、En を
エネルギー固有値、nを量子数(n=1,2,3,
…)、m* を電子の有効質量とすると、 En =(h2 /8m* )(n/L)2 (14) となる。n番目の準位に注目すると、そのエネルギーは
Lの値、すなわち量子井戸のサイズに極めて強く依存す
ることがわかる。
状況を考える。この場合、各量子井戸の構造が完全に同
じであれば、どの準位についてもエネルギーのバラつき
は生じ得ない。
子作製技術では、まだ原子オーダーでの精密な微細加工
は難しい。
程度バラつきを持つ。ここで、量子井戸のサイズLが
(L+ΔL)から(L−ΔL)までバラつくとした場合
に、n番目の準位エネルギーEn にどの程度の幅が生じ
るかを見積もる。
En (max)と(L+ΔL)における最小値En (m
in)との差ΔEn が、En の分布の幅を表すものとす
る。式(14)より、ΔEn は、 ΔEn =En [4L3 ・ΔL/(L2 −ΔL2 )2 ] (15) となる。
ーの高い準位ほど、準位のバラつきが大きくなることを
示している。
いて考える。量子数mの準位と量子数nの準位との差を
Enm(n>m)とし、その分布の幅を考える。上と同様
に量子井戸のサイズLが(L+ΔL)から(L−ΔL)
までバラつくとした場合に、Enmの最大値Enm(ma
x)と最小値Enm(min)との差ΔEnmが分布幅を表
すものとすると、ΔEnmは、 ΔEnm=Enm[4L3 ・ΔL/(L2 −ΔL2 )2 ] (16) となる。
井戸における準位間エネルギーの不均一広がりは、準位
間エネルギーの大きさが増すほど増加する。
(a)、図23(a)に示すように、準位2、準位3に
最もエネルギーの低い2準位(量子数の小さい2準
位)、準位1にエネルギーの高い準位(量子数の大きな
準位)を選択し、また、図21(b)、図22(b)、
図23(b)に示すように、準位1,準位2に最もエネ
ルギーの低い2準位(量子数の小さい2準位)、準位3
にエネルギーの高い準位(量子数の大きな準位)を選択
することによって、初めて請求項1,2の条件式、すな
わち、光で結ばれない2準位間の不均一広がりが極めて
小さいΛ型またはV型3準位系を設定することが可能に
なる訳である。
井戸(半導体量子井戸)において、伝導帯から1つ価電
子帯から2つ選んだ3準位をΛ型に、同図(b)は半導
体量子井戸において、伝導帯から2つ価電子帯から1つ
選んだ3準位をV型に励起する場合を示している。
いて、伝導帯から選んだ3準位をΛ型に、同図(b)は
半導体量子井戸において、価電子帯から選んだ3準位を
V型に励起する場合を示している。
戸(金属量子井戸)において、フェルミ準位よりも高エ
ネルギー領域に形成された準位の中から2つフェルミ準
位よりも低エネルギー領域に形成された準位の中から1
つ選んだ3準位をΛ型に、同図(b)は金属量子井戸に
おいて、フェルミ準位よりも低エネルギー領域に形成さ
れた準位の中から2つフェルミ準位よりも高エネルギー
領域に形成された準位の中から1つ選んだ3準位をV型
に光励起する場合を占めている。
量子障壁の構成材料にドナー性不純物をドーピングする
ことで量子井戸に電子を注入し、また、図22(b)、
図23(b)では、量子障壁の構成材料にアクセプター
性不純物をドーピングすることで量子井戸に正孔を注入
している。
分布を持った材料系をを作り出す方法について説明す
る。
うな固体中の擬原子に電場、磁場、圧力などの外場を加
えて、3準位のうち光で結ばれない準位間の不均一広が
りが小さくなるような材料系を作り出す方法がある。
れる擬原子系としては、結晶中に分散された遷移金属原
子や希土類原子などの不純物原子系や、半導体の超格子
や量子細線、量子箱などの量子構造が候補になること、
また、これらの不純物原子系や量子構造が原子ガスと同
様離散的なエネルギー準位を持つことを述べた。
でに計算と実験の両面から詳しく調べられており、その
中には複数の準位が同じエネルギーを持つ縮退した準位
が多数存在することが知られている。
希土類原子の不純物準位についても、田辺・菅野らの計
算で知られ遷移金属不純物の準位図やG.H.Diek
eによってまとめられた希土類不純物の準位図から、や
はり縮退した準位が多数存在することが知られている。
準位を電場、磁場、圧力などの外場で解き、その中の2
準位を光で結ばれない2準位として利用すると、この準
位間に関して小さな不均一広がりを持ち、良好なEIT
特性を示すΛ型またはV型3準位系を設定することが可
能になる。
象としては、電場によって分裂が引き起こされるシュタ
ルク効果、磁場によるゼーマン効果、圧力によるヤーン
・テーラー効果などがそれぞれ知られている。
分裂の大きさは、勿論用いる外場の大きさも依存する
が、一般的には〜1cm-1以下の微小なものであること
が知られている。
がりはそれよりもさらに小さい値を持つと考えられる。
実際、これまでに報告されたシュタルク効果やゼーマン
効果の文献から不均一広がりの大きさを見積もると、シ
ュタルク効果では0.01cm-1以下、ゼーマン効果で
は0.0001〜0.1cm-1と、極めて小さな不均一
広がりを示す材料系が数多く存在することが分かった。
準位に外場を加えることによって、光で結ばれない2準
位間の不均一広がりが極めて小さいΛ型またはV型3準
位系を作り出すことが期待できる訳である。
(ω1 ,ω2 )平面上でEITが発現し易い特定のエネ
ルギー分布を持った材料系を選び出す方法、ならびにこ
の様な分布を持った材料系を作り出す方法について述べ
た。
でのEITが可能になるが、それだけに止まらず、例え
ば光変調素子やLWIレーザーなどEITを基本原理と
する様々な光素子を実現することが可能になる。
の実施の形態(実施形態)を説明する。
の実施形態に係わる光変調素子を模式的に示した図であ
る。
ル光の透過強度を変調する不純物を含む固体であるEI
T層11と、このEIT層11に接して設けられ、ゲー
ト光GをEIT層11に入力する半導体レーザー12
と、入力シグナル光SinをEIT層11に入力する光フ
ァイバ13と、EIT層11から出力された出力シグナ
ル光SOUT の強度を測定するフォトダイオード14とか
ら構成されている。ゲート光Gにより出力シグナル光S
OUT の強度が制御される。
ート光Gは,EIT層11の全体を照射している。ま
た、入力シグナル光Sinにも半導体レーザーを用いてい
る。
とゲート光G(光子エネルギーω1)、入力シグナル光
Sin(光子エネルギーω2 )とを模式的に示したもので
ある。 図8(a)に示すΛ型励起の場合、EIT層1
1に用いる材料としては、準位2・準位3間の準位間エ
ネルギーの標準偏差σ23が、準位1・準位2間の準位間
エネルギーの標準偏差σ12、準位1・準位3間の準位間
エネルギーの標準偏差13に対して、σ23≦σ12ならびに
σ23≦σ13を満足する系を選択する。
起し、入力シグナル光Sinは準位1・準位3間を励起す
る。さらに、準位2・準位3間のエネルギー差の中心値
をω23としたとき、ω2 −ω1 =ω23の関係が満たされ
るようにω1 ,ω2 をそれぞれ選択する。
ば、EIT層11にゲート光Gと入力シグナル光Sinを
ともに照射しているときには、EIT層11中の大部分
の擬原子でΔω1 =Δω2 を満足する。
入力シグナル光SinはEIT層11で吸収されてほとん
ど透過しないが、ゲート光Gが有るときにはEIT層1
1での入力シグナル光Sinの吸収が抑制されるため、大
きな出力シグナル光SOUT が得られる。
ある準位3と結ばれず、準位1・準位2間を仮想励起し
ているため、EIT層11では吸収されずに透過する。
この効果により、EIT層11中では場所によらず、つ
まり、EIT層11中のほとんどすべての不純物で同時
に入力シグナル光Sin(以下、単にシグナル光という)
を変調することが可能になる。
IT層11に用いる材料としては、準位1・準位2間の
準位間エネルギーの標準偏差σ12が、準位1・準位3
間、準位2・準位3間の準位間エネルギーの標準偏差σ
13,σ23に対して、σ12≦σ13、σ12≦σ23を満足する
系を選択する。
なり、いずれの遷移も基底状態である準位3と結ばれて
いる。このため、V型励起では、ゲート光Gと入力シグ
ナル光Sinは準位1・準位3間、準位2・準位3間どち
らかを励起しても良い。
起し、シグナル光は準位1・準位3間を励起すると仮定
する。さらに、ゲート光Gとシグナル光の光子エネルギ
ーをそれぞれω1 ,ω2 とし、準位1・準位2間のエネ
ルギー差の中心値をω12としたとき、ω2 −ω1 =ω12
を満たすようなω1 ,ω2 を選択する。
ば、EIT層11にゲート光Gとシグナル光をともに照
射しているときには、EIT層11中の大部分の擬原子
でΔω1 =Δω2 を満足する。
シグナル光はEIT層11で吸収されてほとんど透過し
ないが、それが有るときにはEIT層11でのシグナル
光の吸収が抑制されるため、大きな出力シグナル光が得
られる。
準位3と結ばれている。このため、シグナル光が無けれ
ばEIT層11で吸収され、EIT層中11で場所によ
ってゲート光Gの強度が変化してしまう。しかし、シグ
ナル光が有る場合にはゲート光Gは吸収されずに透過す
るため、V型励起でもEIT層11中では場所によらず
シグナル光を変調することが可能になる。
合、EIT層11に用いる材料としては、準位1・準位
3間の準位間エネルギーの標準偏差σ13が、準位1・準
位2間、準位2・準位3間の準位間エネルギーの標準偏
差σ12,σ23に対して、σ13≦σ12,σ13≦σ23を満足
する系を選択する。
シグナル光は準位2・準位3間を励起する。さらに、ゲ
ート光Gとシグナル光の光子エネルギーをそれぞれ
ω1 ,ω2 とし、準位1・準位3間のエネルギー差の中
心値をω13としたしき、ω1 +ω2 =ω13を満たすよう
なω1 ,ω2 を選択する。
ば、EIT層11にゲート光Gとシグナル光をともに照
射しているときには、EIT層11中の大部分の擬原子
でΔω1 =−Δω2 を満足する。
シグナル光はEIT層11で吸収されてほとんど透過し
ないが、それが有るときにはEIT層11でのシグナル
光の吸収が抑制されるため、大きな出力シグナル光が得
られる。
位3と結ばれず準位1・準位2間を仮想励起しているた
め、EIT層11では吸収されずに透過する。この効果
により、EIT層11中で場所によらずシグナル光を変
調することが可能になる。
の見積もりに関して、まず3準位のうち光励起を行う2
つの電子遷移については、この2つの遷移がともに許容
遷移であることから光吸収や蛍光測定等で観測されるス
ペクトルピークの半値幅が準位間エネルギーの標準偏差
と等しいとすることで見積もることができる。
本来禁制遷移であるため通常の光吸収や蛍光測定では観
測することが難しいが、2光子吸収等を利用すればこの
遷移についてもやはり実験的に準位間エネルギーの標準
偏差を決定することが可能である。
示した光変調素子をより具体化した例である。すなわ
ち、本実施形態では、EIT層11の材料としてCr3+
が不純物として1mol%分散しているAl2 O3 を用
いている。また、光ファイバ13の光源としては色素レ
ーザーを用い、フォトダイオード14としてはSiフォ
トダイオードを用いている。
3 中のCr3+不純物のエネルギー準位を用い、具体的に
は、図9に示すように、一番上の準位1は、t2g軌道に
2個、eg 軌道に1個の電子が収容されてなる場合の 4
T1 準位、真ん中の準位2と、一番下の準位3はt2g軌
道に3個の電子が収容された場合の 2E準位および基底
準位である 4A2 準位をそれぞれ選択した。
称性を表す既約表現である。結晶場理論より、 4A2 →
4T1 遷移と 2E→ 4T1 遷移はともに許容遷移で、さ
らに結晶場の揺らぎを敏感に反映するため光吸収等のス
ペクトル線幅は不均一に広がり、準位間エネルギーのバ
ラつきは大きいことが知られている。
で、しかも結晶場の揺らぎに鈍感なためスペクトル線幅
は弱くシャープで、準位間エネルギーのバラつきも小さ
いことが知られている。
スペクトルを示す図である。図10において、2500
0cm-1付近にピークを持つブロードな吸収は準位3か
ら準位1への 4A2 → 4T1 遷移に対応する。光吸収ピ
ークの半値幅から見積もられた準位1・準位3間の準位
間エネルギーの標準偏差σ13は2000〜3000cm
-1である。
つ非常にシャープでしかも弱い吸収は、準位3から準位
2への 4A2 → 2E遷移に対応する。準位2・準位3間
の標準偏差σ23は0.1〜1cm-1であり、準位1・準
位3間のσ13と比較して4桁程度小さい。
ゼロであるため、光吸収スペクトルから準位1・準位2
間の標準偏差σ12を求めることはできないが、田辺,菅
野によるエネルギー準位の計算からは準位1・準位3間
のσ13と同程度の値を持つことが分かっている。
では、上記3つの準位に関して、 4A2 ・ 4T1 準位間
と 2E・ 4T1 準位間をΛ型に光励起した。ゲート光G
の光子エネルギーω1 には準位1・準位2間の 2E→ 4
T1 遷移に対応するものを選び、シグナル光の光子エネ
ルギーω2 には準位1・準位3間の 4A2 → 4T1 遷移
に対応するものを選択した。
2 −ω1 が準位2・準位3間の準位間エネルギーの中心
値(14419cm-1)と一致するように調整した。な
お、ゲート光Gの強度は0.1W、またEIT層に入力
するシグナル光の強度は1mWとした。
有無によるシグナル光の透過光強度を調べた。
ル光はEIT層11で吸収されるため、シグナル光の出
力強度は入力に対して約9%にまで減少した。
に対して約75%の出力強度が得られ、ゲート光Gが無
い場合と比較してシグナル光は透過しやすくなることが
確かめられた。
1 を固定した状態で、シグナル光の光子エネルギーω2
を変えながら、準位3から準位1への吸収スペクトルを
調べた結果を示す。なお、ゲート光Gの光子エネルギー
ω1 は9030cm-1である。
m-1)が、準位2・準位3間の準位間エネルギーの中心
値と一致する光子エネルギー23449cm-1付近で、
ω2の光吸収は大きく減少することが分かる。このこと
から、本現象がEITに由来することが理解される。
物を利用して、固体におけるLWIを実現させようとい
う提案がなされている(Y.Zhu et al.,P
hys.Rev.A49,4016(1994))。
には2 E準位、準位2には4 A2 準位中の4 A2 (|±
1/2>)準位、準位3には4 A2 準位中の4 A2 (|
±3/2>)準位が用いられている。そして、上記3準
位をΞ型に励起し、さらに準位3から準位1は電子をイ
ンコヒーレントに励起することにより、準位1・準位2
間にレーザ発振が起こり、固体においてもLWIが実現
できるとのべられている。
2間、準位1・準位3間、準位2・準位3間それぞれの
準位間エネルギーの標準偏差をσ12、σ13、σ23とする
と、Ξ型励起でEITを引き起こすには、準位1・準位
3の標準偏差σ13が、σ13≦σ12、かつσ13≦σ23の条
件を満たすことが必要である。
1・準位3間の4 A2 (|±3/2>)→2 E遷移のσ
13は0.1〜1cm-1である。一方、準位2・準位3間
の4A2 (|±3/2>)→4 A2 (|±1/2>)遷
移に関しては、電子スピン共鳴の実験等からσ23は0.
1cm-1よりも小さくなることが知られている。したが
って、Y.Zhuらの選んだ3準位ではΞ型励起の場合
にσ13>σ23となり、EITを引き起こすことは極めて
難しい。このことから、固体でEITを実現するには、
まず第1に各遷移間の準位間エネルギーの揺らぎの大き
さ(標準偏差)を把握した上で、三つの準位を選択しな
ければならないことが分かる。
り 4T2 準位を用い、これに伴いゲート光Gの光子エネ
ルギーω1 を準位1・準位2間の 4T2 → 4T1 遷移に
対応するものに変えた以外は、第2の実施形態と全く同
様の構成の光変調素子を用いて、ゲート光Gの有無によ
るシグナル光の透過光強度を調べた。なお、ω2 −ω1
は18000cm-1に調整してある。
第2の実施形態と同様にシグナル光の出力強度は入力に
対して約9%にまで減少した。
の実施形態の場合とは異なり、入力に対してやはり9%
程度の出力強度しか得られなかった。これより、本比較
例ではゲート光Gの有無によらずシグナル光はほとんど
透過しないことが分かった。図10に示した光吸収スペ
クトル18000cm-1付近に見られるブロードな吸収
は、準位2・準位3間の 4A2 → 4T2 遷移に対応す
る。このスペクトルの広がりもやはり不均一広がりに起
因し、光吸収の半値幅から見積もられる準位2・準位3
間のσ23は2000〜3000cm-1となる。
電子分布がゼロであるため、図10の吸収スペクトルに
は現れないが、田辺・菅野によるエネルギー準位の計算
からは弱いしかもシャープなスペクトル線となることが
予測される。
1・準位3間、準位2・準位3間のσ13,σ23よりも桁
違いに小さくなることを意味している。Λ型励起では、
σ23≦σ12、σ23≦σ13を満足するような系を選択する
必要が有る。これより、本比較例では準位2・準位3間
のσ23が準位1・準位2間のσ12に比べて非常に大きい
ため、ゲート光Gを照射してもシグナル光はほとんど変
調されなかったことが分かる。
現させるには、各遷移の準位間エネルギー揺らぎに関す
る大小関係を十分に考慮した上で光励起を行う準位を選
ぶ必要が有ることが理解される。
子が第2の実施形態のそれと異なる点は、図7に示した
光変調素子において、EIT層11の材料として、Er
3+が不純物として1mol%分散しているLiYF4 を
用いたことにある。
中のEr3+の不純物準位を用い、図12に示すように、
一番上の準位1には 4S3/2 準位のうち結晶場で分裂し
たE1準位、真ん中の準位2には 4I13/2準位のうち同
じく結晶場で分裂したY1準位、一番下の準位3には基
底準位である 4I15/2準位のうちやはり結晶場で分裂し
たZ2準位をそれぞれ選択した。
対称性はΓ5 である。また、 4I13 /2(Y1)準位と 4
I15/2(Z2)準位の対称性はいずれもΓ8 である。こ
れにより、準位1・準位3間の 4I15/2(Z2)→ 4S
3/2 (E1)遷移はΓ8 →Γ5 、準位1・準位2間の 4
I13/2(Y1)→ 4S3/2 (E1)遷移もΓ8 →Γ
5で、準位2・準位3間の 4I15/2(Z2)→ 4I13/2
(Y1)遷移だけがΓ8 →Γ8 となる。
遷移の選択則を示す。なお、表1中に示した光学遷移の
許容ならびに禁制は、全て電気双極子遷移に関するもの
である。
15/2(Z2)→ 4S3/2 (E1)遷移および準位1・準
位2間の 4I13/2(Y1)→ 4S3/2 (E1)遷移は許
容遷移であることが分かる。これに対し、準位2・準位
3間の 4I15/2(Z2)→ 4I13/2(Y1)遷移は禁制
遷移となる。
3/2 (E1)遷移と 4I15/2(Z2)→ 4S3/2 (E
1)遷移では吸収強度が強く、しかも、結晶場の揺らぎ
を反映してスペクトル線幅は不均一に広がり、準位間エ
ネルギーの標準偏差σ12,σ13はともに大きいことが予
測されるのに対して、 4I15/2(Z2)→ 4I13/2(Y
1)遷移は吸収強度が弱く、結晶場による準位間エネル
ギーのバラつきも小さいため、σ23は小さな値を持つ。
上記3つの準位について、 4I15/2(Z2)・ 4S3/2
(E1)準位間と 4I13/2(Y1)・ 4S3/2 (E1)
準位間をΛ型に光励起した。
・準位2間の 4I13/2(Y1)→ 4S3/2 (E1)遷移
に対応するものを選び、シグナル光の光子エネルギーω
2 は準位1・準位3間の 4I15/2(Z2)→ 4S
3/2 (E1)遷移に対応するものを選択した。このとき
の光子エネルギーω1 ,ω2 は、ω2 −ω1 が準位2・
準位3間の準位間エネルギーの中心値(6517c
m-1)と一致するように調整した。なお、ゲート光Gの
強度は1W、またEIT層に入力するシグナル光の強度
は1mWとした。
て、ゲート光Gの有無によるシグナル光の透過光強度を
調べた。
ル光はEIT層11で吸収されるため、シグナル光の出
力強度は入力に対して約11%にまで減少した。
に対して約81%の出力強度が得られ、ゲート光Gが無
い場合と比較して、シグナル光は透過しやすくなること
が確かめられた。
1 を固定した状態で、シグナル光の光子エネルギーω2
を変えながら、準位3から準位1への吸収スペクトルを
調べた結果を示す。なお、ゲート光Gの光子エネルギー
ω1 は11898cm-1である。
-1)が準位2・準位3間の準位間エネルギーの中心値と
一致する18415cm-1付近で、ω2 の光吸収は大き
く減少することが分かった。このことから、本現象がE
ITに由来することが理解される。
1)準位に代わり 4I13/2(Y2)準位を用い、これに
伴いゲート光Gの光子エネルギーω1 を準位1・準位2
間の 4I13/2(Y2)→ 4S3/2 (E1)遷移に対応す
るものに変えた以外は、第3の実施形態と全く同様の構
成の光変調素子を用いてゲート光Gの有無によるシグナ
ル光の透過光強度を調べた。なお、ω2 −ω1 は652
1cm-1に調整してある。
第3の実施形態と同様シグナル光の出力強度は入力に対
して約11%にまで減少した。
の実施形態とは異なり入力に対してやはり15%程度の
出力強度しか得られなかった。これより、本比較例では
ゲート光Gの有無によらずシグナル光はほとんど透過し
ないことがわかった。
る。これより、準位1・準位2間の4I13/2(Y2)→
4S3/2 (E1)遷移はΓ5 →Γ5 となり、準位2・準
位3間の 4I15/2(Z2)→ 4I13/2(Y2)遷移はΓ
8 →Γ5 となる。この結果と先の表1を用いると、 4I
13/2(Y2)→ 4S3/2 (E1)遷移は禁制遷移とな
り、吸収強度は小さくシャープな遷移であることが予測
される。
(Y2)遷移は許容遷移で、吸収強度は大きくブロード
な遷移となる。これは、準位1・準位2間のσ12が準位
2・準位3間のσ23よりも小さくなることを意味してい
る。
に比べて大きいめに、ゲート光Gを照射してもシグナル
光はほとんど変調されなかったことが理解される。
子が第2の実施形態のそれと異なる点は、図7に示した
光変調素子において、EIT層11の材料としてPr3+
が不純物として1mol%分散しているLiYF4 を用
いたことにある。
中のPr3+の不純物準位を用い、図14に示すように、
一番上の準位1には 1D2 準位のうち結晶場で分裂した
C2準位、真ん中の準位2には 3H5 準位のうち同じく
結晶場で分裂したB4準位、一番下の準位3には基底準
位である 3H4 準位のうちやはり結晶場で分裂したA1
準位をそれぞれ選択した。
Γ1 、 3H5 (B4)準位はΓ2 、3H4 (A1)準位
もΓ2 である。これにより、準位1・準位2間の 3H5
(B4)→ 1D2 (C2)遷移はΓ2 →Γ1 、準位1・
準位3間の 3H4 (A1)→1D2 (C2)遷移もΓ2
→Γ1 の遷移から構成され、準位2・準位3間の 3H4
(A1)→ 3H5 (B4)遷移がΓ1 →Γ1 の遷移から
構成されている。
遷移の選択則を示す。なお、表2中に示した光学遷移の
許容ならびに禁制は、全て電気双極子遷移に関するもの
である。
(B4)→ 1D2 (C2)遷移と準位1・準位3間の 3
H4 (A1)→ 1D2 (C2)遷移は許容遷移であり、
準位2・準位3間の 3H4 (A1)→ 3H5 (B4)遷
移は禁制遷移になることが分かる。
準位について、 3H4 (A1)・ 1D2 (C2)準位間
と 3H5 (B4)・ 1D2 (C2)準位間をΛ型に光励
起した。
・準位2間の 3H5 (B4)→ 1D2 (C2)遷移に対
応するものを選び、シグナル光の光子エネルギーω2 は
準位1・準位3間の 3H4 (A1)→ 1D2 (C2)遷
移に対応するものを選択した。
位2・準位3間の準位間エネルギーの中心値(2280
cm-1)と一致するように調整した。なお、ゲート光G
の強度は1W、またEIT層11に入力するシグナル光
の強度は1mWとした。
て、ゲート光Gの有無によるシグナル光の透過光強度を
調べた。
ル光はEIT層11で吸収されるため、シグナル光の出
力強度は入力に対して約7%にまで減少した。
に対して約69%の出力強度が得られ、ゲート光Gが無
い場合と比較してシグナル光は透過しやすくなることが
確かめられた。
準位の代わり、対称性がΓ1 である 3H5 (B1)準位
を用い、これに伴いゲート光Gの光子エネルギーω1 を
準位1・準位2間の 3H5 (B1)→ 1D2 (C2)遷
移に対応するものに変えた以外は、第4の実施形態と全
く同様の構成の光変調素子を用いてゲート光Gの有無に
よるシグナル光の透過光強度を調べた。なお、ω2 −ω
1 は2253cm-1に調整してある。
第4の実施形態の場合と同様に、シグナル光の出力強度
は入力に対して約7%にまで減少した。
の実施形態の場合とは異なり、入力に対して8%程度の
出力強度しか得られなかった。これより、本比較例では
ゲート光Gの有無によらずシグナル光はほとんど透過し
ないことが分かった。
調素子において、第2〜第4の実施形態とEIT層11
の材料の種類が異なる点を除けば、あとは全て同一の構
成を持つ。
素子に用いたEIT層11の材料毎の、固体材料の種
類、不純物の種類、3つの不純物準位それぞれの準位対
称性の既約表現、3つの不純物準位それぞれのエネルギ
ー位置、光励起の型、ゲート光Gを照射しないときのシ
グナル光の透過率、そしてゲート光Gを照射したときの
シグナル光の透過率を示す。
で、シグナル光の透過率を著しく変調できることが理解
される。
6の実施形態に係わる光変調素子を模式的に示した図で
ある。
光21,22の透過強度を変調するEIT層23と、こ
のEIT層23を挟む2枚の電極24,25と、これら
電極24,25の間に電圧を印加してEIT層23に与
えられる外場としての電場の大きさを制御するための電
源26と、EIT層23に光21,22をそれぞれ入力
する光ファイバー27,28と、EIT層23から出力
された2本の光の透過強度をそれぞれ測定するフォトダ
イオード29,30とから構成されている。
た2本の光21,22のうち、Λ型励起では準位1・2
間を励起する光21、V型励起では準位2・3間を励起
する光21がEIT層23の全体を照射する。また、E
IT層23に照射する2本の光21,22はともにレー
ザー光である。
位とそこに入射する2本の光21,22とを模式的に示
したものである。
り、EIT層23に用いる材料としては外場を印加しな
いときに準位2と準位3が縮退するような準位を選択す
る。この様な準位を選ぶことにより、外場(電場)印加
時の準位2・3間の準位間エネルギーの標準偏差σ
23は、準位1・2間、準位1・3間の準位間エネルギー
の標準偏差σ12、σ13に対してσ23≦σ12、ならびにσ
23≦σ13を満足する。
いては、準位1・2間を励起する光21の光子エネルギ
ーをω1 、準位1・3間を励起する光22の光子エネル
ギーをω2 とし、準位2・3間のエネルギー差の中心値
をω23としたとき、ω2 −ω1 =ω23を満たすようなω
1 、ω2 をそれぞれ選択する。
に2本の光21,22が照射しているときには、EIT
層23中の大部分の擬原子でΔω1 =Δω2 となる。外
場がゼロの場合には2本の光21,22はともにEIT
層23で吸収されてほとんど透過しないが、ω2 −ω1
=ω23を満たす特定の大きさの外場を印加した場合に
は、EIT層23での光吸収が抑制されるため、光2
1,22ともに大きな光出力が得られるようになる。
光の透過強度を変調させることが可能になる。
合、EIT層23に用いる材料としては、外場を印加し
ないときに、準位1および準位2が縮退するような準位
を選択する。
時の準位1・2間の準位間エネルギーの標準偏差σ
12は、準位1・3間、準位2・3間の準位間エネルギー
の標準偏差σ13、σ23に対してσ12≦σ13、ならびにσ
12≦σ23を満足する。
は、準位2・3間を励起する光21の光子エネルギーを
ω1 、準位1・3間を励起する光22の光子エネルギー
をω2とし、準位1、2間のエネルギー差の中心値をω
12としたとき、ω2 −ω1 =ω12を満たすようなω1 、
ω2 をそれぞれ選択する。
合についてもΛ型励起の場合と同様、EIT層23に2
本の光21,22を照射しているときには、EIT層2
3中の大部分の擬原子でΔω1 =Δω2 となる。
はともにEIT層23で吸収されてほとんど透過しない
が、ω2 −ω1 =ω12を満たす特定の大きさの外場を印
加した場合にはEIT層23での光吸収が抑制されるた
め、光21,22ともに大きな光出力が得られるように
なる。これより、外場の大きさを操作することで光の透
過強度を変調させることが可能になる。
れない2準位に関して、まず準位間エネルギーを求め、
この値を基に2本の光21,22の光子エネルギー
ω1 、ω2 を決定しなければならない。
制であるため通常の光吸収や蛍光測定では観測が難しい
が、2光子吸収等を利用すれば正確な準位間エネルギー
や不均一広がりの大きさなども実験的に決定することが
可能である。
子は、図24に示した光変調素子をより具体化した例で
ある。すなわち、本実施形態では、EIT層23の材料
としてGd3+が不純物として1mol%分散しているL
iYF4 を用いている。また、光21,22としては光
子エネルギーω1 、ω2 がともに〜32100cm-1の
色素レーザー光を用い、フォトダイオード29,30と
してはSiフォトダイオードを用いている。また、電源
26としては直流電源装置を用いている。
場を印加した際のGd3+不純物のエネルギー準位を用
い、具体的には、図26に示すように、一番上の準位1
には 6P7/2 準位を用い、そして、真ん中の準位2と一
番下の準位3には 8S準位を用いた。
退しているが、電圧印加時にはシュタルク効果によって
内磁気量子数MJ の絶対値が異なる4つの準位に分裂す
る。
ネルギーの小さい 8S(a)準位と8S(b)準位の2
つの準位を選択した。
位に関して、 6P7/2 ・ 8S(a)準位間と 6P7/2 ・
8S(b)準位間をΛ型に光励起した。
2間の 8S(a)→ 6P7/2 遷移に対応するものを選
び、光22の光子エネルギーω2 には準位1、3間の 8
S(b)→ 6P7/2 遷移に対応するものを選択した。
2 ーω1 が準位2、3間の準位間エネルギーの中心値ω
23と一致するように調整した。なお、EIT層23に入
力する光21,22の強度はともに1Wとした。
照射した状態で、印加電圧を変化させながら分裂した 8
S(a)・ 8S(b)準位間のマイクロ波吸収を測定
し、電圧に依存してω23の値がどの様に変化するかを調
べた結果を示す。
してある。また、図27には、 8S(a)・ 8S(b)
準位間のマイクロ波吸収に関する典型的な吸収スペクト
ルも示してある。
m-1を選択している。これより、LiYF4 には〜10
5 V/cmの電界強度がかかるように印加電圧の値を設
定した。
準位間の不均一広がりに対応し、その値はおよそ0.0
01cm-1であった。このことから、電圧印加によって
分裂した準位を利用することにより、光で結ばれない準
位間に小さな不均一広がりを持つΛ型3準位系を設定で
きることが分かる。
21の有無による光22の透過強度を調べた。まず、光
21が無い場合には、光22はEIT層23で吸収され
るため、光22の出力強度は入力に対して約5%にまで
減少した。
して約72%の出力強度が得られ、光21が無い場合と
比較して光22は透過しやすくなることが確かめられ
た。
固定した状態で、光22の光子エネルギーω2 を変えな
がら準位3から準位1への 8S(b)→ 6S遷移の吸収
スペクトルを調べた結果を示す。なお、光21の光子エ
ネルギーω1 はおよそ32100cm-1である。
準位間エネルギーの中心値ω23と一致する光子エネルギ
ー〜0.1cm-1で、光22の吸収は大きく減少するこ
とが分かる。このことから、本現象がEITに由来する
ことが理解される。
値をゼロに変えた以外は、第6の実施形態と全く同様の
構成の光変調素子を用いて光21の有無による光22の
透過強度を調べた。なお、ω2 −ω1 は第6の実施形態
と同様、0.1cm-1に調整してある。
の実施形態の場合と同様、光22の出力強度は入力に対
して約5%にまで減少した。一方、光21を入れた場
合、今度は第6の実施形態の場合とは異なり、入力に対
してやはり5%程度の出力強度しか得られなかった。以
上の結果から、本比較例では、光21の有無によらず、
光22はほとんど透過しないことが分かった。
かるように、電圧がゼロの場合には大多数のGd3+不純
物でΔω1 =Δω2 が成立していない。このため、2本
の光を入力してもEIT層で吸収されてしまうため、出
力強度が増加しなかったことが分かる。
現させるには、3準位の中でも特に光で結ばれない準位
間の不均一広がりを十分考慮した上で光励起を行う準位
を選択する必要が有ることが分かる。
布の制御を行うと、光で結ばれない準位間に関して極め
て小さな不均一広がりを設定することができ、したがっ
て、良好なEIT特性を得られることが理解される。
子は、図24に示した光変調素子をより具体化した例で
ある。すなわち、EIT層23としてPr3+が不純物と
して1mol%分散しているLaCl3 を用いている。
また、光21,22として光子エネルギーω1 、ω2 が
ともに〜16630cm-1の色素レーザー光を用い、フ
ォトダイオード29,30としてはSiフォトダイオー
ドを用いている。また、電源26としては直流電源装置
を用いている。
場を印加した際のPr3+不純物のエネルギー準位を用
い、具体的には、図29に示すように、一番上の準位1
には 1D2 準位を用い、真ん中の準位2と一番下の準位
3には 3H4 準位のうち既に結晶場で分裂した6つの準
位の中で最もエネルギーの低い 3H4 (μ=2)準位を
選択した。
位は2重に縮退しているが、この準位は非クラマース2
重項であるため電圧印加時には分裂する。準位2と準位
3には、この 3H4 (μ=2)準位から分裂した 3H4
(a)準位と 3H4 (b)準位の2つの準位を用いた。
位に関して、 1D2 ・ 3H4 (a)準位間と 1D2 ・ 3
H4 (b)準位間をΛ型に光励起した。
2間の 3H4 (a)→ 1D2 遷移に対応するものを選
び、光22の光子エネルギーω2 には準位1、3間の 3
H4 (b)→ 1D2 遷移に対応するものを選択した。
2 ーω1 が準位2、3間の準位間エネルギーの中心値ω
23と一致するように調整した。なお、EIT層23に入
力する光21,22の強度はともに1Wとした。
照射した状態で、印加電圧を変化させながら分裂した 3
H4 (a)・ 3H4 (b)準位間のマイクロ波吸収を測
定し、電圧に依存してω23の値がどの様に変化するかを
調べた結果を示す。
る。また、図30には、 3H4 (a)・ 3H4 (b)準
位間のマイクロ波吸収に関する典型的な吸収スペクトル
も示してある。
m-1を選択している。これより、LaF3 には〜5×1
04 V/cmの電界強度がかかるように印加電圧の値を
設定した。
4 (b)準位間の不均一広がりに対応し、その値はおよ
そ0.0008cm-1であった。このことから、電圧印
加によって分裂した準位を利用することにより、光で結
ばれない準位間に小さな不均一広がりを持つΛ型3準位
系を設定できることが分かる。
21の有無による光22の透過強度を調べた。まず、光
21が無い場合には、光22はEIT層23で吸収され
るため、光22の出力強度は入力に対して約12%にま
で減少した。
約69%の出力強度が得られ、光21が無い場合と比較
して光22は透過しやすくなることが確かめられた。
固定した状態で、光22の光子エネルギーω2 を変えな
がら準位3から準位1への 3H4 (b)→ 1D2 遷移の
吸収スペクトルを調べた結果を示す。なお、光21の光
子エネルギーω1 はおよそ16630cm-1である。
準位間エネルギーの中心値ω23と一致する光子エネルギ
ー〜0.07cm-1で、光22の吸収は大きく減少する
ことが分かった。このことから、本現象がEITに由来
することが理解される。
値をゼロに変えた以外は、第7の実施形態と全く同様の
構成の光変調素子を用いて光21の有無による光22の
透過強度を調べた。なお、ω2 −ω1 は第7の実施形態
と同様、0.07cm-1に調整してある。まず、光21
が無い場合については、第7の実施形態の場合と同様、
光22の出力強度は入力に対して約12%にまで減少し
た。次に、光21を入れた場合、今度は第7の実施形態
とは異なり、入力に対してやはり12%程度の出力強度
しか得られなかった。以上の結果から、本比較例では光
21の有無によらず、光22はほとんど透過しないこと
が分かった。
かるように、電圧がゼロの場合には大多数のPr3+不純
物でΔω1 =Δω2 が成立していない。このため、2本
の光を入力してもEIT層で吸収されてしまうため、出
力強度が増加しなかったことが分かる。
ネルギー分布の制御を行うと、光で結ばれない準位間に
関して極めて小さな不均一広がりを設定することがで
き、したがって良好なEIT特性を得られることが理解
される。
子は、図24に示した光変調素子をより具体化した例で
ある。すなわち、本実施形態では、EIT層23の材料
としてEu3+が不純物として1mol%分散しているY
2 O3 を用いている。また、光21,22としては光子
エネルギーω1 、ω2 がともに〜19025cm-1の色
素レーザー光を用い、フォトダイオード29,30とし
てはSiフォトダイオードを用いている。また、電源2
6としては直流電源装置を用いている。
を印加した際のEu3+不純物のエネルギー準位を用い、
具体的には、図32に示すように、一番上の準位1と真
ん中の準位2には 5D1 準位を用い、一番下の準位3に
は 7F0 準位を選択した。
縮退しているが、電圧印加時には2つの準位に分裂す
る。準位1と準位2には、この 5D1 準位から分裂した
5D1(a)準位と 5D1 (b)準位の2つの準位を用
いた。なお、 7F0 準位は1重項である。
位に関して、 5D1 (a)・ 7F0準位間と 5D
1 (b)・ 7F0 準位間をV型に光励起した。
3間の 7F0 → 5D1 (b)遷移に対応するものを選
び、光22の光子エネルギーω2 には準位1、3間の 7
F0 →5D1 (a)遷移に対応するものを選択した。
2 ーω1 が準位1、2間の準位間エネルギーの中心値ω
12と一致するように調整した。なお、EIT層23に入
力する光21,22の強度はともに1Wとした。
ーザー光で光励起を行い、さらに一定の波長を持つマイ
クロ波を照射した状態で、印加電圧を変化させながら分
裂した 5D1 (a)・ 5D1 (b)準位間のマイクロ波
吸収を測定し、電圧に依存してω12の値がどの様に変化
するかを調べた結果を示す。
る。また、図33には、 5D1 (a)・ 5D1 (b)準
位間のマイクロ波吸収に関する典型的な吸収スペクトル
を示してある。
cm-1を選択している。これより、Y2 O3 には〜7×
104 V/cmの電界強度がかかるように印加電圧の値
を設定した。
1 (b)準位間の不均一広がりに対応し、その値はおよ
そ0.003cm-1であった。このことから、電圧印加
によって分裂した準位を利用することにより、光で結ば
れない準位間に小さな不均一広がりを持つV型3準位系
を設定できることが分かる。
21の有無による光22の透過強度を調べた。まず、光
21が無い場合は光22はEIT層23で吸収されるた
め、光22の出力強度は入力に対して約15%にまで減
少した。
約81%の出力強度が得られ、光21が無い場合と比較
して光22は透過しやすくなることが確かめられた。
固定した状態で、光22の光子エネルギーω2 を変えな
がら準位3から準位1への 7F0 → 5D1 (a)遷移の
吸収スペクトルを調べた結果を示す。なお、光21の光
子エネルギーω1 はおよそ19025cm-1である。
準位間エネルギーの中心値ω12と一致する光子エネルギ
ー〜0.12cm-1で、光2の吸収は大きく減少するこ
とが分かった。このことから、本現象がEITに由来す
ることが理解される。
をゼロに変えた以外は、本実施形態と全く同様の構成の
光変調素子を用いて光21の有無による光22の透過強
度を調べた。なお、ω2 −ω1 は本実施形態と同様、
0.12cm-1に調整してある。
の実施形態と同様、光22の出力強度は入力に対して約
15%にまで減少した。一方、光21を入れた場合、今
度は第7の実施形態とは異なり入力に対してやはり15
%程度の出力強度しか得られなかった。以上の結果か
ら、本比較例では光21の有無によらず、光22はほと
んど透過しないことが分かった。
かるように、電圧がゼロの場合には大多数のEu3+不純
物でΔω1 =Δω2 が成立していない。このため、2本
の光を入力してもEIT層で吸収されてしまうため、出
力強度が増加しなかったことが分かる。
ネルギー分布の制御を行うと、光で結ばれない準位間に
関して極めて小さな不均一広がりを設定することがで
き、したがって良好なEIT特性を得られることが理解
される。
子は、図24に示した光変調素子をより具体化した例で
ある。すなわち、本実施形態では、EIT層23の材料
としてSm2+が不純物として1mol%分散しているB
aClFを用いている。また、光21,22としては光
子エネルギーω1 、ω2 がともに〜15870cm-1の
色素レーザー光を用い、フォトダイオード29,30と
してはSiフォトダイオードを用いている。また、電源
6としては直流電源装置を用いている。
場を印加した際のSm2+不純物のエネルギー準位を用
い、具体的には、図35に示すように、一番上の準位1
と真ん中の準位2には 5D1 準位を用い、一番下の準位
3には 7F0 準位を選択した。電圧がゼロの場合には 5
D1 準位は3重に縮退しているが、電圧印加時には2つ
の準位に分裂する。準位1と準位2には、この 5D1 準
位から分裂した 5D1(a)準位と 5D1 (b)準位の
2つの準位を用いた。なお、 7F0 準位は1重項であ
る。
位に関して、 5D1 (a)・ 7F0準位間と 5D
1 (b)・ 7F0 準位間をV型に光励起した。
3間の 7F0 → 5D1 (b)遷移に対応するものを選
び、光22の光子エネルギーω2 には準位1、3間の 7
F0 →5D1 (a)遷移に対応するものを選択した。
2 ーω1 が準位1、2間の準位間エネルギーの中心値ω
12と一致するように調整した。なお、EIT層3に入力
する光21,22の強度はともに1Wとした。
ーザー光で光励起を行い、さらに一定の波長を持つマイ
クロ波を照射した状態で、印加電圧を変化させながら分
裂した 5D1 (a)・ 5D1 (b)準位間のマイクロ波
吸収を測定し、電圧に依存してω12の値がどの様に変化
するかを調べた結果を示す。
してある。また、図37には、 5D1 (a)・ 5D
1 (b)準位間のマイクロ波吸収に関する典型的な吸収
スペクトルも示してある。
06cm-1を選択している。これより、BaClFには
〜3×104 V/cmの電界強度がかかるように印加電
圧の値を設定した。
1 (b)準位間の不均一広がりに対応し、その値はおよ
そ0.009cm-1であった。このことから、電圧印加
によって分裂した準位を利用することにより、光で結ば
れない準位間に小さな不均一広がりを持つV型3準位系
を設定できることが分かる。
21の有無による光22の透過強度を調べた。まず、光
21が無い場合は光22はEIT層23で吸収されるた
め、光22の出力強度は入力に対して約10%にまで減
少した。
約77%の出力強度が得られ、光21が無い場合と比較
して光22は透過しやすくなることが確かめられた。
固定した状態で、光22の光子エネルギーω2 を変えな
がら準位3から準位1への 7F0 → 5D1 (a)遷移の
吸収スペクトルを調べた結果を示す。なお、光21の光
子エネルギーω1 はおよそ15870cm-1である。
準位間エネルギーの中心値ω12と一致する光子エネルギ
ー〜0.06cm-1で、光22の吸収は大きく減少する
ことが分かった。このことから、本現象がEITに由来
することが理解される。
値をゼロに変えた以外は、第9の実施形態と全く同様の
構成の光変調素子を用いて光21の有無による光22の
透過強度を調べた。なお、ω2 −ω1 は第8の実施形態
と同様、0.06cm-1に調整してある。まず、光21
が無い場合については、第9の実施形態の場合と同様、
光22の出力強度は入力に対して約10%にまで減少し
た。一方、光21を入れた場合、今度は第9の実施形態
とは異なり、入力に対してやはり10%程度の出力強度
しか得られなかった。以上の結果から、本比較例では光
21の有無によらず、光22はほとんど透過しないこと
が分かった。
かるように、電圧がゼロの場合には大多数のSm2+不純
物でΔω1 =Δω2 が成立していない。このため、2本
の光を入力してもEIT層で吸収されてしまうため、出
力強度が増加しなかったことが分かる。
ネルギー分布の制御を行うと、光で結ばれない準位間に
関して極めて小さな不均一広がりを設定することがで
き、したがって良好なEIT特性を得られることが理解
される。
第10の実施形態に係わる光変調素子を模式的に示した
図である。
光21,22の透過強度を変調するEIT層23と、こ
のEIT層23を挟む2枚の電磁石11,12と、これ
ら電磁石11,12の間に電圧を印加してEIT層23
に与えられる外場としての磁場の大きさを制御するため
の図示しない電源と、EIT層23に光21,22をそ
れぞれ入力する光ファイバー27,28と、EIT層2
3から出力された2本の光の透過強度をそれぞれ測定す
るフォトダイオード29,30とから構成されている。
れ出された光21,22のうち、Λ型励起では準位1、
2間を励起する光21、V型励起では準位2、3間を励
起する光21がEIT層23の全体を照射する。また、
EIT層23に照射する2本の光21,22はともにレ
ーザー光である。
てEr3+が不純物として1mol%分散しているY3 A
l5 O12を用いている。また、光21,22としては光
子エネルギーω1 、ω2 がともに〜18030cm-1の
色素レーザー光を用い、フォトダイオード29,30と
してはSiフォトダイオードを用いている。
に磁場を印加した際のEr3+不純物のエネルギー準位を
用い、具体的には、図39に示すように、一番上の準位
1には 4S3/2 準位を用い、真ん中の準位2と一番下の
準位3には 4I15/2準位の中でも結晶場により分裂した
4I15/2(Z1)準位を選択した。
位は2重に縮退しているが、磁場印加時にはこの縮退は
解けて分裂する。準位2と準位3には、この 4I
15/2(Z1)準位から分裂した 4I15/2(a)準位と 4
I15/2(b)準位の2つの準位を用いた。なお、 4S
3/2 準位には4つのエネルギー準位が存在するが、この
中でも最もエネルギーの低い準位を用いた。
位に関して、 4S3/2 ・ 4I15/2(a)準位間と 4S
3/2 ・ 4I15/2(b)準位間をΛ型に光励起した。
2間の 4I15/2(a)→ 4S3/2 遷移に対応するものを
選び、光22の光子エネルギーω2 には準位1、3間の
4I15/2(b)→ 4S3/2 遷移に対応するものを選択し
た。
2 ーω1 が準位2、3間の準位間エネルギーの中心値ω
23と一致するように調整した。なお、EIT層23に入
力する光21,22の強度はともに1Wとした。
照射した状態で、外部磁場の大きさを変化させながら分
裂した 4I15/2(a)・ 4I15/2(b)準位間のマイク
ロ波吸収を測定し、磁場電圧に依存してω23の値がどの
様に変化するかを調べた結果を示す。
15/2(b)準位間のマイクロ波吸収に関する典型的な吸
収スペクトルも示してある。
-1を選択している。これより、Y3Al5 O12に〜30
0mTの磁場がかかるように電磁石11,12を操作し
た。スペクトル線幅は 4I15/2(a)・ 4I15/2(b)
準位間の不均一広がりに対応し、その値はおよそ0.0
3cm-1であった。このことから、磁場印加によって分
裂した準位を利用することにより、光で結ばれない準位
間に小さな不均一広がりを持つΛ型3準位系を設定でき
ることが分かる。
21の有無による光22の透過強度を調べた。まず、光
21が無い場合には、光22はEIT層23で吸収され
るため、光22の出力強度は入力に対して約6%にまで
減少した。
して約84%の出力強度が得られ、光21が無い場合と
比較して光22は透過しやすくなることが確かめられ
た。
固定した状態で、光22の光子エネルギーω2 を変えな
がら準位3から準位1への 4I15/2(b)→ 4S3/2 遷
移の吸収スペクトルを調べた結果を示す。なお、光21
の光子エネルギーω1 はおよそ18030cm-1であ
る。
準位間エネルギーの中心値ω23と一致する光子エネルギ
ー〜0.3cm-1で、光22の吸収は大きく減少するこ
とが分かった。このことから、本現象がEITに由来す
ることが理解される。
部磁場の値をゼロに変えた以外は、第10の実施形態と
全く同様の構成の光変調素子を用いて光21の有無によ
る光22の透過強度を調べた。なお、ω2 −ω1 は第6
の実施形態と同様、0.3cm-1に調整してある。
0の実施形態と同様、光22の出力強度は入力に対して
約6%にまで減少した。一方、光21を入れた場合、今
度は第10の実施形態とは異なり、入力に対してやはり
6%程度の出力強度しか得られなかった。以上の結果か
ら、本比較例では、光21の有無によらず、光22はほ
とんど透過しないことが分かった。
かるように、磁場の大きさがゼロの場合には大多数のE
r3+不純物でΔω1 =Δω2 が成立していない。このた
め、2本の光を入力してもEIT層で吸収されてしまう
ため、出力強度が増加しなかったことがわかる。
によって準位間エネルギー分布の制御を行うと、光で結
ばれない準位間に関して極めて小さな不均一広がりを設
定することができ、したがって良好なEIT特性を得ら
れることが理解される。
素子は、図38に示した光変調素子をより具体化した例
である。すなわち、EIT層23として、InAs層、
GaSb層の層厚ともに10nmで、超格子全体の厚み
が2μmであるInAs/GaSb超格子を用いてい
る。図42にここで用いたInAs/GaSb超格子3
0の断面図を示す。また、光21,22としては光子エ
ネルギーω1 、ω2 がともに100cm-1程度の水蒸気
レーザ光を用い、さらにEIT層23から出力された2
本の光の強度を、フォトダイオードに変えて2個のカー
ボンボロメータでそれぞれ測定する構成とした。
磁場印加は電磁石31,32を操作することにより行な
った。また、磁場は超格子に対して垂直方向に印加し
た。また、超格子30はGaSb基板33上に形成し
た。
Sb超格子30に磁場を印加した際の量子準位を用い、
具体的には、図43に示すように、一番上の準位1と真
ん中の準位2にはInAs層中のE1 準位を用い、一番
下の準位3にはGaSb層中のH1 準位を選択した。磁
場がゼロの場合にはE1 準位、H1 準位はそれぞれ縮退
しているが、磁場を超格子に対して垂直方向に印加した
場合は各準位は完全に離散的なランダウ準位に分裂す
る。準位1と準位2には、このE1 準位から分裂したE
1 (N=16)準位とE1 (N=15)準位の二つの準
位を用い、準位3にはH1 準位から分裂したH1 (N=
16)準位を用いた。
位に関して、E1 (N=16)・H1 (N=16)準位
間とE1 (N=15)・H1 (N=15)準位間をV型
に光励起した。
3間のH1 (N=16)→E1 (N=15)遷移に対応
するものを選び、光22の光子エネルギーω2 には準位
1・3間のH1 (N=16)→E1 (N=16)遷移に
対応するものを選択した。
2 −ω1 が準位間エネルギーの中心値ω12と一致するよ
うに調整した。なお、EIT層23に入力する光11,
12の強度はともに1Wとした。ここで、E1 準位(H
1 準位)から分裂したランダウ準位(N=0,1,2,
3,...,15,16,...)では、隣り合う準位
間の準位間エネルギーはNによらず一定で、また、その
大きさは磁場の強さに比例して増加する。
サイクロトロン共鳴の実験からE1に関するランダウ準
位間の準位間エネルギーの磁場依存性を求め、磁場電圧
に依存してω12の値がどの様に変化するかを調べた結果
を示す。なお、図44には、〜1Tの磁場を印加した際
のE1 (N=11)・E1 (N=12)準位間のサイク
ロトロン共鳴に関するスペクトルも示してある。
cm-1を選択している。これより、InAs/GaSb
超格子30に〜1Tの磁場がかかるように電磁石31,
32を操作した。
(N=12)準位間の不均一広がりに対応し、その値は
およそ0.5cm-1であった。先にも述べたように、ラ
ンダウ準位間の準位間エネルギーはNによらず一定であ
るため、〜1Tの磁場印加時におけるE1 (N=15)
・E1 (N=16)準位間の不均一広がりもまた0.5
cm-1程度である。
準位を利用することにより、光で結ばれない準位間に小
さな不均一広がりを持つV型3準位系を設定できること
が分かる。
て、光21の有無による光22の透過強度を調べた。ま
ず、光21が無い場合は光22はEIT層23で吸収さ
れるため、光22の出力強度は入力に対して約36%に
まで減少した。
約91%の出力強度が得られ、光21が無い場合と比較
して光22は透過しやすくなることが確かめられた。
固定した状態で、光22の光子エネルギーω2 を変えな
がら準位3から準位1へのH1 (N=16)→E1 (N
=16)遷移の吸収スペクトルを調べた結果を示す。な
お、光21の光子エネルギーω1 はおよそ100cm-1
である。
準位間エネルギーの中心値ω12と一致する光子エネルギ
ー〜10cm-1で、光22の吸収は大きく減少すること
が分かった。このことから、本現象がEITに由来する
ことが理解される。
外部磁場の値をゼロに変えた以外は、第9の実施形態と
全く同様の構成の光変調素子を用いて光21の有無によ
る光22の強度透過を調べた。なおω2 −ω1 は第11
の実施形態と同様、10cm-1に調整してある。
1の実施形態と同様、光22の出力強度は入力に対して
約36%にまで減少した。一方、光21を入れた場合、
今度は第11の実施形態とは異なり入力に対してやはり
36%程度の出力強度しか得られなかった。以上の結果
から、本比較例では光21の有無によらず、光22はほ
とんど透過しないことが分かった。
かるように、磁場の大きさがゼロの場合にはランダウ準
位が形成されず、Δω1 =Δω2 が成立していない。こ
のため、2本の光を入力しても出力強度が増加しなかっ
たことが分かる。
によって準位間エネルギー分布の制御を行うと、光で結
ばれない準位間に関して極めて小さな不均一広がりを設
定することができ、したがって良好なEIT特性を得ら
れることが理解される。
第12の実施形態に係わる光変調素子を模式的に示す図
である。
量子箱等の量子構造を有し、シグナル光51の透過強度
を変調するEIT層52と、このEIT層52に接して
設けられ、EIT層52にゲート光53を入力する半導
体レーザー(不図示)と、EIT層52にシグナル光5
1を導いて入力する光ファイバー54と、EIT層52
から出力されたシグナル光51の強度を測定するフォト
ダイオード55と、EIT層52から出力されたゲート
光53の強度を測定するフォトダイオード56とから構
成されている。
られている。また、上記半導体レーザーから出されるゲ
ート光53は光ファイバー57によりEIT層52に導
かれ、EIT層52の全体を照射するようになってい
る。また、シグナル光51はレーザー光である。
位とゲート光53,シグナル光51との関係を模式的に
示したものである。
T層52に用いる材料としては、準位2・準位3間の準
位間エネルギーの標準偏差σ23が、準位1・準位2間の
準位間エネルギーの標準偏差σ12、準位1・準位3間の
準位間エネルギーの標準偏差σ13に対して、σ23≦σ12
およびσ23≦σ13を満足する系を選択する。
義されている。
12(i)はi番目(i=1〜N)の量子構造の量子井戸
の第1の準位と第2の準位との間の準位間エネルギー、
ω13(i)はi番目(i=1〜N)の量子構造の量子井
戸の第1の準位と第3の準位との間の準位間エネルギ
ー、ω23(i)はi番目(i=1〜N)の量子構造の量
子井戸の第2の準位と第3の準位との間の準位間エネル
ギー、<ω12>はN個全ての量子構造の量子井戸につい
てのω12(i)の平均値、<ω13>はN個全ての量子構
造の量子井戸についてのω13(i)の平均値、<ω23>
はN個全ての量子構造の量子井戸についてのω23(i)
の平均値である。
を励起し、シグナル光51が準位1・準位3間を励起
し、かつゲート光53、シグナル光51の光子エネルギ
ーをそれぞれω1 、ω2 とし、準位2・準位3間のエネ
ルギー差の中心値をω23としたときに、ゲート光53、
シグナル光51がω2 −ω1 =ω23を満足するようにす
る。
IT層52にゲート光53およびシグナル光51が照射
されているときには、EIT層52中の大部分の擬原子
はΔω1 =Δω2 を満足する。
シグナル光51はEIT層52で吸収されてほとんど透
過しないが、ゲート光53が有るときにはEIT層52
でのシグナル光51の吸収が抑制されるため、大きな光
出力が得られる。
合、EIT層52に用いる材料としては、準位1・準位
2間の準位間エネルギーの標準偏差σ12が、準位1・準
位3間の準位間エネルギーの標準偏差σ13,準位2・3
間の準位間エネルギーの標準偏差σ23に対して、σ12≦
σ13およびσ12≦σ23を満足する系を選択する。
を励起し、シグナル光51が準位1・準位3間を励起
し、かつゲート光53、シグナル光51の光子エネルギ
ーをそれぞれω1 、ω2 とし、準位1・準位2間のエネ
ルギー差の中心値をω12としたときに、ゲート光53、
シグナル光51がω2 −ω1 =ω12を満足するようにす
る。
EIT層52にゲート光53およびシグナル光51が照
射されているときには、EIT層52中の大部分の擬原
子がΔω1 =Δω2 を満足する。
シグナル光51はEIT層52で吸収されてほとんど透
過しないが、ゲート光53が有るときにはEIT層52
でのシグナル光51の吸収が抑制されるため、大きな光
出力が得られる。
れない2準位に関して、まず、準位間エネルギーを求
め、この値を基にゲート光53、シグナル光51のそれ
ぞれの光子エネルギーω1 ,ω2 を決定しなければなら
ない。
制であるため通常の光吸収や蛍光測定では観測が難しい
が、2光子吸収等を利用すれば正確な準位間エネルギー
や不均一広がりの大きさなども実験的に決定することが
可能である。
素子は、図46に示した光変調素子をより具体化した例
である。すなわち、本実施形態の光変調素子は、EIT
層52としてGaAs/AlGaAs超格子を用い、ゲ
ート光53の光源およびシグナル光51の光源として色
素レーザーを用い、フォトダイオード55,56として
Siフォトダイオードを用いた構成となっている。
AlGaAs超格子の断面構造を示す。
基板上に形成されており、量子井戸層であるGaAs層
の厚みは30nm、量子障壁層であるAlGaAs層の
厚みは30nmである。また、GaAs/AlGaAs
超格子の全体の厚さは6μmである。
厚くすることで、量子井戸間の電子的な結合を抑え、エ
ネルギー準位のボケにつながるサブバンド形成を抑制し
ている。また、GaAs基板による光吸収を抑制するた
めに、一部基板をエッチングして、超格子にのみ光が照
射するようにしてある。なお、不純物のドーピングは行
なっていない。
層中の準位を用い、図49に示すように、一番上の準位
1には伝導帯中のEe2準位、真ん中の準位2と一番下の
準位3には価電子帯中のEhh1 準位とE1h1 準位をそれ
ぞれ選択した。
位に関して、Ee2・Ehh1 準位間とEe2・E1h1 準位間
をΛ型に光励起した。ゲート光の光子エネルギーω1 に
は準位1・2間のEhh1 →Ee2遷移に対応するものを選
び、シグナル光の光子エネルギーω2 には準位1・3間
のE1h1 →Ee2遷移に対応するものを選択した。
ω2 −ω1 が準位2・準位3間の準位間エネルギーの中
心値ω23と一致するように調整した。なお、ゲート光の
強度は1W、また、EIT層に入力するシグナル光の強
度は1mWとした。
て、ゲート光の有無によるシグナル光の透過光強度を調
べた。
ル光はEIT層で吸収され、シグナル光の出力強度は、
シグナル光の入力強度の約3%となり、低い値にまで減
少した。
の出力強度は、シグナル光の入力強度の約45%とな
り、ゲート光が無い場合と比較して、シグナル光は透過
しやすくなることを確認した。
(周波数)を固定した状態で、シグナル光の光子エネル
ギーω2 (周波数)を変えながら、準位3から準位1へ
の吸収スペクトルを調べた結果を示す。なお、光子エネ
ルギーω1 は14085.4989cm-1である。
間の準位間エネルギーの中心値ω23と一致する光子エネ
ルギー付近で、シグナル光の光吸収は大きく減少するこ
とがわかる。このことから、本現象がEITに由来する
ことが理解される。
素子は、図46に示した光変調素子をより具体化した例
である。すなわち、本実施形態の光変調素子は、EIT
層52としてInGaN/AlGaN超格子を用い、ゲ
ート光53の光源およびシグナル光51の光源として色
素レーザーを用い、フォトダイオード55,56として
Siフォトダイオードを用いた構成となっている。
/AlGaN超格子の断面構造を示す。
ア基板上に形成されており、量子井戸層であるInGa
N層の厚みは30nm、量子障壁層であるAlGaN層
の厚みは30nmである。また、InGaN/AlGa
N超格子の全体の厚さは6μmである。また、基板によ
る光吸収を抑制するために、一部基板をエッチングし
て、超格子にのみ光が照射するようにしてある。
厚くすることで量子井戸間の電子的な結合を抑え、エネ
ルギー準位のボケにつながるサブバンド形成を抑制して
いる。なお、不純物のドーピングは行なっていない。
層中の準位を用い、図52に示すように、一番上の準位
1と真ん中の準位2には伝導帯中のEe2準位とEe1準
位、一番下の準位3には価電子帯中のEhh3 準位をそれ
ぞれ選択した。
位に関して、Ee1・Ehh3 準位間とEe2・Ehh3 準位間
をV型に光励起した。ゲート光の光子エネルギーω1 に
は準位2・3間のEhh3 →Ee1遷移に対応するものを選
び、シグナル光の光子エネルギーω2 には準位1・3間
のEhh3 →Ee2遷移に対応するものを選択した。
ω2 −ω1 が準位1・準位2間の準位間エネルギーの中
心値ω12と一致するように調整した。なお、ゲート光の
強度は1W、また、EIT層に入力するシグナル光の強
度は1mWとした。
て、ゲート光の有無によるシグナル光の透過光強度を調
べた。
光はEIT層で吸収されるため、シグナル光の出力強度
は、シグナル光の入力強度の約3%となり、低い値にま
で減少した。
の出力強度は、シグナル光の入力強度の約45%とな
り、ゲート光が無い場合と比較して、シグナル光は透過
しやすくなることを確認した。
(周波数)を固定した状態で、シグナル光の光子エネル
ギーω2 (周波数)を変えながら、準位3から準位1へ
の吸収スペクトルを調べた結果を示す。なお、ゲート光
の周波数ω1 は28122.5487cm-1である。
間の準位間エネルギーの中心値ω12と一致する光子エネ
ルギー付近で、シグナル光の光吸収は大きく減少するこ
とがわかった。このことから、本現象がEITに由来す
ることが理解される。
素子は、図46に示した光変調素子をより具体化した例
である。すなわち、本実施形態の光変調素子は、EIT
層52としてZnSe/MgZnSeS超格子を用い、
ゲート光53の光源およびシグナル光51の光源として
色素レーザーを用い、フォトダイオード55,56とし
てSiフォトダイオードを用いた構成となっている。
MgZnSeS超格子の断面構造を示す。
e基板上に形成されており、量子井戸層であるZnSe
層の厚みは30nm、量子障壁層であるMgZnSeS
層の厚みは30nmである。また、ZnSe/MgZn
SeS超格子の全体の厚さは6μmである。
厚くすることで、量子井戸間の電子的な結合を抑え、エ
ネルギー準位のボケにつながるサブバンド形成を抑制し
ている。なお、不純物のドーピングは行なっていない。
中の準位を用い、図55に示すように、一番上の準位1
と真ん中の準位2には伝導帯中のEe2準位とEe1準位、
一番下の準位3には価電子帯中のEhh3 準位をそれぞれ
選択した。
位に関して、Ee1・Ehh3 準位間とEe2・Ehh3 準位間
をV型に光励起した。ゲート光の光子エネルギーω1 に
は準位2・3間のEhh3 →Ee1遷移に対応するものを選
び、シグナル光の光子エネルギーω2 には準位1・3間
のEhh3 →Ee2遷移に対応するものを選択した。
ω2 −ω1 が準位1・準位2間の準位間エネルギーの中
心値ω12と一致するように調整した。なお、ゲート光の
強度は1W、また、EIT層に入力するシグナル光の強
度は1mWとした。
て、ゲート光の有無によるシグナル光の透過光強度を調
べた。
光はEIT層で吸収されるため、シグナル光の出力強度
は、シグナル光の入力強度の約3%となり、低い値にま
で減少した。
の出力強度は、シグナル光の入力強度の約45%とな
り、ゲート光が無い場合と比較して、シグナル光は透過
しやすくなることが確かめられた。
(周波数)は固定した状態で、シグナル光の光子エネル
ギーω2 (周波数)を変えながら準位3から準位1への
吸収スペクトルを調べた結果を示す。なお、ゲート光の
周波数ω1 は25069.8247cm-1である。
間の準位間エネルギーの中心値ω12と一致する光子エネ
ルギー付近で、ω2 の光吸収は大きく減少することがわ
かった。このことから、本現象がEITに由来すること
が理解される。
素子は、図46に示した光変調素子において、EIT層
52としてGaAs/AlGaAs超格子を用い、ゲー
ト光53の光源およびシグナル光51の光源として赤外
半導体レーザーを用い、そして、EIT層52の出力光
を測定するために、フォトダイオード55,56の代わ
りに、MCT検出器を用いた構成となっている。
AlGaAs超格子の断面構造を示す。
基板上に形成されており、量子井戸層であるGaAs層
の厚みは30nm、量子障壁層であるAlGaAs層の
厚みは30nmである。また、GaAs/AlGaAs
超格子の全体の厚さは6μmである。
厚くすることで、量子井戸間の電子的な結合を抑え、エ
ネルギー準位のボケにつながるサブバンド形成を抑制し
ている。なお、ドナー不純物であるSiをAlGaAs
層にドーピングすることでGaAs層の伝導帯に電子を
注入した。
の伝導帯中の準位を用い、図58に示すように、一番上
の準位1にはEe3準位、真ん中の準位2にはEe2準位、
一番下の準位3にはEe1準位を選択した。
位に関して、上記3つの準位に関して、Ee3・Ee2準位
間とEe3・Ee1準位間をΛ型に光励起した。ゲート光の
光子エネルギーω1 には準位1・2間のEe2→Ee3遷移
に対応するものを選び、シグナル光の光子エネルギーω
2 には準位1・3間のEe1→Ee3遷移に対応するものを
選択した。
ω2 −ω1 が準位2・3間の準位間エネルギーの中心値
ω23と一致するように調整した。なお、ゲート光の強度
は1W、また、EIT層に入力するシグナル光の強度は
1mWとした。
て、ゲート光の有無によるシグナル光の透過光強度を調
べた。
光はEIT層で吸収されるため、シグナル光の出力強度
は入力に対して約15%にまで減少した。
の出力強度は、シグナル光の入力強度約56%となり、
ゲート光が無い場合と比較して、シグナル光は透過しや
すくなることが確かめられた。
(周波数)は固定した状態で、シグナル光の光子エネル
ギーω2 (周波数)を変えながら準位3から準位1への
吸収スペクトルを調べた結果を示す。なお、ゲート光の
周波数ω1 は1024.5583cm-1である。
間の準位間エネルギーの中心値ω23と一致する光子エネ
ルギー付近で、ω2 の光吸収は大きく減少することがわ
かった。このことから、本現象がEITに由来すること
が理解される。
素子は、図46に示した光変調素子において、EIT層
52としてZnSe/MgZnSeS超格子を用いて、
ゲート光53の光源およびシグナル光51の光源として
赤外半導体レーザーを用い、そして、EIT層52の出
力光を測定するために、フォトダイオード55,56の
代わりに、MCT検出器を用いた構成となっている。
MgZnSeS超格子の断面構造を示す。
e基板上に形成されており、量子井戸層であるZnSe
層の厚みは30nm、量子障壁層であるMgZnSeS
層の厚みは30nmである。また、ZnSe/MgZn
SeS超格子の全体の厚さは6μmである。
厚くすることで、量子井戸間の電子的な結合を抑え、エ
ネルギー準位のボケにつながるサブバンド形成を抑制し
ている。なお、アクセプター性不純物であるNをZnS
e層にドーピングすることで価電子帯に正孔を注入し
た。
の価電子帯中の準位を用い、図61に示すように、一番
上の準位1にはEhh1 準位、真ん中の準位2にはElh1
準位、一番下の準位3にはEhh2 準位を選択した。
準位に関して、Elh1 ・Ehh2 準位間をV型に光励起し
た。ゲート光の光子エネルギーω1 には準位2・3間の
Ehh 2 →Elh1 遷移に対応するものを選び、シグナル光
の光子エネルギーω2 には準位1・3間のEhh2 →E
hh1 遷移に対応するものを選択した。
ω2 −ω1 が準位1・2間の準位間エネルギーの中心値
ω12と一致するように調整した。なお、ゲート光の強度
は1W、また、EIT層に入力するシグナル光の強度は
1mWとした。
て、ゲート光の有無によるシグナル光の透過強度を調べ
た。
光はEIT層で吸収されるため、シグナル光の出力強度
は入力に対して約11%にまで減少した。
の出力強度は、シグナル光の入力強度約51となり、ゲ
ート光が無い場合と比較して、シグナル光は透過しやす
くなることが確かめられた。
(周波数)は固定した状態で、シグナル光の光子エネル
ギーω2 (周波数)を変えながら準位3から準位1への
吸収スペクトルを調べた結果を示す。なお、ゲート光の
周波数ω1 は1115.6902cm-1である。
間の準位間エネルギーの中心値ω12と一致する周波数付
近で、ω2 の光吸収は大きく減少することがわかった。
このことから、本現象がEITに由来することが理解さ
れる。
調素子をより具体化した例である。すなわち、EIT層
52にはSi/NiSi2 量子井戸、ゲート光53の光
源およびシグナル光51の光源として半導体レーザーを
用いている。また、EIT層52から出力されるシグナ
ル光51の強度はMCPにより測定されるようになって
いる。
Si2 量子井戸の断面構造を示す。Si/NiSi2 量
子井戸はSi基板上に形成されており、量子井戸層であ
るNiSi2 層の厚みは5nm、障壁層であるSi層の
厚みは95nmである。
することで、量子井戸間の電子的な結合を抑え、エネル
ギー準位のボケにつながるサブバンド形成を抑制してい
る。なお、不純物としてSi層にBをドーピングし、N
iSi2 層への正孔注入を行なった。
2 層中の準位を用い、図71に示すように、一番上の準
位1にはEh1準位、真ん中の準位2にはEh2準位、一番
下の準位3にはEh3準位をそれぞれ選択した。
Eh1準位はNiSi2 層のフェルミ準位よりも高エネル
ギー、Eh2準位およびEh3準位はNiSi2 層のフェル
ミ準位よりも低エネルギーの準位である。
準位に関して、Eh1・Eh3準位間とEh2・Eh3準位とを
V型に光励起した。ゲート光の光子エネルギーω1 には
準位2・3間のEh3→Eh2遷移に対応するものを選び、
シグナル光の光子エネルギーω2 には準位1・3間のE
h3→Eh1に対応するものを選択した。
ω2 −ω1 が準位1・2間の準位間エネルギーの中心値
ω12と一致するように調整した。なお、ゲート光の強度
は1W、またEIT層に入力するシグナル光の強度は1
mWとした。
て、ゲート光の有無によるシグナル光の透過光強度を調
べた。
ル光はEIT層で吸収され、シグナル光の出力強度は、
シグナル光の入力強度の約12%となり、低い値にまで
減少した。
の出力強度は、シグナル光の入力強度の約54%とな
り、ゲート光が無い場合と比較して、シグナル光はは透
過しやすくなることを確かめられた。
(周波数)を固定した状態で、シグナル光の光子エネル
ギーω2 を変えながら、準位3から準位1への吸収スペ
クトルを調べた結果を示す。なお、ゲート光の光子エネ
ルギーω1 は2823.7011cm-1である。
準位間エネルギーの中心値ω12と一致する光子エネルギ
ー付近で、シグナル光の光吸収は大きく減少することが
わかった。このことから、本現象がEITに由来するこ
とが理解される。
7に示した光変調素子において、EIT層11にはCe
3+が不純物として1mol%分散しているYVO4 、ゲ
ート光源として半導体レーザーの第二高調波、入力シグ
ナル光Sinには色素レーザーの第二高調波をそれぞれ用
い、さらにEIT層11から出力されるシグナル光の強
度を測定するフォトダイオード14としてSiフォトダ
イオードを用いた構成とした。
O4 中のCe3+の不純物準位を用い、図67に示すよう
に一番上の準位1には電子配置(d) の 2E準位の中で結
晶場で分裂したC1位、真ん中の準位2には電子配置
(f) の2 F7/2 準位の中で同じく結晶場で分裂したB1
準位、一番下の準位3には基底状態である電子配置(f)
の 2F5/2 準位のうちやはり結晶場で分裂したA1準位
をそれぞれ選択した。
2F7/2 (b1)準位はΓ7 、 2F5/2(A1)準位もΓ7 であ
る。これより、準位1・2間の 2F7/2 (B1)→ 2E(C1)
遷移はΓ7 →Γ6 、準位1・3間の 2F5/2 (A1)→ 2
E(C1)遷移もΓ7 →Γ6 の遷移から構成され、準位2・
3間の 2F5/2 (A1)→ 2F7/2 (B1)遷移がΓ7 →Γ7の
遷移から構成されている。電気双極子遷移に関する光学
遷移の選択性からは、準位1・2間と準位1・3間の遷
移が許容で、準位2・3間の遷移が禁制となる。
位について、 2F5/2 (A1)・ 2E(C1)準位間と 2F7/2
(B1)・ 2E(C1)準位間をΛ型に光励起した。ゲート光の
光子エネルギーω1 は準位1・2間の 2F7/2 (B1)→ 2
E(C1)遷移に対応するものを選び、シグナル光の光子エ
ネルギーω2 は準位1・3間の 2F5/2 (A1)→ 2E(C1)
遷移に対応するものを選択した。
ω2 −ω1 が準位2・3間の準位間エネルギーの中心値
(2195cm-1)と一致するように調整した。なお、
ゲート光の強度は0.1W、またEIT層に入力するシ
グナル光の強度は1mWとした。
無によるシグナル光の透過光強度を調べた。まず、ゲー
ト光が無い場合はシグナル光はEIT層11で吸収され
るため、シグナル光の出力強度は入力に対して約2%に
まで減少した。次に、ゲート光を入れた場合は入力に対
して約81%の出力強度が得られ、ゲート光が無い場合
と比較してシグナル光は著しく透過しやすくなることが
確かめられた。
7/2 (B1)準位に代わり、同じ電子配置(f)であるが対
称性がΓ6 である 2F7/2 (B4)準位を用い、これに伴い
ゲート光の光子エネルギーω1 を準位1・2間の 2F
7/2 (B4)→ 2E(C1)遷移に対応するものに変えた以外
は、全く同様の構成の光変調素子を用いてゲート光の有
無によるシグナル光の透過光強度を調べた。なお、ω2
−ω1 は2428cm-1に調整してある。
様にシグナル光の出力強度は入力に対して約2%にまで
減少した。次に、ゲート光を入れた場合には、入力に対
して約24%の出力強度が得られ、ゲート光が無い場合
と比較してシグナル光は透過し易くなることが確かめら
れた。
(d)で特徴づけられる準位を用い、準位2および準位
3として電子配置(f)で特徴づけられる準位を用い
て、Λ型励起によりEITを引き起こす場合、準位2と
準位3の準位対称性が同じものを選んだときの方が、よ
り大きなEITシグナルが得られることがわかる。
の 2E準位の中で結晶場で分裂したC2準位(準位対称
性;Γ7 )を用い、準位2として同じく電子配置(d)
の 2E(1)準位を用い、これに伴いゲート光の光子エ
ネルギーω1 を準位1・2間の 2E(C1)→ 2E(C
2)遷移に対応するものに変え、さらにシグナル光の光
子エネルギーω2 を準位1・3間の 2F5/2 (A1)→
2E(C2)遷移に対応するものに変えて、ゲート光の
有無によるシグナル光の透過光強度を調べた。
ル光の出力強度は入力に対して約1%にまで減少した。
の出力強度は、シグナル光の入力強度約1%となり、ゲ
ート光が無い場合と同様に、低い値であった。
よらずシグナル光はほとんど透過しないことがわかっ
た。したがって、電子配置(d)と電子配置(f)で特
徴づけられる準位をそれぞれ混ぜて用い、Λ型励起でE
ITを引き起こす場合には、準位1だけに電子配置
(d)の準位を用い、準位2と準位3に電子配置(f)
の準位を用いることが極めて重要であることがわかる。
素子は、図7に示した光変調素子において、EIT層1
1としてCe3+が不純物として1mol%分散している
YPO4 、ゲート光の光源として半導体レーザーの第2
高調波、シグナル光の光源として色素レーザーの第2高
調波を用い、フォトダイオード14としてSiフォトダ
イオードを用いた構成となっている。
O4 中のCe3+の不純物準位を用い、図73に示すよう
に、一番上の準位1には電子配置(d)の 2T2 準位の
中で結晶場で分裂したD1 準位、真ん中の準位2には電
子配置(d)の 2E準位の中で同じく結晶場で分裂した
C1 準位、一番下の準位3には基底準位である電子配置
(f)の 2F5/2 準位のうちやはり結晶場で分裂したA
1 準位をそれぞれ選択した。また、各準位の対称性は、
2T2 (D1 )準位がΓ6 、 2E(C1 )準位もΓ6 、
2F5/2 (A1 )準位がΓ7 である。
2T2 (D1 )遷移はΓ6 →Γ6 の遷移から構成され、
準位1・3間の 2F5/2 (A1 )→ 2T2 (D1 )遷移
と準位2・3間の 2F5/2 (A1 )→ 2E(C1 )遷移
がΓ7 →Γ6 の遷移から構成されている。電気双極子遷
移に関する光学遷移の選択則からは、準位1・2間の遷
移が禁制で、準位1・3間と準位2・3間の遷移が許容
となる。
について、 2F5/2 (A1 )・ 2T2 (D1 )準位間と
2F5/2 (A1 )・ 2E(C1 )準位間をV型に光励起
した。ゲート光の光子エネルギーω1 は準位2・3間の
2F5/2 (A1 )→ 2E(C1 )遷移に対応する物を選
び、シグナル光の光子エネルギーω2 は準位1・3間の
2F5/2 (A1 )→ 2T2 (D1 )遷移に対応するもの
を選択した。
ω2 −ω1 が準位1・2間の準位間エネルギーの中心値
(9590cm-1)と一致するように調整した。なお、
ゲート光の強度は0.1W、またEIT層に入力するシ
グナル光の強度は1mWとした。
て、ゲート光の有無によるシグナル光の透過光強度を調
べた。
ル光はEIT層で吸収され、シグナル光の出力強度は、
シグナル光の入力強度の約3%となり、低い値にまで減
少した。
の出力強度は、シグナル光の入力強度の約64%とな
り、ゲート光が無い場合と比較して、シグナル光は著し
く透過しやすくなることを確認した。
(C1)準位の代わりに、同じ電子配置(d)であるが
対称性がΓ7 である 2E(C2)準位を用い、これに伴
いゲート光の光子エネルギーω1 を準位2・3間の 2F
5/2 (A1)→ 2E(C2)遷移に対応するものに変え
た以外は全く同様の構成の光変調素子を用いてゲート光
の有無によるシグナル光の透過光強度を調べた。なお、
ω2 −ω1 は7836cm-1に調整してある。
ル光の出力強度は、シグナル光の入力強度の約3%とな
り、低い値にまで減少した。
の出力強度は、シグナル光の入力強度の約18%とな
り、ゲート光が無い場合と比較して、シグナル光は透過
しやすくなることを確認した。
て電子配置(d)で特徴づけられる準位を用い、準位3
として電子配置(f)で特徴づけられる準位を用いてV
型励起によりEITを引き起こす場合、準位1と準位2
の準位対称性が同じものを選んだときの方が、より大き
なEITシグナルが得られることが分かる。
(f)の 2F7/2 準位の中で結晶場で分裂したB1 準位
を用い、これに伴いゲート光の光子エネルギーω1 を準
位2・3間の2 F5/2 (A1 )→ 2F7/2 (B1 )遷移
に対応するものに変えて、ゲート光の有無によるシグナ
ル光の透過強度を調べた。
ナル光の出力強度は、シグナル光の入力強度の約3%と
なり、低い値にまで減少した。
の出力強度は、シグナル光の入力強度の約3%となり、
低い値にまで減少した。
らずシグナル光はほとんど透過しないことがわかった。
したがって、電子配置(d)と電子配置(f)で特徴づ
けられる準位をそれぞれ混ぜて用い、V型励起でEIT
を引き起こす場合には、準位1と準位2に電子配置
(d)の準位を用い、準位3だけに電子配置(f)の準
位を用いることが極めて重要であることがわかる。
態の光素子の中から、Λ型3準位の中で準位1・2間を
仮想的に励起する制御光と、準位4を経由して準位3か
ら準位2へ電子をポンピングするポンプ光を用いること
で、反転分布無しでレーザー発振が可能になるLWIレ
ーザーを模式的に示したものである。
ミラー61で挟まれたEIT層62と、制御光をEIT
層62に入射する制御用の半導体レーザー63と、ポン
プ光をEIT層62に入射するポンプ用の半導体レーザ
ー64と、ミラー61から外に向けて出射されるLWI
レーザー光を検出するためのSiフォトダイオード65
と、このフォトダイオード65とミラー61との間に設
けられ、半導体レーザー63のレーザ光と同じ波長の光
をカットするフィルタ66とから構成されている。
位と入射する2本の光、ならびに発生するLWIレーザ
ー光を模式的に示したものである。
2・3間の準位間エネルギーの標準偏差σ23が準位1・
2間、準位1・3間の準位間エネルギーの標準偏差
σ12、σ13に対してσ23≦σ12、並びにσ23≦σ13を満
足する系を選択する。
起し、ポンプ光は準位4を経由して準位2に電子をポン
ピングする。この様に構成したとき、LWIレーザー光
は制御光に沿って発生する。その光子エネルギーω
2 は、制御光の光子エネルギーをω1 、準位2・3間の
エネルギー差の中心値をω23とすると、ω2 =ω1 +ω
23である。
より具体的に説明する。
1mol%分散しているLiYF4、制御光としては半
導体レーザーの第二高調波、ポンプ光には半導体レーザ
ーの基本波を用いる。
中のPr3+の不純物準位を用い、図68に示すように一
番上の準位1には電子配置(f)(d)の 3T1 準位のうち結
晶場で分裂したX1準位、真ん中の準位2には電子配置
(f)2 の 1D2 準位のうち同じく結晶場で分裂したC1準
位、一番下の準位3には基底準位である電子配置 (f)2
の 3H4 準位のうちやはり結晶場で分裂したA1準位をそ
れぞれ選択した。
1D2 (C1)準位はΓ2 、 3H4 (A1)準位もΓ2 である。
T1 遷移はΓ2 →Γ3 、準位1・3間の 3H4 (A1)→ 3
T 1(X1)遷移もΓ2 →Γ3 の遷移から構成され、準位2
・3間の 3H4 (A1)→ 1D 2(C1)遷移がΓ2 →Γ2 の遷
移から構成されている。電気双極子遷移に関する光学遷
移の選択則からは、準位1・2間と準位1・3間の遷移
が許容で、準位2・3間の遷移が禁制となる。
グするための準位4としては、 1D2 (C2)準位(対称
性;Γ1 )を選んだ。 1D2 (C2)準位の対称性はΓ1 で
あるため、選択則から 3H4 (A1)→ 1D2 (C1)遷移は許
容となる。 1D2 (C2)準位に励起された電子は光子振動
によって 1D2 (C1)準位へ素早く緩和する。したがっ
て、 1D2 (C2)準位に電子励起を行えば 1D2 (C1)準位
にポピュレーションを形成することが可能になる。
(C1)・ 3T1 (X1)準位間を光励起しながら、 3H4 (A1)
準位から 1D2 (C1)準位へ電子を光ポンピングした。制
御光の光子エネルギーω1 は準位1・2間の 1D2 (C1)
準位へ電子を光ポンピングした。
間の 1D2 (C1)→ 3T1 (X1)遷移に対応するものを選
び、ポンプ光の光子エネルギーは準位4・3間の 3H4
(A1)→1D2 (C2)遷移に対応するものを選択した。な
お、制御光の強度は0.1W、ポンプ光の強度は1Wと
した。
位から 3H4 (A1)準位へのレーザー発振の有無を調べ
た。その結果、図69に示すように、 3T1 (X1)→ 3H
4 (A1)遷移に対応する44840cm-1付近においてレ
ーザー光の連続発振を観測した。そのときの強度はおよ
そ0.05mWであった。
位1・準位2間エネルギの標準偏差σ12が準位1・準位
3間、準位2・準位3間の準位間エネルギーの標準偏差
σ13,σ23に対してσ12≦σ13ならびにσ12≦σ23を満
足する、例えば、第20の実施形態の材料系をEIT層
に用いた場合について、V型3準位の中で準位2・準位
3間を励起する制御光と、準位2または準位3から準位
1へ電子をポンピングするポンプ光を用いることで、同
様にレーザ光の発振を観測することができた。なお、本
発明は上述した実施形態に限定されるものではない。例
えば、上記実施形態では、光素子として光変調素子や短
波長LWIレーザーにつてい説明したが、その他の量子
コヒーレンスに基づく様々な光素子にも適用できる。
電性など固体の持つ様々な物性とを組み合わせること
で、従来の電子素子とは異なる新しいタイプの機能素子
の実現も可能となる。
場、磁場を例にあげて説明したが、他の外場としては圧
力をあげることができる。さらに、これら外場を組み合
わせても良い。
たものの他に、手段の項で述べた種々の材料の使用が可
能である。例えば、超格子や量子細線、量子箱などの量
子構造を有する、C、Si、Ge、B、Al、Ca、I
n、N、P、As、Sb、Zn、Cd、S、Se、Te
などの元素のうち、少なくとも一種類以上の元素から構
成されるIV族、 III-V族、 II-VI族などの半導体材料を
用いることも可能である。その他、本発明の技術的範囲
において種々変形して実施できる。
〜請求項15、請求項22〜請求項25)によれば、本
発明者等が初めて見出だした準位間エネルギーの標準偏
差に係る条件式を満足することにより、固体中のエネル
ギー準位に大きなバラつきが有る場合でも、ほとんどす
べての不純物または量子構造で同時にEITに基づく光
吸収の消失が誘起されるので、量子コヒーレンスを基本
原理とした実用レベルの光素子を実現できるようにな
る。
によれば、本発明者等が初めて見出だした条件を満たす
材料を作り出すことにより、固体中のエネルギー準位に
大きなバラつきが有る場合でも、ほとんどすべての不純
物または量子構造で同時にEITに基づく光吸収の消失
が誘起されるので、量子コヒーレンスを基本原理とした
実用レベルの光素子を実現できるようになる。
す図
している擬原子集団に対して予測されるEIT特性を説
明するための図
時に光吸収ゼロとなるための各準位間エネルギーに要求
される条件を説明するための図
時に光吸収ゼロとなるための各準位間エネルギーに要求
される条件を説明するための図
時に光吸収ゼロとなるための各準位間エネルギーに要求
される条件を説明するための図
を示す模式図
位とゲート光とシグナル光との関係を示す図
準位を示す図
ペクトルを示す図。
r3+が分散されたAl2 O3 を用いた場合において、ゲ
ート光の光子エネルギーを固定した状態でシグナル光の
光子エネルギーを変化させながら調べたCr3+の光吸収
スペクトルを示す図
ー準位を示す図。
r3+が分散されたLiYF4 を用いた場合において、ゲ
ート光の光子エネルギーを固定した状態でシグナル光の
光子エネルギーを変化させながら調べたEr3+の光吸収
スペクトルを示す図
ー準位を示す図
持つ遷移金属イオンを模式的に示す図
属イオンのエネルギー準位を示す図
図
を示す図
その中の2準位をΛ型3準位またはV型3準位の中で、
光で結ばれない2準位として利用している様子を模式的
に示す図
て、電子が取り得る離散的なエネルギー準位を定性的に
説明するための図
の関係を示す定性的なエネルギーバンド図
光との関係を示す定性的なエネルギーバンド図
2本の光との関係を示す定性的なエネルギーバンド図
を模式的に示す図
エネルギー準位と2本の光との関係を示す図
層として用いたGd3+;LiYF4 中のGd3+不純物の
エネルギー準位を示す図
層として用いたGd3+;LiYF4 中のGd3+不純物の
エネルギー準位の中で、 8S7/2 (a)・ 8S
7/2 (b)準位間の準位間エネルギーの電界強度依存性
を示す図
ネルギーω1 を固定した状態で、光子エネルギーω2 を
変化させながらGd3+不純物の光吸収スペクトルを調べ
た結果を示す図
層として用いたPr3+;LaCl3 中のPr3+不純物の
エネルギー準位を示す図
層として用いたPr3+;LaCl3 中のPr3+不純物の
エネルギー準位の中で、 3H4 (a)・ 3H4 (b)準
位間の準位間エネルギーの電界強度依存性を示す図。
ネルギーω1 を固定した状態で、光子エネルギーω2 を
変化させながらPr3+不純物の光吸収スペクトルを調べ
た結果を示す図
層として用いたEu3+;Y2 O3中のEu3+不純物のエ
ネルギー準位を示す図
層として用いたEu3+;Y2 O3中のEu3+不純物のエ
ネルギー準位の中で、 5D1 (a)・ 5D1 (b)準位
間の準位間エネルギーの電界強度依存性を示す図
ネルギーω1 を固定した状態で、光子エネルギーω2 を
変化させながらEu3+不純物の光吸収スペクトルを調べ
た結果を示す図
層として用いたSm2+;BaClF中のSm2+不純物の
エネルギー準位を示す図
層として用いたSm2+;BaClF中のSm2+不純物の
エネルギー準位の中で、 5D1 (a)・ 5D1 (b)準
位間の準位間エネルギーの電界強度依存性を示す図
ネルギーω1 を固定した状態で、光子エネルギーω2 を
変化させながらSm2+不純物の光吸収スペクトルを調べ
た結果を示す図
子を模式的に示す図
T層として用いたEr3+;Y3 Al5 O12中のEr3+不
純物のエネルギー準位を示す図
T層として用いたEr3+;Y3 Al5 O12中のEr3+不
純物のエネルギー準位の中で、 4I15/2(a)・ 4I
15/2(b)準位間の準位間エネルギーの磁場強度依存を
示す図。
エネルギーω1 を固定した状態で、光子エネルギーω2
を変化させながらEr3+不純物の光吸収スペクトルを調
べた結果を示す図
T層として用いたInAs/GaSb超格子を示す断面
図
T層として用いたInAs/GaSb超格子中の量子井
戸準位を示す図
T層として用いたInAs/GaSb超格子中のE1 準
位に関して、この準位から分裂したランダウ準位間の準
位エネルギーの磁場強度依存性を示す図
エネルギーω1 を固定した状態で光子エネルギーω2 を
変化させながらInAs/GaSb超格子の光吸収スペ
クトルを調べた結果を示す図
子を模式的に示す図
ー準位とゲート光,シグナル光との関係を模式的に示す
図
子のEIT層としてのGaAs/AlGaAs超格子の
断面構造を示す図
子のEIT層としてのGaAs/AlGaAs超格子の
量子井戸準位を示す図
子において、ゲート光の光子エネルギーを固定した状態
で、シングル光の光子エネルギーを変えながら、準位3
から準位1への吸収スペクトルを調べた結果を示す図
子のEIT層としてのInGaN/AlGaN超格子の
断面構造を示す図
子のEIT層としてのInGaN/AlGaN超格子の
量子井戸準位を示す図
子において、ゲート光の光子エネルギーを固定した状態
で、シングル光の光子エネルギーを変えながら、準位3
から準位1への吸収スペクトルを調べた結果を示す図
子のEIT層としてのZnSe/MgZnSeS超格子
の断面構造を示す図
子のEIT層としてのZnSe/MgZnSeS超格子
の量子井戸準位を示す図
子において、ゲート光の光子エネルギーを固定した状態
で、シングル光の光子エネルギーを変えながら、準位3
から準位1への吸収スペクトルを調べた結果を示す図
子のEIT層としのGaAs/AlGaAs超格子の断
面構造を示す図
子のEIT層としてのGaAs/AlGaAs超格子の
量子井戸準位を示す図
子において、ゲート光の光子エネルギーを固定した状態
で、シングル光の光子エネルギーを変えながら、準位3
から準位1への吸収スペクトルを調べた結果を示す図
子のEIT層としのZnSe/MgZnSeS超格子の
断面構造を示す図
子のEIT層としてのZnSe/MgZnSeS超格子
の量子井戸準位を示す図
子において、ゲート光の光子エネルギーを固定した状態
で、シングル光の光子エネルギーを変えながら、準位3
から準位1への吸収スペクトルを調べた結果を示す図
を説明するための図
明するための
ーザを模式的に示す図
ー準位と制御光、ポンプ光の関係を示す図
ーザのEIT層のエネルギー準位を示Mす図
ーザのEIT層のエネルギー準位を示す図
ーザのLWI発振スペクトルを調べた結果を示す図
る光変調素子のEIT層としてのSi/NiSi2 の断
面図
る光変調素子のEIT層としてのSi/NiSi2 のエ
ネルギー準位を示す図
子において、ゲート光の光子エネルギーを固定した状態
で、シングル光の光子エネルギーを変えながら、準位3
から準位1への吸収スペクトルを調べた結果を示す図
いてEIT層として用いたCe3+;YPO4 中のCe3+
不純物のエネルギー準位を示す図
Claims (30)
- 【請求項1】不純物を含む固体と、 不純物のエネルギー準位の中から三つ準位を選び上から
順に第1の準位、第2の準位および第3の準位としたと
きに、第1の準位と第2の準位との間のエネルギー差に
対応する波長を有する第1の光、ならびに第1の準位と
第3の準位との間のエネルギー差に対応する波長を有す
る第2の光を前記固体中で共存させる励起手段と を具備
してなり、 前記固体中の不純物の第2の準位と第3の準位との間の
準位間エネルギーの不均一広がりが、前記固体中の不純
物の第1の準位と第2の準位との間の準位間エネルギー
の不均一広がりと同じ又はそれよりも小さく、且つ前記
固体中の不純物の第1の準位と第3の準位との間の準位
間エネルギーの不均一広がりと同じ又はそれよりも小さ
いことを特徴とする光素子。 - 【請求項2】不純物を含む固体と、 不純物のエネルギー準位の中から三つ準位を選び上から
順に第1の準位、第2の準位および第3の準位としたと
きに、第2の準位と第3の準位との間のエネルギー差に
対応する波長を有する第1の光、ならびに第1の準位と
第3の準位との間のエネルギー差に対応する波長を有す
る第2の光を前記固体中で共存させる励起手段と を具備
してなり、 前記固体中の不純物の第1の準位と第2の準位との間の
準位間エネルギーの不均一広がりが、前記固体中の不純
物の第1の準位と第3の準位との間の準位間エネルギー
の不均一広がりと同じ又はそれよりも小さく、且つ前記
固体中の不純物の第2の準位と第3の準位との間の準位
間エネルギーの不均一広がりと同じ又はそれよりも小さ
いことを特徴とする光素子。 - 【請求項3】不純物を含む固体と、 不純物のエネルギー準位の中から三つ準位を選び上から
順に第1の準位、第2の準位および第3の準位としたと
きに、第1の準位と第2の準位との間のエネルギー差に
対応する波長を有する第1の光、ならびに第2の準位と
第3の準位との間のエネルギー差に対応する波長を有す
る第2の光を前記固体で共存させる励起手段と を具備し
てなり、 前記固体中の不純物の第1の準位と第3の準位との間の
準位間エネルギーの不均一広がりが、前記固体中の不純
物の第1の準位と第2の準位との間の準位間エネルギー
の不均一広がりと同じ又はそれよりも小さく、且つ前記
固体中の不純物の第2の準位と第3の準位との間の準位
間エネルギーの不均一広がりと同じ又はそれよりも小さ
いことを特徴とする光素子。 - 【請求項4】不純物を含む固体と、 不純物のエネルギー準位の中から三つ準位を選び上から
順に第1の準位、第2の準位および第3の準位としたと
きに、第1の準位と第2の準位との間のエネルギー差に
対応する波長を有する第1の光、ならびに第1の準位と
第3の準位との間のエネルギー差に対応する波長を有す
る第2の光を前記固体中で共存させる励起手段とを具備
してなり、 前記固体中の不純物の総数をN個として個々の不純物の
第1の準位と第2の準位との間の準位間エネルギー、第
1の準位と第3の準位との間の準位間エネルギーおよび
第2の準位と第3の準位との間の準位間エネルギーをそ
れぞれω12(i)、ω13(i)およびω23(i)(i=
1〜N)とし、 N個全ての不純物についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の平均値をそれぞれ<ω
12>、<ω13>および<ω23>とし、 N個全ての不純物についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の標準偏差をそれぞれσ12=
{(1/N)Σ[ω12(i)−<ω12>]2 }1/2 、σ
13={(1/N)Σ[ω13(i)−<ω13>]2 }1/2
およびσ23={(1/N)Σ[ω23(i)−<ω23>]
2 }1/2 とした場合に、 σ23≦σ12、且つσ23≦σ13を満足することを特徴とす
る光素子。 - 【請求項5】不純物を含む固体と、 不純物のエネルギー準位の中から三つ準位を選び上から
順に第1の準位、第2の準位および第3の準位としたと
きに、第2の準位と第3の準位との間のエネルギー差に
対応する波長を有する第1の光、ならびに第1の準位と
第3の準位との間のエネルギー差に対応する波長を有す
る第2の光を前記固体中で共存させる励起手段とを具備
してなり、 前記固体中に不純物の総数をN個として個々の不純物の
第1の準位と第2の準位との間の準位間エネルギー、第
1の準位と第3の準位との間の準位間エネルギーおよび
第2の準位と第3の準位との間の準位間エネルギーをそ
れぞれω12(i)、ω13(i)およびω23(i)(i=
1〜N)とし、 N個全ての不純物についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の平均値をそれぞれ<ω
12>、<ω13>および<ω23>とし、 N個全ての不純物についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の標準偏差をそれぞれσ12=
{(1/N)Σ[ω12(i)−<ω12>]2 }1/2 、 σ13={(1/N)Σ[ω13(i)−<ω13>]2 }
1/2 およびσ23={(1/N)Σ[ω23(i)−<ω23
>]2 }1/2 とした場合に、 σ12≦σ13、且つσ12≦σ23を満足することを特徴とす
る光素子。 - 【請求項6】不純物を含む固体と、 不純物のエネルギー準位の中から三つ準位を選び上から
順に第1の準位、第2の準位および第3の準位としたと
きに、第1の準位と第2の準位との間のエネルギー差に
対応する波長を有する第1の光、ならびに第2の準位と
第3の準位との間のエネルギー差に対応する波長を有す
る第2の光を前記固体で共存させる励起手段とを具備し
てなり、 前記固体中の不純物の総数をN個として個々の不純物の
第1の準位と第2の準位との間の準位間エネルギー、第
1の準位と第3の準位との間の準位間エネルギーおよび
第2の準位と第3の準位との間の準位間エネルギーをそ
れぞれω12(i)、ω13(i)およびω23(i)(i=
1〜N)とし、 N個全ての不純物についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の平均値をそれぞれ<ω
12>、<ω13>および<ω23>とし、 N個全ての不純物についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の標準偏差をそれぞれσ12=
{(1/N)Σ[ω12(i)−<ω12>]2 }1/2 、 σ13={(1/N)Σ[ω13(i)−<ω13>]2 }
1/2 およびσ23={(1/N)Σ[ω23(i)−<ω23
>]2 }1/2 とした場合に、 σ13≦σ12、且つσ13≦σ23を満足することを特徴とす
る光素子。 - 【請求項7】前記不純物は、d電子軌道にn個(n=2
〜6)の電子を持つ遷移金属イオンであり、かつこの遷
移金属イオンが配位子によって作られた立方対称な結晶
場中に置かれた場合に、前記第2の準位および前記第3
の準位がともにt2g軌道にn個の電子が収容されてなる
電子配置をとることを特徴とする請求項1に記載の光素
子。 - 【請求項8】前記不純物は、d電子軌道にn個(n=
7,8)の電子を持つ遷移金属イオンであり、かつこの
遷移金属イオンが配位子によって作られた立方対称な結
晶場中に置かれた場合に、前記第2の準位および前記第
3の準位がともにt2g軌道に6個の電子が収容され、e
g 軌道にn−6個の電子が収容されてなる電子配置をと
ることを特徴とする請求項1に記載の光素子。 - 【請求項9】前記不純物は、d電子軌道にn個(n=2
〜6)の電子を持つ遷移金属イオンであり、かつこの遷
移金属イオンが配位子によって作られた立方対称な結晶
場中に置かれた場合に、前記第1の準位および前記第2
の準位がともにt2g軌道にn−1個の電子が収容され、
eg 軌道に1個の電子が収容されてなる電子配置をとる
ことを特徴とする請求項2に記載の光素子。 - 【請求項10】前記不純物は、d電子軌道にn個(n=
7,8)の電子を持つ遷移金属イオンであり、かつこの
遷移金属イオンが配位子によって作られた立方対称な結
晶場中に置かれた場合に、前記第1の準位および前記第
2の準位がともにt2g軌道に5個の電子が収容され、e
g 軌道にn−5個の電子が収容されてなる電子配置をと
ることを特徴とする請求項2に記載の光素子。 - 【請求項11】前記不純物は、d電子軌道にn個(n=
2〜6)の電子を持つ遷移金属イオンであり、かつこの
遷移金属イオンが配位子によって作られた立方対称な結
晶場中に置かれた場合に、前記第1の準位および前記第
3の準位がともにt2g軌道にn個の電子が収容されてな
る電子配置をとることを特徴とする請求項3に記載の光
素子。 - 【請求項12】前記不純物は、d電子軌道にn個(n=
7,8)の電子を持つ遷移金属イオンであり、かつこの
遷移金属イオンが配位子によって作られた立方対称な結
晶場中に置かれた場合に、前記第1の準位および前記第
3の準位がともにt2g軌道に6個の電子が収容され、e
g 軌道にn−6個の電子が収容されてなる電子配置をと
ることを特徴とする請求項3に記載の光素子。 - 【請求項13】前記不純物は、f電子軌道にn個(n=
1〜13)の電子を持つ希土類イオンであり、前記第1
の準位がf電子軌道にn−1個の電子が収容され、d電
子軌道に1個の電子が収容されてなる電子配置をとり、
前記第2の準位および前記第3の準位がともにf電子軌
道にn個の電子が収容されてなる電子配置をとることを
特徴とする請求項1に記載の光素子。 - 【請求項14】前記不純物は、f電子軌道にn個(n=
1〜13)の電子を持つ希土類イオンであり、前記第1
の準位および前記第2の準位がともにf電子軌道にn−
1個の電子が収容され、d電子軌道に1個の電子が収容
されてなる電子配置をとり、前記第3の準位がf電子軌
道にn個の電子が収容されてなる電子配置をとることを
特徴とする請求項2に記載の光素子。 - 【請求項15】不純物を含む固体と、 不純物のエネルギー準位の中から三つ準位を選び上から
順に第1の準位、第2の準位および第3の準位としたと
きに、第1の準位と第2の準位との間のエネルギー差に
対応する波長を有する第1の光を前記固体に照射する光
照射手段と を具備してなり、 前記固体中の不純物の第2の準位と第3の準位との間の
準位間エネルギーの不均一広がりが、前記固体中の不純
物の第1の準位と第2の準位との間の準位間エネルギー
の不均一広がりと同じ又はそれよりも小さく、且つ前記
固体中の不純物の第1の準位と第3の準位との間の準位
間エネルギーの不均一広がりと同じ又はそれよりも小さ
い光素子であって、 前記固体はレーザ媒質として使用され、前記第1の光を
前記固体に照射するとともに、ポンピング手段により、
前記三つの準位のうち前記第1の光により結ばれた二つ
の準位の少なくとも一方に電子を励起することにより、
レーザ発振を行なうことを特徴とする光素子。 - 【請求項16】不純物を含む固体と、 不純物のエネルギー準位の中から三つ準位を選び上から
順に第1の準位、第2の準位および第3の準位としたと
きに、第2の準位と第3の準位との間のエネルギー差に
対応する波長を有する第1の光を前記固体に照射する光
照射手段と を具備してなり、 前記固体中の不純物の第1の準位と第2の準位との間の
準位間エネルギーの不均一広がりが、前記固体中の不純
物の第1の準位と第3の準位との間の準位間エネルギー
の不均一広がりと同じ又はそれよりも小さく、且つ前記
固体中の不純物の第2の準位と第3の準位との間の準位
間エネルギーの不均一広がりと同じ又はそれよりも小さ
い光素子であって、 前記固体はレーザ媒質として使用され、前記第1の光を
前記固体に照射するとともに、ポンピング手段により、
前記三つの準位のうち前記第1の光により結ばれた二つ
の準位の少なくとも一方から、前記第1の準位に電子を
励起することに より、レーザー発振を行なうことを特徴
とする光素子。 - 【請求項17】不純物を含む固体と、 不純物のエネルギー準位の中から三つ準位を選び上から
順に第1の準位、第2の準位および第3の準位としたと
きに、第1の準位と第2の準位との間のエネルギー差に
対応する波長を有する第1の光を前記固体に照射する光
照射手段とを具備してなり、 前記固体中の不純物の総数をN個として個々の不純物の
第1の準位と第2の準位との間の準位間エネルギー、第
1の準位と第3の準位との間の準位間エネルギーおよび
第2の準位と第3の準位との間の準位間エネルギーをそ
れぞれω12(i)、ω13(i)およびω23(i)(i=
1〜N)とし、 N個全ての不純物についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の平均値をそれぞれ<ω
12>、<ω13>および<ω23>とし、 N個全ての不純物についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の標準偏差をそれぞれσ12=
{(1/N)Σ[ω12(i)−<ω12>]2 }1/2 、 σ13={(1/N)Σ[ω13(i)−<ω13>]2 }
1/2 およびσ23={(1/N)Σ[ω23(i)−<ω23
>]2 }1/2 とした場合に、 σ23≦σ12、且つσ23≦σ13を満足する光素子であっ
て、 前記固体はレーザ媒質として使用され、前記第1の光を
前記固体に照射するとともに、ポンピング手段により、
前記三つの準位のうち前記第1の光により結ばれた二つ
の準位の少なくとも一方に電子を励起することにより、
レーザ発振を行なうことを特徴とする光素子。 - 【請求項18】不純物を含む固体と、 不純物のエネルギー準位の中から三つ準位を選び上から
順に第1の準位、第2の準位および第3の準位としたと
きに、第2の準位と第3の準位との間のエネルギー差に
対応する波長を有する第1の光を前記固体に照射する光
照射手段とを具備してなり、 前記固体中の不純物の総数をN個として個々の不純物の
第1の準位と第2の準位との間の準位間エネルギー、第
1の準位と第3の準位との間の準位間エネルギーおよび
第2の準位と第3の準位との間の準位間エネルギーをそ
れぞれω12(i)、ω13(i)およびω23(i)(i=
1〜N)とし、 N個全ての不純物についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の平均値をそれぞれ<ω
12>、<ω13>および<ω23>とし、 N個全ての不純物についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の標準偏差をそれぞれσ12=
{(1/N)Σ[ω12(i)−<ω12>]2 }1/2 、 σ13={(1/N)Σ[ω13(i)−<ω13>]2 }
1/2 およびσ23={(1/N)Σ[ω23(i)−<ω23
>]2 }1/2 とした場合に、 σ12≦σ13、且つσ12≦σ23を満足する光素子であっ
て、 前記固体はレーザ媒質として使用され、前記第1の光を
前記固体に照射するとともに、ポンピング手段により、
前記三つの準位のうち前記第1の光により結ばれた二つ
の準位の少なくとも一方から、前記第1の準位に電子を
励起することにより、レーザー発振を行なうことを特徴
とする光素子。 - 【請求項19】前記固体中に含まれる不純物は、f電子
軌道にn個(n=1〜13)の電子を持つ希土類イオン
であり、前記第1の準位がf電子軌道にn−1個の電子
が収容され、d電子軌道に1個の電子が収容されてなる
電子配置をとり、前記第2の準位および前記第3の準位
がともにf電子軌道にn個の電子が収容されてなる電子
配置をとり、 前記ポンピング手段は、電子線および電磁波の少なくと
も一つを前記固体に照射する手段からなることを特徴と
する請求項12に記載の光素子。 - 【請求項20】前記固体中に含まれる不純物は、f電子
軌道にn個(n=1〜13)の電子を持つ希土類イオン
であり、前記第1の準位および前記第2の準位がともに
f電子軌道にn−1個の電子が収容され、d電子軌道に
1個の電子が収容されてなる電子配置をとり、前記第3
の準位がf電子軌道にn個の電子が収容されてなる電子
配置をとり、前記ポンピング手段は電子線および電磁波
の少なくとも一つを前記固体に照射する手段からなるこ
とを特徴とする請求項13に記載の光素子。 - 【請求項21】不純物を含む固体と、 この固体に電場、磁場および圧力の少なくとも1つの外
場を与える手段と、 前記固体に前記外場を与えた状態で、前記不純物のエネ
ルギー準位の中から三つ準位を選び上から順に第1の準
位、第2の準位および第3の準位としたときに、第1の
準位と第2の準位との間のエネルギー差に対応する波長
を有する第1の光、ならびに第1の準位と第3の準位と
の間のエネルギー差に対応する波長を有する第2の光を
前記固体中で共存させる励起手段とを具備してなり、 前記外場がゼロの場合には、前記固体における前記第2
の準位と前記第3の準位とが縮退していることを特徴と
する光素子。 - 【請求項22】不純物を含む固体と、 この固体に電場、磁場および圧力の少なくとも1つの外
場を与える手段と、 前記固体に前記外場を与えた状態で、前記不純物のエネ
ルギー準位の中から三つ準位を選び上から順に第1の準
位、第2の準位および第3の準位としたときに、第2の
準位と第3の準位との間のエネルギー差に対応する波長
を有する第1の光、ならびに第1の準位と第3の準位と
の間のエネルギー差に対応する波長を有する第2の光を
前記固体中で共存させる励起手段とを具備してなり、 前記外場がゼロの場合には、前記固体における前記第1
の準位と前記第2の準位とが縮退していることを特徴と
する光素子。 - 【請求項23】量子井戸、量子細線および量子箱の少な
くとも一つの量子構造を有する固体と、 この固体に電場、磁場および圧力の少なくとも1つの外
場を与える手段と、 前記固体に前記外場を与えた状態で、前記固体のエネル
ギー準位の中から三つ準位を選び上から順に第1の準
位、第2の準位および第3の準位としたときに、第1の
準位と第2の準位との間のエネルギー差に対応する波長
を有する第1の光、ならびに第1の準位と第3の準位と
の間のエネルギー差に対応する波長を有する第2の光を
前記固体中で共存させる励起手段とを具備してなり、 前記外場がゼロの場合には、前記固体における前記第2
の準位と前記第3の準位とが縮退していることを特徴と
する光素子。 - 【請求項24】量子井戸、量子細線および量子箱の少な
くとも一つの量子構造を有する固体と、 この固体に電場、磁場および圧力の少なくとも1つの外
場を与える手段と、 前記固体に前記外場を与えた状態で、前記固体のエネル
ギー準位の中から三つ準位を選び上から順に第1の準
位、第2の準位および第3の準位としたときに、第2の
準位と第3の準位との間のエネルギー差に対応する波長
を有する第1の光、ならびに第1の準位と第3の準位と
の間のエネルギー差に対応する波長を有する第2の光を
前記固体中で共存させる励起手段とを具備してなり、 前記外場がゼロの場合には、前記固体における前記第1
の準位と前記第2の準位とが縮退していることを特徴と
する光素子。 - 【請求項25】前記第1の光のエネルギーをω1 とし、
前記第2の光のエネルギーをω2 とし、前記第2の準位
と前記第3の準位との間のエネルギー差をω23としたと
きに、ω23=ω2 −ω1 の条件式を満たすように前記外
場の大きさが設定されることを特徴とする請求項16ま
たは請求項18に記載の光素子。 - 【請求項26】前記第1の光のエネルギーをω1 とし、
前記第2の光のエネルギーをω2 とし、前記第1の準位
と前記第2の準位との間のエネルギー差をω12としたと
きに、ω12=ω2 −ω1 の条件式を満たすように前記外
場の大きさが設定されることを特徴とする請求項17ま
たは請求項19に記載の光素子。 - 【請求項27】量子井戸、量子細線および量子箱の少な
くとも一つの量子構造を有する固体と、 前記量子構造の伝導帯に形成されたエネルギー準位の中
から選んだ一つの準位を第1の準位、前記量子構造の価
電子帯に形成されたエネルギー準位の中から二つ準位を
選び上から順に第2の準位および第3の準位としたとき
に、第1の準位と第2の準位との間のエネルギー差に対
応する波長を有する第1の光、ならびに第1の準位と第
3の準位との間のエネルギー差に対応する波長を有する
第2の光を前記固体中で共存させる励起手段とを具備し
てなり、 前記固体中の量子構造の総数をN個として個々の量子構
造の第1の準位と第2の準位との間の準位間エネルギ
ー、第1の準位と第3の準位との間の準位間エネルギー
および第2の準位と第3の準位との間の準位間エネルギ
ーをそれぞれω12(i)、ω13(i)およびω23(i)
(i=1〜N)とし、 N個全ての量子構造についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の平均値をそれぞれ<ω
12>、<ω13>および<ω23>とし、 N個全ての量子構造についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の標準偏差をそれぞれσ12=
{(1/N)Σ[ω12(i)−<ω12>]2 }1/2、σ
13={(1/N)Σ[ω13(i)−<ω13>]2 }1/2
およびσ23={(1/N)Σ[ω23(i)−<ω23>]
2 }1/2 とした場合に、 σ23≦σ12、且つσ23≦σ13を満足することを特徴とす
る光素子。 - 【請求項28】量子井戸、量子細線および量子箱の少な
くとも一つの量子構造を有する固体と、 前記量子構造の伝導帯に形成されたエネルギー準位の中
から二つ準位を選び上から順に第1の準位および第2の
準位、前記量子構造の価電子帯に形成されたエネルギー
準位の中から選んだ1つの準位を第3の準位としたとき
に、第2の準位と第3の準位との間のエネルギー差に対
応する波長を有する第1の光、ならびに第1の準位と第
3の準位との間のエネルギー差に対応する波長を有する
第2の光を前記固体中で共存させる励起手段とを具備し
てなり、 前記固体中の量子構造の総数をN個として個々の量子構
造の第1の準位と第2の準位との間の準位間エネルギ
ー、第1の準位と第3の準位との間の準位間エネルギー
および第2の準位と第3の準位との間の準位間エネルギ
ーをそれぞれω12(i)、ω13(i)およびω23(i)
(i=1〜N)とし、 N個全ての量子構造についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の平均値をそれぞれ<ω
12>、<ω13>および<ω23>とし、 N個全ての量子構造についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の標準偏差をそれぞれσ12=
{(1/N)Σ[ω12(i)−<ω12>]2 }1/2、σ
13={(1/N)Σ[ω13(i)−<ω13>]2 }1/2
およびσ23={(1/N)Σ[ω23(i)−<ω23>]
2 }1/2 とした場合に、 σ12≦σ13、且つσ12≦σ23を満足することを特徴とす
る光素子。 - 【請求項29】量子井戸、量子細線および量子箱の少な
くとも一つの量子構造を有する固体と、 前記量子構造の材料が半導体の場合は、前記量子構造の
伝導帯に形成されたエネルギー準位の中から三つ準位を
選び上から順に第1の準位、第2の準位および第3の準
位とし、前記量子構造の材料が金属の場合は、前記量子
構造のフェルミ準位よりも高エネルギーのエネルギー準
位の中から二つ準位を選び上から順に第1の準位および
第2の準位、かつ前記量子構造のフェルミ準位よりも低
エネルギーのエネルギー準位の中から選んだ1つの準位
を第3の準位としたときに、第1の準位と第2の準位と
の間のエネルギー差に対応する波長を有する第1の光、
ならびに第1の準位と第3の準位との間のエネルギー差
に対応する波長を有する第2の光を前記固体中で共存さ
せる励起手段とを具備してなり、 前記固体中の量子構造の総数をN個として個々の量子構
造の第1の準位と第2の準位との間の準位間エネルギ
ー、第1の準位と第3の準位との間の準位間エネルギー
および第2の準位と第3の準位との間の準位間エネルギ
ーをそれぞれω12(i)、ω13(i)およびω23(i)
(i=1〜N)とし、 N個全ての量子構造についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の平均値をそれぞれ<ω
12>、<ω13>および<ω23>とし、 N個全ての量子構造についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の標準偏差をそれぞれσ12=
{(1/N)Σ[ω12(i)−<ω12>]2 }1/2、σ
13={(1/N)Σ[ω13(i)−<ω13>]2 }1/2
およびσ23={(1/N)Σ[ω23(i)−<ω23>]
2 }1/2 とした場合に、 σ23≦σ12、且つσ23≦σ13を満足することを特徴とす
る光素子。 - 【請求項30】量子井戸、量子細線および量子箱の少な
くとも一つの量子構造を有する固体と、 前記量子構造の材料が半導体の場合は、前記量子構造の
価電子帯に形成されたエネルギー準位の中から三つ準位
を選び上から順に第1の準位、第2の準位および第3の
準位とし、前記量子構造の材料が金属の場合は、前記量
子構造のフェルミ準位よりも高エネルギーのエネルギー
準位の中から選んだ1つの準位を第1の準位、かつ前記
量子井戸のフェルミ準位よりも低エネルギーのエネルギ
ー準位の中から二つ準位を選び上から順に第2の準位お
よび第3の準位としたときに、第2の準位と第3の準位
との間のエネルギー差に対応する波長を有する第1の
光、ならびに第1の準位と第3の準位との間のエネルギ
ー差に対応する波長を有する第2の光を前記固体中で共
存させる励起手段とを具備してなり、 前記固体中の量子構造の総数をN個として個々の量子構
造の第1の準位と第2の準位との間の準位間エネルギ
ー、第1の準位と第3の準位との間の準位間エネルギー
および第2の準位と第3の準位との間の準位間エネルギ
ーをそれぞれω12(i)、ω13(i)およびω23(i)
(i=1〜N)とし、 N個全ての量子構造についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の平均値をそれぞれ<ω
12>、<ω13>および<ω23>とし、 N個全ての量子構造についての前記ω12(i)、ω
13(i)およびω23(i)の標準偏差をそれぞれσ12=
{(1/N)Σ[ω12(i)−<ω12>]2 }1/2、σ
13={(1/N)Σ[ω13(i)−<ω13>]2 }1/2
およびσ23={(1/N)Σ[ω23(i)−<ω23>]
2 }1/2 とした場合に、 σ12≦σ13、且つσ12≦σ23を満足することを特徴とす
る光素子。
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1996
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- 1996-08-08 US US08/694,246 patent/US5898720A/en not_active Expired - Lifetime
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Title |
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応用物理 第61巻 第9号 p.927−930 |
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