JP3137422B2 - Oscillator circuit - Google Patents

Oscillator circuit

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JP3137422B2
JP3137422B2 JP04109959A JP10995992A JP3137422B2 JP 3137422 B2 JP3137422 B2 JP 3137422B2 JP 04109959 A JP04109959 A JP 04109959A JP 10995992 A JP10995992 A JP 10995992A JP 3137422 B2 JP3137422 B2 JP 3137422B2
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power supply
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成真 伊藤
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、オシレータ回路に係
り、詳しくは、例えば、リフレッシュを自動的に行うD
RAM(Dynamic Random Access Memory)の分野に用い
て好適な、自動的にリフレッシュを行うための、リフレ
ッシュ周期を発生するオシレータ回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an oscillator circuit.
The present invention relates to an oscillator circuit for generating a refresh cycle, which is suitable for use in the field of a RAM (Dynamic Random Access Memory) and is used for automatic refresh.

【0002】例えば、コンピュータ等の情報処理装置に
用いられる代表的な読み書きできるメモリとしては、S
RAM(Static Random Access Memory )及びDRAM
がある。SRAMは高速でメモリ保持作用があるという
利点があり、その反面、高価で大容量化に不向きであ
る。
For example, a typical readable / writable memory used in an information processing apparatus such as a computer is an S-type memory.
RAM (Static Random Access Memory) and DRAM
There is. SRAMs have the advantage of having a high-speed memory retention function, but are expensive and unsuitable for increasing the capacity.

【0003】一方、DRAMは構造が単純で小さなメモ
リセルをもつことから、SRAMと比較してコストが安
くしかも大きなメモリ容量が得られるため、近時におけ
る大容量化のニーズから、メモリシステムを構築する
際、設計者の多くはメモリシステムの基本的なビルディ
ングブロックとしてDRAMが多用されている。しか
し、DRAMにはSRAMのようなメモリ保持作用がな
いため、記憶データを保持するために、メモリセルを一
定の周期毎にリフレッシュする必要があり、このリフレ
ッシュを行うためのオシレータ回路及びDRAMのメモ
リセルは温度に対して動作特性が変動するため、信頼性
の確保される温度範囲が狭く、DRAMが用いられる装
置は使用温度に気を付けなければならなかった。
On the other hand, since a DRAM has a simple structure and small memory cells, it can be manufactured at a lower cost and has a larger memory capacity than an SRAM. In this case, many designers often use DRAM as a basic building block of a memory system. However, since a DRAM does not have a memory holding function unlike an SRAM, it is necessary to refresh memory cells at regular intervals in order to hold stored data. An oscillator circuit for performing this refresh and a memory of the DRAM are used. Since the operating characteristics of the cell fluctuate with respect to the temperature, the temperature range in which the reliability is ensured is narrow, and the device using the DRAM has to be careful about the operating temperature.

【0004】そこで、温度特性を向上させ、信頼性を高
めたオシレータ回路が要求される。
Therefore, there is a demand for an oscillator circuit with improved temperature characteristics and improved reliability.

【0005】[0005]

【従来の技術】従来のこの種のオシレータ回路を含むメ
モリ装置として、図6にセルフリフレッシュ機能付きの
16MDRAMのブロック図を示す。なお、図中、11
は第一クロックジェネレータ(クロックジェネレータN
o.1)、12は第二クロックジェネレータ(クロックジ
ェネレータNo.2)、13はライトクロックジェネレー
タ、14はモードコントローラ、15はアドレスバッフ
ァ&プリデコーダ、16はリフレッシュアドレスカウン
タ、17は基板バイアスジェネレータ、18はロウデコ
ーダ、19はコラムデコーダ、20はセンスアンプI/
Oゲート、21はメモリセル、22はデータ入力バッフ
ァ、23はデータ出力バッファである。
2. Description of the Related Art FIG. 6 shows a block diagram of a 16MDRAM having a self-refresh function as a conventional memory device including an oscillator circuit of this kind. In the figure, 11
Is the first clock generator (clock generator N
o.1), 12 is a second clock generator (clock generator No. 2), 13 is a write clock generator, 14 is a mode controller, 15 is an address buffer and predecoder, 16 is a refresh address counter, 17 is a substrate bias generator, 18 is a row decoder, 19 is a column decoder, 20 is a sense amplifier I /
O gate, 21 is a memory cell, 22 is a data input buffer, and 23 is a data output buffer.

【0006】以上の構成において、リフレッシュを自動
的に行うモード、すなわち、セルフリフレッシュモード
に入るためには、図7に示すように、まず、/CAS
(/CASはCASの反転信号であり、図7中、トップ
バー付きのCAS信号を示すものとする)を“L”とし
た後、/RAS(/RASはRASの反転信号であり、
図7中、トップバー付きのRAS信号を示すものとす
る)を“L”とし、この状態を100μsを保つとその
後、DRAM内部で自動で周期的にリフレッシュ動作を
行うものである。
In the above configuration, in order to enter a mode in which refresh is automatically performed, that is, a self-refresh mode, first, as shown in FIG.
(/ CAS is an inverted signal of CAS and indicates a CAS signal with a top bar in FIG. 7), and is then set to “L”, and then / RAS (/ RAS is an inverted signal of RAS;
The RAS signal with a top bar in FIG. 7 is set to "L", and if this state is maintained for 100 .mu.s, the refresh operation is automatically and periodically performed inside the DRAM.

【0007】この周期を発生させるのには、図8に示す
ようなリングオシレータと呼ばれるオシレータ回路を用
いることが一般的である。このオシレータ回路は、高電
位電源線VCCと低電位電源線VSSとの間に、ゲートに低
電位レベルの信号を受けるPチャネルMOSトランジス
タQ11(Q21〜Q n1)、ゲートに入力信号を受けるPチ
ャネルMOSトランジスタQ12(Q22〜Q n2)及びNチ
ャネルMOSトランジスタQ13(Q23〜Qn3)、ゲート
に高電位レベルの信号を受けるNチャネルMOSトラン
ジスタQ14(Q24〜Qn4)を順に直列接続してなるn個
のインバータ回路INV1〜INVnを環状に接続する
ことにより所定のクロック周期を生成するものである。
The generation of this period is shown in FIG.
Using an oscillator circuit called a ring oscillator
Is common. This oscillator circuit is
Power supply line VCCAnd low-potential power line VSSBetween the gate and low
P-channel MOS transistor receiving potential level signal
TA Q11(Qtwenty one~ Q n1), The gate which receives the input signal at the gate
Channel MOS transistor Q12(Qtwenty two~ Q n2) And N
Channel MOS transistor Q13(Qtwenty three~ Qn3),Gate
N-channel MOS transistor receiving a high potential level signal
Jista Q14(Qtwenty four~ Qn4) Are connected in series in order.
Inverter circuits INV1 to INVn are connected in a ring.
Thus, a predetermined clock cycle is generated.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来のオシレータ回路にあっては、MOSデバイス
からなるインバータ回路を複数連結するという構成とな
っていたため、以下に述べるような問題点があった。す
なわち、リングオシレータの周期と実際のセルのリフレ
ッシュ間隔の温度に対する依存性とは図9に示すような
関係となり、リングオシレータの周期tcycは温度の上
昇と共に遅くなっていくが、メモリセルは温度が高くな
るとメモリ保持時間が短くなるため、リフレッシュ時間
REF は、温度の上昇と共に間隔を短くしなければなら
ない。
However, in such a conventional oscillator circuit, since a plurality of inverter circuits each composed of a MOS device are connected, there are the following problems. . That is, the relationship between the cycle of the ring oscillator and the dependence of the actual cell refresh interval on the temperature has a relationship as shown in FIG. 9, and the cycle t cyc of the ring oscillator becomes slower as the temperature rises, but the memory cell has a lower temperature. Becomes higher, the memory retention time becomes shorter, and therefore, the interval of the refresh time t REF must be shortened as the temperature rises.

【0009】つまり、リングオシレータとメモリセルと
の温度特性に対する違いのため、使用温度が上昇してシ
ステムの許容動作範囲を越えると、最悪の場合、DRA
Mに保持されたデータが消えてしまうといった事態を招
く虞がある。 [目的]そこで本発明は、温度特性を改善し、信頼性を
高めたオシレータ回路を提供することを目的としてい
る。
In other words, if the operating temperature rises beyond the permissible operating range of the system due to the difference in the temperature characteristics between the ring oscillator and the memory cell, the worst case is that the DRA
There is a possibility that the data stored in M may be erased. [Object] It is an object of the present invention to provide an oscillator circuit with improved temperature characteristics and improved reliability.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明によるオシレータ
回路は上記目的を達成するため、その原理図を図1に示
すように、高電位電源線VCCと低電位電源線VSSとの間
に、所定数のPチャネルMOSトランジスタQ11,Q12
(〜Qn1,Qn2)及び所定数のNチャネルMOSトラン
ジスタQ13,Q14(〜Qn3,Qn4)を順に直列接続して
なるインバータ回路INV1(〜INVn)と、前記高
電位電源線VCCと前記低電位電源線VSSとの間に、ゲー
トに該低電位電源線VSSの電位レベルを入力する第一P
チャネルMOSトランジスタQA1及び第一の抵抗RA1
順に直列接続し、該第一PチャネルMOSトランジスタ
A1と該第一の抵抗RA1との接続点NA1を低電位出力端
とする第一抵抗手段1と、前記高電位電源線VCCと前記
低電位電源線VSSとの間に、第二の抵抗RB1及びゲート
に前記高電位電源線VCCの電位レベルを入力する第一N
チャネルMOSトランジスタQB1を順に直列接続し、該
第二の抵抗RB1と該第一NチャネルMOSトランジスタ
B1との接続点NB1を高電位出力端とする第二抵抗手段
2とを備え、前記第一抵抗手段1の低電位出力端を前記
インバータ回路INV1(〜INVn)における前記所
定数のPチャネルMOSトランジスタQ 11 (〜Q n1 )の
うちの1つのゲートに接続するとともに、前記第二抵抗
手段2の高電位出力端を該インバータ回路INV1(〜
INVn)における前記所定数のNチャネルMOSトラ
ンジスタQ 14 (〜Q n4 )のうちの1つのゲートに接続
し、該インバータ回路INV1(〜INVn)を複数段
環状に接続して所定のクロック周期を生成するように構
成している。
In order to achieve the above object, an oscillator circuit according to the present invention has a principle diagram as shown in FIG. 1 in which an oscillator circuit is connected between a high potential power supply line V CC and a low potential power supply line V SS. , A predetermined number of P-channel MOS transistors Q 11 , Q 12
(〜Q n1 , Q n2 ) and a predetermined number of N-channel MOS transistors Q 13 , Q 14 (〜Q n3 , Q n4 ) connected in series in order, and an inverter circuit INV 1 (〜INVn); wherein the V CC between a low-potential power supply line V SS, a first P to enter the potential level of the low potential power source line V SS to the gate
The channel MOS transistors Q A1 and a first resistor R A1 sequentially connected in series, a first of the connection point N A1 of said first P-channel MOS transistor Q A1 and the first resistor R A1 and low-potential output terminal a resistor unit 1, the said high-potential power supply line V CC between a low-potential power supply line V SS, a first N for inputting the voltage level of the high potential power supply line V CC to the second resistor R B1 and gate
The channel MOS transistors Q B1 are connected in series in order,
The connection point N B1 with the second resistor R B1 and said first N-channel MOS transistor Q B1 and a second resistor means (2) for a high-potential output terminal, a low-potential output terminal of the first resistor means 1 the plants in the inverter circuit INV1 (~INVn)
Of the constant P-channel MOS transistor Q 11 (to Q n1 )
One of the gates, and the high potential output terminal of the second resistance means 2 is connected to the inverter circuit INV1 (-
INVn), the predetermined number of N-channel MOS transistors
Connected to one gate of the Njisuta Q 14 (~Q n4), and configured to generate a predetermined clock cycle of the inverter circuit INV1 (~INVn) connected to the plurality of stages annular.

【0011】[0011]

【作用】本発明は、MOSトランジスタのgmは、温度
の上昇と共に低下、すなわち、抵抗値が上昇するのに対
して、抵抗は温度によりその抵抗値はほとんど変わらな
いことを利用する。つまり、抵抗とゲートに所定電位が
入力されるMOSトランジスタとが直列に接続されるこ
とにより、このMOSトランジスタはトライオード領域
で動作するため、抵抗とみなすことが可能であり、MO
Sトランジスタの抵抗値は温度の上昇と共に上昇する。
The present invention utilizes the fact that the gm of a MOS transistor decreases with an increase in temperature, that is, the resistance value increases, while the resistance value of the resistance hardly changes with temperature. In other words, since the resistor and the MOS transistor whose gate is supplied with a predetermined potential are connected in series, this MOS transistor operates in a triode region, and can be regarded as a resistor.
The resistance value of the S transistor increases as the temperature increases.

【0012】一方、通常の抵抗の抵抗値は、温度の上昇
によってほとんど変化しない(MOSトランジスタの変
化と比較すれば無視できる)ため、温度の上昇と共に抵
抗分割による抵抗比が変わり、抵抗とMOSトランジス
タとの接続点の電位は変化する。ここで、第二抵抗手段
の作用を例に採って説明すると、接続点ノードNB1をN
チャネルMOSトランジスタQ14,Q24,・・・,Qn4
の閾値より若干高い値に設定することによって、温度の
上昇と共にNチャネルMOSトランジスタQ14,Q24
・・・,Qn4の各ゲート電位が上昇するので、温度の上
昇と共にNチャネルMOSトランジスタQ14,Q24,・
・・,Qn4のgmが上昇することになる。
On the other hand, the resistance value of a normal resistor hardly changes due to a rise in temperature (it can be ignored when compared with the change in a MOS transistor). The potential at the connection point changes. Here, if the action of the second resistor means is described as an example, the connection point node N B1 N
Channel MOS transistors Q 14 , Q 24 ,..., Q n4
Is set slightly higher than the threshold value of the N-channel MOS transistors Q 14 , Q 24 ,
.. , Q n4 rise, so that the N-channel MOS transistors Q 14 , Q 24 ,.
.., Gm of Q n4 will increase.

【0013】このリングオシレータは、これら各Nチャ
ネルMOSトランジスタQ14,Q24,・・・,Qn4のg
mに動作スピードが依存するので温度の上昇と共に周期
が早くなる。ちなみに、第一抵抗手段における接続点N
A1と、PチャネルMOSトランジスタQ11,Q21,・・
・,Qn1の場合も同様である。
The ring oscillator is composed of g of each of the N-channel MOS transistors Q 14 , Q 24 ,.
Since the operating speed depends on m, the cycle becomes faster as the temperature rises. By the way, the connection point N in the first resistance means
A1 and P-channel MOS transistors Q 11 , Q 21 ,.
, Q n1 .

【0014】すなわち、温度の上昇と共に周期が早くな
るので、セルフリフレッシュの周期が短縮され、これに
よって、オシレータ回路の温度特性が改善され、高い温
度での信頼性が高められる。また、この場合、通常使用
温度では、リフレッシュタイミングに余裕がもたせられ
るため、実動作におけるセルフリフレッシュ時の動作電
流が抑えられる。
That is, since the cycle becomes faster as the temperature rises, the cycle of the self-refresh is shortened, whereby the temperature characteristics of the oscillator circuit are improved and the reliability at a high temperature is improved. Further, in this case, at the normal use temperature, a margin is provided for the refresh timing, so that the operation current at the time of the self-refresh in the actual operation can be suppressed.

【0015】[0015]

【実施例】以下、本発明を図面に基づいて説明する。図
2は本発明に係るオシレータ回路の実施例1を示す図で
あり、その要部構成を示す回路図である。まず、構成を
説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 2 is a diagram illustrating Embodiment 1 of the oscillator circuit according to the present invention, and is a circuit diagram illustrating a main configuration thereof. First, the configuration will be described.

【0016】なお、図2において、図1に示した原理図
に付された番号と同一番号は同一部分を示す。本実施例
のオシレータ回路は、大別して、インバータ回路INV
1〜INVn、第一抵抗手段1、第二抵抗手段2から構
成されている。インバータ回路INV1〜INVnは、
図1の原理図と同様に、高電位電源線VCCと低電位電源
線VSSとの間に、ゲートに第一抵抗手段1からの信号を
受けるPチャネルMOSトランジスタQ11(Q21
n1)、ゲートに入力信号を受けるPチャネルMOSト
ランジスタQ12(Q22〜Qn2)及びNチャネルMOSト
ランジスタQ13(Q23〜Qn3)、ゲートに第二抵抗手段
2からの信号を受けるNチャネルMOSトランジスタQ
14(Q24〜Qn4)を順に直列接続したものである。
In FIG. 2, the same numbers as those given to the principle diagram shown in FIG. 1 indicate the same parts. The oscillator circuit of this embodiment is roughly divided into an inverter circuit INV
1 to INVn, first resistance means 1 and second resistance means 2. The inverter circuits INV1 to INVn are:
Like the principle diagram of Fig. 1, between the high voltage supply line V CC and a low potential power supply line V SS, P-channel MOS transistor Q 11 which receives a signal from the first resistance element 1 to the gate (Q 21 ~
Q n1 ), a P-channel MOS transistor Q 12 (Q 22 to Q n2 ) and an N-channel MOS transistor Q 13 (Q 23 to Q n3 ) which receive an input signal at the gate, and a signal from the second resistance means 2 at the gate. N channel MOS transistor Q
14 (Q 24 to Q n4 ) in series.

【0017】第一抵抗手段1は、図1に示す第一抵抗手
段1における高電位電源線VCCと第一PチャネルMOS
トランジスタQA1との間に、ゲートを第一PチャネルM
OSトランジスタQA1のソースに接続する第二Pチャネ
ルMOSトランジスタQA2を直列に設けたものであり、
同様に第二抵抗手段2は、図1に示す第二抵抗手段2に
おける第一NチャネルMOSトランジスタQB1と低電位
電源線VSSとの間に、ゲートを第一NチャネルMOSト
ランジスタQB1のソースに接続する第二NチャネルMO
SトランジスタQB2を直列に設けたものである。
The first resistance means 1 is connected to the high potential power supply line V CC and the first P-channel MOS in the first resistance means 1 shown in FIG.
The gate is connected to the first P-channel M between the transistor Q A1
A second P-channel MOS transistor Q A2 connected to the source of the OS transistor Q A1 is provided in series,
Similarly the second resistor means 2, between the first N-channel MOS transistor Q B1 in the second resistance means 2 shown in FIG. 1 and a low-potential power source line V SS, a gate of the first N-channel MOS transistor Q B1 Second N-channel MO connected to source
An S transistor QB2 is provided in series.

【0018】図1に示すオシレータ回路では、接続点
(以下、ノードという)NB1の電位がNチャネルMOS
トランジスタQ14の閾値+αとなるようにNチャネルM
OSトランジスタQB1と抵抗RB1との抵抗比を調節する
ことが必要である。しかし、NチャネルMOSトランジ
スタQ14の閾値にバラツキが生じると、NチャネルMO
SトランジスタQ14に流れる電流は大きく変化する危険
がある。
In the oscillator circuit shown in FIG. 1, the potential of a connection point (hereinafter, referred to as a node) N B1 is
N-channel M such that the threshold value + alpha of the transistor Q 14
It is necessary to adjust the resistance ratio between the OS transistor Q B1 and the resistor R B1 . However, the variation in the threshold of the N-channel MOS transistor Q 14 occurs, N-channel MO
The current flowing through the S transistor Q 14 is at risk vary greatly.

【0019】そこで、本実施例では、第一抵抗手段1に
PチャネルMOSトランジスタQA2を、第二抵抗手段2
にNチャネルMOSトランジスタQB2を追加することに
より、この点を改善している。すなわち、NチャネルM
OSトランジスタQB2によりノードNB2は閾値分上昇
し、ノードNB1の電位は、
Therefore, in the present embodiment, the first resistance means 1 is provided with a P-channel MOS transistor Q A2 and the second resistance means 2
This point is improved by adding an N-channel MOS transistor QB2 to the circuit. That is, N channel M
Due to the OS transistor Q B2 , the node N B2 rises by the threshold, and the potential of the node N B1 becomes

【0020】[0020]

【数1】 (Equation 1)

【0021】となる。ここで、NチャネルMOSトラン
ジスタQ14はほとんどサチュレーション領域で動作して
いるため、NチャネルMOSトランジスタQ14に流れる
電流I(Q14)は、
## EQU1 ## Here, since the N-channel MOS transistor Q 14 operates in almost saturation region, the current flowing through the N channel MOS transistor Q 14 I (Q 14) is

【0022】[0022]

【数2】 (Equation 2)

【0023】となり、式中にVth(N)の項がないた
め、閾値の依存がなくなり、NチャネルMOSトランジ
スタQB1のソース〜ドレイン間に発生する電圧のみでN
チャネルMOSトランジスタQ14のgmが決定する。以
下、具体的な数値に基づいて説明する。
Since there is no V th (N) term in the equation, there is no dependency on the threshold value, and N is determined only by the voltage generated between the source and the drain of the N-channel MOS transistor Q B1.
Gm of the channel MOS transistor Q 14 is determined. Hereinafter, description will be made based on specific numerical values.

【0024】一般に、温度が50°C上昇すると、トラ
ンジスタのβは70%程度に減少する。20°Cの時の
NチャネルMOSトランジスタQB1のソース〜ドレイン
間電圧をV(QB1R)とすると、70°Cの時のNチャ
ネルMOSトランジスタQB1のソース〜ドレイン間電圧
V(QB1H)は、
Generally, when the temperature rises by 50 ° C., the β of the transistor decreases to about 70%. Assuming that the voltage between the source and the drain of the N-channel MOS transistor Q B1 at 20 ° C. is V (Q B1 R), the voltage V (Q B1 between the source and the drain of the N-channel MOS transistor Q B1 at 70 ° C. H)

【0025】[0025]

【数3】 (Equation 3)

【0026】となり、この時、NチャネルMOSトラン
ジスタQ14に流れる電流I(Q14H)は、
At this time, the current I (Q 14 H) flowing through the N-channel MOS transistor Q 14 is

【0027】[0027]

【数4】 (Equation 4)

【0028】となる。このように本実施例では、温度上
昇と共にNチャネルMOSトランジスタQ14に流れる電
流が増大するため、オシレータ回路のセルフリフレッシ
ュ周期が早くなる。
## EQU1 ## Thus, in this embodiment, since the current flowing through the N channel MOS transistor Q 14 as the temperature rises is increased, the self-refresh cycle of the oscillator circuit becomes faster.

【0029】図3は本発明に係るオシレータ回路の実施
例2を示す図であり、その要部構成を示す回路図であ
る。なお、図3において、図2に示した実施例1に付さ
れた番号と同一番号は同一部分を示す。本実施例のオシ
レータ回路では、第一抵抗手段1の低電位出力端と第二
抵抗手段2の高電位出力端との間を第三の抵抗Rを介し
て接続したものである。
FIG. 3 is a diagram showing a second embodiment of the oscillator circuit according to the present invention, and is a circuit diagram showing a main part configuration thereof. In FIG. 3, the same reference numerals as those in the first embodiment shown in FIG. 2 indicate the same parts. In the oscillator circuit of the present embodiment, the low potential output terminal of the first resistance means 1 and the high potential output terminal of the second resistance means 2 are connected via a third resistor R.

【0030】すなわち、実施例1では第一抵抗手段1及
び第二抵抗手段2にそれぞれ電流を供給してやる必要が
あったが、第一抵抗手段1及び第二抵抗手段2を抵抗R
を介して共通化することにより直流電流を低減できる。
したがって本実施例では、実施例1と比較して、特に、
スタンバイ時において消費電力を低減することができ
る。
That is, in the first embodiment, it is necessary to supply currents to the first resistance means 1 and the second resistance means 2, respectively.
The DC current can be reduced by sharing the data via the.
Therefore, in this embodiment, in comparison with the first embodiment,
Power consumption can be reduced during standby.

【0031】図4は本発明に係るオシレータ回路の実施
例3を示す図であり、その要部構成を示す回路図であ
る。なお、図4において、図2に示した実施例1に付さ
れた番号と同一番号は同一部分を示す。本実施例のオシ
レータ回路では、図2に示す第一抵抗手段1の抵抗RA1
を、ゲートを入力端とする第三NチャネルMOSトラン
ジスタQRAに置換した第三抵抗手段3,3’と、同様
に、図2に示す第二抵抗手段2の抵抗RB1を、ゲートを
入力端とする第三PチャネルMOSトランジスタQRB
置換した第四抵抗手段4とを設け、第二抵抗手段2から
の出力を第三抵抗手段3、第四抵抗手段4、第三抵抗手
段3’の順に接続し、第三抵抗手段3’の出力端をイン
バータ回路INV1〜INVnにおける所定数のPチャ
ネルMOSトランジスタQ 11 (Q 21 〜Q n1 )のうちの1
つのゲートに接続するとともに、第四抵抗手段4の出力
端をインバータ回路INV1〜INVnにおける所定数
のNチャネルMOSトランジスタQ 14 (Q 24 〜Q n4 )の
うちの1つゲートに接続したものである。
FIG. 4 is a diagram showing a third embodiment of the oscillator circuit according to the present invention, and is a circuit diagram showing a main part of the oscillator circuit. In FIG. 4, the same numbers as those in the first embodiment shown in FIG. 2 indicate the same parts. In the oscillator circuit of this embodiment, the resistance R A1 of the first resistance means 1 shown in FIG.
And a third resistance means 3,3 'substituted on the third N-channel MOS transistors Q RA to the input end of the gate, as well, the resistance R B1 of the second resistance means 2 shown in FIG. 2, the input gate And a fourth resistance means 4 which is replaced by a third P-channel MOS transistor QRB at the end, and outputs the output from the second resistance means 2 to the third resistance means 3, the fourth resistance means 4, and the third resistance means 3 '. And the output terminal of the third resistance means 3 'is connected to a predetermined number of P channels in the inverter circuits INV1 to INVn.
One of the channel MOS transistors Q 11 (Q 21 to Q n1 )
And the output terminal of the fourth resistance means 4 is connected to a predetermined number of inverter circuits INV1 to INVn.
Of N-channel MOS transistor Q 14 of the (Q 24 ~Q n4)
It is connected to one of the gates .

【0032】すなわち、前述の実施例1,2では、確か
に温度の上昇と共にオシレータ回路のセルフリフレッシ
ュ周期は早くなるが、その効果は1.42倍程度であ
る。本実施例は、抵抗手段を複数段用いることにより効
果をより高めるものである。つまり、一段目の第二抵抗
手段2により、NチャネルMOSトランジスタQB1のソ
ース〜ドレイン間電圧V(QB1H)は、
That is, in the first and second embodiments, although the self-refresh cycle of the oscillator circuit is shortened as the temperature rises, the effect is about 1.42 times. In this embodiment, the effect is further enhanced by using a plurality of resistance means. That is, the source-drain voltage V (Q B1 H) of the N-channel MOS transistor Q B1 is changed by the second resistance means 2 in the first stage.

【0033】[0033]

【数5】 (Equation 5)

【0034】となり、この時、NチャネルMOSトラン
ジスタQB1に流れる電流I(QB1H)は、
At this time, the current I (Q B1 H) flowing through the N-channel MOS transistor Q B1 is

【0035】[0035]

【数6】 (Equation 6)

【0036】となる。ここで、NチャネルMOSトラン
ジスタQRAの電流が1.42倍になり、かつ、Pチャネ
ルMOSトランジスタQA1のgmが0.7倍となるの
で、
## EQU1 ## Here, since the current of the N-channel MOS transistor Q RA increases 1.42 times and the gm of the P-channel MOS transistor Q A1 increases 0.7 times,

【0037】[0037]

【数7】 (Equation 7)

【0038】同様に、Similarly,

【0039】[0039]

【数8】 (Equation 8)

【0040】[0040]

【数9】 (Equation 9)

【0041】[0041]

【数10】 (Equation 10)

【0042】となり、抵抗手段を複数段接続することに
より、セルフリフレッシュ周期を大きく変更することが
できる。図5は本発明に係るオシレータ回路の実施例4
を示す図であり、その要部構成を示す回路図である。
The self-refresh cycle can be greatly changed by connecting a plurality of resistance means. FIG. 5 shows an oscillator circuit according to a fourth embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration of a main part thereof.

【0043】なお、図5において、図2に示した実施例
1に付された番号と同一番号は同一部分を示す。本実施
例のオシレータ回路では、図2に示す第一抵抗手段の低
電位出力端に、一端が高電位電源に接続された第一の
量C0の他端を接続するとともに、第二抵抗手段の高電
位出力端に、一端が低電位電源に接続された第二の容量
1の他端を接続したものである。
In FIG. 5, the same numbers as those of the first embodiment shown in FIG. 2 indicate the same parts. In the oscillator circuit of the present embodiment, the first resistor means shown in FIG.
The potential output terminals, with connecting a first end of capacity <br/> amount C 0 having one end connected to the high potential power supply, high-voltage of the second resistor means
To position the output end, in which one end is connected to a second end of capacitor C 1 connected to the low-potential power supply.

【0044】すなわち、前述の実施例1のノードNB1
B2は、電源電圧に対するインピーダンスが高く、電源
電圧が変動した場合にはPチャネルMOSトランジスタ
11(Q21〜Qn1)のgmが変動してしまうことにな
る。つまり本実施例では、電源電圧の変動に対してMO
Sトランジスタのgmの変動を防止するものである。
That is, the nodes N B1 ,
N B2 is a high impedance with respect to the power supply voltage, so that the gm of the P-channel MOS transistor Q 11 (Q 21 ~Q n1) fluctuates if the supply voltage fluctuates. In other words, in the present embodiment, the MO
This prevents a change in gm of the S transistor.

【0045】これによって、本実施例では前述の実施例
1と比較してさらに安定した動作が得られる。なお、上
記実施例はそれぞれ第二抵抗手段を中心に説明している
が、第一抵抗手段における作用も同様である。
Thus, in this embodiment, a more stable operation can be obtained as compared with the first embodiment. In the above embodiments, the second resistance means is mainly described, but the operation in the first resistance means is also the same.

【0046】[0046]

【発明の効果】本発明では、温度の上昇と共にセルフリ
フレッシュ周期を早くすることができ、セルフリフレッ
シュ周期が短縮することにより、オシレータ回路の温度
特性を改善し、高い温度での信頼性を高めることができ
る。また、この場合、通常使用温度では、リフレッシュ
タイミングに余裕がもたせられるため、実動作における
セルフリフレッシュ時の動作電流を抑えることができ、
低消費電力かを図ることができる。
According to the present invention, the self-refresh cycle can be shortened as the temperature rises, and the self-refresh cycle is shortened, thereby improving the temperature characteristics of the oscillator circuit and increasing the reliability at high temperatures. Can be. Also, in this case, at the normal operating temperature, there is a margin for the refresh timing, so that the operating current at the time of the self-refresh in the actual operation can be suppressed,
Low power consumption can be achieved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のオシレータ回路の原理図である。FIG. 1 is a principle diagram of an oscillator circuit of the present invention.

【図2】実施例1の要部構成を示す回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration of a main part of the first embodiment.

【図3】実施例2の要部構成を示す回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram showing a configuration of a main part of a second embodiment.

【図4】実施例3の要部構成を示す回路図である。FIG. 4 is a circuit diagram showing a configuration of a main part of a third embodiment.

【図5】実施例4の要部構成を示す回路図である。FIG. 5 is a circuit diagram showing a configuration of a main part of a fourth embodiment.

【図6】セルフリフレッシュ機能付きのDRAMの全体
構成を示すブロック図である。
FIG. 6 is a block diagram showing an overall configuration of a DRAM having a self-refresh function.

【図7】図6の動作例を説明するための波形図である。FIG. 7 is a waveform chart for explaining the operation example of FIG. 6;

【図8】従来例の要部構成を示す回路図である。FIG. 8 is a circuit diagram showing a configuration of a main part of a conventional example.

【図9】従来例の問題点を説明するための図である。FIG. 9 is a diagram for explaining a problem of a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 第一抵抗手段 2 第二抵抗手段 3 第三抵抗手段 4 第四抵抗手段 INV1〜INVn インバータ回路 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 1st resistance means 2 2nd resistance means 3 3rd resistance means 4 4th resistance means INV1-INVn Inverter circuit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鈴木 孝章 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 伊藤 成真 愛知県春日井市高蔵寺町2丁目1844番2 富士通ヴィエルエスアイ株式会社内 (72)発明者 瀧田 雅人 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 杉浦 朗 愛知県春日井市高蔵寺町2丁目1844番2 富士通ヴィエルエスアイ株式会社内 (72)発明者 山口 和子 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (56)参考文献 特開 平4−30569(JP,A) 特開 平2−76253(JP,A) 特開 平4−129264(JP,A) 特開 昭61−87416(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11C 11/401 - 11/4099 H01L 27/10 481 H03K 3/354 WPI(DIALOG)────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Takaaki Suzuki 1015 Kamiodanaka, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa Prefecture Inside Fujitsu Limited (72) Inventor Shigemasa Ito 2-184-2 Kozoji-cho, Kasugai-shi, Aichi Prefecture Fujitsu VSI (72) Inventor Masato Takita 1015 Uedanaka, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa Prefecture Inside Fujitsu Limited (72) Inventor Akira Sugiura 2-1844-2 Kozoji-cho, Kasugai-shi, Aichi Prefecture Inside Fujitsu VSI Inc. (72 ) Inventor Kazuko Yamaguchi 1015 Uedanaka, Nakahara-ku, Kawasaki City, Kanagawa Prefecture Inside Fujitsu Limited (56) References JP-A-4-30569 (JP, A) JP-A-2-76253 (JP, A) JP-A-4 -129264 (JP, A) JP-A-61-87416 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G11C 11/401-11/4 099 H01L 27/10 481 H03K 3/354 WPI (DIALOG)

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】高電位電源線と低電位電源線との間に、所
定数のPチャネルMOSトランジスタ及び所定数のNチ
ャネルMOSトランジスタを順に直列接続してなるイン
バータ回路と、 前記高電位電源線と前記低電位電源線との間に、ゲート
に該低電位電源線の電位レベルを入力する第一Pチャネ
ルMOSトランジスタ及び第一の抵抗を順に直列接続
し、該第一PチャネルMOSトランジスタと該第一の
抗との接続点を低電位出力端とする第一抵抗手段と、 該高電位電源線と該低電位電源線との間に、第二の抵抗
及びゲートに該高電位電源線の電位レベルを入力する第
一NチャネルMOSトランジスタを順に直列接続し、該
第二の抵抗と該第一NチャネルMOSトランジスタとの
接続点を高電位出力端とする第二抵抗手段と、 を備え、 前記第一抵抗手段の低電位出力端を前記インバータ回路
における前記所定数のPチャネルMOSトランジスタの
うちの1つのゲートに接続するとともに、前記第二抵抗
手段の高電位出力端を該インバータ回路における前記所
定数のNチャネルMOSトランジスタのうちの1つのゲ
ートに接続し、該インバータ回路を複数段環状に接続し
て所定のクロック周期を生成することを特徴とするオシ
レータ回路であって、 前記第一抵抗手段は、前記高電位電源線と前記第一Pチ
ャネルMOSトランジスタとの間に、ゲートを該第一P
チャネルMOSトランジスタのソースに接続する第二P
チャネルMOSトランジスタを直列に設け、 前記第二抵抗手段は、前記第一NチャネルMOSトラン
ジスタと低電位電源線との間に、ゲートを該第一Nチャ
ネルMOSトランジスタのソースに接続する第二Nチャ
ネルMOSトランジスタを直列に設けることを特徴とす
るオシレータ回路
An inverter circuit including a predetermined number of P-channel MOS transistors and a predetermined number of N-channel MOS transistors connected in series between a high-potential power supply line and a low-potential power supply line; A first P-channel MOS transistor for inputting the potential level of the low-potential power line to a gate and a first resistor in series between the first P-channel MOS transistor and the low-potential power line; A first resistance means having a connection point with the first resistance as a low potential output terminal; and a second resistance and a gate between the high potential power supply line and the low potential power supply line. The first N-channel MOS transistors for inputting the potential level of the high potential power supply line are connected in series in order,
A second resistor means having a connection point between a second resistor and the first N-channel MOS transistor as a high-potential output terminal, wherein the low-potential output terminal of the first resistor means is the predetermined number in the inverter circuit. Of P-channel MOS transistor
As well as connected to one gate of out, said plant the high-potential output terminal of the second resistor means in said inverter circuit
One of the constant N-channel MOS transistors
Connect to over preparative and to connect the inverter circuit to the plurality of stages annular a oscillator circuit and generates a predetermined clock period, it said first resistor means, the said high-potential power supply line No. The gate between the first P-channel MOS transistor and the first P-channel MOS transistor
Second P connected to the source of the channel MOS transistor
A channel MOS transistor provided in series, the second resistance means including a second N-channel transistor having a gate connected to a source of the first N-channel MOS transistor between the first N-channel MOS transistor and a low potential power supply line; MOS transistors are provided in series .
Oscillator circuit .
【請求項2】高電位電源線と低電位電源線との間に、所
定数のPチャネルMOSトランジスタ及び所定数のNチ
ャネルMOSトランジスタを順に直列接続してなるイン
バータ回路と、 前記高電位電源線と前記低電位電源線との間に、ゲート
に該低電位電源線の電位レベルを入力する第一Pチャネ
ルMOSトランジスタ及び第一の抵抗を順に直列接続
し、該第一PチャネルMOSトランジスタと該第一の
抗との接続点を低電位出力端とする第一抵抗手段と、 該高電位電源線と該低電位電源線との間に、第二の抵抗
及びゲートに該高電位電源線の電位レベルを入力する第
一NチャネルMOSトランジスタを順に直列接続し、該
第二の抵抗と該第一NチャネルMOSトランジスタとの
接続点を高電位出力端とする第二抵抗手段と、 を備え、 前記第一抵抗手段の低電位出力端を前記インバータ回路
における前記所定数のPチャネルMOSトランジスタの
うちの1つのゲートに接続するとともに、前記第二抵抗
手段の高電位出力端を該インバータ回路における前記所
定数のNチャネルMOSトランジスタのうちの1つのゲ
ートに接続し、該インバータ回路を複数段環状に接続し
て所定のクロック周期を生成することを特徴とするオシ
レータ回路であって、 前記第一及び第二の抵抗に代えて、 前記第一抵抗手段の
低電位出力端と前記第二抵抗手段の高電位出力端とを
三の抵抗を介して接続することを特徴とするオシレータ
回路
2. An inverter circuit comprising a predetermined number of P-channel MOS transistors and a predetermined number of N-channel MOS transistors connected in series between a high-potential power supply line and a low-potential power supply line; A first P-channel MOS transistor for inputting the potential level of the low-potential power line to a gate and a first resistor in series between the first P-channel MOS transistor and the low-potential power line; A first resistance means having a connection point with the first resistance as a low potential output terminal; and a second resistance and a gate between the high potential power supply line and the low potential power supply line. The first N-channel MOS transistors for inputting the potential level of the high potential power supply line are connected in series in order,
A second resistor means having a connection point between a second resistor and the first N-channel MOS transistor as a high-potential output terminal, wherein the low-potential output terminal of the first resistor means is the predetermined number in the inverter circuit. Of P-channel MOS transistor
As well as connected to one gate of out, said plant the high-potential output terminal of the second resistor means in said inverter circuit
One of the constant N-channel MOS transistors
Connect to over preparative, by connecting the inverter circuits in a plurality of stages annular a oscillator circuit and generates a predetermined clock cycle, in place of the first and second resistors, said first the low potential output terminal of the resistor means and the high potential output terminal of the second resistor means the
Oscillator characterized by connecting via three resistors
Circuit .
【請求項3】高電位電源線と低電位電源線との間に、所
定数のPチャネルMOSトランジスタ及び所定数のNチ
ャネルMOSトランジスタを順に直列接続してなるイン
バータ回路と、 前記高電位電源線と前記低電位電源線との間に、ゲート
に該低電位電源線の電位レベルを入力する第一Pチャネ
ルMOSトランジスタ及び第一の抵抗を順に直列接続
し、該第一PチャネルMOSトランジスタと該第一の
抗との接続点を低電位出力端とする第一抵抗手段と、 該高電位電源線と該低電位電源線との間に、第二の抵抗
及びゲートに該高電位電源線の電位レベルを入力する第
一NチャネルMOSトランジスタを順に直列接続し、該
第二の抵抗と該第一NチャネルMOSトランジスタとの
接続点を高電位出力端とする第二抵抗手段と、 を備え、 前記第一抵抗手段の低電位出力端を前記インバータ回路
における前記所定数のPチャネルMOSトランジスタの
うちの1つのゲートに接続するとともに、前記第二抵抗
手段の高電位出力端を該インバータ回路における前記所
定数のNチャネルMOSトランジスタのうちの1つのゲ
ートに接続し、該インバータ回路を複数段環状に接続し
て所定のクロック周期を生成することを特徴とするオシ
レータ回路であって、 前記第一抵抗手段の抵抗を、ゲートを入力端とする第三
NチャネルMOSトランジスタに置換してなる第三抵抗
手段と、 前記第二抵抗手段の抵抗を、ゲートを入力端とする第三
PチャネルMOSトランジスタに置換してなる第四抵抗
手段と、 を備え、 前記第三抵抗手段及び前記第四抵抗手段を交互に所定数
段接続し、最終出力段における該第三抵抗手段の低電位
出力端を前記インバータ回路における前記所定数のPチ
ャネルMOSトランジスタのうちの1つのゲートに接続
するとともに、最終段における該第四抵抗手段の高電位
出力端を該インバータ回路における前記所定数のNチャ
ネルMOSトランジスタのうちの1つのゲートに接続す
ることを特徴とするオシレータ回路
3. An inverter circuit comprising a predetermined number of P-channel MOS transistors and a predetermined number of N-channel MOS transistors connected in series between a high-potential power supply line and a low-potential power supply line; A first P-channel MOS transistor for inputting the potential level of the low-potential power line to a gate and a first resistor in series between the first P-channel MOS transistor and the low-potential power line; A first resistance means having a connection point with the first resistance as a low potential output terminal; and a second resistance and a gate between the high potential power supply line and the low potential power supply line. The first N-channel MOS transistors for inputting the potential level of the high potential power supply line are connected in series in order,
A second resistor means having a connection point between a second resistor and the first N-channel MOS transistor as a high-potential output terminal, wherein the low-potential output terminal of the first resistor means is the predetermined number in the inverter circuit. Of P-channel MOS transistor
As well as connected to one gate of out, said plant the high-potential output terminal of the second resistor means in said inverter circuit
One of the constant N-channel MOS transistors
A plurality of inverter circuits connected in a ring to generate a predetermined clock cycle , wherein the resistance of the first resistance means has a gate as an input terminal. A third resistance means replaced by a third N-channel MOS transistor; and a fourth resistance means replaced by a third P-channel MOS transistor having a gate as an input terminal, the resistance of the second resistance means; The third resistance means and the fourth resistance means are alternately connected in a predetermined number of stages, and a low potential output terminal of the third resistance means in a final output stage is connected to the predetermined number of P switches in the inverter circuit.
Connected to the gate of one of the channel MOS transistors, and the high potential output terminal of the fourth resistance means in the last stage is connected to the predetermined number of N channels in the inverter circuit.
An oscillator circuit connected to one of the gates of the flannel MOS transistors .
【請求項4】高電位電源線と低電位電源線との間に、所
定数のPチャネルMOSトランジスタ及び所定数のNチ
ャネルMOSトランジスタを順に直列接続してなるイン
バータ回路と、 前記高電位電源線と前記低電位電源線との間に、ゲート
に該低電位電源線の電位レベルを入力する第一Pチャネ
ルMOSトランジスタ及び第一の抵抗を順に直列接続
し、該第一PチャネルMOSトランジスタと該第一の
抗との接続点を低電位出力端とする第一抵抗手段と、 該高電位電源線と該低電位電源線との間に、第二の抵抗
及びゲートに該高電位電源線の電位レベルを入力する第
一NチャネルMOSトランジスタを順に直列接続し、該
第二の抵抗と該第一NチャネルMOSトランジスタとの
接続点を高電位出力端とする第二抵抗手段と、 を備え、 前記第一抵抗手段の低電位出力端を前記インバータ回路
における前記所定数のPチャネルMOSトランジスタの
うちの1つのゲートに接続するとともに、前記第二抵抗
手段の高電位出力端を該インバータ回路における前記所
定数のNチャネルMOSトランジスタのうちの1つのゲ
ートに接続し、該インバータ回路を複数段環状に接続し
て所定のクロック周期を生成することを特徴とするオシ
レータ回路であって、 前記第一抵抗手段の前記低電位出力端に、 一端が前記
電位電源に接続された第一の容量の他端を接続するとと
もに、前記第二抵抗手段の前記高電位出力端に、一端が
低電位電源に接続された第二の容量の他端を接続するこ
とを特徴とするオシレータ回路
4. An inverter circuit comprising a predetermined number of P-channel MOS transistors and a predetermined number of N-channel MOS transistors connected in series between a high-potential power supply line and a low-potential power supply line; A first P-channel MOS transistor for inputting the potential level of the low-potential power line to a gate and a first resistor in series between the first P-channel MOS transistor and the low-potential power line; A first resistance means having a connection point with the first resistance as a low potential output terminal; and a second resistance and a gate between the high potential power supply line and the low potential power supply line. The first N-channel MOS transistors for inputting the potential level of the high potential power supply line are connected in series in order,
A second resistor means having a connection point between a second resistor and the first N-channel MOS transistor as a high-potential output terminal, wherein the low-potential output terminal of the first resistor means is the predetermined number in the inverter circuit. Of P-channel MOS transistor
As well as connected to one gate of out, said plant the high-potential output terminal of the second resistor means in said inverter circuit
One of the constant N-channel MOS transistors
Connect to over preparative, by connecting the inverter circuits in a plurality of stages annular a oscillator circuit and generates a predetermined clock period, the low-potential output terminal of the first resistor means, one end with the other end is connected to the first capacitor connected to the high potential power source, to the high potential output terminal of the second resistor means, the other end of the second capacitor having one end connected to the low-potential power supply An oscillator circuit, which is connected.
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