JP3137343U - 反りや撓みのある板状の測定物も正確に計測できる厚さ測定器 - Google Patents
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Abstract
【課題】反りや撓みのある板状の測定物を置いた時、その反りや撓みにより、その板状の測定物が平らなステ−ジに対して水平に接地しない為、正確な測定が出来ないという不都合の解消。
【解決手段】探針の先端が半球状の上下動するプロ−ブ1とX軸方向、Y軸方向に沿って動く、微調整のできる台座4に半球状の測定受け部3を設け、その半球状の測定受け部3とプロ−ブ1で撓んだ板状の測定対象物5を挟む形にして点で計測する。
【選択図】図1
【解決手段】探針の先端が半球状の上下動するプロ−ブ1とX軸方向、Y軸方向に沿って動く、微調整のできる台座4に半球状の測定受け部3を設け、その半球状の測定受け部3とプロ−ブ1で撓んだ板状の測定対象物5を挟む形にして点で計測する。
【選択図】図1
Description
本考案は、厚さ測定装置に関する。
従来の厚さ測定装置は板状の測定物を平らなステ−ジに乗せて測定していた。
しかし、これでは反りや撓みのある板状の測定物を置いた時、その反りや撓みにより、板状の測定物が平らなステ−ジに対して水平に接地しない為、正確な測定が出来ない。
そこで、探針の先端が半球状の上下動するプロ−ブとX軸方向、Y軸方向に沿って動く、微調整のできる台座に半球状の測定受け部を設け、その半球状の測定受け部とプロ−ブで板状の測定対象物を挟む形にして点で計測するようにした厚さ測定器を考案した。(図1)。この探針の先端が半球状のプロ−ブと半球状の測定受け部のついた微調整のできる台座により、面ではなく、点で測定することが可能になる。
よって、本考案の厚さ測定器により、反りや撓みのある板状の測定物でも正確な測定数値を得られる。
本考案に係る厚さ測定器10は、図1が示すように、探針の先端が半球状の上下動するプロ−ブ1とX軸方向、Y軸方向に沿って動く、微調整のできる台座4に半球状の測定受け部3を設け、その球状の測定受け部3とプロ−ブ1で板状の測定対象物5を挟む形にして面ではなく点で計測するようにする。
1 上下動するプロ−ブ
2 半球状の探針
3 半球状の測定受け部
4 X軸方向、Y軸方向に沿って動く微調整のできる台座
5 撓んだ板状の測定対象物
2 半球状の探針
3 半球状の測定受け部
4 X軸方向、Y軸方向に沿って動く微調整のできる台座
5 撓んだ板状の測定対象物
Claims (1)
- 上下動する探針の先端が半球状のプロ−ブとX軸方向、Y軸方向に沿って動く微調整のできる台座に半球状の測定受け部を設け、その半球状の測定受け部とプロ−ブで板状の測定対象物を挟む形にして点で計測するようにした厚さ測定器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007007302U JP3137343U (ja) | 2007-08-23 | 2007-08-23 | 反りや撓みのある板状の測定物も正確に計測できる厚さ測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007007302U JP3137343U (ja) | 2007-08-23 | 2007-08-23 | 反りや撓みのある板状の測定物も正確に計測できる厚さ測定器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP3137343U true JP3137343U (ja) | 2007-11-22 |
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ID=43287708
Family Applications (1)
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JP2007007302U Expired - Fee Related JP3137343U (ja) | 2007-08-23 | 2007-08-23 | 反りや撓みのある板状の測定物も正確に計測できる厚さ測定器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3137343U (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11493316B2 (en) | 2017-02-24 | 2022-11-08 | Lg Energy Solution, Ltd. | Apparatus for measuring thickness of battery materials |
-
2007
- 2007-08-23 JP JP2007007302U patent/JP3137343U/ja not_active Expired - Fee Related
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