JP3137343U - 反りや撓みのある板状の測定物も正確に計測できる厚さ測定器 - Google Patents

反りや撓みのある板状の測定物も正確に計測できる厚さ測定器 Download PDF

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Abstract

【課題】反りや撓みのある板状の測定物を置いた時、その反りや撓みにより、その板状の測定物が平らなステ−ジに対して水平に接地しない為、正確な測定が出来ないという不都合の解消。
【解決手段】探針の先端が半球状の上下動するプロ−ブ１とＸ軸方向、Ｙ軸方向に沿って動く、微調整のできる台座４に半球状の測定受け部３を設け、その半球状の測定受け部３とプロ−ブ１で撓んだ板状の測定対象物５を挟む形にして点で計測する。
【選択図】図１

Description

本考案は、厚さ測定装置に関する。
従来の厚さ測定装置は板状の測定物を平らなステ−ジに乗せて測定していた。
しかし、これでは反りや撓みのある板状の測定物を置いた時、その反りや撓みにより、板状の測定物が平らなステ−ジに対して水平に接地しない為、正確な測定が出来ない。
 課題を解決する為の手段
そこで、探針の先端が半球状の上下動するプロ−ブとＸ軸方向、Ｙ軸方向に沿って動く、微調整のできる台座に半球状の測定受け部を設け、その半球状の測定受け部とプロ−ブで板状の測定対象物を挟む形にして点で計測するようにした厚さ測定器を考案した。（図１）。この探針の先端が半球状のプロ−ブと半球状の測定受け部のついた微調整のできる台座により、面ではなく、点で測定することが可能になる。
考案の効果
よって、本考案の厚さ測定器により、反りや撓みのある板状の測定物でも正確な測定数値を得られる。
本考案に係る厚さ測定器１０は、図１が示すように、探針の先端が半球状の上下動するプロ−ブ１とＸ軸方向、Ｙ軸方向に沿って動く、微調整のできる台座４に半球状の測定受け部３を設け、その球状の測定受け部３とプロ−ブ１で板状の測定対象物５を挟む形にして面ではなく点で計測するようにする。
本考案に係る厚さ測定器が板状の測定物を計測している図である。 上下動するプロ−ブと測定受け部と撓みのある板状の測定物の拡大図である。
符号の説明
１ 上下動するプロ−ブ
２ 半球状の探針
３ 半球状の測定受け部
４ Ｘ軸方向、Ｙ軸方向に沿って動く微調整のできる台座
５ 撓んだ板状の測定対象物

Claims (1)

  1. 上下動する探針の先端が半球状のプロ−ブとＸ軸方向、Ｙ軸方向に沿って動く微調整のできる台座に半球状の測定受け部を設け、その半球状の測定受け部とプロ−ブで板状の測定対象物を挟む形にして点で計測するようにした厚さ測定器。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US11493316B2 (en) 2017-02-24 2022-11-08 Lg Energy Solution, Ltd. Apparatus for measuring thickness of battery materials

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