JP3128163U - Spectrophotometer - Google Patents
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Abstract
【課題】 分光光度計において、ある特定の波長を選択し、その波長での測定値を評価に利用する際には、測定値は波長のずれに由来する誤差を含んでいる。波長選択する際に、このような波長のずれに由来する測定値のばらつきを考慮しやすくする。
【解決手段】
波長ずれに由来する測定値のあいまいさを求める機能を備える。評価に利用するスペクトルと波長ずれから、選択される波長によって、測定値にどのくらいの大きさの波長ずれに由来するあいまいさがあるのかを計算する。波長ごとのあいまいさを表示する。また、あいまいさの大きな波長を選択した場合には警告を発するようにしてもよい。
【選択図】 図1In a spectrophotometer, when a specific wavelength is selected and a measured value at that wavelength is used for evaluation, the measured value includes an error due to a shift in wavelength. When selecting a wavelength, it is easy to take into account variations in measured values resulting from such a shift in wavelength.
[Solution]
It has a function to determine the ambiguity of the measurement value derived from the wavelength shift. Based on the spectrum used for evaluation and the wavelength shift, the degree of ambiguity derived from the wavelength shift in the measured value is calculated depending on the selected wavelength. Displays the ambiguity for each wavelength. Further, when a wavelength with a large ambiguity is selected, a warning may be issued.
[Selection] Figure 1
Description
本考案は、汎用分光光度計として、あるいは高速液体クロマトグラフの検出器として利用される分光光度計に関し、特に、サンプルの吸収スペクトルを測定したり、あるいは、ある波長での、サンプルの吸光度や透過率を求めることのできる分光光度計に関するものである。 The present invention relates to a spectrophotometer used as a general-purpose spectrophotometer or a detector of a high-performance liquid chromatograph, and in particular, measures an absorption spectrum of a sample, or absorbs or transmits a sample at a certain wavelength. It is related with the spectrophotometer which can obtain | require a rate.
分光光度計は、紫外可視近赤外光などの、光源からの様々な波長の光を、分光手段により波長分離を行い、被測定試料に照射して、検出器へ到達した光の波長ごとの強度を測定し、試料に特有の吸収スペクトルを測定したり、吸収された各波長の透過・反射率や吸光度を測定する装置であり、試料成分の定性、定量分析に利用されている。このような分光光度計は、液体、固体など多種多様な試料を測定することができ、液体クロマトグラフからの溶出液に対して分光光度計により測定を行うことも行われる。 The spectrophotometer performs wavelength separation of light of various wavelengths from a light source, such as ultraviolet, visible, and near-infrared light, using a spectroscopic means, and irradiates the sample to be measured for each wavelength of light that reaches the detector. It is a device that measures the intensity, measures the absorption spectrum peculiar to the sample, and measures the transmittance / reflectance and absorbance of each absorbed wavelength, and is used for qualitative and quantitative analysis of sample components. Such a spectrophotometer can measure a wide variety of samples such as liquids and solids, and the eluate from the liquid chromatograph is also measured by the spectrophotometer.
分光光度計には、例えば、特許文献1の図2に記載されるような、光源からの光を2つの光束に分割して、試料側光束と対照側光束の二つを通すダブルビーム型分光光度計や、特許文献1の図4に示されるような、光源からの光束を測定部を通って検出器へ導入されるシングルビーム型分光光度計などがある。また、光源からの光を分光する分光部として、分光器(回折格子など)が1つのシングルモノクロメータや、例えば特許文献2の図2に示されるような、分光器を2つ直列に配置したダブルモノクロメータなどがある。
In the spectrophotometer, for example, as shown in FIG. 2 of
分光光度計においては、光源からの光を試料に照射し、透過率や反射率を測定することにより、試料の定性や定量を行うことができる。その際、1乃至複数のある特定波長を選択し、特定波長に対する測定値に基づいて、定性や定量を行うことがある。具体的には、ガラス・フィルム・プラスティックなどの品質管理や製品の確認のために、特定の波長における測定値が、予め定められた範囲にあるか否かにより、品質の良し悪しを判断することがある。 In a spectrophotometer, the sample can be qualitatively and quantitatively measured by irradiating the sample with light from a light source and measuring the transmittance and reflectance. At that time, one or a plurality of specific wavelengths may be selected, and qualitative or quantitative may be performed based on a measurement value for the specific wavelength. Specifically, for quality control of glass, film, plastic, etc. and product confirmation, judge whether the quality is good or bad depending on whether the measured value at a specific wavelength is in a predetermined range. There is.
分光光度計で、特定の波長の光で試料を測定し、その測定値を評価に用いる場合、測定対象試料の種類や波長の選択のしかたによって、測定値に含まれる誤差が大きくなることがある。測定値に誤差が生じる原因としては様々なことが考えられるが、原因のひとつとして、設定した波長と実際に測定している波長が、ずれていることが考えられる。このような波長のずれは、たとえば一般的な紫外可視分光光度計においては、波長正確さとして±0.3nm程度、繰り返し再現性として±0.3nm程度が含まれており、精度の悪い装置であれば、±0.5nmもの波長のばらつきがあるとされている。したがって、ある特定の波長を選択し、その波長での測定値を評価に利用する際には、測定値は波長のずれに由来する誤差を含んでいるのであるが、波長選択において、このような波長のずれに由来する測定値のばらつきがについては考慮されていなかった。 When a spectrophotometer measures a sample with light of a specific wavelength and uses the measured value for evaluation, the error included in the measured value may increase depending on the type of sample to be measured and how the wavelength is selected. . There are various causes for the error in the measurement value. One of the causes is that the set wavelength and the actually measured wavelength are deviated. For example, in a general UV-visible spectrophotometer, the wavelength deviation includes about ± 0.3 nm as the wavelength accuracy and about ± 0.3 nm as the repeatability. If there is, it is said that there is a variation in wavelength of ± 0.5 nm. Therefore, when a specific wavelength is selected and the measurement value at that wavelength is used for evaluation, the measurement value includes an error due to a wavelength shift. Variations in measured values due to wavelength shift were not considered.
特定の波長での測定値が含む、波長ずれによる誤差は、試料の種類と選択された波長の組み合わせによって変わるものであり、試料のスペクトルと選択される波長によっては、その測定値が含むばらつきが大きくなることがある。特に選択された波長での測定値を利用して試料の評価を行う際には、波長の選択が、評価の内容に大きな影響を与える。 The error due to wavelength shift included in the measurement value at a specific wavelength varies depending on the combination of the sample type and the selected wavelength. Depending on the sample spectrum and the selected wavelength, the measurement value may vary. May grow. In particular, when the sample is evaluated using the measured value at the selected wavelength, the selection of the wavelength greatly affects the content of the evaluation.
そこで本考案は、上記の課題を解決し、選択される波長によって、測定値にどのくらいの大きさのばらつきがあるのかを波長を選択する前に容易に把握することができ、また、ばらつきの小さな波長を選択することで、評価の確度を上げることができる分光光度計を提供することを目的とする。 Therefore, the present invention solves the above-mentioned problems, and can easily grasp how much the measured value varies depending on the selected wavelength before selecting the wavelength. An object of the present invention is to provide a spectrophotometer that can increase the accuracy of evaluation by selecting a wavelength.
上記課題を解決するために成された第1の考案に係る分光光度計は、選択された波長での測定値により測定試料の評価を行うための分光光度計であって、測定試料のスペクトルと波長ずれの値から、各波長における波長ずれに由来する測定値のあいまいさを求めて保存する制御部を備えたことを特徴としている。本考案によれば、選択された波長での測定値にふくまれるあいまいさを定量的に把握することができる。また、波長を選択する際に、波長ずれに由来する測定値のあいまいさにより評価を誤ってしまう危険性を把握することができる。 A spectrophotometer according to a first device for solving the above problems is a spectrophotometer for evaluating a measurement sample based on a measurement value at a selected wavelength, and includes a spectrum of the measurement sample and A control unit is provided that obtains and stores the ambiguity of the measurement value derived from the wavelength shift at each wavelength from the value of the wavelength shift. According to the present invention, it is possible to quantitatively grasp the ambiguity included in the measurement value at the selected wavelength. Further, when selecting a wavelength, it is possible to grasp the risk of erroneous evaluation due to the ambiguity of the measurement value derived from the wavelength shift.
上記課題を解決するために成された第2の考案に係る分光光度計は、さらに、前記各波長における波長ずれに由来する測定値のあいまいさを表示する表示部を備えたことを特徴としている。本考案によれば、さらに、測定値のあいまいさを視覚的に把握することができる。 The spectrophotometer according to the second device, which has been made in order to solve the above-mentioned problems, is characterized by further comprising a display unit for displaying the ambiguity of the measurement value derived from the wavelength shift at each wavelength. . According to the present invention, it is possible to visually grasp the ambiguity of the measurement value.
上記課題を解決するために成された第3の考案に係る分光光度計は、さらに前記制御部は、前記選択された波長における、測定値のあいまいさが閾値を越えたときには警告を発するものであることを特徴としている。本考案によれば、さらに、測定値のあいまいさが大きく、測定波長として好ましくない波長を選択していることを容易に知ることができる。 In the spectrophotometer according to the third aspect of the invention for solving the above-mentioned problem, the control unit further issues a warning when the ambiguity of the measured value exceeds the threshold at the selected wavelength. It is characterized by being. Further, according to the present invention, it is possible to easily know that an unfavorable wavelength is selected as a measurement wavelength because the measurement value is vague.
本考案によれば、ある試料を特定の波長での測定値によって評価する際に、選択される波長によって、測定値にどのくらいの大きさのばらつきを生じ得るかを容易に把握することができる。さらには、ばらつきの小さな波長を選択することで、評価の確度を上げることができる。 According to the present invention, when a certain sample is evaluated based on a measurement value at a specific wavelength, it is possible to easily grasp how much variation in the measurement value can be caused by the selected wavelength. Furthermore, the accuracy of evaluation can be improved by selecting a wavelength with small variation.
図5をもちいて本願発明に係る分光光度計を概略的に説明する。本実施例は、ダブルビーム型分光光度計に適用した例である。 The spectrophotometer according to the present invention will be schematically described with reference to FIG. The present embodiment is an example applied to a double beam type spectrophotometer.
測光部1にあっては、光源2から発した光は分光器3に入射され、ここで所望の波長を有する単色光が取り出される。この単色光は反射鏡4によりセクタ鏡5に送られ、セクタ鏡5により試料側光束Sと対照側光束Rの2光束に分割される。また、セクタ鏡5には光の遮蔽部が設けられており、試料側光束S及び対照側光束Rの発生期間と交互に遮光期間が発生するようにしている。試料側光束Sは反射鏡6を介して測定試料8に照射され、測定試料8を通過した光は反射鏡10、12を介して光検出器13の受光面に送られる。他方、対照側光束Rは反射鏡7を介して対照試料9に照射され、対照試料9を通過した光は反射鏡11を介して光検出器13の受光面に送られる。
In the
光検出器13の出力信号は増幅器14により増幅されたあと、サンプルホールド(S/H)回路15により一定時間間隔でサンプリングされ、ホールドされた電圧はアナログ−デジタル(A/D)変換器16によりデジタル電圧値に変換される。制御部17は、測光部1の動作を制御するとともに、この測光値データから、例えば吸光度や透過率を算出するための各種の演算を行なう機能を有するものであり、メモリ18を備えている。また、制御部17に接続された操作部19は、測定に関連する各種パラメータの設定や各種測定、処理の指示を行うためのものである。更にまた、表示部20は操作のための補助的情報や測定結果等を画面に表示するものであり、表による表示部21、警告部21を備えている。なお、制御部17は、例えばパーソナルコンピュータにて、その機能を実現することができる。
The output signal of the
本考案の分光光度計における特徴的機能について、図1のフローチャートを参照して説明する。 A characteristic function of the spectrophotometer of the present invention will be described with reference to the flowchart of FIG.
まず、波長のずれを入力する(S1)。次に、波長範囲を選択し、その範囲で、試料のスペクトルを測定する(S2)。次に、制御部18において、S1で入力された波長のずれとS2で測定されたスペクトルから、後述するアルゴリズムに基づき、波長のずれに由来する測定値のあいまいさを波長ごとに求める(S3)。次にS3で求めたあいまいさを表として表示する(S4)。
First, a wavelength shift is input (S1). Next, a wavelength range is selected, and the spectrum of the sample is measured within that range (S2). Next, the
S1における波長ずれの選択方法は、波長のずれをユーザーが選択し、操作部19から入力してもよいし、装置の規格などを参考に、予め装置で決まっている値を固定値として制御部17に保存しておき、それを利用してもよい。また例えば、波長範囲によって、異なる波長のずれを設定してもよい。
The wavelength shift selection method in S1 may be performed by the user selecting a wavelength shift and inputting it from the
S2において測定されたスペクトルの一例を図2に示す。これは、測光部1によって、波長範囲200nm〜900nmに亘り測定を行った例で、例えば表示部20に表示される。この波長範囲の選択は、評価に使用する特定波長を含む範囲に設定する必要がある。
An example of the spectrum measured in S2 is shown in FIG. This is an example in which measurement is performed by the
S3において、例えば以下のようなアルゴリズムを用いて、制御部17であいまいさを計算する。各測定点において、適当な範囲のデータを用いて、最小自乗法によって直線Lを求め、直線LとS1で入力された波長のずれからあいまいさを求め、メモリ18に保存する。直線Lの求め方としては、例えば、測定波長における微分値を求め、微分値を傾きとし、測定点を通る直線として求めてもよい。
In S3, for example, the
直線Lを用いてあいまいさを求める一例を図3を用いて説明する。例えば、測定波長を400nmとし、S1で設定された波長ずれの値を±0.4nmとする。測定波長と波長ずれから、波長波最大値Wmax(400.4nm)、波長最小値Wmin(399.6nm)を求める。次にWmax、Wminの値と、直線Lより、直線L上でとりえる透過率の最大値Tmax、透過率の最小値Tminを求める。このとき、TmaxとTminの差を求め、その値をその測定波長でのあいまいさとする。 An example of obtaining the ambiguity using the straight line L will be described with reference to FIG. For example, the measurement wavelength is 400 nm, and the value of the wavelength shift set in S1 is ± 0.4 nm. The wavelength wave maximum value Wmax (400.4 nm) and the wavelength minimum value Wmin (399.6 nm) are obtained from the measurement wavelength and the wavelength shift. Next, from the values of Wmax and Wmin and the straight line L, the maximum transmittance value Tmax and the minimum transmittance value Tmin that can be taken on the straight line L are obtained. At this time, the difference between Tmax and Tmin is obtained, and the value is defined as ambiguity at the measurement wavelength.
S4においては、図4に示すように、各波長におけるあいまいさを表形式にし、表示部20の表による表示部21に表示する。表示部21においては、グラフ形式にし、表示してもよい。これにより、測定者が測定対象波長選択する際に、波長ごとのあいまいさについても考慮しやすくなる。また、あいまいさに閾値を設け、その閾値を越えている波長を測定対象波長として選択した際には、警告部22により警告を表示したり、警告音を鳴らしたりしてもよい。
In S4, as shown in FIG. 4, the ambiguity at each wavelength is displayed in the form of a table and displayed on the
1...測光部
2...光源
3...分光器
8...試料セル
9...対照セル
13...光検出器
17...制御部
18...メモリ
19...操作部
20...表示部
21...表による表示部
22...警告部
R...対照側光束
S...試料側光束
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