JP3127087B2 - 濃淡画像のエッジ検出処理方法および装置 - Google Patents
濃淡画像のエッジ検出処理方法および装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、濃淡画像のエッジ検出
処理方法および装置に関するものである。
処理方法および装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】処理対象物を電子カメラ等により撮影し
濃淡画像データを得る場合、その画像データには、上記
カメラの特性や撮影状態等により高周波のノイズが付加
される。また、撮影により得られる画像は多少ぼやけて
しまうことから上記画像データの濃淡の変化は実際より
も鈍くなっている。このため、画像処理技術を用いてエ
ッジ部（輪郭部）の検出を行う場合には、上記画像デー
タに含まれるノイズ成分の除去と、エッジ部の強調を行
う処理が必要になる。
濃淡画像データを得る場合、その画像データには、上記
カメラの特性や撮影状態等により高周波のノイズが付加
される。また、撮影により得られる画像は多少ぼやけて
しまうことから上記画像データの濃淡の変化は実際より
も鈍くなっている。このため、画像処理技術を用いてエ
ッジ部（輪郭部）の検出を行う場合には、上記画像デー
タに含まれるノイズ成分の除去と、エッジ部の強調を行
う処理が必要になる。
【０００３】図７は、雑音成分を含む画像に対して用い
られる一般的なエッジ検出方法を示すフローチャートで
ある。この図のステップＳａ１において、処理対象の画
像は直線方向に走査され、各画素の濃度値が画像データ
として順次入力される。この画像データはステップＳａ
２において平滑化され、高周波成分つまりノイズ成分が
除去される。
られる一般的なエッジ検出方法を示すフローチャートで
ある。この図のステップＳａ１において、処理対象の画
像は直線方向に走査され、各画素の濃度値が画像データ
として順次入力される。この画像データはステップＳａ
２において平滑化され、高周波成分つまりノイズ成分が
除去される。
【０００４】そして、ステップＳａ３において、平滑化
された画像データの一階微分が行われ、濃度値の変化点
（エッジ部）の強調化が行われる。この強調化された画
像データはステップＳａ４のしきい値処理により、所定
値以上の画像データ、つまり濃度値変化の大きい画像デ
ータだけが残され、他の画像データは例えば「０」に設
定される。これにより、ノイズ成分が除去され、エッジ
部のみが抽出される。そして、ステップＳａ５の細線化
により、変化点つまりエッジ位置の検出が行われる。
された画像データの一階微分が行われ、濃度値の変化点
（エッジ部）の強調化が行われる。この強調化された画
像データはステップＳａ４のしきい値処理により、所定
値以上の画像データ、つまり濃度値変化の大きい画像デ
ータだけが残され、他の画像データは例えば「０」に設
定される。これにより、ノイズ成分が除去され、エッジ
部のみが抽出される。そして、ステップＳａ５の細線化
により、変化点つまりエッジ位置の検出が行われる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来のエッジ検出方法（図７参照）においては、ノイズ除
去のために平滑化（ステップＳａ２）やしきい値処理
（ステップＳａ４）を行っているが、これらの処理は処
理対象の画像やノイズの大きさ等に依存するものであ
り、予めノイズや画像の特徴を把握し、平滑化の方法や
しきい値を選択・設定する、いわゆる最適化の作業が必
要になる。
来のエッジ検出方法（図７参照）においては、ノイズ除
去のために平滑化（ステップＳａ２）やしきい値処理
（ステップＳａ４）を行っているが、これらの処理は処
理対象の画像やノイズの大きさ等に依存するものであ
り、予めノイズや画像の特徴を把握し、平滑化の方法や
しきい値を選択・設定する、いわゆる最適化の作業が必
要になる。
【０００６】また、従来のエッジ検出方法においては、
エッジ部の強調処理によってノイズ成分も強調されてし
まい、必要なエッジ部とノイズ成分の見分けがつきにく
い状況が発生する。このため、エッジ検出処理後に、そ
の検出結果と本来の図形パターンとの比較を行う補助の
処理を新たに設ける必要があった。
エッジ部の強調処理によってノイズ成分も強調されてし
まい、必要なエッジ部とノイズ成分の見分けがつきにく
い状況が発生する。このため、エッジ検出処理後に、そ
の検出結果と本来の図形パターンとの比較を行う補助の
処理を新たに設ける必要があった。
【０００７】さらに、従来のエッジ検出方法において
は、多種の画像処理技術を用いて画像データの処理が行
われるため、エッジ検出位置のズレが発生してしまう。
このズレは、画像の特徴を調べるような場合にはあまり
問題とならないが、エッジ検出結果から測長を行うよう
な場合には信頼性に大きく影響する。
は、多種の画像処理技術を用いて画像データの処理が行
われるため、エッジ検出位置のズレが発生してしまう。
このズレは、画像の特徴を調べるような場合にはあまり
問題とならないが、エッジ検出結果から測長を行うよう
な場合には信頼性に大きく影響する。
【０００８】以上のように従来のエッジ検出方法におい
ては、最適化の作業や補助の処理を追加しなければなら
ないという問題があり、さらに、エッジ検出位置が正確
に得られないという問題があった。
ては、最適化の作業や補助の処理を追加しなければなら
ないという問題があり、さらに、エッジ検出位置が正確
に得られないという問題があった。
【０００９】この発明は、ノイズ成分を含む濃淡画像の
エッジ抽出を容易かつ正確に行うことができ、特にエッ
ジ部の測長に用いて好適なエッジ抽出方法および装置を
提供することを目的としている。
エッジ抽出を容易かつ正確に行うことができ、特にエッ
ジ部の測長に用いて好適なエッジ抽出方法および装置を
提供することを目的としている。
【００１０】
【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
めに、請求項１記載の発明は、画像を直線方向に走査し
た結果得られる各画素の濃淡情報に対し、対象画素とそ
の正側、負側の各近傍画素との濃淡情報の差分値を算出
し、正側差分値と負側差分値を得る第１のステップと、
前記第１のステップで得られた正側差分値と負側差分値
の乗算を行う第２のステップと、前記第２のステップで
得られた乗算結果のうち「０」以下のものを全て「０」
とする第３のステップとを有することを特徴とする。
めに、請求項１記載の発明は、画像を直線方向に走査し
た結果得られる各画素の濃淡情報に対し、対象画素とそ
の正側、負側の各近傍画素との濃淡情報の差分値を算出
し、正側差分値と負側差分値を得る第１のステップと、
前記第１のステップで得られた正側差分値と負側差分値
の乗算を行う第２のステップと、前記第２のステップで
得られた乗算結果のうち「０」以下のものを全て「０」
とする第３のステップとを有することを特徴とする。
【００１１】また、請求項２記載の発明は、画像を直線
方向に走査した結果得られる各画素の濃淡情報に対し、
対象画像とその正側、負側の各近傍画素との濃淡情報の
差分値を算出し、各差分値の符号を得る第１のステップ
と、前記第１のステップで得られた前記各差分値の符号
の乗算を行う第２のステップと、前記第２のステップで
得られた結果のうち「０」以下のものを全て「０」とす
る第３のステップとを有することを特徴とする。
方向に走査した結果得られる各画素の濃淡情報に対し、
対象画像とその正側、負側の各近傍画素との濃淡情報の
差分値を算出し、各差分値の符号を得る第１のステップ
と、前記第１のステップで得られた前記各差分値の符号
の乗算を行う第２のステップと、前記第２のステップで
得られた結果のうち「０」以下のものを全て「０」とす
る第３のステップとを有することを特徴とする。
【００１２】また、請求項３記載の発明は、画像を直線
方向に走査した結果得られる各画素の濃淡情報に対し、
対象画素とその正側、負側の各近傍画素との濃淡情報の
減算を行い、正側差分信号と負側差分信号を出力する微
分回路と、前記微分回路から出力される正側差分信号お
よび負側差分信号を乗算する乗算回路と、前記乗算回路
の乗算結果のうち「０」以下の信号を全て「０」にする
しきい値回路とを有することを特徴とする。
方向に走査した結果得られる各画素の濃淡情報に対し、
対象画素とその正側、負側の各近傍画素との濃淡情報の
減算を行い、正側差分信号と負側差分信号を出力する微
分回路と、前記微分回路から出力される正側差分信号お
よび負側差分信号を乗算する乗算回路と、前記乗算回路
の乗算結果のうち「０」以下の信号を全て「０」にする
しきい値回路とを有することを特徴とする。
【００１３】
【作用】請求項１記載の発明によれば、濃淡情報に含ま
れるノイズ成分は、ステップ１および２の処理により負
の値となり、エッジ部のみが正の値となる。このため、
ステップ３のしきい値「０」の処理によりノイズ成分の
除去が可能となり、しきい値調整などの最適化の作業が
必要なくなる。また、実施する画像処理の数が少ないた
め信頼できるエッジ検出位置を得ることができる。
れるノイズ成分は、ステップ１および２の処理により負
の値となり、エッジ部のみが正の値となる。このため、
ステップ３のしきい値「０」の処理によりノイズ成分の
除去が可能となり、しきい値調整などの最適化の作業が
必要なくなる。また、実施する画像処理の数が少ないた
め信頼できるエッジ検出位置を得ることができる。
【００１４】また、請求項２記載の発明によれば、請求
項１記載の発明の効果に加え、演算で扱う数値が小さい
ため、使用メモリ容量の削減が可能となる。
項１記載の発明の効果に加え、演算で扱う数値が小さい
ため、使用メモリ容量の削減が可能となる。
【００１５】さらに、請求項３記載の発明によれば、請
求項１記載の発明の効果に加え、高速処理が可能とな
る。
求項１記載の発明の効果に加え、高速処理が可能とな
る。
【００１６】
【実施例】以下、図面を参照して、この発明の実施例に
ついて説明する。 ＜実施例１＞図１は実施例１によるエッジ検出方法を適
用する画像処理システムの概略図である。この図におい
て、１はフラットケーブルであり、その両端の口出し部
には金属製の導体部１ａ，１ａ・・・が非導体部１ｂ上
に等間隔に設けられている。また、２は被写体であるフ
ラットケーブル１を設置するステージ、３はステージ２
を斜め上方から照らす光源である。
ついて説明する。 ＜実施例１＞図１は実施例１によるエッジ検出方法を適
用する画像処理システムの概略図である。この図におい
て、１はフラットケーブルであり、その両端の口出し部
には金属製の導体部１ａ，１ａ・・・が非導体部１ｂ上
に等間隔に設けられている。また、２は被写体であるフ
ラットケーブル１を設置するステージ、３はステージ２
を斜め上方から照らす光源である。
【００１７】一方、４はステージ２の上方に設置された
画像処理用ＣＣＤカメラ、５は画像信号を伝送するケー
ブルである。６は制御用コンピュータ７に組み込まれた
画像処理用インターフェースボードであり、ケーブル５
を介してＣＣＤカメラ４と接続される。８は制御用コン
ピュータ７の処理結果を表示するモニタである。
画像処理用ＣＣＤカメラ、５は画像信号を伝送するケー
ブルである。６は制御用コンピュータ７に組み込まれた
画像処理用インターフェースボードであり、ケーブル５
を介してＣＣＤカメラ４と接続される。８は制御用コン
ピュータ７の処理結果を表示するモニタである。
【００１８】図２は本発明の実施例１によるエッジ検出
方法を示すフローチャートであり、制御用コンピュータ
７（図１）内のメモリにプログラムとして記憶される。
また、図３は画像処理システム（図１）によって処理さ
れた画像データをグラフ化した結果を示す図である。
方法を示すフローチャートであり、制御用コンピュータ
７（図１）内のメモリにプログラムとして記憶される。
また、図３は画像処理システム（図１）によって処理さ
れた画像データをグラフ化した結果を示す図である。
【００１９】以下、図１〜図３を用いて本実施例の動作
を説明する。ＣＣＤカメラ４（図１参照）はステージ２
上に配置されたフラットケーブル１の口出し部を例えば
Ｘ軸のＡ点からＢ点の方向に順次走査し、走査により得
られた画像信号をケーブル５を介して画像処理用インタ
ーフェースボード６へ出力する。
を説明する。ＣＣＤカメラ４（図１参照）はステージ２
上に配置されたフラットケーブル１の口出し部を例えば
Ｘ軸のＡ点からＢ点の方向に順次走査し、走査により得
られた画像信号をケーブル５を介して画像処理用インタ
ーフェースボード６へ出力する。
【００２０】画像処理用インターフェースボード６は、
その画像信号から各画素の濃度値を示す画像データを生
成し記憶する。図３（ａ）はこのときの画像データをカ
メラ４の走査の方向に１走査分並べてグラフ化した図で
あり、光源３の光を全反射する導体部１ａ・・・は乱反
射する非導体部１ｂに比較して大きな濃度値となってい
る。また、この図に示すように、画像データには雑音成
分が付加され、エッジ部の濃淡変化がなまっている。
その画像信号から各画素の濃度値を示す画像データを生
成し記憶する。図３（ａ）はこのときの画像データをカ
メラ４の走査の方向に１走査分並べてグラフ化した図で
あり、光源３の光を全反射する導体部１ａ・・・は乱反
射する非導体部１ｂに比較して大きな濃度値となってい
る。また、この図に示すように、画像データには雑音成
分が付加され、エッジ部の濃淡変化がなまっている。
【００２１】制御用コンピュータ７は、図２のステップ
Ｓｂ１において上記画像データの例えば１走査分を入力
する。そして、ステップＳｂ２において下式に示す２種
類の１階微分処理Ｆij(+)およびＦij(-)をそれらの画像
データに対して行う。 Ｆij(+)＝ｆ（i+1,j）−ｆ（i,j） （１） Ｆij(-)＝ｆ（i,j）−ｆ（i-1,j） （２）
Ｓｂ１において上記画像データの例えば１走査分を入力
する。そして、ステップＳｂ２において下式に示す２種
類の１階微分処理Ｆij(+)およびＦij(-)をそれらの画像
データに対して行う。 Ｆij(+)＝ｆ（i+1,j）−ｆ（i,j） （１） Ｆij(-)＝ｆ（i,j）−ｆ（i-1,j） （２）
【００２２】ここで、ｆ（i,j）は座標（i,j）における
画素の濃度値を示し、座標（i,j）の右近傍（正側）の
画素の濃度値をｆ（i+1,j）、座標（i,j）の左近傍（負
側）の画素の濃度値をｆ（i-1,j）でそれぞれ示す。す
なわち、Ｆij(+)は正側の近傍画素との濃度値の差分を
示し、Ｆij(-)は負側の近傍画素との差分を示す（図３
（ｂ）参照）。
画素の濃度値を示し、座標（i,j）の右近傍（正側）の
画素の濃度値をｆ（i+1,j）、座標（i,j）の左近傍（負
側）の画素の濃度値をｆ（i-1,j）でそれぞれ示す。す
なわち、Ｆij(+)は正側の近傍画素との濃度値の差分を
示し、Ｆij(-)は負側の近傍画素との差分を示す（図３
（ｂ）参照）。
【００２３】次のステップＳｂ３では、上記ステップＳ
ｂ２で得られた２つの微分結果を下式によって乗算す
る。 ｇij＝Ｆij(+)×Ｆij(-) （３）
ｂ２で得られた２つの微分結果を下式によって乗算す
る。 ｇij＝Ｆij(+)×Ｆij(-) （３）
【００２４】これにより、エッジ部のように近接する３
画素の濃度値が連続して増加する場合、または逆に連続
して減少する場合には、式（３）の乗算結果ｇijは共に
正の値となり、ノイズ成分のように増加／減少が繰り返
されるような場合には負の値となる。この処理により、
ノイズ成分のみが負の値となる（図３（ｃ）参照）。
画素の濃度値が連続して増加する場合、または逆に連続
して減少する場合には、式（３）の乗算結果ｇijは共に
正の値となり、ノイズ成分のように増加／減少が繰り返
されるような場合には負の値となる。この処理により、
ノイズ成分のみが負の値となる（図３（ｃ）参照）。
【００２５】次のステップＳｂ４においては、下式に従
って乗算結果ｇijがエッジ部であるか、ノイズ成分であ
るかを判定する。すなわち、上記ステップＳｂ２の乗算
処理によりノイズ成分は負の値となったため、しきい値
「０」によりエッジ部とノイズ成分の切り分けを行うこ
とができ、したがって、対象画像やノイズに応じてしき
い値を調整しなくてもよい。 ｇij＝ エッジ ； ｇij＞０ （４−１） ｇij＝ ノイズ ； ｇij≦０ （４−２）
って乗算結果ｇijがエッジ部であるか、ノイズ成分であ
るかを判定する。すなわち、上記ステップＳｂ２の乗算
処理によりノイズ成分は負の値となったため、しきい値
「０」によりエッジ部とノイズ成分の切り分けを行うこ
とができ、したがって、対象画像やノイズに応じてしき
い値を調整しなくてもよい。 ｇij＝ エッジ ； ｇij＞０ （４−１） ｇij＝ ノイズ ； ｇij≦０ （４−２）
【００２６】次にエッジ検出結果ｈijが下式で求めら
れ、エッジ部のみが正の値として残される。 ｈij＝ ｇij ； ｇij＞０ （５−１） ｈij＝ ０ ； ｇij≦０ （５−２）
れ、エッジ部のみが正の値として残される。 ｈij＝ ｇij ； ｇij＞０ （５−１） ｈij＝ ０ ； ｇij≦０ （５−２）
【００２７】そして、最後にステップＳｂ５において細
線化処理が行われ、エッジ位置が正確に検出されるとと
ともに、その検出結果がモニタ８（図１）に表示され
る。
線化処理が行われ、エッジ位置が正確に検出されるとと
ともに、その検出結果がモニタ８（図１）に表示され
る。
【００２８】以上説明した実施例１によれば、簡単な積
和演算によりエッジ部の強調およびノイズの除去を行う
ことができ、さらに、平滑化などの処理を行わないため
エッジ位置を正確に検出することができる。これによ
り、フラットケーブル１の端部の導体部１ａ，１ａ・・
・の位置や幅を容易かつ正確に検出可能となり、生産時
の品質管理を効率よく行うことができる。
和演算によりエッジ部の強調およびノイズの除去を行う
ことができ、さらに、平滑化などの処理を行わないため
エッジ位置を正確に検出することができる。これによ
り、フラットケーブル１の端部の導体部１ａ，１ａ・・
・の位置や幅を容易かつ正確に検出可能となり、生産時
の品質管理を効率よく行うことができる。
【００２９】＜実施例２＞次に本発明の第２の実施例に
ついて説明を行う。この実施例２は、図１の画像処理シ
ステムに、他のエッジ検出方法を適用したものである。
ついて説明を行う。この実施例２は、図１の画像処理シ
ステムに、他のエッジ検出方法を適用したものである。
【００３０】図４は本発明の実施例２によるエッジ検出
方法を示すフローチャートであり、制御用コンピュータ
７（図１）内のメモリにプログラムとして記憶される。
図５は図１の画像処理システムによって処理された画像
データをグラフ化した結果を示す図である。
方法を示すフローチャートであり、制御用コンピュータ
７（図１）内のメモリにプログラムとして記憶される。
図５は図１の画像処理システムによって処理された画像
データをグラフ化した結果を示す図である。
【００３１】以下、図１、図４および図５を用いて本実
施例の動作を説明する。図４のステップＳｃ１で入力さ
れた濃淡画像データは、ステップＳｃ２において下式の
微分値符号化がなされる。 Ｆij(+)＝ＳＧＮ｛ｆ（i+1,j）−ｆ（i,j）｝ （６） Ｆij(-)＝ＳＧＮ｛ｆ（i,j）−ｆ（i-1,j）｝ （７）
施例の動作を説明する。図４のステップＳｃ１で入力さ
れた濃淡画像データは、ステップＳｃ２において下式の
微分値符号化がなされる。 Ｆij(+)＝ＳＧＮ｛ｆ（i+1,j）−ｆ（i,j）｝ （６） Ｆij(-)＝ＳＧＮ｛ｆ（i,j）−ｆ（i-1,j）｝ （７）
【００３２】ここで、ＳＧＮ｛｝は｛｝内の数値の符号
を得る関数であり、例えば「０」を越える場合「＋
１」、「０」未満の場合「−１」の値をかえす。すなわ
ち、減算結果の数値の大きさには関係なく、その符号の
みが得られる。
を得る関数であり、例えば「０」を越える場合「＋
１」、「０」未満の場合「−１」の値をかえす。すなわ
ち、減算結果の数値の大きさには関係なく、その符号の
みが得られる。
【００３３】次にステップＳｃ３において、上記式
（６），（７）で得られた結果の乗算を行う。 ｇij＝Ｆij(+)×Ｆij(-) （８）
（６），（７）で得られた結果の乗算を行う。 ｇij＝Ｆij(+)×Ｆij(-) （８）
【００３４】図５はこの乗算結果ｇijをグラフ化したも
のであり、実施例１同様に、エッジ成分は正の値
（「１」）、ノイズ成分は負の値（「−１」）となる。
また、この乗算結果は、「−１」，「０」，「１」の３
値のいずれかとなるため、実際に乗算を行わなくても符
号の比較により容易に結果を得ることができる。また、
その結果を記憶するメモリの容量も小容量で済む。
のであり、実施例１同様に、エッジ成分は正の値
（「１」）、ノイズ成分は負の値（「−１」）となる。
また、この乗算結果は、「−１」，「０」，「１」の３
値のいずれかとなるため、実際に乗算を行わなくても符
号の比較により容易に結果を得ることができる。また、
その結果を記憶するメモリの容量も小容量で済む。
【００３５】次のステップＳｃ４では、上記乗算結果の
２値化を行い、ノイズ成分を除去する。すなわち、下式
に示すように「−１」をノイズ成分とみなし、「０」に
置き換える。 ｈij＝１（エッジ部） ； ｇij＞０ （９−１） ｈij＝０（ノイズ成分）； ｇij≦０ （９−２）
２値化を行い、ノイズ成分を除去する。すなわち、下式
に示すように「−１」をノイズ成分とみなし、「０」に
置き換える。 ｈij＝１（エッジ部） ； ｇij＞０ （９−１） ｈij＝０（ノイズ成分）； ｇij≦０ （９−２）
【００３６】そして、ステップＳｃ５で細線化が行わ
れ、最終的なエッジ位置が検出されるとともに、その検
出結果がモニタ８に表示される。
れ、最終的なエッジ位置が検出されるとともに、その検
出結果がモニタ８に表示される。
【００３７】以上説明した実施例２によれば、実施例１
と同様に、容易かつ正確にエッジの検出を行うことがで
き、さらに、演算に用いる数値が３値であるため、高速
処理が可能であるとともに処理に必要となるメモリ容量
を削減することができる。
と同様に、容易かつ正確にエッジの検出を行うことがで
き、さらに、演算に用いる数値が３値であるため、高速
処理が可能であるとともに処理に必要となるメモリ容量
を削減することができる。
【００３８】＜実施例３＞次に本発明の第３の実施例に
ついて説明を行う。この実施例３は、上述した実施例１
または実施例２のエッジ検出方法（図２，図４参照）を
ハードウェアにより実現したものである。
ついて説明を行う。この実施例３は、上述した実施例１
または実施例２のエッジ検出方法（図２，図４参照）を
ハードウェアにより実現したものである。
【００３９】図６は、そのハードウェアの構成を示すブ
ロック図である。この図において、１０はエッジ検出処
理装置であり、インターフェース回路１１、微分回路１
２、乗算回路１３、しきい値回路１４、細線化回路１
５、および画像メモリ１６により構成される。
ロック図である。この図において、１０はエッジ検出処
理装置であり、インターフェース回路１１、微分回路１
２、乗算回路１３、しきい値回路１４、細線化回路１
５、および画像メモリ１６により構成される。
【００４０】ここで、インターフェース回路１１は複数
段のシフトレジスタを有し、ＣＣＤカメラ４からの画像
信号に基づいて連続する３つの画像データを微分回路１
２へ同時に出力する。微分回路１２は減算回路等から構
成され、上記３つの画像データに基づいて上述した式
（１），（２）、または式（６），（７）の演算を行
う。
段のシフトレジスタを有し、ＣＣＤカメラ４からの画像
信号に基づいて連続する３つの画像データを微分回路１
２へ同時に出力する。微分回路１２は減算回路等から構
成され、上記３つの画像データに基づいて上述した式
（１），（２）、または式（６），（７）の演算を行
う。
【００４１】乗算回路１３は微分回路１２の２つの出力
を乗算し、しきい値「０」のしきい値回路１４がその乗
算結果のうち「０」以上の信号を通過させる。そして、
立上り検出を行う細線化回路１５によって細線化が行わ
れ、その結果が画像メモリ１６に記憶され、モニタ８に
表示される。
を乗算し、しきい値「０」のしきい値回路１４がその乗
算結果のうち「０」以上の信号を通過させる。そして、
立上り検出を行う細線化回路１５によって細線化が行わ
れ、その結果が画像メモリ１６に記憶され、モニタ８に
表示される。
【００４２】以上説明した実施例３によれば、実施例１
および２と同様な効果が得られるとともに、より高速に
エッジ検出を行うことができる。
および２と同様な効果が得られるとともに、より高速に
エッジ検出を行うことができる。
【００４３】なお、以上説明した実施例１〜３のエッジ
検出方法および装置は、フラットケーブル１の導体部１
ａ・・・の位置・幅の計測以外にも用いることができ、
例えばシート状製品の欠陥・異物検査に用いることがで
きる。
検出方法および装置は、フラットケーブル１の導体部１
ａ・・・の位置・幅の計測以外にも用いることができ、
例えばシート状製品の欠陥・異物検査に用いることがで
きる。
【００４４】この場合、例えば実施例１のエッジ検出方
法（図２参照）のステップＳｂ４において、実施例２
（図４）のステップＳｃ４の２値化処理を行うようにす
る。これにより、通常のエッジ位置以外の場所にエッジ
を示すパルスが存在する場合、その位置に欠陥または異
物が存在することを知ることができる。
法（図２参照）のステップＳｂ４において、実施例２
（図４）のステップＳｃ４の２値化処理を行うようにす
る。これにより、通常のエッジ位置以外の場所にエッジ
を示すパルスが存在する場合、その位置に欠陥または異
物が存在することを知ることができる。
【００４５】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、濃淡情報に含まれるノイズ成分が負の値に分離され
るため、しきい値「０」でノイズの除去が可能となり、
しきい値調整などの最適化の作業が必要ないという利点
がある。また、画像処理の数が少ないので信頼できるエ
ッジ検出位置を得ることができるという効果も得られ
る。
ば、濃淡情報に含まれるノイズ成分が負の値に分離され
るため、しきい値「０」でノイズの除去が可能となり、
しきい値調整などの最適化の作業が必要ないという利点
がある。また、画像処理の数が少ないので信頼できるエ
ッジ検出位置を得ることができるという効果も得られ
る。
【図１】 この発明の実施例１および２で用いる画像処
理システムの概略図である。
理システムの概略図である。
【図２】 実施例１によるエッジ検出処理のフローチャ
ートである。
ートである。
【図３】 図２のエッジ検出処理における画像データを
グラフ化した図である。
グラフ化した図である。
【図４】 実施例２によるエッジ検出処理のフローチャ
ートである。
ートである。
【図５】 図４のエッジ検出処理における画像データを
グラフ化した図である。
グラフ化した図である。
【図６】 この発明の実施例３によるエッジ検出処理装
置のブロック図である。
置のブロック図である。
【図７】 従来のエッジ検出方法を例示するフローチャ
ートである。
ートである。
１……フラットケーブル、１ａ……導体部、１ｂ……非
導体部、３……光源、４……画像処理用ＣＣＤカメラ、
６……画像インターフェースボード、７……制御コンピ
ュータ、８……モニタ、１０……エッジ検出処理回路、
１１……インターフェース回路、１２……微分回路、１
３……乗算回路、１４……しきい値回路、１５……細線
化回路、１６……画像メモリ
導体部、３……光源、４……画像処理用ＣＣＤカメラ、
６……画像インターフェースボード、７……制御コンピ
ュータ、８……モニタ、１０……エッジ検出処理回路、
１１……インターフェース回路、１２……微分回路、１
３……乗算回路、１４……しきい値回路、１５……細線
化回路、１６……画像メモリ
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G06T 7/60 250 G01B 11/00 G01T 1/00 - 3/00
Claims (3)
- 【請求項１】 画像を直線方向に走査した結果得られる
各画素の濃淡情報に対し、対象画素とその正側、負側の
各近傍画素との濃淡情報の差分値を算出し、正側差分値
と負側差分値を得る第１のステップと、 前記第１のステップで得られた正側差分値と負側差分値
の乗算を行う第２のステップと、 前記第２のステップで得られた乗算結果のうち「０」以
下のものを全て「０」とする第３のステップとを有する
ことを特徴とする濃淡画像のエッジ検出処理方法。 - 【請求項２】 画像を直線方向に走査した結果得られる
各画素の濃淡情報に対し、対象画像とその正側、負側の
各近傍画素との濃淡情報の差分値を算出し、各差分値の
符号を得る第１のステップと、 前記第１のステップで得られた前記各差分値の符号の乗
算を行う第２のステップと、 前記第２のステップで得られた結果のうち「０」以下の
ものを全て「０」とする第３のステップとを有すること
を特徴とする濃淡画像のエッジ検出処理方法。 - 【請求項３】 画像を直線方向に走査した結果得られる
各画素の濃淡情報に対し、対象画素とその正側、負側の
各近傍画素との濃淡情報の減算を行い、正側差分信号と
負側差分信号を出力する微分回路と、 前記微分回路から出力される正側差分信号および負側差
分信号を乗算する乗算回路と、 前記乗算回路の乗算結果のうち「０」以下の信号を全て
「０」にするしきい値回路とを有することを特徴とする
濃淡画像のエッジ検出処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06291822A JP3127087B2 (ja) | 1994-11-25 | 1994-11-25 | 濃淡画像のエッジ検出処理方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06291822A JP3127087B2 (ja) | 1994-11-25 | 1994-11-25 | 濃淡画像のエッジ検出処理方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08153204A JPH08153204A (ja) | 1996-06-11 |
| JP3127087B2 true JP3127087B2 (ja) | 2001-01-22 |
Family
ID=17773869
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP06291822A Expired - Fee Related JP3127087B2 (ja) | 1994-11-25 | 1994-11-25 | 濃淡画像のエッジ検出処理方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3127087B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6621995B1 (en) | 2002-03-11 | 2003-09-16 | Heidelberger Druckmaschinen Ag | Image-forming machine having a development station with a dusting control system |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7335682B2 (ja) * | 2018-05-22 | 2023-08-30 | 株式会社Totoku | 着色フラットケーブル及びその製造方法 |
-
1994
- 1994-11-25 JP JP06291822A patent/JP3127087B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6621995B1 (en) | 2002-03-11 | 2003-09-16 | Heidelberger Druckmaschinen Ag | Image-forming machine having a development station with a dusting control system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08153204A (ja) | 1996-06-11 |
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