JP3124805B2 - 画像形成装置における表面電位検出器の校正方法 - Google Patents

画像形成装置における表面電位検出器の校正方法

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JP3124805B2
JP3124805B2 JP03332246A JP33224691A JP3124805B2 JP 3124805 B2 JP3124805 B2 JP 3124805B2 JP 03332246 A JP03332246 A JP 03332246A JP 33224691 A JP33224691 A JP 33224691A JP 3124805 B2 JP3124805 B2 JP 3124805B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、レーザプリンタ等の
光プリンタ,複写機,ファクシミリ装置等の画像形成装
置における表面電位検出器の校正方法に関する。
【0002】
【従来の技術】複写機等の電子写真方式の画像形成装置
においては、ドラム状あるいはベルト状の感光体を帯電
器によって所定電位に均一に帯電し、その帯電面に露光
装置からの光によって静電潜像を形成した後、現像ユニ
ットによりトナーを付与して顕像化し、そのトナー像を
給紙部からの用紙に転写するようにしている。
【0003】このような画像形成装置において、例えば
特開昭56−95255号公報や特開昭63−8374
3号公報等に見られるように、感光体に対向する位置に
表面電位検出器(表面電位センサ)を配置したものがあ
り、その表面電位検出器によって感光体の表面電位を測
定し、その測定値に応じて帯電器や現像ローラ等に印加
される電圧を最適値に調整設定して画像品質の安定化を
計ることが行なわれている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな表面電位検出器として一般に使用されているものに
は校正用ボリュームが設けられており、そのボリューム
によって表面電位検出器を画像形成装置本体あるいはこ
の表面電位検出器の劣化度合い等の使用頻度に合わせて
精度良く校正する必要があり、それが非常に煩わしい作
業となっていた。しかも、その校正はサービスマンによ
ってもバラツキが生ずることから、結果的に精度の劣る
表面電位検出器となっていた。
【0005】そこで、高精度で高信頼性のあるものを使
用することも考えられるが、そうするとコストアップと
なってしまい、低価格機には搭載できないという問題が
生じる。
【0006】また、前記特開昭56−95255号公報
に記載されているように、表面電位検出器の測定面に基
準板(校正用電極板)を対向させて設置し、その基準板
を用いて表面電位検出器を自動的に校正するようにした
ものもあるが、基準板として特別な校正のための電極板
が必要になるため、その分コスト高となってしまう。
【0007】しかも、その表面電位検出器によって精度
良く感光体の表面を測定できたとしても、その感光体は
経時や環境により画像形成に不要な残留電位が生じ、こ
の電位を何等かの手段によりキャンセルしてやらなけれ
ばならないため、装置及び制御等が複雑になる。
【0008】さらに、比較的安価な距離依存性のある表
面電位検出器を使用すれば、コストの低下にはつながる
が、表面電位検出器と校正用電極板との距離が表面電位
検出器と感光体との距離と同等か、凝似的に等しくなる
ようにしてやる必要があり、画像形成装置が全体として
複雑になってしまう。
【0009】この発明は上記の点に鑑みてなされたもの
であり、コストアップや装置を複雑化することなく、ま
た感光体に残留電位が生じていても、表面電位検出器を
校正するだけで感光体の表面電位を精度良く検出して安
定した画像品質が得られるようにすることを目的とす
る。
【0010】
【課題を解決するための手段】この発明は上記の目的を
達成するため、感光体の表面電位を測定する表面電位検
出器を備えた画像形成装置において、感光体をその疲労
が十分回復するだけの時間放置した後、感光体の基板に
基準電圧を印加し、感光体表面の電位を基準値として用
いて表面電位検出器を校正する表面電位検出器の校正方
法を提供する。
【0011】なお、上記放置時の感光体の温度を画像形
成時の温度以上に保持したり、表面電位検出器の校正時
には感光体を停止状態に保持することが望ましい。ま
た、感光体の基板を通常はアースに接続し、表面電位検
出器の校正時には現像バイアス電源に接続するとよい。
さらに、感光体の疲労回復時期を感光体の連続停止時間
によって判定したり、画像形成装置への電源投入後の定
着器の温度によって判定すればよい。例えば、定着器の
温度が画像形成時の温度より低い所定温度の時に感光体
の疲労が回復したと判定する。
【0012】さらにまた、画像形成装置に電源が投入さ
れてから表面電位検出器の校正が終了するまでの間画像
形成装置による作像を禁止したり、表面電位検出器の校
正に先立って現像ローラを感光体から離間させたり、少
なくとも表面電位検出器に電源が投入されてからそれを
安定して動作させることが可能な時期に達するまでは表
面電位検出器の校正を禁止するとよい。また、基準電圧
に対して表面電位検出器から得られる測定値が一定にな
るように該表面電位検出器を校正することが望ましい。
【0013】
【作用】この発明の表面電位検出器の校正方法では、感
光体自体を表面電位検出器の校正時に通常使用される基
準板の代わりに使用するが、その使用に先立って感光体
をその疲労が十分回復するだけの時間放置した後、その
基板に基準電圧を印加し、感光体表面の電位を基準値と
して用いて表面電位検出器を校正するようにしたので、
コストをアップせずに感光体の表面電位を精度良く検出
でき、安定した画像品質が得られる。
【0014】また、請求項2乃至11の各校正方法を用
いるようにすれば、表面電位検出器の校正を高精度に行
なうことができるため、感光体の表面電位の検出精度が
一層高まる。
【0015】
【実施例】以下、この発明の実施例を添付図面を用いて
具体的に説明するが、その前にこの発明のポイントをこ
こで簡単に説明しておく。
【0016】画像形成装置で使用されている感光体は、
図2に示すように経時により帯電電位が下がり、残留電
位Vrが上昇する特性を有しているため、それを解消し
ないと表面電位検出器の校正時に基準板の代わりに使用
することができない。
【0017】図3には、感光体の疲労の度合いによって
も異なるが、感光体の放置時間と残留電位との関係を示
している。この図を見て分かるように、残留電位が高け
れば感光体の回復に要する時間が長くかかるので、その
間は感光体を基準板として使用できない。また、感光体
は放置時の温度が高い程回復が早く、ある温度以上であ
れば残留電位のレベルに関係なく回復時間が変わらなく
なる。
【0018】このある温度は、画像形成時に感光体がチ
ャージ,光照射等のハザードを受けることで疲労する時
の温度と関係し、疲労の度合いはハザードを受けている
時の温度が低い程高く、時間が長い(経時)程高くなる
ことが分かった。
【0019】理由は明らかではないが、放置時の感光体
の温度を画像形成時に受ける最高温度になるように制御
することにより、感光体の回復に要する時間は疲労の度
合いに係わらず常にほぼ同じになることが分かった。
【0020】図4はこの発明の一実施例を示す複写機の
全体構成図、図5はその要部拡大図である。この複写機
は、複写機本体1と循環型原稿給送装置(以下「RD
H」と略称する)40とによつて構成されている。
【0021】この複写機の複写動作は、複写機本体1に
設けられた操作パネルから必要な複写条件を設定し、コ
ピースタートキーを押すことにより開始される。ここ
で、RDH40には原稿トレイ41が設けられており、
この原稿トレイ41に下向きに載置された原稿は原稿給
紙ベルト42により給紙され、原稿搬送路43を通って
コンタクトガラス2上に搬送される。
【0022】原稿がコンタクトガラス2上に搬送される
と、露光ランプ3が発光して照射ミラー3aで反射され
て、その原稿の画像面が所定時間だけ全面照射される。
原稿からの反射光は、光学系を構成する第1ミラー4
a,スルーレンズ4b,第2ミラー4cを順次介して感
光体ベルト5上を露光する。
【0023】この感光体ベルト5には帯電チャージャ6
により電荷が予め一様に帯電され、その表面に露光によ
って静電潜像が形成され、それをイレーサ7により不要
部分の電荷を除去してから現像ユニット8内の現像ロー
ラ8aによってトナーを付着して現像した後、転写部で
転写チャージャ9により転写紙に転写する。
【0024】その転写紙は、給紙トレイ10a,10
b,10cの何れかより給紙され、搬送路11を通り、
レジストローラ12によりトナー像とタイミングをとっ
て転写部へ送られる。転写後の転写紙は、搬送ベルト1
3によって定着器14に送り込まれて定着ローラ14a
により熱定着され、その後排紙トレイ15へ排紙された
り、図示しない切替爪の切り替えによって両面トレイ1
0dにスタックされる。
【0025】なお、片面にコピーされた転写紙が両面ト
レイ10dにスタックされた場合には、その転写紙が所
定のタイミングで再給紙され、表裏面が反転した状態で
再度転写部へ搬送され、他方の面にも上述した複写プロ
セス処理が施される。
【0026】一方、露光が終了したコンタクトガラス2
上の原稿は原稿搬送ベルト44によって送り出され、原
稿排出ローラ45により原稿トレイ41に戻される。ま
た、転写後の感光体ベルト5上に残留している電荷とト
ナーはクリーニングユニット16により除去され、感光
体ベルト5は再び帯電チャージャ6で電荷を与えられ
て、次の露光に備える。
【0027】なお、感光体ベルト5として、図1に示す
ようにアルミニウムからなるAl基板5a上に積層タイ
プの有機光導電体5bを塗布したものを使用している。
21は表面電位検出器である表面電位センサであり、そ
の検出面が感光体ベルト5に対向して固定配置され、そ
の表面電位検出出力が帯電チャージャ6や現像ユニツト
8内の現像ローラ8a等に印加する電圧を最適値に調整
設定するのに使用される。
【0028】この表面電位センサ21としては、感光体
ベルト5の表面との距離(ギャップ)により出力が変化
する距離依存性を有するタイプの低コストの表面電位セ
ンサを用いている。そのギャップは感光体ベルト5の着
脱時の容易性を考慮して約4mmに設定している。
【0029】22はフォトセンサ等からなる濃度センサ
(Pセンサ)であり、これも感光体ベルト5に対向する
位置に固定配置され、その表面の画像領域外にパターン
形成されるトナー像及び感光体面の地肌部分の各濃度を
検出(光を照射してその反射光量を受光)して、複写機
の制御部へその検出信号を出力する。制御部はその各濃
度の比に応じて現像バイアスを補正し、画像の濃度を適
正に維持する。
【0030】23は接触ブラシであり、図1にも示すよ
うに感光体ベルト5のAl基板5aに接触して配置さ
れ、後述する切換スイッチを通じてAl基板5aを接地
したり、Al基板5aに表面電位センサ21を校正する
際の基準電圧を印加する。
【0031】24は転写前除電ランプ(PTL)であ
り、感光体ベルト5の裏側から光を当てて、感光体ベル
ト5の表面電位を除電する。25はヒータであり、この
複写機への電源が遮断されている間に感光体ベルト5を
裏側から温めてその疲労を短時間で回復できるようにし
ている。
【0032】図1は、この複写機の制御系のこの発明に
係わる部分のみを示す回路図である。感光体ベルト5の
Al基板5aは、通常は図示しないリレーのリレースイ
ッチ(切換スイッチ)30を介してアース(装置筐体)
に接続されている。
【0033】31はマイクロプロセッサ,ROM,RA
M,タイマ,カウンタ,及びI/O等からなるマイクロ
コンピュータ(以下「CPU」と略称する)であり、コ
ピーモード時には後述する処理を行なって感光体ベルト
5の実際の表面電位を求めて、現像バイアス電源32
(表面電位センサ21の駆動電源及び表面電位センサ2
1校正時の基準電源を兼ねる)にフィードバックをか
け、現像ユニット8内の現像ローラ8a(現像スリー
ブ)に最適な現像バイアス電圧を印加させる。
【0034】なお、図示は省略するが、図2の帯電チャ
ージャ6に印加する電圧もこの表面電位の測定結果に応
じて最適に制御する。また、CPU31は感光体ベルト
5に近接して配置されているサーミスタ33により常時
その感光体ベルト5の温度を測定し、その最高温度を内
部RAMにメモリしておく。なお、その内容は図示しな
いメインスイッチにより複写機への電源がオフになって
も、別電源(バックアップ電源)により記憶保持する。
【0035】その後、複写機への電源がオフになると同
時に、ヒータ25をオンにする共に感光体ベルト5の放
置時間を測定するタイマを作動させる。このタイマは感
光体ベルト5の疲労が回復して表面電位センサ21を校
正できる時期までその感光体ベルト5が放置されたか否
かを判断するために使用する。
【0036】感光体ベルト5は図3に示したように約6
時間放置されると、表面電位センサ21の校正時の基準
板として十分使用できるが、感光体ベルト5の温度制御
の変動や実際の使用頻度に合わせて10時間(約一晩放
置)に設定している。したがって、複写機への電源がオ
フになりヒータ25がオンになると、感光体ベルト5の
温度をそれまでの最高温度レベルを一定に保つようにサ
ーミスタ33を用いて温度制御を行なう。
【0037】複写機への電源がオンになると、複写機へ
の電源がオフになってから10時間以上経過したか否か
を判定する。そして、10時間以上経過していればセン
サ校正モードに入り、現像バイアス電源32の安定時間
も含めて4分後に、表面電位センサ21から出力される
電位レベルを初期値(工場出荷時の設定値で、ここでは
0Vとする)に校正する。
【0038】次いで、図示しないリレーを作動させてそ
のリレースイッチ30を常閉接点bを開いて常開接点a
を閉じるように切り換え、感光体ベルト5のAl基板5
aを現像バイアス電源32の出力端に接続して、Al基
板5aに基準電圧を印加させる。この電圧は、表面電位
センサ21の精度及び安定度により必要に応じて決めれ
ばよい。
【0039】この時、表面電位センサ21から出力され
る電圧レベルを基準電圧(ここでは−1000V)と同
じ値に校正する。ここで表面電位センサ21の校正と
は、表面電位センサ21の出力を例えば0Vとして内部
RAMにメモリすることであり、この内容は次に校正す
る時期まで記憶保持される。
【0040】校正終了後は、リレースイッチ30を常閉
接点bを閉じる状態に戻して感光体ベルト5のAl基板
5aを再びアースに接続し、センサ校正モードを抜け
る。その後、ヒータ25をオフにし、今までメモリして
いた感光体の最高温度をクリアすると同時にタイマによ
る感光体の放置時間測定もオフ(タイマクリア)にする。
この実施例における表面電位センサ21の校正に係わる
処理の詳細を図6のフローチャートに示す。図中、Nは
内部カウンタのカウント値である。
【0041】このように、この実施例では、感光体ベル
ト5をその疲労が十分回復するだけの時間放置した後、
その基板に基準電圧を印加し、感光体ベルト5の表面の
電位を基準値として用いて表面電位センサ21を校正す
るようにしたので、コストを上げずに感光体の表面電位
を高精度で検出でき、安定した画像品質が得られる。
【0042】また、コピー時の残留電位Vrの変化も測
定できるため、残留電位Vrに見合った現像バイアスの
印加等による制御も可能となり、画像の安定化をより簡
単に行なうことができる。さらに、感光体ベルト5の放
置時の温度をコピー時の最高温度に保持して、感光体ベ
ルト5の疲労回復時間を一定にしたので、その時間設定
が固定となり、処理が簡単になる。
【0043】図7はこの発明の他の実施例における制御
系のこの発明に係わる部分のみを示す回路図であり、図
1と同一又は対応する部分には同じ符号を付している。
この実施例においては、ヒータ25の温度をサーモスタ
ットによって管理するようにしている。すなわち、メイ
ンスイッチがオフの間もヒータ電源(AC100V)は
印加されており、図示しないリレーの常閉接点35が閉
じているので、ヒータ温度が低いとサーモスタットのサ
ーモスイッチ34が閉じて、ヒータ25に通電する。そ
して、ヒータ25の温度が所定温度(作像時の感光体ベ
ルト5の最高温度)より高くなると、サーモスタットが
作動してそのサーモスイッチ34を開いてヒータ25を
オフにし、所定温度より低くなると再びサーモスイッチ
34を閉じてヒータ25をオンにする。
【0044】図8はこの実施例におけるCPU31によ
る表面電位センサ21の校正に係わる処理のルーチンを
示している。このルーチンは電源の投入により図示しな
いメインルーチンからコールされるとスタートし、まず
内部タイマをスタートさせ、次に定着器14の温度(定
着温度)が100℃以下か否かを判断する。すなわち、
定着器14に設けられている定着用ローラ14aの表面
温度を図示しない温度センサ(サーミスタ)を用いて測
定し、その検出温度が適正温度である196℃より低い
所定温度、この例では約50%低い温度である100℃
以下か否かを判断する。
【0045】なお、図9には感光体の放置時間と定着器
の温度(定着温度)との関係を示しており、この関係か
ら、定着器14の温度が適正温度から100℃以下に低
下していれば、放置時間が6時間以上経過しており、感
光体ベルト5の疲労が回復されたと判断することができ
る。
【0046】そして、定着器14の温度が100℃以下
でなければ作像モードに入るが、100℃以下ならばセ
ンサ校正モードに入り、感光体ベルト5の回動及び作像
をそれぞれ禁止した後、内部タイマがスタートしてから
4分(表面電位センサ21が安定して作動するのに要す
る時間)が経過していればセンサ校正指令により表面電
位センサ21の校正動作を実行する。
【0047】すなわち、図示しないリレーをオン状態に
してリレースイッチ30が常開接点aを閉じるように切
り換え、感光体ベルト5のAl基板5aを現像バイアス
電源32の出力端に接続して、Al基板5aに基準電圧
を印加し、この時表面電位センサ21から出力される電
圧を基準電圧として内部RAMにメモリした後、リレー
スイッチ30を常閉接点bを閉じる元の状態に戻して感
光体ベルト5のAl基板5aを再びアースに接続する。
ここでは、作像時の目標電位と同じ電圧を基準電圧とし
て印加し、作像時の電位精度の向上を図っている。
【0048】例えば、表面電位センサ21を−50〜−
1050Vの範囲で校正する場合には、まず現像バイア
ス電圧を−50Vにしてそれを感光体ベルト5のAl基
板5aに印加し、その時表面電位センサ21から出力さ
れる電圧を−50Vとして内部RAMにメモリした後、
今度は現像バイアス電圧を−1050VにしてそれをA
l基板5aに印加し、その時表面電位センサ21から出
力される電圧を−1050Vとして内部RAMにメモリ
する。これによって、感光体電位が−50〜−1050
Vの範囲で表面電位センサ21が校正されたことにな
る。なお、その記憶内容はこの複写機の電源がオフにな
るまで保持される。
【0049】このようにして校正動作が終了すると、図
示しないリレーの作動により常閉接点35を開いてヒー
タ25をオフにし、タイマをクリアして感光体ベルト5
の回動禁止及び作像禁止をそれぞれ解除した後、メイン
ルーチンへリターンして、本体のシーケンスへ戻る。
【0050】したがって、この実施例においては前述と
同様の効果の他に、次のような効果も得られる。すなわ
ち、表面電位センサ21の校正時に感光体ベルト5が回
動していると、摩擦によりその表面が帯電してしまう
(これを防止するのに除電チャージャと光照射を用いる
方法もあるが、それにより感光体の疲労が進んでしま
う)ため、校正後の表面電位センサ21からは真の出力
が得られなくなるが、この実施例では表面電位センサ2
1の校正時には感光体ベルト5の回動を禁止するように
したので、摩擦帯電による電位の変動(基準電圧の変
動)をなくすことができる。
【0051】それに加えて、複写機に電源が投入されて
から作像時の感光体ベルト5の校正が終了するまでの間
作像を禁止したり、少なくとも表面電位センサ21に電
源が投入されてからそれを安定して動作させることが可
能な時期に達するまでは表面電位センサ21の校正を禁
止するようにしたので、表面電位センサ21の校正をよ
り精度良く行なうことができ、それによって作像時の感
光体ベルト5の電位も正確に測定できるため、画像の長
期安定化を容易に実現することが可能になる。
【0052】また、前述の実施例では感光体ベルト5の
疲労回復時間を判定すべく、複写機への電源がオフにな
った後の感光体の放置時間をタイマによって計測するよ
うにし、そのためにバッテリ等の内部電源(バックアッ
プ電源)を使用しなければならなかったが、この実施例
では感光体の疲労回復時間と定着器の温度の低下時間と
の関係が見い出せたことにより、また感光体温度制御の
ためのヒータ25をサーモスタットによる直接駆動にし
たため、複写機に特別な内部電源を用いる必要がなくな
った。したがって、複写機全体がシンプルで低コストな
ものとなり、しかも電源交換が不要になった分メンテナ
ンス性にも優れている。
【0053】なお、ここでは図示を省略しているが、そ
の本体シーケンスではコピーが可能か否かを判定して、
可能ならばコピー動作オン信号を発している。また、こ
の複写機の作像モード時、コピー終了後は必ず表面電位
センサ21に対して感光体ベルト5を常に同じ位置で停
止するように設定してあり、停止した際の感光体ベルト
5の表面電位センサ21と対向する部分を非画像形成領
域としている。
【0054】したがって、感光体ベルト5が作像モード
により劣化しても、表面電位センサ21の校正時におけ
るそのセンサ21による電位検出位置は初期と同じハザ
ードか、より経時劣化の少ない領域とすることができる
ため、表面電位センサ21の校正精度がより一層高ま
る。
【0055】図10はこの発明のさらに他の実施例を示
す複写機の全体構成図、図11はその要部拡大図であ
り、それぞれ図4及び図5に示したものとヒータ25を
備えていない他は同じであるので、それらの説明を省略
する。図12はこの複写機の制御系のこの発明に係わる
部分のみを示す回路図であり、図1と同じ部分には同一
符号を付している。
【0056】この回路において、51は温度センサ(サ
ーミスタ)であり、感光体ドラム5の有機光導電体5b
に対向する位置に固定設置され、その表面の温度を検出
して、CPU31へその検出信号を出力する。52はセ
ンサ出力変換部で、例えば図13に示すように構成され
ており、オペアンプ53が表面電位センサ21の出力を
抵抗54を介して入力し、それを電子ボリューム55,
56の各抵抗値により補正してCPU31へ出力する。
【0057】図14は、この実施例におけるCPU31
による表面電位センサ21の校正に係わる処理を示すフ
ローチャートである。このルーチンは電源の投入により
図示しないメインルーチンからコールされるとスタート
し、まず内部タイマをスタートさせ、次いで定着器14
の温度(定着温度)が100℃以下か否かを判断する。
【0058】そして、定着器14の温度が100℃以下
でなければ、表面電位センサ21の校正のために表面電
位を測定する測定モードを禁止した後、リレースイッチ
30の常閉接点bが開状態か(リレーがオン状態)否か
を判断し、閉状態で感光体ベルト5のAl基板5aがア
ースに接続されていればそのまま、開状態で感光体ベル
ト5のAl基板5aが現像バイアス電源32の出力端に
接続されていればリレーをオフにして常閉接点bを閉じ
てAl基板5aをアースに接続した後、内部タイマをク
リアしてメインルーチンへリターンする。
【0059】また、定着温度が100℃以下の場合に
は、感光体ベルト5の連続停止時間,温度,使用時間
(感光体交換時からのコピー枚数に比例する),及び感
光体ベルト5の停止時の残留電位Vrの各因子を演算し
て現在の残留電位Vrを推定する。その際、通常のPI
D制御を用いたり、近年盛んに用いられているファジィ
制御やニューラルネットワークを用いてもよい。
【0060】そして、推定した残留電位Vrが表面電位
センサ21を校正可能なVr≦20Vでなければ、上述
した測定モードの禁止処理等の各処理を行なってメイン
ルーチンへリターンするが、Vr≦20Vならば測定モ
ードに入って作像モード(コピーモード)を禁止し、そ
れから表面電位センサ21が安定して作動する4分経過
後に図11の現像ローラ8aを2sec 間逆回転させてそ
の円周上の現像剤を掻き取り、感光体ベルト5から離間
させて非接触状態にする。
【0061】その後、リレーをオンにしてそのリレース
イッチ30の常開接点aを閉じ、感光体ベルト5のAl
基板5aを現像バイアス電源32の出力端に接続し、3
sec経過後に現像バイアス電源32をオンにしてセンサ
校正モードにした後、後述する図15及び図16のセン
サ校正処理を行なう。センサ校正処理が終了すると、接
点マーク防止のために現像バイアス電源32をオフした
後リレーをオフにしてそのリレースイッチ30の常閉接
点bを閉じる状態に戻す。以上で測定モードが終了とな
り、100msec経過した後内部タイマをクリアし、続い
て作像モードの禁止を解除して測定モードを禁止した後
メインルーチンへリターンする。
【0062】図15及び図16は図14のセンサ校正処
理のサブルーチンを示すフローチャートであり、まず内
部カウンタに「1」をセット(N←1)し、次いで現像
バイアス電源32からAl基板5aに基準電圧(校正電
圧)として使用領域の下限値100Vを印加し、それが
確実に立ち上がる50msec経過後、表面電位センサ21
及びセンサ出力変換部52(図12)を用いて感光体ベ
ルト5の表面電位を測定する。すなわち、表面電位セン
サ21の出力電圧をセンサ出力変換部52によって補正
した電圧(以後「電位測定値」という)を入力する。な
お、ここでは表面電位センサ21の出力は入力(感光体
ベルト5の表面電位)の約1/200倍であるものとす
る。
【0063】次いで、カウンタのカウント値Nが「1」
かどうかを判断するが、最初のステップで「1」にして
あるので、100Vの印加電圧に対する電位測定値をV
1として内部メモリAに記憶してカウンタを「0」にク
リア(N←0)した後、現像バイアス電源32からAl
基板5aに基準電圧(校正電圧)として使用領域の上限
値800Vを印加し、50msec後に表面電位センサ21
及びセンサ出力変換部52を用いて感光体ベルト5の表
面電位を測定する。
【0064】次いで、カウンタのカウント値Nが「1」
かどうかを判断するが、今度は「0」になっているの
で、800Vの印加電圧に対する電位測定値をV2とし
て内部メモリBに記憶した後、Vcal 1=V2−V1を
計算する。ここで、Al基板5aへの電圧印加時に電位
測定値によって求められる感光体ベルト5の表面電位の
許容範囲を実際の表面電位の±10Vと仮定した場合、
Vcal 1の正常範囲は3.5±0.05V となる。
【0065】そこで、今度はVcal 1の値が正常範囲で
ある3.5±0.05V内であるか否かを判断し、正常範
囲でなければ正常範囲内に収まるように図13の電子ボ
リューム55の抵抗値R2を可変設定する。すなわち、
Vcal 1<3.45V ならば電子ボリューム55の抵抗
値R2を予め設定した値だけ増加させ、Vcal 1>3.
55V ならば予め設定した値だけ減少させる。その
後、最初のステップに戻って上述の処理を繰り返し、V
cal 1が3.5±0.05V内になった時、すなわち80
0V印加時の電位測定値と100V印加時の電位測定値
とを通る直線の傾きが所定の傾きになった時に電子ボリ
ューム55の抵抗値R2を内部メモリCに記憶する。
【0066】次いで、図16の処理に進んでAl基板5
aに再び100Vを印加し、50msec経過してから表面
電位センサ21及びセンサ出力変換部52を用いて感光
体ベルト5の表面電位を測定する。そして、その電位測
定値をVcal 2とした場合、Vcal 2が正常範囲である
0.5±0.02V内であるか否かを判断し、正常範囲で
なければ正常範囲内に収まるように図13の電子ボリュ
ーム56の抵抗値R3を可変設定する。
【0067】すなわち、Vcal 2<0.48V ならば電
子ボリューム56の抵抗値R3を予め設定した値だけ増
加させ、Vcal 2>0.52V ならば予め設定した値だ
け減少させる。その後、再び表面電位を測定してこの処
理を繰り返し、Vcal 2が0.5±0.02Vになった時
に電子ボリューム56の抵抗値R3を内部メモリDに記
憶し、図14のルーチンへリターンする。
【0068】なお、電子ボリューム56を調整する際に
Al基板5aに印加すべき電圧として100Vを選択し
たのは、使用領域で低い電圧の精度を要求したためであ
るが、使用領域全体から見れば中央の(800−10
0)/2=350Vを選択した方がよい。
【0069】したがって、この実施例によっても前述の
実施例と略同様な効果を得られ、さらに以下に示す効果
も得られる。すなわち、表面電位センサ21の校正に先
立って現像ローラ8aを逆回転させてその円周上のトナ
ーを掻きとり、感光体ベルト5から離間させるので、電
圧のリークを防止でき、感光体ベルト5のAl基板5a
に正確な基準電圧を印加することができる。
【0070】また、機械間で感光体ベルトと表面電位セ
ンサとのギャップが異なったり表面電位センサの感度が
ばらついても、表面電位センサを校正する際の感光体ベ
ルト5のAl基板5aに印加する基準電圧に対する電位
測定値を一定に保持できるため、表面電位センサの校正
をより高精度に行なうことができる。さらに、感光体ベ
ルトの連続停止時間,温度,使用時間,及び感光体ベル
トの停止時の残留電位の各因子に基づいて、感光体ベル
トの疲労回復度合いをよりきめ細かく推定するので、表
面電位センサの校正時期をより精度よく判定することが
できる。
【0071】以上、この発明を感光体としてベルト状の
感光体を用いた全面露光式の電子写真複写機に適用した
実施例について説明したが、この発明はこれに限らず、
ドラム状の感光体を用いた走査露光式の電子写真複写機
には勿論、レーザプリンタ等の光プリンタやファクシミ
リ装置等の画像形成装置にも適用できる。
【0072】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、表面電位検出器の取り付け位置を固定したまま、感
光体を基準板として使用し、その感光体表面の非画像形
成時の電位を基準値として用いて表面電位検出器を校正
するようにしたので、基準板を使用しない分だけコスト
が低減し、校正時に特別な作業をする必要もなくなる。
しかも、感光体の相対的な表面電位を精度良く検出でき
るため、安定した画像品質が得られる。
【0073】さらに、低コストの表面電位センサ(距離
依存性のあるもの)でも、長期間安定して使用できるた
め、低価格の画像形成装置に搭載できる。また、請求項
2乃至11の発明によれば、表面電位検出器の校正精度
をより一層高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図4に示す複写機の制御系のこの発明に係わる
部分のみを示す回路図である。
【図2】露光量と感光体表面電位との関係を示す線図で
ある。
【図3】感光体放置時間と残留電位との関係を示す線図
である。
【図4】この発明の一実施例である複写機の全体構成図
である。
【図5】図4の要部拡大図である。
【図6】図1のCPU31による表面電位センサの校正
に係わる処理を示すフロー図である。
【図7】この発明の他の実施例における制御系のこの発
明に係わる部分のみを示す回路図である。
【図8】図7のCPU31による表面電位センサの校正
に係わる処理を示すフロー図である。
【図9】感光体放置時間と定着温度との関係を示す線図
である。
【図10】この発明のさらに他の実施例である複写機の
全体構成図である。
【図11】図10の要部拡大図である。
【図12】図10に示した複写機の制御系のこの発明に
係わる部分のみを示す回路図である。
【図13】図12のセンサ出力変換部52の構成例を示
すブロック図である。
【図14】図12のCPU31による表面電位センサの
校正に係わる処理を示すフロー図である。
【図15】図14のセンサ校正処理のサブルーチンを示
すフロー図である。
【図16】同じくその続きのフロー図である。
【符号の説明】
1 複写機本体 5 感光体ベルト 5a Al基板 5b 有機光導電体 8 現像ユニット 8a 現像ローラ 14 定着器 14a 定着ローラ 21 表面電位センサ 23 接触ブラシ 25 ヒータ 30 リレースイッ
チ 31 マイクロコンピュータ 32 現像バイアス
電源 33,51 温度センサ 34 サーモスイッ
チ 35 常閉接点 52 センサ出力変
換部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 29/12 G01R 35/00 G03G 15/00

Claims (11)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 感光体の表面電位を測定する表面電位検
    出器を備えた画像形成装置において、 前記感光体をその疲労が十分回復するだけの時間放置し
    た後、該感光体の基板に基準電圧を印加し、該感光体表
    面の電位を基準値として用いて前記表面電位検出器を校
    正することを特徴とする表面電位検出器の校正方法。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の画像形成装置における表
    面電位検出器の校正方法において、前記放置時の感光体
    の温度を画像形成時の温度以上に保つことを特徴とする
    表面電位検出器の校正方法。
  3. 【請求項3】 請求項1又は2記載の画像形成装置にお
    ける表面電位検出器の校正方法において、前記表面電位
    検出器の校正時には前記感光体を停止状態に保つことを
    特徴とする表面電位検出器の校正方法。
  4. 【請求項4】 請求項1乃至3のいずれか一項に記載の
    画像形成装置における表面電位検出器の校正方法におい
    て、前記感光体の基板を通常はアースに接続し、前記表
    面電位検出器の校正時には現像バイアス電源に接続する
    ことを特徴とする表面電位検出器の校正方法。
  5. 【請求項5】 請求項1乃至4のいずれか一項に記載の
    画像形成装置における表面電位検出器の校正方法におい
    て、前記感光体の疲労回復時期を前記感光体の連続停止
    時間によって判定することを特徴とする表面電位検出器
    の校正方法。
  6. 【請求項6】 請求項1乃至4のいずれか一項に記載の
    画像形成装置における表面電位検出器の校正方法におい
    て、前記感光体の疲労回復時期を画像形成装置への電源
    投入後の定着器の温度によって判定することを特徴とす
    る表面電位検出器の校正方法。
  7. 【請求項7】 請求項6記載の画像形成装置における表
    面電位検出器の校正方法において、定着器の温度が画像
    形成時の温度より低い所定温度の時に、感光体の疲労が
    回復したと判定することを特徴とする表面電位検出器の
    校正方法。
  8. 【請求項8】 請求項1乃至7のいずれか一項に記載の
    画像形成装置における表面電位検出器の校正方法におい
    て、画像形成装置に電源が投入されてから表面電位検出
    器の校正が終了するまでの間、画像形成装置による作像
    を禁止することを特徴とする表面電位検出器の校正方
    法。
  9. 【請求項9】 請求項1乃至8のいずれか一項に記載の
    画像形成装置における表面電位検出器の校正方法におい
    て、前記表面電位検出器の校正に先立って現像ローラを
    前記感光体から離間させることを特徴とする表面電位検
    出器の校正方法。
  10. 【請求項10】 請求項1乃至9のいずれか一項に記載
    の画像形成装置における表面電位検出器の校正方法にお
    いて、少なくとも表面電位検出器に電源が投入されてか
    らそれを安定して動作させることが可能な時期に達する
    までは、該表面電位検出器の校正を禁止することを特徴
    とする表面電位検出器の校正方法。
  11. 【請求項11】 請求項1乃至10のいずれか一項に記
    載の画像形成装置における表面電位検出器の校正方法に
    おいて、前記基準電圧に対して前記表面電位検出器から
    得られる測定値が一定になるように該表面電位検出器を
    校正することを特徴とする表面電位検出器の校正方法。
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