JP3123005B2 - 電子機器装置の温度制御方法 - Google Patents
電子機器装置の温度制御方法Info
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- JP3123005B2 JP3123005B2 JP04161734A JP16173492A JP3123005B2 JP 3123005 B2 JP3123005 B2 JP 3123005B2 JP 04161734 A JP04161734 A JP 04161734A JP 16173492 A JP16173492 A JP 16173492A JP 3123005 B2 JP3123005 B2 JP 3123005B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電子機器装置の温度制
御方法に関する。
御方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】電子機器装置の温度制御については、従
来より種々の方法がなされている。例えばアンプ付ＣＤ
デッキ装置（以下、「ＣＤ装置」という。）において
は、ＤＩＳＣの再生中に、アンプその他の部分から発生
する熱や周囲温度により、ＤＩＳＣに影響を及ぼすこと
になる。周知のごとくＤＩＳＣは樹脂で作られているの
で、温度が高くなると熱により歪みを生じ、再生音に悪
影響を及ぼすばかりでなく、ときにはＣＤ装置そのもの
が破損する場合もある。
来より種々の方法がなされている。例えばアンプ付ＣＤ
デッキ装置（以下、「ＣＤ装置」という。）において
は、ＤＩＳＣの再生中に、アンプその他の部分から発生
する熱や周囲温度により、ＤＩＳＣに影響を及ぼすこと
になる。周知のごとくＤＩＳＣは樹脂で作られているの
で、温度が高くなると熱により歪みを生じ、再生音に悪
影響を及ぼすばかりでなく、ときにはＣＤ装置そのもの
が破損する場合もある。
【０００３】従って、ＤＩＳＣを回転駆動するＤＩＳＣ
駆動部、又は、その近傍に温度計測用のセンサを設け、
規定温度を超えたときは、ＤＩＳＣの再生動作を停止す
るとともに、音量を調整するボリュームを最小にして、
スピーカから耳障りな雑音が出ないようにしている。
駆動部、又は、その近傍に温度計測用のセンサを設け、
規定温度を超えたときは、ＤＩＳＣの再生動作を停止す
るとともに、音量を調整するボリュームを最小にして、
スピーカから耳障りな雑音が出ないようにしている。
【０００４】図５は、上記センサにサーミスタを用いた
センサー部の構成を示すものである。図５において、固
定抵抗Ｒ1 、サーミスタＲS 及び可変抵抗Ｒ2 が直列に
接続され、５Ｖの電源電圧を分圧している。サーミスタ
ＲS は、温度に対して負の抵抗特性をもっているので、
固定抵抗Ｒ1 とサーミスタＲS との接続点の端子Ａの電
圧を検出することにより、ＣＤ装置内のメモリ等の記憶
部に格納されている電圧・温度変換テーブルを参照し
て、温度を測定することができる。
センサー部の構成を示すものである。図５において、固
定抵抗Ｒ1 、サーミスタＲS 及び可変抵抗Ｒ2 が直列に
接続され、５Ｖの電源電圧を分圧している。サーミスタ
ＲS は、温度に対して負の抵抗特性をもっているので、
固定抵抗Ｒ1 とサーミスタＲS との接続点の端子Ａの電
圧を検出することにより、ＣＤ装置内のメモリ等の記憶
部に格納されている電圧・温度変換テーブルを参照し
て、温度を測定することができる。
【０００５】図６は、従来のＣＤ装置の温度制御方法を
適用した場合の、制御部の動作のフローチャートの一部
を示すものである。図６において、センサー部の温度が
８０℃以上かどうかを判別し（ステップＳ２１）、８０
℃以上になった場合には、ＤＩＳＣの駆動の制御を停止
し（ステップＳ２２）、音量調整用のボリュームを−∞
ｄＢすなわち最小に設定する（ステップＳ２３）。
適用した場合の、制御部の動作のフローチャートの一部
を示すものである。図６において、センサー部の温度が
８０℃以上かどうかを判別し（ステップＳ２１）、８０
℃以上になった場合には、ＤＩＳＣの駆動の制御を停止
し（ステップＳ２２）、音量調整用のボリュームを−∞
ｄＢすなわち最小に設定する（ステップＳ２３）。
【０００６】このように、上記従来の温度制御方法にお
いても、予め定められた温度に達した場合には、電子機
器装置の動作を停止して、熱による誤動作や装置の破損
を防止することができる。
いても、予め定められた温度に達した場合には、電子機
器装置の動作を停止して、熱による誤動作や装置の破損
を防止することができる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の温度制御方法においては、サーミスタＲS の温度に対
する抵抗値の特性のバラツキのため、正確な温度計測が
できないという問題があった。一般にサーミスタの抵抗
値許容誤差は、通常の抵抗の許容差よりも大きい。ま
た、抵抗温度特性において、目的温度での抵抗値を算出
するために使用されるいわゆるＢ定数の許容幅が±１０
％程度あるため、可変抵抗Ｒ2 を調整して補正を行わな
ければならない。
の温度制御方法においては、サーミスタＲS の温度に対
する抵抗値の特性のバラツキのため、正確な温度計測が
できないという問題があった。一般にサーミスタの抵抗
値許容誤差は、通常の抵抗の許容差よりも大きい。ま
た、抵抗温度特性において、目的温度での抵抗値を算出
するために使用されるいわゆるＢ定数の許容幅が±１０
％程度あるため、可変抵抗Ｒ2 を調整して補正を行わな
ければならない。
【０００８】補正値の算出例として次に示す方法があ
る。
る。
【０００９】２５℃でのサーミスタＲS の抵抗値を１ｋ
Ω（許容差±１０％）、Ｂ定数３５００（許容差±１０
％）、としたとき、５０℃でのサーミスタＲS を算出す
る。まず、Ｂ定数の計算式は（数１）のように表され
る。
Ω（許容差±１０％）、Ｂ定数３５００（許容差±１０
％）、としたとき、５０℃でのサーミスタＲS を算出す
る。まず、Ｂ定数の計算式は（数１）のように表され
る。
【００１０】
【数１】 （数１）において、Ｒ25及びＲ50は、それぞれ２５℃及
び５０℃でのサーミスタの抵抗値、Ｔ25及びＴ50は、そ
れぞれ摂氏温度２５℃及び５０℃を華氏温度で表した数
値である。（数１）よりＲ50を求める計算式は（数２）
で表され、Ｒ50＝４０３．２６Ωを得る。
び５０℃でのサーミスタの抵抗値、Ｔ25及びＴ50は、そ
れぞれ摂氏温度２５℃及び５０℃を華氏温度で表した数
値である。（数１）よりＲ50を求める計算式は（数２）
で表され、Ｒ50＝４０３．２６Ωを得る。
【００１１】
【数２】 図５において、Ｒ1 ＝１ｋΩ、Ｒ2 ＝５００Ωとする
と、端子Ａの電圧ＶA は、 ＶA ＝２．３７ｖとなる。
と、端子Ａの電圧ＶA は、 ＶA ＝２．３７ｖとなる。
【００１２】ここで、Ｒ25を１．１ｋΩ（許容差＋１０
％）、Ｂ定数３１５０（許容幅−１０％）、としたとき
の、サーミスタＲ′50は（数２）より、Ｒ′50＝４８
５．７６Ωとなる。
％）、Ｂ定数３１５０（許容幅−１０％）、としたとき
の、サーミスタＲ′50は（数２）より、Ｒ′50＝４８
５．７６Ωとなる。
【００１３】ＶA ＝２．３７ｖの値を５０℃での正規の
検出電圧とすると、上記のＲ′50の値４８５．７６Ω
は、サーミスタＲS の許容差によるバラツキであるの
で、可変抵抗Ｒ2 を調整して補正を行う。その補正値Δ
Ｒは、ΔＲ＝Ｒ′50−Ｒ50＝４８５．７６Ω−４０３．
２６Ω＝８２．５Ωとなる。従って、補正後の可変抵抗
Ｒ′2 の抵抗値は・Ｒ′2 ＝Ｒ2 −ΔＲ＝４１７．５Ω
となる。
検出電圧とすると、上記のＲ′50の値４８５．７６Ω
は、サーミスタＲS の許容差によるバラツキであるの
で、可変抵抗Ｒ2 を調整して補正を行う。その補正値Δ
Ｒは、ΔＲ＝Ｒ′50−Ｒ50＝４８５．７６Ω−４０３．
２６Ω＝８２．５Ωとなる。従って、補正後の可変抵抗
Ｒ′2 の抵抗値は・Ｒ′2 ＝Ｒ2 −ΔＲ＝４１７．５Ω
となる。
【００１４】一方、このような補正を行わず、上記Ｒ′
50の値を５０℃での正規の抵抗値とみなした場合には、
端子Ｖにおける電圧ＶA は、ＶA ＝２．４８ｖとなり、
この値は正規の場合における４４．５℃の検出電圧に相
当することになる。すなわち、制御部は実際の温度より
も低い温度を計測することになり、実際の温度が保護す
べき規定温度を超えた場合でも、ＤＩＳＣの再生動作を
続行することになるので、再生音の劣化や装置の破損を
招くことになる。従って、上記のように可変抵抗を調整
して、サーミスタのバラツキを補正することは必須のこ
ととなる。
50の値を５０℃での正規の抵抗値とみなした場合には、
端子Ｖにおける電圧ＶA は、ＶA ＝２．４８ｖとなり、
この値は正規の場合における４４．５℃の検出電圧に相
当することになる。すなわち、制御部は実際の温度より
も低い温度を計測することになり、実際の温度が保護す
べき規定温度を超えた場合でも、ＤＩＳＣの再生動作を
続行することになるので、再生音の劣化や装置の破損を
招くことになる。従って、上記のように可変抵抗を調整
して、サーミスタのバラツキを補正することは必須のこ
ととなる。
【００１５】ところが、このような補正を行うために
は、ＣＤ装置に所定の温度環境を設定して、その一台一
台に対して可変抵抗を調整して補正をする必要があり、
その工程にかかる時間と費用は膨大なものになる。その
ため、製品コストの高騰を招くばかりか、量産時の効率
の低下をも伴うという問題があった。
は、ＣＤ装置に所定の温度環境を設定して、その一台一
台に対して可変抵抗を調整して補正をする必要があり、
その工程にかかる時間と費用は膨大なものになる。その
ため、製品コストの高騰を招くばかりか、量産時の効率
の低下をも伴うという問題があった。
【００１６】本発明は上記従来の問題を解決するもので
あり、ＣＤ装置その他の電子機器装置において、温度を
検出するセンサー部の補正を時間及び費用をかけること
なく行える温度制御方法を提供することを目的とする。
あり、ＣＤ装置その他の電子機器装置において、温度を
検出するセンサー部の補正を時間及び費用をかけること
なく行える温度制御方法を提供することを目的とする。
【００１７】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、温度を計測する温度検出手段と、予め設定
された所定温度に応じて所定の制御動作を行う制御手段
とを備え、制御手段は、温度上昇過程における異なる複
数の温度を設定し、一つの設定温度の計測から他のより
高い設定温度の計測に至るまでの経過時間を算出し、算
出された経過時間と予め定められた所定時間との差分を
求め、求めたその差分に応じて所定温度を補正する構成
となっている。
するために、温度を計測する温度検出手段と、予め設定
された所定温度に応じて所定の制御動作を行う制御手段
とを備え、制御手段は、温度上昇過程における異なる複
数の温度を設定し、一つの設定温度の計測から他のより
高い設定温度の計測に至るまでの経過時間を算出し、算
出された経過時間と予め定められた所定時間との差分を
求め、求めたその差分に応じて所定温度を補正する構成
となっている。
【００１８】
【作用】したがって本発明によれば、ある特定の第１の
温度から他の特定の第２の温度に至るまでの所用時間を
計測して、この所用時間を基準となる時間と比較するこ
とにより、予め設定してある温度を補正するので、補正
のための時間及び費用を大幅に削減することができる。
温度から他の特定の第２の温度に至るまでの所用時間を
計測して、この所用時間を基準となる時間と比較するこ
とにより、予め設定してある温度を補正するので、補正
のための時間及び費用を大幅に削減することができる。
【００１９】
【実施例】以下、本発明の実施例を図を参照して説明す
る。
る。
【００２０】図１は本発明による温度制御方法を適用し
たＣＤ装置のブロック図を示すものである。図１におい
て、１はＤＩＳＣ（図示せず）を回転駆動するＤＩＳＣ
部、２は信号線１１を介してＤＩＳＣ部１の動作制御を
司る制御部である。３はボリュームであり、信号線１２
を介して制御部２からの指令に応じて、信号線１３を介
してＤＩＳＣ部１から得られる再生音（この場合アナロ
グ信号とする）の音量調整を行う。４はボリューム３で
調整されたアナログ音声信号を増幅するアンプ部、５は
アンプ部４から出力される音声信号により音声を発する
スピーカである。６はＤＩＳＣ部１近傍に設けられた温
度計測用のセンサーである。
たＣＤ装置のブロック図を示すものである。図１におい
て、１はＤＩＳＣ（図示せず）を回転駆動するＤＩＳＣ
部、２は信号線１１を介してＤＩＳＣ部１の動作制御を
司る制御部である。３はボリュームであり、信号線１２
を介して制御部２からの指令に応じて、信号線１３を介
してＤＩＳＣ部１から得られる再生音（この場合アナロ
グ信号とする）の音量調整を行う。４はボリューム３で
調整されたアナログ音声信号を増幅するアンプ部、５は
アンプ部４から出力される音声信号により音声を発する
スピーカである。６はＤＩＳＣ部１近傍に設けられた温
度計測用のセンサーである。
【００２１】図１の構成の動作で、ＤＩＳＣの回転駆動
の動作及びＤＩＳＣから得られる再生信号の処理等の動
作については、既に広く知られておりその説明は省略
し、温度制御の動作について説明する。
の動作及びＤＩＳＣから得られる再生信号の処理等の動
作については、既に広く知られておりその説明は省略
し、温度制御の動作について説明する。
【００２２】図１のアンプ部４において特にその出力段
では熱を発生し、その熱がＤＩＳＣ部１にも伝導する。
センサー６はサーミスタ（図示せず）によりこの熱によ
る温度を感知して、上記従来例と同様に、温度に応じた
検出電圧を制御部２に供給する。本実施例においては、
温度が上昇する過程において、２つの異なる値の設定温
度を想定し、以下に述べる温度制御を行う。
では熱を発生し、その熱がＤＩＳＣ部１にも伝導する。
センサー６はサーミスタ（図示せず）によりこの熱によ
る温度を感知して、上記従来例と同様に、温度に応じた
検出電圧を制御部２に供給する。本実施例においては、
温度が上昇する過程において、２つの異なる値の設定温
度を想定し、以下に述べる温度制御を行う。
【００２３】図２の特性曲線Ａは温度上昇の時間推移の
特性を示すものである。この特性は、センサー部６に使
用するサーミスタとして、正規の温度変化特性をもった
ものをいくつか用意して、定量的な試験を行うことによ
り求めた標準となる特性である。図２において、点ａ及
び点ｂは、この標準特性における温度計測点であり、そ
れぞれの温度をＴ1 及びＴ2 とする。また、点ｃはＤＩ
ＳＣの駆動を停止する限界となる温度であるＴ3 の点を
示すものである。ここで点ａから点ｂに至る時間、すな
わち温度Ｔ1 から温度Ｔ2 に上昇する時間Δｔｓを標準
時間とする。
特性を示すものである。この特性は、センサー部６に使
用するサーミスタとして、正規の温度変化特性をもった
ものをいくつか用意して、定量的な試験を行うことによ
り求めた標準となる特性である。図２において、点ａ及
び点ｂは、この標準特性における温度計測点であり、そ
れぞれの温度をＴ1 及びＴ2 とする。また、点ｃはＤＩ
ＳＣの駆動を停止する限界となる温度であるＴ3 の点を
示すものである。ここで点ａから点ｂに至る時間、すな
わち温度Ｔ1 から温度Ｔ2 に上昇する時間Δｔｓを標準
時間とする。
【００２４】ところでサーミスタの温度特性にはバラツ
キがあるので、温度Ｔ1 から温度Ｔ2 に上昇するまでの
経過時間Δｔが、標準時間Δｔｓよりも短くあるいは長
くなることになる。図３は同一の温度を加えたときの計
測点のずれを示すものである。図３において点ａ′及び
点ｂ′でのＴ′1 及びＴ′2 は、定量的試験より求めた
Ｔ1 及びＴ2 よりも低い温度で、それらの時間に至るま
での特性を示す場合であり、この場合をケース１とす
る。
キがあるので、温度Ｔ1 から温度Ｔ2 に上昇するまでの
経過時間Δｔが、標準時間Δｔｓよりも短くあるいは長
くなることになる。図３は同一の温度を加えたときの計
測点のずれを示すものである。図３において点ａ′及び
点ｂ′でのＴ′1 及びＴ′2 は、定量的試験より求めた
Ｔ1 及びＴ2 よりも低い温度で、それらの時間に至るま
での特性を示す場合であり、この場合をケース１とす
る。
【００２５】また、点ａ″及び点ｂ″でのＴ″1 及び
Ｔ″2 は、Ｔ1 及びＴ2 よりも高い温度で、それらの時
間に至るまでの特性を示す場合であり、この場合をケー
ス２とする。
Ｔ″2 は、Ｔ1 及びＴ2 よりも高い温度で、それらの時
間に至るまでの特性を示す場合であり、この場合をケー
ス２とする。
【００２６】ケース１の場合は、実際の温度よりも低い
温度を計測する場合であるが、この場合には、点ａ′か
ら点ｂ′までの経過時間Δｔ′と標準時間Δｔｓとは、 Δｔ′＜Δｔｓ の関係が成立するので、制御部２は、センサー特性が標
準の場合よりも低い温度を計測していると判断し、次に
来るべき限界温度Ｔ3 の制御点を、Δｔ′とΔｔｓの差
分の割合だけ高い温度に設定する。すなわち、図３のセ
ンサー特性曲線上、温度Ｔ3 の標準となる点ｃから、時
間軸を（Δｔｓ−Δｔ′）だけ補正した補正点ｃ′の温
度Ｔ′3 に設定する。
温度を計測する場合であるが、この場合には、点ａ′か
ら点ｂ′までの経過時間Δｔ′と標準時間Δｔｓとは、 Δｔ′＜Δｔｓ の関係が成立するので、制御部２は、センサー特性が標
準の場合よりも低い温度を計測していると判断し、次に
来るべき限界温度Ｔ3 の制御点を、Δｔ′とΔｔｓの差
分の割合だけ高い温度に設定する。すなわち、図３のセ
ンサー特性曲線上、温度Ｔ3 の標準となる点ｃから、時
間軸を（Δｔｓ−Δｔ′）だけ補正した補正点ｃ′の温
度Ｔ′3 に設定する。
【００２７】他方、ケース２の場合は、実際の温度より
も高い温度を計測する場合であり、この場合には、点
ａ″から点ｂ″までの経過時間Δｔ″と標準時間Δｔｓ
とは、 Δｔｓ＜Δｔ″ の関係が成立するので、制御部２は、センサー特性が標
準の場合よりも高い温度を計測していると判断し、限界
温度Ｔ3 の制御点を、ΔｔｓとΔｔ″の差分の割合だけ
低い温度に設定する。すなわち、図３のセンサー特性曲
線上、温度Ｔ3の標準となる点ｃから、時間軸を（Δ
ｔ″−Δｔｓ）だけ補正した補正点ｃ″の温度Ｔ″3 に
設定する。
も高い温度を計測する場合であり、この場合には、点
ａ″から点ｂ″までの経過時間Δｔ″と標準時間Δｔｓ
とは、 Δｔｓ＜Δｔ″ の関係が成立するので、制御部２は、センサー特性が標
準の場合よりも高い温度を計測していると判断し、限界
温度Ｔ3 の制御点を、ΔｔｓとΔｔ″の差分の割合だけ
低い温度に設定する。すなわち、図３のセンサー特性曲
線上、温度Ｔ3の標準となる点ｃから、時間軸を（Δ
ｔ″−Δｔｓ）だけ補正した補正点ｃ″の温度Ｔ″3 に
設定する。
【００２８】以上の温度制御を行うことにより、センサ
ーの特性のバラツキによる温度計測の誤差を小さくする
ことができる。
ーの特性のバラツキによる温度計測の誤差を小さくする
ことができる。
【００２９】図４は制御部２が実行する温度制御ルーチ
ンを表す動作フローチャートである。制御部２は、メイ
ンルーチンからこの温度制御ルーチンに移行すると、セ
ンサー部６で検出された検出電圧をもとに、温度計測を
行い、計測温度がＴ1 になったかどうかを判定する（ス
テップＳ１）。Ｔ1 になったときには、Δｔ時間の測定
を開始し（ステップＳ２）、計測温度がＴ2 になったか
どうかを判定する（ステップＳ３）。Ｔ2 になったとき
は、Δｔ時間の測定を終了する（ステップＳ４）。 次
に、計測した経過時間Δｔと標準時間Δｔｓとを比較し
（ステップＳ５）、Δｔ＜Δｔｓであれば、その差分
（Δｔｓ−Δｔ）を計算して（ステップＳ６）、標準の
温度Ｔ3 にその差分の割合だけ加算した温度Ｔ′3 を設
定する（ステップＳ７）。その設定の後、センサー部６
での計測温度がＴ′3 になったかどうかを判別する（ス
テップＳ８）。
ンを表す動作フローチャートである。制御部２は、メイ
ンルーチンからこの温度制御ルーチンに移行すると、セ
ンサー部６で検出された検出電圧をもとに、温度計測を
行い、計測温度がＴ1 になったかどうかを判定する（ス
テップＳ１）。Ｔ1 になったときには、Δｔ時間の測定
を開始し（ステップＳ２）、計測温度がＴ2 になったか
どうかを判定する（ステップＳ３）。Ｔ2 になったとき
は、Δｔ時間の測定を終了する（ステップＳ４）。 次
に、計測した経過時間Δｔと標準時間Δｔｓとを比較し
（ステップＳ５）、Δｔ＜Δｔｓであれば、その差分
（Δｔｓ−Δｔ）を計算して（ステップＳ６）、標準の
温度Ｔ3 にその差分の割合だけ加算した温度Ｔ′3 を設
定する（ステップＳ７）。その設定の後、センサー部６
での計測温度がＴ′3 になったかどうかを判別する（ス
テップＳ８）。
【００３０】一方、ステップＳ５において、Δｔ＜Δｔ
ｓでなければ、差分（Δｔ−Δｔｓ）を計算して（ステ
ップＳ９）、標準の温度Ｔ3 にその差分の割合だけ減算
した温度Ｔ″3 を設定する（ステップＳ１０）。その設
定の後、計測温度がＴ″3 になったかどうかを判別する
（ステップＳ１１）。
ｓでなければ、差分（Δｔ−Δｔｓ）を計算して（ステ
ップＳ９）、標準の温度Ｔ3 にその差分の割合だけ減算
した温度Ｔ″3 を設定する（ステップＳ１０）。その設
定の後、計測温度がＴ″3 になったかどうかを判別する
（ステップＳ１１）。
【００３１】ステップＳ８において計測温度がＴ′3 に
なったとき、又はステップＳ１１において計測温度が
Ｔ″3 になったときは、ＤＩＳＣ制御を停止して（ステ
ップＳ１２）、ボリューム３に指令を与えてその調整を
−∞ｄＢに、すなわち最小の音量に設定する（ステップ
Ｓ１３）。
なったとき、又はステップＳ１１において計測温度が
Ｔ″3 になったときは、ＤＩＳＣ制御を停止して（ステ
ップＳ１２）、ボリューム３に指令を与えてその調整を
−∞ｄＢに、すなわち最小の音量に設定する（ステップ
Ｓ１３）。
【００３２】制御部２は、この温度制御のルーチンだけ
でなく、他の制御動作をも行っているので、図４のフロ
ーチャートにおける計測温度の判別処理は、その温度に
なっていない場合（ＮＯの場合）には、メインルーチン
に戻ることになるが、本発明の説明とは直接関係ないの
で簡便のため省略した。
でなく、他の制御動作をも行っているので、図４のフロ
ーチャートにおける計測温度の判別処理は、その温度に
なっていない場合（ＮＯの場合）には、メインルーチン
に戻ることになるが、本発明の説明とは直接関係ないの
で簡便のため省略した。
【００３３】なお、この実施例において、図２及び図３
に示す温度上昇の特性曲線を定量的試験により求めた
が、ＣＤ装置の設計段階において、熱の発生源となる部
品を分散して配置し、また、筐体に放熱用の孔を設ける
などの処置を施すことにより、試験時以外の実動作中に
おいても、温度上昇特性を一定の範囲内におさめること
ができる。
に示す温度上昇の特性曲線を定量的試験により求めた
が、ＣＤ装置の設計段階において、熱の発生源となる部
品を分散して配置し、また、筐体に放熱用の孔を設ける
などの処置を施すことにより、試験時以外の実動作中に
おいても、温度上昇特性を一定の範囲内におさめること
ができる。
【００３４】
【発明の効果】以上のように、本発明による温度制御方
法は、温度上昇過程における異なる複数の温度を設定
し、一つの設定温度の計測から他のより高い設定温度の
計測に至るまでの経過時間と、予め定められた所定時間
との差分を求め、求めたその差分に応じて所定温度を補
正することにより、量産時の温度補正を一台一台行うこ
となく、温度を検出するセンサー部の補正を時間及び費
用をかけずに行えるという効果を有する。
法は、温度上昇過程における異なる複数の温度を設定
し、一つの設定温度の計測から他のより高い設定温度の
計測に至るまでの経過時間と、予め定められた所定時間
との差分を求め、求めたその差分に応じて所定温度を補
正することにより、量産時の温度補正を一台一台行うこ
となく、温度を検出するセンサー部の補正を時間及び費
用をかけずに行えるという効果を有する。
【図１】本発明の温度制御方法を適用したアンプ付ＣＤ
デッキ装置のブロック図である。
デッキ装置のブロック図である。
【図２】本発明の温度制御方法で予め設定された標準温
度上昇特性を示す図である。
度上昇特性を示す図である。
【図３】本発明の温度制御方法による補正を説明する図
である。
である。
【図４】図１の制御部により実行される温度制御の動作
を示すフローチャートである。
を示すフローチャートである。
【図５】温度を計測するセンサー部の構成を示す図であ
る。
る。
【図６】従来の温度制御方法を示すフローチャートの一
部を示す図である。
部を示す図である。
１ ＤＩＳＣ部 ２ 制御部 ３ ボリューム ４ アンプ部 ５ スピーカ ６ センサー部
Claims (1)
- 【請求項１】 温度を計測する温度検出手段と、 予め設定された所定温度に応じて所定の制御動作を行う
制御手段とを備え、 前記制御手段は、温度上昇過程における異なる複数の温
度を設定し、一つの設定温度の計測から他のより高い設
定温度の計測に至るまでの経過時間を算出し、該経過時
間と予め定められた所定時間との差分を求め、該差分に
応じて前記所定温度を補正することを特徴とする電子機
器の温度制御方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04161734A JP3123005B2 (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 電子機器装置の温度制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04161734A JP3123005B2 (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 電子機器装置の温度制御方法 |
Publications (2)
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| JPH05334865A JPH05334865A (ja) | 1993-12-17 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07286446A (ja) * | 1994-04-15 | 1995-10-31 | Teruo Tsuchiya | 回転式低層建築物 |
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1992
- 1992-05-29 JP JP04161734A patent/JP3123005B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JPH07286446A (ja) * | 1994-04-15 | 1995-10-31 | Teruo Tsuchiya | 回転式低層建築物 |
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| JPH05334865A (ja) | 1993-12-17 |
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