JP3119355U

JP3119355U - プローブ

Info

Publication number: JP3119355U
Application number: JP2005010452U
Authority: JP
Inventors: 阿部　実; 秀幸山本
Original assignee: Tokyo Electric Power Co Inc
Current assignee: Tokyo Electric Power Company Holdings Inc
Priority date: 2005-12-09
Filing date: 2005-12-09
Publication date: 2006-02-23
Anticipated expiration: 2015-12-09

Abstract

【課題】導線を対象物に接続するプローブであって、簡易な構成で安定して接続でき、かつメンテナンスを容易に行うことができるプローブを提供する。
【解決手段】導線２０の一部に接続され、当該導線２０と対象物とを電気的に接続するプローブ１０であって、前記導線２０及び前記対象物と接触する接触端子１と、前記接触端子１と磁気的に接続された磁石２と、前記磁石２を覆うカバー部材３と、を備える。
【選択図】図２

Description

本発明は、導線と対象物とを電気的に接続するプローブに関するものである。

電圧測定装置によって電圧を測定する際等、各種電子機器等と被測定物（対象物）とを接続する際は、被測定回路からの信号を電子機器等に入力するため、電子機器等の導線と対象物とを以下の方法によって接続していた。例えば、第一の接続方法は、導線の先端に圧着端子を固定して、当該圧着端子を対象物にネジで固定する方法である。また、第二の接続方法は、導線の先端にクリップを固定して、当該クリップによって対象物の一部を挟持する方法である。

前記第一の接続方法によれば、前記圧着端子をネジで固定するため、対象物と導線とを強固に接続することができる。しかし、圧着端子をネジで固定する際は、対象物に電圧が印加されていない状態でなければならず、作業の際に停電させる必要があった。

また、前記第二の接続方法は、クリップで挟むことで接続できるため、第一の接続方法のように停電させる必要もなく作業が容易であった。しかし、第二の接続方法は、対象物と導線との接続が不安定で、多少の衝撃でクリップが対象物から外れてしまうことがあった。

このような問題に鑑みて、図５に示すようなプローブ１００が成された（特許文献１参照）。このプローブ１００は、対象物と接触する接触端子１０１と、対象物を吸着する磁石１０２を備えており、当該磁石１０２によって対象物と導線とを接続でき、容易に安定した状態で接続することができた。
実開昭５５−１３７３６８号公報

しかし、前記プローブは、対象物との接触面が平面であるため、対象物が平面でない場合、磁力による吸着力が弱かった。また、磁石１０２が露出しており、当該磁石１０２に粉塵等が付着したり、磁石が傷付くと、対象物に接続しにくくなることがあった。この対策として、磁石の接触面をメンテナンスすることが考えられるが、当該メンテナンスに手間と時間を要し、作業効率を向上させることが困難であった。

本発明は、前記種々の問題に鑑みてなされたものであり、導線と対象物とを電気的に接続するプローブであって、容易に安定した状態で接続でき、かつメンテナンスを簡略化することができるプローブを提供することを技術的課題とする。

本発明は、導線の一部に接続され、当該導線と対象物とを電気的に接続するプローブであって、前記導線及び前記対象物と接触する接触端子と、前記接触端子と磁気的に接続された磁石と、前記磁石を覆うカバー部材と、を備えることを特徴とする。

前記磁気的な接続とは、接触物間において磁気回路が形成されるような接続の形態であることを意味する。従って、本発明に係るプローブは、磁気的引力によって対象物と接続される。この磁石を備えることにより、従来の接続方法と比較して接続作業が容易となり、また接続の際に停電させる必要もなく、作業の効率を向上させることができる。

また、本発明に係るプローブは、前記磁石を覆うカバー部材を備えているため、磁石の表面を保護することができ、傷や汚れ等から守り、メンテナンスを簡略化することが可能となる。

さらに、本発明に係るプローブは、前記接触端子を二個備えていることを特徴とすることが望ましい。前記接触端子を二個備えることにより、接触端子と対象物との接触点が少なくとも２点となり、対象物とプローブとの間に閉じた磁気回路が形成される。これにより、プローブと対象物との接続強さを高めることができる。

加えて、本発明に係るプローブは、前記接触端子は、螺子頭形状を有する対象物に係合可能な円弧状の凹部が形成されていることを特徴とすることが望ましい。本発明に係るプローブと接続する対象物は、種々の形状である。しかし、対象物が電子機器等である場合には、対象物が螺子頭形状であることが多い。螺子頭は、取り付けられた（螺合された）状態で表面に突出しており、かつ磁性金属であるため接触対象として適している。

しかし、前記螺子頭形状が円弧状の凸部であり、接触端子が平板状であると、対象物とプローブは点接触となり、振動等で接触箇所が離れてしまう可能性がある。よって、接触端子に、螺子頭に係合可能な円弧状の凹部を形成することが望ましく、これにより接触端子とプローブとの接触性を高めることができる。なお、好適な円弧状の凹部は、測定対象の螺子頭の形状によるため、接触端子を取り外し可能に構成して、接触すべき螺子頭の形状に応じて接触端子を選択可能に構成してもよい。

また、本発明に係るプローブは、前記カバー部が磁石と接触端子を覆い、前記接触端子は、その一部がカバー部材から突出していることを特徴とすることが望ましい。前記構成によれば、接触端子と磁石とをカバー部材によって覆うため、磁石のみならず接触端子を傷や汚れ等から保護することが可能となる。また、接触端子の一部は、カバー部材から突出しているため、この突出部分を介して対象物にプローブを接続することが可能である。

さらに、本発明に係るプローブは、前記接触端子が設けられた接触面の略全体を覆う着脱自在の蓋部材を更に備えていることを特徴とすることが望ましい。前記蓋部材を更に備えることにより、対象物と接触する接触面を保護することができ、当該プローブを持ち運ぶ際の損傷を少なくすることができる。

また、本発明に係るプローブの前記蓋部材は、貫通した状態で配置された第二接触端子を有し、前記第二接触端子は、前記蓋部材によって接触面を覆った状態で前記接触端子と接触することを特徴とすることが望ましい。

前記構成によれば、蓋部材によって接触面を覆った状態で、導線と接続された接触端子と第二接触端子が接触する。よって、前記状態では、導線、接触端子、及び第二接触端子が電気的に接続される。第二接触端子は、蓋部材を貫通しているため、蓋部材で接触面を覆った状態で対象物に接触可能である。よって、第二接触端子を対象物に接触させることで、蓋部材を取り外さずに導線と対象物を電気的に接続することができる。また、蓋部材は着脱自在であるため、蓋部材を交換することにより、接触面が磨耗しても磁石等の本体を保護することができ、耐久性を向上させることができる。

以上のように本発明に係るプローブによれば、容易に安定して導線と対象物とを電気的に接続でき、かつメンテナンスを簡略化することが可能となる。

以下、本発明の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。

図１は、本実施の形態に係るプローブの斜視図であり、図２は、図１のＡ−Ａ断面図である。本実施の形態は、電圧測定器（図示せず）の導線２０と対象物である被測定物とを電気的に接続するプローブ１０の実施形態である。

プローブ１０は、前記導線２０と接続された二つの接触端子１と、前記接触端子１の間に配置された磁石２と、前記接触端子１と磁石２とを覆うカバー部材としてのモールド３と、前記接触端子１が配置されたモールド３の接触面３ａを覆う着脱自在の蓋部材４と、を備えている。

前記接触端子１は、ヨーク素材からなり、導線２０と被測定物との間を繋ぎ電気通路を形成する。接触端子１は、略直方体であり、磁石２を挟んで配置されている。接触端子１と磁石２は、モールド３によって略全体を覆われており、接触端子１の一部がモールド３から突出している。この突出部分が被測定物との接触部分となる。前記モールド３で覆うことにより、磁石２の傷やゴミの付着を防止することができる。

前記磁石２は、接触端子１に磁気的に接触した状態で固定されている。また、接触端子１は、一方の接触端子がＮ極、他方の接触端子がＳ極となり、被測定物との間で閉じた磁気回路を形成する。これにより、被測定物とプローブ１０の接着力は強くなる。

前記蓋部材４は、前記接触面３ａを覆うキャップであり、未使用時（被測定物と接触しない状態）では、接触面３ａを覆い接触面３ａを保護する。一方、使用時（被測定物と接触させる状態）では、接触面３ａから外すことにより、接触端子１を被測定物に接触可能な状態とする。

以上のように構成された本実施例１に係るプローブ１０によれば、プローブ１０と被測定物とを容易に接続することができる。その接続作業は、被測定物の接続したい箇所にプローブ１０を接触させるのみでよく、被測定物を停電させたり、クリップで挟んだときのように突然外れるようなこともなく、作業効率を向上させることができる。

さらに、実施例１に係るモールド１０は、前記磁石２と接触端子（モールドから突出した一部分を除き）は、モールド３によって覆っているため、粉塵等による汚れ、傷等を防ぐことができ、メンテナンスを簡略化できるとともに、耐久性を向上させることができる。

実施例２に係るプローブ１１は、実施例１のプローブ１０の構成に更に、第二接触端子５を設けたものである。実施例１と同様の構成については、同符合を用いて説明を省略する。

図３は、実施例２に係るプローブ１１の斜視図であり、図４は、図３のＢ−Ｂ断面図である。このプローブ１１は、前記実施例１に係るプローブ１０と同様に、接触端子１と、磁石２と、モールド３と、蓋部材４と、を備え、更に蓋部材４に貫通して設けられた第二接触端子５と、を備えている。

前記第二接触端子５は、接触端子１が配置された接触面３ａを覆う蓋部材４の蓋面５ａに貫通して設けられており、接触端子１と同様にヨーク素材からなる。蓋部材４が接触面
３ａを覆う状態で、第二接触端子５は、接触端子１が接触する。よって、第二接触端子５、接触端子１、及び導線２０は、電気回路を構成する。

実施例２のプローブ１１は、被測定物と導線を接続する際に、蓋部材４を被せた状態で第二接触端子５と被測定物とを接触させる。このプローブ１１によれば、モールド３を保護することができ、耐久性を高めることができる。また、蓋部材４と第二接触端子５が一体化しているため、蓋部材４を適宜交換することにより、接触端子も簡易に交換でき、更にメンテナンスの簡略化を図ることが可能となる。

また、実施例２のプローブ１１は、被測定物と接触する第二接触端子５（実施例１においては接触端子１）の接触面５ａの形状が円弧状の凹部である。第二接触端子５の接触面５ａを円弧状の凹部に形成することにより、螺子頭形状の被測定物との接触面積を増やし、被測定物とプローブ１１との接触性を高めることが可能となる。

以上、本発明に係るプローブの好適な実施形態を説明したが、本発明はこれら実施例に限られるものではなく、可能な限りこれらの組み合わせをも含むものである。

実施例１にプローブの斜視図である。図１のＡ−Ａ断面図である。実施例２に係るプローブの斜視図である。図３のＢ−Ｂ断面図である。従来のプローブの断面図である。

符号の説明

１０プローブ
１接触端子
２磁石
３モールド
４蓋部材
５第二接触端子
１００プローブ
１０１接触端子
１０２磁石

Claims

導線の一部に接続され、当該導線と対象物とを電気的に接続するプローブであって、
前記導線及び前記対象物と接触する接触端子と、
前記接触端子と磁気的に接続された磁石と、
前記磁石を覆うカバー部材と、を備えることを特徴とするプローブ。
前記接触端子を二個備えていることを特徴とする請求項１に記載のプローブ。
前記接触端子は、螺子頭形状を有する対象物に係合可能な円弧状の凹部が形成されていることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載のプローブ。
前記カバー部は、前記磁石と前記接触端子を覆っており、
前記接触端子は、その一部がカバー部材を貫通していることを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載のプローブ。
前記接触端子が設けられた接触面の略全体を覆う着脱自在な蓋部材を更に備えていることを特徴とする請求項１から請求項４のいずれかに記載のプローブ。
前記蓋部材は、貫通した状態で配置された第二接触端子を有し、
前記第二接触端子は、前記蓋部材によって接触面を覆った状態で前記接触端子と接触することを特徴とする請求項５に記載のプローブ。