JP3116867B2 - Light beam position detecting device and light beam position detecting method - Google Patents

Light beam position detecting device and light beam position detecting method

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JP3116867B2
JP3116867B2 JP09189327A JP18932797A JP3116867B2 JP 3116867 B2 JP3116867 B2 JP 3116867B2 JP 09189327 A JP09189327 A JP 09189327A JP 18932797 A JP18932797 A JP 18932797A JP 3116867 B2 JP3116867 B2 JP 3116867B2
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謙一 市田
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光ビームの位置検
出装置及び光ビームの位置検出方法に関するものであ
り、更に詳しくは、機械的な機構によらずに正確な光ビ
ームの中心と所定の対象物体に於ける開孔部の中心部と
の位置のずれを測定する事が可能な光ビームの位置検出
方法及び光ビームの位置検出装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a light beam position detecting device and a light beam position detecting method, and more particularly to an accurate light beam center and a predetermined position without using a mechanical mechanism. The present invention relates to a light beam position detecting method and a light beam position detecting device capable of measuring a positional deviation of a hole from a central portion of a target object.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種の円形開口出力光ビームの
位置検出方式は、機械精度で達成出来ない光ビームの高
精度な位置検出に用いられている。つまり、従来に於い
ては、所定の対象物体に設けられた所定の円形開孔部の
中心部を光ビームの中心が通るように調整する方法とし
ては、予め設けた支持部材で、当該所望の開孔部を有す
る対象物体と検出手段とを固定して測定する方法が一般
的である。
2. Description of the Related Art Conventionally, this kind of position detection method for a circular aperture output light beam has been used for highly accurate position detection of a light beam which cannot be achieved with mechanical precision . That is, in the related art, as a method of adjusting the center of the light beam to pass through the center of a predetermined circular opening provided in a predetermined target object, a predetermined supporting member is used to adjust the desired position. In general, a method of fixing a target object having an opening and a detection unit and performing measurement is used.

【0003】然しながら、係る方法では、当該支持部材
を構成する為の機械的精度に限界があり、コスト増に繋
がる等の問題を含んでいた。別の方法としては、例え
ば、特開平3−120625号公報には、情報記録再生
装置が記載されており、当該公報には、参照光と記録光
とを記録媒体上に集光した時の集光点とトラックとの位
置ずれを検出する方法が記載されており、当該集光点の
集光位置を判断するのに4分割フォトディテクターが使
用されている。
However, such a method has a problem in that there is a limit in mechanical accuracy for forming the supporting member, which leads to an increase in cost. As another method, for example, JP-A-3-120625 describes an information recording / reproducing apparatus, and the publication discloses a method of collecting reference light and recording light when they are condensed on a recording medium. A method for detecting a positional deviation between a light spot and a track is described, and a four-segment photodetector is used to determine the converging position of the converging point.

【0004】然しながら、係る従来の焦点位置を測定す
る為に、当該4分割フォトディテクターを所定の精度を
持った適宜の支持部材で機械的に固定しているが、当該
機械精度には限界があり、より一層の高精度を必要とす
る場合には、不適切である事が知られている。又、特開
平5−34130号公報には、プロジェクター用ミラー
の平面度を測定するに際して、レーザー光をミラー面で
反射させて4分割フォトディテクターで検出し、その反
射レーザーの受光位置によって、当該ミラーの平面度を
測定する方法が記載されていますが、係る技術も上記と
同様の問題が含まれている。
However, in order to measure such a conventional focus position, the four-divided photodetector is mechanically fixed by an appropriate support member having a predetermined accuracy, but the mechanical accuracy is limited. It is known that when higher precision is required, it is inappropriate. Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 5-34130 discloses that when measuring the flatness of a mirror for a projector, a laser beam is reflected by a mirror surface and detected by a four-segment photodetector. A method for measuring the flatness is described, but such a technique also involves the same problem as described above.

【0005】然かも、上記各公知例に於いては、所定の
光ビームの中心を所定の開孔部の中心部を通す様に構成
されているものではない。
In each of the above-mentioned known examples, the center of the predetermined light beam does not pass through the center of the predetermined opening.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、上記
した従来技術の欠点を改良し、所定の対象物体に設けら
れた所定の円形開孔部の中心部を光ビームの中心が通る
ように調整したり或いは当該円形開孔部の中心部と光ビ
ームの中心部とのずれを測定するに際して、簡単な構成
で、且つ高精度に両者の位置ずれを検出し、かつ調整す
る事が可能で、然かも、機械的な構造物を必要としない
小型軽量化に対応した光ビームの位置検出装置及び光ビ
ームの位置検出方法を提供するものである。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to improve the above-mentioned drawbacks of the prior art, so that the center of a light beam passes through the center of a predetermined circular opening provided in a predetermined target object. It is possible to detect and adjust the misalignment between the center of the circular aperture and the center of the light beam with a simple configuration and with high accuracy when adjusting the distance between the two. In addition, it is an object of the present invention to provide a light beam position detecting device and a light beam position detecting method which can be reduced in size and weight without requiring a mechanical structure.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は上記した目的を
達成するため、基本的には以下に記載されたような技術
構成を採用するものである。即ち、本発明に於ける第1
の態様としては、適宜の光源から出力された光ビームを
通過させる開孔部を有する対象物体、 当該対象物体の
該開孔部中心部に対する当該光ビームの中心位置を検出
する出力ビームの位置検出手段とから構成されている出
力ビームの位置検出装置であって、当該出力ビームの位
置検出手段は、当該対象物体に設けられている該開孔部
を通過する該光ビームの回折光を利用して当該光ビーム
の中心と、該対象物体に於ける該開孔部の中心とのずれ
の程度を判断する様に構成されているものであり、且
つ、当該出力ビームの位置検出手段は、当該対象物体が
構成する平面に平行な平面を有する平板状に構成されて
おり、その中心位置に複数個に分割された光検出手段と
当該光検出手段の中心部から、放射状に延びる複数の異
なる方向のそれぞれに、当該光検出手段の中心部から所
定の第1の距離離れた位置に設けられた第1の回折光検
出手段が設けられている出力ビームの位置検出装置であ
り、又本発明に係る第2の態様としては、適宜の光源部
から出力された光ビームを、所定の開孔部を有する対象
物体の当該開孔部を通過させるに際して、当該光ビーム
の中心と当該開孔部の中心とのずれを測定する光ビーム
の位置検出方法に於いて、当該対象物体の一面側に設け
られている該光源部とは反対側に設けられている平板状
の検出手段に、所定の中心部の周辺に、当該光ビームの
中心部を検出する光受光手段を設けると共に、該中心部
から複数個の異なる方法に放射線状に延びる線上に、当
該光ビームの回折光を検出する回折光検出手段を設け、
当該光ビームが該対象物体の該開孔部を通過する際に発
生する回折光のピーク値を検出する事により、当該検出
手段の位置出しを行い、その後検出手段を使用して当該
光ビームの中心と当該開孔部の中心とのずれを測定する
出力ビームの位置検出方法である。
The present invention basically employs the following technical configuration in order to achieve the above object. That is, the first of the present invention
As an aspect of the present invention, a target object having an aperture through which a light beam output from an appropriate light source passes, a position detection of an output beam for detecting a center position of the light beam with respect to the center of the aperture of the target object Means for detecting the position of an output beam, wherein the means for detecting the position of the output beam uses diffracted light of the light beam passing through the aperture provided in the target object. the center of the light beam Te, which is configured so as to determine the degree of deviation of the center of at the open hole in the object,且
The output beam position detecting means detects that the target object is
It is composed of a flat plate with a plane parallel to the plane
And a light detecting means divided into a plurality at its center position.
A plurality of defects extending radially from the center of the light detection means.
In each direction from the center of the light detection means.
A first diffracted light detector provided at a fixed first distance
A second embodiment according to the present invention is a device for detecting the position of an output beam provided with an output unit. The light beam output from an appropriate light source unit is applied to an object having a predetermined aperture. In the light beam position detecting method for measuring a deviation between the center of the light beam and the center of the opening when passing through the opening, the light source provided on one surface side of the target object A plate-like detecting means provided on the side opposite to the part, a light receiving means for detecting the central part of the light beam around a predetermined central part, and a plurality of different methods from the central part. On a line extending radially, a diffracted light detecting means for detecting diffracted light of the light beam is provided,
By detecting the peak value of the diffracted light generated when the light beam passes through the aperture of the target object, the position of the detection means is determined, and then the detection means is used to detect the position of the light beam. This is a method for detecting the position of an output beam for measuring the deviation between the center and the center of the aperture.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】本発明に係る光ビームの位置検出
装置および光ビームの位置検出方法に於いては、機械的
な機構を使用する事なく、使用される光ビームの回折光
を利用して、検出手段の正確な位置決め、位置出しを行
って、対象物体に於ける開孔部の中心点と当該検出手段
に於ける中心部との位置合わせを正確に決定し、その状
態を固定化した上で、任意の測定光を使用して当該対象
物体の開孔部を通過させた場合の当該測定光の中心部と
当該対象物体の開孔部の中心部とがどの程度ずれている
かどうかを正確に且つ簡便に測定出来るのである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS In a light beam position detecting device and a light beam position detecting method according to the present invention, diffracted light of a light beam to be used is used without using a mechanical mechanism. Then, by accurately positioning and locating the detecting means, the alignment between the center point of the opening in the target object and the center of the detecting means is accurately determined, and the state is fixed. Then, how much the center of the measurement light and the center of the opening of the target object are displaced when passing through the opening of the target object using an arbitrary measurement light Can be measured accurately and easily.

【0009】[0009]

【実施例】以下に、本発明に係る光ビームの位置検出装
置及び光ビームの位置検出方法の具体例を図面を参照し
ながら詳細に説明する。即ち、本発明に於ける光ビーム
の位置検出装置は、例えば、所定の大きさを有する開孔
部を持つ対象物体の当該開孔部に任意の光源から出力さ
れた光ビームを通過させて、適宜の測定、或いは適宜の
加工処理を行う様な場合に、当該開孔部の中心部と該測
定光或いは処理光である光ビームの中心部とが正確に一
致した状態で通過させる必要がある場合が多く、一致し
ていない場合には、何らかの調整操作を実行して、該開
孔部の中心部と該光ビームの中心部が正確に一致する様
な操作を行う事になる。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a light beam position detecting device and a light beam position detecting method according to the present invention. That is, the position detection device of the light beam in the present invention, for example, by passing a light beam output from any light source through the aperture of the target object having an aperture having a predetermined size, appropriate measurements, or when such as performing an appropriate processing, it is necessary to pass in a state where the center of the light beam which is the center portion of the opening portion and the measuring light or treatment light matches exactly In many cases, if they do not match, some adjustment operation is performed to perform an operation such that the center of the aperture and the center of the light beam exactly match.

【0010】その為、本発明に於いては、当該対象物体
の構成する平面に平行な平面の光ビーム検出手段を設
け、特定の参照光を使用して、当該検出手段の中心と当
該対象物体の開孔部の中心とを予め一致させた状態に構
成しておき、その状態を固定化した後に、適宜の測定光
を使用した実際の操作に於いて、当該検出手段を使用し
て、当該開孔部の中心部と該測定光若しくは処理光の光
ビームの中心部が正確に一致した状態で通過するか否
か、或いはどの程度互いにずれているか否かを判断する
様にしたものである。
Therefore, in the present invention, a light beam detecting means having a plane parallel to the plane constituting the target object is provided, and the center of the detecting means and the target object are detected by using a specific reference light. The center of the opening is made to match the center of the aperture in advance, and after fixing that state, in an actual operation using an appropriate measurement light, the detection unit is used to perform the operation. It is designed to determine whether or not the center of the aperture and the center of the light beam of the measuring light or the processing light pass through in a state of being exactly coincident, or to what extent they are displaced from each other. .

【0011】図1は、本発明に係る光ビームの位置検出
装置の一具体例の構成の概略を示す断面図であり、図
中、適宜の光源1から出力された光ビーム2を通過させ
る開孔部3を有する対象物体4、当該対象物体4の該開
孔部3中心部Pに対する当該光ビーム2の中心位置を検
出する出力ビームの位置検出手段5とから構成されてい
る出力ビームの位置検出装置20であって、当該出力ビ
ーム2の位置検出手段5は、当該対象物体4に設けられ
ている該開孔部3を通過する該光ビームの回折光6を利
用して当該光ビーム2の中心Oと、該対象物体4に於け
る該開孔部3の中心Pとのずれの程度を判断する様に構
成されている出力ビームの位置検出装置20が示されて
いる。
FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of a specific example of a light beam position detecting apparatus according to the present invention. In the drawing, an opening for passing a light beam 2 output from an appropriate light source 1 is shown. The position of an output beam composed of a target object 4 having a hole 3 and an output beam position detecting means 5 for detecting the center position of the light beam 2 with respect to the center P of the opening 3 of the target object 4 In the detection device 20, the position detecting means 5 of the output beam 2 uses the diffracted light 6 of the light beam passing through the aperture 3 provided in the target object 4 to detect the position of the light beam 2. An output beam position detecting device 20 configured to determine the degree of deviation between the center O of the target object 4 and the center P of the aperture 3 in the target object 4 is shown.

【0012】本発明に於いて使用される対象物体4の開
孔部3の形状は、特に限定されるものではないが、円形
開孔部である事が好ましい。本発明に於ける光ビームの
位置検出装置20に於いては、当該出力ビーム2の位置
検出手段5は、図2に示されている様に、平板状に構成
されており、その中心位置Rに複数個に分割された光検
出手段7と当該光検出手段7の中心部Rから、放射状に
延びる複数の異なる方向(例えば、X軸方向及びY軸方
向等)のそれぞれに、当該光検出手段7の中心部Rから
所定の第1の距離d1だけ離れた位置に設けられた第1
の回折光検出手段8−1、8−2、・・・8−nが設け
られているものである。
The shape of the aperture 3 of the target object 4 used in the present invention is not particularly limited, but is preferably a circular aperture. In the light beam position detecting device 20 according to the present invention, the position detecting means 5 of the output beam 2 is formed in a flat plate shape as shown in FIG. A plurality of different directions ( e.g., the X-axis direction and the Y-axis direction)
Direction, etc. ) at a position separated by a predetermined first distance d1 from the center portion R of the light detection means 7.
, 8-n,... 8-n are provided.

【0013】更に、本発明に係る光ビームの位置検出装
置20に於いては、当該出力ビーム2の位置検出手段5
は、更に当該第1の回折光検出手段8−1、8−2、・
・・8−nが設けられている方向の延長線上に、当該中
心部Rから、第1の距離d1よりも大なる第2の距離d
2だけ離れた位置に設けられた第2の回折光検出手段9
−1、9−2、・・・9−nが設けられているものであ
る。
Further, in the light beam position detecting device 20 according to the present invention, the position detecting means 5 of the output beam 2 is used.
Are the first diffracted light detecting means 8-1, 8-2,.
.. a second distance d greater than the first distance d1 from the center R on an extension of the direction in which 8-n is provided
Second diffracted light detecting means 9 provided at a position separated by two
-1, 9-2,... 9-n are provided.

【0014】本発明に係る当該光ビームの位置検出装置
20に於いて使用される当該光検出手段5の中心部Rか
ら、放射状に延びる複数の異なる方向は、3方向か或い
は4方向である事が望ましい。3方向の場合には、その
角度が120度互いに均等にずれた方向に延長する放射
線上に当該第1と第2の回折光検出手段8、9が設けら
れるものであり、又4方向である場合には、その角度が
90度互いに均等にずれた方向に延長する放射線上に当
該第1と第2の回折光検出手段8、9が設けられるもの
である。
A plurality of different directions extending radially from the central portion R of the light detecting means 5 used in the light beam position detecting device 20 according to the present invention are three or four directions. Is desirable. In the case of three directions, the first and second diffracted light detecting means 8 and 9 are provided on radiation whose angles extend in directions uniformly deviated from each other by 120 degrees, and there are four directions. In such a case, the first and second diffracted light detecting means 8 and 9 are provided on the radiation whose angles extend in directions evenly shifted from each other by 90 degrees.

【0015】又、該第1と第2の回折光検出手段8と9
の配置位置は、当該光検出手段7の中心から所定の位置
に設けられているものであり、好ましくは、使用される
所定の波長例えばλを有する光ビーム2の一次回折光の
ピーク値が発生する位置にもうけられるものであり、こ
れは、当該光検出手段7の中心Rからの第1の距離d1
として計算されうるものである。
Also, the first and second diffracted light detecting means 8 and 9
Is disposed at a predetermined position from the center of the light detecting means 7. Preferably, the peak value of the first-order diffracted light of the light beam 2 having a predetermined wavelength to be used, for example, λ is generated. And a first distance d1 from the center R of the light detecting means 7.
It can be calculated as

【0016】更に、第2の回折光検出手段9は、当該波
長λとは異なる波長λ’(λ’>λ)を有する他の光ビ
ームを使用した場合に一次回折光のピーク値が発生する
位置d2(d2>d1)に設けられるものである。本発
明に於ける当該光ビームの位置検出装置20で使用され
る当該出力ビームの位置検出手段5は、当該対象物体4
の平面に対して、平行な面内に於いて及び当該対象物体
4の平面に対して交差する方向に移動、旋回可能となる
様に構成されている事が望ましく、具体的には、当該各
検出手段7及び第1及び第2の回折光検出手段8、9の
それぞれから出力される個別の信号情報を適宜の制御回
路11或いは12を介して集約し、その結果に基づい
て、中央演算手段例えばCPU10から所定の当該対象
物体を水平面内で移動させるX軸方向モーター手段或い
はY軸方向モーター手段を適宜回転制御するか、或いは
当該平板状検出手段5を当該対象物体4の形成する平面
に対して交差する様な方向、或いは旋回する様に移動・
変位させるモーター(例えばMX 、MY 、Mθ)らを有
する駆動手段が設けられている事が望ましい。
Further, when the second diffracted light detecting means 9 uses another light beam having a wavelength λ ′ (λ ′> λ) different from the wavelength λ, a peak value of the primary diffracted light is generated. It is provided at a position d2 (d2> d1). The output beam position detecting means 5 used in the light beam position detecting device 20 according to the present invention includes the target object 4.
Is desirably configured to be movable and pivotable in a plane parallel to the plane and in a direction intersecting the plane of the target object 4. Individual signal information output from each of the detecting means 7 and the first and second diffracted light detecting means 8 and 9 is collected via an appropriate control circuit 11 or 12, and based on the result, the central processing means For example, the X-axis direction motor means or the Y-axis direction motor means for moving the predetermined target object in the horizontal plane from the CPU 10 is appropriately rotated or controlled, or the flat plate detection means 5 is moved with respect to the plane on which the target object 4 is formed. Move in a direction that intersects or turns
It is desirable that a driving means having a motor (for example, M X , M Y , M θ) to be displaced is provided.

【0017】更に、本発明に於いては、当該第1と第2
の回折光検出手段8、9は、少なくともその一方に、当
該光ビーム2の少なくとも一次回折光の光強度分布に於
けるピーク値が照射される様に構成されている事が望ま
しく、又本発明に係る当該第1と第2の回折光検出手段
8、9は、少なくともその一方が、当該光ビーム2の少
なくとも一次回折光の光強度分布に於けるピーク値を検
出しうる機能を有している事が望ましい。
Further, in the present invention, the first and the second
It is preferable that the diffracted light detecting means 8 and 9 are configured so that at least one of them is irradiated with a peak value in the light intensity distribution of at least the first-order diffracted light of the light beam 2. The first and second diffracted light detecting means 8 and 9 according to (1) have a function that at least one of them can detect a peak value in the light intensity distribution of at least the first-order diffracted light of the light beam 2. It is desirable to have.

【0018】更に、本発明に係る当該光ビームの位置検
出装置20に於いて使用される該光ビームの位置検出手
段5の略中央部には、当該光ビーム2の中心部を検出す
る為の検出手段7の構成は特に限定されないが、例え
ば、一般的に光ビームの位置検出手段として使用される
4分割型フォトディテクターを使用する事が可能であ
る。
Furthermore, the light beam position detecting means 5 used in the light beam position detecting device 20 according to the present invention has a substantially central portion for detecting the central portion of the light beam 2. Although the configuration of the detection means 7 is not particularly limited, for example, it is possible to use a four-division type photodetector generally used as a light beam position detection means.

【0019】一方、本発明に於いて使用される当該第1
と第2の回折光検出手段8、9としては、該光ビームの
位置検出手段7の光受光面積に比べて、相対的に小さい
光受光面積を有しているフォトディテクター、例えばフ
ォトダイオード等を使用する事が望ましい。本発明に於
いて、係る光ビームの位置検出装置20を使用して当該
対象物体4に設けられている該開孔部3を通過する該光
ビーム2の中心Oが、該対象物体4に於ける該開孔部3
の中心Pを通過しているか否かを判断する方法の具体例
に付いて以下に説明する。
On the other hand, the first type used in the present invention
As the second diffracted light detecting means 8 and 9, a photodetector having a light receiving area relatively smaller than the light receiving area of the light beam position detecting means 7, such as a photodiode, is used. It is desirable to use. In the present invention, the center O of the light beam 2 passing through the opening 3 provided in the target object 4 by using the light beam position detecting device 20 is positioned at the target object 4. Opening 3
The following describes a specific example of a method of determining whether or not the vehicle passes through the center P of the image.

【0020】即ち、本発明に係る当該光ビームの位置検
出装置20に於いて、実際の測定光を使用して所定の処
理或いは実測操作を行うに先立ち、先ず、当該対象物体
4の開孔部3の中心Pと該平板状光ビーム位置検出手段
5の中心部Rとを実質的に一致させておく準備作業が実
行される。つまり、先ず、当該対象物体4の開孔部3を
通過させる光ビームとして、実際の測定光とは異なる参
照光を使用する。
That is, in the light beam position detecting device 20 according to the present invention, before performing a predetermined process or an actual measurement operation using an actual measurement light, first, the opening portion of the target object 4 is opened. A preparatory operation is performed in which the center P of the plate 3 and the center R of the plate-shaped light beam position detecting means 5 are substantially matched. That is, first, a reference light different from the actual measurement light is used as the light beam that passes through the opening 3 of the target object 4.

【0021】係る参照光は、図3に示す様に、当該開孔
部3を通過して形成される一次回析光の光強度に於ける
ピーク値40(0次回折光のピーク値30を第1のピー
ク値とすれば第2のピーク値となる)が、前記した当該
検出手段5に設けられた第1の回折光検出手段8−1か
ら8−nの何れにもピーク値が発生する様な第1の波長
λを有しているものである。
As shown in FIG. 3, the reference light has a peak value 40 (the peak value 30 of the 0th-order diffracted light) of the light intensity of the first-order diffracted light formed through the opening 3. If the peak value is 1, the second peak value is obtained), but a peak value is generated in any of the first diffracted light detection means 8-1 to 8-n provided in the detection means 5 described above. Having such a first wavelength λ.

【0022】この際、当該参照光の発生源1は、予め定
められた位置に配備され、当該対象物体4の該開孔部3
の中心部と当該参照光の中心部とは、一致した状態にし
ておく事が望ましい。図3及び図4の具体例に従って、
本発明に於ける光ビームの位置検出方法を詳細に説明す
ると、係る波長λを有する参照光を用いて、当該参照光
の中心が当該対象物体4の開孔部3の中心Pを通過する
様にして照射した後、当該平板状位置決め検出手段5に
於ける当該第1の回折光検出手段8−1、8−2、8−
3、8−4の全てに、当該参照光の一次回折光のピーク
値40が来るはずである。
At this time, the reference light source 1 is arranged at a predetermined position, and the aperture 3 of the target object 4 is opened.
It is desirable that the center of the reference beam and the center of the reference light be in agreement. According to the specific examples of FIGS. 3 and 4,
The method for detecting the position of a light beam according to the present invention will be described in detail. Using a reference light having the wavelength λ, the center of the reference light passes through the center P of the opening 3 of the target object 4. After the irradiation, the first diffracted light detecting means 8-1, 8-2, 8-
A peak value 40 of the first order diffracted light of the reference light should come to all of 3, 8-4.

【0023】もし、何れかの第1の回折光検出手段8−
1、8−2、8−3、8−4に当該参照光の一次回折光
のピーク値40が来なければ、前記した駆動手段13を
使用して、当該平板状位置決め検出手段5を当該対象物
体4の平面と平行な面で、任意の方向に移動させて、全
ての第1の回折光検出手段8−1、8−2、8−3、8
−4に当該参照光の一次回折光のピーク値40が来る様
に調整する。
If any of the first diffracted light detecting means 8-
If the peak value 40 of the first-order diffracted light of the reference light does not come to 1, 8-2, 8-3, and 8-4, the driving means 13 is used to move the flat positioning detection means 5 to the target. By moving the object 4 in an arbitrary direction on a plane parallel to the plane of the object 4, all the first diffracted light detecting means 8-1, 8-2, 8-3, 8
Adjustment is made so that the peak value 40 of the primary diffraction light of the reference light comes to -4.

【0024】係る操作は、全軸同時に行ってもよく、又
Y軸方向及びX軸方向を個別に実行するもので有っても
良い。例えば、Y軸方向の調整を先に行う場合には、当
該第1の回折光検出手段8−1と8−3に該ピーク値が
来る様に当該平板状位置決め検出手段5を適宜移動調整
し、次いでX軸方向に於いて当該第1の回折光検出手段
8−2と8−4に該ピーク値が来る様に同様の調整操作
を行う。
Such an operation may be performed simultaneously on all axes, or may be performed individually in the Y-axis direction and the X-axis direction. For example, when the adjustment in the Y-axis direction is performed first, the plate-shaped positioning detection means 5 is appropriately moved and adjusted so that the peak value comes to the first diffraction light detection means 8-1 and 8-3. Then, the same adjustment operation is performed so that the peak value comes to the first diffracted light detecting means 8-2 and 8-4 in the X-axis direction.

【0025】かかる調整操作によって、当該平板状位置
決め検出手段5の中心部Rが、該対象物体4の開孔部3
の中心Pと一致する事になる。次に、図4に示す様に、
当該参照光の波長λを間欠的或いは連続的にλ’に変更
する。この時、第1の回折光検出手段8−1、8−2、
8−3、8−4に波長λを有していた当該参照光の一次
回折光のピーク値40が参照光の波長λ’に変更された
結果、そのピーク値40’第2の回折光検出手段9−
1、9−2、9−3、9−4に向かって移動し、そこに
固定される筈である。
With this adjustment operation, the central portion R of the plate-shaped positioning detecting means 5 is moved to the opening 3 of the target object 4.
Will be coincident with the center P. Next, as shown in FIG.
The wavelength λ of the reference light is intermittently or continuously changed to λ ′. At this time, the first diffracted light detecting means 8-1, 8-2,
As a result of changing the peak value 40 of the first order diffracted light of the reference light having the wavelength λ at 8-3 and 8-4 to the wavelength λ ′ of the reference light, the peak value 40 ′ is detected as the second diffracted light. Means 9-
It should move towards 1, 9-2, 9-3, 9-4 and be fixed there.

【0026】然しながら、当該平板状位置決め検出手段
5が、該対象物体4の平面に対して、完全な平行平面を
形成していない場合には、第2の回折光検出手段9−
1、9−2、9−3、9−4の何れかの回折光検出手段
に当該参照光のピーク値が来ない場合がある。その場合
には、該平板状位置決め検出手段5を当該対象物体4の
平面に対して3次元的に変位させ、全ての第2の回折光
検出手段9−1、9−2、9−3、9−4の何れかの回
折光検出手段に当該波長λ’を有する参照光のピーク値
40’が来る様に調整する事になる。
However, if the plate-shaped positioning detecting means 5 does not form a plane completely parallel to the plane of the object 4, the second diffracted light detecting means 9-
There is a case where the peak value of the reference light does not come to any of the diffracted light detecting means 1, 9-2, 9-3, and 9-4. In that case, the plate-shaped positioning detecting means 5 is three-dimensionally displaced with respect to the plane of the target object 4, and all the second diffracted light detecting means 9-1, 9-2, 9-3, The peak value 40 'of the reference light having the wavelength λ' is adjusted to any one of the diffracted light detection means 9-4.

【0027】係る調整操作は、上記したと同様にX軸方
向とY軸方向を個別に調整操作を行っても良い。係る調
整操作が完了すると、当該平板状位置決め検出手段5
は、当該対象物体4の平面と完全な平行平面を構成する
と共に、当該平板状位置決め検出手段5の中心部Rと当
該対象物体4の開孔部3の中心部Pとは、完全に一致し
た状態に固定される事になる。
The adjustment operation may be performed separately in the X-axis direction and the Y-axis direction in the same manner as described above. When the adjustment operation is completed, the plate-shaped positioning detecting means 5
Constitutes a plane completely parallel to the plane of the target object 4, and the center R of the plate-shaped positioning detection means 5 completely coincides with the center P of the aperture 3 of the target object 4. It will be fixed to the state.

【0028】従って、係る測定の準備作業が完了する
と、該参照光を取り除き、係る対象物体4と該平板状位
置決め検出手段5を使用して、実際の測定光、或いは処
理光を使用して、当該対象物体4の開孔部3に照射され
る光ビームの中心が当該開孔部3の中心Pとどの程度ず
れているか、一致しているかの判断を容易に行う事が可
能となる。
Accordingly, when the preparation work for the measurement is completed, the reference light is removed, and the actual measurement light or the processing light is used by using the target object 4 and the plate-like positioning detection means 5 to thereby remove the reference light. It is possible to easily determine how much the center of the light beam applied to the opening 3 of the target object 4 is displaced or coincides with the center P of the opening 3.

【0029】本発明に係る他の応用例としては、例え
ば、当該参照光の光源の位置、或いは照射角度を上記し
た平板状位置決め検出手段5の検出結果に基づいて、変
更する事も出来、また、該対象物体の配置位置、形態も
調整する様にしても良い。尚、図5は、本発明に係る光
ビームの位置検出方法の他の具体例を示すものであり、
当該第1と第2の回折光検出手段8、9は、当該平板状
位置決め検出手段5の中心部Rから放射状に延びる12
0度等角度の3本の放射線上に配置されているものであ
り、当該光ビームの位置検出手段7は、図1と同様4分
割のフォトディテクターで構成されている。
As another application example according to the present invention, for example, the position of the light source of the reference light or the irradiation angle can be changed based on the detection result of the above-mentioned plate-shaped positioning detecting means 5. The position and form of the target object may also be adjusted. FIG. 5 shows another specific example of the light beam position detecting method according to the present invention.
The first and second diffracted light detecting means 8 and 9 extend radially from the center portion R of the flat positioning detection means 5.
The light beam is arranged on three rays having equal angles of 0 degrees, and the position detecting means 7 of the light beam is constituted by a four-divided photodetector as in FIG.

【0030】又、係る具体例に於ける調整操作が、上記
した具体例と全く同様であるので、詳細な説明は省略す
る。上記した各説明から明らかな様に、本発明に係る第
2の態様である光ビームの位置検出方法としては、例え
ば、適宜の光源部から出力された光ビームを、所定の開
孔部を有する対象物体の当該開孔部を通過させるに際し
て、当該光ビームの中心と当該開孔部の中心とのずれを
測定する光ビームの位置検出方法に於いて、当該対象物
体の一面側に設けられている該光源部とは反対側に設け
られている平板状の検出手段に、所定の中心部の周辺
に、当該光ビームの中心部を検出する光受光手段を設け
ると共に、該中心部から複数個の異なる方法に放射線状
に延びる線上に、当該光ビームの回折光を検出する回折
光検出手段を設け、当該光ビームが該対象物体の該開孔
部を通過する際に発生する回折光のピーク値を検出する
事により、当該検出手段の位置出しを行い、その後検出
手段を使用して当該光ビームの中心と当該開孔部の中心
とのずれを測定する出力ビームの位置検出方法である。
The adjustment operation in this embodiment is exactly the same as that in the above embodiment, and a detailed description thereof will be omitted. As is clear from the above description, as the light beam position detecting method according to the second aspect of the present invention, for example, a light beam output from an appropriate light source unit has a predetermined aperture. When passing through the aperture of the target object, in the method of detecting the position of the light beam to measure the deviation between the center of the light beam and the center of the aperture, provided on one surface side of the target object A light receiving means for detecting the center of the light beam is provided around a predetermined central part on a flat detecting means provided on the side opposite to the light source part, and a plurality of light receiving means are provided from the central part. A diffracted light detecting means for detecting the diffracted light of the light beam on a line extending radially in a different manner, wherein a peak of the diffracted light generated when the light beam passes through the aperture of the target object By detecting the value, the detection means The carried out position, a position detecting method output beam using subsequent detection means for measuring the displacement between the centers of the apertures of the light beam.

【0031】つまり、本発明に於ける光ビームの位置検
出方法に於いては、当該回折光検出手段は、該光ビーム
が当該対象物体の該開孔部を通過するに際して発生する
一次回折光のピーク値を検出しえる様に構成されている
事がのぞましい。更に、本発明に於ける光ビームの位置
検出方法に於いては、当該第1の参照光を該対象物体の
該開孔部を通過させて、第1の一次回折光を発生させ、
当該第1の一次回折光の強度のピーク値が全ての該第1
の回折光検出手段で検出される様に、該平板状検出手段
を当該平板状検出手段が形成する平面内で移動・変位さ
せて、次いで、当該第2の参照光を該対象物体の該開孔
部を通過させて、第2の一次回折光を発生させ、当該第
2の一次回折光の強度のピーク値が全ての該第2の回折
光検出手段で検出される様に、当該平板状検出手段を上
記平面内で移動・変位させるか、当該平面と異なる面を
形成する様に立体的に移動・変位させる事によって、当
該平板状検出手段の位置決めを行う様に構成されている
ものである。
That is, in the light beam position detecting method according to the present invention, the diffracted light detecting means detects the first-order diffracted light generated when the light beam passes through the aperture of the target object. It is desirable that it be configured so that the peak value can be detected. Further, in the position detecting method of the light beam according to the present invention, the first reference light is passed through the opening of the target object to generate a first primary diffracted light,
The peak value of the intensity of the first primary diffracted light is equal to all of the first
The plate-like detection means is moved and displaced within the plane formed by the plate-like detection means so as to be detected by the diffracted light detection means, and then the second reference light is transmitted to the opening of the target object. The second flat diffracted light is generated by passing through the hole, and the plate-like shape is set so that the peak value of the intensity of the second primary diffracted light is detected by all the second diffracted light detecting means. It is configured to move and displace the detecting means within the plane or to move and displace it three-dimensionally so as to form a plane different from the plane, thereby positioning the flat detecting means. is there.

【0032】更に、本発明に於いては、当該参照光に代
えて、所定の測定光を当該対象物体の該開孔部に通過さ
せる事によって、当該測定光の0次回折光の中心と該位
置決めされた該平板状検出手段の中心に設けられた光受
光手段の中心部との差異を検出するものである。
Further, in the present invention, instead of the reference light, a predetermined measuring light is passed through the opening of the target object to thereby determine the center of the zero-order diffracted light of the measuring light and the positioning. This is to detect the difference from the center of the light receiving means provided at the center of the flat detection means.

【0033】[0033]

【発明の効果】本発明に係る光ビームの位置検出装置及
び光ビームの位置検出方法に於いては、円形開孔部に対
して平行な面内に配置された平板状位置決め検出手段5
により構成され、平板状位置決め検出手段5と該対象物
体4との間には機械的インターフェースを必要としない
ので簡易な構成による高精度に円形開孔部の中心位置の
検出を行う事が可能となる。
In the light beam position detecting device and the light beam position detecting method according to the present invention, the flat plate positioning detecting means 5 arranged in a plane parallel to the circular opening is provided.
Since no mechanical interface is required between the plate-shaped positioning detection means 5 and the target object 4, the center position of the circular opening can be detected with a simple configuration and with high accuracy. Become.

【0034】これによって、光ビームの開孔部の中心か
らの位置ずれが精度良く検出出来る事になる。
Thus, the displacement of the light beam from the center of the aperture can be accurately detected.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1は、本発明に係る光ビームの位置検出装置
の一具体例の構成を示すブロックダイアグラムである。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a specific example of a light beam position detecting device according to the present invention.

【図2】図2は、本発明に係る平板状位置決め検出手段
の構成の一例を示す平面図である。
FIG. 2 is a plan view showing an example of the configuration of a flat-plate positioning detection unit according to the present invention.

【図3】図3は、本発明に係る光ビームの位置検出方法
の操作手順の例を説明する図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of an operation procedure of a light beam position detection method according to the present invention.

【図4】図4は、本発明に係る光ビームの位置検出方法
の操作手順の例を説明する図である。
FIG. 4 is a diagram illustrating an example of an operation procedure of the light beam position detection method according to the present invention.

【図5】図5は、本発明に係る光ビームの位置検出方法
他の具体例の構成を示す斜視図である。
FIG. 5 is a perspective view showing the configuration of another specific example of the light beam position detection method according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…光ビームの光源 2…光ビーム 3…開孔部 4…対象物体 5…平板状位置決め検出手段 6…回折光 7…光ビーム位置検出手段 8…第1の回折光検出手段 9…第2の回折光検出手段 10…CPU 11、12…演算回路 13…駆動手段 REFERENCE SIGNS LIST 1 light source of light beam 2 light beam 3 aperture 4 target object 5 flat plate positioning detection means 6 diffracted light 7 light beam position detection means 8 first diffraction light detection means 9 second Diffracted light detection means 10 ... CPU 11, 12 ... Operation circuit 13 ... Driving means

Claims (15)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 適宜の光源から出力された光ビームを通
過させる開孔部を有する対象物体、当該対象物体の該開
孔部中心部に対する当該光ビームの中心位置を検出する
出力ビームの位置検出手段とから構成されている出力ビ
ームの位置検出装置であって、当該出力ビームの位置検
出手段は、当該対象物体に設けられている該開孔部を通
過する該光ビームの回折光を利用して当該光ビームの中
心と、該対象物体に於ける該開孔部の中心とのずれの程
度を判断する様に構成されているものであり、且つ、当
該出力ビームの位置検出手段は、当該対象物体が構成す
る平面に平行な平面を有する平板状に構成されており、
その中心位置に複数個に分割された光検出手段と当該光
検出手段の中心部から、放射状に延びる複数の異なる方
向のそれぞれに、当該光検出手段の中心部から所定の第
1の距離離れた位置に設けられた第1の回折光検出手段
が設けられている事を特徴とする出力ビームの位置検出
装置。
1. A target object having an aperture through which a light beam output from an appropriate light source passes, and a position detection of an output beam for detecting a center position of the light beam with respect to a center of the aperture of the target object. Means for detecting the position of an output beam, wherein the means for detecting the position of the output beam uses diffracted light of the light beam passing through the aperture provided in the target object. Te and the center of the light beam, which is configured so as to determine the degree of deviation of the center of at the open hole in the object, and, those
The output beam position detecting means is configured by the target object.
It has a flat plate shape having a plane parallel to the plane
The light detecting means divided into a plurality at the center position and the light
A plurality of different directions extending radially from the center of the detection means
Direction from the center of the light detecting means.
First diffracted light detecting means provided at a position separated by a distance of 1
Position detection of output beam characterized by having
apparatus.
【請求項2】 当該出力ビームの位置検出手段は、更に
当該第1の回折光検出手段が設けられている方向の延長
線上に、当該中心部から、第1の距離よりも大なる第2
の距離だけ離れた位置に設けられた第2の回折光検出手
段を有している事を特徴とする請求項1記載の出力ビー
ムの位置検出装置。
2. The output beam position detecting means further comprises:
Extension of the direction in which the first diffracted light detection means is provided
On the line, from the center, a second distance greater than the first distance
Second diffracted light detection means provided at a position separated by a distance of
The output beam according to claim 1, wherein the output beam has a step.
System position detector.
【請求項3】 当該光検出手段の中心部から、放射状に
延びる複数の異なる方向は、3方向か或いは4方向であ
る事を特徴とする請求項1又は2に記載の出力ビームの
位置検出装置。
3. The light detecting means radially extends from a central portion thereof.
The different extending directions may be three or four directions.
The output beam according to claim 1 or 2,
Position detection device.
【請求項4】 当該出力ビームの位置検出手段は、当該
対象物体の平面に対して、平行な面内に於いて及び当該
対象物体の平面に対して交差する方向に移動、旋回可能
となる様に構成されている事を特徴とする請求項1乃至
3のいずれかに記載の出力ビームの位置検出装置。
4. An output beam position detecting means, comprising:
In and parallel to the plane of the object
Can move and turn in the direction crossing the plane of the target object
Claims 1 to 3, characterized in that they are configured to be
3. The output beam position detecting device according to claim 3.
【請求項5】 当該第1と第2の回折光検出手段は、少
なくともその一方に、当該光ビームの少なくとも一次回
折光の光強度分布に於けるピーク値が照射される様に構
成されている事を特徴とする請求項2乃至4のいずれか
に記載の出力ビームの位置検出装置。
5. The apparatus according to claim 1, wherein said first and second diffracted light detecting means are provided with a small number.
At least one of the light beams
Structure so that the peak value in the light intensity distribution of the folded light is irradiated.
The method according to any one of claims 2 to 4, wherein
3. The output beam position detecting device according to claim 1.
【請求項6】 当該第1と第2の回折光検出手段は、少
なくともその一方が 、当該光ビームの少なくとも一次回
折光の光強度分布に於けるピーク値を検出しうる構成を
有している事を特徴とする請求項2乃至5のいずれかに
記載の出力ビームの位置検出装置。
6. The first and second diffracted light detecting means are provided with a small
At least one of them is at least
A configuration that can detect the peak value in the light intensity distribution of folded light
6. The method according to claim 2, wherein
A device for detecting the position of an output beam as described.
【請求項7】 当該第1と第2の回折光検出手段は、該
光検出手段の光受光面積に比べて小さい光受光面積を有
しているものである事を特徴とする請求項2乃至6のい
ずれかに記載の出力ビームの位置検出装置。
7. The first and second diffracted light detecting means include:
The light receiving area is smaller than the light receiving area of the light detecting means.
7. The method according to claim 2, wherein
An output beam position detector according to any of the preceding claims.
【請求項8】 適宜の光源部から出力された光ビーム
を、所定の開孔部を有する対象物体の当該開孔部を通過
させるに際して、当該光ビームの中心と当該開孔部の中
心とのずれを測定する光ビームの位置検出方法に於い
て、当該対象物体の一面側に設けられている該光源部と
は反対側に設けられている平板状の検出手段に、所定の
中心部の周辺に、当該光ビームの中心部を検出する光受
光手段を設けると共に、該中心部から複数個の異なる方
法に放射線状に延びる線上に、当該光ビームの回折光を
検出する回折光検出手段を設け、当該光ビームが該対象
物体の該開孔部を通過する際に発生する回折光のピーク
値を検出する事により、当該検出手段の位置出しを行
い、その後検出手段を使用して当該光ビームの中心と当
該開孔部の中心とのずれを測定する事を特徴とする出力
ビームの位置検出方法。
8. A light beam output from an appropriate light source unit
Passes through the opening of the target object having the predetermined opening.
The center of the light beam and the hole.
In the method of detecting the position of the light beam for measuring the deviation from the center
The light source unit provided on one surface side of the target object.
Is provided on a flat detection means provided on the opposite side.
A light receiver for detecting the center of the light beam is provided around the center.
A light means is provided, and a plurality of different
On the line that extends radially
Providing a diffracted light detecting means for detecting the light beam,
Peak of diffracted light generated when passing through the opening of the object
By detecting the value, the position of the detection means is determined.
After that, using the detecting means,
An output characterized by measuring the deviation from the center of the opening.
Beam position detection method.
【請求項9】 当該回折光検出手段は、該光ビームが当
該対象物体の該開孔部を通過するに際して発生する一次
回折光のピーク値を検出しえる様に構成されている事を
特徴とする請求項8記載の光ビームの位置検出方法。
9. The diffracted light detecting means receives the light beam.
Primary generated when the target object passes through the opening
That it is configured to detect the peak value of the diffracted light
9. The method according to claim 8, wherein the position of the light beam is detected.
【請求項10】 当該平板状検出手段の所定の中心部の
周辺に設けられる該光受光手段は、光ビームの中心位置
を検出する為の複数個の等面積に分割された光受光素子
で構成されている事を特徴とする請求項8記載の光ビー
ムの位置検出方法。
10. A predetermined central portion of said flat plate detecting means.
The light receiving means provided at the periphery is located at the center of the light beam.
Light receiving element divided into multiple equal areas for detecting
9. The light beam according to claim 8, wherein:
How to detect the position of the system
【請求項11】 当該平板状検出手段に設けられている
回折光検出手段は、該平板状検出手段の所定の中心部か
ら放射状に延びる複数の異なる方向のそれぞれに、当該
光検出手段の当該中心部から所定の第1の距離離れた位
置に設けられた第1の回折光検出手段補助光検出手段と
当該第1の回折光検出手段の、第1の距離よりも大なる
第2の距離だけ離れた位置に設けられた第2の回折光検
出手段が設けられている事を特徴とする請求項10記載
の光ビームの位置検出方法。
11. The flat plate detecting means is provided.
The diffracted light detecting means is located at a predetermined central portion of the flat detecting means.
In each of a plurality of different directions extending radially from
A position at a predetermined first distance from the center of the light detecting means
First diffracted light detection means, auxiliary light detection means,
Greater than the first distance of the first diffracted light detection means
A second diffracted light detector provided at a position separated by a second distance
11. The device according to claim 10, wherein an output means is provided.
Light beam position detection method.
【請求項12】 予め当該対象物体の該開孔部を通過す
る光ビームの第1次回折光のピーク値が、当該何れの第
1の回折光検出手段でも検出される様な第1の波長を持
つ様に予め定められた第1の参照光と、予め当該対象物
体の該開孔部を通過する光ビームの第1次回折光のピー
ク値が、当該何れの第2の回折光検出手段でも検出され
る様な第2の波長に予め定められた第2の参照光とを使
用する事を特徴とする請求項11記載の光ビームの位置
検出方法。
12. Passing through the opening of the target object in advance
Peak value of the first-order diffracted light of the light beam
It has a first wavelength that can be detected by the first diffraction light detecting means.
The first reference light predetermined in advance and the object
Peak of the first order diffracted light of the light beam passing through the aperture of the body
Is detected by any of the second diffracted light detecting means.
Using a predetermined second reference light at a second wavelength such as
12. The position of a light beam according to claim 11, wherein the position of the light beam is used.
Detection method.
【請求項13】 当該第2の参照光の第2の波長は、当
該第1の参照光の第1の波長よりも長くなる様に構成さ
れている事を特徴とする請求項12記載の光ビームの位
置検出方法。
13. The second wavelength of the second reference light is
The first reference light is configured to be longer than the first wavelength.
13. The position of a light beam according to claim 12, wherein
Location detection method.
【請求項14】 当該第1の参照光を該対象物体の該開
孔部を通過させて、第1の一次回折光を発生させ、当該
第1の一次回折光の強度のピーク値が全ての該第1の回
折光検出手段で検出される様に、該平板状検出手段を当
該平板状検出手段が形成する平面内で移動・変位させ
て、次いで、当該第2の参照光を該対象物体の該開孔部
を通過させて、第2の一次回折光を発生させ、当該第2
の一次回折光の強度のピーク値が全ての該第2の回折光
検出手段で検出される様に、当該平板状検出手段を上記
平面内で移動・変位させるか、当該平面と異なる面を形
成する様に立体的に移動・変位させる事によって、当該
平板状検出手段の位置決めを行う事を特徴とする請求項
8乃至13の何れかに記載の光ビームの位置検出方法。
14. The method according to claim 14, wherein the first reference light is transmitted to the target object by the opening of the target object.
Passing through the hole to generate a first primary diffracted light,
The peak value of the intensity of the first primary diffracted light is equal to that of all the first
The flat plate detecting means is turned on so that it is detected by the folded light detecting means.
Moving and displacing in the plane formed by the flat plate detecting means.
Then, the second reference light is transmitted to the aperture of the target object.
To generate a second first-order diffracted light,
The peak value of the intensity of the first order diffracted light is
As described above, the plate-like detecting means is
Move or displace in the plane, or form a plane different from the plane
By moving and displacing three-dimensionally as
The flat plate detecting means is positioned.
14. The method for detecting the position of a light beam according to any one of 8 to 13.
【請求項15】 当該参照光に代えて、所定の測定光を
当該対象物体の該開孔部に通過させる事によって、当該
測定光の0次回折光の中心と該位置決めされた該平板状
検出手段の中心に設けられた光受光手段の中心部との差
異を検出する事を特徴とする請求項14記載の光ビーム
の位置検出方法。
15. A predetermined measuring light instead of the reference light.
By passing through the aperture of the target object,
The center of the zero-order diffracted light of the measurement light and the positioned flat plate
Difference from the center of the light receiving means provided at the center of the detecting means
The light beam according to claim 14, wherein a difference is detected.
Position detection method.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0576481U (en) * 1992-03-25 1993-10-19 忠弘 那須 Kendo armor

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