JP3115367B2 - CVD reactor - Google Patents

CVD reactor

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JP3115367B2
JP3115367B2 JP03223364A JP22336491A JP3115367B2 JP 3115367 B2 JP3115367 B2 JP 3115367B2 JP 03223364 A JP03223364 A JP 03223364A JP 22336491 A JP22336491 A JP 22336491A JP 3115367 B2 JP3115367 B2 JP 3115367B2
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heating
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太一 山口
伸哉 青木
昭 香川
宰 河野
明 佐治
昇 黒田
弘 吉田
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Fujikura Ltd
Chubu Electric Power Co Inc
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Fujikura Ltd
Chubu Electric Power Co Inc
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  • Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、基板上に化学気相蒸
着法(CVD法)を用いて被膜層を形成させる際に用い
られるCVD反応装置に係わり、更に詳しくは、超電導
マグネットコイルや電力輸送用などとして応用開発が進
められている長尺の酸化物超電導体をCVD法を用いて
製造する場合に使用されるCVD反応装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a CVD reactor used for forming a coating layer on a substrate by using a chemical vapor deposition method (CVD method). The present invention relates to a CVD reactor used for manufacturing a long oxide superconductor, which is being developed for transportation and the like by using a CVD method.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、長尺の酸化物超電導体をCVD法
を用いて製造する場合、例えば図6に示されるような横
長型の反応チャンバを用いたCVD反応装置が用いられ
ている。このCVD反応装置1は、横長型の反応チャン
バ2、原料ガス供給装置3、排気ポンプ4、基板ヒータ
5、基板移送装置6を主要構成要素として備えて構成さ
れている。
2. Description of the Related Art Conventionally, when a long oxide superconductor is manufactured by a CVD method, for example, a CVD reactor using a horizontally long reaction chamber as shown in FIG. 6 is used. The CVD reactor 1 includes a horizontally long reaction chamber 2, a source gas supply device 3, an exhaust pump 4, a substrate heater 5, and a substrate transfer device 6 as main components.

【0003】上記反応チャンバ2の下方側の一端には原
料ガス供給口7が形成され、かつこの原料ガス供給口7
は、原料ガス供給管8を通じて上記原料ガス供給装置3
と接続されている。また、上記反応チャンバ2の下方側
の他端にはガス排出口9が形成され、かつこのガス排出
口9はガス排出管10を通じて排気ポンプ4と接続され
ている。
A source gas supply port 7 is formed at one end on the lower side of the reaction chamber 2.
Is connected to the source gas supply device 3 through the source gas supply pipe 8.
Is connected to A gas outlet 9 is formed at the other lower end of the reaction chamber 2, and the gas outlet 9 is connected to the exhaust pump 4 through a gas discharge pipe 10.

【0004】また、上記反応チャンバ2内の長尺基板1
1は、基板移送装置6により図中の矢印方向に移動さ
れ、送入されるようになっている。また、さらに上記チ
ャンバ2内の下部には基板ヒータ5が設けられ、反応チ
ャンバ2内に送入される長尺基板11を所望の温度で加
熱できるようになっている。
The long substrate 1 in the reaction chamber 2
1 is moved by the substrate transfer device 6 in the direction of the arrow in the figure and is sent. Further, a substrate heater 5 is provided at a lower portion in the chamber 2 so that the long substrate 11 fed into the reaction chamber 2 can be heated at a desired temperature.

【0005】上記従来のCVD反応装置1を用いて長尺
のSC体を作製するには、基板移送装置6によって反応
チャンバ2内に長尺基板11を送入し、さらに原料ガス
供給管8を介して原料ガス供給装置3から反応チャンバ
2内に原料ガスを導入するとともに、反応チャンバ2内
を所定の原料ガス雰囲気とする。しかる後、直ちに基板
ヒータ6で上記チャンバ2内の長尺基板11を加熱して
この長尺基板11表面にSC層を蒸着させ、これにより
SC体を作製する。
In order to manufacture a long SC body using the above-mentioned conventional CVD reactor 1, a long substrate 11 is fed into the reaction chamber 2 by a substrate transfer device 6, and a raw material gas supply pipe 8 is further connected. The raw material gas is introduced into the reaction chamber 2 from the raw material gas supply device 3 via the source gas, and the inside of the reaction chamber 2 is set to a predetermined raw material gas atmosphere. Immediately thereafter, the long substrate 11 in the chamber 2 is immediately heated by the substrate heater 6 to deposit an SC layer on the surface of the long substrate 11, thereby producing an SC body.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のCVD反応装置1を用いた場合、長尺基板11は、
反応チャンバ2の入口Aに導入されると同時に高温で急
激な加熱を受け、また、出口Bから搬出されると同時に
外気により急激に冷却されるため、上記反応チャンバ2
の入口及び出口において急激な温度変化を起こし、かつ
この急激な温度変化に起因する膨張あるいは収縮等の激
しいストレスが負荷される。従って、これにより基板に
「反り」や「撓み」が発生して基板の成膜面に起伏が生
ずる恐れがあるという問題があった。
However, when the above-mentioned conventional CVD reactor 1 is used, the long substrate 11 is
Since it is introduced into the inlet A of the reaction chamber 2 and is rapidly heated at a high temperature at the same time as being discharged from the outlet B, it is rapidly cooled by the outside air.
Abrupt temperature changes occur at the inlet and the outlet of the device, and severe stress such as expansion or contraction caused by the rapid temperature change is applied. Therefore, there has been a problem that this may cause "warp" or "bending" of the substrate to cause undulation on the film-forming surface of the substrate.

【0007】また、基板上にSC層が蒸着された後、こ
の基板を上述したように出口Bから搬出して、外気で急
激に冷却すると、基板とSC層との膨張係数の相違に起
因するストレスがこのSC層に負荷され、これにより上
記SC層にクラック等の欠陥が発生するという問題があ
った。
Further, after the SC layer is deposited on the substrate, the substrate is carried out from the outlet B as described above and is rapidly cooled by the outside air. This causes a difference in the expansion coefficient between the substrate and the SC layer. There is a problem that stress is applied to the SC layer, which causes defects such as cracks in the SC layer.

【0008】本発明は、上記事情に鑑みなされたもの
で、長尺基板を反応チャンバ内に導入する際、および反
応チャンバから搬出する際に、長尺基板にあるいは基板
上に蒸着されたSC層に起こる温度変化を緩やかにする
ことにより、この温度変化に起因して基板あるいはSC
層に発生する膨張あるいは収縮等のストレスの軽減を図
ることのできるCVD反応装置の提供を目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and has been made in consideration of the above-described circumstances. When an elongated substrate is introduced into or removed from a reaction chamber, an SC layer deposited on the elongated substrate or on the substrate is used. The temperature change occurring in the substrate or the SC is reduced due to this temperature change.
An object of the present invention is to provide a CVD reactor capable of reducing stress such as expansion or contraction generated in a layer.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記課題は、原料化合物
ガス等の原料ガスを化学反応せしめて基体表面に生成物
を堆積させるCVD反応を行う横長型の反応チャンバ
と、該反応チャンバ内に原料ガスを供給する原料ガス供
給手段と、該反応チャンバ内のガスを排気するガス排気
手段と、長尺の基体を該反応チャンバの長手方向に沿っ
て一方側に移動させる基体移動手段と、該反応チャンバ
内に配設された横長型の加熱手段とを備えたCVD反応
装置であって、前記加熱手段は、上記原料ガスを化学反
応せしめて上記基体表面に生成物を堆積させる反応温度
に加熱する反応領域と、該反応領域の、基体移動方向前
方側に設けられ、上記基体が該反応領域に達するまでに
該反応温度となるように漸次加熱する予熱領域と、該反
応領域の、基体移動方向後方側に設けられ、反応温度に
加熱された該基体を徐冷する徐冷領域とを備えた構成と
することにより解決される。
An object of the present invention is to provide a laterally elongated reaction chamber for performing a CVD reaction for chemically reacting a source gas such as a source compound gas and depositing a product on a substrate surface, Source gas supply means for supplying gas, gas exhaust means for exhausting gas in the reaction chamber, substrate moving means for moving a long substrate to one side along the longitudinal direction of the reaction chamber, A CVD reaction apparatus provided with a horizontally-long heating means disposed in a chamber, wherein the heating means heats the raw material gas to a reaction temperature at which a product is deposited on the surface of the substrate by a chemical reaction. A reaction region, a preheating region provided on the front side of the reaction region in the direction of substrate movement, and gradually heating the substrate to reach the reaction temperature until the substrate reaches the reaction region; Provided toward the rear side, it is solved by a configuration in which a slow-cooling region gradually cooling the substrate body is heated to the reaction temperature.

【0010】また、上記加熱手段が、横長の熱伝導プレ
ートと、その中央部を加熱するヒータとを備えてなり、
かつ該熱伝導プレートの中央部領域を上記反応領域と
し、該中央部領域の基体移動方向前方側の領域を上記予
熱領域とし、該中央部領域の基体移動方向後方側の領域
を上記徐冷領域としたものであることが望ましい。
[0010] Further, the heating means includes a horizontally long heat conducting plate and a heater for heating a central portion thereof.
The central region of the heat conductive plate is the reaction region, the region of the central region on the front side in the substrate moving direction is the preheating region, and the region of the central region on the rear side in the substrate moving direction is the slow cooling region. Desirably,

【0011】また、上記横長の熱伝導プレートの両端部
に、冷却手段を設けた構成とすることが望ましい。
Further, it is desirable that cooling means is provided at both ends of the horizontally long heat conducting plate.

【0012】[0012]

【作用】以上述べたように、本発明のCVD反応装置に
あっては、加熱手段を、原料ガスを化学反応せしめて上
記基体表面に生成物を堆積させる反応温度に加熱する反
応領域と、該反応領域の、基体移動方向前方側に設けら
れ、上記基体が該反応領域に達するまでに該反応温度と
なるように漸次加熱する予熱領域と、該反応領域の、基
体移動方向後方側に設けられ、反応温度に加熱された該
基体を徐冷する徐冷領域とを備えた構成としたので、上
記基体を反応チャンバ内の反応領域に導入する際、ある
いは反応領域から搬出する際に、該基体に起こる温度変
化を緩やかにすることができ、これにより、この温度変
化に起因して基体あるいはこの基体に蒸着された薄膜に
発生する膨張あるいは収縮等のストレスが軽減される。
As described above, in the CVD reaction apparatus of the present invention, the heating means is provided with a reaction region for chemically reacting the source gas and heating to a reaction temperature for depositing the product on the substrate surface. A preheating region provided on the front side of the reaction region in the substrate moving direction and gradually heating so as to reach the reaction temperature until the substrate reaches the reaction region; and a preheating region provided on the rear side of the reaction region in the substrate moving direction. And a gradual cooling region for gradually cooling the substrate heated to the reaction temperature, so that when the substrate is introduced into or removed from the reaction region in the reaction chamber, Can be moderated, thereby reducing stress such as expansion or contraction generated in the substrate or a thin film deposited on the substrate due to the temperature change.

【0013】[0013]

【実施例】以下、実施例を挙げて本発明を詳細に説明す
る。図1は、本発明のCVD反応装置の第1実施例を示
すものであり、図中符号21はCVD反応装置である。
このCVD反応装置21は、横長型の反応チャンバ2
2、原料ガス供給装置23、排気ポンプ24、基板加熱
装置25、基板移送装置26を主要構成要素として構成
されている。
The present invention will be described below in detail with reference to examples. FIG. 1 shows a first embodiment of a CVD reactor according to the present invention. In the figure, reference numeral 21 denotes a CVD reactor.
The CVD reaction apparatus 21 includes a horizontally long reaction chamber 2.
2. The material gas supply device 23, the exhaust pump 24, the substrate heating device 25, and the substrate transfer device 26 are configured as main components.

【0014】上記反応チャンバ22の上部には、上方に
向けてすぼまりかつその頂部に原料ガス供給手段23が
接続された原料ガス拡散部27が形成されている。一
方、上記反応チャンバ22の下方側には2つのガス排出
口28,28が形成され、かつこれら2つのガス排出口
28,28はガス排出管29を通して排気ポンプ24に
接続されている。
At the upper part of the reaction chamber 22, there is formed a source gas diffusion part 27 which tapers upward and has a source gas supply means 23 connected to the top. On the other hand, two gas outlets 28, 28 are formed below the reaction chamber 22, and these two gas outlets 28, 28 are connected to an exhaust pump 24 through a gas exhaust pipe 29.

【0015】上記反応チャンバ22内の長尺基板30
は、基板移送装置26により図中の矢印方向に移動さ
れ、送入されるようになっている。また、さらに上記チ
ャンバ22内の下部には基板加熱装置25が設けられ、
上記反応チャンバ22内に送入される長尺基板30を加
熱できるようになっている。
The long substrate 30 in the reaction chamber 22
Is moved in the direction of the arrow in the figure by the substrate transfer device 26 and is fed. Further, a substrate heating device 25 is provided at a lower portion in the chamber 22,
The long substrate 30 fed into the reaction chamber 22 can be heated.

【0016】上記基板加熱装置25は、図2(a)に示
すように、横長の熱伝導プレート31と、この熱伝導プ
レート31の、中央部の加熱するヒータ32と、このヒ
ータ32の加熱温度を測定する温度センサT1と、この
温度センサT1の情報に基づき、上記ヒータ32を制御
する温度制御装置33とを備えている。
As shown in FIG. 2A, the substrate heating device 25 includes a horizontally long heat conducting plate 31, a heater 32 for heating a central portion of the heat conducting plate 31, and a heating temperature of the heater 32. a temperature sensor T 1 for measuring the, based on the information of the temperature sensor T 1, and a temperature controller 33 for controlling the heater 32.

【0017】また、上記構成とした基板加熱装置25
は、図2(b)に示すように、原料ガスを化学反応せし
めて長尺基板30表面上に生成物を堆積させる際の反応
温度に加熱される反応領域25aと、この反応領域25
aの、基板移動方向前方側に設けられ、上記長尺基板3
0が反応領域25aに到達するまでに上記反応温度とな
るように漸次加熱する温度勾配を有する予熱領域25b
と、上記反応領域25aの、基板移動方向後方側に設け
られ、反応温度に加熱された上記長尺基板を徐冷する温
度勾配を有する徐冷領域25cとを備えている。
Further, the substrate heating device 25 having the above-described configuration is used.
As shown in FIG. 2 (b), a reaction region 25a heated to a reaction temperature when a source gas is chemically reacted and a product is deposited on the surface of the long substrate 30;
a, the long substrate 3
A preheating region 25b having a temperature gradient for gradually heating so as to reach the above-mentioned reaction temperature until 0 reaches the reaction region 25a.
And a slow cooling region 25c provided on the rear side of the reaction region 25a in the substrate moving direction and having a temperature gradient for gradually cooling the long substrate heated to the reaction temperature.

【0018】なお、上記熱伝導プレート31としては、
インコネル、ハステロイなどの金属材料や、アルミナ、
石英ガラスなどのセラミック材料を板状に加工したもの
などが好適である。
The heat conductive plate 31 includes:
Metal materials such as Inconel and Hastelloy, alumina,
A material obtained by processing a ceramic material such as quartz glass into a plate shape is preferable.

【0019】以上述べたように、本例のCVD反応装置
21にあっては、原料ガスを化学反応せしめて長尺基板
30表面上に生成物を堆積させる際の反応温度に加熱さ
れる反応領域25aと、この反応領域25aの、基板移
動方向前方側に設けられ、上記長尺基板30が反応領域
25aに到達するまでに上記反応温度となるように漸次
加熱する温度勾配を有する予熱領域25bと、上記反応
領域25aの、基板移動方向後方側に設けられ、反応温
度に加熱された上記長尺基板を徐冷する温度勾配を有す
る徐冷領域25cとを備えた基板加熱装置25を用いた
構成としたので、上記長尺基板30を基板加熱装置25
の反応領域25aに導入する際、あるいはその加熱領域
から搬出する際に、長尺基板30に起こる温度変化を緩
やかにすることができ、これにより、この温度変化に起
因して基板あるいはこの基板上に蒸着された薄膜に発生
する膨張あるいは収縮等のストレスが軽減される。従っ
て、これらストレスにより引き起こされる、例えば、基
板の成膜面への起伏の発生や、基板上に蒸着した薄膜へ
のクラックの発生を抑制することができる。
As described above, in the CVD reactor 21 of the present embodiment, the reaction region is heated to the reaction temperature at which the source gas is chemically reacted and the product is deposited on the surface of the long substrate 30. 25a and a preheating region 25b which is provided on the front side of the reaction region 25a in the substrate moving direction and has a temperature gradient for gradually heating so as to reach the reaction temperature until the long substrate 30 reaches the reaction region 25a. Using a substrate heating device 25 provided with a slow cooling region 25c provided on the rear side of the reaction region 25a in the substrate moving direction and having a temperature gradient for gradually cooling the long substrate heated to the reaction temperature. Therefore, the long substrate 30 is connected to the substrate heating device 25.
When the substrate is introduced into the reaction region 25a or when the substrate is carried out of the heating region, the temperature change occurring in the long substrate 30 can be moderated. The stress such as expansion or contraction generated in the thin film deposited on the substrate is reduced. Therefore, it is possible to suppress, for example, the occurrence of undulations on the film-forming surface of the substrate and the occurrence of cracks in the thin film deposited on the substrate, which are caused by these stresses.

【0020】上記本実施例のCVD反応装置21を用
い、長尺のSC体を製造するには、まず、原料ガス供給
装置23からチャンバ22内に、原料ガス拡散部27を
介してSC体原料ガスを導入するとともに、排気ポンプ
24によりチャンバ22の下方側の2つのガス排出口2
8,28からチャンバ22内の反応残ガスを排気する。
この時、原料ガス供給装置23から原料ガス拡散部27
内に送り込まれたSC体原料ガスは、図中の矢印で示さ
れるように拡散される。上記一連の操作により反応チャ
ンバ22内の長尺基板30のCVD反応領域近傍では、
所定の均一なSC体原料ガス雰囲気となる。また、同時
に基板加熱装置25のスイッチを入れて予熱操作を行な
っておく。
To manufacture a long SC body using the CVD reactor 21 of the present embodiment, first, the SC body raw material is supplied from the raw material gas supply device 23 into the chamber 22 through the raw material gas diffusion section 27. The gas is introduced, and the two gas outlets 2 on the lower side of the chamber 22 are exhausted by the exhaust pump 24.
The reaction residual gas in the chamber 22 is exhausted from 8, 28.
At this time, the source gas supply unit 23 sends the source gas diffusion unit 27
The SC raw material gas sent into the inside is diffused as shown by the arrow in the figure. By the above series of operations, in the vicinity of the CVD reaction region of the long substrate 30 in the reaction chamber 22,
A predetermined uniform SC material gas atmosphere is obtained. At the same time, the substrate heating device 25 is turned on to perform a preheating operation.

【0021】次に、所定の原料ガス雰囲気に調節され、
基板加熱装置25の予熱を終えた状態となった上記チャ
ンバ22内に、長尺基板30を所定の速度で送入してい
く。この時まず、長尺基板30を、予熱領域25bに接
触させて、次の反応領域25aに到達するまでの間に、
所定のCVD反応温度まで漸次加熱する。次に、上記反
応温度まで加熱された長尺基板30は、反応領域25a
に至り、CVD反応温度で持続的に加熱されると共に、
その上方から供給されたSC体原料ガスが、加熱された
上記長尺基板30上で反応し、この長尺基板30上にS
C層が蒸着される。さらにこのSC層が蒸着された長尺
基板30は、徐冷領域25cに至り、徐々に冷却され
る。
Next, the atmosphere is adjusted to a predetermined source gas atmosphere,
The long substrate 30 is fed at a predetermined speed into the chamber 22 in which the preheating of the substrate heating device 25 has been completed. At this time, first, the long substrate 30 is brought into contact with the preheating region 25b, and before reaching the next reaction region 25a.
Heat gradually to a predetermined CVD reaction temperature. Next, the long substrate 30 heated to the reaction temperature is placed in the reaction region 25a.
, And while being continuously heated at the CVD reaction temperature,
The SC raw material gas supplied from above reacts on the heated long substrate 30, and S
Layer C is deposited. Further, the long substrate 30 on which the SC layer is deposited reaches the slow cooling region 25c and is gradually cooled.

【0022】なお、本発明に係わるCVD反応装置を用
いてSC体を製造する際において好適なSC体原料とし
ては、例えばY−Ba−Cu−O系のSC体を作製する
際は、Y-ビス-2,2,6,6-テトラメチル-3,5-ヘプタンジ
オナート(略称:Y(DPM)3)やBa-ビス-2,2,6,6
-テトラメチル-3,5-ヘプタンジオナート(略称:Ba
(DPM)2)やCu-ビス-2,2,6,6-テトラメチル-3,5-
ヘプタンジオナート(略称:Cu(DPM)2)などの
SC体原料が好適である。
The SC raw material suitable for producing the SC body using the CVD reactor according to the present invention is, for example, Y-Ba-Cu-O based SC body when producing the SC body. Bis-2,2,6,6-tetramethyl-3,5-heptanedionate (abbreviation: Y (DPM) 3 ) or Ba-bis-2,2,6,6
-Tetramethyl-3,5-heptanedionate (abbreviation: Ba
(DPM) 2 ) or Cu-bis-2,2,6,6-tetramethyl-3,5-
SC raw materials such as heptane dionate (abbreviation: Cu (DPM) 2 ) are suitable.

【0023】図3は、本発明のCVD反応装置の第2実
施例を示すもので、図中符号41はCVD反応装置であ
る。なお、先の第1実施例において用いた部材と同一の
部材については、同一符号を付して簡便化を図るものと
する。本例と先の第1実施例との相違点は、先の第1実
施例において用いた基板加熱装置25を構成する熱伝導
プレート31の両端を冷却する冷却器を設けた点であ
り、他の構成は全て同じである。
FIG. 3 shows a second embodiment of the CVD reactor according to the present invention, in which reference numeral 41 denotes a CVD reactor. The same members as those used in the first embodiment will be denoted by the same reference numerals for simplification. The difference between this embodiment and the first embodiment is that a cooler for cooling both ends of the heat conductive plate 31 constituting the substrate heating device 25 used in the first embodiment is provided. Are all the same.

【0024】図4(a)に示すように、本例のCVD加
熱装置41を構成する基板加熱装置42は、横長の熱伝
導プレート31と、この熱伝導プレート31の、中央部
の加熱するヒータ32と、上記熱伝導プレート31の両
端を冷却する冷却器43,43と、このヒータ32の加
熱温度を測定する温度センサT1と、冷却器43,43
の冷却温度を測定する温度センサT2と、これら温度セ
ンサT1,T2の情報に基づき、上記ヒータ32および冷
却器43,43を制御する温度制御装置33とを備えて
いる。
As shown in FIG. 4A, a substrate heating device 42 constituting the CVD heating device 41 of the present embodiment includes a horizontally long heat conducting plate 31 and a heater for heating a central portion of the heat conducting plate 31. 32, a cooler 43, 43 for cooling the both ends of the heat conducting plate 31, a temperature sensor T 1 for measuring the heating temperature of the heater 32, a cooler 43, 43
A temperature sensor T 2 to measure the cooling temperature, on the basis of these temperature sensors T 1, T 2 of the information, and a temperature controller 33 for controlling the heater 32 and the cooler 43, 43.

【0025】上記冷却器43は、図5に示すように、内
部を冷却水が通過する冷却管44と、この冷却管44に
冷水を供給するポンプ45とを備えてなり、温度センサ
2が所定温度より高温であると検知した場合には、温
度制御装置33によって、ポンプ45が作動し、所定温
度あるいはそれよりやや低い温度の冷却水が冷却管44
に送られるようになっている。また、温度センサT2
所定温度以下であると検知した場合には、逆に冷却管4
4への送水が止まるようになっている。
[0025] The condenser 43, as shown in FIG. 5, a cooling pipe 44 for the internal cooling water passes, it comprises a pump 45 for supplying cold water to the cooling pipe 44, a temperature sensor T 2 When it is detected that the temperature is higher than the predetermined temperature, the pump 45 is operated by the temperature control device 33, and the cooling water having the predetermined temperature or a temperature slightly lower than the predetermined temperature is supplied to the cooling pipe 44.
To be sent to Further, when the temperature sensor T 2 is detected as equal to or lower than the predetermined temperature, the cooling pipes 4 in opposite
Water supply to 4 is stopped.

【0026】なお、本例においては、冷却管44内に冷
却媒体として水(冷却水)を用いたが、この冷却媒体
は、水に限定されることはなく、例えば、油や空気など
のように熱の授受が可能なものであればよい。
In this embodiment, water (cooling water) is used as a cooling medium in the cooling pipe 44. However, the cooling medium is not limited to water, and may be, for example, oil or air. What is necessary is just to be able to give and receive heat.

【0027】また、上記構成とした基板加熱装置42
は、図4(b)に示すように、原料ガスを化学反応せし
めて長尺基板30表面上に生成物を堆積させる際の反応
温度に加熱される反応領域42aと、この反応領域42
aの、基板移動方向前方側に設けられ、上記長尺基板3
0が反応領域42aに到達するまでに上記反応温度とな
るように漸次加熱する温度勾配を有する予熱領域42b
と、上記反応領域42aの、基板移動方向後方側に設け
られ、反応温度に加熱された上記長尺基板を徐冷する温
度勾配を有する徐冷領域42cとを備えている。
Further, the substrate heating device 42 having the above configuration
As shown in FIG. 4 (b), a reaction region 42a heated to a reaction temperature when a source gas is chemically reacted and a product is deposited on the surface of the long substrate 30;
a, the long substrate 3
A preheating region 42b having a temperature gradient for gradually heating so as to reach the above reaction temperature until 0 reaches the reaction region 42a.
And a slow cooling region 42c provided on the rear side of the reaction region 42a in the substrate moving direction and having a temperature gradient for gradually cooling the long substrate heated to the reaction temperature.

【0028】以上述べたように、本実施例のCVD反応
装置にあっては、熱伝導プレート31と、この熱伝導プ
レート31の、中央部の加熱するヒータ32と、上記熱
伝導プレート31の両端を冷却する冷却器43,43
と、このヒータ32の加熱温度を測定する温度センサT
1と、冷却器43,43の冷却温度を測定する温度セン
サT2と、これら温度センサT1,T2の情報に基づき、
上記ヒータ32および冷却器43,43を制御する温度
制御装置33とを備えた構成としたので、熱伝導プレー
ト31の両端部を上記冷却器43,43により、室温に
十分近い温度にまで冷却することができので、冷却器を
備えていない先の実施例1に比べ、長尺基板30を反応
領域42aに導入する際、あるいは反応領域42aから
搬出する際に、長尺基板30に起こる温度変化をさらに
緩やかにすることができる。従って、先の実施例1で述
べた効果がさらに増幅される。
As described above, in the CVD reactor of this embodiment, the heat conducting plate 31, the heater 32 for heating the central portion of the heat conducting plate 31, and both ends of the heat conducting plate 31 Coolers 43, 43 for cooling
And a temperature sensor T for measuring the heating temperature of the heater 32.
1, a temperature sensor T 2 to measure the cooling temperature of the cooler 43, 43, on the basis of these temperature sensors T 1, T 2 of the information,
Since the configuration includes the heater 32 and the temperature controller 33 for controlling the coolers 43, 43, both ends of the heat conductive plate 31 are cooled to a temperature sufficiently close to room temperature by the coolers 43, 43. Therefore, when the long substrate 30 is introduced into or unloaded from the reaction region 42a, the temperature change occurring in the long substrate 30 is different from that of the first embodiment having no cooler. Can be further moderated. Therefore, the effect described in the first embodiment is further amplified.

【0029】(実験例1)上述した本発明に係る第1実
施例のCVD反応装置21を用いてSC体を作製した。
まず、長さ1m、幅5mm、厚さ0.1mmの長尺のハ
ステロイC−276を基板移送装置26によって1m/
hの送入速度で反応チャンバ22内に送入し、さらに原
料ガス供給装置23から反応チャンバ42内に、Y(D
PM)3、Ba(DPM)2、Cu(DPM)2より成る
SC体原料ガスを導入した。同時に、排気ポンプ24に
より反応チャンバ22の下方側の2つのガス排出口2
8,28から所定の速度で反応チャンバ22内のガスを
排気し、さらに上記長尺ハステロイ基板を基板加熱装置
25で850℃に加熱してCVD法を行った。なお、本
実施例で用いた基板加熱装置25の仕様並びに加熱様式
を以下に示す。
(Experimental Example 1) An SC body was manufactured by using the above-described CVD reactor 21 of the first embodiment according to the present invention.
First, a long Hastelloy C-276 having a length of 1 m, a width of 5 mm, and a thickness of 0.1 mm is transferred to the substrate transfer device 26 at a rate of 1 m / sec.
h into the reaction chamber 22 at a feed rate of h.
An SC raw material gas composed of PM) 3 , Ba (DPM) 2 , and Cu (DPM) 2 was introduced. At the same time, the two gas outlets 2 on the lower side of the
The gas in the reaction chamber 22 was exhausted at a predetermined speed from 8, 28, and the long Hastelloy substrate was heated to 850 ° C. by the substrate heating device 25 to perform the CVD method. The specifications and heating mode of the substrate heating device 25 used in this embodiment are shown below.

【0030】基板加熱装置25 熱伝導プレート31材料:インコネル 熱伝導プレート31サイズ:長さ50cm、幅2c
m、厚さ0.5cm 反応領域全長(L)=10cm 予熱領域全長(M)=20cm 徐冷領域全長(N)=20cm ヒータ32加熱温度=850℃
Substrate heating device 25 Heat conductive plate 31 Material: Inconel Heat conductive plate 31 Size: length 50 cm, width 2c
m, thickness 0.5 cm Total length of reaction zone (L) = 10 cm Total length of preheating zone (M) = 20 cm Total length of slow cooling zone (N) = 20 cm Heating temperature of heater 32 = 850 ° C.

【0031】上記操作により、長尺ハステロイ基板上
に、Y−Ba−Cu−O系SC層が形成された長尺SC
体を作製した。また、得られた長尺SC体のSC層は、
約5ないし8μmの膜厚で、かつその組成は均一であっ
た。また、その長尺SC体の臨界温度は、77.3K以
上であった。
By the above operation, a long SC having a Y—Ba—Cu—O based SC layer formed on a long Hastelloy substrate
The body was made. In addition, the SC layer of the obtained long SC body,
The thickness was about 5 to 8 μm, and the composition was uniform. The critical temperature of the long SC body was 77.3K or more.

【0032】(実験例2)上述した本発明に係る第2実
施例のCVD反応装置41を用いてSC体を作製した。
まず、長さ1m、幅5mm、厚さ0.1mmの長尺のハ
ステロイC−276を基板移送装置26によって1m/
hの送入速度で反応チャンバ22内に送入し、さらに原
料ガス供給装置23から反応チャンバ22内に、Y(D
PM)3、Ba(DPM)2、Cu(DPM)2より成る
SC体原料ガスを導入した。同時に、排気ポンプ24に
より反応チャンバ22の下方側の2つのガス排出口2
8,28から所定の速度で反応チャンバ22内のガスを
排気し、さらに上記長尺ハステロイ基板を基板加熱装置
42で850℃に加熱してCVD法を行った。なお、本
実施例で用いた基板加熱装置42の仕様並びに加熱様式
を以下に示す。
(Experimental Example 2) An SC body was manufactured using the above-described CVD reactor 41 of the second embodiment according to the present invention.
First, a long Hastelloy C-276 having a length of 1 m, a width of 5 mm, and a thickness of 0.1 mm is transferred to the substrate transfer device 26 at a rate of 1 m / sec.
h into the reaction chamber 22 at a feed rate of h, and further into the reaction chamber 22 from the raw material gas supply device 23, Y (D
An SC raw material gas composed of PM) 3 , Ba (DPM) 2 , and Cu (DPM) 2 was introduced. At the same time, the two gas outlets 2 on the lower side of the
The gas in the reaction chamber 22 was exhausted at a predetermined speed from 8, 28, and the long Hastelloy substrate was heated to 850 ° C. by the substrate heating device 42 to perform the CVD method. The specifications and heating style of the substrate heating device 42 used in this embodiment are shown below.

【0033】基板加熱装置42 熱伝導プレート31材料:熱伝導プレート31サイ
ズ:反応領域全長(L):予熱領域全長(M):
徐冷領域全長(N):ヒータ32加熱温度:以上全て
実験例1に同じ。冷却器43の冷却温度:30℃。
Substrate heating device 42 Heat conductive plate 31 Material: Heat conductive plate 31 Size: Total length of reaction zone (L): Total length of preheating zone (M):
Total cooling zone length (N): Heating temperature of heater 32: All of the above are the same as in Experimental Example 1. Cooling temperature of cooler 43: 30 ° C.

【0034】上記操作により、長尺ハステロイ基板上
に、Y−Ba−Cu−O系SC層が形成された長尺SC
体を作製した。また、得られた長尺SC体のSC層は、
約10μmの膜厚で、かつその組成は均一であった。ま
た、その長尺SC体の臨界温度は、85K以上であり、
臨界電流密度は、5000A/cm2(at77K,0
T)であった。
By the above operation, a long SC having a Y-Ba-Cu-O-based SC layer formed on a long Hastelloy substrate
The body was made. In addition, the SC layer of the obtained long SC body,
The thickness was about 10 μm, and the composition was uniform. Also, the critical temperature of the long SC body is 85K or more,
The critical current density is 5000 A / cm 2 (at 77K, 0
T).

【0035】[0035]

【発明の効果】以上述べたように、本発明のCVD反応
装置によれば、基体を加熱手段の、原料ガスを化学反応
せしめて上記基体表面に生成物を堆積させる反応温度に
加熱する反応領域に導入する際、あるいは反応領域から
搬出する際に、該基体に起こる温度変化を緩やかにする
ことができ、これにより、この温度変化に起因して基体
あるいはこの基体に蒸着された薄膜に発生する膨張ある
いは収縮等のストレスが軽減される。従って、上記スト
レスにより引き起こされる、基体の成膜面への起伏の発
生や、基体上に蒸着した薄膜へのクラックの発生を抑制
することができるため、例えば、本発明のCVD反応装
置を用いてSC体を作製すると、臨界電流密度、臨界温
度の高い良質のSC体が得られる。
As described above, according to the CVD reactor of the present invention, the reaction area for heating the substrate to the reaction temperature for chemically reacting the raw material gas and depositing the product on the surface of the substrate by the heating means. The temperature change occurring in the substrate when introduced into the substrate or when the substrate is unloaded from the reaction area can be moderated, whereby the temperature change occurs in the substrate or a thin film deposited on the substrate. Stress such as expansion or contraction is reduced. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of undulations on the film-forming surface of the substrate and the occurrence of cracks in the thin film deposited on the substrate, which are caused by the stress. For example, using the CVD reactor of the present invention, When an SC body is manufactured, a high-quality SC body having a high critical current density and a high critical temperature can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明のCVD反応装置の第1実施例を示す
概略図である。
FIG. 1 is a schematic view showing a first embodiment of a CVD reactor according to the present invention.

【図2】 (a)図1中符号25で示される基板加熱装
置の詳細な構成を説明するための図である。(b)基板
加熱装置25の予熱領域、反応領域、徐冷領域各々の温
度変化の概略を示す図である。
FIG. 2A is a diagram illustrating a detailed configuration of a substrate heating device indicated by reference numeral 25 in FIG. 1; FIG. 4B is a diagram schematically illustrating a temperature change in each of a preheating region, a reaction region, and a slow cooling region of the substrate heating device 25.

【図3】 本発明のCVD反応装置の第2実施例を示す
図である。
FIG. 3 is a view showing a second embodiment of the CVD reactor of the present invention.

【図4】 (a)図3中符号42で示される基板加熱装
置の詳細な構成を説明するための図である。(b)基板
加熱装置42の予熱領域、反応領域、徐冷領域各々の温
度変化の概略を示す図である。
FIG. 4A is a view for explaining a detailed configuration of a substrate heating device indicated by reference numeral 42 in FIG. 3; FIG. 4B is a diagram schematically illustrating a temperature change in each of a preheating region, a reaction region, and a slow cooling region of the substrate heating device 42.

【図5】 図4中符号43で示される冷却器の詳細な構
成を説明するための図である。
FIG. 5 is a diagram illustrating a detailed configuration of a cooler indicated by reference numeral 43 in FIG.

【図6】 従来のCVD反応装置を示す図である。FIG. 6 is a view showing a conventional CVD reactor.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

21,41…CVD反応装置、22…反応チャンバ、2
3…原料ガス供給装置、24…排気ポンプ、25…基板
加熱装置、26…基板移動装置、30…長尺基板、25
a,42a…反応領域、25b,42b…予熱領域、2
5c,42c…徐冷領域、31…熱伝導プレート、32
…ヒータ、33…温度制御装置、43…冷却器
21, 41: CVD reactor, 22: reaction chamber, 2
3: Source gas supply device, 24: Exhaust pump, 25: Substrate heating device, 26: Substrate moving device, 30: Long substrate, 25
a, 42a: reaction zone, 25b, 42b: preheating zone, 2
5c, 42c: slow cooling region, 31: heat conduction plate, 32
... heater, 33 ... temperature controller, 43 ... cooler

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI // H01B 12/06 ZAA H01B 12/06 ZAA H01L 21/31 H01L 21/31 B (72)発明者 香川 昭 東京都江東区木場一丁目5番1号 藤倉 電線株式会社内 (72)発明者 河野 宰 東京都江東区木場一丁目5番1号 藤倉 電線株式会社内 (72)発明者 佐治 明 愛知県名古屋市緑区大高町字北関山20番 地の1 中部電力株式会社 電力技術研 究所内 (72)発明者 黒田 昇 愛知県名古屋市緑区大高町字北関山20番 地の1 中部電力株式会社 電力技術研 究所内 (72)発明者 吉田 弘 愛知県名古屋市緑区大高町字北関山20番 地の1 中部電力株式会社 電力技術研 究所内 (56)参考文献 特開 昭63−26312(JP,A) 特開 昭62−227075(JP,A) 特開 昭49−4977(JP,A) 特開 昭63−84017(JP,A) 特開 昭56−77375(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) C23C 16/00 - 16/56 C30B 25/16 H01B 12/06 ZAA H01B 13/00 565 H01L 21/31 H01L 39/24 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI // H01B 12/06 ZAA H01B 12/06 ZAA H01L 21/31 H01L 21/31 B (72) Inventor Akira Kagawa Koto-ku, Tokyo 1-5-1 Kiba Inside Fujikura Electric Wire Co., Ltd. (72) Inventor Satoshi Kono 1-5-1 Kiba Koto-ku, Tokyo Inside Fujikura Electric Wire Co., Ltd. (72) Inventor Akira Aji Odaka Midori-ku, Nagoya-shi, Aichi Prefecture Chubu Electric Power Co., Inc. (72) Inventor Noboru Kuroda, Chubu Electric Power Co., Inc. 20 Chuichi Electric Power Co., Inc. Chubu Electric Power Co., Inc. In-house (72) Inventor Hiroshi Yoshida 20-1 Kita-Sekiyama, Odaka-cho, Midori-ku, Nagoya-shi, Aichi Electric Power Engineering Laboratory, Chubu Electric Power Co., Inc. (56) References JP-A-63-26312 (JP, A) JP-A-62-227075 (JP, A) JP-A-49-4977 (JP, A) JP-A-63-84017 (JP, A) JP-A-56-77375 (JP, A) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) C23C 16/00-16/56 C30B 25/16 H01B 12/06 ZAA H01B 13/00 565 H01L 21/31 H01L 39/24

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 原料化合物ガス等の原料ガスを化学反応
せしめて基体表面に生成物を堆積させるCVD反応を行
う横長型の反応チャンバと、該反応チャンバ内に原料ガ
スを供給する原料ガス供給手段と、該反応チャンバ内の
ガスを排気するガス排気手段と、長尺の基体を該反応チ
ャンバの長手方向に沿って一方側に移動させる基体移動
手段と、該反応チャンバ内に配設された横長型の加熱手
段とを備えたCVD反応装置であって、前記加熱手段
は、上記原料ガスを化学反応せしめて上記基体表面に生
成物を堆積させる反応温度に加熱する反応領域と、該反
応領域の、基体移動方向前方側に設けられ、上記基体が
該反応領域に達するまでに該反応温度となるように漸次
加熱する予熱領域と、該反応領域の、基体移動方向後方
側に設けられ、反応温度に加熱された該基体を徐冷する
徐冷領域とを備えたことを特徴とするCVD反応装置。
1. A horizontally elongated reaction chamber for performing a CVD reaction for chemically reacting a source gas such as a source compound gas and depositing a product on a substrate surface, and a source gas supply means for supplying the source gas into the reaction chamber Gas exhaust means for exhausting gas in the reaction chamber, substrate moving means for moving the long substrate to one side along the longitudinal direction of the reaction chamber, and a horizontally long part disposed in the reaction chamber A CVD reaction apparatus comprising: a reaction region for heating to a reaction temperature for chemically reacting the raw material gas to deposit a product on the substrate surface; and A preheating region provided on the front side in the substrate moving direction and gradually heating so as to reach the reaction temperature before the substrate reaches the reaction region; and a reaction temperature provided on the rear side of the reaction region in the substrate moving direction. And a slow cooling region for gradually cooling the substrate that has been heated each time.
【請求項2】 上記加熱手段が、横長の熱伝導プレート
と、その中央部を加熱するヒータとを備えてなり、かつ
該熱伝導プレートの中央部領域を上記反応領域とし、該
中央部領域の基体移動方向前方側の領域を上記予熱領域
とし、該中央部領域の基体移動方向後方側の領域を上記
徐冷領域としたことを特徴とする請求項1記載のCVD
反応装置。
2. The heating means comprises a horizontally long heat conductive plate and a heater for heating a central portion thereof, wherein a central region of the heat conductive plate is the reaction region, and 2. The CVD according to claim 1, wherein a region on the front side in the substrate moving direction is the preheating region, and a region on the rear side in the substrate moving direction in the central region is the slow cooling region.
Reactor.
【請求項3】 上記横長の熱伝導プレートの両端部に、
冷却手段を設けたことを特徴とする請求項2記載のCV
D反応装置。
3. At both ends of the horizontally long heat conducting plate,
3. The CV according to claim 2, further comprising cooling means.
D reactor.
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