JP3108024B2 - Method of manufacturing build-up wiring board - Google Patents

Method of manufacturing build-up wiring board

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JP3108024B2
JP3108024B2 JP22152596A JP22152596A JP3108024B2 JP 3108024 B2 JP3108024 B2 JP 3108024B2 JP 22152596 A JP22152596 A JP 22152596A JP 22152596 A JP22152596 A JP 22152596A JP 3108024 B2 JP3108024 B2 JP 3108024B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は回路パターンを複数
層に重ねてなるビルドアップ配線基板の製造方法に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a build-up wiring board in which circuit patterns are stacked in a plurality of layers.

【0002】[0002]

【従来の技術】ビルドアップ法はバイアホールを介して
接続された多層構造プリント配線板を製造することがで
き、配線を著しく高密度化することができるという利点
がある。その具体的な製造手順は次のようである。
2. Description of the Related Art The build-up method has an advantage that a printed wiring board having a multilayer structure connected through via holes can be manufactured, and wiring density can be significantly increased. The specific manufacturing procedure is as follows.

【0003】まず、例えば両面銅張り積層板をエッチン
グ法により加工して所定の回路パターン2を有するコア
基板1を製造する(図11(A)参照)。次に、そのコ
ア基板1の回路パターン2を覆うように感光性の絶縁樹
脂層3を塗布し(同図(B))、その絶縁樹脂層3にフ
ォトプロセスによって所定位置にバイアホール4を形成
する(同図(C))。この後、化学メッキ及び電解メッ
キを行って全面にメッキ層5を形成し(同図(D))、
これをエッチングして第2層の回路パターンを形成する
のである。そして、上述した絶縁樹脂層3及びメッキ層
5の形成とエッチングとを繰り返すことにより、バイア
ホール4内のメッキ層5によって内部接続された多層配
線基板を製造することができる。
First, a core substrate 1 having a predetermined circuit pattern 2 is manufactured by, for example, processing a double-sided copper-clad laminate by an etching method (see FIG. 11A). Next, a photosensitive insulating resin layer 3 is applied so as to cover the circuit pattern 2 of the core substrate 1 (FIG. 2B), and via holes 4 are formed in the insulating resin layer 3 at predetermined positions by a photo process. (FIG. 2C). Thereafter, chemical plating and electrolytic plating are performed to form a plating layer 5 on the entire surface (FIG. (D)).
This is etched to form a second layer circuit pattern. By repeating the formation and etching of the insulating resin layer 3 and the plating layer 5 described above, a multilayer wiring board internally connected by the plating layer 5 in the via hole 4 can be manufactured.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところが、従来の製造
方法では、コア基板1としては銅張り積層板をエッチン
グして回路パターン2を形成した配線基板を使用してい
るため、その表面には多くの凹凸が生じている。このた
め、ここに印刷する絶縁樹脂層3の膜厚があまりに薄い
とその絶縁樹脂層3の表面も凹凸状となってしまい、後
工程に不都合が生ずるため、絶縁樹脂層3は相当の厚さ
で塗布しておかねばならない。例えば回路パターンの厚
さ寸法が35μmの場合には、従来、絶縁樹脂層3は約
100μm前後の厚さに塗布する必要があり、回路パタ
ーン3上の絶縁樹脂層3でも60〜80μmもの厚さに
なっていた。
However, in the conventional manufacturing method, a wiring board having a circuit pattern 2 formed by etching a copper-clad laminate is used as the core board 1, so that the surface of the core board 1 is often large. Unevenness occurs. For this reason, if the thickness of the insulating resin layer 3 to be printed here is too small, the surface of the insulating resin layer 3 becomes uneven, which causes inconvenience in the subsequent steps, so that the insulating resin layer 3 has a considerable thickness. Must be applied. For example, when the thickness of the circuit pattern is 35 μm, conventionally, it is necessary to apply the insulating resin layer 3 to a thickness of about 100 μm, and even the insulating resin layer 3 on the circuit pattern 3 has a thickness of 60 to 80 μm. Had become.

【0005】しかし、このように絶縁樹脂層3の膜厚が
厚いと、今度は次のような問題を生ずることが究明され
た。絶縁樹脂層3の塗布後には図12(A)に示すよう
に、ポジフィルム6をセットして紫外線露光を行い、こ
れを現像することで紫外線未露光部分を溶解除去してバ
イアホール4を形成する。この際、絶縁樹脂層3の厚さ
が厚い場合には、同図破線で示すように、ポジフィルム
6の黒色部6aの陰は絶縁樹脂層3の深部に行くほど広
がる状態となり、現像後のバイアホール4の形状は同図
(B)に示すように逆すり鉢状になってしまう。
However, it has been found that the following problems occur when the thickness of the insulating resin layer 3 is large. After the application of the insulating resin layer 3, as shown in FIG. 12 (A), the positive film 6 is set and exposed to ultraviolet light, and the exposed portion is developed to dissolve and remove the unexposed portion of the ultraviolet light to form the via hole 4. I do. At this time, when the thickness of the insulating resin layer 3 is large, the shade of the black portion 6a of the positive film 6 becomes deeper toward the deeper part of the insulating resin layer 3, as shown by the broken line in FIG. The shape of the via hole 4 becomes an inverted mortar shape as shown in FIG.

【0006】このような形状となると、バイアホール4
内の不純物を完全に水洗できなくなったり、メッキ液の
回りが悪くなり易いから、次のその上に形成するメッキ
層5が不完全なものになり易いという問題を生ずる。ま
た、バイアホール4の入り口部分では断面が鋭角状のエ
ッジが発生し易いから、その上に形成されたメッキ層5
が熱応力によって同図(C)に示すように破断すること
があるという問題があった。
In such a shape, the via hole 4
Since the impurities in the inside cannot be completely washed with water or the periphery of the plating solution easily deteriorates, there arises a problem that the next plating layer 5 formed thereon tends to be incomplete. In addition, since an edge having a sharp cross section is likely to occur at the entrance of the via hole 4, the plating layer 5
However, there is a problem that the material may be broken as shown in FIG.

【0007】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的は、バイアホールの形状を適切化できて信
頼性が高いビルドアップ配線基板を製造できるその製造
方法を提供するところにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a method of manufacturing a highly reliable build-up wiring board which can optimize a shape of a via hole. .

【0008】[0008]

【0009】[0009]

【0010】[0010]

【0011】[0011]

【0012】[0012]

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段及び作用・効果】<請求項
1の発明> 請求項1に係るビルドアップ基板の製造方法は、基材表
面に導電層を形成してなる配線基板の導電層の不要部分
を除去することにより下層回路パターンを形成する下層
回路パターン形成工程と、その後に配線基板表面に光硬
化型の樹脂材料を付着させて下層回路パターンを埋め込
む導体埋め込み工程と、前記光硬化型樹脂材料を塗布し
た配線基板を液中に浸漬した状態で前記光硬化型樹脂に
光を照射して硬化させる樹脂硬化工程と、前記樹脂材料
の硬化後にこれを研磨して下層回路パターンを露出させ
ることで表面が平坦なコア基板を形成する研磨工程と、
このコア基板の下層回路パターンを覆う絶縁樹脂層を形
成する樹脂積層工程と、その絶縁樹脂層に下層回路パタ
ーンまで貫通するバイアホールを形成するバイアホール
形成工程と、この後、絶縁樹脂層の表面にメッキ処理す
ることにより前記バイアホールを通して下層回路パター
ンと連なる上層回路パターンを形成する上層回路パター
ン形成工程とを実行するとともに、下層回路パターンを
埋め込む樹脂材料として光硬化型樹脂を利用し、この樹
脂材料を塗布した配線基板を液中に浸漬した状態で樹脂
材料に光を照射するところに特徴を有する。
Means for Solving the Problems and Functions / Effects <Invention of Claim 1> A method for manufacturing a build-up board according to claim 1 is a method for manufacturing a conductive layer of a wiring board having a conductive layer formed on a surface of a base material. A lower-layer circuit pattern forming step of forming an lower-layer circuit pattern by removing unnecessary portions, and a conductor embedding step of embedding a lower-layer circuit pattern by adhering a photocurable resin material to the surface of the wiring board thereafter; A resin curing step of irradiating the photocurable resin with light in a state where the wiring board coated with the resin material is immersed in the liquid, and curing the resin material, and polishing the resin material after the curing to expose the lower circuit pattern. A polishing step of forming a core substrate having a flat surface by doing
A resin laminating step of forming an insulating resin layer covering the lower circuit pattern of the core substrate, a via hole forming step of forming a via hole penetrating to the lower circuit pattern in the insulating resin layer, and thereafter, a surface of the insulating resin layer An upper layer circuit pattern forming step of forming an upper layer circuit pattern connected to the lower layer circuit pattern through the via hole by performing a plating process, and using a photocurable resin as a resin material for embedding the lower layer circuit pattern, It is characterized in that the resin material is irradiated with light in a state where the wiring substrate coated with the material is immersed in the liquid.

【0014】上記製造方法では、コア基板の製造に際
し、まず下層回路パターンは導電層の不要部分を除去す
ることで形成するから、一般的なエッチング法を採用で
き、高い生産性が得られる。また、形成された下層回路
パターンは、導体埋め込み工程においていったん樹脂材
料により埋め込まれ、その樹脂の硬化後、研磨工程にお
いて回路パターンが露出するまで研磨されるから、回路
パターン間は硬化した樹脂によって埋められ、回路パタ
ーンと硬化樹脂とが同一高さになった表面が平坦なコア
基板が得られる。このように表面が平坦なコア基板は、
従来、高価なアディティブ法によってしか製造できない
と考えられていたが、本発明によればエッチング等を利
用したサブトラクティブ法により製造できるから、大幅
な製造コスト低減が可能である。上記コア基板に対して
は、その下層回路パターンを覆う絶縁樹脂層を形成する
樹脂積層工程が行われるが、コア基板の表面は平坦であ
るから、その上に塗布する絶縁樹脂層の厚さを薄くして
も、その表面を平坦にすることができる。従って、絶縁
樹脂層にフォトプロセスでバイアホールを形成する場合
に、バイアホールの形状が逆すり鉢状になってしまうこ
とがなく、メッキ不良やメッキ層の破断を防止すること
ができるという効果が得られる。さらに、光硬化型樹脂
は液中に浸漬された状態で光が照射されるから、光硬化
型樹脂に接する液のヒートシンク作用によって樹脂温度
の変動が抑えられて過剰な温度上昇がなくなる。この結
果、温度上昇によって樹脂材料の硬化反応が促進されて
必要以上の架橋密度となるような事態が防止され、樹脂
材料を適切な硬度に抑えてその研磨を容易に行うことが
できるようになる。
In the above manufacturing method, when manufacturing the core substrate, the lower circuit pattern is first formed by removing an unnecessary portion of the conductive layer, so that a general etching method can be employed and high productivity can be obtained. Further, the formed lower layer circuit pattern is embedded once with a resin material in a conductor embedding step, and after the resin is cured, is polished until the circuit pattern is exposed in a polishing step, so that the space between the circuit patterns is filled with the cured resin. As a result, a core substrate having a flat surface with the circuit pattern and the cured resin at the same height is obtained. A core substrate with a flat surface like this
Conventionally, it has been thought that it can only be manufactured by an expensive additive method. However, according to the present invention, it can be manufactured by a subtractive method using etching or the like, so that it is possible to greatly reduce the manufacturing cost. The above-mentioned core substrate is subjected to a resin laminating step of forming an insulating resin layer covering the lower circuit pattern. However, since the surface of the core substrate is flat, the thickness of the insulating resin layer applied thereon is reduced. Even if it is thin, its surface can be made flat. Therefore, when a via hole is formed in the insulating resin layer by a photo process, the via hole does not become inverted and mortar-shaped, and an effect of preventing plating defects and breakage of the plated layer can be obtained. Can be Further, since the photocurable resin is irradiated with light while being immersed in the liquid, the fluctuation of the resin temperature is suppressed by the heat sink function of the liquid in contact with the photocurable resin, and an excessive temperature rise is eliminated. As a result, a situation in which the curing reaction of the resin material is accelerated by the temperature rise and the crosslink density becomes higher than necessary is prevented, and the resin material can be easily polished while keeping the resin material at an appropriate hardness. .

【0015】また、露光槽内の液中に浸漬することで樹
脂に液体から圧力を与えたり、樹脂を適切な温度に設定
したりすることができるから、例えばスクリーン印刷に
よって微細な気泡が樹脂層中に含まれたとしても、これ
らを樹脂層中から排除することができる。この結果、硬
化樹脂中にボイドが発生することを防止できるから、電
気的特性の向上を図ることができる。
[0015] Also, by immersing in the liquid in the exposure tank,
Apply pressure to fat from liquid or set resin to appropriate temperature
Or screen printing, for example.
Therefore, even if fine bubbles are contained in the resin layer,
These can be excluded from the resin layer. As a result,
Since voids can be prevented from forming in the
It is possible to improve the mechanical characteristics.

【0016】<請求項2の発明> 請求項2の発明は、請求項1の発明において、下層回路
パターンを埋め込む光硬化型の樹脂材料には、ガラス製
の中空微粉末が混合されているところに特徴を有する。
<Invention of Claim 2> According to the invention of claim 2, in the invention of claim 1, the photocurable resin material for embedding the lower layer circuit pattern is mixed with hollow fine powder made of glass. It has features.

【0017】本発明によれば、上記請求項1の作用効果
に加え、研磨工程において硬化した樹脂を研磨すると
き、ガラス製の中空球が容易に破壊されるから樹脂材料
を研磨し易くなり、下層回路パターンを傷付けることな
く樹脂を研磨することができるようになる。しかも、中
空球はガラス製であるから耐熱性に優れ、また、中空で
あるから電気的特性・高周波特性にも優れた構造であ
る。
According to the present invention, in addition to the function and effect of the first aspect, when polishing the cured resin in the polishing step, the glass hollow spheres are easily broken, so that the resin material is easily polished, The resin can be polished without damaging the lower circuit pattern. Moreover, since the hollow sphere is made of glass, it has excellent heat resistance, and since it is hollow, it has a structure excellent in electric characteristics and high frequency characteristics.

【0018】[0018]

【0019】[0019]

【0020】[0020]

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態につい
て図1ないし図10を参照して説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS.

【0022】本実施形態では、配線基板10として、基
材としての例えばガラスエポキシ基板11の両面に導電
層としての銅箔12を貼り付けてなる銅張り積層板を使
用している(図1(A)参照)。この配線基板10に対
して以下の工程が順次実行される。
In this embodiment, a copper-clad laminate is used as the wiring board 10 in which a copper foil 12 as a conductive layer is adhered to both surfaces of, for example, a glass epoxy board 11 as a base material (FIG. 1 ( A)). The following steps are sequentially performed on the wiring board 10.

【0023】<下層回路パターン形成工程>まず、配線
基板10の所要箇所に図示しない周知のドリル等を用い
てスルーホール13を孔明け加工する(図1(B)参
照)。
<Lower Circuit Pattern Forming Step> First, a through hole 13 is formed in a required portion of the wiring board 10 using a well-known drill (not shown) (see FIG. 1B).

【0024】次いで、配線基板10を化学メッキ液中に
浸漬してスルーホール13の内周面も含めた全域に銅の
化学メッキ層14を形成する(図2(A)参照)。この
化学メッキ層14は銅箔12に連なるから、これを下地
電極としてその上に銅の電解メッキ層15を形成する
(同図(B)参照)。これにより、スルーホール13の
内周面には孔内導体層16が形成される。
Next, the wiring board 10 is immersed in a chemical plating solution to form a copper chemical plating layer 14 over the entire area including the inner peripheral surface of the through hole 13 (see FIG. 2A). Since the chemical plating layer 14 is continuous with the copper foil 12, a copper electrolytic plating layer 15 is formed thereon using this as a base electrode (see FIG. 1B). Thus, the in-hole conductor layer 16 is formed on the inner peripheral surface of the through hole 13.

【0025】この後、導電層の不要部分を除去すること
により下層回路パターンを形成する。これには、周知の
フォトエッチング法が採用できる。具体的には、例えば
配線基板10上にまず感光性のエッチングレジスト17
を印刷し、乾燥後に回路パターンフィルムを重ねて露光
する。これを現像すると、回路パターンとして残すべき
部分に硬化したエッチングレジスト17が重ねられた配
線基板10が得られる(図3(A)参照)。そこで、こ
の配線基板10をエッチング液中に浸漬して電解メッキ
層15、化学メッキ層14及び銅箔12を溶解させて除
去する(同図(B)参照)。そして、同図(C)に示す
ように、エッチングレジスト17を除去すれば、所要の
下層回路パターン18として完成する。
Thereafter, an unnecessary portion of the conductive layer is removed to form a lower circuit pattern. For this, a well-known photo etching method can be adopted. Specifically, for example, first, a photosensitive etching resist 17 is formed on the wiring substrate 10.
Is printed, and after drying, the circuit pattern film is overlaid and exposed. When this is developed, the wiring substrate 10 is obtained in which the cured etching resist 17 is superimposed on a portion to be left as a circuit pattern (see FIG. 3A). Then, the wiring board 10 is immersed in an etching solution to dissolve and remove the electrolytic plating layer 15, the chemical plating layer 14, and the copper foil 12 (see FIG. 1B). Then, as shown in FIG. 3C, if the etching resist 17 is removed, a required lower circuit pattern 18 is completed.

【0026】<導体埋め込み工程>次に、配線基板10
の表面に樹脂材料を付着させて上記下層回路パターン1
8を埋め込む導体埋め込み工程を実行する。ここで樹脂
材料としては、無溶剤エポキシ系の紫外線硬化型のレジ
ストインクを使用し、これにガラス製の中空微粉末であ
る直径1〜50μmのガラスバルーンを10〜50重量
%の配合比で混合してある。これは通常のスクリーン印
刷法にて塗布することができる。
<Conductor Embedding Step> Next, the wiring board 10
A resin material is adhered to the surface of the lower circuit pattern 1
A conductor embedding step of embedding 8 is performed. Here, as a resin material, a solvent-free epoxy-based UV-curable resist ink is used, and a glass balloon having a diameter of 1 to 50 μm, which is a hollow fine powder made of glass, is mixed at a mixing ratio of 10 to 50% by weight. I have. This can be applied by a normal screen printing method.

【0027】まず、配線基板10の片面側からガラスバ
ルーン19a入りのレジストインク19を印刷し、図4
(A)に示すように下層回路パターン18をレジストイ
ンク19によって埋め込んだ状態とする。この場合、配
線基板10のスルーホール13内にもレジストインク1
9が侵入してスルーホール13が埋められる。そして、
これを後述する露光装置にて露光して硬化させた上で、
裏面側にもガラスバルーン19a入りのレジストインク
19を印刷して同図(B)に示すように表裏両面の下層
回路パターン18をレジストインク19で埋め込んで、
再度、露光して硬化させるのである。
First, a resist ink 19 containing a glass balloon 19a is printed from one side of the wiring board 10, and FIG.
The lower circuit pattern 18 is buried with the resist ink 19 as shown in FIG. In this case, the resist ink 1 is also provided in the through hole 13 of the wiring board 10.
9 penetrates and the through hole 13 is filled. And
After exposing and curing this with an exposure device described below,
A resist ink 19 containing a glass balloon 19a is also printed on the back side, and the lower circuit patterns 18 on both front and back sides are embedded with the resist ink 19 as shown in FIG.
It is exposed and cured again.

【0028】なお、上記露光装置は図5及び図6に示す
構造である。すなわち、図中、20は上面を開放した露
光槽であり、内部に水が貯留されている。この露光槽2
0の対向する一対の側壁21にはそれぞれ露光窓22が
形成され、ここに透明板23が嵌め込まれている。その
透明板23の外側には紫外線ランプからなる露光光源2
4が配置され、両露光窓22を通して露光槽20内に紫
外線を照射できるようになっている。
The exposure apparatus has the structure shown in FIGS. 5 and 6. That is, in the figure, reference numeral 20 denotes an exposure tank whose upper surface is open, in which water is stored. This exposure tank 2
Exposure windows 22 are respectively formed in a pair of side walls 21 facing each other, and a transparent plate 23 is fitted therein. An exposure light source 2 composed of an ultraviolet lamp is provided outside the transparent plate 23.
4 are arranged so that ultraviolet rays can be irradiated into the exposure tank 20 through both the exposure windows 22.

【0029】なお、図6に示すように露光槽20は露光
窓22の形成部分で薄型に構成され、例えば対向する2
枚の透明板23間の間隔が20cm程度となるようにさ
れている。また、この露光槽20の上方には図示しない
搬送装置が設けられ、これより上記配線基板10を露光
槽20の右側で水中に浸漬し、ここから露光窓22の間
を通って左方に搬送し、露光槽20の左側で水中から引
き上げることができるようになっている。
As shown in FIG. 6, the exposure tank 20 is formed thin at the portion where the exposure window 22 is formed.
The distance between the transparent plates 23 is set to about 20 cm. A transfer device (not shown) is provided above the exposure tank 20. The wiring board 10 is immersed in water on the right side of the exposure tank 20, and is transferred to the left through the space between the exposure windows 22. Then, it can be pulled out of the water on the left side of the exposure tank 20.

【0030】また、露光槽20には循環ポンプ25およ
び熱交換器26を有する循環管路27が連通され、循環
ポンプ25を運転することにより露光槽20内の水を熱
交換器26を通して循環させることができる。そして、
熱交換器26では、図示しない冷却装置によって冷却さ
れた冷媒と、露光槽20内の水とが熱交換するようにな
っており、これにて露光槽20内の水温を例えば10℃
〜20℃の一定温度範囲内に維持するようになってい
る。
Further, a circulation pipe 27 having a circulation pump 25 and a heat exchanger 26 is connected to the exposure tank 20, and the water in the exposure tank 20 is circulated through the heat exchanger 26 by operating the circulation pump 25. be able to. And
In the heat exchanger 26, the refrigerant cooled by a cooling device (not shown) and the water in the exposure tank 20 exchange heat, so that the water temperature in the exposure tank 20 is set to, for example, 10 ° C.
The temperature is maintained within a constant temperature range of 2020 ° C.

【0031】レジストインク19が付着された配線基板
10は搬送装置によって露光槽20の上方に搬送され、
まず露光槽20の右側において水中に浸漬される。レジ
ストインク19は水に対して溶解性はないから、水中に
浸漬されても特に化学的な変化はないが、インク19の
温度は水温とほぼ等しくなる。また、配線基板10が水
中に浸漬されると、インク19に対しては水圧が均等に
作用するため、レジストインク19のスクリーン印刷時
に不可避的に混入してしまった微小な気泡は押し出され
る傾向となる。
The wiring board 10 to which the resist ink 19 has been adhered is transported above the exposure tank 20 by a transport device.
First, it is immersed in water on the right side of the exposure tank 20. Since the resist ink 19 is not soluble in water, there is no particular chemical change even when immersed in water, but the temperature of the ink 19 is almost equal to the water temperature. Further, when the wiring board 10 is immersed in water, the water pressure acts evenly on the ink 19, so that fine bubbles inevitably mixed during the screen printing of the resist ink 19 tend to be pushed out. Become.

【0032】そして、配線基板10は露光槽20内の水
中を搬送されて露光槽20の露光窓22の間を移動し、
その際に露光光源24からの紫外線がレジストインク1
9に照射されてその硬化反応が開始される。この紫外線
の照射時間は、レジストインク19の硬化に必要な紫外
線の光量が確保される時間となるが、一般的には1分な
いし1分30秒程度の短時間である。しかし、その照射
中において、露光光源24からの大きな輻射エネルギー
によってレジストインク19の温度は上昇傾向を呈する
が、本実施例ではレジストインク19は低温度の水中に
浸漬されており、しかも水と広い面積で接触しているか
ら、水のヒートシンク作用によってそのレジストインク
19の温度上昇は確実に抑制され、設定された水温であ
る10℃〜20℃の一定範囲内に留まる。
Then, the wiring substrate 10 is transported in the water in the exposure tank 20 and moves between the exposure windows 22 of the exposure tank 20,
At this time, the ultraviolet rays from the exposure light source 24
9 is irradiated to start its curing reaction. The irradiation time of the ultraviolet light is a time for securing the amount of ultraviolet light necessary for curing the resist ink 19, and is generally a short time of about 1 minute to 1 minute and 30 seconds. However, during the irradiation, the temperature of the resist ink 19 tends to increase due to the large radiant energy from the exposure light source 24. In this embodiment, however, the resist ink 19 is immersed in low-temperature water, and furthermore, has a wide area with water. Since the contact is made by the area, the temperature rise of the resist ink 19 is surely suppressed by the heat sink function of water, and the temperature of the resist ink 19 is kept within a fixed range of 10 ° C. to 20 ° C. which is the set water temperature.

【0033】従って、温度の急上昇のためにレジストイ
ンク19の内部に気泡を生成させてしまうことがなくな
り、硬化した樹脂層内部にボイドが残留することを確実
に防止できる。このようにボイドの残留を防止できるこ
とは、硬化したレジスト19の耐熱性、耐湿性或いは絶
縁性等の種々の特性を十分に高めることができることを
意味し、高品質のレジスト19が得られることになる。
Therefore, bubbles are not generated inside the resist ink 19 due to a rapid rise in temperature, and voids can be reliably prevented from remaining inside the cured resin layer. The ability to prevent voids from remaining as described above means that various properties of the cured resist 19, such as heat resistance, moisture resistance, and insulation properties, can be sufficiently improved, and a high-quality resist 19 can be obtained. Become.

【0034】また、インク19の硬化反応は一定温度下
で行われるから、その架橋密度は計画値に納めることが
できる。従って、必要以上の架橋密度となってレジスト
19が過剰な硬度となることがなくなる。さらに、特に
本実施形態の露光装置では、露光光源24は露光槽20
の外部にあって水から隔離されているから、露光光源2
4の絶縁構造が簡単であり、メンテナンスも簡単にな
る。また、露光光源24からの熱が露光槽20内に侵入
することが少なくなり、水温のコントロールが容易にな
り、ひいてはレジスト19の硬化時の温度制御の精度を
高めることができる。なお、露光が終了した配線基板1
0は搬送装置により露光槽20から引き上げられ、図示
しない乾燥装置に送られて乾燥される。
Further, since the curing reaction of the ink 19 is performed at a constant temperature, the crosslinking density thereof can be kept within the planned value. Therefore, the resist 19 does not have an excessive hardness due to an excessively high crosslinking density. Further, especially in the exposure apparatus of the present embodiment, the exposure light source 24 is
Light source 2
The insulation structure of No. 4 is simple, and maintenance is also easy. Further, the heat from the exposure light source 24 is less likely to enter the exposure tank 20, so that the water temperature can be easily controlled, and the accuracy of the temperature control when the resist 19 is cured can be improved. The exposed wiring board 1
Numerals 0 are lifted out of the exposure tank 20 by a transport device and sent to a drying device (not shown) for drying.

【0035】<研磨工程>最後に、レジスト19の硬化
後に研磨工程が実行される。研磨装置としては例えばベ
ルトサンダーやバフ研磨機が利用され、下層回路パター
ン18を覆って硬化したレジスト19が下層回路パター
ン18が表面に露出されるまで平滑に研磨される。研磨
後は、図7に示すように、下層回路パターン18の上面
が露出しているが、下層回路パターン18間はレジスト
19によって埋められた形態となる。この研磨工程にお
いて、硬化したレジスト19中には多量のガラスバルー
ン19aが含まれていてレジスト19の研磨時に次々と
破壊されるから、硬化したレジスト19が硬いとして
も、その研削性は良好である。この後、水洗乾燥等の所
要の後処理工程を経て表面が平坦なコア基板30が完成
する。
<Polishing Step> Finally, after the resist 19 is cured, a polishing step is performed. As a polishing apparatus, for example, a belt sander or a buffing polisher is used, and the resist 19 covering and curing the lower layer circuit pattern 18 is polished smoothly until the lower layer circuit pattern 18 is exposed on the surface. After the polishing, as shown in FIG. 7, the upper surface of the lower circuit pattern 18 is exposed, but the space between the lower circuit patterns 18 is filled with a resist 19. In this polishing step, a large amount of glass balloons 19a are contained in the cured resist 19 and are destroyed one after another when the resist 19 is polished. Therefore, even if the cured resist 19 is hard, its grindability is good. . Thereafter, the core substrate 30 having a flat surface is completed through required post-processing steps such as washing and drying.

【0036】<樹脂積層工程>コア基板30の両面に下
層回路パターン18及びレジストインク19を覆って光
感応絶縁樹脂を塗布して絶縁樹脂層31が形成される。
このとき下層回路パターン18とレジストインク19と
は高さが揃えられてコア基板30の表面は平坦になって
いるから、例えば15〜20μmの僅かな膜厚で塗布す
るだけで絶縁樹脂層31の表面も十分に平坦になる(図
8参照)。なお、この実施形態で使用する光感応絶縁樹
脂としては、カセイソーダ現像形のものを採用して耐熱
性、高周波特性等の樹脂特性を高めてある。
<Resin Laminating Step> A photosensitive insulating resin is applied on both surfaces of the core substrate 30 so as to cover the lower circuit pattern 18 and the resist ink 19, thereby forming an insulating resin layer 31.
At this time, since the lower circuit pattern 18 and the resist ink 19 have the same height and the surface of the core substrate 30 is flat, the coating of the insulating resin layer 31 is only required to be applied with a slight thickness of, for example, 15 to 20 μm. The surface is also sufficiently flat (see FIG. 8). As the photosensitive insulating resin used in this embodiment, a caustic soda developing type is adopted to enhance the resin characteristics such as heat resistance and high frequency characteristics.

【0037】<バイアホール形成工程>絶縁樹脂層31
が指触乾燥した後で、まず、その露光を行う。これには
例えば図9(A)に示すように、コア基板30の両面に
バイアホールの形成部分が黒色像となるよう現像したポ
ジフィルム32を重ね、そのポジフィルム32を通して
絶縁樹脂層31に紫外線を照射することにより行われ、
従来と同様の工程である。露光後は紫外線が照射された
光感応絶縁樹脂は硬化して不溶性となるから、カセイソ
ーダ溶液にて現像すれば未露光部分が溶解して除去さ
れ、同図(B)に示すように絶縁樹脂層31のうちポジ
フィルム32の黒色部分に対応する位置にバイアホール
33が形成される。この結果、コア基板30の下層回路
パターン18はバイアホール33を通して露出する状態
となる。
<Via Hole Forming Step> Insulating Resin Layer 31
After the is dried to the touch, the exposure is performed first. For example, as shown in FIG. 9A, a positive film 32 developed so that a portion where a via hole is formed becomes a black image is superimposed on both surfaces of the core substrate 30, and ultraviolet light is applied to the insulating resin layer 31 through the positive film 32. Is performed by irradiating
This is a process similar to the conventional process. After the exposure, the photosensitive insulating resin irradiated with the ultraviolet light is cured and becomes insoluble. Therefore, if the photosensitive insulating resin is developed with a caustic soda solution, the unexposed portions are dissolved and removed, and as shown in FIG. A via hole 33 is formed at a position corresponding to the black portion of the positive film 32 among the holes 31. As a result, the lower circuit pattern 18 of the core substrate 30 is exposed through the via hole 33.

【0038】また、この発明では絶縁樹脂層31の膜厚
は前述したように、従来に比べて半分以下にすることが
できるから、図11に示した膜厚が厚くなってしまう従
来の製造方法に比べてバイアホール33が逆すり鉢状に
なってしまうことがなく、表面近くほど開口径が広がる
すり鉢状になる。
Further, in the present invention, as described above, the thickness of the insulating resin layer 31 can be reduced to half or less as compared with the prior art, so that the conventional manufacturing method shown in FIG. In comparison with the above, the via hole 33 is not formed into an inverted mortar shape, but is formed into a mortar shape having a larger opening diameter near the surface.

【0039】<上層回路パターン形成工程>所要位置に
バイアホール33を形成したコア基板30は水洗・乾燥
工程及び触媒付与工程を経た後に、全体を化学メッキ液
中に浸漬して絶縁樹脂層31の表面全域に銅の化学メッ
キ層34が形成される(図10(A)参照)。さらに、
この化学メッキ層34を下地電極としてその上に銅の電
解メッキ層35を形成する(同図(B)参照)。
<Upper Circuit Pattern Forming Step> The core substrate 30 having the via holes 33 formed at required positions is subjected to a water washing / drying step and a catalyst applying step, and then immersed entirely in a chemical plating solution to form the insulating resin layer 31. A copper chemical plating layer 34 is formed on the entire surface (see FIG. 10A). further,
Using the chemical plating layer 34 as a base electrode, a copper electrolytic plating layer 35 is formed thereon (see FIG. 3B).

【0040】この後、再び電解メッキ層35及び化学メ
ッキ層34の不要部分を除去することにより上層回路パ
ターン36を形成する(同図(C)参照)。なお、この
上層回路パターン36の形成には、下層回路パターン1
8の場合と同様に周知のフォトエッチング法が採用でき
るから、重複する説明は省略する。
Thereafter, unnecessary portions of the electrolytic plating layer 35 and the chemical plating layer 34 are removed again to form an upper circuit pattern 36 (see FIG. 3C). The upper circuit pattern 36 is formed by forming the lower circuit pattern 1
As in the case of No. 8, a well-known photo-etching method can be employed, and therefore, duplicate description will be omitted.

【0041】このように上層回路パターン36を形成す
れば、絶縁樹脂層31を挟んで下層回路パターン18及
び上層回路パターン36の2層回路が形成されたことに
なる。この後は、必要に応じて前述した樹脂積層工程、
バイアホール形成工程及び上層回路パターン形成工程を
繰り返せば、順次多層化することができる。
By forming the upper circuit pattern 36 in this manner, a two-layer circuit of the lower circuit pattern 18 and the upper circuit pattern 36 is formed with the insulating resin layer 31 interposed therebetween. Thereafter, if necessary, the above-described resin laminating step,
By repeating the via hole forming step and the upper layer circuit pattern forming step, it is possible to sequentially increase the number of layers.

【0042】<保護レジスト塗布工程>この後、必要に
応じて回路基板の最表層に部品実装部分を残して保護レ
ジストを塗布する。この実施形態では、最表層に印刷す
る保護レジストとして、中間層の絶縁樹脂層31と同様
にカセイソーダ現像形の光感応絶縁樹脂を採用すること
で、耐熱性、高周波特性等の樹脂特性を高めてある。
<Protective Resist Application Step> Thereafter, a protective resist is applied, if necessary, while leaving a component mounting portion on the outermost layer of the circuit board. In this embodiment, as the protective resist to be printed on the outermost layer, a light-sensitive insulating resin of a caustic soda development type is employed as in the case of the insulating resin layer 31 of the intermediate layer, so that the resin properties such as heat resistance and high frequency characteristics are improved. is there.

【0043】<本実施形態の利点>このように本実施形
態の製造方法によれば、次のような効果が得られる。 (1)コア基板30は、下層回路パターン18間をレジ
スト19によって埋めた後にこれを研磨して下層回路パ
ターン18を露出させて製造しているから、コア基板3
0は平坦な表面形状を呈する。このため、その上の絶縁
樹脂層31は僅かな膜厚で塗布するだけで十分に平坦に
なる。従って、その後に形成されるバイアホール33が
逆すり鉢状になってしまうことがなく、表面近くほど開
口径が広がる理想的な形状となる。このため、その後の
水洗工程では洗浄水が十分にバイアホール33内に侵入
するから、異物の残留を防止でき、また、化学メッキ工
程でもメッキ液が十分にバイアホール33内に侵入する
から、内部に均一な化学メッキ層34を形成することが
できる。
<Advantages of the present embodiment> As described above, according to the manufacturing method of the present embodiment, the following effects can be obtained. (1) The core substrate 30 is manufactured by filling the space between the lower circuit patterns 18 with the resist 19 and then polishing it to expose the lower circuit patterns 18.
0 indicates a flat surface shape. For this reason, the insulating resin layer 31 on it can be sufficiently flattened by applying only a small film thickness. Therefore, the via hole 33 formed thereafter does not have an inverted mortar shape, and an ideal shape in which the opening diameter becomes wider near the surface is obtained. For this reason, in the subsequent water washing step, the washing water sufficiently enters the via hole 33, so that foreign matters can be prevented from remaining. In the chemical plating step, the plating solution sufficiently enters the via hole 33, so that the inside of the via hole 33 can be prevented. Thus, a uniform chemical plating layer 34 can be formed.

【0044】しかも、バイアホール33の開口縁部は断
面が鈍角状になるから、材料の熱膨張差によって化学メ
ッキ層34や電解メッキ層35に応力が発生しても、開
口縁部にて破断することがなく、信頼性が高くなる。 (2)従来、平坦表面のコア基板を製造するには、銅箔
をエッチングするサブトラクティブ法では不可能で、絶
縁基板の表面にメッキレジストを所要のパターンで形成
し、そのメッキレジストにより覆われていない部分に化
学銅を析出させるアディティブ法によらねばならないと
考えられており、アディティブ法基板はその生産性の低
さから相当に高価になるという欠点があった。
Moreover, since the cross section of the opening edge of the via hole 33 is obtuse, even if stress occurs in the chemical plating layer 34 or the electrolytic plating layer 35 due to the difference in thermal expansion of the material, the opening edge is broken at the opening edge. And reliability is increased. (2) Conventionally, it is impossible to manufacture a core substrate having a flat surface by a subtractive method of etching a copper foil. A plating resist is formed on a surface of an insulating substrate in a required pattern and is covered with the plating resist. It is believed that the additive method must be used to deposit chemical copper on the non-existing portions, and the additive method substrate has a disadvantage that it is considerably expensive due to its low productivity.

【0045】この点、本実施形態では、生産性が高いサ
ブトラクティブ法によって下層回路パターン18を形成
し(下層パターン形成工程)、その後にその下層回路パ
ターン18を樹脂材料によって埋め込み(導体埋め込み
工程)、さらに、これを研磨して下層回路パターン18
を露出させることでコア基板30を製造するようにした
から、サブトラクティブ法基板と同様な平坦表面のコア
基板30を極めて安価に製造することができる。 (3)しかも、特に本実施形態では、上述のようにコア
基板30を製造するに当たり、下層回路パターン18を
埋め込むレジスト19には予めガラスバルーン19aを
混合してあるから、次のような利点が得られる。第1
に、硬化したレジスト19の研削性が高まって容易に研
磨することができるようになるから、柔らかい銅の電解
メッキ層15を削ってしまうことなく、レジスト19だ
けを研磨して下層回路パターン18を露出させることが
できる。
In this regard, in this embodiment, the lower circuit pattern 18 is formed by a subtractive method having high productivity (lower pattern forming step), and the lower circuit pattern 18 is buried with a resin material (conductor burying step). This is further polished to form the lower circuit pattern 18.
By exposing the core substrate 30, the core substrate 30 having a flat surface similar to that of the subtractive method substrate can be manufactured at extremely low cost. (3) Moreover, in the present embodiment, in particular, in manufacturing the core substrate 30 as described above, the resist 19 for embedding the lower circuit pattern 18 is preliminarily mixed with the glass balloon 19a. can get. First
In addition, since the hardened resist 19 has an improved grindability and can be easily polished, only the resist 19 is polished to remove the lower circuit pattern 18 without shaving the soft copper electrolytic plating layer 15. Can be exposed.

【0046】第2に、レジスト19に無機質の微粒子を
混合しておくと、露光時に光源24からの紫外線がスル
ーホール13内等のレジスト19深部に進入しなくなる
おそれがあるが、本実施形態では微粒子をガラスバルー
ン19aとしているから、紫外線がガラスバルーン19
aを通過し易く、深部の硬化不良の発生を未然に防止す
ることができる。 (4)さらに、特に本実施形態では露光を水中で行うよ
うにしているから、この点からは次のような利点が得ら
れる。すなわち、一般にスルーホール内を樹脂材料で埋
めて硬化させる場合には、スルーホールの中心部の樹脂
まで十分に硬化させるべく露光量を多くする必要がある
ため、温度上昇によるボイドの発生や、表面部の過剰硬
化による研削性の悪化が懸念されるところである。しか
し、上述のように水中露光とすれば、未硬化のレジスト
インク19に含まれてしまった印刷時の気泡は水圧によ
って押し出される傾向を呈し、しかも水のヒートシンク
作用によってレジストインク19の温度上昇は抑制され
るから、露光量を多くしても温度上昇に起因するボイド
の発生がなく、また表面の過剰硬化も抑えられて研削性
が良好になる。 (5)本実施形態によれば、最表層の保護レジストとし
て下層回路パターン18と上層回路パターン36との間
に位置する絶縁樹脂層31と同じカセイソーダ現像形の
光感応絶縁樹脂を使用している。これは、耐熱性に優
れ、誘電率が低い等の優れた樹脂特性を有するから、ビ
ルドアップ配線基板全体の耐熱性及び高周波特性を一層
向上させることができる。
Second, if inorganic fine particles are mixed in the resist 19, ultraviolet rays from the light source 24 may not enter the deep portion of the resist 19 such as in the through hole 13 during exposure. Since the fine particles are glass balloons 19a, the ultraviolet rays
a, and it is possible to prevent the occurrence of poor curing in the deep part. (4) Further, in this embodiment, in particular, since the exposure is performed in water, the following advantages can be obtained from this point. That is, in general, when the through hole is filled with a resin material and cured, it is necessary to increase the exposure amount in order to sufficiently cure the resin at the center of the through hole. There is a concern that the grinding property may be deteriorated due to excessive hardening of the part. However, if the underwater exposure is performed as described above, the air bubbles at the time of printing that have been included in the uncured resist ink 19 tend to be pushed out by the water pressure, and the temperature rise of the resist ink 19 due to the heat sink action of water does not occur. As a result, even if the exposure amount is increased, there is no generation of voids due to a rise in temperature, and excessive hardening of the surface is suppressed, so that the grindability is improved. (5) According to the present embodiment, the same caustic soda-developed photosensitive insulating resin as the insulating resin layer 31 located between the lower circuit pattern 18 and the upper circuit pattern 36 is used as the outermost protective resist. . Since it has excellent resin properties such as excellent heat resistance and low dielectric constant, it is possible to further improve the heat resistance and high frequency characteristics of the entire build-up wiring board.

【0047】<他の実施形態>本発明は上記記述及び図
面によって説明した実施の形態に限定されるものではな
く、例えば次のような実施の形態も本発明の技術的範囲
に含まれ、さらに、下記以外にも要旨を逸脱しない範囲
内で種々変更して実施することができる。
<Other Embodiments> The present invention is not limited to the embodiments described above with reference to the drawings. For example, the following embodiments are also included in the technical scope of the present invention. In addition to the following, various changes can be made without departing from the scope of the invention.

【0048】(1)上記実施形態では、サブトラクティ
ブ法による下層回路パターン形成工程、導体埋め込み工
程及び研磨工程を経て平坦なコア基板30を製造するよ
うにしたが、これに限らず、アディティブ法によって平
坦なコア基板を製造してもよい。
(1) In the above embodiment, the flat core substrate 30 is manufactured through the lower circuit pattern forming step, the conductor embedding step, and the polishing step by the subtractive method. However, the present invention is not limited to this. A flat core substrate may be manufactured.

【0049】(2)また、上記実施形態では、導体埋め
込み工程に使用する樹脂材料に予めガラスバルーンを混
入させた例を示したが、樹脂材料の切削性が良好な場合
には省略することもできる。
(2) In the above embodiment, an example was described in which a glass balloon was previously mixed into the resin material used in the conductor embedding step. However, when the resin material has good machinability, it may be omitted. it can.

【0050】(3)上記実施形態では導体埋め込み工程
において樹脂材料を液中で露光するようにしたが、通常
の気中露光を行ってもよい。また、液中露光を行う場合
でも、水に限らず、露光される光硬化型樹脂を溶解しな
い性質であれば所望な液体が採用できる。例えば、極低
温度での光照射が好ましい場合には、液体窒素を利用し
てもよく、また、光硬化型樹脂の種類によっては、メタ
ノール、エタノール、イソプロピルアルコール等のアル
コール系液体でもよい。その他、ヘプタン、ミネラルス
ピリット、流動パラフィン、キシレン等の炭化水素系液
体、メチレンクロライド、トリクロロエタン、パークロ
ロエチレン、臭化メチル、臭化プロピル、フロン11
3、HCFC225、キシレンヘキサクロライド等のハ
ロゲン系液体、エチレングリコール、エチレングリコー
ルジメチルエーテル等の多価アルコール誘導体、テレピ
ン油、灯油、シリコンオイル等のオイル類等であっても
よい。勿論、これらの混合物やこれらに防腐剤等の各種
の添加剤を加えた液体であってもよい。
(3) In the above embodiment, the resin material is exposed in the liquid in the conductor embedding step. However, ordinary aerial exposure may be performed. Also, in the case of performing the in-liquid exposure, not only water but also a desired liquid can be employed as long as it does not dissolve the photocurable resin to be exposed. For example, when light irradiation at an extremely low temperature is preferable, liquid nitrogen may be used, or an alcohol-based liquid such as methanol, ethanol, or isopropyl alcohol may be used depending on the type of the photocurable resin. In addition, hydrocarbon liquids such as heptane, mineral spirit, liquid paraffin, xylene, methylene chloride, trichloroethane, perchloroethylene, methyl bromide, propyl bromide, and chlorofluorocarbon 11
3, halogen-based liquids such as HCFC225 and xylene hexachloride, polyhydric alcohol derivatives such as ethylene glycol and ethylene glycol dimethyl ether, and oils such as turpentine, kerosene and silicone oil. Of course, it may be a mixture of these or a liquid to which various additives such as preservatives are added.

【0051】(4)導体埋め込み工程に使用する樹脂材
料としては、本実施形態に示した光硬化型樹脂に限ら
ず、熱硬化型樹脂であってもよく、また、これらを併用
して相互侵入網目構造(IPN)を構成するようにした
ものであってもよい。
(4) The resin material used in the conductor embedding step is not limited to the photocurable resin described in the present embodiment, but may be a thermosetting resin. A network structure (IPN) may be configured.

【0052】(5)また、上記実施形態では導体埋め込
み工程においてエポキシ系無溶剤型の永久レジストイン
クを露光する場合を例示したが、フェノール系の紫外線
硬化型インクであっても同様に適用できる。
(5) In the above embodiment, the case where the epoxy-based solventless permanent resist ink is exposed in the conductor embedding step is exemplified. However, a phenol-based ultraviolet curable ink can be similarly applied.

【0053】(6)さらに、上記実施形態では、露光槽
20内の水を10℃〜20℃に冷却する場合について例
示したが、これに限らず、光硬化反応の必要に応じて水
温を高くすることもでき、その温度は所望に設定するこ
とができる。さらにまた、特に比重が高い液体を選択し
て、液中の光硬化型樹脂への加圧力を高め、これにより
気泡排除性能をいっそう高めることも可能である。
(6) Further, in the above embodiment, the case where the water in the exposure tank 20 is cooled to 10 ° C. to 20 ° C. has been exemplified. However, the invention is not limited to this. The temperature can be set as desired. Furthermore, it is also possible to select a liquid having a particularly high specific gravity to increase the pressure applied to the photocurable resin in the liquid, thereby further improving the bubble elimination performance.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態に係る下層回路パターン形
成工程における孔明け手順を示す断面図
FIG. 1 is a sectional view showing a drilling procedure in a lower circuit pattern forming step according to an embodiment of the present invention.

【図2】同じく下層回路パターン形成工程におけるメッ
キ手順を示す断面図
FIG. 2 is a sectional view showing a plating procedure in a lower-layer circuit pattern forming step.

【図3】同じく下層回路パターン形成工程におけるエッ
チング手順を示す断面図
FIG. 3 is a cross-sectional view showing an etching procedure in a lower circuit pattern forming step.

【図4】同じく導体埋め込み工程を示す断面図FIG. 4 is a sectional view showing a conductor embedding step.

【図5】同じく露光装置を示す断面図FIG. 5 is a sectional view showing the exposure apparatus.

【図6】同じく図5のVI−VI線に沿う断面図6 is a sectional view taken along the line VI-VI in FIG.

【図7】同じく研磨工程の終了状態を示す断面図FIG. 7 is a cross-sectional view showing a finished state of the polishing step.

【図8】同じく樹脂積層工程を示す断面図FIG. 8 is a cross-sectional view showing the same resin lamination process.

【図9】同じくバイアホール形成工程を示す断面図FIG. 9 is a cross-sectional view showing the same via hole forming step.

【図10】同じく上層回路パターン形成工程を示す断面
FIG. 10 is a cross-sectional view showing the same upper-layer circuit pattern forming step.

【図11】従来のビルドアップ配線基板の製造方法を示
す断面図
FIG. 11 is a cross-sectional view illustrating a method of manufacturing a conventional build-up wiring board.

【図12】従来の製造方法におけるバイアホール形状を
示す断面図
FIG. 12 is a sectional view showing a via hole shape in a conventional manufacturing method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…配線基板 11…基材 12…銅箔(導体層) 13…スルーホール 14,34…化学メッキ層 15,35…電解メッキ層 16…孔内導体層 17…エッチングレジスト 18…回路パターン 19…レジストインク 19a…ガラスバルーン 30…コア基板 31…絶縁樹脂層 33…バイアホール 36…上層回路パターン DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Wiring board 11 ... Base material 12 ... Copper foil (conductor layer) 13 ... Through-hole 14, 34 ... Chemical plating layer 15, 35 ... Electrolytic plating layer 16 ... Conductor layer in a hole 17 ... Etching resist 18 ... Circuit pattern 19 ... Resist ink 19a Glass balloon 30 Core substrate 31 Insulating resin layer 33 Via hole 36 Upper circuit pattern

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−137499(JP,A) 特開 平4−186796(JP,A) 特開 平5−218659(JP,A) 特開 平1−140698(JP,A) 特開 平3−268392(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H05K 3/46 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of front page (56) References JP-A-63-137499 (JP, A) JP-A-4-186796 (JP, A) JP-A-5-218659 (JP, A) JP-A-1- 140698 (JP, A) JP-A-3-268392 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) H05K 3/46

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 基材表面に導電層を形成してなる配線基
板の導電層の不要部分を除去することにより下層回路パ
ターンを形成する下層回路パターン形成工程と、その後
に前記配線基板表面に光硬化型の樹脂材料を付着させて
前記下層回路パターンを埋め込む導体埋め込み工程と、
前記光硬化型樹脂材料を塗布した配線基板を液中に浸漬
した状態で前記光硬化型樹脂に光を照射して硬化させる
樹脂硬化工程と、前記樹脂材料の硬化後にこれを研磨し
て前記下層回路パターンを露出させることで表面が平坦
なコア基板を形成する研磨工程と、このコア基板に前記
下層回路パターンを覆う絶縁樹脂層を形成する樹脂積層
工程と、その絶縁樹脂層に下層回路パターンまで貫通す
るバイアホールを形成するバイアホール形成工程と、こ
の後、前記絶縁樹脂層の表面にメッキ処理することによ
り前記バイアホールを通して前記下層回路パターンと連
なる上層回路パターンを形成する上層回路パターン形成
工程とを実行することを特徴とするビルドアップ配線基
板の製造方法。
1. A lower circuit pattern forming step of forming a lower circuit pattern by removing an unnecessary portion of a conductive layer of a wiring board having a conductive layer formed on the surface of a base material, and thereafter, forming an optical circuit on the surface of the wiring board. A conductor embedding step of embedding the lower circuit pattern by attaching a curable resin material,
A resin curing step of irradiating the photocurable resin with light in a state where the wiring substrate coated with the photocurable resin material is immersed in the liquid, and curing the resin material; A polishing step of forming a core substrate having a flat surface by exposing a circuit pattern, a resin laminating step of forming an insulating resin layer covering the lower circuit pattern on the core substrate, and a lower circuit pattern on the insulating resin layer. A via hole forming step of forming a penetrating via hole, and thereafter, an upper layer circuit pattern forming step of forming an upper layer circuit pattern connected to the lower layer circuit pattern through the via hole by plating the surface of the insulating resin layer. A method of manufacturing a build-up wiring board.
【請求項2】 上記下層回路パターンを埋め込む光硬化
型の樹脂材料には、ガラス製の中空微粉末が混合されて
いることを特徴とする請求項1に記載のビルドアップ配
線基板の製造方法。
2. The method for manufacturing a build-up wiring board according to claim 1, wherein the photocurable resin material for embedding the lower circuit pattern is mixed with hollow fine powder made of glass.
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