JP3102820B2 - A / D converter - Google Patents

A / D converter

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JP3102820B2
JP3102820B2 JP04157524A JP15752492A JP3102820B2 JP 3102820 B2 JP3102820 B2 JP 3102820B2 JP 04157524 A JP04157524 A JP 04157524A JP 15752492 A JP15752492 A JP 15752492A JP 3102820 B2 JP3102820 B2 JP 3102820B2
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文男 徳嵩
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明はA/D変換装置に係
り、特にアナログの画像信号などをディジタル変換する
高速のA/D変換装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an A / D converter, and more particularly to a high-speed A / D converter for converting an analog image signal into a digital signal.

【0002】[0002]

【従来例】アナログの画像信号などを高速でディジタル
変換する際には、一般にフラッシュコンバータと称され
る並列比較形のA/Dコンバータが利用され、この種の
素子を用いたA/D変換装置の一例が図3に示されてい
る。上記並列比較形A/Dコンバータは参照符号5で示
すように、例えばラダー抵抗6とコンパレータ7及びエ
ンコーダ8を備えている。このラダー抵抗6は上記コン
パレータ7の比較用しきい値電圧を形成するためのもの
であり、例えばその一方の端子10には装置の電源電圧
+Vccが加えられ、他方の端子11は抵抗Rsを介し
て接地側に接続されている。
2. Description of the Related Art A parallel comparison type A / D converter, which is generally called a flash converter, is used to convert an analog image signal or the like at a high speed into a digital form. Is shown in FIG. As shown by reference numeral 5, the parallel comparison type A / D converter includes, for example, a ladder resistor 6, a comparator 7, and an encoder 8. The ladder resistor 6 is for forming a comparison threshold voltage of the comparator 7. For example, one terminal 10 is supplied with the power supply voltage + Vcc of the device, and the other terminal 11 is connected via a resistor Rs. Connected to the ground side.

【0003】ここで、このA/Dコンバータ5が例えば
8ビット用の素子であるとすると、ラダー抵抗6は図示
のようにR1−R256なる2の8乗個すなわち256
個の抵抗群で構成され、電源電圧Vccから端子10、
ラダー抵抗6、端子11、抵抗Rsを通って接地側へ電
流が流れる。この電流により抵抗Rsに発生する電圧を
基準電圧Vrefとすると、ラダー抵抗6は電源電圧V
ccと基準電圧Vrefの差の電圧を例えば256個の
抵抗R1ないしR256で分圧し255通りのしきい値
電圧V1,…,V255を形成するようになっている。
Assuming that the A / D converter 5 is, for example, an element for 8 bits, the ladder resistor 6 has 2 @ 8 powers of R1-R256, that is, 256 bits, as shown in FIG.
And a group of resistors.
A current flows to the ground through the ladder resistor 6, the terminal 11, and the resistor Rs. Assuming that a voltage generated in the resistor Rs by this current is a reference voltage Vref, the ladder resistor 6 is connected to the power supply voltage Vref.
The voltage difference between cc and the reference voltage Vref is divided by, for example, 256 resistors R1 to R256 to form 255 threshold voltages V1,..., V255.

【0004】この場合、ラダー抵抗6の低電位側の端子
11に接続された抵抗をR1、電源電圧Vcc側の端子
10に接続された抵抗をR256とすると、各抵抗素子
の値は例えば R1=R2=・・・=R256=R [Ω] にされているが、両端の抵抗R1とR256については R1=R256=R/2 [Ω] にすることもある。しかしいずれにしても各しきい値電
圧はV1からV255側へ順次1LSBに相当する電圧
差、すなわち(Vcc−Vref)/255で増加する
ようになっている。なお電源電圧Vccを一定とする
と、1LSBに相当する電圧の大きさは抵抗Rsに発生
する基準電圧Vrefの大きさによって定まるので、一
般には抵抗Rsの値が調整可能なようになっている。
In this case, assuming that the resistance connected to the terminal 11 on the low potential side of the ladder resistor 6 is R1 and the resistance connected to the terminal 10 on the power supply voltage Vcc side is R256, the value of each resistance element is, for example, R1 = R2 =... = R256 = R [Ω], but the resistors R1 and R256 at both ends may be R1 = R256 = R / 2 [Ω]. However, in any case, each threshold voltage is sequentially increased from V1 to V255 by a voltage difference corresponding to 1 LSB, that is, (Vcc-Vref) / 255. If the power supply voltage Vcc is constant, the magnitude of the voltage corresponding to 1 LSB is determined by the magnitude of the reference voltage Vref generated in the resistor Rs, so that the value of the resistor Rs is generally adjustable.

【0005】コンパレータ7は例えば255個のコンパ
レータ群A1ないしA255で構成され、各コンパレー
タの一方の入力端子には上記ラダー抵抗6からそれぞれ
しきい値電圧が加えられる。また、各コンパレータの他
方の入力端子にはA/Dコンバータ5の端子9を介して
アナログ入力信号Vinが共通的に加えられる。ここ
で、例えばしきい値電圧V1が加わるコンパレータA1
を最下位のコンパレータ、しきい値電圧V255が加わ
るコンパレータA255を最上位のコンパレータとする
と、各コンパレータは一斉に入力信号をそれぞれのしき
い値電圧と比較し、1(オン)または0(オフ)の比較
出力を発する。
The comparator 7 comprises, for example, 255 comparator groups A1 to A255, and a threshold voltage is applied to one input terminal of each comparator from the ladder resistor 6. An analog input signal Vin is commonly applied to the other input terminal of each comparator via the terminal 9 of the A / D converter 5. Here, for example, a comparator A1 to which a threshold voltage V1 is added
Is the lowest comparator, and the comparator A 255 to which the threshold voltage V255 is added is the highest comparator. Each comparator simultaneously compares the input signal with the respective threshold voltage, and 1 (ON) or 0 (OFF) The comparison output of is issued.

【0006】エンコーダ8は例えば図示しないゲート素
子の組合わせてなり、上記255個のコンパレータA1
−A255から発せられる0または1の比較出力を並列
的に受けて8ビットのバイナリ信号データに変換し、出
力端子12から送出する。
The encoder 8 is composed of, for example, a combination of gate elements (not shown).
-The comparison output of 0 or 1 issued from A255 is received in parallel, converted into 8-bit binary signal data, and transmitted from the output terminal 12.

【0007】さて上記図3において、被変換交流アナロ
グ信号Vinが装置の入力端子1に加わると、同信号は
増幅器2,3,4を経てA/Dコンバータ5の信号入力
端子9に加えられる。ここで、増幅器2は例えば図示し
ないレンジ切換器を備えた反転増幅器であって、入力信
号Vinの大きさがA/Dコンバータ5の許容入力電圧
範囲(Vref−Vcc)となるようにレンジ切り換え
を行う。同増幅器2の反転出力電圧に対しては、そのゼ
ロラインが上記許容入力電圧範囲のほぼ中央付近になる
ことが好ましいので例えばレベルシフト用の直流バイア
ス電圧−Vbが加えられる。増幅器3,4は例えば利得
1の反転増幅器と利得1の非反転増幅器である。
In FIG. 3, when the converted AC analog signal Vin is applied to the input terminal 1 of the device, the signal is applied to the signal input terminal 9 of the A / D converter 5 via the amplifiers 2, 3, and 4. Here, the amplifier 2 is, for example, an inverting amplifier having a range switch (not shown), and switches the range so that the magnitude of the input signal Vin falls within the allowable input voltage range (Vref-Vcc) of the A / D converter 5. Do. It is preferable that the zero line of the inverted output voltage of the amplifier 2 is near the center of the allowable input voltage range, so that, for example, a DC bias voltage -Vb for level shift is applied. The amplifiers 3 and 4 are, for example, an inverting amplifier with a gain of 1 and a non-inverting amplifier with a gain of 1.

【0008】次に、図4を併せて参照しながら動作の概
要を説明する。装置の入力端子1に例えば図4のイに示
すような比較的低レベルの被変換交流電圧信号Vinが
加わると、増幅器2は適正レンジに切り換えて反転増幅
する。その出力にはゼロラインシフト用のバイアス電圧
−Vbが加えられ、同出力は図4のロに示すようにな
る。増幅器3はこの電圧信号を同図ハに示すように利得
1で反転増幅し、増幅器4は増幅器3の出力を同図ニに
示すように利得1で非反転増幅する。
Next, an outline of the operation will be described with reference to FIG. When a relatively low-level converted AC voltage signal Vin, for example, as shown in FIG. 4A, is applied to the input terminal 1 of the device, the amplifier 2 switches to an appropriate range and inverts and amplifies. A bias voltage -Vb for zero line shift is applied to the output, and the output becomes as shown in FIG. The amplifier 3 inverts and amplifies this voltage signal with a gain of 1 as shown in FIG. 3C, and the amplifier 4 non-inverts and amplifies the output of the amplifier 3 with a gain of 1 as shown in FIG.

【0009】この図4のニにおいて、電源電圧Vcc、
基準電圧Vref、コンパレータA1,A2,…,A2
53,A254,A255のしきい値電圧V1,V2,
…,V254,V255と、電圧信号Vinとのレベル
関係が例えば図示のようになったとすると、上記コンパ
レータが所定のタイミングで連続的に比較したときの出
力は同図ホ〜リに示すようになる。この場合、ある一時
点Tにおける各コンパレータの比較出力をエンコーダ8
が8ビットのバイナリ信号データに変換するのに要する
時間は素子によって異なるが、例えば変換時間を50n
sとすると電圧信号Vinを高速でA/D変換すること
ができる。表示部13はエンコーダ12が送出するバイ
ナリの信号データを例えばメモリに一時収容し、その信
号波形をCRTに表示したりあるいは記録紙上に記録し
たりする。
In FIG. 4, the power supply voltage Vcc,
Reference voltage Vref, comparators A1, A2,..., A2
53, A254, A255 threshold voltages V1, V2,
.., V254, V255, and the voltage signal Vin, for example, as shown in the figure, the output when the comparator performs continuous comparison at a predetermined timing is as shown in FIG. . In this case, the comparison output of each comparator at a certain time point T is
Although the time required for converting to 8-bit binary signal data differs depending on the element, for example, the conversion time is set to 50n.
Assuming that s, the voltage signal Vin can be A / D converted at high speed. The display unit 13 temporarily stores the binary signal data transmitted from the encoder 12 in, for example, a memory, and displays the signal waveform on a CRT or records it on a recording paper.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】上記従来装置は構成が
比較的簡単であり、また、入力信号の波形などを目視で
監視するような場合には好適である。しかしながら、例
えば電源電圧が変動すると各コンパレータのしきい値電
圧が変わるので、同一レベルの入力信号でもそのディジ
タル変換データは異なった値となることがある。そのた
め、入力信号の絶対レベルを測定するような電子計測器
類には必ずしも適用できるとは限らない。
The above-mentioned conventional apparatus has a relatively simple structure, and is suitable for visually monitoring the waveform of an input signal and the like. However, for example, when the power supply voltage fluctuates, the threshold voltage of each comparator changes, so that even if the input signal has the same level, the digital conversion data may have a different value. Therefore, the present invention is not always applicable to electronic measuring instruments for measuring the absolute level of an input signal.

【0011】一例をあげると、例えば図3のラダー抵抗
を抜粋した図5において、基準電圧Vrefは電源電圧
Vccを抵抗Rsとラダー抵抗群R1ないしR256で
分圧したものであるから、 Vref=Vcc×Rs/(Rs+R1+R2+・・・
+R256) である。ここで、説明を簡単化するため例えば R1=R2=・・・=R256=R [Ω] とすると、 Vref=Vcc×Rs/(Rs+R×256) ……(1) である。基準電圧Vrefとしきい値電圧V1、及び相
隣る各しきい値電圧間の差の電圧をそれぞれVδとする
と、 Vδ=(Vcc−Vref)/256 ……(2) 上式に式(1)を代入すると、 Vδ=Vcc{1−Rs/(Rs+R×256)}/256 ……(3) となる。
For example, in FIG. 5 which is an excerpt of the ladder resistor of FIG. 3, the reference voltage Vref is obtained by dividing the power supply voltage Vcc by the resistor Rs and the ladder resistor groups R1 to R256, so that Vref = Vcc × Rs / (Rs + R1 + R2 + ...
+ R256). Here, for the sake of simplicity, if, for example, R1 = R2 =... = R256 = R [Ω], then Vref = Vcc × Rs / (Rs + R × 256) (1) Assuming that the voltage between the reference voltage Vref and the threshold voltage V1 and the difference between the adjacent threshold voltages is Vδ, Vδ = (Vcc−Vref) / 256 (2) Is substituted, Vδ = Vcc {1−Rs / (Rs + R × 256)} / 256 (3)

【0012】次に、電源電圧Vccが変動してVcc´
となったときの基準電圧をVref´、相隣るしきい値
電圧間の差の電圧をVδ´とすると、上記と同様にして Vref´=Vcc´×Rs/(Rs+R×256) ……(4) Vδ´=(Vcc´−Vref´)/256 =Vcc´{1−Rs/(Rs+R×256)}/256……(5) 式(4)を式(1)で割り算すると、 Vref´/Vref=Vcc´/Vcc 上式より Vref´=Vref(Vcc´/Vcc) 電源電圧の変動分を△Vとし、 Vcc´=Vcc±△V とおくと、 Vref´=Vref(Vcc±△V)/Vcc =Vref(1±△V/Vcc) ……(6) また、式(5)を式(3)で割り算すると、 Vδ´/Vδ=Vcc´/Vcc である。式(6)を導いた場合と同様にして Vδ´=Vδ(1±△V/Vcc) ……(7) を得る。式(6)、(7)によると、電源電圧が変化し
た場合にはその変化率と同じ割合で基準電圧もしきい値
電圧の差の電圧も変化することがわかる。
Next, the power supply voltage Vcc fluctuates to Vcc '
Let Vref 'be the reference voltage and Vδ' be the difference voltage between the adjacent threshold voltages, Vref '= Vcc'.times.Rs / (Rs + R.times.256) in the same manner as described above. 4) Vδ ′ = (Vcc′−Vref ′) / 256 = Vcc ′ {1−Rs / (Rs + R × 256)} / 256 (5) When Expression (4) is divided by Expression (1), Vref ′ / Vref = Vcc '/ Vcc From the above equation, Vref' = Vref (Vcc '/ Vcc) When the variation of the power supply voltage is △ V, and Vcc' = Vcc ± △ V, Vref '= Vref (Vcc ± △ V ) / Vcc = Vref (1 ± △ V / Vcc) (6) When Expression (5) is divided by Expression (3), Vδ ′ / Vδ = Vcc ′ / Vcc. Vδ ′ = Vδ (1 ± △ V / Vcc) (7) is obtained in the same manner as when the equation (6) is derived. According to equations (6) and (7), when the power supply voltage changes, both the reference voltage and the threshold voltage change at the same rate as the change rate.

【0013】ところで、上記従来装置は例えば電源電圧
Vccが5[V]、基準電圧Vrefは3[V]になっ
ているものとすると、しきい値電圧の差の電圧Vδは式
(2)から Vδ=(5−3)/256 =0.00781 [V] となる。この場合、例えば下位から200番目のしきい
値電圧V200の大きさは V200=Vref+Vδ×200 =3+0.00781×200 =4.562 [V] となる。そこで、もし入力信号電圧Vinが 4.5620<Vin≦4.5620+0.00781 つまり、 4.5620<Vin≦4.5698 ……(8) の範囲にあったとすると、Vcc−VδからVccまで
すなわち4.9922[V]から5[V]までの入力電
圧をフルスケール電圧としてFFに変換するA/Dコン
バータにおいては、上記信号VinをV200のしきい
値電圧4.562[V]に対応するバイナリデータ「1
1001000」に変換する。
By the way, assuming that the power supply voltage Vcc is 5 [V] and the reference voltage Vref is 3 [V], the voltage Vδ of the threshold voltage difference is given by the following equation (2). Vδ = (5-3) /256=0.00781 [V]. In this case, for example, the magnitude of the 200th threshold voltage V200 from the bottom is V200 = Vref + Vδ × 200 = 3 + 0.00781 × 200 = 4.562 [V]. Therefore, if the input signal voltage Vin is in the range of 4.5620 <Vin ≦ 4.5620 + 0.00781, that is, 4.5620 <Vin ≦ 4.5698 (8), from Vcc−Vδ to Vcc, that is, 4 In an A / D converter that converts an input voltage from 0.9922 [V] to 5 [V] to a FF as a full scale voltage, the signal Vin is converted to a binary corresponding to a threshold voltage of V562 of 4.562 [V]. Data "1
1001000 ".

【0014】ここで、電源電圧Vccが例えば2%変化
してVcc´になったとすると、基準電圧Vref´は
式(6)から Vref´=(1±0.02)×3 [V] また、差の電圧Vδ´は式(7)から Vδ´=(1±0.02)×0.00781 [V] となる。いま、説明を簡単にするため例えば電源電圧が
正側に2%変動した場合を例にとると、 Vref´=3.06 [V] Vδ´=0.00797 [V] となる。このように基準電圧と差の電圧が変化するの
で、電源電圧が変動する前のしきい値電圧V200は入
力信号電圧Vinに対応しなくなる。そこで、電源電圧
変動後において上記Vinに対応するしきい値電圧をV
(n)とすると、 V(n)<Vin≦V(n+1) ……(9) である。上式において V(n)=Vref´+Vδ´×n =3.06+0.00797×n [V] V(n+1)=Vref´+Vδ´×(n+1) =3.06+0.00797×(n+1) [V] である。
Here, assuming that the power supply voltage Vcc changes by, for example, 2% to Vcc ', the reference voltage Vref' is calculated from the equation (6) as follows: Vref '= (1 ± 0.02) × 3 [V] From the equation (7), the difference voltage Vδ ′ is Vδ ′ = (1 ± 0.02) × 0.00781 [V]. Now, for the sake of simplicity, for example, when the power supply voltage fluctuates by 2% to the positive side, Vref '= 3.06 [V] Vδ' = 0.00797 [V]. Since the difference voltage from the reference voltage changes in this manner, the threshold voltage V200 before the power supply voltage changes does not correspond to the input signal voltage Vin. Therefore, after the power supply voltage fluctuates, the threshold voltage corresponding to the above Vin is changed to V
Assuming that (n), V (n) <Vin ≦ V (n + 1) (9) In the above equation, V (n) = Vref ′ + Vδ ′ × n = 3.06 + 0.00797 × n [V] V (n + 1) = Vref ′ + Vδ ′ × (n + 1) = 3.06 + 0.00797 × (n + 1) [V] ].

【0015】この場合、Vinの値は式(8)に示すよ
うに幅があるから、例えばその中央値をとって Vin=4.5659 [V] とすると、式(9)より 3.06+0.00797×n<4.5659≦3.06+0.00797× (n+1) ……(10) である。式(10)の 3.06+0.00797×n<4.5659 より n<188.9 となる。また、同式(10)の 4.5659≦3.06+0.00797×(n+1) より n≧187.9 となる。よって 187.9≦n<188.9 を満足するnの値として n=188 を得る。すなわち、電源電圧5[V]が例えば+2%変
動すると、入力信号電圧4.5659[V]に対応する
しきい値電圧はV200からV188に変化する。よっ
て入力信号Vinの電圧は、V188のしきい値電圧に
対応するバイナリデータ「10111100」に変換さ
れる。
In this case, since the value of Vin has a width as shown in equation (8), if, for example, the median value is taken as Vin = 4.5659 [V], then from equation (9), 3.06 + 0. 00797 × n <4.5659 ≦ 3.06 + 0.00797 × (n + 1) (10) From 3.06 + 0.00797 × n <4.559 in the equation (10), n <188.9. Further, n ≧ 187.9 from 4.5659 ≦ 3.06 + 0.00797 × (n + 1) in the equation (10). Therefore, n = 188 is obtained as the value of n that satisfies 187.9 ≦ n <188.9. That is, when the power supply voltage 5 [V] changes by, for example, + 2%, the threshold voltage corresponding to the input signal voltage 4.5659 [V] changes from V200 to V188. Therefore, the voltage of the input signal Vin is converted into binary data “10111100” corresponding to the threshold voltage of V188.

【0016】このように、電源電圧が変動すると同一レ
ベルの入力信号が異なった値のバイナリデータに変換さ
れ、計測機器にとっては測定誤差の原因になるので好ま
しくない。この発明は上記の事情を考慮してなされたも
ので、その目的は、電源電圧が変動しても入力信号のデ
ィジタル変換データが影響されないようにした高速のA
/D変換装置を提供することにある。
As described above, when the power supply voltage fluctuates, an input signal at the same level is converted into binary data having a different value, which is not preferable for a measuring instrument because it causes a measurement error. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in consideration of the above circumstances, and has as its object to provide a high-speed A that prevents digital conversion data of an input signal from being affected even when a power supply voltage fluctuates.
An object of the present invention is to provide a / D conversion device.

【0017】[0017]

【発明を解決するための手段】この発明の実施例が示さ
れている図1を参照すると、増幅器2,3,4、及びA
/Dコンバータ5、表示部13等は前従来装置とほぼ同
様のユニットで構成され、したがって同一の参照符号が
付されている。この実施例においては、上記課題を解決
するためさらに下記とに示す手段を備えている。す
なわち、 例えば電源電圧+Vccにて作動するツェナダイオ
ードZDとその電流制限抵抗Ra、上記ツェナダイオー
ドZDの電圧降下の一部を分圧して取り出す分圧抵抗R
b、Rc、及び上記取り出した分圧電圧と上記電流制限
抵抗Raに発生する電圧降下との直列電圧を増幅器16
に加えて基準電圧Vrefを形成し、ラダー抵抗6の低
電位側端子11に加える基準電圧形成回路15を備えて
いる。
Referring to FIG. 1, which illustrates an embodiment of the present invention, amplifiers 2, 3, 4, and A
The / D converter 5, the display unit 13 and the like are constituted by substantially the same units as those of the conventional device, and therefore, are denoted by the same reference numerals. In this embodiment, the following means are provided to solve the above problems. That is, for example, a Zener diode ZD that operates at the power supply voltage + Vcc and its current limiting resistor Ra, and a voltage dividing resistor R that divides and extracts a part of the voltage drop of the Zener diode ZD.
b, Rc, and the series voltage of the extracted divided voltage and the voltage drop generated in the current limiting resistor Ra.
And a reference voltage forming circuit 15 for forming a reference voltage Vref and applying the same to the low potential side terminal 11 of the ladder resistor 6.

【0018】 例えば上記ラダー抵抗6の中央電位端
子14における電圧Vmを増幅器18に加え、同増幅器
18と次段増幅器19により入力信号Vinのゼロライ
ンシフト用バイアス電圧−Vbを形成して入力増幅器2
の出力側に加えるバイアス電圧形成回路17を備えてい
る。
For example, the voltage Vm at the center potential terminal 14 of the ladder resistor 6 is applied to the amplifier 18, and the amplifier 18 and the next-stage amplifier 19 form a bias voltage −Vb for zero-line shift of the input signal Vin, and the input amplifier 2
And a bias voltage forming circuit 17 to be applied to the output side.

【0019】[0019]

【作用】上記課題解決手段の基準電圧形成回路15に
おいて、ツェナダイオードZDの両端間における電圧降
下は、電源電圧Vccが変動してもほとんど変わらず一
定と見なし得る。したがって電源電圧が例えば±△V変
動すると、電流制限用抵抗Raの電圧降下が±△Vだけ
変化する。そこで同電流制限用抵抗Raの電圧降下と、
上記ツェナダイオードZDの両端間における電圧降下の
一部を抵抗Rbにて分圧した電圧とを直列的に加え合わ
せて基準電圧Vrefを形成し、増幅器16を介してラ
ダー抵抗6の低電位側端子11に加えると、その高電位
側端子10に加えられている電源電圧Vccが±△V変
化しても両端子10−11間の電圧は変化せず、所定の
一定電圧に保たれる。これにより、コンパレータ7に与
える各しきい値電圧V1,V2,…相互間の差の電圧V
δは変化せず、したがって端子11から見た上記しきい
値電圧は変化しない。
The voltage drop across the Zener diode ZD in the reference voltage forming circuit 15 of the above-mentioned means for solving the problem can be considered to be constant even if the power supply voltage Vcc fluctuates. Therefore, when the power supply voltage changes by, for example, ± ΔV, the voltage drop of the current limiting resistor Ra changes by ± ΔV. Then, the voltage drop of the current limiting resistor Ra,
A reference voltage Vref is formed by adding in series a voltage obtained by dividing a part of the voltage drop between both ends of the Zener diode ZD by the resistor Rb, and a low potential terminal of the ladder resistor 6 via the amplifier 16. In addition, even if the power supply voltage Vcc applied to the high potential side terminal 10 changes by ± ΔV, the voltage between both terminals 10-11 does not change and is maintained at a predetermined constant voltage. Thereby, the threshold voltage V1, V2,...
δ does not change, and thus the threshold voltage viewed from the terminal 11 does not change.

【0020】次に、上記課題解決手段のバイアス電圧
形成手段17においては、例えばラダー抵抗6の中央電
位端子14からその電位電圧+Vmを取り込み、増幅器
18および19によりゼロラインシフト用のバイアス電
圧−Vbを形成して増幅器2の出力側に加える。これに
よりバイアス電圧−Vbの絶対値Vbは、電源電圧Vc
cが変動してもラダー抵抗6の中央電位電圧Vmのレベ
ルと等しくなり、入力信号VinのゼロラインはA/D
コンバータ5の許容入力電圧範囲の中央電圧レベルへ常
に保持される。
Next, the bias voltage forming means 17 of the means for solving the above problem takes in the potential voltage + Vm from the center potential terminal 14 of the ladder resistor 6, for example, and the amplifiers 18 and 19 apply the bias voltage -Vb Is applied to the output side of the amplifier 2. Thus, the absolute value Vb of the bias voltage −Vb becomes equal to the power supply voltage Vc.
Even if c fluctuates, it becomes equal to the level of the central potential voltage Vm of the ladder resistor 6, and the zero line of the input signal Vin is A / D
It is always kept at the center voltage level of the allowable input voltage range of converter 5.

【0021】[0021]

【実施例】上記図1において、従来装置と同様に構成さ
れている箇所は手短かに説明する。被変換アナログ交流
信号Vinが装置の入力端子1を介して増幅器2に加わ
ると、同増幅器2はその信号レベルに応じて適正レンジ
を選択し、上記入力信号Vinを反転増幅して増幅器3
に加える。この実施例においては、増幅器2の反転出力
信号Vinのゼロラインを負側へシフトさせるため、例
えばバイアス電圧形成回路17から同増幅器2の出力側
へバイアス電圧−Vbが加えられるようになっている。
増幅器3はゼロラインが負側の−Vbへシフトされた増
幅器2の出力Vinを例えば利得1で反転増幅する。こ
れにより、増幅器3の出力Vinは正側の+Vbをゼロ
ラインとする信号になる。増幅器4は上記増幅器3の出
力を例えば利得1で非反転増幅し、A/Dコンバータ5
の信号入力端子9へ加える。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS In FIG. 1 described above, portions which are configured similarly to a conventional apparatus will be briefly described. When the converted analog AC signal Vin is applied to the amplifier 2 via the input terminal 1 of the device, the amplifier 2 selects an appropriate range according to the signal level, inverts and amplifies the input signal Vin, and outputs
Add to In this embodiment, in order to shift the zero line of the inverted output signal Vin of the amplifier 2 to the negative side, for example, a bias voltage -Vb is applied from the bias voltage forming circuit 17 to the output side of the amplifier 2. .
The amplifier 3 inverts and amplifies the output Vin of the amplifier 2 in which the zero line is shifted to -Vb on the negative side with a gain of 1, for example. Thus, the output Vin of the amplifier 3 becomes a signal having + Vb on the positive side as a zero line. The amplifier 4 non-inverts and amplifies the output of the amplifier 3 with a gain of 1, for example, and an A / D converter 5
To the signal input terminal 9.

【0022】A/Dコンバータ5においては、信号入力
端子9に加わった信号Vinはコンパレータ7のコンパ
レータ群A1ないしA255へ並列的に加えられ、ラダ
ー抵抗6から上記各コンパレータに与えられたしきい値
電圧V1,…,V255とそれぞれ比較されるようにな
っている。この実施例においては、上記ラダー抵抗6の
例えば一方の高電位側端子10には装置の電源電圧+V
ccが加えられ、他方の低電位側端子11には基準電圧
形成回路15から基準電圧+Vrefが加えられるよう
になっている。
In the A / D converter 5, the signal Vin applied to the signal input terminal 9 is applied in parallel to comparator groups A1 to A255 of the comparator 7, and the threshold value given to each of the comparators from the ladder resistor 6 is applied. , V255, respectively. In this embodiment, for example, one high potential side terminal 10 of the ladder resistor 6 is connected to the power supply voltage + V of the device.
The reference voltage + Vref is applied from the reference voltage forming circuit 15 to the other low potential side terminal 11.

【0023】基準電圧形成回路15は上記課題解決手段
で述べたように例えばツェナダイオードZDとその電
流制限用抵抗Ra、及び上記ツェナダイオードZDの両
端間の電圧降下を分圧する抵抗Rb,Rcと、同抵抗R
bにて分圧した電圧に上記電流制限用抵抗Raの電圧降
下を直列的に加えて基準電圧Vrefを形成する増幅器
16とで構成されている。
The reference voltage forming circuit 15 includes, for example, a Zener diode ZD and a current limiting resistor Ra, and resistors Rb and Rc for dividing a voltage drop between both ends of the Zener diode ZD, as described in the means for solving the problem. Same resistance R
The amplifier 16 forms a reference voltage Vref by serially adding the voltage drop of the current limiting resistor Ra to the voltage divided at b.

【0024】ここで、図1の基準電圧形成回路15を抜
粋した図2の(A)において、図示のように電源電圧V
ccを加えたときツェナダイオードZDと電流制限用抵
抗Raの電圧降下をそれぞれVz及びVaとすると、 Vcc=Vz+Va ……(11) となる。式(11)において、ツェナダイオードZDの
電圧降下Vzは作用説明の項で述べたように電源電圧V
ccの変動に影響されない一定電圧であり、抵抗Raの
電圧降下Vaは電源電圧Vccの変動に応じて変わる電
圧である。
Here, in FIG. 2A, which is an excerpt of the reference voltage forming circuit 15 of FIG. 1, the power supply voltage V
Assuming that the voltage drops of the Zener diode ZD and the current limiting resistor Ra when Vcc is added are Vz and Va, respectively, Vcc = Vz + Va (11) In equation (11), the voltage drop Vz of the Zener diode ZD is equal to the power supply voltage V
It is a constant voltage that is not affected by the fluctuation of cc, and the voltage drop Va of the resistor Ra is a voltage that changes according to the fluctuation of the power supply voltage Vcc.

【0025】いま、上記ツェナダイオードZDの電圧降
下Vzを例えば抵抗RbとRcにて分圧し、さらに抵抗
Rbを調整してその分圧電圧Vbaと抵抗Raの電圧降
下Vaとにより所望の基準電圧Vrefを設定したとす
ると、 Vref=Vba+Va ……(12) となる。式(12)のVaに式(11)を代入すると Vref=Vba+Vcc−Vz ……(13) となる。式(13)において、例えば電源電圧Vccが
±△V変動したときの基準電圧をVref´とすると、 Vref´=Vba+VCC±△V−Vz 上式と式(13)から Vref´=Vref±△V ……(14) を得る。すなわち、電源電圧Vccが±△V変動すると
基準電圧Vrefもそれと同じ電圧で変動する。
Now, the voltage drop Vz of the Zener diode ZD is divided by, for example, resistors Rb and Rc, and the resistor Rb is further adjusted to obtain a desired reference voltage Vref based on the divided voltage Vba and the voltage drop Va of the resistor Ra. Is set, Vref = Vba + Va (12) By substituting equation (11) for Va in equation (12), Vref = Vba + Vcc-Vz (13) In the equation (13), for example, assuming that the reference voltage when the power supply voltage Vcc fluctuates ± △ V is Vref ′, Vref ′ = Vba + VCC ± △ V-Vz From the above equation and the equation (13), Vref ′ = Vref ± △ V (14) is obtained. That is, when the power supply voltage Vcc changes by ± ΔV, the reference voltage Vref also changes at the same voltage.

【0026】よって、この基準電圧Vrefを例えば利
得1の非反転増幅器16を介してラダー抵抗6の低電位
側端子11に加えると、同ラダー抵抗6の高電位側端子
10に加えられている電源電圧Vccが+△V変動した
ときは基準電圧Vrefも+△V変化し、上記Vccが
−△V変動したときはVrefも−△V変化する。すな
わち、電源電圧Vccがどのように変動してもラダー抵
抗6の両端子間電圧Vcc−Vrefは一定に保たれ
る。この状態を図2の(B)に示す。したがってラダー
抵抗6において形成される各しきい値電圧V1ないしV
255は電源電圧の変動の影響を受けない。
Therefore, when this reference voltage Vref is applied to the low potential side terminal 11 of the ladder resistor 6 via, for example, the non-inverting amplifier 16 having a gain of 1, the power supply applied to the high potential side terminal 10 of the ladder resistor 6 is changed. When the voltage Vcc changes by + ΔV, the reference voltage Vref also changes by + ΔV, and when the Vcc changes by −ΔV, Vref also changes by −ΔV. That is, the voltage Vcc-Vref between both terminals of the ladder resistor 6 is kept constant regardless of how the power supply voltage Vcc fluctuates. This state is shown in FIG. Therefore, each of the threshold voltages V1 to V
255 is not affected by fluctuations in the power supply voltage.

【0027】バイアス電圧形成回路17は上記課題解決
手段で述べたように例えばラダー抵抗6の中央電位電
圧Vmを利得1で非反転増幅する増幅器18と、同増幅
器18の出力を利得1で反転する増幅器19にて構成さ
れている。ここで、上記ラダー抵抗6の中央電位電圧V
mの大きさは Vm=(Vcc−Vref)/2 ……(15) である。増幅器18は接地に対する上記電圧Vmを入力
とするから、同増幅器18の入力電圧は Vm+Vref=(Vcc−Vref)/2+Vref となる。増幅器19が出力するバイアス電圧−Vbは上
式の反転電圧であるから −Vb=−(Vm+Vref) となり、極性は負となる。しかし反転増幅器3の出力側
ではさらに反転して正の極性になる。すなわち、 Vb=Vm+Vref ……(16) ここで、例えば電源電圧Vccが±△V変動すると既に
説明したように基準電圧Vrefも±△Vだけ変動する
から、 Vcc→Vcc±△V Vref→Vref±△V とおいたときの中央電位電圧をVm´、バイアス電圧を
Vb´とすると、 Vm´={(Vcc±△V)−(Vref±△V)}/2 =(Vcc−Vref)/2 となる。上式と式(15)から Vm´=Vm となり、中央電位電圧Vmは変化しないことがわかる。
As described in the above-mentioned means for solving the problem, the bias voltage forming circuit 17 amplifies the central potential voltage Vm of the ladder resistor 6 with a gain of 1, for example, and inverts the output of the amplifier 18 with a gain of 1. It is composed of an amplifier 19. Here, the central potential voltage V of the ladder resistor 6
The magnitude of m is Vm = (Vcc-Vref) / 2 (15). Since the amplifier 18 receives the above-mentioned voltage Vm with respect to the ground, the input voltage of the amplifier 18 becomes Vm + Vref = (Vcc-Vref) / 2 + Vref. Since the bias voltage −Vb output from the amplifier 19 is the inverted voltage of the above equation, −Vb = − (Vm + Vref), and the polarity is negative. However, the output of the inverting amplifier 3 is further inverted to have a positive polarity. Vb = Vm + Vref (16) Here, for example, when the power supply voltage Vcc fluctuates by ± ΔV, the reference voltage Vref also fluctuates by ± ΔV as described above, so that Vcc → Vcc ± ΔV Vref → Vref ± Assuming that the central potential voltage when ΔV is set as Vm ′ and the bias voltage is Vb ′, Vm ′ = {(Vcc ± ΔV) − (Vref ± ΔV)} / 2 = (Vcc−Vref) / 2 Become. From the above equation and equation (15), Vm '= Vm, and it can be seen that the central potential voltage Vm does not change.

【0028】また、バイアス電圧Vb´については Vb´=Vm´+(Vref±△V) =Vm+(Vref±△V) 上式と式(16)から Vb´=Vb±△V となりバイアス電圧Vb´(ゼロラインのレベル)は△
Vだけ変動することがわかる。これらの状態を同じく上
記図2の(B)に示す。なお、従来装置における図4の
各部の信号波形イ〜リはこの発明の実施例においても得
られるので、対応箇所にはそれぞれ同様の参照符号を付
してある。
Further, as for the bias voltage Vb ′, Vb ′ = Vm ′ + (Vref ± ΔV) = Vm + (Vref ± ΔV) From the above equation and equation (16), Vb ′ = Vb ± ΔV, and the bias voltage Vb is obtained. ´ (the level of the zero line) is △
It can be seen that it fluctuates by V. These states are also shown in FIG. Since the signal waveforms I to I of the respective parts in FIG. 4 in the conventional apparatus can be obtained also in the embodiment of the present invention, corresponding parts are denoted by the same reference numerals.

【0029】[0029]

【効果】以上詳細に説明したように、この発明において
は例えば装置の電源電圧Vccにて作動するツェナダイ
オードZDとその電流制限用抵抗Raを含み、該電流制
限抵抗Raの電圧降下Vaと上記ツェナダイオードZD
の電圧降下を分圧して得た電圧Vbaとを直列的に加え
て所定の基準電圧Vrefを形成し、増幅器16を介し
て上記基準電圧Vrefによりラダー抵抗6の一方の低
電位側端子11を駆動する基準電圧形成回路15を備え
ている。
As described above in detail, the present invention includes, for example, a Zener diode ZD which operates at the power supply voltage Vcc of the device and a current limiting resistor Ra, and a voltage drop Va of the current limiting resistor Ra and the Zener diode. Diode ZD
A voltage Vba obtained by dividing the voltage drop is added in series to form a predetermined reference voltage Vref, and one low potential side terminal 11 of the ladder resistor 6 is driven by the reference voltage Vref via the amplifier 16. The reference voltage forming circuit 15 is provided.

【0030】さらに、例えば上記ラダー抵抗6の端子1
4から同ラダー抵抗6の中央電位電圧Vmを取り込んで
増幅し、被変換アナログ交流信号Vinのゼロラインを
所定電圧レベルにシフトする増幅器18,19が設けら
れたバイアス電圧形成回路17を備えている。
Further, for example, the terminal 1 of the ladder resistor 6
4 includes a bias voltage forming circuit 17 provided with amplifiers 18 and 19 for taking in and amplifying the central potential voltage Vm of the ladder resistor 6 and shifting the zero line of the converted analog AC signal Vin to a predetermined voltage level. .

【0031】したがってこの発明によると、ラダー抵抗
6からコンパレータ7に与えるレベル比較用のしきい値
電圧は、同ラダー抵抗6の他方の高電位側端子10に加
えられらた電源電圧Vccが変動してもその影響を受け
て変わるようなことは無い。また、交流入力信号Vin
のゼロラインはラダー抵抗6の中央電位電圧、すなわち
A/Dコンバータ5の許容入力電圧範囲の中央電圧レベ
ルに保持され、上記電源電圧Vccが変動してもその影
響を受けてずれるようなことは無い。
Therefore, according to the present invention, the power supply voltage Vcc applied to the other high-potential side terminal 10 of the ladder resistor 6 varies as the level comparison threshold voltage applied from the ladder resistor 6 to the comparator 7. However, there is no change under the influence. Also, the AC input signal Vin
Is maintained at the center potential voltage of the ladder resistor 6, that is, the center voltage level of the allowable input voltage range of the A / D converter 5, and even if the power supply voltage Vcc fluctuates, the zero line does not shift. There is no.

【0032】このため、例えば画像信号の波形を記録紙
上に記録してそのレベルを測定すると正確な測定データ
が得られ、電子計測器類に好適な高速、高精度のA/D
変換装置を提供することができる。
For this reason, for example, when a waveform of an image signal is recorded on a recording paper and its level is measured, accurate measurement data can be obtained, and a high-speed and high-precision A / D suitable for electronic measuring instruments.
A conversion device can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明に係るA/D変換装置の構成を示すブ
ロック線図。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an A / D converter according to the present invention.

【図2】この発明に適用された課題解決手段の作用説明
図。
FIG. 2 is an explanatory diagram of the operation of the problem solving means applied to the present invention.

【図3】従来装置の構成を示すブロック線図。FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a conventional device.

【図4】従来装置の動作説明用信号図。FIG. 4 is a signal diagram for explaining the operation of the conventional device.

【図5】従来装置における課題説明用のラダー抵抗構成
図。
FIG. 5 is a configuration diagram of a ladder resistor for explaining a problem in the conventional device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

5 A/Dコンバータ 6 ラダー抵抗 7 コンパレータ 15 基準電圧形成回路 16 増幅器 17 バイアス電圧形成回路 18 増幅器 19 増幅器 A1−A255 増幅器群 R1−R256 ラダー抵抗 Ra ツェナ電流設定用抵抗 Rb 分圧抵抗 Rc 分圧抵抗 V1−V255 しきい値電圧 Va ツェナ電流設定用抵抗の電圧降下 Vb バイアス電圧 Vba 分圧電圧 Vcc 電源電圧 Vin 交流入力信号 Vm ラダー抵抗の中央電位電圧 Vref 基準電圧 Vz ツェナダイオードの電圧降下 Reference Signs List 5 A / D converter 6 Ladder resistance 7 Comparator 15 Reference voltage forming circuit 16 Amplifier 17 Bias voltage forming circuit 18 Amplifier 19 Amplifier A1-A255 Amplifier group R1-R256 Ladder resistance Ra Zener current setting resistance Rb Voltage dividing resistance Rc Voltage dividing resistance V1-V255 Threshold voltage Va Voltage drop of Zener current setting resistor Vb Bias voltage Vba Divided voltage Vcc Power supply voltage Vin AC input signal Vm Central potential voltage of ladder resistor Vref Reference voltage Vz Voltage drop of zener diode

フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H03M 1/00 - 1/88 Continuation of front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H03M 1/00-1/88

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 装置の電源電圧(Vcc)と所定の基準
電圧(Vref)との間に設けられた抵抗群にて多通り
のしきい値電圧を発生するラダー抵抗(6)、及び該ラ
ダー抵抗(6)が発する上記しきい値電圧をそれぞれ一
方の入力となし、交流アナログ入力信号(Vin)を共
通的に他方の入力となして上記しきい値電圧と各々レベ
ルを比較する増幅器群を備えたコンパレータ(7)とを
含む並列比較形のA/Dコンバータ(5)を有し、上記
入力信号(Vin)に正もしくは負の一定直流電圧(V
b)を加えて同信号のゼロラインを上記A/Dコンバー
タ(5)の許容アナログ入力電圧範囲内にシフトし、該
シフトした入力信号を同A/Dコンバータによりディジ
タル変換するA/D変換装置において、 上記電源電圧(Vcc)と接地間に直列的に設けられて
作動するツェナダイオード(ZD)及びツェナ電流設定
用抵抗(Ra)と、上記ツェナダイオード(ZD)両端
間の電圧降下(Vz)を分圧する抵抗(Rb,Rc)
と、該抵抗による分圧電圧(Vba)と上記ツェナ電流
設定用抵抗(Ra)の両端間における電圧降下(Va)
との直列電圧を入力となす増幅器(16)を有し、同増
幅器の出力を基準電圧(Vref)となして上記ラダー
抵抗(6)に加える基準電圧形成回路15と、 上記ラダー抵抗(6)の中央電位端子(14)における
電圧(Vm)を取り込んで増幅する増幅器(18,1
9)を有し、同増幅器の正もしくは負の直流出力をバイ
アス電圧として上記入力信号(Vin)に加え、同入力
信号のゼロラインレベルを上記A/Dコンバータ(5)
における許容アナログ入力電圧範囲の中央電位電圧と実
質的に等しい電圧にシフトするバイアス電圧形成回路
(17)とを備えていることを特徴とするA/D変換装
置。
1. A ladder resistor (6) for generating various threshold voltages in a group of resistors provided between a power supply voltage (Vcc) of a device and a predetermined reference voltage (Vref); A group of amplifiers, each of which has the threshold voltage generated by the resistor (6) as one input and an AC analog input signal (Vin) as the other input in common and compares the threshold voltage with the threshold voltage, respectively. And a parallel comparison type A / D converter (5) including a comparator (7) provided with the input signal (Vin).
b) is added to shift the zero line of the signal to within the permissible analog input voltage range of the A / D converter (5), and the A / D converter converts the shifted input signal to digital by the A / D converter. In the above, a Zener diode (ZD) and a Zener current setting resistor (Ra) provided in series between the power supply voltage (Vcc) and ground, and a voltage drop (Vz) between both ends of the Zener diode (ZD) (Rb, Rc) to divide voltage
And a voltage drop (Va) between both ends of the divided voltage (Vba) by the resistor and the Zener current setting resistor (Ra).
A reference voltage forming circuit 15 for applying an output of the amplifier as a reference voltage (Vref) to the ladder resistor (6); and a ladder resistor (6). Amplifier (18, 1) that takes in and amplifies the voltage (Vm) at the central potential terminal (14) of the
9), the positive or negative DC output of the amplifier is added as a bias voltage to the input signal (Vin), and the zero line level of the input signal is converted to the A / D converter (5).
And a bias voltage forming circuit (17) for shifting the voltage to a voltage substantially equal to the central potential voltage of the allowable analog input voltage range in (1).
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