JP3094040B2 - CMOS logic circuit - Google Patents

CMOS logic circuit

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JP3094040B2
JP3094040B2 JP03160283A JP16028391A JP3094040B2 JP 3094040 B2 JP3094040 B2 JP 3094040B2 JP 03160283 A JP03160283 A JP 03160283A JP 16028391 A JP16028391 A JP 16028391A JP 3094040 B2 JP3094040 B2 JP 3094040B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、CMOS(相補型モ
ス)トランジスタ構成の論理回路に係り、特に、ランダ
ムロジックに適用可能な、低電圧電源で高速動作とする
ことのできるCMOS論理回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a logic circuit having a CMOS (complementary MOS) transistor structure, and more particularly to a CMOS logic circuit applicable to random logic and capable of operating at high speed with a low voltage power supply.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来技術を図6のインバータ回路の例で
示す。11は入力端子、12は出力端子、13は電圧値
ddの電圧源、14はPMOS、15はNMOS、16
は出力端子に接続された負荷容量である。入力信号はデ
ィジタル入力値に合せ、論理“1”のときVdd、論理
“0”のときGNDレベルとなる。PMOSトランジス
タのスレッシュホルド電圧をVthP、NMOSトランジ
スタのスレッシュホルド電圧をVthNとすると、Vdd
thP又はVthNに比し十分大きければ本回路には問題点
はないが、VddがVthP又はVthNに近づくと動作速度は
おそくなる。
2. Description of the Related Art The prior art is shown by an example of an inverter circuit in FIG. 11 is an input terminal, 12 is an output terminal, 13 is a voltage source having a voltage value Vdd , 14 is a PMOS, 15 is an NMOS, 16
Is a load capacitance connected to the output terminal. The input signal conforms to the digital input value, and is at V dd when the logic is “1” and at the GND level when the logic is “0”. V thP the Suresshuhorudo voltage of the PMOS transistor and the Suresshuhorudo voltage of the NMOS transistor and V thN, but not problems in sufficiently large if the circuit than V dd is the V thP or V thN, V dd is V The operating speed becomes slower as it approaches thP or VthN .

【0003】論理回路の動作速度は出力端子の負荷容量
16の充放電時間により定まる。このため負荷容量の充
放電電流(図6の場合IP,IN)が大きければ大きいほ
ど速くなる。一方、MOSトランジスタのソース・ドレ
イン間電流Idsは、αを定数として
The operating speed of a logic circuit is determined by the charge / discharge time of the load capacitance 16 at the output terminal. Therefore, the larger the charge / discharge current of the load capacity (I P , I N in FIG. 6), the higher the speed. On the other hand, the current Ids between the source and the drain of the MOS transistor is represented by α as a constant.

【0004】[0004]

【数1】 (Equation 1)

【0005】で定まる。従来回路ではゲート・ソース間
電圧Vgsの最大値はVddとなるため、IP、IN
[0005] In the conventional circuit, the maximum value of the gate-source voltage V gs is V dd , so that I P and I N are

【0006】[0006]

【数2】 (Equation 2)

【0007】となる。このため(Vdd−VthP)または
(Vdd−VthN)が小さくなるとIP、INはその2乗に
比例して小さくなる。このため従来回路ではVddを小さ
くすると動作速度が急激に劣化しておそくなるという問
題点があった。この問題点を解決するため、本出願人は
先に図7に示す回路を提案した(特願平3−13107
1号)。すなわち、入力端子11とPMOS14のゲー
トとの間に容量C1と抵抗R1からなる回路、入力端子
11とNMOS15のゲートとの間に容量C2と抵抗R
2から成る回路を入れ、抵抗R1、R2の端子にバイア
スしたい電圧を印加するか、または抵抗R1の端子をG
NDに、抵抗R2の端子をVddに接続する。VthN
0.6V、VthP=0.6V、Vdd=1V、VR2=1
V、VR1=0V、(VR2、VR1は抵抗R2、R1の端子
電圧)として以下に図7の回路の動作を説明する。
[0007] Thus (V dd -V thP) or (V dd -V thN) decreases as I P, I N is reduced in proportion to the square. For this reason, in the conventional circuit, there is a problem that when Vdd is reduced, the operation speed is rapidly deteriorated and slowed down. In order to solve this problem, the present applicant has previously proposed the circuit shown in FIG. 7 (Japanese Patent Application No. 3-13107).
No. 1). That is, a circuit including the capacitor C1 and the resistor R1 between the input terminal 11 and the gate of the PMOS 14, and a capacitor C2 and the resistor R1 between the input terminal 11 and the gate of the NMOS 15.
2 and a voltage to be biased is applied to the terminals of the resistors R1 and R2, or the terminal of the resistor R1 is connected to G
The terminal of the resistor R2 is connected to ND and Vdd . V thN =
0.6 V, V thP = 0.6 V, V dd = 1 V, VR 2 = 1
The operation of the circuit of FIG. 7 will be described below assuming that V, V R1 = 0V, (V R2 , V R1 are terminal voltages of the resistors R2, R1).

【0008】入力信号の振幅はGNDレベルからVdd
ベルまでであるので本例の場合0〜1Vまでである。ま
た、抵抗R1、R2は抵抗値が非常に大きく、短時間で
は容量C1、C2の両端の電位差VC1、VC2は変化しな
いものとする。入力信号の論理“1”と論理“0”の出
現確率が同等であるとするとその平均電圧はVdd/2=
0.5Vとなる。このためにVC1は−0.5V、VC2
+0.5Vとなる。入力が0VのときVC1、VC2の電位
差も考慮に入れると、PMOSのゲート電圧は−0.5
V、NMOSのゲート電圧は+0.5Vである。このと
きのPMOSのVgsは1.5Vとなる。図6回路ではV
gsは1Vである。このときのIPを比較すると図7はIP
=α・(1.5−0.6)2=0.81・αであるのに対
し、図6回路ではIP=α・(1.0−0.6)2=0.
16・αであり、図7回路の方が電流値が5倍であり、
dd=1Vでは図7回路は一般に用いられている図6に
対し5倍高速化できる長所を有している。
Since the amplitude of the input signal is from the GND level to the Vdd level, it is 0 to 1 V in this embodiment. The resistances of the resistors R1 and R2 are very large, and the potential differences V C1 and V C2 between both ends of the capacitors C1 and C2 do not change in a short time. Assuming that the appearance probabilities of the logic “1” and the logic “0” of the input signal are equal, the average voltage is V dd / 2 =
It becomes 0.5V. Therefore, V C1 becomes −0.5V and V C2 becomes + 0.5V. When the potential difference between V C1 and V C2 is also taken into consideration when the input is 0 V, the gate voltage of the PMOS becomes −0.5.
V, the gate voltage of the NMOS is + 0.5V. At this time, V gs of the PMOS becomes 1.5V. In the circuit of FIG.
gs is 1V. Figure 7 A comparison of the I P in this case is I P
= Α · (1.5−0.6) 2 = 0.81 · α, whereas in the circuit of FIG. 6, I P = α · (1.0−0.6) 2 = 0.
16 · α, and the current value of the circuit of FIG. 7 is 5 times,
At V dd = 1 V, the circuit of FIG. 7 has an advantage that the speed can be increased by a factor of 5 compared to the generally used circuit of FIG.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかし、図7回路で
は、入力データの“1”、“0”の出現確率が同等であ
ることが前提でVC1、VC2が定まっており、分周器など
の回路には使用できるが、“0”、“1”の出現確率が
不定であるランダムロジックではVC1、VC2の電位差が
予想できず、VR2、VR1の設定が困難である問題点を有
している。前例で示すと長時間入力に“0”又は“1”
が入力された場合、その入力値に関係なく、PMOSの
ゲート電圧は0V、NMOSのゲート電圧は1Vとな
り、PMOS、NMOSともオン状態になり貫通電流が
流れてしまうと言った問題点を有していた。
However, in the circuit of FIG. 7, V C1 and V C2 are determined on the premise that the appearance probabilities of “1” and “0” of the input data are equivalent, and the frequency divider Can be used for circuits such as the above, but the potential difference between V C1 and V C2 cannot be predicted with random logic in which the appearance probabilities of “0” and “1” are indeterminate, making it difficult to set V R2 and V R1. Have a point. In the previous example, “0” or “1” is input for a long time.
Is input, the gate voltage of the PMOS becomes 0 V and the gate voltage of the NMOS becomes 1 V, regardless of the input value, and both the PMOS and the NMOS are turned on and a through current flows. I was

【0010】本発明の目的は、図7に示す回路における
上記した問題点を解決し、入力データの“0”、“1”
の出現確率に無関係なランダムロジックに適用可能な、
低電源電圧で高速動作を実現することのできるCMOS
論理回路を提供することにある。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned problem in the circuit shown in FIG.
Applicable to random logic unrelated to the probability of appearance of
CMOS capable of realizing high-speed operation with low power supply voltage
It is to provide a logic circuit.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の請求項1においては、第1のPMOSトラ
ンジスタと第1のNMOSトランジスタから成るCMO
S論理回路において、第1のPMOSのゲートを第1の
容量を介して入力端子に、ドレインを出力端子に、ソー
スを第1の電圧源Vddに、第1のNMOSのゲートを第
2の容量を介して入力端子に、ドレインを出力端子に、
ソースを第2の電圧源GNDに接続し、さらに入力バイ
アス用の第2のPMOSと第2のNMOSを有し、第2
のPMOSのゲートを第1のPMOSのゲートに、ドレ
インを第1のNMOSのゲートに、ソースをMOSトラ
ンジスタのスレッシュホルド電圧Vthより小さい正の電
圧値Vsに設定された第1のバイアス用電圧源に、第2
のNMOSのゲートを第1のNMOSのゲートに、ドレ
インを第1のPMOSのゲートに、ソースを電圧値Vdd
−Vsに設定された第2のバイアス用電圧源に接続し
て、入力端子信号の反転信号を出力端子に得る構成のC
MOS論理回路とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a CMO comprising a first PMOS transistor and a first NMOS transistor.
In the S logic circuit, the gate of the first PMOS is connected to the input terminal via the first capacitor, the drain is the output terminal, the source is the first voltage source Vdd , and the gate of the first NMOS is the second. The input terminal via the capacitance, the drain to the output terminal,
The source is connected to a second voltage source GND, and further includes a second PMOS and a second NMOS for input bias,
A PMOS gate in a first PMOS gate, a drain to a first NMOS gate, for the first bias is set to the source to Suresshuhorudo voltage V th is less than the positive voltage value V s of the MOS transistor A second voltage source
The gate of the NMOS to the gate of the first NMOS, the drain to the gate of the first PMOS, and the source to the voltage value V dd.
−V s , which is connected to a second bias voltage source set to obtain an inverted signal of the input terminal signal at the output terminal.
It is assumed that the MOS logic circuit is used.

【0012】また、本発明の請求項2においては、第1
のPMOSトランジスタと第1のNMOSトランジスタ
から成るCMOS論理回路において、第1のPMOSの
ゲートを第1の容量を介して入力端子に、ドレインを出
力端子に、ソースを第1の電圧源Vddに、第1のNMO
Sのゲートを第2の容量を介して入力端子に、ドレイン
を出力端子に、ソースを第2の電圧源GNDに接続し、
さらに入力バイアス用の第2のPMOSと第2のNMO
Sを有し、第2のNMOSのゲートを出力端子に、ソー
スを第1のNMOSのゲートに、ドレインをMOSトラ
ンジタのスレッシュホルド電圧Vthより小さい正の電圧
値Vsに設定された第1のバイアス用電圧源に、第2の
PMOSのゲートを出力端子に、ソースを第1のPMO
Sのゲートに、ドレインを電圧値Vdd−Vsに設定され
た第2のバイアス用電圧源に接続して、入力端子信号の
反転信号を出力端子に得る構成のCMOS論理回路とす
る。
According to a second aspect of the present invention, the first
In the CMOS logic circuit including the PMOS transistor and the first NMOS transistor, the gate of the first PMOS is connected to the input terminal via the first capacitor, the drain is connected to the output terminal, and the source is connected to the first voltage source Vdd . , The first NMO
A gate of S is connected to an input terminal via a second capacitor, a drain is connected to an output terminal, and a source is connected to a second voltage source GND;
Further, a second PMOS and a second NMO for input bias are used.
Has S, to the output terminal of the gate of the second NMOS, the gate of the first NMOS source, first set the drain Suresshuhorudo voltage V th is less than the positive voltage value V s of the MOS Toranjita 1 , The gate of the second PMOS to the output terminal, and the source to the first PMOS.
A CMOS logic circuit having a configuration in which a drain is connected to the gate of S and a drain is connected to a second bias voltage source set to a voltage value of V dd -V s to obtain an inverted signal of the input terminal signal at the output terminal.

【0013】[0013]

【作用】本発明のCMOS論理回路は、CMOSを形成
しているPMOSとNMOSの各ゲートを、信号の直流
分をしゃ断する容量を介して入力端子に接続する点は図
7の従来回路と同じであるが、各ゲートにバイアス電位
を与える構成として、第2のPMOSと第2のNMOS
を設け、Vth>Vs>0となるように設定された電圧値
sをもつ第1のバイアス用電圧源と、電圧値Vdd−Vs
をもつ第2のバイアス用電圧源に、上記バイアス用の第
2のPMOS、第2のNMOSのソースを接続する点が
従来の図7に示したCMOS論理回路と構成が異なる。
回路の作用は、具体的な数値例を挙げながら、後述の実
施例中で詳細に説明する。
The CMOS logic circuit of the present invention is the same as the conventional circuit of FIG. 7 in that each gate of the PMOS and NMOS forming the CMOS is connected to the input terminal via a capacitor for cutting off the DC component of the signal. However, as a configuration for applying a bias potential to each gate, a second PMOS and a second NMOS
The provided, V th> V s> 0 and the first bias voltage source having a set voltage value V s such that the voltage value V dd -V s
The configuration differs from the conventional CMOS logic circuit shown in FIG. 7 in that the source of the second PMOS and the second NMOS for bias is connected to the second bias voltage source having
The operation of the circuit will be described in detail in the following embodiments, giving specific numerical examples.

【0014】[0014]

【実施例】図1は本発明の請求項1のインバータ回路に
対する実施例である。接続は次の通りである。入力端子
11を容量21と22の一方端子に接続し、容量21の
他方端子をCMOSを形成する第1のPMOS14のゲ
ートに、容量22の他方端子をCMOSを形成する第1
のNMOS15のゲートに接続する。PMOS14のソ
ースを電圧値Vddの第1の電圧源13に、NMOS14
のソースを第2の電圧源GNDに接続し、PMOS14
とNMOS15のドレインを接続し出力端子12とす
る。さらに、バイアス用の第2のPMOS31と第2の
NMOS32を備えており、PMOS14のゲートにP
MOS31のゲートとNMOS32のドレインを、NM
OS15のゲートにPMOS31のドレインとNMOS
32のゲートを接続し、PMOS31のソースを、Vth
>Vs>0となるように設定された電圧値Vsを持つバイ
アス用の第1の電圧源26に、NMOS32のソースを
電圧値Vdd−Vsを持つバイアス用の第2の電圧源25
に接続する。
FIG. 1 shows an embodiment of an inverter circuit according to claim 1 of the present invention. The connection is as follows. The input terminal 11 is connected to one terminal of the capacitors 21 and 22, the other terminal of the capacitor 21 is connected to the gate of the first PMOS 14 forming a CMOS, and the other terminal of the capacitor 22 is connected to the first terminal forming a CMOS.
To the gate of the NMOS 15. The source of the PMOS 14 is connected to the first voltage source 13 having the voltage value Vdd and the NMOS 14
Is connected to the second voltage source GND, and the PMOS 14
And the drain of the NMOS 15 are connected to form the output terminal 12. Further, a second PMOS 31 and a second NMOS 32 for bias are provided.
The gate of the MOS 31 and the drain of the NMOS 32 are connected to NM
The drain of the PMOS 31 and the NMOS are connected to the gate of the OS 15
32, and the source of the PMOS 31 is connected to V th
> The first voltage source 26 for biasing with V s> 0 and so as to set voltage value V s, the second voltage source for bias having a voltage V dd -V s source of NMOS32 25
Connect to

【0015】入力端子11への入力信号が論理“1”の
とき端子11はVddとなり、容量21の両端の電位差を
21、容量22の両端の電位差をV22とすると、a点の
電位はVdd+V21、b点の電位はVdd+V22となる。こ
のときトランジスタ15、32がオンし、トランジスタ
14、31はオフする。このため出力はGNDレベルと
なり論理“0”を出力しインバータの動作をする。さら
にトランジスタ32がオンするため、a点の電位はVdd
−Vsとなり、V21は−Vsとなるよう充電される。この
ときのV22はトランジスタ31がオフしているため変化
しない。つぎに入力が論理“0”のとき端子11はGN
Dとなり、a点はV21、b点はV22となる。このときト
ランジスタ14、31がオンし、トランジスタ15、3
2はオフする。トランジスタ14がオン、15がオフで
あるので出力12はVddとなり論理“1”を出力する。
このときトランジスタ31もオンしているため、b点は
sになる様に充電される。このため、V22はVsとな
る。このときV21はトランジスタ32がオフしているた
め変化しない。これにより、入力データのいかんにかか
わらずV21=−Vs、V22=Vsとなる様に、C21、C22
に電荷が充電される。 V21=−Vs、V22=Vsとなる
ことにより、入力11がGNDレベルのときのトランジ
スタ14のVgsはVdd+Vsとなり、入力11がVdd
ときのトランジスタ15のVgsもVdd+Vsとなり、図
6に示す一般的な論理回路に比しVgsはVsの分だけ大
きくなり、その分だけ出力12の電流駆動能力が大きく
なるため高速が可能となる。
[0015] Terminal 11 is V dd becomes when the input signal is a logic "1" to the input terminal 11, V 21 the potential difference across the capacitor 21, when the potential difference across the capacitor 22 to V 22, the potential at point a Is V dd + V 21 , and the potential at point b is V dd + V 22 . At this time, the transistors 15 and 32 are turned on, and the transistors 14 and 31 are turned off. Therefore, the output goes to the GND level and outputs a logic "0" to operate the inverter. Further, since the transistor 32 is turned on, the potential at the point a is V dd
−V s and V 21 is charged to −V s . V 22 at this time does not change because the transistors 31 is off. Next, when the input is logic "0", the terminal 11
D, point a is V 21 , and point b is V 22 . At this time, the transistors 14 and 31 are turned on, and the transistors 15 and 3 are turned on.
2 turns off. Since the transistor 14 is on and the transistor 15 is off, the output 12 becomes Vdd and outputs a logic "1".
At this time, the transistor 31 is also because of the ON, b point is charged so as to become V s. For this reason, V 22 becomes V s. At this time, V 21 does not change because the transistor 32 is off. Thus, C 21 and C 22 are set so that V 21 = −V s and V 22 = V s regardless of the input data.
Is charged. Since V 21 = −V s and V 22 = V s , V gs of the transistor 14 when the input 11 is at the GND level becomes V dd + V s and V gs of the transistor 15 when the input 11 is at V dd. V dd + V s , and V gs is increased by V s compared to the general logic circuit shown in FIG. 6, and the current drive capability of the output 12 is increased by that amount, so that high speed is possible.

【0016】このように本発明を用いると図7で示した
従来の低電源電圧での高速化と同等な効果が得られる上
に、V21、V22の電圧が入力の“0”“1”の出現確率
と無関係に設定できるためすべてのランダムロジックに
適用可能であると言った長所を有している。
As described above, when the present invention is used, the same effect as the conventional high-speed operation at a low power supply voltage shown in FIG. 7 can be obtained, and the voltages of V 21 and V 22 are changed to the input “0” “1”. Has the advantage of being applicable to all random logic because it can be set irrespective of the appearance probability of "".

【0017】図2は、上記したインバータ回路を2入力
NAND回路に応用した例であり、図1の容量21、2
2、PMOS31、NMOS32から成る回路を2組有
し、入力端子11と11′に入力する2信号のNAND
論理をとって出力端子12に出力する構成となってい
る。
FIG. 2 shows an example in which the above-described inverter circuit is applied to a two-input NAND circuit.
2, two circuits composed of a PMOS 31 and an NMOS 32, and a two-signal NAND input to input terminals 11 and 11 '.
It is configured to take logic and output to the output terminal 12.

【0018】なお、図2は2入力の実施例であるが、こ
れを多入力にしても同様に構成することができ、図1の
場合と同様な効果を生じさせることが可能である。ま
た、同様に、従来の2入力NOR回路や多入力NOR回
路にも図1の容量21、22、PMOS31、NMOS
32からなる回路を2組あるいは複数組それぞれ付加す
ることにより、同様な効果を生じさせることが可能とな
る。
FIG. 2 shows an embodiment having two inputs. However, the same configuration can be obtained even if the input is multi-input, and the same effect as in the case of FIG. 1 can be produced. Similarly, in the conventional two-input NOR circuit and multi-input NOR circuit, the capacitors 21 and 22, the PMOS 31, and the NMOS 31 shown in FIG.
A similar effect can be obtained by adding two or more sets of 32 circuits.

【0019】図3は本発明の請求項2のインバータ回路
に対する実施例である。接続において容量21、22、
PMOS14、NMOS15は図1に示した実施例の場
合と同様であるがトランジスタ31、32のゲートが出
力端子12に接続されているところが異なる。本回路の
動作を図1の説明と同様の値を用いて説明する。入力1
1に論理“0”が入力されると11はGNDレベルとな
り、トランジスタ14はオン、トランジスタ15はオフ
しなり、出力12はVddとなる。このためトランジスタ
31はオフ、トランジスタ32はオンとなりb点の電位
がVsとなる様に、容量22が充電され、V22=Vsとな
る。このときトランジスタ31はオフしているためV21
は変化しない。入力11に論理“1”が入力されると1
1はVddとなりトランジスタ14はオフ、トランジスタ
15はオンする。このため出力12はGNDレベルとな
る。このときトランジスタ31はオン、トランジスタ3
2はオフする。このためa点の電位がVdd−Vsとなる
様に容量21が充電され、V21=−Vsとなる。このと
きトランジスタ32はオフしているためV22は変化しな
い。この様に本回路によっても図1と同様にV21=−V
s、V22=Vsとすることが出来、同様の効果が得られ
る。さらにトランジスタ31、32のゲートが出力に接
続されているためa点、b点の浮遊容量が小さくなる。
FIG. 3 shows an embodiment of the inverter circuit according to claim 2 of the present invention. In connection, capacity 21, 22,
The PMOS 14 and the NMOS 15 are the same as those in the embodiment shown in FIG. 1, except that the gates of the transistors 31 and 32 are connected to the output terminal 12. The operation of this circuit will be described using the same values as those in FIG. Input 1
When logic "0" is input to 1, 11 goes to the GND level, transistor 14 turns on, transistor 15 turns off, and output 12 goes to Vdd . Thus transistor 31 is off, the transistor 32 is as the potential of the point b becomes ON is V s, capacitor 22 is charged, and V 22 = V s. At this time, since the transistor 31 is off, V 21
Does not change. When logic "1" is input to input 11, 1
1 becomes Vdd , the transistor 14 is turned off, and the transistor 15 is turned on. Therefore, the output 12 is at the GND level. At this time, the transistor 31 is turned on and the transistor 3 is turned on.
2 turns off. Therefore capacitance 21 as the potential of the point a becomes V dd -V s is charged, and V 21 = -V s. At this time, the transistor 32 is not V 22 is varied because it is off. As described above, according to this circuit, V 21 = −V as in FIG.
s , V 22 = V s, and the same effect can be obtained. Further, since the gates of the transistors 31 and 32 are connected to the output, the stray capacitance at points a and b is reduced.

【0020】図4は、図3のインバータ回路をCMOS
トランスファゲート(TGと略す)に適用した例であ
り、11はTGの入力端子、12はTGの出力端子、6
1は正相制御信号端子、62は逆相制御信号端子であ
る。本回路の動作は図3とほぼ同様であるが、トランジ
スタ31、32のオン、オフの制御は相補制御信号によ
り行われている。
FIG. 4 shows the inverter circuit of FIG.
This is an example in which the present invention is applied to a transfer gate (abbreviated as TG), where 11 is an input terminal of the TG, 12 is an output terminal of the TG, 6
1 is a positive phase control signal terminal, and 62 is a negative phase control signal terminal. The operation of this circuit is almost the same as that of FIG. 3, but the on / off control of the transistors 31 and 32 is performed by a complementary control signal.

【0021】さらに、図5は本発明の請求項1と請求項
2を混合して実施した例であり、図2で示した2入力N
AND回路のNMOS側のゲートに請求項1(図1)
を、PMOS側に請求項2(図3)を使用している。
FIG. 5 shows an embodiment in which the first and second aspects of the present invention are mixed, and the two-input N shown in FIG.
Claim 1 (FIG. 1) is applied to the gate on the NMOS side of the AND circuit.
In the PMOS side (FIG. 3).

【0022】[0022]

【発明の効果】以上説明した様に本発明を用いると低電
源電圧で高速に動作するランダムロジックを実現するこ
とができるようになり電池駆動などにより、高い電源電
圧を取れない、パーソナル携帯電話等のLSIの論理回
路として有効である。
As described above, when the present invention is used, a random logic which operates at a high speed with a low power supply voltage can be realized, and a high power supply voltage cannot be obtained due to battery driving or the like. Is effective as an LSI logic circuit.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の請求項1のインバータ回路の実施例
図。
FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of an inverter circuit according to claim 1 of the present invention.

【図2】図1の回路をNAND回路に応用した実施例
図。
FIG. 2 is an embodiment diagram in which the circuit of FIG. 1 is applied to a NAND circuit.

【図3】本発明の請求項2のインバータ回路の実施例
図。
FIG. 3 is a diagram showing an embodiment of an inverter circuit according to claim 2 of the present invention.

【図4】本発明の請求項2をトランスファゲートに応用
した実施例図。
FIG. 4 is an embodiment diagram in which claim 2 of the present invention is applied to a transfer gate.

【図5】本発明の請求項1、請求項2をNAND回路に
応用した実施例図。
FIG. 5 is an embodiment diagram in which claims 1 and 2 of the present invention are applied to a NAND circuit.

【図6】従来の一般的なインバータ回路図。FIG. 6 is a conventional general inverter circuit diagram.

【図7】従来の、低電源電圧で高速動作を図ったインバ
ータ回路図。
FIG. 7 is a conventional inverter circuit diagram for achieving high-speed operation at a low power supply voltage.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

21、22…第1、第2の容量 14、15…第1のPMOS、第1のNMOS 25、26…バイアス用電圧源(Vdd−Vs,Vs) 31、32…第2のPMOS、第2のNMOS21, 22 ... first, second capacitor 14, 15 ... first PMOS, the first NMOS 25 and 26 ... bias voltage source (V dd -V s, V s ) 31,32 ... second PMOS , The second NMOS

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 青山 一生 東京都千代田区内幸町一丁目1番6号 日本電信電話株式会社内 (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H03K 19/0948 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Kazuo Aoyama 1-6, Uchisaiwaicho, Chiyoda-ku, Tokyo Nippon Telegraph and Telephone Corporation (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H03K 19 / 0948

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】第1のPMOSトランジスタと第1のNM
OSトランジスタから成るCMOS論理回路において、
第1のPMOSのゲートを第1の容量を介して入力端子
に、ドレインを出力端子に、ソースを第1の電圧源Vdd
に、第1のNMOSのゲートを第2の容量を介して入力
端子に、ドレインを出力端子に、ソースを第2の電圧源
GNDに接続し、さらに入力バイアス用の第2のPMO
Sと第2のNMOSを有し、第2のPMOSのゲートを
第1のPMOSのゲートに、ドレインを第1のNMOS
のゲートに、ソースをMOSトランジスタのスレッシュ
ホルド電圧Vthより小さい正の電圧値Vsに設定された
第1のバイアス用電圧源に、第2のNMOSのゲートを
第1のNMOSのゲートに、ドレインを第1のPMOS
のゲートに、ソースを電圧値Vdd−Vsに設定された第
2のバイアス用電圧源に接続して、入力端子信号の反転
信号を出力端子に得ることを特徴とするCMOS論理回
路。
1. A first PMOS transistor and a first NM
In a CMOS logic circuit composed of OS transistors,
The gate of the first PMOS is connected to the input terminal via the first capacitor, the drain is connected to the output terminal, and the source is connected to the first voltage source V dd.
The gate of the first NMOS is connected to the input terminal via the second capacitor, the drain is connected to the output terminal, the source is connected to the second voltage source GND, and the second PMO for input bias is further connected.
S and a second NMOS, the gate of the second PMOS being the gate of the first PMOS, and the drain being the first NMOS.
The gate, the first bias voltage source set the source to Suresshuhorudo voltage V th is less than the positive voltage value V s of the MOS transistor, a gate of the second NMOS the first NMOS gate, The drain is the first PMOS
And a source connected to a second bias voltage source set to a voltage value of V dd -V s to obtain a reverse signal of an input terminal signal at an output terminal.
【請求項2】第1のPMOSトランジスタと第1のNM
OSトランジスタから成るCMOS論理回路において、
第1のPMOSのゲートを第1の容量を介して入力端子
に、ドレインを出力端子に、ソースを第1の電圧源Vdd
に、第1のNMOSのゲートを第2の容量を介して入力
端子に、ドレインを出力端子に、ソースを第2の電圧源
GNDに接続し、さらに入力バイアス用の第2のPMO
Sと第2のNMOSを有し、第2のNMOSのゲートを
出力端子に、ソースを第1のNMOSのゲートに、ドレ
インをMOSトランジタのスレッシュホルド電圧Vth
り小さい正の電圧値Vsに設定された第1のバイアス用
電圧源に、第2のPMOSのゲートを出力端子に、ソー
スを第1のPMOSのゲートに、ドレインを電圧値Vdd
−Vsに設定された第2のバイアス用電圧源に接続し
て、入力端子信号の反転信号を出力端子に得ることを特
徴とするCMOS論理回路。
2. A first PMOS transistor and a first NM.
In a CMOS logic circuit composed of OS transistors,
The gate of the first PMOS is connected to the input terminal via the first capacitor, the drain is connected to the output terminal, and the source is connected to the first voltage source V dd.
The gate of the first NMOS is connected to the input terminal via the second capacitor, the drain is connected to the output terminal, the source is connected to the second voltage source GND, and the second PMO for input bias is further connected.
Have the S and the second NMOS, the output terminal of the gate of the second NMOS, the gate of the first NMOS source and drain Suresshuhorudo voltage V th is less than the positive voltage value V s of the MOS Toranjita The set first bias voltage source, the gate of the second PMOS to the output terminal, the source to the gate of the first PMOS, and the drain to the voltage value V dd.
Connected to a second bias voltage source set to -V s, CMOS logic circuit, characterized in that to obtain the inverted signal of the input terminal signal to the output terminal.
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