JPS63258115A - Ttl compatible sell for cmos integrated circuit - Google Patents
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- JPS63258115A JPS63258115A JP63077929A JP7792988A JPS63258115A JP S63258115 A JPS63258115 A JP S63258115A JP 63077929 A JP63077929 A JP 63077929A JP 7792988 A JP7792988 A JP 7792988A JP S63258115 A JPS63258115 A JP S63258115A
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- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
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- H03K19/0013—Arrangements for reducing power consumption in field effect transistor circuits
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明はCMO5技術に於ける電子集積回路の中に信号
入力回路として含まれるTTI、コンパチブルセルに係
りCMOSチ・ツブにTTL論理との互換性を持たせる
ものである。更に詳細には集積回路のパワーダウンの間
パワーの消耗が零であるTTLコンパチブルセルに係る
。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to TTI and compatible cells included as signal input circuits in electronic integrated circuits in CMO5 technology, and provides compatibility with TTL logic in CMOS chips. It is something that gives it sex. More particularly, the present invention relates to a TTL compatible cell that consumes zero power during power down of the integrated circuit.
[従来の技術]
既知の如< VLSI(Very Large 5ca
le Integra−L 1on)はパワーの消耗を
低くするためにしばしばCMO8技術に於て装造される
。パワーの平均消耗を更に減少するために上記の(:M
OSチップに不活性化ビン又はパワーダウンビンを設け
ることも知られており、パワーが供給されているにもか
かわらずいずれかのチップか使用されていない場合にそ
のビンを既知の方法でチップに作用させて回路の消耗の
強制的低下を(実際的には雰の値迄)可能ならしめる。[Prior art] As is known, VLSI (Very Large 5ca
The Integra-L 1on) is often built in CMO8 technology to reduce power consumption. In order to further reduce the average consumption of power, the above (:M
It is also known to provide an OS chip with a deactivation bin or a power down bin, which can be used in a known manner to power down the chip when either chip is powered but not in use. This makes it possible to forcibly reduce the consumption of the circuit (actually, to the lowest value).
しかしながらCMOSチップの多くの入力ビンにはTT
L論理の信号との互換性が要求される。このことはビン
が達する入力回路は0.8v以下の総ての電圧を論理0
として認識し2.OV (時には2.4V)以上の総て
の電圧を論理lとして認識しなければならないことを意
味する。この目的のためにTTLコンバチツルセルとし
て知られている入力回路が用いられ同回路は出力にそれ
ぞれ論理0及び論理lの適当なCMOSレベルを供給し
なければならない。However, many input bins of CMOS chips have TT
Compatibility with L logic signals is required. This means that the input circuit that the bin reaches will accept all voltages below 0.8v as logic 0.
2. This means that all voltages above OV (sometimes 2.4V) must be recognized as logic I. For this purpose, an input circuit known as a TTL convertible cell is used, which circuit must supply the appropriate CMOS levels of logic 0 and logic 1 at the output, respectively.
従来の技術のTTLコンパチブルセルは実質的にはカス
ケード結合された2つのインバータにより構成されてお
り、このインバータの第1のものは上記の2つのTTL
論理レベルを識別するために適したトリッピンク閾値(
例えば1.4V)を有する。Prior art TTL compatible cells essentially consist of two cascaded inverters, the first of which
A suitable tripping threshold (
For example, 1.4V).
パワーダウン状態に於ては以下詳細に説明する様に電源
とアースとの間のセルの入力インバータの中に導通路が
存在し、従ってチップの他の要素の著しく低い消耗に比
べて相当量のパワーが消耗される様な(CMOSチップ
のコントロールのもとに無い) TTL入力信号の中間
レベルが存在するので上記のセルの消耗が比較的高いま
まであることかある。In the power-down state, a conductive path exists in the cell's input inverter between the power supply and ground, as will be explained in detail below, and therefore there is a significant Because there are intermediate levels of TTL input signals (not under the control of the CMOS chip) where power is consumed, the consumption of these cells may remain relatively high.
[発明が解決しようとする課II]
以下更に詳細に説明する様に既知のTTLコンパチブル
セルに於てはこの問題は、このセルにインバータによっ
てコントロールされるMOS )−ランジスタを設け、
チップの外部のTTL論理の電圧を上記のインバータを
非消耗状態にするような極端な値に迄強制的に変化させ
ることによって解決している。[Problem II to be Solved by the Invention] As will be explained in more detail below, in known TTL compatible cells, this problem is solved by providing the cell with a MOS transistor controlled by an inverter,
The solution is to force the voltage of the TTL logic external to the chip to change to an extreme value that will cause the inverter to be non-depletable.
しかしながらこの解決方法は外部TTL論理の状態を変
化させると云う難点を有し、場合によっては例えばこの
TTL論理が更に他の回路を駆動する場合には用いられ
ない、更にこの解決方法は外部論理が電圧発生装置であ
る場合には効果がない。However, this solution has the disadvantage of changing the state of the external TTL logic, which may not be used in some cases, for example if this TTL logic drives further circuits; It has no effect if it is a voltage generator.
即ち本発明の目的は(:MOSチップの中に含まれチッ
プの外部のTTL回路の状態に影響を与えることなく
CMO8集積回路のパワーダウンの間実質的に零消耗状
態に於けるTTLコンパチブルセルな提供するにある。That is, the object of the present invention is to (:) without affecting the state of the TTL circuit included in the MOS chip and outside the chip.
The present invention provides a TTL compatible cell with substantially zero consumption during power down of a CMO8 integrated circuit.
[!!IIIを解決するための手段]
本発明の上記の目的並びに以下明かになる他の目的及び
利点は、カスケード接続された2つのCMOSインバー
タを含みTTL論理の信号を受ける様に集積回路の入力
ピンと連動し1M回路か更にパワーダウンピンを有する
CMOS集積回路用のTTLコンパチブルセルに於て、
CMO5集積回路の上記の入力ピンが並列接続されたそ
れぞれPチャネル及びNチャネルの第1及び第2のMO
Sトランジスタを通じて上記の2つのインバータの第1
のインバータの入力と接続されており第1のトランジス
タはパワーダウンピンによってコントロールされ第2の
トランジスタは上記のパワーダウンピンによって駆動さ
れるインバータによってコントロールされてパワーダウ
ン信号が論理lの時にオフし同信号が論理0の時に能動
となること、及び第1のインバータの入力とアースとの
間に更に他のMOSトランジスタか接続されており、パ
ワーダウン信号が論理lの時に上記の他のMOS トラ
ンジスタを能動し上記の偶゛号が論理0の時にオフする
様に上記の他のMOSトラユノシスタのゲートがコント
ロールされることを特徴とするTTLコンパチブルセル
によって達せられる。[! ! SUMMARY OF THE INVENTION The above objects of the present invention as well as other objects and advantages which will become apparent hereinafter, include two CMOS inverters connected in cascade and interlocked with input pins of an integrated circuit to receive signals of TTL logic. In TTL compatible cells for CMOS integrated circuits with a 1M circuit or a power-down pin,
The above input pins of the CMO5 integrated circuit are connected in parallel to P-channel and N-channel first and second MOs, respectively.
The first of the above two inverters through the S transistor
The first transistor is controlled by the power-down pin, and the second transistor is controlled by the inverter driven by the power-down pin and turns off when the power-down signal is logic 1. When the signal is logic 0, the other MOS transistor is connected between the input of the first inverter and ground, and when the power-down signal is logic 1, the other MOS transistor is activated. This is achieved by a TTL compatible cell characterized in that the gates of the other MOS transistors are controlled such that they are active and turn off when the even signal is logic 0.
[実施例]
以下本発明を添付の実施態様に関する図面に就き詳細に
説明する。[Example] The present invention will now be described in detail with reference to the accompanying drawings relating to embodiments.
従来の技術に係わる第1図に於゛C図には示されていな
いClO2ICの入力ビンlOかそれぞれPチャネル及
びNチャネルの2つのMOSトランジスタ12,14に
より構成された第1のインバータの入力と接続されてお
り、上記のトランジスタはパワー供給電圧Van(通常
5v)とアースGNDとの間に直列に接続されている。In FIG. 1 related to the conventional technology, the input bin 10 of the ClO2IC (not shown in FIG. The above transistors are connected in series between the power supply voltage Van (typically 5V) and the earth GND.
トランジスタ12と14との間のm(ノート)16は2
つのMOSトランジスタ12.20によって形成された
第2のインバータの入力と、第1のインバータと類似の
方法で接続されている。第2のインバータ18.20の
出力22はTTLコンパチブルセルの出力を構成してい
る。m (note) 16 between transistors 12 and 14 is 2
The input of a second inverter formed by two MOS transistors 12.20 is connected in a similar manner to the first inverter. The output 22 of the second inverter 18.20 constitutes the output of the TTL compatible cell.
第1のインバータの出力電圧V o u Lを入力電圧
V inの函数として示す第2図の表に於て、ピン12
に加えられる+Ovから0.8v迄の総ての電圧に対し
てm16はVDDとvx≧vDn−vTPとの間にあり
この際vTPはインバータ18.20のPチャネル闇値
電圧であり、2.OvからVDD迄の総ての入力電圧に
対して1i16はoV(GND)とvy≦vT□との間
にありこの際vTHはインバータ18.20のNチャネ
ル闇値電圧である。In the table of FIG. 2 showing the output voltage V o u L of the first inverter as a function of the input voltage V in , pin 12
For all voltages from +Ov to 0.8V applied to , m16 is between VDD and vx≧vDn-vTP, where vTP is the P-channel dark value voltage of inverter 18.20, and 2. For all input voltages from Ov to VDD, 1i16 is between oV(GND) and vy≦vT□, where vTH is the N-channel dark value voltage of inverter 18.20.
即ち第1の場合にはインバータ18.20は入力に論理
lを有し第2の場合には論理0である。That is, in the first case the inverter 18.20 has a logic l at its input and a logic zero in the second case.
この分野の専門家には既知の様に、入力電圧とGND(
Nチャネルオフ)又はVoo(Pチャネルオフ)との差
が閾値電圧以下の場合にはCMOSインバータはパワー
を消耗しない、即ちこの様な場合には電源とアースとの
間に導通は存在しない。As is known to experts in this field, the input voltage and GND (
If the difference from N channel off) or Voo (p channel off) is less than a threshold voltage, the CMOS inverter does not dissipate power, ie there is no continuity between the power supply and ground in such a case.
逆に第1のインバータ12.14に於ける様ニ入力”!
圧カVTNとvlI=vD0−vipとの間に含まれる
ならば両Nチャネル及びPチャネルは共に導通し、出力
は第2図の表から読取られる値に設定される6例えば入
力が2vならば出力はvyである。これらの場合にはビ
ンに加えられる゛電圧のある値に対して、CMOSチッ
プの部分を構成するTTI、コンパチブルセルの第1の
インバータが回路の他の電流の低い値に比較して相当な
電流を消耗する。Conversely, the input at the first inverter 12.14!
If the voltage is included between VTN and vlI=vD0-vip, both N and P channels will be conductive and the output will be set to the value read from the table in Figure 2.6 For example, if the input is 2V, then The output is vy. In these cases, for a given value of the voltage applied to the bin, the first inverter of the TTI, compatible cell forming part of the CMOS chip draws a significant current compared to the low values of other currents in the circuit. consume.
CMOSチップの部分を構成するTTLコンパチブルセ
ルの中のパワーの消耗を減少又はなくすために第1図の
セルはPiSa図に示す様に改善され同じ符号か第1図
に相当する要素に用いられている。1stのインバータ
12.14と第2のインバータ18.20との間にMO
Sトランジスタ24か挿入されてS、、り tcレイン
は供給電圧VDDにありソースは第2のインバータ18
.20の入力に接続されている。トランジスタ24のソ
ースは更に限定抵抗26を介してビンlOに接続されて
いる。この様にすればピンlOの電圧TTLコンパチブ
ルセルがパワーを消耗する様な値(例えば2.OV)を
取った場合にも節16の電圧はV、となり従ってトラン
ジスタ24は高いゲートソース電圧によって駆動される
。従って電流は限定抵抗26を通ってピン10の方に、
続いて外5TTL回路の方に流れこの回路の出力電圧は
この分野に於ける専門家には明かな様にvboに強制さ
れる。In order to reduce or eliminate power dissipation in the TTL compatible cells forming part of the CMOS chip, the cell of FIG. There is. MO between the 1st inverter 12.14 and the 2nd inverter 18.20
An S transistor 24 is inserted so that the S, , TC line is at the supply voltage VDD and the source is connected to the second inverter 18.
.. Connected to 20 inputs. The source of transistor 24 is further connected via a limiting resistor 26 to bin lO. In this way, even if the voltage at pin lO takes a value such that the TTL compatible cell consumes power (for example, 2.OV), the voltage at node 16 will be V, and therefore transistor 24 will be driven by a high gate-source voltage. be done. Therefore, the current flows through the limiting resistor 26 towards pin 10,
It then flows to the outer 5TTL circuit and the output voltage of this circuit is forced to vbo, as is obvious to those skilled in the art.
冒頭に記載した様に明かにこの解決方法は、チップに至
る外部回路の条件を変えるのでこの外部回路が更に他の
チップを駆動する場合には用いられない、更にこの解決
法はピンがTTL論理ではなく電圧発生装置によってコ
ントロールされる場合には効果がない。Obviously, as mentioned at the beginning, this solution changes the conditions of the external circuitry leading to the chip, so it cannot be used if this external circuitry drives another chip. It has no effect if it is controlled by a voltage generator instead.
本発明により第4図に於てTTLコンパチブルセルは、
カスケード結合されそれぞれ12.14及び18.20
より構成された第1図及び第3I2!に類似の第1及び
第2のインバータを有している。しかしながらビン10
は第1のインバータの入力には直結されておらずそれぞ
れPチャネル及びNチャネルの2つのMOSトランジス
タ28.30を介して並列に接続されている。トランジ
スタ28.30のゲートはI、Cのパワーダウンビン3
1に加えられる信号によってそれぞれ直接に及びインへ
−夕32を介してコントロールされる。パワーダウン信
号は更に第1のインバータ12,14の入力とアース(
GND)との間に接続されているNチャネルトランジス
タ34のゲートをコントロールする。According to the present invention, the TTL compatible cell in FIG.
Cascaded 12.14 and 18.20 respectively
Fig. 1 and Fig. 3 I2 composed of! has first and second inverters similar to. However, bin 10
are not directly connected to the input of the first inverter, but are connected in parallel via two P-channel and N-channel MOS transistors 28 and 30, respectively. The gate of transistor 28.30 is the power down bin 3 of I,C.
1 directly and via input 32, respectively. The power down signal is further connected to the inputs of the first inverters 12, 14 and to ground (
GND) controls the gate of an N-channel transistor 34 connected between the two terminals.
通常の作動条件即ちパワーダウン信号が論理0の場合に
は並列の2つのトランジスタ28゜30は両方とも導通
している一方トランジスタ34がオフであることがわか
るであろう、従ってあたかも要素28.30,32.3
4が存在していない様にセルは11のセルと全く同様に
作動する。It will be seen that under normal operating conditions, i.e. when the power down signal is a logic zero, the two transistors 28.30 in parallel are both conducting while transistor 34 is off, so that elements 28.30 ,32.3
The cell operates exactly like the 11 cell, as if 4 were not present.
パワーダウン信号が能動即ち論理lになるとトランジス
タ28.30がオフする一方トランジスタ34が導通す
る。従ってピンはチップから絶縁される一方インハータ
12,15の入力がアースされそのためVl)6とT丁
しコンパチブルセルのインバータ12.14のアースと
の間には導通路は存在しない。When the power-down signal becomes active, ie, logic 1, transistors 28, 30 turn off while transistor 34 conducts. The pins are therefore isolated from the chip while the inputs of the inverters 12, 15 are grounded so that there is no conductive path between Vl)6 and the ground of the inverters 12, 14 of the T-compatible cells.
要素28,30,32.34を含む追加の回路は従って
CMOSチップに至る内部回路とピンを駆動する外部回
路を分離する回路を構成する。The additional circuitry including elements 28, 30, 32, and 34 thus constitutes a circuit that separates the internal circuitry leading to the CMOS chip and the external circuitry driving the pins.
MS5図は本発明によるTTLコンパチブルセルの第2
の実施形態を示す、この実施形態は第1の形態と類似し
ており同様にカスケード接続された第1のインバータ1
2.14及び第2のインバータ18.20並びに並列接
続された2つのトランジスタ30.28を含みこれらの
トランジスタはパワーダウンビンによって直接に及びイ
ンバータ32を通じてコントロールされる。Figure MS5 is a second diagram of a TTL compatible cell according to the present invention.
This embodiment is similar to the first embodiment and also includes a cascaded first inverter 1
2.14 and a second inverter 18.20 and two transistors 30.28 connected in parallel, which are controlled directly by the power down bin and through the inverter 32.
第1の実施形態と異なりトランジスタ34はPチャネル
型でそのゲートはパワーダウンビン31ではなくインバ
ータ32の出力によってコントロールされる0作動は等
価であることは容易にわかるであろう。It will be easily understood that unlike the first embodiment, the transistor 34 is of a P-channel type and its gate is controlled by the output of the inverter 32 rather than the power down bin 31, and the zero operation is equivalent.
本発明の特に好まれる実施形態に就き記載したたがこの
分野の専門家により本発明の要旨を逸脱することなく容
易に変更されることは理解されるであろう。Although particularly preferred embodiments of the invention have been described, it will be understood that modifications may be readily made by those skilled in the art without departing from the spirit of the invention.
第1図は従来の技術のTTLコンパチブルセルの第1の
型の回路図である。
第2図は入力電圧の南数としての、第1図のセルの出力
電圧の表である。
第3図は従来の技術によるTTLコンパチブルセルの第
2の型の回路図である。
第4図は本発明の特に好まれる第1の実施形態によるT
TLコンパチブルセルの回路図である。
tPIS図は本発明の特に好まれる他の実施形態による
TTLコンパチブルセルの回路図である。
10−・・入力ビン
12.14・・・インバータ
28−PチャネルMOSトランジスタ
30・−NチャネルMOSトランジスタ31−・・パワ
ーダウンピン
32・・・インバータ
34・・・MOSトランジスタFIG. 1 is a circuit diagram of a first type of prior art TTL compatible cell. FIG. 2 is a table of the output voltage of the cell of FIG. 1 as a function of the input voltage. FIG. 3 is a circuit diagram of a second type of TTL compatible cell according to the prior art. FIG. 4 shows a T according to a particularly preferred first embodiment of the invention.
FIG. 2 is a circuit diagram of a TL compatible cell. The tPIS diagram is a circuit diagram of a TTL compatible cell according to another particularly preferred embodiment of the present invention. 10-...Input bin 12.14...Inverter 28-P channel MOS transistor 30--N channel MOS transistor 31-...Power down pin 32...Inverter 34...MOS transistor
Claims (1)
含みTTL論理の信号を受ける様に集積回路の入力ピン
と連動し集積回路が更にパワーダウンピンを有するCM
OS集積回路用のTTLコンパチブルセルに於て、CM
OS集積回路の上記の入力ピン(10)が並列接続され
たそれぞれPチャネル及びNチャネルの第1及び第2の MOSトランジスタ(28、30)を通じて上記の2つ
のインバータ(12、14)の第1のインバータの入力
と接続されており第1のトランジスタはパワーダウンピ
ン(31)によってコントロールされ第2のトランジス
タは上記のパワーダウンピンによって駆動されるインバ
ータ(32)によってコントロールされてパワーダウン
信号が論理1の時にオフし同信号が論理0の時に能動と
なること、及び第1のインバータの入力とアースとの間
に更に他のMOSトランジスタ(34)が接続されてお
り、パワーダウン信号が論理1の時に上記の他のMOS
トランジスタを能動し上記の信号が論理0の時にオフす
る様に上記の他のMOSトランジスタのゲートがコント
ロールされることを特徴とするTTLコンパチブルセル
。 2、上記の他のMOSトランジスタがNチャネル型であ
りそのゲートがパワーダウンピンに接続されていること
を特徴とする請求項1に記載のTTLコンパチブルセル
。 3、上記の他のMOSトランジスタがPチャネル型でそ
のゲートがパワーダウンピンによって駆動されるインバ
ータの出力に接続されていることを特徴とする請求項1
に記載のTTLコンパチブルセル。[Claims] 1. A CM that includes two cascade-connected CMOS inverters and is interlocked with an input pin of an integrated circuit so as to receive a TTL logic signal, and the integrated circuit further has a power-down pin.
CM in TTL compatible cells for OS integrated circuits
The input pin (10) of the OS integrated circuit is connected to the first of the two inverters (12, 14) through the first and second P-channel and N-channel MOS transistors (28, 30) connected in parallel, respectively. The first transistor is controlled by the power down pin (31) and the second transistor is controlled by the inverter (32) driven by the power down pin so that the power down signal is logic. It turns off when the signal is 1 and becomes active when the signal is logic 0, and another MOS transistor (34) is connected between the input of the first inverter and ground, so that the power down signal becomes logic 1. Other MOSs mentioned above when
A TTL compatible cell characterized in that the gate of the other MOS transistor is controlled so that the transistor is activated and turned off when the signal is logic 0. 2. The TTL compatible cell according to claim 1, wherein said other MOS transistor is of N-channel type and its gate is connected to a power down pin. 3. Claim 1, wherein the other MOS transistor is of a P-channel type and its gate is connected to the output of an inverter driven by a power down pin.
TTL compatible cell described in.
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1988
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- 1988-03-30 JP JP63077929A patent/JPS63258115A/en active Pending
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Publication number | Publication date |
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EP0284936A3 (en) | 1989-08-16 |
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