JP3089024B2 - パフ雑音低減マイクロホン - Google Patents

パフ雑音低減マイクロホン

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Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明はダイポール（速度感知）マイクロホン等の
雑音消去カプセルを用いたブームマイクロホンに関する
ものである。
［従来の技術］ ブームマイクロホンは閉鎖型マイクロホンカプセルの
雑音消去効果を最大限にするために話者の唇に非常に近
い所で用いるように意図したものである。マイクロホン
を唇に近く位置させるとしばしば望ましくない音が発生
する。破裂音（ｐ、td等の音）のような唇で高い気流速
度を発生する音声は『パフ雑音』を発生する。この雑音
は唇から発せられた高い気流速度が通常マイクロホンカ
プセルを覆うために設けられる保護格子にぶつかる際に
発生する乱流によって起こる。現状のマイクロホンにお
いて『パフ雑音』を低減する従来の方法としてはマイク
ロホン要素と保護格子の間に発泡層を配置している。雑
音消去効果を良くするためマイクロホンカプセルを唇に
近接させるべくこの発泡層の厚みは最小限にしなければ
ならない。
［発明が解決しようとする課題］ しかし、依然としてある量の『パフ雑音』がマイクロ
ホンカプセルに入る。
この発明の目的はブーム型マイクロホンのパフ雑音の
量を低減することである。
［課題を解決するための手段］ この発明によれば、ブームマイクロホンは保護格子、
材料層、スペーサ、スペーサの横に位置する空き領域を
構成する構造およびマイクロホンカプセルからなり、そ
れらはすべてハウジングに内蔵されている。このブーム
マイクロホンに用いる材料層は発泡体、抵抗性材料等さ
まざまな材料から構成することができる。このブームマ
イクロホンに用いるスペーサもまた空気、連続気泡発泡
体等さまざまな物質から構成することができる。この材
料層とスペーサがハウジング内のマイクロホンカプセル
を覆っている。
ブームマイクロホン内に配置されたマイクロホンカプ
セルは『雑音消去』カプセルであり、効率的に働くには
ユーザーの唇の近くに位置させなければならない。マイ
クロホンカプセルを唇の近くに位置させると、ときに乱
流を起こす。これはパフ雑音とも呼ばれる。この乱流は
高気流速度を有する音声によって起こる。この発明はマ
イクロホンカプセルと材料層の間にスペーサを配置し、
スペーサの横に空き領域を構成する構造を配置すること
によってパフ雑音を低減するものである。空き領域を構
成する構造はスペーサを収容する空隙を空けるために設
けられる。
［作用］ ブームマイクロホン内の材料層とスペーサの厚みは低
減されるパフ雑音の量に影響する。材料層とスペーサの
厚みを大きくするとパフ雑音の量は減少する。しかし雑
音消去効果もまた減少する。それは、話者の唇とマイク
ロホンカプセルの間の距離が大きくなるからである。マ
イクロホンカプセルの雑音消去効果は話者の唇に近い場
所ほど効率的である。良好な厚みは実験から決定しうる
であろう。
［実施例］ 第１図は従来のブームマイクロホン装置の主要構成要
素を示す。話者の音声によって生じた気流１は保護格子
２に向けられる。気流１は保護格子２を通って連続気泡
発泡体３に入って乱流を発生する。その後気流１は連続
気泡発泡体３を通過して、乱流によって誘起された雑音
を伴ってマイクロホンカプセル４に入る。連続気泡発泡
体３の層は乱流によって誘起された雑音、あるいはパフ
雑音を低減するには部分的な効果しか有しない。
第２図はこの発明の実施例を示す。気流１は保護格子
２を通過して高密度の連続気泡発泡体３′に入る。気流
１はその後自由大気のそれに近い放射インピーダンスを
有するスペーサ５に当たる。このインピーダンスレベル
によってスペーサ５からマイクロホンカプセル４に伝達
される乱流によって誘起された雑音の量が低減される。
空き領域（開口）６はパフ雑音を排出する手段を提供す
る。音声や周囲の雑音等の音は発泡体３やスペーサの存
在にはあまり影響されず、マイクロホンカプセル４に伝
達される。マイクロホンカプセル４と保護格子２の間の
スペーサの厚みはブームマイクロホンの効率に影響す
る。高密度の連続気泡発泡体３′とスペーサの厚みは雑
音消去効果（隙間が増大し、マイクロホンが話者の唇か
ら離れるほど減少する。）とパフ雑音の低減との間の妥
協により定まる。良好な距離は実験によって決定しう
る。
第３図は別の実施例を示し、そこにはスペーサ５とし
てエアーギャップ10が用いられ、高密度発泡体とマイク
ロホンカプセルが保護格子２を内蔵するプラスティック
のハウジング７内で離間して保持されている。
第４図はもう一つの実施例を示し、連続気泡発泡層
３′として微細メッシュ布等の抵抗性材料11が用いられ
ている。微細メッシュ布を用いる利点は、気流に対する
所定の抵抗値に必要な微細メッシュ布の厚みが気泡３′
の厚みよりも小さいからである。
この発明はプラスティックの保護格子、材料層として
厚さ2mmの１インチ当たり80の細孔を有する連続気泡発
泡体、スペーサとして厚さ2mmの１インチ当たり30の細
孔を有する発泡体、マイクロホンカプセル、およびプラ
スティックのハウジングから構成することが好適であ
る。
この発明をその実施例について図示、説明してきた
が、当業者には請求範囲に定義したこの発明の精神と範
囲から離れることなく、その実施態様や細部にさまざま
な変更を成しうることが明白であろう。その他の実施例
は請求範囲に含まれるものである。
【図面の簡単な説明】
図面は必ずしも忠実な尺度によらず、この発明の原理を
説明することに重点をおいている。 第１図は従来のブームマイクロホンの斜視図である。 第２図はこの発明の原理にしたがった低パフブームマイ
クロホンの斜視図である。 第３図はスペーサとしてエアーギャップを用いた低パフ
ブームマイクロホンの斜視図である。 第４図は抵抗性材料を用いた低パフブームマイクロホン
の斜視図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 実開 昭61−151495（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭63−165995（ＪＰ，Ｕ) 実公 昭58−18387（ＪＰ，Ｙ２)

Claims (11)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】マイクロホンハウジングを有し、パフ雑音
    を低減させるマイクロホンであって、 （ａ）前記マイクロホンハウジングの終端部を覆う保護
    格子と、 （ｂ）前記マイクロホンハウジング内で前記保護格子の
    近くに配置されたマイクロホンカプセルと、 （ｃ）前記保護格子と前記マイクロホンカプセルとの間
    に配置された材料層と、 （ｄ）前記材料層と前記カプセルとの間に配置されたス
    ペーサであって、そのスペーサを通って前記カプセルに
    伝達されるパフ雑音を減少させるような大きさの放射イ
    ンピーダンスレベルを有するスペーサと、 （ｅ）前記スペーサの横方向に配置された空き領域を画
    成し、その空き領域を通ってマイクロホンハウジングの
    外部にパフ雑音を出すことが可能な構造と、 を備え、前記材料層及び前記スペーサが音声及び周囲雑
    音の音に著しい影響を与えずに前記カプセルに伝達す
    る、マイクロホン。
  2. 【請求項２】前記材料層の厚さは前記マイクロホンがユ
    ーザーの唇に擦れるようにして用いられたとき直接空気
    が流入することを防止するのに十分な厚さである請求項
    １記載のマイクロホン。
  3. 【請求項３】前記材料層の厚さが2mmである請求項１記
    載のマイクロホン。
  4. 【請求項４】前記材料層が１インチ当たり80個の細孔を
    有する連続気泡発泡体の層である請求項３記載のマイク
    ロホン。
  5. 【請求項５】前記スペーサの厚さが2mmである請求項４
    記載のマイクロホン。
  6. 【請求項６】前記スペーサが１インチ当たり30個の細孔
    を有する発泡体の層である請求項３記載のマイクロホ
    ン。
  7. 【請求項７】前記空き領域が少なくとも２つの開口部を
    含む請求項４記載のマイクロホン。
  8. 【請求項８】前記材料層が抵抗性材料からなる請求項１
    記載のマイクロホン。
  9. 【請求項９】前記抵抗性材料が微細メッシュ布である請
    求項８記載のマイクロホン。
  10. 【請求項１０】前記スペーサがエアーギャップである請
    求項１記載のマイクロホン。
  11. 【請求項１１】前記材料層が連続気泡発泡体からなる請
    求項１記載のマイクロホン。
JP02224160A 1989-08-24 1990-08-24 パフ雑音低減マイクロホン Expired - Lifetime JP3089024B2 (ja)

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