JP3085657U - Tie bar cut die structure with anti-scraping - Google Patents

Tie bar cut die structure with anti-scraping

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JP3085657U
JP3085657U JP2001007159U JP2001007159U JP3085657U JP 3085657 U JP3085657 U JP 3085657U JP 2001007159 U JP2001007159 U JP 2001007159U JP 2001007159 U JP2001007159 U JP 2001007159U JP 3085657 U JP3085657 U JP 3085657U
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裕人 坂口
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体パッケージのタイバーカット工程で
発生するダムバーの切りかす上がりを防止したタイバー
カットダイ構造を提供する。 【解決手段】 タイバーカットダイ7のブロック5上面
両側の切刃部分からブロック5の下面に沿って、ブロッ
ク5端面から切刃a 1とそれに続く切刃b2を設け、
切刃a 1の奥行き15寸法が実際にダムバーを切断す
る範囲内の任意位置になる箇所に、切刃段差3(0.0
01mmから0.005mmの範囲)を設けることにし
た。
(57) [Problem] To provide a tie bar cut die structure that prevents a dam bar from chipping and rising generated in a tie bar cutting step of a semiconductor package. SOLUTION: From a cutting edge portion on both sides of an upper surface of a block 5 of a tie bar cutting die 7, along a lower surface of the block 5, a cutting edge a1 and a subsequent cutting edge b2 are provided from an end face of the block 5,
At a position where the depth 15 dimension of the cutting blade a1 is at an arbitrary position within a range where the dam bar is actually cut, a cutting blade step 3 (0.0
(Ranging from 0.01 mm to 0.005 mm).

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】[0001]

【考案の属する技術分野】[Technical field to which the invention belongs]

本考案は、樹脂封止成形された半導体パッケージにおけるリードフレームで、 アウターリード間のダムバーを切断するのに用いる金型に組み込まれているタイ バーカットダイの構造に関するものである。 The present invention relates to a structure of a tie bar cut die incorporated in a die used for cutting a dam bar between outer leads in a lead frame of a semiconductor package formed by resin sealing.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior art]

リードを要した半導体パッケージの製造工程において、半導体素子は樹脂によ るモールド封止が行われ、その後に半導体パッケージのアウターリード間を接続 するダムバーを切除するトリミング工程に至る。図6に示すように、樹脂10で 封止成型された半導体リードフレームの各アウターリード4はダムバー9により 接続された状態である。 In the manufacturing process of a semiconductor package that requires leads, the semiconductor element is molded and sealed with resin, and thereafter, a trimming process is performed in which a dam bar that connects the outer leads of the semiconductor package is cut off. As shown in FIG. 6, each outer lead 4 of the semiconductor lead frame sealed and molded with the resin 10 is in a state of being connected by the dam bar 9.

【0003】 上記ダムバー9を切除するには、半導体パッケージは、図3に示すようなブレ ードによる研削加工もしくはワイヤーカットによる放電加工により切刃を有する ブロック5が櫛刃状に形成されたタイバーカットダイ7を搭載した金型上に搬入 される。図4に示すようにタイバーカットダイ7の上部にはアウターリードのピ ッチに応じて櫛刃状に突出するブロック5が形成されており、各ブロック5の上 面両側の直線縁部が切刃6となっている。図5に樹脂10でモールド封止された 半導体パッケージが金型のタイバーステージに搬入された時点での位置状態を示 した。アウターリード4がダムバー9により接続されており、アウターリード4 の中心軸がタイバーカットダイ7の上面に形成された櫛刃形状のブロック5の中 心軸と同軸となるような垂直方向に位置しており、また、タイバーカットパンチ 8のパンチ刃11の中心軸とタイバーカットダイ7の隣り合うブロック5間の中 心軸とが同軸になるような垂直方向に位置している。In order to cut off the dam bar 9, a semiconductor package is formed by a tie bar in which a block 5 having a cutting edge is formed in a comb blade shape by a grinding process using a blade as shown in FIG. It is carried on the die on which the cut die 7 is mounted. As shown in FIG. 4, blocks 5 are formed on the upper part of the tie bar cutting die 7 so as to protrude like comb teeth in accordance with the pitch of the outer leads, and straight edges on both upper surfaces of each block 5 are cut. The blade 6 is provided. FIG. 5 shows a position state when the semiconductor package molded and sealed with the resin 10 is carried into the tie bar stage of the mold. The outer lead 4 is connected by a dam bar 9, and the center axis of the outer lead 4 is positioned vertically so as to be coaxial with the center axis of the comb-shaped block 5 formed on the upper surface of the tie bar cutting die 7. The tie bar cut punch 8 is positioned in a vertical direction such that the center axis of the punch blade 11 and the center axis between the blocks 5 adjacent to the tie bar cut die 7 are coaxial.

【004】 図7に切断の状態を示した。図7Aはリードフレームがタイバーカットダイ 7上にセットされた状態を示した。図7Bはパンチ刃11がタイバーカットダイ 7に進入した状態を示した。尚、タイバーカットダイ7の切刃6とパンチ刃11 のクリアランス13は通常0.006mmから0.015mmの範囲に設定して いる。図7Dにパンチ刃11がタイバーカットダイ7に進入し、切りかす12が 発生した状態を示した。通常パンチ刃11には、切断時の衝撃を分散させ切断を スムーズに行う為に通常10度から15度のシャー角14をほどこしてある。パ ンチ刃11はタイバーカットダイ7のブロック5下端を越える位置まで進入した 後、進入した逆方向をたどり元の位置まで戻る。ブロック5の下面から出た切り かす12は自重落下もしくは、金型に配管された集塵機により吸引されて金型外 に回収さる構造になっている。FIG. 7 shows a cut state. FIG. 7A shows a state where the lead frame is set on the tie bar cut die 7. FIG. 7B shows a state where the punch blade 11 has entered the tie bar cut die 7. The clearance 13 between the cutting blade 6 of the tie bar cutting die 7 and the punch blade 11 is usually set in the range of 0.006 mm to 0.015 mm. FIG. 7D shows a state in which the punch blade 11 has entered the tie bar cutting die 7 and chippings 12 have been generated. Usually, the punch blade 11 is provided with a shear angle 14 of 10 to 15 degrees in order to disperse the impact at the time of cutting and to smoothly perform cutting. After the punch blade 11 has entered the position beyond the lower end of the block 5 of the tie bar cutting die 7, the punch blade 11 follows the entered reverse direction and returns to the original position. The chips 12 protruding from the lower surface of the block 5 fall under their own weight, or are sucked by a dust collector provided in the mold and collected outside the mold.

【0005】 図8に、ダムバーが切除された正常なタイバーカット済みの半導体パッケージ の状態を示した。各アウターリード4は分離している。FIG. 8 shows a state of a normal tie bar cut semiconductor package from which a dam bar has been cut. Each outer lead 4 is separated.

【0006】[0006]

【考案が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the invention]

しかしながら、上記従来の切断装置においては次のような問題点が生じる。問 題点を図7Dにより説明すると、切断した時、パンチ刃11と切りかす12が圧 着を発生させている場合があり、ブロック5下面で自重落下もしくは集塵機によ る吸引ができずに、パンチ刃11が切りかす12を付着させたままブロック5を 通過し、元のダムバー位置まで戻ってしまう。図7Cに切りかす12が一度切断 したアウターリード位置まで戻り、引っ掛かってしまった状態を示した。この状 態が発生すると、連続して搬入された次の半導体パッケージのタイバーカットを 行う為に金型をかみ合わせると、前回のプレス時に発生していた上記のアウター リード位置に引っ掛かった切りかす12はプレスされて、アウターリード位置に はまり込み、隣り合うアウターリード4が短絡状態になってしまう。この状態で 最終工程までながれてしまう可能性もある。尚、この不良はリード間を短絡させ ており、電気特性を試験するテスト工程にて発見できるが、まれに、切りかすが はまり込んだリードが、半導体パッケージの特性により、それらのリードがグラ ウンド(マイナス極性)に設計されている場合はテスト工程では発見できずに客 先に納入されて、組み立てられた最終製品は市場に出てしまう。これらの最終製 品を消費者が使用する場合に衝撃等が加った場合、リード間にはまり込んだ切り かすが飛散して、他の電子製品の短絡を起こし、機器の誤作動発生をおこす重大 事故につながる可能性がある。本考案はこのような問題点を解決することを課題 とするものである。 However, the conventional cutting device has the following problems. The problem will be described with reference to FIG. 7D. When the cutting is performed, the punch blade 11 and the swarf 12 may generate pressure bonding, and the lower surface of the block 5 cannot be dropped by its own weight or sucked by the dust collector. The punch blade 11 passes through the block 5 with the chip 12 attached thereto, and returns to the original dam bar position. FIG. 7C shows a state in which the chip 12 has returned to the outer lead position once cut and has been caught. When this condition occurs, when the mold is engaged in order to cut the tie bars of the next semiconductor package that has been continuously loaded, the chips that have been caught at the outer lead position generated during the previous press are removed. Is pressed and stuck in the outer lead position, and the adjacent outer leads 4 are short-circuited. In this state, it may flow to the final process. Note that this defect short-circuits the leads and can be found in the test process of testing the electrical characteristics. However, in rare cases, the leads that are stuck in the ground may be grounded due to the characteristics of the semiconductor package. If it is designed to have negative polarity, it will not be found in the test process and will be delivered to the customer, and the assembled final product will go to market. If these final products are used by consumers and subjected to impact, etc., chips that get stuck between the leads will be scattered, causing other electronic products to be short-circuited and malfunctioning of the devices. It could lead to an accident. The purpose of the present invention is to solve such problems.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

上記課題を解決する為の手段として図2に示すように、本考案はタイバーカッ トダイ7のブロック5上面両側の切刃部分でブロック5の下面側へ垂直にブロッ ク5端面から切刃a 1と切刃b 2を設け、切刃a 1の奥行き15寸法が実 際にダムバーを切断する範囲内の任意位置になる箇所に切刃段差3(0.001 mmから0.005mmの範囲)を設けることにした。尚、切刃a 1と切刃b 2の加工はブレードによる研削加工、またはワイヤーカットによる放電加工に て製作を行う。 As a means for solving the above-mentioned problem, as shown in FIG. 2, the present invention relates to a cutting edge portion of the block 5 of the tie bar cutting die 7 which is perpendicular to the lower surface side of the block 5 from the end face of the block 5. A cutting edge b2 is provided, and a cutting edge step 3 (a range of 0.001 mm to 0.005 mm) is provided at a position where the depth 15 of the cutting edge a1 is at an arbitrary position within a range where the dam bar is actually cut. It was to be. The cutting blade a1 and the cutting blade b2 are manufactured by grinding using a blade or electric discharge machining using a wire cut.

【0008】[0008]

【考案の実施の形態】[Embodiment of the invention]

本発明の実施の形態を、図1に示した。図1Aはリードフレームがタイバーカ ットダイ7上にセットされた状態を示した。切刃a 1の奥行き15寸法は、ブ ロックの端面5から実切刃内端16を超えて実切刃外端17を超えない任意の値 となっている。そして、この奥行き15の部分で切刃a 1と切刃b 2の切刃 段差3を設けている。 FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. FIG. 1A shows a state where the lead frame is set on the tie bar cut die 7. The depth 15 dimension of the cutting edge a1 is an arbitrary value that does not exceed the actual cutting edge outer end 17 beyond the actual cutting edge inner end 16 from the end face 5 of the block. And at this depth 15, the cutting edge step 3 of the cutting edge a1 and the cutting edge b2 is provided.

【0009】 図1Bはパンチ刃11がタイバーカットダイ7に進入した状態を示した。タイ バーカットダイ7の切刃b 2とパンチ刃11のクリアランス13は0.006 mmから0.010mmの範囲とし、切刃a 1は切刃b 2に対して0.00 1mmから0.005mmの範囲で段差3を加工してある。切刃b 2とパンチ 刃11のクリアランスは結果的に0.007mmから0.015mmの範囲とな っている。FIG. 1B shows a state where the punch blade 11 has entered the tie bar cut die 7. The clearance 13 between the cutting blade b2 of the tie bar cutting die 7 and the punch blade 11 is in the range of 0.006 mm to 0.010 mm, and the cutting blade a1 is 0.001 mm to 0.005 mm with respect to the cutting blade b2. The step 3 is machined within the range. The clearance between the cutting blade b2 and the punch blade 11 is in the range of 0.007 mm to 0.015 mm as a result.

【0010】 図1Dにパンチ刃11がタイバーカットダイ7に進入し、切りかす12が発生 した状態を示した。パンチ刃11にはシャー角14が15度から30度の範囲で 任意の角度にて加工されている。パンチ刃11のタイバーカットダイ7への進入 により切刃a 1にてダムバー9が途中まで切断され、次に残りのダムバー9の 切断が切刃2で行わる。この時、パンチ刃11によりシャー角14の分だけ切り かす12は回転しながら下方へ押し出されようとする。切刃a 1で切断された 切りかすは、切刃b 2で切断された切かす形状よりも切刃段差3に相当する分 だけ大きく切断されているので、切刃a 1で切断された切かす12の一部(黒 く塗りつぶした箇所)が切刃b 2の壁面と干渉する。切刃b 2による切断が 終了し、切りかす12はパンチ刃11の進入に従い、パンチ刃11の下面で支持 された状態で上記の干渉を継続しながら下降し、切りかす12がブロック5の下 部に数枚(1枚から3枚の範囲)残る位置まで下降した後、パンチ刃11は進入 した逆方向をたどり元の位置まで上昇する。パンチ刃11の上昇開始時において も切りかす12は上記の干渉を維持しつづけており、切りかす12が切刃b 2 の壁面に干渉する力はパンチ刃11の下面に切りかす12が圧着する力よりも勝 っているため、パンチ刃11の上昇開始時にパンチ刃11下面から切りかす12 は分離して切刃b 2の壁面に干渉した状態で残る。FIG. 1D shows a state in which the punch blade 11 has entered the tie bar cutting die 7 and chipping 12 has occurred. The punch blade 11 is machined at an arbitrary shear angle 14 within a range of 15 degrees to 30 degrees. When the punch blade 11 enters the tie bar cutting die 7, the dam bar 9 is cut halfway by the cutting blade a 1, and then the remaining dam bar 9 is cut by the cutting blade 2. At this time, the chip 12 tends to be pushed downward while rotating by the punch angle 11 by the shear angle 14. Since the swarf cut by the cutting blade a1 is cut larger than the swarf shape cut by the cutting blade b2 by an amount corresponding to the cutting edge step 3, the swarf cut by the cutting blade a1 is cut. A part of the residue 12 (the black portion) interferes with the wall surface of the cutting edge b2. The cutting by the cutting blade b 2 is completed, and the chip 12 descends while continuing the above-mentioned interference while being supported by the lower surface of the punch blade 11 as the punch blade 11 enters. After descending to a position where several sheets (range of one to three sheets) remain in the section, the punch blade 11 follows the entered reverse direction and rises to the original position. Even when the punch blade 11 starts to ascend, the chip 12 continues to maintain the above-mentioned interference, and the force of the chip 12 to interfere with the wall surface of the cutting blade b 2 causes the chip 12 to be pressed against the lower surface of the punch blade 11. Since the force exceeds the force, the chip 12 from the lower surface of the punch blade 11 is separated from the lower surface of the punch blade 11 when the punch blade 11 starts ascending and remains in a state of interfering with the wall surface of the cutting blade b2.

【0011】 図1Cにダムバー9の切断が終了し、切りかす12が隣り合うブロック5間で 干渉を維持している状態を示した。FIG. 1C shows a state in which the cutting of the dam bar 9 is completed and the chips 12 maintain the interference between the adjacent blocks 5.

【0012】[0012]

【考案の効果】[Effect of the invention]

上記で説明したように、この本考案の構造によるタイバーカットダイを使用す ることにより確実に切りかす上がりを防止でき、市場での半導体パッケージを組 み込んだ電子製品の使用にあたり、リード間にはまり込んだ切りかすが飛散して 、電子製品の短絡を起こし、機器の誤作動発生をおこす重大事故を防止すること ができる。 As described above, the use of the tie bar cut die with the structure of the present invention can reliably prevent the chip from rising, and when using an electronic product incorporating a semiconductor package in the market, the distance between the leads is reduced. It is possible to prevent a serious accident in which the embedded chips are scattered, causing a short circuit of the electronic product and causing a malfunction of the device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本考案の請求項1の実施例を示し、同図Aはリ
ーフレームが本考案のタイバーカットダイ7上にセット
された状態を示した拡大上面図。同図Bはパンチ刃11
がタイバーカットダイ7に進入した状態を示した拡大上
面図。同図Cはダムバー9の切断が終了し、切りかす1
2が隣り合うブロック5間で干渉を維持している状態を
示した拡大上面図。同図Dはパンチ刃11がタイバーカ
ットダイ7に進入し、切りかす12が発生した状態を示
した同図BにおけるE−Eの拡大断面図。
FIG. 1 shows an embodiment of claim 1 of the present invention, and FIG. 1A is an enlarged top view showing a state where a lead frame is set on a tie bar cut die 7 of the present invention. FIG. B shows a punch blade 11.
2 is an enlarged top view showing a state in which the tool has entered a tie bar cut die 7. FIG. In FIG. C, the cutting of the dam bar 9 is completed, and
FIG. 2 is an enlarged top view showing a state in which interference is maintained between adjacent blocks 5. FIG. D is an enlarged cross-sectional view taken along the line E-E in FIG. B, showing a state where the punch blade 11 has entered the tie bar cutting die 7 and chips 14 have been generated.

【図2】本発明の請求項1の拡大斜視図。FIG. 2 is an enlarged perspective view of claim 1 of the present invention.

【図3】タイバーカットダイの斜視図。FIG. 3 is a perspective view of a tie bar cut die.

【図4】従来のタイバーカットダイの切刃形状を示す拡
大斜視図。
FIG. 4 is an enlarged perspective view showing a cutting edge shape of a conventional tie bar cutting die.

【図5】樹脂10でモールド封止された半導体パッケー
ジが金型のタイバーステージに搬入された時点での位置
状態を示した、タイバーカット前の状態を示した斜視
図。
FIG. 5 is a perspective view showing a state before a tie bar is cut, showing a position state when a semiconductor package molded and sealed with a resin 10 is carried into a tie bar stage of a mold.

【図6】タイバーカット前の状態を示す半導体パッケー
ジの拡大上面図とその拡大側面図。
FIG. 6 is an enlarged top view of a semiconductor package showing a state before a tie bar is cut, and an enlarged side view thereof.

【図7】同図Aはリードフレームが従来のタイバーカッ
トダイ7上にセットされた状態を示した拡大上面図。同
図Bはパンチ刃11が従来タイバーカットダイ7に進入
した状態を示した拡大上面図。同図Cは切りかす12が
一度切断したアウターリード位置まで戻り、引っ掛かっ
てしまった状態を示した拡大上面図。同図Dはパンチ刃
11がタイバーカットダイ7に進入し、切りかす12が
発生した状態を示した同図BにおけるF−Fの拡大断面
図。
FIG. 7A is an enlarged top view showing a state where a lead frame is set on a conventional tie bar cut die 7. FIG. FIG. 2B is an enlarged top view showing a state where the punch blade 11 has entered the conventional tie bar cutting die 7. FIG. 5C is an enlarged top view showing a state in which the chip 12 returns to the outer lead position once cut and is caught. FIG. 4D is an enlarged cross-sectional view taken along line FF in FIG. 4B, showing a state in which the punch blade 11 has entered the tie bar cutting die 7 and chips 12 have been generated.

【図8】タイバーカット済みの状態を示す半導体パッケ
ージの拡大上面図。
FIG. 8 is an enlarged top view of the semiconductor package showing a state where a tie bar has been cut.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 切刃a 2 切刃b 3 切刃段差 4 アウターリード 5 ブロック 6 切刃 7 タイバーカットダイ 8 タイバーカットパンチ 9 ダムバー 10 樹脂 11 パンチ刃 12 切りかす 13 クリアランス 14 シャー角 15 奥行き 16 実切刃内端 17 実切刃外端 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Cutting blade a 2 Cutting blade b 3 Cutting blade step 4 Outer lead 5 Block 6 Cutting blade 7 Tie bar cut die 8 Tie bar cut punch 9 Dam bar 10 Resin 11 Punch blade 12 Cutting chip 13 Clearance 14 Shear angle 15 Depth 16 Actual cutting blade Edge 17 Actual cutting edge outer edge

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Utility model registration claims] 【請求項1】 本考案は、樹脂封止成形された半導体
パッケージにおけるリードフレームで、アウターリード
間のダムバーを切断するのに用いる金型に組み込まれて
いるタイバーカットダイにおいて、櫛刃を形成する各ブ
ロック上面両側のダムバー切刃部分から各ブロックの下
面に向かって垂直に、かつ、ブロック端面から実際にダ
ムバーを切断する切刃範囲内の任意の位置に切刃段差を
設けたことを特徴とするダイの構造に関する考案であ
る。
According to the present invention, a comb frame is formed in a tie bar cut die incorporated in a die used for cutting a dam bar between outer leads in a lead frame of a resin-molded semiconductor package. It is characterized by providing a cutting edge step at any position within the cutting blade range where the dam bar is actually cut from the block end surface, vertically from the dam bar cutting edge portion on both sides of each block toward the lower surface of each block. This is a device relating to the structure of a die to be formed.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100466221B1 (en) * 2002-08-16 2005-01-13 한미반도체 주식회사 Press-mold of a trimming equipment

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