JP3080453B2 - モジュール回路の防湿構造 - Google Patents
モジュール回路の防湿構造Info
- Publication number
- JP3080453B2 JP3080453B2 JP03325443A JP32544391A JP3080453B2 JP 3080453 B2 JP3080453 B2 JP 3080453B2 JP 03325443 A JP03325443 A JP 03325443A JP 32544391 A JP32544391 A JP 32544391A JP 3080453 B2 JP3080453 B2 JP 3080453B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- moisture
- dielectric constant
- proof structure
- porous film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
- Waveguides (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、モジュール回路の防
湿構造に関し、特に、数GHz以上の高周波で使用する
モジュール回路の防湿構造に関する。
湿構造に関し、特に、数GHz以上の高周波で使用する
モジュール回路の防湿構造に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、数GHz以上の高周波で使用する
回路は、同軸線やトリプレートラインなどで構成され、
湿気、結露による配線腐食や電気的な特性変動から保護
されている。また、基板上のストリップラインは、セラ
ミック容器内に封入されるか、防湿コートを施し用いら
れている。
回路は、同軸線やトリプレートラインなどで構成され、
湿気、結露による配線腐食や電気的な特性変動から保護
されている。また、基板上のストリップラインは、セラ
ミック容器内に封入されるか、防湿コートを施し用いら
れている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、同軸線
は接続の煩雑さ、トリプレートラインは回路形成に手間
がかかり生産コストが高くつくのが難点となっている。
は接続の煩雑さ、トリプレートラインは回路形成に手間
がかかり生産コストが高くつくのが難点となっている。
【0004】一方、ストリップラインは、配線接続、回
路形成に伴う問題は解消されるが、セラミック容器を用
いた場合、セラミック容器のコストが高いこと、大量生
産にむかないなどの欠点がある。
路形成に伴う問題は解消されるが、セラミック容器を用
いた場合、セラミック容器のコストが高いこと、大量生
産にむかないなどの欠点がある。
【0005】防湿コートを施して用いた場合、防湿コー
ト材の誘電率が空気よりかなり大きいため電気的な回路
特性が大きく変動する。この特性変動を見込んで回路設
計することは可能であるが、回路設計どおりに防湿コー
ト材の厚み分だけ常にコートする必要があり、数十μm
の厚みを±数μmでコントロールすることは難しい。ま
た、ストリップラインの防湿コート材上に結露した場
合、水の誘電率が約80と非常に大きいため電気的な回
路特性に大きく影響することとなり好ましくない。防湿
コート材で結露の影響を回避するためには、1mm以上
の厚みを必要とするが、この場合、コート材だけで電気
的な回路特性が大きく変化し、回路設計では吸収できな
い場合が生じる。
ト材の誘電率が空気よりかなり大きいため電気的な回路
特性が大きく変動する。この特性変動を見込んで回路設
計することは可能であるが、回路設計どおりに防湿コー
ト材の厚み分だけ常にコートする必要があり、数十μm
の厚みを±数μmでコントロールすることは難しい。ま
た、ストリップラインの防湿コート材上に結露した場
合、水の誘電率が約80と非常に大きいため電気的な回
路特性に大きく影響することとなり好ましくない。防湿
コート材で結露の影響を回避するためには、1mm以上
の厚みを必要とするが、この場合、コート材だけで電気
的な回路特性が大きく変化し、回路設計では吸収できな
い場合が生じる。
【0006】この発明は、高周波回路形成が容易なスト
リップラインの電気的な回路特性をほとんど変えること
無く、防湿性を確保できるモジュール回路の防湿構造を
提供することを目的とする。
リップラインの電気的な回路特性をほとんど変えること
無く、防湿性を確保できるモジュール回路の防湿構造を
提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】この発明のモジュール回
路の防湿構造は、非透湿性で非吸水性のモジュール基板
上に形成されたストリップラインを見かけの誘電率が
2.0以下の撥水性多孔質フィルムで被うようにしたも
のである。なお、この発明における見かけの誘電率と
は、バルクではなく多孔質フィルムの空孔部に例えば空
気等の気泡を含んだ状態の誘電率である。
路の防湿構造は、非透湿性で非吸水性のモジュール基板
上に形成されたストリップラインを見かけの誘電率が
2.0以下の撥水性多孔質フィルムで被うようにしたも
のである。なお、この発明における見かけの誘電率と
は、バルクではなく多孔質フィルムの空孔部に例えば空
気等の気泡を含んだ状態の誘電率である。
【0008】
【作用】この発明においては、ストリップラインを被う
多孔質フィルムの誘電率が空気の誘電率に近いため電気
的な回路特性にはほとんど影響しない。また、多孔質フ
ィルムが撥水性であり、モジュール基板は透湿性、吸水
性がないため、回路を湿気から保護し、高周波特性およ
び信頼性に優れたモジュール回路を構成することができ
る。
多孔質フィルムの誘電率が空気の誘電率に近いため電気
的な回路特性にはほとんど影響しない。また、多孔質フ
ィルムが撥水性であり、モジュール基板は透湿性、吸水
性がないため、回路を湿気から保護し、高周波特性およ
び信頼性に優れたモジュール回路を構成することができ
る。
【0009】
【実施例】次に、図面を参照してこの発明を詳細に説明
する。図1はこの発明の一実施例のモジュール回路の防
湿構造を示す断面構成図である。1は裏面に導体層が施
された透湿性および吸水性がないモジュール基板で、2
はストリップライン、3は見かけの誘電率が2.0以下
の撥水性多孔質フィルムである。
する。図1はこの発明の一実施例のモジュール回路の防
湿構造を示す断面構成図である。1は裏面に導体層が施
された透湿性および吸水性がないモジュール基板で、2
はストリップライン、3は見かけの誘電率が2.0以下
の撥水性多孔質フィルムである。
【0010】この多孔質フィルム3は、ストリップライ
ン2上に必要に応じてシリコーン系、あるいはフッ素系
のコーティング材を介して形成することができる。
ン2上に必要に応じてシリコーン系、あるいはフッ素系
のコーティング材を介して形成することができる。
【0011】上記見かけの誘電率が2.0以下の撥水性
多孔質フィルムの具体例としては、たとえば、ポリテト
ラフルオロエチレン(PTFE)、ポリエチレン(P
E)、ポリプロピレン(PP)、ポリスチレン(PS)
およびこれらの異性体やこれらモノマーの共重合体など
の多孔質フィルムがあげられる。
多孔質フィルムの具体例としては、たとえば、ポリテト
ラフルオロエチレン(PTFE)、ポリエチレン(P
E)、ポリプロピレン(PP)、ポリスチレン(PS)
およびこれらの異性体やこれらモノマーの共重合体など
の多孔質フィルムがあげられる。
【0012】これら多孔質フィルムの見かけの誘電率
(気泡を含んだ状態の膜の誘電率)としては、2.0を
越えると電気的な回路特性に影響を及ぼすようになるの
で、2.0以下が必要で、好ましくは1.5以下であ
る。この誘電率を達成するためには、初期のフィルムの
誘電率にもよるが、気孔率としては、5〜90%が必要
である。
(気泡を含んだ状態の膜の誘電率)としては、2.0を
越えると電気的な回路特性に影響を及ぼすようになるの
で、2.0以下が必要で、好ましくは1.5以下であ
る。この誘電率を達成するためには、初期のフィルムの
誘電率にもよるが、気孔率としては、5〜90%が必要
である。
【0013】これら多孔質フィルムの厚みは、0.1m
m以上が必要で、好ましくは0.5mmから2.0mm
の範囲である。0.1mm未満では、結露水の影響を除
くことができない場合が生じる。2.0mmを越えても
回路特性にはほとんど影響しないが、高密度実装を行う
ためには2.0mmを越えないことが望ましい。
m以上が必要で、好ましくは0.5mmから2.0mm
の範囲である。0.1mm未満では、結露水の影響を除
くことができない場合が生じる。2.0mmを越えても
回路特性にはほとんど影響しないが、高密度実装を行う
ためには2.0mmを越えないことが望ましい。
【0014】次にこの発明の防湿構造を実施例に基づい
てさらに具体的に説明するが、この発明はこれらに限定
されるものではない。
てさらに具体的に説明するが、この発明はこれらに限定
されるものではない。
【0015】実施例1.多孔質フィルムとして、厚さ1
mmの誘電率が1.2および1.6のゴアテックスフィ
ルム(多孔質PTFE:ジャパンゴアテックス(株)
製)、1.5の多孔質ポリエチレンフィルムを用い、こ
れらを各々、アルミナセラミック基板上に形成されたバ
ンドリジェクションフィルターBand Reject
ion Filter(BRF)の回路上に載置し、軽
く押圧して気泡を含んだ状態でBRF回路を被うように
設けた。なお、BRF回路は、アルミナセラミック基板
上に形成されたマイクロストリップラインにより構成さ
れたものを用いた。
mmの誘電率が1.2および1.6のゴアテックスフィ
ルム(多孔質PTFE:ジャパンゴアテックス(株)
製)、1.5の多孔質ポリエチレンフィルムを用い、こ
れらを各々、アルミナセラミック基板上に形成されたバ
ンドリジェクションフィルターBand Reject
ion Filter(BRF)の回路上に載置し、軽
く押圧して気泡を含んだ状態でBRF回路を被うように
設けた。なお、BRF回路は、アルミナセラミック基板
上に形成されたマイクロストリップラインにより構成さ
れたものを用いた。
【0016】また、比較のため多孔質フィルムの変わり
にシリコーンポッティング材(JCR6143:トーレ
・ダウコーニング・シリコーン製)を30μmおよび1
mmコーティングし、150℃、2時間硬化させ、試片
を作製した。
にシリコーンポッティング材(JCR6143:トーレ
・ダウコーニング・シリコーン製)を30μmおよび1
mmコーティングし、150℃、2時間硬化させ、試片
を作製した。
【0017】次に得られた各試片を用い、多孔質フィル
ム、シリコーンポッティング材上の水滴の有無につい
て、測定周波数約10GHzでそれぞれ電気特性を評価
した。その結果を表1に示す。
ム、シリコーンポッティング材上の水滴の有無につい
て、測定周波数約10GHzでそれぞれ電気特性を評価
した。その結果を表1に示す。
【0018】
【表1】
【0019】この実施例1のものはBRF回路の初期の
損失と殆ど変わらず、水滴を垂らしたときの影響も殆ど
無く優れた耐湿性を示した。なお、シリコーンポッティ
ング材を1mmコーティングした試片は、BRF回路の
損失が3dBと初期より大きく、水滴を垂らしたときの
影響は調べなかった。
損失と殆ど変わらず、水滴を垂らしたときの影響も殆ど
無く優れた耐湿性を示した。なお、シリコーンポッティ
ング材を1mmコーティングした試片は、BRF回路の
損失が3dBと初期より大きく、水滴を垂らしたときの
影響は調べなかった。
【0020】実施例2.誘電率が1.2のゴアテックス
フィルム(上記と同じ)の厚さを 0.5、1.0およ
び2.0mmと変え、シリコーンポッティング材(JC
R6143)を介してBRF回路上に接着した。JCR
6143の厚みは、約10μmとし、150℃、2時間
硬化させた。
フィルム(上記と同じ)の厚さを 0.5、1.0およ
び2.0mmと変え、シリコーンポッティング材(JC
R6143)を介してBRF回路上に接着した。JCR
6143の厚みは、約10μmとし、150℃、2時間
硬化させた。
【0021】次に得られた各試片を用い、実施例1と同
様の評価を行った。その結果を表2に示す。
様の評価を行った。その結果を表2に示す。
【0022】
【表2】
【0023】上記実施例と同様BRF回路の初期の損失
と殆ど変わらず、多孔質フィルム上に水滴を垂らしたと
きでもその影響は殆ど見られない。また、Reject
ion周波数のずれについても評価したところ、同様の
結果となった。
と殆ど変わらず、多孔質フィルム上に水滴を垂らしたと
きでもその影響は殆ど見られない。また、Reject
ion周波数のずれについても評価したところ、同様の
結果となった。
【0024】実施例3.アルミナセラミック基板上に、
クロム/金の薄膜対向配線を設けた評価基板を用い、見
かけの誘電率が1.2のゴアテックスフィルム(上記と
同じ)の厚さを0.5、1.0および2.0mmと変
え、シリコーンポッティング材(JCR6143)を介
して接着した。JCR6143の厚みは、約10μmと
し、150℃、2時間硬化させた。
クロム/金の薄膜対向配線を設けた評価基板を用い、見
かけの誘電率が1.2のゴアテックスフィルム(上記と
同じ)の厚さを0.5、1.0および2.0mmと変
え、シリコーンポッティング材(JCR6143)を介
して接着した。JCR6143の厚みは、約10μmと
し、150℃、2時間硬化させた。
【0025】次に、得られた各試片およびクロム/金の
薄膜対向配線を設けたアルミナセラミック基板のみで、
耐湿性評価を行った。その条件は、PCT(Press
ure Cooker Test)121℃、2気圧
下、DCバイアス5V印加で、配線のマイグレーション
による絶縁抵抗変化で調べた。その結果を表3に示す。
薄膜対向配線を設けたアルミナセラミック基板のみで、
耐湿性評価を行った。その条件は、PCT(Press
ure Cooker Test)121℃、2気圧
下、DCバイアス5V印加で、配線のマイグレーション
による絶縁抵抗変化で調べた。その結果を表3に示す。
【0026】
【表3】
【0027】クロム/金の対向配線を設けたアルミナセ
ラミック基板は、約10分で配線間絶縁抵抗が 106Ω
まで低下したのに対し、配線上にJCR6143を介し
て多孔質フィルムを接着した試片は、200時間まで絶
縁抵抗の低下は起こらなかった。
ラミック基板は、約10分で配線間絶縁抵抗が 106Ω
まで低下したのに対し、配線上にJCR6143を介し
て多孔質フィルムを接着した試片は、200時間まで絶
縁抵抗の低下は起こらなかった。
【0028】
【発明の効果】この発明のモジュール回路の防湿構造
は、見かけの誘電率が2.0以下の撥水性多孔質フィル
ムを非透湿性で非吸水性のモジュール基板に形成された
高周波回路上に設けた構造となっているため、電気的な
回路特性を殆ど損なうこと無しに優れた耐湿性を有し、
高周波モジュールなどの回路に好適に使用できるという
効果を奏する。
は、見かけの誘電率が2.0以下の撥水性多孔質フィル
ムを非透湿性で非吸水性のモジュール基板に形成された
高周波回路上に設けた構造となっているため、電気的な
回路特性を殆ど損なうこと無しに優れた耐湿性を有し、
高周波モジュールなどの回路に好適に使用できるという
効果を奏する。
【図1】この発明の実施例1を示す断面構成図である。
1 モジュール基板 2 ストリップライン 3 多孔質フィルム
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 野田 アツコ 尼崎市塚口本町8丁目1番1号 三菱電 機株式会社 材料デバイス研究所内 (72)発明者 藤原 多計治 尼崎市塚口本町8丁目1番1号 三菱電 機株式会社 通信機製作所内 (72)発明者 佐藤 裕之 尼崎市塚口本町8丁目1番1号 三菱電 機株式会社 通信機製作所内 (72)発明者 馬場 文明 尼崎市塚口本町8丁目1番1号 三菱電 機株式会社 材料デバイス研究所内 (56)参考文献 特開 昭62−55991(JP,A) 特開 昭62−55992(JP,A) 特開 昭63−114296(JP,A) 特開 昭62−199056(JP,A)
Claims (1)
- 【請求項1】 高周波回路および高周波デバイスを有す
る、非透湿性で非吸水性のモジュール基板のストリップ
ラインを見かけの誘電率が2.0以下の撥水性多孔質フ
ィルムで被ったことを特徴とするモジュール回路の防湿
構造。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP03325443A JP3080453B2 (ja) | 1991-12-10 | 1991-12-10 | モジュール回路の防湿構造 |
US07/939,734 US5276414A (en) | 1991-12-10 | 1992-09-02 | Moistureproof structure for module circuits |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP03325443A JP3080453B2 (ja) | 1991-12-10 | 1991-12-10 | モジュール回路の防湿構造 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05160558A JPH05160558A (ja) | 1993-06-25 |
JP3080453B2 true JP3080453B2 (ja) | 2000-08-28 |
Family
ID=18176921
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP03325443A Expired - Fee Related JP3080453B2 (ja) | 1991-12-10 | 1991-12-10 | モジュール回路の防湿構造 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3080453B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0722741A (ja) * | 1993-07-01 | 1995-01-24 | Japan Gore Tex Inc | カバーレイフィルム及びカバーレイフィルム被覆回路基板 |
EP2053908B1 (en) * | 1999-08-12 | 2011-12-21 | Ibiden Co., Ltd. | Multilayer printed wiring board with a solder resist composition |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0644667B2 (ja) * | 1985-09-05 | 1994-06-08 | 住友電気工業株式会社 | シ−ルド付可撓性プリント回路基板 |
JPH0644668B2 (ja) * | 1985-09-05 | 1994-06-08 | 住友電気工業株式会社 | シ−ルド付可撓性プリント回路基板 |
-
1991
- 1991-12-10 JP JP03325443A patent/JP3080453B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05160558A (ja) | 1993-06-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5276414A (en) | Moistureproof structure for module circuits | |
US7364598B2 (en) | Method of making an orientation-insensitive ultra-wideband coupling capacitor | |
EP0431524B1 (en) | A ceramic substrate material coated with an amorphous fluorine resin | |
US5172304A (en) | Capacitor-containing wiring board and method of manufacturing the same | |
US4163072A (en) | Encapsulation of circuits | |
US5130889A (en) | Integrated circuit protection by liquid encapsulation | |
US4532016A (en) | Capacitive hygrometer and its production process | |
US4557946A (en) | Moisture impermeability or organosilicone films | |
WO1995030231A1 (en) | Capacitive humidity sensor with polyimide dielectric | |
KR19980081733A (ko) | 금속증착필름, 그 제조방법 및 그것을 사용한 콘덴서 | |
US20220033617A1 (en) | Dielectric substrate and method of forming the same | |
KR100428225B1 (ko) | 온도 보상용 박막 콘덴서 및 전자 기기 | |
JP3080453B2 (ja) | モジュール回路の防湿構造 | |
Hyun et al. | Frequency and temperature dependence of dielectric constant of epoxy/BaTiO 3 composite embedded capacitor films (ECFs) for organic substrate | |
JP2854451B2 (ja) | モジュール回路の防湿構造 | |
US4558393A (en) | Moisture sensor | |
US5744232A (en) | Low loss, thick film metallizations for multilayer microwave packaging | |
JPH0447978B2 (ja) | ||
JPH08228105A (ja) | マイクロストリップ基板 | |
JPH0140443B2 (ja) | ||
CN217588576U (zh) | 一种负电阻温度系数的复合薄膜芯片电阻器 | |
Al-Dhhan et al. | Alternating current electrical properties of evaporated cerium dioxide films | |
Katumba et al. | Effects of thickness and composition on the resistivity of Cu-MgF2 cermet thin film resistors | |
Rane et al. | Moisture Ambient Effects on an Al2O3 Thin‐thick Film Overlaid Parallel Coupled Broad‐band Microstrip Filter | |
JP2961925B2 (ja) | 回路基板 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |