JP3057786B2 - Layout verification system - Google Patents

Layout verification system

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JP3057786B2
JP3057786B2 JP3068201A JP6820191A JP3057786B2 JP 3057786 B2 JP3057786 B2 JP 3057786B2 JP 3068201 A JP3068201 A JP 3068201A JP 6820191 A JP6820191 A JP 6820191A JP 3057786 B2 JP3057786 B2 JP 3057786B2
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window
layout
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真澄 中尾
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NEC Corp
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、LSI用レイアウト検
証システムに関し、特に大規模回路接続検証システムに
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an LSI layout verification system, and more particularly to a large-scale circuit connection verification system.

【0002】[0002]

【従来の技術】レイアウト検証システムは、図形寸法検
証(DRCという)と回路接続検証(LVSという)と
からなる。一般に、レイアウトデータはセルと呼ばれる
データ集合からなり、チップ全体も1つのセルである。
2. Description of the Related Art A layout verification system includes a graphic dimension verification (DRC) and a circuit connection verification (LVS). Generally, layout data is composed of a data set called a cell, and the entire chip is also one cell.

【0003】各セルは、図5(a)〜(c)に示すよう
なプリシティブと称される基本図形と下位のセルから構
成される。この基本図形としては、図5(a)のように
座標(X1,Y1)〜(X6,Y6)をもつ多角形(ポ
リゴン)、図6(b)のように対角座標(X1,Y
1),(X2,Y2)をもつ矩形(レクタングル)およ
び図6(C)のように所定パス幅Dをもつ座標(X1,
Y1)〜(X4,Y4)の幅付き線(パス)が示されて
いる。
[0003] Each cell is composed of a basic figure called pre-sensitive and lower-order cells as shown in FIGS. The basic figure includes a polygon having coordinates (X1, Y1) to (X6, Y6) as shown in FIG. 5A, and diagonal coordinates (X1, Y) as shown in FIG.
1), a rectangle (rectangle) having (X2, Y2) and coordinates (X1, Y2) having a predetermined path width D as shown in FIG.
Y1) to (X4, Y4) are shown with width lines (passes).

【0004】図6(a)はあるチップのレイアウト図
で、チップの中にセルA〜Dが含まれるが、この構成
は、図(b)のように、チップ中のセルAの中にセル
C,Dを含むという階層構造を示している。この他の基
本データとしては、図7(a),(b)に示すように、
レイアウト図形に付属されるテキストと属性があり、こ
れは文字情報と図形情報とをもっている。すなわち、図
(a)にはテキストAB図(b))には属性AB
例を示す
[0004] FIGS. 6 (a) is a layout diagram of a chip that include, but are cells A~D in the chip, this arrangement, as in FIG. 6 (b), in the cell A in the chip A hierarchical structure including cells C and D is shown. As other basic data, as shown in FIGS. 7A and 7B,
There are text and attributes attached to the layout graphic, which have character information and graphic information. That is, the figure
7 (a) to attribute AB is the text AB Figure 7 (b)) is
Here is an example .

【0005】図8は従来の回路接続検証の手順を示すフ
ローチャートである。まずステップ10で、検査対象セ
ルの階層展開を行いプリシティブだけに分ける。次に、
ステップ11で、図形演算を行う。この図形演算は、図
9(a)〜(c)に示すように図形演算のうち論理和
(OR)、論理積(AND)、論理差(SUB)を組み
合わせて実行し、素子(MOSトランジスタ,抵抗,M
OSキャパシタ)図形を作成する。さらに、図(d)
で示すような包含検査を行い、回路接続情報を作成す
る。
FIG. 8 is a flowchart showing the procedure of a conventional circuit connection verification. First, in step 10, the cells to be inspected are hierarchically expanded and divided into only pre-sensitive cells. next,
In step 11, a graphic operation is performed. This graphic operation is executed by combining a logical sum (OR), a logical product (AND), and a logical difference (SUB) among the graphic operations as shown in FIGS. Resistance, M
OS capacitor) figure is created. Further, FIG. 9 (d)
Is performed, and circuit connection information is created.

【0006】この回路接続情報は、ネットリストと呼ば
れている。図10はこのネットリストの一例を説明する
回路図であり、この回路シミュレーションシステムSP
ICEの入力データは次のようになる。
This circuit connection information is called a netlist. FIG. 10 is a circuit diagram for explaining an example of this netlist. This circuit simulation system SP
The input data of the ICE is as follows.

【0007】M1 VDD A B VDD PMO
S L=3 W=20 M2 B A GND GND NMOS L=2 W
=10 この時テキスト又は節点名に対する属性があると、ネッ
トリスト中にその名称が出力されるが、どちらもない節
点は自動的に節点名を作成し出力する。
[0007] M1 VDD AB VDD PMO
SL = 3 W = 20 M2 B A GND GND NMOS L = 2 W
= 10 At this time, if there is an attribute for the text or the node name, the name is output in the netlist, but for nodes that have neither, the node name is automatically created and output.

【0008】最後に、ステップ13でこのネットリスト
とあらかじめ用意したネットリスト(通常は回路シミュ
レーション用データ)を照合する。
Finally, in step 13, this net list is compared with a previously prepared net list (normally, circuit simulation data).

【0009】現在、回路接続検証の課題は大規模高速化
である。通常、実行速度10MIPS、主記憶要領32
メガバイトのコンピュータは10万トランジスタが限界
で、実行時間も20時間程度かかっている。このため、
大規模なレイアウト検証にはセルの階層を利用して、下
位のセルから順に検証を行う方法がとられている。
[0009] At present, the problem of circuit connection verification is to increase the speed of a large scale. Normally, execution speed is 10 MIPS, main memory procedure is 32
A megabyte computer has a limit of 100,000 transistors and takes about 20 hours to execute. For this reason,
For large-scale layout verification, a method has been adopted in which verification is performed in order from the lower cell using a cell hierarchy.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来のレイア
ウトデータの階層を利用する回路接続検証では、各セル
が用意した回路の一部(部分回路)と対応するとは限ら
ない、また各セルが重なっている状態ので誤りを発見で
きない等の問題点があった。
In the above-described conventional circuit connection verification using the layout data hierarchy, each cell does not always correspond to a part (partial circuit) of the prepared circuit, and each cell overlaps. However, there is a problem that an error cannot be found in the state where the error occurs.

【0011】本発明の目的は、これらの欠点を除き、回
路検証を分割して実行することにより、正確な回路検証
を高速に実行できるようにしたレイアウト検証システム
を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a layout verification system which can execute accurate circuit verification at high speed by dividing and executing circuit verification while eliminating these drawbacks.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明のレイアウト検証
システムの構成は、回路レイアウトデータの指定した範
囲をウィンドウとして抽出する抽出手段とこの抽出手
段により抽出したウィンドウを上位セル、このウ
ィンドウを下位セルとして分割する分割手段と
前記各ウィンドウの境界に節点名属性付き端子図形から
なる節点情報データを発生させるデータ発生手段と、前
記上位セルの回路検証および前記下位セルの回路検証を
前記節点情報データに対応づけてそれぞれ分割して行う
検証手段とを有することを特徴とする。
Layout verification system configuration of the SUMMARY OF THE INVENTION The present invention includes an extraction means for extracting a specified range of the circuit layout data as a window, the extracted hand
Order cell outer side of the window extracted by the step, dividing means for dividing the inner side of the window as a subordinate cell,
From the node name attribute with the terminal figure on the boundary of each window
A data generating means for nodal information data Ru is generated comprising a circuit verification and circuit verification of the subcells of the upper cell
Performs each division in association with the node information data
And wherein the Rukoto to have a verification means.

【0013】[0013]

【実施例】図1は本発明の一実施例を説明するフロー
図、図2は図1の実施例を説明するレイアウト図であ
る。ここでは、予め指定されたレイアウトの範囲でウィ
ンドウA,Bをくり抜き、これらウィンドウA,Bの境
界で節点名(自動発生)、属性P・1〜P・3をもった
端子図形C〜Eが付加されている。
FIG. 1 is a flowchart for explaining one embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a layout diagram for explaining the embodiment of FIG. Here, windows A and B are cut out within the range of the layout specified in advance, and terminal figures C to E having node names (automatically generated) and attributes P. Has been added.

【0014】このように構成すると、図3(a)のよう
にウィンドウA,B内が下位セル、ウィンドウ外が上位
セルの2階層レイアウト(図3(C))データを作成す
ることになる。なお、図3(b)はウィンドウA,B内
のレイアウトを示す。
With this configuration, as shown in FIG. 3A, two-layer layout data (FIG. 3C) of lower cells in windows A and B and upper cells outside windows are created. FIG. 3B shows the layout in windows A and B.

【0015】本実施例のフロー(図1)において、ステ
ップ1で階層展開を行い、ステップ2でウィンドウA,
Bに分割する。これらウィンドウA,Bはステップ3で
上位セルのウィンドウ外を検証し、ステップ4で下位セ
ルのウィンドウ内を検証する。これら検証は、従来例
(図8)と同じ手順で行われる。
In the flow of this embodiment (FIG. 1), the hierarchy is expanded in step 1 and the windows A,
Divide into B. These windows A and B are verified outside the upper cell window in step 3 and inside the lower cell window in step 4. These verifications are performed in the same procedure as in the conventional example (FIG. 8).

【0016】この場合、本来1つの節点に複数の節点名
が端子図形を介して与えられる可能性がある。この場合
は上位セル検証(ステップ3)の等電位追跡で、次の表
1のような節点名対応表を用意すればよい。
In this case, there is a possibility that a plurality of node names are originally given to one node via a terminal graphic. In this case, it is sufficient to prepare a node name correspondence table as shown in the following Table 1 in the equipotential tracking of the upper cell verification (step 3).

【0017】 [0017]

【0018】すなわち、節点名テキストや節点名属性が
表れるとノード(NODE)に格納し、同電位が判明し
た段階で対応するテキストを指定するデータ(ポイン
タ)をリスト(LIST)に書き込むことにより対応づ
けられる。
That is, when a node name text or a node name attribute appears, it is stored in a node (NODE), and when the same potential is found, data (pointer) designating the corresponding text is written in a list (LIST). Attached.

【0019】また、ウィンドウの切り出し、くり抜き
は、例えば、ウィンドウを図形と見なし各プリシティブ
との論理積、論理差を実行することにより実現すること
ができる。また端子図形はウィンドウ内にもウィンドウ
外にも含まれるもととする。
Further, cutout window hollowed out, for example, a logical product of each Purishitibu regarded windows and graphics, it can <br/> be realized by executing a logical difference. In addition, it is assumed that the terminal graphic is included both inside and outside the window.

【0020】図4は本発明の第2の実施例を示すレイア
ウト図である。ここではウィンドウ境界にウィンドウ内
外にも節点名テキストを自動的に付加している。本実施
例は、第1の実施例に比較すると、テキストであるた
め、ウィンドウ分割後も目視しやすい長所がある。
FIG. 4 is a layout diagram showing a second embodiment of the present invention. Here, the node name text is automatically added to the inside and outside of the window at the window boundary. This implementation
The example has an advantage that it is easy to see even after the window is divided because the example is text as compared with the first example .

【0021】[0021]

【発明の効果】以上説明したしように本発明は、ウィン
ドウ内を下位セル、ウィンドウ外を上位セルとし、この
ウィンドウ境界に節点情報データを発生してウィンドウ
を部分回路に対応する範囲にとることにより、回路接続
検証を分割して実行することができる。通常、ウィンド
ウは10個程度は可能であるから、これら部分回路を平
行して検証すれば、10倍程度の大規模化高速化が可能
となり、回路接続検証を正確にすると共に、高速に実行
できるという効果を有する。
As described above, according to the present invention, the lower cell is set in the window and the upper cell is set outside the window, and node information data is generated at the boundary of the window to set the window in a range corresponding to the partial circuit. The circuit connection verification can be divided and executed. Normally, about 10 windows are possible. Therefore, if these partial circuits are verified in parallel, it is possible to increase the scale by about 10 times and to speed up the circuit connection verification and to execute at high speed. It has the effect of.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例を説明するフロー図。FIG. 1 is a flowchart illustrating an embodiment of the present invention.

【図2】図1の実施例を説明するレイアウト図。FIG. 2 is a layout diagram for explaining the embodiment of FIG. 1;

【図3】図1の実施例の階層構造を示すレイアウト図。FIG. 3 is a layout diagram showing a hierarchical structure of the embodiment of FIG. 1;

【図4】本発明の第2の実施例を示すレイアウト図。FIG. 4 is a layout diagram showing a second embodiment of the present invention.

【図5】(a),(b),(c)はプリシティブの三例
を示す平面図。
FIGS. 5A, 5B, and 5C are plan views showing three examples of pre-sensitivity.

【図6】(a),(b)はレイアウトデータの階層構造
を示すレイアウト図。
FIGS. 6A and 6B are layout diagrams showing a hierarchical structure of layout data.

【図7】(a),(b)はレイアウト図形に示されるテ
キスト,属性の一例を示すレイアウト図。
FIGS. 7A and 7B are layout diagrams showing an example of text and attributes shown in a layout graphic.

【図8】従来の回路接続検証の一例のフロー図。FIG. 8 is a flowchart of an example of a conventional circuit connection verification.

【図9】(a)〜(d)は図形演算の各例を示す模式
図。
FIGS. 9A to 9D are schematic diagrams showing examples of graphic operations.

【図10】回路シミュレーションシステムSPICEの
ネットリストの一例の入力データを説明する回路図。
FIG. 10 is a circuit diagram illustrating input data of an example of a netlist of the circuit simulation system SPICE.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1〜4,10〜13 処理ステップ A,B ウィンドウ C,D,E 端子図形 1-4, 10-13 Processing steps A, B Window C, D, E Terminal figure

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 回路レイアウトデータの指定した範囲を
ウィンドウとして抽出する抽出手段とこの抽出手段に
より抽出したウィンドウを上位セル、このウィン
ドウを下位セルとして分割する分割手段と、前記
各ウィンドウの境界に節点名属性付き端子図形からなる
節点情報データを発生させるデータ発生手段と、前記上
位セルの回路検証および前記下位セルの回路検証を前記
節点情報データに対応づけてそれぞれ分割して行う検証
手段とを有することを特徴とするレイアウト検証システ
ム。
The method according to claim 1] specified range of the circuit layout data extraction means for extracting as a window, to the extraction means
More extracted upper cell outer side of the window, and dividing means for dividing the inner side of the window as the lower cell, consisting of the nodes name attributed terminal figure on the boundary of each window
A data generating unit that Ru is generated node information data, a circuit verification and circuit verification of the subcells of the upper cell the
Verification performed by dividing each corresponding to the node information data
Layout verification system according to claim Rukoto to have a means.
【請求項2】 データ発生手段が、各ウィンドウ境界
に、節点名テキストを発生させる請求項1記載のレイア
ウト検証システム。
2. The layout verification system according to claim 1 , wherein the data generation means generates a node name text at each window boundary.
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