JP3056410B2 - 反射光の評価方法 - Google Patents
反射光の評価方法Info
- Publication number
- JP3056410B2 JP3056410B2 JP8000747A JP74796A JP3056410B2 JP 3056410 B2 JP3056410 B2 JP 3056410B2 JP 8000747 A JP8000747 A JP 8000747A JP 74796 A JP74796 A JP 74796A JP 3056410 B2 JP3056410 B2 JP 3056410B2
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、反射光の評価方
法に関するものである。さらに詳しくは、この発明は、
任意の地点における反射光の影響を簡易に評価すること
のできる反射光の評価方法に関するものである。
法に関するものである。さらに詳しくは、この発明は、
任意の地点における反射光の影響を簡易に評価すること
のできる反射光の評価方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術とその課題】任意の地点において、その任
意地点に対して太陽光がどのように照射するのかなどを
調べる場合、太陽からの直達光だけではなく、任意地点
の周辺に存在する建造物などによる反射光の任意地点に
及ぼす影響も評価する必要がある。例えば、任意の地点
に太陽電池を設置する場合では、太陽光を最大限に太陽
電池表面に入射させるために、太陽電池設置点の周辺に
存在する建物などによる反射光の太陽電池表面への影響
を評価することが非常に重要である。
意地点に対して太陽光がどのように照射するのかなどを
調べる場合、太陽からの直達光だけではなく、任意地点
の周辺に存在する建造物などによる反射光の任意地点に
及ぼす影響も評価する必要がある。例えば、任意の地点
に太陽電池を設置する場合では、太陽光を最大限に太陽
電池表面に入射させるために、太陽電池設置点の周辺に
存在する建物などによる反射光の太陽電池表面への影響
を評価することが非常に重要である。
【０００３】また、ある物体を任意の地点に設置する
際、その物体が太陽光を反射しやすいものである場合に
は、該物体による反射光の設置点周辺に存在する建造物
などへの影響を考慮する必要がある。例えば、太陽電池
を任意の地点に設置する場合、一般に太陽電池はその表
面が太陽光を非常に反射しやすい構造となっているた
め、その周囲に対する反射光の影響が懸念される。この
ため、太陽電池による反射光の太陽電池周辺物への影響
を評価することも重要である。
際、その物体が太陽光を反射しやすいものである場合に
は、該物体による反射光の設置点周辺に存在する建造物
などへの影響を考慮する必要がある。例えば、太陽電池
を任意の地点に設置する場合、一般に太陽電池はその表
面が太陽光を非常に反射しやすい構造となっているた
め、その周囲に対する反射光の影響が懸念される。この
ため、太陽電池による反射光の太陽電池周辺物への影響
を評価することも重要である。
【０００４】従来より、この反射光の評価方法として
は、任意地点の周辺に存在する反射光の影響を与える、
または反射光の影響を受ける可能性があると思われる建
造物などの実測図面類と、春夏秋冬における太陽光それ
ぞれの任意地点面への入射角とからその影響を評価する
方法が用いられている。しかしながら、このような従来
の評価方法では、太陽光の任意地点面への入射角は専用
の計算機により容易に測定できるものの、その入射角と
建物などの周辺物との関係を得るためには、個々の周辺
物を一つずつ図面に書き込まなければならないため、非
常に手間と時間を要するという問題があった。
は、任意地点の周辺に存在する反射光の影響を与える、
または反射光の影響を受ける可能性があると思われる建
造物などの実測図面類と、春夏秋冬における太陽光それ
ぞれの任意地点面への入射角とからその影響を評価する
方法が用いられている。しかしながら、このような従来
の評価方法では、太陽光の任意地点面への入射角は専用
の計算機により容易に測定できるものの、その入射角と
建物などの周辺物との関係を得るためには、個々の周辺
物を一つずつ図面に書き込まなければならないため、非
常に手間と時間を要するという問題があった。
【０００５】そこで、この発明は、上記のような従来技
術の欠点を解決するものとして、任意の地点における反
射光の影響を簡易に評価することのできる新しい反射光
の評価方法を提供することを目的としている。
術の欠点を解決するものとして、任意の地点における反
射光の影響を簡易に評価することのできる新しい反射光
の評価方法を提供することを目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明は、上記の課題
を解決するものとして、任意地点に影響を及ぼす任意地
点周辺物による反射光を評価する方法であって、任意地
点において魚眼レンズを搭載したカメラにより半球面像
を撮影し、半球面像撮影時と同じ緯度、傾斜角、方位角
における太陽軌跡を得て、この太陽軌跡と前記半球面像
とを重ね合わせ、太陽軌跡を像の中心に対して対称移動
させることにより反射光の軌跡を得ることを特徴とする
反射光の評価方法を提供する。
を解決するものとして、任意地点に影響を及ぼす任意地
点周辺物による反射光を評価する方法であって、任意地
点において魚眼レンズを搭載したカメラにより半球面像
を撮影し、半球面像撮影時と同じ緯度、傾斜角、方位角
における太陽軌跡を得て、この太陽軌跡と前記半球面像
とを重ね合わせ、太陽軌跡を像の中心に対して対称移動
させることにより反射光の軌跡を得ることを特徴とする
反射光の評価方法を提供する。
【０００７】また、この発明は、任意地点周辺物に影響
を及ぼす任意地点に設置された太陽電池などによる反射
光を評価する方法であって、任意地点において魚眼レン
ズを搭載したカメラにより半球面像を撮影し、任意地点
の緯度、傾斜角、方位角とから太陽軌跡を得ることので
きるプログラムにより、半球面像撮影時と同じ緯度、傾
斜角、方位角における太陽軌跡を得て、この太陽軌跡と
前記半球面像とを重ね合わせ、太陽軌跡を像の中心に対
して対称移動させることにより反射光の軌跡を得ること
を特徴とする反射光の評価方法をも提供する。
を及ぼす任意地点に設置された太陽電池などによる反射
光を評価する方法であって、任意地点において魚眼レン
ズを搭載したカメラにより半球面像を撮影し、任意地点
の緯度、傾斜角、方位角とから太陽軌跡を得ることので
きるプログラムにより、半球面像撮影時と同じ緯度、傾
斜角、方位角における太陽軌跡を得て、この太陽軌跡と
前記半球面像とを重ね合わせ、太陽軌跡を像の中心に対
して対称移動させることにより反射光の軌跡を得ること
を特徴とする反射光の評価方法をも提供する。
【０００８】
【発明の実施の形態】この発明の反射光の評価方法は、
上記の通り、任意地点における魚眼レンズを搭載したカ
メラによる半球面像と、同地点における太陽軌跡とから
反射光の軌跡を得ることにより反射光の評価を行なう。
実際には、まず、任意の地点において、ある傾斜角と方
位角により定まる方向に向けて、魚眼レンズを搭載した
カメラにより半球面像の撮影を行なう。
上記の通り、任意地点における魚眼レンズを搭載したカ
メラによる半球面像と、同地点における太陽軌跡とから
反射光の軌跡を得ることにより反射光の評価を行なう。
実際には、まず、任意の地点において、ある傾斜角と方
位角により定まる方向に向けて、魚眼レンズを搭載した
カメラにより半球面像の撮影を行なう。
【０００９】また、例えば、緯度、傾斜角、方位角とか
ら春夏秋冬の４季節における太陽の軌跡を得ることがで
きるプログラムを用いることにより、半球面像撮影時と
同じ傾斜角と方位角、および半球面像撮影地点と同じ緯
度を入力して、撮影地点における太陽軌跡を得る。この
ようにして得られた半球面像と太陽軌跡とを同じ大きさ
にして重ね合わせることにより一つの像とする。
ら春夏秋冬の４季節における太陽の軌跡を得ることがで
きるプログラムを用いることにより、半球面像撮影時と
同じ傾斜角と方位角、および半球面像撮影地点と同じ緯
度を入力して、撮影地点における太陽軌跡を得る。この
ようにして得られた半球面像と太陽軌跡とを同じ大きさ
にして重ね合わせることにより一つの像とする。
【００１０】そして、この半球面像と太陽軌跡とが重な
り合って成る像において、像の中心に対して太陽軌跡を
対称移動させることにより、半球面像中に存在する、例
えば、建物などの周辺物等による反射光の軌跡を得るこ
とができる。また、任意地点に設置された物体による反
射光の軌跡も同様にして得ることが出来る。
り合って成る像において、像の中心に対して太陽軌跡を
対称移動させることにより、半球面像中に存在する、例
えば、建物などの周辺物等による反射光の軌跡を得るこ
とができる。また、任意地点に設置された物体による反
射光の軌跡も同様にして得ることが出来る。
【００１１】このようにして得られた任意地点における
任意地点周辺物などによる反射光の軌跡を評価すること
により、反射光の任意地点への影響を簡易に求めること
ができる。また、同様に、任意地点に設置された物体に
よる反射光の軌跡を評価することにより、反射光の任意
地点周辺物などへの影響をも簡易に求めることができ
る。
任意地点周辺物などによる反射光の軌跡を評価すること
により、反射光の任意地点への影響を簡易に求めること
ができる。また、同様に、任意地点に設置された物体に
よる反射光の軌跡を評価することにより、反射光の任意
地点周辺物などへの影響をも簡易に求めることができ
る。
【００１２】以下、実施例を示し、図１〜図３を参照し
てさらに詳しくこの発明について説明する。もちろんこ
の発明は以下の例によって限定されるものではない。
てさらに詳しくこの発明について説明する。もちろんこ
の発明は以下の例によって限定されるものではない。
【００１３】
【実施例】この発明の反射光の評価方法を用いることに
より任意の地点における反射光の評価を行なった。ま
ず、ある緯度の地点において、ある傾斜角と方位角によ
り定まる方向に向けて、魚眼レンズを搭載したカメラに
より半球面像の撮影を行なった。図１は、その半球面の
撮影像を例示したものである。この図１において、（５
ａ）、（５ｂ）、（５ｃ）は周辺に存在する障害物を示
している。
より任意の地点における反射光の評価を行なった。ま
ず、ある緯度の地点において、ある傾斜角と方位角によ
り定まる方向に向けて、魚眼レンズを搭載したカメラに
より半球面像の撮影を行なった。図１は、その半球面の
撮影像を例示したものである。この図１において、（５
ａ）、（５ｂ）、（５ｃ）は周辺に存在する障害物を示
している。
【００１４】また、緯度、傾斜角、方位角とから春夏秋
冬の４季節における太陽の軌跡を得ることができるプロ
グラムを用いることにより、半球面像撮影時と同じ傾斜
角と方位角および半球面像撮影地点の緯度を入力して、
撮影地点における春秋分、夏至、冬至時の３つの太陽軌
跡を得た。図２は、その太陽軌跡を例示したものであ
る。この図２において、３つの点線はそれぞれ、北方向
から夏至、春秋分、冬至の太陽軌跡を示している。
冬の４季節における太陽の軌跡を得ることができるプロ
グラムを用いることにより、半球面像撮影時と同じ傾斜
角と方位角および半球面像撮影地点の緯度を入力して、
撮影地点における春秋分、夏至、冬至時の３つの太陽軌
跡を得た。図２は、その太陽軌跡を例示したものであ
る。この図２において、３つの点線はそれぞれ、北方向
から夏至、春秋分、冬至の太陽軌跡を示している。
【００１５】このように得られた半球面像と太陽軌跡と
を同じ大きさにして重ね合わせることにより一つの像と
する。そして、この撮影像と太陽軌跡とが重なり合って
成る像において、像の中心に対して太陽軌跡を対称移動
させることにより、半球面像中に存在する建物などの障
害物からの反射光の軌跡を得た。図３は、得られた反射
光の軌跡を例示したものである。この図３において、３
つの細い点線が、それぞれ夏至、春秋分、冬至時の反射
光の軌跡を示している。
を同じ大きさにして重ね合わせることにより一つの像と
する。そして、この撮影像と太陽軌跡とが重なり合って
成る像において、像の中心に対して太陽軌跡を対称移動
させることにより、半球面像中に存在する建物などの障
害物からの反射光の軌跡を得た。図３は、得られた反射
光の軌跡を例示したものである。この図３において、３
つの細い点線が、それぞれ夏至、春秋分、冬至時の反射
光の軌跡を示している。
【００１６】このようにして、任意方向に向けた魚眼レ
ンズを搭載したカメラによる半球面像と、予め用意され
ているプログラムによる太陽軌跡とを用いることにより
容易に得られた反射光の軌跡を評価することにより、任
意地点における反射光の影響を簡易に求めることができ
た。
ンズを搭載したカメラによる半球面像と、予め用意され
ているプログラムによる太陽軌跡とを用いることにより
容易に得られた反射光の軌跡を評価することにより、任
意地点における反射光の影響を簡易に求めることができ
た。
【００１７】
【発明の効果】以上詳しく説明した通り、この発明は、
任意地点の周辺に存在する建造物などの任意地点周辺物
等による反射光の任意地点への影響、および任意地点に
設置された太陽電池などの物体による反射光の任意地点
周辺物等への影響を容易に評価することができる。さら
に、これらの評価を用いることにより任意地点における
太陽光の照射影響をも正確に簡易に求めることができ
る。
任意地点の周辺に存在する建造物などの任意地点周辺物
等による反射光の任意地点への影響、および任意地点に
設置された太陽電池などの物体による反射光の任意地点
周辺物等への影響を容易に評価することができる。さら
に、これらの評価を用いることにより任意地点における
太陽光の照射影響をも正確に簡易に求めることができ
る。
【図１】魚眼レンズを搭載したカメラによる半球面像を
例示した図である。
例示した図である。
【図２】プログラムによる太陽軌跡を例示した図であ
る。
る。
【図３】反射光の軌跡を例示した図である。
１ａ，１ｂ 建物 ２ 魚眼レンズを搭載したカメラ ３ 太陽 ４ 太陽光 ５ａ，５ｂ，５ｃ 障害物
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 野川 保次 大阪府大阪市北区本庄東２丁目３番41号 株式会社 きんでん内 (56)参考文献 特開 平５−66153（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−220592（ＪＰ，Ａ) 特開 平９−113354（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01J 1/00 - 1/02 G01W 1/12 G01M 11/00
Claims (2)
- 【請求項１】 任意地点に影響を及ぼす任意地点周辺物
による反射光を評価する方法であって、任意地点におい
て魚眼レンズを搭載したカメラにより半球面像を撮影
し、半球面像撮影時と同じ緯度、傾斜角、方位角におけ
る太陽軌跡を得て、この太陽軌跡と前記半球面像とを重
ね合わせ、太陽軌跡を像の中心に対して対称移動させる
ことにより反射光の軌跡を得ることを特徴とする反射光
の評価方法。 - 【請求項２】 任意地点周辺物に影響を及ぼす任意地点
に設置された太陽電池などによる反射光を評価する方法
であって、任意地点において魚眼レンズを搭載したカメ
ラにより半球面像を撮影し、任意地点の緯度、傾斜角、
方位角とから太陽軌跡を得ることのできるプログラムに
より、半球面像撮影時と同じ緯度、傾斜角、方位角にお
ける太陽軌跡を得て、この太陽軌跡と前記半球面像とを
重ね合わせ、太陽軌跡を像の中心に対して対称移動させ
ることにより反射光の軌跡を得ることを特徴とする反射
光の評価方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8000747A JP3056410B2 (ja) | 1996-01-08 | 1996-01-08 | 反射光の評価方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8000747A JP3056410B2 (ja) | 1996-01-08 | 1996-01-08 | 反射光の評価方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09189603A JPH09189603A (ja) | 1997-07-22 |
| JP3056410B2 true JP3056410B2 (ja) | 2000-06-26 |
Family
ID=11482297
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8000747A Expired - Lifetime JP3056410B2 (ja) | 1996-01-08 | 1996-01-08 | 反射光の評価方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3056410B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AT7588U3 (de) * | 2004-10-28 | 2006-01-15 | Leitner Stefan | Schnellverfahren zur bestimmung von möglichen sonnenstunden bzw. schattenzeiten im jahresverlauf |
| JP5283214B2 (ja) * | 2008-05-23 | 2013-09-04 | 国立大学法人宮城教育大学 | 定点観測装置、及び定点観測方法 |
| JP2011160345A (ja) * | 2010-02-03 | 2011-08-18 | Panasonic Corp | 日照確認装置 |
| JP2015059923A (ja) * | 2013-09-20 | 2015-03-30 | 株式会社東芝 | 日射量見積装置、日射量見積方法および日射量見積プログラム |
| CN107388599B (zh) * | 2017-08-02 | 2019-11-05 | 兰州交通大学 | 一种线性菲涅尔式聚光镜场的阴影与遮挡分析优化布设方法 |
-
1996
- 1996-01-08 JP JP8000747A patent/JP3056410B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09189603A (ja) | 1997-07-22 |
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