JP3035451B2 - Substrate surface treatment equipment - Google Patents

Substrate surface treatment equipment

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JP3035451B2
JP3035451B2 JP6190060A JP19006094A JP3035451B2 JP 3035451 B2 JP3035451 B2 JP 3035451B2 JP 6190060 A JP6190060 A JP 6190060A JP 19006094 A JP19006094 A JP 19006094A JP 3035451 B2 JP3035451 B2 JP 3035451B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、半導体デバイス製造
プロセス、液晶ディスプレイ製造プロセス、電子部品関
連製造プロセスなどにおいて、シリコンウエハ、ガラス
基板、電子部品等の各種基板に対し薬液を使用して洗浄
処理等の表面処理を施すのに使用される基板の表面処理
装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor device manufacturing process, a liquid crystal display manufacturing process, an electronic component-related manufacturing process, and the like, for cleaning various substrates such as silicon wafers, glass substrates, and electronic components using a chemical solution. The present invention relates to a substrate surface treatment apparatus used for performing a surface treatment such as the above.

【0002】[0002]

【従来の技術】基板を表面処理、例えば処理槽内で薬液
を使用して洗浄処理する場合、従来の洗浄処理装置で
は、薬液を有効利用するために薬液の一部を循環させて
使用するか、高い洗浄レベルを得るために常に新鮮な薬
液を処理槽へ供給し使用済み薬液をそのまま排出させる
か、何れかの方法を採っていた。従来の装置構成につい
て、図6を参照しながら以下に説明する。
2. Description of the Related Art When a substrate is subjected to a surface treatment, for example, a cleaning treatment using a chemical in a treatment tank, in a conventional cleaning treatment apparatus, a part of the chemical is circulated for effective use of the chemical. In order to obtain a high cleaning level, a fresh chemical solution is always supplied to the treatment tank and the used chemical solution is discharged as it is, or one of the methods has been adopted. A conventional apparatus configuration will be described below with reference to FIG.

【0003】図6の(A)に概略構成を示した基板の洗
浄処理装置は、洗浄用薬液10を収容してその洗浄用薬液
10中に基板Wが浸漬される浸漬処理部14と、この浸漬処
理部14から溢れ出た使用済み薬液16を貯留する溢流貯留
部18とから構成された処理槽12を有している。処理槽12
の浸漬処理部14には、第1の定量タンク120から、薬液
1を純水で適当濃度に希釈した調製薬液122が計量され
て供給されるとともに、第2の定量タンク124から、薬
液2を純水で適当濃度に希釈した調製薬液126が計量さ
れて供給される。また、処理槽12の溢流貯留部18から流
出した使用済み薬液16は、その一部が排液管路128を通
って排出されるとともに、残りの使用済み薬液は、ポン
プ132及びフィルタ134が介挿された循環管路130を通っ
て処理槽12の浸漬処理部14内へ戻されるように構成され
ている。図中の136は、それぞれ開閉制御弁である。
A substrate cleaning apparatus schematically shown in FIG. 6A stores a cleaning solution 10 and stores the cleaning solution 10 therein.
The processing tank 12 includes an immersion processing section 14 in which the substrate W is immersed in the immersion processing section 10 and an overflow storage section 18 for storing a used chemical solution 16 overflowing from the immersion processing section 14. Processing tank 12
The prepared chemical solution 122 obtained by diluting the chemical solution 1 to an appropriate concentration with pure water is measured and supplied from the first quantitative tank 120 to the immersion processing unit 14, and the chemical solution 2 is supplied from the second quantitative tank 124. The prepared chemical solution 126 diluted to an appropriate concentration with pure water is measured and supplied. A part of the used chemical liquid 16 flowing out of the overflow storage part 18 of the treatment tank 12 is discharged through a drain pipe 128, and the remaining used chemical liquid is supplied to a pump 132 and a filter 134. It is configured to be returned to the immersion processing section 14 of the processing tank 12 through the inserted circulation pipeline 130. Reference numeral 136 in the figure is an opening / closing control valve.

【0004】次に、図6の(B)に概略構成を示した基
板の洗浄処理装置は、図6の(A)に示した装置と同様
の処理槽12を有しているが、浸漬処理部14への洗浄用薬
液10の供給は、インラインの混合器138を介して行なわ
れるようになっている。すなわち、薬液1が貯留された
第1の薬液タンク140に流路接続されポンプ144、フィル
タ146及び開閉制御弁148が介挿された薬液1の供給管路
142、薬液2が貯留された第2の薬液タンク150に流路接
続されポンプ154、フィルタ156及び開閉制御弁158が介
挿された薬液2の供給管路152、並びに、純水供給源に
流路接続され開閉制御弁162が介挿された純水供給管路1
60をそれぞれ混合器138に連通接続し、混合器138におい
て薬液1と薬液2と純水とを混合して調製された洗浄用
薬液を処理槽12の浸漬処理部14へ供給するように構成さ
れている。また、処理槽12の溢流貯留部18から流出する
使用済み薬液は、その全部がそのまま排液管路164を通
って排出されるようになっている。
[0006] Next, the substrate cleaning apparatus shown in FIG. 6B has a processing tank 12 similar to the apparatus shown in FIG. The supply of the cleaning chemical solution 10 to the section 14 is performed through an in-line mixer 138. In other words, a supply line for the chemical solution 1 which is connected to the first chemical solution tank 140 storing the chemical solution 1 and in which the pump 144, the filter 146, and the opening / closing control valve 148 are inserted.
142, a flow path connected to a second chemical liquid tank 150 in which the chemical liquid 2 is stored, a pump 154, a filter 156, and a supply pipe line 152 for the chemical liquid 2 interposed with an opening / closing control valve 158, and flowing to a pure water supply source. Pure water supply line 1 connected to the channel and inserted with the on-off control valve 162
Each of the mixers 138 is connected to the mixer 138, and the mixer 138 is configured to supply the cleaning chemical prepared by mixing the chemical 1, the chemical 2, and the pure water to the immersion processing unit 14 of the processing tank 12. ing. The used chemical liquid flowing out of the overflow storage section 18 of the processing tank 12 is entirely discharged as it is through the drain pipe 164.

【0005】また、図6の(C)に概略構成を示した基
板の洗浄処理装置は、基板の搬入口166及び搬出口168を
有し密閉可能な処理槽164の内部に、基板Wを水平姿勢
に保持する基板保持台170、及び、この基板保持台170に
保持された基板Wの上・下両面にそれぞれ対向するスプ
レイノズル172、172を配設し、基板保持台170を鉛直軸
回りに回転駆動させる駆動機構174を設けて構成されて
いる。そして、図6の(B)と同様の構成の洗浄用薬液
供給系によって処理槽164内のスプレイノズル172、172
へ洗浄用薬液を供給し、両スプレイノズル172、172から
基板Wの上・下両面に対して洗浄用薬液を吹き付けるこ
とにより、基板Wの表面を洗浄するようになっている。
スプレイノズル172から基板Wの表面に吹き付けられて
基板Wの洗浄に使用された後基板Wの表面から流下した
使用済み薬液は、図6の(B)に示した装置と同様に、
排気管路176を通ってそのまま排出される。
The substrate cleaning apparatus shown in FIG. 6C has a substrate cleaning port 166 and a substrate output port 168. The substrate holding table 170 holding the posture, and the spray nozzles 172, 172 opposed to the upper and lower surfaces of the substrate W held by the substrate holding table 170, respectively, are disposed, and the substrate holding table 170 is rotated about a vertical axis. A drive mechanism 174 for rotationally driving is provided. Then, the spray nozzles 172, 172 in the processing tank 164 are provided by the cleaning chemical liquid supply system having the same configuration as that of FIG.
The cleaning liquid is supplied to the substrate W and the upper and lower surfaces of the substrate W are sprayed from the spray nozzles 172, 172 to clean the surface of the substrate W.
The used chemical liquid sprayed from the spray nozzle 172 onto the surface of the substrate W and used for cleaning the substrate W, and then flows down from the surface of the substrate W, as in the apparatus shown in FIG.
It is discharged as it is through the exhaust pipe 176.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】図6の(A)に示した
ように洗浄用薬液を循環させて使用する装置では、循環
管路130中にフィルタ134を介挿していても、薬液中の金
属イオンなどをろ過して除去することができない。この
ため、基板をバッチ方式で順次処理していった場合に、
処理槽12内の洗浄用薬液10中に金属イオンなどが次第に
蓄積していき、図7の(A)に示すように(基板表面の
汚染レベルと薬液の汚染レベルとは内容も単位も異なる
が、ここでは、基板表面の汚染レベルとして、薬液の汚
染レベルが或る値のときにその薬液中に基板を無限時間
浸漬させた後の基板表面の汚染レベルを薬液の汚染レベ
ルと同じ縦軸上にとって表わしている。以下に説明する
図7の(B)、(C)並びに図5においても同じ。ま
た、図中の横軸の時間は、各図間において尺度が異な
る。)、1バッチごとに洗浄用薬液10の汚染度合が高く
なり、それに伴って、基板表面の汚染度合も高くなって
いく。このように、洗浄用薬液を循環使用する装置で
は、高い洗浄レベルが得られない、といった問題点があ
る。そして、洗浄処理後の基板の洗浄レベルが必要レベ
ル以下になる前、図示例では3バッチ目が終わった時点
で、処理槽12内の洗浄用薬液10を全て新鮮な薬液と交換
しなければならない。
As shown in FIG. 6 (A), in a device for circulating and using a cleaning chemical, even if a filter 134 is inserted in a circulation line 130, the chemical in the chemical is not removed. Metal ions cannot be removed by filtration. For this reason, when substrates are sequentially processed in a batch system,
Metal ions and the like gradually accumulate in the cleaning chemical solution 10 in the processing tank 12, and as shown in FIG. 7A, (the contamination level of the substrate surface and the contamination level of the chemical solution differ in content and unit. Here, as the contamination level of the substrate surface, the contamination level of the substrate surface after immersing the substrate in the chemical solution for an infinite time when the contamination level of the chemical solution is a certain value is on the same vertical axis as the contamination level of the chemical solution. The same applies to FIGS. 7B and 7C, which will be described below, and FIG. 5. The time on the horizontal axis in the figures differs in scale between the figures.) Then, the degree of contamination of the cleaning solution 10 increases, and accordingly, the degree of contamination of the substrate surface also increases. As described above, there is a problem that a high cleaning level cannot be obtained with an apparatus that uses a cleaning chemical solution in a circulating manner. Then, before the cleaning level of the substrate after the cleaning processing becomes equal to or lower than the required level, in the illustrated example, at the time when the third batch is completed, all the cleaning chemicals 10 in the processing tank 12 must be replaced with fresh chemicals. .

【0007】一方、図6の(B)、(C)に示したよう
に使用済み薬液をそのまま排出してしまう装置では、基
板の表面は常に新鮮な薬液と接触することになるので、
図7の(B)に示すように各バッチ間で等しく、また図
7の(C)に示すように各基板間で等しく、常に高い洗
浄レベルが得られることになる。しかしながら、図6の
(B)、(C)に示した装置では、図6の(A)に示し
た装置に比べて多量の薬液が消費される、といった問題
点がある。さらに、図6の(B)に示すような浸漬式の
処理装置では、処理槽12内において基板Wの表面から除
去されて洗浄用薬液10中に拡散した汚染物質が基板Wの
表面に再付着するのを防止するためには、基板W表面に
沿って液面方向へ流動する洗浄用薬液10の流速を上げる
ことが有効である。しかしながら、そのようにした場合
には、さらに薬液消費量が多くなってしまい、このた
め、安易に洗浄用薬液の流速(供給流量)を上げること
はできなかった。
On the other hand, as shown in FIGS. 6 (B) and 6 (C), in a device which discharges used chemical liquid as it is, the surface of the substrate always comes in contact with fresh chemical liquid.
As shown in FIG. 7B, the cleaning level is the same between the batches, and as shown in FIG. 7C, the cleaning level is the same between the substrates, so that a high cleaning level is always obtained. However, the apparatus shown in FIGS. 6B and 6C has a problem that a larger amount of chemical solution is consumed than the apparatus shown in FIG. 6A. Further, in the immersion type processing apparatus as shown in FIG. 6B, the contaminants removed from the surface of the substrate W in the processing tank 12 and diffused in the cleaning chemical solution 10 adhere to the surface of the substrate W again. In order to prevent this, it is effective to increase the flow rate of the cleaning chemical solution 10 flowing in the liquid surface direction along the surface of the substrate W. However, in such a case, the consumption of the chemical solution is further increased, and therefore, the flow rate (supply flow rate) of the cleaning chemical solution cannot be easily increased.

【0008】この発明は、以上のような事情に鑑みてな
されたものであり、基板に薬液を接触させて基板の洗浄
処理等の表面処理を行なう場合に、薬液の消費量を抑
え、かつ、高い処理品質を得ることができるような基板
の表面処理装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and when a chemical solution is brought into contact with a substrate to perform a surface treatment such as a cleaning process on the substrate, the consumption of the chemical solution is suppressed, and It is an object of the present invention to provide a substrate surface treatment apparatus capable of obtaining high processing quality.

【0009】[0009]

【0010】[0010]

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】 請求項に記載された発
明に係る基板の表面処理装置では、薬液回収手段及び回
収薬液供給手段を2個ずつ設けるようにする。そして、
供給切換手段によって上記新液供給手段による処理槽へ
の新鮮な薬液の供給と第1の回収薬液供給手段による処
理槽への1回使用の回収薬液の供給と第2の回収薬液供
給手段による処理槽への2回使用の回収薬液の供給とを
択一的に切り換えようとするとともに、排出・回収切換
手段によって上記薬液排出手段による使用済み薬液の排
出と第1の薬液回収手段による使用済み薬液の回収と第
2の薬液回収手段による使用済み薬液の回収とを択一的
に切り換えるようにし、制御手段により、第2の回収薬
液供給手段によって処理槽へ2回使用の回収薬液を供給
するとともに薬液排出手段によって使用済み薬液を排出
し、次いで第1の回収薬液供給手段によって処理槽へ1
回使用の回収薬液を供給するとともに第2の薬液回収手
段によって使用済み薬液を回収し、最後に新液供給手段
によって処理槽へ新鮮な薬液を供給するとともに第1の
薬液回収手段によって使用済み薬液を回収するように制
御する。
In the apparatus for treating a surface of a substrate according to the first aspect of the present invention, two chemical liquid collecting means and two collected chemical liquid supplying means are provided. And
The supply switching means supplies fresh chemical liquid to the processing tank by the new liquid supply means, supplies the once-used recovered chemical liquid to the processing tank by the first recovered chemical liquid supply means, and performs the processing by the second recovered chemical liquid supply means In addition to alternately switching the supply of the used chemical solution to the tank twice, the discharge / collection switching means discharges the used chemical liquid by the chemical liquid discharge means and the used chemical liquid by the first chemical liquid collection means. The recovery of the used chemical liquid and the recovery of the used chemical liquid by the second chemical liquid recovery means are selectively switched, and the control means supplies the recovered chemical liquid used twice to the treatment tank by the second recovery chemical liquid supply means. The used chemical liquid is discharged by the chemical liquid discharging means, and then the first collected chemical liquid supplying means is supplied to the processing tank by the first recovered chemical liquid supplying means.
The used chemical liquid is supplied by the second chemical liquid collecting means, the used chemical liquid is supplied to the treatment tank by the new liquid supply means, and the used chemical liquid is supplied by the first chemical liquid collecting means. Is controlled to be collected.

【0012】請求項に記載された発明に係る基板の表
面処理装置では、薬液回収手段及び回収薬液供給手段を
n個ずつ設けるようにする。そして、供給切換手段によ
って、上記新液供給手段による処理槽への新鮮な薬液の
供給とn個の回収薬液供給手段による処理槽への回収薬
液の供給とを択一的に切り換えるようにするとともに、
排出・回収切換手段によって上記薬液排出手段による使
用済み薬液の排出とn個の薬液回収手段による使用済み
薬液の回収とを択一的に切り換えるようにし、制御手段
により、n個の回収薬液供給手段のうちn番目のものに
よって処理槽へn回使用の回収薬液を供給するとともに
薬液排出手段によって使用すみ薬液を排出し、次いで、
(n−1)番目の回収薬液供給手段によって処理槽へ
(n−1)回使用の回収薬液を供給するとともにn個の
薬液回収手段のうちn番目のものによって使用済み薬液
を回収し、次いで(n−2)番目の回収薬液供給手段に
よって処理槽へ(n−2)回使用の回収薬液を供給する
とともに(n−1)番目の薬液回収手段によって使用済
み薬液を回収し、上記操作を順番に繰り返して、最後に
新液供給手段によって処理槽へ新鮮な薬液を供給すると
ともに1番目の薬液回収手段によって1回使用された使
用済み薬液を回収するように制御する。
In the apparatus for treating a surface of a substrate according to the second aspect of the present invention, n chemical liquid recovery means and n recovered chemical liquid supply means are provided. The supply switching means selectively switches between the supply of fresh chemical liquid to the processing tank by the new liquid supply means and the supply of recovered chemical liquid to the processing tank by the n recovered chemical liquid supply means. ,
The discharge / recovery switching means alternately switches between the discharge of the used chemical liquid by the chemical liquid discharge means and the collection of the used chemical liquid by the n chemical liquid recovery means, and the control means comprises n collected chemical liquid supply means. Supplying the used chemical liquid n times to the treatment tank by the nth one and discharging the used chemical liquid by the chemical liquid discharging means,
The (n-1) th collected chemical liquid supply means supplies the collected chemical liquid used (n-1) times to the treatment tank, and the used chemical liquid is collected by the nth chemical liquid collecting means, and then the used chemical liquid is collected. The (n-2) th used chemical liquid is supplied to the treatment tank by the (n-2) th collected chemical liquid supply means, and the used chemical liquid is collected by the (n-1) th chemical liquid collection means. It repeats in order, and finally controls the new chemical supply means to supply a fresh chemical liquid to the processing tank and collect the used chemical liquid used once by the first chemical liquid recovery means.

【0013】[0013]

【作用】請求項1に記載された発明の係る基板の表面処
理装置では、薬液回収手段及び回収薬液供給手段を2個
ずつ備えた装置を使用するようにする。そして、処理槽
内へ基板が搬入されると、まず、基板の洗浄処理に2回
繰り返し使用され汚染物質を含んだ薬液を使用して基板
が洗浄され、次いで、基板の洗浄に1回使用され前記薬
液よりも汚染物資の量が少ない薬液を使用して基板が洗
浄され、最後に、汚染物質を全く含まない新鮮な薬液を
使用して基板が洗浄される。請求項に記載された発明
の係る基板の表面処理装置では、薬液回収手段及び回収
薬液供給手段をn個ずつ備えた装置を使用するようにす
る。そして、処理槽内へ基板が搬入されると、最初に、
基板の洗浄処理にn回繰り返し使用され汚染物質を最も
含んだ薬液を使用して基板が洗浄され、以後、次第に汚
染物質の量が少なくなった各回収薬液を使用して順次基
板が洗浄されていき、最後に、汚染物質を全く含まない
新鮮な薬液を使用して基板が洗浄される。
In the apparatus for treating a surface of a substrate according to the first aspect of the present invention, an apparatus provided with two chemical liquid collecting means and two collected chemical liquid supplying means is used. Then, when the substrate is carried into the processing tank, first, the substrate is repeatedly used twice in the cleaning process of the substrate, and the substrate is cleaned using a chemical solution containing a contaminant, and then used once in the cleaning of the substrate. The substrate is cleaned using a chemical having a smaller amount of contaminants than the chemical, and finally the substrate is cleaned using a fresh chemical containing no contaminants. In the substrate surface treating apparatus according to the second aspect of the present invention, an apparatus provided with n chemical liquid collecting means and n collected chemical liquid supplying means is used. Then, when the substrate is carried into the processing tank, first,
The substrate is washed using the chemical solution containing the most contaminants, which is repeatedly used n times for the substrate cleaning process, and thereafter, the substrate is sequentially washed using each of the collected chemical solutions in which the amount of the contaminants gradually decreases. Finally, the substrate is cleaned using a fresh chemical solution that does not contain any contaminants.

【0014】以上の通り、請求項1及び請求項2に記載
された発明では、基板は、最後には新鮮な薬液によって
洗浄されるので、高い洗浄処理品質が得られる。また、
薬液は、1回使用されただけで排出されるのではなく、
回収されて複数回使用され、その後に排出されるので、
使用済み薬液をそのまま排出してしまう装置に比べて薬
液消費量が少なくて済み、また、浸漬式処理装置では、
基板表面への汚染物質の再付着を防止したり、汚染物質
の除去効果を上げて処理に要する時間を短縮化するため
に処理槽内の薬液の流速を上げるようにしても、薬液消
費量の増大を招くことはない。
As described above, according to the first and second aspects of the present invention, since the substrate is finally cleaned with a fresh chemical solution, high cleaning processing quality can be obtained. Also,
The chemical solution is not discharged only after being used once,
Since it is collected and used several times and then discharged,
The consumption of the chemical solution is smaller than the device that discharges the used chemical solution as it is, and in the immersion treatment device,
Even if the flow rate of the chemical in the processing tank is increased to prevent the re-adhesion of the contaminant to the substrate surface or to shorten the time required for the processing by improving the effect of removing the contaminant, the consumption of the chemical may be reduced. There is no increase.

【0015】[0015]

【実施例】以下、この発明の好適な実施例について図面
を参照しながら説明する。
Preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0016】[0016]

【実施例】図1は、この発明の1実施例を示し、バッチ
式浸漬処理方式の基板の洗浄処理装置の概略構成図であ
る。この装置は、図6の(A)、(B)に示した装置と
同様に、洗浄用薬液10を収容してその洗浄用薬液10
中に基板Wが浸漬される浸漬処理部14と、この浸漬処
理部14から溢れ出た使用済み薬液16を貯溜する溢流
貯溜部18とから構成された処理槽12を有している。
また、新鮮な薬液を調製して処理槽12の浸漬処理部1
4へ供給するための新液供給系は、図6の(A)、
(B)に示した装置と同様に、薬液1が貯溜された第1
の薬液タンク22に流路接続されたポンプ26、フィル
タ28及び開閉制御弁30が介挿された薬液1の供給管
路24、薬液2が貯溜された第2の薬液タンク32に流
路接続されポンプ36、フィルタ38及び開閉制御弁4
0が介挿された薬液2の供給管路34、並びに、純水供
給源に流路接続され開閉制御弁44が介挿された純水供
給管路42をそれぞれ混合器20に連通接続し、混合器
20において薬液1と薬液2と純水とを混合し或いは薬
液1又は薬液2と純水とを混合して洗浄用薬液を希釈調
製し、その洗浄用薬液を混合器20から処理槽12へ供
給するように構成されている。図中の46は、それぞれ
開閉制御弁である。
FIG. 1 shows an embodiment of the present invention, and is a schematic configuration diagram of a batch type immersion processing type substrate cleaning apparatus. This device, similar to the device shown in FIGS. 6A and 6B, stores the cleaning chemical 10
The processing tank 12 includes an immersion processing section 14 in which the substrate W is immersed, and an overflow storage section 18 for storing a used chemical solution 16 overflowing from the immersion processing section 14.
Further, a fresh chemical solution is prepared, and the immersion treatment section 1 of the treatment tank 12 is prepared.
The new liquid supply system for supplying to No. 4 is shown in FIG.
Similarly to the device shown in FIG.
Are connected to the pump 26, the filter 28 and the supply conduit 24 of the chemical liquid 1 through which the opening / closing control valve 30 is inserted, and the second chemical liquid tank 32 in which the chemical liquid 2 is stored. Pump 36, filter 38 and on / off control valve 4
0 is connected to the mixer 20, and the supply line 34 of the chemical solution 2 in which the zero is inserted, and the pure water supply line 42 in which the flow path is connected to the pure water supply source and the opening / closing control valve 44 is inserted are connected to the mixer 20, respectively. In the mixer 20, the chemical 1, the chemical 2 and pure water are mixed, or the chemical 1 or the chemical 2 and pure water are mixed to dilute the cleaning chemical, and the cleaning chemical is removed from the mixer 20 to the treatment tank 12. It is configured to supply to. Reference numeral 46 in the figure denotes an open / close control valve.

【0017】一方、処理槽12の溢流貯留部18に連通接続
された流出管路48は、排出・回収切換器50の導入口に連
通接続されており、その排出・回収切換器50の導出口の
1つに、開閉制御弁54が介挿された排液管路52が連通接
続されている。また、排出・回収切換器50の別の導出口
は、開閉制御弁58が介挿された第1の回収管路56を介し
て第1の回収用タンク60に接続されており、さらに別の
導出口は、開閉制御弁66が介挿された第2の回収管路64
を介して第2の回収用タンク68に接続されている。第1
の回収用タンク60には、後述するように、処理槽12にお
いて基板の洗浄処理に1回使用された後回収された回収
薬液62が貯留され、また、第2の回収用タンク68には、
処理槽12において基板の洗浄処理に2回繰り返して使用
された後回収された回収薬液70が貯留される。
On the other hand, an outflow pipe 48 connected to the overflow storage section 18 of the processing tank 12 is connected to an inlet of a discharge / recovery switch 50, and is connected to an inlet of the discharge / recovery switch 50. One of the outlets is connected to a drain pipe 52 through which an open / close control valve 54 is inserted. Another outlet of the discharge / collection switching device 50 is connected to a first collection tank 60 via a first collection line 56 in which an opening / closing control valve 58 is inserted. The outlet is a second recovery pipe 64 in which the opening / closing control valve 66 is inserted.
Is connected to the second collection tank 68 via the First
As will be described later, the recovery chemical solution 62 collected after being used once for the substrate cleaning process in the processing tank 12 is stored in the recovery tank 60, and the second recovery tank 68 stores
In the processing tank 12, the recovered chemical solution 70 that has been used after being repeatedly used for cleaning the substrate twice is stored.

【0018】また、第1の回収用タンク60の内部には、
ポンプ74及びフィルタ76が介挿された第1の回収薬液供
給管路72の一端部が挿入されており、その回収薬液供給
管路72の他端は、開閉制御弁78を経て供給切換器80の導
入口の1つに連通接続されている。また、第2の回収用
タンク68の内部には、ポンプ84及びフィルタ86が介挿さ
れた第2の回収薬液供給管路82の一端部が挿入されてお
り、その回収薬液供給管路82の他端が、開閉制御弁88を
経て供給切換器80の別の導入口に連通接続されている。
供給切換器80のさらに別の導入口には、上記した混合器
20の出口側管路90の先端が開閉制御弁92を経て連通接続
されている。そして、供給切換器80の導出口が、給液管
路94を介して処理槽12の浸漬処理部14に流路接続されて
いる。
Further, inside the first recovery tank 60,
One end of a first recovered chemical supply pipe 72 in which a pump 74 and a filter 76 are inserted is inserted. The other end of the recovered chemical supply pipe 72 is connected to a supply switch 80 via an open / close control valve 78. Is connected to one of the inlets. Further, one end of a second collected chemical supply pipe 82 in which a pump 84 and a filter 86 are interposed is inserted into the second collection tank 68, and the one end of the collected chemical supply pipe 82 is inserted into the second collected tank 68. The other end is connected to another inlet of the supply switch 80 via the open / close control valve 88.
The still another inlet of the feed switch 80 is provided with the above-described mixer.
The ends of the 20 outlet-side pipes 90 are connected to each other via an open / close control valve 92. The outlet of the supply switch 80 is connected to the immersion processing section 14 of the processing tank 12 via a liquid supply pipe 94.

【0019】混合器20と開閉制御弁30、40、44、及び供
給切換器80と開閉制御弁78、88、92とは、例えば図2に
断面図を示すようにそれぞれ構成されており、また、排
出・回収切換器50と開閉制御弁54、58、66とは、例えば
図3に断面図を示すように構成されている。そして、そ
れぞれの開閉制御弁30、40、44、78、88、92、54、58、
66は、弁体96、104、112と弁座98、106、114とダイヤフ
ラム100、108、116とエアーシリンダ102、110、118とか
ら構成されており、各開閉制御弁のエアーシリンダ10
2、110、118が、図示しない制御回路によって制御され
るように構成されている。
The mixer 20 and the opening / closing control valves 30, 40, 44, and the supply switching unit 80 and the opening / closing control valves 78, 88, 92 are respectively constituted, for example, as shown in a sectional view in FIG. The discharge / recovery switching device 50 and the open / close control valves 54, 58, 66 are configured, for example, as shown in a sectional view in FIG. And, the respective open / close control valves 30, 40, 44, 78, 88, 92, 54, 58,
66 includes valve bodies 96, 104, 112, valve seats 98, 106, 114, diaphragms 100, 108, 116, and air cylinders 102, 110, 118.
2, 110, and 118 are configured to be controlled by a control circuit (not shown).

【0020】次に、図1に示した装置を使用して基板の
洗浄処理を行なう場合の操作について図4を参照しなが
ら説明する。
Next, a description will be given, with reference to FIG. 4, of an operation in a case where the substrate is cleaned by using the apparatus shown in FIG.

【0021】図4の(a)に示したように、第1の回収
用タンク60内及び第2の回収用タンク68内にそれぞれ回
収薬液62、70が収容された状態において、処理槽12内へ
洗浄処理しようとする複数枚の基板Wが搬入されると、
まず、開閉制御弁88、54を開放するとともに開閉御弁7
8、92、58、66を閉塞することにより、図4の(a)に
実線矢印で示したように、第2の回収用タンク68から処
理槽12へ、処理槽12において基板の洗浄処理に2回繰り
返して使用された後回収された回収薬液70を供給すると
ともに、処理槽12から流出した使用済み薬液を流出管路
48及び排液管路52を通して装置外へ排出する。このよう
にして、2回使用の回収薬液70を使用して基板Wを洗浄
処理する。次に、開閉制御弁78、66を開放するとともに
開閉御弁88、92、54、58を閉塞することにより、図4の
(b)に実線矢印で示したように、第1の回収用タンク
60から処理槽12へ、処理槽12において基板の洗浄処理に
1回だけ使用されて回収された回収薬液62を供給すると
ともに、処理槽12から流出した使用済み薬液を流出管路
48及び第2の回収管路64を通して第2の回収用タンク68
内へ回収する。このようにして、1回使用の回収薬液62
を使用して基板Wを洗浄処理する。そして、最後に、開
閉制御弁92、58を開放するとともに開閉御弁78、88、5
4、66を閉塞することにより、図4の(c)に実線矢印
で示したように、混合器20から処理槽12へ、汚染物質を
全く含まない新鮮な薬液を供給するとともに、処理槽12
から流出した使用済み薬液を流出管路48及び第1の回収
管路56を通して第1の回収用タンク60内へ回収する。こ
のようにして、新鮮な洗浄用薬液を使用して基板Wを洗
浄処理する。
As shown in FIG. 4A, in the state where the recovered chemicals 62 and 70 are stored in the first recovery tank 60 and the second recovery tank 68, respectively, When a plurality of substrates W to be cleaned are carried in,
First, the open / close control valves 88 and 54 are opened and the open / close control valve 7 is opened.
4, 92, 58, and 66 are closed to allow the substrate to be cleaned in the processing tank 12 from the second recovery tank 68 to the processing tank 12, as indicated by solid arrows in FIG. Supplying the collected chemical solution 70 that has been used after being repeatedly used twice and supplying the used chemical solution that has flowed out of the processing tank 12 to an outflow line
The liquid is discharged to the outside of the device through the drain line 48 and the drain line 52. In this manner, the substrate W is cleaned using the twice-used collected chemical solution 70. Next, by opening and closing the opening and closing control valves 78 and 66 and closing the opening and closing control valves 88, 92, 54 and 58, as shown by the solid line arrow in FIG.
From 60 to the processing tank 12, the collected chemical solution 62 used only once in the processing tank 12 for the substrate cleaning process is supplied and collected, and the used chemical solution flowing out of the processing tank 12 is discharged from the processing tank 12.
48 and a second collection tank 68 through a second collection line 64.
Collect inside. In this way, the once-used collected chemical solution 62
The substrate W is subjected to a cleaning process by using. Finally, the opening / closing control valves 92, 58 are opened, and the opening / closing control valves 78, 88, 5
4 and 66, a fresh chemical solution containing no contaminants is supplied from the mixer 20 to the processing tank 12 as shown by a solid line arrow in FIG.
The used chemical liquid flowing out of the tank is recovered into the first recovery tank 60 through the outflow line 48 and the first recovery line 56. In this manner, the substrate W is cleaned using the fresh cleaning solution.

【0022】一通りの洗浄処理が終わると、処理済みの
基板Wを処理槽12から搬出し、次に処理しようとする複
数枚の基板Wを処理槽12内へ搬入する。そして、上記し
た操作を繰り返す。
When one cleaning process is completed, the processed substrate W is unloaded from the processing bath 12 and a plurality of substrates W to be processed next are loaded into the processing bath 12. Then, the above operation is repeated.

【0023】以上のようにして基板Wの洗浄処理を行な
うようにしたときは、図5に示すように、基板表面の汚
染度合が次第に低くなっていき、最後には新鮮な薬液に
よって基板の洗浄が行なわれるので、高い洗浄処理品質
が得られることになり、また、各バッチ間において等し
く常に高い洗浄レベルが得られることになる。また、薬
液は、基板の洗浄処理に3回使用された後に排出される
ので、薬液が有効に利用されることになる。
When the cleaning process of the substrate W is performed as described above, the degree of contamination of the substrate surface gradually decreases as shown in FIG. Is performed, so that a high cleaning process quality is obtained, and a high cleaning level is equally obtained between batches. In addition, since the chemical is discharged after being used three times in the cleaning process of the substrate, the chemical is effectively used.

【0024】上記実施例においては、使用済み薬液を回
収する回収用タンクを2個設けるようにしたが、回収用
タンクを1個だけ設けるようにしてもよく、その場合に
は、処理槽内へ基板が搬入された後、回収用タンクから
処理槽へ1回使用の回収薬液を供給するとともに、処理
槽から使用済み薬液を排出し、次に、新鮮な薬液を処理
槽へ供給するとともに、処理槽から流出する使用済み薬
液を回収用タンク内へ回収するようにする。また、回収
用タンクを3個以上のn個設けるようにしてもよく、そ
の場合には、処理槽内へ基板が搬入されると、最初に、
n番目の回収用タンクから基板の洗浄処理にn回繰り返
し使用された回収薬液を処理槽へ供給するとともに、処
理槽から使用済み薬液を排出し、次に、(n−1)番目
の回収用タンクから基板の洗浄処理に(n−1)回使用
された回収薬液を処理槽へ供給するとともに、処理槽か
ら使用済み薬液をn番目の回収用タンク内へ回収し、次
いで、(n−2)番目の回収用タンクから基板の洗浄処
理に(n−2)回使用された回収薬液を処理槽へ供給す
るとともに、処理槽から使用済み薬液を(n−1)番目
の回収用タンク内へ回収し、以後同様の操作を繰り返
し、最後に、新鮮な薬液を処理槽へ供給するとともに、
処理槽から流出する使用済み薬液を1番目の回収用タン
ク内へ回収するようにする。
In the above embodiment, two recovery tanks for recovering used chemicals are provided. However, only one recovery tank may be provided. After the substrate is loaded, supply the used chemical liquid once from the recovery tank to the processing tank, discharge the used chemical liquid from the processing tank, and then supply fresh chemical liquid to the processing tank. Collect used chemicals flowing out of the tank into the collection tank. Further, n or more recovery tanks may be provided. In this case, when the substrate is carried into the processing tank, first,
From the n-th recovery tank, the recovered chemical liquid repeatedly used n times for the substrate cleaning process is supplied to the processing tank, and the used chemical liquid is discharged from the processing tank. The recovery chemical used in the cleaning process of the substrate from the tank (n-1) is supplied to the processing tank, and the used chemical is recovered from the processing tank into the n-th recovery tank, and then (n-2) ) The recovery chemical solution used (n-2) times for the substrate cleaning process from the recovery tank is supplied to the processing tank, and the used chemical liquid is transferred from the processing tank into the (n-1) th recovery tank. The same operation is repeated afterwards, and finally, a fresh chemical is supplied to the treatment tank,
The used chemical liquid flowing out of the processing tank is collected into the first collection tank.

【0025】また、上記実施例では、バッチ式浸漬処理
方式の基板の洗浄処理装置について説明したが、枚様式
浸漬処理方式或いは図6の(C)に示したような枚様式
スプレイ処理方式の各種の基板表面処理装置について
も、この発明は同様に適用し得る。また、処理槽への新
鮮な薬液の供給方式としては、上記実施例に示したよう
なインラインの混合器を用いる方式でなく、図6の
(A)に示したように定量タンクを使用して予め薬液を
定量する方式であってもよい。さらに、回収用タンクか
ら回収薬液を処理槽へ供給する手段は、上記実施例のよ
うなポンプ圧送でもよいし、回収用タンク内の回収薬液
の液面を加圧するものであってもよい。
Further, in the above-described embodiment, a description has been given of the substrate cleaning processing apparatus of the batch type immersion processing method, but various types of the sheet type immersion processing method or the sheet type spray processing method as shown in FIG. The present invention can be similarly applied to the substrate surface treatment apparatus described above. Further, as a method of supplying a fresh chemical solution to the treatment tank, instead of a method using an in-line mixer as shown in the above embodiment, a quantitative tank is used as shown in FIG. A method of quantifying the chemical solution in advance may be used. Further, the means for supplying the recovered chemical liquid from the recovery tank to the processing tank may be pump pressure feeding as in the above embodiment, or may be a means for pressurizing the liquid surface of the recovered chemical liquid in the recovery tank.

【0026】[0026]

【発明の効果】この発明は以上説明したように構成され
かつ作用するので、請求項1及び請求項2に記載された
発明に係る基板の表面処理装置を使用し、基板に薬液を
接触させて基板の洗浄処理等の表面処理を行なうように
したときは、使用済み薬液をそのまま排出してしまう装
置に比べて薬液の消費量が大幅に抑えられ、かつ、薬液
を循環させて使用する装置に比べて高い処理品質が得ら
れる。そして、特に浸漬方式の基板洗浄処理装置では、
薬液消費量の増大を招くことなく、処理槽内において基
板の表面に沿って流動する洗浄用薬液の流速を上げるこ
とができるので、基板表面から除去されて洗浄用薬液中
に拡散した汚染物質が基板表面に再付着するのを有効に
防止することができ、より高い洗浄レベルが得られるこ
とになり、一方、同じ洗浄レベルを得る場合には、スル
ープットを向上させることができる。
Since the present invention is constructed and operates as described above, the substrate surface treatment apparatus according to the first and second aspects of the present invention is used to bring a chemical solution into contact with the substrate. When surface treatment such as substrate cleaning is performed, the consumption of chemicals is greatly reduced compared to equipment that discharges used chemicals as it is, and it is possible to use chemicals that circulate and use chemicals. Higher processing quality can be obtained. And especially in the immersion type substrate cleaning apparatus,
Since the flow rate of the cleaning chemical flowing along the surface of the substrate in the processing tank can be increased without increasing the consumption of the chemical, the contaminants removed from the substrate surface and diffused in the cleaning chemical can be increased. Redeposition on the substrate surface can be effectively prevented, and a higher cleaning level can be obtained. On the other hand, when the same cleaning level is obtained, throughput can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の1実施例を示し、バッチ式浸漬処理
方式の基板の洗浄処理装置の概略構成図である。
FIG. 1 is a schematic structural view of a batch type immersion processing type substrate cleaning apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示した装置で使用される混合器及び供給
切換器の構成の1例を示す断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing an example of a configuration of a mixer and a feed switch used in the apparatus shown in FIG.

【図3】図1に示した装置で使用される排出・回収切換
器の構成の1例を示す断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view showing an example of a configuration of a discharge / recovery switching device used in the apparatus shown in FIG.

【図4】図1に示した装置を使用して基板の洗浄処理を
行なう場合の操作について説明するための模式図であ
る。
FIG. 4 is a schematic diagram for explaining an operation when a substrate cleaning process is performed using the apparatus shown in FIG. 1;

【図5】図1に示した装置を使用して基板の洗浄処理を
行なうようにしたときの、基板表面の汚染レベル及び薬
液の汚染レベルの経時変化を説明するためのグラフ図で
ある。
FIG. 5 is a graph for explaining changes over time in the contamination level of the substrate surface and the contamination level of the chemical solution when the substrate is cleaned using the apparatus shown in FIG. 1;

【図6】それぞれ、従来の基板の洗浄処理装置の構成例
を示す概略図である。
FIG. 6 is a schematic diagram showing a configuration example of a conventional substrate cleaning apparatus.

【図7】それぞれ、図6に示した従来の各装置を使用し
て基板の洗浄処理を行なうようにしたときの、基板表面
の汚染レベル及び薬液の汚染レベルの経時変化を説明す
るためのグラフ図である。
FIG. 7 is a graph for explaining changes over time in the contamination level of the substrate surface and the contamination level of the chemical solution when the substrate is cleaned by using the conventional apparatuses shown in FIG. 6; FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 洗浄用薬液 12 処理槽 14 処理槽の浸漬処理部 16 使用済み薬液 18 処理槽の溢流貯留部 20 混合器 22、32 薬液タンク 24、34 薬液の供給管路 26、36、74、84 ポンプ 30、40、44、54、58、66、78、88、92 開閉制御弁 42 純水供給管路 48 流出管路 50 排出・回収切換器 52 排液管路 56 第1の回収管路 60 第1の回収用タンク 62 1回使用の回収薬液 64 第2の回収管路 68 第2の回収用タンク 70 2回使用の回収薬液 72 第1の回収薬液供給管路 80 供給切換器 82 第2の回収薬液供給管路 94 給液管路 W 基板 10 Chemical solution for cleaning 12 Treatment tank 14 Immersion treatment section of treatment tank 16 Used chemical liquid 18 Overflow storage section of treatment tank 20 Mixer 22, 32 Chemical tank 24, 34 Chemical supply line 26, 36, 74, 84 Pump 30, 40, 44, 54, 58, 66, 78, 88, 92 On-off control valve 42 Pure water supply line 48 Outflow line 50 Drain / recovery switch 52 Drainage line 56 First recovery line 60 One collection tank 62 Single-use collected chemical 64 Second collection conduit 68 Second collection tank 70 Double-used collected chemical 72 First collected chemical supply conduit 80 Supply switch 82 Second Recovery chemical supply line 94 Liquid supply line W Substrate

フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭62−156659(JP,A) 特開 平2−278823(JP,A) 実開 平3−32417(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/304,21/306 B08B 3/00 - 3/14 Continuation of the front page (56) References JP-A-62-156659 (JP, A) JP-A-2-278823 (JP, A) JP-A-3-32417 (JP, U) (58) Fields investigated (Int) .Cl. 7 , DB name) H01L 21 / 304,21 / 306 B08B 3/00-3/14

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 基板を収容しその基板に薬液を接触させる
ことにより基板を表面処理する処理槽と、 この処理槽へ新鮮な薬液を供給する新液供給手段と、 前記処理槽内で基板の表面処理に使用されて処理槽から
流出する使用済み薬液を排出する薬液排出手段とを備え
た基板の表面処理装置において、 前記処理槽内で基板の表面処理に使用されて処理槽から
流出する使用済み薬液を第1の回収用タンクに回収する
第1の薬液回収手段と、 前記第1の回収用タンクに回収された1回使用の回収薬
液を前記処理槽へ供給する第1の回収薬液供給手段と、 この第1の回収薬液供給手段によって前記処理槽へ供給
され処理槽内での基板の表面処理に使用されて処理槽か
ら流出する使用済み薬液を第2の回収用タンクに回収す
る第2の薬液回収手段と、 前記第2の回収用タンクに回収された2回使用の回収薬
液を前記処理槽へ供給する第2の回収薬液供給手段と、 前記新液供給手段による前記処理槽への新鮮な薬液の供
給と前記第1の回収薬液供給手段による処理槽への1回
使用の回収薬液の供給と前記第2の回収薬液供給手段に
よる処理槽への2回使用の回収薬液の供給とを択一的に
切り換える供給切換手段と、 前記薬液排出手段による使用済み薬液の排出と前記第1
の薬液回収手段による使用済み薬液の回収と前記第2の
薬液回収手段による使用済み薬液の回収とを択一的に切
り換える排出・回収切換手段と、 前記第2の回収薬液供給手段によって前記処理槽へ2回
使用の回収薬液を供給するとともに前記薬液排出手段に
よって使用済み薬液を排出し、次いで前記第1の回収薬
液供給手段によって処理槽へ1回使用の回収薬液を供給
するとともに前記第2の薬液回収手段によて使用済み薬
液を回収し、最後に前記新液供給手段によって処理槽へ
新鮮な薬液を供給するとともに前記第1の薬液回収手段
によって使用済み薬液を回収するように前記供給切換手
段及び排出・回収切換手段を制御する制御手段とを設け
たことを特徴とする基板の表面処理装置。
1. A processing tank for receiving a substrate and bringing a chemical solution into contact with the substrate to perform a surface treatment on the substrate, a new liquid supply means for supplying a fresh chemical liquid to the processing tank, And a chemical solution discharging means for discharging a used chemical solution used for surface treatment and flowing out of the processing tank, wherein the chemical solution discharging means is used for surface processing of the substrate in the processing tank and flows out of the processing tank. First chemical liquid collecting means for collecting the used chemical liquid in the first recovery tank, and a first recovery chemical liquid supply for supplying the single-use recovery chemical liquid collected in the first recovery tank to the processing tank. Means for collecting used chemical liquid supplied to the processing tank by the first recovered chemical liquid supply means, used for the surface treatment of the substrate in the processing tank, and flowing out of the processing tank to the second recovery tank. 2 chemical liquid collecting means, A second recovery chemical liquid supply unit that supplies the twice-used recovered chemical liquid collected in the second recovery tank to the processing tank; and a fresh chemical liquid supply to the processing tank by the new liquid supply unit. The supply of the single-use collected chemical liquid to the processing tank by the first collected chemical liquid supply unit and the supply of the twice-used collected chemical liquid to the processing tank by the second collected chemical liquid supply unit are selectively switched. Supply switching means, discharging of used chemical liquid by the chemical liquid discharging means, and the first
Discharge / collection switching means for selectively switching between the collection of the used chemical liquid by the chemical liquid collecting means and the collection of the used chemical liquid by the second chemical liquid collecting means, and the processing tank by the second collected chemical liquid supply means And supplying the used chemical liquid to the treatment tank by the first collected chemical liquid supply means and supplying the used chemical liquid to the treatment tank by the first collected chemical liquid supply means. The used chemical liquid is collected by the chemical liquid collecting means, and finally the fresh chemical liquid is supplied to the treatment tank by the new liquid supply means and the supply switching is performed so as to collect the used chemical liquid by the first chemical liquid collecting means. And a control means for controlling the discharge / collection switching means.
【請求項2】 基板を収容しその基板に薬液を接触させる
ことにより基板を表面処理する処理槽と、 この処理槽へ新鮮な薬液を供給する新液供給手段と、 前記処理槽内で基板の表面処理に使用されて処理槽から
流出する使用済み薬液を排出する薬液排出手段とを備え
た基板の表面処理装置において、 前記処理槽内で基板の表面処理に使用されて処理槽から
流出する使用済み薬液を、使用回数別に各回収用タンク
にそれぞれ回収するn個(nは3以上の整数)の薬液回
収手段と、 前記各回収用タンクに回収された回収薬液を前記処理槽
へそれぞれ供給するn個の回収薬液供給手段と、 前記新液供給手段による前記処理槽への新鮮な薬液の供
給と前記n個の回収薬液供給手段による処理槽への回収
薬液の供給とを択一的に切り換える供給切換手段と、 前記薬液排出手段による使用済み薬液の排出と前記n個
の薬液回収手段による使用済み薬液の回収とを択一的に
切り換える排出・回収切換手段と、 前記n個の回収薬液供給手段のうちn番目のものによっ
て前記処理槽へn回使用の回収薬液を供給するとともに
前記薬液排出手段によって使用済み薬液を排出し、次い
で(n−1)番目の回収薬液供給手段によって処理槽へ
(n−1)回使用の回収薬液を供給するとともに前記n
個の薬液回収手段のうちn番目のものによって使用済み
薬液を回収し、次いで(n−2)番目の回収薬液供給手
段によって処理槽へ(n−2)回使用の回収薬液を供給
するとともに(n−1)番目の薬液回収手段によって使
用済み薬液を回収し、上記操作を順番に繰り返して、最
後に前記新液供給手段によって処理槽へ新鮮な薬液を供
給するとともに1番目の薬液回収手段によって使用済み
薬液を回収するように前記供給切換手段及び排出・回収
切換手段を制御する制御手段とを設けたことを特徴とす
る基板の表面処理装置。
2. A processing tank for accommodating a substrate and surface-treating the substrate by bringing a chemical liquid into contact with the substrate, a new liquid supply means for supplying a fresh chemical liquid to the processing tank, And a chemical solution discharging means for discharging a used chemical solution used for surface treatment and flowing out of the processing tank, wherein the chemical solution discharging means is used for surface processing of the substrate in the processing tank and flows out of the processing tank. N (n is an integer of 3 or more) chemical liquid collecting means for collecting the used chemical liquids into the respective collecting tanks for each use, and supplying the collected chemical liquids collected in the respective collecting tanks to the processing tank. n recovery chemical liquid supply means, and alternatively switching between supply of fresh chemical liquid to the processing tank by the new liquid supply means and supply of recovery chemical liquid to the processing tank by the n recovery chemical liquid supply means. Supply switcher Discharge / recovery switching means for selectively switching between the discharge of the used chemical liquid by the chemical liquid discharge means and the collection of the used chemical liquid by the n chemical liquid recovery means; and The n-th supply supplies the used chemical solution to the treatment tank n times and discharges the used chemical solution by the chemical solution discharging means. Then, the (n-1) th collected chemical solution supply means supplies (n- 1) Supply the used chemical solution once and use the above n
The used chemical liquid is collected by the nth one of the individual chemical liquid collecting means, and then the (n-2) th collected chemical liquid supply means supplies the used chemical liquid (n-2) times to the treatment tank ( The used chemical liquid is collected by the (n-1) th chemical liquid collecting means, and the above operation is repeated in order. Finally, a fresh chemical liquid is supplied to the treatment tank by the new liquid supply means and the first chemical liquid collecting means is used. A surface treatment apparatus for a substrate, further comprising control means for controlling the supply switching means and the discharge / collection switching means so as to collect used chemical liquid.
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