JP3031281B2 - Thermal vacuum test equipment for space specimens - Google Patents
Thermal vacuum test equipment for space specimensInfo
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- JP3031281B2 JP3031281B2 JP9078639A JP7863997A JP3031281B2 JP 3031281 B2 JP3031281 B2 JP 3031281B2 JP 9078639 A JP9078639 A JP 9078639A JP 7863997 A JP7863997 A JP 7863997A JP 3031281 B2 JP3031281 B2 JP 3031281B2
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B64—AIRCRAFT; AVIATION; COSMONAUTICS
- B64G—COSMONAUTICS; VEHICLES OR EQUIPMENT THEREFOR
- B64G7/00—Simulating cosmonautic conditions, e.g. for conditioning crews
- B64G2007/005—Space simulation vacuum chambers
Description
【発明の属する技術分野】本発明は、熱真空試験装置に
関し、特に宇宙用供試体の熱真空試験装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a thermal vacuum test apparatus, and more particularly to a thermal vacuum test apparatus for a space test specimen.
【０００１】[0001]
【従来の技術】従来、この種の熱真空試験装置は、例え
ば実開平２−１００９００号「熱真空試験装置」に示さ
れるものがある。この熱真空試験装置の概要を図４、そ
して断面図を図５に示して説明する。2. Description of the Related Art Conventionally, a thermal vacuum test apparatus of this type is disclosed, for example, in Japanese Utility Model Laid-Open No. 2-100900, "thermal vacuum test apparatus". The outline of the thermal vacuum test apparatus will be described with reference to FIG.
【０００２】図４に示すように、従来の熱真空試験装置
は、試験の供試体である衛星４の外側に、ヒータ３を付
けたヒータパネル１とリフレクタ１０を取り付けてい
る。尚、１１は真空チャンバシュラウドである。また図
５において、衛星４に取り付けられたヒータパネル１が
図のように開いている状態では、衛星４は低温となって
いる真空チャンバシュラウド１１に直接熱輻射により放
熱ができるので、衛星４は低温とすることができる。他
方、ヒータパネル１が９０°回転し、ヒータパネル１で
衛星４の外表面を覆っている状態では、ヒータパネル１
の温度をヒータ３にて制御することにより、衛星４へ熱
輻射により熱量が加わり、衛星４の温度を制御すること
が可能であった。As shown in FIG. 4, in a conventional thermal vacuum test apparatus, a heater panel 1 provided with a heater 3 and a reflector 10 are mounted outside a satellite 4 which is a test sample. Incidentally, reference numeral 11 denotes a vacuum chamber shroud. In FIG. 5, when the heater panel 1 attached to the satellite 4 is open as shown in the figure, the satellite 4 can directly radiate heat to the low-temperature vacuum chamber shroud 11 by heat radiation. The temperature can be low. On the other hand, when the heater panel 1 is rotated by 90 ° and the outer surface of the satellite 4 is covered by the heater panel 1, the heater panel 1
Is controlled by the heater 3, heat is applied to the satellite 4 by heat radiation, and the temperature of the satellite 4 can be controlled.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】従来の技術において
は、ヒータパネル全開時でもヒータパネルが衛星の放射
面の放熱視野に入り、放熱妨害となり、放熱が速やかに
行えないという欠点がある。これは図５に示すように、
ヒータパネルが複数となる構成でヒータパネルの開閉を
行っているため、ヒータパネル開でも衛星からヒータパ
ネルが見え、衛星は熱輻射エネルギーを受けるからであ
る。In the prior art, even when the heater panel is fully opened, there is a drawback that the heater panel enters the radiation view of the radiation surface of the satellite, disturbs the radiation, and the radiation cannot be performed quickly. This is shown in FIG.
This is because the heater panel is opened and closed with a plurality of heater panels, so that the heater panel can be seen from the satellite even when the heater panel is opened, and the satellite receives heat radiation energy.
【０００４】更に、従来の技術において、熱真空試験装
置（リフレクタ）が、直線衛星に取り付いているため、
リフレクタから衛星への熱流入があり、熱的評価が十分
行なえない欠点があることである。これは従来の技術に
おいて、熱真空試験装置（リフレクタ）が直接衛星に取
り付けられているため、リフレクタの温度が衛星に伝わ
り、衛星は熱流入を受けるからである。Further, in the prior art, since a thermal vacuum test apparatus (reflector) is attached to a straight satellite,
The disadvantage is that there is heat inflow from the reflector to the satellite and thermal evaluation cannot be performed sufficiently. This is because, in the prior art, since the thermal vacuum test apparatus (reflector) is directly attached to the satellite, the temperature of the reflector is transmitted to the satellite, and the satellite receives heat.
【０００５】本発明の目的は、ヒータパネルを開閉する
ことで熱真空試験の温度を制御する熱真空試験装置にお
いて、熱真空試験装置が試験の供試体である衛星に対し
て熱的影響を与えることなく、熱真空試験を実施できる
宇宙用供試体の熱真空試験装置を提供することである。An object of the present invention is to provide a thermal vacuum test apparatus for controlling the temperature of a thermal vacuum test by opening and closing a heater panel, wherein the thermal vacuum test apparatus thermally affects a satellite which is a test object. An object of the present invention is to provide a thermal vacuum test apparatus for a space specimen that can perform a thermal vacuum test without using the same.
【０００６】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明の宇宙用供試体の
熱真空試験装置は、従来の３枚以上多数あったヒータパ
ネルを２枚とし、かつ、パネル回転軸を衛星に直接取り
付けない試験構体を有することを特徴とする。SUMMARY OF THE INVENTION A thermal vacuum test apparatus for a space specimen according to the present invention is a test apparatus in which two or more conventional heater panels are used, and a panel rotation axis is not directly attached to a satellite. It has a structure.
【０００７】本発明においては、ヒータパネルを衛星の
放熱面に熱輻射的に結合しないように回転させる。この
ため、衛星はヒータパネルより熱輻射による熱流入を受
けない。In the present invention, the heater panel is rotated so as not to be thermally coupled to the heat radiation surface of the satellite. Therefore, the satellite does not receive heat from the heater panel due to heat radiation.
【０００８】更に、熱真空試験装置の試験構体を衛星に
直接取り付けず、試験構体を真空チャンバ取付台に取り
付ける。このため、衛星は熱真空試験装置より熱伝導に
よる熱流入及び流出を受けない。Further, the test structure of the thermal vacuum test apparatus is not directly mounted on the satellite, but the test structure is mounted on a vacuum chamber mount. For this reason, the satellite does not receive heat inflow and outflow due to heat conduction from the thermal vacuum test apparatus.
【０００９】[0009]
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。発明の実施の形態図
１を参照すると、本発明の実施の形態は、熱伝導の良い
パネルにヒータ３を貼り付け、かつ、熱放射率の高い材
料で塗装してヒータパネル１を構成し、これを熱真空試
験装置の構体である試験構体２に取り付ける。更に、こ
の試験構体２をこれに取り付けた試験構体取付足７で真
空チャンバ取付台９に取り付けた状態とする。またヒー
タパネル１は、ヒータパネル１を回転させるためのパネ
ル回転６を介して試験構体２に取り付けてある。Next, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Embodiment of the Invention Referring to FIG. 1, an embodiment of the present invention forms a heater panel 1 by attaching a heater 3 to a panel having good heat conductivity and painting with a material having a high thermal emissivity. This is attached to a test structure 2 which is a structure of a thermal vacuum test apparatus. Further, the test structure 2 is attached to the vacuum chamber mount 9 with the test structure mounting feet 7 attached thereto. The heater panel 1 is attached to the test structure 2 via a panel rotation 6 for rotating the heater panel 1.
【００１０】図１の実施の形態において、ヒータパネル
１の数はなるべく少ないほうが望ましく、本例では２枚
としている。更に、ヒータパネル１は、なるべく衛星の
放熱面５を遮らない角度まで拡げるよう回転させる。ま
た試験構体２と衛星４は、直接取り付けないか又は、断
熱して取り付けることが望ましい。In the embodiment shown in FIG. 1, it is desirable that the number of heater panels 1 be as small as possible. In this embodiment, the number is two. Further, the heater panel 1 is rotated so as to extend as far as possible so as not to obstruct the heat radiation surface 5 of the satellite. Further, it is desirable that the test structure 2 and the satellite 4 are not directly attached or are attached insulated.
【００１１】次に、本発明の実施の形態の動作につい
て、図２を参照して詳細に説明する。図で（ａ）は、試
験供試体である衛星４を熱真空試験において冷却してい
る状態、すなわち、ヒータパネル１が開いている状態で
ある。（ｂ）は衛星４を熱真空試験において温度制御し
ている状態、すなわち、ヒータパネル１が閉じている状
態である。Next, the operation of the embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIG. FIG. 3A shows a state in which the satellite 4 as a test specimen is cooled in the thermal vacuum test, that is, a state in which the heater panel 1 is open. (B) is a state in which the temperature of the satellite 4 is controlled in the thermal vacuum test, that is, a state in which the heater panel 1 is closed.
【００１２】まず、（ｂ）において、ヒータパネル１を
温度制御し、ヒータパネル１に対向する衛星の放熱面５
に熱量を流入及び流出して、衛星４全体の温度制御を行
う。次に、衛星４を冷却する試験に移行する場合は、ヒ
ータパネル１を回転させて、衛星の放熱面５から真空チ
ャンバシュラウド１１へ直接放熱することにより冷却効
果が速くなる。本発明においては、ヒータパネル１が完
全に衛星の放熱面の視野の外になるので、熱真空試験で
の試験装置による放熱妨害がなくなるため、試験での熱
的評価の精度が向上する。First, in (b), the temperature of the heater panel 1 is controlled, and the radiation surface 5 of the satellite facing the heater panel 1 is controlled.
The temperature of the entire satellite 4 is controlled by flowing heat into and out of the satellite 4. Next, when shifting to a test for cooling the satellite 4, the cooling effect is increased by rotating the heater panel 1 and directly radiating heat from the heat radiation surface 5 of the satellite to the vacuum chamber shroud 11. In the present invention, since the heater panel 1 is completely out of the field of view of the heat radiation surface of the satellite, the heat radiation obstruction by the test device in the thermal vacuum test is eliminated, and the accuracy of the thermal evaluation in the test is improved.
【００１３】次に、本発明の実施例について図面を参照
して詳細に説明する。本発明の実施例は、図１で、図中
の上・下に放熱面５をもつ試験の供試体である衛星４の
熱真空試験の例である。衛星４の温度は、放熱面５への
熱の流入及び流出によって制御される。本発明の熱真空
試験装置は、アルミ板にシートヒータ３を貼り付け、か
つ、高熱放射率の黒色塗装を施した４枚のヒータパネル
１と、そのヒータパネルを１８０°回転させる４本のパ
ネル回転軸６とヒータパネルを支える熱真空試験装置の
４枚パネルから成る構体２及びその構体を支える４本の
試験構体取付足から成る。ただし、シートヒータ３は、
外部より電流を調整することによって任意の発熱をし、
ヒータパネル１の温度制御を行うためのものである。パ
ネル回転軸６は、外部より制御を行うことにより軸方向
に０〜１８０°任意に回転ができ、任意な角度でストッ
プでき、かつ、ホールドできる。Next, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The embodiment of the present invention is an example of a thermal vacuum test of a satellite 4 which is a test sample having a heat radiating surface 5 in FIG. The temperature of the satellite 4 is controlled by the flow of heat into and out of the heat dissipation surface 5. The thermal vacuum test apparatus of the present invention includes four heater panels 1 each having a sheet heater 3 attached to an aluminum plate and having a high thermal emissivity black coating, and four panels for rotating the heater panel by 180 °. It comprises a structure 2 consisting of four panels of a thermal vacuum test device supporting a rotating shaft 6 and a heater panel, and four test structure mounting feet supporting the structure. However, the seat heater 3 is
Makes any heat by adjusting the current from outside,
This is for controlling the temperature of the heater panel 1. The panel rotation shaft 6 can be freely rotated in the axial direction by 0 to 180 ° by external control, can be stopped at an arbitrary angle, and can be held.
【００１４】次に、本発明の実施例の動作について、図
２の（ａ），（ｂ）を参照して詳細に説明する。（ｂ）
のヒータパネル１が閉の状態では、ヒータパネル１の温
度をシートヒータ３にて制御することによって、ヒータ
パネル１から放熱面５への熱輻射量を調整して、放熱面
５への熱量の流入、流出を行い、衛星４の温度制御を行
う。次に、衛星４の温度を低温にしたい場合、（ｂ）の
場合では、放熱面５に対向するヒータパネル１が放熱妨
害となり、放熱面５が冷却できない。そのため、（ａ）
のようにヒータパネル１をパネル回転軸６によって外側
に１８０°回転させ、放熱面５が低温である真空チャン
バシュラウド１１を見えるようにして、放熱面５からシ
ュラウド１１へ熱輻射によって速く放熱することができ
る。この状態では、放熱面５の放熱視野に熱真空試験装
置がないため、放熱妨害にならず、かつ、熱的評価の精
度が向上する。Next, the operation of the embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. (B)
When the heater panel 1 is closed, the temperature of the heater panel 1 is controlled by the sheet heater 3 to adjust the amount of heat radiation from the heater panel 1 to the heat radiating surface 5 so that the amount of heat Inflow and outflow are performed, and the temperature of the satellite 4 is controlled. Next, when it is desired to lower the temperature of the satellite 4, in the case of (b), the heater panel 1 facing the heat radiation surface 5 interferes with heat radiation, and the heat radiation surface 5 cannot be cooled. Therefore, (a)
As described above, the heater panel 1 is rotated outward by 180 ° by the panel rotating shaft 6 so that the vacuum chamber shroud 11 whose heat radiating surface 5 is at a low temperature can be seen, and heat is quickly radiated from the heat radiating surface 5 to the shroud 11 by heat radiation. Can be. In this state, since there is no thermal vacuum test device in the heat radiation field of the heat radiation surface 5, there is no heat radiation interference, and the accuracy of the thermal evaluation is improved.
【００１５】次に、本発明の第２の実施の形態について
図３を参照して説明する。図で、（ａ）は、ヒータパネ
ル１が展開前の状態であり、（ｂ）は、ヒータパネル１
が展開後の状態である。ヒータパネル１は、（ａ）から
（ｂ）図のように回転軸６に対して、１８０°回転する
ことによって、放熱面５の放熱視野から外れることがで
きる。Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In the figure, (a) shows a state before the heater panel 1 is unfolded, and (b) shows a state where the heater panel 1 is unfolded.
Is the state after deployment. The heater panel 1 can be out of the heat radiation field of the heat radiation surface 5 by rotating by 180 ° with respect to the rotation shaft 6 as shown in FIGS.
【００１６】[0016]
【発明の効果】本発明の第１の効果は、熱真空試験装置
が衛星の放熱面の放熱妨害にならないということであ
る。これにより、速やかに衛星は冷却される。その理由
は、熱真空試験装置のヒータパネルが放熱面の放熱視野
から完全に外れるからである。The first effect of the present invention is that the thermal vacuum test apparatus does not interfere with the radiation of the radiation surface of the satellite. As a result, the satellite is quickly cooled. The reason is that the heater panel of the thermal vacuum test apparatus is completely out of the heat radiation field of view of the heat radiation surface.
【００１７】第２の効果は、熱真空試験装置からの熱伝
導による衛星への熱流入がなくなることである。これに
より、試験での余分な熱流入がなくなり、衛星の熱的評
価が向上する。その理由は、熱真空試験装置が衛星に直
接取り付いていないからである。The second effect is that heat does not flow into the satellite due to heat conduction from the thermal vacuum test apparatus. This eliminates extra heat inflow during testing and improves the thermal evaluation of the satellite. The reason is that the thermal vacuum test equipment is not directly attached to the satellite.
【図１】本発明の実施の形態を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of the present invention.
【図２】図１をＡ−Ａ線で切断したときの断面図であ
る。FIG. 2 is a cross-sectional view when FIG. 1 is cut along line AA.
【図３】本発明の他の実施の形態を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing another embodiment of the present invention.
【図４】従来の熱真空試験装置を示す斜視図である。FIG. 4 is a perspective view showing a conventional thermal vacuum test apparatus.
【図５】図４をＡ−Ａ線で切断したときの断面図であ
る。FIG. 5 is a sectional view when FIG. 4 is cut along line AA.
１ ヒータパネル ２ 試験構体 ３ ヒータ ４ 衛星 ５ 衛星の放熱面 ６ パネル回転軸 ７ 試験構体取付足 ８ 衛星取付足 ９ 真空チャンバ取付台 １０ リフレクタ １１ 真空チャンバシュラウド DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Heater panel 2 Test structure 3 Heater 4 Satellite 5 Radiation surface of satellite 6 Panel rotation axis 7 Test structure mounting foot 8 Satellite mounting foot 9 Vacuum chamber mounting base 10 Reflector 11 Vacuum chamber shroud
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) B64G 7/00 G01N 1/00 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) B64G 7/00 G01N 1/00
Claims (2)
収容する試験構体と、試験構体の辺部に取り付けられ取
り付け部分を回転中心として試験構体の１つの面全体に
対して開閉可能となったヒータパネルとを具備すること
を特徴とする宇宙用供試体の熱真空試験装置。1. The method according to claim 1, wherein the space specimen is thermally cut off substantially.
The test structure to be accommodated and the
With the attachment part as the center of rotation, over the entire surface of the test structure
A thermal vacuum test apparatus for a space test specimen, comprising: a heater panel which can be opened and closed .
収容する試験構体と、試験構体に取り付けられ回転する
ことで開閉可能となるヒータパネルとを具備し、前記ヒ
ータパネルがアルミニウム材で構成されて黒く塗装され
ていることを特徴とする宇宙用供試体の熱真空試験装
置。2. The method according to claim 1, wherein the space specimen is thermally cut off substantially.
The test structure to be accommodated and attached to the test structure and rotated
A heater panel that can be opened and closed by
The data panel is made of aluminum and painted black
And thermal vacuum testing device for space specimen, characterized in that are.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9078639A JP3031281B2 (en) | 1997-03-28 | 1997-03-28 | Thermal vacuum test equipment for space specimens |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9078639A JP3031281B2 (en) | 1997-03-28 | 1997-03-28 | Thermal vacuum test equipment for space specimens |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10273100A JPH10273100A (en) | 1998-10-13 |
| JP3031281B2 true JP3031281B2 (en) | 2000-04-10 |
Family
ID=13667447
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9078639A Expired - Lifetime JP3031281B2 (en) | 1997-03-28 | 1997-03-28 | Thermal vacuum test equipment for space specimens |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| JP (1) | JP3031281B2 (en) |
Families Citing this family (5)
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| CN102180272B (en) * | 2011-04-14 | 2013-11-13 | 北京航空航天大学 | Method for evaluating adaptability of aerospace component to thermal environment |
| CN105517666B (en) | 2014-09-05 | 2019-08-27 | 深圳市大疆创新科技有限公司 | Offline mode selection based on scene |
| CN111232254B (en) * | 2020-01-09 | 2021-08-24 | 北京卫星环境工程研究所 | High-precision dynamically controllable temperature simulation device |
| CN112357133A (en) * | 2020-11-18 | 2021-02-12 | 北京卫星环境工程研究所 | Testing system for large-scale space structure thermal dynamic response characteristics |
-
1997
- 1997-03-28 JP JP9078639A patent/JP3031281B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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| JPH10273100A (en) | 1998-10-13 |
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Legal Events
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