JP3021338B2 - Extinction ratio measurement method and extinction ratio measurement device - Google Patents

Extinction ratio measurement method and extinction ratio measurement device

Info

Publication number
JP3021338B2
JP3021338B2 JP7338374A JP33837495A JP3021338B2 JP 3021338 B2 JP3021338 B2 JP 3021338B2 JP 7338374 A JP7338374 A JP 7338374A JP 33837495 A JP33837495 A JP 33837495A JP 3021338 B2 JP3021338 B2 JP 3021338B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
extinction ratio
optical
optical paths
optical path
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP7338374A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH09178608A (en
Inventor
圭介 福地
デバラジ バラシガマニ
Original Assignee
株式会社生体光情報研究所
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社生体光情報研究所 filed Critical 株式会社生体光情報研究所
Priority to JP7338374A priority Critical patent/JP3021338B2/en
Publication of JPH09178608A publication Critical patent/JPH09178608A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3021338B2 publication Critical patent/JP3021338B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、直線偏光子の消光
比を測定する消光比測定方法および消光比測定装置に関
する。
The present invention relates to an extinction ratio measuring method and an extinction ratio measuring device for measuring the extinction ratio of a linear polarizer.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、入射光のうちのある方向に偏
光した直線偏光光のみを透過もしくは反射する直線偏光
子が従来より知られており、その代表的なものとして
は、例えば、グラン−トムソン・プリズム、グラン−テ
イラー・プリズム、二色性偏光板等が知られている。以
下、これら各種直線偏光子の概略について説明する。
2. Description of the Related Art Heretofore, linear polarizers that transmit or reflect only linearly polarized light polarized in a certain direction of incident light have been conventionally known. Thomson prisms, Gran-Taylor prisms, dichroic polarizers and the like are known. Hereinafter, outlines of these various linear polarizers will be described.

【0003】(グラン−トムソン・プリズム)図4は、
グラン−トムソン・プリズムの模式図である。グラン−
トムソン・プリズムは、透過光が直進すること、かつ視
野が最大ということから理想に近いものとされ、もっと
も広く用いられている。このグラン−トムソン・プリズ
ムは、図4のように斜めに分割された2片の方解石がカ
ナダバルサムで接着されたものである。光学軸は紙面に
垂直である。常光線Oはバルサム面で全反射され光路外
に出されて、通過する光線は異常光線Eである。
(Gran-Thomson Prism) FIG.
It is a schematic diagram of a Gran-Thomson prism. Gran-
The Thomson prism is considered to be close to ideal because transmitted light goes straight and the field of view is maximum, and is the most widely used. The Glan-Thompson prism has two pieces of calcite divided at an angle as shown in FIG. The optical axis is perpendicular to the plane of the paper. The ordinary ray O is totally reflected on the balsam surface and exits the optical path, and the ray passing therethrough is the extraordinary ray E.

【0004】(グラン−テイラー・プリズム)図5は、
グラン−テイラー・プリズムの模式図である。このグラ
ン−テイラー・プリズムは、グラン−トムソン・プリズ
ムの接着面を空気層にし、約215nmまでの紫外線領
域にも用い得るようにしたものである。図5に示すよう
に、2片の方解石の光学軸は紙面に垂直であって、常光
線Oは空気層で全反射され、異常光線Eが透過する。
(Gran-Taylor Prism) FIG.
It is a schematic diagram of a Gran-Taylor prism. In this Gran-Taylor prism, the bonding surface of the Gran-Thomson prism is made into an air layer so that it can be used in the ultraviolet region up to about 215 nm. As shown in FIG. 5, the optical axes of the two pieces of calcite are perpendicular to the paper surface, the ordinary ray O is totally reflected by the air layer, and the extraordinary ray E is transmitted.

【0005】(二色性偏光板)二色性偏光板は、互いに
直交する偏光面を持つ直線偏光の一方(常光線または異
常光線のどちらか一方)をほぼ吸収し、他方をほとんど
吸収しない複屈折性材料の一種である二色性材料で作ら
れている。最新の二色性偏光板は、プラスチックシート
を引きのばすことにより分子が整列させられた(したが
って複屈折性が生じる)分子構造を持ち、色素の分子が
選択的にくっつきあう材料でつくられている。常光線ま
たは異常光線のどちらか一方の選択的な吸収は化学結合
方向により決定される。
(Dichroic Polarizing Plate) A dichroic polarizing plate absorbs almost one of linearly polarized light (either an ordinary ray or an extraordinary ray) having polarization planes orthogonal to each other, and hardly absorbs the other. It is made of a dichroic material, a type of refractive material. State-of-the-art dichroic polarizers have a molecular structure in which molecules are aligned (thus producing birefringence) by stretching a plastic sheet, and are made of a material in which dye molecules selectively adhere. . The selective absorption of either the ordinary ray or the extraordinary ray is determined by the chemical bond direction.

【0006】直線偏光子によって取り出された偏光は、
理想的には偏光状態がただ一つに決まった完全偏光であ
ることが望ましいが、実際には非偏光の部分を必ず含ん
でいる。直線偏光子は、図6のように、2個を1組とし
て一方を直線偏光子に、他方を直線検光子に用いること
が多い。直線偏光子によって、その透過軸に一致した振
動面の直線偏光が取り出され、直線検光子では、さらに
その透過軸方向の成分のみが取り出された直線偏光とな
り、検出器に入る。その強度は、直線偏光子と直線検光
子との透過軸のなす角θによって変化する。θが0のと
き強度は最大となりこの状態を歴史的に平行ニコル(の
状態)という。またこの状態で直線偏光子に入射する光
に対する強度透過率を平行位透過率といい、自然光が入
射したときには、理想的な直線偏光子では0.5とな
る。一方、θが90°の場合、直線偏光子から射出した
直線偏光は直線検光子の透過軸方向の成分を持たないの
で、理想的には強度は0となる。これを消光といい、こ
の消光の状態を歴史的に直交ニコル(の状態)という。
現実の素子では、消光状態でも透過強度は有限であっ
て、直線偏光子に入射する光に対する直線検光子から取
り出される光の強度透過率を直交位透過率と呼ぶ。直交
位透過率と平行位透過率の比をとると、消光状態での直
線検光子の透過率となり、これを消光比(extinc
tion ratio)と呼ぶ。
[0006] The polarized light extracted by the linear polarizer is
Ideally, it is desirable that the polarization state be a single polarization state, but in practice, it always includes a non-polarization part. As shown in FIG. 6, two linear polarizers are often used as one set as a linear polarizer and the other as a linear analyzer. The linear polarizer extracts linearly polarized light having a vibration plane coincident with the transmission axis, and the linear analyzer further extracts linearly polarized light only in the transmission axis direction and enters the detector. The intensity varies depending on the angle θ between the transmission axes of the linear polarizer and the linear analyzer. When θ is 0, the intensity becomes maximum and this state is historically referred to as (parallel Nicol state). In this state, the intensity transmittance for the light incident on the linear polarizer is referred to as a parallel transmittance, and when natural light is incident, the value is 0.5 for an ideal linear polarizer. On the other hand, when θ is 90 °, the linearly polarized light emitted from the linear polarizer does not have a component in the transmission axis direction of the linear analyzer, and the intensity is ideally zero. This is called quenching, and this state of quenching has historically been called the orthogonal Nicol state.
In an actual device, the transmission intensity is finite even in the extinction state, and the intensity transmittance of light extracted from a linear analyzer with respect to light incident on a linear polarizer is referred to as orthogonal transmittance. When the ratio between the orthogonal transmittance and the parallel transmittance is calculated, the transmittance of the linear analyzer in the extinction state is obtained.
term ratio).

【0007】図6の配置で、直線偏光子を固定し光軸を
中心に直線検光子を回転したときの直線検光子の透過率
の変化を、消光位置付近だけを拡大して示すと図7のよ
うになる。この図7の下側のグラフから順に、それぞ
れ、直線偏光子の消光比が10 -6,10-5,10-4の場
合である。消光比が小さくなるほど消光はθの変化に対
してシャープであり、消光位置が正確に決まることがわ
かる。市販の直線偏光子のうち、複屈折を利用したグラ
ン−トムソン・プリズム、グラン−テイラー・プリズム
では10-5〜10-6、二色性を利用した偏光板では10
-3〜10-4程度の消光比が得られる。
In the arrangement of FIG. 6, a linear polarizer is fixed and the optical axis is
Linear analyzer transmittance when the linear analyzer is rotated to the center
Fig. 7 shows the change of
Swell. In order from the lower graph in FIG.
And the extinction ratio of the linear polarizer is 10 -6, 10-Five, 10-FourPlace
It is. The smaller the extinction ratio, the more the extinction responds to the change in θ.
And the extinction position is determined accurately.
Call Among the commercially available linear polarizers,
N-Thomson Prism, Gran-Taylor Prism
Then 10-Five-10-6And 10 for a polarizing plate utilizing dichroism.
-3-10-FourAn extinction ratio of the order is obtained.

【0008】直線偏光子の消光比を精密に測定する従来
の方法としては、測定対象となる直線検光子を図6の直
線偏光子の位置に配置し、透過してきた光パワーを検出
器で直接検波するというものである。
As a conventional method for accurately measuring the extinction ratio of a linear polarizer, a linear analyzer to be measured is disposed at the position of the linear polarizer in FIG. 6, and the transmitted light power is directly detected by a detector. It is to detect.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】性能の良い直線偏光子
になるとその消光比は10-6以下になる。このようなと
き、測定入射光量を10mWとしても、消光状態での透
過光強度は、数nWオーダーになる。現在、ナノワット
オーダーの光量を測定できる光パワーメーターは各種市
販されているが、直線偏光子本体の正確な減光度を測定
するためには、測定系からの透光や、室内の背景光を完
全に取り除かなければならず、装置や環境に工夫が必要
である。
The extinction ratio of a linear polarizer having good performance is 10 -6 or less. In such a case, even if the measured incident light amount is 10 mW, the transmitted light intensity in the extinction state is on the order of several nW. At present, there are various optical power meters that can measure the light amount on the order of nanowatts.However, in order to measure the accurate dimming degree of the linear polarizer body, the light transmitted from the measurement system and the background light in the room must be measured. It must be completely removed, and devices and environments need to be devised.

【0010】また、消光状態での光量測定の精度を上げ
るために、入射光量をたとえば1Wにしたとすると、こ
のとき、消光状態での透過光量は1μmW弱となり透光
や背景光の影響を比較的受けにくくなる。その結果、測
定精度が向上することになる。しかし、1Wから1μW
以下にわたる光量を測定することのできる広いダイナミ
ックレンジを持つパワーメーターは市販されておらず、
2種類以上のパワーメーターを使用しなければならな
い。このときには、使用するパワーメーター間での校正
が必要となる。
Further, if the incident light amount is set to, for example, 1 W in order to increase the accuracy of the light amount measurement in the extinction state, the transmitted light amount in the extinction state is less than 1 μmW. It is hard to be targeted. As a result, measurement accuracy is improved. However, 1W to 1μW
There is no power meter with a wide dynamic range that can measure the light amount over the following,
Two or more power meters must be used. At this time, calibration between power meters to be used is required.

【0011】本発明は、このような事情に鑑み、直線偏
光子の消光比を高精度に測定することのできる消光比測
定方法、およびその方法の実施に好適な消光比測定装置
を提供することを目的とする。
In view of such circumstances, the present invention provides an extinction ratio measuring method capable of measuring the extinction ratio of a linear polarizer with high accuracy, and an extinction ratio measuring apparatus suitable for implementing the method. With the goal.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の消光比測定方法は、光源から射出された光を、その
光が2つの光路を辿るように二分し、これら二分された
2つの光路のうちの少なくとも一方の光路を辿る光の周
波数をシフトした後これら2つの光路を辿った光を重畳
して光検出器に導く光ヘテロダイン検出装置を用意し、
上記2つの光路のうちのいずれか一方の光路上に被測定
体を配置し、上記被測定体をその一方の光路を軸として
回転させながら、上記光検出器で検出されるビート信号
の、上記被測定体が回転する間の最大値と最小値を検出
することにより、これら最大値と最小値との比である消
光比を求めることを特徴とする。
The extinction ratio measuring method of the present invention, which achieves the above object, divides light emitted from a light source into two so that the light follows two optical paths, and divides the light into two. After shifting the frequency of the light that follows at least one of the optical paths of the optical path, prepare an optical heterodyne detection device that superimposes the light that has followed these two optical paths and guides the light to a photodetector,
The object to be measured is arranged on one of the two optical paths, and the object to be measured is rotated around the one of the optical paths, while the beat signal detected by the photodetector is rotated. An extinction ratio, which is a ratio between the maximum value and the minimum value, is obtained by detecting a maximum value and a minimum value during rotation of the measured object.

【0013】また、上記本発明の消光比測定方法の実施
に好適な本発明の消光比測定装置は、光源から射出され
た光を、その光が2つの光路を辿るように二分し、これ
ら二分された2つの光路のうちの少なくとも一方の光路
を辿る光の周波数をシフトした後これら2つの光路を辿
った光を重畳して光検出器に導く光ヘテロダイン検出系
と、上記2つの光路のうちのいずれか一方の光路上に配
置される被測定体をその一方の光路を軸として回転させ
るための回転ユニットと、上記光検出器で検出されるビ
ート信号の、上記被測定体が回転する間の最大値と最小
値を検出して、これら最大値と最小値との比である消光
比を算出する演算ユニットとを備えたことを特徴とす
る。
An extinction ratio measuring apparatus according to the present invention, which is suitable for carrying out the extinction ratio measuring method according to the present invention, divides light emitted from a light source into two so that the light follows two optical paths, and divides the light into two. An optical heterodyne detection system that shifts the frequency of light following at least one of the two optical paths and superimposes the light following these two optical paths and guides the light to a photodetector; and A rotation unit for rotating a device to be measured disposed on one of the optical paths around the one of the optical paths, and a beat signal detected by the photodetector, while the device to be measured is rotating. And an arithmetic unit that detects a maximum value and a minimum value of the above and calculates an extinction ratio that is a ratio between the maximum value and the minimum value.

【0014】ここで、上記本発明の消光比測定装置にお
いて、上記光源から射出された後上記2つの光路を辿っ
た光が重畳される迄の間の光路上の少なくとも一箇所
に、光の直線偏光の方向ないし状態を調整する偏光調整
ユニットを備えることが好ましい。この場合に、その偏
光調整ユニットが、上記2つの光路のうちの一方の光路
を辿る光の周波数をシフトする周波数シフタの、光の進
行方向下流側に配置されてなることが好ましい。あるい
は、その偏光調整ユニットが、上記光源から射出された
後二分される前の光の光路上に配置されていてもよい。
In the extinction ratio measuring apparatus of the present invention, at least one position on the optical path between the light emitted from the light source and the light following the two optical paths is superimposed, It is preferable to include a polarization adjustment unit that adjusts the direction or state of polarization. In this case, it is preferable that the polarization adjustment unit is disposed downstream of the frequency shifter that shifts the frequency of light that follows one of the two optical paths in the light traveling direction. Alternatively, the polarization adjustment unit may be arranged on the optical path of light before being bisected after being emitted from the light source.

【0015】上記偏光調整ユニットを、相対に光の進行
方向上流側および下流側にそれぞれ配置された、二分の
一波長板および直線偏光子のペアで構成することが好ま
しい。尚、本発明の消光比測定装置において、回転ユニ
ットは、モータ等により被測定体を自動回転させるもの
であってもよいが、それに限られず、回転自在に固定す
る治具等であって、被測定体を手動で回転させるもので
あってもよい。
It is preferable that the polarization adjusting unit is constituted by a pair of a half-wave plate and a linear polarizer, which are disposed relatively upstream and downstream in the light traveling direction, respectively. In the extinction ratio measuring device of the present invention, the rotating unit may be a device that automatically rotates the object to be measured by a motor or the like, but is not limited thereto, and may be a jig or the like that is rotatably fixed. The measurement object may be rotated manually.

【0016】本発明は、直線偏光子からの透過光量を測
定する光学系に光ヘテロダイン検出技術を用いる。光ヘ
テロダイン検出技術とは、周波数のわずかに異なる、位
相の揃った光波を、偏光面を一致させて重ね合わせるこ
とにより生じるうなり(ビート信号)を検出し、その強
度や周波数を観測する技術である。ビート信号の強度は
合波する光の強度に比例する。光ヘテロダイン検出法
は、極めて広いダイナミックレンジを有することが特徴
である。通常12桁におよぶ信号レベル差の検出が可能
であり、したがって、上述の課題であったパワーメータ
の交換の問題は本質的に解決される。また、光ヘテロダ
イン検出法はビート周波数に注目して信号検出をするの
で、迷光や背景光の影響を本質的に受けない。このよう
に、光ヘテロダイン検出法を消光比測定に用いることに
より、従来にない高精度の測定が可能となる。
The present invention uses an optical heterodyne detection technique in an optical system for measuring the amount of light transmitted from a linear polarizer. The optical heterodyne detection technology is a technology for detecting a beat (beat signal) generated by superimposing light waves having slightly different frequencies and having the same phase with the same polarization plane, and observing the intensity and frequency. . The intensity of the beat signal is proportional to the intensity of the combined light. The optical heterodyne detection method is characterized by having an extremely wide dynamic range. It is possible to detect a signal level difference of usually 12 digits, and thus the problem of replacing the power meter, which has been described above, is essentially solved. Further, since the optical heterodyne detection method detects a signal by focusing on the beat frequency, it is essentially not affected by stray light or background light. As described above, by using the optical heterodyne detection method for the extinction ratio measurement, a highly accurate measurement that has not been achieved in the past can be achieved.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
説明する。図1は、マッハツェンダー型光ヘテロダイン
検出系を用いた本発明の一実施形態の概略構成図であ
る。光源1としては単一周波数で発振する直線偏光レー
ザが好適に採用される。光源1から発せられた光1a
は、コリメータレンズ系2により平行光束に変換されビ
ームスプリッタ3により光路1を辿る光と光路2を辿る
光とに二分される。
Embodiments of the present invention will be described below. FIG. 1 is a schematic configuration diagram of one embodiment of the present invention using a Mach-Zehnder optical heterodyne detection system. As the light source 1, a linearly polarized laser oscillating at a single frequency is preferably used. Light 1a emitted from light source 1
Is converted into a parallel light beam by the collimator lens system 2 and split into two light beams by the beam splitter 3 to follow the optical path 1 and to travel along the optical path 2.

【0018】光路1を辿る光はミラー4で反射された後
周波数シフタ5で周波数シフトを受け、その後、1/2
波長波6aと直線偏光子6bとのペアからなる偏光調整
ユニット6により偏光状態ないし偏光方向が調整され、
被測定体である直線偏光子7を経由し、ビーム合成器9
を経由して光検出器10に至る。ここで、偏光調整ユニ
ット6は、光源1から射出され光路1を辿る光の直線偏
光状態ないし直線偏光方向が周波数シフタ5によって乱
される場合があるため、その偏光状態およびその偏光方
向を調整するためのものである。また、直線偏光子7は
回転装置8により、光路2の光軸を中心軸として回転さ
れる。
The light traveling along the optical path 1 is reflected by the mirror 4 and then undergoes a frequency shift by the frequency shifter 5, and thereafter,
The polarization state or the polarization direction is adjusted by the polarization adjustment unit 6 composed of a pair of the wavelength wave 6a and the linear polarizer 6b,
A beam combiner 9 passes through a linear polarizer 7 as an object to be measured.
To the photodetector 10 via. Here, the polarization adjustment unit 6 adjusts the polarization state and the polarization direction of the light emitted from the light source 1 and following the optical path 1 because the linear polarization state or the linear polarization direction of the light may be disturbed by the frequency shifter 5. It is for. The linear polarizer 7 is rotated by the rotation device 8 about the optical axis of the optical path 2 as a central axis.

【0019】一方、ビームスプリッタ3で二分され光路
2を辿る光は、周波数シフタ11により周波数シフタ5
の周波数シフト量とは異なる周波数シフト量だけ周波数
シフトされ、ミラー12で反射した後、1/2波長板1
3aと直線偏光子13bとからなる偏光調整ユニット1
3により偏光状態ないし偏光方向が調整される。この偏
光調整ユニット13は、周波数シフタによって乱される
13bとからなる偏光整ユニット13により、周波数シ
フタ11によって乱されることのある直線偏光状態ない
し直線偏光方向を調整するためのものである。光路2を
辿る光は、偏光調整ユニット13を出た後、ビーム合成
器9により、光路1を辿った光と重畳されて光検出器1
0に入射する。光路1,2を辿った2つの光は周波数シ
フタ5,11で互いに異なる周波数シフト量だけ周波数
シフトされた光であるため、光検出器10ではビート信
号が検出される。このビート信号はプロセッサ14に入
力され、プロセッサ14では後述する信号処理が行われ
る。
On the other hand, the light split into two by the beam splitter 3 and following the optical path 2 is transmitted by the frequency shifter 11 to the frequency shifter 5.
Are shifted by a frequency shift amount different from the frequency shift amount of
Polarization adjusting unit 1 composed of 3a and linear polarizer 13b
3, the polarization state or the polarization direction is adjusted. The polarization adjusting unit 13 is for adjusting a linear polarization state or a linear polarization direction which may be disturbed by the frequency shifter 11 by the polarization adjusting unit 13 composed of 13b disturbed by the frequency shifter. The light following the optical path 2 exits the polarization adjusting unit 13 and is then superimposed on the light following the optical path 1 by the beam combiner 9 so that the light detector 1
Incident at 0. Since the two lights following the optical paths 1 and 2 have been frequency-shifted by different frequency shift amounts by the frequency shifters 5 and 11, the photodetector 10 detects a beat signal. This beat signal is input to the processor 14, and the processor 14 performs signal processing described later.

【0020】なお、図1に示す例では、光路1と光路2
の双方に周波数シフタが設けられているが、光ヘテロダ
イン検出では、互いに周波数が異なる光を合波させれば
よく、したがって、どちらか一方の光路にのみ周波数シ
フタが設けられていてもよい。さて、図1の実施形態に
おいては、はじめは被測定体である直線偏光子7を取り
除いておき以下の調整を行う。
In the example shown in FIG. 1, the optical path 1 and the optical path 2
Are provided with frequency shifters. In optical heterodyne detection, lights having frequencies different from each other may be multiplexed. Therefore, a frequency shifter may be provided only on one of the optical paths. By the way, in the embodiment of FIG. 1, the following adjustment is performed after removing the linear polarizer 7 which is the object to be measured.

【0021】直線偏光子6bと直線偏光子13bを、そ
れぞれを透過する偏光成分が互いに平行になるようにし
て、光路1と光路2中にそれぞれ設置する。1/2波長
板6aを回転させて直線偏光子6bを透過する光強度が
最大になるように調整する。同様に、1/2波長板13
aを回転させて直線偏光子13bを透過する光強度が最
大になるように調整する。これらの調整は、上述したよ
うに、各周波数シフタ5、11を通過した後の光路1と
光路2を辿る2ビームの偏光面を各直線偏光子6b、1
3bに最適化させるためである。このような調整の後、
ビーム合成器9を介して、光路1を経由したビームと光
路2を経由したビームを重畳させる。二つの周波数シフ
タ5,11により光周波数のわずかに異なる2本のビー
ムが干渉することになり、これを光検出器10により電
気信号に変換しビート信号を得る。このビート信号が最
大になるようミラーの角度調整を十分行うことが重要で
ある。また、このビート信号を見ながら、前述のように
して位置を定めた1/2波長板13aと直線偏光子13
bとからなる偏光調整ユニット13を光路2についてさ
らに調整を行い、ビート信号が最大になるようにするこ
とも必要である。光ヘテロダイン検出法のダイナミック
レンジは、2つのビームの光軸の完全合致と偏光面の完
全合致により支えられるので、これらの調整が重要なの
である。さて、以上のような調整がとれたところで被測
定体である直線偏光子7を光路1上に配置して、回転さ
せることにより信号レベルが変化する。この回転に対す
るビート信号をプロセッサ14に送り、ビート信号レベ
ルの最大値と最小値とを記録する。この両者の比を計算
することにより直線偏光子7の消光比を求めることがで
きる。
The linear polarizer 6b and the linear polarizer 13b are placed in the optical path 1 and the optical path 2, respectively, so that the polarization components passing therethrough are parallel to each other. The half-wave plate 6a is rotated so that the intensity of light transmitted through the linear polarizer 6b is adjusted to be maximum. Similarly, the half-wave plate 13
By rotating a, the intensity of light transmitted through the linear polarizer 13b is adjusted to be maximum. As described above, these adjustments are performed by changing the polarization planes of the two beams following the optical path 1 and the optical path 2 after passing through the frequency shifters 5 and 11 to the linear polarizers 6b and 1b.
3b. After such adjustments,
The beam passing through the optical path 1 and the beam passing through the optical path 2 are superimposed via the beam combiner 9. Two beams having slightly different optical frequencies interfere with each other by the two frequency shifters 5 and 11, and this is converted into an electric signal by the photodetector 10 to obtain a beat signal. It is important to sufficiently adjust the angle of the mirror so that the beat signal is maximized. Further, while observing the beat signal, the half-wave plate 13a and the linear polarizer 13 whose positions are determined as described above.
It is also necessary to further adjust the polarization adjustment unit 13 composed of b and the optical path 2 so that the beat signal is maximized. These adjustments are important because the dynamic range of optical heterodyne detection is supported by perfect alignment of the optical axes of the two beams and perfect alignment of the polarization planes. Now, after the above adjustment is made, the signal level is changed by arranging and rotating the linear polarizer 7 which is the object to be measured on the optical path 1. A beat signal for this rotation is sent to the processor 14, and the maximum and minimum values of the beat signal level are recorded. The extinction ratio of the linear polarizer 7 can be obtained by calculating the ratio between the two.

【0022】なお、ビーム合成器9によって合波される
もう一方の光線(図1中で点線で示す)を検出器15に
よって検出し、その検出信号と検出器10の信号とを電
気的に加え合わせることにより、感度を向上させるダブ
ル・バランス型検出を行ってもよい。尚、本実施形態で
は回転装置8は例えばモータ等であり、直線偏光子7を
自動的に回転させるものであるが、直線偏光子7を回転
自在な治具に固定し、その治具を手動で回転させる構成
であってもよい。
The other beam (indicated by a dotted line in FIG. 1) combined by the beam combiner 9 is detected by a detector 15, and the detection signal and the signal of the detector 10 are electrically added. By matching, double-balanced detection for improving sensitivity may be performed. In this embodiment, the rotating device 8 is, for example, a motor or the like, and automatically rotates the linear polarizer 7. However, the linear polarizer 7 is fixed to a rotatable jig, and the jig is manually operated. It may be configured to rotate with.

【0023】図2は、本発明の他の実施形態の概略構成
図である。図1に示す実施形態との相違点について説明
する。この構成は、1/2波長板21aと直線偏光子2
1bとを組合せた偏光調整ユニット21および周波数シ
フタ11をそれぞれ一組だけ用いることとし、低コスト
化を図ったものである。光源1から射出されたレーザ光
1aはコリメートされた後、1/2波長板21aと直線
偏光子21bとからなる偏光調整ユニット21系に導か
れるが、1/2波長板21aを回転させ直線偏光子21
bを透過する光強度が最大になるように調整される。こ
の実施形態における偏光調整ユニット21は、周波数シ
フタ11により乱された偏光の補正という意味合いはな
く、光源1から射出される直線偏光光に混入する非偏光
成分の除去が目的である。偏光調整ユニット21を経由
した直線偏光光は、マッハツェンダー型光ヘテロダイン
検出系に導入され、ビームスプリッタ3により光路1と
光路2とに二分割される。光路1を辿り被測定体である
直線偏光子7を透過したビームと、光路2を辿り周波数
シフタ11によって光周波数がわずかに変化したビーム
とがビーム合成器9で重畳され、図1での説明と同様の
原理によりビート信号が検出される。この信号レベルは
被測定体の透過率に比例するものであり、図1について
の説明と同様にして消光比を求めることができる。コス
ト的に許される場合は、光路2中の周波数シフタ11の
光進行方向下流側にも、光ヘテロダイン検出を効率的に
行うための、1/2波長板と直線偏光子とからなる偏光
調整ユニットを配置することが望ましい。
FIG. 2 is a schematic configuration diagram of another embodiment of the present invention. The differences from the embodiment shown in FIG. 1 will be described. This configuration includes a half-wave plate 21a and a linear polarizer 2
Only one set of each of the polarization adjustment unit 21 and the frequency shifter 11 combined with 1b is used to reduce the cost. The laser beam 1a emitted from the light source 1 is collimated, and then guided to a polarization adjusting unit 21 system including a half-wave plate 21a and a linear polarizer 21b. Child 21
Adjustment is made so that the intensity of light transmitted through b is maximized. The polarization adjustment unit 21 in this embodiment does not mean to correct the polarization disturbed by the frequency shifter 11, but aims to remove the non-polarized light component mixed into the linearly polarized light emitted from the light source 1. The linearly polarized light that has passed through the polarization adjustment unit 21 is introduced into a Mach-Zehnder optical heterodyne detection system, and is split into an optical path 1 and an optical path 2 by a beam splitter 3. The beam transmitted through the linear polarizer 7 as the object to be measured following the optical path 1 and the beam whose optical frequency is slightly changed by the frequency shifter 11 following the optical path 2 are superimposed by the beam combiner 9, and will be described with reference to FIG. A beat signal is detected according to the same principle as that described above. This signal level is proportional to the transmittance of the object to be measured, and the extinction ratio can be obtained in the same manner as described with reference to FIG. If cost permits, a polarization adjustment unit including a half-wave plate and a linear polarizer for efficiently performing optical heterodyne detection also on the downstream side of the frequency shifter 11 in the optical path 2 in the light traveling direction. It is desirable to arrange.

【0024】図3は、本発明のもう1つの実施形態の概
略構成図である。図2に示す実施形態と比べ偏光調整ユ
ニット21が省かれている。ビーム合成器9で純粋な直
線偏光光どうしが重畳されて光検出器10に入射される
ことが好ましいが、光ヘテロダイン法はもともと外乱光
に強い性質をもっており、極限的な高精度で必要としな
い場合は、光源1として直線偏光レーザを採用し、その
直線偏光レーザから射出される直線偏光レーザ光の非偏
光成分の除去は行なわずにその直線偏光レーザ光をその
まま用いてもよい。
FIG. 3 is a schematic configuration diagram of another embodiment of the present invention. Compared with the embodiment shown in FIG. 2, the polarization adjustment unit 21 is omitted. It is preferable that pure linearly polarized light beams are superimposed on each other by the beam combiner 9 and incident on the photodetector 10, but the optical heterodyne method originally has a strong property against disturbance light and is not required with extremely high precision. In this case, a linearly polarized laser beam may be used as the light source 1 and the linearly polarized laser beam emitted from the linearly polarized laser beam may be used without removing the non-polarized component.

【0025】[0025]

【発明の効果】光ヘテロダイン検出法は、きわめて広い
ダイナミックレンジを有することがその特徴である。通
常、測定入射光量30μWでダイナミックレンジ120
dB(12桁におよぶ測定範囲)、換算最小検出感度3
×10-17 Wという高性能が得られる。これによって、
消光比の非常に良い直線偏光子であってもマイクロワッ
トオーダーの入射光量で原理的には10-10 以上におよ
ぶ消光比の測定が実現できる。
The feature of the optical heterodyne detection method is that it has an extremely wide dynamic range. Normally, dynamic range 120
dB (measurement range of 12 digits), converted minimum detection sensitivity 3
A high performance of × 10 -17 W is obtained. by this,
Even a linear polarizer having a very good extinction ratio can measure an extinction ratio of 10 −10 or more in principle with an incident light amount on the order of microwatts.

【0026】また、光ヘテロダイン検出法は、波面整合
により生じたビート信号を観測するわけであるから、迷
光や背景光の影響は全くない。したがって、それらの除
去を考慮することなく測定を行うことができる。このよ
うにして本発明の提供する消去光測定方法、消光比測定
装置により、従来は測定不能であった環境のもとで消光
比の大きな直線偏光子の能力を把握できる。
In the optical heterodyne detection method, since a beat signal generated by wavefront matching is observed, there is no influence of stray light or background light. Therefore, the measurement can be performed without considering their removal. As described above, the erasing light measuring method and the extinction ratio measuring device provided by the present invention can grasp the performance of a linear polarizer having a large extinction ratio in an environment where measurement was impossible conventionally.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】マッハツェンダー型光ヘテロダイン検出系を用
いた本発明の一実施形態の概略構成図である。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an embodiment of the present invention using a Mach-Zehnder optical heterodyne detection system.

【図2】本発明の他の実施形態の概略構成図である。図
1に示す実施形態との相違点について説明する。
FIG. 2 is a schematic configuration diagram of another embodiment of the present invention. The differences from the embodiment shown in FIG. 1 will be described.

【図3】本発明のもう1つの実施形態の概略構成図であ
る。
FIG. 3 is a schematic configuration diagram of another embodiment of the present invention.

【図4】グラン−トムソン・プリズムの模式図である。FIG. 4 is a schematic view of a Gran-Thomson prism.

【図5】グラン−テイラー・プリズムの模式図である。FIG. 5 is a schematic view of a Gran-Taylor prism.

【図6】直線偏光子の一般的使用法の説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram of a general method of using a linear polarizer.

【図7】直線検光子の回転角に対する透過率のグラフを
示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a graph of transmittance with respect to a rotation angle of a linear analyzer.

【符号の説明】 1 光路 1a 光 2 コリメータレンズ系 3 ビームスプリッタ 4,12 ミラー 5,11 周波数シフタ 6 偏光調整ユニット 6a 1/2波長板 6b 直線偏光子 7 直線偏光子 8 回転装置 9 ビーム合成器 10 光検出器 13 偏光調整ユニット 13a 1/2波長板 13b 直線偏光子 14 プロセッサ 21 偏光調整ユニット 21a 1/2波長板 21b 直線偏光子[Description of Signs] 1 optical path 1a light 2 collimator lens system 3 beam splitter 4,12 mirror 5,11 frequency shifter 6 polarization adjustment unit 6a 1/2 wavelength plate 6b linear polarizer 7 linear polarizer 8 rotating device 9 beam combiner DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Photodetector 13 Polarization adjustment unit 13a 1/2 wavelength plate 13b Linear polarizer 14 Processor 21 Polarization adjustment unit 21a 1/2 wavelength plate 21b Linear polarizer

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平7−325010(JP,A) 特開 昭62−285080(JP,A) 特開 平6−221993(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01M 11/00 - 11/02 G01N 21/21 G01J 4/00 G01B 9/02 JICSTファイル(JOIS)────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) References JP-A-7-325010 (JP, A) JP-A-62-285080 (JP, A) JP-A-6-221993 (JP, A) (58) Field (Int.Cl. 7 , DB name) G01M 11/00-11/02 G01N 21/21 G01J 4/00 G01B 9/02 JICST file (JOIS)

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 光源から射出された光を、該光が2つの
光路を辿るように二分し、これら二分された2つの光路
のうちの少なくとも一方の光路を辿る光の周波数をシフ
トした後これら2つの光路を辿った光を重畳して光検出
器に導く光ヘテロダイン検出装置を用意し、 前記2つの光路のうちのいずれか一方の光路上に被測定
体を配置し、該被測定体を、該一方の光路を軸として回
転させながら、前記光検出器で検出されるビート信号
の、該被測定体が回転する間の最大値と最小値を検出す
ることにより、これら最大値と最小値との比である消光
比を求めることを特徴とする消光比測定方法。
1. A light emitted from a light source is bisected so that the light follows two optical paths, and the frequency of light that follows at least one optical path of the two divided optical paths is shifted. An optical heterodyne detection device is provided that superimposes light following two optical paths and guides the light to a photodetector. An object to be measured is arranged on one of the two optical paths. By detecting the maximum value and the minimum value of the beat signal detected by the photodetector while rotating the object under measurement while rotating about the one optical path as an axis, the maximum value and the minimum value are detected. An extinction ratio, which is a ratio of the extinction ratio to the extinction ratio.
【請求項2】 光源から射出された光を、該光が2つの
光路を辿るように二分し、これら二分された2つの光路
のうちの少なくとも一方の光路を辿る光の周波数をシフ
トした後これら2つの光路を辿った光を重畳して光検出
器に導く光ヘテロダイン検出系と、 前記2つの光路のうちのいずれか一方の光路上に配置さ
れる被測定体を該一方の光路を軸として回転させるため
の回転ユニットと、 前記光検出器で検出されるビート信号の、前記被測定体
が回転する間の最大値と最小値を検出して、これら最大
値と最小値との比である消光比を算出する演算ユニット
とを備えたことを特徴とする消光比測定装置。
2. The light emitted from the light source is bisected such that the light follows two optical paths, and the frequency of the light that follows at least one of the two optical paths is shifted. An optical heterodyne detection system that superimposes light following two optical paths and guides the light to a photodetector; and an object to be measured arranged on one of the two optical paths, with the one optical path as an axis. A rotation unit for rotating, a maximum value and a minimum value of the beat signal detected by the photodetector during rotation of the measured object, and a ratio between the maximum value and the minimum value. An extinction ratio measuring device comprising: an arithmetic unit for calculating an extinction ratio.
【請求項3】 前記光源から射出された後前記2つの光
路を辿った光が重畳される迄の間の光路上の少なくとも
一箇所に、光の直線偏光の方向ないし状態を調整する偏
光調整ユニットを備えたことを特徴とする請求項2記載
の消光比測定装置。
3. A polarization adjusting unit for adjusting the direction or state of linearly polarized light at at least one position on an optical path between the light emitted from the light source and the light following the two optical paths until the light is superimposed. The extinction ratio measuring device according to claim 2, further comprising:
【請求項4】 前記偏光調整ユニットが、前記2つの光
路のうちの一方の光路を辿る光の周波数をシフトする周
波数シフタの、該光の進行方向下流側に配置されてなる
ことを特徴とする請求項3記載の消光比測定装置。
4. The apparatus according to claim 1, wherein the polarization adjustment unit is disposed downstream of a frequency shifter that shifts a frequency of light that follows one of the two optical paths in a traveling direction of the light. The extinction ratio measuring device according to claim 3.
【請求項5】 前記偏光調整ユニットが、前記光源から
射出された後二分される前の光の光路上に配置されてな
ることを特徴とする請求項3記載の消光比測定装置。
5. The extinction ratio measuring device according to claim 3, wherein the polarization adjusting unit is disposed on an optical path of light before being divided into two after being emitted from the light source.
【請求項6】 前記偏光調整ユニットが、相対的に光の
進行方向上流側および下流側にそれぞれ配置された、二
分の一波長板および直線偏光子のペアからなることを特
徴とする請求項3記載の消光比測定装置。
6. The polarization adjustment unit according to claim 3, wherein the polarization adjustment unit comprises a pair of a half-wave plate and a linear polarizer, which are disposed relatively upstream and downstream of the light traveling direction, respectively. The extinction ratio measuring device according to the above.
JP7338374A 1995-12-26 1995-12-26 Extinction ratio measurement method and extinction ratio measurement device Expired - Lifetime JP3021338B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7338374A JP3021338B2 (en) 1995-12-26 1995-12-26 Extinction ratio measurement method and extinction ratio measurement device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7338374A JP3021338B2 (en) 1995-12-26 1995-12-26 Extinction ratio measurement method and extinction ratio measurement device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09178608A JPH09178608A (en) 1997-07-11
JP3021338B2 true JP3021338B2 (en) 2000-03-15

Family

ID=18317559

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7338374A Expired - Lifetime JP3021338B2 (en) 1995-12-26 1995-12-26 Extinction ratio measurement method and extinction ratio measurement device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3021338B2 (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4538344B2 (en) * 2005-03-01 2010-09-08 日本分光株式会社 Axial bearing measuring apparatus and method
CN102539117B (en) * 2011-08-02 2015-07-01 北京国科世纪激光技术有限公司 Measurement device and measurement method for Polaroid extinction ratio and Brewster angles
CN104034513B (en) * 2014-05-22 2016-08-17 武汉邮电科学研究院 Spatial polarization light extinction ratio measurement device and method
CN107314888B (en) * 2017-04-25 2019-08-06 哈尔滨工程大学 The polarization property measurement method of multi-functional lithium niobate integrated device
CN112161779B (en) * 2020-09-08 2022-06-10 中电科思仪科技股份有限公司 Method for improving measurement precision of polarization extinction ratio

Also Published As

Publication number Publication date
JPH09178608A (en) 1997-07-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6473181B1 (en) Measurement of waveplate retardation using a photoelastic modulator
JPH0429963B2 (en)
US7286226B2 (en) Method and apparatus for measuring birefringence
JP3447654B2 (en) Anisotropic thin film evaluation method and evaluation device
JPS6134442A (en) Ellipsometry measuring method for inspecting physical characteristic of sample surface or surface film layer of sample and device thereof
US3177761A (en) Polariscope having simultaneously rotatable waveplates
EP1060369A1 (en) Birefringence measurement system
CA1264959A (en) Static interferometric ellipsometer
JPH03205536A (en) Ellipsometer with high resolving power and method of its use
US5229834A (en) Sensor for detecting and measuring the angle of rotation of a plane of light polarization
US4798468A (en) Interference apparatus for detecting state of wave surface
KR960011412A (en) Method and device for retardation of composite layers
JP3021338B2 (en) Extinction ratio measurement method and extinction ratio measurement device
JPH08327453A (en) Polarization interferometer
JPS58196416A (en) Optical fiber laser gyroscope
JPH08201277A (en) Method and apparatus for measuring double refraction
JPH06317518A (en) Dichroism dispersion meter
JP3181655B2 (en) Optical system and sample support in ellipsometer
JP3518313B2 (en) Method and apparatus for measuring retardation
WO1999042796A1 (en) Birefringence measurement system
JP3314525B2 (en) Wavefront splitting element
JPH01113626A (en) Measuring method for optical wavelength
JPH02118406A (en) Liquid crystal cell gap measuring device
JPH0990368A (en) Method for inspecting liquid crystal oriented film and apparatus for inspection
JP2005283552A (en) Birefringence measurement device and birefringence measurement method

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19991221